CN100445809C - 液晶显示装置的缺陷像素修正方法及缺陷像素修正装置 - Google Patents

液晶显示装置的缺陷像素修正方法及缺陷像素修正装置 Download PDF

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Abstract

本发明是关于一种液晶显示装置的缺陷像素修正方法,其通过1kHz以上重复频率的脉冲激光扫描液晶显示装置的缺陷像素,而于上述脉冲激光的照射位置存在气泡的状态下,修正上述缺陷像素。

Description

液晶显示装置的缺陷像素修正方法及缺陷像素修正装置
技术领域
本发明是关于一种修正液晶显示装置的缺陷像素的液晶显示装置的缺陷像素修正方法及缺陷像素修正装置。
背景技术
一般而言主动矩阵型液晶显示装置具有夹着液晶而相对配置的两块玻璃基板。这些两块玻璃基板中,其中一块玻璃基板称作TFT基板,其内部表面多根信号线与闸极线形成为网状。信号线与闸极线所包围的各区域中,形成大小为数十[μm]至数百[μm]左右的像素电极。另外,信号线与闸极线的交叉部设有TFT,用以于各像素电极中充放电。
另外,两块玻璃基板中,另一块玻璃基板称作彩色滤光器基板,其内部表面设有由着色层与保护层构成的彩色滤光器。
这两块玻璃基板内部表面中,形成为polyimide(聚酰亚胺)(PI)制配向膜(alignment layer)分别接触于液晶。另外,这些玻璃基板的外部表面分别贴附有偏光板。
但是,液晶显示装置的制造工序中,随着图像大型化或清晰化的发展,出现较高不合格率。不合格品中特别成为问题的是,产生TFT未运行的像素或液晶未驱动的像素。若形成如此像素,则液晶将无法遮断透射光,此像素(以下称为“缺陷像素”)成为亮点缺陷(bright defect,亮点缺陷)而显现。
此亮点缺陷由于使液晶显示装置之显示品质显着下降,因此通过对设计或制造方法改良而实现降低其产生率。然而,改良设计或制造方法,其产生率的降低是有限的,故仍不能完全加以消除。
因此,目前在液晶显示装置制造后,采用以下方法:分析液晶显示装置中是否存在亮点,若存在的话则逐个修正此缺陷像素。
作为修正液晶显示装置的缺陷像素的方法,众所周知的方法有,使缺陷像素的透射光减少而使亮点变得不醒目。(参照日本专利特开平7-225381号公报)
图9A为经修正的缺陷像素G的平面图,图9B为经修正的缺陷像素G的剖面图。
如图9A所示,通过此方法使脉冲激光L沿箭头符号A依次照射到缺陷像素G。此脉冲激光L将于液晶Q中产生气泡,并且使配向膜I熔化蒸发而产生作为配向膜成分的聚酰亚胺(polyimide,PI)制微粒子。
因照射脉冲激光L而产生的微粒子,将堆积于缺陷像素G的内部表面,并使相对于配向膜I的液晶Q的配向性下降。由此,缺陷像素G的透射光将会减少,因此亮点缺陷变得不醒目。
此时,如图9B所示,因照射脉冲激光L而产生的气泡P,由于信号线或闸极线等的段差H而积存在缺陷像素G中。由此将会创造出使已产生的微粒子易于移动的环境,因此微粒子将会高效堆积在缺陷像素G的内部表面,即配向膜I上。
近年来,开发出通过厚膜绝缘膜而将像素电极设置在信号线或闸极线上,因此从TFT基板向液晶侧突出的部分减少,即所谓经过平坦化处理的液晶显示装置。
若实施此平坦化处理,则像素区域会变大,因而背光光线的透射率将会提高。因此,若解像度相同,则可获得更高亮度,而如果亮度相同,则可获得更高解像度。另外,若亮度相同且解像度相同,则耗电将会降低。由于存在如此优点,因此近年于较多产品中采用平坦化处理。
然而,若实施此平坦化处理,则如上所述从TFT基板向液晶侧突出的部分将会减少,因此产生于液晶中的气泡将难以积存在缺陷像素内。
因此,有时照射激光时,其照射部分并不存在气泡,并且所产生的微粒子并未较好地堆积在缺陷像素的内部表面。于此时,将会产生缺陷像素的透射光未充分减少的问题,或修正后易产生所谓“白点”或“白斑”问题等。
发明内容
本发明鉴于以上原因研制而成,其可提供一种液晶显示装置的缺陷像素修正方法及缺陷像素修正装置,其可简单且充分地修正液晶显示装置上的缺陷像素。
本发明中,根据其中之一方面(aspect,方面),液晶显示装置的缺陷像素修正方法具有如下结构。
即,液晶显示装置的缺陷像素修正方法,通过1KHz以上重复频率的脉冲激光扫描液晶显示装置的缺陷像素,并于上述脉冲激光的照射位置中存在气泡的状态下,修正上述缺陷像素。
另外,于本发明中,根据其他一方面(another aspect,其他方面),液晶显示装置的缺陷像素修正方法具有如下结构。
即,于通过以激光振荡器而振荡的脉冲激光扫描液晶显示装置的缺陷像素,并修正此缺陷像素的液晶显示装置的缺陷像素修正装置中,具有控制部,其使上述液晶显示装置与上述脉冲激光相对移动,并于上述缺陷像素中使此脉冲激光进行扫描,而通过上述激光振荡器而振荡的每一个脉冲的激光输出,在上述脉冲激光的重复频率为1kHz以上时,定为特定值。
另外,本发明中,根据其他一方面(another aspect,其他方面),液晶显示装置的缺陷像素修正装置,具有如下结构。
即,一种液晶显示装置的缺陷像素修正装置,其具有平台,该平台载放液晶显示装置;激出射出部,该激出射出部具备脉冲激光振荡器,并且将从此脉冲激光振荡器所输出的脉冲激光照射至上述液晶显示装置的缺陷像素,及控制部,该控制部使上述平台与上述激出射出部相对移动,并于上述缺陷像素中,使上述脉冲激光进行扫描,而通过上述激光振荡器振荡的每一个脉冲的激光输出,在上述脉冲激光的重复频率为1kHz以上时,定为特定值。
附图说明
图1为本发明第1实施形态的液晶显示装置的剖面图。
图2为该实施形态的液晶显示装置的缺陷像素修正装置的概略图。
图3表示于用于该实施形态的液晶显示装置的缺陷像素修正装置中的激光振荡器的频率特性之图表。
图4A为该实施形态的光栅扫描的扫描路径的概略图。
图4B为说明该实施形态照射光点的重叠率的说明图。
图5为本发明第2实施形态激光振荡器的结构图。
图6为本发明第3实施形态激光振荡器的结构图。
图7为本发明第4实施形态液晶显示装置的缺陷像素修正装置的概略图。
图8为本发明第5实施形态液晶显示装置的缺陷像素修正装置的概略图。
图9A为修正的缺陷像素的平面图。
图9B为修正的缺陷像素的剖面图。
符号说明
1  第1平台
2  激出射出部
3  第2平台
4  激光振荡器
5  衰减器
6  动力监测器
7  反射镜
8  聚光透镜
9  控制器
20,30,54  激光振荡器
21          激光二极管
22          电流电路
23          衰减器
24,56      透镜
25          镜面
26Q         开关
27          激光棒
28          输出镜31
31          AOQ开关
32          转换器
33          驱动电源
41          第3平台
51          平台
51          A贯通孔
52          透射照明
53          聚光透镜
55          半镜面
57          CCD照相机
58          控制器
101,102    玻璃基板
103         TFT
104         信号线
105         闸极线
106         厚膜绝缘膜
107         像素电极
108,112  配向膜
109       彩色滤光器
110       保护膜
111       氧化铟锡
113       液晶
114,115  偏光膜
D         液晶显示装置
M         激励光
S         照射光点
L         脉冲激光
Q         开关
P         气泡
G         缺陷像素
具体实施方式
以下参照图式,对本发明第1实施形态至第5实施形态加以详细说明。
(第1实施形态)
首先,使用图1至图4对本发明第1实施形态加以说明。
图1为本发明第1实施形态的液晶显示装置的剖面图。
如图1所示,此液晶显示装置D是经过所谓平坦化处理而制成的,并具有相对配置的两块玻璃基板(glass substrate,玻璃基板)101、102。
这些玻璃基板101、102中,其中之一的玻璃基板101称作TFT基板,其内侧面中复数个TFT103形成为矩阵状。用以驱动各TFT103的闸极线105,或用以于各像素电极107中进行充放电的信号线104,于玻璃基板101上设置为网状,在其上形成有用以覆盖信号线104或闸极线105的突出部的厚膜绝缘膜106。
于此厚膜绝缘膜106上,通过各TFT103的运行而充放电的像素电极107形成为矩阵状,进而于其上形成有polyimide(聚酰亚胺)(PI)制配向膜108。
另外,玻璃基板101、102中,另一个玻璃基板102称作彩色滤光器基板,在其内侧面,与各像素电极107相应定位而设置有R(红色)、G(绿色)、及B(蓝色)中任一个彩色滤光器109。
这些彩色滤光器109上设有保护膜110,在其上进而依次设有indium tinoxide(氧化铟锡)(ITO)111与polyimide(聚酰亚胺)(PI)制配向膜112。
这些玻璃基板101、102之间,封装有液晶113。另外,玻璃基板101、102的外侧面分别贴附有偏光膜114、115。
于上述结构的液晶显示装置D中,通过驱动TFT103而改变液晶分子的排列,由此控制光的透射与遮断。然而,在液晶显示装置D的像素中,有时将产生无论是否驱动TFT103都将成为亮点而显现的缺陷像素G。本发明的缺陷像素修正方法,其使透过此缺陷像素G的透射光减少,而使缺陷像素G变得不醒目。
其次,使用图2至图4对本实施形态中的液晶显示装置的缺陷像素修正装置加以说明。
图2为该实施形态液晶显示装置的缺陷像素修正装置的结构图。
如图2所示,此液晶显示装置的缺陷像素修正装置具有第1平台1;配置于第1平台1的上方的激出射出部2;及控制器9。并且,液晶显示装置D保持在上述第1平台1上。
激出射出部2在第2平台3上得到支撑,并在其内部设有激光振荡器4、衰减器5、动力监测器6、反射镜7、及聚光透镜8。
衰减器5、动力监测器6、及反射镜7,自激光振荡器4一侧依次配置于从激光振荡器4中射出的脉冲激光L的光路上。另一方面,聚光透镜8大致垂直配置于通过反射镜7所反射的脉冲激光L的光路上。
作为激光振荡器4,使用有Q开关Nd:YVO4激光振荡器。在本实施形态中,选择此Q开关Nd:YVO4激光(以实线表示)的理由是,如图3所示,由于即使重复频率为1[kHz]以上(至10[kHz]为止),脉冲能量(激光输出)也几乎并无波动,而可维持固定值。另一方面,以前所使用的Q开关Nd:YAG激光(以虚线表示),如图3所示当重复频率为1[kHz]以上时脉冲能量将急剧下降。
而且,衰减器5具有对从激光振荡器4所射出的脉冲激光L的能量进行调整的功能。动力监测器6具有对从衰减器5所射出的脉冲激光L的能量进行检测的功能。反射镜7具有将从衰减器5所射出的脉冲激光L反射为大致直角并将其导入聚光透镜8的功能。聚光透镜8具有将从反射镜7所反射的脉冲激光L聚焦,以使其聚焦点直径成为约1[μm]至3[μm]左右,并将其照射至缺陷像素G上的功能。
在第1平台1、第2平台3、及激光振荡器4中,连接有上述控制器9。此控制器9具有以下功能:使第1平台1于水平方向上移动,并使液晶显示装置D上的缺陷像素G对准聚光透镜8的正下方的功能;使第2平台3于水平方向上移动,并通过照射光点S光栅扫描缺陷像素G的功能;控制激光振荡器4的重复频率的功能;及使脉冲激光L的重复频率与脉冲激光L的扫描速度同步的功能。
图4A为该实施形态光栅扫描的扫描路径的概略图,图4B为说明该实施形态照射光点S的重叠率a的说明图。
如图4A与图4B所示,当照射光点S的外径为d,脉冲激光L的扫描速度为v,脉冲激光L的重复频率为f时,此控制器9以照射光点S的重叠率a为固定的方式,控制重复频率f或扫描速度v。
而且,在本实施形态中,使用通过第2平台3的移动而控制脉冲激光L本身速度的方式作为扫描速度V的控制方式,但并非仅限于此,例如为也可通过第1平台的移动而控制显示装置D的速度的方式。
照射光点S的重叠率a以式 a = 1 - v f × d 表示。
例如当扫描速度v降低时,控制器9为将照射光点S的重叠率a保持为固定,而使重复频率f下降。
其次,对使用上述结构的液晶显示装置的缺陷像素修正装置时的运行及作用加以说明。
当液晶显示装置D保持于第1平台1上时,第1平台1移动于水平方向上,并将液晶显示装置D的缺陷像素G定位于聚光透镜8的正下方。
其次,从激光振荡器4以重复频率f射出脉冲激光L。而且,将此重复频率f控制为照射光点S的重叠率a为固定,且一直保持为1[kHz]以上。
从激光振荡器4所射出的脉冲激光L,经由衰减器5、动力监测器6、及反射镜7而引入至聚光透镜8,并通过聚光透镜8的透镜作用,聚焦为特定的聚焦点直径,并照射至液晶显示装置D的缺陷像素G上。
与此同时,第2平台3移动于水平方向上,并如图4所示在照射光点S中光栅扫描缺陷像素G。由此,脉冲激光L将照射至大致全部的缺陷像素G。
当脉冲激光L照射至缺陷像素G时,则由于其之激光能量而于液晶113中产生气泡。并确认到此气泡自脉冲激光L照射后20[ms]至100[ms]内将从照射部分移开。
于是,在本实施形态中,如上所述将脉冲激光L的重复频率设定为1[kHz]以上。因此,在所产生的气泡积存于照射部分的20[ms]以内,下一个脉冲激光L射出。即,连续的脉冲激光L将于液晶113中存在气泡的环境下照射至缺陷像素G。
当于液晶113中存在气泡的环境下照射脉冲激光L时,则其激光能量的大部分将被配向膜108、112吸收,因此配向膜108、112的成份熔化蒸发。此熔化蒸发的配向膜108、112的成份,立即冷却并成为微粒子,浮游于气泡中,其后堆积于配向膜108、109上如同铺满砂石般。由此,配向膜108、112对液晶113的配向性降低,并且透过缺陷像素G的透射光的光量下降,由此缺陷像素G变暗而不醒目。
根据上述结构的液晶显示装置的缺陷像素修正装置,使用Q开关Nd:YVO4激光作为激光振荡器4,并以1[kHz]以上的重复频率f将脉冲激光L照射至缺陷像素G。
为此,趁通过先照射脉冲激光L而产生于液晶113中的气泡尚未从照射部分移开时,照射下一个脉冲激光L。即,脉冲激光L必然于存在气泡的环境下照射至缺陷像素G。
其结果,由于通过照射脉冲激光L而产生的配向膜108、112的微粒子,高效堆积于相应缺陷像素G的配向膜108、112上,因此可稳定地修正产生于液晶显示装置D上的缺陷像素G。
特别是,如本发明的修正对象般,使TFT基板内部表面平坦化时,由于气泡自产生起到移动为止的时间较短,因此以1[kHz]以上的较高重复频率f进行激光照射将会极为有效。
并且脉冲能量并不波动至1[kHz]以上的较高重复频率区域为止,因此即使随着扫描路径的返回部分中的扫描速度v的下降,重复频率f下降,也可以均匀的精度修正缺陷像素G。
而且,由于可仅使用Q开关Nd:YVO4激光作为激光振荡器4,因此可简单获得如上所述的效果,而且也可易于将本发明应用于先前装置。
(第2实施形态)
其次,使用图5对本发明第2实施形态加以说明。另外,此处,有关与第1实施形态相同的结构及作用,将省略其说明。
图5为本发明第2实施形态的激光振荡器的结构图。
如图5所示,本实施形态的激光振荡器20具有作为激励源的激光二极管21,及将电流供给至激光二极管21的电流电路22。
电流电路22按照来自上述控制器9的指令,将对应于重复频率f的电流供给至激光二极管21。由此,来自激光二极管21的激励光M的功率,调整为上述重复频率f即使上升,脉冲激光L的输出功率也大致固定。
即,本实施形态中,当脉冲激光L的重复频率f上升时,来自激光二极管21的激励光M的功率控制为取决于重复频率f,并使脉冲能量并未降低的频率区域进一步扩大。
另外,本实施形态中,供给至激光二极管21的电流值虽得到调整,但也可设为将从激光二极管21所射出的激励光M的能量通过衰减器23加以调整。
另外,图5中24为将来自激光二极管21的激励光M聚焦的透镜,25为仅使激励光M的波长透过的镜面,26为用以切换激光振荡器20的Q值的Q开关,27为掺杂有作为激光媒介Nd的激光棒,28为用以获取所产生的脉冲激光的输出镜。
(第3实施形态)
其次,使用图6对本发明第3实施形态的激光振荡器加以说明。另外,此处,有关与第1、第2实施形态相同的结构及作用,将省略其说明。
图6为本发明第3实施形态的激光振荡器的结构图。
如图6所示,本实施形态的激光振荡器30具有:AOQ开关31、将RF功率施加至AOQ开关31的转换器32、及将电压施加至转换器32的驱动电源33。
驱动电源33按照来自上述控制器9的指令,将对应于重复频率f的电压施加至转换器32。由此,从转换器32施加至AOQ开关31的RF功率控制为重复频率f即使上升,脉冲激光L的输出功率也会成为大致固定。
即,本实施形态中,当脉冲激光L的重复频率f上升时,相应于重复频率f控制施加至AOQ开关31的RF功率,并使脉冲能量并未下降的频率区域进一步扩大。
(第4实施形态)
其次,使用图7对本发明第4实施形态加以说明。另外,此处,有关与第1至第2实施形态相同的结构及作用,将省略其说明。
图7为本发明第4实施形态的液晶显示装置的缺陷像素修正装置的结构图。
如图7所示,本实施形态的液晶显示装置的缺陷像素修正装置,其具有使聚焦透镜8移动于水平方向上的第3平台41。此第3平台41根据来自上述控制器9的指令,转动聚光透镜8,并使从该聚光透镜8所射出的脉冲激光L移动。
由此,液晶显示装置D的缺陷像素G通过来自聚光透镜8的脉冲激光L得到扫描。即,于本实施形态对缺陷像素G的扫描中,脉冲激光L将被移动而代替液晶显示装置D。本发明也适用于如此结构的液晶显示装置的缺陷像素修正装置。
(第5实施形态)
其次,使用图8对本发明第5实施形态加以说明。另外,此处,有关与第1至第4实施形态相同的结构及作用,将省略其说明。
图8为本发明第5实施形态的液晶显示装置的缺陷像素修正装置的结构图。
如图8所示,本实施形态的液晶显示装置的缺陷像素修正装置,其具有保持液晶显示装置D的平台51。此平台51的大致中央部设有上下方向连通的贯通孔51A。
在平台51的下方,于与贯通孔相对的位置上配置有透射照明52。此透射照明52通过贯通孔51A,对保持于平台51的液晶显示装置D进行照明。
在平台51的上面之侧,与贯通孔51A相对的位置设有聚光透镜53。此聚光透镜53配置为其轴心线为垂直,并将从激光振荡器54所射出且以半镜面55所反射的脉冲激光L照射至液晶显示装置D上的缺陷像素G。
聚光透镜53与半镜面55的上方,由下而上依次配置透镜56与CCD照相机57。来自透射照明52的光线透过液晶显示装置D的缺陷像素G后,经由聚光透镜53、半镜面55、及透镜56,并使用CCD照相机57得到拍照。
另外,激光振荡器54与平台51中连接有控制器58。此控制器58具有控制从激光振荡器54所射出的脉冲激光L的重复频率的功能,及使平台51移动并将液晶显示装置D上的缺陷像素G定位于聚光透镜53正下方的功能。本发明,也适用于如此结构的液晶显示装置的缺陷像素修正装置。
另外,本发明并不完全限于上述实施形态,于实施阶段在不超出其要点的范围内可使构成要素变形而具体化。另外,通过上述实施形态所说明的复数个构成要素的适当组合可形成各种发明。例如也可从实施形态所示的全体构成要素中削减几个构成要素。进而也可将不同实施形态中的构成要素加以适当组合。

Claims (14)

1.一种液晶显示装置的缺陷像素修正方法,其特征在于:其通过1kHz以上重复频率的脉冲激光扫描液晶显示装置的缺陷像素,并于上述脉冲激光的照射位置存在气泡的状态下,修正上述缺陷像素,
上述脉冲激光的每1个脉冲的激光输出维持为特定的值,
上述脉冲激光为Q开关Nd:YVO4激光,
上述脉冲激光的激励源为激光二极管,并对应于上述脉冲激光的重复频率,控制从上述激光二极管射出的激励光功率,
所述液晶显示装置具有聚酰亚胺制配向膜,且所述液晶显示装置上具有TFT基板内部表面平坦化之构造。
2.根据权利要求1所述的液晶显示装置的缺陷像素修正方法,其特征在于:上述脉冲激光通过AOQ开关设为Q开关,
并对应于上述脉冲激光的重复频率,控制施加至上述AOQ开关的RF功率。
3.根据权利要求1所述的液晶显示装置的缺陷像素修正方法,其特征在于:上述脉冲激光通过特定直径的激光照射光点扫描上述缺陷像素。
4.根据权利要求3所述的液晶显示装置的缺陷像素修正方法,其特征在于:上述脉冲激光的重复频率与上述脉冲激光的扫描速度,控制为上述脉冲激光的照射光点的重叠率为固定。
5.根据权利要求4所述的液晶显示装置的缺陷像素修正方法,其特征在于:当上述脉冲激光的照射光点之间的重叠率为a,上述脉冲激光的照射光点的直径为d,上述脉冲激光的扫描速度为v,上述脉冲激光的重复频率为f时,上述重叠率a以 a = 1 - v f × d 式表示。
6.根据权利要求4所述的液晶显示装置的缺陷像素修正方法,其特征在于:上述脉冲激光的重复频率,以对应于上述脉冲激光的扫描速度之方式进行控制。
7.根据权利要求4所述的液晶显示装置的缺陷像素修正方法,其特征在于:上述脉冲激光的扫描速度,以对应于上述脉冲激光的重复频率之方式进行控制。
8.一种液晶显示装置的缺陷像素修正装置,其通过以激光振荡器进行振荡的脉冲激光扫描液晶显示装置的缺陷像素,由此修正该缺陷像素,其特征在于:其具有使上述液晶显示装置与上脉冲激光相对移动,并于上述缺陷像素中使此脉冲激光进行扫描的控制部,而通过上述激光振荡器进行振荡的每1个脉冲的激光输出,在上述脉冲激光的重复频率为1kHz以上时定为特定的值,
上述激光振荡器为Q开关Nd:YVO4激光振荡器,
上述激光振荡器具有振荡激励光的激光二极管,并通过对应于上述脉冲激光的重复频率调整供给至激光二极管的电流,而控制来自上述激光二极管的激励光的功率,
所述液晶显示装置具有聚酰亚胺制配向膜,且所述液晶显示装置上具有TFT基板内部表面平坦化之构造。
9.根据权利要求8所述的液晶显示装置的缺陷像素修正装置,其特征在于:上述脉冲激光振荡器具有AOQ开关,及将RF功率施加至上述AOQ开关的转换器,并通过对应于上述脉冲激光的重复频率调整施加至上述转换器的电压,而控制施加至上述AOQ开关的RF功率。
10.一种液晶显示装置的缺陷像素修正装置,其具有平台,该平台载放液晶显示装置;激出射出部,该激出射出部具有脉冲激光振荡器,并且将从此脉冲激光振荡器所输出的脉冲激光照射至上述液晶显示装置的缺陷像素,及控制部,该控制部使上述平台与上述激出射出部相对移动,并于上述缺陷像素中,使上述脉冲激光进行扫描,
而以上述激光振荡器进行振荡的每1个脉冲的激光输出,于上述脉冲激光的重复频率为1kHz以上时定为特定的值,
上述激光振荡器为Q开关Nd:YVO4激光振荡器,
上述激光振荡器具有振荡激励光的激光二极管,并通过对应于上述脉冲激光的重复频率调整供给至激光二极管的电流,而控制来自上述激光二极管的激励光的功率,
所述液晶显示装置具有聚酰亚胺制配向膜,且所述液晶显示装置上具有TFT基板内部表面平坦化之构造。
11.根据权利要求10所述的液晶显示装置的缺陷像素修正装置,其特征在于:上述脉冲激光以特定直径的照射光点扫描上述缺陷像素。
12.根据权利要求11所述的液晶显示装置的缺陷像素修正装置,其特征在于:若设上述各脉冲照射光点之间的重叠率为a,上述激光脉冲照射光点的特定直径为d,上述激光脉冲照射光点的重复频率为f,上述激光脉冲照射光点的扫描速度为v,则上述重叠率a以
a=1-(v/f·d)式表示。
13.根据权利要求12所述的液晶显示装置的缺陷像素修正装置,其特征在于:其对应于上述脉冲激光的重复频率控制上述脉冲激光的扫描速度,并使上述重叠率为固定的方式,以此于上述缺陷像素中使上述脉冲激光进行扫描。
14.根据权利要求12所述的液晶显示装置的缺陷像素修正装置,其特征在于:其对应于上述脉冲激光的扫描速度控制上述脉冲激光的重复频率,并使上述重叠率为固定的方式,以此于上述缺陷像素中使上述脉冲激光进行扫描。
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