CN100405496C - 光学储存媒体检测装置与方法及移动方向检测方法与光驱 - Google Patents

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Abstract

一种光学储存媒体检测装置及方法。一种检测器(detector)，其扫描一光学储存媒体，用以检测来自上述光学储存媒体的反射光，其中上述光学储存媒体具有多条凹轨(groove track)和凸轨(land track)，并且每一轨道具有一抖动(wobble)结构。依据上述检测器的输出结果，产生一抖动信号(wobble signal)以及一循迹误差信号(tracking error signal)，且抖动信号是依据上述循迹误差信号作取样(sampled)。再依据上述循迹误差信号以及上述抖动信号取样值间的比较，决定出上述检测器是在凹轨或是凸轨。

Description

光学储存媒体检测装置与方法及移动方向检测方法与光驱
技术领域
本发明是有关于一种凸(land)/凹(groove)轨道类型以及读写头移动方向检测。
背景技术
图1显示一个光学刻录系统10的示意图，用以将资料刻录至一光盘12中或是自此光盘中读出资料。光学刻录系统10包括一读写头20，其具有一激光二极管以及镜片(lens)(未显示)，其中激光二极管用以产生一激光束30，而镜片则用以将激光束30聚焦到光盘12上。盘片驱动控制器14控制一主轴马达(spindle motor)16以及一寻轨马达(sled motor)18，主轴马达16用以调整光盘12的转速，寻轨马达18则用以将读写头20沿着光盘12的一半径(radial)方向(径向)作较大距离的移动。读写头20包括一聚焦致动器以及一循迹致动器(focus and tracking actuator)(未显示)，聚焦致动器负责调整镜片的位置在一激光束30的轴向上，用以将激光束30聚焦到光盘12的轨道上；循迹致动器则负责将镜片作较小距离(例如多个轨道)的移动，允许微调(fine-tuning)此激光束的径向位置。此激光束相应于光盘12的径向位置是由寻轨马达18和循迹致动器的组合所控制。盘片驱动控制器14包括将写入光盘12信号编码的编码电路、译码由光盘12所采集的资料的译码电路、以及连接一主机计算机(Host computer)19的接口电路。
图2显示一个光盘12的示意图，此光盘包括一凹轨22以及一凸轨28，且每条轨道在光盘12上形成一螺旋线(spiral)。此螺旋线具有多重表示法。在下述描述中，此名词“轨道”可表示凹轨和凸轨、多条凹轨、或是多条凸轨。
图3显示一凹轨22和凸轨28的立体图。在进行读写操作时，轨道将引导读写头20，通过修改部分轨道的反射系数，可将资料写入到轨道中。当读写头20扫描轨道时，自轨道上反射出激光束30，并且依据写入轨道中的资料，调制此反射的激光束强度(intensity)。轨道边缘具有一径向方向50的循环偏差(recurring deviations)，即所谓的抖动(wobble)。此光盘12可包含一或多层未显示于图3的额外实体层，如一可刻录层、一可覆写层、一反射层以及一保护层。
在一实施例中，资料是储存到凹轨上，并且凹轨22边缘的抖动包括一个被调制以包含地址信息的正弦偏差。当读写头20扫描轨道时，反射激光束30也被轨道抖动(track wobble)所调制，进而产生一个包含轨道抖动信息的抖动信号。此抖动信号可被解调制以采集其中的地址信息，系统10再用此地址信息将读写头20放在凹轨的特定位置上。
为了从光盘12上的一特定位置写入或读出资料，系统10将激光束30锁定在一特定的凹轨上，并且搜寻此特定位置。但由于光盘12的离心率(eccentricity)与偏差(misalignment)造成光盘产生不正常执行(run-out)的问题，使得将激光束30锁定在一特定的凹轨上的动作变得非常困难。
参考图4，由于制造上的容错能力因素影响，光盘12上的轨道可能不会与光盘12的中孔(center hole)58的中心点56形成同心圆。此外，由于在刻录系统10中的光盘12的摆放位置上的容错能力，也使得光盘12的中心点56可能不会完美的沿着此光盘的转轴排列(此光盘转轴是沿着主轴马达16的中心轴排列)。因此，当光盘12开始转动时，激光束30可能不会紧靠凹轨，而是，由一内圈轨道(如图的P1位置)移到一外圈轨道(如图的P2位置)，再由外圈轨道移回内圈轨道。图中阴影点用来表示当光盘12旋转一圈时，激光束30被投射到光盘12上的各个不同位置。
移动激光束30的动作包含寻轨马达18和循迹致动器的控制。为了简化描述，以下只提供控制读写头的描述，省略控制循迹致动器的描述。当提到读写头20是在一特定轨道上时，表示需控制读写头20和镜片的位置，使得激光束30的中心落在此特定轨道上，其中一部分的激光束30可能覆盖相邻的轨道；当提到读写头20是锁定在一特定轨道上时，表示需控制读写头20和镜片的位置，使得激光束30是锁定在此特定轨道上。
通过知道读写头20的目前位置是在一凹轨或在一凸轨，以及读写头20是从内轨移到外轨还是从外轨移到内轨的信息，可以帮助光学刻录系统10利用一控制反馈回路，将读写头20锁定在一特定轨道上。一个循迹误差信号可由用来检测反射激光束30的光检测器(photo detector)的输出信号来获得。此循迹误差信号可用以决定出读写头20是否在一轨道的中心位置上。在一实施例中，当读写头20是在一凸轨28或是在一凹轨22的中心位置时，此循迹误差信号变成0，且当读写头20脱离轨道中心位置时，此循迹误差信号则变成一较大或较小的值。若只依靠循迹误差信号，则光学刻录系统10无法决定出读写头20是在一凸轨28或是一凹轨22上。
发明内容
在一实施例中，依据本发明的一方法特征包括接收一光学储存媒体，其具有多条凹轨以及凸轨，且每一轨道具有一抖动结构。一检测器扫描上述光学储存媒体，以检测来自上述光学储存媒体的反射光，并依据上述检测器的输出，产生一抖动信号和一循迹误差信号。再依据上述循迹误差信号，取样上述抖动信号，并依据上述循迹误差信号以及上述抖动信号取样值间的比较结果，决定出上述检测器是在上述凹轨上或在上述凸轨上。
本发明的实施可包含一个或多个下列特性，本方法包括当在一特定时间点得到的取样值大于在另一时间点得到的另一取样值时，决定出上述检测器在上述特定时间点是在一凹轨上。本方法包括当循迹误差信号为0时，取样上述抖动信号。本方法在决定出上述检测器是在上述凹轨上或在上述凸轨上的步骤中，包括比较上述抖动信号的一包封(envelope)在不同时间周期内积分的取样积分值。计算上述抖动信号的一包封在不同时间周期内积分的取样积分值是通过在上述循迹误差信号的一斜率为正的一时段内或在上述循迹误差信号的上述斜率为负的一时段内，对上述抖动信号的上述包封的振幅作积分。本方法包括取样上述抖动信号的一振幅、上述抖动信号的一峰值(peakvalue)和上述抖动信号的一包封中的至少一个。
本方法还包括依据-第一轨道是一凹轨或一凸轨的已知知识，预测一第二轨道是一凹轨或一凸轨。本方法包括比较上述第二轨道的预测轨道类型(type)与上述第二轨道的一量测轨道类型，且上述量测轨道类型是部分依据上述抖动信号来决定。本方法包括对多数轨道执行预测轨道类型与量测轨道类型的比较，并且当上述预测轨道类型是不同于上述量测轨道类型的比较次数小于一默认值(preset value)时，决定其最后预测轨道类型是正确的轨道类型。本方法包括对多数轨道执行预测轨道类型与量测轨道类型的比较，并且当上述预测轨道类型是不同于上述量测轨道类型的比较次数大于一默认值时，决定其最后预测轨道类型是正确的轨道类型。
在另一实施例中，依据本发明的一方法特征包括接收一光学储存媒体，其具有多条凹轨以及凸轨，且每一轨道具有一抖动结构。驱动一检测器扫描上述光学储存媒体，以检测来自上述光学储存媒体的反射光，并依据上述检测器的输出，产生一抖动信号和一循迹误差信号。再依据上述循迹误差信号，取样上述抖动信号；再依据上述循迹误差信号以及上述抖动信号的取样值间的比较，决定上述检测器的一移动(moving)方向。
本发明的实施可包含一个或多个下列特性，其中上述抖动信号的取样值间的比较包括比较在不同时间得到的两个上述抖动信号的取样值。上述抖动信号的取样值是当上述循迹误差信号为0时所得到；比较上述抖动信号的取样值的步骤包括上述抖动信号的一包封的积分值比较，上述积分值是通过在上述循迹误差信号的一斜率为正的一时段内或是在上述循迹误差信号的上述斜率为负的一时段内，对上述抖动信号的上述包封作积分来得到。本方法包括通过比较上述循迹误差信号和一临界值，以产生一个二元(binary)信号，并依据上述循迹误差信号和上述临界值的比较结果，决定上述二元信号具有一高值或低值，并且依据上述二元信号以及上述抖动信号的取样值间的比较，决定上述检测器的上述移动方向。其中上述临界值可为0，且上述检测器的上述移动方向是依据上述循迹误差信号的一斜率来决定。
在又一实施例中，依据本发明的一方法特征包括以一光束扫描一光学储存媒体，上述光学储存媒体具有多条凹轨以及凸轨，且每一轨道具有一抖动结构；依据来自上述光学储存媒体的反射光，产生一抖动信号和一射频(RF)信号，其中上述抖动信号具有关于被上述光束扫描过的一轨道的上述抖动结构信息，且上述射频(RF)信号具有关于记录在上述轨道内的资料信息；选取上述抖动信号和上述射频(RF)信号中的一个；以及依据上述选取的信号，决定出上述光束是在一凹轨上或是在一凸轨上。
本发明的实施可包含一个或多个下列特性。其中选取上述抖动信号和上述射频(RF)信号中的一个的步骤包括依据上述光束是在上述光学储存媒体的一具有资料的资料区间内或是在上述光学储存媒体的一不具资料的的空白(blank)区间内作选取。本方法包括产生一循迹误差信号，其振幅随着上述检测器相应于上述凹轨以及上述凸轨的一位置而变化，其中依据上述选取的信号，决定出上述光束是在一凹轨上或是在一凸轨上的步骤包括比较依据上述循迹误差信号作取样的上述选取信号的取样值。
在又一实施例中，依据本发明的一方法特征包括依据由一检测器扫描一光学储存媒体所检测得的光，产生一抖动信号、一循迹误差信号、以及一射频(RF)信号，其中上述光学储存媒体具有多条凹轨及凸轨，且每一轨道具有一抖动结构；选取上述抖动信号和上述射频(RF)信号中的一个；以及依据上述选取的信号以及上述循迹误差信号，决定出上述检测器相应上述轨道的一移动方向。
本发明的实施可包含一个或多个下列特性。本方法包括依据上述光束是在上述光学储存媒体的一具有资料的资料区间内或是在上述光学储存媒体的一不具资料的的空白(blank)区间内，选取上述抖动信号和上述射频(RF)信号中的一个。本方法包括依据上述循迹误差信号作取样的上述选取信号的取样值的比较结果，决定出上述检测器的上述移动方向。
在又一实施例中，依据本发明的一方法特征包括产生一循迹误差信号，其振幅随着一光束相应于一光学储存媒体的一位置而变化，上述光学储存媒体具有一凹轨以及一凸轨，并且当上述光束是大体上落在上述轨道中的一个的一中线(centerline)时，上述循迹误差信号大体上相等于一既定值；以及利用一反馈回路(feedback loop)，依据上述循迹误差信号控制上述光束相对于上述凹轨的上述位置，其包括当上述光束是在上述凸轨上时，维持(holding)上述循迹误差信号值，以及当上述光束是在上述凹轨上时，使用上述循迹误差信号的一量测值。
在又一实施例中，依据本发明的一方法特征包括依据一检测器检测到的至少一反射光以及透射光，产生一射频信号与一循迹误差信号，上述检测器扫描一光学储存媒体，其具有多条轨道，并且上述轨道的反射率(reflectivity)或透射率(transmissivity)是与轨道外区域不同；以及依据上述射频信号的取样值比较，决定出上述检测器是在一轨道或是在一介于轨道间的区域，其中上述射频信号的取样值是依据上述循迹误差信号作取样。
在又一实施例中，依据本发明的一方法特征包括依据一检测器扫描一光学储存媒体检测到的反射光或透射光，产生一射频信号与一循迹误差信号，上述光学储存媒体具有多条轨道，并且上述轨道的反射率或透射率是与上述轨道外区域不同；以及依据上述射频信号的取样值的比较结果，决定出上述检测器的一移动方向，其中上述射频信号的取样值是依据上述误差信号作取样。
在又一实施例中，依据本发明的一方法特征包括以一光束扫描一光学储存媒体，上述光学储存媒体具有多条轨道，且上述轨道的反射率是与上述轨道外区域不同。接着依据来自上述光学储存媒体的反射光，产生一射频信号，并依据上述射频信号的取样值的比较结果，决定出上述以上述光束扫描上述光学储存媒体的步骤在一轨道或是在一介于上述轨道间的区域进行。
在又一实施例中，依据本发明的一方法特征包括驱动一检测器扫描一光盘，上述光盘具有多条轨道，用以检测来自上述光盘的反射光，并且上述轨道的反射率是与轨道外区域的反射率不同。接着依据上述检测器的输出结果，产生一射频信号。再依据上述射频信号的取样值的比较结果，决定出上述检测器是由一外轨往一内轨移动或是由一内轨往一外轨移动。
在又一实施例中，依据本发明的一方法特征包括依据一抖动信号的取样值的比较结果，决定出扫描动作是发生在一刻录媒体的一凹轨上或在一凸轨上，其中上述抖动信号的取样值是由扫描上述凹轨或上述凸轨的一实体特性的循环偏差(recurring deviations)所得到。
本发明的实施可包含一个或多个下列特性。刻录媒体包括一光学刻录媒体，并且驱动上述检测器扫描上述光盘的步骤包括以一光束扫描上述光盘刻录媒体。循环偏差包括上述轨道的一边界在上述轨道的一横切(transverse)方向上的偏差。抖动信号的取样值是当扫描动作发生在一凸轨或一凹轨的一中心时所得到。决定出上述扫描动作是发生在上述凹轨或上述凸轨中的一个的动作也依据一信号的一斜率，其随着上述扫描是由一凸轨移到一凹轨或是由一凹轨移到一凸轨来改变斜率。而上述抖动信号的取样值包括上述抖动信号的一包封对时间积分的值。
在又一实施例中，依据本发明的一方法特征包括激活(enabling)一抖动信号以及一射频信号中的一个，用以依据上述选取信号的取样值的比较结果来决定出扫描是发生在一刻录媒体的一凹轨或是一凸轨上，并且每一上述轨道有具有循环偏差的一实体特性。
本发明的实施可包含下列特性。选取上述抖动信号以及上述射频信号中的一个的动作包括依据上述扫描是发生在上述光学储存媒体的一具有资料的资料区间上或是在一不具资料的空白区间上来选取。
在又一实施例中，依据本发明的一方法特征包括依据一抖动信号的取样值的比较结果，决定出一读写头相应一刻录媒体上的一凹轨以及一凸轨的一移动方向，其中上述抖动信号的取样值是通过检测上述凹轨或上述凸轨的一实体特性的循环偏差所得到。
本发明的实施可包含下列特性。刻录媒体包括一盘片，并且决定出上述读写头的上述移动的动作包括决定出上述读写头的一移动方向的一要素(component)，其中上述要素是沿着上述盘片的一径向方向。
在又一实施例中，依据本发明的一装置其包括一读写头、一抖动信号产生器、一循迹误差信号产生器以及一凸/凹轨信号产生器。读写头用以扫描具有多条凹轨和凸轨的一光学储存媒体以及在上述轨道的一实体特性中检测循环偏差，其中上述光学储存媒体具有凹轨和凸轨。抖动信号产生器，用以产生一抖动信号，其中上述抖动信号用以表示上述循环偏差，并且具有随着上述读写头相应上述凹轨或上述凸轨的一位置作变化的一振幅。循迹误差信号产生器，用以产生一循迹误差信号。上述循迹误差信号以及上述抖动信号是依据上述读写头的输出结果来产生。凸/凹轨信号产生器，则用以依据上述循迹误差信号以及上述抖动信号的取样值的比较结果，产生一凸/凹轨信号以表示上述读写头是正在扫描一凹轨或一凸轨。
本发明的实施可包含一个或多个下列特性。凸/凹轨信号产生器包括一比较器，用以比较上述抖动信号的一目前取样值与一闩锁取样值(latchedsampled value)，以产生一比较信号，其中上述闩锁取样值是延迟目前取样值而得。凸/凹轨信号产生器亦包括一凸/凹(land/groove)信号产生器，用以相应上述循迹误差信号的一斜率变化来闩锁上述比较信号，并且将上述闩锁的比较信号输出为上述凸/凹信号。凸/凹信号产生器可包括一积分器，用以在上述循迹误差信号的一斜率为正或上述循迹误差信号的上述斜率为负的一时段内对上述抖动信号的一包封作积分，并且上述凸/凹信号产生器依据上述积分器的一目前输出结果与一闩锁的输出结果的比较结果，产生上述凸/凹信号，其中上述闩锁的输出结果是延迟上述目前输出结果而得。
在又一实施例中，依据本发明的一装置其包括一检测器、一抖动信号产生器、一循迹误差信号产生器以及一移动方向信号产生器。检测器用以检测在一光学储存媒体上的变化，其中上述光学储存媒体具有多条凹轨和凸轨。抖动信号产生器用以产生一抖动信号，其中上述抖动信号用以表示上述凹轨或上述凸轨的一实体特性的循环偏差，并且其振幅随着上述检测器相应于上述凹轨或上述凸轨的一位置而变化。循迹误差信号产生器则用以产生一循迹误差信号，上述循迹误差信号以及上述抖动信号是依据上述读写头的输出来产生。移动方向信号产生器则用以依据上述循迹误差信号以及上述抖动信号的取样值的比较结果，产生表示上述检测器相应轨道的一移动方向的一方向信号。
本发明的实施可包含一个或多个下列特性。在一实施例中，移动方向检测器包括：一比较器，用以比较上述抖动信号的一目前取样值与一闩锁取样值，其中上述闩锁取样值是延迟上述目前取样值而得；以及一方向信号产生器，用以依据上述循迹误差信号以及上述比较器的一输出结果，产生上述方向信号。在另一实施例中，移动方向检测器包括：一积分器，用以在上述循迹误差信号的一斜率为正或在上述循迹误差信号的上述斜率为负的一时段内对上述抖动信号的一包封作积分；以及一方向信号产生器，用以依据上述积分器的一目前输出结果与一闩锁的输出结果的比较结果，产生上述方向信号，其中上述闩锁的输出结果是延迟上述目前输出结果而得。
在又一实施例中，依据本发明的一种光驱其包括：一光学读写头、一抖动信号产生器、一循迹误差信号产生器、一检测单元(unit)以及一轨道存取模块。光学读写头用以检测在一光盘上的变化，其中上述光盘具有一凹轨和一凸轨。抖动信号产生器用以产生一抖动信号，其中上述抖动信号用以表示上述凹轨或上述凸轨的边缘(border)的循环偏差。循迹误差信号产生器用以产生一循迹误差信号，其表示上述读写头相应上述轨道的一位置，上述循迹误差信号以及上述抖动信号是依据上述读写头的输出结果来产生。检测单元(unit)用以依据上述循迹误差信号以及上述抖动信号的取样值的比较结果，产生至少一凸/凹信号以及一移动方向信号，并且上述凸/凹信号用来表示上述读写头是在上述凹轨或上述凸轨上，而上述移动方向信号用来表示上述读写头相应上述轨道的-移动方向。轨道存取模块则用以依据至少一上述凸/凹轨信号以及上述移动方向信号，摆放上述读写头相应上述光盘的位置。
本发明的实施可包含一个或多个下列特性。在一实施例中，检测单元包括一保护单元，用以当上述读写头通过上述轨道的一速度低于一默认值时，防止上述轨道存取模块利用上述凸/凹轨信号或上述移动方向信号来摆放上述读写头。在另一实施例中，检测单元包括一保护单元，用以当上述抖动信号的上述取样值间的差异量低于一默认值时，防止上述轨道存取模块利用上述凸/凹轨信号或上述移动方向信号来摆放上述读写头。
在又一实施例中，依据本发明的一种光驱其包括：一光学读写头、一抖动信号产生器、一射频(RF)信号产生器、一循迹误差信号产生器、一选取单元、一检测单元以及一轨道存取模块。光学读写头用以扫描一光盘，其中上述光盘具有一凹轨和一凸轨。抖动信号产生器用以产生一抖动信号；射频(RF)信号产生器用以产生一射频信号；循迹误差信号产生器用以产生一循迹误差信号以指出上述读写头相应上述轨道的一位置。选取单元用以依据上述读写头是正在扫描上述光盘的一具有资料的资料区间或是一不具资料的空白区间，选取上述抖动信号以及上述射频信号中的一个。检测单元用以依据一循迹误差信号以及上述选取的信号的取样值的比较结果，产生至少一凸/凹轨信号以及一移动方向信号，并且上述凸/凹信号用来表示上述读写头是在扫描上述凹轨或上述凸轨，而上述移动方向信号用来表示上述读写头相应上述轨道的一移动方向。轨道存取模块则用以依据上述凸/凹轨信号或上述读写头移动方向信号，摆放上述读写头相应上述光盘的位置。
本发明的实施可包含一个或多个下列特性。在一实施例中，检测单元包括一保护单元，用以当其跨轨(track-crossing)速度低于一预设速度时，防止上述轨道存取模块利用上述凸/凹轨信号或上述移动方向信号来摆放读写头。在另一实施例中，检测单元包括一保护单元，用以当上述选取到的信号的取样值间的差异量低于一默认值时，阻止上述轨道存取模块利用上述凸/凹轨信号或上述移动方向信号来摆放读写头、在又一实施例中，检测单元包括一保护单元，用以在上述读写头由扫描一数据区间换到扫描一空白区间或是由扫描一空白区间换到扫描一资料区间后的一段预设时间，防止上述轨道存取模块利用上述凸/凹轨信号或上述移动方向信号来摆放读写头。
在又一实施例中，依据本发明的一种光驱其包括一比较器，用以比较一抖动信号的取样值，上述抖动信号的取样值是由扫描一刻录媒体上的一凹轨或一凸轨的一实体特性的循环偏差所得到；以及一电路，用以依据上述比较器的一输出结果，产生一输出结果以表示上述扫描一刻录媒体上的一凹轨或一凸轨的一实体特性的循环偏差的动作是发生在上述凹轨或在上述凸轨上。
本发明的实施可包含下列特性。上述光驱包括一光学读写头，其扫描穿过上述刻录媒体的一光束并且检测来自上述刻录媒体的反射光或将光经由上述刻录媒体透射，用以检测上述循环偏差。
在又一实施例中，依据本发明的一种光驱其包括一多任务器，用以选取一抖动信号以及一射频信号中的一个，上述抖动信号具有通过扫描一刻录媒体上的一凹轨或一凸轨所得的两信号间的差异量信息，每一轨道具有一实体特性，上述实体特性具有循环偏差，上述射频信号具有关于记录在轨道内资料的信息。上述光驱还包括一电路，用以依据上述选取信号的取样值间的比较结果，产生一输出以表示是否上述扫描一刻录媒体上的一凹轨或一凸轨的动作是发生在上述凹轨或是上述凸轨上。
本发明的实施可包含下列特性。上述多任务器接收一选取信号，用以表示上述扫描一刻录媒体上的一凹轨或一凸轨的动作是发生在一轨道的一具有资料的资料区间或是发生在一轨道的一不具资料的空白区间上。
在又一实施例中，依据本发明的一种光驱其包括一比较器，用以比较一抖动信号的取样值，上述抖动信号的取样值是由扫描一刻录媒体上的一凹轨或一凸轨的一实体特性的循环偏差所得到；以及一电路，用以依据上述比较器的输出结果，产生一输出以表示一读写头相应上述凸轨以及上述凹轨的一移动方向。
在又一实施例中，依据本发明的一种光驱其包括用以扫描一具有一凹轨及一凸轨，且每一轨道有具有循环偏差的一实体特性的光盘的装置，以及用以依据一具有循环偏差的抖动信号的取样值的比较结果，产生一轨道类型信号，用以表示扫描动作是发生在其凹轨或是其凸轨上。
在又一实施例中，依据本发明的一种光驱其包括一光学读写头，用以扫描一具有一凹轨及一凸轨，且每一轨道有具有循环偏差的一实体特性的光盘的装置；以及装置用以依据一具有循环偏差的抖动信号的取样值的比较结果，产生一读写头移动方向信号，用以表示读写头的移动方向。
在又一实施例中，依据本发明的一种光驱其包括用以依据扫描一具有一凹轨及一凸轨，且每一轨道有具有循环偏差的一实体特性的一光盘的结果，产生一抖动信号以及一射频信号；以及用以选取其抖动信号以及射频信号中的一个的装置。上述光驱包括用以依据上述选取的信号的取样值的比较结果，决定出至少(1)扫描动作是发生在凹轨或是在凸轨上以及(2)其扫描动作是由一内轨朝外轨移动或是由一外轨朝内轨移动的两个动作的其中一个的装置。
上述的所有装置以及光驱可包含一译码器，其利用一种兼容于只读光盘、DVD+R、DVD-R、DVD+RW、DVD-RW、蓝光激光(Blue-Ray)盘片以及高密度数字多媒体光盘(DVD)标准的至少一个的译码程序，将编码过的数据译码。
附图说明
图1是显示一光学刻录系统。
图2是显示一光盘。
图3是显示一光盘上凹轨与凸轨的立体图。
图4是显示一光盘。
图5是显示凹轨与凸轨。
图6是显示用以产生一循迹误差信号、一抖动信号以及一射频信号的模块示意图。
图7是显示一循迹误差信号与一抖动信号的仿真结果。
图8是显示用以产生一定轨控制信号的模块区块图。
图9是显示一凸/凹轨道与读写头移动方向检测装置。
图10是显示由图9中的装置所产生的信号图。
图11是显示一凸/凹轨道与读写头移动方向检测装置。
图12是显示由图11中的装置所产生的信号图。
图13是显示一凸/凹轨道与读写头移动方向检测装置。
图14是显示由图13中的装置所产生的信号图。
图15是显示一处理程序。
图16是显示用以产生一定轨控制信号以在存取轨道时控制读写头的模块区块图。
图17是显示由一具有资料区与空白区的光盘中测得的信号图。
图18是显示一保护单元的示意图。
符号说明.
10-光学刻录系统；    12-光盘；
14-盘片驱动控制器；          16-主轴马达；
18-寻轨马达；                19-主机计算机；
20-读写头；                  22-凹轨；
24、26-边缘；                28-凸轨；
30-激光束；                  40-四分光检测器；
41-二分光检测器；            42、44-光感应器；
46-二分光检测器；            48、49-光感应器；
50-径向方向；                56-中心点；
58-中孔；
60、61、62 63-光感应器；
70-抖动信号产生器；          72-高通滤波器；
73、75-第二激光束；          77-抖动信号；
78-射频包封信号；
81-信号峰值-底部维持装置；
83-推拉信号；                85-射频信号；
102-光检测器；               104-循迹误差产生器；
108、109-检测单元；          110-轨道存取单元；
112-循迹误差信号(TE)；       115-凹/凸轨道信号；
116-读写头移动方向信号；
117-保护信号；
120-凹/凸轨和读写头移动方向检测装置；
122-零交点检测单元；
124-循迹误差零交点信号(TEZC)；
125-延迟单元；               126-边缘检测单元；
128-脉冲信号；               130-正缘检测单元；
132-包封检测单元；           133-斜率检测单元；
134-抖动包封信号；            135-边缘检测单元；
136-取样维持单元；            137-闩锁单元；
138-取样值(Wobble_SH1)；
139-循迹误差斜率信号；        140-第二取样维持单元；
141-斜率边缘信号；            142-比较器；
143-非门；                    144-闩锁单元；
145-闩锁单元；                146-循迹误差信号；
147-闩锁值；
150-延迟的取样值(Wobble_SH2)；
151-延迟的积分信号            152正缘脉冲信号；
154-第一轨道型态信号；
155-校正后的第一轨道类型信号；
161-非门；
200-凹/凸轨和读写头移动方向检测装置；
201-正缘检测单元；           202-斜率检测单元；
203-脉冲信号；               204-循迹误差斜率信号；
206-脉冲信号；               208-积分单元；
210-积分信号；               212-第二轨道类型信号；
300-凹/凸轨和读写头移动方向检测装置；
302-互斥或门；
304-消除短时脉冲波干扰单元；
308-XOR信号；                310、370-信号图；
312-循迹误差维持装置；      313-循迹控制信号；
314-数值比较单元340的输出；
316、318、320-脉冲；        322-延迟的TEZC信号；
340-数值比较单元；
342-TEZC信号频率临界值(TEZC_FREQ_TH)；
344-抖动临界值(Wobble_TH)；
356-射频信号产生器；    358-多任务器；
402-低跨轨频率保护单元；
404-抖动拍子保护单元；
408-PROTECT1信号；       410-PROTECT2信号；
412-PROTECT3信号；       414-校正单元；
418-或门；               420-保护周期。
具体实施方式
本发明的实施可包括一个或多个上述特性。本发明的其它特征及优点将根据以下详细说明清楚了解，配合所附图示，通过实施例阐示本发明的基本精神。
光学刻录系统可通过当一个光学读写头接近轨道的中间(即循迹误差信号接近0)时，取样一抖动信号，决定出是否读写头是在光盘的凹轨或是凸轨上，并且比较此被取样抖动信号的振幅。此抖动信号是一信号，其包含关于在轨道边界的循环偏差的信息。当取样自特定轨道的抖动信号的振幅是大于其相邻轨道的抖动信号的振幅时，此特定轨道被决定为一凹轨，并且其相邻轨道被决定为一凸轨。此光学刻录系统可通过关于读写头是在一凹轨或是一凸轨上的信息以及在一时段上量测得的循迹误差信号的综合资料，决定出读写头相应轨道的移动方向是由一外圈轨道移到一内圈轨道(一靠近光盘中心的轨道)，或由一内圈轨道移到一外圈轨道(一远离光盘中心的轨道)。此允许光学刻录系统可以利用一控制反馈回路，即使内圈轨道不是完全地与光盘的转轴成同心圆，也可快速的寻轨并且稳定地锁定在一特定轨道。
参考图5，在一实施例中，每个凹轨22具有两个彼此平行设置的边缘24与26。边缘24与26具有同相的循环偏差(抖动)，即位移在同一方向。每个凸轨28共享相邻凹轨的边缘。由于相邻两个凹轨的边缘不必是同相的，因此一个凸轨的两个边缘不一定会彼此平行。如图5所示的例子中，每个凸轨28的边缘往彼此相反方向抖动。当读写头20沿着一轨道的切线方向51扫描的时候，依据激光束30是落在一凹轨22(例如在位置A)或是在一凸轨28(例如在位置B)，激光束30的反射光的横断面(cross section)将具有不同的强度样式(patterns)。
在以下的例子中，除非有另外的说明，否则凹轨被设成具有比凸轨低的反射系数。
图6显示一模块示意图  此模块用以依据激光束30的反射光的横断面的强度样式，产生一循迹误差信号112、一抖动信号77、以及一射频包封信号78。四分(quad-section)光检测器40(其被包含在读写头20内)具有四个独立的光感应器60、61、62以及63，分别用来检测激光束30的反射光的横断面的四个方向的强度，用以产生四个相对的输出信号A、B、C和D。
信号A、B、C和D接着被处理，用以产生一相减(difference)信号以及一加总(sum)信号，其中相减信号表示为推拉(push-pull)信号83，具有(A+D)-(B+C)的值，加总信号则表示为射频信号85，具有A+B+C+D的值。推拉信号83具有关于轨道的循环偏差(抖动)信息，射频信号85则具有关于记录在轨道内的资料信息。在以下描述的一些情况下，此射频信号85同时也具有关于轨道的循环偏差信息。
推拉信号83被传送到高通滤波器72，用以产生抖动信号77。此高通滤波器72的截止频率被设定来允许具有轨道边缘的循环偏差的信号通过。其中高通滤波器72也可用一个带通滤波器(band-pass filter)来取代。
射频信号85则被传送到信号峰值-底部维持(peak-bottom-hold)装置81，用以产生射频包封信号78，其表示射频信号85的包封。例如，此射频包封信号78具有相对循迹误差信号112的90度相位差。
在一实施例中，循迹误差信号112是利用推拉信号83以及由读写头20所产生的第二(secondary)光束73和75所得的信号产生。一个二分(bi-section)光检测器41具有两个独立的光感应器42与44，两个独立的光感应器42与44检测反射激光束73的横断面的两方向的强度，用以分别产生输出信号E和F。类似地，另一个二分光检测器46具有两个独立的光感应器48与49，两个独立的光感应器48与49检测反射激光束75的横断面的两方向强度，用以分别产生输出信号G和H。输出信号A到H依据下列方程式被一循迹误差信号产生器所处理，用以产生一循迹误差信号112：
循迹误差＝[(A+D)-(B+C)]-k[(E-F)+(G-H)]，(Equ.1)
其中k是一加权系数。除了上述方法外，其它用以产生循迹误差信号112的方法也可被采用。
当读写头是在轨道中间时(即循迹误差信号112为0)，光学刻录系统10取样抖动信号77，并比较此被取样的抖动信号77的振幅。如果在一特定轨道Tn取样的抖动信号77的振幅是大于在其相邻轨道Tn-1或Tn+1取样到的抖动信号77的振幅，则光学刻录系统10将决定出此特定轨道Tn为凹轨22，而其相邻轨道Tn-1和Tn+1为凸轨28。
相反地，如果在一特定轨道Tn取样的抖动信号77的振幅是小于在其相邻轨道Tn-1或Tn+1取样到的抖动信号77的振幅，则光学刻录系统10将决定出此特定轨道Tn为一凸轨28，而其相邻轨道Tn-1和Tn+1为凹轨22。具有快速决定出读写头20是在一凹轨或是一凸轨上的能力，可允许光学刻录系统10快速地寻轨且锁定在光盘12的一特定轨道上。
图7显示一个循迹误差信号112以及抖动信号77在当读写头扫描轨道，同时沿一径向往外的方向(相对光盘12的中孔)移动时的测量仿真结果。当读写头在一凹轨或是一凸轨的中心(P3点和P4点)时，循迹误差信号112设为0。抖动信号77具有一载频(carrier frequency)，其实质上等于一个在轨道边缘的抖动信号的载频。当读写头20由径向地朝外移动时，抖动信号77的包封的振幅随着读写头20对应一凹轨或一凸轨的位置作变化。例如，当读写头20是在一凹轨22上时，如P7点，其包封的振幅较大；而当读写头20是在一凸轨28上时，如P8点，其包封的振幅较小。
循迹误差信号112可利用Equ.1来取得。因为凸轨28具有比凹轨22高的反射系数(reflectance)，因此当读写头落在凹轨以及凸轨中的一个边缘上(P30)，使得光感应器61以及62(其输出B+C)检测来自其凸轨的反射光，同时光感应器60以及63(其输出A+D)检测来自其凹轨的反射光时，得到的循迹误差信号112较小。换言的，当读写头落在凹轨以及凸轨中的一个边缘上(P32)，使得光感应器61以及62检测来自其凹轨的反射光，并且光感应器60以及63检测来自其凸轨的反射光时，得到的循迹误差信号112较大。
四分光检测器40被安排在一个使得光感应器60以及63比光感应器61以及62摆置在径向朝内的方向。当读写头相应轨道径向地朝外移动(如箭头50所示)并且在一时段内量测循迹误差信号112的信号准位，若读写头20是在一凸轨28上时，循迹误差信号112的斜率为正，反之若读写头20是在一凹轨22上时，循迹误差信号112的斜率为负。相反地，当读写头相应轨道径向地朝内移动(如箭头64所示)并且在一时段内量测循迹误差信号112的信号准位，若读写头20是在一凸轨28或是一凹轨22上时，其循迹误差信号112的斜率则分别为负或为正。
图8显示一模块区块图，用以在存取一轨道时，产生一循迹控制信号313来控制读写头20。光检测器102检测反射激光束30、73和75，并且输出检测到的信号至一循迹误差产生器104以及一抖动信号产生器70。循迹误差产生器104产生一循迹误差信号112，抖动信号产生器70则产生一抖动信号77，其中循迹误差信号112以及抖动信号77都被送至一检测单元108中。当循迹误差信号112为0时，此检测单元108将取样抖动信号77，并比较这些取样抖动信号的振幅。再依据比较结果，决定出读写头20是在一凹轨22或是在一凸轨28上，并且产生一凹/凸轨道信号(缩写成“凹/凸信号”)115。在一实施例中，当读写头20是在一凹轨22上或在一凸轨28上时，凹/凸信号115则分别具有1或0的数值。
检测单元108也产生一读写头移动方向信号116(缩写成“读写移动方向信号”)，表示读写头20依据取样的抖动信号的比较结果，在相对盘片12的径向方向的移动方向。在一实施例中，读写移动方向信号116可以依据循迹误差信号112的斜率信息以及关于上述读写头是在一凸轨28或是在一凹轨22上的信息而得。在一实施例中，当读写头20相对轨道的移动方向是径向的朝外或是朝内时，读写移动方向信号116则分别为1(高)或0(低)的值。
接着，循迹误差信号112、凹/凸信号115以及读写移动方向信号116被送到一轨道存取单元110此轨道存取单元110用以控制读写头20的位置(亦同时控制盘片12的激光束30的位置)。主机计算机19可要求存取被储存在一特定轨道上的资料。例如，当光盘12是一CD-R、CD-RW、DVD+R、DVD+RW、DVD-R、DVD-RW、蓝光激光可刻录(BD-R)、或是蓝光激光可覆写(BD-RW)光盘时，资料是写在凹轨内。对上述的盘片类型而言，轨道存取单元110将读写头20锁定到凹轨内来完成读/写动作。
在一实施例中，当轨道存取单元110尝试去将读写头20锁定在一特定轨道312上(参见图7)，轨道存取单元110利用一负反馈控制回路，用以控制读写头20的位置，以使循迹误差(TE)信号112等于0。例如，当循迹误差信号112小于0时，负反馈回路会将读写头径向地朝内移动；当循迹误差信号112大于0时，负反馈回路会将读写头径向地朝外移动。循迹误差信号112的绝对值愈大，将读写头20朝轨道中心移动的力量就愈大。
若轨道存取单元110决定出读写头20是在点P10(其循迹误差信号112小于0)，则轨道存取单元110将读写头20朝内移动，使得最终读写头20落在循迹误差信号112为0的点P11上。
若读写头20是在一个凸轨(如314所示)上方，则不能使用负反馈回路。负反馈回路是设计来将读写头20移动到一个凹轨(如312所示)的中心，并当读写头20在一凸轨(如314所示)上时，产生一正反馈。例如，如果读写头20落在点P12，则负反馈回路将导致读写头沿径向朝内的方向移动，并且读写头20朝内移动的愈远，将读写头20朝内移动的力量就愈大，造成不稳定，同时也更导致读写头20滑动到错的轨道上。
在一实施例中，为了增加轨道存取单元110的锁定能力，轨道存取单元110包括一循迹误差维持装置(TE hold mechanism)312，用以当读写头20是在一凸轨上时，维持被取样的循迹误差信号112的值。当读写头沿径向朝外的方向移动时，循迹误差维持装置312只有在读写头20仍在一凸轨(可以是与维持此TE值时相同的凸轨或是一不同的凸轨)时，允许循迹误差信号112自维持值递减。同时当读写头20沿径向朝内的方向移动时，循迹误差维持装置312只有在读写头20仍在一凸轨(可以是与维持此TE值时相同的凸轨或是一不同的凸轨)时，允许循迹误差信号112自维持值递增。
有多个方式可用来决定出被取样的循迹误差信号要被循迹误差维持装置312维持在什么值上。在一实施例中，当读写头20沿径向朝内或朝外的方向移动时，此维持值则分别为在读写头20在凸轨上的时间周期内取样的循迹误差信号的最大值或最小值。
通过传送此维持的TE值(代替目前取样的TE值)到负反馈回路中，可降低读写头20在凸轨上的滑动。如此无论读写头20是在一凹轨或是一凸轨上方，轨道存取单元110都可以开始锁定读写头20的程序。
当读写头20移动到一凹轨上时，循迹误差维持装置312停止维持TE值，且测得的循迹误差信号112被送到负反馈回路中，以使读写头20可以锁定在凹轨的中心。
检测单元108则产生一个保护信号117来指示在进行轨道存取时，凹/凸信号115以及读写移动方向信号116是否可以被使用。例如，凹/凸信号115以及读写移动方向信号116可能会有短时脉冲波干扰(glitch)，造成失效，因此这些信号就不能使用。保护信号117指示是否循迹误差维持装置312可以被关闭(disabled)并且不维持TE值，即便凹/凸信号115指出读写头20是在一凸轨上。保护信号117也指出是否读写头20是在一资料区以及一空白区的边缘上，使得抖动信号可能不连续，所以不能使用。以下将更详加描述保护信号117。
下列提供三种产生凹/凸信号115以及读写移动方向信号116的方法。
第一种产生凹/凸信号115和读写移动方向信号116的方法
图9显示一个凹/凸轨和读写头移动方向检测装置120的示范例。在循迹误差信号112是等于0的连续情况期间，抖动信号77的包封至少被取样两次。上述两个取样的值接着被拿来作比较，用以产生一第一轨道类型(type)信号154，其指示当抖动信号77被取样时，读写头20是在接近或是在一凹轨或是一凸轨的中心。凸/凹信号115是由第一轨道类型信号154所取得，用以表示目前轨道是一凸轨或是一凹轨(目前轨道视为读写头20目前所在的轨道)。
图10显示由装置120的单元所产生的信号图360。以下先描述如何产生凸/凹信号115，接着描述如何产生读写方向信号116。
首先，零交点检测单元122接收循迹误差信号112，决定出何时循迹误差信号112等于0(如在点P18和P19上)，并且输出一循迹误差零交点(TEZC)信号124。当循迹误差信号112变成0时并且循迹误差信号112的斜率为正时，此TEZC信号124具有一上升缘(rising edge)(如158)；当循迹误差信号112变成0时并且循迹误差信号112的斜率为负时，此TEZC信号124具有一下降缘(failing edge)(如160)。边缘(edge)检测单元126产生一脉冲信号128，此脉冲信号具有脉冲表示TEZC信号124具有一上升缘或下降缘的位置。正缘检测单元130产生一脉冲信号152，此信号152具有具有脉冲表示TEZC信号124具有上升缘的位置。
包封检测单元132接收抖动信号77，决定出抖动信号77的包封，并且产生一抖动包封信号134。在一实施例中，包封检测单元132通过维持抖动信号77内每个周期(cycle)的最高值或最低值、通过将抖动信号77内每个周期的最高值减掉最低值、或是通过取得每个抖动周期中抖动信号的最高绝对值，来决定出抖动信号77的包封。一个取样维持(sample-and-hold)单元136在脉冲信号128上出现一脉冲(其表示TEZC信号124的一边缘)时，取样与维持抖动包封信号134的值，并且输出一取样值(Wobble_SH1)138。取样维持单元136可以是模拟的或是数字的(其可以利用一个模拟到数字的转换器来取样抖动包封信号)。第二取样维持(sample-and-hold)单元140将取样值138延迟TEZC信号124的半个周期，并且输出一个此延迟的取样值(Wobble_SH2)150。例如，在点P20的取样值被延迟一段t6的时间，相当于TEZC信号124的半个周期。类似地，在点P21的取样值被延迟一段t7的时间，且在点P22的取样值被延迟一段t8的时间。
在TEZC信号124的上升缘或下降缘上，比较器142比较延迟的取样信号150以及一个较新的取样值(more recently sampled value)138，并且输出第一轨道类型信号154。若此较新的取样值138大于延迟的取样信号150，则第一轨道类型信号154在TEZC信号124边缘将具有1的值，用来表示当量测此较新的取样值138时，读写头20是落在一凹轨的中心。相反地，假如此较新的取样值138小于延迟的取样信号150，则第一轨道类型信号154在TEZC信号124边缘将具有0的值，用来表示当量测此较新的取样值138时，读写头20是落在一凸轨的中心。
第一轨道类型信号154允许系统10来决定出在转动了一个半(one-half)轨道之后，读写头20是在一凸轨或是在一凹轨上(这是因为两个取样的抖动包封值的比较是当循迹误差信号为0时执行的，循迹误差信号为0则发生在读写头20在轨道中心时)。
第一轨道类型信号154可以是时移(time-shifted)的，以产生凸/凹信号115，此凸/凹信号115提供有关于读写头20是否在一接近轨道开头的凹轨或凸轨上的信息。
斜率检测单元133接收循迹误差信号112并且产生一TE斜率信号139。边缘检测单元135接着检测TE斜率信号139的边缘，并产生一斜率边缘信号141。斜率边缘信号141包括脉冲来表示TE斜率信号139的上升缘与下降缘的位置，其大概表示轨道边缘的位置。当斜率边缘信号141中有一脉冲发生时，闩锁(latch)单元137会闩住第一轨道类型信号154的值。闩锁值147(视为一互补凸/凹信号)表示前一个(previous)轨道的型态，如分别用1或0的闩锁值来表示前一个轨道是一凸轨或是一凹轨。一个非门(NOT gate)反转闩锁值147的极性并且产生凸/凹信号115，其在读写头20在一凹轨或在一凹轨时，分别具有1或0的值。
为了决定出读写头20相应光盘12的移动方向，闩锁单元144用以在被脉冲信号152中的一脉冲触发时，闩住第一轨道类型信号154的值，并且输出读写移动方向信号116。因为比较器142需要一小段时间来比较两个取样的信号，故第一轨道类型信号154的上升缘和下降缘分别稍微的落后TEZC信号124上升缘和下降缘。因此，第一轨道类型信号154的值在脉冲信号152中的脉冲发生后被闩住一小段时间。
在一实施例中，假使当TEZC信号中有一正缘时(表示循迹误差信号112的斜率为正)，第一轨道类型信号154的值是等于1(表示读写头在一凹轨上)，则读写移动方向信号116将具有0的值(如164)，表示读写头20正径向地朝内移动；当在TEZC信号中有一负缘时，第一轨道类型信号154的值是等于0，则读写移动方向信号116将具有1的值(如166)，表示读写头20正径向地朝外移动。
利用装置120，当读写头20改变径向的移动方向，例如由径向地朝内移动改为径向地朝外移动，如图4中的点P1的例子，读写移动方向信号116将延迟半个周期的TEZC信号124。例如，边缘147(以虚线表示)表示移动方向真正由朝内移动变为朝外移动的点，此时读写移动方向信号116的值在边缘149上由0变为1，落后半个周期的TEZC信号124。
为了解决上述问题，读写移动方向信号116可通过在TEZC信号124的正缘和负缘同时取样第一轨道类型信号154来产生。假使当TEZC信号124有一个正缘或负缘时，第一轨道类型信号154的值是分别等于0或1，则读写移动方向信号116将具有1的值(如166)，表示读写头20正径向地朝外移动。假使当TEZC信号124有一个正缘或负缘时，第一轨道类型信号154的值是分别等于1或0，则读写移动方向信号116将具有0的值，表示读写头20正径向地朝内移动。
如图4中在点P2的例子，当读写头20由径向地朝外移动改为径向地朝内移动时，装置120将精确地决定出读写头移动方向。
另一种产生读写移动方向信号116的方法是对TEZC信号124以及第一轨道类型信号154执行一个互斥或(XOR)运算。因为第一轨道类型信号154稍微地落后TEZC信号124，因此在执行互斥或(XOR)运算之前，TEZC信号124必须延迟一段时间。
在一实施例中，凸/凹信号115可通过对读写移动方向信号116和TE斜率信号139执行一个互斥或(XOR)运算，再对执行互斥或运算的结果作反(NOT)运算来产生，以下列算式描述：
凸/凹信号＝NOT(XOR(读写移动方向信号，TE斜率信号))
因为读写移动方向信号116稍微地落后TE斜率信号139，因此在执行互斥或(XOR)运算之前，TE斜率信号139必须延迟一段时间。
在一实施例中，读写移动方向信号116可通过在TEZC信号的上升缘上闩住互补凸/凹型态信号147来产生。若互补凸/凹型态信号147在TEZC信号的上升缘时其值为0，则读写移动方向信号116的值为0(表示读写头正径向地朝内移动)。相反地，若互补凸/凹型态信号147在TEZC信号的上升缘时其值为1，则读写移动方向信号116的值为1(表示读写头正径向地朝外移动)。
凸/凹信号115和读写移动方向信号116皆可由TEZC信号124和第一轨道类型信号154来取得。因此，凸/凹信号115可由TEZC信号124和读写移动方向信号116来取得。类似地，读写移动方向信号116可由TEZC信号124和凸/凹信号115来取得。在图8中，轨道存取单元110可用凸/凹信号115或读写移动方向信号116来控制读写头20和激光束30的位置。
在图10中，循迹误差信号112具有一个先递增然后递减的频率，表示读写头20先由相应轨道朝内方向移动，接着停止，然后反转方向朝外移动。
第二种产生凹/凸信号115和读写移动方向信号116的方法
图11显示一个凹/凸轨和读写头移动方向检测装置200的示范例。图12显示由装置200内的单元所产生的信号图370。
斜率检测单元202接收循迹误差信号112，决定出何时循迹误差信号112具有一正斜率(如图12中从点P23到点P24)和一负斜率(如从点P24到点P25)，并且产生一循迹误差斜率信号204。当循迹误差信号112具有一正斜率或负斜率时，循迹误差斜率信号204则分别具有1或0的值。边缘检测单元126则产生一脉冲信号206，此脉冲信号206具有一脉冲表示哪里是循迹误差斜率信号204由1变为0或由0变为1的位置。正缘检测单元201产生一脉冲信号203，此脉冲信号203具有脉冲(如207)表示哪里是循迹误差斜率信号204由0变为1的位置。
包封检测单元132接收抖动信号77并且产生一抖动包封信号134。积分单元208用来积分抖动包封信号134在脉冲信号206的脉冲(其表示斜率检测信号204的边缘)间的一个时间区间(如t9或t10)上，用以产生一积分值，并表示为积分信号210。积分单元208具有一个类似于图9中的取样维持单元136所用的函数，除了积分单元208持续积分抖动包封信号134的值之外，其可降低抖动信号77中所导致的噪声影响或量测抖动信号77时的不准确度。
因为积分运算是对循迹误差斜率信号204的两边缘间中的一个时间区间作积分而得，积分信号210中的较高值(如366)表示此抖动包封信号134在执行积分运算的时间区间(如t10)内具有一个较大的总振幅。相反地，积分信号210中的较低值(如368)表示此抖动包封信号134在执行积分运算的时间区间(如t11)内具有一个较小的总振幅。
取样维持单元140将积分信号210延迟半个周期的循迹误差斜率信号204的时间，并且输出一个延迟后的积分信号151。比较器142接着比较此延迟的积分信号151的值和一个较新的积分信号210，并且输出一第二轨道类型信号212。
若较新的积分信号210的值(如一个表示一区域362在t10时间区间上的积分值的数值)是大于延迟的积分信号151的值(如一个表示一区域364在t9时间区间上的积分值的数值)，第二轨道类型信号212将具有1的值，表示在用来计算较新的积分信号210的时间区间中，读写头20是在一凹轨上。相反地，若较新的积分信号210的值是小于延迟的积分信号151的值，则第二轨道类型信号212将具有0的值，表示在用来计算较新的积分信号210的时间区间中，读写头20是在一凸轨28上。
第二轨道类型信号212表示读写头20所在的轨道类型，具有一个半周期的循迹误差信号112的时间延迟。凸/凹信号115可通过将第二轨道类型信号212经由一与(NOT)门161传送来产生。
一个闩锁145单元用来通过脉冲信号203中的脉冲(表示循迹误差斜率信号204的一正缘)触发，以闩住第二轨道类型信号212的值，并且输出此闩锁值为一个读写移动方向信号116。因为第二轨道类型信号212表示读写头20在前一个时间区间(介于循迹误差斜率信号204的边缘间)的位置，在循迹误差斜率信号204的一正缘闩住的第二轨道类型信号212表示读写头在一个正缘结束的时间区间的移动方向。
例如，第二轨道类型信号212(在点P27)在TE斜率信号的一正缘(以脉冲207表示)发生时被闩住，表示读写头在一个正缘(以脉冲207表示)结束的时间区间(如t10)的移动方向。又例如，第二轨道类型信号212(在点P28)在TE斜率信号的一正缘(以脉冲376表示)发生时被闩住，表示读写头在一个正缘(以脉冲376表示)结束的时间区间(如t12)的移动方向。若读写移动方向信号116具有数值为0，则表示读写头正朝内移动。相反地，若读写移动方向信号116具有数值为1，则表示读写头正朝外移动。
在图12中，循迹误差信号112具有一个先递增然后递减的频率，表示读写头20先由相应轨道朝外方向移动，接着停止，然后反转方向朝内移动。
抖动信号77的振幅有时可被降低到一个较小的数值(如因为抖动节奏(wobble beat))，使得两个抖动信号的取样值比较变的困难。以下是关于抖动节奏的描述。通常在一凹轨上的抖动信号会大于其相邻凸轨上的抖动信号，因为一凹轨的两个边缘是同相，而一凸轨的两个边缘则不一定是同相。相邻的凹轨(例如凹轨n和凹轨n+1)被放在光盘12些微差距的径向上，因此当读写头20由一内轨往一外轨移动时，相邻凹轨间的相位差将逐步地递增(或递减)。所以，当读写头
Figure C20061005865600401
由一内轨往一外轨移动时，读写头20经过的相邻凹轨间则交替地同相与反相(out-of-phase)。
当相邻凹轨间变为反相时，介于两凹轨间的凸轨的两边缘是反相的，造成在凹轨上和在凸轨上的取样抖动信号差异较大。当相邻凹轨间变为同相时，介于两凹轨间的凸轨的两边缘也是同相的，造成在凹轨上和在凸轨上的取样抖动信号差异较小。因此，当读写头20由一内轨往一外轨移动时，相邻凸轨和凹轨间的抖动信号的振幅差异将交替地递增以及递减。上述动作即视为抖动节奏。
由于抖动节奏的关系，相邻凸轨和凹轨间的抖动信号的振幅差异将变的很小，使得利用比较器142(如图9或图11)决定出凸/凹轨道类型和读写头移动方向变的困难，造成在存取特定轨道的误差。以下描述一种克服此问题的方法。
第三种产生凹/凸信号115和读写移动方向信号116的方法
图13显示一凹/凸轨和读写头移动方向检测装置300的示范例。图14显示由上述装置300内的单元所产生的信号图310。
凹/凸轨和读写头移动方向检测装置300类似于图9中的凹/凸轨和读写头移动方向检测装置120，主要的差别在于，装置300改用一互斥或(XOR)门302来取代装置120中的闩锁(latch)单元144。如图14所示，当读写头20正径向地朝内移动时，数值比较单元340的输出314以及TEZC信号124是在同方向(都是1或都是0)改变，且当读写头20改为径向地朝外移动时，单元340的输出314以及TEZC信号124改变为相反方向(如TEZC 124信号变为1，而输出314变为0)。因此，一读写头径向移动方向信号可通过对输出314以及TEZC信号124作XOR运算来获得。因为数值比较单元340的输出314稍微落后TEZC信号124，故在送到XOR门302之前，TEZC信号124将通过一延迟单元125延迟足够的时间以传送到XOR门302。
由取样信号SH1 138中可观察到抖动节奏，其显示相邻轨道间的差异交替地递增和递减当相邻轨道间的抖动信号的振幅很小.如在图14中的轨道y1、y2和y3，依据连续轨道的抖动振幅比较结果来精确地决定出凸/凹轨道类型和读写头移动方向将变得困难。在轨道y2上的抖动振幅是大于在轨道y1上的抖动振幅，并且在轨道y3上的抖动振幅也大于在轨道y2上的。假使利用装置120(图9)或装置200(图11)，上述装置可能会不正确地决定轨道y1、y2和y3都是凹轨，并且读写头20在轨道y1、y2和y3上的移动会突然地由朝内移动变成朝外移动，然后再变成朝内移动。上述的错误现象被视为失效。
一个消除短时脉冲波干扰(deglitch)单元304用来移除来自XOR门302的输出故障点(如316、318和320)，用以产生一读写头移动方向信号116。在一实施例中，消除短时脉冲波干扰单元304计数在XOR信号308改变之后，经过的半周期(half-cycles)次数。若半周期的次数是小于或等于一默认值m(如在图14中，m被设为1)，则读写头移动方向信号116维持不变。例如，脉冲316、318和320在一个半周期之后变成0，所以在脉冲316、318和320点上的读写头移动万向信号116维持不变。若半周期的次数是大于一默认值m，则读写头移动方向信号116将会改变。例如，在XOR信号308在322点被拉高为高电位之后，XOR信号308维持多于一个半周期的高电位，因此在一个半周期之后，读写头移动方向信号116变成高电位(如323)。
一般而言，消除短时脉冲波干扰单元304用以在读写头20是在一凹轨上时，防止轨道存取单元110(图8)不正确地维持TE值。然而，当读写头20改变其移动方向时，这样中的一个改变将不会反应在读写头移动方向信号116上，直到m个半周期的循迹误差信号112之后。在这段延迟的时间内，轨道存取单元110可能会不正确地依靠读写头移动方向信号116作决定，导致在轨道存取时的不稳定性。
当读写头20颠倒其径向移动方向，则跨轨(track crossing)频率(即读写头20穿越轨道间的频率)常会下降到一确定的临界值的下。因此，为了减少由于消除短时脉冲波干扰单元304造成的延迟误差，装置300包括一低跨轨频率(low track-crossing frequency)保护单元402，用以比较TEZC信号124的频率(表示跨轨频率)和一TEZC信号频率临界值(TEZC_FREQ_TH)342，并且产生一个PROTECT1信号408。当TEZC信号124的频率是低于TEZC_FREQ_TH342时，PROTECT1信号408被拉到高电位，且在TEZC信号124的频率是等于或高于TEZC_FREQ_TH 342时被降到低电位。
在一实施例中，TEZC_FREQ_TH＝1kHz。当TEZC信号124的频率是低于1kHz时，PROTECT1信号408被拉到高电位(如图14中的330)，且在TEZC信号124的频率是等于或高于1kHz的后数个半周期被降到低电位(如图14中的332)。
当PROTECT1信号408被拉到高电位之后，其表示轨道存取单元110(图8)不能利用凸/凹信号115和读写头移动方向信号116来决定出是否执行轨道存取，例如维持循迹误差信号112的值(利用图8的循迹误差维持装置312)、在尝试将读写头20锁定在一轨道时，对读写头施以一抑制力量(brakingforce)、以及锁定读写头20在一特定轨道上的明确动作。
装置300还包括一抖动节奏保护单元404以减少由于抖动节奏造成的错误。保护单元404接收取样值(Wobble_SH1)138、延迟的取样值(Wobble_SH2)150以及一抖动临界值(Wobble_TH)344，并且产生一PROTECT2信号410。当连续两个抖动包封的取样值差异小于抖动临界值344时，PROTECT2信号410被拉到高电位；同时当连续两个抖动包封的取样值差异等于或大于抖动临界值344时，PROTECT2信号410被拉到低电位。如此当有短时脉冲波干扰发生时，如图14中的脉冲316、318以及320所示，可防止轨道存取单元110不正确地控制读写头移动。
PROTECT1信号408和PROTECT2信号410都被送到一或(OR)门418，用以产生要送到轨道存取单元110的保护信号117(如图8)。
在图13的实施例中，当TEZC信号124的频率是低于TEZC_FREQ_TH 342或是当SH1减掉SH2的绝对值小于Wobble_TH 344(|SH1-SH2|＜Wobble_TH)时，保护信号117被拉到高电位。当TEZC信号124的频率是大于或等于TEZC_FREQ_TH 342以及当SH1减掉SH2的绝对值大于或等于Wobble_TH344(|SH1-SH2|≥Wobble_TH)时，保护信号117则被降到低电位。
图15显示一个利用一校正单元414(图13)的一处理程序320，用以校正数值比较单元340的输出314，以产生一校正后的第一轨道类型信号155。此处理程序320利用一个关于一个已知轨道类型的轨道信息来预测次一轨道的轨道类型。例如，若已知目前轨道为一凹轨，则次一轨道则被预测为一凸轨，并且在次一轨道之后的轨道则预测为一凹轨。在处理程序320中，延迟的TEZC信号322的边缘是先被决定(步骤324)，接着比较测得轨道类型与预测轨道类型(步骤326)。若测得轨道类型是不同于预测轨道类型，将变量miss_track_type_count累加一(步骤328)。变量miss_track_type_counnt表示一个测得轨道类型不同于预测轨道类型的轨道数计数值。若测得轨道类型是等于预测轨道类型，将变量miss_track_type_count设为0(步骤330)。
变量miss_track_type_count接着与一默认值N(如N＝3)比较(步骤332)。假使miss_track_type_count值小于或等于默认值N，表示介于预测轨道类型和测得轨道类型间的不一致可能是由一短时脉冲波干扰造成的，此时第一轨道类型信号155是设到一个表示此预测轨道类型的值，并且miss_track_type_counnt值是设成0。假使变量miss_track_type_count值大于默认值N，表示可能预测轨道类型和测得轨道类型间的差异不是由短时脉冲波干扰造成的，此时第一轨道类型信号155的值是设成测得轨道类型的值(步骤336)。预测轨道类型被设成与目前第一轨道类型相反(步骤338)(因为次一轨道类型必须与目前轨道类型相反)，同时处理程序320由循环返回到最初的决定延迟的TEZC信号322的边缘的步骤(步骤324)。
对第一轨道类型信号155和延迟的TEZC信号322执行XOR运算，可获得一个无短时脉冲波干扰的读写移动方向信号116。类似地，也可对经消除短时脉冲波干扰的读写移动方向信号116执行XOR运算来获得经校正过的第一轨道类型信号155。
在图11中的装置300，凸/凹信号115可利用前述的方法由校正过的第一轨道类型信号155和循迹误差信号122中取得。
具有空白轨道以及资料轨道的光盘
当一光盘里有资料储存在轨道上时，抖动信号将被储存的资料所影响。下列描述一个通过考虑是否资料被记录在轨道上来决定凸/凹轨道类型以及读写移动方向的光学刻录系统。
图16显示一个用以产生一定轨控制信号313的模块区块图，用以在存取轨道时控制读写头20。图16中的模块的作用类似于图8中的相同模块，差别在于多了射频加总信号产生器356以及多任务器358。多任务器358允许系统10选取要用抖动信号77或射频信号85来作轨道存取。在一实施例中，多任务器358被一个空白信号360所控制，此空白信号360是0或1乃分别依据读写头20是在光盘中的一个空白部分(视为一空白区)或是一个资料部分(视为一资料区)来决定。换言之，多任务器358可以被一使用者可选取的信号所控制，使用者可选取的信号允许使用者依据光盘12的类型或条件，手动地选取将抖动信号77或射频加总信号85用于轨道存取。多任务器358的输出354接着送至一检测单元109，此检测单元109可类似包括在装置120(图9)、200(图11)或是300(图13)中的相同组件。
图17显示量测一具有资料区350以及空白区352的光盘的信号图390。在一实施例中，对具有资料区350以及空白区352的光盘而言，可通过在资料区350使用射频加总信号85和在空白区352使用抖动信号77以决定出凸/凹轨道类型和读写头径向移动方向。如图17所示，介于相邻凹轨以及凸轨间的射频加总信号85的振幅差异在资料区350较大，而在空白区352较小。至于介于相邻凹轨以及凸轨间的抖动信号77的振幅差异则是在资料区350较小，而在空白区352较大。
当多任务器358选取了抖动信号77，可通过前述方法产生凸/凹信号115和读写移动方向信号116。当多任务器358选取了射频加总信号85，可通过前述方法或通过比较射频加总信号85和TEZC信号124包封的零交点相位产生凸/凹信号115和读写移动方向信号116。
当多任务器358的选取由射频加总信号85切换到抖动信号77或由抖动信号77切换到射频加总信号85时，多任务器358的输出354的信号准位可能会有不连续的现象(如362和364)。此现象可能会造成凸/凹信号115和读写移动方向信号116的误差，导致循迹误差维持装置312(图8)不正确地维持循迹误差信号112。
检测单元109包括一个可产生一个保护信号118的保护单元311，用以表示多任务器358在射频加总信号85和抖动信号77间切换选取的这段时间内，凸/凹信号115和读写移动方向信号116可能会有误差发生。当多任务器358切换信号时，保护单元311将保护信号118提升(如384)到高电位，并且在一段预设保护周期(Protect_time)后压低(例386)保护信号118至低电位。在一实施例中，保护周期是等于一个TEZC信号124周期。在这段保护周期内，因为保护信号是高电位，所以循迹误差维持装置312不会维持循迹误差信号112。
图18显示一保护单元400的示意图。保护单元400包括一个低跨轨频率保护单元402、一个抖动节奏保护单元404、以及一个空白/数据切换保护单元406。低跨轨频率保护单元402产生一个PROTECT1信号408，此PROTECT1信号408在TEZC信号124的频率低于TEZC_FREQ_TH 342时，被拉到高电位，而在TEZC信号124的频率高于或等于TEZC_FREQ_TH 342时，被降到低电位。抖动节奏保护单元404产生一个PROTECT2信号410，此PROTECT2信号410在|SH1-SH2|＜Wobble_TH344时，被拉到高电位，而在|SH1-SH2|≥Wobble_TH344时，被降到低电位。空白/资料切换保护单元406则产生一个PROTECT3信号412，此PROTECT3信号412在多任务器358于射频加总信号85和抖动信号77间作切换时被拉到高电位，且在一段预设保护周期Protect_time420时间后，被降到低电位。
保护单元400包括用以处理PROTECT1、PROTECT2和PROTECT 3信号的逻辑口，用以产生一保护信号117。保护信号117在两种情况下是为高电位(1)当PROTECT3信号412是高电位时或(2)当空白信号360是低电位并且PROTECT1信号408或PROTECT2信号410是高电位时。
虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然其并非用以限定本发明，任何熟悉此项技艺者，在不脱离本发明的精神和范围内，当可做些许更动与润饰，因此本发明的保护范围当视权利要求所界定者为准。例如，凸轨可设计成令一凸轨的两边缘彼此平行，然而一凹轨的两边缘不一定彼此平行。如此，推拉信号在一凸轨上的取样振幅可能大于在一凹轨上的取样振幅。
循迹误差信号的斜率可依据是否凸轨具有高于凹轨的反射系数，以及依据使用于计算循迹误差信号的算法，量测一段时间而得。例如，在图7中，若凸轨设计成具有低于凹轨的反射系数，当读写头20在一位置(如P30)上，此位置即光感应器60和63检测来自一凹轨的反射光并且光感应器61和62检测来自一凸轨的反射光的处，此时循迹误差信号将具有一较高值。当读写头20在另一位置(如P32)上，此位置即光感应器60和63检测来自一凸轨的反射光并且光感应器61和62检测来自一凹轨的反射光的处，则循迹误差信号将具有一较小值。在此情况下，当读写头是在一凹轨或是一凸轨上径向地朝外移动时，循迹误差信号的斜率将分别为正或为负。相反地，当读写头20是沿相应轨道朝内移动时，循迹误差信号112的斜率在读写头是在一凹轨上时，斜率为负，而在读写头是在一凸轨上时，斜率则为正。
在图7中，当读写头20是在一凹轨上一个朝外方向移动时，循迹误差信号112的斜率是正或负为依据光检测器40的设定以及计算循迹误差信号的算法。
在图6中，光检测器40可以是一个二分(bi-section)光检测器，其具有两个独立的光检测器以检测来自一轨道左右两边的反射光。
凸/凹轨道类型以及读写头径向的移动方向可通过一个在不同时间测得的抖动信号的比较来决定。光学刻录系统10可具有多于一个的光检测器40，其可依据相邻轨道的测量来产生抖动信号。通过不同光检测器40同时地产生的抖动信号，可拿来作比较以决定出凸/凹轨道类型以及读写头径向的移动方向。
另外，关于如何控制循迹致动器以微调读写头的镜片的位置的描述，在此省略。在一实施例中，锁定读写头至一特定轨道上的动作包含控制一个循迹马达以及循迹致动器的组合，用以调整读写头和镜片的位置来锁定激光束在特定轨道上。在上述描述中的信号(例如：循迹误差信号、抖动信号和射频信号)可以是依据激光束相应轨道的位置产生。
高低信号准位可以互换。例如，读写移动方向信号116可以设成当信号116为高准位时，表示读写头20正由一外轨移动至一内轨，并且当信号116为低准位时，表示读写头20正由一内轨移动至一外轨。
光盘12可以是任何一种具有递回偏差轨道的光盘类型，例如CD-R、CD-RW、DVD+R、DVD+RW、DVD-R、DVD-RW、蓝光激光可刻录(BD-R)、或是蓝光激光可覆写(BD-RW)光盘、高密度DVD(HD-DVD)、双层光盘或多层光盘。比较一抖动信号的不同取样以决定出轨道类型以及读写头移动方向并未局限于对一光学存取系统，也可以是对像磁性光学(magneto-optic)或磁性刻录系统的其它系统。光盘可通过修改部分光盘的透射率(transmissivities)来记录资料。
光学刻录系统10可包括一译码器，此译码器可依据兼容于至少一种CD-R、DVD+R、DVD+RW、DVD-R、DVD-RW、蓝光激光可刻录(BD-R)、或是蓝光激光可覆写(BD-RW)光盘、高密度DVD(HD-DVD)光盘标准的处理程序，译码被编码的资料。光学刻录系统10也可设成可存取双层或多层光盘。
凸/凹轨道类型和读写头移动方向检测装置120(如图9)、200(如图11)、300(如图13)以及109(如图16)可具有类似消除短时脉冲波干扰单元304(如图13)和校正单元414的单元，用以排除故障。装置120、200、300以及109也可具有一个类似保护单元400的单元，用以在跨轨频率低时、在抖动节奏发生或切换于一空白部分和一资料部分间时防止发生误差。

Claims (56)

1.一种光学储存媒体检测方法，包括下列步骤：
接收一光学储存媒体，其具有多条凹轨以及多条凸轨，且每一轨道具有一抖动结构；
驱动一检测器扫描上述光学储存媒体，以检测来自上述光学储存媒体的反射光；
依据上述检测器的输出，产生一抖动信号和一循迹误差信号；
依据上述循迹误差信号，取样上述抖动信号；以及
依据上述循迹误差信号以及上述抖动信号取样值间的比较结果，决定出一读写头是在上述凹轨上或在上述凸轨上.
2.如权利要求1所述的光学储存媒体检测方法，还包括：当在一特定时间点得到的取样值大于在另一时间点得到的另一取样值时，决定出上述读写头在上述特定时间点是在一凹轨上.
3.如权利要求1所述的光学储存媒体检测方法，还包括：当循迹误差信号为0时，取样上述抖动信号.
4.如权利要求1所述的光学储存媒体检测方法，其中在决定出上述读写头是在上述凹轨上或在上述凸轨上的步骤中，包括比较上述抖动信号的一包封在不同时间周期内积分的取样积分值.
5.如权利要求4所述的光学储存媒体检测方法，其中计算上述抖动信号的一包封在不同时间周期内积分的取样积分值是通过在上述循迹误差信号的一斜率为正的一时段内或在上述循迹误差信号的上述斜率为负的一时段内，对上述抖动信号的上述包封的振幅作积分。
6.如权利要求1所述的光学储存媒体检测方法，还包括：依据一第一轨道是一凹轨或一凸轨的已知知识，预测一第二轨道是一凸轨或一凹轨.
7.如权利要求6所述的光学储存媒体检测方法，还包括：比较上述第二轨道的上述预测轨道类型与上述第二轨道的一量测轨道类型，且上述量测轨道类型是部分依据上述抖动信号来决定.
8.如权利要求7所述的光学储存媒体检测方法，还包括：对多数轨道执行预测轨道类型与量测轨道类型的比较，并且当上述预测轨道类型是不同于上述量测轨道类型的比较次数小于一默认值时，决定其最后预测轨道类型是正确的轨道类型.
9.如权利要求7所述的光学储存媒体检测方法，还包括对多数轨道执行预测轨道类型与量测轨道类型的比较，并且当上述预测轨道类型是不同于上述量测轨道类型的比较次数大于一默认值时，决定其最后预测轨道类型是正确的轨道类型.
10.如权利要求1所述的光学储存媒体检测方法，还包括：取样上述抖动信号的一振幅、上述抖动信号的一峰值和上述抖动信号的一包封的至少一个.
11.一种光学储存媒体检测方法，包括下列步骤：
接收一光学储存媒体，其具有多条凹轨以及多条凸轨，且每一轨道具有一抖动结构；
驱动一检测器扫描上述光学储存媒体，以检测来自上述光学储存媒体的反射光；
依据上述检测器的输出，产生一抖动信号和一循迹误差信号；
依据上述循迹误差信号，取样上述抖动信号；以及
依据上述循迹误差信号以及上述抖动信号的取样值间的比较结果，决定一读写头的一移动方向.
12.如权利要求11所述的光学储存媒体检测方法，其中上述抖动信号的取样值间的比较步骤包括：比较在不同时间点得到的两个上述抖动信号的取样值.
13.如权利要求11所述的光学储存媒体检测方法，其中上述抖动信号的取样值是当上述循迹误差信号为0时所得到.
14.如权利要求11所述的光学储存媒体检测方法，其中比较上述抖动信号的取样值的步骤包括：比较上述抖动信号的一包封的积分值，上述积分值是通过在上述循迹误差信号的一斜率为正的一时段内或是在上述循迹误差信号的上述斜率为负的一时段内，对上述抖动信号的上述包封作积分来得到.
15.如权利要求11所述的光学储存媒体检测方法，还包括：通过比较上述循迹误差信号和一临界值，以产生一个二元信号，并依据上述循迹误差信号和上述临界值的比较结果，决定上述二元信号具有一高值或低值，并且依据上述二元信号以及上述抖动信号的取样值间的比较结果，决定上述读写头的上述移动方向.
16.如权利要求15所述的光学储存媒体检测方法，其中上述临界值是为0.
17.如权利要求11所述的光学储存媒体检测方法，其中上述读写头的上述移动方向是依据上述循迹误差信号的一斜率来决定.
18.一种光学储存媒体检测方法，包括下列步骤：
以一光束扫描一光学储存媒体，上述光学储存媒体具有多条凹轨以及多条凸轨，且每一轨道具有一抖动结构；
依据来自上述光学储存媒体的反射光，产生一抖动信号、一循迹误差信号、和一射频信号，上述抖动信号具有关于被上述光束扫描过的一轨道的上述抖动结构信息，且上述射频信号具有关于记录在上述轨道内的资料信息；
选取上述抖动信号和上述射频信号中的一个；以及
比较依据上述循迹误差信号作取样的上述选取的信号的取样值，以决定出上述光束是在一凹轨上或是在一凸轨上.
19.如权利要求18所述的光学储存媒体检测方法，其中选取上述抖动信号和上述射频信号中的一个的步骤包括：依据上述光束是在上述光学储存媒体的一具有资料的资料区间内或是在上述光学储存媒体的一不具资料的空白区间内作选取.
20.如权利要求18所述的光学储存媒体检测方法，其中，上述循迹误差信号具有随着上述光束相应于上述凹轨以及上述凸轨的一位置变化的一振幅.
21.一种移动方向检测方法，包括下列步骤：
依据由一检测器扫描过一光学储存媒体所检测得的光，产生一抖动信号、一循迹误差信号、以及一射频信号，上述光学储存媒体具有多条凹轨及多条凸轨，且每一轨道具有一抖动结构；
选取上述抖动信号和上述射频信号中的一个；以及
比较依据上述循迹误差信号作取样的上述选取的信号的取样值，以决定出一读写头相应上述轨道的一移动方向.
22.如权利要求21所述的移动方向检测方法，还包括：依据上述光束是在上述光学储存媒体的一具有资料的资料区间内或是在上述光学储存媒体的一不具资料的的空白区间内，选取上述抖动信号和上述射频信号中的一个.
23.一种光学储存媒体检测方法，包括下列步骤：
产生一循迹误差信号，其振幅是随一光束相应于一光学储存媒体的一位置变化，上述光学储存媒体具有一凹轨以及一凸轨，并且当上述光束是落在上述轨道之一的一中线时，上述循迹误差信号等于一既定值；以及
利用一反馈回路，依据上述循迹误差信号控制上述光束相对于上述凹轨的位置，其包括当上述光束是在上述凸轨上时，维持上述循迹误差信号既定值，以及当上述光束是在上述凹轨上时，使用上述循迹误差信号的一量测值.
24.一种光学储存媒体检测方法，包括下列步骤：
依据一检测器检测到的至少一反射光以及透射光，产生一射频信号与一循迹误差信号，上述检测器扫描过一光学储存媒体，其具有多条轨道，并且上述轨道的反射率或透射率是与轨道外区域不同；以及
依据上述射频信号的取样值间的比较结果，决定出一读写头是在一轨道或是在一介于轨道间的区域，其中上述射频信号的取样值是依据上述循迹误差信号作取样.
25.一种光学储存媒体检测方法，包括下列步骤：
依据一检测器检测到的反射光或透射光，产生一射频信号与一循迹误差信号，其中上述检测器扫描过一光学储存媒体，其具有多条轨道，并且上述轨道的反射率或透射率是与上述轨道外区域不同；以及
依据上述射频信号的取样值间的比较结果，决定出上述检测器的一移动方向，其中上述射频信号的取样值是依据上述循迹误差信号作取样.
26.一种光学储存媒体检测方法，包括下列步骤：
以一光束扫描过一光学储存媒体，上述光学储存媒体具有多条轨道，且上述轨道的反射率是与上述轨道外区域不同；
依据来自上述光学储存媒体的反射光，产生一射频信号与一循迹误差信号；以及
依据上述射频信号的取样值的比较结果，决定出上述以该光束扫描过该光学储存媒体的步骤是在一轨道或是在一介于上述轨道间的区域进行，其中上述射频信号的取样值是依据上述循迹误差信号作取样.
27.一种光学储存媒体检测方法，包括下列步骤：
驱动一检测器扫描一光盘，上述光盘具有多条轨道，用以检测来自上述光盘的反射光，并且上述轨道的反射率是与轨道外区域的反射率不同；
依据上述检测器的一输出结果，产生一射频信号与一循迹误差信号；以及
依据上述射频信号的取样值间的比较结果，决定出一读写头是由一外轨往一内轨移动或是由一内轨往一外轨移动，其中上述射频信号的取样值是依据上述循迹误差信号作取样.
28.一种光学储存媒体检测方法，包括下列步骤：
依据一抖动信号的取样值间的比较结果，决定出扫描动作是发生在一刻录媒体的一凹轨上或在一凸轨上，其中上述抖动信号的取样值是由扫描上述凹轨或上述凸轨的循环偏差所得到.
29.如权利要求28所述的光学储存媒体检测方法，其中上述刻录媒体包括一光学刻录媒体，并且上述扫描动作包括以一光束扫描上述光盘刻录媒体.
30.如权利要求28所述的光学储存媒体检测方法，其中上述循环偏差包括上述轨道的一边界在上述轨道的一横切方向上的偏差.
31.如权利要求28所述的光学储存媒体检测方法，其中上述抖动信号的取样值是当扫描动作发生在一凸轨或一凹轨的一中心时所得到.
32.如权利要求28所述的光学储存媒体检测方法，其中上述决定出扫描动作是发生在上述刻录媒体的一上述凹轨上或在一上述凸轨上的步骤也依据一循迹误差信号的一斜率，其随着上述扫描是由一凸轨移到一凹轨或是由一凹轨移到一凸轨来改变斜率.
33.如权利要求28所述的光学储存媒体检测方法，其中上述抖动信号的取样值包括上述抖动信号的一包封对时间积分的值.
34.一种光学储存媒体检测方法，包括：
激活一抖动信号以及一射频信号中的一个，用以依据上述选取信号的取样值间的比较结果来决定出扫描动作是发生在一刻录媒体的一凹轨或是一凸轨上，并且每一上述轨道具有循环偏差.
35.如权利要求34所述的光学储存媒体检测方法，其中选取上述抖动信号以及上述射频信号中的一个的步骤包括：依据上述扫描是发生在上述光学储存媒体的一具有资料的资料区间上或是在一不具资料的空白区间上来选取.
36.一种光学储存媒体检测方法，包括：
依据一抖动信号的取样值间的比较结果，决定出一读写头相应于一刻录媒体上的一凹轨以及一凸轨的一移动方向，其中上述抖动信号的取样值是通过检测上述凹轨或上述凸轨的循环偏差所得到.
37.如权利要求36所述的光学储存媒体检测方法，其中上述刻录媒体包括一盘片，并且决定出上述读写头的上述移动方向的步骤包括：决定出上述读写头的一移动方向的一要素，其中上述要素是沿着上述盘片的一径向方向.
38.一种光学储存媒体检测装置，包括：
一读写头，用以扫描具有多条凹轨和多条凸轨的一光学储存媒体以及在上述轨道中检测循环偏差；
一抖动信号产生器，用以产生一抖动信号，其中上述抖动信号用以表示上述循环偏差，并且其振幅随着上述读写头相应于上述凹轨或上述凸轨的一位置而变化；
一循迹误差信号产生器，用以产生一循迹误差信号，上述循迹误差信号以及上述抖动信号是依据上述读写头的输出结果来产生；以及
一凸/凹信号产生器，用以依据上述循迹误差信号以及上述抖动信号的取样值的比较结果，产生一凸/凹信号以表示上述读写头是正在扫描一凹轨或一凸轨.
39.如权利要求38所述的光学储存媒体检测装置，其中上述凸/凹信号产生器包括一比较器，用以比较上述抖动信号的一目前取样值与一闩锁取样值，以产生一比较信号，其中上述闩锁取样值是延迟目前取样值而得.
40.如权利要求38所述的光学储存媒体检测装置，其中上述凸/凹信号产生器相应上述循迹误差信号的一斜率变化来闩锁一比较信号，并且将上述闩锁的比较信号输出为上述凸/凹信号.
41.如权利要求38所述的光学储存媒体检测装置，其中上述凸/凹信号产生器包括一积分器，用以在上述循迹误差信号的一斜率为正或上述循迹误差信号的上述斜率为负的一时段内对上述抖动信号的一包封作积分，并且上述凸/凹信号产生器依据上述积分器的一目前输出结果与一闩锁的输出结果的比较结果，产生上述凸/凹信号，其中上述闩锁的输出结果是延迟上述目前输出结果而得.
42.一种光学储存媒体检测装置，包括：
一检测器，用以检测在一光学储存媒体上反射光或透射光的变化，其中上述光学储存媒体具有多条凹轨和多条凸轨；
一抖动信号产生器，用以产生一抖动信号，其中上述抖动信号用以表示上述凹轨或上述凸轨的循环偏差，并且其振幅随着上述检测器相应于上述凹轨或上述凸轨的一位置而变化；
一循迹误差信号产生器，用以产生一循迹误差信号，上述循迹误差信号以及上述抖动信号是依据上述读写头的输出来产生；以及
一移动方向信号产生器，用以依据上述循迹误差信号以及上述抖动信号的取样值间的比较结果，产生表示一读写头相应于上述轨道的一移动方向的一方向信号.
43.如权利要求42所述的光学储存媒体检测装置，其中上述移动方向信号产生器还包括：
一比较器，用以比较上述抖动信号的一目前取样值与一闩锁取样值，其中上述闩锁取样值是延迟上述目前取样值而得；以及
一方向信号产生器，用以依据上述循迹误差信号以及上述比较器的一输出结果，产生上述方向信号.
44.如权利要求42所述的光学储存媒体检测装置，其中上述移动方向信号产生器还包括：
一积分器，用以在上述循迹误差信号的一斜率为正或在上述循迹误差信号的上述斜率为负的一时段内对上述抖动信号的一包封作积分；以及
一方向信号产生器，用以依据上述积分器的一目前输出结果与一闩锁的输出结果的比较结果，产生上述方向信号，其中上述闩锁的输出结果是延迟上述目前输出结果而得.
45.一种光驱，包括：
一光学读写头，用以检测在一光盘上反射光或透射光的变化，其中上述光盘具有一凹轨和一凸轨；
一抖动信号产生器，用以产生一抖动信号，其中上述抖动信号用以表示上述凹轨或上述凸轨的边缘的循环偏差；
一循迹误差信号产生器，用以产生一循迹误差信号，其表示上述读写头相应上述轨道的一位置，上述循迹误差信号以及上述抖动信号是依据上述读写头的输出结果来产生；
一检测单元，用以依据上述循迹误差信号以及上述抖动信号的取样值的比较结果，产生至少一凸/凹信号以及一移动方向信号，并且上述凸/凹信号用来表示上述读写头是在上述凹轨或上述凸轨上，而上述移动方向信号用来表示上述读写头相应上述轨道的一移动方向；以及
一轨道存取模块，用以依据至少一上述凸/凹信号以及上述移动方向信号，摆放上述读写头相应上述光盘的位置.
46.如权利要求45所述的光驱，其中上述检测单元还包括：一保护单元，用以当上述读写头通过上述轨道的一速度低于一默认值时，防止上述轨道存取模块利用上述凸/凹信号或上述移动方向信号来摆放上述读写头.
47.如权利要求45所述的光驱，其中上述检测单元还包括：一保护单元，用以当上述抖动信号的上述取样值间的差异量低于一默认值时，防止上述轨道存取模块利用上述凸/凹信号或上述移动方向信号来摆放上述读写头.
48.一种光驱，包括：
一光学读写头，用以扫描一光盘，其中上述光盘具有一凹轨和一凸轨；
一抖动信号产生器，用以产生一抖动信号；
一射频信号产生器，用以产生一射频信号；
一循迹误差信号产生器，用以产生一循迹误差信号以指出上述读写头相应上述轨道的一位置；
一选取单元，用以依据上述读写头是正在扫描上述光盘的一具有资料的资料区间或是一不具资料的空白区间，选取上述抖动信号以及上述射频信号中的一个；
一检测单元，用以依据一循迹误差信号以及上述选取的信号的取样值的比较结果，产生至少一凸/凹信号以及一移动方向信号，并且上述凸/凹信号用来表示上述读写头是在扫描上述凹轨或上述凸轨，而上述移动方向信号用来表示上述读写头相应上述轨道的一移动方向；以及
一轨道存取模块，用以依据上述凸/凹信号或上述读写头移动方向信号，摆放上述读写头相应上述光盘的位置。
49.如权利要求48所述的光驱，其中上述检测单元还包括：一保护单元，用以当其跨轨速度低于一预设速度时，防止上述轨道存取模块利用上述凸/凹信号或上述移动方向信号来摆放读写头.
50.如权利要求48所述的光驱，其中上述检测单元还包括：一保护单元，用以当上述选取到的信号的取样值间的差异量低于一默认值时，阻止上述轨道存取模块利用上述凸/凹信号或上述移动方向信号来摆放读写头.
51.如权利要求48所述的光驱，其中上述检测单元还包括一保护单元，用以在上述读写头由扫描一数据区间换到扫描一空白区间或是由扫描一空白区间换到扫描一资料区间后的一段预设时间，防止上述轨道存取模块利用上述凸/凹信号或上述移动方向信号来摆放读写头.
52.一种光学储存媒体检测装置，包括：
一比较器，用以比较一抖动信号的取样值，上述抖动信号的取样值是由扫描一刻录媒体上的一凹轨或一凸轨的循环偏差所得到；以及
一电路，用以依据上述比较器的输出结果，产生一输出以表示上述扫描上述刻录媒体上的上述凹轨或上述凸轨的循环偏差的步骤是发生在上述凹轨或在上述凸轨上.
53.如权利要求52所述的光学储存媒体检测装置，还包括：一光学读写头，用以驱动一光束扫描上述刻录媒体并且检测来自上述刻录媒体的反射光或将光经由上述刻录媒体透射，用以检测上述循环偏差.
54.一种光学储存媒体检测装置，包括：
一多任务器，用以选取一抖动信号以及一射频信号中的一个，上述抖动信号包含关于在轨道边界的循环偏差的信息，上述射频信号则具有关于记录在轨道内资料的信息；以及
一电路，用以依据上述选取信号的取样值间的比较结果，产生一输出以表示上述扫描上述刻录媒体上的一凹轨或一凸轨的步骤是发生在上述凹轨或是上述凸轨上，其中上述选取信号是依据一循迹误差信号作取样.
55.如权利要求54所述的光学储存媒体检测装置，其中上述多任务器选取一选取信号，用以表示上述扫描上述刻录媒体上的上述凹轨或上述凸轨的步骤是发生在一轨道的一具有资料的资料区间或是发生在一轨道的一不具资料的空白区间上.
56.一种光学储存媒体检测装置，包括：
一比较器，用以比较一抖动信号的取样值，上述抖动信号的取样值是由扫描一刻录媒体上的一凹轨或一凸轨的循环偏差所得到；以及
一电路，用以依据上述比较器的一输出结果，产生一输出以表示一读写头相应于上述凸轨以及上述凹轨的一移动方向.
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