CN100343684C - 电子及测试业专用复合式治具 - Google Patents
电子及测试业专用复合式治具 Download PDFInfo
- Publication number
- CN100343684C CN100343684C CN 03135995 CN03135995A CN100343684C CN 100343684 C CN100343684 C CN 100343684C CN 03135995 CN03135995 CN 03135995 CN 03135995 A CN03135995 A CN 03135995A CN 100343684 C CN100343684 C CN 100343684C
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- probe
- spring
- perforation
- base plate
- board
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Abstract
本发明为一种电子及测试业专用复合式治具，包括底座、牛角连接器、针板、底板、若干探针组件及导线，针板由多层板组合而成，在板之间设有间隔，底板由多层板叠置而成，在针盘和底板上均设有若干穿孔，探针组件置于针板和底板的穿孔内，其探针的头部露出于针板的表面，针板和底板固定成为整体的针盘，底座包括底座板和支架，在底座板上设有与底板对应的穿孔，针盘与底座板之间为可拆式连接，导线的一端与牛角连接器的接线柱连接，另一端定位于底座板的穿孔内，并与探针组件的底部通过接触的方式导通。本实用新型维修方便，易于更换探针、弹簧且便于探针、弹簧重复使用。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种电子及测试业测试电路板的复合式治具。
背景技术
现有治具包括一底座、一针板、一底板、若干探针组件及导线，底板与底座固定在一起，而底板与针板之间通过定位柱和定位孔而连接定位，针板和底板均由多层板组成，其中底板由多层板叠置组成，而在针板的各层板之间设有软质橡胶，在针盘和底板上均设有若干穿孔，内置有探针组件，探险针组件主要有两种：一种是传统的结构，由大针套、小针套、装在小针套内的弹簧、探针组成，探针的下部插于并固定于小针套内，带探针的小针套插于大针套内，导线与大针套的尾部固定连接，大针套置于底板的穿孔中；一种是去掉了针套，由相互独立的弹簧和探针构成，弹簧置于底板的穿孔中，而探针置于针板的穿孔中，当两者置于针板和底板内的穿孔后，探针的尾部与弹簧的头部相接触，弹簧的尾部接设有导线。该两种治具因为底座与底板固定在一起，且导线与探针组件固定连接，所以制作复杂，维修不便，且第二种治具不便于更换弹簧且弹簧不便于重复使用，利用率低，而第一种治具其探针组件制作要求高，价格昂贵，成本极高。
发明内容
本实用新型的目的在于针对以上所述问题，提供一种维修方便、易于更换探针、弹簧且便于探针、弹簧重复使用的电子及测试业专用复合式治具。
本实用新型的目的是这样实现的：本实用新型包括底座、牛角连接器、针板、底板、若干探针组件及导线，针板由多层板组合而成，在板之间设有间隔，底板由多层板叠置而成，在针盘和底板上均设有若干穿孔，探针组件置于针板和底板的穿孔内，其探针的头部露出于针板的表面，针板和底板固定成为整体的针盘，底座包括底座板和支架，在底座板上设有与底板对应的穿孔，针盘与底座板之间为可拆式连接，导线的一端与牛角连接器的接线柱连接，另一端定位于底座板的穿孔内，并与探针组件的底部通过接触的方式导通。
本实用新型的技术效果在于：本实用新型由于针盘与底座可方便拆开，而且导线与探针组件是通过相接触的方式导通，所以当探针、弹簧需更换时只需把针盘与底座分开，再取出探针组件更换探针、弹簧即可，维修非常方便，另外弹簧没有与导线焊在一起，可以重复使用。
以下结合附图和实施例对本实用新型作进一步说明。
附图说明
图1是实施例一的立体分解图。
图2是实施例一的剖视图。
图3是实施例一中一种探针组件的结构示意图。
图4是图3中弹簧的结构图。
图5、图7、图8是本实用新型几种不同形状弹簧的示意图。
图6是图5所示弹簧的放大的俯视图。
图9是实施例二的部分结构示意图。
图10是实施例二中探针组件的结构图。
具体实施方式
如图1、图2所示，实施例一包括上、下两套治具，分别用于测试待测电路板1上、下面上的待测端点，以下治具为例说明其结构如下；下治具包括一针盘2、一底座3、探针组件、导线5、牛角连接器4，每个探针组件包括一弹簧6和一探针8，针盘2由针板201和底板203组合而成，针板201包括四层板，每两层板之间设有空隙并由支柱202支撑，底板203由三层板叠置而成，在针板201和底板203上均设有若干穿孔，其孔位、孔径、孔距、孔数由待测电路板5上待测端点的点位及点数决定，针板201和底板203由连接柱7及两端的螺钉连接成一个整体，针板201上穿孔的孔径大于探针8的外径，探针8置于针板201的穿孔内，其头部露出于针盘2的表面，在测试时与待测电路板1的待测端点相接触，弹簧6置于底板203的穿孔内，且底板203上穿孔的孔径大于弹簧的最大外径，底板203的底层为一层薄板，当然也可以是一层胶片，其上穿孔的孔径小于弹簧6的最大外径而与弹簧6尾部的外径相适应，这样弹簧6就被限制在底板203的穿孔内而不会掉下来；底座3由底座板301和支架302组成，在底座板301上设有与底板203对应的穿孔，底板203与底座板301之间通过导向柱和导向孔而连接且定位，导线5的一端焊接有一金属套筒，该金属套筒卡于底座板301的穿孔内，与弹簧6的底部相接触，从而弹簧6与导线5通过金属套筒接触而导通，在底座3的支架302上固定有牛角连接器4，导线5的另一端与牛角连接器4的接线柱连接，牛角连接器4则与测试机的排线相连接。
如图2所示，实施例一中探针组件由弹簧6和探针8连接成一个可拆式整体，图3所示的探针组件采用两端形状相同的探针8，这样探针8可以重复交换使用，从而提高利用率而节省成本。如图4所示，图3中的弹簧6由头部61、中部62和尾部63构成，其中部62为圆柱形，在该中部62设有一处由三圈钢线并拢绕成的并拢段，其尾部63为倒锥形，其头部61由下面的锥形段和上面的错位段组成，探针8的底部紧插于该错位段内，并由弹簧头部的锥形段来托抵。
如图2所示，实施例一中有的探针斜置于针盘1的穿孔内，即上下针板201上对应穿孔的中心有一定的错位，这样可增加检测密度。
为了防尘，实施例一把针盘1的四周封闭起来作成一个箱体的形式，如图1所示。
实施例一中的弹簧还可采用各种结构如图5、图7、图8所示，如下所述：图5所示弹簧的头部由下面的锥形段和上面的圆柱段9组成，在其圆柱段9上每圈设有向内绕成的凸点如图6所示，该凸点也可以是在一圈上设有，或在多圈上设有，用于卡住探针，该圆柱段也可为普通的圆柱形，探针的底部紧插于该圆柱段内并由下面的锥形段托抵。图7所示弹簧的头部由下面的锥形段和上面的弯曲段10组成，探针的底部紧插于该弯曲段10内并由下面的锥形段托抵。图8所示弹簧的头部为圆柱形，与一金属的针套11相连接，针套11的底部紧塞于弹簧的头部内，在该针套11内壁设有凸点，探针的底部紧插于该针套11内，该弹簧也可采用普通的弹簧。除此之外，该弹簧还可采用其它的形状。
如图9和图10所示，实施例二与实施例一不同之处在于：实施例二中的探针组件由金属针套13、弹簧14和探针12组成，在金属针套13内壁上设有用于卡住探针12的凸点，弹簧14置于金属针套13内，探针12的下部紧插于金属针套13内，并由凸点固定，带探针的金属针套13的底部与连有套筒的导线15通过接触的方式导通。另外，实施例二中所有探针组件的金属针套的长度相同。
本实用新型中的探针除了可采用上述实施例的形状外，还可采用其它的形状，探针的长度为11.5mm-100mm。
本实用新型中导线与探针组件的底部相接触的方式还可以是：导线的一端焊接于底座板的穿孔内，并使该堵塞点与探针组件的底部相接触导通。
本实用新型在针板的各层之间可以设置有绝缘的材料如软橡胶、高弹力绝缘布等，以夹住探针；也可以在所述探针的中部或下部套有一段弹簧或内壁有凸点的套筒，该弹簧可以是普通的圆柱形，也可以是带向内凸点的圆柱形，还可以是弯曲的或错位卷绕而成的弹簧，而在针板的各层之间不设置软性绝缘材料。
本实用新型中针板及底板均为由绝缘材料制成的板，如：纤维板、压克力板、电木板等。
在实际使用中，位于待测电路板两面的上、下治具可以均采用本实用新型的治具，也可是其中之一采用本实用新型的治具，而另一个采用传统的治具。
Claims (10)
1.一种电子及测试业专用复合式治具，包括底座、牛角连接器、针板、底板、若干探针组件及导线，针板由多层板组合而成，在板之间设有间隔，底板由多层板叠置而成，在针盘和底板上均设有若干穿孔，探针组件置于针板和底板的穿孔内，其探针的头部露出于针板的表面，导线的一端与牛角连接器的接线柱连接，所述针板和底板固定成为整体的针盘，所述底座包括底座板和支架，在底座板上设有与底板对应的穿孔，针盘与底座板之间为可拆式连接，所述导线的另一端定位于底座板的穿孔内，并与探针组件的底部通过接触的方式导通，每个所述探针组件由弹簧和探针组成为可拆式整体，探针的底部紧插入弹簧的头部，探针置于针板的穿孔内，弹簧位于底板的穿孔内，弹簧的底部与导线的一端通过接触的方式导通，其特征在于：所述弹簧的头部由下面的锥形段和上面的弯曲段或错位段组成，探针的底部紧插于该弯曲段或错位段内。
2.根据权利要求1所述的电子及测试业专用复合式治具，其特征在于：所述弹簧的头部由下面的锥形段和上面的圆柱段组成，探针的底部紧插于该圆柱段内，弹簧头部的圆柱段设有向内的凸点。
3.根据权利要求1所述的电子及测试业专用复合式治具，其特征在于：所述探针组件由弹簧、套筒和探针组成，套筒的底部紧塞于弹簧的顶部内，在该套筒内壁设有凸点，探针的底部紧插于该套筒内。
4.根据权利要求1所述的电子及测试业专用复合式治具，其特征在于：每个所述探针组件由金属针套、弹簧和探针组成，在金属针套内壁上设有用于卡住探针的凸点，弹簧置于金属针套内，探针的下部插于金属针套内并由凸点固定，带探针的金属针套的底部与导线通过接触的方式导通；所有探针组件的金属针套的长度相同。
5.根据权利要求1所述的电子及测试业专用复合式治具，其特征在于：所述导线的一端是焊接于底板的穿孔内，并使该堵塞点与探针组件的底部相接触。
6.根据权利要求1所述的电子及测试业专用复合式治具，其特征在于：所述导线的一端固定连接一金属套筒，该金属套筒卡于底座板的穿孔内，并与探针组件的底部相接触。
7.根据权利要求3或4所述的电子及测试业专用复合式治具，其特征在于：在所述探针的中部或下部还套有一段弹簧，该弹簧为普通、弯曲的或错位卷绕而成的弹簧。
8.根据权利要求3或4所述的电子及测试业专用复合式治具，其特征在于：在所述探针的中部或下部还套有一段内壁有凸点的套筒。
9.根据权利要求1所述的电子及测试业专用复合式治具，其特征在于：有的探针斜置于针盘的穿孔内，即上下针板的相应穿孔的中心有一定的错位。
10.根据权利要求1所述的电子及测试业专用复合式治具，其特征在于：所述探针两端的形状相同，探针的长度为11.5mm-100mm。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN 03135995 CN100343684C (zh) | 2003-09-30 | 2003-09-30 | 电子及测试业专用复合式治具 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN 03135995 CN100343684C (zh) | 2003-09-30 | 2003-09-30 | 电子及测试业专用复合式治具 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN1529181A CN1529181A (zh) | 2004-09-15 |
| CN100343684C true CN100343684C (zh) | 2007-10-17 |
Family
ID=34286398
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN 03135995 Expired - Fee Related CN100343684C (zh) | 2003-09-30 | 2003-09-30 | 电子及测试业专用复合式治具 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN100343684C (zh) |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN100356184C (zh) * | 2005-02-03 | 2007-12-19 | 芽庄科技股份有限公司 | 实装板的测试设备 |
| CN100430734C (zh) * | 2006-01-25 | 2008-11-05 | 段超毅 | 集成电路测试用组合探针 |
| US8166446B2 (en) * | 2007-09-13 | 2012-04-24 | Jabil Circuit, Inc. | Flexible test fixture |
| CN102707182B (zh) * | 2011-04-22 | 2015-08-12 | 苏州市科林源电子有限公司 | 一种pcb板测试治具 |
| CN102621354A (zh) * | 2012-04-11 | 2012-08-01 | 游森溢 | 一种可拆式测试治具 |
| KR101338332B1 (ko) * | 2013-08-16 | 2013-12-06 | 주식회사 에스아이 플렉스 | 연성회로기판의 전기적 검사를 위한 비비티 지그 |
| CN103808973A (zh) * | 2013-12-30 | 2014-05-21 | 珠海拓优电子有限公司 | 微弹簧 |
| CN104007380A (zh) * | 2014-05-30 | 2014-08-27 | 苏州锟恩电子科技有限公司 | 一种pcb板测试治具 |
| CN104378624A (zh) * | 2014-11-05 | 2015-02-25 | 中山市智牛电子有限公司 | 一种测试电视卡板用缓冲装置 |
| CN109387674B (zh) * | 2018-10-17 | 2019-12-24 | 英特尔产品（成都）有限公司 | 一种维修工具 |
| CN111896860B (zh) * | 2020-06-16 | 2023-06-06 | 北京航天时代光电科技有限公司 | 一种批量多品种电路板测试方法 |
-
2003
- 2003-09-30 CN CN 03135995 patent/CN100343684C/zh not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN1529181A (zh) | 2004-09-15 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN100343684C (zh) | 电子及测试业专用复合式治具 | |
| JP6180920B2 (ja) | 回路付きサスペンション基板集合体シートおよびその製造方法 | |
| CN104914374B (zh) | 用于加速度传感器电性能检测的装置 | |
| CN2658755Y (zh) | 复合式治具 | |
| US4476433A (en) | Electronic test fixture | |
| CN114252003A (zh) | 铜箔厚度测量探针及其探测头 | |
| CN200986566Y (zh) | 万用型复合式电路板测试治具 | |
| CN2660540Y (zh) | 电子及测试业治具中探针组件与导线的导通结构 | |
| CN2311004Y (zh) | 电路板测试承接装置 | |
| CN2842429Y (zh) | 直测式治具 | |
| CN204740323U (zh) | 自动对位绝缘探针四端子检测治具 | |
| CN204302417U (zh) | 线性镀膜探针测试治具 | |
| CN215812873U (zh) | 一种用于多层fpc的电性能测试装置 | |
| CN2804873Y (zh) | 简易治具 | |
| CN210427719U (zh) | 一种检测柔性电路板冲切漏孔的装置 | |
| CN217846378U (zh) | Fpc检测机 | |
| CN2590006Y (zh) | 环保型印刷电路板测试装置 | |
| TW201329468A (zh) | 電路板之測試治具結構改良 | |
| CN2760561Y (zh) | 设有密布孔的转接盘 | |
| CN210668742U (zh) | 一种跟pcb板免焊的连接机构 | |
| CN105424984A (zh) | 通用短针、微针夹具 | |
| CN2591636Y (zh) | 印刷电路板测试装置的转接模具 | |
| CN218995570U (zh) | 一种加速度计芯片检测装置 | |
| CN101767089B (zh) | 分针装置及其制备方法 | |
| CN212721539U (zh) | 一种fpc多功能测试架 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| C10 | Entry into substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| C14 | Grant of patent or utility model | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| C17 | Cessation of patent right | ||
| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20071017 Termination date: 20120930 |