CN100339700C - 偏光膜的检查方法及检查装置 - Google Patents

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Abstract

一种偏光膜的检查方法及检查装置，不受伴随膜的移动的宽度方向的波动现象、搬送中的振动(晃动)等的影响，而且可以高精度地检查出连续移动的层叠构造的偏光膜的缺陷，特别是气泡缺陷。使用有2组具备分别配置在连续移动的偏光膜的表面、内面的光源部和检测部及当接支持膜的内面的传送轧辊的检查部的检查装置；在光源部、检测部的任意一个受光部上，设有偏光构件，使作为检查对象的偏光膜的透光轴与偏光构件的吸收轴一致，以呈正交偏光；在检查部，通过光源部的光源照射被传送滚轮所接触支持的偏光膜，通过检测部检测其反射光。

Description

偏光膜的检查方法及检查装置
技术领域
本发明关于一种检查偏光膜的缺陷的方法及装置，特别是检查偏光膜的表面和其内部，即在偏光膜构成材料层叠界面上存在的气泡缺陷。
背景技术
偏光膜在液晶元件的两面贴附使用，被用作液晶显示面板的一部分。图1所示为液晶显示面板的构成的1例的断面图。液晶显示面板20具有使偏光膜1贴合在液晶元件21的两面的构成。
液晶显示具有可以小型化、薄型化，同时耗电小的优点，被广泛应用于小型的录像机、手机、汽车驾驶导向系统、计算机等。
在这种液晶显示面板用的制造中所使用的偏光膜的构成根据用途而各不相同，例如可为在偏光镜膜本身的单面或两面设置粘合剂层和层叠在其上的保护膜的层叠构造。
这种偏光膜一旦在其表面和内部，即偏光镜膜、粘合剂层、保护膜构成材料内部、层叠界面存在气泡，就会造成图像的缺陷、画质的低下，所以有必要在偏光膜的制造阶段检查这样的缺陷。
作为检查偏光膜的气泡的检查方法，在偏光膜的一个面上对该膜沿倾斜角度照射光并观察其反射光进行检查的方法、在偏光膜的一个面上照射光并从相反面观察透过该膜的光的检查方法是众所周知的。
但是在偏光膜的一个面上照射光并从相反面观察透过该膜的光进行检查的方法，存在较多检测不出的气泡。而且，在检查位置上，必须在偏光膜的单面设置光源部，而在其相反面设置检测部。这样一来，其间形成一种膜不受约束的状态，产生宽度方向的波动现象、搬送中的振动(晃动)等，使检查部的图像的精度低下。特别是近年来液晶显示器的画质提高，可形成明亮鲜明的图像。所以，原来不成为问题的小的缺陷也被作为显示器的缺陷。另外，这种方法虽然使异物和其周围的气泡即所谓的有核气泡容易判别，但是具有难以检查出不伴随异物的气泡即所谓的无核气泡的问题。因此，在偏光膜的检查中需要能够检查出小缺陷的精度，上述的检查方法不能适应这些要求。
与此相对，在偏光膜的一个面上对该膜沿倾斜角度照射光并观察其反射光进行检查的方法，使无核气泡通过亮度和周围不同的原因而可明确地检查出，而且在连续被制造的偏光膜的检查部分，在板状体上设置多个孔作为检查基板，从内面可滑动吸引，并可抑制膜的晃动、波动，提高检查精度。
但是这种方法，一旦在检查基板和偏光膜间产生微小的间隙，真空吸附就会被全面解除，产生出现膜的晃动、波动而使检查精度低下的问题。而且，通过偏光膜和检查基板的滑动，存在给膜表面造成疤痕的问题。另外，也有难以变更与制造的偏光膜的宽度的变更相伴随的真空吸附的宽度的问题。
发明内容
本发明的目的是提供一种检查方法及检查装置，不受伴随膜的移动的宽度方向的波动现象、搬送中的振动(晃动)等的影响，而可高精度地检查出连续移动的偏光镜膜、粘合剂层、保护膜所层叠的层叠构造的偏光膜的缺陷，特别是气泡缺陷。
本发明还提供一种检查方法及检查装置，不在膜表面造成疤痕，即使存在制造的偏光膜的宽度的变更，也能高精度地检查出缺陷。
本发明是一种将存在于连续移动的偏光膜内的缺陷根据反射光进行检测的检查方法。
其特征是：使用带有具备配置在该膜的表面的第1光源部和第1检测部及接触支持该膜的内面的第1传送滚轮的第1检查部、具备配置在该膜的内面的第2光源部和第2检测部及接触支持该膜的表面的第2传送滚轮的第2检查部的检查装置。在该第1光源部及第1检测部的任意一个受光部上，及该第2光源部及第2检测部的任意一个受光部上，设有偏光构件，使作为检查对象的偏光膜的透光轴、与偏光构件的吸收轴一致，以呈正交偏光。在该第1检查部，通过该第1光源部的光源照射由该第1传送滚轮所接触支持的偏光膜，由该第1检测部检测其反射光，在该第2检查部，通过该第2光源部的光源照射由该第2传送滚轮所接触支持的偏光膜，由该第2检测部检测其反射光。
通过本发明的构成，即使为在把持偏光膜进行传送的多个手段间使检查装置动作的场合，检查装置通过具备传送滚轮，在膜的检查位置上不会产生膜的波动和晃动，使正确的缺陷检测成为可能。
而且，检查对象的偏光膜在接触于传送滚轮的构件进行检查，所以即使为薄薄的易产生歪斜的偏光膜，也能高精度地进行缺陷的检测。
另外，通过在第1光源部及第1检测部的任意一个受光部上，及第2光源部及第2检测部的任意一个受光部上，设有偏光构件，使作为检查对象的偏光膜的透光轴、与偏光构件的吸收轴一致，以呈正交偏光，可减少乃至遮断从检查对象的偏光膜的反对面到达检测器的光，防止将传送滚轮表面的灰尘、疤痕等作为制品缺陷而检查出。
本发明的检查方法为了防止来自光源以外的散射光等的影响，基本上在暗室内进行为更佳。传送滚轮通过降低不需要的散射光的影响，至少使表面为黑色最为理想。
本发明的检查装置中使用的偏光构件，只要为能得到直线偏振光的构件，在没有特别限定时都可使用，但是具体来说，可例举出偏光滤光器、偏光膜、偏光透镜、偏光镜(polarizer)、检偏镜(analyzer)等。
在本发明中，根据表示通过该第1检测部及第2检测部得到的缺陷的信息，而标记偏光膜的缺陷位置为较佳。
通过上述构成，可在从经过检查的偏光膜中削除不良部分的工程中，在成为显示器之前除去被检查出的缺陷部位。标记的部位除了可在将偏光膜以所定尺寸打穿时以外，亦或可以将之作为最小单位的区段而去掉。
另外本发明是一种检查装置，对存在于连续移动的偏光膜内的缺陷根据反射光而检查出来。
其特征是：带有具备配置在该膜的表面的第1光源部和第1检测部及接触支持该膜的内面的第1传送滚轮的第1检查部、具备配置在该膜的内面的第2光源部和第2检测部及接触支持该膜的表面的第2传送滚轮的第2检查部。
在该第1光源部及第1检测部的任意一个受光部上，及该第2光源部及第2检测部的任意一个受光部上，设有偏光构件，使作为检查对象的偏光膜的透光轴与偏光构件的吸收轴一致，以呈正交偏光。
采用的结构为在该第1检查部，通过该第1光源部的光源照射由该第1传送滚轮所接触支持的偏光膜，由该第1检测部检测其反射光，在该第2检查部，通过该第2光源部的光源照射由该第2传送滚轮所接触支持的偏光膜，由该第2检测部检测其反射光。
通过上述构成的检查装置的使用，即使为在把持偏光膜进行传送的多个手段间使检查装置动作的场合，检查装置通过具备传送滚轮，在膜的检查位置上不会产生膜的波动和晃动，使正确的缺陷检测成为可能。
而且，检查对象的偏光膜在接触于传送滚轮的构件进行检查，所以即使为薄薄的易产生歪斜的偏光膜，也能高精度地进行缺陷的检测。
具备有根据表示由该第1检测部及第2检测部所得到的缺陷的信息，而标记偏光膜的缺陷位置的标记手段为较佳。
附图说明
图1是表示使用偏光膜的液晶显示面板的构成例的断面图。
图2是表示检查对象的5层构造的偏光膜的构成和缺陷的例子的断面图。
图3是表示检查对象的3层构造的偏光膜的构成和缺陷的例子的断面图。
图4所示为本发明的检查装置的构成例。
图5是本发明的检查装置的检查部的扩大表示图。
图中  1.偏光膜，21.第1传送滚轮，3.光源，4.缝隙，5.偏光构件，6.检测器，12.偏光镜膜，13.保护膜，16.粘合剂层，20.液晶显示面板，21’.液晶元件，D.检测部，E.光源部。
具体实施方式
根据图示说明本发明的实施例。
在图2、图3中，关于层叠构造的偏光膜的例子而扩大断面，并将应检查出的气泡缺陷模型化表示。图2为具有由保护膜13、粘合剂层16、偏光镜膜12、粘合剂层16、保护膜13构成的5层构造的偏光膜1的例子。在该膜中，成为最终制品即显示器的缺陷的偏光膜的气泡缺陷为a、b、c、d。
图3为具有由偏光镜膜12、粘合剂层16、保护膜13构成的3层构造的偏光膜1的例子。在该膜中，e、f为被检查出的气泡缺陷。
作为偏光膜的构成构件即偏光子膜，可使用众所周知的偏光镜膜。具体来说一般为通过高聚合度的聚乙烯醇将碘、二色性染料等二色性色素吸附取向的膜。
作为保护膜一般使用三乙酰纤维素(TAC)。作为粘合剂一般使用低聚合度的聚乙烯醇等水溶性树脂等。
图4所示为由通过配置在沿箭头方向连续供给传送的偏光膜1的上面的光源部E1，检测部D1及在该膜1的下面接触支持的传送滚轮21形成的第1检查部T1、通过配置在偏光膜1的下面的光源部E2，检测部D2及在该膜1的上面接触支持的传送滚轮22形成的第2检查部T2构成的检查装置的构成例。
检查对象即偏光膜1和第1传送滚轮21在w1的范围内接触，和第2传送滚轮22在w2的范围内接触。光源部E1在偏光膜1和第1传送滚轮21的接触范围w1内照射偏光膜上面，并通过检测部D1接收其反射光。光源部E2在偏光膜1和第2传送滚轮22的接触范围w2内照射偏光膜下面，并通过检测部D2接收其反射光。光源部E1、E2可采用设置适当的缝隙4而只照射偏光膜的必要检查部位的构成。
光源部E1、E2上设有光源3，检测部D1、D2上设有检测器6。光源3可使用萤光灯等易取得的类型，如果使用发光部的宽度大的类型，则即使膜表面多少存在凹凸也能够降低给检查结果带来的影响。光源与偏光膜1的切线的垂直面所成的角度θ为30～45度较佳。
通过将θ设定在上述的范围，即使在使用相同的光源部和检测部的场合，也能以特别高的精度检查出缺陷。检测部D1、D2使用例如CCD作为检测器6，可通过来自CCD的光的信息，将利用气泡的光的反射作为明暗的变化进行检测的检测手段而构成，也可使用由来自CCD的光的信息形成图像，通过图像处理检查出气泡、异物的检测手段。根据需要，CCD采用在膜的宽度方向上同时设置多台而可同时检查宽度方向的整个范围的构成。
检查装置的第1传送滚轮21、第2传送滚轮22为从动滚轮，一旦传送滚轮的直径过小会产生挠曲，使检查精度低下。传送滚轮21、22的外径约为100～200的范围较佳。
图5是将本发明的检查方法扩大以模型化表示的。这里所示为在图4的第1检查部，检查具备带有图2的构成的5层构造(粘合剂层省略，图面上以3层表示)的偏光膜的例子。在第2检查部也进行完全同样的检查。
从光源部E1送出的光在检查位置即S位置照射偏光膜1，并使来自该S位置的反射光被检测部D1接收。构成层叠偏光膜1的偏光镜膜12与检测部D1的偏光构件5呈正交偏光，所以到达传送滚轮21的表面的照明光不到达检测部。因此，气泡P1(图2中的气泡a、b)虽然被检查出，但是传送滚轮表面的异物不被检查出。气泡P3(图2中的气泡c、d)通过第2检测部被检查出。
缺陷的标记可举出例如在偏光膜的横方向上以一定的间距并列多个印字体，将相当于含有不良部分的区分的印字体按压在膜表面进行印字的方法等。
本发明的检查方法在液晶显示盘的实际的使用时，即使剥离的保护膜层叠在偏光反射板的表面，也可检查。
作为本发明的检查手段，也可采用将光源和检测器多个排列的构成、将单数的带状乃至直管状的光源和多个检测器组合的构成。而且，作为检测部可采用将检测器作为线路传感器排列的情形和作为区域传感器排列的情形的任意一个。

Claims (4)

1.一种偏光膜的检查方法，对存在于连续移动的偏光膜内的缺陷根据反射光进行检测，其特征在于：
使用一个检查装置，该检查装置包括：
一个第1检查部，具备配置在该膜的表面的第1光源部和第1检测部及接触支持该膜的内面的第1传送滚轮；以及
一个第2检查部，具备配置在该膜的内面的第2光源部和第2检测部及接触支持该膜的表面的第2传送滚轮，
其中在该第1光源部及第1检测部的任意一个受光部上，及该第2光源部及第2检测部的任意一个受光部上，设有偏光构件，使作为检查对象的偏光膜的透光轴与偏光构件的吸收轴一致，以呈正交偏光，且
在该第1检查部，通过该第1光源部的光源照射由该第1传送滚轮所接触支持的偏光膜，由该第1检测部检测其反射光，在该第2检查部，通过该第2光源部的光源照射由该第2传送滚轮所接触支持的偏光膜，由该第2检测部检测其反射光。
2.如权利要求1所述的偏光膜的检查方法，其特征在于：根据表示由该第1检测部及第2检测部得到的缺陷的信息，标记偏光膜的缺陷位置。
3.一种偏光膜的检查装置，将存在于连续移动的偏光膜内的缺陷根据反射光而检查出，其特征在于包括：
一个第1检查部，具备配置在该膜的表面的第1光源部和第1检测部及接触支持该膜的内面的第1传送滚轮；
一个第2检查部，具备配置在该膜的内面的第2光源部和第2检测部及接触支持该膜的表面的第2传送滚轮；
在该第1光源部及第1检测部的任意一个受光部上，及该第2光源部及第2检测部的受光部的任意一个上，设有偏光构件，使作为检查对象的偏光膜的透光轴、与偏光构件的吸收轴一致，以呈正交偏光，
其中在该第1检查部，通过该第1光源部的光源照射由该第1传送滚轮所接触支持的偏光膜，由该第1检测部检测其反射光，在该第2检查部，通过该第2光源部的光源照射由该第2传送滚轮所接触支持的偏光膜，由该第2检测部检测其反射光。
4.如权利要求3所述的偏光膜的检查装置，其特征在于：根据表示由该第1检测部及第2检测部得到的缺陷的信息，标记偏光膜的缺陷位置。
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