CH695407A5 - Verfahren und Einrichtung zur Montage von Halbleiterchips auf einem flexiblen Substrat. - Google Patents

Verfahren und Einrichtung zur Montage von Halbleiterchips auf einem flexiblen Substrat. Download PDF

Info

Publication number
CH695407A5
CH695407A5 CH01069/01A CH10692001A CH695407A5 CH 695407 A5 CH695407 A5 CH 695407A5 CH 01069/01 A CH01069/01 A CH 01069/01A CH 10692001 A CH10692001 A CH 10692001A CH 695407 A5 CH695407 A5 CH 695407A5
Authority
CH
Switzerland
Prior art keywords
substrate
adhesive
vacuum
heating plate
curing
Prior art date
Application number
CH01069/01A
Other languages
English (en)
Inventor
Rene Josef Ulrich
Original Assignee
Esec Trading Sa
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Esec Trading Sa filed Critical Esec Trading Sa
Priority to CH01069/01A priority Critical patent/CH695407A5/de
Publication of CH695407A5 publication Critical patent/CH695407A5/de

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L24/83Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/50Assembly of semiconductor devices using processes or apparatus not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326, e.g. sealing of a cap to a base of a container
    • H01L21/52Mounting semiconductor bodies in containers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67144Apparatus for mounting on conductive members, e.g. leadframes or conductors on insulating substrates
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies
    • H01L24/75Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K13/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
    • H05K13/0061Tools for holding the circuit boards during processing; handling transport of printed circuit boards
    • H05K13/0069Holders for printed circuit boards
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K13/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
    • H05K13/04Mounting of components, e.g. of leadless components
    • H05K13/046Surface mounting
    • H05K13/0469Surface mounting by applying a glue or viscous material
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L2224/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/321Disposition
    • H01L2224/32151Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/32221Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/32225Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/75Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
    • H01L2224/7525Means for applying energy, e.g. heating means
    • H01L2224/75251Means for applying energy, e.g. heating means in the lower part of the bonding apparatus, e.g. in the apparatus chuck
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/75Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
    • H01L2224/756Means for supplying the connector to be connected in the bonding apparatus
    • H01L2224/75611Feeding means
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/75Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
    • H01L2224/757Means for aligning
    • H01L2224/75743Suction holding means
    • H01L2224/75744Suction holding means in the lower part of the bonding apparatus, e.g. in the apparatus chuck
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/83Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
    • H01L2224/8319Arrangement of the layer connectors prior to mounting
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/83Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
    • H01L2224/8319Arrangement of the layer connectors prior to mounting
    • H01L2224/83192Arrangement of the layer connectors prior to mounting wherein the layer connectors are disposed only on another item or body to be connected to the semiconductor or solid-state body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/83Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
    • H01L2224/832Applying energy for connecting
    • H01L2224/8321Applying energy for connecting using a reflow oven
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/83Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
    • H01L2224/838Bonding techniques
    • H01L2224/8385Bonding techniques using a polymer adhesive, e.g. an adhesive based on silicone, epoxy, polyimide, polyester
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/83Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
    • H01L2224/838Bonding techniques
    • H01L2224/8385Bonding techniques using a polymer adhesive, e.g. an adhesive based on silicone, epoxy, polyimide, polyester
    • H01L2224/83855Hardening the adhesive by curing, i.e. thermosetting
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/488Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
    • H01L23/498Leads, i.e. metallisations or lead-frames on insulating substrates, e.g. chip carriers
    • H01L23/4985Flexible insulating substrates
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/93Batch processes
    • H01L24/95Batch processes at chip-level, i.e. with connecting carried out on a plurality of singulated devices, i.e. on diced chips
    • H01L24/97Batch processes at chip-level, i.e. with connecting carried out on a plurality of singulated devices, i.e. on diced chips the devices being connected to a common substrate, e.g. interposer, said common substrate being separable into individual assemblies after connecting
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01005Boron [B]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01006Carbon [C]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01032Germanium [Ge]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01033Arsenic [As]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01047Silver [Ag]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01082Lead [Pb]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/06Polymers
    • H01L2924/078Adhesive characteristics other than chemical
    • H01L2924/07802Adhesive characteristics other than chemical not being an ohmic electrical conductor
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T156/00Adhesive bonding and miscellaneous chemical manufacture
    • Y10T156/10Methods of surface bonding and/or assembly therefor
    • Y10T156/1089Methods of surface bonding and/or assembly therefor of discrete laminae to single face of additional lamina
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T156/00Adhesive bonding and miscellaneous chemical manufacture
    • Y10T156/10Methods of surface bonding and/or assembly therefor
    • Y10T156/1089Methods of surface bonding and/or assembly therefor of discrete laminae to single face of additional lamina
    • Y10T156/1092All laminae planar and face to face

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Die Bonding (AREA)
  • Adhesives Or Adhesive Processes (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Description

CH 695 407 A5
Beschreibung
[0001] Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Montage von Halbleiterchips auf einem flexiblen Substrat gemäss dem Oberbegriff des Anspruchs 1 und eine Einrichtung zur Montage von Halbleiterchips auf einem flexiblen Substrat gemäss dem Oberbegriff des Anspruchs 5.
[0002] In der Halbleiterindustrie werden neben den bewährten metallischen Substraten zunehmend flexible Substrate wie z.B. BGA® Flextapes verwendet. Solche Flextapes werden zudem immer dünner und erreichen Dicken von nur noch 50 pm. Dies führt zu Schwierigkeiten bei der Montage der Halbleiterchips, die sich in ungleichmässiger Dicke des Klebstoffes zwischen dem Halbleiterchip und dem Flextape, einer Schieflage (tilt) und Fehllagen des Halbeiterchips äussern. Zudem kommt es vor, dass Klebstoff vor dem definitiven Aushärten umherfliesst, sich zusammenzieht, lokal in verschiedene Phasen separiert, etc., was die Qualität der Klebeverbindung stark beeinträchtigen kann. Auch Verunreinigungen der Anschlusspads kann dies zur Folge haben.
[0003] Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren und eine Einrichtung anzugeben, mit der flexible Substrate in zuverlässiger und hoher Qualität mit Halbleiterchips bestückt werden können.
[0004] Die Erfindung ist in den Ansprüchen 1 und 5 gekennzeichnet. Weiterbildungen der Erfindung ergeben sich aus den abhängigen Ansprüchen.
[0005] Die Lösung der Aufgabe gelingt erfindungsgemäss dadurch, dass das Substrat mindestens während des Aushärtens des Klebstoffs, vorzugsweise jedoch während allen kritischen Phasen des Montageprozesses plan auf einer ebenen Auflagefläche gehalten wird.
[0006] Bei einer ersten Ausführungsform der Lösung ist der Montageautomat, ein sogenannter Die Bonder, mit einer Heizplatte ausgerüstet, deren Oberfläche die ebene Auflagefläche bildet, um den Klebstoff unmittelbar nach der Bestückung mit dem Halbleiterchip auszuhärten. Die Heizplatte weist an ihrer dem Substrat zugewandten Auflagefläche mit Vakuum beaufschlagbare Kanäle oder Ritzen auf, um das Substrat planar zu halten, bis der Klebstoff ausgehärtet ist. Zudem ist der Montageautomat vorzugsweise mit einer Auflageplatte ausgerüstet, die ebenfalls mit Vakuum beaufschlagbare Kanäle oder Ritzen aufweist, um das Substrat während des Auftragens des Klebstoffes und während des Bestückens mit den Halbleiterchips vollflächig an eine ebene Auflagefläche anzusaugen.
[0007] Diese Lösung eignet sich insbesondere für die Verarbeitung sogenannter Matrix-Substrate, bei denen die Substratplätze für die Halbleiterchips in Blöcken à n Reihen und m Kolonnen nebeneinander auf dem Substrat angeordnet sind. Die Montage der Halbleiterchips erfolgt wie üblich in drei Schritten: Im ersten Schritt wird an einer Dispensstation Klebstoff auf die Substratplätze aufgetragen. Im zweiten Schritt werden die Halbleiterchips an einer Bondstation auf den Substratplätzen platziert. Im dritten Schritt wird der Klebstoff ausgehärtet. Damit für die Aushärtung des Klebstoffs genügend Zeit zur Verfügung steht, erfolgt die Verarbeitung eines solchen Matrix-Substrates blockweise wie folgt: Sobald ein Block mit seinen n x m Substratplätzen vollständig mit Halbleiterchips bestückt ist, wird das Vakuum gelöst und das Substrat in Transportrichtung vorgeschoben. Gleichzeitig werden die Auflageplatte und die Heizplatte entgegen der Transportrichtung zurück in eine vorbestimmte Ausgangsposition verschoben. Danach werden die Kanäle der Auflageplatte als auch der Heizplatte mit Vakuum beaufschlagt, so dass das Substrat an der Auflageplatte und auch an der Heizplatte plan aufliegt und fixiert ist. Anschliessend werden an der Dispensstation die nächsten n x m Substratplätze mit Klebstoff versehen und an der Bondstation die bereits mit Klebstoff versehenen Substratplätze Kolonne um Kolonne mit Halbleiterchips bestückt. Ist eine Kolonne fertig bestückt, dann werden für die Bestückung der nächsten Kolonne die Auflageplatte und die Heizplatte miteinander in Transportrichtung ohne Lösen des Vakuums vorgeschoben. Das Substrat bleibt somit an der Auflageplatte und an der Heizplatte fixiert und wird mitverschoben. Nach der Bestückung der letzten Kolonne eines Blocks beginnt der nächste Zyklus in der beschriebenen Weise mit dem Lösen des Vakuums, dem Vorschub des Substrats und dem Rücktransport der Auflageplatte und der Heizplatte.
[0008] Eine Verdoppelung oder Verdreifachung der Aushärtezeit kann erreicht werden, indem die Heizplatte mit zwei bzw. drei Heizpositionen ausgebildet wird. Damit die Durchsatzrate des Montageautomaten relativ hoch gehalten werden kann, müssen bei dieser Lösung relativ schnell aushärtende Klebstoffe verwendet werden.
[0009] Bei gewissen Anwendungen genügt es, wenn der Klebstoff nur teilweise, z.B. nur zu 80% ausgehärtet wird. Die restliche Aushärtung erfolgt dann bei einem nachfolgenden Prozessschritt, beispielsweise beim Verdrahten auf einem Wire Bonder.
[0010] Bei einer zweiten Ausführungsform der Lösung erfolgt das Aushärten des Klebstoffs nicht auf dem Montageautomaten, sondern in einem Ofen. Während des Aufenthalts im Ofen wird sichergestellt, dass das Substrat plan auf einer Auflage aufliegt. Als Auflage dient eine Platte, die mit Vakuum beaufschlagbare Kanäle oder Ritzen aufweist, so dass das Substrat angesaugt werden kann. Die Platte kann, muss aber nicht selbst beheizbar sein. Bei dieser Lösung können auch langsam aushärtende Klebstoffe benutzt werden.
[0011] Die Erfindung ergibt eine starke Verbesserung der Montagequalität. Da das Substrat während des Aushärtens des Klebstoffes plan gehalten wird, bildet sich zwischen dem Substrat und dem Halbleiterchip eine Klebstoff Schicht mit konstanter Dicke: Der Klebstoff vermag das Substrat beim Aushärten nicht mehr zu verbiegen. Zudem ergibt sich eine grössere Homogenität des Klebstoffes, während bei herkömmlicher Aushärtung die verschiedenen Komponenten des Klebstoffs segregieren können, z.B. in silberreiche und silberarme Gebiete, oder auch Leerstellen entstehen können.
[0012] Zudem gewährleistet die plane Auflage des Substrats auf der Heizplatte eine zuverlässige Wärmeübertragung von der Heizplatte auf den Klebstoff. Dies ist von grosser Bedeutung, da die Qualität der Wärmeübertragung entscheidenden Einfluss auf die zum vollständigen Aushärten des Klebstoffs erforderliche Aushärtezeit hat.
2
CH 695 407 A5
[0013] Nachfolgend werden Ausführungsbeispiele der Erfindung anhand der Zeichnung näher erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 eine Einrichtung zur Montage von Halbleiterchips,
Fig. 2 eine Auflageplatte und eine Heizplatte,
Fig. 3 ein Substrat, und
Fig. 4 und 5 einen Ofen.
[0014] Die Fig. 1 zeigt in schematischer Darstellung eine Einrichtung zur Montage von Halbleiterchips 1 auf einem flexiblen Substrat 2. Die Einrichtung weist eine Dispensstation 3 zum Auftragen von Klebstoff 4 auf Substratplätze 5 (Fig. 3) des Substrats 2, eine Bondstation 6 zum Bestücken der Substratplätze 5 mit den Halbleiterchips 1 und eine Aushärtestation 7 zum Aushärten des Klebstoffes 4 auf, die in Transportrichtung 8 des Substrats 2 nacheinander angeordnet sind. Die Aushärtestation 1 umfasst eine verschiebbare Heizplatte 9, deren dem Substrat 2 zugewandte Auflagefläche 10 mit Vakuum beaufschlagbare Kanäle 11 zum Ansaugen des Substrats 2 aufweist. Die Montageeinrichtung umfasst weiter eine zusammen mit der Heizplatte 9 verschiebbare Auflageplatte 12, die ebenfalls mit Vakuum beaufschlagbare Kanäle 11 zum Ansaugen des Substrats 2 aufweist. Für die Verschiebung der Heizplatte 9 und der Auflageplatte 12 in Transportrichtung 8 und in einer Richtung 13 (Fig. 2) quer zur Transportrichtung 8 sind zwei Antriebe vorhanden.
[0015] Die Fig. 2 zeigt in der Aufsicht die Auflageplatte 12 und die Heizplatte 9. Die Auflageplatte 12 und die Heizplatte 9 sind mechanisch miteinander starr verbunden, aber durch einen Spalt 14 getrennt. Damit wird vermieden, dass nennenswerte Wärme von der Heizplatte 9 auf die Auflageplatte 12 übertragen wird, so dass das Aushärten des Klebstoffes 4 erst dann beginnt, wenn sich die Substratplätze 5 auf der Heizplatte 9 befinden. Die Kanäle 11 sind über Bohrungen 15 mit einer Vakuumquelle verbunden. Lage und Länge der einzelnen Kanäle 11 sind so gewählt, dass das Substrat 2 vollflächig angesaugt werden kann, damit es völlig plan auf der Auflageplatte 12 bzw. der Heizplatte 9 anliegt. Die Heizplatte 9 weist zwei Felder mit Kanälen 11 auf, damit der Klebstoff 4 während zwei Taktzeiten ausgehärtet werden kann.
[0016] Die Fig. 3 zeigt das Substrat 2 in der Aufsicht. Die Substratplätze 5 sind in Blöcken 16 in n Reihen 17 und m Kolonnen 18 angeordnet. Im gezeigten Beispiel ist m=3 und n=4. Die Schrittweite von Kolonne 18 zu Kolonne 18 ist mit C bezeichnet, die Schrittweite von Block 16 zu Block 16 mit B.
[0017] Im Produktionsbetrieb der Montageeinrichtung werden die Substratplätze 5 blockweise abgearbeitet: Bei der Dispensstation 3 wird Klebstoff 4 auf die Substratplätze 5 eines ersten Blocks 16 aufgetragen. Bei der Bondstation 6 werden die Halbleiterchips 1 auf den Substratplätzen 5 eines zweiten Blocks 16 platziert. In der Aushärtestation 7 erfolgt die Aushärtung des Klebstoffs 4 der Substratplätze 5 eines dritten und vierten Blocks 16. Die vier Blöcke 16 gehören entsprechend der Momentaufnahme zum gleichen Substrat 2 oder zu verschiedenen Substraten 2. Die blockweise Abarbeitung bedeutet, dass das Substrat 2 während der Abarbeitung der m*n Substratplätze 5 eines Blocks 16 durchgehend an der Auflageplatte 12 und an der Heizplatte 9 fixiert bleibt. Erst dann, wenn ein Block 16 mit seinen n*m Substratplätzen 5 vollständig mit Halbleiterchips 1 bestückt ist, wird das Vakuum gelöst und das Substrat 2 in Transportrichtung 8 um die Distanz B-(n-1)*C vorgeschoben. Gleichzeitig werden die Auflageplatte 12 und die Heizplatte 9 entgegen der Transportrichtung 8 um die Distanz (n-1)*C zurück in eine vorbestimmte Ausgangsposition verschoben. Danach werden die Kanäle 11 der Auflageplatte 12 als auch der Heizplatte 9 mit Vakuum beaufschlagt, so dass das Substrat 2 an der Auflageplatte 12 und auch an der Heizplatte 9 plan aufliegt und fixiert ist. Anschliessend werden an der Dispensstation 3 die Substratplätze 5 des nächsten Blocks 16 mit Klebstoff 4 versehen und an der Bondstation 6 die bereits mit Klebstoff 4 versehenen Substratplätze 5 Kolonne 18 um Kolonne 18 mit Halbleiterchips 1 bestückt. Ist eine Kolonne 18 fertig bestückt, dann werden für die Bestückung der nächsten Kolonne 18 die Auflageplatte 12 und die Heizplatte 9 miteinander in Transportrichtung 8 ohne Lösen des Vakuums um die Distanz C vorgeschoben. Das Substrat 2 bleibt dabei an der Auflageplatte 12 und an der Heizplatte 9 fixiert und wird mitverschoben. Nach der Bestückung der letzten Kolonne 18 eines Blocks 16 beginnt der nächste Takt in der beschriebenen Weise mit dem Lösen des Vakuums, dem Vorschub des Substrats 2 um die Distanz B-(n-1)*C und dem Rücktransport der Auflageplatte 12 und der Heizplatte 9 um die Distanz (n-1)*C.
[0018] Sofern die Bondstation 6 die Halbleiterchips 1 immer an einem vorgegebenen Ort absetzt, werden die Auflageplatte 12 und die Heizplatte 9 für die Bestückung der m innerhalb einer Kolonne 18 liegenden Substratplätze 5 jeweils in der Richtung 13, d.h. orthogonal zur Transportrichtung 8 verschoben.
[0019] Die Fig. 4 zeigt im Querschnitt einen Ofen 19 für die Aushärtung des Klebstoffes 4. Der Ofen 19 weist ein herausnehmbares Magazin 20 mit einer Vielzahl von Platten 21 mit Kanälen 11 auf, die mit Vakuum zum Ansaugen der Substrate 2 beaufschlagbar sind. Das Magazin 20 wird ausserhalb des Ofens 19 in relativ kaltem Zustand mit den Substraten 2 beladen und die Kanäle 11 von dessen Platten 21 mit Vakuum beaufschlagt, so dass die Substrate 2 vor dem Beginn des Aushärtens flach auf den Platten 21 aufliegen.
[0020] Die Fig. 5 zeigt im Querschnitt einen weiteren Ofen 19, der als Durchlaufofen ausgebildet ist. Die mit den Halbleiterchips 1 bestückten Substrate 2 werden nacheinander in Durchlaufrichtung durch den Ofen 19 transportiert. Die Substrate 2 liegen auf Platten 21 auf, die mit Vakuum beaufschlagbare Kanäle 11 zum Ansaugen der Substrate 2 aufweisen, damit diese plan auf den Platten 21 aufliegen.
3
CH 695 407 A5

Claims (6)

Patentansprüche
1. Verfahren zur Montage von Halbleiterchips (1) auf einem flexiblen Substrat (2), wobei an einer Dispensstation (3) Klebstoff (4) auf vorbestimmte Substratplätze (5) auf dem Substrat (2) aufgetragen wird, an einer Bondstation (6) die Halbleiterchips (1) auf den Substratplätzen (5) platziert werden und in einer Aushärtestation (7) der Klebstoff (4) ausgehärtet wird, dadurch gekennzeichnet, dass das Substrat (2) während des Aushärtens des Klebstoffs (4) mittels Vakuum auf einer ebenen Auflagefläche (10) fixiert wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das Aushärten des Klebstoffes (4) auf einer der Bondstation (6) unmittelbar nachgelagerten Heizplatte (9) erfolgt, deren Oberfläche die ebene Auflagefläche (10) bildet und die mit Vakuum beaufschlagbare Kanäle (11) zum Ansaugen des Substrats (2) aufweist.
3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das Aushärten des Klebstoffes (4) in einem von der Bondstation (6) getrennten Ofen (19) erfolgt.
4. Verfahren nach Anspruch 2 zur Bestückung eines Substrats (2), das in Blöcken (16) angeordnete Substratplätze (5) aufweist, dadurch gekennzeichnet, dass die Heizplatte (9) starr mit einer Auflageplatte (12) verbunden ist, die zum Fixieren des flexiblen Substrats (2) während des Auftragens des Klebstoffes (4) und während der Montage des Halbleiterchips (1) dient und dass die Substratplätze (5) blockweise verarbeitet werden durch: Transportieren des flexiblen Substrats (2) in einer Transportrichtung und Fixieren des flexiblen Substrats (2) mittels Vakuum; wiederholt Bewegen der Auflageplatte (12) und der Heizplatte (9) zu einer vorbestimmten Anzahl von Positionen, wobei bei jeder Position bei der Dispensstation (3) Klebstoff auf einen Substratplatz (5) aufgetragen und bei der Bondstation (6) ein Halbleiterchip (1) auf einem anderen Substratplatz (5) platziert wird; Lösen des Vakuums; und Transportieren des flexiblen Substrats (2) in der Transportrichtung und gleichzeitig Bewegen der Auflageplatte (12) und der Heizplatte (9) in einer der Transportrichtung entgegengesetzten Richtung.
5. Einrichtung zur Montage von Halbleiterchips (1) auf einem flexiblen Substrat (2) zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 2, mit der Dispensstation (3) zum Auftragen von Klebstoff (4) auf das Substrat (2) und der Bondstation (6) zum Bestücken des Substrats (2) mit den Halbleiterchips (1), dadurch gekennzeichnet, dass in Transportrichtung (8) des Substrats (2) nach der Bondstation (6) die Heizplatte (9) angeordnet ist, die mit Vakuum beaufschlagbare Kanäle (11) zum Ansaugen des Substrats (2) aufweist.
6. Einrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, dass eine Auflageplatte (12) für das Substrat (2) vorhanden ist, die mit Vakuum beaufschlagbare Kanäle (11) zum Ansaugen des Substrats (2) aufweist, um das Substrat (2) während des Auftragens des Klebstoffes (4) und während des Platzierens des Halbleiterchips (1) planar ausgerichtet zu fixieren, und dass die Auflageplatte (12) und die Heizplatte (9) zusammen in Transportrichtung (8) verschiebbar sind.
4
CH01069/01A 2000-07-03 2001-06-14 Verfahren und Einrichtung zur Montage von Halbleiterchips auf einem flexiblen Substrat. CH695407A5 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CH01069/01A CH695407A5 (de) 2000-07-03 2001-06-14 Verfahren und Einrichtung zur Montage von Halbleiterchips auf einem flexiblen Substrat.

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CH13082000 2000-07-03
CH01069/01A CH695407A5 (de) 2000-07-03 2001-06-14 Verfahren und Einrichtung zur Montage von Halbleiterchips auf einem flexiblen Substrat.

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CH695407A5 true CH695407A5 (de) 2006-04-28

Family

ID=4565362

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CH01069/01A CH695407A5 (de) 2000-07-03 2001-06-14 Verfahren und Einrichtung zur Montage von Halbleiterchips auf einem flexiblen Substrat.

Country Status (7)

Country Link
US (1) US6821375B2 (de)
KR (1) KR100746386B1 (de)
CN (1) CN1191616C (de)
AT (1) AT413061B (de)
CH (1) CH695407A5 (de)
HK (1) HK1041559A1 (de)
TW (1) TW498524B (de)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7452712B2 (en) * 2002-07-30 2008-11-18 Applied Biosystems Inc. Sample block apparatus and method of maintaining a microcard on a sample block
CN100388446C (zh) * 2004-06-02 2008-05-14 鸿骐昶驎科技股份有限公司 用于芯片基板封装的具粘着定位技术的系统及方法
JP2006234635A (ja) * 2005-02-25 2006-09-07 Three M Innovative Properties Co フレキシブルプリント配線板の接合部の非破壊検査方法
US10104784B2 (en) * 2015-11-06 2018-10-16 Nxp B.V. Method for making an electronic product with flexible substrate

Family Cites Families (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6012799A (ja) * 1983-07-01 1985-01-23 三洋電機株式会社 チップ状電子部品の自動装着装置
DE3474750D1 (en) * 1983-11-05 1988-11-24 Zevatech Ag Method and device positioning elements on a work piece
JPS62144255U (de) 1986-02-28 1987-09-11
JPS63277166A (ja) * 1987-05-09 1988-11-15 Hitachi Ltd チツプ電子部品供給装置
US4937511A (en) * 1987-07-21 1990-06-26 Western Technologies Automation, Inc. Robotic surface mount assembly system
US4810154A (en) * 1988-02-23 1989-03-07 Molex Incorporated Component feeder apparatus and method for vision-controlled robotic placement system
US4819326A (en) * 1988-06-16 1989-04-11 Stannek Karl H Method for robotic placement of electronic parts on a circuit board
US4943342A (en) * 1988-08-29 1990-07-24 Golemon Valia S Component feeding device for circuit board mounting apparatus
JP2803221B2 (ja) * 1989-09-19 1998-09-24 松下電器産業株式会社 Ic実装装置及びその方法
US5157734A (en) * 1989-12-19 1992-10-20 Industrial Technology Research Institute Method and apparatus for picking and placing a surface mounted device with the aid of machine vision
JPH03253040A (ja) * 1990-03-01 1991-11-12 Mitsubishi Electric Corp ウエハ貼り付け装置
US5173766A (en) * 1990-06-25 1992-12-22 Lsi Logic Corporation Semiconductor device package and method of making such a package
US5252850A (en) * 1992-01-27 1993-10-12 Photometrics Ltd. Apparatus for contouring a semiconductor, light responsive array with a prescribed physical profile
US5548091A (en) * 1993-10-26 1996-08-20 Tessera, Inc. Semiconductor chip connection components with adhesives and methods for bonding to the chip
US5641114A (en) * 1995-06-07 1997-06-24 International Business Machines Corporation Controlled temperature bonding
JP2666788B2 (ja) * 1995-10-19 1997-10-22 日本電気株式会社 チップサイズ半導体装置の製造方法
US5681757A (en) * 1996-04-29 1997-10-28 Microfab Technologies, Inc. Process for dispensing semiconductor die-bond adhesive using a printhead having a microjet array and the product produced by the process
US5973389A (en) * 1997-04-22 1999-10-26 International Business Machines Corporation Semiconductor chip carrier assembly
US6544377B1 (en) * 1997-11-20 2003-04-08 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Heating and pressurizing apparatus for use in mounting electronic components, and apparatus and method for mounting electronic components
JP3971848B2 (ja) * 1998-06-23 2007-09-05 キヤノンマシナリー株式会社 ダイボンダ
EP1030349B2 (de) * 1999-01-07 2013-12-11 Kulicke & Soffa Die Bonding GmbH Verfahren und Vorrichtung zum Behandeln von auf einem Substrat angeordneten elektronischen Bauteilen, insbesondere von Halbleiterchips
JP2000357711A (ja) * 1999-06-15 2000-12-26 Sony Corp 半導体装置製造用治具および半導体装置の製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
AT413061B (de) 2005-10-15
US20020000294A1 (en) 2002-01-03
TW498524B (en) 2002-08-11
HK1041559A1 (zh) 2002-07-12
ATA9852001A (de) 2005-03-15
CN1330400A (zh) 2002-01-09
US6821375B2 (en) 2004-11-23
KR20020003812A (ko) 2002-01-15
CN1191616C (zh) 2005-03-02
KR100746386B1 (ko) 2007-08-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE112005002507B4 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Tragen und Einspannen eines Substrats
DE10235482B3 (de) Vorrichtung zum Fixieren dünner und flexibler Substrate
DE102005029136B4 (de) Verfahren und Einrichtung für die Montage von Halbleiterchips
DE69216658T2 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Verbindung elektrischer Bauelemente
DE19736685A1 (de) Bondgerät
DE10240461A1 (de) Universelles Gehäuse für ein elektronisches Bauteil mit Halbleiterchip und Verfahren zu seiner Herstellung
EP1543542B1 (de) Vorrichtung und verfahren zur aufbringung von halbleiterchips auf trägern
DE69015854T2 (de) Anordnung von Halbleiterbauelementen und Verfahren und Vorrichtung zur Montage von Halbleiterbauelementen.
DE102007058497A1 (de) Laminierte mehrschichtige Leiterplatte
DE102012213003A1 (de) Befestigung eines Halbleiterchips in trockenen und druckunterstützten Verbindungsverfahren
DE19522338B4 (de) Chipträgeranordnung mit einer Durchkontaktierung
DE10105164A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Kontaktieren von Halbleiterchips
AT413061B (de) Verfahren und einrichtung zur montage von halbleiterchips auf einem flexiblen substrat
DE102012104977A1 (de) Verfahren und Einrichtung für die Montage von Halbleiterchips
CH619333A5 (en) Process for covering a flat component with a polymer
EP1170787A1 (de) Verfahren und Einrichtung zur Montage von Halbleiterchips auf einem flexiblen Substrat
EP1849341A2 (de) Verfahren und vorrichtung zum verbinden von halbleiterelementen oder interposern mit einem trägerband und verwendung einer derartigen vorrichtung
WO2009000682A1 (de) Vorrichtung zum anpressen von halbleiterchips
DE10151657C1 (de) Verfahren zur Montage eines Chips auf einem Substrat
CH695075A5 (de) Greifwerkzeug.
WO2021219538A1 (de) Anordnung mit einem auf einer leiterplatte angeordneten elektronischen bauteil und verfahren zum herstellen einer solchen anordnung
DE602005003203T2 (de) Verfahren zum ankleben einer schaltungskomponente an eine leiterplatte
DE10011008B4 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Anbringen einer Abdeckung auf einem Substrat und Verfahren und Vorrichtung zum Aufbringen eines Dichtungsmittels auf eine Komponente
DE102005020087A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Erzeugung von einem bondbaren Flächenbereich auf einem Träger
DE9314355U1 (de) Chipkarten-Modul und Chipkarte

Legal Events

Date Code Title Description
PUE Assignment

Owner name: OERLIKON ASSEMBLY EQUIPMENT AG, STEINHAUSEN

Free format text: ESEC TRADING SA#HINTERBERGSTRASSE 32 POSTFACH 5503#6330 CHAM (CH) -TRANSFER TO- OERLIKON ASSEMBLY EQUIPMENT AG, STEINHAUSEN#HINTERBERGSTRASSE 32#6330 CHAM (CH)

PL Patent ceased