ATE441861T1 - Verfahren zum nachweis von analyten auf grundlage von evaneszenzbelichtung und auf streuung beruhender nachweis von nanopartikelsondenkomplexen - Google Patents

Verfahren zum nachweis von analyten auf grundlage von evaneszenzbelichtung und auf streuung beruhender nachweis von nanopartikelsondenkomplexen

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ATE441861T1
ATE441861T1 AT04785908T AT04785908T ATE441861T1 AT E441861 T1 ATE441861 T1 AT E441861T1 AT 04785908 T AT04785908 T AT 04785908T AT 04785908 T AT04785908 T AT 04785908T AT E441861 T1 ATE441861 T1 AT E441861T1
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evanescence
scattering
exposure
detecting analytes
probe complexes
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AT04785908T
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James Storhoff
Adam Lucas
Uwe Muller
Yijia Bao
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Nanosphere Inc
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    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/55—Specular reflectivity
    • G01N21/552—Attenuated total reflection
    • G01N21/553—Attenuated total reflection and using surface plasmons
    • G01N21/554—Attenuated total reflection and using surface plasmons detecting the surface plasmon resonance of nanostructured metals, e.g. localised surface plasmon resonance

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