ATA2998A - Verfahren und vorrichtung zum ausgerichteten zusammenführen von scheibenförmigen halbleitersubstraten - Google Patents
Verfahren und vorrichtung zum ausgerichteten zusammenführen von scheibenförmigen halbleitersubstratenInfo
- Publication number
- ATA2998A ATA2998A AT0002998A AT2998A ATA2998A AT A2998 A ATA2998 A AT A2998A AT 0002998 A AT0002998 A AT 0002998A AT 2998 A AT2998 A AT 2998A AT A2998 A ATA2998 A AT A2998A
- Authority
- AT
- Austria
- Prior art keywords
- disc
- semiconductor substrates
- shaped semiconductor
- oriented assembly
- oriented
- Prior art date
Links
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B62—LAND VEHICLES FOR TRAVELLING OTHERWISE THAN ON RAILS
- B62D—MOTOR VEHICLES; TRAILERS
- B62D43/00—Spare wheel stowing, holding, or mounting arrangements
- B62D43/02—Spare wheel stowing, holding, or mounting arrangements external to the vehicle body
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67092—Apparatus for mechanical treatment
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/68—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for positioning, orientation or alignment
- H01L21/681—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for positioning, orientation or alignment using optical controlling means
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
- Y10T29/49002—Electrical device making
- Y10T29/49117—Conductor or circuit manufacturing
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Combustion & Propulsion (AREA)
- Transportation (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
AT0002998A AT405775B (de) | 1998-01-13 | 1998-01-13 | Verfahren und vorrichtung zum ausgerichteten zusammenführen von scheibenförmigen halbleitersubstraten |
US09/224,172 US6214692B1 (en) | 1998-01-13 | 1998-12-31 | Method and apparatus for the aligned joining of disk-shaped semiconductor substrates |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
AT0002998A AT405775B (de) | 1998-01-13 | 1998-01-13 | Verfahren und vorrichtung zum ausgerichteten zusammenführen von scheibenförmigen halbleitersubstraten |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
ATA2998A true ATA2998A (de) | 1999-03-15 |
AT405775B AT405775B (de) | 1999-11-25 |
Family
ID=3479647
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
AT0002998A AT405775B (de) | 1998-01-13 | 1998-01-13 | Verfahren und vorrichtung zum ausgerichteten zusammenführen von scheibenförmigen halbleitersubstraten |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6214692B1 (de) |
AT (1) | AT405775B (de) |
Families Citing this family (42)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7243003B2 (en) * | 2002-08-31 | 2007-07-10 | Applied Materials, Inc. | Substrate carrier handler that unloads substrate carriers directly from a moving conveyor |
US7930061B2 (en) * | 2002-08-31 | 2011-04-19 | Applied Materials, Inc. | Methods and apparatus for loading and unloading substrate carriers on moving conveyors using feedback |
US7234584B2 (en) * | 2002-08-31 | 2007-06-26 | Applied Materials, Inc. | System for transporting substrate carriers |
US7684895B2 (en) | 2002-08-31 | 2010-03-23 | Applied Materials, Inc. | Wafer loading station that automatically retracts from a moving conveyor in response to an unscheduled event |
US7506746B2 (en) * | 2002-08-31 | 2009-03-24 | Applied Materials, Inc. | System for transporting substrate carriers |
DE102004012618B3 (de) | 2004-03-12 | 2005-10-27 | Erich Dipl.-Ing. Thallner | Vorrichtung und Verfahren zum Aufbringen einer Folie auf eine Kontaktfläche eines Wafers |
US7442476B2 (en) * | 2004-12-27 | 2008-10-28 | Asml Netherlands B.V. | Method and system for 3D alignment in wafer scale integration |
US20070258796A1 (en) * | 2006-04-26 | 2007-11-08 | Englhardt Eric A | Methods and apparatus for transporting substrate carriers |
US7433038B2 (en) * | 2006-04-27 | 2008-10-07 | Asml Netherlands B.V. | Alignment of substrates for bonding |
DE102006026331B4 (de) | 2006-06-02 | 2019-09-26 | Erich Thallner | Transportable Einheit zum Transport von Wafern und Verwendung einer Gelfolie in einer transportablen Einheit |
WO2008045375A2 (en) * | 2006-10-04 | 2008-04-17 | Applied Materials, Inc. | Methods and apparatus for loading and unloading substrate carriers on moving conveyors using feedback |
JP5354382B2 (ja) * | 2007-08-10 | 2013-11-27 | 株式会社ニコン | 基板貼り合わせ装置及び基板貼り合わせ方法、並びに積層半導体装置の製造方法 |
TWI478272B (zh) * | 2007-08-15 | 2015-03-21 | 尼康股份有限公司 | A positioning device, a bonding device, a laminated substrate manufacturing device, an exposure device, and a positioning method |
WO2010023935A1 (ja) * | 2008-08-29 | 2010-03-04 | 株式会社ニコン | 基板位置合わせ装置、基板位置合わせ方法および積層型半導体の製造方法 |
DE102008057005A1 (de) * | 2008-11-11 | 2010-05-12 | Jonas & Redmann Automationstechnik Gmbh | Verfahren zum Positionieren und/oder Führen mindestens eines beliebigen Prozesskopfes für die Metallisierung von dünnen Substraten in einem definierten Abstand über der Substratoberfläche |
EP3731258A1 (de) | 2009-09-22 | 2020-10-28 | EV Group E. Thallner GmbH | Vorrichtung zum ausrichten zweier substrate |
DE102010007970A1 (de) | 2010-02-15 | 2011-08-18 | Suss MicroTec Lithography GmbH, 85748 | Verfahren und Vorrichtung zum aktiven Keilfehlerausgleich zwischen zwei im wesentlichen zueinander parallel positionierbaren Gegenständen |
JP5389847B2 (ja) * | 2011-03-04 | 2014-01-15 | 東京エレクトロン株式会社 | 接合方法、プログラム、コンピュータ記憶媒体、接合装置及び接合システム |
SG2014014054A (en) | 2013-06-17 | 2014-10-30 | Ev Group E Thallner Gmbh | Device and Method for Alignment of substrates |
KR20150080449A (ko) | 2013-12-06 | 2015-07-09 | 에베 그룹 에. 탈너 게엠베하 | 기질들을 정렬하기 위한 장치 및 방법 |
KR102306979B1 (ko) | 2014-04-01 | 2021-09-30 | 에베 그룹 에. 탈너 게엠베하 | 기질의 표면 처리를 위한 방법 및 장치 |
JP6391709B2 (ja) | 2014-04-22 | 2018-09-19 | エーファウ・グループ・エー・タルナー・ゲーエムベーハー | ナノ構造を型押しする方法及び装置 |
CN105023869B (zh) * | 2014-04-25 | 2018-03-02 | 上海微电子装备(集团)股份有限公司 | 半自动对准机 |
WO2016081407A1 (en) * | 2014-11-17 | 2016-05-26 | Integrated 3D Metallizing, Llc | Integrated 3d metallizer |
SG11201603148VA (en) | 2014-12-18 | 2016-07-28 | Ev Group E Thallner Gmbh | Method for bonding substrates |
DE102015108901A1 (de) | 2015-06-05 | 2016-12-08 | Ev Group E. Thallner Gmbh | Verfahren zum Ausrichten von Substraten vor dem Bonden |
CN118099068A (zh) | 2016-03-22 | 2024-05-28 | Ev 集团 E·索尔纳有限责任公司 | 用于衬底的接合的装置和方法 |
SG11201811626TA (en) | 2016-08-12 | 2019-03-28 | Ev Group E Thallner Gmbh | Method and sample holder for the controlled bonding of substrates |
JP6801085B2 (ja) | 2016-08-29 | 2020-12-16 | エーファウ・グループ・エー・タルナー・ゲーエムベーハー | 基板を位置合わせする方法および装置 |
CN110214369A (zh) | 2017-03-02 | 2019-09-06 | Ev 集团 E·索尔纳有限责任公司 | 用于键合芯片的方法和装置 |
CN110383446B (zh) | 2017-03-16 | 2024-07-16 | Ev集团E·索尔纳有限责任公司 | 用于接合至少三个衬底的方法 |
DE102017105697A1 (de) | 2017-03-16 | 2018-09-20 | Ev Group E. Thallner Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Ausrichtung zweier optischer Teilsysteme |
CN110352488A (zh) | 2017-03-20 | 2019-10-18 | Ev 集团 E·索尔纳有限责任公司 | 用于对准两个基板的方法 |
SG11201909992QA (en) | 2017-09-21 | 2019-11-28 | Ev Group E Thallner Gmbh | Device and method for bonding substrates |
CN118317531A (zh) * | 2017-11-28 | 2024-07-09 | 株式会社尼康 | 层叠基板的制造装置以及制造方法 |
US20220301907A1 (en) | 2019-08-23 | 2022-09-22 | Ev Group E. Thallner Gmbh | Method and device for the alignment of substrates |
CN114730719A (zh) * | 2019-12-10 | 2022-07-08 | Ev 集团 E·索尔纳有限责任公司 | 用于对准基板的方法和装置 |
CN114730743A (zh) | 2019-12-19 | 2022-07-08 | Ev 集团 E·索尔纳有限责任公司 | 经切割的封装组件及其制造方法 |
EP4354495A3 (de) | 2020-06-29 | 2024-07-10 | EV Group E. Thallner GmbH | Verfahren und vorrichtung zum bonden von substraten |
EP4449485A1 (de) | 2021-12-17 | 2024-10-23 | EV Group E. Thallner GmbH | Verfahren und vorrichtung zum ausrichten eines substrates |
CN118451540A (zh) | 2021-12-17 | 2024-08-06 | Ev 集团 E·索尔纳有限责任公司 | 用于调整检测构件的设备和方法 |
CN116387220A (zh) * | 2021-12-22 | 2023-07-04 | 拓荆键科(海宁)半导体设备有限公司 | 用于校准晶圆对准的方法及系统 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4461567A (en) * | 1979-12-20 | 1984-07-24 | Censor Patent- Und Versuchs-Anstalt | Method of and apparatus for the positioning of disk-shaped workpieces, particularly semiconductor wafers |
-
1998
- 1998-01-13 AT AT0002998A patent/AT405775B/de not_active IP Right Cessation
- 1998-12-31 US US09/224,172 patent/US6214692B1/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
AT405775B (de) | 1999-11-25 |
US6214692B1 (en) | 2001-04-10 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
ATA2998A (de) | Verfahren und vorrichtung zum ausgerichteten zusammenführen von scheibenförmigen halbleitersubstraten | |
DE69927111D1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Polieren von Substraten | |
DE69615603D1 (de) | Vorrichtung und Verfahren zum Reinigen von Halbleiterplättchen | |
DE69607547D1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Polieren von Halbleiterscheiben | |
DE69509561D1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Abfasen von Halbleiterscheiben | |
DE59704120D1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Polieren von Halbleiterscheiben | |
DE69623967D1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur thermischen behandlung von halbleitersubstraten | |
DE69709934D1 (de) | Verfahren und vorrichtung zum polieren von halbleiterscheiben | |
DE69904074D1 (de) | Verfahren und vorrichtung zum polieren von halbleiterscheiben | |
DE59802824D1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Polieren von Halbleiterscheiben | |
DE19580932T1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Polieren von Wafern | |
DE60040719D1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Behandlung von Halbleitersubstraten | |
DE69922687D1 (de) | Verfahren und vorrichtung zum montieren von bauteilen | |
DE59807823D1 (de) | Verfahren und einrichtung zum serienweisen Beschichten von Werkstücken | |
DE69636701D1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Prüfung von Halbleiterchips | |
DE60014994D1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Polieren von Halbleiterscheiben | |
DE69015511D1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Verbinden von Halbleitersubstraten. | |
DE69730097D1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Behandlung von Wafers | |
DE69415298D1 (de) | Verfahren und einrichtung zum ätzen von halbleiterwarfern | |
DE69731199D1 (de) | Verfahren und einrichtung zur berührungslose behandlung eines scheiben förmiges halbleitersubstrats | |
DE69528266D1 (de) | Verfahren und vorrichtung zum kontrollierten aufbringen von partikeln auf wafers | |
DE59914581D1 (de) | Vorrichtung und verfahren zum handhaben von einzelnen wafern | |
DE69618433D1 (de) | Verfahren und Gerät zur Werskstückzufuhr zum Gerät zur Serienverarbeitung von Halbleiterplatten | |
DE50008426D1 (de) | Vorrichtung und verfahren zum thermischen behandeln von substraten | |
DE69618882D1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Polieren von Halbleitersubstraten |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MK07 | Expiry |
Effective date: 20180113 |