AT35366B - Apparat für Feinmessungen. - Google Patents

Description

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 EMI1.1 
 
 EMI1.2 
 
 EMI1.3 
 
 EMI1.4 
 

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 EMI2.1 

Claims (1)

1. EMI3.1 setzte Ausnehmungen (o,q) des Hebels (a) eintreten.

   2. Feinmessapparat mit einer Zeigereinrichtung und gegeneinander verstellbaren Grenz- anschlägen für den zu messenden Gegenstand, dadurch gekennzeichnet, dass der eine der beiden Anschläge, (m, s) oder beide in einer Führung (1) in weiten Grenzen, durch eine Mikrometer- schraube (3) in feinen Grenzen verschoben werden können.

   3. Feinmessapparat nach Anspruch 2, zum Messen kreisförmiger Gegenstände, gekenn- zeichnet durch einen dem Gegenstand als Stütze dienenden dritten Anschlag (r), der zwecks Einbringens verschieden grosser Messgegeustände heb-und senkbar angeordnet ist.

   4. Feinmessapparat nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass der dritte Grel1z anschlag (r) schräg gegen die Verbindungslinie der beiden anderen Grenzanschläge dem einen der beiden letzteren (s) genähert werden kann, zum Zwecke, den Messgegenstand stets in der Mitte zu unterstützen.

   5. Feinmessapparat nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der eine Stützpunkt des Hebels (a) als Schneide (h), der andere aber als Spitze (g) ausgebildet ist, wobei der die Spitze tragende Bolzen (I) in eine Längsnut (0) des Hebels eintritt und so zugleich die seitliche Führung des Hebels übernimmt.

   6. Ausführungsform des Fühlhebels nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass von den auf den Hebel (a) einwirkenden beiden Schneiden oder Spitzen die eine (g) sich gegen eine im Hebel längsverschiebbare Leiste (u) stützt, die zwischen den beiden Teilen der zweiten Schneide (h) hindurchtritt.