AT262655B - Optisches Registrier- und Prüfgerät für geschliffene Edel- oder Schmucksteine - Google Patents

Description

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  Optisches   Registrier-und Prüfgerät   für geschliffene Edel-oder Schmucksteine 
Die Beschreibung und Beurteilung von geschliffenen Edelsteinen und Schmucksteinen geschieht im allgemeinen nach
1. Schlifformen
2. physikalischen Eigenschaften
3. chemischer Zusammensetzung. 



   Die Schlifformen richten sich vielfach nach den physikalischen Eigenschaften der Mineralien, wie Lichtbrechung, Farbe, Transparenz. 



   Nach diesen Gesichtspunkten wird bis jetzt auch die Registrierung für die spätere Identifizierung einzelner, bestimmter Stücke vorgenommen. Diese Art der Registrierung hat sich aber besonders bei den kostbaren Stücken (verhältnismässig guter Schliff, keine erkennbaren Einschlüsse, Fahnen oder Risse usw., also lupenrein) als unzuverlässig und deshalb ziemlich wertlos erwiesen, da die beschriebenen Eigenschaften meist auf eine Vielzahl von Stücken derselben Gruppe zutreffend sind und keine objektive Methode zur Registrierung der Besonderheiten der einzelnen Edelsteine gewissermassen ihrer Individualität zur Anwendung kam. 



   Zur Untersuchung von geschliffenen Steinen sind Geräte bekannt (vgl. z. B. die USA-Patentschrift   Ni.1,   799,604), bei denen die durch die Schliffflächen des Steines reflektierten Strahlen eines Lichtbündels, welches von einer Lichtquelle mit Lochblende durch eine ausgewählte Schlifffläche, vorzugsweise die Tafel, geschickt wird, in einer lichtempfindlichen Schicht registriert werden, und bei denen die Justierung der ausgewählten Fläche gegenüber der lichtempfindlichen Schicht durch Beobachtung des von dieser reflektierten Lichtbündels erfolgt. Das registrierte Bild sieht einem sogenannten   Laue- Dia-   gramm sehr ähnlich. Laue-Diagramme entstehen beim Durchgang von Röntgenstrahlen durch ein Kristallgitter. 



   Die mit einem solchen Gerät erhaltenen Diagramme enthalten im allgemeinen mehrere hundert Bildpunkte. Die Diagramme werden zweckmässigerweise auf durchsichtigem photographischem Planfilm aufgenommen, der als Zwanzig-Sekunden-Bild kurze Zeit nach der Aufnahme zur Verfügung steht. 



  Zum Vergleich zweier Diagramme legt man die Planfilme übereinander und versucht, alle Bildpunkte zur Deckung zu bringen. Bei vollkommener Deckung der beiden Diagramme kann mit Sicherheit geschlossen werden, dass die beiden Diagramme denselben Edelstein darstellen. 



   Da die Lage der Bildpunkte zueinander von den Winkeln der reflektierenden Flächen und der Anzahl der Reflexionen abhängt, müssten zwei vollkommen gleiche Edelsteine gleiche Diagramme ergeben. Es ist einzusehen, dass die Güte der Untersuchungsergebnisse von einem solchen Gerät wesentlich von der genauen Justierung des Steines abhängt, besonders dann, wenn es um die Prüfung einer Reihe gleichartiger Steine geht. Bei den erwähnten bekannten Geräten erfolgt die Justierung des Abstandes zwischen Stein und lichtempfindlicher Schicht mittels Mikrometerschrauben, welche Methode sich als umständlich und daher zeitraubend sowie auch als unsicher erwiesen hat. 



   Die Erfindung sucht ein Gerät zu schaffen, mit dem schnell, sicher und unter stets gleichen Bedingungen justiert werden kann, so dass es sich besonders dann bewährt, wenn mehrere gleichartige Steine geprüft werden sollen. 



   Gemäss der Erfindung ist ein optisches Registrier- und Prüfgerät für geschliffene Edel- oder Schmuck- 

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Claims (1)

1. <Desc/Clms Page number 3> ihren Abstand von der lichtempfindlichen Schicht (51) eine wahlweise auf die ausgewählte Fläche oder auf eine Bezugsfläche (Justieranschlag 35) aufsetzbare Messuhr (33) vorgesehen ist.

   2. Gerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das photoelektrische Anzeigeinstrument aus einem Objektiv (47), einer Korngrenzen-Photodiode (48) od. dgl. lichtempfindliches Element, einem Verstärker (49) und einem Messinstrument (50) besteht.

   3. Gerät nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Messuhr auf einem Dreharm (34) angeordnet ist, dessen Drehachse (60) senkrecht zur Sollage der Schlifffläche des Edelsteines (36) liegt.