AT250451B - Schaltungsanordnung zum Prüfen von Leitungen in Fernmelde-, insbesondere Fernsprechanlagen - Google Patents

Schaltungsanordnung zum Prüfen von Leitungen in Fernmelde-, insbesondere Fernsprechanlagen

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AT250451B
AT250451B AT582963A AT582963A AT250451B AT 250451 B AT250451 B AT 250451B AT 582963 A AT582963 A AT 582963A AT 582963 A AT582963 A AT 582963A AT 250451 B AT250451 B AT 250451B
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  Schaltungsanordnung zum Prüfen von Leitungen in   Femmelde-, insbesondere Fernsprechanlagen    
 EMI1.1 
 

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 ständen, welche ihrerseits mit einem den Freizustand der Prüfleitung kennzeichnenden ersten Spannungs- potential verbunden sind. Die Feststellung des Belegungszustandes und die Auswahl einer einzigen beleg- baren Prüfleitung kann hiebei durch eine Mehrzahl gleichzeitig mehrere Prüfleitungen prüfender Prüfschal- tungen vorgenommen werden, von welchen eine den Freizustand feststellende, jeweils gegenüber allen andern Prüfschaltungen bevorzugte Prüfschaltung jene alle abschaltet und selbst die von ihr geprüfte Prüf- leitung durch Anschaltung des zweiten Spannungspotentials sperrt. 



   Ebenfalls kann aber auch die Feststellung des Belegungszustandes und die Auswahl einer einzigen belegbaren Prüfleitung durch eine einzige Prüfschaltung vorgenommen werden, welche durch einen Dreh- wähler, eine Relaiskette od. dgl. nacheinander an die Prüfleitungen angeschaltet wird und bei Feststellung einer in der Reihenfolge der Anschaltung ersten belegbaren   Prüfleitung den Anschaltzyklus unterbricht und   diese Prüfleitung sperrt. Zur Sperrung der   Prüfleitung   wird an diese ein zweites Spannungspotential ange- schaltet. Durch den so entstehenden Stromkreis wird die Signalisierung der erfolgreichen Prüfung und der
Belegung veranlasst. 



   Ebenso kann aber auch der Belegungszustand von   Prüfleitungen durch deren Innenwiderstand   angezeigt werden, welcher veränderbar ist durch Umschaltung des Widerstandes, zu welchem die Prüfleitung führt. 



   Ferner werden in weiteren bekannten Schaltungsanordnungen Belegungszustände von Prüfleitungen auch durch entsprechende Spannungspotentiale und ausserdem durch jeweilige Innenwiderstände der be- treffenden Prüfleitungen angezeigt. 



   Die genannten Widerstände, zu welchen Prüfleitungen an Eingängen von Schalteinrichtungen oder
Leitungen bzw. deren Übertragungen führen, sind vorzugsweise Wicklungen von Relais, Belegungsrelais genannt, welche auch die Signalisierung der Belegung veranlassen. Diese Relais weisen häufig zwei in Reihe geschaltete Wicklungen auf, von welchen die eine im Zustand der Betriebsbereitschaft kurzgeschlossen ist. 



   Durch diesen Kurzschluss wird der Stromanstieg beim Schliessen eines über die andere Wicklung verlaufenden Prufstromkreises in bekannter Weise steiler und infolgedessen der Prüfvorgang beschleunigt. Nach Belegung einer Prüfleitung wird die zunächst kurzgeschlossene Wicklung in den Prüfstromkreis mit einbezogen, wodurch der Stromverbrauch herabgesetzt und die Sperrsicherheit erhöht wird. 



   Beim Auslösen einer Verbindung wird die Sperrung einer   Prüfleitung   durch die Prüfschaltung aufgehoben, indem von dieser der Prüfstromkreis aufgetrennt wird. Die bis dahin belegte Prüfleitung wird sodann auch von seiten der bis dahin belegten Schalteinrichtung od. dgl. durch Abfallen des Relais in der Prüfleitung unverzüglich aufgetrennt bis zur vollständigen Auslösung derselben. 



   Während der Abfallzeit dieses Relais liegt folglich das den Freizustand kennzeichnende Spannungspotential wirksam an dieser Prüfleitung, obwohl der dieser entsprechende Eingang noch nicht belegbar ist. Wird in diesem Augenblick eine Prüfung durch Anschaltung einer andern Prüfschaltung eingeleitet, so steigt trotz des erhöhten Widerstandes der Prüfleitung infolge der durch den vorhergehenden Auslösezustand in die Wicklungen des genannten Relais induzierten Spannung der Strom in der Prüfleitung zunächst ebenso hoch an wie bei Prüfung einer freien Prüfleitung, sinkt dann aber wieder etwas ab. 



   Die Auswertung des Prüfstromes zur Unterscheidung von Prüfleitungen auslösender Verbindung und von freien Prüfleitungen ist durch eine Schaltungsanordnung bekannt, in welcher der Prüfstromkreis in der Prüfschaltung über einen Widerstand geschlossen wird, und durch welche mit Hilfe eines Nachprüfvorganges das Aufprüfen auf auslösende Verbindungen dadurch verhindert wird, dass der Spannungsabfall an diesem Widerstand ausgewertet wird, nachdem sich im Prüfstromkreis ein gleichbleibender Strom eingestellt hat, dessen Grösse davon abhängt, ob eine oder beide Wicklungen des Belegungsrelais in diesem Stromkreis liegen. 



   Ein Nachteil dieser Schaltungsanordnung liegt jedoch darin, dass deren Prüfvorgang in seiner Dauer durch die relativ lange Einschwingzeit des Prüfstromes nach Schliessung des Prüfstromkreises bestimmt ist. 



    Prüfschaltungen für zentrale Glieder   erfordern aber zwecks Herabsetzung der Belegungszeit einen Prüfvorgang von viel kürzerer Dauer als der Einschwingzeit des Prüfstromes nach Schliessung des Prüfstromkreises. 



   Zur Lösung dieses Problems wurde bereits eine Prüfschaltung vorgeschlagen, durch welche bei Einschaltung des Prüfstromkreises durch Differenzierung des Prüfkreisstromes die Steilheit des Stromanstieges festgestellt werden kann. Die Differenzierung des Stromanstieges beim Prüfen erfordert jedoch besondere Massnahmen zur Unterscheidung von freien Leitungen und Leitungen auslösender Verbindungen, wenn die Prüfung über Kabel erfolgt. 



   In diesem Fall weist dann der Stromanstieg zunächst eine grosse Steilheit infolge des Entladungs- 

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 stromes des zuvor aufgeladenen Kabels auf. Vergleichsweise ist die Steilheit des Stromanstieges beim
Prüfen über Kabel auf eine Leitung einer auslösenden Verbindung grösser als beim Prüfen einer freien Lei- tung ohne Kabel. 



   Die Aufgabe der Erfindung, für die Prüfung von Leitungen. die Ausscheidung von Leitungen auslösender
Verbindungen, auch über Kabel in vereinfachter Weise und zeitsparend zu ermöglichen, wird dadurch er- füllt, dass sowohl ein erstes Zeitintervall, in dem der Einfluss der Prüfleitungsspannung auf die Prüfrelais bei Fortbestand des Prüfstromkreises unterbunden ist, als auch ein an das erste Zeitintervall anschlie- ssendes zweites Zeitintervall, in dem die Prüfrelais wieder voll wirksam sind, festlegende Prüfrelais (E in
Fig. l ; T6 in Fig. 3) und Laufzeitschalter (P, Q in Fig.   2 ; Kl, K2,   K3 in Fig. 3) mit den Eigenschaften von
Schwellenwertschaltern vorgesehen sind. 



   Dadurch ist es möglich, zunächst den Zustand der Prüfleitung (ob frei oder besetzt) zu ermitteln und bei Feststellung des Freizustandes zwar den Prüfstromkreis im Hinblick auf die belegte Leitung geschlos- sen zu halten, jedoch während des bestimmten ersten Zeitintervalles die Spannungsempfindlichkeit der
Prüfrelais hinsichtlich der Prüfleitungsspannung aufzuheben, und danach während des   zweiten Zeitinter-   valles den tatsächlichen Belegungszustand der Prüfleitung aus der sich bei Vorliegen des Freizustandes vor
Ablauf und bei Vorliegen des Auslösezustandes nach Ablauf eines begrenzten, an das Zeitintervall an- schliessenden zweiten Zeitintervalles auf das erste Spannungspotential einstellenden Prüfleitungsspannung durch die während dieses zweiten Zeitintervalles wieder voll wirksam geschalteten Prüfrelais festzu- stellen. 



   Die Prüfschaltmittel können dabei sowohl während dieser ganzen Zeitspanne wirksam geschaltet sein und die Grösse der Spannung an der Prüfleitung messen, als auch während dieser ganzen Zeitspanne nur vorübergehend wirksam geschaltet sein und mit Hilfe differenzierender Schaltmittel, d. h. eines Konden- sators, die Steilheit des Spannungsanstieges an der Prüfleitung bei oder auch vor Erreichen des zweiten
Spannungspotentials ermitteln, um aus der Steilheit auf das   Spannungsverhalten der Prüfleitung während   dieser ganzen Zeitspanne zu schliessen (Extrapolation). 



   Durch die Erfindung wird es ermöglicht, die Prüfzeit gegenüber bekannten Prüfschaltungen herabzu- setzen infolge Auswertung des Prüfstromes während seines Anstieges nach Durchschaltung eines Prüfstromkreises, so dass auch Prüfleitungen auslösender Verbindungen vor Ende des Einschwingvorganges des Prüfstromes erkennbar sind, während dessen die Prüfströme beim Aufprüfen auf eine freie Prüfleitung und beim Prüfen einer Leitung einer auslösenden Verbindung die gleiche Grösse aufweisen. 



   Ein weiterer Vorteil der Erfindung liegt darin, dass Kabelentladungen während des Zeitintervalles der Unwirksamkeit der Prüfschaltmittel erfolgen, und auf die Prüfschaltmittel nicht wirksam werden. 



   Ein die zuvor genannten Vorteile zusammenfassender Vorteil liegt darin, dass die Reaktionszeit elektronischer Schaltmittel für Prüfzwecke ausgenutzt wird beim Aufprüfen auf Eingänge mit solchen Prüfleitungen, welche über Relais üblicher Bauart und über Kabel verlaufen. 



   Ein Vorteil gemäss weiterer Ausbildung der Erfindung geht daraus hervor, dass ein Prüfstromkreis durch Anschaltung eines solchen Messwiderstandes an eine zu prüfende Prüfleitung gebildet wird, welcher durch geeignete elektrische Anpassung an die Belegungsrelaiswicklungen ein während des Stromanstieges in der Prüfleitung gleichbleibendes Spannungspotential an der Prüfleitung verursacht ; dieser Vorteil liegt darin, dass die von hochohmigen, elektronischen Spannungsprüfschaltmitteln ausgewertete Prüfleitungsspannung nach Durchschaltung eines Prüfstromkreises mit grosser zeitlicher Steilheit einen gleichbleibenden Wert erreicht, wodurch die Prüfzeit wesentlich abgekürzt werden kann. 



   Ein Vorteil gemäss weiterer Ausbildung der Erfindung liegt darin, dass für den Fall des Prüfens über Kabel durch Bildung eines Entladestromkreises, welcher wesentlich weniger Widerstand aufweist als der Widerstand der Prüfschaltung, die Kabelentladezeit und infolgedessen die gesamte Prüfzeit abgekürzt wird. 



   Ein Vorteil gemäss weiterer Ausbildung der Erfindung geht aus der Sperrung der Prüfleitung während des Zeitintervalles und aus der individuellen und unterschiedlichen Bemessung der Zeitintervalle mehrerer, möglicherweise die gleichen Leitungen prüfender Prüfschaltungen hervor, und liegt darin, dass das Doppelprüfen mit absoluter Sicherheit ausgeschlossen ist. 



   In den Fig. l- 3 sind in nur wesentlich zum Verständnis der Erfindung beitragenden Bestandteilen Ausführungsbeispiele von ihr gezeigt, auf welche dieselbe jedoch keineswegs beschränkt ist. Die Fig.   l   und 2 zeigen gemeinsam eine Schaltungsanordnung, welche durch Zusammenfügung von den Fig.   l   und 2 am Schaltpunkt a ein Ganzes darstellt. In Fig. 3 ist eine Prinzipdarstellung eines Ausführungsbeispieles gezeigt, dessen schaltungstechnische Einzelheiten für das Verständnis der Erfindung nicht von Bedeutung sind. 

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   In Fig. 1 stellen das Relais C und der Widerstand R, in Reihe geschaltet, einen Belegungsstromkreis B dar, an welchen über die Prüfleitung PL durch Wähler W, z. B. Drehwähler, Relaiskoppelfelder od. dgl. die in den Fig. 1 und 2 gezeigte Prüfschaltung E angeschaltet wird. Diese Prüfschaltung E stellt ein geschlossenes Ganzes dar und wird deshalb auch namentlich in den Patentansprüchen als"PrüfrelaisE"bezeichnet. 



   In bekannter Weise ist das Relais C in diesem Belegungsstromkreis B abgefallen, wenn die zu diesem führende Prüfleitung PL frei, d. h. belegbar ist. Seine Wicklung CII ist dann über den Kontakt c kurzgeschlossen. 



   Im Besetztzustand dagegen ist das Relais C über die Prüfleitung PL, einen Wähler W, über Prüfwiderstände u. dgl. mit Sperrpotential, z. B. Erdpotential, verbunden, ist dadurch erregt und angesprochen, so dass seine Wicklung CII, die im Ruhezustand kurzgeschlossen ist, in den Prüfstromkreis einbezogen ist. 



   Bei Schliessung eines Prüfstromkreises z. B. über den Wähler W wird, wie bereits in einer Schaltungsanordnung vorgeschlagen, ein Spannungsteiler aus dem Widerstand   R,   dem Relais C, der Drossel Dr und dem Widerstand R1 gebildet. Die Drossel Dr und Widerstand Rl sind unter Berücksichtigung der elektrischen Werte des Widerstandes R und des Relais C so bemessen und können   so eingestellt werden, dass bei Durchschaltung dieses Prüfkreises mit einem ausgelösten Belegungsrelais   C (die Wicklung CII ist kurzgeschlossen) sich am Prüfpunkt ein während des Stromanstieges in einem Stromkreis nahezu gleichbleibendes Potential einstellt. Der Spannungsanstieg am Prüfpunkt x weist dabei eine relativ grosse Steilheit auf. 



   Im Ruhezustand der Schaltung, d.h. wenn die Prüfschaltung über den Prüfpunkt x nicht durch einen   Wähler an eine freie Prüfleitung   PL angeschaltet   ist, sind in der Prüfschaltung verschiedene Spannungs-   teilerstromkreise wirksam : 
 EMI4.1 
 
5) Erde, R14, R12,-60 (G6 sperrt). 



   Wird nun z. B. durch den Wähler   W ein Prüfstromkreis   über eine freie Prüfleitung PL geschlossen, in welcher also das Belegungsrelais C abgefallen ist, so entsteht dadurch zunächst ein Spannungsteiler :
6) Erde,   Rl,   Dr, (x), W, PL, c, CI, R,-60. 



   Am Prüfpunkt x stellt sich ein Teilspannungspotential ein, welches während des Stromanstieges im Prüfstromkreis nahezu gleich bleibt, da die Prüfdrossel Dr annähernd gleiche elektrische Eigenschaften aufweist wie das Belegungsrelais C. Die Einstellung dieses Spannungspotentials von Erd-   potential ausgehend weist eine relativ grosse Steilheit auf. Dieses als Freipotential auszuwertende   Spannungspotential wird auf den Transistor Tl wirksam. 



   Die Steilheit des Spannungsanstieges wird durch die Kondensatoren Cl und C8 etwas abgeflacht, um den Einfluss von Störspannungsspitzen, welche z. B. infolge von Knackgeräuschen, von Prellungen des den Prüfstromkreis durchschaltenden Kontaktes od. dgl. entstehen können, unwirksam zu machen, und um die Steilheit auf ein definiertes Mass herabzusetzen. Dabei bleibt diese Steilheit jedoch trotzdem relativ gross. 



   Das am Transistor Tl wirksam werdende Freipotential steigt über -24 V an. Der Stromkreis 2) wird dadurch unwirksam, da der Gleichrichter G4 nun in Sperrichtung beansprucht wird. Statt des- 

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 sen wird aber der Transistor Tl leitend und es wird folgender Stromkreis wirksam :   7)-24, G8, Tl, R1 ,   
 EMI5.1 
 
R25, G10,-24 
In diesem entsteht zwischen der Diode   Dl   und dem Gleichrichter G6 ein geringeres Teilspan- nungspotential als am gleichen Punkt im Stromkreis   1),   wodurch die Zenerspannung der Diodeunter- schritten wird, so dass dieser Zweig des Stromkreises   1)   stromlos wird.

   Infolgedessen steigt die Basisspan-   nung des Transistors   T2   an bis auf +4 V und er wird dadurch gesperrt ;   d. h. der Stromkreis l) wird zu folgendem Stromkreis reduziert : 
8) Erde, R7,   R6,-24.   



   Nach Bildung des Stromkreises 7) wird entsprechend dem weiteren negativen Spannungsanstieg am Prüfpunkt x über den Wert hinaus bei welchem der Transistor Tl leitend wird, und innerhalb eines bestimmten, relativ kleinen Spannungsbereiches (z. B. 1 V), im folgenden als Prüfspannungsbereich bezeichnet, am Prüfpunkt x die negative Teilspannung am Punkt a, welche zuvor durch den Stromkreis 5) mit   fast -60 V bestimmt war,   herabgesetzt, d. h. die Spannung am Punkt x wird negativer und die am Punkt a wird positiver. 



   Die Steilheit der Spannungsherabsetzung am Punkt a   entsprichtderSteilheitdes-Spannungsanstie-   ges am Prüfpunkt x innerhalb des genannten   Prüfspannungsbereiches. DurchdieseSpannungsherabsetzung   am Punkt a wird über den Kondensator C3 ein in seiner Amplitude durch die Steilheit dieser Spannungsherabsetzung bestimmter Stromimpuls auf die in Fig. 2 gezeigte Kippschaltung übertragen und auf sie wirksam   (s. u.).   



   Der Kondensator C3 hat dabei eine differenzierende Wirkung. Die Spannung am Prüfpunkt x steigt über den genannten Prüfspannungsbereich noch weiter an, was aber auf die Kippschaltung keine weitere Wirkung hat. 



   Über nicht gezeigte Stromkreise liegt im Ruhezustand am Punkt y in Fig. 2 Erdpotential, wodurch bewirkt   wird, dass bei Einleitung des Prüfvorganges vorDurchschaltung des Prüfstromkreises der Transistor   T3 der Kippschaltung   stromdurchflossen ist   (s. Stromkreis 3). Im Ruhezustand liegt die Diode D2 sperrend zwischen Erdpotential (über Widerstand R15) und einem durch den Stromkreis 3) bestimmten Teilspannungspotential. 



   Wird die Prüfschaltung an eine freie Prüfleitung angeschaltet, so ist infolge Kurzschlusses der Wicklung C (II) die Steilheit sowohl des Spannungsanstieges am Prüfpunkt x als auch die der Spannungsherabsetzung am Punkt a und dementsprechend die Amplitude des über den Kondensator C3 übertragenen Impulses so gross, dass die Zenerspannung der Diode D2 durch den am Widerstand R15 zusätzlich auftretenden Spannungsabfall während des Impulses überschritten wird. Während dieser Überschreitung wird die Spannung der Basis des Transistors T3 positiver, wodurch der Stromkreis 3) unwirksam und reduziert wird auf folgenden Stromkreis : 
9) Erde, R18, R20, R21. 



   Die an der Basis des Transistors T4 vorhandene Spannung ist im Stromkreis 9) negativer als im 
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 gesperrt. Im Stromkreis 9) fällt an der Diode D3 eine negative Teilspannung ab, durch welche deren Zenerspannung überschritten wird. Diese Teilspannung wird auf den bis dahin durch Erdpotential gesperrten Transistor T5 wirksam, wodurch dieser leitend wird. Das Relais P spricht im folgenden Stromkreis an :
11) Erde, T5, q6 (p3),   P,-24.   

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   -   6 - Nr.   250451 
Das Relais P schliesst beim Ansprechen mit seinem Kontakt pl folgenden verzweigten Stromkreis : 
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    d G4, Tl,Rl,   Dr 
Dadurch wird das Prüfregistrierspannungspotential (Erde) an die Prüfleitung angeschaltet, durch wel- ches die Prüfleitung zunächst gegen Belegung seitens anderer Schaltglieder gesperrt wird. Dieses Prüf- registrierspannungspotential wird gleichzeitig auf die Prüfschaltung E wirksam, wodurch sie selbst fol- gendermassen wirksam bleibt :
Als Sperrpotential ist auf der Prüfleitung das am Gleichrichter G3 und am Widerstand R2 abfal- lende Teilspannungspotential G3 und am Widerstand R2 abfallende Teilspannungspotential wirksam.
Der Widerstand R2   könnte auch entfallen. Er dient lediglich als Schutzwiderstand.

   Femer bleibt der   Transistor Tl durch Anschaltung des   Prüfregistrierspannungspotentials   leitend, da dieses auf seinen Emitter über den Gleichrichter G4 einwirkt, und da an der Basis des Transistors   Tl   über den Gleichrichter G5 negatives Teilpotential anliegt, welches am Widerstand R7 im Stromkreis 12) abfällt. 



   Gleichzeitig wird auch das Kollektorpotential des Transistors   Tl   herabgesetzt. Die Spannung am Punkt a bleibt jedoch unter dem Einfluss des Gleichrichters G10   auf -24 V,   wodurch ein Einfluss von Prellerscheinungen am Kontakt pl auf die Prüfschaltung unterbunden wird. 



   Ferner wird über den Stromkreis 
13) Erde, p2, q3,   Q     (I), -24   das Relais Q erregt,   welches verzögert durch seine über den eigenen Ruhekontakt   q5 und den Regelwiderstand R5 kurzgeschlossene Wicklung   Q (II)   anspricht und dabei während der Umschlagzeit des Kontaktes ql/q2 den Stromkreis 12) kurzzeitig unterbricht. Ausserdem wird am Kontakt q3 der Stromkreis 13) aufgetrennt, und im Stromkreis 
14) Erde,..., q4,   Q   (II),-24 das Relais Q über eigenen Kontakt und Schaltmittel, z. B.

   Relaiskontakte, erregt gehalten, welche nicht gezeigt und im Stromkreis 14) durch Punkte (...) angedeutet sind, und welche erst bei Auslösung der Prüfverbindung den Stromkreis 14) auftrennen, so dass also das Relais Q bei jeder Prüfung anspricht und bis zur Auslösung erregt gehalten bleibt. 



   Ferner wird im Stromkreis 11) der Kontakt q6 geöffnet, so dass der Stromkreis 11) über den Kontakt q3 zu einem Haltestromkreis umgewandelt wird, in welchem es gehalten werden aber nicht ansprechen kann. 



   Die Ansprechzeit des Relais Q ist regelbar durch den im Kurzschlussstromkreis 
15)   Q (II), q5, R5, Q (II)   liegenden Widerstand   R5,   und ist bei mehreren, möglicherweise gleichzeitig dieselben Leitungen prüfenden Prüfschaltungen jeweils individuell und unterschiedlich eingestellt. 



   Das Pluspotential wird also als Sperrpotential auf der Prüfleitung PL während des Zeitintervalles zwischen dem Ansprechen des Relais P und dem des Relais Q, also während der Ansprechzeit des 
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    während des Ansprechvorganges desselbenwährend derzeitspanne der Umschlag-brechung der Sperrung das den Freizustand kennzeichnende Teilpotential am Punkt   x wieder und bleibt es während der Zeitspanne der Unterbrechung bestehen, so bleibt auch das Relais P im Stromkreis 11) erregt, da nach wie vor der Transistor Tl leitend bleibt. 



   Werden zufällig gleichzeitig zwei Prüfschaltungen an dieselbe Prüfleitung PL angeschaltet, so können bei   entsprechend ungünstigem Widerstand des am andern Ende   der Prüfleitung liegenden Belegungsrelais C beide Prüfschaltungen in zuvor beschriebener Weise wirksam werden. Die Hilfsrelais P an 

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 den Prüfschaltungen werden erregt. Schliesst das Hilfsrelais P einer hier nicht im einzelnen betrachte- ten Prüfschaltung als erstes seine Kontakte, so wird von dieser über deren Kontakt pl des zugehörigen
Hilfsrelais P das Prüfregistrierspannungspotential (Erde) an die Prüfleitung PL angeschaltet. 



   Dieses Prüfregistrierspannungspotential wird auf die betrachtete Prüfschaltung über den Vorwider- stand R2 derselben und nur auf die Basis des Transistors Tl und nicht auf seinen Emitter (Gleich- richter G3 sperrt) wirksam, so dass der Transistor Tl folgendermassen wieder gesperrt wird :
Das Prüfregistrierspannungspotential liegt über den Widerstand R3 an der Basis des Transistors Tl und ist positiver als diejenige Spannung, welche über den Widerstand RIO an seinem Emitter anliegt. 



   Dieses Potential kann von der Prüfleitung (PL) auf den Emitter infolge des sperrend wirkenden Gleich- richters G3 nicht durchgreifen. Der Stromkreis 7) wird deshalb wieder nichtleitend. Der Stromkreis   1)   (über die Diode Dl) wird wieder leitend und in diesem auch der Transistor   T2 ; infolgedessen   wird der
Gleichrichter G5 gesperrt. Die aus den Transistoren T3 und T4 gebildete Kippstufe wird in den
Bereitschaftszustand zurückgeschaltet ; das Hilfsrelais P wird wieder ausgeschaltet. 



   Wird der Kontakt pl des Hilfsrelais P infolge elektromagnetischer und mechanischer Trägheit trotzdem noch geschlossen, so wird folgender Stromkreis gebildet :   G4, R10,-24 16) Erde, q, p, G3, R2. (x), W, PL, C (II), C (I), R, -60      Rl,   Dr 
Die Gleichrichter G3 und G4 sind so bemessen, dass durch Spannungsabfälle an diesen im Strom- kreis 16) dem Emitter des Transistors Tl ein negativeres Spannungspotential als seiner Basis zugelei- tet wird, so dass der Transistor Tl im Stromkreis 16) nicht wieder stromdurchlässig werden kann. In- folgedessen kann auch das Relais P nicht wieder erregt werden. 



   Für den Fall, dass gleichzeitig die Prüfstromkreise zweier derartiger in den Fig.   l   und 2 gezeigter
Schaltungsanordnungen über dieselbe Prüfleitung PL zu demselben Belegungsrelais C geschlossen werden, und dass die beiden Relais P und die beiden Relais Q jeweils gleichzeitig erregt werden, und dass innerhalb der Reaktionszeit der Prüfschaltungen E durch die beiden Kontakte pl das Pluspotential zur Sperrung der Prüfleitung PL zugleich von den beiden Schaltungsanordnungen eingeschaltet wird, wird die Anschaltung dieses Pluspotentials infolge der unterschiedlich eingestellten Ansprechzeiten der Relais Q während sich zeitlich nicht überschneidender Zeitspannen unterbrochen. 



   Diejenige Prüfschaltung E, deren zugeordnetes Relais Q nach dem kürzeren Zeitintervall die Sperrung als erstes unterbricht, erhält über die in diesem Prüfvorgang gemeinsame Prüfleitung PL Sperrpotential von der andern Schaltungsanordnung, so dass sie infolge sperrender Wirkung des Gleichrichters G3 (s. oben) den Stromkreis 11) zu dem zugeordneten Relais P unterbricht. Dieses Relais P fällt unverzögert ab und trennt seinen zum Haltestromkreis umgewandelten Stromkreis 14) am Kontakt p3 auf. 



   Ferner wird am Kontakt pl dieser Prüfschalteinrichtung das von dieser an die Prüfleitung PL angelegte Sperrpotential (Stromkreis 12), dessen Anschaltung durch Betätigung des Umschaltkontaktes ql/q2 kurzzeitig unterbrochen wurde, endgültig abgeschaltet. Hiezu sind die Differenzen der Zeitintervalle (Ansprechzeiten der verschiedenen Relais Q) grösser bemessen als die Abfallzeiten der verschiedenen Relais P, damit dasjenige Relais P, dessen zugehöriges Relais Q eine jeweils kleinere Ansprechzeit aufweist, nach der Zeitspanne der Unterbrechung der durch die zugehörige Prüfschaltung angeschalteten Sperrung der Prüfleitung wieder abgefallen ist, bevor das andere Relais Q mit der jeweils grösseren Ansprechzeit anspricht und die durch die andere Prüfschaltung angeschaltete Sperrung unterbricht. 



   Diese andere Prüfschaltung ist während ihrer Unterbrechung der Sperrung mit der nun freien Prüfleitung verbunden und hält infolgedessen auch nach der Unterbrechung der Sperrung den Stromkreis 11) und die Sperrung der Prüfleitung aufrecht. 



   Das Relais Q mit der geringeren Ansprechzeit bleibt bis zur Auslösung im Stromkreis 14) erregt, so dass der Stromkreis 11) am Kontakt q6 aufgetrennt bleibt und das Relais P bei demselben Prüfvorgang auch bei Wiederkehren des den Freizustand der Prüfleitung kennzeichnenden Teilpotentials am Punkt x während der Unterbrechung der Sperrung durch die andere Prüfschaltung nicht wieder erregt werden und ansprechen kann. 



   In der andern Prüfschaltung, welche nach dem längeren Zeitintervall als zweite die Anschaltung des Sperrpotentials ihrerseits unterbricht, kehrt das den Freizustand der Prüfleitung PL kennzeichnende 

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Teilpotential am Punkt x während der ganzen Zeitspanne der Unterbrechung wieder. Der Haltestrom- kreis 11) des zugeordneten Relais P bleibt deshalb aufrecht erhalten. 



   Hiebei ist vorgesehen, dass die Abfallzeit des Relais P grösser ist als die Zeitspanne der Umschlag- zeit des Umschaltekontaktes ql/q2 und kleiner ist als die kleinste Differenz zweier Zeitintervalle der
Ansprechzeiten verschiedener Relais Q. 



   Ausserdem wird durch Ansprechen des Relais Q der Kondensator C8 am Kontakt q7 abgeschal- tet. Das bewirkt, dass die Reaktionszeit der elektronisch arbeitenden Prüfschaltung E bei dem zweiten, während der Zeitspanne der Abschaltung des Prüfregistrierspannungspotentials (Umschlagzeit der Kontak- te ql/q2) erfolgenden Prüfvorgang kleiner ist als die Reaktionszeit beim ursprünglichen, ersten Prüf- vorgang. 



   Ferner ist die Reaktionszeit beim ersten Prüfvorgang grösser und beim zweiten Prüfvorgang kleiner als die genannte Zeitspanne. Dadurch wird erreicht, dass für eine erste Prüfschaltung, welche während der genannten Zeitspanne der Unterbrechung der Anschaltung des sperrend wirkenden Prüfregistrierpotentials einer zweiten Prüfschaltung die Prüfung derselben Prüfleitung einleitet, diese Zeitspanne für sie zum
Reagieren zu klein ist, nicht aber für die zweite, die Prüfung wiederholende Prüfschaltung. Es wird da- durch verhindert, dass eine Prüfschaltung einer andern eine freie Prüfleitung wegfangen kann. 



   Bei Prüfung einer Prüfleitung über ein Kabel, welches z. B. zwischen dem Wähler W und der
Prüfleitung PL liegt, wirkt sich dessen Kapazität auf den Prüfvorgang wie ein parallel zum Belegungs- stromkreis (Belegungsrelais C und Widerstand R) liegender Kondensator aus :
Der Stromanstieg weist beim Prüfen sowohl einer freien Prüfleitung als auch einer im Auslösezustand befindlichen Prüfleitung eine Stromspitze auf, deren Amplitude den normalen Prüfstromendwert über- steigt und deren zeitliche Dauer durch die Zeitkonstante des   Kabelentladungsstromkreises   bestimmt ist. 



   Wird nun eine Prüfleitung im Auslösezustand über ein Kabel geprüft, so weist der Stromanstieg bei
Durchschaltung des Prüfstromkreises infolge Entladung des Kabels eine solche Steilheit auf, welche zu- nächst den Freizustand der Prüfleitung vortäuschen könnte. Daraufhin sprechen zunächst die Relais P und Q wie beschrieben an, indem die elektronisch die Prüfleitungsspannung messende Prüfschaltung E auf Grund der Stromspitze im Prüfstromkreis den Stromkreis 11) bildet. 



   Das Relais P weist vorzugsweise eine extrem kurze Ansprechzeit auf, und kann hiezu ebenso aus rein elektronischen Schaltmittel aufgebaut sein. Über den Kontakt pl wird der Stromkreis 12) gebildet, über welchen das Kabel niederohmig entladen wird. Der Widerstand R2 dient als Strombegrenzungswiderstand und ist vorzugsweise unter Beachtung des höchstzulässigen Stromes für den Kontakt pl so klein bemessen, dass die Dauer der Entladung des Kabels weitestmöglich herabgesetzt wird. 



   Wie beschrieben, spricht über den Stromkreis 14) das Relais Q an. Seine Ansprechzeit ist mindestens so gross eingestellt (s. Stromkreis 15)), dass während derselben mit Sicherheit das Kabel völlig entladen wird. Seine Ansprechzeit ist jedoch wesentlich kleiner als die Dauer des Stromanstieges in der Prüfleitung. Während des Ansprechvorganges des Relais Q wird, wie beschrieben, die Anschaltung des Prüfregistrierpotentials an die Prüfleitung, welches auf dieses sperrend wirkt, kurzzeitig unterbrochen. 



   Hiebei stellt sich nun heraus, ob sich die geprüfte Prüfleitung im Auslösezustand oder im   Freizuctand   befindet. Befindet sich die Prüfleitung im Freizustand (bzw. Auslösezustand), so steigt die Prüfspannung, welche an der Drossel Dr und am Widerstand R1 abfällt, mit relativ grosser (bzw. geringer) Steilheit vor (bzw. nach) Schliessen des Kontaktes q3 über den nach der Einschwingzeit des Stromes im Prüfstromkreis den Freizustand kennzeichnenden Prüfspannungsbereich hinaus an. 



   Hiezu kann die elektronische Spannungsmessschaltung E sowohl das Ansteigen der Prüfleitungsspannung über den Prüfspannungsbereich hinaus innerhalb der durch die Kontakte ql/q2 verursachten Unterbrechung des die Prüfleitung sperrenden und die Prüfschaltung haltenden Prüfregistrierspannungspotentials als auch die Steilheit des Anstieges der Prüfleitungsspannung nach Abschaltung des Prüfregistrierspannungspotentials durch den Kontakt ql auswerten. 



   Hiebei wird die Steilheit des Stromanstieges in der Prüfleitung im ersten Falle aus der innerhalb einer bestimmten Zeitspanne durchlaufenen Spannungsstufe (Differenzenquotient) und im zweiten Falle unabhängig von einer vorgegebenen Zeitspanne und einer vorgegebenen Stromstufe durch Differentiation mit Hilfe des differenzierend wirkenden Kondensators C3 (Differentialquotient) ermittelt. Ferner können zur Ermittlung der Steilheit des Stromanstieges in der Prüfleitung beide Methoden kombiniert angewendet werden. Es ist möglich, für die beiden Fälle und ihre Kombination die beschriebene Schaltungs- 

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 anordnung nach den Fig. l und 2 in geeigneter Weise zu bemessen oder auch geringfügig abzuän- dern. 



   Auf diese Weise kann bei Prüfung einer im Auslösezustand befindlichen Prüfleitung, welche infolge Prüfung über Kabel zunächst durch die Kabelentladung eine den Freizustand vortäuschende Steilheit des
Stromanstieges verursacht, mit Sicherheit der Auslösezustand erkannt werden ; hiebei wird die Entladung des Kabels durch einen solchen Entladestromkreis zusätzlich abgekürzt, welcher wesentlich weniger Wider- stand (R2, G3) aufweist als der im Prüfstromkreis liegende Messwiderstand (Dr,   Rl).   



   Dieser ist vorzugsweise als komplexer Widerstand ausgebildet,   welcher-angepasst   an den komplexen
Innenwiderstand eines unerregten Belegungsrelais C mit kurzgeschlossener Wicklung C - einen extrem grossen Spannungsanstieg am Prüfpunkt x beim Durchschalten des Prüfstromkreises und eine während des Stromanstieges in der Prüfleitung gleichbleibende Prüfspannung am Punkt x verursacht. 



   In Fig. 3 ist ein weiteres Ausführungsbeispiel der Erfindung in Prinzipdarstellung gezeigt. Zur Vereinfachung der Darstellung sind an sich bekannte Bestandteile, wie Gatterschaltungen (Gal, Ga2, Ga3) und Kippstufen (Kl, K2, K3) durch Symbole dargestellt, welche hinsichtlich ihrer Wirkungsweise durch das Normenblatt DIN   40 700   Blatt 14 Seiten   1 - 6   bekannt sind. Die nachfolgende Beschreibung setzt diese Wirkungsweise als bekannt voraus. 



   Im Ruhezustand sind die Transistoren T6 und T7 durch Erdpotential bzw.   +4V-Potential   gesperrt. 



  Ferner ist im Ruhezustand der Kontakt z einer Schaltungsanordnung geschlossen, welcher die in Fig. 3 gezeigte Prüfschaltung zugeordnet ist, Über diesen Ruhekontakt werden die Kippstufen Kl, K2, K3 in eine Ausgangslage geschaltet, die für jeden Prüfvorgang vorauszusetzen ist. Zur Einleitung jedes Prüfvorganges wird der bis dahin geschlossene Kontakt z geöffnet. Zwischen aufeinanderfolgenden Prüfvorgängen werden durch vorübergehendes Schliessen des Kontaktes z die Kippschaltungen Kl, K2, K3 in die erforderliche Ausgangslage gebracht. 



   Die in Fig. 3 gezeigte Prüfschaltung weist ferner einen Ausgang A auf, über welchen die erforderliche Prüfung zu der Schaltungsanordnung signalisiert wird, welcher die Prüfschaltung zugeordnet ist. Ferner weist die Prüfschaltung einen komplexen Prüfwiderstand auf, welcher aus der Drossel Dr und dem Widerstand Rl besteht, und welcher dem gleichbenannten in Fig. l völlig entspricht, indem über ihn der Prüfstromkreis bei Prüfung einer Prüfleitung geschlossen wird. 



   Wird die in Fig. 3 gezeigte Prüfschaltung zur Prüfung einer Prüfleitung, welche in Fig. 3 nicht gezeigt und der in Fig.   l   gezeigten gleich ist, und welche zu einem wie in Fig.   l   gezeigten Belegungsrelais C führt, durch den Wähler oder Koppler W an die Prüfschaltung angeschaltet, so steigt die Spannung am Punkt x mit grosser Steilheit auf eine Teilspannung an, sofern die Prüfleitung frei ist. 



  Befindet sich dagegen die Prüfleitung im Auslösezustand, so steigt die Spannung am Prüfpunkt x verzögert an. 



   Verläuft der Prüfstromkreis über ein Kabel, so steigt die Prüfspannung am Punkt x sowohl bei vorausgehendem Freizustand als auch bei vorausgehendem Auslösezustand der Prüfleitung mit gleich grosser, durch Einleitung der über den Prüfwiderstand Dr/Rl verlaufenden Kabelentladung verursachter Steilheit an, welche mindestens ebenso gross ist wie bei Prüfung einer freien Prüfleitung ohne Kabel. Die Dauer der Entladung eines Kabels ist infolge der Grösse der Kabelkapazität um ein Vielfaches kleiner als die Dauer des Spannungsanstieges am Prüfpunkt x bei Prüfung einer im Auslösezustand befindlichen Prüfleitung. 



   Wird eine im Auslösezustand befindliche Prüfleitung über Kabel geprüft, so steigt also die Spannung 
 EMI9.1 
 potential an, sinkt dann wieder weit darunter ab und steigt entsprechend dem durch den Auslösezustand verursachten verzögerten Stromanstieg verzögert wieder bis über das den Freizustand anzeigende Spannungspotential vorübergehend an. 



   Durch die in Fig. 3 gezeigte Prüfschaltung kann das am Prüfpunkt x auftretende Spannungspotential sowohl hinsichtlich seiner Grösse als auch hinsichtlich seines Verlaufes (Steilheit) ausgewertet werden. Bei Auswertung des Spannungspotentials hinsichtlich seiner Grösse wird das tatsächliche Erreichen des den Freizustand der Prüfleitung anzeigenden Spannungspotentials innerhalb eines bestimmten Zeitraumes ausgewertet. 



   Bei Auswertung des Spannungspotentials hinsichtlich seines Verlaufes wird bereits vor Erreichen des den Freizustand der Prüfleitung anzeigenden Spannungspotentials aus dem während eines vorgegebenen Zeitraumes durchlaufenen Spannungsbereich die jeweilige Steilheit des Spannungsanstieges ermittelt und hieraus nach dem Prinzip der Extrapolation der Frei- oder Auslösezustand der Prüfleitung ermittelt. 

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   Wird die in Fig. 3 gezeigte Schaltungsanordnung an eine freie Prüfleitung angeschaltet, so steigt die
Spannung am Punkt x mit grosser Steilheit auf einen den Freizustand kennzeichnenden Wert an. Durch den Kondensator Cl wird diese Steilheit begrenzt, um den Einfluss von Störspannungsspitzen, welche z. B. infolge von Knackgeräuschen, von Prellungen des den Prüfstromkreis durchschaltenden Kontaktes od. dgl. entstehen können, unwirksam zu machen, und um die Steilheit auf ein definiertes Mass herab- zusetzen. 



   Der Transistor Tl wird infolge des Spannungsanstieges stromdurchlässig. Das bis dahin über den
Widerstand W2 an seinem Kollektor liegende Spannungspotential wird von-24 V auf-12 V verscho- ben. Das Vorhandensein des-12 V-Potentials an dem einen Eingang des Gatters Gal wird von diesem als ein Signal gewertet. 



   Gleichzeitig wird durch Anstieg der Spannung am Punkt x die monostabile Kippstufe K3 mit
Laufzeitglied gekippt, so dass an ihrem Ausgang h ein Signal auftritt. Welcher Art dieses Signal ist, ist nicht dargestellt und ist für das Verständnis der Erfindung nicht von Bedeutung. Dieses Signal liegt am Ausgang h der Kippstufe K3 während einer für sie festgelegten Laufzeit und ist solange unab- hängig von an den Eingängen f2 und fl derselben Kippstufe anliegenden Signalen. 



   Die vom Koinzidenzgatter Gal als Signal gewertete Verschiebung des Potentials am Kollektor des Transistors Tl und das von der Kippstufe K3 abgegebene Signal liegen gleichzeitig an den Ein- gängen des Koinzidenzgatters Gal an und verursachen ein Signal an dessen Ausgang. Die bistabile
Kippstufe Kl, an deren Ausgang h bis dahin kein Signal infolge des über den Eingang gl im
Ruhezustand vom Kontakt z anliegenden Signals lag, wird infolge des an ihren dynamischen Ein- gang g3 angelegten Signals gekippt und legt ein Signal an ihren Ausgang h. 



   Dieses Signal trifft über das Mischgatter Ga3 auf die Basis des bis dahin über den Widerstand W3 durch   +4 V-Potential   gesperrten Transistors T7 und schaltet diesen durchlässig, so dass die Prüfleitung über den Widerstand W4, den Gleichrichter G3, den Punkt x und den Wähler W unverzüglich gesperrt wird. Der Widerstand W4 dient zur Strombegrenzung als Schutz für den Transistor T7. 



   Das hiebei vom Transistor T7 auf den einen Eingang des Sperrgatters Ga2 gelangende Signal kommt nicht zur Wirkung, da dieses Sperrgatter Ga2 durch das von der Kippstufe K3 noch anliegende Signal gesperrt ist. Ferner wird der Transistor T6 wieder gesperrt, wodurch auch das über das Koinzidenzgatter Gal an den dynamischen Eingang g3 der Kippstufe K3 angelegte Signal wieder gelöscht wird. Die Kippstufe Kl bleibt dadurch jedoch unbeeinflusst, da deren Eingang g3 dynamisch ist. 



   Das von der bistabilen Kippstufe Kl abgegebene Signal kommt zugleich auch auf den Eingang fl der monostabilen Kippstufe K2, an deren Ausgang h bis dahin infolge des im Ruhezustand am Eingang fl über den Kontakt z anliegenden Signals kein Ausgangssignal gelegen hatte. Infolge des Signals am Eingang f2 der Kippstufe K2 wird diese gekippt, so dass an ihrem Ausgang h ein Signal erscheint. 



   Dieses Signal wird von der Kippstufe K2 während einer festgesetzten Laufzeit, welcher kürzer ist als die Laufzeit der Kippstufe K3, an den Ausgang f angelegt und dann abgeschaltet. Es gelangt auf den Eingang g2 der bistabilen Kippstufe Kl, welche dadurch in die dem Ruhezustand entsprechende Lage zurückgeschaltet wird. Infolgedessen erlischt auch das Signal am Ausgang h der Kippstufe Kl. Das Signal am Ausgang h der Kippstufe K2 gelangt ausserdem auf das Mischgatter Ga3, so dass der Transistor T7 trotz Fortfall des von der Kippstufe Kl zuvor abgegebenen und ihn durchlässig schaltenden Signals durchlässig bleibt. 



   Die monostabilen Kippstufen K2 und K3 kippen nach der für sie jeweils festgelegten Zeit in ihre Ausgangslage zurück und schalten die an ihren Ausgängen h anliegenden Signale wieder ab. 



   Kippt die Kippstufe K2 mit der kürzeren Laufzeit in ihre Ausgangslage zurück, so erlischt an ihrem Ausgang h das Signal, so dass der Transistor T7 durch das über den Widerstand W3 anliegende Pluspotential wieder gesperrt wird. Die Sperrung der Prüfleitung PL wird dadurch aufgehoben. Der Transistor T6 wird, sofern das den Freizustand der Prüfleitung kennzeichnende Potential am Punkt x wieder erscheint, erneut durchlässig und gibt auf das Koinzidenzgatter Gal ein Signal. 



   In Abhängigkeit von der Steilheit des Spannungsanstieges am Punkt x nach Aufhebung der Sperrung der Prüfleitung, d. h. in Abhängigkeit von der Zeit, innerhalb welcher das Potential am Punkt x auf den den Freizustand der Prüfleitung anzeigenden Wert ansteigt, trifft dieses Signal vor oder nach Ende der Laufzeit der Kippstufe K3 auf das Koinzidenzgatter Ga3. Trifft dieses Signal vor Ende der Laufzeit auf das Koinzidenzgatter Ga3, so gelangt infolge der Koinzidenz ein Signal auf den Eingang der 

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 bistabilen Kippstufe Kl. Diese wird wieder gekippt, so dass an ihrem Ausgang h wieder ein Signal erscheint. 



   Dieses verursacht, wie zuvor beschrieben, erneut die Sperrung der Prufleitung und gelangt auch auf den Eingang f2 der monostabilen Kippstufe K2. Diese kann jedoch nicht ein zweitesmal gekippt werden bevor nicht, wie aus dem angegebenen Normenblatt DIN   407ut   Blatt 14 Seiten 1 - G hervorgeht, das im Ruhezustand durch den Kontakt z eingeschaltete Signal an den Eingang fl der Kippstufe K2 angelegt worden ist, d. h. bevor nicht der Ruhezustand eingetreten ist. 



   Die Kippstufen K2 und K3 können also bei jedem Prüfvorgang nur einmal in ihre Arbeitslage gekippt werden, in welcher sie unabhängig von jeglichen Signalen während der jeweils individuellen Laufzeit verharren, um dann in ihre Ruhelage   zurückzukehren. Dieses   zum zweitenmal von der Kippstufe Kl an den Eingang f2 der Kippstufe K2 angelegte Signal wird also auf diese nicht wirksam. 



   Wird die Kippstufe K3 nach   Ablaut   ihrer Laufzeit in ihre Ruhelage zurückgeschaltet, nachdem durch die Kippstufe Kl ein zweitesmal ein Signal an ihren Ausgang angeschaltet wurde, so wird die Sperrung des Sperrgatters Ga2 infolge Fortfalles des Signals am Ausgang h der Kippstufe K3 aufgehoben. Das Erdpotential, welches durch den über das Mischgatter Ga3 durchlässig gesteuerten Transistor T7 eingeschaltet ist und welches auf der Prüfleitung als Sperrpotential wirkt, wird als Signal über das Sperrgatter Ga2 auf den   Abgang A der Prüfschaltung wirksam, wodurch   die erfolgreiche Prüfung signalisiert wird. 



   Ist die Steilheit des Spannungsanstieges am Prüfpunkt x kleiner, wenn die Sperrung der Prüfleitung zur Wiederholung der Prüfung infolge Ruckkehr der Kippstufe K2 in die Ruhelage durch Ablauf ihrer Laufzeit aufgehoben wird, so wird das den Transistor   TG   durchlässig schaltende Spannungspoten- 
 EMI11.1 
 Signal trifft auf diesen ein, nachdem bereits das von der Kippstufe K3 während ihrer Laufzeit abgegebene Signal erloschen ist. In diesem Fall wird auch die Kippstufe Kl nicht ein zweitesmal gekippt, so dass auch der Transistor T7 nicht wieder durchlässig wird. Infolgedessen wird von dieser Prüfschaltung weder Sperrpotential über den Widerstand W4 und den Gleichrichter G3 an die Prüfleitung angeschaltet noch ein Signal auf den Ausgang A gegeben, über welchen erfolgreiche Prüfungen signalisiert werden. 



   Wie beschrieben, wird also die Prüfleitung nach Feststellung des den Freizustand oder gegebenenfalls den Auslösezustand der Prüfleitung anzeigenden Spannungspotentials durch die in Fig. 3 gezeigte Prüfschaltung zunächst unverzüglich über den Transistor T7 gesperrt. Erfolgt die Prüfung über ein Kabel, welches bei Prüfung einer im Frei- oder auch im Auslösezustand befindlichen Prüfleitung aufgeladen ist, und welches bei Vorliegen des Auslösezustandes durch seine Aufladung einen den Freizustand vortäuschenden Stromanstieg bei Durchschaltung des Prüfstromkreises verursacht, so wird das Kabel über den das Sperrpotential anschaltenden Stromkreis, welcher sehr niederohmig sein kann, unverzüglich entladen. 



   Nach einem durch die Laufzeit der Kippstufe K2 bestimmten Zeitintervall, welches vorzugsweise der Dauer der Entladung von Kabeln angepasst ist, wird die Sperrung aufgehoben und die Prüfung durch den Transistor T6 wiederholt. Aus der Steilheit des Spannungsanstieges am Punkt x nach Aufhebung der Sperrung und gegebenenfalls nach der Entladung von Kabeln wird der tatsächliche Belegungszustand (d. h. 



  Freizustand oder Auslösezustand) festgestellt, welcher sich als Freizustand bzw. Auslösezustand herausstellt, wenn das zweite Spannungspotential sich vor bzw. nach Ablauf der durch die Laufzeit der Kippstufe K3 begrenzten Zeitspanne einstellt. 



   Diese Zeitspanne ergibt sich also aus der Differenz der Laufzeiten der Kippstufen K2 und K3. Sie beginnt jeweils mit dem Ende der Laufzeit der Kippstufe K2 und endet mit der   Laufzeit der Kipp-   stufe K3. 



   Es ist auch möglich, ein den Auslösezustand anzeigendes Signal z. B. durch ein weiteres nichtgezeigtes Sperrgatter abzugeben, welches ebenso wie das Sperrgatter Ga2 jedoch mit vertauschten Eingängen angeschaltet ist. 



   Ferner kann durch die Prüfschaltung mit Sicherheit das   Doppelprüfen   unterbunden werden, indem die Zeitintervalle mehrerer, möglicherweise gleichzeitig dieselben Leitungen prüfender Prüfschaltungen durch entsprechende Bemessung der Kippstufen K2 und K3 individuell und alternativ unterschiedlich eingestellt werden. Dadurch können in gleicher Weise, wie für   fig. 1   beschrieben, Doppelprüfungen unterdrückt werden. 



   Es ist hiezu zweckmässig, dass bei einer ersten Prüfschaltung, in welcher die Laufzeit der Kippstu- 

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 fe K3 grösser als die Laufzeit der Kippstufe K3 einer zweiten Prüfschaltung ist, auch die Laufzeit der Kippstufe K2 grösser als die Laufzeit der Kippstufe K3 der zweiten Prüfschaltung ist. Dadurch wird sichergestellt, dass von mehreren Prüfschaltungen, deren Zeitintervalle unterschiedlich eingestellt sind, die Zeitspannen, in welchen der Prüfvorgang jeweils wiederholt wird, sich nicht zeitlich überschneiden. 



    PATENTANSPRÜCHE :    
1. Schaltungsanordnung zum Prüfen von Leitungen in Fernmelde-, insbesondere Fernsprechanlagen, in welchen an Prüfleitungen, deren Freizustand und gegebenenfalls Auslösezustand durch ein erstes Spannungspotential und deren Sperrzustand durch ein zweites Spannungspotential angezeigt wird, und in welchen der jeweilige Belegungszustand einer Prüfleitung durch Prüfrelais (z.

   B.   elektronische Prüfrelais)   festgestellt wird, die nach Feststellung des Freizustandes die Prüfleitung sperren,   da durch g eke nn-   zeichnet, dass sowohl ein erstes Zeitintervall, in dem der Einfluss der Prüfleitungsspannung auf die Prüfrelais bei Fortbestand des Prüfstromkreises unterbunden ist als auch ein an das erste Zeitintervall anschliessendes zweites Zeitintervall, in dem die Prüfrelais wieder voll wirksam sind, festlegende Prüfrelais (E in Fig.   l ;   T6 in Fig. 3) und Laufzeitschalter (P, Q in Fig.   2 ; Kl,   K2, K3 in Fig. 3) mit den Eigenschaften von Schwellenwertschaltern vorgesehen sind.

Claims (1)

  1. 2. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass ein Prüfstromkreis aus den Innenwiderstand der Prüfleitung bestimmenden Widerständen (R, CI, CII) und einem den Prüfrelais (E) zugeordneten Messwiderstand (Dr. Rl) besteht, und dass hochohmige Spannungsprüfrelais vorgesehen sind, so dass mit ihnen die die jeweiligen Belegungszustände anzeigenden, an dem Messwiderstand (Dr, Rl) als Spannungsabfälle auftretenden Spannungspotentiale messbar sind.
    3. Schaltungsanordnung mit Prüfstromkreisen, in welchen bei ihrer Durchschaltung der Prüfstrom EMI12.1 tung (PL) zusammengeschalteten Messwiderstand (Dr, Rl), der vorzugsweise ein komplexer Widerstand ist, ein gleichbleibendes Spannungspotential liegt.
    4. Schaltungsanordnung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass an einer mit einem Messwiderstand (Dr, Rl) verbundenen Prüfleitung (PL) das erste Spannungspotential liegt.
    5. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass ein in Schaltabhängigkeit von den Laufzeitschaltern (P, Q in Fig. 2 ; Kl, K2 in Fig. 3) stehender Hilfswiderstand (R2 in Fig. l ; W4 in Fig. 3) in einen zwischen der Prüfleitung (PL) und dem zweiten Spannungspotential verlau- fenden Stromkreis (über e verlaufend) geschaltet ist, so dass die Prüfleitung (PL) während des ersten Zeitintervalles über den Hilfswiderstand (R2 in Fig. l ; W4 in Fig. 3) mit dem zweiten Spannungspoten- tial verbunden ist.
    6. Schaltungsanordnung nach den Ansprüchen 2 und 5, dadurch gekennzeichnet, dass der Widerstandswert des Hilfswiderstandes (R2 in Fig. l ; W4 in Fig. 3) kleiner als der des Messwiderstandes (Dr, Rl) ist.
    7. Schaltungsanordnung nach denAnsprüchen2und5, dadurch gekennzeichnet, dass zwischen die Prüfleitung (PL) und einen Sperrpotential liefernden Anschluss der Spannungsquelle (Erde) Kon- takte (pl, ql) der Laufzeitschalter (P, Q) geschaltet sind, so dass während des ersten Zeitintervalles Spart potential an die Prüfleitung (PL) angeschaltet ist.
    8. Schaltungsanordnung nach Anspruch 6, mit Prüfstromkreisen, welche im Freizustand elektrostatische Ladung aufweisen, dadurch gekennzeichnet, dass zwischen die Prüfleitung (PL) und einen das zweite Spannungspotential liefernden Anschluss der Spannungsquelle ein in Schaltabhängigkeit von den Laufzeitschaltern (P, Q in Fig. 2 ; Kl, K2 in Fig. 3) stehender Strombegrenzungswiderstand (R2 in Fig. l ; W4 in Fig. 3) geschaltet ist, dessen Bemessung durch den höchstzulässigen Strom bei der Ableitung der elektrostatischen Ladung bestimmt ist.
    9. Schaltungsanordnung nach Anspruch l, dadurch gekennzeichnet, dass die Prüfrelais ein nur für Wechselspannung durchlässiges Filter (C3) aufweisen, wobei für die Prüfrelais das Mass der jeweiligen Steilheit der Spannungsänderung beim Schliessen des Prüfstromkreises das Kriterium für den jeweiligen Belegungszustand ist.
    10. Schaltungsanordnung nach Anspruch 9 mit Prüfrelais, welche auf Grund einer vorausgegangenen Feststellung des ersten Spannungspotentials das zweite Spannungspotential an die Prüfleitung anschalten, und mit Laufzeitschaltern, welche nach dem ersten Zeitintervall den Sperrzustand aufheben und eine EMI12.2 <Desc/Clms Page number 13> n et, dass in verschiedenen derartigen, gleiche Leitungen prüfenden Schaltungsanordnungen die zugeordneten Laufzeitschalter (P, Q in Fig. l ; Kl, K2, K3 in Fig. 3) auf verschiedene Laufzeiten eingestellt sind (einstellbar am Widerstand R5 bzw. bei K2, K3).
    11. Schaltungsanordnung nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, dass die Laufzeiten der Laufzeitschalter (P, Q in Fig. 2 ; Kl, K2, K3 in Fig. 3) der mehreren Schaltungsanordnungen Differenzen voneinander aufweisen, welche grösser als die Ansprechzeit der Prüfrelais (E in Fig. l ; T6 in Fig. 3) sind.
    12. Schaltungsanordnung nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, dass die Laufzeiten der Laufzeitschalter (P, Q in Fig. l ; Kl, K2, K3 in Fig. 3) der mehreren Schaltungsanordnungen Differenzen voneinander aufweisen, welche grösser als die Auslösezeit der Prüfrelais (E in Fig. l ; T6 in Fig. 3) sind.
    13. Schaltungsanordnung nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, dass der Eingang (e) eines Prüfrelais (E in Fig. l ; T6 in Fig. 3) einerseits über einen Hilfswiderstand (R2 in Fig. l ; W4 in Fig. 3) mit der Prüfleitung und anderseits über einen in Schaltabhängigkeit von Kontakten der Prüfrelais und Laufzeitschalter stehenden Stromkreis mit einem Prüfrelaishaltepotential1iefemden Anschluss der Spannungquelle (Erde) verbunden ist, so dass die Prüfleitung (PL) bei Anschaltung von Prüfrelaishaltepotential an den Eingang (e) eines Prüfrelais (E in Fig. l ; T6 in Fig. 3) infolge Spannungsabfalles an dem Hilfswiderstand (R2 in Fig. l ; W4 in Fig. 3) gesperrt ist.
    14. Schaltungsanordnung nach Anspruch 10, in welcher Prüfrelais eine erste Ansprechzeit bei erstmaligem und eine zweite Ansprechzeit bei wiederholtem Ansprechen in einem Prüfvorgang aufweisen, EMI13.1
AT582963A 1963-04-11 1963-07-22 Schaltungsanordnung zum Prüfen von Leitungen in Fernmelde-, insbesondere Fernsprechanlagen AT250451B (de)

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