AT237923B - Für Auf- und/oder Durchlicht-Untersuchungen geeignetes Mikroskop - Google Patents

Description

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   Es sind Mikroskope bekanntgeworden, bei denen der von einer einzigen Lichtquelle kommende Lichtstrom wahlweise dem Auflicht- oder dem Durchlicht-Beleuchtungsapparat bzw. mit Hilfe eines Teilungsspiegels auch beiden Apparaten gleichzeitig zugeführt werden kann. Auch gibt es Mikroskope, bei denen umgekehrt die Lichtströme zweier getrennter Lichtquellen, meist von unterschiedlicher spektraler Energieverteilung, durch   teildurchlässige Spiegel   vereinigt, gemeinsam weitergeführt und schliesslich dem Auflicht- und/oder dem Durchlicht-Beleuchtungsstrahlengang zugeführt werden   können.   



   Demgegenüber besteht   das Ziel der Erfindung darin, ein Mikroskop   zu schaffen, bei dem zwei Lichtquellen vorgesehen sind, deren Lichtströme wahlweise einzeln oder gemeinsam dem Beleuchtungsapparat für Durchlicht allein oder dem für Auflicht allein oder aber auch beiden gemeinsam unter Zuhilfenahme einfachster Manipulationen zugeführt werden können. Die skizzierte Aufgabe wird dadurch gelöst, dass die von   beiden Lichtquellen kommenden Lichtströme   dem Auflicht- und dem Durchlicht-Beleuchtungsapparat auf zwei voneinander getrennten, einander jedoch in einem Punkt schneidenden Wegen zugeführt werden und dass im Schnitt beider Lichtwege ganz oder teilweise reflektierende, ebene Spiegel einschiebbar so angeordnet sind, dass sie den Winkel zwischen den Achsen der beiden Lichtströme halbieren. 



   Wegen der durch die vorstehende Anordnung bedingten relativ langen Lichtwege ist es erfindungsgemäss besonders zweckmässig, wenn in jedem der beiden Lichtwege zu beiden Seiten des Schnittpunktes je ein sammelndes Linsensystem so angeordnet ist, dass ein Brennpunkt des jeweils ersten Systems in die Lichtquelle fällt und in einem Brennpunkt des jeweils zweiten Systems ein reelles Bild der Lichtquelle entsteht. 



   Infolge des zwischen je zwei einander zugeordneten Linsensystemen herrschenden parallelen Strahlenganges ist ihr Abstand voneinander irrelevant, was für die konstruktive Gestaltung der Beleuchtungseinrichtung des Mikroskopes von grossem Vorteil ist. Die Existenz der reellen Lichtquellenbilder, die sozusagen sekundäre Lichtquellen darstellen, ermöglicht es ferner, mit Hilfe eines   nachgeschaltetenKollek-   tors, sei es für Auflicht oder für Durchlicht, die optimalen Beleuchtungsverhältnisse in bequemster Weise einzustellen. 



   Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung wird an Hand der halbschematischen Darstellungen der Fig. 1-3 beschrieben. Ein Mikroskop, von dem die Grundplatte   l,   das Stativ 2, der Tubuskopf 3 mit dem Okular 4 und dem Objektiv 5, der Objekttisch 6, der Durchlicht-Beleuchtungsapparat 7 und der Auflicht-Beleuchtungsapparat 8 dargestellt sind, ist mit einer Niedervoltlampe 9 und einer Quecksilber-Hochdrucklampe 10 ausgerüstet. Im direkten Strahlengang verläuft der Lichtstrom von der Niedervoltlampe 9 über zwei Linsen 11 und 12 und einen Umlenkspiegel 13 zum Auflicht-Beleuchtungsapparat 8, während der Lichtstrom der Lichtquelle 10 über Linsen 14 und 15, einen Umlenkspiegel 16 und einen Spiegel 17 dem DurchlichtBeleuchtungsapparat 7 zugeführt wird.

   Die Lichtquellen 9 und 10 stehen im Brennpunkt der Linsen 11 und 14, so dass die Linsen 12 und 15 in ihrem Brennpunkt bei 18 bzw. 20 reelle Bilder der Lichtquellen 9 und 10 erzeugen. Die in der Richtung der Doppelpfeile axial verstellbaren Kollektoren 21 und 22 führen das Licht   dieser "sekundären Lichtquellen" 18   und 20 den zugehörigen   Beleuchtungsapparaten in der gewünsch-   tenKonvergenz zu. Im Schnittpunkt der Achsen der Linsensysteme 11-12 einerseits und 14-15 anderseits ist auf einem senkrecht zur Zeichenebene verschiebbaren, im einzelnen nicht dargestellten Schieber ein Spiegelelement angeordnet, das schematisch durch 23 angedeutet   ist und dessen Spiegelflächen den Winkel   zwischen den genannten Achsen halbieren. Das Spiegelelement ist in den Fig. 2 und 3 dargestellt.

   Es Für   Auf-und/oder Durchlicht-Untersuchungen   geeignetes Mikroskop 

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 besteht aus zwei miteinander verkitteten Glasplatten 24 und 25, deren eine, in der Kittschicht liegend, bei 26 einen teildurchlässigen, bei 27 einen voll reflektierenden Belag trägt. Durch Verstellen des das Spiegelelement tragenden Schiebers kann wahlweise der durchsichtige Teil 28, der teilreflektierende 26 oder der vollreflektierende 27 in den Schnittpunkt der Lichtströme eingeschaltet werden. Ist der Teil 28 des Spiegelelementes eingeschaltet, so empfängt der Auflicht-Beleuchtungsapparat das Licht der Niedervoltlampe 9 und derDurchlicht-Beleuchtungsapparat   das Licht derQuecksilber-Hochdrucklampe 10.

   Durch   Filtersätze 29 und 30 kann von den Lichtquellen der gewünschte Spektralbereich ausgesondert werden, so dass beispielsweise diese Schieberstellung Auflicht-Mikroskopie im roten Licht und   Durchlicht-Fluores-   zenz-Mikroskopie mit Ultraviolettanregung ermöglicht. Schaltet man den Teil 27 des Spiegelelementes ein, so kann man umgekehrt Auflicht-Fluoreszenz-Mikroskopie sowie Durchlicht-Mikroskopie im roten Licht betreiben. Stellt man schliesslich den Schieber so, dass der teildurchlässige Bereich 26 des Spiegelelementes eingeschaltet ist, so sind alle Möglichkeiten gleichzeitig gegeben, d. h. man kann Auf- und Durchlicht-Beleuchtung mit gemischtem Licht vornehmen. 



     PATENTANSPRÜCHE   : 
1. Für   Auf-und/oder   Durchlicht-Untersuchungen geeignetes Mikroskop mit zwei Lichtquellen, dadurch gekennzeichnet, dass die von beiden Lichtquellen kommenden Lichtströme dem Auflicht- und dem Durchlicht-Beleuchtungsapparat auf zwei voneinander getrennten, einander jedoch in einem Punkt schneidenden Wegen zugeführt werden und dass im Schnittpunkt beider Lichtwege ganz oder teilweise reflektierende, ebene Spiegel einschiebbar so angeordnet sind, dass sie den Winkel zwischen den Achsen der beiden Lichtströme halbieren.

Claims (1)

1. 2. -Mikroskop nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass in jedem der beiden Lichtwege zu beiden Seiten des Schnittpunktes je ein sammelndes Linsensystem so angeordnet ist, dass ein Brennpunkt des jeweils ersten Systems in die Lichtquelle fällt und in einem Brennpunkt des jeweils zweiten Systems ein reelles Bild der Lichtquelle entsteht.