AT146618B - Photoelektrischer Belichtungsmesser und Basisentfernungsmesser. - Google Patents

Description

   <Desc/Clms Page number 1> 
 



  Photoelektrischer Belichtungsmesser und   Basisentfemungsmesser.   



   Bisher wurde sowohl der photoelektrische Belichtungsmesser als auch der Entfernungsmesser als Einzelinstrument verwendet. 



   Gemäss der Erfindung sind die beiden Instrumente in einem gemeinsamen Gehäuse eingebaut, wodurch sich ein besonderer Vorteil ergibt. Bei der Einrichtung gemäss der Erfindung können hintereinander beim Durchblick durch die beiden Schauöffnungen der Instrumente sowohl die eingestellten Entfernungs-als auch die Belichtungsdaten nach erfolgter Einstellung abgelesen werden. Zweckmässig erfolgt die Anordnung des Basisentfernungsmessers oberhalb des Belichtungsmessers. 



   In der Zeichnung ist ein Ausführungsbeispiel der Erfindung dargestellt, u. zw. zeigt Fig. 1 die Einrichtung in perspektivischer Ansicht. Fig. 2 zeigt einen Schnitt nach Linie 11-11 der Fig. 1 und Fig. 3 stellt einen Schnitt nach Linie   III-Ill   der Fig. 1 dar. 



   1 ist das Schauloch des Basisentfernungsmessers, 2 und 3 sind vor der Basis 4 des Entfernungsmessers angeordnete Drehkeile, welche durch Zahnräder mittels einer Einstellscheibe 5, die gleichzeitig die Ableseskala bildet, angetrieben werden. 6 ist das eingekapselte Drehspuleninstrument des photoelektrischen Belichtungsmessers. Die Beobachtung des Instrumentes erfolgt durch ein Schauloch 7. Der darin befindliche Zeiger 8 wird durch Verstellung einer Scheibe   10,   welche einen Widerstand 11 reguliert, auf eine Marke 9 eingestellt. Auf der Scheibe 10 befindet sich die Belichtungszeitenskala. Mittels der Blendenstellscheibe   12,   welche eine Schauöffnung besitzt, wird auf die Filmempfindlichkeit eingestellt. 



   Der aus den Scheiben   5   und 10 bestehende Einstellmechanismus der beiden Instrumente ist auf dem Deckel 13, welcher das gemeinsame Gehäuse abschliesst, angeordnet. 



   PATENT-ANSPRÜCHE :
1. Photoelektrischer Belichtungsmesser und Basisentfernungsmesser, dadurch gekennzeichnet, das beide in einem gemeinsamen Gehäuse eingebaut sind. 

**WARNUNG** Ende DESC Feld kannt Anfang CLMS uberlappen**.

Claims (1)

1. 2. Belichtungsmesser nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der Basisentfernungsmesser oberhalb des Belichtungsmessers angeordnet ist.

   3. Belichtungsmesser nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Schauöffnungen (1 und 7) sowie die Ableseskalen (5 und 10) auf der Vorderseite des Gehäuses angeordnet sind.

   4. Belichtungsmesser nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der Einstellmechanismus der beiden Instrumente am Deckel (13) des gemeinsamen Gehäuses angeordnet ist. EMI1.1 **WARNUNG** Ende CLMS Feld Kannt Anfang DESC uberlappen**.