WO2025154334A1 - 積層セラミックコンデンサ - Google Patents

Abstract

焼結性を確保しながら、緻密なセラミック層が形成され、高い耐湿信頼性を備えた積層セラミックコンデンサを提供すること。　積層体１０の積層（Ｔ）方向と幅（Ｗ）方向とに延びる断面において、カルシウムシリケートの含有量は、外側サイドマージン部４１ｏ、４２ｏの方が、内側サイドマージン部４１ｉ、４２ｉより多く、外側外層部３１ｏ、３２ｏの方が、内側外層部３１ｉ、３２ｉより多く、Ｃａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量は、内側サイドマージン部４１ｉ、４２ｉの方が、外側サイドマージン部４１ｏ、４２ｏより多く、内側外層部３１ｉ、３２ｉの方が、外側外層部３２ｉ、３２ｏより多い、積層セラミックコンデンサ１。

Description

積層セラミックコンデンサ

　本発明は、積層セラミックコンデンサに関する。

　近年、電子機器の小型化に伴い、回路基板に実装される、積層構造を有する電子部品（以下、積層セラミックコンデンサともいう）にも小型化が要求されている。
　従来より、積層セラミックコンデンサにおいては、誘電損失を抑え、高周波領域における性能を向上させるため、Ｃａ及びＺｒを含むペロブスカイト構造を主相とした誘電体セラミックを用いて、高いＱ値（高いＱ値＝コンデンサ内のエネルギー損失が少ない）を得る技術が知られている（例えば、特許文献１）。

　しかしながら、ＣａＺｒＯ_３系誘電体セラミックを用いた積層セラミックコンデンサは例えば特許文献１のように、グリーンチップの焼成時におけるセラミック粒子の成長が積層セラミックコンデンサの部位によって異なり、内層部に比べて、外層部あるいはサイドマージン部は、平均粒径が大きくなり易い。そして、外層部あるいはサイドマージン部の平均粒径が大きくなると、粒界腐食が進んだ場合、つまり粒界が侵食された際に応力の開放が進み易くなり、クラック発生による耐湿性低下につながり易い。

　一方、外層部あるいはサイドマージン部を構成する誘電体セラミックの平均粒径を小さくしようとすると、積層セラミックコンデンサの焼結性を確保することが難しくなり、内層部に近い領域にポアが残存し易くなり、耐湿性や強度が低下し易くなる。

　このため、焼結性を確保しながら、緻密なセラミック層が形成され、高い耐湿信頼性を備えた積層セラミックコンデンサの開発が求められる。

特開２０１９－１０２７５２号公報

　本発明は、焼結性を確保しながら、緻密なセラミック層が形成され、高い耐湿信頼性を備えた積層セラミックコンデンサを提供することを目的とする。

　本発明者らは、積層セラミックコンデンサを構成する積層体の積層方向と幅方向とに延びる断面において、外側サイドマージン部におけるカルシウムシリケートの含有量が、内側サイドマージン部におけるカルシウムシリケートの含有量より多くすることにより、積層セラミックコンデンサの耐湿性が向上することを見出し、本発明を完成するに至った。

　すなわち、本発明は、積層方向に沿って交互に積層された複数の誘電体層および複数の内部電極層を含み、前記積層方向において相対する第１主面および第２主面と、前記積層方向に直交する幅方向において相対する第１側面および第２側面と、前記積層方向および前記幅方向の両方に直交する長さ方向において相対する第１端面および第２端面とを有する積層体と、
　前記第１端面に設けられ、前記複数の内部電極層の端部と接続する第１外部電極と、
　前記第２端面に設けられ、前記複数の内部電極層の端部と接続する第２外部電極と、
を備え、
　前記積層体は、前記複数の内部電極層が互いに対向し静電容量を形成する内層部と、前記積層方向において前記内層部の第１主面側に位置する第１外層部と、前記積層方向において前記内層部の第２主面側に位置する第２外層部と、前記幅方向において前記内層部の第１側面側と前記第１外層部の第１側面側に位置する第１サイドマージン部と、前記幅方向において前記内層部の第２側面側と前記第２外層部の第２側面側に位置する第２サイドマージン部と、を備え、
　前記第１サイドマージン部と前記第２サイドマージン部は、前記第１側面側又は前記第２側面側に位置する外側サイドマージン部と、前記外側サイドマージン部より前記内層部側に位置する内側サイドマージン部とを有し、
　前記積層体の前記積層方向と前記幅方向とに延びる断面において、外側サイドマージン部におけるカルシウムシリケートの含有量が、内側サイドマージン部におけるカルシウムシリケートの含有量より多く、
　前記内側サイドマージン部におけるＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量は、前記外側サイドマージン部におけるＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量より多く、
　前記第１外層部と第２外層部は、前記第１主面側又は前記第２主面側に位置する外側外層部と、前記外側外層部より前記内層部側に位置する内側外層部を有し、
　前記積層体の前記積層方向と前記幅方向とに延びる断面において、前記外側外層部におけるカルシウムシリケートの含有量が、前記内側外層部におけるカルシウムシリケートの含有量より多く、
　前記内側外層部におけるＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量は、前記外側外層部におけるＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量より多い、積層セラミックコンデンサである。

　本発明によれば、焼結性を確保しながら、緻密なセラミック層が形成され、高い耐湿信頼性を備えた積層セラミックコンデンサを提供することが可能となる。

本発明の積層セラミックコンデンサを示す外観模式図である。 本発明の積層セラミックコンデンサの積層体を示す外観模式図である。 本発明の積層セラミックコンデンサのIII－III線断面図である。 本発明の積層セラミックコンデンサのIV－IV線断面図である。 本発明の積層セラミックコンデンサのＶ－Ｖ線断面図である。 本発明の積層セラミックコンデンサの製造工程（第１の実施態様）を説明する図である。 本発明の積層セラミックコンデンサの製造工程（第１の実施態様）を説明する図である。 本発明の積層セラミックコンデンサの製造工程（第１の実施態様）を説明する図である。 本発明の積層セラミックコンデンサの製造工程（第１の実施態様）を説明する図である。 本発明の積層セラミックコンデンサの製造工程（第１の実施態様）を説明する図である。 本発明の積層セラミックコンデンサの製造工程（第２の実施態様）を説明する図である。 本発明の積層セラミックコンデンサの製造工程（第２の実施態様）を説明する図である。

　以下、本発明の実施形態について説明する。実施形態は、本発明の実施の形態を例示的に示したものであり、本発明が実施形態の内容に限定されることはない。また、異なる実施形態に記載された内容を組み合わせて実施することも可能であり、その場合の実施内容も本発明に含まれる。また、図面は、明細書の理解を助けるためのものであって、模式的に描画されている場合があり、描画された構成要素又は構成要素間の寸法の比率が、明細書に記載されたそれらの寸法の比率と一致していない場合がある。また、明細書に記載されている構成要素が、図面において省略されている場合や、個数を省略して描画されている場合などがある。

　図１は、本発明の積層セラミックコンデンサの一例を模式的に示す斜視図である。図２は、図１に示す積層セラミックコンデンサを構成する積層体の一例を模式的に示す斜視図である。図３は、図１に示す積層セラミックコンデンサのIII－III線断面図である。図４は、図１に示す積層セラミックコンデンサのIV－IV線断面図である。

　本明細書においては、積層セラミックコンデンサ及び積層体の積層方向、幅方向、長さ方向を、図１に示す積層セラミックコンデンサ１及び図２に示す積層体１０において、それぞれ矢印Ｔ、Ｗ、Ｌで定める方向とする。実施形態においては、積層（Ｔ）方向と幅（Ｗ）方向と長さ（Ｌ）方向とは互いに直交するが、必ずしも直交する関係になるとは限らず、互いに交差する関係であってもよい。積層（Ｔ）方向は、複数の誘電体層２０と複数の内部電極層２１とが積み上げられる方向である。

　図１に示す積層セラミックコンデンサ１は、積層体１０と、積層体１０の両端面に第１外部電極５１及び第２外部電極５２による一対の外部電極と、を備えている。

　図２に示すように、積層体１０は、直方体状又は略直方体状をなしており、積層（Ｔ）方向において相対する第１主面１１及び第２主面１２と、積層（Ｔ）方向に直交する幅（Ｗ）方向において相対する第１側面１３及び第２側面１４と、積層（Ｔ）方向及び幅（Ｗ）方向に直交する長さ（Ｌ）方向において相対する第１端面１５及び第２端面１６とを有している。

　本明細書においては、第１端面１５及び第２端面１６に直交し、かつ、積層（Ｔ）方向と平行な積層セラミックコンデンサ１又は積層体１０の断面を、長さ（Ｌ）方向及び積層（Ｔ）方向に延びる断面としてＬＴ断面という。また、第１側面１３及び第２側面１４に直交し、かつ、積層（Ｔ）方向と平行な積層セラミックコンデンサ１又は積層体１０の断面を、幅（Ｗ）方向及び積層（Ｔ）方向に延びる断面としてＷＴ断面という。また、第１側面１３、第２側面１４、第１端面１５及び第２端面１６に直交し、かつ、積層（Ｔ）方向に直交する積層セラミックコンデンサ１又は積層体１０の断面を、長さ（Ｌ）方向及び幅（Ｗ）方向に延びる断面としてＬＷ断面という。したがって、図３は、積層セラミックコンデンサ１のＬＴ断面であり、図４は、積層セラミックコンデンサ１のＷＴ断面である。

　積層体１０は、角部及び稜線部に丸みが付けられていることが好ましい。角部は、積層体の３面が交わる部分であり、稜線部は、積層体の２面が交わる部分である。

　図２、図３及び図４に示すように、積層体１０は、積層（Ｔ）方向に複数の誘電体層２０と複数の内部電極層２１が積層した積層構造を有している。
　内部電極層２１は、第１内部電極層２１ａと第２内部電極層２１ｂを含み、誘電体層２０は、第１内部電極層２１ａと第２内部電極層２１ｂの間に配置されている。

　図５は、図１に示す積層セラミックコンデンサのＶ－Ｖ線に沿って切断したＬＷ断面である。誘電体層２０は、幅（Ｗ）方向及び長さ（Ｌ）方向に沿って延びており、第１内部電極層２１ａ及び第２内部電極層２１ｂのそれぞれは、誘電体層２０に沿って平板状に延びている。

　第１内部電極層２１ａは、積層体１０の第１端面１５に引き出されている。一方、第２内部電極層２１ｂは、積層体１０の第２端面１６に引き出されている。

　第１内部電極層２１ａと第２内部電極層２１ｂとは、積層（Ｔ）方向において、誘電体層２０を介して対向している。第１内部電極層２１ａと第２内部電極層２１ｂとが誘電体層２０を介して対向している部分により、静電容量が発生する。

　第１内部電極層２１ａ及び第２内部電極層２１ｂのそれぞれは、Ｎｉ、Ｃｕ、Ａｇ、Ｐｄ、Ａｇ－Ｐｄ合金、Ａｕ等の金属を含むことが好ましい。第１内部電極層２１ａ及び第２内部電極層２１ｂのそれぞれは、上記金属に加えて、誘電体層２０と同じ誘電体セラミック材料を含んでもよい。

　誘電体層２０は、Ｃａ及びＺｒを含有するペロブスカイト型化合物を含む誘電体セラミックで形成される。このような誘電体セラミックは、ＣａＣＯ_３、ＳｒＣＯ_３、ＢａＣＯ_３、ＴｉＯ_２、ＺｒＯ_２などの粉末を混合し、仮焼成した後、粉砕して得た粉末を主成分のセラミック原料として用いることができる。主成分のセラミック原料には、ＳｉＯ_２、ＭｎＣＯ_３などを添加することができる。

　第１外部電極５１は、積層体１０の第１端面１５に設けられており、図１では、第１主面１１、第２主面１２、第１側面１３及び第２側面１４の各一部にまで回り込んだ部分を有している。第１外部電極５１は、第１端面１５において、第１内部電極層２１ａに接続されている。

　第２外部電極５２は、積層体１０の第２端面１６に設けられており、図１では、第１主面１１、第２主面１２、第１側面１３及び第２側面１４の各一部にまで回り込んだ部分を有している。第２外部電極５２は、第２端面１６において、第２内部電極層２１ｂに接続されている。

　第１外部電極５１及び第２外部電極５２は、例えば、下地電極層と、下地電極層上に配置されるめっき層と、により形成することができる。下地電極層は、金属成分とガラス成分を含む導電性ペーストを積層体１０の第１端面１５と第２端面１６上に塗布し、次いで焼き付けることにより形成される。導電性ペーストに含まれる金属成分としては、例えば、Ｃｕ、Ｎｉ、Ａｇ、Ｐｄ、及びＡｕなどの金属、又は、ＡｇとＰｄの合金などを用いることができる。導電性ペーストに含まれるガラス成分としては、Ｂ－Ｓｉ系ガラス、Ｂａ－Ｂ－Ｓｉ系ガラス、Ｂ－Ｓｉ－Ｚｎ系ガラス、Ｂ－Ｓｉ－Ｚｎ－Ｂａ系ガラス、Ｂ－Ｓｉ－Ｚｎ－Ｂａ－Ｃａ－Ａｌ系ガラス等を使用することができる。

　下地電極層上に配置されるめっき層は、例えば、Ｃｕ、Ｎｉ、Ａｇ、Ｐｄ、及びＡｕなどの金属、又は、ＡｇとＰｄの合金などのうちの少なくとも１つを含む。めっき層は、例えば、Ｎｉめっき層とＳｎめっき層の２層構造とすることができる。ただし、めっき層は、１層であってもよいし、複数層であってもよい。また、下地電極層とめっき層との間に、例えば、導電性粒子と熱硬化性樹脂とを含む樹脂電極層を配置してもよい。

　図２、図３及び図４に示すように、積層体１０は、誘電体層２０、第１内部電極層２１ａ及び第２内部電極層２１ｂが積層する内層部３０と、内層部３０を積層（Ｔ）方向から挟むように配置された一対の第１外層部３１及び第２外層部３２と、内層部３０と第１外層部３１及び第２外層部３２を幅（Ｗ）方向から挟むように配置された一対の第１サイドマージン部４１及び第２サイドマージン部４２とを備えている。

　図３及び図４において、内層部３０は、積層（Ｔ）方向に沿って、第１主面１１に最も近い第１内部電極層２１ａと、第２主面１２に最も近い第１内部電極層２１ａに挟まれた領域である。

　内層部３０を積層（Ｔ）方向から挟むように第１外層部３１及び第２外層部３２が設けられる。第１外層部３１は、積層体１０の第１主面１１側に位置し、第２外層部３２は、積層体１０の第２主面１２側に位置している。また、内層部３０は第１内部電極層２１ａと第２内部電極層２１ｂが互いに対向している領域とする。

　第１外層部３１は、積層（Ｔ）方向に積層された２層構造とすることができ、第１主面１１側に位置する外側外層部３１ｏと外側外層部３１ｏより内層部３０側に位置する内側外層部３１ｉにより構成することができる。
　第２外層部３２は、積層（Ｔ）方向に積層された２層構造とすることができ、第２主面１２側に位置する外側外層部３２ｏと外側外層部３２ｏより内層部３０側に位置する内側外層部３２ｉにより構成することができる。
　第１外層部３１を構成する、外側外層部３１ｏと内側外層部３１ｉの積層（Ｔ）方向の厚みは略同一としてもよいし、外側外層部３１ｏと内側外層部３１ｉの積層（Ｔ）方向の厚みは異なっていてもよい。
　第２外層部３２を構成する、外側外層部３２ｏと内側外層部３２ｉの積層（Ｔ）方向の厚みは略同一としてもよいし、外側外層部３２ｏと内側外層部３２ｉの積層（Ｔ）方向の厚みは異なっていてもよい。

　また、外側外層部３１ｏの積層方向の厚みは、内側外層部３１ｉの厚みよりも大きいことが好ましい。具体的には、外側外層部３１ｏの積層（Ｔ）方向の厚みは、１０μｍ以上３０μｍ以下であることが好ましい。
　外側外層部３１ｏの積層（Ｔ）方向の厚みが１０μｍより小さい場合、外側外層部３１ｏに十分なカルシウムシリケートが含有されていない場合がある。
　外側外層部３１ｏに十分なカルシウムシリケートが含有されていない場合、外側外層部３１ｏ内に結晶が少なく形成される場合がある。
　外側外層部３１ｏ内に結晶が少なく形成される場合、外側外層部３１ｏ内に含まれる結晶の含有面積が小さくなり、外側外層部３１ｏ内において、焼結助剤の含有面積が大きくなる。つまり、外側外層部３１ｏ内の焼結助剤の含有量が多くなる。
　そもそも、焼結助剤は水分等に対して弱い性質を持っているため、外側外層部３１ｏ内の焼結助剤の含有量が多くなると、外側外層部３１ｏは外部から水分等が浸入してしまう可能性がある。
　その結果、外側外層部３１ｏは、外部から水分等が浸入することがあり、外側外層部３１ｏを伝い水分等が、内層部３０に浸入すると、ショートが発生するため、積層セラミックコンデンサ１の耐湿信頼性が低下してしまう場合がある。
　外側外層部３１ｏの積層（Ｔ）方向の厚みが３０μｍより大きい場合、外側外層部３１ｏに多くのカルシウムシリケートが含有されている場合がある。
　外側外層部３１ｏに多くのカルシウムシリケートが含有されている場合、外側外層部３１ｏ内に結晶が多く形成される場合がある。外側外層部３１ｏ内に結晶が多く形成される場合、外側外層部３１ｏ内に含まれる結晶の含有面積が大きくなり、外側外層部３１ｏ内において、焼結助剤の含有面積が小さくなる。つまり、外側外層部３１ｏ内の焼結助剤の含有量が少なくなる。
　外側外層部３１ｏ内の焼結助剤は、積層体１０の焼成時に外側外層部３１ｏの焼結性を向上させる機能をもっているが、外側外層部３１ｏ内の焼結助剤の含有量が少なくなると、外側外層部３１ｏが十分に焼結されないため、外側外層部３１ｏの焼結性を確保できない可能性がある。
　そのため、外側外層部３１ｏは、焼成時の熱による影響を受けにくい外側外層部３１ｏの内層部３０に近い領域の焼結が不十分となり、外側外層部３１ｏの内層部３０に近い領域にポアが残存しやすく、外側外層部３１ｏの内層部３０に近い領域のポアに、外部から水分等が浸入することがある。
　その結果、外側外層部３１ｏの内層部３０に近い領域のポアを伝い、内層部３０に水分等が浸入するとショートが発生するため、積層セラミックコンデンサ１の耐湿信頼性を確保できない場合がある。

　また、内側外層部３１ｉの積層（Ｔ）方向の厚みは、５μｍ以上２０μｍ以下であることが好ましい。
　内側外層部３１ｉの積層（Ｔ）方向の厚みが５μｍより小さい場合、内側外層部３１ｉに十分なカルシウムシリケートが含有されていない場合がある。
　内側外層部３１ｉに十分なカルシウムシリケートが含有されていない場合、内側外層部３１ｉ内に結晶が少なく形成される場合がある。
　内側外層部３１ｉ内に結晶が少なく形成される場合、内側外層部３１ｉ内に含まれる結晶の含有面積が小さくなり、内側外層部３１ｉ内において、焼結助剤の含有面積が大きくなる。つまり、内側外層部３１ｉ内の焼結助剤の含有量が多くなる。
　そもそも、焼結助剤は水分等に対して弱い性質を持っているため、外側外層部３１ｉ内の焼結助剤の含有量が多くなると、内側外層部３１ｉは外部から水分等が浸入してしまう可能性がある。
　その結果、内側外層部３１ｉは、外部から水分等が浸入することがあり、内側外層部３１ｉを伝い水分等が、内層部３０に浸入すると、ショートが発生するため、積層セラミックコンデンサ１の耐湿信頼性が低下してしまう場合がある。
　内側外層部３１ｉの積層（Ｔ）方向の厚みが２０μｍより大きい場合、外側外層部３１ｉに多くのカルシウムシリケートが含有されている場合がある。
　内側外層部３１ｉに多くのカルシウムシリケートが含有されている場合、内側外層部３１ｉ内に結晶が多く形成される場合がある。内側外層部３１ｉ内に結晶が多く形成される場合、内側外層部３１ｉ内に含まれる結晶の含有面積が大きくなり、内側外層部３１ｉ内において、焼結助剤の含有面積が小さくなる。つまり、内側外層部３１ｉ内の焼結助剤の含有量が少なくなる。
　内側外層部３１ｉ内の焼結助剤は、積層体１０の焼成時に内側外層部３１ｉの焼結性を向上させる機能をもっているが、内側外層部３１ｉ内の焼結助剤の含有量が少なくなると、内側外層部３１ｉが十分に焼結されないため、内側外層部３１ｉの焼結性を確保できない可能性がある。
　そのため、内側外層部３１ｉは、焼成時の熱による影響を受けにくい内側外層部３１ｉの内層部３０に近い領域の焼結が不十分となり、内側外層部３１ｉの内層部３０に近い領域にポアが残存しやすく、内側外層部３１ｉの内層部３０に近い領域のポアに、外部から水分等が浸入することがある。
　その結果、内側外層部３１ｉの内層部３０に近い領域のポアを伝い、内層部３０に水分等が浸入するとショートが発生するため、積層セラミックコンデンサ１の耐湿信頼性を確保できない場合がある。

　このように外側外層部３１ｏの積層（Ｔ）方向の厚みを１０μｍ以上３０μｍ以下、に調整することによって、外側外層部３１ｏの積層（Ｔ）方向の厚みは、内側外層部３１ｉの積層（Ｔ）方向の厚みより厚いため、外側外層部３１ｏに含有されるカルシウムシリケートを内側外層部３１ｉより多く含有することが可能となる。
　そのため、外側外層部３１ｏ内に形成される結晶と、焼結助剤の含有量のバランスを確保することが可能となる。外側外層部３１ｏは、外側外層部３１ｏ内に形成される結晶と、焼結助剤の含有量のバランスを確保することで、外側外層部３１ｏの緻密性と焼結性を確保することが可能となる。
　その結果、外側外層部３１ｏの焼結性を確保しながら、緻密な外側外層部３１ｏを形成することが可能となるため、外側外層部３１ｏは、外部から水分等が浸入する可能性が低くなり、高い耐湿信頼性を備えた積層セラミックコンデンサ１を実現することできる。

　同様に、内側外層部３１ｉの積層（Ｔ）方向の厚みが５μｍ以上２０μｍ以下に調整することによって、内側外層部３１ｉの積層（Ｔ）方向の厚みは外側外層部３１ｏの積層（Ｔ）方向の厚みより薄いため、内側外層部３１ｉに含有されているカルシウムシリケートを外側外層部３１ｏより少なく含有することが可能となる。
　そのため、内側外層部３１ｉ内に形成される結晶と、焼結助剤の含有量のバランスを確保することが可能となる。内側外層部３１ｉは、内側外層部３１ｉ内に形成される結晶と、焼結助剤の含有量のバランスを確保することで、内側外層部３１ｉの緻密性と焼結性を確保することが可能となる。
　内側外層部３１ｉの焼結性を確保することができると、内層部３０に近い領域にポアが残存する可能性が低い。
　その結果、内側外層部３１ｉの内層部３０に近い領域にポアが残存しにくいため、外部から水分等が浸入する可能性が低くなり、焼結性を確保しながら、緻密な内側外層部３１ｉを形成することができ、高い耐湿信頼性を備えた積層セラミックコンデンサ１を実現することができる。
　なお、焼成後の第１外層部３１の厚みは、１５μｍ以上４０μｍ以下であることが好ましい。

　同様に、第２外層部３２は、積層（Ｔ）方向に積層された２層構造とすることができ、第２主面１２側に位置する外側外層部３２ｏと外側外層部３２ｏより内層部３０側に位置する内側外層部３２ｉにより構成することができる。
　第２外層部３２は、積層（Ｔ）方向に積層された２層構造とすることができ、第２主面１２側に位置する外側外層部３２ｏと外側外層部３２ｏより内層部３０側に位置する内側外層部３２ｉにより構成することができる。
　第１外層部３２を構成する、外側外層部３２ｏと内側外層部３２ｉの積層（Ｔ）方向の厚みは略同一としてもよいし、外側外層部３２ｏと内側外層部３２ｉの積層（Ｔ）方向の厚みは異なっていてもよい。
　第２外層部３２を構成する、外側外層部３２ｏと内側外層部３２ｉの積層（Ｔ）方向の厚みは略同一としてもよいし、外側外層部３２ｏと内側外層部３２ｉの積層（Ｔ）方向の厚みは異なっていてもよい。

　また、外側外層部３２ｏの積層方向の厚みは、内側外層部３２ｉの厚みよりも大きいことが好ましい。具体的には、外側外層部３２ｏの積層（Ｔ）方向の厚みは、１０μｍ以上３０μｍ以下であることが好ましい。
　外側外層部３２ｏの積層（Ｔ）方向の厚みが１０μｍより小さい場合、外側外層部３２ｏに十分なカルシウムシリケートが含有されていない場合がある。
　外側外層部３２ｏに十分なカルシウムシリケートが含有されていない場合、外側外層部３２ｏ内に結晶が少なく形成される場合がある。
　外側外層部３２ｏ内に結晶が少なく形成される場合、外側外層部３２ｏ内に含まれる結晶の含有面積が小さくなり、外側外層部３２ｏ内において、焼結助剤の含有面積が大きくなる。つまり、外側外層部３２ｏ内の焼結助剤の含有量が多くなる。
　そもそも、焼結助剤は水分等に対して弱い性質を持っているため、外側外層部３２ｏ内の焼結助剤の含有量が多くなると、外側外層部３２ｏは外部から水分等が浸入してしまう可能性がある。
　そのため、外側外層部３２ｏを伝い水分等が、内層部３０に浸入すると、ショートが発生する。
　その結果、積層セラミックコンデンサ１の耐湿信頼性が低下してしまう場合がある。
　外側外層部３２ｏの積層（Ｔ）方向の厚みが３０μｍより大きい場合、外側外層部３２ｏに多くのカルシウムシリケートが含有されている場合がある。
　外側外層部３２ｏに多くのカルシウムシリケートが含有されている場合、外側外層部３２ｏ内に結晶が多く形成される場合がある。外側外層部３２ｏ内に結晶が多く形成される場合、外側外層部３２ｏ内に含まれる結晶の含有面積が大きくなり、外側外層部３２ｏ内において、焼結助剤の含有面積が小さくなる。つまり、外側外層部３２ｏ内の焼結助剤の含有量が少なくなる。
　外側外層部３２ｏ内の焼結助剤は、積層体１０の焼成時に外側外層部３２ｏの焼結性を向上させる機能をもっているが、外側外層部３２ｏ内の焼結助剤の含有量が少なくなると、外側外層部３２ｏが十分に焼結されないため、外側外層部３２ｏの焼結性を確保できない可能性がある。

　そのため、外側外層部３２ｏは、焼成時の熱による影響を受けにくい外側外層部３２ｏの内層部３０に近い領域の焼結が不十分となり、外側外層部３２ｏの内層部３０に近い領域にポアが残存しやすく、外側外層部３２ｏの内層部３０に近い領域のポアに、外部から水分等が浸入することがある。
　その結果、外側外層部３２ｏの内層部３０に近い領域のポアを伝い、内層部３０に水分等が浸入するとショートが発生するため、積層セラミックコンデンサ１の耐湿信頼性を確保できない場合がある

　また、内側外層部３２ｉの積層（Ｔ）方向の厚みは、５μｍ以上２０μｍ以下であることが好ましい。
　内側外層部３２ｉの積層（Ｔ）方向の厚みが５μｍより小さい場合、内側外層部３２ｉに十分なカルシウムシリケートが含有されていない場合がある。
　内側外層部３２ｉに十分なカルシウムシリケートが含有されていない場合、内側外層部３２ｉ内に結晶が少なく形成される場合がある。
　内側外層部３２ｉ内に結晶が少なく形成される場合、内側外層部３２ｉ内に含まれる結晶の含有面積が小さくなり、内側外層部３２ｉ内において、焼結助剤の含有面積が大きくなる。つまり、内側外層部３２ｉ内の焼結助剤の含有量が多くなる。
　そもそも、焼結助剤は水分等に対して弱い性質を持っているため、内側外層部３２ｉ内の焼結助剤の含有量が多くなると、内側外層部３２ｉは外部から水分等が浸入してしまう可能性がある。
　そのため、内側外層部３２ｉは、外部から水分等が浸入することがあり、内側外層部３２ｉを伝い水分等が、内層部３０に浸入すると、ショートが発生する。
　その結果、積層セラミックコンデンサ１の耐湿信頼性が低下してしまう場合がある。
　内側外層部３２ｉの積層（Ｔ）方向の厚みが２０μｍより大きい場合、外側外層部３２ｉに多くのカルシウムシリケートが含有されている場合がある。
　内側外層部３２ｉに多くのカルシウムシリケートが含有されている場合、内側外層部３２ｉ内に結晶が多く形成される場合がある。内側外層部３２ｉ内に結晶が多く形成される場合、内側外層部３２ｉ内に含まれる結晶の含有面積が大きくなり、内側外層部３２ｉ内において、焼結助剤の含有面積が小さくなる。つまり、内側外層部３２ｉ内の焼結助剤の含有量が少なくなる。
　内側外層部３２ｉ内の焼結助剤は、積層体１０の焼成時に内側外層部３２ｉの焼結性を向上させる機能をもっているが、内側外層部３２ｉ内の焼結助剤の含有量が少なくなると、内側外層部３２ｉが十分に焼結されないため、内側外層部３２ｉの焼結性を確保できない可能性がある。
　そのため、内側外層部３２ｉは、焼成時の熱による影響を受けにくい内側外層部３２ｉの内層部３０に近い領域の焼結が不十分となり、内側外層部３２ｉの内層部３０に近い領域にポアが残存しやすく、内側外層部３２ｉの内層部３０に近い領域のポアに、外部から水分等が浸入することがある。
　その結果、内側外層部３２ｉの内層部３０に近い領域のポアを伝い、内層部３０に水分等が浸入するとショートが発生するため、積層セラミックコンデンサ１の耐湿信頼性を確保できない場合がある。

　このように外側外層部３２ｏの積層（Ｔ）方向の厚みを１０μｍ以上３０μｍ以下、に調整することによって、外側外層部３２ｏの積層（Ｔ）方向の厚みは、内側外層部３２ｉの積層（Ｔ）方向の厚みより厚いため、外側外層部３２ｏに含有されるカルシウムシリケートを内側外層部３２ｉより多く含有することが可能となる。
　そのため、外側外層部３２ｏ内に形成される結晶と、焼結助剤の含有量のバランスを確保することが可能となる。外側外層部３２ｏは、外側外層部３２ｏ内に形成される結晶と、焼結助剤の含有量のバランスを確保することで、外側外層部３２ｏの緻密性と焼結性を確保することが可能となる。
　その結果、外側外層部３２ｏの焼結性を確保しながら、緻密な外側外層部３２ｏを形成することが可能となるため、外側外層部３２ｏは、外部から水分等が浸入する可能性が低くなり、高い耐湿信頼性を備えた積層セラミックコンデンサ１を実現することできる。

　同様に、内側外層部３２ｉの積層（Ｔ）方向の厚みが５μｍ以上２０μｍ以下に調整することによって、内側外層部３２ｉの積層（Ｔ）方向の厚みは外側外層部３２ｏの積層（Ｔ）方向の厚みより薄いため、内側外層部３２ｉに含有されているカルシウムシリケートが外側外層部３２ｏより少なく含有することが可能となる。
　そのため、内側外層部３２ｉ内に形成される結晶と、焼結助剤の含有量のバランスを確保することが可能となる。内側外層部３２ｉは、内側外層部３２ｉ内に形成される結晶と、焼結助剤の含有量のバランスを確保することで、内側外層部３２ｉの緻密性と焼結性を確保することが可能となる。
　内側外層部３２ｉの焼結性を確保することができると、内層部３０に近い領域にポアが残存する可能性が低い。
　その結果、内側外層部３２ｉの内層部３０に近い領域にポアが残存しにくいため、外部から水分等が浸入する可能性が低くなり、焼結性を確保しながら、緻密な内側外層部３２ｉを形成することができ、高い耐湿信頼性を備えた積層セラミックコンデンサ１を実現することができる。
　なお、焼成後の第２外層部３２の厚みは、１５μｍ以上４０μｍ以下であることが好ましい。

　第１外層部３１と第２外層部３２を形成する誘電体層は、Ｃａ及びＺｒを含有するペロブスカイト型化合物を含む誘電体セラミックで形成される。このような誘電体セラミックは、ＣａＣＯ_３、ＳｒＣＯ_３、ＢａＣＯ_３、ＴｉＯ_２、ＺｒＯ_２などの粉末を混合し、仮焼成した後、粉砕して得た粉末を主成分のセラミック原料として用いることができる。主成分のセラミック原料には、焼結助剤として、Ｃａ、Ｍｎ、Ｓｉ、ＳｉＯ_２、ＭｎＣＯ_３などを添加することができるが、これに限定されない。

　積層体１０の第１主面１１側又は第２主面１２側に位置する外側外層部３１ｏ、外側外層部３２ｏにおけるカルシウムシリケートの含有量は、内層部３０側に位置する内側外層部３１ｉ、内側外層部３２ｉにおけるカルシウムシリケートの含有量より多い。
　外側外層部３２ｉ、外側外層部３２ｏの積層（Ｔ）方向の厚みは、内側外層部３１ｉ、内側外層部３２ｉの積層（Ｔ）方向の厚みより厚いため、カルシウムシリケートが内側外層部３１ｉ、内側外層部３２ｉより多く含有されやすい。
　そのため、外側外層部３１ｏ内、外側外層部３２ｏ内に形成される結晶と、焼結助剤の含有量のバランスを確保することが可能となる。
　その結果、外側外層部３２ｏの焼結性を確保しながら、緻密な外側外層部３２ｏを形成することが可能となるため、高い耐湿信頼性を備えた積層セラミックコンデンサ１を実現できる。

　また、内側外層部３１ｉ、内側外層部３２ｉの積層（Ｔ）方向の厚みは、外側外層部３１ｏ、外側外層部３２ｏの積層（Ｔ）方向の厚みより薄いため、カルシウムシリケートが外側外層部３１ｏ、外側外層部３２ｏより少なく含有されやすい。
　そのため、内側外層部３１ｉ、内側外層部３２ｉは、内側外層部３１ｉ内、内側外層部３２ｉ内に形成される結晶と、焼結助剤の含有量のバランスを確保することが可能となり、外側外層部３１ｏ、外側外層部３２ｏよりも焼結性を確保することで、内層部３０に近い領域にポアが残存しにくい。
　その結果、焼結性を確保しながら、緻密な外側外層部３１ｏ、外側外層部３２ｏ、内側外層部３１ｉ、内側外層部３２ｉが形成され、内層部３０に近い領域のポアに外部から水分等が浸入しにくいため、高い耐湿信頼性を備えた積層セラミックコンデンサ１を実現できる。

　また、積層体１０の第１主面１１側又は第２主面１２側に位置する外側外層部３１ｏ、外側外層部３２ｏにおけるカルシウムシリケートの含有量は、内層部３０側に位置する内側外層部３１ｉ、内側外層部３２ｉにおけるカルシウムシリケートの含有量に対して５Ａｔｏｍ％以上３０Ａｔｏｍ％以下含有されていることがより好ましい。
　外側外層部３１ｏと外側外層部３２ｏが、内層部３０側に位置する内側外層部３１ｉ、内側外層部３２ｉにおけるカルシウムシリケートの含有量に対して５Ａｔｏｍ％より少なく含有されている場合、外側外層部３１ｏと外側外層部３２ｏに十分なカルシウムシリケートが含有されていない場合がある。
　外側外層部３１ｏ、外側外層部３２ｏに十分なカルシウムシリケートが含有されていない場合、外側外層部３１ｏ内、外側外層部３２ｏ内に結晶が少なく形成される場合がある。
　外側外層部３１ｏ内、外側外層部３２ｏ内に結晶が少なく形成される場合、外側外層部３１ｏ内、外側外層部３２ｏ内に含まれる結晶の含有面積が小さくなり、外側外層部３１ｏ内、外側外層部３２ｏ内において、焼結助剤の含有面積が大きくなる。つまり、外側外層部３１ｏ内、外側外層部３２ｏ内の焼結助剤の含有量が多くなる。
　そもそも、焼結助剤は水分等に対して弱い性質を持っているため、外側外層部３１ｏ内、外側外層部３２ｏ内の焼結助剤の含有量が多くなると、外側外層部３１ｏ、外側外層部３２ｏは外部から水分等が浸入してしまう可能性がある。
　そのため、外側外層部３１ｏ、外側外層部３２ｏは、外部から水分等が浸入することがあり、外側外層部３１ｏ、外側外層部３２ｏを伝い水分等が、内層部３０に浸入すると、ショートが発生する。
　その結果、積層セラミックコンデンサ１の耐湿信頼性が低下してしまう場合がある。
　外側外層部３１ｏと外側外層部３２ｏが、内層部３０側に位置する内側外層部３１ｉ、内側外層部３２ｉにおけるカルシウムシリケートの含有量に対して３０Ａｔｏｍ％より多く含有されている場合、外側外層部３１ｏ、外側外層部３２ｏに多くのカルシウムシリケートが含有されている場合がある。
　外側外層部３１ｏ、外側外層部３２ｏに多くのカルシウムシリケートが含有されている場合、外側外層部３１ｏ内、外側外層部３２ｏに結晶が多く形成される場合がある。外側外層部３１ｏ内、外側外層部３２ｏ内に結晶が多く形成される場合、外側外層部３１ｏ内、外側外層部３２ｏ内に含まれる結晶の含有面積が大きくなり、外側外層部３１ｏ内、外側外層部３２ｏ内において、焼結助剤の含有面積が小さくなる。つまり、外側外層部３１ｏ内、外側外層部３２ｏ内の焼結助剤の含有量が少なくなる。
　外側外層部３１ｏ内、外側外層部３２ｏ内の焼結助剤の含有量が少なくなると、外側外層部３１ｏ、外側外層部３２ｏが十分に焼結されないため、外側外層部３１ｏ、外側外層部３２ｏの焼結性を確保できない可能性がある。
　そのため、外側外層部３１ｏ、外側外層部３２ｏの内層部３０に近い領域にポアが残存しやすく、外側外層部３１ｏ、外側外層部３２ｏの内層部３０に近い領域のポアに、外部から水分等が浸入することがある。
　その結果、外側外層部３１ｏ、外側外層部３２ｏの内層部３０に近い領域のポアを伝い、内層部３０に水分等が浸入するとショートが発生するため、積層セラミックコンデンサ１の耐湿信頼性を確保できない場合がある。

　このように、内側外層部３１ｉ、内側外層部３２ｉの積層（Ｔ）方向の厚みは、外側外層部３１ｏ、外側外層部３２ｏの積層（Ｔ）方向の厚みより薄いため、カルシウムシリケートが外側外層部３１ｏ、外側外層部３２ｏより少なく含有されやすい。
　そのため、内側外層部３１ｉ、内側外層部３２ｉは、内側外層部３１ｉ内、内側外層部３２ｉ内に形成される結晶と、焼結助剤の含有量のバランスを確保しつつ、外側外層部３１ｏ、外側外層部３２ｏよりも焼結性を確保することで、内層部３０に近い領域にポアが残存しにくい。
　その結果、焼結性を確保しながら、緻密なセラミック層が形成され、内層部３０に近い領域のポアに外部から水分等が浸入しにくいため、ショートが発生しにくく、高い耐湿信頼性を備えた積層セラミックコンデンサ１を実現できる。

　第１外層部３１と第２外層部３２における２層構造は、焼結性の違いから暗視野で光学顕微鏡を用いて観察することにより、層間の界面を確認することも可能ではあるが、焼結の条件によっては、外側外層部３１ｏと内側外層部３１ｉ、あるいは、外側外層部３２ｏと内側外層部３２ｉは、焼成後に一体となり境界面の認識が難しい場合がある。また、積層（Ｔ）方向においてカルシウムシリケートの含有量を調整することができれば、必ずしも第１外層部３１と第２外層部３２をそれぞれ２層構造にする必要はない。すなわち、製造後の積層セラミックコンデンサ１を対象とし、積層体１０の積層（Ｔ）方向と幅（Ｗ）方向とに延びるＷＴ断面において、外側外層部３１ｏにおけるカルシウムシリケートの含有量が、内側外層部３１ｉにおけるカルシウムシリケートの含有量より多く、また、第２主面１２側に位置する外側外層部３２ｏにおけるカルシウムシリケートの含有量が、内層部３０側に位置する内側外層部３２ｉにおけるカルシウムシリケートの含有量より多い。
　外側外層部３１ｏ、外側外層部３２ｏの積層（Ｔ）方向の厚みは、内側外層部３１ｉ、内側外層部３２ｉの積層（Ｔ）方向の厚みより厚いため、カルシウムシリケートが内側外層部３１ｉ、内側外層部３２ｉより多く含有されやすい。
　そのため、外側外層部３１ｏ内、外側外層部３２ｏ内に形成される結晶と、焼結助剤の含有量のバランスがとれ、より緻密な外側外層部３１ｏ、外側外層部３２ｏが形成されやすい。
　その結果、焼結性を確保しながら、緻密な外側外層部３１ｏ、外側外層部３２ｏが形成され、ショートが発生しにくい、高い耐湿信頼性を備えた積層セラミックコンデンサ１を実現できる。
　また、内側外層部３１ｉ、内側外層部３２ｉの積層（Ｔ）方向の厚みは、外側外層部３１ｏ、外側外層部３２ｏの積層（Ｔ）方向の厚みより薄いため、カルシウムシリケートが外側外層部３１ｏ、外側外層部３２ｏより少なく含有されやすい。
　そのため、内側外層部３１ｉ、内側外層部３２ｉは、内側外層部３１ｉ内、内側外層部３２ｉ内に形成される結晶と、焼結助剤の含有量のバランスを確保しつつ、外側外層部３１ｏ、外側外層部３２ｏよりも焼結性を確保することで、内層部３０に近い領域にポアが残存しにくい。
　その結果、焼結性を確保しながら、緻密な内側外層部３１ｉ、内側外層部３２ｉが形成され、内層部３０に近い領域のポアに外部から水分等が浸入しにくいため、ショートが発生しにくく、高い耐湿信頼性を備えた積層セラミックコンデンサ１を実現できる。

　また、第１主面１１側に位置する外側外層部３１ｏにおけるカルシウムシリケートの含有量が、内層部３０側に位置する内側外層部３１ｉにおけるカルシウムシリケートの含有量に対して５Ａｔｏｍ％以上３０Ａｔｏｍ％以下含有されていることが好ましい。
　このように、第１外層部３１の積層（Ｔ）方向においてカルシウムシリケートの含有量を調整することにより、カルシウムシリケートが内側外層部３１ｉより多く含有されやすい。
　そのため、外側外層部３１ｏ内に形成される結晶と、焼結助剤の含有量のバランスがとれ、より緻密な外側外層部３１ｏが形成されやすい。
　その結果、焼結性を確保しながら、より緻密な外側外層部３１ｏが形成され、ショートが発生しにくく、より高い耐湿信頼性を備えた積層セラミックコンデンサ１を実現できる。

　また、第２主面１２側に位置する外側外層部３２ｏにおけるカルシウムシリケートの含有量が、内層部３０側に位置する内側外層部３２ｉにおけるカルシウムシリケートの含有量に対して５Ａｔｏｍ％以上３０Ａｔｏｍ％以下含有されていることが好ましい。
　このように、第１外層部３２の積層（Ｔ）方向においてカルシウムシリケートの含有量を調整することにより、カルシウムシリケートが内側外層部３２ｉより多く含有されやすい。
　そのため、外側外層部３２ｏ内に形成される結晶と、焼結助剤の含有量のバランスがとれ、より緻密な外側外層部３２ｏが形成されやすい。
　その結果、焼結性を確保しながら、より緻密な外側外層部３２ｏが形成され、ショートが発生しにくく、より高い耐湿信頼性を備えた積層セラミックコンデンサ１を実現できる。

（内側外層部３１ｉ、内側外層部３２ｉと外側外層部３１ｏ、外側外層部３２ｏの積層（Ｔ）方向の厚みの測定方法）
　内側外層部３１ｉ、内側外層部３２ｉと外側外層部３１ｏ、外側外層部３２ｏそれぞれの積層（Ｔ）方向の厚みは、波長分散型Ｘ線分析装置（以後、ＷＤＸと呼ぶ）の結果から確認することができる。
　内側外層部３１ｉおよび内側外層部３２ｉ、外側外層部３１ｏおよび外側外層部３２ｏの積層（Ｔ方向）の厚みは、積層（Ｔ）方向に沿って第１外層部３１および第２外層部３２の複数個所で測定したときの平均値を意味する。
　具体的には、まず、積層セラミックコンデンサの第１の側面又は第２の側面から、積層セラミックコンデンサの幅方向中央部まで断面研磨を行い、ＬＴ断面を露出させる。
　そして、第１外層部３１および第２外層部３２を、ＷＤＸにより観察する。
　このときの観察条件として、倍率１０００倍、加速電圧５ｋＶで観察し、第１外層部３１、第２外層部３２の左端部、右端部および中央部の３か所を、視野５０μｍ×５０μｍで撮像する。
　上記観察条件に基づき撮像し、ＷＤＸによる元素マッピング分析した画像の結果から、外側外層部３１ｏの積層（Ｔ）方向の厚みは、第１外層部３１、第２外層部３２の長さ（Ｌ）方向において、左端部、右端部および中央部それぞれの第１主面１１側および第２主面１２側から、内層部３０に向かってカルシウムシリケートが最も多く含有されている箇所を、元素マッピング分析した画像データ内の縮尺により測定し、平均値を算出することで、外側外層部３１ｏの積層（Ｔ）方向の厚みを得られる。
　外側外層部３２ｏの積層（Ｔ）方向の厚みも同様の測定方法で得られる。
　内側外層部３１ｉの積層（Ｔ）方向の厚みは、外側外層部３１ｏの積層（Ｔ）方向の厚みの内層部３０に最も近い部分から内層部３０までの距離を、元素マッピング分析した画像データ内の縮尺により測定し、平均値を算出することで、内側外層部３１ｉの積層（Ｔ）方向の厚みを得られる。
　内側外層部３２ｉの積層（Ｔ）方向の厚みも同様の測定方法で得られる。

（カルシウムシリケートの具体的な測定方法）
　積層体１０の内層部３０側に位置する内側外層部３１ｉ、内側外層部３２ｉにおけるカルシウムシリケートの含有量と、第１主面１１側又は第２主面１２側に位置する外側外層部３１ｏ、外側外層部３２ｏにおけるカルシウムシリケートの含有量は、ＷＤＸにより元素マッピング分析した画像の結果から、確認することができる。
　内側外層部３１ｉおよび内側外層部３２ｉ、外側外層部３１ｏおよび外側外層部３２ｏのカルシウムシリケートの含有量は、積層（Ｔ）方向に沿って内側外層部３１ｉ、内側外層部３２ｉの複数個所で測定したとき、外側外層部３１ｏ、外側外層部３２ｏの複数個所で測定したときの平均値を意味する。
　具体的には、まず、積層セラミックコンデンサの第１の側面又は第２の側面から、積層セラミックコンデンサの幅方向中央部まで断面研磨を行い、ＬＴ断面を露出させる。
　そして、研磨された内側外層部３１ｉ、内側外層部３２ｉ、外側外層部３１ｏ、外側外層部３２ｏを、ＷＤＸにより観察する。
　このときの観察条件として、倍率３０００倍、加速電圧１５ｋＶで観察し、内側外層部３１ｉ、内側外層部３２ｉおよび外側外層部３１ｏ、外側外層部３２ｏの左端部、右端部および中央部の3か所を、視野５０μｍ×５０μｍで撮像する。
　上記観察条件に基づき撮像し、ＷＤＸによる元素マッピング分析した画像の結果から、内側外層部３１ｉと内側外層部３２ｉのカルシウムシリケートの含有量は、内側外層部３１ｉ、内側外層部３２ｉの左端部、右端部および中央部のカルシウムシリケートの含有量を測定し、平均値を算出することで得られる。
　外側外層部３１ｏ、外側外層部３２ｏのカルシウムシリケートの含有量は、外側外層部３１ｏ、外側外層部３２ｏの左端部、右端部および中央部のカルシウムシリケートの含有量を測定し、平均値を算出することで得られる。

　同様に、製造後の積層セラミックコンデンサ１を対象とし、積層体１０の積層（Ｔ）方向と幅（Ｗ）方向とに延びるＷＴ断面において、内層部３０側に位置する内側外層部３１ｉにおけるＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量が、第１主面１１側に位置する外側外層部３１ｏにおけるＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量より多い。
　Ｃａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物は焼成時に焼結助剤として機能し、内側外層部３１ｉと内側外層部３２ｉの焼結性を確保できる。そのため、緻密な内側サイドマージン部４１ｉと内側サイドマージン部４２ｉを形成しやすい。その結果、外部から水分等が内側外層部３１ｉに浸入しにくいため、高い耐湿信頼性を備えた積層セラミックコンデンサ１の耐湿信頼性を実現できる。

　また、内層部３０側に位置する内側外層部３１ｉにおけるＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量が、第１主面１１側に位置する外側外層部３１ｏにおけるＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量に対して、２Ａｔｏｍ％以上１０Ａｔｏｍ％以下含有されていることが好ましい。
　内側外層部３１ｉにおけるＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量は、第１主面１１側に位置する外側外層部３１ｏにおけるＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量に対して２Ａｔｏｍ％より少なく含有されている場合、Ｃａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物が十分に含有されていない場合がある。
　Ｃａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物が十分に含有されていない場合、内側外層部３１ｉに結晶が多く形成されている場合がある。
　内側外層部３１ｉに結晶が多く形成されている場合、内側外層部３１ｉ内に含まれる結晶の含有面積が大きくなり、内側外層部３１ｉ内において、Ｃａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有面積が小さくなる。つまり、内側外層部３１ｉ内のＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量が少なくなる。そもそも、Ｃａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物は、内側外層部３１ｉの焼結助剤として機能するが、内側外層部３１ｉ内のＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量が少なくなると、内側外層部３１ｉが十分に焼結されないため、内側外層部３１ｉの焼結性を確保できない可能性がある。
　内側外層部３１ｉの焼結性を確保できないと、内側外層部３１ｉの内層部３０に近い領域にポアが残存しやすく、内側外層部３１ｉの内層部３０に近い領域のポアに、外部から水分等が浸入することがある。
　その結果、内側外層部３１ｉの内層部３０に近い領域のポアに、外部から水分等が浸入すると、ショートが発生し、積層セラミックコンデンサ１の耐湿信頼性を確保できない場合がある。
　内側外層部３１ｉにおけるＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量は、第１主面１１側に位置する外側外層部３１ｏにおけるＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量に対して１０Ａｔｏｍ％より多く含有されている場合、内側外層部３１ｉ内に含まれるＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有面積が大きくなり、内側外層部３１ｉ内において、結晶の含有面積が小さくなる。つまり、内側外層部３１ｉ内のＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量が多くなる。
　内側外層部３１ｉ内のＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量が多くなると、内側外層部３１ｉと外側外層部３１ｏで焼結時の収縮挙動の差が生じる場合がある。
　そのため、内側外層部３１ｉと外側外層部３１ｏで焼結時の収縮挙動の差により、内側外層部３１ｉと外側外層部３１ｏの層間にクラックが発生する可能性がある。
　その結果、内側外層部３１ｉと外側外層部３１ｏの層間にクラックが発生し、クラックより外部からの水分等が浸入すると、ショートが発生し、積層セラミックコンデンサ１の耐湿信頼性を確保することができない場合がある。

　このように、第１外層部３１の積層（Ｔ）方向において、内側外層部３１ｉのＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量を、第１主面１１側に位置する外側外層部３１ｏにおけるＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量に対して、２Ａｔｏｍ％以上１０Ａｔｏｍ％以下に調整することにより、内側外層部３１ｉ内の結晶の形成と、焼結助剤の含有量のバランスをとりやすくなる。
　そのため、内側外層部３１ｉの焼結性をより確保でき、より緻密な内側外層部３１ｏを形成でき、高い耐湿信頼性を備えた積層セラミックコンデンサ１を実現することができる。

　同様に、製造後の積層セラミックコンデンサ１を対象とし、積層体１０の積層（Ｔ）方向と幅（Ｗ）方向とに延びるＷＴ断面において、内層部３０側に位置する内側外層部３２ｉにおけるＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量が、第２主面１２側に位置する外側外層部３２ｏにおけるＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量より多い。

　また、内層部３０側に位置する内側外層部３２ｉにおけるＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量が、第２主面１２側に位置する外側外層部３２ｏにおけるＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量に対して、２Ａｔｏｍ％以上１０Ａｔｏｍ％以下含有されていることが好ましい。
　内側外層部３２ｉにおけるＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量は、第２主面１２側に位置する外側外層部３２ｏにおけるＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量に対して２Ａｔｏｍ％より少なく含有されている場合、Ｃａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物が十分に含有されていない場合がある。
　Ｃａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物が十分に含有されていない場合、内側外層部３２ｉに結晶が多く形成されている場合がある。
　内側外層部３２ｉに結晶が多く形成されている場合、内側外層部３２ｉ内に含まれる結晶の含有面積が大きくなり、内側外層部３２ｉ内において、Ｃａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有面積が小さくなる。つまり、内側外層部３２ｉ内のＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量が少なくなる。そもそも、Ｃａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物は、内側外層部３２ｉの焼結助剤として機能するが、内側外層部３２ｉ内のＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量が少なくなると、内側外層部３２ｉが十分に焼結されないため、内側外層部３２ｉの焼結性を確保できない可能性がある。
　そのため、内側外層部３２ｉの内層部３０に近い領域にポアが残存しやすく、内側外層部３２ｉの内層部３０に近い領域のポアに、外部から水分等が浸入することがある。
　その結果、内側外層部３２ｉの内層部３０に近い領域のポアに、外部から水分等が浸入すると、ショートが発生するため、積層セラミックコンデンサ１の耐湿信頼性を確保できない場合がある。
　内側外層部３２ｉにおけるＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量は、第２主面１２側に位置する外側外層部３２ｏにおけるＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量に対して１０Ａｔｏｍ％より多く含有されている場合、内側外層部３２ｉ内に含まれるＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有面積が大きくなり、内側外層部３２ｉ内において、結晶の含有面積が小さくなる。つまり、内側外層部３２ｉ内のＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量が多くなる。
　内側外層部３２ｉ内のＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量が多くなると、内側外層部３２ｉと外側外層部３２ｏで焼結時の収縮挙動の差が生じる場合がある。
　そのため、内側外層部３２ｉと外側外層部３２ｏで焼結時の収縮挙動の差により、内側外層部３２ｉと外側外層部３２ｏの層間にクラックが発生する可能性がある。
　内側外層部３２ｉと外側外層部３２ｏの層間にクラックが発生し、クラックより外部からの水分等が浸入すると、積層セラミックコンデンサ１の耐湿信頼性を確保することができない場合がある。

　このように、第２外層部３２の積層（Ｔ）方向において、内側外層部３２ｉのＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量を、第２主面１２側に位置する外側外層部３２ｏにおけるＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量に対して、２Ａｔｏｍ％以上１０Ａｔｏｍ％以下に調整することにより、内側外層部３２ｉ内の結晶の形成と、Ｃａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量のバランスをとりやすくなる。そのため、内側外層部３２ｉの焼結性をより確保でき、より緻密な内側外層部３２ｏを形成しやすい。
　そのため、積層セラミックコンデンサ１の耐湿信頼性をより向上させることが可能となる。

（Ｃａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の具体的な測定方法）
　積層体１０の内層部３０側に位置する内側外層部３１ｉ、内側外層部３２ｉにおけるＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量と、第１主面１１側又は第２主面１２側に位置する外側外層部３１ｏ、外側外層部３２ｏにおけるＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量は、ＷＤＸにより元素マッピング分析した画像の結果から、確認することができる。
　内側外層部３１ｉおよび内側外層部３２ｉのＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量は、積層（Ｔ）方向に沿って内側外層部３１ｉ、内側外層部３２ｉの複数個所で測定したとき、外側外層部３１ｏ、外側外層部３２ｏの複数個所で測定したときの平均値を意味する。
　具体的には、まず、積層セラミックコンデンサの第１の側面又は第２の側面から、積層セラミックコンデンサの幅方向中央部まで断面研磨を行い、ＬＴ断面を露出させる。
　そして、研磨された内側外層部３１ｉ、内側外層部３２ｉ、および外側外層部３１ｏ、外側外層部３２ｏを、ＷＤＸにより観察する。
　このときの観察条件として、倍率３０００倍、加速電圧１５ｋＶで観察し、内側外層部３１ｉ、内側外層部３２ｉおよび外側外層部３１ｏ、外側外層部３２ｏの左端部、右端部および中央部の３か所を、視野５０μｍ×５０μｍで撮像する。
　上記観察条件に基づき撮像し、ＷＤＸによる元素マッピング分析した画像の結果から、内側外層部３１ｉと外側外層部３２ｉのＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量は、内側外層部３１ｉ、内側外層部３２ｉの左端部、右端部および中央部のＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量を測定し、平均値を算出することで得られる。
　同様に、外側外層部３１ｏ、外側外層部３２ｏのＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量は、外側外層部３１ｏ、外側外層部３２ｏの左端部、右端部および中央部のＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量を測定し、平均値を算出することで得られる。

　内層部３０を幅（Ｗ）方向から挟むように第１サイドマージン部４１及び第２サイドマージン部４２が設けられる。第１サイドマージン部４１は、積層体１０の第１側面１３側に位置し、第２サイドマージン部４２は、積層体１０の第２側面１４側に位置している。

　第１サイドマージン部４１は、幅（Ｗ）方向に積層された２層構造とすることができ、
第１側面１３側に位置する外側サイドマージン部４１ｏと、外側サイドマージン部４１ｏより内層部３０側に位置する内側サイドマージン部４１ｉを構成する。
　外側サイドマージン部４１ｏと内側サイドマージン部４１ｉの幅（Ｗ）方向の厚みは略同一としてもよいし、異なっていてもよい。

　また、外側サイドマージン部４１ｏの幅方向厚みは、内側サイドマージン部４１ｉの幅方向の厚みよりも大きいことが好ましい。具体的には、外側サイドマージン部４１ｏの幅（Ｗ）方向の厚みは３μｍ以上２０μｍ以下であることが好ましい。
　外側サイドマージン部４１ｏの幅（Ｗ）方向の厚みが３μｍより小さい場合、外側サイドマージン部４１ｏに十分なカルシウムシリケートが含有されていない場合がある。
　外側サイドマージン部４１ｏに十分なカルシウムシリケートが含有されていない場合、外側サイドマージン部４１ｏ内に結晶が少なく形成される場合がある。
　外側サイドマージン部４１ｏ内に結晶が少なく形成される場合、外側サイドマージン部４１ｏ内に含まれる結晶の含有面積が小さくなり、外側サイドマージン部４１ｏ内において、焼結助剤の含有面積が大きくなる。つまり、外側サイドマージン部４１ｏ内の焼結助剤の含有量が多くなる。
　そもそも、焼結助剤は水分等に対して弱い性質を持っているため、外側サイドマージン部４１ｏ内の焼結助剤の含有量が多くなると、外側サイドマージン部４１ｏ内の焼結助剤の含有量が多くなると、外側サイドマージン部４１ｏは、水分等に対して弱くなる。そのため、外側サイドマージン部４１ｏに外部から水分等が浸入してしまう可能性がある。
　その結果、外側サイドマージン部４１ｏを伝い水分等が、内層部３０に浸入すると、ショートが発生するため、積層セラミックコンデンサ１の耐湿信頼性が低下してしまう場合がある。
　外側サイドマージン部４１ｏの幅（Ｗ）方向の厚みが２０μｍより大きい場合、外側サイドマージン部４１ｏに多くのカルシウムシリケートが含有されている場合がある。
　外側サイドマージン部４１ｏに多くのカルシウムシリケートが含有されている場合、外側サイドマージン部４１ｏ内に結晶が多く形成される場合がある。外側サイドマージン部４１ｏ内に結晶が多く形成される場合、外側サイドマージン部４１ｏ内に含まれる結晶の含有面積が大きくなり、外側サイドマージン部４１ｏ内において、焼結助剤の含有面積が小さくなる。つまり、外側サイドマージン部４１ｏ内の焼結助剤の含有量が少なくなる。
　外側サイドマージン部４１ｏ内の焼結助剤の含有量が少なくなると、外側サイドマージン部４１ｏが十分に焼結されないため、外側サイドマージン部４１ｏの焼結性を確保できない可能性がある。
　そのため、外側サイドマージン部４１ｏの内層部３０に近い領域にポアが残存しやすく、外側サイドマージン部４１ｏの内層部３０に近い領域のポアに、外部から水分等が浸入することがある。
　その結果、外側サイドマージン部４１ｏの内層部３０に近い領域のポアを伝い、内層部３０に水分等が浸入すると、ショートが発生するため、積層セラミックコンデンサ１の耐湿信頼性を確保できない場合がある。

　また、内側サイドマージン部４１ｉの幅（Ｗ）方向の厚みは２μｍ以上２０μｍ以下であることが好ましい。
　内側サイドマージン部４１ｉの幅（Ｗ）方向の厚みが２μｍより小さい場合、内側サイドマージン部４１ｉに十分なカルシウムシリケートが含有されていない場合がある。
　内側サイドマージン部４１ｉに十分なカルシウムシリケートが含有されていない場合、内側サイドマージン部４１ｉ内に結晶が少なく形成される場合がある。
　内側サイドマージン部４１ｉ内に結晶が少なく形成される場合、内側サイドマージン部４１ｉ内に含まれる結晶の含有面積が小さくなり、内側サイドマージン部４１ｉ内において、焼結助剤の含有面積が大きくなる。つまり、内側サイドマージン部４１ｉ内の焼結助剤の含有量が多くなる。
　そもそも、焼結助剤は水分等に対して弱い性質を持っているため、内側サイドマージン部４１ｉ内の焼結助剤の含有量が多くなると、内側サイドマージン部４１ｉ内の焼結助剤の含有量が多くなると、内側サイドマージン部４１ｉは、水分等に対して弱くなる。そのため、内側サイドマージン部４１ｉに外部から水分等が浸入してしまう可能性がある。
　その結果、内側サイドマージン部４１ｉを伝い水分等が、内層部３０に浸入すると、ショートが発生するため、積層セラミックコンデンサ１の耐湿信頼性が低下してしまう場合がある。
　内側サイドマージン部４１ｉの幅（Ｗ）方向の厚みが２０μｍより大きい場合、内側サイドマージン部４１ｉに多くのカルシウムシリケートが含有されている場合がある。
　内側サイドマージン部４１ｉに多くのカルシウムシリケートが含有されている場合、内側サイドマージン部４１ｉ内に結晶が多く形成される場合がある。内側サイドマージン部４１ｉ内に結晶が多く形成される場合、内側サイドマージン部４１ｉ内に含まれる結晶の含有面積が大きくなり、内側サイドマージン部４１ｉ内において、焼結助剤の含有面積が小さくなる。つまり、内側サイドマージン部４１ｉ内の焼結助剤の含有量が少なくなる。
　内側サイドマージン部４１ｉ内の焼結助剤の含有量が少なくなると、内側サイドマージン部４１ｉが十分に焼結されないため、内側サイドマージン部４１ｉの焼結性を確保できない可能性がある。
　そのため、内側サイドマージン部４１ｉの内層部３０に近い領域にポアが残存しやすく、内側サイドマージン部４１ｉの内層部３０に近い領域のポアに、外部から水分等が浸入することがある。
　その結果、内側サイドマージン部４１ｉの内層部３０に近い領域のポアを伝い、内層部３０に水分等が浸入すると、ショートが発生するため、積層セラミックコンデンサ１の耐湿信頼性を確保できない場合がある。

　そのため、外側サイドマージン部４１ｏの幅（Ｗ）方向の厚みは３μｍ以上２０μｍ以下、内側サイドマージン部４１ｉの幅（Ｗ）方向の厚みは２μｍ以上２０μｍ以下とすることで、外側サイドマージン部４１ｏ内、外側サイドマージン部４２ｏ内、内側サイドマージン部４１ｉ内、内側サイドマージン部４２ｉ内に形成される結晶と、焼結助剤の含有量のバランスがとれ、より緻密な外側サイドマージン部４１ｏが形成されやすい。
　その結果、焼結性を確保しながら、緻密な外側サイドマージン部４１ｏが形成され、より高い耐湿信頼性を備えた積層セラミックコンデンサ１を実現できる。

　第２サイドマージン部４２は、幅（Ｗ）方向に積層された２層構造とすることができ、第２側面１４側に位置する外側サイドマージン部４２ｏと、外側サイドマージン部４２ｏより内層部３０側に位置する内側サイドマージン部４２ｉを構成する。
　外側サイドマージン部４２ｏと内側サイドマージン部４２ｉの幅（Ｗ）方向の厚みは略同一としてもよいし、異なっていてもよい。

　また、外側サイドマージン部４２ｏの幅方向厚みは、内側サイドマージン部４２ｉの幅方向の厚みよりも大きいことが好ましい。具体的には、外側サイドマージン部４２ｏの幅（Ｗ）方向の厚みは３μｍ以上２０μｍ以下であることが好ましい。
　外側サイドマージン部４２ｏの幅（Ｗ）方向の厚みが３μｍより小さい場合、外側サイドマージン部４２ｏに十分なカルシウムシリケートが含有されていない場合がある。
　外側サイドマージン部４２ｏに十分なカルシウムシリケートが含有されていない場合、外側サイドマージン部４２ｏ内に結晶が少なく形成される場合がある。
　外側サイドマージン部４２ｏ内に結晶が少なく形成される場合、外側サイドマージン部４２ｏ内に含まれる結晶の含有面積が小さくなり、外側サイドマージン部４２ｏ内において、焼結助剤の含有面積が大きくなる。つまり、外側サイドマージン部４２ｏ内の焼結助剤の含有量が多くなる。
　そもそも、焼結助剤は水分等に対して弱い性質を持っているため、外側サイドマージン部４２ｏ内の焼結助剤の含有量が多くなると、外側サイドマージン部４２ｏ内の焼結助剤の含有量が多くなると、外側サイドマージン部４２ｏは、水分等に対して弱くなる。そのため、外側サイドマージン部４２ｏに外部から水分等が浸入してしまう可能性がある。
　その結果、外側サイドマージン部４２ｏを伝い水分等が、内層部３０に浸入すると、ショートが発生するため、積層セラミックコンデンサ１の耐湿信頼性が低下してしまう場合がある。
　外側サイドマージン部４２ｏの幅（Ｗ）方向の厚みが２０μｍより大きい場合、外側サイドマージン部４２ｏに多くのカルシウムシリケートが含有されている場合がある。
　外側サイドマージン部４２ｏに多くのカルシウムシリケートが含有されている場合、外側サイドマージン部４２ｏ内に結晶が多く形成される場合がある。外側サイドマージン部４２ｏ内に結晶が多く形成される場合、外側サイドマージン部４２ｏ内に含まれる結晶の含有面積が大きくなり、外側サイドマージン部４２ｏ内において、焼結助剤の含有面積が小さくなる。つまり、外側サイドマージン部４２ｏ内の焼結助剤の含有量が少なくなる。
　外側サイドマージン部４２ｏ内の焼結助剤の含有量が少なくなると、外側サイドマージン部４２ｏが十分に焼結されないため、外側サイドマージン部４２ｏの焼結性を確保できない可能性がある。
　そのため、外側サイドマージン部４２ｏの内層部３０に近い領域にポアが残存しやすく、外側サイドマージン部４２ｏの内層部３０に近い領域のポアに、外部から水分等が浸入することがある。
　その結果、外側サイドマージン部４２ｏの内層部３０に近い領域のポアを伝い、内層部３０に水分等が浸入すると、ショートが発生するため、積層セラミックコンデンサ１の耐湿信頼性を確保できない場合がある。

　内側サイドマージン部４２ｉの幅（Ｗ）方向の厚みは２μｍ以上２０μｍ以下であることが好ましい。
　内側サイドマージン部４２ｉの幅（Ｗ）方向の厚みが２μｍより小さい場合、内側サイドマージン部４２ｉに十分なカルシウムシリケートが含有されていない場合がある。
　内側サイドマージン部４２ｉに十分なカルシウムシリケートが含有されていない場合、内側サイドマージン部４２ｉ内に結晶が少なく形成される場合がある。
　内側サイドマージン部４２ｉ内に結晶が少なく形成される場合、内側サイドマージン部４２ｉ内に含まれる結晶の含有面積が小さくなり、内側サイドマージン部４２ｉ内において、焼結助剤の含有面積が大きくなる。つまり、内側サイドマージン部４２ｉ内の焼結助剤の含有量が多くなる。
　そもそも、焼結助剤は水分等に対して弱い性質を持っているため、内側サイドマージン部４２ｉ内の焼結助剤の含有量が多くなると、内側サイドマージン部４２ｉ内の焼結助剤の含有量が多くなると、内側サイドマージン部４２ｉは、水分等に対して弱くなる。そのため、内側サイドマージン部４２ｉに外部から水分等が浸入してしまう可能性がある。
　その結果、内側サイドマージン部４２ｉを伝い水分等が、内層部３０に浸入すると、ショートが発生するため、積層セラミックコンデンサ１の耐湿信頼性が低下してしまう場合がある。
　内側サイドマージン部４２ｉの幅（Ｗ）方向の厚みが２０μｍより大きい場合、内側サイドマージン部４２ｉに多くのカルシウムシリケートが含有されている場合がある。
　内側サイドマージン部４２ｉに多くのカルシウムシリケートが含有されている場合、内側サイドマージン部４２ｉ内に結晶が多く形成される場合がある。内側サイドマージン部４２ｉ内に結晶が多く形成される場合、内側サイドマージン部４２ｉ内に含まれる結晶の含有面積が大きくなり、内側サイドマージン部４２ｉ内において、焼結助剤の含有面積が小さくなる。つまり、内側サイドマージン部４２ｉ内の焼結助剤の含有量が少なくなる。
　内側サイドマージン部４２ｉ内の焼結助剤の含有量が少なくなると、内側サイドマージン部４２ｉが十分に焼結されないため、内側サイドマージン部４２ｉの焼結性を確保できない可能性がある。
　そのため、内側サイドマージン部４２ｉの内層部３０に近い領域にポアが残存しやすく、内側サイドマージン部４２ｉの内層部３０に近い領域のポアに、外部から水分等が浸入することがある。
　その結果、内側サイドマージン部４２ｉの内層部３０に近い領域のポアを伝い、内層部３０に水分等が浸入すると、ショートが発生するため、積層セラミックコンデンサ１の耐湿信頼性を確保できない場合がある。

　そのため、外側サイドマージン部４２ｏの幅（Ｗ）方向の厚みは３μｍ以上２０μｍ以下、内側サイドマージン部４２ｉの幅（Ｗ）方向の厚みは２μｍ以上２０μｍ以下とすることで、外側サイドマージン部４２ｏ内、外側サイドマージン部４２ｏ内、内側サイドマージン部４２ｉ内、内側サイドマージン部４２ｉ内に形成される結晶と、焼結助剤の含有量のバランスがとれ、より緻密な外側サイドマージン部４２ｏが形成されやすい。
　その結果、焼結性を確保しながら、緻密な外側サイドマージン部４２ｏが形成され、より高い耐湿信頼性を備えた積層セラミックコンデンサ１を実現できる。

　第１サイドマージン部４１と第２サイドマージン部４２を形成する誘電体層は、Ｃａ及びＺｒを含有するペロブスカイト型化合物を含む誘電体セラミックで形成される。このような誘電体セラミックは、ＣａＣＯ_３、ＳｒＣＯ_３、ＢａＣＯ_３、ＴｉＯ_２、ＺｒＯ_２などの粉末を混合し、仮焼成した後、粉砕して得た粉末を主成分のセラミック原料として用いることができる。主成分のセラミック原料には、焼結助剤として、Ｃａ、Ｍｎ、Ｓｉ、ＳｉＯ_２、ＭｎＣＯ_３などを添加することができるが、これに限定されない。

　積層体１０の第１側面１３側又は第２側面１４側に位置する外側サイドマージン部４１ｏ、外側サイドマージン部４２ｏにおけるカルシウムシリケートの含有量は、内層部３０側に位置する内側サイドマージン部４１ｉ、４２ｉにおけるカルシウムシリケートの含有量より多い。このように、第１サイドマージン部４１と第２サイドマージン部４２の幅（Ｗ）方向においてカルシウムシリケートの含有量を調整することにより、外側サイドマージン部４１ｏと外側サイドマージン部４２ｏのカルシウムシリケート含有量が、内側サイドマージン部４１ｉ、内側サイドマージン部４２ｉより多く含有されやすい。
　そのため、外側サイドマージン部４１ｏ内、外側サイドマージン部４２ｏ内に形成される結晶と、焼結助剤の含有量のバランスがとれ、より緻密な外側サイドマージン部４１ｏ、外側サイドマージン部４２ｏが形成されやすい。
　その結果、焼結性を確保しながら、より緻密な側サイドマージン部４１ｏ、外側サイドマージン部４２ｏが形成され、高い耐湿信頼性を備えた積層セラミックコンデンサ１を実現できる。

　また、内層部３０側に位置する内側サイドマージン部４１ｉ、内側サイドマージン部４２ｉにおけるＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量は、積層体１０の第１側面１３側又は第２側面１４側に位置する外側サイドマージン部４１ｏ、外側サイドマージン部４２ｏにおけるＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量より多い。このように、第１サイドマージン部４１と第２サイドマージン部４２の幅（Ｗ）方向においてＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量を調整することにより、内側サイドマージン部４１ｉ、内側サイドマージン部４２ｉにＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物が多く含有されやすくなる。
　Ｃａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物は焼成時に焼結助剤として機能し、内側サイドマージン部４１ｉと内側サイドマージン部４２ｉの焼結性を確保できる。そのため、緻密な内側サイドマージン部４１ｉと内側サイドマージン部４２ｉを形成しやすい。その結果、外部から水分等が内側外層部３１ｉに浸入しにくいため、積層セラミックコンデンサ１の耐湿信頼性を向上させることが可能となる。

　また、内層部３０側に位置する内側サイドマージン部４１ｉ、内側サイドマージン部４２ｉにおけるＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量は、積層体１０の第１側面１３側又は第２側面１４側に位置する外側サイドマージン部４１ｏ、外側サイドマージン部４２ｏにおけるＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量に対して２Ａｔｏｍ％以上１０Ａｔｏｍ％以下含有されていることが好ましい。
　内側サイドマージン部４１ｉ、内側サイドマージン部４２ｉにおけるＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量は、第１側面１３側、第２側面１４側に位置する外側サイドマージン部４１ｏ、外側サイドマージン部４２ｏにおけるＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量に対して２Ａｔｏｍ％より少なく含有されている場合、Ｃａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物が十分に含有されていない場合がある。
　Ｃａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物が十分に含有されていない場合、内側サイドマージン部４１ｉ、内側サイドマージン部４２ｉに結晶が多く形成されている場合がある。
　内側サイドマージン部４１ｉ、内側サイドマージン部４２ｉに結晶が多く形成されている場合、内側サイドマージン部４１ｉ内、内側サイドマージン部４２ｉ内に含まれる結晶の含有面積が大きくなり、内側サイドマージン部４１ｉ内、内側サイドマージン部４２ｉ内において、Ｃａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有面積が小さくなる。つまり、内側サイドマージン部４１ｉ内、内側サイドマージン部４２ｉ内のＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量が少なくなる。そもそも、Ｃａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物は、内側サイドマージン部４１ｉ、内側サイドマージン部４２ｉの焼結助剤として機能するが、内側サイドマージン部４１ｉ、内側サイドマージン部４２ｉのＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量が少なくなると、内側サイドマージン部４１ｉ、内側サイドマージン部４２ｉが十分に焼結されないため、内側サイドマージン部４１ｉ、内側サイドマージン部４２ｉの焼結性を確保できない可能性がある。
　内側サイドマージン部４１ｉ、内側サイドマージン部４２ｉの焼結性を確保できないと、内側サイドマージン部４１ｉ、内側サイドマージン部４２ｉの内層部３０に近い領域にポアが残存しやすく、内側サイドマージン部４１ｉ、内側サイドマージン部４２ｉの内層部３０に近い領域のポアに、外部から水分等が浸入することがある。
　その結果、内側サイドマージン部４１ｉ、内側サイドマージン部４２ｉの内層部３０に近い領域のポアに、外部から水分等が浸入すると、ショートが発生し、積層セラミックコンデンサ１の耐湿信頼性を確保できない場合がある。
　内側サイドマージン部４１ｉ、内側サイドマージン部４１ｉにおけるＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量は、第１側面１３側に位置する外側サイドマージン部４１ｏ、外側サイドマージン部４２ｏにおけるＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量に対して１０Ａｔｏｍ％より多く含有されている場合、内側サイドマージン部４１ｉ内、内側サイドマージン部４２ｉ内に含まれるＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有面積が大きくなり、内側サイドマージン部４１ｉ内、内側サイドマージン部４２ｉ内において、結晶の含有面積が小さくなる。つまり、内側サイドマージン部４１ｉ内のＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量が多くなる。
　内側サイドマージン部４１ｉ内、内側サイドマージン部４２ｉ内のＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量が多くなると、内側サイドマージン部４１ｉと外側サイドマージン部４１ｏ、内側サイドマージン部４２ｉと外側サイドマージン部４２ｏとにおいて、焼結時の収縮挙動の差が生じる場合がある。
　そのため、内側サイドマージン部４１ｉ、内側サイドマージン部４２ｉと外側サイドマージン部４１ｏ、外側サイドマージン部４２ｏとの焼結時の収縮挙動の差により、内側サイドマージン部４１ｉと外側サイドマージン部４１ｏの層間、内側サイドマージン部４２ｉと外側サイドマージン部４２ｏの層間にクラックが発生する可能性がある。
　その結果、内側サイドマージン部４１ｉと外側サイドマージン部４１ｏの層間、内側サイドマージン部４２ｉと外側サイドマージン部４２ｏの層間にクラックが発生し、クラックより外部からの水分等が浸入すると、ショートが発生し、積層セラミックコンデンサ１の耐湿信頼性を確保することができない場合がある。

　このように、第１サイドマージン部４１、第２サイドマージン部４２の幅（Ｗ）方向において、内側サイドマージン部４１ｉ、内側サイドマージン部４２ｉのＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量を、第１側面１３側、第２側面１４側に位置する外側サイドマージン部４１ｏ、外側サイドマージン部４２ｏにおけるＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量に対して、２Ａｔｏｍ％以上１０Ａｔｏｍ％以下に調整することにより、内側サイドマージン部４１ｉ内、内側サイドマージン部４２ｉ内の結晶の形成と、焼結助剤の含有量のバランスをとりやすくなる。
　そのため、内側サイドマージン部４１ｉ、内側サイドマージン部４２ｉの焼結性をより確保でき、より緻密な内側サイドマージン部４１ｉを形成でき、高い耐湿信頼性を備えた積層セラミックコンデンサ１を実現することができる。

　第１サイドマージン部４１と第２サイドマージン部４２における２層構造は、焼結性の違いから暗視野で光学顕微鏡を用いて観察することにより、層間の界面を確認することも可能ではあるが、焼結の条件によっては、外側サイドマージン部４１ｏと内側サイドマージン部４１ｉ、あるいは、外側サイドマージン部４２ｏと内側サイドマージン部４２ｉは、焼成後に一体となり境界面の認識が難しい場合がある。また、幅（Ｗ）方向においてカルシウムシリケートの含有量を調整することができれば、必ずしも第１サイドマージン部４１と第２サイドマージン部４２をそれぞれ２層構造にする必要はない。すなわち、製造後の積層セラミックコンデンサ１を対象とし、積層体１０の積層（Ｔ）方向と幅（Ｗ）方向とに延びるＷＴ断面において、第１側面１３側に位置する外側サイドマージン部４１ｏにおけるカルシウムシリケートの含有量が、内層部３０側に位置する内側サイドマージン部４１ｉにおけるカルシウムシリケートの含有量より多いこと、また、第２側面１４側に位置する外側サイドマージン部４２ｏにおけるカルシウムシリケートの含有量が、内層部３０側に位置する内側サイドマージン部４２ｉにおけるカルシウムシリケートの含有量より多い。
　そのため、外側サイドマージン部４１ｏ内、外側サイドマージン部４２ｏ内に形成される結晶と、焼結助剤の含有量のバランスがとれ、緻密な外側サイドマージン部４１ｏ、外側サイドマージン部４２ｏが形成されやすい。
　その結果、焼結性を確保しながら、緻密な外側サイドマージン部４１ｏ、外側サイドマージン部４２ｏが形成され、高い耐湿信頼性を備えた積層セラミックコンデンサ１を実現できる。

（外側サイドマージン部４１ｏ、外側サイドマージン部４２ｏと内側サイドマージン部４１ｉ、内側サイドマージン部４２ｉの幅（Ｗ）方向の厚みの測定方法）
　外側サイドマージン部４１ｏと外側サイドマージン部４２ｏと内側サイドマージン部４１ｉと内側サイドマージン部４２ｉの幅（Ｗ）方向の厚みの測定方法は、ＷＤＸの結果から確認することができる。
　具体的には、まず、積層セラミックコンデンサの第１の端面又は第２の端面から、積層セラミックコンデンサの長さ方向中央部まで断面研磨を行い、ＷＴ断面を露出させる。
　そして、第１サイドマージン部４１と第２サイドマージン部４２を、ＷＤＸにより観察する。このときの条件として倍率２０００倍、加速電圧１５ｋＶで観察し、第１サイドマージン部４１、第２サイドマージン部４２の幅（Ｗ）方向において、左端部、右端部および中央部の３か所を、視野５０μｍ×５０μｍで撮像する。
　上記観察条件に基づき撮像し、ＷＤＸによる元素マッピング分析した結果から、外側サイドマージン部４１ｏの幅（Ｗ）方向の厚みは、第１サイドマージン部４１、第２サイドマージン部４２の積層（Ｔ）方向において、上部、下部および中央部それぞれの第１側面１３、第２側面１４から、内層部３０に向かってカルシウムシリケートが最も多く含有されている箇所を、元素マッピング分析した画像データ内の縮尺により測定し、平均値を算出することで、外側サイドマージン部４１ｏの幅（Ｗ）方向の厚みを得られる。
　内側サイドマージン部４１ｉの幅（Ｗ）方向の厚みは、外側サイドマージン部４１ｉ、の幅（Ｗ）方向の内層部３０に最も近い部分から、内層部３０の幅（Ｗ）方向側面までの距離を元素マッピング分析した画像データ内の縮尺により測定し、上部、下部および中央部それぞれの平均値を算出することで、内側サイドマージン部４１ｉの幅（Ｗ）方向の厚みを得られる。
　内側サイドマージン部４２ｉ、外側サイドマージン部４２ｏの厚みについても、同様の測定方法により確認することができる。

（サイドマージン部のカルシウムシリケートの具体的な測定方法）
　内層部３０側に位置する内側サイドマージン部４１ｉ、内側サイドマージン部４２ｉにおけるカルシウムシリケートの含有量と、積層体１０の第１側面１３側又は第２側面１４側に位置する外側サイドマージン部４１ｏ、外側サイドマージン部４２ｏにおけるカルシウムシリケートの含有量は、ＷＤＸにより元素マッピング分析した画像の結果から、確認することができる。
　内側サイドマージン部４１ｉおよび内側サイドマージン部４２ｉのカルシウムシリケートの含有量は、積層（Ｔ）方向に沿って、内側サイドマージン部４１ｉの複数個所で測定したとき、外側サイドマージン部４１ｏ、外側サイドマージン部４２ｏの複数個所で測定したときの平均値を意味する。具体的には、まず、積層セラミックコンデンサの第１の端面又は第２の端面から、積層セラミックコンデンサの長さ方向中央部まで断面研磨を行い、ＷＴ断面を露出させる。
　そして、内側サイドマージン部４１ｉ、内側サイドマージン部４２ｉと外側サイドマージン部４１ｏ、外側サイドマージン部４２ｏを、ＷＤＸにより観察する。
　このときの条件として倍率２０００倍、加速電圧１５ｋＶで観察し、内側サイドマージン部４１ｉ、内側サイドマージン部４２ｉおよび外側サイドマージン部４１ｏ、外側サイドマージン部４２ｏの積層（Ｔ）方向に沿って、上部、下部および中央部において、視野５０μｍ×５０μｍで撮像する。
　上記観察条件に基づき撮像し、ＷＤＸによる元素マッピング分析した画像の結果から、内側サイドマージン部４１ｉ、内側サイドマージン部４２ｉのカルシウムシリケートの含有量は、内側サイドマージン部４１ｉ、内側サイドマージン部４２ｉの積層（Ｔ）方向に沿って、上部、下部および中央部のカルシウムシリケートの含有量を測定し、平均値を算出することで得られる。
　外側サイドマージン部４１ｏ、外側サイドマージン部４２ｏのカルシウムシリケートの含有量は、上記観察条件に基づき撮像し、外側サイドマージン部４１ｏ、外側サイドマージン部４２ｏの積層（Ｔ）方向に沿って、上部、下部および中央部のカルシウムシリケートの含有量を測定し、平均値を算出することで得られる。

（サイドマージン部のＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の具体的な測定方法）
　内層部３０側に位置する内側サイドマージン部４１ｉ、内側サイドマージン部４２ｉにおけるＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量と、積層体１０の第１側面１３側又は第２側面１４側に位置する外側サイドマージン部４１ｏ、外側サイドマージン部４２ｏにおけるＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量は、ＷＤＸにより元素マッピング分析した画像の結果から、確認することができる。
　内側サイドマージン部４１ｉおよび内側サイドマージン部４２ｉのＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量は、積層（Ｔ）方向に沿って、内側サイドマージン部４１ｉの複数個所で測定したとき、外側サイドマージン部４１ｏ、外側サイドマージン部４２ｏの複数個所で測定したときの平均値を意味する。
　具体的には、まず、積層セラミックコンデンサの第１の端面又は第２の端面から、積層セラミックコンデンサの長さ方向中央部まで断面研磨を行い、ＷＴ断面を露出させる。
　そして、内側サイドマージン部４１ｉ、内側サイドマージン部４２ｉと外側サイドマージン部４１ｏ、外側サイドマージン部４２ｏを、ＷＤＸにより観察する。
　このときの条件として倍率２０００倍、加速電圧１５ｋＶで観察し、内側サイドマージン部４１ｉ、内側サイドマージン部４２ｉおよび外側サイドマージン部４１ｏ、外側サイドマージン部４２ｏの積層（Ｔ）方向に沿って、上部、下部および中央部において、視野５０μｍ×５０μｍで撮像する。
　上記観察条件に基づき撮像し、ＷＤＸによる元素マッピング分析した画像の結果から、内側サイドマージン部４１ｉ、内側サイドマージン部４２ｉのＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量は、内側サイドマージン部４１ｉ、内側サイドマージン部４２ｉの積層（Ｔ）方向に沿って、上部、下部および中央部のＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量を測定し、平均値を算出することで得られる。
　外側サイドマージン部４１ｏ、外側サイドマージン部４２ｏのＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量は、外側サイドマージン部４１ｏ、外側サイドマージン部４２ｏの積層（Ｔ）方向に沿って、上部、下部および中央部のＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量を測定し、平均値を算出することで得られる。
　上記観察条件に基づき撮像し、ＷＤＸにより元素マッピング分析した画像の結果から、内側サイドマージン部４１ｉ、４２ｉと外側サイドマージン部４１ｏ、４２ｏのＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量を確認することができる。

　以下、積層セラミックコンデンサ１の製造方法（第１の実施態様）について説明する。

　誘電体層２０、第１外層部３１、第２外層部３２、第１サイドマージン部４１、第２サイドマージン部４２となるべきセラミックグリーンシートを準備する。

　誘電体層を形成するセラミックグリーンシートは、Ｃａ及びＺｒを含有するペロブスカイト型化合物を含む誘電体セラミックで形成される。このような誘電体セラミックは、ＣａＣＯ_３、ＳｒＣＯ_３、ＢａＣＯ_３、ＴｉＯ_２、ＺｒＯ_２などの粉末を混合し、仮焼成した後、粉砕して得た粉末を主成分のセラミック原料として用いることができる。主成分のセラミック原料には、ＳｉＯ_２、ＭｎＣＯ_３などを添加することができる。
　セラミックグリーンシートには、上記のセラミック原料の他、バインダ及び溶剤等が含まれる。また、セラミック原料には希土類を含む添加剤を添加してもよい。添加剤に含まれる元素を変えることで、各部位を形成する誘電体の組成を変えることできる。主成分であるセラミック原料は同じであることが好ましい。
　セラミックグリーンシートは、例えば、キャリアフィルム上で、ダイコータ、グラビアコータ、マイクログラビアコータ等を用いて成形される。

　第１外層部３１と第２外層部３２において２層構造を形成する内側外層部３１ｉ、３２ｉと外側外層部３１ｏ、外側外層部３２ｏの誘電体層は、Ｃａ及びＺｒを含有するペロブスカイト型化合物を含む誘電体セラミックで形成される。このような誘電体セラミックは、ＣａＣＯ_３、ＳｒＣＯ_３、ＢａＣＯ_３、ＴｉＯ_２、ＺｒＯ_２などの粉末を混合し、仮焼成した後、粉砕して得た粉末を主成分のセラミック原料として用いることができる。主成分のセラミック原料には、ＳｉＯ_２、ＭｎＣＯ_３などを添加することができる。
　内側外層部３１ｉ、内側外層部３２ｉを形成するセラミックグリーンシートは、外側外層部３１ｏ、３２ｏを形成するセラミックグリーンシートよりＭｎＣＯ_３などのＭｎ化合物の添加量を多くしている。また、外側外層部３１ｏ、外側外層部３２ｏを形成するセラミックグリーンシートは、内側外層部３１ｉ、内側外層部３２ｉを形成するセラミックグリーンシートより、ＳｉＯ_２ガラスの添加量を多くしている。

　これにより、製造された積層セラミックコンデンサ１においては、外側外層部３１ｏ、外側外層部３２ｏにおけるカルシウムシリケートの含有量は、内層部３０側に位置する内側外層部３１ｉ、内側外層部３２ｉにおけるカルシウムシリケートの含有量より多い。また、内層部３０側に位置する内側外層部３１ｉ、内側外層部３２ｉにおけるＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量は、外側外層部３１ｏ、外側外層部３２ｏにおけるＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量より多い。このように、第１外層部３１の積層（Ｔ）方向あるいは第２外層部３２の積層（Ｔ）方向においてカルシウムシリケートとＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量を調整することにより、焼結性を確保しながら、緻密な外側外層部３１ｏ、３２ｏ、内側外層部３１ｉ、内側外層部３２ｉが形成され、高い耐湿信頼性を備えた積層セラミックコンデンサ１を実現できる。

　図６、図７及び図８は、セラミックグリーンシートの一例を模式的に示す平面図である。図６、図７及び図８には、それぞれ、内層部３０を形成するための第１セラミックグリーンシート１０１、内層部３０を形成するための第２セラミックグリーンシート１０２、及び、第１外層部３１と第２外層部３２を形成するための第３セラミックグリーンシート１０３を示している。

　第１セラミックグリーンシート１０１、第２セラミックグリーンシート１０２及び第３セラミックグリーンシート１０３には、積層セラミックコンデンサ１ごとに切り分けるための切断線Ｘ及びＹが示されている。切断線Ｘは長さ（Ｌ）方向に平行であり、切断線Ｙは幅（Ｗ）方向に平行である。

　図６に示すように、第１セラミックグリーンシート１０１では、誘電体層２０に対応する未焼成の誘電体層１２０上に、第１内部電極層２１ａに対応する未焼成の第１内部電極層１２１ａが形成されている。

　図７に示すように、第２セラミックグリーンシート１０２では、誘電体層２０に対応する未焼成の誘電体層１２０上に、第２内部電極層２１ｂに対応する未焼成の第２内部電極層１２１ｂが形成されている。

　図６に示す第１セラミックグリーンシート１０１及び図７に示す第２セラミックグリーンシート１０２を作製する方法は特に限定されないが、未焼成の誘電体層１２０の表面に、焼成により第１内部電極層２１ａあるいは第２内部電極層２１ｂとなる導電性ペーストをそれぞれ所定の領域に付与する方法が挙げられる。

　図８に示すように、第１外層部３１と第２外層部３２を形成するための第３セラミックグリーンシート１０３には、第１セラミックグリーンシート１０１や第２セラミックグリーンシート１０２のように未焼成の第１内部電極層１２１ａや第２内部電極層１２１ｂは形成されていない。
　また、第３セラミックグリーンシート１０３は、内側外層部３１ｉ、３２ｉを形成するためのセラミックグリーンシートと外側外層部３１ｏ、３２ｏを形成するためのセラミックグリーンシートとの成分組成が異なる２種類がある。

　未焼成の第１内部電極層１２１ａ及び第２内部電極層１２１ｂは、任意の導電性ペーストを用いて形成することができる。導電性ペーストによる第１内部電極層１２１ａ及び第２内部電極層１２１ｂの形成には、例えば、スクリーン印刷法、グラビア印刷法等の方法を用いることができる。

　未焼成の第１内部電極層１２１ａ及び第２内部電極層１２１ｂは、切断線Ｙによって仕切られた長さ（Ｌ）方向に隣接する２つの領域にわたって配置され、幅（Ｗ）方向に所定の幅を備え、長さ（Ｌ）方向に帯状に延びている。第１内部電極層１２１ａと第２内部電極層１２１ｂとでは、切断線Ｙによって仕切られた領域が１列ずつ長さ（Ｌ）方向にずらされている。つまり、第１内部電極層１２１ａの中央を通る切断線Ｙが、隣り合う第２内部電極層１２１ｂの間の領域を通り、第２内部電極層１２１ｂの中央を通る切断線Ｙが、隣り合う第１内部電極層１２１ａの間の領域を通っている。

　第１セラミックグリーンシート１０１と第２セラミックグリーンシート１０２を積層するとともに、内側外層部３１ｉ、内側外層部３２ｉ、外側外層部３１ｏ、外側外層部３２ｏをそれぞれ形成するための第３セラミックグリーンシートを積層することにより、マザーブロックを作製する。

　図９は、マザーブロックの一例を模式的に示す分解斜視図である。
　図９では、説明の便宜上、第１セラミックグリーンシート１０１、第２セラミックグリーンシート１０２及び第３セラミックグリーンシート１０３を分解して示している。実際のマザーブロック１０４では、第１セラミックグリーンシート１０１、第２セラミックグリーンシート１０２及び第３セラミックグリーンシート１０３が静水圧プレス等の手段により圧着されて一体化されている。

　図９に示すマザーブロック１０４では、内層部３０に対応する第１セラミックグリーンシート１０１及び第２セラミックグリーンシート１０２が積層（Ｔ）方向に交互に積層されている。さらに、交互に積層された第１セラミックグリーンシート１０１及び第２セラミックグリーンシート１０２の積層（Ｔ）方向の上下面に、内側外層部３１ｉ、内側外層部３２ｉと外側外層部３１ｏ、外側外層部３２ｏに対応する第３セラミックグリーンシート１０３がそれぞれ積層される。

　得られたマザーブロック１０４を切断線Ｘ及びＹ（図６、図７及び図８参照）に沿って切断することにより、複数のグリーンチップを作製する。この切断には、例えば、ダイシング、押切り、レーザカット等の方法が適用される。

　図１０は、グリーンチップの一例を模式的に示す斜視図である。
　図１０に示すグリーンチップ１１０は、未焼成の状態にある複数の誘電体層１２０、第１内部電極層１２１ａ及び第２内部電極層１２１ｂにより積層構造が形成されている。グリーンチップ１１０の第１側面１１３及び第２側面１１４は切断線Ｘに沿う切断によって現れた面であり、第１端面１１５及び第２端面１１６は切断線Ｙに沿う切断によって現れた面である。第１側面１１３及び第２側面１１４には、第１内部電極層１２１ａ及び第２内部電極層１２１ｂが露出している。また、第１端面１１５には、第１内部電極層１２１ａが露出し、第２端面１１６には、第２内部電極層１２１ｂが露出している。

　なお、グリーンチップ１１０の第１側面１１３及び第２側面１１４は、マザーブロック１０４を切断して複数のグリーンチップ１１０を得る際に、切断方向である図中下側に掛かる応力により、側面が僅かに下方に塑性変形する場合がある。また、その切断面が十分に平滑でなかったり、切断面に異物が存在したりする場合もある。このため、第１側面１１３及び第２側面１１４を研磨し変形部分を除去することが好ましい。

　得られたグリーンチップ１１０の第１側面１１３及び第２側面１１４に、未焼成のサイドマージン部を形成することにより、未焼成の積層体を作製する。未焼成のサイドマージン部は、例えば、グリーンチップの第１側面１１３及び第２側面１１４に、誘電体セラミックからなるセラミックグリーンシートを貼り付けることにより形成される。

　第１サイドマージン部４１と第２サイドマージン部４２をそれぞれ構成する内側サイドマージン部４１ｉ、内側サイドマージン部４２ｉ、外側サイドマージン部４１ｏ、外側サイドマージン部４２ｏのセラミックグリーンシートは、Ｃａ及びＺｒを含有するペロブスカイト型化合物を含む誘電体セラミックで形成される。このような誘電体セラミックは、ＣａＣＯ_３、ＳｒＣＯ_３、ＢａＣＯ_３、ＴｉＯ_２、ＺｒＯ_２などの粉末を混合し、仮焼成した後、粉砕して得た粉末を主成分のセラミック原料として用いることができる。主成分のセラミック原料には、ＳｉＯ_２、ＭｎＣＯ_３などを添加することができる。
　内側サイドマージン部４１ｉ、内側サイドマージン部４２ｉを形成するセラミックグリーンシートは、外側サイドマージン部４１ｏ、外側サイドマージン部４２ｏを形成するセラミックグリーンシートより、ＭｎＣＯ_３などのＭｎ化合物の添加量を多くしている。また、外側サイドマージン部４１ｏ、外側サイドマージン部４２ｏを形成するセラミックグリーンシートは、内側サイドマージン部４１ｉ、内側サイドマージン部４２ｉを形成するセラミックグリーンシートより、ＳｉＯ_２ガラスの添加量を多くしている。

　これにより、製造された積層セラミックコンデンサ１においては、外側サイドマージン部４１ｏ、４２ｏにおけるカルシウムシリケートの含有量は、内層部３０側に位置する内側サイドマージン部４１ｉ、内側サイドマージン部４２ｉにおけるカルシウムシリケートの含有量より多い。また、内層部３０側に位置する内側サイドマージン部４１ｉ、内側サイドマージン部４２ｉにおけるＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量は、外側サイドマージン部４１ｏ、外側サイドマージン部４２ｏにおけるＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量より多い。このように、第１サイドマージン部４１と第２サイドマージン部４２の幅（Ｗ）方向においてカルシウムシリケートとＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量を調整することにより、焼結性を確保しながら、緻密なセラミック層が形成され、高い耐湿信頼性を備えた積層セラミックコンデンサ１を実現できる。

　グリーンチップ１１０の第１側面１１３に対向して、内側サイドマージン部４１ｉに相当するセラミックグリーンシート、次に外側サイドマージン部４１ｏに相当するセラミックグリーンシートを押し付けて打ち抜くことにより、未焼成の第１サイドマージン部４１が形成される。また、グリーンチップ１１０の第２側面１１４に対向して、内側サイドマージン部４２ｉに相当するセラミックグリーンシート、次に外側サイドマージン部４２ｏに相当するセラミックグリーンシートを押し付けて打ち抜くことにより、未焼成の第２サイドマージン部４２が形成される。以上により、未焼成の積層体が得られる。

　このようにグリーンチップ１１０に内側サイドマージン部４１ｉ、内側サイドマージン部４２ｉと外側サイドマージン部４１ｏ、外側サイドマージン部４２ｏとを取りつけて形成される積層体１０においては、複数の内部電極層２１の幅（Ｗ）方向の片側末端を積層（Ｔ）方向に揃えて配置することができ、積層体１０の積層（Ｔ）方向と幅（Ｗ）方向とに延びるＷＴ断面を見たとき、全ての隣り合う内部電極層２１の幅方向端部の幅（Ｗ）方向のズレ量を５μｍ以下にすることができる。

（全ての隣り合う内部電極層２１の幅方向端部の幅（Ｗ）方向のズレ量の測定方法）
　全ての隣り合う内部電極層２１の幅方向端部の幅（Ｗ）方向のズレ量は、走査電子顕微鏡（以後、ＳＥＭと呼ぶ）を使用することで測定することができる。
　具体的には、まず、積層セラミックコンデンサの第１の端面又は第２の端面から、積層セラミックコンデンサの長さ方向中央部まで断面研磨を行い、ＷＴ断面を露出させる。
　次に、ＷＴ断面をＳＥＭにより観察する。
　このときの観察条件として、倍率２０００倍、加速電圧５ｋＶで観察し、内部電極層２１の幅方向端部を、積層（Ｔ）方向に沿って、上部、下部および中央部おいて、視野５０μｍ×５０μｍで撮像する。上記観察条件に基づき撮像し、隣り合う内部電極層２１の幅（Ｗ）方向の端同士が離間している距離を、ＳＥＭ画像内の縮尺を使用して測定することにより、全ての隣り合う内部電極層２１の幅（Ｗ）方向のズレ量を確認することができる。

　このように複数の内部電極層２１の幅（Ｗ）方向の片側末端を積層（Ｔ）方向に揃えて配置することにより、積層セラミックコンデンサの容量を正確に設定することが可能となる。また、内部電極層２１の幅（Ｗ）方向の側縁が長さ（Ｌ）方向に直線状に延びるため、表面を流れる電流経路が短くなり、等価直列インダクタンス（ＥＳＬ）を抑制することができ、隣り合う内部電極層同士のショートを防ぐことが可能となり、高い信頼性を備えた積層セラミックコンデンサ１を実現できる。

　なお、上記の態様では、グリーンチップ１１０の第１側面１１３と第２側面１１４に、それぞれ、内側サイドマージン部４１ｉ、内側サイドマージン部４２ｉに相当するセラミックグリーンシートと外側サイドマージン部４１ｏ、外側サイドマージン部４２ｏに相当するセラミックグリーンシートを押し付け、打ち抜く例を示したが、これに限定されるものではなく、例えば、グリーンチップ１１０の第１側面１１３と第２側面１１４に、それぞれ内側サイドマージン部４１ｉ、内側サイドマージン部４２ｉを形成するためのセラミックペーストを塗布し、さらに外側サイドマージン部４１ｏ、外側サイドマージン部４２ｏを形成するためのセラミックペーストを塗布することによっても未焼成の積層体を得ることができる。

　上記の方法によって得られた未焼成の積層体に対して、バレル研磨等を施すことが好ましい。未焼成の積層体を研磨することにより、焼成後の積層体１０の角部及び稜線部に丸みが付けられる。

　積層体１０の第１端面１５と第２端面１６に、それぞれ第１外部電極５１ａと第２外部電極５２を形成する。第１外部電極５１及び第２外部電極５２は、例えば、下地電極層と、下地電極層上に配置されるめっき層と、により形成することができる。下地電極層は、金属成分とガラス成分を含む導電性ペーストを積層体１０の第１端面１５、第２端面１６上に塗布し、次いで焼き付けることにより形成される。導電性ペーストに配合される金属成分としては、例えば、Ｃｕ、Ｎｉ、Ａｇ、Ｐｄ、及びＡｕなどの金属、又は、ＡｇとＰｄの合金などを用いることができる。
　導電性ペーストに含まれるガラス成分としては、Ｂ－Ｓｉ系ガラス、Ｂａ－Ｂ－Ｓｉ系ガラス、Ｂ－Ｓｉ－Ｚｎ系ガラス、Ｂ－Ｓｉ－Ｚｎ－Ｂａ系ガラス、Ｂ－Ｓｉ－Ｚｎ－Ｂａ－Ｃａ－Ａｌ系ガラス等を使用することができる。

　下地電極層上に配置されるめっき層は、例えば、Ｃｕ、Ｎｉ、Ａｇ、Ｐｄ、及びＡｕなどの金属、又は、ＡｇとＰｄの合金などのうちの少なくとも１つを含む。めっき層は、例えば、Ｎｉめっき層とＳｎめっき層の２層構造とすることができる。ただし、めっき層は、１層であってもよいし、複数層であってもよい。

　以上により、積層セラミックコンデンサ１が製造される。

　なお、上記実施態様では、マザーブロック１０４を切断線Ｘ及びＹに切断して複数のグリーンチップ１１０を得てから、グリーンチップ１１０の両側面に未焼成のサイドマージン部を形成していたが、以下のように変更することも可能である。

　すなわち、マザーブロックを切断線Ｘのみに沿って切断することによって、切断線Ｘに沿う切断によって現れた側面に第１内部電極層及び第２内部電極層が露出した、複数の棒状のグリーンブロック体を得てから、グリーンブロック体の両側面に未焼成のサイドマージン部を形成した後、切断線Ｙに沿って切断して複数の未焼成の積層体を得て、その後、未焼成の積層体を焼成してもよい。焼成後は、前述の実施形態と同様の工程を行うことによって、積層セラミックコンデンサを製造することができる。

　次に、積層セラミックコンデンサ１のその他の製造方法（第２の実施態様）について説明する。第２の実施態様については、第１の実施態様と異なる部分を中心に説明する。

　図１１と図１２は、それぞれ、内層部３０を形成するための第１セラミックグリーンシート１０１と第２セラミックグリーンシート１０２を示す。これらは、第１の実施態様における図６の第１セラミックグリーンシート１０１と図７の第２セラミックグリーンシート１０２に相当する。第２の実施態様で用いる第３セラミックグリーンシート１０３は、図８に示される第１の実施態様で用いた第３セラミックグリーンシート１０３と同じ形態である。第２の実施態様に用いる第３セラミックグリーンシート１０３は、第１の実施態様と同様に、ＭｎＣＯ_３などのＭｎ化合物を相対的に多く配合した内側外層部３１ｉ、３２ｉを形成するためのものと、ＳｉＯ_２ガラスを相対的に多く配合した外側外層部３１ｏ、３２ｏを形成するためのものとの２種類を用意する。

　第１セラミックグリーンシート１０１、第２セラミックグリーンシート１０２及び第３セラミックグリーンシート１０３は積層セラミックコンデンサ１ごとに切り分けるための切断線Ｘ及びＹが示されている。切断線Ｘは長さ（Ｌ）方向に平行であり、切断線Ｙは幅（Ｗ）方向に平行である。

　図１１に示すように、第１セラミックグリーンシート１０１では、誘電体層２０に対応する未焼成の誘電体層１２０上に、第１内部電極層２１ａに対応する未焼成の第１内部電極層１２１ａが形成されている。そして、図１１に示す第１セラミックグリーンシート１０１においては、第１内部電極層１２１ａの幅（Ｗ）方向の両側にセラミックペースト１４１ｉ、１４２ｉが長さ（Ｌ）方向に連続して塗布され、さらに、その両側にセラミックペースト１４１ｏ、１４２ｏが長さ（Ｌ）方向に連続して塗布される。なお、図１１に示す実施態様では、第１セラミックグリーンシート１０１は、切断線Ｘに沿って切断されるため、セラミックペースト１４１ｏとセラミックペースト１４２ｏは、同一の成分組成として未焼成の誘電体層１２０上に一度に塗布することができる。

　図１２に示すように、第２セラミックグリーンシート１０２では、誘電体層２０に対応する未焼成の誘電体層１２０上に、第２内部電極層２１ｂに対応する未焼成の第２内部電極層１２１ｂが形成されている。そして、図１２に示す第２セラミックグリーンシート１０２においては、第２内部電極層１２１ｂの幅（Ｗ）方向の両側にセラミックペースト１４１ｉ、１４２ｉが長さ（Ｌ）方向に連続して塗布され、さらに、その両側にセラミックペースト１４１ｏ、１４２ｏが長さ（Ｌ）方向に連続して塗布される。なお、図１２に示す実施態様では、第２セラミックグリーンシート１０２は、切断線Ｘに沿って切断されるため、セラミックペースト１４１ｏとセラミックペースト１４２ｏは、同一の成分組成として未焼成の誘電体層１２０上に一度に塗布することができる。

　セラミックペースト１４１ｉ、１４２ｉ、１４１ｏ、１４２ｏは、Ｃａ及びＺｒを含有するペロブスカイト型化合物を含む誘電体セラミックで形成される。このような誘電体セラミックは、ＣａＣＯ_３、ＳｒＣＯ_３、ＢａＣＯ_３、ＴｉＯ_２、ＺｒＯ_２などの粉末を混合し、仮焼成した後、粉砕して得た粉末を主成分のセラミック原料として用いることができる。主成分のセラミック原料には、ＳｉＯ_２、ＭｎＣＯ_３などを添加することができる。
　第１内部電極層２１ａあるいは第２内部電極層２１ｂの両側に塗布する内側のセラミックペースト１４１ｉ、１４２ｉは、その両側に塗布される外側のセラミックペースト１４１ｏ、１４２ｏより、ＭｎＣＯ_３などのＭｎ化合物の添加量を多くする。また、外側のセラミックペースト１４１ｏ、１４２ｏは、内側のセラミックペースト１４１ｉ、１４２ｉより、ＳｉＯ_２ガラスの添加量を多くしている。

　第１内部電極層１２１ａ及び第２内部電極層１２１ｂは、任意の導電性ペーストを用いて形成することができる。導電性ペーストによる第１内部電極層１２１ａ及び第２内部電極層１２１ｂの形成には、例えば、スクリーン印刷法、グラビア印刷法等の方法を用いることができる。

　未焼成の第１内部電極層１２１ａ及び第２内部電極層１２１ｂは、切断線Ｙによって仕切られた長さ（Ｌ）方向に隣接する２つの領域にわたって配置され、幅（Ｗ）方向に所定の幅を備え、長さ（Ｌ）方向に帯状に延びている。第１内部電極層１２１ａと第２内部電極層１２１ｂとでは、切断線Ｙによって仕切られた領域が１列ずつ長さ（Ｌ）方向にずらされている。つまり、第１内部電極層１２１ａの中央を通る切断線Ｙが、隣り合う第２内部電極層１２１ｂの間の領域を通り、第２内部電極層１２１ｂの中央を通る切断線Ｙが、隣り合う第１内部電極層１２１ａの間の領域を通っている。

　第１セラミックグリーンシート１０１と第２セラミックグリーンシート１０２を積層するとともに、内側外層部３１ｉ、３２ｉと外側外層部３１ｏ、３２ｏをそれぞれ形成する第３セラミックグリーンシートを積層し、切断線Ｘ及びＹ（図１１、図１２及び図８参照）に沿って切断してグリーンチップを作製する。
　第２の実施態様においては、第１の実施態様のように、グリーンチップの両側面にサイドマージン部を形成するためのセラミックグリーンシートを取りつける必要はない。

　グリーンチップを焼成して得た、第２の実施態様の積層セラミックコンデンサ１は、第１の実施態様の積層セラミックコンデンサと同様に、積層体１０の積層（Ｔ）方向と幅（Ｗ）方向とに延びるＷＴ断面において、第１側面１３側に位置する外側サイドマージン部４１ｏにおけるカルシウムシリケートの含有量が、内層部３０側に位置する内側サイドマージン部４１ｉにおけるカルシウムシリケートの含有量より多い。また、第２側面１４側に位置する外側サイドマージン部４２ｏにおけるカルシウムシリケートの含有量が、内層部３０側に位置する内側サイドマージン部４２ｉにおけるカルシウムシリケートの含有量より多い。そのため、外側サイドマージン部４１ｏ内、外側サイドマージン部４２ｏ内に形成される結晶と、焼結助剤の含有量のバランスがとれ、より緻密な外側サイドマージン部４１ｏが形成されやすい。
　その結果、焼結性を確保しながら、緻密なセラミック層が形成され、高い耐湿信頼性を備えた積層セラミックコンデンサ１を実現できる。

　同様に、製造後の積層セラミックコンデンサ１は、積層体１０の積層（Ｔ）方向と幅（Ｗ）方向とに延びるＷＴ断面において、内層部３０側に位置する内側サイドマージン部４１ｉにおけるＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量が、第１側面１３側に位置する外側サイドマージン部４１ｏにおけるＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量より多い。また、内層部３０側に位置する内側サイドマージン部４２ｉにおけるＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量が、第２側面１４側に位置する外側サイドマージン部４２ｏにおけるＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物より多い。内側サイドマージン部４１ｉと内側サイドマージン部４２ｉに含有されるＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物は、焼成時に焼結助剤として機能する。Ｃａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物は焼結助剤として機能し、内側サイドマージン部４１ｉと内側サイドマージン部４２ｉの焼結性を確保できる。そのため、緻密な内側サイドマージン部４１ｉと内側サイドマージン部４２ｉを形成しやすい。その結果、外部から水分等が内側サイドマージン部４１ｉと内側サイドマージン部４２ｉに浸入しにくいため、積層セラミックコンデンサ１の耐湿信頼性を向上させることが可能となる。

　また、第１外層部３１と第２外層部３２は、これを構成する内側外層部３１ｉ、内側外層部３２ｉ、外側外層部３１ｏ、外側外層部３２ｏが、第１の実施態様と同様に積層されることから、第２の実施態様の第１外層部３１と第２外層部３２においても、第１の実施態様と同様の効果を得ることができる。

　さらに、第２の実施態様においては、第１セラミックグリーンシート１０１と第２セラミックグリーンシート１０２を積層（Ｔ）方向から平面視したとき、内側のセラミックペースト１４１ｉ、１４２ｉが塗布される範囲と重なる部分の未焼成の誘電体層１２０の組成を外側のセラミックペースト１４１ｏ、１４２ｏが塗布される範囲と重なる部分の未焼成の誘電体層１２０の組成より、ＭｎＣＯ_３などのＭｎ化合物の含有量が多くなるよう調製し、外側のセラミックペースト１４１ｏ、１４２ｏが塗布される範囲と重なる部分の未焼成の誘電体層１２０の組成を内側のセラミックペースト１４１ｉ、１４２ｉが塗布される範囲と重なる部分の未焼成の誘電体層１２０の組成より、ＳｉＯ_２ガラスの含有量が多くなるように調製する。これにより、より一層、耐湿性を向上させる効果が顕著となる。

　第１の実施態様及び第２の実施態様は、いずれも第１外部電極５１と第２外部電極５２を備えた２端子型の積層セラミックコンデンサ１を例として説明したが、本発明は２端子型の積層セラミックコンデンサに限定されるものではなく、その要旨の範囲内で種々に変形される。

　以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明は実施形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々の態様で実施することが可能である。本発明は以下の組み合わせを含む。

＜１＞
　積層方向に沿って交互に積層された複数の誘電体層および複数の内部電極層を含み、前記積層方向において相対する第１主面および第２主面と、前記積層方向に直交する幅方向において相対する第１側面および第２側面と、前記積層方向および前記幅方向の両方に直交する長さ方向において相対する第１端面および第２端面とを有する積層体と、
　前記第１端面に設けられ、前記複数の内部電極層の端部と接続する第１外部電極と、
　前記第２端面に設けられ、前記複数の内部電極層の端部と接続する第２外部電極と、
　を備え、
　前記積層体は、前記複数の内部電極層が互いに対向し静電容量を形成する内層部と、前記積層方向において前記内層部の第１主面側に位置する第１外層部と、前記積層方向において前記内層部の第２主面側に位置する第２外層部と、前記幅方向において前記内層部の第１側面側と前記第１外層部の第１側面側に位置する第１サイドマージン部と、前記幅方向において前記内層部の第２側面側と前記第２外層部の第２側面側に位置する第２サイドマージン部と、を備え、
　前記第１サイドマージン部と前記第２サイドマージン部は、前記第１側面側又は前記第２側面側に位置する外側サイドマージン部と、前記外側サイドマージン部より前記内層部側に位置する内側サイドマージン部とを有し、
　前記積層体の前記積層方向と前記幅方向とに延びる断面において、外側サイドマージン部におけるカルシウムシリケートの含有量が、内側サイドマージン部におけるカルシウムシリケートの含有量より多く、
　前記内側サイドマージン部におけるＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量は、前記外側サイドマージン部におけるＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量より多く、
　前記第１外層部と第２外層部は、前記第１主面側又は前記第２主面側に位置する外側外層部と、前記外側外層部より前記内層部側に位置する内側外層部を有し、
　前記積層体の前記積層方向と前記幅方向とに延びる断面において、前記外側外層部におけるカルシウムシリケートの含有量が、前記内側外層部におけるカルシウムシリケートの含有量より多く、
　前記内側外層部におけるＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量は、前記外側外層部におけるＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量より多い、積層セラミックコンデンサ。
＜２＞
　前記積層体の前記積層方向と前記幅方向とに延びる断面において、全ての隣り合う前記内部電極層の前記幅方向端部の前記幅方向のズレ量が５μｍ以下である、＜１＞に記載の積層セラミックコンデンサ。
＜３＞
　前記外側外層部の前記積層方向の厚みと、前記内側外層部の積層方向の厚みは異なり、
　前記外側外層部の前記積層方向の厚みは、前記内側外層部の厚みよりも大きい、＜１＞又は＜２＞に記載の積層セラミックコンデンサ。
＜４＞
　前記外側外層部の前記積層方向の厚みは、１０μｍ以上３０μｍ以下であり、前記内側外層部の前記積層方向の厚みは、５μｍ以上２０μｍ以下である、＜１＞乃至＜３＞のいずれかに記載の積層セラミックコンデンサ。
＜５＞
　前記外側サイドマージン部の前記幅方向の厚みと、前記内側サイドマージン部の前記幅方向の厚みは異なり、
　前記外側サイドマージン部の前記幅方向の厚みは、前記内側サイドマージン部の前記幅方向の厚みよりも大きい、＜１＞乃至＜４＞のいずれかに記載の積層セラミックコンデンサ。
＜６＞
　前記外側サイドマージン部の前記幅方向の厚みは３μｍ以上２０μｍ以下であり、前記内側サイドマージン部の前記幅方向の厚みは２μｍ以上２０μｍ以下である、＜１＞乃至＜５＞のいずれかに記載の積層セラミックコンデンサ。
＜７＞
　前記外側外層部におけるカルシウムシリケートの含有量は、前記内側外層部におけるカルシウムシリケートの含有量に対して５Ａｔｏｍ％以上３０Ａｔｏｍ％以下多く含有されている、＜１＞乃至＜６＞のいずれかに記載の積層セラミックコンデンサ。
＜８＞
　前記内側外層部におけるＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量は、前記外側外層部におけるＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量に対して２Ａｔｏｍ％以上１０Ａｔｏｍ％以下多く含有されている、＜１＞乃至＜７＞のいずれかに記載の積層セラミックコンデンサ。
＜９＞
　前記外側サイドマージン部におけるカルシウムシリケートの含有量は、前記内側サイドマージン部におけるカルシウムシリケートの含有量に対して５Ａｔｏｍ％以上３０Ａｔｏｍ％以下多く含有されている、＜１＞乃至＜８＞のいずれかに記載の積層セラミックコンデンサ。
＜１０＞
　前記内側サイドマージン部におけるＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量は、前記外側サイドマージン部におけるＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量に対して２Ａｔｏｍ％以上１０Ａｔｏｍ％以下多く含有されている、＜１＞乃至＜９＞のいずれかに記載の積層セラミックコンデンサ。

　１　積層セラミックコンデンサ
　１０　積層体
　１１　第１主面
　１２　第２主面
　１３　第１側面
　１４　第２側面
　１５　第１端面
　１６　第２端面
　２０　誘電体層
　２１　内部電極層
　２１ａ　第１内部電極層
　２１ｂ　第２内部電極層
　３０　内層部
　３１　第１外層部
　３１ｉ　内側外層部
　３１ｏ　外側外層部
　３２　第２外層部
　３２ｉ　内側外層部
　３２ｏ　外側外層部
　４１　第１サイドマージン部
　４１ｉ　内側サイドマージン部
　４１ｏ　外側サイドマージン部
　４２　第２サイドマージン部
　４２ｉ　内側サイドマージン部
　４２ｏ　外側サイドマージン部
　５１　第１外部電極
　５２　第２外部電極

Claims (10)

1. 　積層方向に沿って交互に積層された複数の誘電体層および複数の内部電極層を含み、前記積層方向において相対する第１主面および第２主面と、前記積層方向に直交する幅方向において相対する第１側面および第２側面と、前記積層方向および前記幅方向の両方に直交する長さ方向において相対する第１端面および第２端面とを有する積層体と、
   　前記第１端面に設けられ、前記複数の内部電極層の端部と接続する第１外部電極と、
   　前記第２端面に設けられ、前記複数の内部電極層の端部と接続する第２外部電極と、
   　を備え、
   　前記積層体は、前記複数の内部電極層が互いに対向し静電容量を形成する内層部と、前記積層方向において前記内層部の第１主面側に位置する第１外層部と、前記積層方向において前記内層部の第２主面側に位置する第２外層部と、前記幅方向において前記内層部の第１側面側と前記第１外層部の第１側面側に位置する第１サイドマージン部と、前記幅方向において前記内層部の第２側面側と前記第２外層部の第２側面側に位置する第２サイドマージン部と、を備え、
   　前記第１サイドマージン部と前記第２サイドマージン部は、前記第１側面側又は前記第２側面側に位置する外側サイドマージン部と、前記外側サイドマージン部より前記内層部側に位置する内側サイドマージン部とを有し、
   　前記積層体の前記積層方向と前記幅方向とに延びる断面において、外側サイドマージン部におけるカルシウムシリケートの含有量が、内側サイドマージン部におけるカルシウムシリケートの含有量より多く、
   　前記内側サイドマージン部におけるＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量は、前記外側サイドマージン部におけるＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量より多く、
   　前記第１外層部と第２外層部は、前記第１主面側又は前記第２主面側に位置する外側外層部と、前記外側外層部より前記内層部側に位置する内側外層部を有し、
   　前記積層体の前記積層方向と前記幅方向とに延びる断面において、前記外側外層部におけるカルシウムシリケートの含有量が、前記内側外層部におけるカルシウムシリケートの含有量より多く、
   　前記内側外層部におけるＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量は、前記外側外層部におけるＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量より多い、積層セラミックコンデンサ。
2. 　前記積層体の前記積層方向と前記幅方向とに延びる断面において、全ての隣り合う前記内部電極層の前記幅方向端部の前記幅方向のズレ量が５μｍ以下である、請求項１に記載の積層セラミックコンデンサ。
3. 　前記外側外層部の前記積層方向の厚みと、前記内側外層部の前記積層方向の厚みは異なり、
   　前記外側外層部の前記積層方向の厚みは、前記内側外層部の厚みよりも大きい、請求項１又は２に記載の積層セラミックコンデンサ。
4. 　前記外側外層部の前記積層方向の厚みは、１０μｍ以上３０μｍ以下であり、前記内側外層部の前記積層方向の厚みは、５μｍ以上２０μｍ以下である、請求項１乃至３のいずれかに記載の積層セラミックコンデンサ。
5. 　前記外側サイドマージン部の前記幅方向の厚みと、前記内側サイドマージン部の前記幅方向の厚みは異なり、
   　前記外側サイドマージン部の前記幅方向厚みは、前記内側サイドマージン部の前記幅方向の厚みよりも大きい、請求項１乃至４のいずれかに記載の積層セラミックコンデンサ。
6. 　前記外側サイドマージン部の前記幅方向の厚みは３μｍ以上２０μｍ以下であり、前記内側サイドマージン部の前記幅方向の厚みは２μｍ以上２０μｍ以下である、請求項１乃至５のいずれかに記載の積層セラミックコンデンサ。
7. 　前記外側外層部におけるカルシウムシリケートの含有量は、前記内側外層部におけるカルシウムシリケートの含有量に対して５Ａｔｏｍ％以上３０Ａｔｏｍ％以下含有されている、請求項１乃至６のいずれかに記載の積層セラミックコンデンサ。
8. 　前記内側外層部におけるＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量は、前記外側外層部におけるＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量に対して２Ａｔｏｍ％以上１０Ａｔｏｍ％以下含有されている、請求項１乃至７のいずれかに記載の積層セラミックコンデンサ。
9. 　前記外側サイドマージン部におけるカルシウムシリケートの含有量は、前記内側サイドマージン部におけるカルシウムシリケートの含有量に対して５Ａｔｏｍ％以上３０Ａｔｏｍ％以下含有されている、請求項１乃至８のいずれかに記載の積層セラミックコンデンサ。
10. 　前記内側サイドマージン部におけるＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量は、前記外側サイドマージン部におけるＣａ－Ｍｎ－Ｓｉ系酸化物の含有量に対して２Ａｔｏｍ％以上１０Ａｔｏｍ％以下含有されている、請求項１乃至９のいずれかに記載の積層セラミックコンデンサ。