WO2024013882A1

WO2024013882A1 - エレベーターの制御装置および制御方法

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Publication number: WO2024013882A1
Application number: PCT/JP2022/027565
Authority: WO
Inventors: 拓也美浦
Original assignee: 三菱電機ビルソリューションズ株式会社
Priority date: 2022-07-13
Filing date: 2022-07-13
Publication date: 2024-01-18

Abstract

力行方向にかごを走行させる救出運転ができないような閉じ込めが発生しにくくなるエレベーターの制御装置および制御方法を提供する。制御装置（１００）において、インバータ（８）は、エレベーターのかごを走行させる巻上機モータ（９）を駆動する。平滑コンデンサ（７）は、インバータ（８）に接続された直流母線の電圧を安定化させる。回生抵抗器（１０）は、エレベーターの回生運転の際に巻上機モータ（９）が発生させた回生電力を消費する。閾値設定部（１５）は、第２寿命予測部（１７）の予測するインバータ（８）の残寿命が第１寿命予測部（１６）の予測する回生スイッチング素子（１１）の残寿命より長くなるように、電圧閾値を設定する。切替制御部（１３）は、直流母線の電圧の検出値および設定された電圧閾値の関係に基づいて、回生抵抗器（１０）への電流の流入の有無を切り替える回生スイッチング素子（１１）の切替動作を制御する。

Description

エレベーターの制御装置および制御方法

　本開示は、エレベーターの制御装置および制御方法に関する。

　特許文献１は、エレベーターの例を開示する。エレベーターの制御装置において、インバータの寿命を推定する寿命推定回路が設けられる。

日本特開２００９－１２９２９号公報

　特許文献１のエレベーターなどのようにインバータの寿命が推定される場合であっても、管理上の都合などにより、インバータの部品などの早期の交換が推定された寿命までに行えないことがある。このような場合に、インバータの故障によってエレベーターが緊急停止する可能性がある。エレベーターが緊急停止するときに、かご内に乗車していた利用者の閉じ込めが発生することがある。このとき、インバータが故障していると、力行方向にかごを走行させてフロアレベルに停止させる救出運転を行うことができない。

　本開示は、このような課題の解決に係るものである。本開示は、力行方向にかごを走行させる救出運転ができないような閉じ込めが発生しにくくなるエレベーターの制御装置および制御方法を提供する。

　本開示に係るエレベーターの制御装置は、エレベーターのかごを走行させる巻上機モータを駆動するインバータと、前記インバータに接続された直流母線の電圧を安定化させる平滑コンデンサと、前記直流母線に接続され、前記エレベーターの回生運転の際に前記巻上機モータが発生させた回生電力を消費する回生抵抗器と、前記回生抵抗器への電流の流入の有無を切り替える回生スイッチング素子と、前記直流母線の電圧を検出する第１電圧監視部と、前記回生スイッチング素子の切替動作のタイミングを決定する電圧閾値を設定する閾値設定部と、前記第１電圧監視部が検出した電圧値および前記閾値設定部が設定した前記電圧閾値の関係に基づいて、前記回生スイッチング素子の切替動作を制御する切替制御部と、前記回生スイッチング素子の残寿命を予測する第１寿命予測部と、前記インバータの残寿命を予測する第２寿命予測部と、を備え、前記閾値設定部は、前記第２寿命予測部の予測する前記インバータの残寿命が前記第１寿命予測部の予測する前記回生スイッチング素子の残寿命より長くなるように、前記電圧閾値を設定する。

　本開示に係るエレベーターの制御方法は、かごを走行させる巻上機モータを駆動するインバータと、前記インバータに接続された直流母線の電圧を安定化させる平滑コンデンサと、前記直流母線に接続され、回生運転の際に前記巻上機モータが発生させた回生電力を消費する回生抵抗器と、前記回生抵抗器への電流の流入の有無を切り替える回生スイッチング素子と、前記直流母線の電圧を検出する第１電圧監視部と、前記第１電圧監視部が検出した電圧値、および前記回生スイッチング素子の切替動作のタイミングを決定する電圧閾値の関係に基づいて、前記回生スイッチング素子の切替動作を制御する切替制御部と、
　を有するエレベーターの制御方法であり、前記回生スイッチング素子の残寿命を予測する第１予測ステップと、前記インバータの残寿命を予測する第２予測ステップと、前記第２予測ステップにおいて予測した前記インバータの残寿命が前記第１予測ステップにおいて予測した前記回生スイッチング素子の残寿命より長くなるように、前記電圧閾値を設定する閾値設定ステップと、を備える。

　本開示に係るエレベーターの制御装置または制御方法であれば、力行方向にかごを走行させる救出運転ができないような閉じ込めが発生しにくくなる。

実施の形態１に係るエレベーターの制御装置の構成図である。実施の形態１に係るエレベーターの回生運転の際の回生スイッチング素子の切替動作の例を説明する図である。実施の形態１に係るエレベーターの回生運転の際の回生スイッチング素子の切替動作の例を説明する図である。実施の形態１に係るエレベーターの制御装置におけるインバータおよび回生スイッチング素子の残寿命の推移と、電圧閾値の設定との例を説明する図である。実施の形態１に係るエレベーターの制御装置におけるインバータまたは回生スイッチング素子の残寿命の予測の例を説明する図である。実施の形態１に係るエレベーターの制御装置におけるインバータまたは回生スイッチング素子の残寿命の予測の例を説明する図である。実施の形態１に係るエレベーターの制御装置における回生スイッチング素子のオープン故障の判定の例を説明する図である。実施の形態１に係るエレベーターの制御装置における回生スイッチング素子のオープン故障の判定の例を説明する図である。実施の形態１に係る制御装置の主要部のハードウェア構成図である。実施の形態２に係るエレベーターの制御装置の構成図である。

　本開示の対象を実施するための形態について添付の図面を参照しながら説明する。各図において、同一または相当する部分には同一の符号を付して、重複する説明は適宜に簡略化または省略する。なお、本開示の対象は以下の実施の形態に限定されることなく、本開示の趣旨を逸脱しない範囲において、実施の形態の任意の構成要素の変形、または実施の形態の任意の構成要素の省略が可能である。

　実施の形態１．
　図１は、実施の形態１に係るエレベーターの制御装置の構成図である。

　エレベーターは、複数の階床を有する建物などに適用される。建物において、エレベーターの図示されない昇降路が設けられる。昇降路は、複数の階床にわたる上下方向に長い空間である。エレベーターは、図示されないかごを有する。かごは、昇降路に配置される。かごの荷重は、図示されない主ロープによって支持されている。かごは、昇降路を上下方向に走行することで、エレベーターの利用者を複数の階床の間で輸送する装置である。エレベーターの利用者は、かごが各々の階床のフロアレベルに停止しているときに、かごに乗降する。

　エレベーターは、制御装置１００によって制御される。エレベーターは、外部の交流電源１から電力の供給を受けて動作する。この例において、交流電源１は、３相交流の電力を供給する商用電源である。交流電源１の各相の出力端は、制御装置１００の電源投入スイッチ２の各々の入力端に接続される。

　各々の電源投入スイッチ２は、例えばノーヒューズブレーカなどからなる。各々の電源投入スイッチ２の出力端は、制御装置１００のコンタクタ３の入力端に接続される。各々のコンタクタ３の出力端は、制御装置１００のコンバータ４の各入力端に接続される。コンバータ４は、例えば３相ダイオードブリッジ回路などからなる。コンバータ４の高電位側の出力端は、第１直流母線５の入力端に接続される。コンバータ４の低電位側出力端は、第２直流母線６の入力端に接続される。

　第１直流母線５および第２直流母線６の間において、制御装置１００の平滑コンデンサ７が接続される。第１直流母線５の出力端は、制御装置１００のインバータ８の高電位側の入力端に接続される。第２直流母線６の出力端は、制御装置１００のインバータ８の低電位側の入力端に接続される。インバータ８は、例えば２レベルの３相電圧型フルブリッジ回路などによって構成される。インバータ８は、図示されないスイッチング素子を含む。インバータ８のスイッチング素子は、例えばＩＧＢＴ（Ｉｎｓｕｌａｔｅｄ　Ｇａｔｅ　Ｂｉｐｏｌａｒ　Ｔｒａｎｓｉｓｔｏｒ）などからなる。インバータ８の出力端は、巻上機モータ９の各入力端に接続される。巻上機モータ９は、エレベーターのかごを走行させる駆動力を発生させる装置である。巻上機モータ９が回転駆動する回転軸は、例えば主ロープが巻き掛けられた図示されない駆動シーブに接続される。

　このような構成のエレベーターにおいて、起動時にはコンタクタ３が閉成される。コンタクタ３の閉成により、交流電源１からコンバータ４に交流電力が供給される。コンバータ４は、供給された交流電力を直流電力に変換する。コンバータ４が変換して出力した直流電力は、平滑コンデンサ７によって平滑化される。平滑化された直流電力は、インバータ８に入力される。インバータ８は、入力された直流電力を交流電力に変換する。インバータ８が変換して出力した交流電力は、巻上機モータ９に供給される。巻上機モータ９は、供給された交流電力によって回転軸および駆動シーブを回転駆動する。駆動シーブの回転に伴い主ロープが移動することで、かごが昇降路を上下方向に走行する。

　一方、かごにかかる負荷とかごの走行方向との関係によって、エレベーターは回生運転する場合がある。エレベーターが回生運転するときに、巻上機モータ９は発電機として機能する。すなわち、巻上機モータ９は回生電力を発生させる。制御装置１００は、巻上機モータ９が発生させた回生電力を消費する機能を搭載する。

　制御装置１００は、回生抵抗器１０と、回生スイッチング素子１１と、回生スイッチング素子ゲートドライブ回路１２と、を備える。回生抵抗器１０は、例えば電力をジュール熱として消費する抵抗器である。回生スイッチング素子１１は、電流の流入の有無を切り替える切替動作を行う素子である。回生スイッチング素子１１は、例えばＩＧＢＴなどからなる。回生スイッチング素子ゲートドライブ回路１２は、例えば回生スイッチング素子１１の切替動作を駆動する信号を出力するゲートドライバである。回生抵抗器１０の一端は、第１直流母線５に接続される。回生抵抗器１０の他端は、回生スイッチング素子１１のコレクタ端子に接続される。回生スイッチング素子１１のエミッタ端子は、第２直流母線６に接続される。回生スイッチング素子ゲートドライブ回路１２の出力端は、回生スイッチング素子１１のゲート端子に接続される。

　制御装置１００は、切替制御部１３と、第１電圧監視部１４と、閾値設定部１５と、第１寿命予測部１６と、第２寿命予測部１７と、第１温度センサ１８と、第２温度センサ１９と、故障判定部２０と、を備える。

　切替制御部１３は、回生スイッチング素子１１の切替動作を制御する機能を搭載する部分である。切替制御部１３の出力は、回生スイッチング素子ゲートドライブ回路１２の入力に接続される。切替制御部１３は、回生スイッチング素子ゲートドライブ回路１２を介して回生スイッチング素子１１に切替動作の制御信号を出力する。

　第１電圧監視部１４は、直流母線の電圧、すなわち第１直流母線５および第２直流母線６の間の電圧を検出する機能を搭載する部分である。第１電圧監視部１４は、第１直流母線５および第２直流母線６に接続される。第１電圧監視部１４の出力は、切替制御部１３の入力に接続される。

　閾値設定部１５は、切替制御部１３の電圧閾値を設定する機能を搭載する部分である。電圧閾値は、切替制御部１３における回生スイッチング素子１１の切替動作のタイミングの決定に用いられる。閾値設定部１５の出力は、切替制御部１３の入力に接続される。

　切替制御部１３は、第１電圧監視部１４が検出した直流母線の電圧値および閾値設定部１５が設定した電圧閾値の関係に基づいて、回生スイッチング素子１１の切替動作を制御する。この例において、電圧閾値は、高電位側電圧閾値および低電位側電圧閾値を含む。高電位側電圧閾値は、低電位側電圧閾値より高い電圧値に設定される。高電位側電圧閾値および低電位側電圧閾値の一方または両方は、閾値設定部１５によって設定される。高電位側電圧閾値または低電位側電圧閾値は、予め設定された値であってもよい。この例において、高電位側閾値は、インバータ８および平滑コンデンサ７などの機器について過電圧とならない特定の固定値に予め設定される。切替制御部１３は、第１電圧監視部１４が検出した直流母線の電圧値が高電位側閾値を超えるときに、回生抵抗器１０に電流が流入するように回生スイッチング素子１１の動作をオンに切り替える。また、切替制御部１３は、第１電圧監視部１４が検出した直流母線の電圧値が低電位側閾値を下回るときに、回生抵抗器１０に電流が流入しないように回生スイッチング素子１１の動作をオフに切り替える。切替制御部１３は、このようにヒステリシス制御を行う。

　エレベーターが力行運転するときに、回生スイッチング素子１１は、常時、回生抵抗器１０に電流が流入しないオフ状態となっている。一方、コンバータ４がダイオードコンバータのような交流電源１に回生できる機能を有していない場合に、エレベーターが回生運転するときに、巻上機モータ９が発生させた回生電力は平滑コンデンサ７に蓄積される。このとき、直流母線電圧が上昇する。直流母線電圧が上昇して高電位側閾値を超えると、切替制御部１３は、回生スイッチング素子１１をオン状態に切り替える。これにより、第１直流母線５および第２直流母線６の間に回生抵抗器１０が接続される放電回路が形成される。形成された放電回路において、平滑コンデンサ７に蓄積された電力および回生電力が回生抵抗器１０においてジュール熱に変換され消費される。このとき、直流母線電圧が下降する。このように、エレベーターの回生運転の際には、回生スイッチング素子１１のオンオフ動作が繰り返される。

　第１寿命予測部１６は、回生スイッチング素子１１の残寿命を予測する機能を搭載する部分である。第２寿命予測部１７は、インバータ８の残寿命を予測する機能を搭載する部分である。

　第１温度センサ１８は、回生スイッチング素子１１に近接して配置される。第１温度センサ１８は、回生スイッチング素子１１の半導体チップの近傍に実装される。第１温度センサ１８は、回生スイッチング素子１１の温度を計測する。第１温度センサ１８の計測値は、第１寿命予測部１６に入力される。第１温度センサ１８の計測値は、例えば、第１寿命予測部１６における回生スイッチング素子１１の残寿命の予測に用いられる。

　第２温度センサ１９は、インバータ８に近接して配置される。第２温度センサ１９は、インバータ８に搭載された特定の半導体チップの近傍に実装される。当該半導体チップは、インバータ８に搭載された半導体チップのうち、実装上、温度上昇が最も大きくなるものとして選定された半導体チップなどである。当該半導体チップは、例えばインバータ８に搭載されたスイッチング素子の半導体チップなどである。第２温度センサ１９は、当該半導体チップの温度を計測する。第２温度センサ１９の計測値は、第２寿命予測部１７に入力される。第２温度センサ１９の計測値は、例えば、第２寿命予測部１７におけるインバータ８の残寿命の予測に用いられる。インバータ８の残寿命は、例えば、インバータ８に搭載されたいずれかの半導体チップの残寿命などに対応する。なお、第２温度センサ１９は、複数実装されていてもよい。このとき、各々の第２温度センサ１９は、インバータ８に搭載された特定の複数の半導体チップの各々の近傍に実装される。

　閾値設定部１５は、第２寿命予測部１７の予測するインバータ８の残寿命が第１寿命予測部１６の予測する回生スイッチング素子１１の残寿命より長くなるように、電圧閾値を設定する。この例において、閾値設定部１５は、インバータ８の残寿命および回生スイッチング素子１１の残寿命の大小関係に基づいて、予め設定された複数の電圧値から１つの電圧値を選択し、低電位側電圧閾値として設定する。ここで、閾値設定部１５は、予め設定された寿命余裕を考慮してインバータ８の残寿命および回生スイッチング素子１１の残寿命の大小関係を比較してもよい。寿命余裕は、残寿命の予測精度に応じて設定される。これにより、残寿命の予測精度が悪かったために、インバータ８が回生スイッチング素子１１より先に寿命に到達してしまうことが防止される。閾値設定部１５は、設定した電圧閾値を切替制御部１３に出力することで、切替制御部１３が用いている電圧閾値を更新させる。

　故障判定部２０は、回生スイッチング素子１１におけるオープン故障の発生を判定する機能を搭載する部分である。故障判定部２０の入力は、切替制御部１３の出力に接続される。故障判定部２０は、切替制御部１３から回生スイッチング素子１１への切替動作の制御信号を受け付ける。故障判定部２０の入力は、第１電圧監視部１４の出力に接続される。故障判定部２０は、第１電圧監視部１４が検出した直流母線の電圧値を受け付ける。

　故障判定部２０は、平滑コンデンサ７の放電開始から十分時間が経過した放電後の直流母線電圧の検出値に基づいて、回生スイッチング素子におけるオープン故障の発生を判定する。故障判定部２０は、平滑コンデンサ７の放電開始を、例えば切替制御部１３からの切替動作の制御信号に基づいて検出する。故障判定部２０は、例えば、平滑コンデンサ７が充電されており、かつ、平滑コンデンサ７への給電が断たれた状況下で、故障発生の判定を行う。故障判定部２０は、例えば、エレベーターが停止しており、かつ、コンタクタ３が開放状態のときに故障発生の判定を行う。故障判定部２０は、エレベーターが運転を休止している休止モードの際に故障発生の判定を行ってもよいし、１日に１回などの診断モードにおいてエレベーターが停止しているときに故障発生の判定を行ってもよい。

　また、制御装置１００の故障などによってエレベーターが緊急停止することがある。この場合に、かごが階床間の位置で停止すると、かご内に乗車していた利用者の閉じ込めが発生することがある。なお、階床間の位置は、例えば隣接する階床の各々のフロアレベルの間の位置などである。ここで、インバータ８の残寿命が回生スイッチング素子１１の残寿命より長くなるようにエレベーターの制御が行われているので、回生スイッチング素子１１はインバータ８より先に故障する。このため、回生スイッチング素子１１のオープン故障によってエレベーターが緊急停止したときに、インバータ８は故障していないことが見込まれる。このため、閉じ込めの発生時において、制御装置１００は、故障判定部２０が回生スイッチング素子１１にオープン故障が発生したと判定する場合に、力行方向への救出運転を行う。力行方向への救出運転において、インバータ８は、力行方向にかごを走行させてフロアレベルに停止させるように巻上機モータ９を駆動する。力行方向への救出運転により、遠隔での救出が可能となるため、閉じ込めに対する早期の救出が実現される。

　続いて、図２を用いて、エレベーターの回生運転の際の回生スイッチング素子１１の切替動作の例を説明する。
　図２Ａおよび図２Ｂは、実施の形態１に係るエレベーターの回生運転の際の回生スイッチング素子１１の切替動作の例を説明する図である。
　図２Ａおよび図２Ｂの各々に示されるグラフにおいて、横軸は時間の経過を表す。これらのグラフにおいて、縦軸は電圧を表す。これらのグラフにおいて、直流母線の電圧値２１が実線で示される。これらのグラフにおいて、電圧閾値２２、電圧閾値２３、および電圧閾値２４が破線で示される。

　図２Ａは、第２寿命予測部１７の予測するインバータ８の残寿命から寿命余裕を差し引いた値が、第１寿命予測部１６の予測する回生スイッチング素子１１の残寿命より長い場合の例を示している。このとき、直流母線の電圧値２１は、高電位側電圧閾値２２および第１低電位側電圧閾値２３の間を遷移する。ここで、高電位側電圧閾値２２は、予め設定された固定値である。また、第１低電位側電圧閾値２３は、寿命余裕を差し引いたインバータ８の残寿命が回生スイッチング素子１１の残寿命より長くなるときに、閾値設定部１５が複数の電圧値から選択して低電位側電圧閾値として設定した電圧値である。

　図２Ｂは、第２寿命予測部１７の予測するインバータ８の残寿命から寿命余裕を差し引いた値が、第１寿命予測部１６の予測する回生スイッチング素子１１の残寿命より短い場合の例を示している。このとき、直流母線の電圧値２１は、高電位側電圧閾値２２および第２低電位側電圧閾値２４の間を遷移する。ここで、第２低電位側電圧閾値２４は、寿命余裕を差し引いたインバータ８の残寿命が回生スイッチング素子１１の残寿命より短くなるときに、閾値設定部１５が複数の電圧値から選択して低電位側電圧閾値として設定した電圧値である。

　第２低電位側電圧閾値２４は、第１低電位側電圧閾値２３より高電位側に設定される。すなわち、図２Ｂに対して、図２Ａでは高電位側電圧閾値および低電位側電圧閾値の間の電圧値の差であるヒステリシス幅がより広くなっている。また、図２Ａに対して、図２Ｂではヒステリシス幅がより狭くなっている。このため、図２Ｂに対して、図２Ａでは、回生スイッチング素子１１の動作がより低周波なスイッチング動作となる。また、図２Ａに対して、図２Ｂでは、回生スイッチング素子１１の動作がより高周波なスイッチング動作となる。回生スイッチング素子１１において、より高周波なスイッチング動作を行うと、スイッチング損失がより大きくなり、より短寿命となる。一方、回生スイッチング素子１１において、より低周波なスイッチング動作を行うと、スイッチング損失がより小さくなり、より長寿命となる。このため、ヒステリシス幅の制御によって、回生スイッチング素子１１およびインバータ８の残寿命の関係が調整される。

　続いて、図３を用いて、インバータ８および回生スイッチング素子１１の残寿命の推移と、電圧閾値の設定との例を説明する。
　図３は、実施の形態１に係るエレベーターの制御装置１００におけるインバータ８および回生スイッチング素子１１の残寿命の推移と、電圧閾値の設定との例を説明する図である。

　図３に示されるグラフの各々において、横軸は、エレベーターを新規に据付した直後、または部品交換直後などからの経過年数を表す。なお、部品交換の際には、インバータ８の部品および回生スイッチング素子１１は同時に交換される。

　図３の上側のグラフは、閾値設定部１５が設定する電圧閾値の経年変化を示す。当該グラフにおいて、縦軸は設定された電圧閾値の値を表す。当該グラフにおいて、高電位側電圧閾値２２および低電位側電圧閾値２５が示される。低電位側電圧閾値２５は、第１低電位側電圧閾値２３および第２低電位側電圧閾値２４のいずれかの値をとる。

　図３の下側のグラフは、インバータ８の残寿命２６および回生スイッチング素子１１の残寿命２７の経年変化を示す。インバータ８の残寿命２６から寿命余裕２８を差し引いた値は、破線２９によって示される。

　据付直後または部品交換直後において、低電位側電圧閾値２５は、より高電位の第１低電位側電圧閾値２３に設定される。第１低電位側電圧閾値２３は、インバータ８の残寿命２６の寿命消費より、回生スイッチング素子１１の残寿命２７の寿命消費の方が早くなるように予め設計されている。時間経過とともに回生スイッチング素子１１の残寿命２７が消費されてインバータ８の残寿命２６から寿命余裕２８を差し引いた値２９を下回ると、閾値設定部１５は、低電位側電圧閾値２５を、より低電位の第２低電位側電圧閾値２４に設定する。第２低電位側電圧閾値２４は、インバータ８の残寿命２６の寿命消費より、回生スイッチング素子１１の残寿命２７の寿命消費の方が遅くなるように予め設計されている。その後、回生スイッチング素子１１の残寿命２７がインバータ８の残寿命２６から寿命余裕２８を差し引いた値２９を上回ると、閾値設定部１５は、低電位側電圧閾値２５を、より高電位の第１低電位側電圧閾値２３に再度設定する。

　続いて、図４を用いて、エレベーターの制御装置１００におけるインバータ８または回生スイッチング素子１１の残寿命の予測の例を説明する。
　図４Ａおよび図４Ｂは、実施の形態１に係るエレベーターの制御装置１００におけるインバータ８または回生スイッチング素子１１の残寿命の予測の例を説明する図である。
　第１寿命予測部１６および第２寿命予測部１７は、例えば次に説明するように温度変動に基づいたマイナー則などによって残寿命の予測を行う。なお、第１寿命予測部１６および第２寿命予測部１７は、温度変動から残寿命を予測する手法として、レインフロー法を採用してもよい。

　図４Ａは、残寿命の予測に用いられる温度センサの計測値の時間変動を示す。図４Ａに示されるグラフにおいて、横軸は時間の経過を示す。当該グラフにおいて、縦軸は温度の計測値を示す。図４Ａにおいて、第１温度センサ１８または第２温度センサ１９の計測値の時間変動が示される。すなわち、図４Ａにおいて、回生スイッチング素子１１またはインバータ８の温度センサが設けられた特定の半導体チップの温度変動が示される。エレベーターの運転に伴い当該半導体チップなどにおいて温度が上下する。第１寿命予測部１６および第２寿命予測部１７は、このときの温度変動の極大値から次の極小値までの温度差ΔＴに対応した寿命消費量を各温度サイクルに対して都度算出し、逐次加算することで累積の寿命消費量を計算する。ここで、寿命消費量は、例えば百分率などで表現されるパラメータである。寿命消費量１００％は、寿命に到達したことを表す。寿命消費量５０％は、寿命の半分を消費したことを表す。

　第１寿命予測部１６は、第１温度センサ１８の温度変動に基づいて算出された累積の寿命消費量を用いて、回生スイッチング素子１１の残寿命の予測値を算出する。また、第２寿命予測部１７は、第２温度センサ１９の温度変動に基づいて算出された累積の寿命消費量を用いて、インバータ８の残寿命の予測値を算出する。ここで、第２寿命予測部１７は、第２温度センサ１９が設けられた半導体チップの残寿命を、インバータ８の残寿命として算出してもよい。また、複数の第２温度センサ１９が設けられるときに、第２寿命予測部１７は、第２温度センサ１９が設けられた特定の複数の半導体チップのそれぞれについて残寿命を算出してもよい。このとき、第２寿命予測部１７は、算出した特定の半導体チップの残寿命のうち最も短いものを、インバータ８の残寿命としてもよい。

　図４Ｂは、温度差ΔＴおよびそれに対応する寿命消費量Ｌの関係を示す図である。図４Ｂに示されるグラフにおいて、横軸は温度差ΔＴを示す。当該グラフにおいて、縦軸は寿命消費量Ｌを示す。温度差ΔＴおよび寿命消費量Ｌの関係は、例えば事前に実施される寿命加速試験および計算などに基づいて予め作成される。温度差ΔＴおよび寿命消費量Ｌの関係は、例えば、特定の半導体チップのそれぞれに対して作成される。

　続いて、図５を用いて、エレベーターの制御装置１００における回生スイッチング素子１１のオープン故障の判定の例を説明する。
　図５Ａおよび図５Ｂは、実施の形態１に係るエレベーターの制御装置における回生スイッチング素子のオープン故障の判定の例を説明する図である。
　図５Ａおよび図５Ｂの各々に示されるグラフにおいて、横軸は時間の経過を表す。これらのグラフにおいて、縦軸は電圧を表す。これらのグラフにおいて、直流母線の電圧値２１が実線で示される。

　図５Ａは、回生スイッチング素子１１がオープン故障していない正常な場合において、平滑コンデンサ７に蓄電された電力を放電させたときの直流母線の電圧値２１の時間変化を示す。なお、平滑コンデンサ７に蓄電された電力は、回生スイッチング素子１１および回生抵抗器１０で形成される放電回路において放電させられる。

　故障判定部２０は、切替制御部１３から受け付けた回生スイッチング素子１１への切替動作の制御信号に基づいて、回生スイッチング素子１１のオフ状態からオン状態への切替を検出する。故障判定部２０は、回生スイッチング素子１１の切替による平滑コンデンサ７の放電の開始から放電時間３０が経過した後に、第１電圧監視部１４が検出した直流母線の電圧値２１が放電電圧閾値３１を下回っているかを判定する。ここで、放電時間３０は、平滑コンデンサ７の放電に要する時間に対して十分な時間として予め設定される。放電電圧閾値３１は、平滑コンデンサ７の放電の判定に十分な電圧として予め設定される。故障判定部２０は、直流母線の電圧値２１が放電電圧閾値３１を下回っているときに、平滑コンデンサ７が正常に放電できたとして、回生スイッチング素子１１がオープン故障に至っていないと判定する。

　図５Ｂは、回生スイッチング素子１１がオープン故障している場合において、図５Ａの場合と同様に回生スイッチング素子１１がオフ状態からオン状態に切り替えられたときの直流母線の電圧値２１の時間変化を示す。この場合において、回生スイッチング素子１１のオープン故障により放電回路が形成されず、平滑コンデンサ７の放電が開始されない。このとき、直流母線電圧２１は放電時間３０が経過しても放電電圧閾値３１を上回っている。このため、故障判定部２０は、回生スイッチング素子１１の切替から放電時間３０が経過した後に直流母線の電圧値２１が放電電圧閾値３１を上回っているときに、回生スイッチング素子１１がオープン故障に至っていると判定する。

　以上に説明したように、実施の形態１に係るエレベーターの制御装置１００は、インバータ８と、平滑コンデンサ７と、回生抵抗器１０と、回生スイッチング素子１１と、第１電圧監視部１４と、閾値設定部１５と、切替制御部１３と、第１寿命予測部１６と、第２寿命予測部１７と、を備える。インバータ８は、エレベーターのかごを走行させる巻上機モータ９を駆動する。平滑コンデンサ７は、インバータ８に接続された直流母線の電圧を安定化させる。回生抵抗器１０は、直流母線に接続される。回生抵抗器１０は、エレベーターの回生運転の際に巻上機モータ９が発生させた回生電力を消費する。回生スイッチング素子１１は、回生抵抗器１０への電流の流入の有無を切り替える。第１電圧監視部１４は、直流母線の電圧を検出する。閾値設定部１５は、回生スイッチング素子１１の切替動作のタイミングを決定する電圧閾値を設定する。切替制御部１３は、第１電圧監視部１４が検出した電圧値および閾値設定部１５が設定した電圧閾値の関係に基づいて、回生スイッチング素子１１の切替動作を制御する。第１寿命予測部１６は、回生スイッチング素子１１の残寿命を予測する。第２寿命予測部１７は、インバータ８の残寿命を予測する。閾値設定部１５は、第２寿命予測部１７の予測するインバータ８の残寿命が第１寿命予測部１６の予測する回生スイッチング素子１１の残寿命より長くなるように、電圧閾値を設定する。
　また、実施の形態１に係るエレベーターの制御方法は、第１予測ステップと、第２予測ステップと、閾値設定ステップと、を備える。第１予測ステップは、回生スイッチング素子１１の残寿命を予測するステップである。第２予測ステップは、インバータ８の残寿命を予測するステップである。閾値設定ステップは、第２予測ステップにおいて予測したインバータ８の残寿命が第１予測ステップにおいて予測した回生スイッチング素子１１の残寿命より長くなるように、電圧閾値を設定するステップである。

　このような構成により、インバータ８の残寿命が回生スイッチング素子１１の残寿命より長くなるようにエレベーターの制御が行われるので、回生スイッチング素子１１はインバータ８より先に故障する。このため、回生スイッチング素子１１のオープン故障によってエレベーターが緊急停止したときに、インバータ８は故障していないことが見込まれる。インバータ８の故障による緊急停止が発生しにくくなるので、力行方向にかごを走行させる救出運転ができないような閉じ込めが発生しにくくなる。

　また、制御装置１００は、第１温度センサ１８を備える。第１温度センサ１８は、回生スイッチング素子１１に近接して配置される。第１寿命予測部１６は、第１温度センサ１８が測定する温度変動に基づいて回生スイッチング素子１１の残寿命を予測する。
　また、制御装置１００は、第２温度センサ１９を備える。第２温度センサ１９は、インバータ８のスイッチング素子などの半導体チップに近接して配置される。第２寿命予測部１７は、第２温度センサ１９が測定する温度変動に基づいてインバータ８の残寿命を予測する。

　このような構成により、素子の温度変動の測定値に基づいて残寿命が予測されるので、残寿命の予測値がより正確なものになる。これにより、力行方向にかごを走行させる救出運転ができないような閉じ込めがより発生しにくくなる。

　また、制御装置１００は、故障判定部２０を備える。故障判定部２０は、回生スイッチング素子１１におけるオープン故障の発生を判定する。かごが階床間の位置で停止しているときに、故障判定部２０が回生スイッチング素子１１にオープン故障が発生したと判定する場合がある。この場合に、インバータ８は、力行方向にかごを走行させてフロアレベルに停止させる救出運転を実行するように、巻上機モータ９を駆動する。

　このような構成により、制御装置１００の部品の寿命到達時に閉じ込めが発生した場合においても、力行方向への救出運転が可能になるので、ブレーキ開放による閉じ込め救出と比較して遠隔での救出が容易になり、閉じ込めに対するより早期の救出が実現される。

　また、故障判定部２０は、平滑コンデンサ７が充電されており、かつ、平滑コンデンサ７への給電が断たれた状況下で、回生スイッチング素子１１におけるオープン故障の発生を判定する。故障判定部２０は、この状況下で、回生抵抗器１０に電流が流入するように回生スイッチング素子１１が切替動作をした後に第１電圧監視部１４が検出した電圧値に基づいて、回生スイッチング素子１１におけるオープン故障の発生を判定する。

　このような構成により、故障判定部２０は、直流母線の電圧の実際の検出値に基づいて回生スイッチング素子１１におけるオープン故障の発生を判定するので、故障発生の判定がより正確なものになる。

　また、切替制御部１３は、第１電圧監視部１４の検出した電圧値が高電位側電圧閾値を超えるときに、回生抵抗器１０に電流が流入するように回生スイッチング素子１１の動作を切り替える。切替制御部１３は、第１電圧監視部１４の検出した電圧値が低電位側電圧閾値を下回るときに、回生抵抗器１０に電流が流入しないように回生スイッチング素子１１の動作を切り替える。閾値設定部１５は、第２寿命予測部１７の予測するインバータ８の残寿命から予め設定された寿命余裕を差し引いた値が第１寿命予測部１６の予測する回生スイッチング素子１１の残寿命より短くなるときに、電圧閾値の設定を行う。このとき、閾値設定部１５は、電圧閾値として、高電位側電圧閾値および低電位側電圧閾値の差を小さくするように高電位側電圧閾値および低電位側電圧閾値の少なくともいずれかの設定を行う。

　このような構成により、スイッチング動作を高周波な動作および低周波な動作の間で切り替えることで、回生スイッチング素子１１の残寿命およびインバータ８の残寿命の関係をより容易に調整することができるようになる。

　なお、制御装置１００の例えば閾値設定部１５、第１寿命予測部１６、第２寿命予測部１７、および故障判定部２０などの情報処理に関する機能の一部または全部は、１つまたは複数のサーバなどに搭載されていてもよい。当該サーバの一部または全部は、エレベーターの遠隔地に配置され、インターネットまたは電話回線網などの通信網を通じて互いに通信を行うものであってもよい。制御装置１００の情報処理の機能の一部または全部は、クラウドサービス上の処理または記憶のリソースなどによって実現されてもよい。

　また、回生スイッチング素子１１の残寿命およびインバータ８の残寿命は、制御装置１００の外部において予測されてもよい。閾値設定部１５は、例えば保守員などによる電圧閾値の手動設定を受け付けてもよい。

　続いて、図６を用いて、制御装置１００のハードウェア構成の例について説明する。
　図６は、実施の形態１に係る制御装置１００の主要部のハードウェア構成図である。

　制御装置１００の各機能は、処理回路により実現し得る。処理回路は、少なくとも１つのプロセッサ２００ａと少なくとも１つのメモリ２００ｂとを備える。処理回路は、プロセッサ２００ａおよびメモリ２００ｂと共に、あるいはそれらの代用として、少なくとも１つの専用ハードウェア３００を備えてもよい。

　処理回路がプロセッサ２００ａとメモリ２００ｂとを備える場合、制御装置１００の各機能は、ソフトウェア、ファームウェア、またはソフトウェアとファームウェアとの組み合わせで実現される。ソフトウェアおよびファームウェアの少なくとも一方は、プログラムとして記述される。そのプログラムはメモリ２００ｂに格納される。プロセッサ２００ａは、メモリ２００ｂに記憶されたプログラムを読み出して実行することにより、制御装置１００の各機能を実現する。

　プロセッサ２００ａは、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ　Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ　Ｕｎｉｔ）、処理装置、演算装置、マイクロプロセッサ、マイクロコンピュータ、ＤＳＰともいう。メモリ２００ｂは、例えば、ＲＡＭ、ＲＯＭ、フラッシュメモリ、ＥＰＲＯＭ、ＥＥＰＲＯＭなどの、不揮発性または揮発性の半導体メモリなどにより構成される。

　処理回路が専用ハードウェア３００を備える場合、処理回路は、例えば、単一回路、複合回路、プログラム化したプロセッサ、並列プログラム化したプロセッサ、ＡＳＩＣ、ＦＰＧＡ、またはこれらの組み合わせで実現される。

　制御装置１００の各機能は、それぞれ処理回路で実現することができる。あるいは、制御装置１００の各機能は、まとめて処理回路で実現することもできる。制御装置１００の各機能について、一部を専用ハードウェア３００で実現し、他部をソフトウェアまたはファームウェアで実現してもよい。このように、処理回路は、専用ハードウェア３００、ソフトウェア、ファームウェア、またはこれらの組み合わせで制御装置１００の各機能を実現する。

　実施の形態２．
　実施の形態２において、実施の形態１で開示される例と相違する点について特に詳しく説明する。実施の形態２で説明しない特徴については、実施の形態１で開示される例のいずれの特徴が採用されてもよい。

　図７は、実施の形態２に係るエレベーターの制御装置の構成図である。

　制御装置１００は、インバータゲートドライブ回路３２と、インバータ制御部３３と、を備える。インバータゲートドライブ回路３２は、例えばインバータ８に搭載された各スイッチング素子の切替動作を駆動する信号を出力するゲートドライバである。インバータゲートドライブ回路３２の各出力端は、インバータ８に搭載された対応するスイッチング素子のゲート端子に接続される。インバータ制御部３３は、インバータ８に搭載された各スイッチング素子の切替動作などのインバータ８の動作を制御する機能を搭載する部分である。インバータ制御部３３の出力は、インバータゲートドライブ回路３２の入力に接続される。インバータ制御部３３は、インバータゲートドライブ回路３２を介してインバータ８に搭載された各スイッチング素子に切替動作の制御信号を出力する。

　制御装置１００は、第１温度予測部３４と、第２温度予測部３５と、基準温度センサ３６と、第２電圧監視部３７と、を備える。

　第１温度予測部３４は、回生スイッチング素子１１の温度変動を予測する機能を搭載する部分である。第２温度予測部３５は、インバータ８に搭載された特定の半導体チップの温度変動を予測する機能を搭載する部分である。当該半導体チップは、インバータ８に搭載された半導体チップのうち、実装上、温度上昇が最も大きくなるものとして選定された半導体チップなどである。当該半導体チップは、例えばインバータ８に搭載されたスイッチング素子の半導体チップなどである。第１温度予測部３４および第２温度予測部３５の各々は、インバータ制御部３３からインバータ８への制御信号を受け付ける。第１温度予測部３４は、閾値設定部１５が設定する電圧閾値の情報を受け付ける。第１温度予測部３４の予測値は、第１寿命予測部１６に入力される。第１温度予測部３４の予測値は、第１寿命予測部１６における回生スイッチング素子１１の残寿命の予測に用いられる。第１寿命予測部１６は、温度変動の計測値に基づく残寿命の予測と同様に、第１温度予測部３４の温度変動の予測値に基づいて回生スイッチング素子１１の残寿命を予測する。第２温度予測部３５の予測値は、第２寿命予測部１７に入力される。第２温度予測部３５の予測値は、第２寿命予測部１７におけるインバータ８の残寿命の予測に用いられる。第２寿命予測部１７は、温度変動の計測値に基づく残寿命の予測と同様に、第２温度予測部３５の温度変動の予測値に基づいてインバータ８の残寿命を予測する。

　基準温度センサ３６は、回生スイッチング素子１１またはインバータ８に搭載された特定の半導体チップの放熱経路上に配置される。基準温度センサ３６は、回生スイッチング素子１１およびインバータ８に搭載された特定の半導体チップの両方の放熱経路上に配置されてもよい。基準温度センサ３６は、例えば、インバータ８および回生スイッチング素子１１が接続された図示されない放熱フィンのベースプレート上に実装される。基準温度センサ３６は、基準温度を計測する。基準温度センサ３６の計測値は、第１温度予測部３４および第２温度予測部３５の各々に入力される。基準温度は、第１温度予測部３４および第２温度予測部３５による温度変動の予測に用いられる。なお、基準温度センサ３６は、回生スイッチング素子１１用およびインバータ８用にそれぞれ個別に実装されていてもよい。

　第１温度予測部３４は、インバータ制御部３３から電流指令値および電圧指令値の入力を受ける。第１温度予測部３４は、閾値設定部１５が設定した電圧閾値の情報の入力を受ける。第１温度予測部３４は、予め設定された温度推定モデルに基づいて温度変動の予測を行う。第１温度予測部３４が持つ温度推定モデルは、例えば、基準温度、電流指令値、電圧指令値、および低電位側電圧閾値から回生スイッチング素子１１の温度を計算するモデルである。当該温度推定モデルは、例えば熱回路からなる。

　第２温度予測部３５は、インバータ制御部３３から電流指令値および電圧指令値の入力を受ける。第２温度予測部３５は、予め設定された温度推定モデルに基づいて温度変動の予測を行う。第２温度予測部３５が持つ温度推定モデルは、例えば、基準温度、電流指令値、および電圧指令値からインバータ８に搭載されたスイッチング素子などの半導体チップの温度を計算するモデルである。当該温度推定モデルは、例えば熱回路からなる。

　第２電圧監視部３７は、回生スイッチング素子１１の二次側の電圧を検出する機能を搭載する部分である。第２電圧監視部３７は、回生スイッチング素子１１のコレクタ端子およびエミッタ端子に接続される。第２電圧監視部３７は、回生スイッチング素子１１のコレクタ－エミッタ間電圧を監視する。第２電圧監視部３７の出力は、故障判定部２０の入力に接続される。

　故障判定部２０は、切替制御部１３から受け付けた回生スイッチング素子１１への切替動作の制御信号と、第２電圧監視部３７から受け付けた回生スイッチング素子１１の二次側の電圧との、論理的整合性に基づいて、回生スイッチング素子１１におけるオープン故障の発生を判定する。例えば、故障判定部２０は、切替制御部１３から回生スイッチング素子１１へのオン指令またはオフ指令を受け付けたときに、回生スイッチング素子１１の二次側の電圧の計測値が論理不整合なく正しい挙動をしているかを判定する。回生スイッチング素子１１の二次側の電圧の計測値に論理不整合があるときに、故障判定部２０は、回生スイッチング素子１１がオープン故障に至っていると判定する。

　以上に説明したように、実施の形態２に係るエレベーターの制御装置１００は、基準温度センサ３６を備える。基準温度センサ３６は、回生スイッチング素子１１およびインバータ８のスイッチング素子などの半導体チップの放熱経路上に配置される。基準温度センサ３６は、基準温度を計測する。制御装置１００は、第１温度予測部３４を備える。第１温度予測部３４は、基準温度センサ３６の計測値および予め設定された温度推定モデルに基づいて、回生スイッチング素子１１の温度変動を予測する。第１寿命予測部１６は、第１温度予測部３４が予測した温度変動に基づいて、回生スイッチング素子１１の残寿命を予測する。
　また、制御装置１００は、第２温度予測部３５を備える。第２温度予測部３５は、基準温度センサ３６の計測値および予め設定された温度推定モデルに基づいて、インバータ８のスイッチング素子などの半導体チップの温度変動を予測する。第２寿命予測部１７は、第２温度予測部３５が予測した温度変動に基づいて、インバータ８の残寿命を予測する。

　このような構成により、基準温度の測定値に基づいて素子の温度変動が予測されるので、素子の近傍に温度センサなどが設けられない場合においても、残寿命の予測が可能になる。

　また、制御装置１００は、第２電圧監視部３７を備える。第２電圧監視部３７は、回生スイッチング素子１１の二次側の電圧を検出する。故障判定部２０は、切替制御部１３が回生スイッチング素子１１に出力する制御信号および第２電圧監視部３７が検出する電圧の整合性に基づいて、回生スイッチング素子１１におけるオープン故障の発生を判定する。

　このような構成により、故障判定部２０は、回生スイッチング素子１１の入力および動作の間の整合性の実際の検出値に基づいて回生スイッチング素子１１におけるオープン故障の発生を判定するので、故障発生の判定がより正確なものになる。

　本開示に係る制御装置および制御方法は、エレベーターに適用できる。

　１　交流電源、　２　電源投入スイッチ、　３　コンタクタ、　４　コンバータ、　５　第１直流母線、　６　第２直流母線、　７　平滑コンデンサ、　８　インバータ、　９　巻上機モータ、　１０　回生抵抗器、　１１　回生スイッチング素子、　１２　回生スイッチング素子ゲートドライブ回路、　１３　切替制御部、　１４　第１電圧監視部、　１５　閾値設定部、　１６　第１寿命予測部、　１７　第２寿命予測部、　１８　第１温度センサ、　１９　第２温度センサ、　２０　故障判定部、　２１　直流母線の電圧値、　２２　高電位側電圧閾値、　２３　第１低電位側電圧閾値、　２４　第２低電位側電圧閾値、　２５　低電位側電圧閾値、　２６　インバータの残寿命、　２７　回生スイッチング素子の残寿命、　２８　寿命余裕、　２９　インバータの残寿命から寿命余裕を差し引いた値、　３０　放電時間、　３１　放電電圧閾値、　３２　インバータゲートドライブ回路、　３３　インバータ制御部、　３４　第１温度予測部、　３５　第２温度予測部、　３６　基準温度センサ、　３７　第２電圧監視部、　１００　制御装置、　２００ａ　プロセッサ、　２００ｂ　メモリ、　３００　専用ハードウェア

Claims

　エレベーターのかごを走行させる巻上機モータを駆動するインバータと、
　前記インバータに接続された直流母線の電圧を安定化させる平滑コンデンサと、
　前記直流母線に接続され、前記エレベーターの回生運転の際に前記巻上機モータが発生させた回生電力を消費する回生抵抗器と、
　前記回生抵抗器への電流の流入の有無を切り替える回生スイッチング素子と、
　前記直流母線の電圧を検出する第１電圧監視部と、
　前記回生スイッチング素子の切替動作のタイミングを決定する電圧閾値を設定する閾値設定部と、
　前記第１電圧監視部が検出した電圧値および前記閾値設定部が設定した前記電圧閾値の関係に基づいて、前記回生スイッチング素子の切替動作を制御する切替制御部と、
　前記回生スイッチング素子の残寿命を予測する第１寿命予測部と、
　前記インバータの残寿命を予測する第２寿命予測部と、
　を備え、
　前記閾値設定部は、前記第２寿命予測部の予測する前記インバータの残寿命が前記第１寿命予測部の予測する前記回生スイッチング素子の残寿命より長くなるように、前記電圧閾値を設定する、
　制御装置。
　前記回生スイッチング素子に近接して配置される第１温度センサ
　を備え、
　前記第１寿命予測部は、前記第１温度センサが測定する温度変動に基づいて前記回生スイッチング素子の残寿命を予測する、
　請求項１に記載の制御装置。
　前記インバータのスイッチング素子に近接して配置される第２温度センサ
　を備え、
　前記第２寿命予測部は、前記第２温度センサが測定する温度変動に基づいて前記インバータの残寿命を予測する、
　請求項１に記載の制御装置。
　前記回生スイッチング素子の放熱経路上に配置され、基準温度を計測する基準温度センサと、
　前記基準温度センサの計測値および予め設定された温度推定モデルに基づいて前記回生スイッチング素子の温度変動を予測する第１温度予測部と、
　を備え、
　前記第１寿命予測部は、前記第１温度予測部が予測した温度変動に基づいて前記回生スイッチング素子の残寿命を予測する、
　請求項１に記載の制御装置。
　前記インバータのスイッチング素子の放熱経路上に配置され、基準温度を計測する基準温度センサと、
　前記基準温度センサの計測値および予め設定された温度推定モデルに基づいて前記インバータのスイッチング素子の温度変動を予測する第２温度予測部と、
　を備え、
　前記第２寿命予測部は、前記第２温度予測部が予測した温度変動に基づいて前記インバータの残寿命を予測する、
　請求項１に記載の制御装置。
　前記回生スイッチング素子におけるオープン故障の発生を判定する故障判定部
　を備え、
　前記かごが階床間の位置で停止しているときに、前記故障判定部が前記回生スイッチング素子にオープン故障が発生したと判定する場合に、前記インバータは、力行方向に前記かごを走行させてフロアレベルに停止させる救出運転を実行するように、前記巻上機モータを駆動する、
　請求項１から請求項５のいずれか一項に記載の制御装置。
　前記故障判定部は、前記平滑コンデンサが充電されており、かつ、前記平滑コンデンサへの給電が断たれた状況下で、前記回生抵抗器に電流が流入するように前記回生スイッチング素子が切替動作をしたときに、当該切替動作の後に前記第１電圧監視部が検出した電圧値に基づいて、前記回生スイッチング素子におけるオープン故障の発生を判定する、
　請求項６に記載の制御装置。
　前記回生スイッチング素子の二次側の電圧を検出する第２電圧監視部
　を備え、
　前記故障判定部は、前記切替制御部が前記回生スイッチング素子に出力する制御信号および前記第２電圧監視部が検出する電圧の整合性に基づいて、前記回生スイッチング素子におけるオープン故障の発生を判定する、
　請求項６に記載の制御装置。
　前記切替制御部は、前記第１電圧監視部の検出した電圧値が高電位側電圧閾値を超えるときに、前記回生抵抗器に電流が流入するように前記回生スイッチング素子の動作を切り替え、前記第１電圧監視部の検出した電圧値が低電位側電圧閾値を下回るときに、前記回生抵抗器に電流が流入しないように前記回生スイッチング素子の動作を切り替え、
　前記閾値設定部は、前記第２寿命予測部の予測する前記インバータの残寿命から予め設定された寿命余裕を差し引いた値が前記第１寿命予測部の予測する前記回生スイッチング素子の残寿命より短くなるときに、前記高電位側電圧閾値および前記低電位側電圧閾値の差を小さくするように前記高電位側電圧閾値および前記低電位側電圧閾値の少なくともいずれかを前記電圧閾値として設定する、
　請求項１から請求項８のいずれか一項に記載の制御装置。
　かごを走行させる巻上機モータを駆動するインバータと、
　前記インバータに接続された直流母線の電圧を安定化させる平滑コンデンサと、
　前記直流母線に接続され、回生運転の際に前記巻上機モータが発生させた回生電力を消費する回生抵抗器と、
　前記回生抵抗器への電流の流入の有無を切り替える回生スイッチング素子と、
　前記直流母線の電圧を検出する第１電圧監視部と、
　前記第１電圧監視部が検出した電圧値、および前記回生スイッチング素子の切替動作のタイミングを決定する電圧閾値の関係に基づいて、前記回生スイッチング素子の切替動作を制御する切替制御部と、
　を有するエレベーターの制御方法であり、
　前記回生スイッチング素子の残寿命を予測する第１予測ステップと、
　前記インバータの残寿命を予測する第２予測ステップと、
　前記第２予測ステップにおいて予測した前記インバータの残寿命が前記第１予測ステップにおいて予測した前記回生スイッチング素子の残寿命より長くなるように、前記電圧閾値を設定する閾値設定ステップと、
　を備える制御方法。