WO2023037445A1 - 吸引装置、基材、及び制御方法 - Google Patents

Abstract

吸引装置に関するユーザ体験の質をより向上させることが可能な仕組みを提供する。電力を供給する電源部（１１１）と、エアロゾル源を含有した基材を前記電源部（１１１）から供給された電力を使用して加熱する加熱部（１２１）と、前記加熱部（１２１）の温度に対応する測定値を測定する測定部（１７２）と、前記電源部（１１１）から供給された電力を使用して動作する、前記加熱部（１２１）とは異なる動作部（１７１）と、前記加熱部（１２１）の温度の目標値である目標温度の時系列推移が規定された加熱設定に基づいて、前記測定値に対応する前記加熱部（１２１）の温度が前記目標温度と同様に推移するよう前記加熱部（１２１）の動作を制御する制御部（１１６）を備え、前記制御部（１１６）は、前記電源部（１１１）から前記動作部（１７１）への給電開始に応じて、前記測定値を補正する補正処理を実施する吸引装置。

Description

吸引装置、基材、及び制御方法

　本発明は、吸引装置、基材、及び制御方法に関する。

　電子タバコ及びネブライザ等の、ユーザに吸引される物質を生成する吸引装置が広く普及している。例えば、吸引装置は、エアロゾルを生成するためのエアロゾル源、及び生成されたエアロゾルに香味成分を付与するための香味源等を含む基材を用いて、香味成分が付与されたエアロゾルを生成する。ユーザは、吸引装置により生成された、香味成分が付与されたエアロゾルを吸引することで、香味を味わうことができる。ユーザがエアロゾルを吸引する動作を、以下ではパフ又はパフ動作とも称する。

　吸引装置には、エアロゾル源を加熱する加熱部以外にも、様々な機器が搭載され得る。例えば、下記特許文献１には、吸引装置に振動モータを搭載して、振動によりユーザに情報を通知する技術が開示されている。

特表２０２０－５１６２６２号公報

　吸引装置のような小型のデバイスにおいて、複数の機器が同時に動作すると、種々の不都合が生じ得る。しかし、上記特許文献１では、かかる不都合について何ら検討されていない。

　そこで、本発明は、上記問題に鑑みてなされたものであり、本発明の目的とするところは、吸引装置に関するユーザ体験の質をより向上させることが可能な仕組みを提供することにある。

　上記課題を解決するために、本発明のある観点によれば、電力を供給する電源部と、エアロゾル源を含有した基材を前記電源部から供給された電力を使用して加熱する加熱部と、前記加熱部の温度に対応する測定値を測定する測定部と、前記電源部から供給された電力を使用して動作する、前記加熱部とは異なる動作部と、前記加熱部の温度の目標値である目標温度の時系列推移が規定された加熱設定に基づいて、前記測定値に対応する前記加熱部の温度が前記目標温度と同様に推移するよう前記加熱部の動作を制御する制御部と、を備え、前記制御部は、前記電源部から前記動作部への給電開始に応じて、前記測定値を補正する補正処理を実施する、吸引装置が提供される。

　前記補正処理は、前記電源部から前記動作部への給電開始に応じて補正対象期間を設定することと、前記補正対象期間において前記測定部により測定された前記測定値が補正対象範囲に含まれる場合に前記測定値を補正することと、を含んでもよい。

　前記制御部は、前回測定された前記測定値、又は加熱開始からの経過時間に対応する前記目標温度に応じて、前記補正対象範囲を設定してもよい。

　前記補正処理は、補正対象の前記測定値を、補正対象の前記測定値より前に測定された前記測定値に補正すること、線形補完により補正すること、又は移動平均により補正することのいずれか１つを含んでもよい。

　前記加熱設定は、それぞれに前記目標温度が設定された複数の期間を含み、前記制御部は、加熱開始からの経過時間に対応する前記加熱設定における前記期間に応じて、前記補正処理において補正対象の測定値を補正する方法を選択してもよい。

　前記制御部は、前記目標温度が変化しない前記期間においては、補正対象の前記測定値を、補正対象の前記測定値より前に測定された前記測定値に補正してもよい。

　前記制御部は、前記目標温度が変化する前記期間においては、補正対象の前記測定値を、線形補完又は移動平均により補正してもよい。

　前記制御部は、前記補正対象期間において前記測定部により測定された前記測定値が補正対象範囲に含まれた回数が第１の所定回数に達した場合に、前記加熱部による加熱を禁止してもよい。

　前記制御部は、前記補正対象期間以外の期間において前記測定部により測定された前記測定値がエラー判定範囲に含まれた回数が第２の所定回数に達した場合に、前記加熱部による加熱を禁止し、前記第１の所定回数は前記第２の所定回数よりも多くてもよい。

　前記補正対象範囲は、第１の閾値以上の範囲及び第２の閾値未満の範囲を含み、前記エラー判定範囲は、前記第１の閾値よりも低い第３の閾値以上の範囲、及び前記第２の閾値よりも高い第４の閾値未満の範囲を含んでいてもよい。

　前記補正対象期間は、前記動作部への給電が開始されてから所定のサンプリング数の前記測定値が測定されるまでの期間であってもよい。

　前記補正対象期間は、前記動作部への給電が開始されてから停止されるまでの期間であってもよい。

　前記制御部は、前記エアロゾル源を加熱することで生成されたエアロゾルが吸引されたことに応じて、前記補正処理を実施してもよい。

　前記制御部は、前記電源部から前記加熱部への給電量の変化量が所定の閾値を超えたことに応じて、前記補正処理を実施してもよい。

　前記補正処理は、前記電源部から前記加熱部への給電量の変化量が所定の閾値を超えたことに応じて補正対象期間を設定することと、前記補正対象期間において前記測定部により測定された前記測定値が補正対象範囲に含まれる場合に前記測定値を補正することと、を含んでもよい。

　前記制御部は、前記電源部から前記動作部への給電開始に応じて設定した前記補正対象期間である第１の補正対象期間と、前記電源部から前記加熱部への給電量の変化量が所定の閾値を超えたことに応じて設定した前記補正対象範囲である第２の補正対象期間とが重複する場合、前記第１の補正対象期間と前記第２の補正対象期間とを連結してもよい。

　前記制御部は、前記動作部への給電により実行される前記動作部の動作内容に応じて、前記補正処理を実施してもよい。

　前記動作部は、振動素子又は発光素子であってもよい。

　また、上記課題を解決するために、本発明の別の観点によれば、電力を供給する電源部と、エアロゾル源を含有した基材を前記電源部から供給された電力を使用して加熱する加熱部と、前記加熱部の温度に対応する測定値を測定する測定部と、前記電源部から供給された電力を使用して動作する、前記加熱部とは異なる動作部と、前記加熱部の温度の目標値である目標温度の時系列推移が規定された加熱設定に基づいて、前記測定値に対応する前記加熱部の温度が前記目標温度と同様に推移するよう前記加熱部の動作を制御する制御部と、を備え、前記制御部は、前記電源部から前記動作部への給電開始に応じて、前記測定値を補正する補正処理を実施する、吸引装置により加熱される、前記エアロゾル源を含有した基材が提供される。

　また、上記課題を解決するために、本発明の別の観点によれば、吸引装置を制御するための制御方法であって、前記吸引装置は、電力を供給する電源部と、エアロゾル源を含有した基材を前記電源部から供給された電力を使用して加熱する加熱部と、前記加熱部の温度に対応する測定値を測定する測定部と、前記電源部から供給された電力を使用して動作する、前記加熱部とは異なる動作部と、を備え、前記制御方法は、前記電源部から前記動作部への給電開始に応じて、前記測定値を補正する補正処理を実施することと、前記加熱部の温度の目標値である目標温度の時系列推移が規定された加熱設定に基づいて、前記測定値に対応する前記加熱部の温度が前記目標温度と同様に推移するよう前記加熱部の動作を制御することと、を含む、制御方法が提供される。

　以上説明したように本発明によれば、吸引装置に関するユーザ体験の質をより向上させることが可能な仕組みが提供される。

吸引装置の構成例を模式的に示す模式図である。 第１の実施形態に係る吸引装置の部分的な回路構成を示すブロック図である。 表１に示した加熱プロファイルに基づき制御を行った場合の加熱部の抵抗値の理想的な推移を示すグラフである。 加熱部の抵抗値の実際の推移の一例を示すグラフである。 図４に示したグラフのうち振動素子１７１に給電されたタイミング付近を拡大したグラフである。 図４に示したグラフのうち振動素子１７１に給電されたタイミング付近を拡大したグラフである。 同実施形態に係る吸引装置により実行される処理の流れの一例を示すフローチャートである。

　以下に添付図面を参照しながら、本発明の好適な実施の形態について詳細に説明する。なお、本明細書及び図面において、実質的に同一の機能構成を有する構成要素については、同一の符号を付することにより重複説明を省略する。

　＜１．吸引装置の構成例＞
　吸引装置は、ユーザにより吸引される物質を生成する装置である。以下では、吸引装置により生成される物質が、エアロゾルであるものとして説明する。他に、吸引装置により生成される物質は、気体であってもよい。

　図１は、吸引装置の構成例を模式的に示す模式図である。図１に示すように、本構成例に係る吸引装置１００は、電源部１１１、センサ部１１２、通知部１１３、記憶部１１４、通信部１１５、制御部１１６、加熱部１２１、保持部１４０、及び断熱部１４４を含む。

　電源部１１１は、電力を蓄積する。そして、電源部１１１は、制御部１１６による制御に基づいて、吸引装置１００の各構成要素に電力を供給する。電源部１１１は、例えば、リチウムイオン二次電池等の充電式バッテリにより構成され得る。

　センサ部１１２は、吸引装置１００に関する各種情報を取得する。一例として、センサ部１１２は、コンデンサマイクロホン等の圧力センサ、流量センサ又は温度センサ等により構成され、ユーザによる吸引に伴う値を取得する。他の一例として、センサ部１１２は、ボタン又はスイッチ等の、ユーザからの情報の入力を受け付ける入力装置により構成される。

　通知部１１３は、情報をユーザに通知する。通知部１１３は、例えば、発光する発光装置、画像を表示する表示装置、音を出力する音出力装置、又は振動する振動装置等により構成される。

　記憶部１１４は、吸引装置１００の動作のための各種情報を記憶する。記憶部１１４は、例えば、フラッシュメモリ等の不揮発性の記憶媒体により構成される。

　通信部１１５は、有線又は無線の任意の通信規格に準拠した通信を行うことが可能な通信インタフェースである。かかる通信規格としては、例えば、Ｗｉ－Ｆｉ（登録商標）、又はＢｌｕｅｔｏｏｔｈ（登録商標）等が採用され得る。

　制御部１１６は、演算処理装置及び制御装置として機能し、各種プログラムに従って吸引装置１００内の動作全般を制御する。制御部１１６は、例えばＣＰＵ（Central　Processing　Unit）、及びマイクロプロセッサ等の電子回路によって実現される。

　保持部１４０は、内部空間１４１を有し、内部空間１４１にスティック型基材１５０の一部を収容しながらスティック型基材１５０を保持する。保持部１４０は、内部空間１４１を外部に連通する開口１４２を有し、開口１４２から内部空間１４１に挿入されたスティック型基材１５０を保持する。例えば、保持部１４０は、開口１４２及び底部１４３を底面とする筒状体であり、柱状の内部空間１４１を画定する。保持部１４０は、スティック型基材１５０へ供給される空気の流路を画定する機能も有する。かかる流路への空気の入り口である空気流入孔は、例えば底部１４３に配置される。他方、かかる流路からの空気の出口である空気流出孔は、開口１４２である。

　スティック型基材１５０は、基材部１５１、及び吸口部１５２を含む。基材部１５１は、エアロゾル源を含む。エアロゾル源は、例えば、グリセリン及びプロピレングリコール等の多価アルコール、並びに水等の液体である。エアロゾル源は、たばこ由来又は非たばこ由来の香味成分を含んでいてもよい。吸引装置１００がネブライザ等の医療用吸入器である場合、エアロゾル源は、薬剤を含んでもよい。なお、本構成例において、エアロゾル源は液体に限られるものではなく、固体であってもよい。スティック型基材１５０が保持部１４０に保持された状態において、基材部１５１の少なくとも一部は内部空間１４１に収容され、吸口部１５２の少なくとも一部は開口１４２から突出する。そして、開口１４２から突出した吸口部１５２をユーザが咥えて吸引すると、図示しない空気流入孔から内部空間１４１に空気が流入し、基材部１５１から発生するエアロゾルと共にユーザの口内に到達する。

　加熱部１２１は、エアロゾル源を加熱することで、エアロゾル源を霧化してエアロゾルを生成する。図１に示した例では、加熱部１２１は、フィルム状に構成され、保持部１４０の外周を覆うように配置される。そして、加熱部１２１が発熱すると、スティック型基材１５０の基材部１５１が外周から加熱され、エアロゾルが生成される。加熱部１２１は、電源部１１１から給電されると発熱する。一例として、ユーザが吸引を開始したこと、及び／又は所定の情報が入力されたことが、センサ部１１２により検出された場合に、給電されてもよい。そして、ユーザが吸引を終了したこと、及び／又は所定の情報が入力されたことが、センサ部１１２により検出された場合に、給電が停止されてもよい。

　断熱部１４４は、加熱部１２１から他の構成要素への伝熱を防止する。例えば、断熱部１４４は、真空断熱材、又はエアロゲル断熱材等により構成される。

　以上、吸引装置１００の構成例を説明した。もちろん吸引装置１００の構成は上記に限定されず、以下に例示する多様な構成をとり得る。

　一例として、加熱部１２１は、ブレード状に構成され、保持部１４０の底部１４３から内部空間１４１に突出するように配置されてもよい。その場合、ブレード状の加熱部１２１は、スティック型基材１５０の基材部１５１に挿入され、スティック型基材１５０の基材部１５１を内部から加熱する。他の一例として、加熱部１２１は、保持部１４０の底部１４３を覆うように配置されてもよい。また、加熱部１２１は、保持部１４０の外周を覆う第１の加熱部、ブレード状の第２の加熱部、及び保持部１４０の底部１４３を覆う第３の加熱部のうち、２以上の組み合わせとして構成されてもよい。

　他の一例として、保持部１４０は、内部空間１４１を形成する外殻の一部を開閉する、ヒンジ等の開閉機構を含んでいてもよい。そして、保持部１４０は、外殻を開閉することで、内部空間１４１に挿入されたスティック型基材１５０を挟持してもよい。その場合、加熱部１２１は、保持部１４０における当該挟持箇所に設けられ、スティック型基材１５０を押圧しながら加熱してもよい。

　また、エアロゾル源を霧化する手段は、加熱部１２１による加熱に限定されない。例えば、エアロゾル源を霧化する手段は、誘導加熱であってもよい。

　吸引装置１００とスティック型基材１５０とは協働してユーザにより吸引されるエアロゾルを生成する。そのため、吸引装置１００とスティック型基材１５０との組み合わせは、エアロゾル生成システムとして捉えられてもよい。

　＜２．第１の実施形態＞
　（１）回路構成
　図２は、本実施形態に係る吸引装置１００の部分的な回路構成を示すブロック図である。図２に示すように、本実施形態に係る吸引装置１００は、振動素子１７１、及び測定部１７２をさらに含む。

　振動素子１７１は、振動する装置である。振動素子１７１は、例えば偏心モータであってもよい。振動素子１７１は、給電された場合に振動する。振動素子１７１は、電源部１１１から供給された電力を使用して動作する、加熱部１２１とは異なる動作部の一例である。振動素子１７１は、通知部１１３に含まれ、ユーザへの各種情報通知のために振動する。

　測定部１７２は、加熱部１２１の温度に対応する物理量を測定する。以下では、測定部１７２により測定された物理量を、測定値とも称する。測定部１７２は、測定値を制御部１１６に出力する。測定値の一例は、加熱部１２１の抵抗値である。加熱部１２１（より詳しくは、加熱部１２１を構成する発熱抵抗体）の抵抗値は、発熱抵抗体の温度に応じて変化する。なお、発熱抵抗体の抵抗値は、例えば、発熱抵抗体での電圧降下を測定することによって推定可能である。発熱抵抗体での電圧降下は、発熱抵抗体に印加される電位差を測定することで得られる。即ち、測定部１７２は、加熱部１２１における電圧降下を測定し、測定した電圧降下に基づいて加熱部１２１の抵抗値を測定してもよい。

　電源部１１１は、振動素子１７１及び加熱部１２１に電力を供給する。電源部１１１には、給電先を切り替える回路も含まれる。制御部１１６による制御に基づき、電源部１１１から振動素子１７１への給電ＯＮ／ＯＦＦ、及び電源部１１１から加熱部１２１への給電ＯＮ／ＯＦＦが切り替わる。

　制御部１１６は、電源部１１１による給電を制御する。具体的には、制御部１１６は、電源部１１１の給電先及び給電量（例えば、後述する電力パルスのデューティ比等）を制御するための制御信号を、電源部１１１に送信する。一例として、制御部１１６は、測定部１７２により検出された測定値に基づいて、加熱部１２１への給電を制御する。そして、加熱部１２１は、電源部１１１から給電された電力を使用してスティック型基材１５０（即ち、エアロゾル源）を加熱して、エアロゾルを生成する。

　（２）加熱プロファイル
　制御部１１６は、加熱設定に基づいて、加熱部１２１の動作を制御する。加熱部１２１の動作の制御は、電源部１１１から加熱部１２１への給電を制御することにより、実現される。加熱設定とは、加熱部１２１の温度の目標値である目標温度の時系列推移が規定された情報である。以下では、かかる加熱設定を、加熱プロファイルとも称する。

　制御部１１６は、測定部１７２により測定された測定値に対応する加熱部１２１の温度（以下、実温度とも称する）が、加熱プロファイルにおいて規定された目標温度と同様に推移するように、加熱部１２１の動作を制御する。加熱プロファイルは、典型的には、スティック型基材１５０から生成されるエアロゾルをユーザが吸引した際にユーザが味わう香味が最適になるように設計される。よって、加熱プロファイルに基づいて加熱部１２１の動作を制御することにより、ユーザが味わう香味を最適にすることができる。

　加熱プロファイルは、目標温度と、当該目標温度に到達すべきタイミングを示す情報と、の組み合わせを、ひとつ以上含む。そして、制御部１１６は、加熱プロファイルに基づく加熱を開始してからの時間経過に応じて、目標温度を切り替えながら加熱部１２１の動作を制御する。詳しくは、制御部１１６は、現在の実温度と、加熱プロファイルに基づく加熱を開始してからの経過時間に対応する目標温度と、の乖離に基づいて、加熱部１２１の動作を制御する。加熱部１２１の動作制御は、例えば公知のフィードバック制御によって実現できる。フィードバック制御は、例えばＰＩＤ制御（Proportional-Integral-Differential　Controller）であってよい。制御部１１６は、電源部１１１からの電力を、パルス幅変調（ＰＷＭ）又はパルス周波数変調（ＰＦＭ）によるパルスの形態で、加熱部１２１に供給させ得る。その場合、制御部１１６は、フィードバック制御において、電力パルスのデューティ比、又は周波数を調整することによって、加熱部１２１の動作を制御することができる。若しくは、制御部１１６は、フィードバック制御において、単純なオン／オフ制御を行ってもよい。例えば、制御部１１６は、実温度が目標温度に到達するまで加熱部１２１による加熱を実行する。そして、制御部１１６は、実温度が目標温度に到達した場合に加熱部１２１による加熱を停止し、実温度が目標温度より低くなると加熱部１２１による加熱を再度実行してもよい。

　スティック型基材１５０を用いてエアロゾルを生成する処理が開始してから終了するまでの期間を、以下では加熱セッションとも称する。換言すると、加熱セッションとは、加熱プロファイルに基づいて加熱部１２１への給電が制御される期間である。加熱セッションの始期は、加熱プロファイルに基づく加熱が開始されるタイミングである。加熱セッションの終期は、十分な量のエアロゾルが生成されなくなったタイミングである。加熱セッションは、前半の予備加熱期間、及び後半のパフ可能期間を含む。パフ可能期間とは、十分な量のエアロゾルが発生すると想定される期間である。予備加熱期間とは、加熱が開始されてからパフ可能期間が開始されるまでの期間である。予備加熱期間において行われる加熱は、予備加熱とも称される。

　加熱プロファイルは、それぞれに目標温度が設定された複数の期間を含んでいてもよい。ある期間に設定された目標温度に、当該期間の任意のタイミングで達するよう制御されてもよいし、当該期間の終期に達するよう制御されてもよい。いずれにせよ、加熱プロファイルに規定された目標温度の推移と同様に、加熱部１２１の実温度を推移させることが可能となる。

　加熱プロファイルの一例を、下記の表１に示す。

　制御部１１６が表１に示した加熱プロファイルに従い制御を行った場合の、加熱部１２１の抵抗値の理想的な推移について、図３を参照しながら説明する。図３は、表１に示した加熱プロファイルに基づき制御を行った場合の加熱部１２１の抵抗値の理想的な推移を示すグラフである。本グラフの横軸は、時間（秒）である。本グラフの縦軸は、加熱部１２１の抵抗値である。図３に示すように、加熱部１２１の抵抗値は、加熱プロファイルにおいて規定された目標温度に対応する抵抗値の推移と同様に推移している。

　表１に示したように、加熱プロファイルは、最初に初期昇温期間を含む。初期昇温期間とは、加熱部１２１の温度が初期温度から所定の温度まで上昇する期間である。初期温度とは、加熱開始時の加熱部１２１の温度である。所定の温度は、スティック型基材１５０の温度が十分な量のエアロゾルが発生すると想定される温度である。図３に示すように、加熱部１２１の抵抗値は、初期昇温期間において一気に１．３５Ωまで上昇し、その後１．３５Ωを維持している。これにより、加熱部１２１の実温度は、初期昇温期間において一気に３００℃まで上昇し、その後３００℃を維持する。なお、加熱部１２１の温度が上昇する期間を昇温期間とも称し、加熱部１２１の温度が維持される期間を温度維持期間とも称する。かかる構成により、予備加熱を早期に終え、パフ可能期間を早期に開始させることが可能となる。なお、図３では、予備加熱期間は加熱開始から３０秒後に終了している。

　表１に示したように、加熱プロファイルは、初期昇温期間の後に途中降温期間を含む。途中降温期間とは、加熱部１２１の温度が低下する期間である。途中降温期間は、加熱部１２１の温度が低下する降温期間により構成される。図３に示すように、加熱部１２１の抵抗値は、途中降温期間において１．３５Ωから１．２５Ωに低下している。それに伴い、加熱部１２１の実温度は、途中降温期間において２５０℃まで低下する。その場合であっても、加熱部１２１及びスティック型基材１５０の余熱により、十分な量のエアロゾルが生成される。ここで、加熱部１２１を高温のまま維持すると、スティック型基材１５０に含まれるエアロゾル源が急速に消費され、ユーザが味わう香味が強すぎてしまう等の香味の劣化が生じ得る。その点、途中降温期間を途中に設けることで、そのような香味の劣化を回避して、ユーザのパフ体験の質を向上させることが可能である。なお、途中降温期間においては、加熱部１２１の温度が低下する程度に、加熱部１２１への微弱な給電が継続されてもよい。途中降温期間における抵抗値の測定のためである。

　表１に示したように、加熱プロファイルは、途中降温期間の後に再昇温期間を含む。再昇温期間とは、加熱部１２１の温度が低下した後の期間であって、加熱部１２１の温度が上昇する期間である。図３に示すように、加熱部１２１の抵抗値は、まず１．２５Ωを維持し、その後１．３０Ωに上昇して、その後１．３０Ωを維持している。それに伴い、加熱部１２１の実温度もまた、２５０℃を維持し、次いで２８０℃に上昇し、その後２８０℃を維持する。このように、加熱プロファイルの再昇温期間は、最初に温度維持期間を含み、次に昇温期間を含み、最後に温度維持期間を含み得る。加熱部１２１を降温させ続けると、スティック型基材１５０も降温するので、エアロゾルの生成量が低下し、ユーザが味わう香味が劣化してしまい得る。また、加熱プロファイルの後半に進むほど、スティック型基材１５０に含有されたエアロゾル源の残量が低下するので、同一温度で加熱を継続してもエアロゾルの生成量が低下する傾向にある。その点、加熱プロファイルの後半において再度昇温させてエアロゾルの生成量を増加させることで、エアロゾル源の残量低下に伴うエアロゾルの生成量の低下を補うことができる。これにより、加熱プロファイルの後半においても、ユーザが味わう香味の劣化を防止することが可能となる。

　表１に示したように、加熱プロファイルは、最後に加熱終了期間を含む。加熱終了期間とは、再昇温期間の後の期間であって、加熱しない期間である。目標温度は、設定されていなくてもよい。加熱終了期間においては、加熱部１２１への給電が終了し、加熱部１２１の温度は低下する。その場合であっても、しばらくの間、加熱部１２１及びスティック型基材１５０の余熱により、十分な量のエアロゾルが生成される。図３に示した例では、加熱開始から３４０秒後に、パフ可能期間、即ち加熱セッションは終了する。

　（３）通知
　制御部１１６は、振動素子１７１を制御して、各種情報をユーザに通知する。例えば、制御部１１６は、パフ可能期間が開始するタイミング及び終了するタイミングを、ユーザに通知してもよい。さらに、制御部１１６は、パフ可能期間が終了するよりも所定時間前のタイミング（例えば、加熱部１２１への給電が終了するタイミング）を、ユーザに通知してもよい。その場合、ユーザは、かかる通知を参考に、パフ可能期間においてパフを行うことができる。

　制御部１１６は、加熱部１２１による加熱が開始されてからの経過時間に基づいて、電源部１１１から振動素子１７１への給電を制御してもよい。一例として、制御部１１６は、パフ可能期間が開始するタイミングの通知として、加熱開始から３０秒後に、振動素子１７１を振動させてもよい。他の一例として、制御部１１６は、パフ可能期間が終了するよりも所定時間前のタイミングの通知として、加熱開始から３１０秒後に、振動素子１７１を振動させてもよい。かかる構成によれば、パフを行うべきタイミングを簡易に通知することが可能となる。

　制御部１１６は、測定部１７２により測定された抵抗値に基づいて、電源部１１１から振動素子１７１への給電を制御してもよい。一例として、制御部１１６は、パフ可能期間が開始するタイミングの通知として、初期昇温期間において抵抗値が１．３５Ωに達してから１０秒後に、振動素子１７１を振動させてもよい。他の一例として、制御部１１６は、パフ可能期間が終了するよりも所定時間前のタイミングの通知として、再昇温期間において抵抗値が１．３０Ωに達してから６０秒後に、振動素子１７１を振動させてもよい。環境温度等の影響で、加熱部１２１の実温度が加熱プロファイルに規定された通りに推移しないことも考えられる。この点、かかる構成によれば、加熱部１２１の実温度の推移に応じた適切なタイミングで、パフを行うべきことを通知することが可能となる。

　制御部１１６は、加熱部１２１がエアロゾル源を加熱することで生成されたエアロゾルが吸引された回数に基づいて、電源部１１１から振動素子１７１への給電を制御してもよい。一例として、制御部１１６は、パフ可能期間が終了するタイミングの通知として、パフ可能期間が開始してからのパフ回数が所定回数に達した場合に、振動素子１７１を振動させてもよい。パフが行われるほど、スティック型基材１５０のエアロゾル源が消費され枯渇が早まる。この点、かかる構成によれば、エアロゾル源の消費スピードに応じた適切なタイミングで、パフ可能期間の終了を通知することが可能となる。

　（４）技術的課題
　振動素子１７１と加熱部１２１とは電源部１１１を共有している。そのため、振動素子１７１への給電に応じて、測定部１７２により測定される加熱部１２１の抵抗値にノイズが生じる場合がある。この点について、図４～図６を参照しながら説明する。

　図４は、加熱部１２１の抵抗値の実際の推移の一例を示すグラフである。本グラフの横軸は、時間（秒）である。本グラフの縦軸は、測定部１７２により測定された加熱部１２１の抵抗値である。本グラフでは、表１に示した加熱プロファイルに基づき制御を行った場合であって、加熱開始から３０秒後及び３１０秒後に振動素子１７１が振動した場合の、測定部１７２により測定された加熱部１２１の抵抗値の実際の推移が示されている。振動素子１７１は、パフ可能期間が開始するタイミングの通知、及びパフ可能期間が終了するよりも所定時間前のタイミングの通知として、加熱開始から３０秒後及び３１０秒後に振動している。

　図４に示すように、加熱部１２１の抵抗値は、図３に示した理想的な推移と同様に推移しつつも、細かく上下に変動している。加熱部１２１の抵抗値が細かく上下する一因は、測定部１７２が所定のサンプリング周期で抵抗値をサンプリングし、制御部１１６が当該サンプリング周期で給電制御を行うことにある。ただし、振動素子１７１への給電タイミングでは比較的大きな変動が発生している。この点について、図５及び図６を参照しながら詳しく説明する。

　図５及び図６は、図４に示したグラフのうち振動素子１７１に給電されたタイミング付近を拡大したグラフである。図５では、加熱開始から３０秒後付近における加熱部１２１の実際の推移が示されている。図５に示した例では、振動素子１７１に給電されたタイミングの直後に、０．０２Ωの変動が生じている。図６では、加熱開始から３１０秒後付近における加熱部１２１の実際の推移が示されている。図６に示した例では、振動素子１７１に給電されたタイミングの直後に、０．０３Ωの変動が生じている。

　このような比較的大きな変動の要因は、振動素子１７１への給電に伴うノイズの発生である。振動素子１７１に給電を開始する際に、電源部１１１に対して電流負荷がステップ状に増加する。この電流負荷の過渡応答として、測定部１７２により測定される抵抗値に変動が発生する。詳しくは、振動素子１７１への給電により電流負荷が大きくなる瞬間に、電源部１１１の電圧に大きなブレが生じる。そして、電圧の瞬間的なブレに伴い、測定部１７２により測定される抵抗値にブレ（即ち、ノイズ）が生じる。このような理由で、加熱部１２１と電源部１１１を共有している振動素子１７１に給電された直後には、測定部１７２により測定される抵抗値にノイズが生じることとなる。

　抵抗値に生じたノイズは、加熱部１２１の動作制御に悪影響を与えてしまう。その場合、加熱プロファイルにおいて設計された通りの温度推移を実現することが困難になり、ユーザ体験が劣化し得る。また、抵抗値に応じてエラーを判定する機能が吸引装置１００に実装される場合、誤ってエラーが判定されてしまい得る。その場合、本来であれば不要な加熱停止等の措置が実行され、ユーザは不利益を被ってしまう。

　そこで、本実施形態では、抵抗値に生じるノイズへの対策を実行することで、これらの不都合の発生を防止し、ユーザ体験の質を向上させる。

　（５）ノイズ対策
　制御部１１６は、電源部１１１から振動素子１７１への給電開始に応じて、測定部１７２により測定された抵抗値を補正する処理（以下、補正処理とも称する）を実施する。ノイズが生じた抵抗値を補正することで、抵抗値にノイズが生じたことに起因する不都合の発生を防止して、ユーザ体験の質を向上させることが可能となる。

　補正処理は、電源部１１１から振動素子１７１への給電開始に応じて補正対象期間を設定することと、補正対象期間において測定部１７２により測定された抵抗値が補正対象範囲に含まれる場合に当該抵抗値を補正することと、を含む。補正対象期間とは、測定された抵抗値が補正され得る期間である。補正対象期間を限定することで、処理負荷を軽減することが可能となる。補正対象範囲とは、ノイズが発生したと考えらえる抵抗値の範囲である。補正対象範囲を設定することで、ノイズが発生したと考えられる抵抗値を補正して、ノイズの影響を排除することが可能となる。

　－補正対象期間の設定
　補正対象期間は、振動素子１７１への給電が開始されてから所定のサンプリング数の抵抗値が測定されるまでの期間であってもよい。図５及び図６に示したように、振動素子１７１への給電直後に大きなノイズが発生し、その後抵抗値の変動は収束していく。この点、かかる構成によれば、振動素子１７１への給電に起因して大きなノイズが発生し得る期間に、補正対象期間を限定することができる。従って、処理負荷を軽減することが可能となる。

　補正対象期間は、振動素子１７１への給電が開始されてから停止されるまでの期間であってもよい。かかる構成によれば、振動素子１７１への給電に起因してノイズが発生し得る期間の全てを補正対象期間に収めることができる。そのため、抵抗値にノイズが生じたことに起因する不都合の発生をより防止することが可能となる。

　－補正対象範囲の設定
　制御部１１６は、前回測定された抵抗値に応じて、補正対象範囲を設定してもよい。例えば、制御部１１６は、あるサンプリング時において、それよりも１つ前のサンプリング時に測定された抵抗値からの差分が所定値を超える範囲を、補正対象範囲として設定する。即ち、制御部１１６は、あるサンプリング時に測定された抵抗値と、それよりも１つ前のサンプリング時に測定された抵抗値と、の差分が所定値を超えた場合に、あるサンプリング時に測定された抵抗値を補正してもよい。かかる構成によれば、抵抗値の変動に応じて補正対象範囲を更新しながら、ノイズの発生を監視することができる。このような補正対象範囲の設定は、抵抗値が変化すると想定される期間、即ち加熱プロファイルにおける目標温度が変化する期間（即ち、昇温期間及び降温期間）において、特に有効である。

　制御部１１６は、加熱開始からの経過時間に対応する目標温度に応じて、補正対象範囲を設定してもよい。例えば、制御部１１６は、加熱開始からの経過時間に対応する目標温度に対応する抵抗値からの差分が所定値を超える範囲を、補正対象範囲として設定する。かかる構成によれば、補正対象範囲の更新頻度を抑制しつつ、ノイズの発生を監視することができる。このような補正対象範囲の設定は、抵抗値が変化しないと想定される期間、即ち加熱プロファイルにおける目標温度が変化しない期間（即ち、温度維持期間）において、特に有効である。

　なお、パフが行われた場合、加熱部１２１の温度が一時的に低下する。そのため、制御部１１６は、パフが検出された場合に補正対象範囲を設定する方法を切り替えてもよい。例えば、制御部１１６は、パフが検出されてから所定期間は、前回測定された抵抗値に応じて補正対象範囲を設定し、それ以外の期間では加熱開始からの経過時間に対応する目標温度に応じて補正対象範囲を設定してもよい。

　制御部１１６は、加熱開始からの経過時間に対応する加熱プロファイルにおける期間に応じて、補正対象範囲を設定する方法を選択してもよい。かかる構成によれば、加熱プロファイルに規定された期間ごとに有効な設定方法に切り替えながら、補正対象範囲を設定することが可能となる。これにより、ノイズの影響をより適切に排除することが可能となる。

　具体的には、制御部１１６は、目標温度が変化しない期間、即ち温度維持期間においては、加熱開始からの経過時間に対応する目標温度に応じて、補正対象範囲を設定してもよい。かかる構成によれば、温度維持期間において、より有効な補正を行うことが可能となる。

　他方、制御部１１６は、目標温度が変化する期間、即ち昇温期間及び降温期間においては、前回測定された抵抗値に応じて、補正対象範囲を設定してもよい。かかる構成によれば、昇温期間及び降温期間において、より有効な補正を行うことが可能となる。

　－抵抗値の補正方法
　補正対象の抵抗値を補正する方法は多様に考えられる。以下ではその一例を説明する。なお、補正対象の抵抗値とは、補正対象期間において測定された抵抗値であって、補正対象範囲に含まれる抵抗値である。

　制御部１１６は、補正対象の抵抗値を、補正対象の抵抗値より前に測定された抵抗値に補正してもよい。例えば、制御部１１６は、補正対象の抵抗値を、前回測定された補正値に補正する。このような補正方法は、抵抗値が変化しないと想定される期間、即ち加熱プロファイルにおける目標温度が変化しない期間（即ち、温度維持期間）において、特に有効である。

　制御部１１６は、補正対象の抵抗値を、線形補完により補正してもよい。若しくは、制御部１１６は、補正対象の抵抗値を、移動平均により補正してもよい。いずれにせよ、制御部１１６は、抵抗値の変化の大まかな傾向に追随するようにして、補正対象の抵抗値を補正することができる。このような補正方法は、抵抗値が変化すると想定される期間、即ち加熱プロファイルにおける目標温度が変化する期間（即ち、昇温期間及び降温期間）において、特に有効である。

　制御部１１６は、加熱開始からの経過時間に対応する加熱プロファイルにおける期間に応じて、補正処理において補正対象の抵抗値を補正する方法を選択してもよい。かかる構成によれば、加熱プロファイルに規定された期間ごとに有効な補正方法に切り替えながら、測定対象の抵抗値を補正することが可能となる。これにより、ノイズの影響をより適切に排除することが可能となる。

　具体的には、制御部１１６は、目標温度が変化しない期間、即ち温度維持期間においては、補正対象の抵抗値を、補正対象の抵抗値より前に測定された抵抗値に補正してもよい。かかる構成によれば、温度維持期間において、より有効な補正を行うことが可能となる。

　他方、制御部１１６は、目標温度が変化する期間、即ち昇温期間及び降温期間においては、補正対象の抵抗値を、線形補完又は移動平均により補正してもよい。かかる構成によれば、昇温期間及び降温期間において、より有効な補正を行うことが可能となる。

　－エラー処理
　制御部１１６は、補正対象期間において測定部１７２により測定された抵抗値が補正対象範囲に含まれた回数（簡易的には、抵抗値を補正した回数）が第１の所定回数に達した場合に、加熱部１２１による加熱を禁止してもよい。加熱部１２１による加熱を禁止することは、加熱中であれば加熱を停止すること、及び今後加熱開始を指示するユーザ操作が行われても加熱を行わないことを指す。制御部１１６は、１回の補正対象期間において抵抗値を補正した回数が第１の所定回数に達した場合に、加熱部１２１による加熱を禁止してもよい。若しくは、制御部１１６は、１回の加熱プロファイルに基づく加熱中に設定された複数の補正対象期間において抵抗値を補正した回数の合計が第１の所定回数に達した場合に、加熱部１２１による加熱を禁止してもよい。補正回数があまりにも多い場合、ノイズの発生ではなく、加熱部１２１に何らかのエラーが発生したと考えられる。この点、かかる構成によれば、加熱部１２１のエラーを判定して、ユーザの安全性を高めることが可能となる。

　とりわけ、制御部１１６は、補正対象期間において測定部１７２により測定された抵抗値が補正対象範囲に連続して含まれた回数が第１の所定回数に達した場合に、加熱部１２１による加熱を禁止してもよい。抵抗値が補正対象範囲に連続して含まれることは、加熱部１２１に何らかのエラーが発生した確率が高いと考えられる。この点、かかる構成によれば、ユーザの安全性をより高めることが可能となる。

　他方、制御部１１６は、補正対象期間以外の期間において測定部１７２により測定された抵抗値がエラー判定範囲に含まれた回数が第２の所定回数に達した場合に、加熱部１２１による加熱を禁止してもよい。エラー判定範囲とは、加熱部１２１に不具合が発生したと考えらえる抵抗値の範囲である。エラー判定範囲は、補正対象範囲と同様の方法で設定され得る。かかる構成によれば、振動素子１７１への給電が行われていない期間においても、加熱部１２１のエラーを判定して、ユーザの安全性を高めることが可能となる。

　なお、制御部１１６は、エラー判定範囲を、補正対象範囲よりも厳しく設定してもよい。詳しくは、補正対象範囲が、第１の閾値以上の範囲及び第２の閾値未満の範囲を含むものとすると、エラー判定範囲は、第１の閾値よりも低い第３の閾値以上の範囲、及び第２の閾値よりも高い第４の閾値未満の範囲を含む。つまり、制御部１１６は、補正対象期間において測定された抵抗値が第１の閾値以上であれば抵抗値を補正し、補正対象期間以外の期間において測定された抵抗値が第１の閾値よりも低い第３の閾値以上であればエラーが発生したと判定する。また、制御部１１６は、補正対象期間において測定された抵抗値が第２の閾値未満であれば抵抗値を補正し、補正対象期間以外の期間において測定された抵抗値が第２の閾値よりも高い第４の閾値未満であればエラーが発生したと判定する。補正対象期間では、補正対象期間以外の期間と比較して、ノイズの影響で抵抗値がより大きく変動すると考えられる。この点、補正対象範囲を、エラー判定範囲よりも甘く設定することで、ノイズの影響による抵抗値の変動が、エラーとして誤判定されることを防止することが可能となる。

　ここで、第１の所定回数は、第２の所定回数よりも多く設定されることが望ましい。振動素子１７１への給電に応じて抵抗値にノイズが発生することは、エラーではないためである。この点、かかる構成によれば、ノイズの発生をエラーとして誤判定し、ユーザが不利益を被ってしまうような事態を防止することが可能となる。

　（６）処理の流れ
　図７は、本実施形態に係る吸引装置１００により実行される処理の流れの一例を示すフローチャートである。

　図７に示すように、まず、制御部１１６は、パフ要求が検出されたか否かを判定する（ステップＳ１０２）。パフ要求とは、エアロゾルを生成するよう要求する（即ち、加熱開始を指示する）ユーザ操作である。パフ要求の一例は、吸引装置１００に設けられたスイッチ等を操作すること等の、吸引装置１００に対する操作である。パフ要求の他の一例は、吸引装置１００にスティック型基材１５０を挿入することである。なお、吸引装置１００へのスティック型基材１５０の挿入は、開口１４２付近の空間の静電容量を検出する静電容量型の近接センサ、又は内部空間１４１内の圧力を検出する圧力センサ等により、検出され得る。

　パフ要求が検出されていないと判定された場合（ステップＳ１０２：ＮＯ）、制御部１１６は、パフ要求が検出されるまで待機する。

　他方、パフ要求が検出されたと判定された場合（ステップＳ１０２：ＹＥＳ）、制御部１１６は、加熱プロファイルに基づく加熱を開始するよう加熱部１２１の動作を制御する（ステップＳ１０４）。例えば、制御部１１６は、測定部１７２により測定された抵抗値に対応する加熱部１２１の実温度が、加熱プロファイルに規定された目標温度と同様に推移するように、電源部１１１からの電力供給を制御する処理を開始する。

　次いで、制御部１１６は、エラー条件が満たされたか否かを判定する（ステップＳ１０６）。エラー条件の一例は、補正対象期間において測定部１７２により測定された抵抗値が補正対象範囲に含まれた回数が第１の所定回数に達することである。エラー条件の他の一例は、測定部１７２により測定された抵抗値がエラー判定範囲に含まれた回数が第２の所定回数に達することである。

　エラー条件が満たされたと判定された場合（ステップＳ１０６：ＹＥＳ）、制御部１１６は、加熱部１２１による加熱を禁止する（ステップＳ１０８）。その後、処理は終了する。

　エラー条件が満たされていないと判定された場合（ステップＳ１０６：ＮＯ）、制御部１１６は、終了条件が満たされたか否かを判定する（ステップＳ１１０）。終了条件の一例は、加熱開始からの経過時間が所定時間に達したことである。終了条件の他の一例は、加熱開始からのパフ回数が所定回数に達したことである。

　終了条件が満たされたと判定された場合（ステップＳ１１０：ＹＥＳ）、制御部１１６は、加熱プロファイルに基づく加熱を終了する（ステップＳ１１２）。その後、処理は終了する。

　終了条件が満たされていないと判定された場合（ステップＳ１１０：ＮＯ）、制御部１１６は、振動素子１７１への給電を開始するか否かを判定する（ステップＳ１１４）。例えば、制御部１１６は、パフ可能期間が開始するタイミング及びパフ可能期間が終了するよりも所定時間前のタイミングが到来した場合に、振動素子１７１への給電を開始すると判定する。

　振動素子１７１への給電を開始しないと判定された場合（１１４：ＮＯ）、処理はステップＳ１０６に戻る。

　振動素子１７１への給電を開始すると判定された場合（１１４：ＹＥＳ）、制御部１１６は、振動素子１７１への給電を開始し、補正対象期間を設定する（ステップＳ１１６）。例えば、制御部１１６は、振動素子１７１への給電が開始されてから所定の期間を、補正対象期間として設定する。

　次いで、制御部１１６は、現時刻が補正対象期間内か否かを判定する（ステップＳ１１８）。

　現時刻が補正対象期間外である、即ち補正対象期間が終了したと判定された場合（ステップＳ１１８：ＮＯ）、処理はステップＳ１０６に戻る。

　現時刻が補正対象期間内であると判定された場合（ステップＳ１１８：ＹＥＳ）、制御部１１６は、測定部１７２により測定された加熱部１２１の抵抗値が、補正対象範囲に含まれるか否かを判定する（ステップＳ１２０）。

　加熱部１２１の抵抗値が補正対象範囲に含まれないと判定された場合（ステップＳ１２０：ＮＯ）、処理はステップＳ１１８に戻る。

　加熱部１２１の抵抗値が補正対象範囲に含まれると判定された場合（ステップＳ１２０：ＹＥＳ）、制御部１１６は、補正対象範囲に含まれる抵抗値を補正する（ステップＳ１２２）。例えば、制御部１１６は、補正対象の抵抗値を、前回測定された抵抗値に補正したり、線形補完又は移動平均により補正したりする。

　次いで、制御部１１６は、加熱プロファイルに基づく加熱を、補正後の抵抗値に基づいて制御する（ステップＳ１２４）。その後、処理はステップＳ１１８に戻る。

　＜３．第２の実施形態＞
　本実施形態は、パフに伴う加熱部１２１の温度低下を加味して、加熱部１２１の抵抗値の補正処理を実施する形態である。

　制御部１１６は、パフに伴う値がセンサ部１１２により検出された場合に、パフが行われたことを判定する。パフに伴う値の一例は、保持部１４０への空気流路に配置されたサーミスタ等の温度センサにより検出される、空気流路の温度低下である。深いパフ（吸引量が多いパフ）が行われると大きく温度低下し、浅いパフ（吸引量が少ないパフ）が行われると小さく温度低下する。

　制御部１１６は、パフが行われたことに応じて、補正処理を実施する。パフが行われると、空気流路だけでなく加熱部１２１の温度もまた低下するので、加熱部１２１の抵抗値が変化する。この点、かかる構成によれば、パフの影響に起因する抵抗値の変化を加味して、ノイズの影響をより適切に排除することが可能となる。

　詳しくは、制御部１１６は、パフが行われたことに応じて補正対象範囲を設定してもよい。例えば、制御部１１６は、空気流路の温度低下に応じてパフに伴う加熱部１２１の抵抗値の低下量を推定する。そして、制御部１１６は、振動素子１７１への給電開始に応じて設定された補正対象範囲を、パフに伴う抵抗値の低下量の分、低下させてもよい。

　また、制御部１１６は、パフが行われたことに応じて補正対象の抵抗値を補正してもよい。例えば、制御部１１６は、補正対象の抵抗値を移動平均により補正する場合、パフが行われた後の値に限定して移動平均を適用してもよい。

　＜４．第３の実施形態＞
　本実施形態は、電源部１１１から加熱部１２１への給電量が大きく変化した場合に、かかる変化を加味して加熱部１２１の抵抗値の補正処理を実施する形態である。

　制御部１１６は、電源部１１１から加熱部１２１への給電量の変化量が所定の閾値を超えたことに応じて、補正処理を実施する。加熱部１２１への給電量が大きく変化した場合、加熱部１２１の抵抗値も大きく変化する。この点、かかる構成によれば、加熱部１２１への給電量の大きな変化に起因する抵抗値の変化を加味して、ノイズの影響をより適切に排除することが可能となる。

　加熱部１２１への給電量が大きく変化する要因の一例としては、深いパフが行われたことが挙げられる。深いパフが行われると加熱部１２１の温度が大きく低下して目標温度との差が大きくなる。そのため、加熱部１２１に供給される電力パルスのデューティ比が大きくなるよう制御される。これに伴い、測定部１７２により測定される加熱部１２１の抵抗値にノイズが発生する場合がある。

　そこで、制御部１１６は、加熱部１２１への給電量の変化量が所定の閾値を超えたことに応じて、補正処理を実施する。かかる補正処理は、電源部１１１から加熱部１２１への給電量の変化量が所定の閾値を超えたことに応じて補正対象期間を設定することと、補正対象期間において測定部１７２により測定された抵抗値が補正対象範囲に含まれる場合に抵抗値を補正することと、を含む。補正対象期間の設定、補正対象範囲の設定、抵抗値の補正方法、及びエラー処理については、第１の実施形態と同様に行われてよい。かかる構成によれば、加熱部１２１への給電量が大きく変化したことに伴い発生するノイズの影響を適切に排除することが可能となる。

　第１の実施形態において説明した、電源部１１１から振動素子１７１への給電開始に応じて設定した補正対象期間を、第１の補正対象期間とも称する。他方、本実施形態において説明した、電源部１１１から加熱部１２１への給電量の変化量が所定の閾値を超えたことに応じて設定した補正対象範囲を、第２の補正対象期間とも称する。これら第１の補正対象期間と第２の補正対象期間とが重複する場合、制御部１１６は、第１の補正対象期間と第２の補正対象期間とを連結する。例えば、深いパフが行われ第２の補正対象期間が開始してから終了するまでの間に、振動素子１７１が振動して第１の補正対象期間が開始される場合が考えられる。その場合、制御部１１６は、第２の補正対象期間の開始から第１の補正対象期間の終了までを一連の補正対象期間として、補正処理を行う。かかる構成によれば、加熱部１２１への給電量の大きな変化と振動素子１７１の振動とが同時に発生する場合であっても、ノイズの影響を適切に排除することが可能となる。

　＜５．補足＞
　以上、添付図面を参照しながら本発明の好適な実施形態について詳細に説明したが、本発明はかかる例に限定されない。本発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者であれば、請求の範囲に記載された技術的思想の範疇内において、各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり、これらについても、当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。

　例えば、上記実施形態では、加熱プロファイルが目標温度の時系列推移を規定した情報である例を説明したが、本発明はかかる例に限定されない。例えば、加熱プロファイルは、加熱部１２１の抵抗値の目標値の時系列推移が規定された情報であってもよい。その場合、制御部１１６は、測定した抵抗値が加熱プロファイルに規定された抵抗値と同様に推移するように、加熱部１２１の動作を制御する。

　例えば、上記実施形態では、電源部１１１が充電式バッテリにより構成される例を説明したが、本発明はかかる例に限定されない。電源部１１１は、バッテリの他に昇降圧コンバータ及びＬＤＯ（Low Drop Out）レギュレータ等の電圧調整装置を含んでいてもよい。その場合、加熱部１２１、振動素子１７１、及び測定部１７２へ給電する電源はいずれも同一のバッテリ又は電圧調整装置であってもよいし、少なくとも一部が異なっていてもよい。電圧調整装置を含む場合であっても、その入力値はバッテリから供給されるため、加熱部１２１、振動素子１７１、及び測定部１７２が異なる電源から電力供給を受ける場合であっても電圧のブレは生じうる。すなわち、電源部１１１が電圧調整装置を含み、加熱部１２１、振動素子１７１、及び測定部１７２が異なる電源から電力供給を受ける場合であっても同一の電源部１１１から給電される限り電圧のブレは生じる。なお、同一の電圧調整装置を経由して給電される場合、異なる電圧調整装置を経由して給電される場合と比較して、振動素子１７１への給電に伴う測定部１７２により測定される抵抗値のノイズは発生しやすい。

　例えば、上記実施形態では、途中降温期間においても加熱部１２１への微弱な給電が継続される例を説明したが、本発明はかかる例に限定されない。途中降温期間において、加熱部１２１への給電が停止されてもよい。その場合、加熱部１２１の温度が別途サーミスタ等の温度センサにより検出され、加熱部１２１の制御に用いられてもよい。なお、温度センサに関し、振動素子１７１への給電に伴うノイズの発生を抑制するハードウェア面での対策が施されることが望ましい。温度センサにより検出された加熱部１２１の温度に、上述したような補正処理を適用せずに済むためである。一例として、温度センサと加熱部１２１及び振動素子１７１とは、異なる電圧調整装置を経由して給電されてもよい。他の一例として、電源部１１１と温度センサとの間にコンデンサが配置されていてもよい。

　例えば、上記第３の実施形態では、加熱部１２１への給電量が大きく変化する要因の一例として深いパフが行われたことが挙げたが、本発明はかかる例に限定されない。他の要因として、加熱部１２１による加熱が停止された状態から加熱を開始することが挙げられる。例えば、途中降温期間において加熱部１２１への給電が停止されてから、再昇温期間において加熱部１２１への給電が再開される場合に、加熱部１２１への給電量が大きく変化して、測定部１７２により測定される加熱部１２１の抵抗値にノイズが発生し得る。そこで、制御部１１６は、加熱オフから加熱オンに切り替えられたことに伴い、加熱部１２１への給電量の変化量が所定の閾値を超えたことをトリガとして、補正処理を実施してもよい。補正処理の内容については、第３の実施形態において説明した通りである。なお、加熱オフから加熱オンへの切り替えの際には、加熱部１２１の温度は大きく上昇する。そのため、加熱オンに切り替える直前に加熱部１２１へ微弱な給電を行って抵抗値を得て、補正対象の抵抗値を補正する際には、その加熱オンに切り替える直前に得た抵抗値を補正後の抵抗値として使用することが望ましい。若しくは、加熱オンに切り替えた直後であって少なくとも過渡応答によるノイズの影響がピークとなるより前に測定された抵抗値を、補正後の抵抗値として使用することが望ましい。加熱オンに切り替えた直後であって少なくとも過渡応答によるノイズの影響がピークとなるより前に測定された抵抗値は、それ以降に測定された抵抗値と比較して、過渡応答によるノイズの影響が小さいと考えられるためである。

　例えば、上記実施形態では、パフ可能期間の始期及び終期に関するタイミングで振動素子１７１が振動する例を説明したが、本発明はかかる例に限定されない。加熱部１２１による加熱中の任意のタイミングで振動素子１７１は振動し得る。

　例えば、上記実施形態では、電源部１１１から供給された電力を使用して動作する、加熱部１２１とは異なる動作部の一例として振動素子１７１を挙げたが、本発明はかかる例に限定されない。制御部１１６は、電源部１１１から供給された電力を使用して動作する任意の動作部への給電開始に応じて、抵抗値を補正する処理を制御してよい。動作部の一例として、発光する装置である発光素子が挙げられる。他にも、動作部の一例として、画像を表示する表示装置、及び音を出力する音出力装置が挙げられる。

　例えば、上記実施形態では、動作部への給電開始に応じて補正処理が制御される例を説明したが、本発明はかかる例に限定されない。例えば、動作部への給電により実行される動作部の動作内容に応じて補正処理が制御されてもよい。具体的には、制御部１１６は、振動素子１７１の振動パターン（振幅及び振動間隔等）に応じて補正対象期間の長さを設定したり、抵抗値の補正方法を選択したりしてもよい。振動パターンによって電源部１１１に対する電流負荷が異なり得る。この点、かかる構成により、ノイズの影響をより適切に排除することが可能となる。

　例えば、上記実施形態では、測定部１７２により測定される測定値が、加熱部１２１の抵抗値である例を説明したが、本発明はかかる例に限定されない。測定部１７２により測定される測定値は、加熱部１２１の温度であってもよい。測定部１７２により測定される測定値は、加熱部１２１における電圧降下であってもよい。

　なお、本明細書において説明した各装置による一連の処理は、ソフトウェア、ハードウェア、及びソフトウェアとハードウェアとの組合せのいずれを用いて実現されてもよい。ソフトウェアを構成するプログラムは、例えば、各装置の内部又は外部に設けられる記録媒体（詳しくは、コンピュータにより読み取り可能な非一時的な記憶媒体）に予め格納される。そして、各プログラムは、例えば、本明細書において説明した各装置を制御するコンピュータによる実行時にＲＡＭに読み込まれ、ＣＰＵなどのプロセッサにより実行される。上記記録媒体は、例えば、磁気ディスク、光ディスク、光磁気ディスク、フラッシュメモリ等である。また、上記のコンピュータプログラムは、記録媒体を用いずに、例えばネットワークを介して配信されてもよい。

　また、本明細書においてフローチャート及びシーケンス図を用いて説明した処理は、必ずしも図示された順序で実行されなくてもよい。いくつかの処理ステップは、並列的に実行されてもよい。また、追加的な処理ステップが採用されてもよく、一部の処理ステップが省略されてもよい。

　なお、以下のような構成も本発明の技術的範囲に属する。
（１）
　電力を供給する電源部と、
　エアロゾル源を含有した基材を前記電源部から供給された電力を使用して加熱する加熱部と、
　前記加熱部の温度に対応する測定値を測定する測定部と、
　前記電源部から供給された電力を使用して動作する、前記加熱部とは異なる動作部と、
　前記加熱部の温度の目標値である目標温度の時系列推移が規定された加熱設定に基づいて、前記測定値に対応する前記加熱部の温度が前記目標温度と同様に推移するよう前記加熱部の動作を制御する制御部と、
　を備え、
　前記制御部は、前記電源部から前記動作部への給電開始に応じて、前記測定値を補正する補正処理を実施する、
　吸引装置。
（２）
　前記補正処理は、
　　前記電源部から前記動作部への給電開始に応じて補正対象期間を設定することと、
　　前記補正対象期間において前記測定部により測定された前記測定値が補正対象範囲に含まれる場合に前記測定値を補正することと、
　を含む、
　前記（１）に記載の吸引装置。
（３）
　前記制御部は、前回測定された前記測定値に応じて、前記補正対象範囲を設定する、
　前記（２）に記載の吸引装置。
（４）
　前記制御部は、加熱開始からの経過時間に対応する前記目標温度に応じて、前記補正対象範囲を設定する、
　前記（２）に記載の吸引装置。
（５）
　前記補正処理は、補正対象の前記測定値を、補正対象の前記測定値より前に測定された前記測定値に補正することを含む、
　前記（２）～（４）のいずれか一項に記載の吸引装置。
（６）
　前記補正処理は、補正対象の前記測定値を、線形補完により補正することを含む、
　前記（２）～（４）のいずれか一項に記載の吸引装置。
（７）
　前記補正処理は、補正対象の前記測定値を、移動平均により補正することを含む、
　前記（２）～（４）のいずれか一項に記載の吸引装置。
（８）
　前記加熱設定は、それぞれに前記目標温度が設定された複数の期間を含み、
　前記制御部は、加熱開始からの経過時間に対応する前記加熱設定における前記期間に応じて、前記補正処理において補正対象の測定値を補正する方法を選択する、
　前記（２）～（４）のいずれか一項に記載の吸引装置。
（９）
　前記制御部は、前記目標温度が変化しない前記期間においては、補正対象の前記測定値を、補正対象の前記測定値より前に測定された前記測定値に補正する、
　前記（８）に記載の吸引装置。
（１０）
　前記制御部は、前記目標温度が変化する前記期間においては、補正対象の前記測定値を、線形補完又は移動平均により補正する、
　前記（８）又は（９）に記載の吸引装置。
（１１）
　前記制御部は、前記補正対象期間において前記測定部により測定された前記測定値が補正対象範囲に含まれた回数が第１の所定回数に達した場合に、前記加熱部による加熱を禁止する、
　前記（２）～（１０）のいずれか一項に記載の吸引装置。
（１２）
　前記制御部は、前記補正対象期間において前記測定部により測定された前記測定値が補正対象範囲に連続して含まれた回数が前記第１の所定回数に達した場合に、前記加熱部による加熱を禁止する、
　前記（１１）に記載の吸引装置。
（１３）
　前記制御部は、前記補正対象期間以外の期間において前記測定部により測定された前記測定値がエラー判定範囲に含まれた回数が第２の所定回数に達した場合に、前記加熱部による加熱を禁止し、
　前記第１の所定回数は前記第２の所定回数よりも多い、
　前記（１１）又は（１２）に記載の吸引装置。
（１４）
　前記補正対象範囲は、第１の閾値以上の範囲及び第２の閾値未満の範囲を含み、
　前記エラー判定範囲は、前記第１の閾値よりも低い第３の閾値以上の範囲、及び前記第２の閾値よりも高い第４の閾値未満の範囲を含む、
　前記（１３）に記載の吸引装置。
（１５）
　前記補正対象期間は、前記動作部への給電が開始されてから所定のサンプリング数の前記測定値が測定されるまでの期間である、
　前記（２）～（１４）のいずれか一項に記載の吸引装置。
（１６）
　前記補正対象期間は、前記動作部への給電が開始されてから停止されるまでの期間である、
　前記（２）～（１４）のいずれか一項に記載の吸引装置。
（１７）
　前記制御部は、前記エアロゾル源を加熱することで生成されたエアロゾルが吸引されたことに応じて、前記補正処理を実施する、
　前記（１）～（１６）のいずれか一項に記載の吸引装置。
（１８）
　前記制御部は、前記電源部から前記加熱部への給電量の変化量が所定の閾値を超えたことに応じて、前記補正処理を実施する、
　前記（１）～（１７）のいずれか一項に記載の吸引装置。
（１９）
　前記補正処理は、
　　前記電源部から前記加熱部への給電量の変化量が所定の閾値を超えたことに応じて補正対象期間を設定することと、
　　前記補正対象期間において前記測定部により測定された前記測定値が補正対象範囲に含まれる場合に前記測定値を補正することと、
　を含む、
　前記（１８）に記載の吸引装置。
（２０）
　前記制御部は、前記電源部から前記動作部への給電開始に応じて設定した前記補正対象期間である第１の補正対象期間と、前記電源部から前記加熱部への給電量の変化量が所定の閾値を超えたことに応じて設定した前記補正対象範囲である第２の補正対象期間とが重複する場合、前記第１の補正対象期間と前記第２の補正対象期間とを連結する、
　前記（１９）に記載の吸引装置。
（２１）
　前記制御部は、前記動作部への給電により実行される前記動作部の動作内容に応じて、前記補正処理を実施する、
　前記（１）～（２０）のいずれか一項に記載の吸引装置。
（２２）
　前記制御部は、前記測定値に基づいて、前記電源部から前記動作部への給電を制御する、
　前記（１）～（２１）のいずれか一項に記載の吸引装置。
（２３）
　前記制御部は、前記加熱部による加熱が開始されてからの経過時間、又は前記エアロゾル源を加熱することで生成されたエアロゾルが吸引された回数に基づいて、前記電源部から前記動作部への給電を制御する、
　前記（１）～（２２）のいずれか一項に記載の吸引装置。
（２４）
　前記動作部は、振動素子又は発光素子である、
　前記（１）～（２３）のいずれか一項に記載の吸引装置。
（２５）
　電力を供給する電源部と、
　エアロゾル源を含有した基材を前記電源部から供給された電力を使用して加熱する加熱部と、
　前記加熱部の温度に対応する測定値を測定する測定部と、
　前記電源部から供給された電力を使用して動作する、前記加熱部とは異なる動作部と、
　前記加熱部の温度の目標値である目標温度の時系列推移が規定された加熱設定に基づいて、前記測定値に対応する前記加熱部の温度が前記目標温度と同様に推移するよう前記加熱部の動作を制御する制御部と、
　を備え、
　前記制御部は、前記電源部から前記動作部への給電開始に応じて、前記測定値を補正する補正処理を実施する、
　吸引装置により加熱される、前記エアロゾル源を含有した基材。
（２６）
　吸引装置を制御するための制御方法であって、
　前記吸引装置は、
　　電力を供給する電源部と、
　　エアロゾル源を含有した基材を前記電源部から供給された電力を使用して加熱する加熱部と、
　　前記加熱部の温度に対応する測定値を測定する測定部と、
　　前記電源部から供給された電力を使用して動作する、前記加熱部とは異なる動作部と、
　を備え、前記制御方法は、
　前記電源部から前記動作部への給電開始に応じて、前記測定値を補正する補正処理を実施することと、
　前記加熱部の温度の目標値である目標温度の時系列推移が規定された加熱設定に基づいて、前記測定値に対応する前記加熱部の温度が前記目標温度と同様に
推移するよう前記加熱部の動作を制御することと、
　を含む、制御方法。

　１００　　吸引装置
　１１１　　電源部
　１１２　　センサ部
　１１３　　通知部
　１１４　　記憶部
　１１５　　通信部
　１１６　　制御部
　１２１　　加熱部
　１４０　　保持部
　１４１　　内部空間
　１４２　　開口
　１４３　　底部
　１４４　　断熱部
　１５０　　スティック型基材
　１５１　　基材部
　１５２　　吸口部
　１７１　　振動素子
　１７２　　測定部

Claims (20)

1. 　電力を供給する電源部と、
   　エアロゾル源を含有した基材を前記電源部から供給された電力を使用して加熱する加熱部と、
   　前記加熱部の温度に対応する測定値を測定する測定部と、
   　前記電源部から供給された電力を使用して動作する、前記加熱部とは異なる動作部と、
   　前記加熱部の温度の目標値である目標温度の時系列推移が規定された加熱設定に基づいて、前記測定値に対応する前記加熱部の温度が前記目標温度と同様に推移するよう前記加熱部の動作を制御する制御部と、
   　を備え、
   　前記制御部は、前記電源部から前記動作部への給電開始に応じて、前記測定値を補正する補正処理を実施する、
   　吸引装置。
2. 　前記補正処理は、
   　　前記電源部から前記動作部への給電開始に応じて補正対象期間を設定することと、
   　　前記補正対象期間において前記測定部により測定された前記測定値が補正対象範囲に含まれる場合に前記測定値を補正することと、
   　を含む、
   　請求項１に記載の吸引装置。
3. 　前記制御部は、前回測定された前記測定値、又は加熱開始からの経過時間に対応する前記目標温度に応じて、前記補正対象範囲を設定する、
   　請求項２に記載の吸引装置。
4. 　前記補正処理は、補正対象の前記測定値を、補正対象の前記測定値より前に測定された前記測定値に補正すること、線形補完により補正すること、又は移動平均により補正することのいずれか１つを含む、
   　請求項２又は３に記載の吸引装置。
5. 　前記加熱設定は、それぞれに前記目標温度が設定された複数の期間を含み、
   　前記制御部は、加熱開始からの経過時間に対応する前記加熱設定における前記期間に応じて、前記補正処理において補正対象の測定値を補正する方法を選択する、
   　請求項２～４のいずれか一項に記載の吸引装置。
6. 　前記制御部は、前記目標温度が変化しない前記期間においては、補正対象の前記測定値を、補正対象の前記測定値より前に測定された前記測定値に補正する、
   　請求項５に記載の吸引装置。
7. 　前記制御部は、前記目標温度が変化する前記期間においては、補正対象の前記測定値を、線形補完又は移動平均により補正する、
   　請求項５又は６に記載の吸引装置。
8. 　前記制御部は、前記補正対象期間において前記測定部により測定された前記測定値が補正対象範囲に含まれた回数が第１の所定回数に達した場合に、前記加熱部による加熱を禁止する、
   　請求項２～７のいずれか一項に記載の吸引装置。
9. 　前記制御部は、前記補正対象期間以外の期間において前記測定部により測定された前記測定値がエラー判定範囲に含まれた回数が第２の所定回数に達した場合に、前記加熱部による加熱を禁止し、
   　前記第１の所定回数は前記第２の所定回数よりも多い、
   　請求項８に記載の吸引装置。
10. 　前記補正対象範囲は、第１の閾値以上の範囲及び第２の閾値未満の範囲を含み、
    　前記エラー判定範囲は、前記第１の閾値よりも低い第３の閾値以上の範囲、及び前記第２の閾値よりも高い第４の閾値未満の範囲を含む、
    　請求項９に記載の吸引装置。
11. 　前記補正対象期間は、前記動作部への給電が開始されてから所定のサンプリング数の前記測定値が測定されるまでの期間である、
    　請求項２～１０のいずれか一項に記載の吸引装置。
12. 　前記補正対象期間は、前記動作部への給電が開始されてから停止されるまでの期間である、
    　請求項２～１０のいずれか一項に記載の吸引装置。
13. 　前記制御部は、前記エアロゾル源を加熱することで生成されたエアロゾルが吸引されたことに応じて、前記補正処理を実施する、
    　請求項１～１２のいずれか一項に記載の吸引装置。
14. 　前記制御部は、前記電源部から前記加熱部への給電量の変化量が所定の閾値を超えたことに応じて、前記補正処理を実施する、
    　請求項１～１３のいずれか一項に記載の吸引装置。
15. 　前記補正処理は、
    　　前記電源部から前記加熱部への給電量の変化量が所定の閾値を超えたことに応じて補正対象期間を設定することと、
    　　前記補正対象期間において前記測定部により測定された前記測定値が補正対象範囲に含まれる場合に前記測定値を補正することと、
    　を含む、
    　請求項１４に記載の吸引装置。
16. 　前記制御部は、前記電源部から前記動作部への給電開始に応じて設定した前記補正対象期間である第１の補正対象期間と、前記電源部から前記加熱部への給電量の変化量が所定の閾値を超えたことに応じて設定した前記補正対象範囲である第２の補正対象期間とが重複する場合、前記第１の補正対象期間と前記第２の補正対象期間とを連結する、
    　請求項１５に記載の吸引装置。
17. 　前記制御部は、前記動作部への給電により実行される前記動作部の動作内容に応じて、前記補正処理を実施する、
    　請求項１～１６のいずれか一項に記載の吸引装置。
18. 　前記動作部は、振動素子又は発光素子である、
    　請求項１～１７のいずれか一項に記載の吸引装置。
19. 　電力を供給する電源部と、
    　エアロゾル源を含有した基材を前記電源部から供給された電力を使用して加熱する加熱部と、
    　前記加熱部の温度に対応する測定値を測定する測定部と、
    　前記電源部から供給された電力を使用して動作する、前記加熱部とは異なる動作部と、
    　前記加熱部の温度の目標値である目標温度の時系列推移が規定された加熱設定に基づいて、前記測定値に対応する前記加熱部の温度が前記目標温度と同様に推移するよう前記加熱部の動作を制御する制御部と、
    　を備え、
    　前記制御部は、前記電源部から前記動作部への給電開始に応じて、前記測定値を補正する補正処理を実施する、
    　吸引装置により加熱される、前記エアロゾル源を含有した基材。
20. 　吸引装置を制御するための制御方法であって、
    　前記吸引装置は、
    　　電力を供給する電源部と、
    　　エアロゾル源を含有した基材を前記電源部から供給された電力を使用して加熱する加熱部と、
    　　前記加熱部の温度に対応する測定値を測定する測定部と、
    　　前記電源部から供給された電力を使用して動作する、前記加熱部とは異なる動作部と、
    　を備え、前記制御方法は、
    　前記電源部から前記動作部への給電開始に応じて、前記測定値を補正する補正処理を実施することと、
    　前記加熱部の温度の目標値である目標温度の時系列推移が規定された加熱設定に基づいて、前記測定値に対応する前記加熱部の温度が前記目標温度と同様に
    推移するよう前記加熱部の動作を実施することと、
    　を含む、制御方法。

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