WO2022018824A1 - 増幅回路およびドライバ回路 - Google Patents

増幅回路およびドライバ回路 Download PDF

Info

Publication number
WO2022018824A1
WO2022018824A1 PCT/JP2020/028254 JP2020028254W WO2022018824A1 WO 2022018824 A1 WO2022018824 A1 WO 2022018824A1 JP 2020028254 W JP2020028254 W JP 2020028254W WO 2022018824 A1 WO2022018824 A1 WO 2022018824A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
terminal
transistor
emitter terminal
circuit
emitter
Prior art date
Application number
PCT/JP2020/028254
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
照男 徐
宗彦 長谷
秀之 野坂
Original Assignee
日本電信電話株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 日本電信電話株式会社 filed Critical 日本電信電話株式会社
Priority to US18/005,928 priority Critical patent/US20230299724A1/en
Priority to JP2022538527A priority patent/JP7544125B2/ja
Priority to PCT/JP2020/028254 priority patent/WO2022018824A1/ja
Publication of WO2022018824A1 publication Critical patent/WO2022018824A1/ja

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F1/00Details of amplifiers with only discharge tubes, only semiconductor devices or only unspecified devices as amplifying elements
    • H03F1/42Modifications of amplifiers to extend the bandwidth
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F3/00Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
    • H03F3/45Differential amplifiers
    • H03F3/45071Differential amplifiers with semiconductor devices only
    • H03F3/45076Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of implementation of the active amplifying circuit in the differential amplifier
    • H03F3/45179Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of implementation of the active amplifying circuit in the differential amplifier using MOSFET transistors as the active amplifying circuit
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F3/00Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
    • H03F3/45Differential amplifiers
    • H03F3/45071Differential amplifiers with semiconductor devices only
    • H03F3/45076Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of implementation of the active amplifying circuit in the differential amplifier
    • H03F3/45179Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of implementation of the active amplifying circuit in the differential amplifier using MOSFET transistors as the active amplifying circuit
    • H03F3/45197Pl types
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03GCONTROL OF AMPLIFICATION
    • H03G1/00Details of arrangements for controlling amplification
    • H03G1/0005Circuits characterised by the type of controlling devices operated by a controlling current or voltage signal
    • H03G1/0017Circuits characterised by the type of controlling devices operated by a controlling current or voltage signal the device being at least one of the amplifying solid state elements of the amplifier
    • H03G1/0029Circuits characterised by the type of controlling devices operated by a controlling current or voltage signal the device being at least one of the amplifying solid state elements of the amplifier using FETs
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F2200/00Indexing scheme relating to amplifiers
    • H03F2200/36Indexing scheme relating to amplifiers the amplifier comprising means for increasing the bandwidth
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F2203/00Indexing scheme relating to amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements covered by H03F3/00
    • H03F2203/45Indexing scheme relating to differential amplifiers
    • H03F2203/45488Indexing scheme relating to differential amplifiers the CSC being a pi circuit and a capacitor being used at the place of the resistor
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F2203/00Indexing scheme relating to amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements covered by H03F3/00
    • H03F2203/45Indexing scheme relating to differential amplifiers
    • H03F2203/45492Indexing scheme relating to differential amplifiers the CSC being a pi circuit and the resistor being implemented by one or more controlled transistors

Definitions

  • the present invention relates to an amplifier circuit used in a driver circuit or the like for driving an optical modulator.
  • the modulator driver circuit used in the transmitter for optical communication is used to drive the light modulator in the optical transmitter, and amplifies the amplitude intensity of the transmitted electric signal to a level at which the optical modulator can be driven. Play a role.
  • the symbol rate required for an optical transmitter exceeds 100 GBaud, and in order to realize the symbol rate, the optical transmitter needs a band of 50 GHz or more.
  • the package part of the optical modulator and optical transmitter has frequency characteristics such that the signal loss increases as the frequency increases.
  • the compensation methods there is a method of giving the driver circuit a frequency peaking characteristic.
  • the peaking characteristic is required to be a frequency characteristic opposite to the signal loss (a characteristic in which the gain increases as the frequency increases).
  • the driver circuit is required to have a function of adjusting the peaking amount in order to suppress the variation in characteristics.
  • the peaking amount can be adjusted by using the variable resistors R100 and R101 as the load resistance of the differential amplifier circuit (see Non-Patent Document 1). For example, if the variable resistors R100 and R101 are adjusted to small values, a peaking characteristic is obtained in which the gain on the low frequency side decreases and the gain on the relatively high frequency side increases.
  • the conventional frequency peaking method can increase the gain near a specific frequency
  • the desired peaking characteristic (frequency characteristic opposite to the frequency characteristic of loss) can be realized over a wide band of 50 GHz or more. There was a problem that it was difficult.
  • the present invention has been made to solve the above problems, and an object of the present invention is to provide an amplifier circuit and a driver circuit that can realize desired peaking characteristics over a wide band.
  • the first and second transistors having a differential configuration in which the base terminal is connected to the differential input signal terminal of the amplification circuit and the base terminal are connected to the collector terminal of the second transistor.
  • the collector terminal is connected to the power supply voltage
  • the emitter terminal is connected to the first output signal terminal on the positive phase side of the amplification circuit
  • the base terminal is connected to the collector terminal of the first transistor.
  • the collector terminal is connected to the power supply voltage
  • the emitter terminal is connected to the fourth transistor connected to the second output signal terminal on the opposite phase side of the amplification circuit and to the emitter terminals of the first and second transistors.
  • the variable degeneration circuit includes a variable negative capacitance circuit connected to the first and second output signal terminals, and the variable degeneration circuit includes an emitter terminal of the first transistor and the second output signal terminal. It is composed of a variable capacitance connected in parallel with an emitter terminal of a transistor and a first resistor. In the variable negative capacitance circuit, a collector terminal is connected to the first and second output signal terminals.
  • the fifth and sixth transistors in which the base terminal and the collector terminal are connected in a cross-coupled manner, the capacitance connected between the emitter terminal of the fifth transistor and the emitter terminal of the sixth transistor, and One end is connected to the emitter terminal of the fifth transistor and the other end is connected to the ground, and one end is connected to the emitter terminal of the sixth transistor and the other end is connected to the ground. It is characterized in that it is composed of a second variable current source.
  • the first and second transistors having a differential configuration in which the base terminal is connected to the differential input signal terminal of the amplification circuit and the base terminal are connected to the collector terminal of the second transistor.
  • the collector terminal is connected to the power supply voltage
  • the emitter terminal is connected to the first output signal terminal on the positive phase side of the amplification circuit
  • the base terminal is connected to the collector terminal of the first transistor.
  • the collector terminal is connected to the power supply voltage
  • the emitter terminal is connected to the second output signal terminal on the opposite phase side of the amplification circuit to the fourth transistor and the emitter terminals of the first and second transistors.
  • the variable degeneration circuit includes a connected variable degeneration circuit and a variable negative capacitance circuit connected to the first and second output signal terminals, and the variable degeneration circuit includes an emitter terminal of the first transistor and the first transistor.
  • a first resistor connected between the emitter terminal of the second transistor and a first capacitance connected in series between the emitter terminal of the first transistor and the emitter terminal of the second transistor.
  • the variable resistance is composed of a first variable resistance, a second variable resistance connected in series between the emitter terminal of the first transistor and the emitter terminal of the second transistor, and a second capacitance.
  • the fifth and sixth transistors in which the collector terminal is connected to the first and second output signal terminals and the base terminal and the collector terminal are connected in a cross-coupled manner, and the fifth transistor.
  • the third and fourth capacitances connected in series between the emitter terminal of the transistor and the emitter terminal of the sixth transistor, one end of which is connected to the emitter terminal of the fifth transistor, and the other end to ground.
  • the variable degeneration circuit is composed of a connected first variable current source and a second variable current source having one end connected to the emitter terminal of the sixth transistor and the other end connected to the ground.
  • the first and second transistors having a differential configuration in which the base terminal is connected to the differential input signal terminal of the amplification circuit and the base terminal are connected to the collector terminal of the second transistor.
  • the collector terminal is connected to the power supply voltage
  • the emitter terminal is connected to the first output signal terminal on the positive phase side of the amplification circuit
  • the base terminal is connected to the collector terminal of the first transistor.
  • the collector terminal is connected to the power supply voltage
  • the emitter terminal is connected to the second output signal terminal on the opposite phase side of the amplification circuit to the fourth transistor and the emitter terminals of the first and second transistors.
  • the variable degeneration circuit includes a connected variable degeneration circuit and a variable negative capacitance circuit connected to the first and second output signal terminals, and the variable degeneration circuit includes an emitter terminal of the first transistor and the first transistor. It is composed of a variable capacitance connected in parallel with the emitter terminal of two transistors and a first resistor, and in the variable negative capacitance circuit, a collector terminal is connected to the first and second output signal terminals.
  • the fifth and sixth transistors in which the base terminal and the collector terminal are connected in a cross-coupled manner, and the seventh transistor in which the base terminal and the collector terminal are connected to the emitter terminal of the fifth transistor.
  • a first transistor in which a base terminal and a collector terminal are connected to the emitter terminal of the sixth transistor, and one end is connected to the emitter terminal of the seventh transistor and the other end is connected to the ground. It is characterized by being composed of a variable current source and a second variable current source having one end connected to the emitter terminal of the eighth transistor and the other end connected to the ground.
  • the first and second transistors having a differential configuration in which the base terminal is connected to the differential input signal terminal of the amplification circuit and the base terminal are connected to the collector terminal of the second transistor.
  • the collector terminal is connected to the power supply voltage
  • the emitter terminal is connected to the first output signal terminal on the positive phase side of the amplification circuit
  • the base terminal is connected to the collector terminal of the first transistor.
  • the collector terminal is connected to the power supply voltage
  • the emitter terminal is connected to the second output signal terminal on the opposite phase side of the amplification circuit to the fourth transistor and the emitter terminals of the first and second transistors.
  • the variable degeneration circuit includes a connected variable degeneration circuit and a variable negative capacitance circuit connected to the first and second output signal terminals, and the variable degeneration circuit includes an emitter terminal of the first transistor and the first transistor.
  • a first resistor connected between the emitter terminal of the second transistor and a first capacitance connected in series between the emitter terminal of the first transistor and the emitter terminal of the second transistor.
  • the variable resistance is composed of a first variable resistance, a second variable resistance connected in series between the emitter terminal of the first transistor and the emitter terminal of the second transistor, and a second capacitance.
  • the collector terminals are connected to the first and second output signal terminals, and the base terminal and the collector terminal are connected in a cross-coupled manner to the fifth and sixth transistors, and the base terminal and the collector.
  • a seventh transistor whose terminal is connected to the emitter terminal of the fifth transistor, an eighth transistor whose base terminal and collector terminal are connected to the emitter terminal of the sixth transistor, and one end thereof.
  • a first variable current source connected to the emitter terminal of the transistor 7 and the other end connected to the ground, and a second one end connected to the emitter terminal of the eighth transistor and the other end connected to the ground. It is characterized by being composed of a variable current source of.
  • the driver circuit of the present invention is characterized by including the above-mentioned amplifier circuit. Further, the driver circuit of the present invention is characterized in that the amplifier circuit described above and an amplifier circuit having a fixed frequency peaking amount are connected in cascade.
  • frequency peaking is realized by combining two topologies, a variable degeneration circuit and a variable negative capacitance circuit.
  • the variable degeneration circuit and the variable negative capacitance circuit have peaking frequencies on the low frequency side and the high frequency side, respectively, and the peaking amount of each can be adjusted independently, so that it is desired over a wide band of 50 GHz or more.
  • the peaking characteristics of can be realized.
  • FIG. 1 is a circuit diagram showing a configuration of an amplifier circuit according to a first embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a diagram showing a simulation result of the gain of the conventional amplifier circuit and the amplifier circuit according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 3 is a diagram showing an example of the frequency characteristic of the signal loss of the optical transmitter.
  • FIG. 4 is a diagram showing the frequency characteristics of the optical transmitter after the signal loss is compensated by the conventional amplifier circuit and the amplifier circuit according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 5 is a circuit diagram showing a configuration of an amplifier circuit according to a second embodiment of the present invention.
  • FIG. 6 is a circuit diagram showing a configuration of a variable negative capacitance circuit of an amplifier circuit according to a third embodiment of the present invention.
  • FIG. 1 is a circuit diagram showing a configuration of an amplifier circuit according to a first embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a diagram showing a simulation result of the gain of the conventional amplifier circuit and the amplifier circuit according
  • FIG. 7 is a circuit diagram showing a configuration of a driver circuit according to a fourth embodiment of the present invention.
  • FIG. 8 is a circuit diagram showing a configuration of a fixed peaking amount amplifier circuit according to a fourth embodiment of the present invention.
  • FIG. 9 is a diagram showing a simulation result of the gain of the driver circuit according to the fourth embodiment of the present invention.
  • FIG. 10 is a circuit diagram illustrating a frequency peaking method of a conventional driver circuit.
  • FIG. 1 is a circuit diagram showing a configuration of an amplifier circuit according to a first embodiment of the present invention.
  • the base terminal is connected to the transistors Q1 and Q2 connected to the differential input signal terminals Vip and Vin of the amplification circuit, and the base terminal is connected to the bias voltage Vb and the collector terminal is the emitter terminal of the transistor Q1.
  • a current source transistor Q3 whose emitter terminal is connected to the ground and a current source transistor Q3 whose base terminal is connected to the bias voltage Vb, whose collector terminal is connected to the emitter terminal of the transistor Q2, and whose emitter terminal is connected to the ground.
  • Transistor Q4 the base terminal is connected to the collector terminal of transistor Q2, the collector terminal is connected to the power supply voltage VCS, and the emitter terminal is connected to the output signal terminal Voutp on the positive phase side of the amplification circuit. Is connected to the collector terminal of the transistor Q1, the collector terminal is connected to the power supply voltage VCS, the emitter terminal is connected to the output signal terminal Voutn on the opposite phase side of the amplification circuit, and the base terminal is connected to the output signal terminal Voutn.
  • a transistor Q7 that is connected and has a collector terminal connected to the output signal terminal Voutp, a transistor Q8 that has a base terminal connected to the output signal terminal Voutp and a collector terminal connected to the output signal terminal Voutn, and a collector at one end of the transistor Q1.
  • the resistor R1 connected to the terminal and the other end connected to the power supply voltage VCS, the resistor R2 having one end connected to the collector terminal of the transistor Q2 and the other end connected to the power supply voltage VCS, and the emitter of the transistor Q1 at one end.
  • a resistor R3 connected to a terminal and the other end connected to the emitter terminal of the transistor Q2, a variable capacitance C1 having one end connected to the emitter terminal of the transistor Q1 and the other end connected to the emitter terminal of the transistor Q2, and one end. Is connected to the emitter terminal of the transistor Q7 and the other end is connected to the emitter terminal of the transistor Q8, and one end is connected to the emitter terminal of the transistor Q5 and the other end is connected to the ground.
  • a constant current source IS2 having one end connected to the emitter terminal of the transistor Q6 and the other end connected to the ground, and a variable current source IS3 having one end connected to the emitter terminal of the transistor Q7 and the other end connected to the ground. One end is connected to the emitter terminal of the transistor Q8, and the other end is connected to the ground variable current source IS4.
  • variable capacitance C1 and the resistor R3 connected in parallel between the emitter terminal of the transistor Q1 and the emitter terminal of the transistor Q2 form a variable degeneration circuit 1.
  • the transistors Q7 and Q8, the capacitance C2, and the variable current sources IS3 and IS4 form a variable negative capacitance circuit 2.
  • variable degeneration circuit 1 is responsible for frequency peaking on the low frequency side.
  • the peaking amount can be adjusted by adjusting the capacity value of the variable capacity C1.
  • the variable capacitance C1 may be a varicap composed of, for example, a MOS transistor.
  • variable negative capacitance circuit 2 two transistors Q7 and Q8 are connected in a cross-coupled manner, and the capacitance C2 is connected to the emitter terminals of the transistors Q7 and Q8.
  • the variable negative capacitance circuit 2 functions as a negative capacitance added to the differential output signal terminals Voutp and Voutn (emitter terminals of the transistors Q5 and Q6).
  • the capacitance C2 may be, for example, a MIM (Metal-Insulator-Metal) capacitor.
  • variable negative capacitance circuit 2 is mainly responsible for frequency peaking on the high frequency side.
  • the peaking amount can be adjusted by adjusting the current flowing through the variable negative capacitance circuit 2 by the variable current sources IS3 and IS4.
  • Negative capacitance circuits are generally used for narrow band circuits such as oscillators and mixers, and are not suitable for amplifier circuits that require wide bandwidth.
  • the negative capacitance circuit can be applied to the amplifier circuit, and the wide band frequency peaking becomes possible. Since the negative capacitance circuit is small, it has a small parasitic capacitance and is suitable for carrying out frequency peaking on the high frequency side.
  • FIG. 2 shows the gain simulation results of the conventional amplifier circuit and the amplifier circuit of this embodiment.
  • 200 in FIG. 2 shows the gain of the conventional amplifier circuit shown in FIG. 10, and 201 shows the gain of the amplifier circuit of this embodiment.
  • the gain can be greatly increased in the vicinity of 50 GHz, but the gain on the low frequency side is small.
  • the gain can be increased evenly from a low frequency to around 50 GHz.
  • the optical transmitter Assuming that the signal loss in the optical transmitter has the frequency characteristics as shown in FIG. 3, when the amplifier circuit of this embodiment is applied to the driver circuit for driving the optical modulator in the optical transmitter, the optical transmitter The frequency characteristics are improved as shown in FIG. 400 in FIG. 4 shows the frequency characteristic of the optical transmitter when the conventional amplifier circuit is applied to the driver circuit, and 401 shows the frequency characteristic of the optical transmitter when the amplifier circuit of this embodiment is applied to the driver circuit. ing.
  • the gain drops significantly around 20 GHz and the band is limited.
  • the amplifier circuit of this embodiment is used for the driver circuit, it is possible to realize a flat frequency characteristic up to 50 GHz or more.
  • the amplifier circuit of this embodiment it is not necessary to lower the DC gain in adjusting the peaking amount, and it is possible to realize a higher DC gain than the conventional amplifier circuit.
  • the DC gain is basically determined by the transconductance of the input transistor, the collector resistance, and the emitter resistance.
  • the DC gain fluctuates.
  • the variable resistors R100 and R101 are adjusted to small values, the peaking characteristic is such that the DC gain decreases and the gain on the high frequency side increases relatively.
  • FIG. 5 is a circuit diagram showing a configuration of an amplifier circuit according to a second embodiment of the present invention.
  • Q1 to Q8, resistors R1 to R3, constant current sources IS1 and IS2, variable current sources IS3 and IS4, and a control voltage Vc1 are applied to the gate terminal, and the drain terminal is a transistor Q2.
  • the MOS transistor Q9 connected to the emitter terminal of the The other end is the capacitance C3 connected to the emitter terminal of the transistor Q1, one end is connected to the source terminal of the transistor Q10, the other end is connected to the emitter terminal of the transistor Q2, and one end is the emitter terminal of the transistor Q7. It is composed of a capacitance C5 connected to the capacitor C5 and a capacitance C6 having one end connected to the emitter terminal of the transistor Q8 and the other end connected to the other end of the capacitance C5.
  • variable degeneration circuit 1a is configured by the fixed capacitances C3 and C4 and the variable resistor composed of the MOS transistors Q9 and Q10.
  • the peaking amount can be adjusted by adjusting the control voltage Vc1 applied to the gate terminals of the MOS transistors Q9 and Q10. In this embodiment, the peaking amount can be adjusted in a wider peaking gain range as compared with the variable degeneration circuit 1 disclosed in the first embodiment.
  • two circuits in which a fixed capacitance and a variable resistor are connected in series are arranged between the emitter terminal of the transistor Q1 and the emitter terminal of the transistor Q2.
  • the capacities C3 and C4 have the same value.
  • Examples of the capacitances C3 and C4 include, for example, a MIM capacitor.
  • the MIM capacitor has a structure in which an insulating film is sandwiched between electrodes, but due to the layout configuration, the electrodes above and below the insulating film do not have a symmetrical structure.
  • the first terminal (for example, the lower electrode) having the same structure of the capacitors C3 and C4 is connected to the emitter terminal of the transistors Q1 and Q2, respectively, and the second terminal having the same structure of the capacitors C3 and C4 (for example, the lower electrode) is connected.
  • the upper electrode is connected to the source terminals of the transistors Q9 and Q10, respectively.
  • the arrangement of the circuit in the direction from the emitter terminal of the transistor Q1 to the emitter terminal of the transistor Q2 and the arrangement of the circuit in the direction from the emitter terminal of the transistor Q2 to the emitter terminal of the transistor Q1 are equal.
  • variable current sources IS3 and IS4 between the transistors Q7 and Q8 in which the base terminal and the collector terminal are connected in a cross-coupled manner, the variable current sources IS3 and IS4, and the emitter terminal of the transistor Q7 and the emitter terminal of the transistor Q8.
  • the variable negative capacitance circuit 2a is configured by the capacitors C5 and C6 connected in series.
  • the capacities C5 and C6 have the same value. Similar to the capacitances C3 and C4, examples of the capacitances C5 and C6 include, for example, a MIM capacitor.
  • the first terminal of the same structure of the capacitances C5 and C6 (for example, the lower electrode) is connected to the emitter terminal of the transistors Q7 and Q8, respectively, and the second terminal of the same structure of the capacitances C5 and C6 (for example, the upper electrode) is connected. (Electrodes) are connected to each other.
  • the arrangement of the circuit in the direction from the emitter terminal of the transistor Q7 to the emitter terminal of the transistor Q8 and the arrangement of the circuit in the direction from the emitter terminal of the transistor Q8 to the emitter terminal of the transistor Q7 are equal.
  • the values of the capacitances C3 and C4 of the variable degeneration circuit 1a are set to 22 ⁇ 10% fF and a transistor. It is necessary to set the value of the variable resistance composed of Q9 and Q10 to 160 ⁇ 10% ⁇ and the value of the capacitances C5 and C6 of the variable negative capacitance circuit 2a to 12 ⁇ 10% fF.
  • FIG. 6 is a circuit diagram showing a configuration of a variable negative capacitance circuit of an amplifier circuit according to a third embodiment of the present invention. Also in this embodiment, the configuration of the entire amplifier circuit is the same as that of the first embodiment or the second embodiment.
  • the transistors Q7, Q8, the variable current sources IS3 and IS4 are connected to the emitter terminal of the transistor Q7, and the emitter terminal is the variable current source IS3. It is composed of a transistor Q11 connected to one end, and a transistor Q12 in which a base terminal and a collector terminal are connected to the emitter terminal of the transistor Q8 and the emitter terminal is connected to one end of the variable current source IS4.
  • the capacitors C2, C5, and C6 used in the variable negative capacitance circuits 2 and 2a of the first and second embodiments are usually composed of a MIM capacitor.
  • the transistors Q11 and Q12 connected by diodes are inserted between the emitter terminals of the transistors Q7 and Q8 and the variable current sources IS3 and IS4, and the transistors Q11 and Q12 are parasitic. Use capacity.
  • the parasitic capacitance of the transistors Q11 and Q12 is smaller than that of the MIM capacitor, so frequency peaking can be performed at a higher frequency. Further, in this embodiment, since the voltage drop of the threshold amount occurs in the transistors Q11 and Q12 connected by the diode, the voltage applied to the collector terminal and the emitter terminal of the transistors Q7 and Q8 is reduced, and the withstand voltage characteristic is improved. be.
  • FIG. 7 is a circuit diagram showing the configuration of the driver circuit of the optical transmitter.
  • the driver circuit 100 is an input buffer 101 to which a differential signal for driving a subsequent optical modulator is input, an amplifier circuit 102 for amplifying the differential signal output from the input buffer 101, and an amplifier circuit 102 to output the amplifier circuit 102.
  • An amplifier circuit 103 that amplifies the differential signal
  • an output circuit 104 that drives an optical modulator (not shown) connected to the differential output signal terminals Voutp and Voutn, and one end on the positive phase side of the driver circuit 100.
  • the capacitance C100 connected to the input signal terminal Vinp and the other end connected to the non-inverting input terminal of the input buffer 101, one end connected to the input signal terminal Vinn on the opposite phase side of the driver circuit 100, and the other end the input buffer. It is composed of a capacitance C101 connected to the inverting input terminal of 101 and two input termination resistors R102 and R103 connected in series between the input signal terminals Vimp and Vinn.
  • a Mach-Zehnder Modulator or the like is connected to the differential output signal terminals Voutp and Voutn.
  • MZM Mach-Zehnder Modulator
  • the amplifier circuit of the first embodiment, the amplifier circuit of the second embodiment, or the variable negative capacitance circuit in the first and second embodiments is the first.
  • An amplifier circuit to which the variable negative capacitance circuit 2b of the third embodiment is applied is used.
  • an amplifier circuit having a fixed frequency peaking amount as shown in FIG. 8 is used as the amplifier circuit 103 of the third stage connected in series to the amplifier circuit 102.
  • the capacitance C1 is removed from the amplifier circuit shown in FIG. 1, the variable negative capacitance circuit of the third embodiment is applied as the variable negative capacitance circuit, and the variable current source IS3 of the variable negative capacitance circuit is further applied.
  • IS4 is changed to constant current sources IS5 and IS6.
  • the amplifier circuit of the first to third embodiments has a configuration in which two peaking frequencies appear by a variable degeneration circuit and a variable negative capacitance circuit.
  • a driver circuit in which three peaking frequencies appear can be realized by combining an amplifier circuit having a variable peaking amount and an amplifier circuit having a fixed frequency peaking amount. Further, by increasing the number of amplifier circuits having a fixed frequency peaking amount, it is possible to generate four or more peaking frequencies.
  • FIG. 9 shows a simulation of the gain of the driver circuit when the amplifier circuit of the second embodiment is used as the second stage amplifier circuit 102 and the amplifier circuit shown in FIG. 8 is used as the third stage amplifier circuit 103. The result is shown.
  • 900 in FIG. 9 shows the gain of the driver circuit when the amplifier circuit is set to one stage and only the amplifier circuit of the second embodiment is used, and 901 is the amplifier of the second embodiment as the amplifier circuit 102 of the second stage.
  • the gain of the driver circuit when the circuit is used and the amplifier circuit shown in FIG. 8 is used as the amplifier circuit 103 of the third stage is shown.
  • the band of this embodiment is wider than that of the case of only the amplifier circuit having a variable frequency peaking amount.
  • an amplifier circuit having a fixed frequency peaking amount an amplifier circuit in which the resistors R100 and R101 of the amplifier circuit shown in FIG. 10 are fixed resistances may be used.
  • the present invention can be applied to an amplifier circuit.

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Amplifiers (AREA)

Abstract

増幅回路は、トランジスタ(Q1,Q2)のエミッタ端子に接続された可変ディジェネレーション回路(1)と、差動出力信号端子(Voutp,Voutn)に接続された可変負性容量回路(2)とを備える。可変ディジェネレーション回路(1)は、可変容量(C1)と、抵抗(R3)とから構成される。可変負性容量回路(2)は、トランジスタ(Q7,Q8)と、容量(C2)と、可変電流源(IS3,IS4)とから構成される。

Description

増幅回路およびドライバ回路
 本発明は、光変調器を駆動するドライバ回路等に使用される増幅回路に関するものである。
 光通信用の送信器に用いられる変調器ドライバ回路は、光送信器内の光変調器を駆動するために用いられ、送信する電気信号の振幅強度を光変調器の駆動が可能なレベルまで増幅する役割を果たす。近年では光送信器に求められるシンボルレートが100GBaudを超え、そのシンボルレートを実現するために、光送信器は50GHz以上の帯域が必要である。
 一方で光変調器や光送信器のパッケージの部分は、高周波ほど信号損失が増大するような周波数特性を持つ。光送信器の所望の帯域を実現するためには高周波の損失を補償する必要がある。補償方法の一つとして、ドライバ回路に周波数ピーキング特性を持たせる方法がある。ピーキング特性は、信号損失とは逆の周波数特性(高周波ほど利得が高くなる特性)であることが求められる。さらに、ドライバ回路は、特性のバラつきを抑制するために、ピーキング量の調整機能を備えることが求められる。
 従来の周波数ピーキング方法として、図10のようにトランジスタQ100~Q102からなる差動増幅回路の出力にインダクタL100,L101を付加する方法がある。さらに、差動増幅回路の負荷抵抗として可変抵抗R100,R101を用いることでピーキング量の調整が可能である(非特許文献1参照)。例えば可変抵抗R100,R101を小さい値に調整すると、低周波側の利得が下がり、相対的に高周波側の利得が上がるようなピーキング特性が得られる。
 しかしながら、従来の周波数ピーキング方法では、特定の周波数近辺の利得を持ち上げることができるが、50GHz以上の広い帯域にわたって、所望のピーキング特性(損失の周波数特性とは真逆の周波数特性)を実現することが難しいという課題があった。
Teruo Jyo,Munehiko Nagatani,Josuke Ozaki,Mitsuteru Ishikawa,Hideyuki Nosaka,"A 48GHz BW 225mW/ch Linear Driver IC with Stacked Current-Reuse Architecture in 65nm CMOS for Beyond-400Gb/s Coherent Optical Transmitters",2020 IEEE International Solid- State Circuits Conference - (ISSCC),San Francisco,CA,USA,2020,pp.212-214,doi:10.1109/ISSCC19947.2020.9063027
 本発明は、上記課題を解決するためになされたもので、広い帯域にわたって所望のピーキング特性を実現することができる増幅回路およびドライバ回路を提供することを目的とする。
 本発明の増幅回路は、ベース端子が増幅回路の差動入力信号端子に接続された差動構成の第1、第2のトランジスタと、ベース端子が前記第2のトランジスタのコレクタ端子に接続され、コレクタ端子が電源電圧に接続され、エミッタ端子が増幅回路の正相側の第1の出力信号端子に接続された第3のトランジスタと、ベース端子が前記第1のトランジスタのコレクタ端子に接続され、コレクタ端子が前記電源電圧に接続され、エミッタ端子が増幅回路の逆相側の第2の出力信号端子に接続された第4のトランジスタと、前記第1、第2のトランジスタのエミッタ端子に接続された可変ディジェネレーション回路と、前記第1、第2の出力信号端子に接続された可変負性容量回路とを備え、前記可変ディジェネレーション回路は、前記第1のトランジスタのエミッタ端子と前記第2のトランジスタのエミッタ端子との間に並列に接続された可変容量と第1の抵抗とから構成され、前記可変負性容量回路は、コレクタ端子が前記第1、第2の出力信号端子に接続され、ベース端子とコレクタ端子とがクロスカップル型に接続された第5、第6のトランジスタと、前記第5のトランジスタのエミッタ端子と前記第6のトランジスタのエミッタ端子との間に接続された容量と、一端が前記第5のトランジスタのエミッタ端子に接続され、他端がグラウンドに接続された第1の可変電流源と、一端が前記第6のトランジスタのエミッタ端子に接続され、他端がグラウンドに接続された第2の可変電流源とから構成されることを特徴とするものである。
 また、本発明の増幅回路は、ベース端子が増幅回路の差動入力信号端子に接続された差動構成の第1、第2のトランジスタと、ベース端子が前記第2のトランジスタのコレクタ端子に接続され、コレクタ端子が電源電圧に接続され、エミッタ端子が増幅回路の正相側の第1の出力信号端子に接続された第3のトランジスタと、ベース端子が前記第1のトランジスタのコレクタ端子に接続され、コレクタ端子が前記電源電圧に接続され、エミッタ端子が増幅回路の逆相側の第2の出力信号端子に接続された第4のトランジスタと、前記第1、第2のトランジスタのエミッタ端子に接続された可変ディジェネレーション回路と、前記第1、第2の出力信号端子に接続された可変負性容量回路とを備え、前記可変ディジェネレーション回路は、前記第1のトランジスタのエミッタ端子と前記第2のトランジスタのエミッタ端子との間に接続された第1の抵抗と、前記第1のトランジスタのエミッタ端子と前記第2のトランジスタのエミッタ端子との間に直列に接続された第1の容量と第1の可変抵抗と、前記第1のトランジスタのエミッタ端子と前記第2のトランジスタのエミッタ端子との間に直列に接続された第2の可変抵抗と第2の容量とから構成され、前記可変負性容量回路は、コレクタ端子が前記第1、第2の出力信号端子に接続され、ベース端子とコレクタ端子とがクロスカップル型に接続された第5、第6のトランジスタと、前記第5のトランジスタのエミッタ端子と前記第6のトランジスタのエミッタ端子との間に直列に接続された第3、第4の容量と、一端が前記第5のトランジスタのエミッタ端子に接続され、他端がグラウンドに接続された第1の可変電流源と、一端が前記第6のトランジスタのエミッタ端子に接続され、他端がグラウンドに接続された第2の可変電流源とから構成され、前記可変ディジェネレーション回路は、前記第1のトランジスタのエミッタ端子から前記第2のトランジスタのエミッタ端子への方向の回路の配置と前記第2のトランジスタのエミッタ端子から前記第1のトランジスタのエミッタ端子への方向の回路の配置とが均等であり、前記可変負性容量回路は、前記第5のトランジスタのエミッタ端子から前記第6のトランジスタのエミッタ端子への方向の回路の配置と前記第6のトランジスタのエミッタ端子から前記第5のトランジスタのエミッタ端子への方向の回路の配置とが均等であることを特徴とするものである。
 また、本発明の増幅回路は、ベース端子が増幅回路の差動入力信号端子に接続された差動構成の第1、第2のトランジスタと、ベース端子が前記第2のトランジスタのコレクタ端子に接続され、コレクタ端子が電源電圧に接続され、エミッタ端子が増幅回路の正相側の第1の出力信号端子に接続された第3のトランジスタと、ベース端子が前記第1のトランジスタのコレクタ端子に接続され、コレクタ端子が前記電源電圧に接続され、エミッタ端子が増幅回路の逆相側の第2の出力信号端子に接続された第4のトランジスタと、前記第1、第2のトランジスタのエミッタ端子に接続された可変ディジェネレーション回路と、前記第1、第2の出力信号端子に接続された可変負性容量回路とを備え、前記可変ディジェネレーション回路は、前記第1のトランジスタのエミッタ端子と前記第2のトランジスタのエミッタ端子との間に並列に接続された可変容量と第1の抵抗とから構成され、前記可変負性容量回路は、コレクタ端子が前記第1、第2の出力信号端子に接続され、ベース端子とコレクタ端子とがクロスカップル型に接続された第5、第6のトランジスタと、ベース端子とコレクタ端子とが前記第5のトランジスタのエミッタ端子に接続された第7のトランジスタと、ベース端子とコレクタ端子とが前記第6のトランジスタのエミッタ端子に接続された第8のトランジスタと、一端が前記第7のトランジスタのエミッタ端子に接続され、他端がグラウンドに接続された第1の可変電流源と、一端が前記第8のトランジスタのエミッタ端子に接続され、他端がグラウンドに接続された第2の可変電流源とから構成されることを特徴とするものである。
 また、本発明の増幅回路は、ベース端子が増幅回路の差動入力信号端子に接続された差動構成の第1、第2のトランジスタと、ベース端子が前記第2のトランジスタのコレクタ端子に接続され、コレクタ端子が電源電圧に接続され、エミッタ端子が増幅回路の正相側の第1の出力信号端子に接続された第3のトランジスタと、ベース端子が前記第1のトランジスタのコレクタ端子に接続され、コレクタ端子が前記電源電圧に接続され、エミッタ端子が増幅回路の逆相側の第2の出力信号端子に接続された第4のトランジスタと、前記第1、第2のトランジスタのエミッタ端子に接続された可変ディジェネレーション回路と、前記第1、第2の出力信号端子に接続された可変負性容量回路とを備え、前記可変ディジェネレーション回路は、前記第1のトランジスタのエミッタ端子と前記第2のトランジスタのエミッタ端子との間に接続された第1の抵抗と、前記第1のトランジスタのエミッタ端子と前記第2のトランジスタのエミッタ端子との間に直列に接続された第1の容量と第1の可変抵抗と、前記第1のトランジスタのエミッタ端子と前記第2のトランジスタのエミッタ端子との間に直列に接続された第2の可変抵抗と第2の容量とから構成され、前記可変負性容量回路は、コレクタ端子が前記第1、第2の出力信号端子に接続され、ベース端子とコレクタ端子とがクロスカップル型に接続された第5、第6のトランジスタと、ベース端子とコレクタ端子とが前記第5のトランジスタのエミッタ端子に接続された第7のトランジスタと、ベース端子とコレクタ端子とが前記第6のトランジスタのエミッタ端子に接続された第8のトランジスタと、一端が前記第7のトランジスタのエミッタ端子に接続され、他端がグラウンドに接続された第1の可変電流源と、一端が前記第8のトランジスタのエミッタ端子に接続され、他端がグラウンドに接続された第2の可変電流源とから構成されることを特徴とするものである。
 また、本発明のドライバ回路は、前記の増幅回路を含むことを特徴とするものである。
 また、本発明のドライバ回路は、前記の増幅回路と、固定の周波数ピーキング量の増幅回路とを縦続接続したことを特徴とするものである。
 本発明によれば、可変ディジェネレーション回路と可変負性容量回路の2つのトポロジーを組み合わせた周波数ピーキングを実現する。本発明では、可変ディジェネレーション回路と可変負性容量回路とがそれぞれ低周波数側と高周波側にピーキング周波数をもち、それぞれのピーキング量を独立に調整することができるので、50GHz以上の広い帯域にわたって所望のピーキング特性を実現することができる。また、本発明では、ピーキング量の調整でDC利得が変動しないので、従来の増幅回路よりも高いDC利得を実現することができる。
図1は、本発明の第1の実施例に係る増幅回路の構成を示す回路図である。 図2は、従来の増幅回路および本発明の第1の実施例に係る増幅回路の利得のシミュレーション結果を示す図である。 図3は、光送信器の信号損失の周波数特性の例を示す図である。 図4は、従来の増幅回路および本発明の第1の実施例に係る増幅回路によって信号損失を補償した後の光送信器の周波数特性を示す図である。 図5は、本発明の第2の実施例に係る増幅回路の構成を示す回路図である。 図6は、本発明の第3の実施例に係る増幅回路の可変負性容量回路の構成を示す回路図である。 図7は、本発明の第4の実施例に係るドライバ回路の構成を示す回路図である。 図8は、本発明の第4の実施例に係る固定のピーキング量の増幅回路の構成を示す回路図である。 図9は、本発明の第4の実施例に係るドライバ回路の利得のシミュレーション結果を示す図である。 図10は、従来のドライバ回路の周波数ピーキング方法を説明する回路図である。
[第1の実施例]
 以下、本発明の実施例について図面を参照して説明する。図1は本発明の第1の実施例に係る増幅回路の構成を示す回路図である。本実施例の増幅回路は、ベース端子が増幅回路の差動入力信号端子Vip,Vinに接続されたトランジスタQ1,Q2と、ベース端子がバイアス電圧Vbに接続され、コレクタ端子がトランジスタQ1のエミッタ端子に接続され、エミッタ端子がグラウンドに接続された電流源トランジスタQ3と、ベース端子がバイアス電圧Vbに接続され、コレクタ端子がトランジスタQ2のエミッタ端子に接続され、エミッタ端子がグラウンドに接続された電流源トランジスタQ4と、ベース端子がトランジスタQ2のコレクタ端子に接続され、コレクタ端子が電源電圧VCCに接続され、エミッタ端子が増幅回路の正相側の出力信号端子Voutpに接続されたトランジスタQ5と、ベース端子がトランジスタQ1のコレクタ端子に接続され、コレクタ端子が電源電圧VCCに接続され、エミッタ端子が増幅回路の逆相側の出力信号端子Voutnに接続されたトランジスタQ6と、ベース端子が出力信号端子Voutnに接続され、コレクタ端子が出力信号端子Voutpに接続されたトランジスタQ7と、ベース端子が出力信号端子Voutpに接続され、コレクタ端子が出力信号端子Voutnに接続されたトランジスタQ8と、一端がトランジスタQ1のコレクタ端子に接続され、他端が電源電圧VCCに接続された抵抗R1と、一端がトランジスタQ2のコレクタ端子に接続され、他端が電源電圧VCCに接続された抵抗R2と、一端がトランジスタQ1のエミッタ端子に接続され、他端がトランジスタQ2のエミッタ端子に接続された抵抗R3と、一端がトランジスタQ1のエミッタ端子に接続され、他端がトランジスタQ2のエミッタ端子に接続された可変容量C1と、一端がトランジスタQ7のエミッタ端子に接続され、他端がトランジスタQ8のエミッタ端子に接続された容量C2と、一端がトランジスタQ5のエミッタ端子に接続され、他端がグラウンドに接続された定電流源IS1と、一端がトランジスタQ6のエミッタ端子に接続され、他端がグラウンドに接続された定電流源IS2と、一端がトランジスタQ7のエミッタ端子に接続され、他端がグラウンドに接続された可変電流源IS3と、一端がトランジスタQ8のエミッタ端子に接続され、他端がグラウンドに接続された可変電流源IS4とから構成される。
 トランジスタQ1のエミッタ端子とトランジスタQ2のエミッタ端子との間に並列に接続された可変容量C1と抵抗R3とは、可変ディジェネレーション回路1を構成している。トランジスタQ7,Q8と容量C2と可変電流源IS3,IS4とは、可変負性容量回路2を構成している。
 本実施例では、可変ディジェネレーション回路1と可変負性容量回路2とを組み合わせることにより広帯域な周波数ピーキング特性を実現する。可変ディジェネレーション回路1は、低周波側の周波数ピーキングを担う。可変容量C1の容量値を調整することにより、ピーキング量の調整が可能である。可変容量C1は、例えばMOSトランジスタで構成されるバラクタであってもよい。
 可変負性容量回路2では、2つのトランジスタQ7,Q8をクロスカップル型に接続し、それらトランジスタQ7,Q8のエミッタ端子に容量C2を接続する。このような構成により、可変負性容量回路2は、差動出力信号端子Voutp,Voutn(トランジスタQ5,Q6のエミッタ端子)に付加された負性容量として機能する。容量C2は、例えばMIM(Metal-Insulator-Metal)キャパシタであってもよい。
 可変負性容量回路2は、主に高周波側の周波数ピーキングを担う。可変負性容量回路2に流す電流を可変電流源IS3,IS4によって調整することにより、ピーキング量の調整が可能である。
 負性容量回路は、一般的には発振器やミキサ等の狭帯域な回路に使われるものであり、広帯域性が求められる増幅回路には適していない。本実施例では、低周波側の周波数ピーキングを担う可変ディジェネレーション回路1と組み合わせることにより、負性容量回路を増幅回路に適用することが可能になり、広帯域な周波数ピーキングが可能になる。負性容量回路は、小型であるために寄生容量が少なく、高周波側の周波数ピーキングを担うことに適している。
 図2に、従来の増幅回路と本実施例の増幅回路の利得のシミュレーション結果を示す。図2の200は図10に示した従来の増幅回路の利得を示し、201は本実施例の増幅回路の利得を示している。従来の増幅回路では、50GHz近辺で大きく利得を増大させることができるが、低周波側の利得が小さい。一方、本実施例では、低周波から50GHz近辺まで満遍なく利得を増大させることができる。
 光送信器における信号損失が図3のような周波数特性を持つと仮定した場合、光送信器内の光変調器を駆動するドライバ回路に本実施例の増幅回路を適用した場合、光送信器の周波数特性は図4のように改善される。図4の400はドライバ回路に従来の増幅回路を適用した場合の光送信器の周波数特性を示し、401はドライバ回路に本実施例の増幅回路を適用した場合の光送信器の周波数特性を示している。
 ドライバ回路に従来の増幅回路を用いた場合、利得が20GHzあたりで大きく低下し、帯域が制限される。一方、ドライバ回路に本実施例の増幅回路を用いると、50GHz以上まで平坦な周波数特性を実現することができる。
 また、本実施例の増幅回路では、ピーキング量の調整においてDC利得を下げる必要がなく、従来の増幅回路よりも高いDC利得を実現することができる。DC利得は、基本的に入力トランジスタのトランスコンダクタンスとコレクタ抵抗とエミッタ抵抗とで決まる。図10に示した従来の増幅回路では、コレクタ側の可変抵抗R100,R101の値を調整するので、DC利得が変動する。可変抵抗R100、R101を小さい値に調整すると、DC利得が下がり、相対的に高周波側の利得が上がるようなピーキング特性となる。
 一方、本実施例の増幅回路でピーキング量を調整する際には、トランジスタQ1,Q2のトランスコンダクタンス、抵抗R1~R3のいずれの値も変化させないため、DC利得は変化しない。
 また、光送信器のドライバ回路に本実施例の増幅回路を適用した場合、増幅回路のピーキング量を調整したとしても光変調器側の最適バイアス点がずれないため、光送信器全体の損失が増加することはない。
[第2の実施例]
 次に、本発明の第2の実施例について説明する。図5は本発明の第2の実施例に係る増幅回路の構成を示す回路図である。本実施例の増幅回路は、Q1~Q8と、抵抗R1~R3と、定電流源IS1,IS2と、可変電流源IS3,IS4と、ゲート端子に制御電圧Vc1が印加され、ドレイン端子がトランジスタQ2のエミッタ端子に接続されたMOSトランジスタQ9と、ゲート端子に制御電圧Vc1が印加され、ドレイン端子がトランジスタQ1のエミッタ端子に接続されたMOSトランジスタQ10と、一端がトランジスタQ9のソース端子に接続され、他端がトランジスタQ1のエミッタ端子に接続された容量C3と、一端がトランジスタQ10のソース端子に接続され、他端がトランジスタQ2のエミッタ端子に接続された容量C4と、一端がトランジスタQ7のエミッタ端子に接続された容量C5と、一端がトランジスタQ8のエミッタ端子に接続され、他端が容量C5の他端に接続された容量C6とから構成される。
 本実施例では、固定の容量C3,C4と、MOSトランジスタQ9,Q10からなる可変抵抗とによって可変ディジェネレーション回路1aを構成する。MOSトランジスタQ9,Q10のゲート端子に印加する制御電圧Vc1を調整することによりピーキング量の調整が可能となる。本実施例では、第1の実施例で開示した可変ディジェネレーション回路1に比べてさらに広いピーキング利得範囲でピーキング量を調整することが可能になる。
 本実施例では、トランジスタQ1のエミッタ端子とトランジスタQ2のエミッタ端子との間に、固定の容量と可変抵抗とを直列に接続した回路を2つ配置している。
 容量C3,C4は同一の値である。容量C3,C4の例としては、例えばMIMキャパシタがある。MIMキャパシタは、絶縁膜を電極で挟んだ構造をしているが、レイアウト構成上、絶縁膜の上下にある電極が対称構造ではない。そこで、本実施例では、容量C3,C4の同一構造の第1の端子(例えば下部電極)をそれぞれトランジスタQ1,Q2のエミッタ端子に接続し、容量C3,C4の同一構造の第2の端子(例えば上部電極)をそれぞれトランジスタQ9,Q10のソース端子に接続する。
 こうして、本実施例では、トランジスタQ1のエミッタ端子からトランジスタQ2のエミッタ端子への方向の回路の配置とトランジスタQ2のエミッタ端子からトランジスタQ1のエミッタ端子への方向の回路の配置とが均等となるようにすることで、差動対のトランジスタQ1,Q2が不平衡になることを防ぎ、高調波歪の増大を防ぐことができる。
 さらに、本実施例では、ベース端子とコレクタ端子とがクロスカップル型に接続されたトランジスタQ7,Q8と、可変電流源IS3,IS4と、トランジスタQ7のエミッタ端子とトランジスタQ8のエミッタ端子との間に直列に接続された容量C5,C6とによって可変負性容量回路2aを構成する。
 容量C5,C6は同一の値である。容量C3,C4と同様に、容量C5,C6の例としては、例えばMIMキャパシタがある。本実施例では、容量C5,C6の同一構造の第1の端子(例えば下部電極)をそれぞれトランジスタQ7,Q8のエミッタ端子に接続し、容量C5,C6の同一構造の第2の端子(例えば上部電極)同士を接続する。
 こうして、本実施例では、トランジスタQ7のエミッタ端子からトランジスタQ8のエミッタ端子への方向の回路の配置とトランジスタQ8のエミッタ端子からトランジスタQ7のエミッタ端子への方向の回路の配置とが均等となるようにすることで、差動対のトランジスタQ7,Q8が不平衡になることを防ぎ、高調波歪の増大を防ぐことができる。
 本実施例において、図2のように(15dB±1dB)/60GHzの傾きを持ったピーキング特性を得るためには、可変ディジェネレーション回路1aの容量C3,C4の値を22±10%fF、トランジスタQ9,Q10からなる可変抵抗の値を160±10%Ω、可変負性容量回路2aの容量C5,C6の値を12±10%fFにする必要がある。
[第3の実施例]
 次に、本発明の第3の実施例について説明する。図6は本発明の第3の実施例に係る増幅回路の可変負性容量回路の構成を示す回路図である。本実施例においても、増幅回路全体の構成は第1の実施例または第2の実施例と同じである。
 本実施例の可変負性容量回路2bは、トランジスタQ7,Q8と、可変電流源IS3,IS4と、ベース端子とコレクタ端子とがトランジスタQ7のエミッタ端子に接続され、エミッタ端子が可変電流源IS3の一端に接続されたトランジスタQ11と、ベース端子とコレクタ端子とがトランジスタQ8のエミッタ端子に接続され、エミッタ端子が可変電流源IS4の一端に接続されたトランジスタQ12とから構成される。
 第1、第2の実施例の可変負性容量回路2,2aで使用される容量C2,C5,C6は、通常MIMキャパシタで構成される。本実施例では、容量C2,C5,C6の代わりにトランジスタQ7,Q8のエミッタ端子と可変電流源IS3,IS4との間に、ダイオード接続したトランジスタQ11,Q12を挿入し、トランジスタQ11,Q12の寄生容量を利用する。
 通常、トランジスタQ11,Q12の寄生容量はMIMキャパシタよりも小さいため、より高周波で周波数ピーキングを行うことができるようになる。さらに本実施例では、ダイオード接続したトランジスタQ11,Q12において、閾値分の電圧降下が発生するため、トランジスタQ7,Q8のコレクタ端子とエミッタ端子にかかる電圧が減り、耐圧特性が向上するという相乗効果もある。
[第4の実施例]
 次に、本発明の第4の実施例について説明する。第1~第3の実施例に示した増幅回路に加えて、他の段で固定の周波数ピーキング量の増幅回路を組み合わせることで、ドライバ回路全体の帯域をさらに伸ばすことが可能である。図7は光送信器のドライバ回路の構成を示す回路図である。
 ドライバ回路100は、後段の光変調器の駆動のための差動信号が入力される入力バッファ101と、入力バッファ101から出力された差動信号を増幅する増幅回路102と、増幅回路102から出力された差動信号を増幅する増幅回路103と、差動出力信号端子Voutp,Voutnに接続された光変調器(不図示)を駆動する出力回路104と、一端がドライバ回路100の正相側の入力信号端子Vinpに接続され、他端が入力バッファ101の非反転入力端子に接続された容量C100と、一端がドライバ回路100の逆相側の入力信号端子Vinnに接続され、他端が入力バッファ101の反転入力端子に接続された容量C101と、入力信号端子Vinp,Vinn間に直列に接続された2つの入力終端抵抗R102,R103とから構成される。
 差動出力信号端子Voutp,Voutnには、例えばマッハツェンダ光変調器(MZM:Mach-Zehnder Modulator)等が接続される。
 本実施例では、例えば2段目の増幅回路102として、第1の実施例の増幅回路、第2の実施例の増幅回路、または第1、第2の実施例において可変負性容量回路として第3の実施例の可変負性容量回路2bを適用した増幅回路を用いる。
 また、増幅回路102と縦続接続された3段目の増幅回路103として、図8に示すような固定の周波数ピーキング量の増幅回路を用いる。この増幅回路は、図1に示した増幅回路から容量C1を取り去り、可変負性容量回路として第3の実施例の可変負性容量回路を適用し、さらに可変負性容量回路の可変電流源IS3,IS4を定電流源IS5,IS6に変えたものである。
 第1~第3の実施例の増幅回路は、可変ディジェネレーション回路と可変負性容量回路とによる2つのピーキング周波数が現れる構成となる。
 これに対し、本実施例では、可変のピーキング量の増幅回路と固定の周波数ピーキング量の増幅回路を組み合わせることで、3つのピーキング周波数が現れるドライバ回路を実現することができる。また、固定の周波数ピーキング量の増幅回路の数を増やせば、4つ以上のピーキング周波数を生じさせることも可能である。
 本実施例では、固定の周波数ピーキング量の増幅回路を用いることで、ピーキング制御用の構造が不要になるので、回路レイアウトが単純になり、寄生容量が減るので、より高周波側にピーキング周波数を設定することができる。その結果、ドライバ回路全体の帯域を伸ばすことができる。
 図9に、2段目の増幅回路102として第2の実施例の増幅回路を使用し、3段目の増幅回路103として図8に示した増幅回路を使用した場合のドライバ回路の利得のシミュレーション結果を示す。図9の900は増幅回路を1段にして第2の実施例の増幅回路のみを使用した場合のドライバ回路の利得を示し、901は2段目の増幅回路102として第2の実施例の増幅回路を使用し、3段目の増幅回路103として図8に示した増幅回路を使用した場合のドライバ回路の利得を示している。
 可変の周波数ピーキング量の増幅回路のみの場合と比較して、本実施例の方がより帯域が広いことを確認できる。
 なお、固定の周波数ピーキング量の増幅回路として、図10に示した増幅回路の抵抗R100,R101を固定抵抗にした増幅回路を用いてもよい。
 本発明は、増幅回路に適用することができる。
 1,1a…可変ディジェネレーション回路、2,2a,2b…可変負性容量回路、100…ドライバ回路、101…入力バッファ、102,103…増幅回路、104…出力回路、Q1~Q8,Q11,Q12…トランジスタ、Q9,Q10…MOSトランジスタ、R1~R3,R102,R103…抵抗、C1…可変容量、C2~C6、C100,C101…容量、IS1,IS2,IS5,IS6…定電流源、IS3,IS4…可変電流源。

Claims (7)

  1.  ベース端子が増幅回路の差動入力信号端子に接続された差動構成の第1、第2のトランジスタと、
     ベース端子が前記第2のトランジスタのコレクタ端子に接続され、コレクタ端子が電源電圧に接続され、エミッタ端子が増幅回路の正相側の第1の出力信号端子に接続された第3のトランジスタと、
     ベース端子が前記第1のトランジスタのコレクタ端子に接続され、コレクタ端子が前記電源電圧に接続され、エミッタ端子が増幅回路の逆相側の第2の出力信号端子に接続された第4のトランジスタと、
     前記第1、第2のトランジスタのエミッタ端子に接続された可変ディジェネレーション回路と、
     前記第1、第2の出力信号端子に接続された可変負性容量回路とを備え、
     前記可変ディジェネレーション回路は、
     前記第1のトランジスタのエミッタ端子と前記第2のトランジスタのエミッタ端子との間に並列に接続された可変容量と第1の抵抗とから構成され、
     前記可変負性容量回路は、
     コレクタ端子が前記第1、第2の出力信号端子に接続され、ベース端子とコレクタ端子とがクロスカップル型に接続された第5、第6のトランジスタと、
     前記第5のトランジスタのエミッタ端子と前記第6のトランジスタのエミッタ端子との間に接続された容量と、
     一端が前記第5のトランジスタのエミッタ端子に接続され、他端がグラウンドに接続された第1の可変電流源と、
     一端が前記第6のトランジスタのエミッタ端子に接続され、他端がグラウンドに接続された第2の可変電流源とから構成されることを特徴とする増幅回路。
  2.  ベース端子が増幅回路の差動入力信号端子に接続された差動構成の第1、第2のトランジスタと、
     ベース端子が前記第2のトランジスタのコレクタ端子に接続され、コレクタ端子が電源電圧に接続され、エミッタ端子が増幅回路の正相側の第1の出力信号端子に接続された第3のトランジスタと、
     ベース端子が前記第1のトランジスタのコレクタ端子に接続され、コレクタ端子が前記電源電圧に接続され、エミッタ端子が増幅回路の逆相側の第2の出力信号端子に接続された第4のトランジスタと、
     前記第1、第2のトランジスタのエミッタ端子に接続された可変ディジェネレーション回路と、
     前記第1、第2の出力信号端子に接続された可変負性容量回路とを備え、
     前記可変ディジェネレーション回路は、
     前記第1のトランジスタのエミッタ端子と前記第2のトランジスタのエミッタ端子との間に接続された第1の抵抗と、
     前記第1のトランジスタのエミッタ端子と前記第2のトランジスタのエミッタ端子との間に直列に接続された第1の容量と第1の可変抵抗と、
     前記第1のトランジスタのエミッタ端子と前記第2のトランジスタのエミッタ端子との間に直列に接続された第2の可変抵抗と第2の容量とから構成され、
     前記可変負性容量回路は、
     コレクタ端子が前記第1、第2の出力信号端子に接続され、ベース端子とコレクタ端子とがクロスカップル型に接続された第5、第6のトランジスタと、
     前記第5のトランジスタのエミッタ端子と前記第6のトランジスタのエミッタ端子との間に直列に接続された第3、第4の容量と、
     一端が前記第5のトランジスタのエミッタ端子に接続され、他端がグラウンドに接続された第1の可変電流源と、
     一端が前記第6のトランジスタのエミッタ端子に接続され、他端がグラウンドに接続された第2の可変電流源とから構成され、
     前記可変ディジェネレーション回路は、前記第1のトランジスタのエミッタ端子から前記第2のトランジスタのエミッタ端子への方向の回路の配置と前記第2のトランジスタのエミッタ端子から前記第1のトランジスタのエミッタ端子への方向の回路の配置とが均等であり、
     前記可変負性容量回路は、前記第5のトランジスタのエミッタ端子から前記第6のトランジスタのエミッタ端子への方向の回路の配置と前記第6のトランジスタのエミッタ端子から前記第5のトランジスタのエミッタ端子への方向の回路の配置とが均等であることを特徴とする増幅回路。
  3.  ベース端子が増幅回路の差動入力信号端子に接続された差動構成の第1、第2のトランジスタと、
     ベース端子が前記第2のトランジスタのコレクタ端子に接続され、コレクタ端子が電源電圧に接続され、エミッタ端子が増幅回路の正相側の第1の出力信号端子に接続された第3のトランジスタと、
     ベース端子が前記第1のトランジスタのコレクタ端子に接続され、コレクタ端子が前記電源電圧に接続され、エミッタ端子が増幅回路の逆相側の第2の出力信号端子に接続された第4のトランジスタと、
     前記第1、第2のトランジスタのエミッタ端子に接続された可変ディジェネレーション回路と、
     前記第1、第2の出力信号端子に接続された可変負性容量回路とを備え、
     前記可変ディジェネレーション回路は、
     前記第1のトランジスタのエミッタ端子と前記第2のトランジスタのエミッタ端子との間に並列に接続された可変容量と第1の抵抗とから構成され、
     前記可変負性容量回路は、
     コレクタ端子が前記第1、第2の出力信号端子に接続され、ベース端子とコレクタ端子とがクロスカップル型に接続された第5、第6のトランジスタと、
     ベース端子とコレクタ端子とが前記第5のトランジスタのエミッタ端子に接続された第7のトランジスタと、
     ベース端子とコレクタ端子とが前記第6のトランジスタのエミッタ端子に接続された第8のトランジスタと、
     一端が前記第7のトランジスタのエミッタ端子に接続され、他端がグラウンドに接続された第1の可変電流源と、
     一端が前記第8のトランジスタのエミッタ端子に接続され、他端がグラウンドに接続された第2の可変電流源とから構成されることを特徴とする増幅回路。
  4.  ベース端子が増幅回路の差動入力信号端子に接続された差動構成の第1、第2のトランジスタと、
     ベース端子が前記第2のトランジスタのコレクタ端子に接続され、コレクタ端子が電源電圧に接続され、エミッタ端子が増幅回路の正相側の第1の出力信号端子に接続された第3のトランジスタと、
     ベース端子が前記第1のトランジスタのコレクタ端子に接続され、コレクタ端子が前記電源電圧に接続され、エミッタ端子が増幅回路の逆相側の第2の出力信号端子に接続された第4のトランジスタと、
     前記第1、第2のトランジスタのエミッタ端子に接続された可変ディジェネレーション回路と、
     前記第1、第2の出力信号端子に接続された可変負性容量回路とを備え、
     前記可変ディジェネレーション回路は、
     前記第1のトランジスタのエミッタ端子と前記第2のトランジスタのエミッタ端子との間に接続された第1の抵抗と、
     前記第1のトランジスタのエミッタ端子と前記第2のトランジスタのエミッタ端子との間に直列に接続された第1の容量と第1の可変抵抗と、
     前記第1のトランジスタのエミッタ端子と前記第2のトランジスタのエミッタ端子との間に直列に接続された第2の可変抵抗と第2の容量とから構成され、
     前記可変負性容量回路は、
     コレクタ端子が前記第1、第2の出力信号端子に接続され、ベース端子とコレクタ端子とがクロスカップル型に接続された第5、第6のトランジスタと、
     ベース端子とコレクタ端子とが前記第5のトランジスタのエミッタ端子に接続された第7のトランジスタと、
     ベース端子とコレクタ端子とが前記第6のトランジスタのエミッタ端子に接続された第8のトランジスタと、
     一端が前記第7のトランジスタのエミッタ端子に接続され、他端がグラウンドに接続された第1の可変電流源と、
     一端が前記第8のトランジスタのエミッタ端子に接続され、他端がグラウンドに接続された第2の可変電流源とから構成されることを特徴とする増幅回路。
  5.  請求項1乃至4のいずれか1項に記載の増幅回路において、
     ベース端子がバイアス電圧に接続され、コレクタ端子が前記第1のトランジスタのエミッタ端子に接続され、エミッタ端子がグラウンドに接続された第1の電流源トランジスタと、
     ベース端子が前記バイアス電圧に接続され、コレクタ端子が前記第2のトランジスタのエミッタ端子に接続され、エミッタ端子がグラウンドに接続された第2の電流源トランジスタと、
     一端が前記第1のトランジスタのコレクタ端子に接続され、他端が前記電源電圧に接続された第2の抵抗と、
     一端が前記第2のトランジスタのコレクタ端子に接続され、他端が前記電源電圧に接続された第3の抵抗と、
     一端が前記第3のトランジスタのエミッタ端子に接続され、他端がグラウンドに接続された第1の定電流源と、
     一端が前記第4のトランジスタのエミッタ端子に接続され、他端がグラウンドに接続された第2の定電流源とをさらに備えることを特徴とする増幅回路。
  6.  請求項1乃至5のいずれか1項に記載の増幅回路を含むことを特徴とするドライバ回路。
  7.  請求項1乃至5のいずれか1項に記載の増幅回路と、
     固定の周波数ピーキング量の増幅回路とを縦続接続したことを特徴とするドライバ回路。
PCT/JP2020/028254 2020-07-21 2020-07-21 増幅回路およびドライバ回路 WO2022018824A1 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US18/005,928 US20230299724A1 (en) 2020-07-21 2020-07-21 Amplifier and Driver Circuit
JP2022538527A JP7544125B2 (ja) 2020-07-21 2020-07-21 増幅回路およびドライバ回路
PCT/JP2020/028254 WO2022018824A1 (ja) 2020-07-21 2020-07-21 増幅回路およびドライバ回路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/JP2020/028254 WO2022018824A1 (ja) 2020-07-21 2020-07-21 増幅回路およびドライバ回路

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2022018824A1 true WO2022018824A1 (ja) 2022-01-27

Family

ID=79729145

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2020/028254 WO2022018824A1 (ja) 2020-07-21 2020-07-21 増幅回路およびドライバ回路

Country Status (3)

Country Link
US (1) US20230299724A1 (ja)
JP (1) JP7544125B2 (ja)
WO (1) WO2022018824A1 (ja)

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4868421A (en) * 1987-02-24 1989-09-19 Fairchild Semiconductor Corporation Bimos circuit that provides low power dissipation and high transient drive capability
JPH0514079A (ja) * 1991-06-27 1993-01-22 Nec Corp 半導体回路
JPH098565A (ja) * 1995-06-22 1997-01-10 Mitsubishi Electric Corp 広帯域増幅器
JP2005073234A (ja) * 2003-08-07 2005-03-17 Fujitsu Ltd 差動増幅回路
US20130215954A1 (en) * 2012-02-17 2013-08-22 International Business Machines Corporation Analog signal current integrators with tunable peaking function
US20140253236A1 (en) * 2013-03-06 2014-09-11 International Business Machines Corporation Generating Negative Impedance Compensation
US20180083584A1 (en) * 2016-09-16 2018-03-22 Qualcomm Incorporated Variable gain amplifier with coupled degeneration resistance and capacitance
JP2018533890A (ja) * 2015-11-13 2018-11-15 クゥアルコム・インコーポレイテッドQualcomm Incorporated 改善された電源ノイズ排除を有する可変利得増幅器

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001168660A (ja) * 1999-12-08 2001-06-22 Nec Ic Microcomput Syst Ltd 利得可変増幅回路
JP4544947B2 (ja) * 2004-09-15 2010-09-15 三菱電機株式会社 増幅回路
JP5394968B2 (ja) * 2010-03-29 2014-01-22 セイコーインスツル株式会社 差動増幅回路
JP6102198B2 (ja) * 2012-11-14 2017-03-29 富士通株式会社 増幅回路
US9787272B2 (en) * 2015-10-30 2017-10-10 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Linearizing and reducing peaking simultaneously in single-to-differential wideband radio frequency variable gain trans-impedance amplifier (TIA) for optical communication
US9979358B1 (en) * 2017-04-28 2018-05-22 Inphi Corporation Differential amplifier with extended bandwidth and THD reduction
WO2021240843A1 (ja) * 2020-05-29 2021-12-02 日本電信電話株式会社 増幅回路

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4868421A (en) * 1987-02-24 1989-09-19 Fairchild Semiconductor Corporation Bimos circuit that provides low power dissipation and high transient drive capability
JPH0514079A (ja) * 1991-06-27 1993-01-22 Nec Corp 半導体回路
JPH098565A (ja) * 1995-06-22 1997-01-10 Mitsubishi Electric Corp 広帯域増幅器
JP2005073234A (ja) * 2003-08-07 2005-03-17 Fujitsu Ltd 差動増幅回路
US20130215954A1 (en) * 2012-02-17 2013-08-22 International Business Machines Corporation Analog signal current integrators with tunable peaking function
US20140253236A1 (en) * 2013-03-06 2014-09-11 International Business Machines Corporation Generating Negative Impedance Compensation
JP2018533890A (ja) * 2015-11-13 2018-11-15 クゥアルコム・インコーポレイテッドQualcomm Incorporated 改善された電源ノイズ排除を有する可変利得増幅器
US20180083584A1 (en) * 2016-09-16 2018-03-22 Qualcomm Incorporated Variable gain amplifier with coupled degeneration resistance and capacitance

Also Published As

Publication number Publication date
JP7544125B2 (ja) 2024-09-03
JPWO2022018824A1 (ja) 2022-01-27
US20230299724A1 (en) 2023-09-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10177717B2 (en) Active linearization for broadband amplifiers
US11139787B2 (en) Electrical amplifier
JP6102198B2 (ja) 増幅回路
US7816987B2 (en) Driver circuit and driver IC
US20200241331A1 (en) Driving circuit for optical modulator
WO2022018824A1 (ja) 増幅回路およびドライバ回路
US4749957A (en) Semiconductor transconductor circuits
US6867649B2 (en) Common-mode and differential-mode compensation for operational amplifier circuits
US7315210B2 (en) Differential operational amplifier
US20220407480A1 (en) Split Miller Compensation in Two-Stage Differential Amplifiers
JP4544947B2 (ja) 増幅回路
KR0176094B1 (ko) 병렬 궤환 트랜지스터를 이용한 광대역 증폭기 구조
GB2378068A (en) A bipolar differential amplifier with a tail resistor
US10116269B1 (en) Differential amplifier with extended bandwidth and THD reduction
US6958650B1 (en) Push-pull buffer/amplifier
US10644662B2 (en) Tunable gain amplifier
JP5007937B2 (ja) 減衰器
Yilmazer et al. Design and comparison of high bandwidth limiting amplifier topologies
US12074739B1 (en) Continuous time linear equalizer of single-ended signal with input coupling capacitor
Gambhir et al. A low power 1.3 GHz dual-path current mode Gm-C filter
WO2015146247A1 (ja) 可変利得トランスインピーダンスアンプ
CN114914785B (zh) 一种驱动eml型激光器的输出级电路
TWI761263B (zh) 合成負阻抗的電路
US20230095506A1 (en) Amplifier circuit, differential amplifier circuit, reception circuit, and semiconductor integrated circuit
US12119792B2 (en) Variable gain amplifier circuit and semiconductor integrated circuit

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 20945726

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 2022538527

Country of ref document: JP

Kind code of ref document: A

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

122 Ep: pct application non-entry in european phase

Ref document number: 20945726

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1