WO2021215330A1 - 電子源及びその製造方法、並びにエミッター及びこれを備える装置 - Google Patents

電子源及びその製造方法、並びにエミッター及びこれを備える装置 Download PDF

Info

Publication number
WO2021215330A1
WO2021215330A1 PCT/JP2021/015465 JP2021015465W WO2021215330A1 WO 2021215330 A1 WO2021215330 A1 WO 2021215330A1 JP 2021015465 W JP2021015465 W JP 2021015465W WO 2021215330 A1 WO2021215330 A1 WO 2021215330A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
members
hole
columnar portion
electron source
electron
Prior art date
Application number
PCT/JP2021/015465
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
大 塚田
洋光 茶谷
石川　大介
Original Assignee
デンカ株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by デンカ株式会社 filed Critical デンカ株式会社
Priority to CN202180025621.3A priority Critical patent/CN115428115A/zh
Priority to JP2022516997A priority patent/JPWO2021215330A1/ja
Priority to KR1020227032107A priority patent/KR20230004451A/ko
Priority to EP21793004.9A priority patent/EP4131327A4/en
Priority to US17/996,469 priority patent/US11915921B2/en
Publication of WO2021215330A1 publication Critical patent/WO2021215330A1/ja

Links

Images

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J9/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture, installation, removal, maintenance of electric discharge tubes, discharge lamps, or parts thereof; Recovery of material from discharge tubes or lamps
    • H01J9/02—Manufacture of electrodes or electrode systems
    • H01J9/04—Manufacture of electrodes or electrode systems of thermionic cathodes
    • H01J9/042—Manufacture, activation of the emissive part
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J9/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture, installation, removal, maintenance of electric discharge tubes, discharge lamps, or parts thereof; Recovery of material from discharge tubes or lamps
    • H01J9/02—Manufacture of electrodes or electrode systems
    • H01J9/04—Manufacture of electrodes or electrode systems of thermionic cathodes
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J1/00—Details of electrodes, of magnetic control means, of screens, or of the mounting or spacing thereof, common to two or more basic types of discharge tubes or lamps
    • H01J1/02—Main electrodes
    • H01J1/13—Solid thermionic cathodes
    • H01J1/14—Solid thermionic cathodes characterised by the material
    • H01J1/148—Solid thermionic cathodes characterised by the material with compounds having metallic conductive properties, e.g. lanthanum boride, as an emissive material
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J1/00—Details of electrodes, of magnetic control means, of screens, or of the mounting or spacing thereof, common to two or more basic types of discharge tubes or lamps
    • H01J1/02—Main electrodes
    • H01J1/13—Solid thermionic cathodes
    • H01J1/15—Cathodes heated directly by an electric current
    • H01J1/16—Cathodes heated directly by an electric current characterised by the shape
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02—Details
    • H01J37/04—Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the discharge, e.g. electron-optical arrangement, ion-optical arrangement
    • H01J37/06—Electron sources; Electron guns
    • H01J37/063—Geometrical arrangement of electrodes for beam-forming
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2201/00—Electrodes common to discharge tubes
    • H01J2201/19—Thermionic cathodes
    • H01J2201/196—Emission assisted by other physical processes, e.g. field- or photo emission
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2237/00—Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
    • H01J2237/06—Sources
    • H01J2237/063—Electron sources
    • H01J2237/06308—Thermionic sources

Definitions

  • the present disclosure relates to an electron source and a method for manufacturing the same, and an emitter and an apparatus including the same.
  • Emitters equipped with an electron source are used in, for example, electron microscopes and semiconductor inspection devices.
  • the emitter disclosed in Patent Document 1 has a first member having electron radiation characteristics and a second member covering the first member, and has a predetermined size between the first member and the second member. Groove is provided.
  • the electron gun disclosed in Patent Document 2 includes an electron gun cathode and a holder for holding the electron gun cathode, and the electron gun cathode has a quadrangular flat surface at its tip, and the tip portion is exposed from the holder. It is prominent (see FIG. 6 of Patent Document 2).
  • the electron source is extremely fine.
  • Paragraph [0055] of Patent Document 2 describes that the size of the electron gun cathode is 50 ⁇ m ⁇ 50 ⁇ m ⁇ 100 ⁇ m. Skilled technology is required to manufacture an electron source (electron gun) composed of such fine parts.
  • the present disclosure provides a method for producing an electron source, which is useful for efficiently producing a fine electron source.
  • the present disclosure also provides an electron source capable of sufficiently suppressing an electron emitting member from falling out of a member holding the electron source, and an emitter including the electron source. Further, the present disclosure provides an apparatus including the above emitter.
  • the method for manufacturing an electron source includes (A) a step of preparing a plurality of first members each having a columnar portion made of a first material having electron emission characteristics, and (B) a first.
  • the columnar portions of the plurality of first members each have a substantially quadrangular cross-sectional shape
  • the holes of the plurality of second members each have a substantially circular cross-sectional shape (C).
  • a set of the first member and the second member satisfying the following conditions is selected from the plurality of first members and the plurality of second members, and in the step (D), the holes of the second member are By pushing in the columnar portion, a part of the side surface of the columnar portion comes into contact with the inner surface of the hole of the second member, and the columnar portion is fixed to the second member.
  • L 1 indicates the length of the longer diagonal of the two diagonals of the substantially quadrangle
  • R 1 indicates the diameter of the hole.
  • the first member and the second member having the same size are selected from the plurality of members, and the step (D) is carried out using these members.
  • a part of the side surface of the columnar portion is in contact with the inner surface of the hole of the second member, and the columnar portion can be fixed to the second member. Therefore, in manufacturing the electron source, the loss of the member can be sufficiently reduced. That is, it is possible to sufficiently reduce manufacturing defects caused by the size of the columnar portion and the hole not matching.
  • Such problems include, for example, that the columnar portion of the first member does not enter the hole of the second member, and that the columnar portion does not come into contact with the inner surface of the hole and therefore falls off from the hole.
  • the cross-sectional shape of the columnar portion of the first member is not limited to a substantially quadrangle, and may be a substantially triangular shape.
  • a set of the first member and the second member satisfying the following conditions may be selected from the plurality of first members and the plurality of second members.
  • the electron source according to one aspect of the present disclosure is arranged so as to surround a columnar portion composed of a first material having electron emission characteristics and a columnar portion, and has a second work function larger than that of the first material. It is provided with a tubular portion made of a material, the tubular portion extending from one end face toward the other end face, and a hole having a substantially circular cross-sectional shape is formed, and the columnar portion is formed of a columnar portion. It has a substantially triangular or substantially quadrangular cross-sectional shape, and is fixed to the tubular portion in a state of being in contact with the inner surface of the hole.
  • the electron source it is possible to sufficiently prevent a member (columnar portion) that emits electrons from falling out of a member (cylindrical portion) that holds the member (cylindrical portion).
  • a flat surface is formed by the electron emission surface of the columnar portion and the end surface of the tubular portion. By forming such a flat surface, it is possible to sufficiently suppress the emission of electrons to the side.
  • the emitter according to one aspect of the present disclosure includes the above electron source.
  • the apparatus according to one aspect of the present disclosure includes the above emitter.
  • Devices including an emitter include, for example, an electron microscope, a semiconductor manufacturing device, and an inspection device.
  • a method for producing an electron source useful for efficiently producing a fine electron source is provided. Further, according to the present disclosure, there is provided an electron source capable of sufficiently suppressing an electron emitting member from falling out of a member holding the electron source, and an emitter including the electron source. Further, according to the present disclosure, an apparatus including the above emitter is provided.
  • FIG. 1 is a cross-sectional view schematically showing an embodiment of an electron source according to the present disclosure.
  • FIG. 2 is a plan view showing the configuration of the tip of the electron source shown in FIG.
  • FIG. 3A is a cross-sectional view schematically showing a first member having a columnar portion
  • FIG. 3B is a plan view showing a tip portion of the first member shown in FIG. 3A.
  • 3 (c) is a cross-sectional view schematically showing a second member in which a hole is formed.
  • 4 (a) to 4 (c) are cross-sectional views schematically showing a process of manufacturing the electron source shown in FIG. FIG.
  • FIG. 5 is a plan view showing the size relationship between the columnar portion (cross-sectional shape: substantially square) of the first member and the holes of the second member.
  • FIG. 6 is a cross-sectional view schematically showing an embodiment of the emitter according to the present disclosure.
  • FIG. 7 is a plan view showing the size relationship between the columnar portion (cross-sectional shape: substantially triangular shape) of the first member and the holes of the second member.
  • 8 (a) is a cross-sectional view schematically showing another embodiment of the electron source according to the present disclosure, and FIG. 8 (b) is an enlarged cross-sectional view taken along the line bb of FIG. 8 (a).
  • FIG. 8 (c) is an enlarged cross-sectional view taken along the line cc of FIG. 8 (a).
  • FIG. 1 is a cross-sectional view schematically showing an electron source according to the present embodiment.
  • FIG. 2 is a plan view showing the configuration of the tip of the electron source 10 shown in FIG.
  • the electron source 10 includes a columnar portion 1 and an electron emission limiting member 2 arranged so as to surround the columnar portion 1.
  • the columnar portion 1 is composed of a first material (electron emitting material) having electron emitting characteristics.
  • the end surface 1a of the columnar portion 1 is an electron emitting surface, and its normal is the electron emitting direction.
  • the electron emission limiting member 2 is composed of a second material (electron emission limiting material) having a work function larger than that of the first material.
  • the electron emission limiting member 2 has a tubular portion 2a in which the hole 3 is formed and a base end portion 2b in which the hole 3 is not formed.
  • the base end portion 2b forms the bottom 3a of the hole 3.
  • the hole 3 extends from the end face 2c of the electron emission limiting member 2 in the direction of the other end face 2d.
  • the opening area of the hole 3 is constant from the end face 2c to the end face 2d.
  • the columnar portion 1 has a cross-sectional shape that is not similar to the cross-sectional shape of the hole 3 of the electron emission limiting member 2, and is fixed to the electron emission limiting member 2 in a state of being in contact with the inner surface of the hole 3.
  • the shape of the columnar portion 1 in the cross section orthogonal to the longitudinal direction of the columnar portion 1, is substantially square, and the shape of the hole 3 is substantially circular.
  • the present embodiment assumes a case where the strength of the columnar portion 1 is higher than the strength of the cylindrical portion 2a, and a part of the side surface of the columnar portion 1 is fixed in a state of being bitten into the tubular portion 2a. ..
  • the electron source 10 it is possible to sufficiently prevent the columnar portion 1 from falling out of the electron emission limiting member 2.
  • the strength of the columnar portion 1 is lower than the strength of the tubular portion 2a, the corner portion of the first member 11 is scraped and rounded, and the corner portion abuts on the inner surface of the hole 13 to form the columnar portion 1. It is fixed to the electron emission limiting member 2.
  • a flat surface is formed by the end surface 1a (electron emission surface) of the columnar portion 1 and the end surface 2c of the electron emission limiting member 2. Further, the entire side surface of the columnar portion 1 is covered with the tubular portion 2a. As described above, since the columnar portion 1 does not protrude from the cylindrical portion 2a, it is possible to sufficiently suppress the emission of unnecessary electrons, that is, the emission of electrons to the side. For example, in order to obtain electrons with a larger current, the tip of the electron source 10 is heated to a high temperature of about 1550 ° C. and a high electric field of several kV is applied to the electron source 10.
  • the columnar portion 1 may protrude from the cylindrical portion 2a, and the end face 1a may be recessed with respect to the end face 2c.
  • This step may be less than 1.5 ⁇ m or less than 1.0 ⁇ m.
  • the effect of suppressing the occurrence of a phenomenon called minute discharge is also achieved. That is, in thermionic emission, electrons are emitted by heating the electron source to a high temperature. When the electron emitting material evaporates accordingly, it adheres to the surrounding electrode parts and becomes fibrous crystals called whiskers. Accumulation of electric charge in this whisker causes a minute discharge. The minute discharge destabilizes the electron beam and causes a decrease in device performance.
  • the sublimated electron emitting material is trapped in the tubular portion 2a, the amount of adhesion to the peripheral electrode parts can be reduced, and minute discharge can be made less likely to occur. ..
  • the tubular portion 2a does not have a cut in a part in the circumferential direction, but covers the entire side surface of the columnar portion 1. Since the tubular portion 2a has no cut, the emission of electrons to the side can be sufficiently suppressed.
  • the columnar portion 1 is composed of an electron emitting material (first material).
  • the electron emitting material is a material that emits electrons by heating.
  • the electron emission limiting material has a work function smaller than that of the electron emission limiting material and has a higher strength than the electron emission limiting material.
  • Examples of electron emitting materials are rare earth borides such as lanthanum boride (LaB 6 ) and cerium boride (CeB 6 ); refractory metals such as tungsten, tantalum and hafnium and their oxides, carbides and nitrides; iridium cerium. Precious metal-rare earth alloys such as.
  • the work functions of these materials are as follows.
  • the electron emission material constituting the columnar portion 1 is preferably a rare earth boride.
  • the columnar portion 1 is made of a rare earth boride, it is preferable that the columnar portion 1 is a single crystal processed so that the ⁇ 100> orientation, which has a low work function and easily emits electrons, coincides with the electron emission direction.
  • the columnar portion 1 can be formed into a desired shape by electric discharge machining or the like.
  • the side surface of the columnar portion 1 is preferably the crystal plane of the (100) plane because the evaporation rate is considered to be slow.
  • the shape of the columnar portion 1 is a square columnar shape (see FIGS. 1 and 2).
  • the length of the columnar portion 1 is preferably 0.1 to 1 mm, more preferably 0.2 to 0.6 mm, and even more preferably about 0.3 mm. When the length is 0.1 mm or more, the handling tends to be good, and when the length is 1 mm or less, cracks and the like are less likely to occur.
  • the cross-sectional shape of the columnar portion 1 is substantially square.
  • the length of the side thereof is preferably 20 to 300 ⁇ m, more preferably 50 to 150 ⁇ m, and further preferably about 100 ⁇ m.
  • the electron emission limiting member 2 is made of an electron emission limiting material.
  • the electron emission limiting material has a higher work function than the electron emission limiting material.
  • Work difference function W 1 of the work function W 2 and the columnar section 1 of the electron-emitting limiting member 2 is preferably not less than 0.5 eV, more preferably at least 1.0eV Yes, more preferably 1.6 eV or more.
  • the electron emission limiting material preferably contains a refractory metal or a carbide thereof, and at least one of metal tantalum, metallic titanium, metallic zirconium, metallic tungsten, metallic molybdenum, metallic renium, tantalum carbide, titanium carbide and zirconium carbide. It is preferable to include it. Further, the electron emission limiting material may contain at least one or more of boron carbide and graphite (carbon material). Further, the electron emission limiting material may contain at least one or more of niobium, hafnium, and vanadium. As the electron emission limiting material, glassy carbon (for example, glassy carbon (trade name, manufactured by Reiho Seisakusho Co., Ltd.)) may be used. The work functions of these materials are as follows. -Metallic rhenium: 4.9 eV -Boron carbide: 5.2 eV -Graphite: 5.0 eV
  • the strength of the electron emission limiting material is lower than the strength of the electron emission limiting material as described above.
  • the strength of both materials can be evaluated, for example, by Vickers hardness.
  • the material constituting the electron emission limiting member 2 preferably has a Vickers hardness of about 100 HV to 1900 HV.
  • glassy carbon Vickers hardness: about 230 HV
  • the tip portion 2e (a part of the tubular portion 2a) of the electron emission limiting member 2 is processed into a tapered shape, and the remaining portion (the remaining portion of the tubular portion 2a and the base end portion 2b) is processed into a square columnar shape. There is. By processing the tip portion 2e of the electron emission limiting member 2 into a tapered shape, it is possible to easily concentrate the electric field and improve the electron emission efficiency.
  • a support member (not shown) may be provided around the electron emission limiting member 2.
  • the electron emission limiting material and the electron emission limiting material may be appropriately selected from the viewpoint of the work function and strength of both, and may be used in combination.
  • electron emitting materials include lanthanum boride (LaB 6 ), cerium boride (CeB 6 ), hafnium carbide and iridium cerium.
  • electron emission limiting materials include metallic rhenium, boron carbide and graphite (including glassy carbon).
  • Some of the materials that can be used as the electron emission limiting material can also be used as the electron emission limiting material.
  • a material having a work function of about 3.2 to 4.5 eV can be used as both an electron emitting material and an electron emitting limiting material. Examples of such a material include metallic tungsten (work function: 4.5 eV), metallic tantalum (work function: 3.2 eV), and hafnium carbide (work function: 3.3 eV).
  • the electron source 10 is manufactured through the following steps.
  • B A step of preparing a plurality of second members 12 each having a work function larger than that of the first member 11 and having holes 13 extending from one end face 12a in the direction of the other end face 12b. ..
  • C A step of selecting one first member 11 from a plurality of first members 11 and selecting one second member 12 from a plurality of second members 12.
  • D A step of pushing the selected first member 11 into the hole 13 of the selected second member 12.
  • a set of the first member 11 and the second member 12 satisfying the following conditions is selected from the plurality of first members 11 and the plurality of second members 12.
  • step (D) by pushing the selected first member 11 into the hole 13 of the selected second member 12, a part of the side surface of the first member 11 becomes the inner surface of the hole 13 of the second member 12.
  • the first member 11 is fixed to the second member 12 in a state of contact. ⁇ Conditions> L 1 / R 1 > 1 ... (1)
  • the strength of the first member 11 is higher than the strength of the second member 12, a part of the side surface of the first member 11 is formed by pushing the first member 11 into the hole 13 of the second member 12.
  • the first member 11 is fixed to the second member 12 in a state where the inner surface is scraped and bites into the second member 12 (see FIG. 5).
  • the strength of the first member 11 is lower than the strength of the second member 12, the corner portion of the first member 11 is scraped by pushing the first member 11 into the hole 13 of the second member 12. It is rounded, and the corner portion abuts on the inner surface of the hole 13 to fix the first member 11 to the second member 12.
  • the strength of the first member 11 and the second member 12 can be evaluated by, for example, the Vickers strength.
  • the first member 11 shown in FIGS. 3 (a) and 3 (b) is made of an electron emitting material.
  • the first member 11 can be obtained from a block of electron emitting material by electric discharge machining or the like.
  • the first member 11 is a portion that becomes a columnar portion 1 of the electron source 10.
  • the second member 12 shown in FIG. 3C is made of an electron emission limiting material.
  • the second member 12 can be obtained from a block of electron emission limiting material by electric discharge machining or the like.
  • the hole 13 of the second member 12 is a portion that becomes the hole 3 of the electron source 10.
  • the opening area of the hole 13 is constant from the end face 12a to the end face 12b.
  • FIG. 4A is a cross-sectional view schematically showing a state in which the first member 11 is pushed into the hole 13 of the second member 12.
  • FIG. 5 is a plan view showing the size relationship between the first member 11 of the first member 11 and the holes 13 of the second member 12. A part of the side surface (four corners 11c) of the first member 11 bites into the second member 12.
  • FIG. 4A shows a state in which the first member 11 reaches the depth of the hole 13, the first member 11 does not have to reach the depth of the hole 13.
  • the first member 11 and the second member 12 having the holes 13 satisfying the following conditions are selected.
  • L 1 indicates the diagonal length of the cross section (substantially square) of the first member 11, and R 1 indicates the diameter of the hole 13.
  • L 1 / R 1 more preferably satisfies the inequality (1a), further preferably satisfies the inequality (1b), and particularly preferably satisfies the inequality (1c).
  • the structure 15A shown in FIG. 4 (b) was obtained by cutting out the portion surrounded by the broken line square in FIG. 4 (a).
  • the first member 11 projects from the end surface 12a.
  • the protruding portion 11a of the first member 11 is formed by, for example, polishing paper to form an end face 1a (electron emission surface), and the outside of the second member 12 is processed into a square columnar shape.
  • the quadrangular prism 15B shown in FIG. 4C is obtained.
  • the electron source 10 shown in FIG. 1 can be obtained.
  • the order of processing is not limited to this. For example, from the state shown in FIG.
  • the protrusion 11a is first shaved to form a flat surface, and then the broken line in FIG. 4A shows a broken line.
  • the part surrounded by a square may be cut out.
  • the shape of the second member 12 after processing is not limited to a square columnar shape, and for example, in a substantially cylindrical electron source, only the portion sandwiched by the heater may be processed flat (FIG. 6). reference).
  • the first member 11 and the second member 12 having the same size are selected from the plurality of members, and the step (D) is carried out using these.
  • the loss of these members can be sufficiently reduced. That is, it is possible to sufficiently reduce manufacturing defects caused by the sizes of the first member 11 and the hole 13 not matching. Examples of such a defect include the fact that the first member 11 does not enter the hole 13 and that the first member 11 falls off from the hole 13 because it does not come into contact with the inner surface of the hole 13.
  • the end surface 1a (electron emission surface) of the columnar portion 1 and the end surface 2c of the cylindrical portion 2a are formed at the tip end portion of the electron source 10.
  • a flat surface is formed by. Since the columnar portion 1 does not protrude from the tubular portion 2a, as described above, the emission of unnecessary electrons, that is, the emission of electrons to the side can be sufficiently suppressed, and the whiskers are generated. Micro discharge can also be suppressed.
  • FIG. 6 is a cross-sectional view schematically showing an example of an emitter.
  • the emitter 20 shown in FIG. 6 includes an electron source 10, a carbon heater 16 arranged around the electron source 10, electrode pins 17a and 17b, an insulator 18, and a suppressor 19.
  • the carbon heater 16 is for heating the electron source 10.
  • the electrode pins 17a and 17b are for energizing the carbon heater 16.
  • the suppressor 19 is for suppressing excess current.
  • the electron source 10 may be heated by another means of the carbon heater 16.
  • Examples of the device provided with the emitter 20 include an electron microscope, a semiconductor manufacturing device, an inspection device, and a processing device.
  • the present invention is not limited to the above embodiments.
  • the columnar portion 1 having a substantially square cross-sectional shape is illustrated (see FIGS. 1 and 2), but the cross-sectional shape of the columnar portion 1 may be a substantially quadrangle other than the substantially square, for example. It may be a substantially rectangular shape, a substantially diamond shape, or a substantially parallelogram.
  • L 1 / R 1 indicates the following values.
  • L 1 Length of the longer diagonal of the two diagonals of the substantially quadrangle
  • R 1 Diameter of the hole 13
  • the first member 11 and the hole 13 (second member 12) satisfying the following conditions are selected.
  • the diameter R 2 of the circumscribed circle of the substantially triangular placed the substantially triangular in a circle of the same diameter as the diameter R 1 of the larger and the hole 13 than the diameter R 1 of the hole, at least two corners the circle substantially triangular In contact with.
  • the solid circle R is a circle with a diameter R 1
  • the alternate long and short dash line circle RT is a circumscribed circle of a substantially triangular T.
  • the electron source 10A shown in FIG. 8A has the same configuration as the electron source 10 except for the shape of the holes.
  • the hole 4 in the electron source 10A is composed of a hole 4a on the end face 2c side, a hole 4b on the end face 2d side, and a tapered portion 4c (diameter-reduced portion) between them.
  • the inner diameter of the hole 4b is smaller than the inner diameter of the hole 4a.
  • FIG. 8 (c) if the columnar portion 1 is sufficiently fixed in a state where the inner surface of the hole 4b is scraped and bites into the electron emission limiting member 2, it is shown in FIG. 8 (c). As shown, the columnar portion 1 may not bite into the electron emission limiting member 2 in the hole 4a.
  • the tapered portion 4c in which the inner diameter is continuously reduced is illustrated here as the diameter-reduced portion, the diameter-reduced portion may be one in which the inner diameter is gradually reduced.
  • the hole of the second member 12 may also have a reduced diameter portion in the same manner.
  • a method for producing an electron source useful for efficiently producing a fine electron source is provided. Further, according to the present disclosure, there is provided an electron source capable of sufficiently suppressing an electron emitting member from falling out of a member holding the electron source, and an emitter including the electron source. Further, according to the present disclosure, an apparatus including the above emitter is provided.

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Cold Cathode And The Manufacture (AREA)

Abstract

本開示に係る電子源は、電子放出特性を有する第一材料で構成されている柱状部と、柱状部を囲うように配置されており、第一材料よりも仕事関数が大きい第二材料で構成されている筒状部とを備え、筒状部は一方の端面から他方の端面の方向に延びており且つ略円形の断面形状を有する孔が形成されており、柱状部は略三角形又は略四角形の断面形状を有し、孔の内面に当接した状態で筒状部に固定されている。

Description

電子源及びその製造方法、並びにエミッター及びこれを備える装置
　本開示は、電子源及びその製造方法、並びにエミッター及びこれを備える装置に関する。
　電子源を備えるエミッターは、例えば、電子顕微鏡及び半導体検査装置に使用されている。特許文献１に開示されたエミッターは、電子放射特性を有する第１の部材と、これを被覆する第２の部材とを有し、第１の部材と第２の部材との間に所定のサイズの溝が設けられている。特許文献２に開示された電子銃は、電子銃陰極と、これを保持する保持具とを含み、電子銃陰極はその先端に四角形の平坦面を有し、先端部が露出して保持具から突出している（特許文献２の図６参照）。
特開２０１２－６９３６４号公報 特許第５５２５１０４号公報
　電子源は極めて微細である。特許文献２の段落［００５５］には電子銃陰極の大きさが５０μｍ×５０μｍ×１００μｍであることが記載されている。このような微細な部品からなる電子源（電子銃）を製造するには熟練の技術が求められる。
　本開示は、微細な電子源を効率的に製造するのに有用な電子源の製造方法を提供する。また、本開示は、電子を放出する部材がこれを保持する部材から抜け落ちることを十分に抑制できる電子源及びこれを備えるエミッターを提供する。更に、本開示は上記エミッターを備える装置を提供する。
　本開示の一側面に係る電子源の製造方法は、（Ａ）電子放出特性を有する第一材料で構成されている柱状部をそれぞれ備える複数の第一部材を準備する工程と、（Ｂ）第一材料よりも大きい仕事関数をそれぞれ有するとともに、一方の端面から他方の端面の方向に延びている孔がそれぞれ形成されている複数の第二部材を準備する工程と、（Ｃ）複数の第一部材から一つの第一部材を選択するとともに、複数の第二部材から一つの第二部材を選択する工程と、（Ｄ）選択された第二部材の孔に対し、選択された第一部材の前記柱状部を押し込む工程とを含み、複数の第一部材の柱状部は略四角形の断面形状をそれぞれ有し、複数の第二部材の孔は、略円形の断面形状をそれぞれ有し、（Ｃ）工程において、複数の第一部材及び複数の第二部材から、以下の条件を満たす一組の第一部材及び第二部材を選択し、（Ｄ）工程において、当該第二部材の孔に対して当該柱状部を押し込むことによって、当該柱状部の側面の一部が当該第二部材の孔の内面に当接した状態となって当該柱状部が当該第二部材に対して固定される。
＜条件＞
　Ｌ１／Ｒ１＞１…（１）
　不等式（１）において、Ｌ１は略四角形の二本の対角線のうち長い方の対角線の長さを示し、Ｒ１は孔の直径を示す。
　上記製造方法によれば、（Ｃ）工程において、複数の部材のうちから、サイズが合う第一部材及び第二部材を選択し、これらを使用して（Ｄ）工程を実施することで、上記のとおり、柱状部の側面の一部が第二部材の孔の内面に当接した状態となり、柱状部を第二部材に対して固定することができる。このため、電子源を製造するにあたり、部材のロスを十分に低減できる。すなわち、柱状部及び孔のサイズが合わないことに起因する製造上の不具合を十分に低減できる。かかる不具合として、例えば、第一部材の柱状部が第二部材の孔に入らないこと、柱状部が孔の内面に当接しないために孔から脱落することなどが挙げられる。
　第一部材の柱状部の断面形状は略四角形に限定されず、略三角形であってもよい。この場合、上記（Ｃ）工程において、複数の第一部材及び複数の第二部材から、以下の条件を満たす一組の第一部材及び第二部材を選択すればよい。
＜条件＞
　略三角形の外接円の直径Ｒ２が孔の直径Ｒ１よりも大きく且つ孔の直径Ｒ１と同じ直径の円の中に略三角形を配置したとき、略三角形の少なくとも二つの角が当該円に接する。
　本開示の一側面に係る電子源は、電子放出特性を有する第一材料で構成されている柱状部と、柱状部を囲うように配置されており、第一材料よりも仕事関数が大きい第二材料で構成されている筒状部とを備え、筒状部は、一方の端面から他方の端面の方向に延びており且つ略円形の断面形状を有する孔が形成されており、柱状部は、略三角形又は略四角形の断面形状を有し、孔の内面に当接した状態で筒状部に固定されている。
　上記電子源によれば、電子を放出する部材（柱状部）がこれを保持する部材（筒状部）から抜け落ちることを十分に抑制できる。当該電子源の先端部において、柱状部の電子放出面と筒状部の端面とによって平坦面が形成されていることが好ましい。かかる平坦面が形成されていることで、側方に電子が放出されることを十分に抑制することができる。
　本開示の一側面に係るエミッターは上記電子源を備える。本開示の一側面に係る装置は上記エミッターを備える。エミッターを備える装置として、例えば、電子顕微鏡及び半導体製造装置及び検査装置が挙げられる。
　本開示によれば、微細な電子源を効率的に製造するのに有用な電子源の製造方法が提供される。また、本開示によれば、電子を放出する部材がこれを保持する部材から抜け落ちることを十分に抑制できる電子源及びこれを備えるエミッターが提供される。更に、本開示によれば、上記エミッターを備える装置が提供される。
図１は本開示に係る電子源の一実施形態を模式的に示す断面図である。 図２は図１に示す電子源の先端の構成を示す平面図である。 図３（ａ）は柱状部を備える第一部材を模式的に示す断面図であり、図３（ｂ）は図３（ａ）に示す第一部材の先端部を示す平面図であり、図３（ｃ）は孔が形成されている第二部材を模式的に示す断面図である。 図４（ａ）～図４（ｃ）は図１に示す電子源を製造する過程を模式的に示す断面図である。 図５は第一部材の柱状部（断面形状：略正方形）と第二部材の孔の大小関係を示す平面図である。 図６は本開示に係るエミッターの一実施形態を模式的に示す断面図である。 図７は第一部材の柱状部（断面形状：略三角形）と第二部材の孔の大小関係を示す平面図である。 図８（ａ）は本開示に係る電子源の他の実施形態を模式的に示す断面図であり、図８（ｂ）は図８（ａ）のｂ－ｂ線における拡大断面図であり、図８（ｃ）は図８（ａ）のｃ－ｃ線における拡大断面図である。
　以下、図面を参照しながら、本開示の実施形態について説明する。以下の説明において、同一要素又は同一機能を有する要素には同一符号を用いることとし、重複する説明は省略する。なお、本発明は以下の実施形態に限定されるものではない。
＜電子源＞
　図１は本実施形態に係る電子源を模式的に示す断面図である。図２は図１に示す電子源１０の先端の構成を示す平面図である。電子源１０は、柱状部１と、柱状部１を囲うように配置された電子放出制限部材２とを備える。柱状部１は、電子放出特性を有する第一材料（電子放出材料）で構成されている。柱状部１の端面１ａが電子放出面であり、その法線が電子の放出方向である。他方、電子放出制限部材２は、第一材料よりも仕事関数が大きい第二材料（電子放出制限材料）で構成されている。電子放出制限部材２は、孔３が形成されている筒状部２ａと、孔３が形成されていない基端部２ｂとを有する。基端部２ｂは孔３の底３ａをなしている。孔３は、電子放出制限部材２の端面２ｃから他方の端面２ｄの方向に延びている。本実施形態において、孔３の開口面積は端面２ｃから端面２ｄに向けて一定である。
　図２に示すように、柱状部１は、電子放出制限部材２の孔３の断面形状と非相似の断面形状を有し、孔３の内面に当接した状態で電子放出制限部材２に固定されている。本実施形態においては、柱状部１の長手方向に直交する断面において、柱状部１の形状は略正方形であり、孔３の形状は略円形である。本実施形態は、柱状部１の強度が筒状部２ａの強度よりも高い場合を想定したものであり、柱状部１の側面の一部が筒状部２ａに食い込んだ状態で固定されている。電子源１０によれば、柱状部１が電子放出制限部材２から抜け落ちることを十分に抑制できる。なお、柱状部１の強度が筒状部２ａの強度よりも低い場合、第一部材１１の角部が削られて丸みを帯び、この角部が孔１３の内面に当接して柱状部１が電子放出制限部材２に固定される。
　電子源１０の先端面において、柱状部１の端面１ａ（電子放出面）と電子放出制限部材２の端面２ｃとによって平坦面が形成されている。また、柱状部１の側面の全体が筒状部２ａで覆われている。このように、柱状部１が筒状部２ａから突出していないことで、不要な電子の放出、すなわち、側方への電子の放出を十分に抑制することができる。例えば、より大電流の電子を得るためには電子源１０の先端部を１５５０℃程度の高温に加熱し且つ電子源１０に数ｋＶの高電界を印加する。このような高電界をかけると電子源の先端部分以外からも余剰な電子が発生し得る。この余剰電子は空間電荷効果により、先端部分からの電子ビームの輝度を低下させたり、周辺の電極部品の不要な加熱を引き起こしたりする可能性がある。これを防ぐために電子源１０の電子放出部（柱状部１の端面１ａ）のみを露出させ、それ以外の面を筒状部２ａで覆うことで、先端部分からの高輝度な電子ビームのみを得ることができる。なお、ここでいう「平坦面」は端面１ａと端面２ｃの段差が２μｍ未満であることを意味する。この段差が２μｍ未満である限り、柱状部１が筒状部２ａから突出していてもよく、端面１ａが端面２ｃに対して凹んでいてもよい。この段差は１．５μｍ未満又は１．０μｍ未満であってもよい。
　柱状部１の側面の全体を筒状部２ａで覆うことで、微小放電と称される現象が起こることを抑制できるという効果も奏される。すなわち、熱電子放出では電子源を高温に加熱することで電子が放出される。それに伴って電子放出材料が蒸発すると周辺の電極部品に付着し、ウィスカーと呼ばれる繊維状の結晶となる。このウィスカーに電荷が蓄積されると微小放電を引き起こされる。微小放電は電子ビームを不安定にさせ、装置性能を低下させる要因となる。柱状部１の側面の全体を筒状部２ａで覆うことで、昇華した電子放出材料が筒状部２ａにトラップされ、周辺電極部品への付着量を減らし、微小放電を起こしにくくすることができる。なお、筒状部２ａは、周方向の一部に切れ目を有するものではなく、柱状部１の側面の全体を覆っている。筒状部２ａが切れ目を有しないため、側方への電子の放出を十分に抑制することができる。
（電子放出材料）
　柱状部１は電子放出材料（第一材料）で構成されている。電子放出材料は、加熱によって電子を放出する材料である。電子放出材料は、仕事関数が電子放出制限材料よりも小さく且つ強度が電子放出制限材料よりも高い。電子放出材料の例として、ホウ化ランタン（ＬａＢ６）、ホウ化セリウム（ＣｅＢ６）などの希土類ホウ化物；タングステン、タンタル、ハフニウムなどの高融点金属ならびにその酸化物、炭化物及び窒化物；イリジウムセリウムなどの貴金属－希土類系合金が挙げられる。これらの材料の仕事関数は以下のとおりである。
・ホウ化ランタン（ＬａＢ６）：２.８ｅＶ
・ホウ化セリウム（ＣｅＢ６）：２.８ｅＶ
・炭化タンタル：３．２ｅＶ
・炭化ハフニウム：３．３ｅＶ
　電子放出特性、強度及び加工性の観点から、柱状部１を構成する電子放出材料は希土類ホウ化物であることが好ましい。柱状部１が希土類ホウ化物からなる場合、柱状部１は仕事関数が低く電子を放出しやすい＜１００＞方位が電子放出方向に一致するよう加工された単結晶体であることが好ましい。柱状部１は放電加工などによって所望の形状にすることができる。柱状部１の側面は、蒸発速度が遅くなると考えられることから、（１００）面の結晶面であることが好ましい。
　本実施形態において、柱状部１の形状は四角柱状である（図１，２参照）。柱状部１の長さは、好ましくは０．１～１ｍｍであり、より好ましくは０．２～０．６ｍｍであり、更に好ましくは０．３ｍｍ程度である。長さが０．１ｍｍ以上であることでハンドリングが良好となる傾向にあり、１ｍｍ以下であることでクラック等が入りにくくなる傾向にある。柱状部１の断面形状は略正方形である。その辺の長さは、好ましくは２０～３００μｍであり、より好ましくは５０～１５０μｍであり、更に好ましくは１００μｍ程度である。
（電子放出制限材料）
　電子放出制限部材２は電子放出制限材料で構成されている。電子放出制限材料は、仕事関数が電子放出材料よりも大きい。電子放出制限部材２で柱状部１の側面を覆うことによって柱状部１の側面からの電子の放出が抑制される。
　電子放出制限部材２の仕事関数Ｗ２と柱状部１の仕事関数Ｗ１の差（△Ｗ＝Ｗ２－Ｗ１）は、好ましくは０．５ｅＶ以上であり、より好ましくは１．０ｅＶ以上であり、更に好ましくは１．６ｅＶ以上である。
　電子放出制限材料は、高融点金属又はその炭化物を含むことが好ましく、金属タンタル、金属チタン、金属ジルコニウム、金属タングステン、金属モリブデン、金属レニウム、炭化タンタル、炭化チタン及び炭化ジルコニウムから少なくとも一つ以上を含むことが好ましい。また、電子放出制限材料は、炭化ホウ素と黒鉛（炭素材料）のうちの少なくとも一つ以上を含んでもよい。また、電子放出制限材料は、ニオブ、ハフニウム、バナジウムのうちの少なくとも一つ以上を含んでもよい。電子放出制限材料として、ガラス状カーボン（例えば、グラッシーカーボン（商品名、株式会社レイホー製作所製））を使用してもよい。これらの材料の仕事関数は以下のとおりである。
・金属レニウム：４．９ｅＶ
・炭化ホウ素：５．２ｅＶ
・黒鉛：５．０ｅＶ
　本実施形態では、電子放出制限材料の強度は、上述のとおり、電子放出材料の強度よりも低い。両材料の強度は、例えば、ビッカース硬度で評価することができる。適度な強度を有すること且つ加工性の観点から、電子放出制限部材２を構成する材料はビッカース硬度が１００ＨＶから１９００ＨＶ程度であることが好ましい。例えば、ガラス状カーボン（ビッカース硬度：２３０ＨＶ程度）は適度な強度を有する点で電子放出制限材料に適している。電子放出制限部材２の先端部２ｅ（筒状部２ａの一部）はテーパ状に加工され、残りの部分（筒状部２ａの残りの部分及び基端部２ｂ）は四角柱状に加工されている。電子放出制限部材２の先端部２ｅをテーパ状に加工することで、電界集中させやすく電子放出効率を高めることができるという効果が奏される。なお、電子放出制限部材２の周囲に支持部材（不図示）を設けてもよい。
　電子放出材料と電子放出制限材料は、例えば、両者の仕事関数及び強度の点から適宜選択し、組み合わせて使用すればよい。電子放出材料の好適な例として、ホウ化ランタン（ＬａＢ６）、ホウ化セリウム（ＣｅＢ６）、炭化ハフニウム及びイリジウムセリウムが挙げられる。電子放出制限材料の好適な例として、金属レニウム、炭化ホウ素及び黒鉛(ガラス状カーボン含む)が挙げられる。なお、電子放出材料として使用可能な材料の一部は電子放出制限材料としても使用し得る。例えば、仕事関数が３．２～４．５ｅＶ程度の材料は電子放出材料及び電子放出制限材料の両方に使用し得る。かかる材料として、金属タングステン（仕事関数：４．５ｅＶ）、金属タンタル（仕事関数：３．２ｅＶ）、炭化ハフニウム（仕事関数：３．３ｅＶ）が挙げられる。
＜電子源の製造方法＞
　次に、電子源１０の製造方法について説明する。電子源１０は以下の工程を経て製造される。
（Ａ）柱状の第一部材１１を複数準備する工程。
（Ｂ）第一部材１１よりも大きい仕事関数をそれぞれ有するとともに、一方の端面１２ａから他方の端面１２ｂの方向に延びている孔１３がそれぞれ形成されている複数の第二部材１２を準備する工程。
（Ｃ）複数の第一部材１１から一つの第一部材１１を選択するとともに、複数の第二部材１２から一つの第二部材１２を選択する工程。
（Ｄ）選択された第二部材１２の孔１３に対し、選択された第一部材１１を押し込む工程。
　上記（Ｃ）工程において、複数の第一部材１１及び複数の第二部材１２から、以下の条件を満たす一組の第一部材１１及び第二部材１２を選択する。上記（Ｄ）工程において、選択した第二部材１２の孔１３に対し、選択した第一部材１１を押し込むことによって、第一部材１１の側面の一部が第二部材１２の孔１３の内面に当接した状態となって第一部材１１が第二部材１２に対して固定される。
＜条件＞
　Ｌ１／Ｒ１＞１…（１）
　第一部材１１の強度が第二部材１２の強度よりも高い場合、第二部材１２の孔１３に対して第一部材１１を押し込むことによって、第一部材１１の側面の一部が孔１３の内面を削り且つ第二部材１２に食い込んだ状態となって第一部材１１が第二部材１２に対して固定される（図５参照）。他方、第一部材１１の強度が第二部材１２の強度よりも低い場合、第二部材１２の孔１３に対して第一部材１１を押し込むことによって、第一部材１１の角部が削られて丸みを帯び、この角部が孔１３の内面に当接して第一部材１１が第二部材１２に対して固定される。なお、第一部材１１及び第二部材１２の強度は、例えば、ビッカース強度で評価することができる。
　図３（ａ）及び図３（ｂ）に示す第一部材１１は電子放出材料からなる。第一部材１１は電子放出材料のブロックから放電加工などによって得ることができる。第一部材１１は電子源１０の柱状部１となる部分である。
　図３（ｃ）に示す第二部材１２は電子放出制限材料からなる。第二部材１２は電子放出制限材料のブロックから放電加工などによって得ることができる。第二部材１２の孔１３は電子源１０の孔３となる部分である。孔１３の開口面積は端面１２ａから端面１２ｂに向けて一定である。
　図４（ａ）は、第二部材１２の孔１３に対して第一部材１１が押し込まれた状態を模式的に示す断面図である。図５は、第一部材１１の第一部材１１と第二部材１２の孔１３の大小関係を示す平面図である。第一部材１１の側面の一部（四つの角部１１ｃ）が第二部材１２に食い込んでいる。なお、図４（ａ）には第一部材１１が孔１３の奥にまで達している状態を図示したが、第一部材１１は孔１３の奥にまで達していなくてもよい。
　（Ｃ）工程において、以下の条件を満たす第一部材１１及び孔１３を有する第二部材１２を選択する。
＜条件＞
　Ｌ１／Ｒ１＞１…（１）
　不等式（１）において、Ｌ１は第一部材１１の断面（略正方形）の対角線の長さを示し、Ｒ１は孔１３の直径を示す。
　Ｌ１／Ｒ１の値は不等式（１ａ）を満たすことがより好ましく、不等式（１ｂ）を満たすことが更に好ましく、不等式（１ｃ）を満たすことが特に好ましい。
　１＜Ｌ１／Ｒ１＜１．２…（１ａ）
　１＜Ｌ１／Ｒ１＜１．１…（１ｂ）
　１＜Ｌ１／Ｒ１＜１．０５…（１ｃ）
　図４（ｂ）に示された構造体１５Ａは、図４（ａ）において破線の四角で囲った部分を切り出すことによって得られたものである。構造体１５Ａにおいては、端面１２ａから第一部材１１が突出している。第一部材１１の突出部１１ａを例えば研磨紙で削ることによって端面１ａ（電子放出面）を形成するとともに、第二部材１２の外側を四角柱状に加工する。これにより、図４（ｃ）に示された四角柱体１５Ｂが得られる。四角柱体１５Ｂの一方の端部をテーパ状に加工することで、図１に示された電子源１０が得られる。なお、加工の順序はこれに限定されず、例えば、図４（ａ）に示された状態から、まず、突出部１１ａを削って平坦面を形成し、その後、図４（ａ）の破線の四角で囲った部分を切り出してもよい。また、加工後の第二部材１２の形状は四角柱状に限定されず、例えば、略円柱状の電子源において、ヒーターで挟む部分のみが平坦に加工されている形状であってもよい（図６参照）。
　上記製造方法によれば、（Ｃ）工程において、複数の部材のうちから、サイズが合う第一部材１１及び第二部材１２を選択し、これらを使用して（Ｄ）工程を実施することで、これらの部材のロスを十分に低減できる。すなわち、第一部材１１及び孔１３のサイズが合わないことに起因する製造上の不具合を十分に低減できる。かかる不具合として、例えば、第一部材１１が孔１３に入らないこと、第一部材１１が孔１３の内面に当接しないために孔１３から脱落することなどが挙げられる。
　上記製造方法によれば、第一部材１１の突出部１１ａを削る工程を経ることで、電子源１０の先端部において、柱状部１の端面１ａ（電子放出面）と筒状部２ａの端面２ｃとによって平坦面が形成される。筒状部２ａから柱状部１が突出していないことで、上述のとおり、不要な電子の放出、すなわち、側方への電子の放出を十分に抑制することができるとともに、ウィスカーの生成に起因する微小放電も抑制できる。
＜エミッター＞
　図６はエミッターの一例を模式的に示す断面図である。図６に示すエミッター２０は、電子源１０と、電子源１０の周囲に配置されたカーボンヒーター１６と、電極ピン１７ａ，１７ｂと、碍子１８と、サプレッサー１９とを備える。カーボンヒーター１６は電子源１０を加熱するためのものである。電極ピン１７ａ，１７ｂはカーボンヒーター１６に通電するためのものである。サプレッサー１９は余剰電流を抑制するためのものである。なお、カーボンヒーター１６の他の手段によって電子源１０が加熱される構成であってもよい。
　エミッター２０を備える装置として、電子顕微鏡、半導体製造装置、検査装置及び加工装置が挙げられる。
　以上、本開示の実施形態について詳細に説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではない。例えば、上記実施形態においては、断面形状が略正方形の柱状部１を例示したが（図１，２参照）、柱状部１の断面形状は略正方形以外の略四角形であってもよく、例えば、略長方形、略ひし形、略平行四辺形であってもよい。
　第一部材１１の断面形状が略正方形以外の略四角形である場合、上記のＬ１／Ｒ１は以下の値を示す。
　Ｌ１：略四角形の二本の対角線のうち長い方の対角線の長さ
　Ｒ１：孔１３の直径
　柱状部１の断面形状が略三角形の電子源を製造する場合、（Ｃ）工程において、以下の条件を満たす第一部材１１及び孔１３（第二部材１２）を選択する。
＜条件＞
　略三角形の外接円の直径Ｒ２が孔の直径Ｒ１よりも大きく且つ孔１３の直径Ｒ１と同じ直径の円の中に略三角形を配置したとき、略三角形の少なくとも二つの角が当該円に接する。図７において、実線の円Ｒは直径Ｒ１の円であり、一点鎖線の円ＲＴは略三角形Ｔの外接円である。
　上記実施形態においては、孔３の開口面積がこれらの延在方向において一定である場合を例示したが、電子放出制限部材２の孔は端面２ｃから端面２ｄ側に向けて開口面積が小さくなる縮径部を有してもよい。図８（ａ）に示す電子源１０Ａは、孔の形状以外は電子源１０と同様の構成である。電子源１０Ａにおける孔４は、端面２ｃ側の孔４ａと、端面２ｄ側の孔４ｂと、これらを間のテーパ部４ｃ（縮径部）とによって構成されている。孔４ｂの内径は孔４ａの内径よりも小さい。この場合、図８（ｂ）に示すように、柱状部１が孔４ｂの内面を削って電子放出制限部材２に食い込んだ状態となって十分に固定されていれば、図８（ｃ）に示すように、孔４ａ内においては柱状部１が電子放出制限部材２に食い込んでいない状態であってもよい。なお、ここでは縮径部として内径が連続的に小さくなるテーパ部４ｃを例示したが、縮径部は内径が段階的に小さくなるものであってもよい。第二部材１２の孔もこれと同様に縮径部を有するものであってもよい。
　本開示によれば、微細な電子源を効率的に製造するのに有用な電子源の製造方法が提供される。また、本開示によれば、電子を放出する部材がこれを保持する部材から抜け落ちることを十分に抑制できる電子源及びこれを備えるエミッターが提供される。更に、本開示によれば、上記エミッターを備える装置が提供される。
１…柱状部、１ａ…端面（電子放出面）、２…電子放出制限部材、２ａ…筒状部、２ｂ…基端部、２ｃ…一方の端面、２ｄ…他方の端面、３，４，１３…孔、４ｃ…テーパ部（縮径部）、１０，１０Ａ…電子源、１１…第一部材（柱状部）、１１ａ…突出部、１１ｃ…角部、１２…第二部材、２０…エミッター

Claims (6)

  1. （Ａ）電子放出特性を有する第一材料で構成されている柱状部をそれぞれ備える複数の第一部材を準備する工程と、
    （Ｂ）前記第一材料よりも大きい仕事関数をそれぞれ有するとともに、一方の端面から他方の端面の方向に延びている孔がそれぞれ形成されている複数の第二部材を準備する工程と、
    （Ｃ）複数の前記第一部材から一つの前記第一部材を選択するとともに、複数の前記第二部材から一つの前記第二部材を選択する工程と、
    （Ｄ）選択された前記第二部材の前記孔に対し、選択された前記第一部材の前記柱状部を押し込む工程と、
    を含み、
    　前記複数の第一部材の前記柱状部は略四角形の断面形状をそれぞれ有し、
    　前記複数の第二部材の前記孔は、略円形の断面形状をそれぞれ有し、
    　（Ｃ）工程において、複数の前記第一部材及び複数の前記第二部材から、以下の条件を満たす一組の第一部材及び第二部材を選択し、
    　（Ｄ）工程において、当該第二部材の前記孔に対して当該柱状部を押し込むことによって、当該柱状部の側面の一部が当該第二部材の前記孔の内面に当接した状態となって当該柱状部が当該第二部材に対して固定される、電子源の製造方法。
    ＜条件＞
    　Ｌ１／Ｒ１＞１…（１）
    　不等式（１）において、Ｌ１は前記略四角形の二本の対角線のうち長い方の対角線の長さを示し、Ｒ１は前記孔の直径を示す。
  2. （Ａ）電子放出特性を有する第一材料で構成されている柱状部をそれぞれ備える複数の第一部材を準備する工程と、
    （Ｂ）前記第一材料よりも大きい仕事関数をそれぞれ有するとともに、一方の端面から他方の端面の方向に延びている孔がそれぞれ形成されている複数の第二部材を準備する工程と、
    （Ｃ）複数の前記第一部材から一つの前記第一部材を選択するとともに、複数の前記第二部材から一つの前記第二部材を選択する工程と、
    （Ｄ）選択された前記第二部材の前記孔に対し、選択された前記第一部材の前記柱状部を押し込む工程と、
    を含み、
    　前記複数の第一部材の前記柱状部は略三角形の断面形状をそれぞれ有し、
    　前記複数の第二部材の前記孔は、略円形の断面形状をそれぞれ有し、
    　（Ｃ）工程において、複数の前記第一部材及び複数の前記第二部材から、以下の条件を満たす一組の第一部材及び第二部材を選択し、
    　（Ｄ）工程において、当該第二部材の前記孔に対して当該柱状部を押し込むことによって、当該柱状部の側面の一部が当該第二部材の前記孔の内面に当接した状態となって当該柱状部が当該第二部材に対して固定される、電子源の製造方法。
    ＜条件＞
    　前記略三角形の外接円の直径Ｒ２が前記孔の直径Ｒ１よりも大きく且つ前記孔の直径Ｒ１と同じ直径の円の中に前記略三角形を配置したとき、前記略三角形の少なくとも二つの角が当該円に接する。
  3. 　電子放出特性を有する第一材料で構成されている柱状部と、
    　前記柱状部を囲うように配置されており、前記第一材料よりも仕事関数が大きい第二材料で構成されている筒状部と、
    を備える電子源であって、
    　前記筒状部は、一方の端面から他方の端面の方向に延びており且つ略円形の断面形状を有する孔が形成されており、
    　前記柱状部は、略三角形又は略四角形の断面形状を有し、前記孔の内面に当接した状態で前記筒状部に固定されている、電子源。
  4. 　請求項３に記載の電子源を備えるエミッター。
  5. 　請求項１又は２に記載の電子源の製造方法により製造された電子源を備えるエミッター。
  6. 　請求項４又は５に記載のエミッターを備える装置。
PCT/JP2021/015465 2020-04-21 2021-04-14 電子源及びその製造方法、並びにエミッター及びこれを備える装置 WO2021215330A1 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202180025621.3A CN115428115A (zh) 2020-04-21 2021-04-14 电子源及其制造方法、以及发射器及具备该发射器的装置
JP2022516997A JPWO2021215330A1 (ja) 2020-04-21 2021-04-14
KR1020227032107A KR20230004451A (ko) 2020-04-21 2021-04-14 전자원 및 그 제조 방법, 및 이미터 및 이를 구비한 장치
EP21793004.9A EP4131327A4 (en) 2020-04-21 2021-04-14 ELECTRON SOURCE, METHOD FOR THE MANUFACTURE, TRANSMITTER, AND DEVICE COMPRISING THEM
US17/996,469 US11915921B2 (en) 2020-04-21 2021-04-14 Electron source, method for manufacturing same, emitter, and device including same

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2020-075321 2020-04-21
JP2020075321 2020-04-21

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2021215330A1 true WO2021215330A1 (ja) 2021-10-28

Family

ID=78269283

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2021/015465 WO2021215330A1 (ja) 2020-04-21 2021-04-14 電子源及びその製造方法、並びにエミッター及びこれを備える装置

Country Status (7)

Country Link
US (1) US11915921B2 (ja)
EP (1) EP4131327A4 (ja)
JP (1) JPWO2021215330A1 (ja)
KR (1) KR20230004451A (ja)
CN (1) CN115428115A (ja)
TW (1) TW202211284A (ja)
WO (1) WO2021215330A1 (ja)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6332846A (ja) * 1986-07-25 1988-02-12 Tadao Suganuma 電子銃
JP2012069364A (ja) 2010-09-23 2012-04-05 Nuflare Technology Inc 電子銃および電子銃を用いた電子ビーム描画装置
JP5525104B2 (ja) 2011-02-25 2014-06-18 株式会社Ｐａｒａｍ 電子銃および電子ビーム装置

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5525104B2 (ja) 1973-04-12 1980-07-03
JPS57196443A (en) * 1981-05-29 1982-12-02 Denki Kagaku Kogyo Kk Manufacture of hot cathode
JP4981049B2 (ja) * 2006-07-31 2012-07-18 トヨタ自動車株式会社 組部材と組部材の製造方法
JP6002989B2 (ja) * 2012-05-24 2016-10-05 株式会社Ｐａｒａｍ 電子銃
JP5794598B2 (ja) * 2012-07-03 2015-10-14 国立研究開発法人物質・材料研究機構 六ホウ化金属冷電界エミッター、その製造方法及び電子銃
JP6938498B2 (ja) * 2016-07-19 2021-09-22 デンカ株式会社 電子源およびその製造方法
JP6636472B2 (ja) * 2017-02-28 2020-01-29 株式会社日立ハイテクノロジーズ 電子源およびそれを用いた電子線装置
KR102425178B1 (ko) * 2019-07-23 2022-07-27 가부시키가이샤 파람 전자총장치

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6332846A (ja) * 1986-07-25 1988-02-12 Tadao Suganuma 電子銃
JP2012069364A (ja) 2010-09-23 2012-04-05 Nuflare Technology Inc 電子銃および電子銃を用いた電子ビーム描画装置
JP5525104B2 (ja) 2011-02-25 2014-06-18 株式会社Ｐａｒａｍ 電子銃および電子ビーム装置

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
See also references of EP4131327A4

Also Published As

Publication number Publication date
TW202211284A (zh) 2022-03-16
US20230215679A1 (en) 2023-07-06
EP4131327A4 (en) 2023-07-05
EP4131327A1 (en) 2023-02-08
KR20230004451A (ko) 2023-01-06
US11915921B2 (en) 2024-02-27
CN115428115A (zh) 2022-12-02
JPWO2021215330A1 (ja) 2021-10-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9165737B2 (en) High-brightness, long life thermionic cathode and methods of its fabrication
EP1564774B1 (en) High brightness thermionic cathode
CN109478484B (zh) 电子源及其制造方法
US6903499B2 (en) Electron gun and a method for using the same
EP1858047B1 (en) Electron source manufacturing method
WO2021215330A1 (ja) 電子源及びその製造方法、並びにエミッター及びこれを備える装置
WO2021215335A1 (ja) 電子源及びその製造方法、並びにエミッター及びこれを備える装置
US10593505B1 (en) Low temperature, high-brightness, cathode
JPS6315693B2 (ja)
JPH1074446A (ja) 電子放射陰極
WO2008001805A1 (fr) Cathode de rayonnement d'électrons en diamant, source d'électrons, microscope électronique et dispositif d'exposition de faisceau électronique
WO2023013282A1 (ja) 電子源及びその製造方法、並びに電子源を備える装置
WO2022039042A1 (ja) エミッター及びこれを備える装置
US10553388B1 (en) High-brightness lanthanum hexaboride cathode and method for manufacturing of cathode
US11848169B1 (en) Field-emission type electron source and charged particle beam device using the same
WO2023189842A1 (ja) エミッター及びこれを備える装置
JP2024062621A (ja) 電子源及びその製造方法
US20240079198A1 (en) Emitter, electron gun in which same is used, electronic device in which same is used, and method for manufacturing same
JP2010272504A (ja) 炭素系材料からなる電子源及びその製造方法
JPH08250782A (ja) 含浸型陰極構体
KR20000041549A (ko) 전계방출 표시소자 및 그 제조방법

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 21793004

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 2022516997

Country of ref document: JP

Kind code of ref document: A

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 2021793004

Country of ref document: EP

Effective date: 20221027

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE