WO2021095720A1

WO2021095720A1 - サーボライタおよびカートリッジ

Info

Publication number: WO2021095720A1
Application number: PCT/JP2020/041893
Authority: WO
Inventors: 博司森田
Original assignee: ソニー株式会社
Priority date: 2019-11-12
Filing date: 2020-11-10
Publication date: 2021-05-20
Also published as: US20220406335A1; JPWO2021095720A1

Abstract

サーボライタは、カートリッジからテープ状の磁気記録媒体を送り出し、送り出された磁気記録媒体を巻き取ることにより、磁気記録媒体を走行させる走行部と、走行する磁気記録媒体に形成されている第１のサーボパターンを消去する消去部と、第１のサーボパターンが消去された、走行する磁気記録媒体にサーボ信号を書き込み、第２のサーボパターンを形成するヘッドと、磁気記録媒体の加速走行期間および減速走行期間の少なくとも一方の期間において、サーボ信号の書き込みを行うようにヘッドを制御し、規格を満たさない第２のサーボパターンを磁気記録媒体に形成する制御部とを備える。

Description

サーボライタおよびカートリッジ

　本開示は、サーボライタおよびカートリッジに関する。

　近年、コンピュータ用データストレージとして利用されているテープ状の磁気記録媒体では、データの記録密度を向上するために、データトラックの幅および隣接するデータトラック間の距離が狭くなっている。このようにデータトラックの幅および隣接するデータトラック間の距離が狭くなると、磁気ヘッドの記録／再生素子によりデータトラックをトレースすることが困難になる。

　このため、磁気記録媒体にサーボ信号を予め書き込んでおき、このサーボ信号を磁気ヘッドで読み取ることにより、磁気記録媒体の幅方向における磁気ヘッドの記録／再生素子の位置をサーボ制御する技術が提案されている（例えば特許文献１参照）。

特開２００６―１２７７３０号公報

　サーボ信号が書き込まれた磁気記録媒体は、カートジッリケースに収容され、磁気記録媒体の品質検査が行われたのち、製品として出荷される。従来、上述の品質検査の段階でサーボ信号の品質が悪いことが判明した場合には、そのカートリッジは破棄されていた。このため、破棄されるカートリッジの数が多いと、カートリッジの生産性が低下する虞があった。

　本開示の目的は、破棄されるカートリッジの数を低減することができるサーボライタおよびそれを用いてサーボ信号が記録されたカートリッジを提供することにある。

　上述の課題を解決するために、第１の開示は、
　カートリッジからテープ状の磁気記録媒体を送り出し、送り出された磁気記録媒体を巻き取ることにより、磁気記録媒体を走行させる走行部と、
　走行する磁気記録媒体に形成されている第１のサーボパターンを消去する消去部と、
　第１のサーボパターンが消去された、走行する磁気記録媒体にサーボ信号を書き込み、第２のサーボパターンを形成するヘッドと、
　磁気記録媒体の加速走行期間および減速走行期間の少なくとも一方の期間において、サーボ信号の書き込みを行うようにヘッドを制御し、規格を満たさない第２のサーボパターンを磁気記録媒体に形成する制御部と
　を備えるサーボライタである。

　第２の開示は、
　カートリッジからテープ状の磁気記録媒体を送り出し、送り出された磁気記録媒体を巻き取ることにより、磁気記録媒体を走行させる走行部と、
　走行する磁気記録媒体に形成されている第１のサーボパターンを消去する消去部と、
　第１のサーボパターンが消去された、走行する磁気記録媒体にサーボ信号を書き込み、第２のサーボパターンを形成するヘッドと、
　磁気記録媒体の加速走行期間および減速走行期間の少なくとも一方の期間において、サーボ信号の書き込みを行わないようにヘッドを制御する制御部と
　を備えるサーボライタである。

　第３の開示は、
　巻回されたテープ状の磁気記録媒体と、
　磁気記録媒体を収容するケースと
　を備え、
　磁気記録媒体は、不使用領域を有し、
　不使用領域には、規格を満たさないサーボパターンが形成されているか、またはサーボパターンが形成されていないカートリッジである。

図１は、カートリッジの構成の一例を示す分解斜視図である。図２は、磁気テープの構成の一例を示す断面図である。図３は、データバンドおよびサーボバンドのレイアウトの一例を示す概略図である。図４は、データバンドの構成の一例を示す拡大図である。図５は、サーボバンドの構成の一例を示す拡大図である。図６は、磁気テープのフォーマットの一例を示す概略図である。図７Ａは、規格を満たさないサーボパターンの第１の例を示す概略図である。図７Ｂは、規格を満たさないサーボパターンの第２の例を示す概略図である。図７Ｃは、規格を満たすサーボパターンの一例を示す概略図である。図８は、カートリッジ用のサーボライタの構成の一例を示す概略図である。図９は、サーボ信号記録システムの構成の一例を示す概略図である。図１０は、パンケーキ用のサーボライタの構成の一例を示す概略図である。図１１は、ワインダーの構成の一例を示す概略図である。

　本開示の実施形態について図面を参照しながら以下の順序で説明する。なお、以下の実施形態の全図においては、同一または対応する部分には同一の符号を付す。
　１　カートリッジの構成
　２　磁気テープの構成
　３　磁気テープのフォーマット
　４　カートリッジ用のサーボライタの構成
　５　カートリッジ用のサーボライタの動作
　６　サーボ信号記録システムの構成
　７　サーボ信号記録システムの動作
　８　効果
　９　変形例

［１　カートリッジの構成］
　図１は、カートリッジ１０の構成の一例を示す分解斜視図である。カートリッジ１０は、ＬＴＯ（Linear Tape-Open）規格に準拠した磁気テープカートリッジであり、下シェル１２Ａと上シェル１２Ｂとで構成されるカートリッジケース１２の内部に、磁気テープ（テープ状の磁気記録媒体）ＭＴが巻かれたリール１３と、リール１３の回転をロックするためのリールロック１４およびリールスプリング１５と、リール１３のロック状態を解除するためのスパイダ１６と、下シェル１２Ａと上シェル１２Ｂに跨ってカートリッジケース１２に設けられたテープ引出口１２Ｃを開閉するスライドドア１７と、スライドドア１７をテープ引出口１２Ｃの閉位置に付勢するドアスプリング１８と、誤消去を防止するためのライトプロテクト１９と、カートリッジメモリ１１とを備える。リール１３は、中心部に開口を有する略円盤状であって、プラスチック等の硬質の材料からなるリールハブ１３Ａとフランジ１３Ｂとにより構成される。磁気テープＭＴの一端部には、リーダーピン２０が設けられている。

　カートリッジメモリ１１は、カートリッジ１０の１つの角部の近傍に設けられている。カートリッジ１０が記録再生装置にロードされた状態において、カートリッジメモリ１１は、記録再生装置のリーダライタと対向するようになっている。カートリッジメモリ１１は、ＬＴＯ規格に準拠した無線通信規格で記録再生装置、具体的には記録再生装置のリーダライタと通信を行う。

［２　磁気テープの構成］
　図２は、磁気テープＭＴの構成の一例を示す断面図である。磁気テープＭＴは、テープ状の磁気記録媒体であり、長尺状の基体４１と、基体４１の一方の主面（第１の主面）上に設けられた下地層４２と、下地層４２上に設けられた磁性層４３と、基体４１の他方の主面（第２の主面）上に設けられたバック層４４とを備える。なお、下地層４２およびバック層４４は、必要に応じて備えられるものであり、無くてもよい。磁気テープＭＴは、垂直記録型の磁気記録媒体であってもよいし、長手記録型の磁気記録媒体であってもよい。

　磁気テープＭＴは、記録用ヘッドとしてリング型ヘッドを備える記録再生装置で用いられることが好ましい。磁気テープＭＴは、走行時に磁気テープＭＴの長手方向のテンションを記録再生装置により調整することで、磁気テープＭＴの幅を一定またはほぼ一定に保つことが可能に構成されていることが好ましい。

（基体）
　基体４１は、下地層４２および磁性層４３を支持する非磁性支持体である。基体４１は、長尺のフィルム状を有する。基体４１の平均厚みの上限値は、好ましくは４．２μｍ以下、より好ましくは３．８μｍ以下、さらにより好ましくは３．４μｍ以下である。基体４１の平均厚みの上限値が４．２μｍ以下であると、１データカートリッジ内に記録できる記録容量を一般的な磁気テープよりも高めることができる。基体４１の平均厚みの下限値は、好ましくは３μｍ以上、より好ましくは３．２μｍ以上である。基体４１の平均厚みの下限値が３μｍ以上であると、基体４１の強度低下を抑制することができる。

　基体４１の平均厚みは以下のようにして求められる。まず、１／２インチ幅の磁気テープＭＴを準備し、それを２５０ｍｍの長さに切り出し、サンプルを作製する。続いて、サンプルの基体４１以外の層（すなわち下地層４２、磁性層４３およびバック層４４）をＭＥＫ（メチルエチルケトン）または希塩酸等の溶剤で除去する。次に、測定装置としてMitutoyo社製レーザーホロゲージ（LGH-110C）を用いて、サンプル（基体４１）の厚みを５点以上の位置で測定し、それらの測定値を単純に平均（算術平均）して、基体４１の平均厚みを算出する。なお、測定位置は、サンプルから無作為に選ばれるものとする。

　基体４１は、ポリエステルを含むことが好ましい。基体４１がポリエステルを含むことで、基体４１の長手方向のヤング率を低減することができる。したがって、走行時における磁気テープＭＴの長手方向のテンションを記録再生装置（ドライブ）により調整することで、磁気テープＭＴの幅を一定またはほぼ一定に保つことができる。

　ポリエステルは、例えば、ポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）、ポリエチレンナフタレート（ＰＥＮ）、ポリブチレンテレフタレート（ＰＢＴ）、ポリブチレンナフタレート（ＰＢＮ）、ポリシクロヘキシレンジメチレンテレフタレート（ＰＣＴ）、ポリエチレン－ｐ－オキシベンゾエート（ＰＥＢ）およびポリエチレンビスフェノキシカルボキシレートのうちの少なくとも１種を含む。基体４１が２種以上のポリエステルを含む場合、それらの２種以上のポリエステルは混合されていてもよいし、共重合されていてもよいし、積層されていてもよい。ポリエステルの末端および側鎖の少なくとも一方が変性されていてもよい。

　基体４１にポリエステルが含まれていることは、例えば、次のようにして確認される。まず、基体４１の平均厚みの測定方法と同様にして、サンプルの基体４１以外の層を除去する。次に、赤外吸収分光法（Infrared Absorption Spectrometry：ＩＲ）によりサンプル（基体４１）のＩＲスペクトルを取得する。このＩＲスペクトルに基づき、基体４１にポリエステルが含まれていることを確認することができる。

　基体４１は、ポリエステル以外に、例えば、ポリアミド、ポリイミドおよびポリアミドイミドのうちの少なくとも１種をさらに含んでいてもよいし、ポリアミド、ポリイミド、ポリアミドイミド、ポリオレフィン類、セルロース誘導体、ビニル系樹脂、およびその他の高分子樹脂のうちの少なくとも１種をさらに含んでいてもよい。ポリアミドは、芳香族ポリアミド（アラミド）であってもよい。ポリイミドは、芳香族ポリイミドであってもよい。ポリアミドイミドは、芳香族ポリアミドイミドであってもよい。

　基体４１が、ポリエステル以外の高分子樹脂を含む場合、基体４１はポリエステルを主成分とすることが好ましい。ここで、主成分とは、基体４１に含まれる高分子樹脂のうち、最も含有量（質量比率）が多い成分を意味する。基体４１がポリエステル以外の高分子樹脂を含む場合、ポリエステルと、ポリエステル以外の高分子樹脂は、混合されていてもよいし、共重合されていてもよい。

　基体４１は、長手方向および幅方向に二軸延伸されていてもよい。基体４１に含まれる高分子樹脂は、基体４１の幅方向に対して斜め方向に配向されていることが好ましい。

（磁性層）
　磁性層４３は、信号を磁化パターンにより記録するための記録層である。磁性層４３は、垂直記録型の記録層であってもよいし、長手記録型の記録層であってもよい。磁性層４３は、例えば、磁性粉および結着剤を含む。磁性層４３が、必要に応じて、潤滑剤、帯電防止剤、研磨剤、硬化剤、防錆剤および非磁性補強粒子等のうちの少なくとも１種の添加剤をさらに含んでいてもよい。

　磁性層４３の平均厚みｔ_ｍの上限値は、８０ｎｍ以下、好ましくは７０ｎｍ以下、より好ましくは５０ｎｍ以下である。磁性層４３の平均厚みｔ_ｍの上限値が８０ｎｍ以下であると、記録ヘッドとしてはリング型ヘッドを用いた場合に、反磁界の影響を軽減できるため、さらに優れた電磁変換特性を得ることができる。

　磁性層４３の平均厚みｔ_ｍの下限値は、好ましくは３５ｎｍ以上である。磁性層４３の平均厚みｔ_ｍの下限値が３５ｎｍ以上であると、再生ヘッドとしては磁気抵抗（ＭＲ）型ヘッド、巨大磁気抵抗（ＧＭＲ）型ヘッドまたはトンネル磁気抵抗（ＴＭＲ）型ヘッドを用いた場合に、出力を確保できるため、さらに優れた電磁変換特性を得ることができる。

　磁性層４３の平均厚みｔ_ｍは、以下のようにして求められる。まず、測定対象となる磁気テープＭＴをＦＩＢ法等により加工して薄片化を行う。ＦＩＢ法を使用する場合には、後述の断面のＴＥＭ像を観察する前処理として、保護膜としてカーボン層およびタングステン層を形成する。当該カーボン層は蒸着法により磁気テープＭＴの磁性層４３側の表面およびバック層４４側の表面に形成され、そして、当該タングステン層は蒸着法またはスパッタリング法により磁性層４３側の表面にさらに形成される。当該薄片化は磁気テープＭＴの長さ方向（長手方向）に沿って行われる。すなわち、当該薄片化によって、磁気テープＭＴの長手方向および厚み方向の両方に平行な断面が形成される。

　得られた薄片化サンプルの上記断面を、透過型電子顕微鏡（Transmission Electron Microscope：ＴＥＭ）により、下記の条件で観察し、ＴＥＭ像を得る。なお、装置の種類に応じて、倍率および加速電圧は適宜調整されてよい。
装置：ＴＥＭ（日立製作所製Ｈ９０００ＮＡＲ）
加速電圧：３００ｋＶ
倍率：１００，０００倍

　次に、得られたＴＥＭ像を用い、磁気テープＭＴの長手方向の少なくとも１０点以上の位置で磁性層４３の厚みを測定する。得られた測定値を単純に平均（算術平均）して得られた平均値を磁性層４３の平均厚みｔ_ｍ［ｎｍ］とする。なお、上記測定が行われる位置は、試験片から無作為に選ばれるものとする。

（磁性粉）
　磁性粉は、複数の磁性粒子を含む。磁性粒子は、例えば、六方晶フェライトを含む粒子（以下「六方晶フェライト粒子」という。）、イプシロン型酸化鉄（ε酸化鉄）を含む粒子（以下「ε酸化鉄粒子」という。）またはＣｏ含有スピネルフェライトを含む粒子（以下「コバルトフェライト粒子」という。）である。磁性粉は、磁気テープＭＴの厚み方向（垂直方向）に優先的に結晶配向していることが好ましい。

（六方晶フェライト粒子）
　六方晶フェライト粒子は、例えば、六角板状等の板状を有する。本明細書において、六角坂状は、ほぼ六角坂状を含むものとする。六方晶フェライトは、好ましくはＢａ、Ｓｒ、ＰｂおよびＣａのうちの少なくとも１種、より好ましくはＢａおよびＳｒのうちの少なくとも１種を含む。六方晶フェライトは、具体的には例えばバリウムフェライトまたはストロンチウムフェライトであってもよい。バリウムフェライトは、Ｂａ以外にＳｒ、ＰｂおよびＣａのうちの少なくとも１種をさらに含んでいてもよい。ストロンチウムフェライトは、Ｓｒ以外にＢａ、ＰｂおよびＣａのうちの少なくとも１種をさらに含んでいてもよい。

　より具体的には、六方晶フェライトは、一般式ＭＦｅ_１２Ｏ_１９で表される平均組成を有する。但し、Ｍは、例えばＢａ、Ｓｒ、ＰｂおよびＣａのうちの少なくとも１種の金属、好ましくはＢａおよびＳｒのうちの少なくとも１種の金属である。Ｍが、Ｂａと、Ｓｒ、ＰｂおよびＣａからなる群より選ばれる１種以上の金属との組み合わせであってもよい。また、Ｍが、Ｓｒと、Ｂａ、ＰｂおよびＣａからなる群より選ばれる１種以上の金属との組み合わせであってもよい。上記一般式においてＦｅの一部が他の金属元素で置換されていてもよい。

（ε酸化鉄粒子）
　ε酸化鉄粒子は、微粒子でも高保磁力を得ることができる硬磁性粒子である。ε酸化鉄粒子は、球状を有しているか、または立方体状を有している。本明細書において、球状は、ほぼ球状を含むものとする。また、立方体状には、ほぼ立方体状を含むものとする。ε酸化鉄粒子が上記のような形状を有しているため、磁性粒子としてε酸化鉄粒子を用いた場合、磁性粒子として六角板状のバリウムフェライト粒子を用いた場合に比べて、磁気テープＭＴの厚み方向における粒子同士の接触面積を低減し、粒子同士の凝集を抑制することができる。したがって、磁性粉の分散性を高め、さらに優れた電磁変換特性（例えばＳＮＲ）を得ることができる。

　ε酸化鉄粒子は、コアシェル型構造を有する。具体的には、ε酸化鉄粒子は、コア部と、このコア部の周囲に設けられた２層構造のシェル部とを備える。２層構造のシェル部は、コア部上に設けられた第１シェル部と、第１シェル部上に設けられた第２シェル部とを備える。

　コア部は、ε酸化鉄を含む。コア部に含まれるε酸化鉄は、ε－Ｆｅ_２Ｏ_３結晶を主相とするものが好ましく、単相のε－Ｆｅ_２Ｏ_３からなるものがより好ましい。

　第１シェル部は、コア部の周囲のうちの少なくとも一部を覆っている。具体的には、第１シェル部は、コア部の周囲を部分的に覆っていてもよいし、コア部の周囲全体を覆っていてもよい。コア部と第１シェル部の交換結合を十分なものとし、磁気特性を向上する観点からすると、コア部の表面全体を覆っていることが好ましい。

　第１シェル部は、いわゆる軟磁性層であり、例えば、α－Ｆｅ、Ｎｉ－Ｆｅ合金またはＦｅ－Ｓｉ－Ａｌ合金等の軟磁性体を含む。α－Ｆｅは、コア部に含まれるε酸化鉄を還元することにより得られるものであってもよい。

　第２シェル部は、酸化防止層としての酸化被膜である。第２シェル部は、α酸化鉄、酸化アルミニウムまたは酸化ケイ素を含む。α酸化鉄は、例えばＦｅ_３Ｏ_４、Ｆｅ_２Ｏ_３およびＦｅＯのうちの少なくとも１種の酸化鉄を含む。第１シェル部がα－Ｆｅ（軟磁性体）を含む場合には、α酸化鉄は、第１シェル部に含まれるα－Ｆｅを酸化することにより得られるものであってもよい。

　ε酸化鉄粒子が、上述のように第１シェル部を有することで、熱安定性を確保するためにコア部単体の保磁力Ｈｃを大きな値に保ちつつ、ε酸化鉄粒子（コアシェル粒子）全体としての保磁力Ｈｃを記録に適した保磁力Ｈｃに調整できる。また、ε酸化鉄粒子が、上述のように第２シェル部を有することで、磁気テープＭＴの製造工程およびその工程前において、ε酸化鉄粒子が空気中に暴露されて、粒子表面に錆び等が発生することにより、ε酸化鉄粒子の特性が低下することを抑制することができる。したがって、磁気テープＭＴの特性劣化を抑制することができる。

　ε酸化鉄粒子が単層構造のシェル部を有していてもよい。この場合、シェル部は、第１シェル部と同様の構成を有する。但し、ε酸化鉄粒子の特性劣化を抑制する観点からすると、上述したように、ε酸化鉄粒子が２層構造のシェル部を有していることが好ましい。

　ε酸化鉄粒子が、上記コアシェル構造に代えて添加剤を含んでいてもよいし、コアシェル構造を有すると共に添加剤を含んでいてもよい。この場合、ε酸化鉄粒子のＦｅの一部が添加剤で置換される。ε酸化鉄粒子が添加剤を含むことによっても、ε酸化鉄粒子全体としての保磁力Ｈｃを記録に適した保磁力Ｈｃに調整できるため、記録容易性を向上することができる。添加剤は、鉄以外の金属元素、好ましくは３価の金属元素、より好ましくはＡｌ、ＧａおよびＩｎのうちの少なくとも１種、さらにより好ましくはＡｌおよびＧａのうちの少なくとも１種である。

　具体的には、添加剤を含むε酸化鉄は、ε－Ｆｅ_２－ｘＭ_ｘＯ_３結晶（但し、Ｍは鉄以外の金属元素、好ましくは３価の金属元素、より好ましくはＡｌ、ＧａおよびＩｎのうちの少なくとも１種、さらにより好ましくはＡｌおよびＧａのうちの少なくとも１種である。ｘは、例えば０＜ｘ＜１である。）である。

（コバルトフェライト粒子）
　コバルトフェライト粒子は、一軸結晶異方性を有することが好ましい。コバルトフェライト粒子が一軸結晶異方性を有することで、磁性粉を磁気テープＭＴの厚み方向（垂直方向）に優先的に結晶配向させることができる。コバルトフェライト粒子は、例えば、立方体状を有している。本明細書において、立方体状は、ほぼ立方体状を含むものとする。Ｃｏ含有スピネルフェライトが、Ｃｏ以外にＮｉ、Ｍｎ、Ａｌ、ＣｕおよびＺｎのうちの少なくとも１種をさらに含んでいてもよい。

　Ｃｏ含有スピネルフェライトは、例えば以下の式で表される平均組成を有する。
　Ｃｏ_ｘＭ_ｙＦｅ_２Ｏ_Ｚ
（但し、式中、Ｍは、例えば、Ｎｉ、Ｍｎ、Ａｌ、ＣｕおよびＺｎのうちの少なくとも１種の金属である。ｘは、０．４≦ｘ≦１．０の範囲内の値である。ｙは、０≦ｙ≦０．３の範囲内の値である。但し、ｘ、ｙは（ｘ＋ｙ）≦１．０の関係を満たす。ｚは３≦ｚ≦４の範囲内の値である。Ｆｅの一部が他の金属元素で置換されていてもよい。）

（結着剤）
　結着剤としては、例えば、熱可塑性樹脂、熱硬化性樹脂、反応型樹脂等が挙げられる。熱可塑性樹脂としては、例えば、塩化ビニル、酢酸ビニル、塩化ビニル－酢酸ビニル共重合体、塩化ビニル－塩化ビニリデン共重合体、塩化ビニル－アクリロニトリル共重合体、アクリル酸エステル－アクリロニトリル共重合体、アクリル酸エステル－塩化ビニル－塩化ビニリデン共重合体、アクリル酸エステル－アクリロニトリル共重合体、アクリル酸エステル－塩化ビニリデン共重合体、メタクリル酸エステル－塩化ビニリデン共重合体、メタクリル酸エステル－塩化ビニル共重合体、メタクリル酸エステル－エチレン共重合体、ポリフッ化ビニル、塩化ビニリデン－アクリロニトリル共重合体、アクリロニトリル－ブタジエン共重合体、ポリアミド樹脂、ポリビニルブチラール、セルロース誘導体（セルロースアセテートブチレート、セルロースダイアセテート、セルローストリアセテート、セルロースプロピオネート、ニトロセルロース）、スチレンブタジエン共重合体、ポリウレタン樹脂、ポリエステル樹脂、アミノ樹脂、合成ゴム等が挙げられる。

　熱硬化性樹脂としては、例えば、フェノール樹脂、エポキシ樹脂、ポリウレタン硬化型樹脂、尿素樹脂、メラミン樹脂、アルキッド樹脂、シリコーン樹脂、ポリアミン樹脂、尿素ホルムアルデヒド樹脂等が挙げられる。

　上記の全ての結着剤には、磁性粉の分散性を向上させる目的で、－ＳＯ_３Ｍ、－ＯＳＯ_３Ｍ、－ＣＯＯＭ、Ｐ＝Ｏ（ＯＭ）_２（但し、式中Ｍは水素原子またはリチウム、カリウム、ナトリウム等のアルカリ金属を表す）や、－ＮＲ１Ｒ２、－ＮＲ１Ｒ２Ｒ３^＋Ｘ^－で表される末端基を有する側鎖型アミン、＞ＮＲ１Ｒ２^＋Ｘ^－で表される主鎖型アミン（但し、式中Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３は水素原子または炭化水素基を表し、Ｘ^－はフッ素、塩素、臭素、ヨウ素等のハロゲン元素イオン、無機イオンまたは有機イオンを表す。）、さらに－ＯＨ、－ＳＨ、－ＣＮ、エポキシ基等の極性官能基が導入されていてもよい。これら極性官能基の結着剤への導入量は、１０^－１～１０^－８モル／ｇであるのが好ましく、１０^－２～１０^－６モル／ｇであるのがより好ましい。

（潤滑剤）
　潤滑剤は、例えば脂肪酸および脂肪酸エステルから選ばれる少なくとも１種、好ましくは脂肪酸および脂肪酸エステルの両方を含む。磁性層４３が潤滑剤を含むことが、特には磁性層４３が脂肪酸および脂肪酸エステルの両方を含むことが、磁気テープＭＴの走行安定性の向上に貢献する。

　脂肪酸は、好ましくは下記の一般式（１）または（２）により示される化合物であってよい。例えば、脂肪酸として下記の一般式（１）により示される化合物および一般式（２）により示される化合物の一方が含まれていてよく、または両方が含まれていてもよい。

　また、脂肪酸エステルは、好ましくは下記一般式（３）または（４）により示される化合物であってよい。例えば、脂肪酸エステルとして下記の一般式（３）により示される化合物および一般式（４）により示される化合物の一方が含まれていてよく、または両方が含まれていてもよい。

　潤滑剤が、一般式（１）に示される化合物および一般式（２）に示される化合物のいずれか一方若しくは両方と、一般式（３）に示される化合物および一般式（４）に示される化合物のいずれか一方若しくは両方と、を含むことによって、磁気テープＭＴを繰り返しの記録または再生による動摩擦係数の増加を抑制することができる。

　ＣＨ₃（ＣＨ₂）_kＣＯＯＨ　・・・（１）
（但し、一般式（１）において、ｋは１４以上２２以下の範囲、より好ましくは１４以上１８以下の範囲から選ばれる整数である。）

　ＣＨ₃（ＣＨ₂）_nＣＨ＝ＣＨ（ＣＨ₂）_mＣＯＯＨ　・・・（２）
（但し、一般式（２）において、ｎとｍとの和は１２以上２０以下の範囲、より好ましくは１４以上１８以下の範囲から選ばれる整数である。）

　ＣＨ₃（ＣＨ₂）_pＣＯＯ（ＣＨ₂）_qＣＨ₃　・・・（３）
（但し、一般式（３）において、ｐは１４以上２２以下、より好ましくは１４以上１８以下の範囲から選ばれる整数であり、且つ、ｑは２以上５以下の範囲、より好ましくは２以上４以下の範囲から選ばれる整数である。）

　ＣＨ₃（ＣＨ₂）_rＣＯＯ－（ＣＨ₂）_sＣＨ（ＣＨ₃）₂　・・・（４）
（但し、一般式（４）において、ｒは１４以上２２以下の範囲から選ばれる整数であり、ｓは１以上３以下の範囲から選ばれる整数である。）

（帯電防止剤）
　帯電防止剤としては、例えば、カーボンブラック、天然界面活性剤、ノニオン性界面活性剤、カチオン性界面活性剤等が挙げられる。

（研磨剤）
　研磨剤としては、例えば、α化率９０％以上のα－アルミナ、β－アルミナ、γ－アルミナ、炭化ケイ素、酸化クロム、酸化セリウム、α－酸化鉄、コランダム、窒化珪素、チタンカ－バイト、酸化チタン、二酸化珪素、酸化スズ、酸化マグネシウム、酸化タングステン、酸化ジルコニウム、窒化ホウ素、酸化亜鉛、炭酸カルシウム、硫酸カルシウム、硫酸バリウム、２硫化モリブデン、磁性酸化鉄の原料を脱水、アニール処理した針状α酸化鉄、必要によりそれらをアルミおよび／またはシリカで表面処理したもの等が挙げられる。

（硬化剤）
　硬化剤としては、例えば、ポリイソシアネート等が挙げられる。ポリイソシアネートとしては、例えば、トリレンジイソシアネート（ＴＤＩ）と活性水素化合物との付加体等の芳香族ポリイソシアネート、ヘキサメチレンジイソシアネート（ＨＭＤＩ）と活性水素化合物との付加体等の脂肪族ポリイソシアネート等が挙げられる。これらポリイソシアネートの重量平均分子量は、１００～３０００の範囲であることが望ましい。

（防錆剤）
　防錆剤としては、例えばフェノール類、ナフトール類、キノン類、窒素原子を含む複素環化合物、酸素原子を含む複素環化合物、硫黄原子を含む複素環化合物等が挙げられる。

（非磁性補強粒子）
　非磁性補強粒子として、例えば、酸化アルミニウム（α、βまたはγアルミナ）、酸化クロム、酸化珪素、ダイヤモンド、ガーネット、エメリー、窒化ホウ素、チタンカーバイト、炭化珪素、炭化チタン、酸化チタン（ルチル型またはアナターゼ型の酸化チタン）等が挙げられる。

（下地層）
　下地層４２は、基体４１の表面の凹凸を緩和し、磁性層４３の表面の凹凸を調整するためのものである。下地層４２は、非磁性粉、結着剤および潤滑剤を含む非磁性層である。下地層４２は、磁性層４３の表面に潤滑剤を供給する。下地層４２が、必要に応じて、帯電防止剤、硬化剤および防錆剤等のうちの少なくとも１種の添加剤をさらに含んでいてもよい。

　下地層４２の平均厚みは、好ましくは０．３μｍ以上２．０μｍ以下、より好ましくは０．５μｍ以上１．４μｍ以下である。なお、下地層４２の平均厚みは、磁性層４３の平均厚みｔ_ｍと同様にして求められる。但し、ＴＥＭ像の倍率は、下地層４２の厚みに応じて適宜調整される。下地層４２の平均厚みが２．０μｍ以下であると、外力による磁気テープＭＴの伸縮性がさらに高くなるため、テンション調整による磁気テープＭＴの幅の調整がさらに容易となる。

（非磁性粉）
　非磁性粉は、例えば無機粒子粉または有機粒子粉の少なくとも１種を含む。また、非磁性粉は、カーボンブラック等の炭素粉を含んでいてもよい。なお、１種の非磁性粉を単独で用いてもよいし、２種以上の非磁性粉を組み合わせて用いてもよい。無機粒子は、例えば、金属、金属酸化物、金属炭酸塩、金属硫酸塩、金属窒化物、金属炭化物または金属硫化物等を含む。非磁性粉の形状としては、例えば、針状、球状、立方体状、板状等の各種形状が挙げられるが、これらの形状に限定されるものではない。

（結着剤、潤滑剤）
　結着剤および潤滑剤は、上述の磁性層４３と同様である。

（添加剤）
　帯電防止剤、硬化剤および防錆剤はそれぞれ、上述の磁性層４３と同様である。

（バック層）
　バック層４４は、結着剤および非磁性粉を含む。バック層４４が、必要に応じて潤滑剤、硬化剤および帯電防止剤等のうちの少なくとも１種の添加剤をさらに含んでいてもよい。結着剤および非磁性粉は、上述の下地層４２と同様である。

　バック層４４の平均厚みの上限値は、好ましくは０．６μｍ以下である。バック層４４の平均厚みの上限値が０．６μｍ以下であると、磁気テープＭＴの平均厚みが５．６μｍ以下である場合でも、下地層４２や基体４１の厚みを厚く保つことができるので、磁気テープＭＴの記録再生装置内での走行安定性を保つことができる。バック層４４の平均厚みの下限値は特に限定されるものではないが、例えば０．２μｍ以上である。

　バック層４４の平均厚みｔ_ｂは以下のようにして求められる。まず、磁気テープＭＴの平均厚みｔ_Ｔを測定する。平均厚みｔ_Ｔの測定方法は、以下の「磁気テープの平均厚み」に記載されている通りである。続いて、サンプルのバック層４４をＭＥＫ（メチルエチルケトン）または希塩酸等の溶剤で除去する。次に、Mitutoyo社製レーザーホロゲージ（LGH-110C）を用いて、サンプルの厚みを５点以上の位置で測定し、それらの測定値を単純に平均（算術平均）して、平均値ｔ_Ｂ［μｍ］を算出する。その後、以下の式よりバック層４４の平均厚みｔ_ｂ［μｍ］を求める。なお、測定位置は、サンプルから無作為に選ばれるものとする。
　ｔ_ｂ［μｍ］＝ｔ_Ｔ［μｍ］－ｔ_Ｂ［μｍ］

（磁気テープの平均厚み）
　磁気テープＭＴの平均厚み（平均全厚）ｔ_Ｔの上限値が、５．６μｍ以下、好ましくは５．０μｍ以下、より好ましくは４．６μｍ以下、さらにより好ましくは４．４μｍ以下である。磁気テープＭＴの平均厚みｔ_Ｔが５．６μｍ以下であると、１データカートリッジ内に記録できる記録容量を一般的な磁気テープよりも高めることができる。磁気テープＭＴの平均厚みｔ_Ｔの下限値は特に限定されるものではないが、例えば３．５μｍ以上である。

　磁気テープＭＴの平均厚みｔ_Ｔは以下のようにして求められる。まず、１／２インチ幅の磁気テープＭＴを準備し、それを２５０ｍｍの長さに切り出し、サンプルを作製する。次に、測定装置としてMitutoyo社製レーザーホロゲージ（LGH-110C）を用いて、サンプルの厚みを５点以上の位置で測定し、それらの測定値を単純に平均（算術平均）して、平均厚みｔ_Ｔ［μｍ］を算出する。なお、測定位置は、サンプルから無作為に選ばれるものとする。

（保磁力）
　磁気テープＭＴの長手方向における磁性層４３の保磁力Ｈｃ２の上限値が、好ましくは２０００Ｏｅ以下、より好ましくは１９００Ｏｅ以下、さらにより好ましくは１８００Ｏｅ以下である。長手方向における磁性層４３の保磁力Ｈｃ２が２０００Ｏｅ以下であると、高記録密度であっても十分な電磁変換特性を有することができる。

　磁気テープＭＴの長手方向に測定した磁性層４３の保磁力Ｈｃ２の下限値が、好ましくは１０００Ｏｅ以上である。長手方向に測定した磁性層４３の保磁力Ｈｃ２が１０００Ｏｅ以上であると、記録ヘッドからの漏れ磁束による減磁を抑制することができる。

　上記の保磁力Ｈｃ２は以下のようにして求められる。まず、磁気テープＭＴが両面テープで３枚重ね合わされた後、φ６．３９ｍｍのパンチで打ち抜かれて、測定サンプルが作製される。この際に、磁気テープＭＴの長手方向（走行方向）が認識できるように、磁性を持たない任意のインクでマーキングを行う。そして、振動試料型磁力計（Vibrating Sample Magnetometer：ＶＳＭ）を用いて磁気テープＭＴの長手方向（走行方向）に対応する測定サンプル（磁気テープＭＴ全体）のＭ－Ｈループが測定される。次に、アセトンまたはエタノール等が用いられて塗膜（下地層４２、磁性層４３およびバック層４４等）が払拭され、基体４１のみが残される。そして、得られた基体４１が両面テープで３枚重ね合わされた後、φ６．３９ｍｍのパンチで打ち抜かれて、バックグラウンド補正用のサンプル（以下、単に「補正用サンプル」）が作製される。その後、ＶＳＭを用いて基体４１の垂直方向（磁気テープＭＴの垂直方向）に対応する補正用サンプル（基体４１）のＭ－Ｈループが測定される。

　測定サンプル（磁気テープＭＴの全体）のＭ－Ｈループ、補正用サンプル（基体４１）のＭ－Ｈループの測定においては、東英工業社製の高感度振動試料型磁力計「ＶＳＭ－Ｐ７－１５型」が用いられる。測定条件は、測定モード：フルループ、最大磁界：１５ｋＯｅ、磁界ステップ：４０ｂｉｔ、Time constant of Locking amp：０．３ｓｅｃ、Waiting time：１ｓｅｃ、ＭＨ平均数：２０とされる。

　測定サンプル（磁気テープＭＴの全体）のＭ－Ｈループおよび補正用サンプル（基体４１）のＭ－Ｈループが得られた後、測定サンプル（磁気テープＭＴの全体）のＭ－Ｈループから補正用サンプル（基体４１）のＭ－Ｈループが差し引かれることで、バックグラウンド補正が行われ、バックグラウンド補正後のＭ－Ｈループが得られる。このバックグラウンド補正の計算には、「ＶＳＭ－Ｐ７－１５型」に付属されている測定・解析プログラムが用いられる。得られたバックグラウンド補正後のＭ－Ｈループから保磁力Ｈｃ２が求められる。なお、この計算には、「ＶＳＭ－Ｐ７－１５型」に付属されている測定・解析プログラムが用いられる。なお、上記のＭ－Ｈループの測定はいずれも、２５℃にて行われるものとする。また、Ｍ－Ｈループを磁気テープＭＴの長手方向に測定する際の“反磁界補正”は行わないものとする。

（角形比）
　磁気テープＭＴの垂直方向（厚み方向）における磁性層４３の角形比Ｓ１が、好ましくは６５％以上、より好ましくは７０％以上、さらにより好ましくは７５％以上、特に好ましくは８０％以上、最も好ましくは８５％以上である。角形比Ｓ１が６５％以上であると、磁性粉の垂直配向性が十分に高くなるため、さらに優れた電磁変換特性を得ることができる。

　垂直方向における角形比Ｓ１は以下のようにして求められる。まず、磁気テープＭＴが両面テープで３枚重ね合わされた後、φ６．３９ｍｍのパンチで打ち抜かれて、測定サンプルが作製される。この際に、磁気テープＭＴの長手方向（走行方向）が認識できるように、磁性を持たない任意のインクでマーキングを行う。そして、ＶＳＭを用いて磁気テープＭＴの垂直方向（厚み方向）に対応する測定サンプル（磁気テープＭＴの全体）のＭ－Ｈループが測定される。次に、アセトンまたはエタノール等が用いられて塗膜（下地層４２、磁性層４３およびバック層４４等）が払拭され、基体４１のみが残される。そして、得られた基体４１が両面テープで３枚重ね合わされた後、φ６．３９ｍｍのパンチで打ち抜かれて、バックグラウンド補正用のサンプル（以下、単に「補正用サンプル」）とされる。その後、ＶＳＭを用いて基体４１の垂直方向（磁気テープＭＴの垂直方向）に対応する補正用サンプル（基体４１）のＭ－Ｈループが測定される。

　測定サンプル（磁気テープＭＴの全体）のＭ－Ｈループおよび補正用サンプル（基体４１）のＭ－Ｈループが得られた後、測定サンプル（磁気テープＭＴの全体）のＭ－Ｈループから補正用サンプル（基体４１）のＭ－Ｈループが差し引かれることで、バックグラウンド補正が行われ、バックグラウンド補正後のＭ－Ｈループが得られる。このバックグラウンド補正の計算には、「ＶＳＭ－Ｐ７－１５型」に付属されている測定・解析プログラムが用いられる。

　得られたバックグラウンド補正後のＭ－Ｈループの飽和磁化Ｍｓ（ｅｍｕ）および残留磁化Ｍｒ（ｅｍｕ）が以下の式に代入されて、角形比Ｓ１（％）が計算される。なお、上記のＭ－Ｈループの測定はいずれも、２５℃にて行われるものとする。また、Ｍ－Ｈループを磁気テープＭＴの垂直方向に測定する際の“反磁界補正”は行わないものとする。なお、この計算には、「ＶＳＭ－Ｐ７－１５型」に付属されている測定・解析プログラムが用いられる。
　角形比Ｓ１（％）＝（Ｍｒ／Ｍｓ）×１００

　磁気テープＭＴの長手方向（走行方向）における磁性層４３の角形比Ｓ２が、好ましくは３５％以下、より好ましくは３０％以下、さらにより好ましくは２５％以下、特に好ましくは２０％以下、最も好ましくは１５％以下である。角形比Ｓ２が３５％以下であると、磁性粉の垂直配向性が十分に高くなるため、さらに優れた電磁変換特性を得ることができる。

　長手方向における角形比Ｓ２は、Ｍ－Ｈループを磁気テープＭＴおよび基体４１の長手方向（走行方向）に測定すること以外は角形比Ｓ１と同様にして求められる。

（保磁力の比）
　垂直方向における磁性層４３の保磁力Ｈｃ１と、長手方向における磁性層４３の保磁力Ｈｃ２の比Ｈｃ２／Ｈｃ１が、Ｈｃ２／Ｈｃ１≦０．８、好ましくはＨｃ２／Ｈｃ１≦０．７５、より好ましくはＨｃ２／Ｈｃ１≦０．７、さらにより好ましくはＨｃ２／Ｈｃ１≦０．６５、特に好ましくはＨｃ２／Ｈｃ１≦０．６の関係を満たす。保磁力Ｈｃ１、Ｈｃ２がＨｃ２／Ｈｃ１≦０．８の関係を満たすことで、磁性粉の垂直配向度を高めることができる。したがって、磁化遷移幅を低減し、かつ信号再生時に高出力の信号を得ることができるので、さらに優れた電磁変換特性を得ることができる。なお、上述したように、Ｈｃ２が小さいと、記録ヘッドからの垂直方向の磁界により感度良く磁化が反応するため、良好な記録パターンを形成することができる。

　比Ｈｃ２／Ｈｃ１がＨｃ２／Ｈｃ１≦０．８である場合、磁性層４３の平均厚みｔ_ｍが９０ｎｍ以下であることが特に有効である。磁性層４３の平均厚みｔ_ｍが９０ｎｍを超えると、記録ヘッドとしてリング型ヘッドを用いた場合に、磁性層４３の下部領域（下地層４２側の領域）が長手方向に磁化されてしまい、磁性層４３を厚み方向に均一に磁化することができなくなる虞がある。したがって、比Ｈｃ２／Ｈｃ１をＨｃ２／Ｈｃ１≦０．８としても（すなわち、磁性粉の垂直配向度を高めても）、さらに優れた電磁変換特性を得られなくなる虞がある。

　Ｈｃ２／Ｈｃ１の下限値は特に限定されるものではないが、例えば０．５≦Ｈｃ２／Ｈｃ１である。なお、Ｈｃ２／Ｈｃ１は磁性粉の垂直配向度を表しており、Ｈｃ２／Ｈｃ１が小さいほど磁性粉の垂直配向度が高くなる。

　長手方向における磁性層４３の保磁力Ｈｃ２の算出方法は、上述した通りである。垂直方向における磁性層４３の保磁力Ｈｃ１は、Ｍ－Ｈループを磁気テープＭＴおよび基体４１の垂直方向（厚み方向）に測定すること以外は長手方向における磁性層４３の保磁力Ｈｃ２と同様にして求められる。

（磁気テープの長手方向のヤング率）
　磁気テープＭＴの長手方向のヤング率は、好ましくは８．０ＧＰａ以下、より好ましくは７．９ＧＰａ以下、さらにより好ましくは７．５ＧＰａ以下、特に好ましくは７．１ＧＰａ以下である。磁気テープＭＴの長手方向のヤング率が８．０ＧＰａ以下であると、外力による磁気テープＭＴの伸縮性がさらに高くなるため、テンション調整による磁気テープＭＴの幅の調整がさらに容易となる。したがって、オフトラックをさらに適切に抑制することができ、磁気テープＭＴに記録されたデータをさらに正確に再生することが可能となる。

　磁気テープＭＴの長手方向のヤング率は、外力による磁気テープＭＴの長手方向における伸縮のし難さを示す値であり、この値が大きいほど外力により磁気テープＭＴは長手方向に伸縮し難く、この値が小さいほど外力により磁気テープＭＴは長手方向に伸縮しやすい。

　なお、磁気テープＭＴの長手方向のヤング率は、磁気テープＭＴの長手方向に関する値であるが、磁気テープＭＴの幅方向の伸縮のし難さとも相関がある。つまり、この値が大きいほど磁気テープＭＴは外力により幅方向に伸縮し難く、この値が小さいほど磁気テープＭＴは外力により幅方向に伸縮しやすい。したがって、テンション調整の観点から、磁気テープＭＴの長手方向のヤング率は、小さい方が有利である。

　ヤング率の測定には引っ張り試験機（島津製作所製、AG-100D）が用いられる。テープ長手方向のヤング率を測定したい場合は、テープを１８０ｍｍの長さにカットして測定サンプルを準備する。上記引っ張り試験機にテープの幅（１／２インチ）を固定できる冶具を取り付け、テープ幅の上下を固定する。距離（チャック間のテープの長さ）は１００ｍｍにする。テープサンプルをチャック後、サンプルを引っ張る方向に応力を徐々にかけていく。引っ張り速度は０．１ｍｍ／ｍｉｎとする。この時の応力の変化と伸び量から、以下の式を用いてヤング率を計算する。
　Ｅ（Ｎ／ｍ^２）＝（（ΔＮ／Ｓ）／（Δｘ／Ｌ））×１０^６
　ΔＮ：応力の変化（Ｎ）
　Ｓ：試験片の断面積（ｍｍ^２）
　Δｘ：伸び量（ｍｍ）
　Ｌ：つかみ治具間距離（ｍｍ）
　応力の範囲としては０．５Ｎから１．０Ｎとし、この時の応力変化（ΔＮ）と伸び量（Δｘ）を計算に使用する。

（基体の長手方向のヤング率）
　基体４１の長手方向のヤング率は、好ましくは７．５ＧＰａ以下、より好ましくは７．４ＧＰａ以下、さらにより好ましくは７．０ＧＰａ以下、特に好ましくは６．６ＧＰａ以下である。基体４１の長手方向のヤング率が７．５ＧＰａ以下であると、外力による磁気テープＭＴの伸縮性がさらに高くなるため、テンション調整による磁気テープＭＴの幅の調整がさらに容易となる。したがって、オフトラックをさらに適切に抑制することができ、磁気テープＭＴに記録されたデータをさらに正確に再生することが可能となる。

　上記の基体４１の長手方向のヤング率は、次のようにして求められる。まず、磁気テープＭＴから下地層４２、磁性層４３およびバック層４４を除去し、基体４１を得る。この基体４１を用いて、上記の磁気テープＭＴの長手方向のヤング率と同様の手順で基体４１の長手方向のヤング率を求める。

　基体４１の厚さは、磁気テープＭＴの全体の厚さの半分以上を占めている。したがって、基体４１の長手方向のヤング率は、外力による磁気テープＭＴの伸縮し難さと相関があり、この値が大きいほど磁気テープＭＴは外力により幅方向に伸縮し難く、この値が小さいほど磁気テープＭＴは外力により幅方向に伸縮しやすい。

　なお、基体４１の長手方向のヤング率は、磁気テープＭＴの長手方向に関する値であるが、磁気テープＭＴの幅方向の伸縮のし難さとも相関がある。つまり、この値が大きいほど磁気テープＭＴは外力により幅方向に伸縮し難く、この値が小さいほど磁気テープＭＴは外力により幅方向に伸縮しやすい。したがって、テンション調整の観点から、基体４１の長手方向のヤング率は、小さい方が有利である。

［３　磁気テープのフォーマット］
　図３は、データバンドおよびサーボバンドのレイアウトの一例を示す概略図である。磁気テープＭＴ（具体的には磁性層４３）は、複数のサーボバンドＳＢと複数のデータバンドＤＢとを予め有している。複数のサーボバンドＳＢは、磁気テープＭＴの幅方向に等間隔で設けられている。隣り合うサーボバンドＳＢの間には、データバンドＤＢが設けられている。サーボバンドＳＢは、データの記録または再生時に記録再生装置（ドライブ）の磁気ヘッド５１（具体的にはサーボリードヘッド５１Ａ、５１Ｂ）をガイドするためのものである。サーボバンドＳＢには、磁気ヘッド５１のトラッキング制御をするためのサーボパターン（サーボ信号）が予め書き込まれている。データバンドＤＢには、ユーザデータが記録される。

　磁性層４３の表面の面積Ｓに対する複数のサーボバンドＳＢの総面積Ｓ_ＳＢの割合Ｒ_Ｓ（＝（Ｓ_ＳＢ／Ｓ）×１００）の上限値は、高記録容量を確保する観点から、好ましくは４．０％以下、より好ましくは３．０％以下、さらにより好ましくは２．０％以下である。一方、磁性層４３の表面の面積Ｓに対する複数のサーボバンドＳＢの総面積Ｓ_ＳＢの割合Ｒ_Ｓの下限値は、５以上のサーボバンドＳＢを確保する観点から、好ましくは０．８％以上である。

　磁性層４３の表面全体の面積Ｓに対する複数のサーボバンドＳＢの総面積Ｓ_ＳＢの割合ＲＳは、以下のようにして求められる。磁気テープＭＴを、フェリコロイド現像液（株式会社シグマハイケミカル製、シグマーカーＱ）を用いて現像し、その後、現像した磁気テープＭＴを光学顕微鏡で観察し、サーボバンド幅Ｗ_ＳＢおよびサーボバンドＳＢの本数を測定する。次に、以下の式から割合Ｒ_Ｓを求める。
　割合Ｒ_Ｓ［％］＝（（（サーボバンド幅Ｗ_ＳＢ）×（サーボバンドＳＢの本数））／（磁気テープＭＴの幅））×１００

　サーボバンドＳＢの本数は、好ましくは５以上、より好ましくは５＋４ｎ（但し、ｎは正の整数である。）以上である。サーボバンドＳＢの本数が５以上であると、磁気テープＭＴの幅方向の寸法変化によるサーボ信号への影響を抑制し、よりオフトラックが少ない安定した記録再生特性を確保できる。サーボバンドＳＢの本数の上限値は特に限定されるものではないが、例えば３３以下である。

　サーボバンドＳＢの本数は、上記の割合ＲＳの算出方法と同様にして求められる。

　サーボバンド幅Ｗ_ＳＢの上限値は、高記録容量を確保する観点から、好ましくは９９μｍ以下、より好ましくは６０μｍ以下、さらにより好ましくは３０μｍ以下である。サーボバンド幅Ｗ_ＳＢの下限値は、好ましくは１０μｍ以上である。

　サーボバンド幅Ｗ_ＳＢの幅は、上記の割合ＲＳの算出方法と同様にして求められる。

　図４は、データバンドの構成の一例を示す拡大図である。磁性層４３は、データバンドＤＢに複数のデータトラックＴｋを形成可能に構成されている。データトラック幅Ｗの上限値は、トラック記録密度を向上し、高記録容量を確保する観点から、好ましくは２０００ｎｍ以下、より好ましくは１５００ｎｍ以下、さらにより好ましくは１０００ｎｍである。データトラック幅Ｗの下限値は、磁性粒子サイズを考慮すると、好ましくは２０ｎｍ以上である。

　磁性層４３は、高記録容量を確保する観点から、磁化反転間距離の最小値Ｌが好ましくは４８ｎｍ以下、より好ましくは４４ｎｍ以下、さらにより好ましくは４０ｎｍ以下となるように、データを記録可能に構成されている。磁化反転間距離の最小値Ｌの下限値は、磁性粒子サイズを考慮すると、好ましくは２０ｎｍ以上である。

　磁性層４３は、磁化反転間距離の最小値Ｌとデータトラック幅Ｗが好ましくはＷ／Ｌ≦３５、より好ましくはＷ／Ｌ≦３０、さらにより好もしくはＷ／Ｌ≦２５となるように、データを記録可能に構成されている。磁化反転間距離の最小値Ｌが一定値であり、磁化反転間距離の最小値Ｌとトラック幅ＷがＷ／Ｌ＞３５であると（すなわちトラック幅Ｗが大きいと）、トラック記録密度が上がらないため、記録容量を十分に確保できなくなる虞がある。また、トラック幅Ｗが一定値であり、磁化反転間距離の最小値Ｌとトラック幅ＷがＷ／Ｌ＞３５であると（すなわち磁化反転間距離の最小値Ｌが小さいと）、ビット長さが小さくなり、線記録密度が上がるが、スペーシングロスの影響により、電磁変換特性が著しく悪化してしまう虞がある。したがって、記録容量を確保しながら、電磁変換特性の悪化を抑制するためには、上記のようにＷ／ＬがＷ／Ｌ≦３５の範囲にあることが好ましい。Ｗ／Ｌの下限値は特に限定されるものではないが、例えば１≦Ｗ／Ｌである。

　データトラック幅Ｗは以下のようにして求められる。データが全面に記録された磁気テープＭＴを準備し、その磁性層４３のデータバンドＤＢ部分のデータ記録パターンを磁気力顕微鏡（Magnetic Force Microscope：ＭＦＭ）を用いて観察し、ＭＦＭ像を得る。ＭＦＭとしてはDigital Instruments社製Dimension3100とその解析ソフトが用いられる。当該ＭＦＭ像の測定領域は１０μｍ×１０μｍとし、当該１０μｍ×１０μｍの測定領域は５１２×５１２（＝２６２，１４４）個の測定点に分割される。場所の異なる３つの１０μｍ×１０μｍ測定領域についてＭＦＭによる測定が行われ、すなわち３つのＭＦＭ像が得られる。得られた３つのＭＦＭ像から、Dimension3100に付属の解析ソフトを用いて、トラック幅を１０ヶ所測定し平均値（単純平均である）をとる。当該平均値が、データトラック幅Ｗである。なお、上記ＭＦＭの測定条件は掃引速度：１Ｈｚ、使用チップ：ＭＦＭＲ－２０、リフトハイト：２０ｎｍ、補正：Flatten order 3である。

　磁化反転間距離の最小値Ｌは以下のようにして求められる。データが全面に記録された磁気テープＭＴを準備し、その磁性層４３のデータバンドＤＢ部分のデータ記録パターンを磁気力顕微鏡（Magnetic Force Microscope：ＭＦＭ）を用いて観察し、ＭＦＭ像を得る。ＭＦＭとしてはDigital Instruments社製Dimension3100とその解析ソフトが用いられる。当該ＭＦＭ像の測定領域は２μｍ×２μｍとし、当該２μｍ×２μｍの測定領域は５１２×５１２（＝２６２，１４４）個の測定点に分割される。場所の異なる３つの２μｍ×２μｍ測定領域についてＭＦＭによる測定が行われ、すなわち３つのＭＦＭ像が得られる。得られたＭＦＭ像の記録パターンの二次元の凹凸チャートからビット間距離を５０個測定する。当該ビット間距離の測定は、Dimension3100に付属の解析ソフトを用いて行われる。測定された５０個のビット間距離のおよそ最大公約数となる値を磁化反転間距離の最小値Ｌとする。なお、測定条件は掃引速度：１Ｈｚ、使用チップ：ＭＦＭＲ－２０、リフトハイト：２０ｎｍ、補正：Flatten order 3である。

　サーボパターンは、磁化領域であって、磁気テープ製造時にサーボライタにより磁性層４３の特定の領域を特定方向に磁化することによって形成される。サーボバンドＳＢのうち、サーボパターンが形成されていない領域（以下「非パターン領域」という。）は、磁性層４３が磁化された磁化領域であってもよいし、磁性層４３が磁化されていない非磁化領域であってもよい。非パターン領域が磁化領域である場合、サーボパターン形成領域と非パターン領域とは、異なる方向（例えば逆方向）に磁化されていてもよい。サーボパターン（サーボ信号）には、ＬＰＯＳ（Longitudinal　Position　Of　Signal）情報が埋め込まれている。ＬＰＯＳ情報は、磁気テープＭＴの長手方向の位置を示すと共に、各サーボバンドＳＢを一意的に識別するための長手方向位置情報である。

　図５は、サーボバンドＳＢの構成の一例を示す拡大図である。ＬＴＯ規格では、サーボバンドＳＢには、磁気テープＭＴの幅方向に対して傾斜した複数のサーボストライプ（線状の磁化領域）１１３からなるサーボパターンが形成されている。

　サーボバンドＳＢは、複数のサーボフレーム１１０を含んでいる。各サーボフレーム１１０は、１８本のサーボストライプ１１３から構成されている。具体的には、各サーボフレーム１１０は、サーボサブフレーム１（１１１）およびサーボサブフレーム２（１１２）から構成される。

　サーボサブフレーム１（１１１）は、Ａバースト１１１ＡおよびＢバースト１１１Ｂから構成される。Ｂバースト１１１Ｂは、Ａバースト１１１Ａに隣接して配置されている。Ａバースト１１１Ａは、磁気テープＭＴの幅方向に対して所定角度φで傾斜し規定間隔隔てて形成された５本のサーボストライプ１１３を備えている。図５中では、これらの５本のサーボストライプ１１３に磁気テープＭＴのＥＯＴ（End Of Tape）からＢＯＴ（Beginning Of Tape）に向って符号Ａ_１、Ａ_２、Ａ_３、Ａ_４、Ａ_５を付して示している。Ｂバースト１１１Ｂは、Ａバースト１１１Ａと同様に、磁気テープＭＴの幅方向に対して所定角度φで傾斜し規定間隔隔てて形成された５本のサーボストライプ１１３を備えている。図５中では、これらの５本のサーボストライプ１１３に磁気テープＭＴのＥＯＴからＢＯＴに向って符号Ｂ_１、Ｂ_２、Ｂ_３、Ｂ_４、Ｂ_５を付して示している。Ｂバースト１１１Ｂのサーボストライプ１１３は、Ａバースト１１１Ａのサーボストライプ１１３とは逆向きに傾斜している。すなわち、Ａバースト１１１Ａのサーボストライプ１１３とＢバースト１１１Ｂのサーボストライプ１１３はハの字状に配置されている。

　サーボサブフレーム２（１１２）は、Ｃバースト１１２ＣおよびＤバースト１１２Ｄから構成される。Ｄバースト１１２Ｄは、Ｃバースト１１２Ｃに隣接して配置されている。Ｃバースト１１２Ｃは、テープ幅方向に対して所定角度φで傾斜し規定間隔隔てて形成された４本のサーボストライプ１１３を備えている。図５中では、これらの４本のサーボストライプ１１３に磁気テープＭＴのＥＯＴからＢＯＴに向って符号Ｃ_１、Ｃ_２、Ｃ_３、Ｃ_４を付して示している。Ｄバースト１１２Ｄは、Ｃバースト１１２Ｃと同様に、テープ幅方向に対して所定角度φで傾斜し規定間隔隔てて形成された４本のサーボストライプ１１３を備えている。図５中では、これらの４本のサーボストライプ１１３に磁気テープＭＴのＥＯＴからＢＯＴに向って符号Ｄ_１、Ｄ_２、Ｄ_３、Ｄ_４を付して示している。Ｄバースト１１２Ｄのサーボストライプ１１３は、Ｃバースト１１２Ｃのサーボストライプ１１３とは逆向きに傾斜している。すなわち、Ｃバースト１１２Ｃのサーボストライプ１１３とＤバースト１１２Ｄのサーボストライプ１１３はハの字状に配置されている。

　Ａバースト１１１Ａ、Ｂバースト１１１Ｂ、Ｃバースト１１２Ｃ、Ｄバースト１１２Ｄにおけるサーボストライプ１１３の上記所定角度φは、例えば５°～２５°であり、特には１１°～２５°でありうる。

　サーボバンドＳＢを磁気ヘッド５１で読み取りことにより、テープ速度および磁気ヘッドの縦方向の位置を取得するための情報が得られる。テープ速度は、４つのタイミング信号（Ａ１－Ｃ１、Ａ２－Ｃ２、Ａ３－Ｃ３、Ａ４－Ｃ４）間の時間から計算される。ヘッド位置は、前述の４つのタイミング信号間の時間および別の４つのタイミング信号（Ａ１－Ｂ１、Ａ２－Ｂ２、Ａ３－Ｂ３、Ａ４－Ｂ４）間の時間から計算される。

　図５に示すように、サーボパターン（すなわち複数のサーボストライプ１１３）は、磁気テープＭＴの長手方向に向って直線的に配列されていることが好ましい。すなわち、サーボバンドＳＢは、長手方向に直線状を有していることが好ましい。

　図６は、磁気テープＭＴのフォーマットの一例を示す概略図である。磁気テープＭＴは、長手方向に８つのロジカルポイントＬＰ０～ＬＰ７で７つの領域に区分けされている。ＬＰ０～ＬＰ７は、磁気テープＭＴの巻き終わり側の一端から巻き始め側の他端に向けてこの順序で設定されている。また、磁気テープＭＴは幅方向には、５以上のサーボバンドと４以上のデータバンドに分けられている。なお、図６では、磁気テープＭＴが幅方向に、５つのサーボバンドと４つのデータバンドに分けられた例が示されている。

　７つの領域は、不使用領域（ＬＰ０－ＬＰ１間の領域）Ｒ１、順方向のサーボ認識領域（ＬＰ１－ＬＰ２間の領域）Ｒ２、キャリブレーション領域（ＬＰ２－ＬＰ３間の領域）Ｒ３、ユーザデータ領域（ＬＰ３－ＬＰ４間の領域）Ｒ４、不使用データ領域（ＬＰ４－ＬＰ５間の領域）Ｒ５、逆方向のサーボ認識領域（ＬＰ５－ＬＰ６間の領域）Ｒ６、不使用領域（ＬＰ６－ＬＰ７間の領域）Ｒ７から構成されている。以下の説明において、サーボ認識領域Ｒ２、キャリブレーション領域Ｒ３、ユーザデータ領域Ｒ４、不使用データ領域Ｒ５および逆方向のサーボ認識領域Ｒ６を総称して使用領域ということがある。

　本明細書では、“順方向”とは、磁気テープＭＴがカートリッジ１０から送り出され、サーボライタ等のリールにより巻き取られるときの走行方向を意味する。“逆方向”とは、磁気テープＭＴがサーボライタ等のリールから送り出され、カートリッジ１０に巻き取られるときの走行方向を意味する。

　使用領域には、規格を満たすサーボパターンが形成されている。規格を満たすサーボパターンは、Ａバースト１１１ＡとＣバースト１１２Ｃの距離Ｄ_ＡＣおよびＣバースト１１２ＣとＡバースト１１１Ａの距離Ｄ_ＣＡが規格を満たしている。この場合は、図７Ａに示すように、Ｂバースト１１１ＢとＣバースト１１２Ｃの先端同士が離れると共に、Ｄバースト１１２ＤとＡバースト１１１Ａの先端同士が離れる。これにより、ハの字状のサーボパターンが形成される。図５に示したサーボパターンは、使用領域に形成された規格を満たすサーボパターンの例である。

　不使用領域Ｒ１および不使用領域Ｒ７の両方には、規格を満たさないサーボパターンが形成されている。規格を満たさないサーボパターンは、不使用領域Ｒ１の一部に形成されていてもよいし、全部に形成されていてもよい。同様に、規格を満たさないサーボパターンは、不使用領域Ｒ７の一部に形成されていてもよいし、全部に形成されていてもよい。上述したように、不使用領域Ｒ１は、磁気テープＭＴの巻き終わり側の端部に設けられ、不使用領域Ｒ７は、磁気テープＭＴの巻き始め側の端部に設けられている。

　規格を満たさないサーボ－パターンは、例えばＡバースト１１１ＡとＣバースト１１２Ｃの距離Ｄ_ＡＣおよびＣバースト１１２ＣとＡバースト１１１Ａの距離Ｄ_ＣＡが規格より狭いか、または規格よりも広い。

　磁気テープＭＴが順方向に走行される場合には、不使用領域Ｒ１は、磁気テープＭＴが加速走行される領域となる。このため、使用領域と同様の制御によりサーボ信号の書き込みが行われると、Ａバースト１１１ＡとＣバースト１１２Ｃの距離Ｄ_ＡＣおよびＣバースト１１２ＣとＡバースト１１１Ａの距離Ｄ_ＣＡは、規格より狭くなる。

　磁気テープＭＴが順方向に走行される場合には、不使用領域Ｒ７は、磁気テープＭＴが減速走行される領域となる。このため、使用領域と同様の制御によりサーボ信号の書き込みが行われると、Ａバースト１１１ＡとＣバースト１１２Ｃの距離Ｄ_ＡＣおよびＣバースト１１２ＣとＡバースト１１１Ａの距離Ｄ_ＣＡは、規格より狭くなる。

　距離Ｄ_ＡＣおよび距離Ｄ_ＣＡが規格より狭い場合は、例えば、図７Ｂに示すように、Ｂバースト１１１ＢとＣバースト１１２Ｃの先端同士が重なることで、Ｂバースト１１１ＢとＣバースト１１２ＣとでＶ字状のサーボパターンが形成される。また、Ｄバースト１１２ＤとＡバースト１１１Ａの先端同士が重なることで、Ｄバースト１１２ＤとＡバースト１１１ＡとでＶ字状のサーボパターンが形成される。

　距離Ｄ_ＡＣおよび距離Ｄ_ＣＡが規格より更に狭い場合は、例えば、図７Ｃに示すように、Ｂバースト１１１ＢとＣバースト１１２Ｃが交差することで、Ｂバースト１１１ＢとＣバースト１１２ＣとでＸ字状のサーボパターンが形成される。また、Ｄバースト１１２ＤとＡバースト１１１Ａが交差することで、Ｄバースト１１２ＤとＡバースト１１１ＡとでＸ字状のサーボパターンが形成される。

　不使用領域Ｒ１および不使用領域Ｒ７に、規格を満たさないサーボパターンが形成されているか否かは、以下のようにして確認することが可能である。まず、カートリッジ１０を分解し、磁気テープＭＴを取り出す。続いて、取り出した磁気テープＭＴの不使用領域Ｒ１および不使用領域Ｒ７の磁性層４３に形成されたサーボパターン（すなわちサーボバンドＳＢ）を磁気力顕微鏡（Magnetic Force Microscope：ＭＦＭ）を用いて観察し、ＭＦＭ像を得る。ＭＦＭとしてはDigital Instruments社製Dimension3100とその解析ソフトが用いられる。次に、得られたＭＦＭ像中のサーボパターンが規格を満たしているか否かを確認する。また、フェリコロイド現像液（株式会社シグマハイケミカル製、シグマーカーＱ）を塗布後、１００～１０００倍程度の顕微鏡でも確認が可能である。

　従来のカートリッジでは、巻き始め側の不使用領域および巻き終わり側の不使用領域には、規格を満たすサーボ信号が書き込まれている。これは、従来のカートリッジの作製工程においては、長手方向の一端から他端まで規格を満たすサーボパターンが書き込まされた磁気テープをカートリッジに組み込み、組み込み後には、サーボ信号を書き直すような処理は行われていなかったためである。

［４　カートリッジ用のサーボライタの構成］
　図８は、カートリッジ用のサーボライタ２１０の構成の一例を示す概略図である。サーボライタ２１０は、上述のカートリッジ１０に書き込まれたサーボ信号を消去し、サーボ信号を再度書き込む。このサーボ信号の再書き込みにより、上述の不使用領域Ｒ１および不使用領域Ｒ７に、規格を満たさないサーボパターン（第２のサーボパターン）が形成される。

　サーボライタ２１０は、カートリッジ収容部２１１と、リール２１２と、ガイドローラ２１３Ａ、２１３Ｂ、２１３Ｃ、２１３Ｄと、消磁マグネット２１４、サーボ信号書込ヘッド２１５と、ベリファイヘッド２１６と、制御装置２１７と、パルス発生回路２１８と、スピンドル駆動回路２１９Ａと、リール駆動回路２１９Ｂと、図示しない操作部とを備える。

　カートリッジ収容部２１１と、リール２１２と、ガイドローラ２１３Ａ、２１３Ｂ、２１３Ｃ、２１３Ｄとにより走行部が構成される。この走行部は、サーボ信号の書き込み時には、カートリッジ１０からテープ状の磁気テープＭＴを送り出し、送り出された磁気テープＭＴをリール２１２により巻き取ることにより、磁気テープＭＴを順方向に走行させる。また、サーボ信号の書き込み後には、この走行部は、リール２１２からテープ状の磁気テープＭＴを送り出し、送り出された磁気テープＭＴをカートリッジ１０により巻き取ることにより、磁気テープＭＴを逆方向に走行させる。以下の説明において、“走行経路”とは、サーボライタ２１０において磁気テープＭＴが走行される経路を意味する。また、“上流側”、“下流側”とは、磁気テープＭＴが順方向に走行される場合の走行経路の上流側、下流側を意味している。

（カートリッジ収容部）
　カートリッジ収容部２１１は、カートリッジ１０を収容可能に構成されている。カートリッジ収容部２１１は、図示しないローディング機構を備え、カートリッジ１０をローディング可能に構成されている。カートリッジ収容部２１１は、サーボ信号を再書き込みする磁気テープＭＴを送り出す。カートリッジ収容部２１１は、スピンドル２４１Ａを備える。スピンドル２４１Ａは、カートリッジ１０を装着可能に構成されている。スピンドル２４１Ａの回転により、磁気テープＭＴが送り出される。

（リール）
　リール２１２は、サーボ信号が再書き込みされた磁気テープＭＴを巻き取る。リール２１２は、カートリッジ１０から引き出された磁気テープＭＴの先端（リーダーピン２０）を固定可能に構成される。

（ガイドローラ）
　ガイドローラ２１３Ａ、２１３Ｂは、カートリッジ収容部２１１とサーボ信号書込ヘッド２１５との間の走行経路に設けられている。ガイドローラ２４３Ａ、２４３Ｂは、カートリッジ収容部２１１からサーボ信号書込ヘッド２１５に向かって走行する磁気テープＭＴをガイドする。ガイドローラ２４３Ｃ、２４３Ｄは、サーボ信号書込ヘッド２１５とリール２１２との間の走行経路に設けられている。ガイドローラ２４３Ｃ、２４３Ｄは、サーボ信号書込ヘッド２１５からリール２１２に向かって走行する磁気テープＭＴの走行をガイドする。

（消磁マグネット）
　消磁マグネット２１４は、サーボ信号書込ヘッド２１５よりも走行経路の上流側に設けられている。消磁マグネット２１４は、順方向に走行する磁気テープＭＴに形成されているサーボパターン（第１のサーボパターン）を消去する。消磁マグネット２１４は、特開2018-005970号公報で示されるように回転可能であり、上記回転に応じて磁性層４３に印加される磁場を変化可能な磁石であっても良い。

（サーボ信号書込ヘッド）
　サーボ信号書込ヘッド２１５は、サーボパターンが消去された、順方向に走行する磁気テープにサーボ信号を再度書き込み、サーボパターン（第２のサーボパターン）を形成するための磁気ヘッドである。サーボ信号書込ヘッド２１５としては、例えば特許文献１に記載のものを用いることができる。

　サーボ信号書込ヘッド２１５は、磁気テープＭＴと摺動する摺動面を有する。サーボ信号書込ヘッド２１５は、上記摺動面に、５以上の記録用素子と、少なくとも１つの有底キャビティ（凹部）とを有する。記録用素子は磁気ギャップを有している。複数の磁気ギャップは、磁気テープＭＴの幅方向における各サーボバンドの位置に対応するように、摺動面に所定の間隔離して一列に配置されている。５以上の記録用素子がそれぞれ、磁気テープＭＴにサーボ信号の書き込むことにより、５以上のサーボバンドＳＢを形成する。

　有底キャビティの周囲は閉じられており、有底キャビティは磁気テープＭＴの走行領域幅内のみに形成されている。このような構成を有する有底キャビティが摺動面に設けられていることで、磁気テープＭＴの走行時に、摺動面と磁気テープＭＴ間の空気の膨張が促進され、気圧の低下、すなわち負圧によって、スペーシングの低減と磁気テープＭＴの走行安定性の向上が図られる。

（ベリファイヘッド）
　ベリファイヘッド２１６は、サーボ信号書込ヘッド２１５よりも走行経路の下流側に設けられている。ベリファイヘッド２１６は、サーボ信号が書き込まれた、順方向に走行する磁気テープＭＴと摺接して、サーボバンドＳＢ上に書き込まれたサーボ信号を読み取る磁気ヘッドである。ベリファイヘッド２１６の構成は、例えば、複数の記録用素子に代えて複数の再生用素子を備える点以外はサーボ信号書込ヘッド２１５と同様の構成とすることができる。

（制御装置）
　制御装置２１７は、サーボライタ２１０の各部の動作を制御する装置であり、ＣＰＵ（Central Processing Unit）や各種記憶装置等を備えている。制御装置２１７は、磁気テープＭＴの加速走行期間および減速走行期間において、サーボ信号の書き込みを行うようにサーボ信号書込ヘッド２１５を制御し、規格を満たさないサーボパターンを磁気テープＭＴに形成する。制御装置２１７は、磁気テープＭＴの一定速度走行期間において、サーボ信号の書き込みを行うようにサーボ信号書込ヘッド２１５を制御し、規格を満たすサーボパターンを磁気テープＭＴに形成する。

　制御装置２１７は、サーボ信号書込ヘッド２１５によって磁気テープＭＴに書き込まれるサーボ信号が規定のサーボパターンとなるように、記録パルス電流の電流値、パルス幅および発生タイミングを制御するためのパルス制御信号を生成して、パルス発生回路２１８に供給する。

　制御装置２１７は、ベリファイヘッド２１６から供給されたサーボ信号に基づいて、磁気テープＭＴにサーボ信号が適切に記録されているか否かを検査する。具体的には、制御装置２１７は、規格を満たすサーボ信号に関する情報（以下「規格情報」という。）を記憶装置に記憶し、この規格情報と、ベリファイヘッド２１６から供給されたサーボ信号とを比較し、磁気テープＭＴにサーボ信号が適切に記録されているか否かを検査する。

　制御装置２１７は、消磁マグネット２１４を移動させ、磁気テープＭＴと接触させることにより、磁気テープＭＴに書き込まれたサーボ信号を消去する。

　制御装置２１７は、スピンドル駆動回路２１９Ａを制御し、スピンドル２１１Ａを回転駆動させる。制御装置２１７は、リール駆動回路２１９Ｂを制御し、リール２１２を回転駆動させる。具体的には、制御装置２１７は、サーボ信号を書き込むときの磁気テープＭＴの走行速度を制御するために、スピンドル駆動回路２１９Ａおよびリール駆動回路２１９Ｂのモータ電流を制御するためのモータ電流信号を生成して、スピンドル駆動回路２１９Ａおよびリール駆動回路２１９Ｂに供給する。

（操作部）
　操作部は、サーボライタ２１０を操作し、サーボ書き込み操作等を実行するためのものである。操作部は、制御装置２１７に接続されている。

（パルス発生回路）
　パルス発生回路２１８は、制御装置２１７から供給されたパルス制御信号に基づき、記録パルス電流を生成し、サーボ信号書込ヘッド２１５に供給する。

（スピンドル駆動回路）
　スピンドル駆動回路２１９Ａは、制御装置２１７の制御に基づき、スピンドル２１１Ａを回転させる。スピンドル駆動回路２１９Ａは、スピンドル２１１Ａを回転駆動するための装置であり、スピンドル２１１Ａと一体化されたモータ、およびこのモータに電流を供給するためのモータ駆動回路等を備えている。スピンドル駆動回路２１９Ａでは、制御装置２１７から供給されたモータ電流信号に基づいてモータ駆動回路でモータ電流を生成し、このモータ電流をモータに供給することにより、スピンドル２１１Ａを回転駆動させる。

（リール駆動回路）
　リール駆動回路２１９Ｂは、制御装置２１７の制御に基づき、リール２１２を回転させる。リール駆動回路２１９Ｂは、リール２１２を回転駆動するための装置であり、モータ、このモータに電流を供給するためのモータ駆動回路、およびモータ軸とリール２１２を連結するためのギヤ等を備えている。リール駆動回路２１９Ｂでは、制御装置２１７から供給されたモータ電流信号に基づいてモータ駆動回路でモータ電流を生成し、このモータ電流をモータに供給することにより、ギヤを介してモータの回転駆動力をリール２１２に伝達して、リール２１２を回転駆動させる。

［５　カートリッジ用のサーボライタの動作］
　以下、上述の構成を有するサーボライタ２１０の動作の一例について説明する。

　まず、作業者により、カートリッジ収容部２１１にカートリッジ１０がローディングされる。ローディング後、作業者により、カートリッジ１０から磁気テープＭＴが引き出され、その先端（リーダーピン２０）がリール２１２に固定される。なお、カートリッジ収容部２１１に収容されるカートリッジ１０は、磁気テープＭＴに品質不良があることが確認されたものであってもよい。

　次に、作業者により、図示しない操作部が操作されると、制御装置２１７は、消磁マグネット２１４を磁気テープＭＴに接触させる。制御装置２１７は、スピンドル駆動回路２１９Ａおよびリール駆動回路２１９Ｂを介してスピンドル２１１Ａおよびリール２１２の回転を制御し、カートリッジ１０から磁気テープを送り出し、送り出された磁気テープＭＴをリール２１２により巻き取る。これにより、磁気テープＭＴが順方向に加速走行される。消磁マグネット２１４は、順方向に走行する磁気テープＭＴに形成されたサーボパターン（すなわち磁気テープＭＴに書き込まれたサーボ信号）を消去する。

　次に、制御装置２１７は、磁気テープＭＴの加速走行期間において、消磁マグネット２１４により、順方向に走行する磁気テープＭＴの不使用領域Ｒ１に形成されたサーボパターン（すなわち磁気テープＭＴに書き込まれたサーボ信号）を消去する。次に、制御装置２１７は、磁気テープＭＴの加速走行期間において、サーボ信号の書き込みを行うようにサーボ信号書込ヘッド２１５を制御し、規格を満たさないサーボパターンを、順方向に走行する磁気テープの不使用領域Ｒ１に形成する。

　次に、制御装置２１７は、磁気テープＭＴの走行速度が規定の走行速度に到達したら、スピンドル駆動回路２１９Ａおよびリール駆動回路２１９Ｂを介してスピンドル２１１Ａおよびリール２１２の回転を制御し、磁気テープＭＴを順方向に規定の一定速度で走行させる。

　次に、制御装置２１７は、磁気テープＭＴの一定速度走行期間において、消磁マグネット２１４により、順方向に走行する磁気テープＭＴの使用領域に形成されたサーボパターン（すなわち磁気テープＭＴに書き込まれたサーボ信号）を消去する。次に、制御装置２１７は、磁気テープＭＴの一定速度走行期間において、サーボ信号書込ヘッド２１５により、順方向に走行する磁気テープＭＴの使用領域にサーボ信号を再度書き込み、規格を満たすサーボパターンを形成する。サーボ信号は、ＬＰＯＳ情報を含み、サーボ信号の再書き込み時に、ＬＰＯＳ情報もサーボバンドＳＢに書き込まれる。

　次に、制御装置２１７は、磁気テープＭＴの一定速度走行期間において、ベリファイヘッド２１６により、順方向に走行する磁気テープＭＴからサーボ信号を読み取り、読み取ったサーボ信号に基づき、サーボ信号が適切に書き込まれているか否かを確認する。

　次に、制御装置２１７は、規定の長さの磁気テープＭＴがカートリッジ１０に巻き取られたら、スピンドル駆動回路２１９Ａおよびリール駆動回路２１９Ｂを介してスピンドル２１１Ａおよびリール２１２の回転を制御し、磁気テープＭＴを順方向に減速走行させる。

　次に、制御装置２１７は、磁気テープＭＴの減速走行期間において、消磁マグネット２１４により、順方向に走行する磁気テープＭＴの不使用領域Ｒ７に形成されたサーボパターン（すなわち磁気テープＭＴに書き込まれたサーボ信号）を消去する。次に、磁気テープＭＴの減速走行期間において、制御装置２１７は、サーボ信号の書き込みを行うようにサーボ信号書込ヘッド２１５を制御し、規格を満たさないサーボパターンを、順方向に走行する磁気テープの不使用領域Ｒ７に形成する。

　次に、制御装置２１７は、カートリッジ１０に格納された磁気テープＭＴが全て送り出されたら、スピンドル駆動回路２１９Ａおよびリール駆動回路２１９Ｂを介してスピンドル２１１Ａおよびリール２１２の回転駆動を停止する。これにより、磁気テープＭＴの走行が停止される。次に、制御装置２１７は、消磁マグネット２１４を磁気テープＭＴから離すことで、消磁機能を停止させる。次に、制御装置２１７は、スピンドル駆動回路２１９Ａおよびリール駆動回路２１９Ｂを介してスピンドル２１１Ａおよびリール２１２の回転を制御し、リール２１２から磁気テープＭＴを送り出し、送り出された磁気テープＭＴをカートリッジ１０により巻き取る。

　次に、制御装置２１７は、リール２１２により巻き取られていた磁気テープＭＴが全て送り出され、カートリッジ１０に巻き取られたら、スピンドル駆動回路２１９Ａおよびリール駆動回路２１９Ｂを介してスピンドル２１１Ａおよびリール２１２の回転駆動を停止する。その後、制御装置２１７は、操作部の操作に応じて、カートリッジ収容部２１１からカートリッジ１０をアンローディングする。

［６　サーボ信号記録システムの構成］
　図９は、サーボ信号記録システムの構成の一例を示す概略図である。サーボ信号記録システムは、パンケーキ用のサーボライタ２２０と、ワインダー２３０と、品質検査装置２４０と、カートリッジ用のサーボライタ２１０とを備える。ここで、“パンケーキ”とは、規定の長さに切断される前の、ロール状に巻回された磁気テープＭＴ（磁気テープＭＴの巻回体）のことをいう。

　カートリッジ用のサーボライタ２１０は、上述した通りであるので、以下では、パンケーキ用のサーボライタ２１０、ワインダー２３０、および品質検査装置２４０について説明する。

（パンケーキ用のサーボライタ）
　図１０は、パンケーキ用のサーボライタ２２０の構成の一例を示す概略図である。サーボライタ２２０は、パンケーキとしての磁気テープＭＴにサーボ信号を書き込むことが可能に構成されている。

　サーボライタ２２０は、リール２２１、２１２と、ガイドローラ２１３Ａ、２１３Ｂ、２１３Ｃ、２１３Ｄと、消磁マグネット２１４、サーボ信号書込ヘッド２１５と、ベリファイヘッド２１６と、制御装置２２２と、パルス発生回路２１８と、リール駆動回路２１９Ｃ、リール駆動回路２１９Ｂと、図示しない操作部とを備える。なお、サーボライタ２２０においてサーボライタ２１０と同様の箇所には同一の符号を付して説明を省略する。

　リール２２１は、パンケーキとしての磁気テープＭＴを装着可能に構成されている。リール２２１は、サーボ信号を書き込むための磁気テープＭＴを送り出す。

　制御装置２２２は、リール駆動回路２１９Ｃおよびリール駆動回路２１９Ｂを介してリール２１２およびリール２１２の回転を制御し、磁気テープＭＴを順方向に規定の一定速度で走行させる。制御装置２２２は、磁気テープＭＴの加速走行期間および減速走行期間において、サーボ信号の書き込みを行わないようにサーボ信号書込ヘッド２１５を制御してもよいし、サーボ信号の書き込みを行うようにサーボ信号書込ヘッド２１５を制御してもよい。但し、制御装置２２２は、制御装置２１７と異なり、磁気テープＭＴを逆方向に走行させる機能は有しない。

　操作部は、サーボライタ２２０を操作し、サーボ書き込み操作等を実行するためのものである。操作部は、制御装置２２２に接続されている。

（ワインダー）
　図１１は、ワインダー２３０の構成の一例を示す概略図である。ワインダー２３０は、サーボ信号が書き込まれた磁気テープＭＴをカートリッジケース１２に組み込む。ワインダー２３０は、リール２３１と、ガイドローラ２３２と、カートリッジ収容部２１１と、制御装置２３３と、スピンドル駆動回路２１９Ａと、図示しない操作部とを備える。なお、ワインダー２３０においてサーボライタ２１０と同様の箇所には同一の符号を付して説明を省略する。

　リール２３１は、サーボ信号が書き込まれた、パンケーキとしての磁気テープＭＴを装着可能に構成されている。リール２３１は、サーボ信号を書き込むための磁気テープＭＴを送り出す。ガイドローラ２３２は、リール２３１とカートリッジ収容部２１１との間の走行経路に設けられている。ガイドローラ２３２は、リール２３１からカートリッジ収容部２１１に向かって走行する磁気テープＭＴをガイドする。制御装置２３３は、スピンドル駆動回路２１９Ａを制御し、スピンドル２１１Ａを回転駆動させる。これにより、リール２３１から磁気テープＭＴが送り出され、送り出された磁気テープＭＴがカートリッジ１０により巻き取られる。

　操作部は、ワインダー２３０を操作し、磁気テープＭＴの巻き取り操作等を実行するためのものである。操作部は、制御装置２３３に接続されている。

（品質検査装置）
　品質検査装置２４０は、カートリッジケース１２に組み込まれた磁気テープＭＴのサーボ信号の品質を検査する。サーボ信号の品質不良としては、例えば、サーボ信号の欠落、サーボトラッキング特性不良等が挙げられる。

［７　サーボ信号記録システムの動作］
　以下、上述の構成を有するサーボ信号記録システムの動作の一例について説明する。

（サーボ信号の書き込み工程）
　以下のようにして、サーボライタ２２０を用いて、規定の幅に裁断された磁気テープＭＴにサーボ信号が書き込まれる。まず、作業者により、パンケーキとしての磁気テープＭＴがリール２２１に装着され、外周側の磁気テープＭＴの先端が引き出され、リール２１２に固定される。次に、作業者により、図示しない操作部が操作されると、制御装置２２２は、リール駆動回路２１９Ｂを介してリール２１２の回転を制御し、カートリッジ１０から磁気テープＭＴを送り出し、送り出された磁気テープＭＴをリール２１２により巻き取る。これにより、磁気テープＭＴが順方向に走行される。

　次に、制御装置２２２は、順方向に走行する磁気テープＭＴを消磁マグネット２１４により消去したのち、順方向に走行する磁気テープＭＴにサーボ信号をサーボ信号書込ヘッド２１５により書き込み、サーボパターンを形成する。次に、制御装置２２２は、順方向に走行する磁気テープＭＴから、書き込まれたサーボ信号をベリファイヘッド２１６により読み取り、読み取ったサーボ信号に基づき、サーボ信号が適切に書き込まれているか否かを確認する。

　次に、制御装置２２２は、パンケーキとしての磁気テープＭＴが全て送り出されたら、リール駆動回路２１９Ｂを介してリール２１２の回転駆動を停止する。これにより、磁気テープＭＴの搬送が停止される。その後、作業者により、サーボ信号が書き込まれた、パンケーキとしての磁気テープＭＴがリール２１２から取り外され、ワインダー２３０に搬送される。

（組み込み工程）
　以下のようにして、ワインダー２３０を用いて、サーボ信号が書き込まれた磁気テープＭＴがカートリッジ１０に組み込まれる。まず、作業者により、パンケーキとしての磁気テープＭＴがリール２３１に装着され、カートリッジ１０がカートリッジ収容部２１１にローディングされる。次に、リール２３１に装着された磁気テープＭＴの外周側の先端が引き出され、カートリッジ１０のリール１３（図１参照）に固定される。

　次に、作業者により、図示しない操作部が操作されると、制御装置２３３は、スピンドル駆動回路２１９Ａを介してスピンドル２１１Ａの回転駆動を制御し、リール２３１から磁気テープＭＴを送り出し、送り出された磁気テープＭＴをカートリッジ１０により巻き取る。

　次に、制御装置２３３は、規定の長さ磁気テープがカートリッジ１０に巻き取られたら、スピンドル駆動回路２１９Ａを介してスピンドル２１１Ａの回転を停止する。これにより、磁気テープＭＴの搬送が停止される。その後、制御装置２３３は、操作部の操作に応じて、カートリッジ収容部２１１からカートリッジ１０をアンローディングする。アンローディングされたカートリッジ１０は、作業者により、品質検査装置２４０に搬送される。

　なお、パンケーキとしての磁気テープＭＴの長手方向の両端から所定の範囲の部分等に、規格を満たさないサーボパターンが形成されている場合には、本組み込み工程において、これらの部分が磁気テープＭＴから切断され除去されてもよい。あるいは、パンケーキとしての磁気テープＭＴの長手方向の両端から所定の範囲の部分等に、サーボパターンが形成されていない場合には、本組み込み工程において、これらの部分が磁気テープＭＴから切断され除去されてもよい。

（品質検査工程）
　品質検査装置２４０を用いて、カートリッジ１０に組み込まれた磁気テープＭＴのサーボ信号の品質が検査される。検査の結果、磁気テープＭＴに品質不良が確認されなかった場合には、カートリッジ１０は出荷される。一方、検査の結果、磁気テープＭＴに品質不良が確認された場合には、カートリッジ１０はサーボライタ２１０に搬送される。そして、後述の“サーボ信号の再書き込み工程”により磁気テープＭＴにサーボ信号が再度書き込まれ、サーボパターン（すなわちサーボバンドＳＢ）が形成される。サーボ信号が再度書き込まれた後、品質検査装置２４０を用いて、カートリッジ１０に組み込まされた磁気テープＭＴのサーボ信号の品質が再度検査される。

　“サーボ信号の再書き込み工程”を規定回数（例えば３回）繰り返したのちにも、品質検査装置２４０によりサーボ信号の品質不良が確認された場合には、作業者により、そのカートリッジ１０は破棄される。

（サーボ信号の再書き込み工程）
　サーボライタ２１０を用いて、カートリッジ１０の磁気テープＭＴにサーボ信号が再度書き込まれる。この工程の詳細は、上述の［５　カートリッジ用のサーボライタの動作］にて説明した通りである。

　カートリッジ１０への磁気テープＭＴの組み込みから規定時間経過したのちに、品質検査工程が行われることが好ましい。すなわち、カートリッジ１０への磁気テープＭＴの組み込みから規定時間経過したのちに、サーボ信号の書き直しが行われることが好ましい。上述のように規定時間経過後に品質検査、すなわちサーボ信号の書き直しが行われることで、磁気テープＭＴの幅寸法が安定したのちに、磁気テープＭＴにサーボ信号を記録することができる。したがって、サーボバンドＳＢの間隔の寸法変化が少なくなる。規定時間の下限値は、好ましくは１日以上、より好ましくは３日以上、さらにより好ましくは７日以上である。規定時間の下限値が１日以上であると、磁気テープＭＴの幅寸法を効果的に安定化させることができる。規定時間の上限値は、例えば３０日以下または１５日以下、好ましくは７日以下である。規定時間の上限値が７日以下であると、生産性の低下を抑制することができる。

　組み込み工程後、品質検査工程前において、カートリッジ１０にアニール処理を行うようにしてもよい。このようにアニール処理を行うことで、磁気テープＭＴの幅寸法を安定化させたのちに、磁気テープＭＴにサーボ信号を記録することができる。磁気テープＭＴの幅寸法を安定化させる観点からすると、アニール処理を上記規定時間の間行うことが好ましい。アニール処理の温度は、２３℃以上７０℃以下であることが好ましい。

［８　効果］
　上述したように、本開示の一実施形態に係るサーボライタ２１０は、カートリッジ１０から磁気テープＭＴを送り出し、送り出された磁気テープＭＴを巻き取ることにより、磁気テープＭＴを走行させる走行部と、走行する磁気テープＭＴに形成された第１のサーボパターンを消去する消磁マグネット２１４と、第１のサーボパターンが消去された、走行する磁気テープＭＴにサーボ信号を書き込み、第２のサーボパターンを形成するサーボ信号書込ヘッド２１５と、磁気テープＭＴの加速走行期間および減速走行期間の両期間において、サーボ信号の書き込みを行うようにサーボ信号書込ヘッド２１５を制御し、規格を満たさない第２のサーボパターンを磁気テープＭＴに形成する制御装置２１７とを備える。これにより、サーボ信号に品質不良があることが確認されたカートリッジ１０のサーボ信号を書き直すことができる。したがって、破棄されるカートリッジ１０の数を低減することができる。よって、カートリッジ１０の生産性を向上することができる。

　サーボ信号の性能面においては、ドライブにてサーボ信号を読みだす場合は、５１Ａ、５１Ｂ（図３参照）で示される２つのサーボ信号読み取り素子（センサー）を利用するが、温度、湿度、およびカートリッジ１０内部の巻き圧の影響等によりテープ幅寸法、言いかえるとサーボバンドＳＢの間隔（サーボバンドピッチ）が通常は広がる方向に変化する。その結果、記録/再生素子の位置ズレが生じ、データトラックＴｋの読み出しが困難になる虞がある。

　これに対して、上述の一実施形態のように、カートリッジ１０の巻き取り後、規定時間保存後（例えば数日の保存後）、磁気テープＭＴの幅寸法が安定したのちにサーボ信号を記録すると、サーボバンドＳＢの間隔の寸法変化が少なくなる。したがって、記録/再生素子の位置ズレが少なくなり、データトラックＴｋの読み出し精度が向上し、高トラック密度を実現することができる。

　磁気テープＭＴを走行させる際、巻き出し側の端部には加速領域が必要となり、巻き終わり側の端部には減速領域が必要になる。加速領域および減速領域に対し一定間隔の記録電流パターンを流した場合、規格を満たさないサーボパターンができる。一方、規格を満たすサーボパターンを形成するためには、磁気テープＭＴの送り位置と記録電流パターンの同期により記録パターンの時間間隔を可変させる必要があり、技術的に困難性が高い。
　上述の一実施形態に係るサーボライタ２１０では、不使用領域Ｒ１および不使用領域Ｒ７領域には、規格を満たさないサーボパターンが記録されるため、上記の困難性を回避することができる。また、パンケーキ用のサーボライタ等において従来から使用されているパルス発生回路をパルス発生回路２１８として用いることができる。

［９　変形例］
（変形例１）
　上述の一実施形態では、不使用領域Ｒ１および不使用領域Ｒ７には、規格を満たさないサーボ信号が書き込まれている場合について説明したが、不使用領域Ｒ１および不使用領域Ｒ７には、サーボパターンが形成されていないようにしてもよい。この場合、サーボパターンは、不使用領域Ｒ１の一部に形成されていなくてもよいし、全部に形成されていなくてもよい。同様に、サーボパターンは、不使用領域Ｒ７の一部に形成されていなくてもよいし、全部に形成されていなくてもよい。

　上述の不使用領域Ｒ１および不使用領域Ｒ７は、サーボライタ２１０によるサーボ信号の再書き込み時に以下のようにして形成される。制御装置２１７は、磁気テープＭＴを順方向に走行させたときの加速走行期間および減速走行期間において、サーボ信号の書き込みを行わないようにサーボ信号書込ヘッド２１５を制御する。

　上述のように、不使用領域Ｒ１および不使用領域Ｒ７にはサーボパターンが形成されてないようにすることで、技術的に不可能と言える、テープ送り位置と同期した記録バルス時間可変が可能なパルス発生回路の製作が不要となり、従来から使用しているパルス発生回路をパルス発生回路２１８として用いることが可能となる。

（変形例２）
　不使用領域Ｒ１および不使用領域Ｒ７のうちの一方の領域には、規格を満たさないサーボ信号が書き込まれているのに対して、他方の領域には、サーボ信号が書き込まれていないようにしてもよい。

　上述の不使用領域Ｒ１および不使用領域Ｒ７は、サーボライタによるサーボ信号の再書き込み時に以下のようにして形成される。制御装置２１７は、磁気テープＭＴを順方向に走行させたときの加速走行期間および減速走行期間のうちの一方の期間で、サーボ信号の書き込みを行うようにサーボ信号書込ヘッド２１５を制御し、規格を満たさないサーボパターンを磁気テープＭＴに形成するのに対して、他方の期間で、サーボ信号の書き込みを行わないようにサーボ信号書込ヘッド２１５を制御し、サーボパターンを磁気テープＭＴに形成しない。

（変形例３）
　上述の一実施形態では、カートリッジ用のサーボライタ２１０をサーボ信号の書き直しに用いる場合について説明したが、カートリッジ用のサーボライタ２１０を初回のサーボ信号の書き込みに用いるようにしてもよい。この場合、カートリッジ１０への磁気テープＭＴの組み込みから規定時間経過したのちに、サーボ信号の初回の書き込みが行われることが好ましい。組み込み工程後、品質検査工程前において、カートリッジ１０にアニール処理を行うことが好ましい。磁気テープＭＴの幅寸法を安定化させる観点からすると、アニール処理を上記規定時間の間行うことが好ましい。

　以上、本開示の実施形態および変形例について具体的に説明したが、本開示は、上述の実施形態および変形例に限定されるものではなく、本開示の技術的思想に基づく各種の変形が可能である。例えば、上述の実施形態および変形例において挙げた構成、方法、工程、形状、材料および数値等はあくまでも例に過ぎず、必要に応じてこれと異なる構成、方法、工程、形状、材料および数値等を用いてもよい。上述の実施形態および変形例の構成、方法、工程、形状、材料および数値等は、本開示の主旨を逸脱しない限り、互いに組み合わせることが可能である。

　上述の実施形態および変形例にて例示した化合物等の化学式は代表的なものであって、同じ化合物の一般名称であれば、記載された価数等に限定されない。上述の実施形態および変形例で段階的に記載されている数値範囲において、ある段階の数値範囲の上限値または下限値は、他の段階の数値範囲の上限値または下限値に置き換えてもよい。上述の実施形態および変形例で例示した材料は、特に断らない限り、１種を単独でまたは２種以上を組み合わせて用いることができる。

　また、本開示は以下の構成を採用することもできる。
（１）
　カートリッジからテープ状の磁気記録媒体を送り出し、送り出された前記磁気記録媒体を巻き取ることにより、前記磁気記録媒体を走行させる走行部と、
　走行する前記磁気記録媒体に形成されている第１のサーボパターンを消去する消去部と、
　前記第１のサーボパターンが消去された、走行する前記磁気記録媒体にサーボ信号を書き込み、第２のサーボパターンを形成するヘッドと、
　前記磁気記録媒体の加速走行期間および減速走行期間の少なくとも一方の期間において、前記サーボ信号の書き込みを行うように前記ヘッドを制御し、規格を満たさない前記第２のサーボパターンを前記磁気記録媒体に形成する制御部と
　を備えるサーボライタ。
（２）
　カートリッジからテープ状の磁気記録媒体を送り出し、送り出された前記磁気記録媒体を巻き取ることにより、前記磁気記録媒体を走行させる走行部と、
　走行する前記磁気記録媒体に形成されている第１のサーボパターンを消去する消去部と、
　前記第１のサーボパターンが消去された、走行する前記磁気記録媒体にサーボ信号を書き込み、第２のサーボパターンを形成するヘッドと、
　前記磁気記録媒体の加速走行期間および減速走行期間の少なくとも一方の期間において、前記サーボ信号の書き込みを行わないように前記ヘッドを制御する制御部と
　を備えるサーボライタ。
（３）
　前記ヘッドは、５以上の記録用素子を有する（１）または（２）に記載のサーボライタ。
（４）
　５以上の前記記録用素子がそれぞれ、前記磁気記録媒体に前記サーボ信号を書き込むことにより、５以上のサーボバンドを形成し、
　前記サーボ信号は、各前記サーボバンドを一意的に識別するための情報を含む（３）に記載のサーボライタ。
（５）
　巻回されたテープ状の磁気記録媒体と、
　前記磁気記録媒体を収容するケースと
　を備え、
　前記磁気記録媒体は、不使用領域を有し、
　前記不使用領域には、規格を満たさないサーボパターンが形成されているか、またはサーボパターンが形成されていないカートリッジ。
（６）
　前記不使用領域は、
　前記磁気記録媒体の巻き終わり側に設けられた第１の不使用領域と、
　前記磁気記録媒体の巻き始め側に設けられた第２の不使用領域と
　を備える（５）に記載のカートリッジ。
（７）
　前記磁気記録媒体は、５以上のサーボバンドを有する（５）または（６）に記載のカートリッジ。
（８）
　５以上の前記サーボバンドは、各前記サーボバンドを一意的に識別するための情報を含む（７）に記載のカートリッジ。
（９）
　前記磁気記録媒体は磁性層を備え、
　垂直方向における前記磁性層の角形比は、６５％以上である（５）から（８）のいずれかに記載のカートリッジ。
（１０）
　前記磁性層は、磁性粉を含み、
　前記磁性粉は、六方晶フェライト、ε酸化鉄またはＣｏ含有スピネルフェライトを含む（９）に記載のカートリッジ。
（１１）
　テープ状の磁気記録媒体をカートリッジに組み込むことと、
　前記カートリッジへの前記磁気記録媒体の組み込みから規定時間経過後に、サーボパターンを前記磁気記録媒体に形成することと
　を含むサーボパターンの書き込み方法。
（１２）
　前記サーボパターンを前記磁気記録媒体に形成することは、
　前記磁気記録媒体の加速走行期間および減速走行期間の少なくとも一方の期間において、サーボ信号の書き込みを行うようにヘッドを制御し、規格を満たさないサーボパターンを前記磁気記録媒体に形成することを含む（１１）に記載のサーボパターンの書き込み方法。
（１３）
　前記サーボパターンを前記磁気記録媒体に形成することは、
　カートリッジから前記磁気記録媒体を送り出し、送り出された前記磁気記録媒体を巻き取ることにより、前記磁気記録媒体を走行させることと、
　走行する前記磁気記録媒体に形成されている第１のサーボパターンを消去することと、
　前記第１のサーボパターンが消去された、走行する前記磁気記録媒体にサーボ信号をヘッドにより書き込み、第２のサーボパターンを形成することと
　を含み、
　前記第２のサーボパターンを形成することは、
　前記磁気記録媒体の加速走行期間および減速走行期間の少なくとも一方の期間において、前記サーボ信号の書き込みを行うように前記ヘッドを制御し、規格を満たさない前記第２のサーボパターンを前記磁気記録媒体に形成することを含む（１１）に記載のサーボパターンの書き込み方法。
（１４）
　テープ状の磁気記録媒体をカートリッジに組み込むことと、
　前記カートリッジへの前記磁気記録媒体の組み込みから規定時間経過後に、サーボパターンを前記磁気記録媒体に形成することと
　を含むカートリッジの製造方法。
（１５）
　前記サーボパターンを前記磁気記録媒体に形成することは、
　前記磁気記録媒体の加速走行期間および減速走行期間の少なくとも一方の期間において、サーボ信号の書き込みを行うようにヘッドを制御し、規格を満たさないサーボパターンを前記磁気記録媒体に形成することを含む（１４）に記載のカートリッジの製造方法。
（１６）
　前記サーボパターンを前記磁気記録媒体に形成することは、
　カートリッジから前記磁気記録媒体を送り出し、送り出された前記磁気記録媒体を巻き取ることにより、前記磁気記録媒体を走行させることと、
　走行する前記磁気記録媒体に形成されている第１のサーボパターンを消去することと、
　前記第１のサーボパターンが消去された、走行する前記磁気記録媒体にサーボ信号をヘッドにより書き込み、第２のサーボパターンを形成することと
　を含み、
　前記第２のサーボパターンを形成することは、
　前記磁気記録媒体の加速走行期間および減速走行期間の少なくとも一方の期間において、前記サーボ信号の書き込みを行うように前記ヘッドを制御し、規格を満たさない前記第２のサーボパターンを前記磁気記録媒体に形成することを含む（１４）に記載のカートリッジの製造方法。

　１０　　カートリッジ
　１１　　カートリッジメモリ
　１２　　カートリッジケース
　４１　　基体
　４２　　下地層
　４３　　磁性層
　４４　　バック層
　１１０　　サーボフレーム
　１１１　　サーボサブフレーム１
　１１１Ａ　　Ａバースト
　１１１Ｂ　　Ｂバースト
　１１２　　サーボサブフレーム２
　１１２Ｃ　　Ｃバースト
　１１２Ｄ　　Ｄバースト
　１１３　　サーボストライプ
　２１０、２２０　　サーボライタ
　２１１　　カートリッジ収容部
　２１１Ａ　　スピンドル
　２１２　　リール
　２１３Ａ、２１３Ｂ、２１３Ｃ、２１３Ｄ　　ガイドローラ
　２１４　　消磁マグネット
　２１５　　サーボ信号書込ヘッド
　２１６　　ベリファイヘッド
　２１７　　制御装置
　２１８　　パルス発生回路
　２１９Ａ　　スピンドル駆動回路
　２１９Ｂ、２１９Ｃ　　リール駆動回路
　２３０　　ワインダー
　２４０　　品質検査装置
　ＭＴ　　磁気テープ
　ＳＢ　　サーボバンド
　ＤＢ　　データバインド

Claims

　カートリッジからテープ状の磁気記録媒体を送り出し、送り出された前記磁気記録媒体を巻き取ることにより、前記磁気記録媒体を走行させる走行部と、
　走行する前記磁気記録媒体に形成されている第１のサーボパターンを消去する消去部と、
　前記第１のサーボパターンが消去された、走行する前記磁気記録媒体にサーボ信号を書き込み、第２のサーボパターンを形成するヘッドと、
　前記磁気記録媒体の加速走行期間および減速走行期間の少なくとも一方の期間において、前記サーボ信号の書き込みを行うように前記ヘッドを制御し、規格を満たさない前記第２のサーボパターンを前記磁気記録媒体に形成する制御部と
　を備えるサーボライタ。
　カートリッジからテープ状の磁気記録媒体を送り出し、送り出された前記磁気記録媒体を巻き取ることにより、前記磁気記録媒体を走行させる走行部と、
　走行する前記磁気記録媒体に形成されている第１のサーボパターンを消去する消去部と、
　前記第１のサーボパターンが消去された、走行する前記磁気記録媒体にサーボ信号を書き込み、第２のサーボパターンを形成するヘッドと、
　前記磁気記録媒体の加速走行期間および減速走行期間の少なくとも一方の期間において、前記サーボ信号の書き込みを行わないように前記ヘッドを制御する制御部と
　を備えるサーボライタ。
　前記ヘッドは、５以上の記録用素子を有する請求項１に記載のサーボライタ。
　５以上の前記記録用素子がそれぞれ、前記磁気記録媒体に前記サーボ信号を書き込むことにより、５以上のサーボバンドを形成し、
　前記サーボ信号は、各前記サーボバンドを一意的に識別するための情報を含む請求項３に記載のサーボライタ。
　巻回されたテープ状の磁気記録媒体と、
　前記磁気記録媒体を収容するケースと
　を備え、
　前記磁気記録媒体は、不使用領域を有し、
　前記不使用領域には、規格を満たさないサーボパターンが形成されているか、またはサーボパターンが形成されていないカートリッジ。
　前記不使用領域は、
　前記磁気記録媒体の巻き終わり側に設けられた第１の不使用領域と、
　前記磁気記録媒体の巻き始め側に設けられた第２の不使用領域と
　を備える請求項５に記載のカートリッジ。
　前記磁気記録媒体は、５以上のサーボバンドを有する請求項５に記載のカートリッジ。
　５以上の前記サーボバンドは、各前記サーボバンドを一意的に識別するための情報を含む請求項７に記載のカートリッジ。
　前記磁気記録媒体は磁性層を備え、
　垂直方向における前記磁性層の角形比は、６５％以上である請求項５に記載のカートリッジ。
　前記磁性層は、磁性粉を含み、
　前記磁性粉は、六方晶フェライト、ε酸化鉄またはＣｏ含有スピネルフェライトを含む請求項９に記載のカートリッジ。