WO2021070708A1 - 干渉光生成素子及び干渉イメージング装置 - Google Patents

干渉光生成素子及び干渉イメージング装置 Download PDF

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    • G03H2225/30Modulation
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Definitions

  • the present invention relates to an interference light generating element that generates interference light from incident light, and an interference imaging device that generates a complex amplitude image from the interference light.
  • Information on the wavelength characteristics of light is widely used in various forms as vital signs such as the health condition of living organisms, types and characteristics of substances and materials, and useful features in object recognition and identification of the naked eye and robot vision.
  • a method of acquiring wavelength information as a tint a time-divided recording in which an RGB color filter is placed in front of an image sensor for imaging, or a diffraction grid or a prism is used to disperse RGB light and then three imaging units are imaged. Spatial division recording has been proposed in which an image of each color of RGB is captured by an element.
  • a method for acquiring wavelength information a method using an image sensor equipped with a Bayer type color filter array has been proposed.
  • the wavelength information is separated by the spectral absorption of each filter, it is difficult to acquire clear wavelength information under the condition that the amount of light is limited.
  • Patent Document 1 a multi-wavelength sensing method including spectral signal processing based on computational coherent multiplexing has been proposed using phase modulation instead of light absorption.
  • phase modulation instead of light absorption
  • Patent Document 1 different phase modulation is applied as a temporal or spatial pattern for each wavelength, and a wavelength division multiplexing image is acquired by a monochrome image sensor.
  • a light source 90 that emits light having a different wavelength is provided, a phase modulation element 94 is arranged in the optical path of the reference light in the two-beam interferometer 9, and the phase modulation element 98 is used for phase modulation. Get an image.
  • phase modulation element 94 examples include a mirror with a piezo, a spatial light modulator, a wave plate, and a wave plate array.
  • the wave number is N
  • image information of each wavelength can be acquired from 2N images.
  • the phase modulation pattern is not always regular, and it is sufficient that the phase modulation amount of at least one image out of the 2N images is different from that of the other images.
  • the wavelength information is separated and extracted by the signal processing of the calculation unit 99 without using the spectral absorption, high light utilization efficiency can be realized.
  • Patent Document 2 a method of performing spectral signal processing with an arbitrary phase modulation amount has also been proposed.
  • Patent Document 2 a method of performing spectral signal processing with an arbitrary phase modulation amount has also been proposed.
  • an electro-optical element utilizing an electro-optical effect can also be used as the phase modulation element.
  • This electro-optical element is arranged on one side of the optical path of the two-luminous flux interferometer or on an optical path through which two light waves pass together.
  • the two-beam interferometer 9 includes optical elements such as a mirror 91, a half mirror 92, a beam splitter 93, 97, an objective lens 95, and a convex lens 96 in order to form an optical path between the object light and the reference light. It is necessary to increase the size and complexity of the device. As a result, in the above-mentioned conventional technique, when different disturbances (for example, vibrations) occur in each optical path, the phase of the interference light changes, and the measurement accuracy may be significantly lowered.
  • different disturbances for example, vibrations
  • the interference light generating element is a common path type interference light generating element that generates interference light from incident light, reflects a part of the incident light, and the remaining input light.
  • the phase modulation element phase-modulates the light wave separation element that allows the emitted light to pass, the phase modulation element that phase-modulates the incident light that has passed through the light wave separation element, and the incident light that is reflected by the light wave separation element. It is configured to include a reflecting member that reflects the incident light. According to such an interference light generating element, it is not necessary to separately form an optical path for the object light and the reference light as in the case of a two-luminous flux interferometer, and the configuration can be simplified.
  • the reflective member is preferably a parallel flat plate, a wedge shape, a convex shape or a concave shape. According to such an interference light generating element, by forming the reflecting member into a wedge shape, the area of light wave interference can be increased, differential interference can be performed, and interference light can be easily generated. Further, according to the interference light generating element, it is possible to generate a concentric interference light intensity distribution by making the reflecting member convex or concave.
  • the interference imaging apparatus includes the above-mentioned interference light generation element, an interference light detection unit that detects the interference light generated by the interference light generation element, and a predetermined phase modulation pattern.
  • the phase modulation element is phase-modulated with wavelength dependence, and is provided with a calculation unit that generates a complex amplitude image from the interference light detected by the interference light detection unit by a computational coherent multiplexing or Fourier spectroscopy algorithm. ..
  • a computational coherent multiplexing or Fourier spectroscopy algorithm .
  • the interference imaging apparatus includes a common path type interference light generating element that generates interference light from incident light and interference light that detects interference light generated by the interference light generating element.
  • An interference imaging device including a detection unit and an arithmetic unit that generates a complex amplitude image from the interference light detected by the interference light detection unit.
  • the interference light generation element separates the incident light into two light waves.
  • a phase modulation element that passes or phase-modulates one incident light separated by the light wave separation element and one incident light separated by the light wave separation element, and passes or phase-modulates the other incident light separated by the light wave separation element, and the phase modulation.
  • a light wave coupling element that combines one incident light emitted from the element and the other incident light as the interference light is provided, and the arithmetic unit has a phase with the phase modulation element in a predetermined phase modulation pattern with wavelength dependence.
  • the complex amplitude image is generated from the interference light by a computational coherent multiplexing or Fourier spectroscopic algorithm. According to such an interference imaging device, it is not necessary to separately form an optical path for the object light and the reference light as in the case of a two-luminous flux interferometer, and the configuration can be simplified.
  • the light wave separating element is a light wave separating polarizing element that separates the incident light into two light waves having different polarization directions, and the phase modulation element is separated by the light wave separating element. It is a polarization-sensitive phase modulation element that phase-modulates the incident light in a predetermined polarization direction and passes the incident light in another polarization direction separated by the light wave separation element, and the light wave coupling element is the phase modulation element.
  • a light wave-coupled polarizing element that combines incident light in a predetermined polarization direction and incident light in another polarization direction emitted from the light wave-coupled polarizing element, and a polarizer that matches the polarization directions of the incident light combined with the light wave-coupled polarizing element. It is preferable to prepare. According to such an interference imaging device, an interference fringe image can be generated by utilizing the polarization characteristic.
  • the interference imaging apparatus includes a common path type interference light generating element that generates interference light from incident light and interference light that detects the interference light generated by the interference light generating element.
  • An interference imaging device including a detection unit and an arithmetic unit that generates a complex amplitude image from the interference light detected by the interference light detection unit, and the interference light generation element separates the incident light into two light waves.
  • the light wave separating element and one incident light separated by the light wave separating element are phase-modulated, and the other incident light separated by the light wave separating element and the one incident light are superposed and emitted as the interference light.
  • a phase modulation element is provided, and the calculation unit performs phase modulation on the phase modulation element with a predetermined phase modulation pattern with wavelength dependence, and obtains the complex amplitude image from the interference light by a computational coherent multiplexing or Fourier spectroscopic algorithm. It was configured to generate. According to such an interference imaging device, it is not necessary to separately form an optical path for the object light and the reference light as in the case of a two-luminous flux interferometer, and the configuration can be simplified.
  • the phase modulation elements have different thicknesses or different phase modulation gradients. According to such an interference imaging device, the area of light wave interference can be increased, differential interference can be performed, and interference light can be easily generated.
  • the light wave separating element is preferably wedge-shaped, convex or concave.
  • the area of light wave interference can be increased, differential interference can be performed, and interference light can be easily generated.
  • the interference imaging device it is possible to generate a concentric interference light intensity distribution by making the reflecting member convex or concave.
  • FIG. (A) and (b) are schematic block diagrams of the interference light generation element which concerns on modification 1. It is a schematic block diagram of the interference light generation element which concerns on modification 2.
  • FIG. It is a schematic block diagram of the interference light generation element which concerns on modification 3.
  • FIG. It is a schematic block diagram of the interference light generation element which concerns on modification 4.
  • FIG. It is a schematic block diagram of the interference light generation element which concerns on modification 6.
  • (A) is a schematic configuration diagram of the interference light generating element according to the third embodiment, and (b) is an explanatory diagram explaining the arrangement of the image pickup element. It is a schematic block diagram of the interference light generation element which concerns on 4th Embodiment. It is a schematic block diagram of the interference light generation element which concerns on modification 9.
  • the interference imaging device 1 is a common path type interferometer that generates a complex amplitude image, and is calculated by a light source 2, an interference light generation element 3, an image pickup element (interference light detection unit) 4, and an operation.
  • a unit 5 is provided.
  • the interference imaging device 1 is a reflection type that reflects incident light.
  • the light source 2 emits light to the interference light generating element 3.
  • the light emitted by the light source 2 becomes the incident light of the interference light generating element 3.
  • a light source that emits incoherent light for example, general lighting equipment or sunlight
  • the light source 2 may be a laser light source that emits coherent laser light.
  • the light emitted by the light source 2 may have either a single wavelength or a plurality of wavelengths.
  • the object to be subject to interference imaging may be arranged between the light source 2 and the interference light generation element 3, or between the interference light generation element 3 and the image pickup element 4.
  • the interference light generation element 3 generates interference light from the incident light emitted by the light source 2.
  • the interference light generated by the interference light generation element 3 is incident on the image pickup element 4. That is, the interference light generation element 3 is a common path type optical device having the same optical path and a reflection type optical device that reflects incident light.
  • the interference light generating element 3 is arranged on the optical axis of the light source 2 (on the right side of the drawing), and the light source 2 and the image sensor 4 are arranged so that the incident light from the light source 2 can be reflected by the image sensor 4. It is arranged at an angle with respect to. The details of the interference light generating element 3 will be described later.
  • the image sensor 4 detects the interference light generated by the interference light generation element 3. That is, the image sensor 4 acquires the information of the interference light (interference fringe image) from the interference light generation element 3, and outputs the acquired information of the interference light to the calculation unit 5.
  • a general light receiving element such as a CCD (Charge Coupled Device) or a CMOS (Complementary Metal Oxide Semiconductor) can be exemplified.
  • the image pickup device 4 is arranged below the interference light generation element 3 so that the interference light from the interference light generation element 3 is incident.
  • the calculation unit 5 causes the phase modulation element 31 to perform phase modulation with a predetermined phase modulation pattern with wavelength dependence. Further, the calculation unit 5 generates a complex amplitude image from the interference light detected by the image pickup device 4 by the calculation coherent multiplexing or Fourier spectroscopy algorithm.
  • the calculation unit 5 is a general computer that performs the above-mentioned calculation, and is connected to the interference light generation element 3 and the image pickup element 4 via a signal cable. The details of the calculation unit 5 will be described later.
  • the interference light generating element 3 will be described in detail with reference to FIG.
  • the interference light generating element 3 includes a light wave separating element 30, a phase modulation element 31, a reflecting member 32, and a housing 33.
  • the light L1 emitted by the light source 2 and reflected by the light wave separating element 30 is shown by thin dots.
  • the light L2 that has been phase-modulated by the phase modulation element 31 and reflected by the reflection member 32 is shown by dots having a medium density.
  • the light L3 in which these two overlap is illustrated by dark dots.
  • the light wave separating element 30 reflects a part of the incident light (light L1) emitted by the light source 2 and allows the remaining incident light (light L2) to pass through.
  • the light wave separating element 30 reflects a part of the incident light toward the reflecting member 32, and passes the rest of the unreflected incident light to the phase modulation element 31.
  • the light wave separating element 30 include a mirror structure (for example, a half mirror) having a predetermined reflectance and transmittance, a diffraction grating, or a double focus lens.
  • the ratio of the reflected incident light to the transmitted incident light is arbitrary, and is not limited to 1: 1 like a half mirror.
  • the phase modulation element 31 phase-modulates the incident light (light L2) that has passed through the light wave separation element 30.
  • the phase modulation element 31 is arranged so as to be adjacent to the light wave separation element 30.
  • the phase modulation element 31 receives a phase modulation pattern that is temporally or spatially different for each wavelength from the calculation unit 5, and therefore phase-modulates the incident light based on this phase modulation pattern.
  • the phase modulator 31 includes a liquid lens, an acousto-optic modulator (AOM), a variable optical path length cell, a liquid crystal element, an array of liquid crystal elements, an electrooptical element, and an electrooptical modulator (EOM:).
  • Electro-Optic Modulator compound refraction material such as wavelength plate, array of double refraction material, or spatial light modulator (SLM) such as reflective spatial light modulator (LCOS-SLM: Liquid Crystal On Silicon-Spatial Light Modulator) : Spatial Light Modulator) can be illustrated. Further, in the phase modulation element 31, a method of controlling the refractive index of a liquid or a birefringent material by heat may be used.
  • the reflecting member 32 reflects the incident light (light L2) phase-modulated by the phase modulation element 31 so as to overlap the incident light (light L1) reflected by the light wave separating element 30.
  • the reflection member 32 is arranged so as to be adjacent to the phase modulation element 31. That is, the reflecting member 32 reflects the remaining incident light so that the optical paths of a part of the incident light reflected by the light wave separating element 30 and the remaining incident light that has passed through the phase modulation element 31 overlap.
  • the reflecting member 32 a general mirror can be exemplified (including a parallel flat plate shape).
  • the reflective member 32 may be a reflective layer coated with a reflective material (for example, aluminum coding).
  • the housing 33 houses the light wave separation element 30, the phase modulation element 31, and the reflection member 32 (shown by a broken line).
  • the housing 33 is a box-shaped case made of metal.
  • the housing 33 has an opening (not shown) that exposes the incident surface of the light wave separating element 30 so that the incident light reaches the incident surface of the light wave separating element 30.
  • the light wave separating element 30, the phase modulation element 31, and the reflecting member 32 are adjacent to each other inside the housing 33, they may be separated from each other.
  • the interference light generating element 3 can generate interference light (light L3). That is, as shown in FIG. 2, the incident light from the light source 2 is reflected by the light wave separating element 30 together with the light L2 that has passed through the light wave separating element 30 and is incident on the phase modulation element 31. It is separated from the light L1 that does not enter the phase modulation element 31. Then, the light L2 that has passed through the light wave separation element 30 is phase-modulated by the phase modulation element 31. Further, the light L2 phase-modulated by the phase modulation element 31 is reflected by the reflection member 32.
  • the light L1 reflected by the light wave separating element 30 and the light L2 phase-modulated by the phase modulation element 31 interfere with each other at the overlapping portion, and the light L3 which is the interference light is generated. After that, the interference light is incident on the image sensor 4.
  • the calculation unit 5 uses computational coherent superposition (CCS) such as a phase shift interferometry or a phase shift method capable of selectively extracting wavelength information.
  • CCS computational coherent superposition
  • the number of wavelengths is N
  • the matrix of the interference light intensity of the interference fringe image is In
  • the matrix of the phase modulation amount in the incident light of N wavelength is P
  • the matrix of the complex amplitude distribution in the incident light of N wavelength is U.
  • is a phase modulation amount
  • I (x, y: ⁇ 1 m , ..., ⁇ Nm ) is a wavelength multiple interference fringe image having a phase shift amount ⁇ 1 m , ..., ⁇ Nm with respect to wavelengths ⁇ 1 , ..., ⁇ N.
  • a sum of 0-order diffracted light intensity I 0th in the interference fringe image, of the object light A oi at wavelength lambda i amplitude of the reference light A ri at the wavelength lambda i amplitude, phi oi the object beam at the wavelength lambda i Let the phase be (i and m are subscripts).
  • the matrix P of the phase modulation amount corresponding to the N wavelength becomes important. For example, by setting the phase modulation amount matrix P so that the number of conditions is reduced according to the interference light generating element 3, the calculation accuracy is improved.
  • An example of computational coherent multiplexing is described in detail in Patent Documents 1 and 2 described above, and further description thereof will be omitted.
  • calculation unit 5 may use a general Fourier spectroscopic algorithm.
  • the arithmetic unit 5 can use a Fourier spectroscopic algorithm based on time heterodyne or spatial heterodyne.
  • the calculation unit 5 can perform calculation processing on the interference fringe image to generate a complex amplitude image corresponding to a diffraction image of an object. Then, the calculation unit 5 performs arithmetic processing such as diffraction integration on the complex amplitude image to obtain an in-focus image at an arbitrary depth. As a result, the interference imaging device 1 can perform lensless three-dimensional image sensing.
  • the interference imaging device 1 does not need to separately form the optical paths of the object light and the reference light as in the two-luminous flux interferometer 9 (FIG. 29), and the configuration can be simplified. Further, since the interference imaging device 1 does not require an imaging lens, it can be miniaturized. Further, since the interference imaging device 1 can also use a light source 2 (for example, general lighting equipment or sunlight) that emits incoherent light, versatility can be improved. Further, since the interference imaging device 1 uses the phase modulation element 31 that operates at high speed, the real-time property can be improved. Further, since the interference imaging device 1 does not require mechanical drive, it is more resistant to vibration than the two luminous flux interferometer 9 and is easy to carry, so that reliability and convenience can be improved.
  • a light source 2 for example, general lighting equipment or sunlight
  • the interference light generating element 3B according to the first modification will be described as being different from the first embodiment.
  • the interference light generating element 3B differs from the first embodiment in that the reflecting member 32B has a wedge shape. Since each configuration other than the reflective member 32B is the same as that of the first embodiment, the description thereof will be omitted. Further, in FIG. 3B, the illustration of the incident light is omitted in order to make the drawing easier to see.
  • the reflective member 32B is a wedge-shaped flat surface on the side where the incident light is incident, that is, a reflective surface 32IN that reflects the incident light.
  • This wedge shape is a shape that inclines from one end toward the other end. Therefore, the reflection member 32B has one end side (lower side in the drawing) thicker than the other end side (upper side in the drawing), and the gap between the reflection surface 32IN and the phase modulation element 31 becomes larger on the other end side. Further, in the reflection member 32B, the flat surface 32OUT on the back side facing the reflection surface 32IN is parallel to the phase modulation element 31.
  • the wedge-shaped inclined surface may or may not be flat.
  • the interference light generating element 3B since the interference light generating element 3B has the reflecting member 32B in a wedge shape, the propagation direction of the light wave phase-modulated by the phase modulation element 31 can be changed. As a result, as shown in FIG. 3A, the interference light generation element 3B can increase the region of light wave interference, enable differential interference, and easily generate interference light.
  • the interference light generating element 3C according to the second modification will be described as being different from the first embodiment.
  • the interference light generating element 3C differs from the first embodiment in that the light wave separating element 30C has a wedge shape. Since each configuration other than the light wave separating element 30C is the same as that of the first embodiment, the description thereof will be omitted.
  • the light wave separating element 30C has a wedge-shaped incident surface 30IN on which incident light is incident. Therefore, the light wave separating element 30C has one end side (lower side in the drawing) thinner than the other end side (upper side in the drawing). Further, in the light wave separation element 30C, a flat surface on the back side facing the incident surface 30IN, that is, an exit surface 30OUT that emits incident light is parallel to the phase modulation element 31.
  • the light wave separation element 30C may have a wedge shape on the exit surface 30OUT instead of the entrance surface 30IN (not shown). In this case, since a gap is generated between the light wave separation element 30C and the phase modulation element 31, it is preferable to prevent stray light from being emitted at the boundary.
  • the interference light generating element 3C has the light wave separating element 30C in a wedge shape, the propagation direction of the light wave can be changed, and the same effect as that of the first modification is obtained.
  • the interference light generating element 3D according to the third modification will be described as being different from the first embodiment.
  • the interference light generating element 3D differs from the first embodiment in that the thickness of the phase modulation element 31D is changed. Since each configuration other than the phase modulation element 31D is the same as that of the first embodiment, the description thereof will be omitted.
  • the thickness of the phase modulation element 31D is changed so that one end side (lower side in the drawing) is thinner than the other end side (upper side in the drawing). That is, the overall thickness of the phase modulation element 31D is not uniform.
  • the phase modulation element 31D is thinned on the side of the incident surface 31IN on which the incident light is incident, the gap between the incident surface 31IN and the light wave separating element 30 becomes large on one end side.
  • a flat surface on the back side facing the incident surface 31IN that is, an exit surface 31OUT that emits incident light is parallel to the reflection member 32.
  • the phase modulation element 31D may be thinned not on the incident surface 31IN side but on the exit surface 31OUT side (not shown).
  • the interference light generating element 3D has a different thickness of the phase modulation element 31D, the propagation direction of the light wave can be changed by refraction, and the same effect as that of the first modification is obtained.
  • the propagation direction of the light wave can be controlled by changing the gradient of the phase modulation instead of changing the thickness of the phase modulation element 31D.
  • the calculation unit 5 can change the gradient of the phase modulation by adding a bias to the phase modulation amount. Specifically, the calculation unit 5 may increase or decrease the bias of the phase modulation amount for each pixel (address) of the phase modulation element 31D.
  • the interference light generating element 3E according to the modified example 4 will be described as being different from the first embodiment.
  • the interference light generating element 3E is different from the first embodiment in that the reflecting member 32E is concave. Since each configuration other than the reflective member 32E is the same as that of the first embodiment, the description thereof will be omitted.
  • the reflective member 32E has a concave reflective surface 32IN. Therefore, the reflective member 32E has a cylindrical reflective surface 32IN whose central portion is thinner than both ends, and the gap between the reflective surface 32IN and the phase modulation element 31 becomes large at the central portion. Further, in the reflection member 32E, the flat surface 32OUT on the back side is parallel to the phase modulation element 31.
  • the interference light generating element 3E since the interference light generating element 3E has the reflective member 32E concave, the difference in radius of curvature of the wave surface between the light wave passing through the phase modulation element 31 and the light wave not passing through the phase modulation element 31 can be changed. .. As a result, the interference light generation element 3E can generate a concentric interference light intensity distribution like the Fresnel zone plate.
  • the interference light generating element 3F is different from the first embodiment in that the reflecting member 32F is convex. Since each configuration other than the reflective member 32F is the same as that of the first embodiment, the description thereof will be omitted.
  • the reflective member 32F is a convex reflection surface 32IN. Therefore, the reflecting member 32F has a cylindrical reflecting surface 32IN whose central portion is thicker than both ends, and the gap between the reflecting surface 32IN and the phase modulation element 31 becomes large at both ends. Further, in the reflection member 32F, the flat surface 32OUT on the back side is parallel to the phase modulation element 31.
  • the interfering light generating element 3F has the reflecting member 32E in a convex shape, the difference in the radius of curvature of the wave surface can be changed, and the same effect as that of the modified example 4 can be obtained.
  • the interference light generating element 3G is different from the first embodiment in that the light wave separating element 30G is concave. Since each configuration other than the light wave separating element 30G is the same as that of the first embodiment, the description thereof will be omitted.
  • the light wave separating element 30G has an incident surface 30IN having a concave shape. Therefore, the light wave separating element 30G has a cylindrical incident surface 30IN whose central portion is thinner than both ends. Further, in the light wave separation element 30G, the emission surface 30OUT is parallel to the phase modulation element 31.
  • the light wave separation element 30G may have a concave emission surface 30OUT instead of the entrance surface 30IN (not shown).
  • the interference light generating element 3G has the light wave separating element 30G in a concave shape, the difference in the radius of curvature of the wave surface can be changed, and the same action and effect as in the modified example 4 can be obtained.
  • Modification 7 Convex light wave separation element
  • the points different from the first embodiment will be described with respect to the interference light generating element 3H according to the modified example 7.
  • the interference light generating element 3H is different from the first embodiment in that the light wave separating element 30H is convex. Since each configuration other than the light wave separating element 30H is the same as that of the first embodiment, the description thereof will be omitted.
  • the light wave separating element 30H has an incident surface 30IN having a convex shape. Therefore, the light wave separating element 30H has a cylindrical incident surface 30IN whose central portion is thicker than both ends. Further, in the light wave separation element 30H, the emission surface 30OUT is parallel to the phase modulation element 31.
  • the light wave separation element 30H may have a convex emission surface 30OUT instead of the entrance surface 30IN (not shown).
  • the interference light generating element 3H has the light wave separating element 30H in a convex shape, the difference in the radius of curvature of the wave surface can be changed, and the same effect as that of the modified example 4 is obtained.
  • the interference light generating element 3I (Modification 8: Utilization of polarization characteristics)
  • the interference light generating element 3I will be described as being different from the first embodiment.
  • the interference light generating element 3I is different from the first embodiment in that it utilizes polarization characteristics. Since each configuration other than the light wave separating element 30I and the polarizer 34 is the same as that of the first embodiment, the description thereof will be omitted.
  • the light wave separating element 30I is a light wave separating polarizing element that separates the incident light emitted by the light source 2 into two light waves having different polarization directions.
  • the light wave separating element 30 reflects a light wave in a certain polarization direction toward the reflecting member 32, and passes a light wave in another polarization direction to the phase modulation element 31.
  • the polarizer 34 matches the polarization directions of the incident light reflected by the light wave separating element 30 and the incident light phase-modulated by the phase modulation element 31.
  • the light wave that has passed through the polarizer 34 has the same polarization components and becomes interference light, and is incident on the image sensor 4 (FIG. 1).
  • the interference light generating element 3I is a light wave separating polarizing element that separates the incident light emitted by the light source 2 into two light waves having different polarization directions, and the polarizer 34 is arranged on the optical path.
  • the visibility of interference fringes can be improved.
  • a wave plate, a square stone, a birefringent lens, or other birefringent material between the interference light generating element 3I or the interfering light generating element 3I and the polarizer 34, a light wave in a certain polarization direction is inserted. It is possible to adjust the optical path length difference between the light wave and the light wave in other polarization directions, and improve the visibility of the interference fringes.
  • the phase modulation element 31 having polarization characteristics when the phase modulation element 31 having polarization characteristics is arranged, the other polarization directions passing through the light wave separation element 30I are made to match the polarization directions modulated by the phase modulation element 31, so that the light utilization efficiency is high.
  • the phase of the light wave can be modulated, and the visibility of the interference fringes can be improved.
  • this modification can be similarly applied to other forms using the polarization sensitive phase modulation element.
  • the interference imaging device 100 is a common path type interferometer that generates a complex amplitude image, and includes a light source 2, an image pickup element 4, a calculation unit 5, and an interference light generation element 300.
  • the interference imaging device 100 is a transmission type that transmits incident light.
  • the image pickup device 4 is arranged on the side of the interference light generation element 300 so that the interference light from the interference light generation element 300 is incident. Since each configuration other than the interference light generating element 300 is the same as that of the first embodiment, the description thereof will be omitted.
  • the interference light generation element 300 includes a light wave separation element 310, a phase modulation element 320, a light wave coupling element 330, and a housing 340.
  • the interference light generation element 300 includes a light wave separation element 310, a phase modulation element 320, a light wave coupling element 330, and a housing 340.
  • one light L1 separated by the light wave separating element 310 is illustrated by thin dots.
  • the other light L2 separated by the light wave separating element 310 is illustrated by dots having a medium density.
  • the light L3 in which these two overlap is illustrated by dark dots.
  • the light wave separation element 310 separates the incident light emitted by the light source 2 into two light waves (light L1 and light L2). As shown in FIG. 13, as the light wave separation element 310, a combination of a transmission mirror 311 and a reflection mirror 312 can be exemplified.
  • the transmission mirror 311 reflects a part of the incident light from the light source 2 toward the reflection mirror 312, and transmits the remaining incident light to the phase modulation element 320 (for example, a half mirror).
  • the reflection mirror 312 reflects a part of the incident light from the transmission mirror 311 toward the phase modulation element 320. That is, the incident light from the light source 2 is separated into two parallel light waves by the light wave separating element 310, and is incident on different positions of the phase modulation element 320.
  • the light wave separating element 310 may integrate a triangular columnar transparent member 313, a transmission layer 314, a parallelepiped transparent member 315, and a reflection layer 316.
  • the transparent members 313 and 315 are members such as glass that transmit incident light.
  • the transmission layer 314 is formed on the boundary surface of the transparent members 313 and 315, reflects a part of the incident light toward the reflection layer 316, and transmits the remaining incident light to the phase modulation element 320.
  • a half mirror or a transmission film having a predetermined reflectance and refractive index can be exemplified.
  • the reflection layer 316 is formed on a flat surface of the transparent member 315 facing the transmission layer 314, and reflects a part of the incident light from the transmission layer 314 toward the phase modulation element 320. As described above, since each member of the light wave separating element 310 is integrated, it becomes more resistant to vibration. In the light wave separation element 310 of FIGS. 13 and 14, the ratio of separating the incident light into two light waves is arbitrary, and is not limited to 1: 1 as in the half mirror.
  • the phase modulation element 320 phase-modulates one incident light (light L1) separated by the light wave separating element 310 and passes the other incident light (light L2) separated by the light wave separating element 310.
  • the phase modulation element 320 is arranged so as to face the light wave separation element 310.
  • the phase modulation element 320 since the phase modulation element 320 receives a phase modulation pattern that is temporally or spatially different for each wavelength from the calculation unit 5, one of the incident lights is phase-modulated based on this phase modulation pattern. ..
  • the phase modulation element 320 passes one incident light reflected by the reflection mirror 312 with phase modulation, and passes the other light incident from the transmission mirror 311 without phase modulation. At this time, the phase modulation element 320 may compensate the wave surface of the other incident light incident from the transmission mirror 311. In this way, in the phase modulation element 320, since the incident light of one and the other passes through different places, each incident light can be phase-modulated separately, and the phase modulation range can be expanded (about twice). As the phase modulation element 320, the same one as that of the phase modulation element 31 of FIG. 1 can be exemplified except that the phase modulation element 320 is unique to the reflection type.
  • the light wave coupling element 330 combines one incident light (light L1) and the other incident light (light L2) emitted from the phase modulation element 320 as interference light (light L3).
  • the light wave coupling element 330 changes the direction of one incident light emitted from the phase modulation element 320 and couples so as to overlap the other incident light.
  • the light wave coupling element 330 is arranged so as to face the phase modulation element 320.
  • the light wave coupling element 330 a combination of a transmission mirror and a reflection mirror can be exemplified as in the light wave separation element 310 of FIG.
  • the reflection mirror reflects one incident light from the phase modulation element 320 toward the reflection mirror.
  • the transmission mirror passes the other incident light from the phase modulation element 320 and reflects one incident light from the reflection mirror again.
  • the light wave coupling element 330 may have an integrated configuration like the light wave separating element 310 of FIG.
  • the housing 340 houses the light wave separating element 310, the phase modulation element 320, and the light wave coupling element 330 (shown by a broken line).
  • the housing 340 is a box-shaped case made of metal.
  • the housing 340 has openings (not shown) that expose the incident surface of the light wave separating element 310 and the exit surface of the light wave coupling element 330, respectively.
  • the light wave separating element 310, the phase modulation element 320, and the light wave coupling element 330 are separated from each other, but may be adjacent to each other.
  • the interference light generating element 300 can generate interference light (light L3). That is, the incident light from the light source 2 is separated by the light wave separation element 310 into light L1 that is phase-modulated by the phase modulation element 320 and light L2 that is not phase-modulated by the phase modulation element 320. Then, one light L1 that has passed through the light wave separation element 30 is phase-modulated by the phase modulation element 31. Further, the two lights L1 and L2 emitted from the phase modulation element 31 are coupled by the light wave coupling element 330.
  • interference occurs at the portion where the light L1 phase-modulated by the phase modulation element 320 and the light L2 not phase-modulated by the phase modulation element 320 overlap, and the light L3 which is the interference light is generated. After that, the interference light is incident on the image sensor 4.
  • the interference imaging device 100 does not need to separately form optical paths for the object light and the reference light as in the two-luminous flux interferometer 9 (FIG. 29), and the configuration can be simplified. Further, since the interference imaging device 100 does not require an imaging lens, it can be miniaturized. Further, since the interference imaging device 100 can also use a light source 2 (for example, general lighting equipment or sunlight) that emits incoherent light, versatility can be improved. Further, since the interference imaging device 100 uses the phase modulation element 320 that operates at high speed, the real-time property can be improved. Further, since the interference imaging device 1 does not require mechanical drive, it is more resistant to vibration than the two luminous flux interferometer 9 and is easy to carry, so that reliability and convenience can be improved.
  • a light source 2 for example, general lighting equipment or sunlight
  • the interference light generating element 300B according to the third embodiment will be described as being different from the second embodiment.
  • the interference light generating element 300B is different from the second embodiment in that it does not include the light wave coupling element 330 (FIG. 12). That is, the interference light generation element 300B includes a light wave separation element 310, a phase modulation element 320B, and a housing 340. Since each configuration other than the phase modulation element 320B is the same as that of the second embodiment, the description thereof will be omitted.
  • the phase modulation element 320B phase-modulates one incident light separated by the light wave separating element 310, superimposes the other incident light separated by the light wave separating element 310, and emits the other incident light as interference light. Is.
  • the interference light generating element 300B does not include the light wave coupling element 330, the phase modulation element 320B needs to change the direction of the other incident light (coarse dots) separated by the light wave separating element 310.
  • a phase modulation pattern for phase-modulating one incident light (thin dots) and a control signal for diffracting the other incident light are input from the calculation unit 5. Then, the phase modulation element 320B phase-modulates one incident light based on the phase modulation pattern, and diffracts the other incident light based on the control signal.
  • the image pickup element 4 needs to be arranged at a place where one incident light and the other incident light overlap, as shown in FIG. 15B. is there.
  • the image sensor 4 is not limited to a place where all of the incident light of one and the incident light of the other overlap, and may be arranged at a place where at least a part of the incident light overlaps (not shown).
  • the interference light generating element 300B has the same effect as that of the second embodiment even if the light wave coupling element 330 is not provided. Further, since the interference light generating element 300B can omit the light wave coupling element 330, further miniaturization can be achieved.
  • the interference light generating element 300C As reference to FIG. 16, the interference light generating element 300C according to the fourth embodiment will be described as being different from the second embodiment.
  • the interference light generating element 300C is different from the second embodiment in that it utilizes polarization characteristics.
  • the interference light generating element 300C includes a housing 340, a light wave separating polarizing element 350, a polarization sensitive phase modulation element 360, a light wave coupling polarizing element 370, and a polarizer 380.
  • the light wave separation polarizing element 350 separates the incident light emitted by the light source 2 into two light waves having different polarization directions.
  • the light wave separation polarizing element 350 separates the incident light into two light waves whose polarization directions are orthogonal to each other. Therefore, the incident light from the light source 2 is separated into two light waves having different polarization directions by the light wave separation polarizing element 350, and is incident on the polarization sensitive phase modulation element 360 while being parallel to each other and partially overlapping.
  • Examples of the light wave separation polarizing element 350 include a polarizing prism such as a Wollaston prism, calcite, and an ⁇ -BBO crystal.
  • the light wave separating polarizing element 350 may have an integrated configuration like the light wave separating element 310 of FIG.
  • the transmission layer may be a member that transmits horizontal polarized light and reflects vertical polarized light, such as a polarizing beam splitter. Since each member of the light wave separating polarizing element 350 is integrated, it becomes more resistant to vibration.
  • the polarization sensitive phase modulation element 360 phase-modulates incident light (thin dots) in a predetermined polarization direction separated by the light wave separation polarization element 350, and enters light in another polarization direction separated by the light wave separation polarization element 350 (thin dots). Coarse dots) are passed through.
  • a phase modulation pattern that is temporally or spatially different for each wavelength is input from the calculation unit 5, so that the incident in a predetermined polarization direction is based on this phase modulation pattern.
  • Phase-modulate light At this time, the polarization-sensitive phase modulation element 360 may compensate the wave surface of the other incident light incident from the light wave separation polarizing element 350.
  • LCOS-SLM Liquid Crystal On Silicon-Spatial Light Modulator
  • EOM electro-optical modulator
  • the light wave coupling polarizing element 370 combines the incident light in a predetermined polarization direction and the incident light in another polarization direction emitted from the polarization sensitive phase modulation element 360.
  • the light wave coupled by the light wave coupling polarizing element 370 has a different polarization component and is incident on the polarizer 380.
  • examples of the light wave-coupled polarizing element 370 include a polarizing prism such as a Wollaston prism, calcite, and an ⁇ -BBO crystal.
  • the light wave coupling polarizing element 370 may have an integrated configuration like the light wave separating polarizing element 350.
  • the polarizer 380 matches the polarization directions of the light waves coupled by the light wave coupling polarizing element 370.
  • the light wave that has passed through the polarizer 380 becomes interference light with the same polarization components, and is incident on the image sensor 4 (FIG. 11).
  • the interference light generating element 300C has the same effect as that of the second embodiment. Further, in the interference light generation element 300C, since the polarizer 380 is arranged on the optical path, the visibility of the interference fringes can be improved.
  • the interference light generating element 300D according to the modified example 9 will be described as being different from the second embodiment. As shown in FIG. 17, the interference light generating element 300D differs from the second embodiment in that the thickness of the phase modulation element 320D is changed.
  • phase modulation element 320D Since the phase modulation element 320D has a different thickness as in the phase modulation element 31D of FIG. 5, the description thereof will be omitted. Further, instead of changing the thickness of the phase modulation element 320D, the gradient of the phase modulation may be changed. Further, since each configuration other than the phase modulation element 320D is the same as that of the second embodiment, the description thereof will be omitted. Further, although the configurations of the interference light generating element 300D are adjacent to each other, they may be separated as in FIG. 11 (the same applies to the modified examples 10 to 13 described later).
  • the interference light generation element 300D has a different thickness of the phase modulation element 320D, the propagation direction of the light wave passing through the phase modulation element 320D can be changed. As a result, the interference light generation element 300D can increase the area of light wave interference, enable differential interference, and easily generate interference light.
  • the interference light generating element 300E according to the modified example 10 will be described as being different from the second embodiment.
  • the interference light generating element 300E is different from the second embodiment in that the light wave separating element 310E has a wedge shape.
  • the light wave separation element 310E has a wedge shape similar to the light wave separation element 30C of FIG. 4, the description thereof will be omitted. Further, in the light wave separating element 310 of FIG. 13, the same effect as the wedge shape can be obtained by tilting the transmitting mirror 311 and the reflecting mirror 312 in the parallel state in different directions (not shown). Further, since each configuration other than the light wave separating element 310E is the same as that of the second embodiment, the description thereof will be omitted.
  • the interference light generating element 300E has the light wave separating element 310E in a wedge shape, the propagation direction of the light wave can be changed, and the same effect as that of the modified example 9 is obtained.
  • the interference light generating element 300F according to the modified example 11 will be described as being different from the second embodiment. As shown in FIG. 19, the interference light generating element 300F differs from the second embodiment in that the light wave separating element 310F is concave.
  • the light wave separation element 310F has a concave shape like the light wave separation element 30G of FIG. 8, the description thereof will be omitted. Further, since each configuration other than the light wave separating element 310F is the same as that of the second embodiment, the description thereof will be omitted.
  • the interference light generation element 300F has the light wave separation element 310F in a concave shape, the difference in radius of curvature of the wave surface of the light wave passing through the phase modulation element 320 can be changed. As a result, the interference light generation element 300F can generate a concentric interference light intensity distribution like the Fresnel zone plate.
  • Modification 12 Convex light wave separation element
  • the points different from the second embodiment will be described with respect to the interference light generating element 300G according to the modified example 12.
  • the interference light generating element 300G is different from the second embodiment in that the light wave separating element 310G is convex.
  • the light wave separation element 310G has a convex shape like the light wave separation element 30H of FIG. 9, the description thereof will be omitted. Further, since each configuration other than the light wave separating element 310G is the same as that of the second embodiment, the description thereof will be omitted.
  • the interference light generating element 300G has the light wave separating element 310G in a convex shape, the difference in the radius of curvature of the wave surface can be changed, and the same effect as that of the modified example 11 is obtained.
  • the interference light generating element 300H according to the modified example 13 will be described as being different from the second embodiment.
  • the interference light generating element 300H is different from the second embodiment in that the light wave coupling element 330H is concave. Since each configuration other than the light wave coupling element 330H is the same as that of the second embodiment, the description thereof will be omitted.
  • the light wave coupling element 330H has an incident surface 330IN in a concave shape. Therefore, the light wave coupling element 330H has a cylindrical incident surface 330IN whose central portion is thinner than both ends. Further, in the light wave coupling element 330H, the exit surface 330OUT is parallel to the phase modulation element 320.
  • the interference light generating element 300H has the light wave coupling element 330H in a concave shape, the difference in the radius of curvature of the wave surface can be changed, and the same effect as that of the modified example 11 is obtained.
  • the interference light generating element 300I according to the modified example 14 will be described as being different from the second embodiment. As shown in FIG. 22, the interference light generating element 300I is different from the second embodiment in that the light wave coupling element 330I is convex.
  • the light wave coupling element 330I is a convex incident surface 330IN. Therefore, the light wave coupling element 330I has a cylindrical incident surface 330IN so that the central portion is thicker than both ends. Further, in the light wave coupling element 330I, the exit surface 330OUT is parallel to the phase modulation element 320.
  • the interference light generating element 300I has the light wave coupling element 330I in a convex shape, the difference in the radius of curvature of the wave surface can be changed, and the same effect as that of the modified example 11 is obtained.
  • the interference light generating element 300J according to the modified example 15 will be described as being different from the second embodiment.
  • the interference light generating element 300J is different from the second embodiment in that the emission direction of the light wave coupling element 330 of FIG. 12 is reversed. Since each configuration other than the light wave coupling element 330J is the same as that of the second embodiment, the description thereof will be omitted. Further, the light wave coupling element 330J can also be applied to the fourth embodiment utilizing the polarization characteristic.
  • the light wave coupling element 330J changes the direction of the other incident light (light L2) emitted from the phase modulation element 320 and couples the other incident light (light L1) so as to overlap the one incident light (light L1). That is, the light wave coupling element 330J flips the emission direction of the light wave coupling element 330 in FIG. 12 upside down to make the optical path length of the other incident light longer than that of the one incident light.
  • the interference light generation element 300J has different optical path lengths of the incident light on one side and the other side, it is possible to generate a concentric interference light intensity distribution.
  • the interference imaging device 1 can be used as, for example, a sensing system, a spectral image sensing system, a lensless three-dimensional image sensing system, or a quantitative phase image sensing system.
  • the interference light generating element 300K integrates a light wave separation element and a light wave coupling element, and includes a light wave separation / coupling element 310K, a phase modulation element 31, and a reflection member 32. Since the phase modulation element 31 and the reflection member 32 are the same as those in the first embodiment, the description thereof will be omitted.
  • the light wave separation / coupling element 310K separates the incident light emitted by the light source 2 into two light waves and combines the two lights emitted from the phase modulation element 31 as interference light.
  • the light wave separation / coupling element 310K has the same configuration as the light wave separation element 310 of FIG.
  • the transmission layer 314 reflects a part of the incident light toward the reflection layer 316, and transmits the remaining incident light to the phase modulation element 320.
  • the traveling direction of a part of the incident light is shown by a broken line arrow, and the traveling direction of the remaining incident light is shown by a solid line arrow.
  • a part (broken line) of this incident light is reflected by the reflection layer 316, and is phase-modulated after being incident on the phase modulation element 31. Further, a part of the incident light is reflected again by the reflection layer 316, passes through the transmission layer 314, and is incident on the image sensor 4 (FIG. 11). On the other hand, the remaining incident light (solid line) is reflected by the transmission layer 314 after being incident on the phase modulation element 31, and is incident on the image sensor 4. Then, interference occurs at a portion where the light phase-modulated by the phase modulation element 31 and the light not phase-modulated by the phase modulation element 31 overlap, and interference light is generated.
  • the interference light generating element 300K can further expand the phase modulation range (about 4 times) in addition to the same effects as those in the second embodiment. Further, the interference light generating element 300K can be miniaturized by integrating the light wave separating element and the light wave coupling element. Further, the interference light generation element 300K can arrange the image pickup element 4 on the upper side, and can improve the flexibility of the design.
  • Modification 17 Sensing system
  • the interference light generation element 3 generates interference light while phase-modulating a part of the incident light
  • the image pickup element 4 detects the interference light generated by the interference light generation element 3.
  • the calculation unit 5 calculates the complex amplitude distribution of the light wave from the information of the plurality of interference lights having different phase modulation amounts. Then, the calculation unit 5 numerically calculates the light wave propagation and reproduces the image of the object (complex amplitude image).
  • the interference light generation element 3 generates interference light while phase-modulating a part of the incident light
  • the image pickup element 4 detects the interference light generated by the interference light generation element 3.
  • the calculation unit 5 calculates the complex amplitude distribution of the light wave for each wavelength by the calculation coherent multiplexing or the Fourier spectroscopy algorithm having a wavelength dependence from the information of the interference light of a plurality of wavelengths. Then, the calculation unit 5 numerically calculates the light wave propagation for each wavelength and reproduces the image of the object (complex amplitude image).
  • Modification 18 Spectroscopic image sensing system
  • the light source 2 emits light having a plurality of wavelengths.
  • the interference light generation element 3 phase-modulates a part of the incident light with a phase modulation amount different for each wavelength while changing the propagation direction of the light wave.
  • the calculation unit 5 outputs a phase modulation pattern different for each wavelength in the time direction to the interference light generation element 3.
  • the image sensor 4 detects the interference light generated by the interference light generation element 3 and acquires a wavelength division multiplexing image group (interference fringe image).
  • the arithmetic unit 5 wavelength-separates the wavelength division multiplexing image group by a wavelength-dependent computational coherent multiplexing or Fourier spectroscopic algorithm. As described above, since the interference imaging device 1 does not have a mechanical drive portion, it is resistant to vibration and has high reliability.
  • Modification 19 Lensless 3D image sensing system
  • FIG. 26 A modified example 19 in which the interference imaging device 1 is used as a lensless three-dimensional image sensing system will be described with reference to FIG. 26.
  • the interference light generating element 3 phase-modulates a part of the light generated by the object T or the light diffracted by the object T to generate the interference light.
  • the image sensor 4 detects the interference light generated by the interference light generation element 3, and the calculation unit 5 reproduces the stereoscopic image of the object T (complex amplitude image).
  • the interference imaging device 1 can omit the lens, it is possible to realize a lensless three-dimensional image sensing system having a simple configuration.
  • the interference imaging device 1 preferably generates light waves having different radii of curvature on the wave surface as in the above-described modification.
  • Modification 20 Quantitative phase image sensing system by shearing interference
  • the light source 2 emits coherent light toward the object T.
  • the interference light generation element 3 phase-modulates a part of the light from the light source 2 to generate interference light.
  • the image sensor 4 detects the interference light generated by the interference light generation element 3, and the calculation unit 5 generates a quantitative phase image of the object T.
  • the interference imaging device 1 generates interference light by the light passing through the object T and the light not passing through the object T by the single beam light, so that the quantitative phase image of the object T can be generated. ..
  • Modification 21 Quantitative phase image sensing system using polarized light
  • the interference imaging device 1 includes a first polarizing element 60 and a second polarizing element 61 between the interference light generating element 3 and the image pickup element 4 (not shown). Further, it is assumed that the light wave separating element 30 is a light wave separating polarizing element.
  • the incident light emitted by the light source 2 is separated into two light waves having different polarization directions by the light wave separating element 30.
  • a light wave in one polarization direction is reflected toward the reflecting member 32, and a light wave in the other polarization direction passes to the phase modulation element 31.
  • Light waves in the other polarization directions are phase-modulated by the phase modulation element 31 and reflected by the reflecting member 32 toward the first polarizer 60.
  • the first polarizing element 60 has a different polarization component to be passed through depending on the region.
  • the other light waves in the polarization direction phase-modulated by the phase modulation element 31 pass through the region 60A of the first polarizer 60.
  • This region 60A is an opening or pinhole-shaped region formed in the first polarizer 60.
  • the light wave of one polarized light component reflected toward the reflecting member 32 also passes through a region other than the region 60A of the first polarizing element 60. Therefore, in the first polarizer 60, the region 60A may pass only the light in the other polarization directions, and the region other than the region 60A may pass only the light of one polarization component.
  • the second polarizer 61 matches the polarization directions of the light waves that have passed through the first polarizer 60.
  • the image sensor 4 detects the interference light generated by the interference light generation element 3, and the calculation unit 5 generates a quantitative phase image of the object T.
  • the interference imaging device 1 separates a single beam light by polarized light and generates interference light by the light passing through the object T and the light not passing through the object T, so that a quantitative phase image of the object T is generated. can do.
  • a quantitative phase image may be generated by converting one incident light into a spherical wave by a phase modulation element and performing spatial filtering using an aperture. Further, one of the incident lights may be converted into a spherical wave by a mirror having a reflectance distribution to generate a quantitative phase image.
  • the reflection type quantitative phase image sensing system is exemplified, but it can also be applied to the transmission type. Further, in the above-described modification, the usage example of the interference imaging device 1 according to the first embodiment has been described, but the second and third embodiments can also be used in the same manner.
  • Interference imaging device 2 Light sources 3, 3B to 3I Interference light generation element 4 Image sensor (interference light detection unit) 5 Computational unit 30, 30C, 30G, 30H, 30I Light wave separation element 31, 31D Phase modulation element 32, 32B, 32E, 32F Reflecting member 33 Housing 60 First polarizer 60A Region 61 Second polarizer 100 Interference imaging device 300 , 300B-300K Interference light generation element 310, 310E-310G Light wave separation element 310K Light wave separation / coupling element 320, 320B, 320D Phase modulation element 330, 330H-330J Light wave coupling element 340 Housing 350 Light wave separation polarization element 360 Polarization sensitivity phase Modulator 370 Lightwave coupled polarizing element 380 Polarizer

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Abstract

構成が簡易な干渉光生成素子を提供する。 干渉イメージング装置(1)は、干渉光生成素子(3)が、入射光の一部を反射し、残りの入射光を通過させる光波分離素子(30)と、光波分離素子(30)を通過した入射光を位相変調する位相変調素子(31)と、光波分離素子(30)で反射された入射光と重なるように、位相変調素子(31)で位相変調された入射光を反射する反射部材(32)とを備える。

Description

干渉光生成素子及び干渉イメージング装置
 本発明は、入射光から干渉光を生成する干渉光生成素子、及び、その干渉光から複素振幅画像を生成する干渉イメージング装置に関する。
 光の波長特性の情報は、生体の健康状態等のバイタルサイン、物質や材料の種類・特性、肉眼やロボットビジョンの物体認識・識別における有益な特徴量として、様々な形で多岐に活用されている。色味として波長情報を取得する手法として、RGBのカラーフィルタを撮像素子の前に配置して撮像する時分割記録や、回折格子やプリズムを用いて、RGBの光を分光した後に3台の撮像素子でRGB各色の画像を撮像する空間分割記録が提案されてきた。今日においては、波長情報を取得する手法として、Bayer型のカラーフィルタアレイが装着されたイメージセンサを用いる手法が提案されている。一方、Bayer型のカラーフィルタアレイでは、各フィルタの分光吸収により波長情報を分離するため、光量が限られる条件下では鮮明な波長情報を取得することが困難である。
 そこで、光の吸収ではなく位相変調を用いて、計算コヒーレント多重に基づく分光信号処理を含む多波長センシング方式が提案されている(特許文献1参照)。この特許文献1に記載の手法(以下、「従来技術1」)では、波長ごとに異なる位相変調を時間的又は空間的なパターンとして与え、モノクロームイメージセンサで波長多重画像を取得する。従来技術1では、図29に示すように、異なる波長の光を出射する光源90を備え、2光束干渉計9における参照光の光路に位相変調素子94を配置し、単色撮像素子98で位相変調画像を取得する。この位相変調素子94としては、ピエゾ付きミラー、空間光変調器、波長板、及び、波長板アレイがあげられる。この従来技術1では、波長数をNとすると、2N枚の画像から各波長の画像情報を取得できる。位相変調パターンは規則的になるとは限られず、2N枚の画像のうち、最低1枚の画像の位相変調量が他の画像と異なればよい。また、従来技術1では、分光吸収を用いずに演算部99の信号処理により波長情報を分離抽出するため、高い光利用効率を実現できる。
 従来技術1では、位相変調量を2πの整数倍としていたのに対し、任意の位相変調量で分光信号処理を行う方式も提案されている(特許文献2)。この特許文献2に記載の手法(以下、「従来技術2」)では、位相変調素子として、前記したものに加え、電気光学効果を利用する電気光学素子も利用できる。この電気光学素子は、2光束干渉計における片側の光路上、又は、2つの光波が共に通る光路上に配置される。
特許6308594号公報 特開2017-076038号公報
 前記した従来技術では、2光束干渉計の装置構成を採用したため、物体光と参照光の光路を形成する必要があり、装置が大型化・複雑化するという問題がある。図29の例では、2光束干渉計9が、物体光と参照光の光路を形成するため、ミラー91、ハーフミラー92、ビームスプリッタ93,97、対物レンズ95、凸レンズ96等の光学素子を備える必要があり、装置の大型化・複雑化を招いてしまう。その結果、前記した従来技術では、各光路に対して異なる外乱(例えば、振動)が生じると、干渉光の位相が変化してしまい、計測精度が著しく低下することがある。
 そこで、本発明は、構成が簡易な干渉光生成素子及び干渉イメージング装置を提供することを課題とする。
 前記した課題に鑑みて、本発明に係る干渉光生成素子は、入射光から干渉光を生成するコモンパス型の干渉光生成素子であって、前記入射光の一部を反射し、残りの前記入射光を通過させる光波分離素子と、前記光波分離素子を通過した入射光を位相変調する位相変調素子と、前記光波分離素子で反射された入射光と重なるように、前記位相変調素子で位相変調された入射光を反射する反射部材と、を備える構成とした。
 かかる干渉光生成素子によれば、2光束干渉計のように物体光と参照光との光路を別々に形成する必要がなく、構成を簡易にすることができる。
 また、本発明に係る干渉光生成素子において、前記反射部材は、平行平板、ウェッジ形状、凸状又は凹状であることが好ましい。
 かかる干渉光生成素子によれば、反射部材をウェッジ形状にすることで、光波干渉の面積を増大させ、微分干渉を可能とし、干渉光を容易に生成することができる。
 さらに干渉光生成素子によれば、反射部材を凸状又は凹状にすることで、同心円状の干渉光強度分布を生成することができる。
 また、前記した課題に鑑みて、本発明に係る干渉イメージング装置は、前記した干渉光生成素子と、前記干渉光生成素子が生成した干渉光を検出する干渉光検出部と、所定の位相変調パターンで前記位相変調素子に波長依存性をもって位相変調させると共に、計算コヒーレント多重又はフーリエ分光アルゴリズムにより、前記干渉光検出部が検出した干渉光から複素振幅画像を生成する演算部と、を備える構成とした。
 かかる干渉イメージング装置によれば、2光束干渉計のように物体光と参照光との光路を別々に形成する必要がなく、構成を簡易にすることができる。
 また、前記した課題に鑑みて、本発明に係る干渉イメージング装置は、入射光から干渉光を生成するコモンパス型の干渉光生成素子と、前記干渉光生成素子が生成した干渉光を検出する干渉光検出部と、前記干渉光検出部が検出した干渉光から複素振幅画像を生成する演算部とを備える干渉イメージング装置であって、前記干渉光生成素子は、前記入射光を2つの光波に分離する光波分離素子と、前記光波分離素子で分離された一方の入射光を通過又は位相変調し、前記光波分離素子で分離された他方の入射光を通過又は位相変調する位相変調素子と、前記位相変調素子から出射された一方の入射光及び他方の入射光を前記干渉光として結合する光波結合素子と、を備え、前記演算部は、所定の位相変調パターンで前記位相変調素子に波長依存性をもって位相変調させると共に、計算コヒーレント多重又はフーリエ分光アルゴリズムにより前記干渉光から前記複素振幅画像を生成する構成とした。
 かかる干渉イメージング装置によれば、2光束干渉計のように物体光と参照光との光路を別々に形成する必要がなく、構成を簡易にすることができる。
 また、本発明に係る干渉イメージング装置において、前記光波分離素子は、前記入射光を偏光方向が異なる2つの光波に分離する光波分離偏光素子であり、前記位相変調素子は、前記光波分離素子で分離された所定の偏光方向の入射光を位相変調し、前記光波分離素子で分離された他の偏光方向の入射光を通過させる偏光感受性位相変調素子であり、前記光波結合素子は、前記位相変調素子から出射された所定の偏光方向の入射光及び他の偏光方向の入射光を結合する光波結合偏光素子であり、前記光波結合偏光素子が結合した入射光の偏光方向を一致させる偏光子、をさらに備えることが好ましい。
 かかる干渉イメージング装置によれば、偏光特性を利用して干渉縞画像を生成することができる。
 また、前記した課題に鑑みて、本発明に係る干渉イメージング装置は、入射光から干渉光を生成するコモンパス型の干渉光生成素子と、前記干渉光生成素子が生成した干渉光を検出する干渉光検出部と、前記干渉光検出部が検出した干渉光から複素振幅画像を生成する演算部とを備える干渉イメージング装置であって、前記干渉光生成素子は、前記入射光を2つの光波に分離する光波分離素子と、前記光波分離素子で分離された一方の入射光を位相変調し、前記光波分離素子で分離された他方の入射光と前記一方の入射光とを重ねて前記干渉光として出射する位相変調素子と、を備え、前記演算部は、所定の位相変調パターンで前記位相変調素子に波長依存性をもって位相変調させると共に、計算コヒーレント多重又はフーリエ分光アルゴリズムにより前記干渉光から前記複素振幅画像を生成する構成とした。
 かかる干渉イメージング装置によれば、2光束干渉計のように物体光と参照光との光路を別々に形成する必要がなく、構成を簡易にすることができる。
 また、本発明に係る干渉イメージング装置において、前記位相変調素子は、厚さが異なる又は位相変調の勾配が異なることが好ましい。
 かかる干渉イメージング装置によれば、光波干渉の面積を増大させ、微分干渉を可能とし、干渉光を容易に生成することができる。
 また、本発明に係る干渉イメージング装置において、前記光波分離素子は、ウェッジ形状、凸状又は凹状であることが好ましい。
 かかる干渉イメージング装置によれば、反射部材をウェッジ形状にすることで、光波干渉の面積を増大させ、微分干渉を可能とし、干渉光を容易に生成することができる。
 さらに干渉イメージング装置によれば、反射部材を凸状又は凹状にすることで、同心円状の干渉光強度分布を生成することができる。
 本発明によれば、構成が簡易な干渉光生成素子及び干渉イメージング装置を提供することができる。
第1実施形態に係る干渉イメージング装置の概略構成図である。 図1の干渉光生成素子の概略構成図である。 (a)及び(b)は、変形例1に係る干渉光生成素子の概略構成図である。 変形例2に係る干渉光生成素子の概略構成図である。 変形例3に係る干渉光生成素子の概略構成図である。 変形例4に係る干渉光生成素子の概略構成図である。 変形例5に係る干渉光生成素子の概略構成図である。 変形例6に係る干渉光生成素子の概略構成図である。 変形例7に係る干渉光生成素子の概略構成図である。 変形例8に係る干渉光生成素子の概略構成図である。 第2実施形態に係る干渉イメージング装置の概略構成図である。 図11の干渉光生成素子の概略構成図である。 第2実施形態において、光波分離素子の第1例を説明する説明図である。 第2実施形態において、光波分離素子の第2例を説明する説明図である。 (a)は第3実施形態に係る干渉光生成素子の概略構成図であり、(b)は撮像素子の配置を説明する説明図である。 第4実施形態に係る干渉光生成素子の概略構成図である。 変形例9に係る干渉光生成素子の概略構成図である。 変形例10に係る干渉光生成素子の概略構成図である。 変形例11に係る干渉光生成素子の概略構成図である。 変形例12に係る干渉光生成素子の概略構成図である。 変形例13に係る干渉光生成素子の概略構成図である。 変形例14に係る干渉光生成素子の概略構成図である。 変形例15に係る干渉光生成素子の概略構成図である。 変形例16に係る干渉光生成素子の概略構成図である。 変形例18に係る干渉イメージング装置の概略構成図である。 変形例19に係る干渉光生成素子の概略構成図である。 変形例20に係る干渉光生成素子の概略構成図である。 (a)は変形例21に係る干渉イメージング装置の概略構成図であり、(b)は第1偏光子の平面図である。 従来の2光束干渉計の概略構成図である。
 以下、本発明の各実施形態及び各変形例について、適宜図面を参照しながら詳細に説明する。なお、同一の手段には同一の符号を付し、説明を省略した。
(第1実施形態:反射型)
[干渉イメージング装置]
 図1を参照し、第1実施形態に係る干渉イメージング装置1について説明する。
 図1に示すように、干渉イメージング装置1は、複素振幅画像を生成するコモンパス型の干渉計であり、光源2と、干渉光生成素子3と、撮像素子(干渉光検出部)4と、演算部5とを備える。本実施形態では、干渉イメージング装置1が、入射光を反射する反射型である。
 光源2は、干渉光生成素子3に光を出射するものである。この光源2が出射した光は、干渉光生成素子3の入射光となる。この光源2としては、インコヒーレントな光を出射する光源(例えば、一般的な照明機器や太陽光)を例示できる。また、光源2は、コヒーレントなレーザ光を出射するレーザ光源であってもよい。また、光源2が出射する光は、単一波長又は複数波長の何れであってもよい。
 なお、干渉イメージングの対象となる物体は、光源2と干渉光生成素子3との間、又は、干渉光生成素子3と撮像素子4との間に配置すればよい。
 干渉光生成素子3は、光源2が出射した入射光から干渉光を生成するものである。この干渉光生成素子3が生成した干渉光は、撮像素子4に入射する。つまり、干渉光生成素子3は、光路が一致するコモンパス型、かつ、入射光を反射する反射型の光学デバイスである。図1に示すように、干渉光生成素子3は、光源2の光軸上(図面右側)に配置され、光源2からの入射光を撮像素子4に反射できるように、光源2及び撮像素子4に対して傾いて配置されている。なお、干渉光生成素子3の詳細は、後記する。
 撮像素子4は、干渉光生成素子3が生成した干渉光を検出するものである。すなわち、撮像素子4は、干渉光生成素子3からの干渉光の情報(干渉縞画像)を取得し、取得した干渉光の情報を演算部5に出力する。この撮像素子4としては、CCD(Charge Coupled Device)、CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)等の一般的な受光素子を例示できる。図1に示すように、撮像素子4は、干渉光生成素子3からの干渉光が入射するように、干渉光生成素子3の下側に配置されている。
 演算部5は、所定の位相変調パターンで位相変調素子31に波長依存性をもって位相変調させるものである。また、演算部5は、計算コヒーレント多重又はフーリエ分光アルゴリズムにより、撮像素子4が検出した干渉光から複素振幅画像を生成する。この演算部5は、前記した演算を行う一般的なコンピュータであり、信号ケーブルを介して、干渉光生成素子3及び撮像素子4に接続されている。なお、演算部5の詳細は、後記する。
[干渉光生成素子]
 図2を参照し、干渉光生成素子3について詳細に説明する。
 図2に示すように、干渉光生成素子3は、光波分離素子30と、位相変調素子31と、反射部材32と、筐体33とを備える。
 図2では、光源2が出射して光波分離素子30で反射された光L1を薄いドットで図示した。また、位相変調素子31で位相変調されて反射部材32で反射された光L2を中程度の密度のドットで図示した。さらに、これら2つが重なった光L3を濃いドットで図示した。
 光波分離素子30は、光源2が出射した入射光の一部(光L1)を反射し、残りの入射光(光L2)を通過させるものである。ここでは、光波分離素子30は、入射光の一部を反射部材32に向けて反射し、反射しなかった入射光の残りを位相変調素子31まで通過させる。この光波分離素子30としては、所定の反射率及び透過率を有するミラー構造(例えば、ハーフミラー)、回折格子、又は、2重焦点レンズを例示できる。また、光波分離素子30は、反射する入射光と透過する入射光との割合が任意であり、ハーフミラーのように1:1に限られない。
 位相変調素子31は、光波分離素子30を通過した入射光(光L2)を位相変調するものである。この位相変調素子31は、光波分離素子30と隣接するように配置されている。本実施形態では、位相変調素子31は、波長毎に時間的又は空間的に異なる位相変調パターンが演算部5から入力されるので、この位相変調パターンに基づいて、入射光を位相変調する。ここで、位相変調素子31としては、液体レンズ、音響光学変調器(AOM:Acousto-Optic Modulator)、光路長可変セル、液晶素子、液晶素子のアレイ、電気光学素子、電気光学変調器(EOM:Electro-Optic Modulator)、波長板等の複屈折材料、複屈折材料のアレイ、又は、反射型空間光変調器(LCoS-SLM:Liquid Crystal On Silicon - Spatial Light Modulator)等の空間光変調器(SLM:Spatial Light Modulator)を例示できる。また、位相変調素子31では、熱により液体又は複屈折材料の屈折率を制御する手法を利用してもよい。
 反射部材32は、光波分離素子30で反射された入射光(光L1)と重なるように、位相変調素子31で位相変調された入射光(光L2)を反射するものである。この反射部材32は、位相変調素子31と隣接するように配置されている。つまり、反射部材32は、光波分離素子30で反射された一部の入射光と、位相変調素子31を通過した残りの入射光との光路が重なるように、残りの入射光を反射する。この反射部材32としては、一般的なミラーを例示できる(平行平板状のものを含む)。また、反射部材32は、反射材をコーディングした反射層としてもよい(例えば、アルミコーディング)。
 筐体33は、光波分離素子30、位相変調素子31及び反射部材32を内部に収容するものである(破線で図示)。例えば、筐体33は、金属で形成された箱状のケースである。また、筐体33は、入射光が光波分離素子30の入射面に届くように、光波分離素子30の入射面を露出させる開口(不図示)を有する。
 なお、筐体33の内部において、光波分離素子30、位相変調素子31及び反射部材32が隣接しているが、離間していてもよい。
 以上の構成により、干渉光生成素子3は、干渉光(光L3)を生成することができる。すなわち、光源2からの入射光は、図2に示すように、光波分離素子30によって、光波分離素子30を通過して位相変調素子31に入射する光L2と、光波分離素子30で反射されて位相変調素子31に入射しない光L1とに分離される。そして、光波分離素子30を通過した光L2は、位相変調素子31によって位相変調される。さらに、位相変調素子31で位相変調された光L2は、反射部材32により反射される。これにより、光波分離素子30で反射された光L1と、位相変調素子31で位相変調された光L2が重なる部分で干渉し、干渉光である光L3が生成される。その後、干渉光は、撮像素子4に入射する。
<演算部における演算処理>
 前記した演算部5は、以下で説明するように、位相シフト干渉法や波長情報を選択的に抽出できる位相シフト法などの計算コヒーレント多重(CCS:Computational Coherent Superposition)を用いる。ここで、波長数をN、干渉縞画像の干渉光強度の行列をIn、N波長の入射光における位相変調量の行列をP、N波長の入射光における複素振幅分布の行列をUとする。また、αを位相変調量、I(x、y:α1m,…,αNm)を波長λ,…,λに対し位相シフト量α1m,…,αNmをもつ波長多重干渉縞画像とする。また、I0thを干渉縞画像における0次回折光強度の総和、Aoiを波長λにおける物体光の振幅、Ariを波長λにおける参照光の振幅、φoiを波長λにおける物体光の位相とする(i、mは添え字)。ここで、2N+1枚の干渉縞画像が入力された場合、In=PUの関係により、以下の式(1)を定義できる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000001
 所望の光情報であるN波長の入射光における複素振幅分布の行列Uは、U=P-1Inで求められる。ここで、複素振幅分布の行列Uを求める際、N波長に応じた位相変調量の行列Pが重要となる。例えば、干渉光生成素子3に合わせて条件数が低くなるように位相変調量の行列Pを設定することで、演算精度が向上する。
 なお、計算コヒーレント多重の一例は、前記した特許文献1,2に詳細に記載されているため、これ以上の説明を省略する。
 この他、演算部5は、一般的なフーリエ分光アルゴリズムを用いてもよい。例えば、演算部5は、時間ヘテロダイン又は空間ヘテロダインによるフーリエ分光アルゴリズムを用いることができる。
 この演算部5は、干渉縞画像に対して演算処理を行って、物体の回折像に相当する複素振幅画像を生成できる。そして、演算部5は、複素振幅画像に回折積分等の光波伝搬の演算処理を行って、任意の奥行き深さにおける合焦像を得られる。これにより、干渉イメージング装置1は、レンズレス3次元画像センシングを行うことができる。
[作用・効果]
 以上のように、干渉イメージング装置1は、2光束干渉計9(図29)のように物体光と参照光との光路を別々に形成する必要がなく、構成を簡易にすることができる。さらに、干渉イメージング装置1は、結像レンズが不要なので、小型化を図ることができる。
 さらに、干渉イメージング装置1は、インコヒーレントな光を出射する光源2(例えば、一般的な照明機器や太陽光)も利用できるため、汎用性を向上させることができる。
 さらに、干渉イメージング装置1は、高速に動作する位相変調素子31を用いるので、リアルタイム性を向上させることができる。
 さらに、干渉イメージング装置1は、機械駆動が不要なので、2光束干渉計9に比べて振動に強く、持ち運びが容易なので、信頼性及び利便性を向上させることができる。
(変形例1:ウェッジ形状の反射部材)
 以下、変形例1に係る干渉光生成素子3Bについて、第1実施形態と異なる点を説明する。図3(a)に示すように、干渉光生成素子3Bは、反射部材32Bをウェッジ形状とした点が、第1実施形態と異なる。
 なお、反射部材32B以外の各構成は、第1実施形態と同様のため、説明を省略する。また、図3(b)では、図面を見やすくするため、入射光の図示を省略した。
 反射部材32Bは、入射光が入射する側の平坦面、つまり、入射光を反射する反射面32INをウェッジ形状にしたものである。このウェッジ形状とは、一端から他端に向かって傾斜する形状のことである。従って、反射部材32Bは、一端側(図面下側)が他端側(図面上側)よりも厚くなっており、反射面32INと位相変調素子31との隙間が他端側で大きくなる。また、反射部材32Bは、反射面32INに対向する裏側の平坦面32OUTが、位相変調素子31と平行になっている。なお、ウェッジ形状の傾斜面は、平坦であってもよく、平坦でなくともよい。
 図3(b)に示すように、干渉光生成素子3Bは、反射部材32Bをウェッジ形状としたので、位相変調素子31で位相変調された光波の伝搬方向を変えることができる。これにより、干渉光生成素子3Bは、図3(a)に示すように、光波干渉の領域を増大させ、微分干渉を可能とし、干渉光を容易に生成することができる。
(変形例2:ウェッジ形状の光波分離素子)
 以下、変形例2に係る干渉光生成素子3Cについて、第1実施形態と異なる点を説明する。図4に示すように、干渉光生成素子3Cは、光波分離素子30Cをウェッジ形状とした点が、第1実施形態と異なる。
 なお、光波分離素子30C以外の各構成は、第1実施形態と同様のため、説明を省略する。
 光波分離素子30Cは、入射光が入射する入射面30INをウェッジ形状にしたものである。従って、光波分離素子30Cは、一端側(図面下側)が他端側(図面上側)よりも薄くなっている。また、光波分離素子30Cは、入射面30INに対向する裏側の平坦面、つまり、入射光を出射する出射面30OUTが、位相変調素子31と平行になっている。
 なお、光波分離素子30Cは、入射面30INではなく、出射面30OUTをウェッジ形状にしてもよい(不図示)。この場合、光波分離素子30Cと位相変調素子31との間に隙間が生じるため、その境界で迷光が出射されないようすることが好ましい。
 このように、干渉光生成素子3Cは、光波分離素子30Cをウェッジ形状としたので、光波の伝搬方向を変えることができ、変形例1と同様の作用効果を奏する。
(変形例3:厚さが異なる位相変調素子)
 以下、変形例3に係る干渉光生成素子3Dについて、第1実施形態と異なる点を説明する。図5に示すように、干渉光生成素子3Dは、位相変調素子31Dの厚さを変えた点が、第1実施形態と異なる。
 なお、位相変調素子31D以外の各構成は、第1実施形態と同様のため、説明を省略する。
 位相変調素子31Dは、一端側(図面下側)が他端側(図面上側)よりも薄くなるように、厚みを変えたものである。つまり、位相変調素子31Dは、全体の厚さが均一でない。ここでは、位相変調素子31Dは、入射光が入射する入射面31INの側を薄くしたので、入射面31INと光波分離素子30との隙間が一端側で大きくなる。また、位相変調素子31Dは、入射面31INに対向する裏側の平坦面、つまり、入射光を出射する出射面31OUTが、反射部材32と平行になっている。
 なお、位相変調素子31Dは、入射面31INの側ではなく、出射面31OUTの側を薄くしてもよい(不図示)。
 このように、干渉光生成素子3Dは、位相変調素子31Dの厚さが異なるので、屈折により光波の伝搬方向を変えることができ、変形例1と同様の作用効果を奏する。
 この他、位相変調素子31Dの厚さを変える代わりに、位相変調の勾配を変えることで、光波の伝搬方向を制御できる。ここでは、演算部5は、位相変調量にバイアスを付加することで、位相変調の勾配を変えることができる。具体的には、演算部5は、位相変調素子31Dの画素(アドレス)毎に位相変調量のバイアスを増加又は減少させればよい。
(変形例4:凹状の反射部材)
 以下、変形例4に係る干渉光生成素子3Eについて、第1実施形態と異なる点を説明する。図6に示すように、干渉光生成素子3Eは、反射部材32Eを凹状とした点が、第1実施形態と異なる。
 なお、反射部材32E以外の各構成は、第1実施形態と同様のため、説明を省略する。
 反射部材32Eは、反射面32INを凹状にしたものである。従って、反射部材32Eは、両端側よりも中央部が薄くなるような円筒面状の反射面32INを有し、反射面32INと位相変調素子31との隙間が中央部で大きくなる。また、反射部材32Eは、裏側の平坦面32OUTが、位相変調素子31と平行になっている。
 このように、干渉光生成素子3Eは、反射部材32Eを凹状としたので、位相変調素子31を通過する光波と、位相変調素子31を通過しない光波との波面の曲率半径差を変えることができる。これにより、干渉光生成素子3Eは、フレネルゾーンプレートのように同心円状の干渉光強度分布を生成することができる。
(変形例5:凸状の反射部材)
 以下、変形例5に係る干渉光生成素子3Fについて、第1実施形態と異なる点を説明する。図7に示すように、干渉光生成素子3Fは、反射部材32Fを凸状とした点が、第1実施形態と異なる。
 なお、反射部材32F以外の各構成は、第1実施形態と同様のため、説明を省略する。
 反射部材32Fは、反射面32INを凸状にしたものである。従って、反射部材32Fは、両端側よりも中央部が厚くなるような円筒面状の反射面32INを有し、反射面32INと位相変調素子31との隙間が両端で大きくなる。また、反射部材32Fは、裏側の平坦面32OUTが、位相変調素子31と平行になっている。
 このように、干渉光生成素子3Fは、反射部材32Eを凸状としたので、波面の曲率半径差を変えることができ、変形例4と同様の作用効果を奏する。
(変形例6:凹状の光波分離素子)
 以下、変形例6に係る干渉光生成素子3Gについて、第1実施形態と異なる点を説明する。図8に示すように、干渉光生成素子3Gは、光波分離素子30Gを凹状とした点が、第1実施形態と異なる。
 なお、光波分離素子30G以外の各構成は、第1実施形態と同様のため、説明を省略する。
 光波分離素子30Gは、入射面30INを凹状にしたものである。従って、光波分離素子30Gは、両端側よりも中央部が薄くなるような円筒面状の入射面30INを有する。また、光波分離素子30Gは、出射面30OUTが、位相変調素子31と平行になっている。
 なお、光波分離素子30Gは、入射面30INではなく、出射面30OUTを凹状にしてもよい(不図示)。
 このように、干渉光生成素子3Gは、光波分離素子30Gを凹状としたので、波面の曲率半径差を変えることができ、変形例4と同様の作用効果を奏する。
(変形例7:凸状の光波分離素子)
 以下、変形例7に係る干渉光生成素子3Hについて、第1実施形態と異なる点を説明する。図9に示すように、干渉光生成素子3Hは、光波分離素子30Hを凸状とした点が、第1実施形態と異なる。
 なお、光波分離素子30H以外の各構成は、第1実施形態と同様のため、説明を省略する。
 光波分離素子30Hは、入射面30INを凸状にしたものである。従って、光波分離素子30Hは、両端側よりも中央部が厚くなるような円筒面状の入射面30INを有する。また、光波分離素子30Hは、出射面30OUTが、位相変調素子31と平行になっている。
 なお、光波分離素子30Hは、入射面30INではなく、出射面30OUTを凸状にしてもよい(不図示)。
 このように、干渉光生成素子3Hは、光波分離素子30Hを凸状としたので、波面の曲率半径差を変えることができ、変形例4と同様の作用効果を奏する。
(変形例8:偏光特性の利用)
 以下、変形例8に係る干渉光生成素子3Iについて、第1実施形態と異なる点を説明する。図10に示すように、干渉光生成素子3Iは、偏光特性を利用する点が、第1実施形態と異なる。
 なお、光波分離素子30I及び偏光子34以外の各構成は、第1実施形態と同様のため、説明を省略する。
 光波分離素子30Iは、光源2が出射した入射光を偏光方向が異なる2つの光波に分離する光波分離偏光素子である。ここで、光波分離素子30は、ある偏光方向の光波を反射部材32に向けて反射し、他の偏光方向の光波を位相変調素子31まで通過させる。
 偏光子34は、光波分離素子30で反射された入射光と、位相変調素子31で位相変調された入射光との偏光方向を一致させるものである。この偏光子34を通過した光波は、偏光成分が一致して干渉光となり、撮像素子4(図1)に入射する。
 このように、干渉光生成素子3Iは、光波分離素子30Iを光源2が出射した入射光を偏光方向が異なる2つの光波に分離する光波分離偏光素子とし、偏光子34を光路上に配置したので、干渉縞の可視度を向上させることができる。
 さらに、干渉光生成素子3Iの前段、又は、干渉光生成素子3Iと偏光子34との間に波長板や方解石、複屈折レンズ、その他の複屈折材料を挿入することにより、ある偏光方向の光波と他の偏光方向の光波の光路長差を調整することができ、干渉縞の可視度を向上させることができる。このように、偏光を利用することにより光路長差を0に近づけるような調整ができる。ここで、偏光特性をもつ位相変調素子31を配置した場合、光波分離素子30Iを通過する他の偏光方向を、位相変調素子31により変調される偏光方向と一致させることで、高い光利用効率をもって光波の位相を変調でき、干渉縞の可視度を向上させることができる。なお、偏光感受性位相変調素子を用いる他の形態においても、本変形例を同様に適用できる。
(第2実施形態:透過型)
[干渉イメージング装置]
 図11を参照し、第2実施形態に係る干渉イメージング装置100について説明する。
 図11に示すように、干渉イメージング装置100は、複素振幅画像を生成するコモンパス型の干渉計であり、光源2と、撮像素子4と、演算部5と、干渉光生成素子300とを備える。本実施形態では、干渉イメージング装置100が、入射光を透過する透過型である。
 図11では、撮像素子4は、干渉光生成素子300からの干渉光が入射するように、干渉光生成素子300の側方に配置されている。
 なお、干渉光生成素子300以外の各構成は、第1実施形態と同様のため、説明を省略する。
[干渉光生成素子]
 図12を参照し、干渉光生成素子300について詳細に説明する。
 図12に示すように、干渉光生成素子300は、光波分離素子310と、位相変調素子320と、光波結合素子330と、筐体340とを備える。
 図12では、光波分離素子310で分離された一方の光L1を薄いドットで図示した。また、光波分離素子310で分離された他方の光L2を中程度の密度のドットで図示した。さらに、これら2つが重なった光L3を濃いドットで図示した。
 光波分離素子310は、光源2が出射した入射光を2つの光波(光L1及び光L2)に分離するものである。図13に示すように、光波分離素子310としては、透過ミラー311と、反射ミラー312との組み合わせを例示できる。透過ミラー311は、光源2からの入射光の一部を反射ミラー312に向けて反射し、残りの入射光を位相変調素子320まで透過させる(例えば、ハーフミラー)。反射ミラー312は、透過ミラー311からの一部の入射光を位相変調素子320に向けて反射する。つまり、光源2からの入射光は、光波分離素子310によって、平行な2つの光波に分離され、位相変調素子320の異なる位置に入射する。
 図14に示すように、光波分離素子310は、三角柱状の透明部材313と、透過層314と、平行六面体状の透明部材315と、反射層316とを一体化してもよい。透明部材313,315は、入射光を透過させるガラス等の部材である。透過層314は、透明部材313,315の境界面に形成されており、入射光の一部を反射層316に向けて反射し、残りの入射光を位相変調素子320まで透過させる。例えば、透過層314としては、ハーフミラーや、所定の反射率及び屈折率を有する透過膜を例示できる。反射層316は、透明部材315で透過層314に対向する平坦面に形成されており、透過層314からの一部の入射光を位相変調素子320に向けて反射する。このように、光波分離素子310は、各部材が一体化しているので、より振動に強くなる。
 なお、図13及び図14の光波分離素子310では、入射光を2つの光波に分離する割合が任意であり、ハーフミラーのように1:1に限られない。
 図12に戻り、干渉光生成素子300の説明を続ける。
 位相変調素子320は、光波分離素子310で分離された一方の入射光(光L1)を位相変調し、光波分離素子310で分離された他方の入射光(光L2)を通過させるものである。この位相変調素子320は、光波分離素子310と対向するように配置されている。本実施形態では、位相変調素子320は、波長毎に時間的又は空間的に異なる位相変調パターンが演算部5から入力されるので、この位相変調パターンに基づいて、一方の入射光を位相変調する。例えば、位相変調素子320は、反射ミラー312で反射された一方の入射光を位相変調して通過させ、透過ミラー311から入射した他方の光を位相変調せずに通過させる。このとき、位相変調素子320は、透過ミラー311から入射した他方の入射光の波面を補償してもよい。このように、位相変調素子320では、一方及び他方の入射光が異なる個所を通過するので各入射光を別々に位相変調でき、位相変調レンジを拡大(約2倍)にできる。
 なお、位相変調素子320としては、反射型に固有のものを除き、図1の位相変調素子31と同様のものを例示できる。
 光波結合素子330は、位相変調素子320から出射された一方の入射光(光L1)及び他方の入射光(光L2)を干渉光(光L3)として結合するものである。ここで、光波結合素子330は、位相変調素子320から出射された一方の入射光の方向を変えて、他方の入射光に重なるように結合する。この光波結合素子330は、位相変調素子320と対向するように配置されている。
 この光波結合素子330としては、図13の光波分離素子310と同様、透過ミラーと、反射ミラーとの組み合わせを例示できる。反射ミラーは、位相変調素子320からの一方の入射光を反射ミラーに向けて反射する。透過ミラーは、位相変調素子320からの他方の入射光を通過させると共に、反射ミラーからの一方の入射光を再び反射する。さらに、光波結合素子330は、図14の光波分離素子310と同様、一体化した構成であってもよい。
 筐体340(図11)は、光波分離素子310、位相変調素子320及び光波結合素子330を内部に収容するものである(破線で図示)。例えば、筐体340は、金属で形成された箱状のケースである。また、筐体340は、光波分離素子310の入射面及び光波結合素子330の出射面をそれぞれ露出させる開口(不図示)を有する。
 なお、筐体340の内部において、光波分離素子310、位相変調素子320及び光波結合素子330は、離間しているが、隣接していてもよい。
 以上の構成により、干渉光生成素子300は、干渉光(光L3)を生成することができる。すなわち、光源2からの入射光は、光波分離素子310によって、位相変調素子320で位相変調される光L1と、位相変調素子320で位相変調されない光L2とに分離される。そして、光波分離素子30を通過した一方の光L1は、位相変調素子31によって位相変調される。さらに、位相変調素子31から出射された2つの光L1,L2は、光波結合素子330により結合される。これにより、位相変調素子320で位相変調された光L1と、位相変調素子320で位相変調されなかった光L2とが重なる部分で干渉が発生し、干渉光である光L3が生成される。その後、干渉光は、撮像素子4に入射する。
[作用・効果]
 干渉イメージング装置100は、2光束干渉計9(図29)のように物体光と参照光との光路を別々に形成する必要がなく、構成を簡易にすることができる。さらに、干渉イメージング装置100は、結像レンズが不要なので、小型化を図ることができる。
 さらに、干渉イメージング装置100は、インコヒーレントな光を出射する光源2(例えば、一般的な照明機器や太陽光)も利用できるため、汎用性を向上させることができる。
 さらに、干渉イメージング装置100は、高速に動作する位相変調素子320を用いるので、リアルタイム性を向上させることができる。
 さらに、干渉イメージング装置1は、機械駆動が不要なので、2光束干渉計9に比べて振動に強く、持ち運びが容易なので、信頼性及び利便性を向上させることができる。
(第3実施形態)
[干渉光生成素子]
 図15を参照し、第3実施形態に係る干渉光生成素子300Bについて、第2実施形態と異なる点を説明する。
 図15(a)に示すように、干渉光生成素子300Bは、光波結合素子330(図12)を備えない点が、第2実施形態と異なる。すなわち、干渉光生成素子300Bは、光波分離素子310と、位相変調素子320Bと、筐体340とを備える。
 なお、位相変調素子320B以外の各構成は、第2実施形態と同様のため、説明を省略する。
 位相変調素子320Bは、光波分離素子310で分離された一方の入射光を位相変調し、光波分離素子310で分離された他方の入射光と一方の入射光とを重ねて干渉光として出射するものである。ここで、干渉光生成素子300Bが光波結合素子330を備えないため、位相変調素子320Bは、光波分離素子310で分離された他方の入射光(粗いドット)の方向を変える必要がある。本実施形態では、位相変調素子320Bは、一方の入射光(薄いドット)を位相変調させる位相変調パターン、及び、他方の入射光を回折させる制御信号が演算部5から入力される。そして、位相変調素子320Bは、位相変調パターンに基づいて一方の入射光を位相変調し、制御信号に基づいて他方の入射光を回折させる。
 また、干渉光生成素子300Bが光波結合素子330を備えないため、図15(b)に示すように、撮像素子4は、一方の入射光と他方の入射光とが重なる場所に配置する必要がある。なお、撮像素子4は、一方の入射光と他方の入射光との全部が重なる場所に限られず、少なくとも入射光の一部が重なる場所に配置すればよい(不図示)。
 このように、干渉光生成素子300Bは、光波結合素子330を備えずとも、第2実施形態と同様の作用効果を奏する。さらに、干渉光生成素子300Bは、光波結合素子330を省略できるので、さらなる小型化を図ることができる。
(第4実施形態)
[干渉光生成素子]
 図16を参照し、第4実施形態に係る干渉光生成素子300Cについて、第2実施形態と異なる点を説明する。干渉光生成素子300Cは、偏光特性を利用する点が、第2実施形態と異なる。図16に示すように、干渉光生成素子300Cは、筐体340と、光波分離偏光素子350と、偏光感受性位相変調素子360と、光波結合偏光素子370と、偏光子380とを備える。
 光波分離偏光素子350は、光源2が出射した入射光を偏光方向が異なる2つの光波に分離するものである。本実施形態では、光波分離偏光素子350は、入射光を、偏光方向が直交する2つの光波に分離する。従って、光源2からの入射光は、光波分離偏光素子350によって、偏光方向が異なる2つの光波に分離され、互いに平行で一部が重なりながら、偏光感受性位相変調素子360に入射する。この光波分離偏光素子350としては、ウォラストンプリズム等の偏光プリズムや、方解石、又は、α-BBO結晶を例示できる。
 また、光波分離偏光素子350は、図14の光波分離素子310と同様、一体化した構成であってもよい。この場合、透過層は、偏光ビームスプリッタのように、水平偏光を透過させ、垂直偏光を反射する部材とすればよい。この光波分離偏光素子350は、各部材が一体化しているので、より振動に強くなる。
 偏光感受性位相変調素子360は、光波分離偏光素子350で分離された所定の偏光方向の入射光(薄いドット)を位相変調し、光波分離偏光素子350で分離された他の偏光方向の入射光(粗いドット)を通過させるものである。本実施形態では、偏光感受性位相変調素子360は、波長毎に時間的又は空間的に異なる位相変調パターンが演算部5から入力されるので、この位相変調パターンに基づいて、所定の偏光方向の入射光を位相変調する。このとき、偏光感受性位相変調素子360は、光波分離偏光素子350から入射した他方の入射光の波面を補償してもよい。
 ここで、偏光感受性位相変調素子360としては、反射型空間光変調器(LCoS-SLM:Liquid Crystal On Silicon - Spatial Light Modulator)、液晶素子、又は、電気光学素子(EOM:Electro-Optic Modulator)を例示できる。
 光波結合偏光素子370は、偏光感受性位相変調素子360から出射された所定の偏光方向の入射光及び他の偏光方向の入射光を結合するものである。この光波結合偏光素子370で結合した光波は、異なる偏光成分を有しており、偏光子380に入射する。ここで、光波結合偏光素子370としては、ウォラストンプリズム等の偏光プリズムや、方解石、又は、α-BBO結晶を例示できる。さらに、光波結合偏光素子370は、光波分離偏光素子350と同様、一体化した構成であってもよい。
 偏光子380は、光波結合偏光素子370が結合した光波の偏光方向を一致させるものである。この偏光子380を通過した光波は、偏光成分が一致して干渉光となり、撮像素子4(図11)に入射する。
 このように、干渉光生成素子300Cは、第2実施形態と同様の作用効果を奏する。さらに、干渉光生成素子300Cは、偏光子380を光路上に配置したので、干渉縞の可視度を向上させることができる。
(変形例9:厚さが異なる位相変調素子)
 以下、変形例9に係る干渉光生成素子300Dについて、第2実施形態と異なる点を説明する。図17に示すように、干渉光生成素子300Dは、位相変調素子320Dの厚さを変えた点が、第2実施形態と異なる。
 なお、位相変調素子320Dは、図5の位相変調素子31Dと同様に厚みを変えたものであるため、説明を省略する。また、位相変調素子320Dの厚さを変える代わりに、位相変調の勾配を変えてもよい。
 また、位相変調素子320D以外の各構成は、第2実施形態と同様のため、説明を省略する。
 また、干渉光生成素子300Dの各構成が隣接しているが、図11と同様に離間していてもよい(後記する変形例10~13も同様)。
 このように、干渉光生成素子300Dは、位相変調素子320Dの厚さが異なるので、位相変調素子320Dを通過する光波の伝搬方向を変えることができる。これにより、干渉光生成素子300Dは、光波干渉の面積を増大させ、微分干渉を可能とし、干渉光を容易に生成することができる。
(変形例10:ウェッジ形状の光波分離素子)
 以下、変形例10に係る干渉光生成素子300Eについて、第2実施形態と異なる点を説明する。図18に示すように、干渉光生成素子300Eは、光波分離素子310Eをウェッジ形状とした点が、第2実施形態と異なる。
 なお、光波分離素子310Eは、図4の光波分離素子30Cと同様にウェッジ形状にしたものであるため、説明を省略する。また、図13の光波分離素子310では、平行な状態の透過ミラー311及び反射ミラー312を異なる方向に傾けることで、ウェッジ形状と同様の効果が得られる(不図示)。
 また、光波分離素子310E以外の各構成は、第2実施形態と同様のため、説明を省略する。
 このように、干渉光生成素子300Eは、光波分離素子310Eをウェッジ形状としたので、光波の伝搬方向を変えることができ、変形例9と同様の作用効果を奏する。
(変形例11:凹状の光波分離素子)
 以下、変形例11に係る干渉光生成素子300Fについて、第2実施形態と異なる点を説明する。図19に示すように、干渉光生成素子300Fは、光波分離素子310Fを凹状とした点が、第2実施形態と異なる。
 なお、光波分離素子310Fは、図8の光波分離素子30Gと同様に凹状としたものであるため、説明を省略する。
 また、光波分離素子310F以外の各構成は、第2実施形態と同様のため、説明を省略する。
 このように、干渉光生成素子300Fは、光波分離素子310Fを凹状としたので、位相変調素子320を通過する光波の波面の曲率半径差を変えることができる。これにより、干渉光生成素子300Fは、フレネルゾーンプレートのように同心円状の干渉光強度分布を生成することができる。
(変形例12:凸状の光波分離素子)
 以下、変形例12に係る干渉光生成素子300Gについて、第2実施形態と異なる点を説明する。図20に示すように、干渉光生成素子300Gは、光波分離素子310Gを凸状とした点が、第2実施形態と異なる。
 なお、光波分離素子310Gは、図9の光波分離素子30Hと同様に凸状としたものであるため、説明を省略する。
 また、光波分離素子310G以外の各構成は、第2実施形態と同様のため、説明を省略する。
 このように、干渉光生成素子300Gは、光波分離素子310Gを凸状としたので、波面の曲率半径差を変えることができ、変形例11と同様の作用効果を奏する。
(変形例13:凹状の光波結合素子)
 以下、変形例13に係る干渉光生成素子300Hについて、第2実施形態と異なる点を説明する。図21に示すように、干渉光生成素子300Hは、光波結合素子330Hを凹状とした点が、第2実施形態と異なる。
 なお、光波結合素子330H以外の各構成は、第2実施形態と同様のため、説明を省略する。
 光波結合素子330Hは、入射面330INを凹状にしたものである。従って、光波結合素子330Hは、両端側よりも中央部が薄くなるような円筒面状の入射面330INを有する。また、光波結合素子330Hは、出射面330OUTが、位相変調素子320と平行になっている。
 このように、干渉光生成素子300Hは、光波結合素子330Hを凹状としたので、波面の曲率半径差を変えることができ、変形例11と同様の作用効果を奏する。
(変形例14:凸状の光波結合素子)
 以下、変形例14に係る干渉光生成素子300Iについて、第2実施形態と異なる点を説明する。図22に示すように、干渉光生成素子300Iは、光波結合素子330Iを凸状とした点が、第2実施形態と異なる。
 光波結合素子330Iは、入射面330INを凸状にしたものである。従って、光波結合素子330Iは、両端側よりも中央部が厚くなるような円筒面状の入射面330INを有する。また、光波結合素子330Iは、出射面330OUTが、位相変調素子320と平行になっている。
 このように、干渉光生成素子300Iは、光波結合素子330Iを凸状としたので、波面の曲率半径差を変えることができ、変形例11と同様の作用効果を奏する。
(変形例15:光波結合素子の出射方向反転)
 以下、変形例15に係る干渉光生成素子300Jについて、第2実施形態と異なる点を説明する。図23に示すように、干渉光生成素子300Jは、図12の光波結合素子330の出射方向を反転させた異なる点が、第2実施形態と相違する。
 なお、光波結合素子330J以外の各構成は、第2実施形態と同様のため、説明を省略する。また、光波結合素子330Jは、偏光特性を利用した第4実施形態にも適用できる。
 光波結合素子330Jは、位相変調素子320から出射された他方の入射光(光L2)の方向を変えて、一方の入射光(光L1)に重なるように結合するものである。つまり、光波結合素子330Jは、図12の光波結合素子330の出射方向を上下反転させて、他方の入射光の光路長を一方の入射光より長くしている。
 このように、干渉光生成素子300Jは、一方及び他方の入射光の光路長が異なるので、同心円状の干渉光強度分布を生成することができる。
 以下、第1実施形態に係る干渉イメージング装置1(図1)の代表的な利用例を変形例16~変形例21として説明する。この干渉イメージング装置1は、例えば、センシングシステム、分光画像センシングシステム、レンズレス3次元画像センシングシステム、又は、定量位相画像センシングシステムとして利用できる。
(変形例16:光波分離素子及び光波結合素子の一体化)
 以下、変形例16に係る干渉光生成素子300Kについて、第2実施形態と異なる点を説明する。
 図24に示すように、干渉光生成素子300Kは、光波分離素子及び光波結合素子を一体化したものであり、光波分離・結合素子310Kと、位相変調素子31と、反射部材32とを備える。
 なお、位相変調素子31及び反射部材32は、第1実施形態と同様のため、説明を省略する。
 光波分離・結合素子310Kは、光源2が出射した入射光を2つの光波に分離すると共に、位相変調素子31から出射された2つの光を干渉光として結合するものである。この光波分離・結合素子310Kは、図14の光波分離素子310と同様の構成である。
 ここで、透過層314は、入射光の一部を反射層316に向けて反射し、残りの入射光を位相変調素子320まで透過させる。なお、図24では、一部の入射光の進行方向を破線矢印で図示し、残りの入射光の進行方向を実線矢印で図示した。
 この入射光の一部(破線)は、反射層316で反射され、位相変調素子31に入射した後に位相変調される。さらに、入射光の一部は、反射層316で再び反射され、透過層314を通過し、撮像素子4(図11)に入射する。
 一方、残りの入射光(実線)は、位相変調素子31に入射した後、透過層314で反射され、撮像素子4に入射する。そして、位相変調素子31で位相変調された光と、位相変調素子31で位相変調されなかった光とが重なる部分で干渉が発生し、干渉光が生成される。
 このように、干渉光生成素子300Kは、第2実施形態と同様の作用効果に加え、より位相変調レンジを拡大(約4倍)することができる。また、干渉光生成素子300Kは、光波分離素子及び光波結合素子を一体化させ、小型化を図ることができる。さらに、干渉光生成素子300Kは、撮像素子4を上側に配置可能とし、設計の柔軟性を向上させることができる。
(変形例17:センシングシステム)
 図1に戻り、干渉イメージング装置1をセンシングシステムとして利用した変形例17について説明する。
 まず、光源2が単一波長の光を出射する場合を考える。この場合、干渉光生成素子3が入射光の一部を位相変調しながら干渉光を生成し、撮像素子4が干渉光生成素子3で生成された干渉光を検出する。また、演算部5は、位相変調量が異なる複数の干渉光の情報から、光波の複素振幅分布を算出する。そして、演算部5は、光波伝搬を数値計算し、物体の像を再生する(複素振幅画像)。
 次に、光源2が複数波長の光を出射する場合を考える。この場合、干渉光生成素子3が入射光の一部を位相変調しながら干渉光を生成し、撮像素子4が干渉光生成素子3で生成された干渉光を検出する。また、演算部5は、複数波長の干渉光の情報から、波長依存性がある計算コヒーレント多重又はフーリエ分光アルゴリズムにより、波長毎に光波の複素振幅分布を算出する。そして、演算部5は、波長毎に光波伝搬を数値計算し、物体の像を再生する(複素振幅画像)。
(変形例18:分光画像センシングシステム)
 図25を参照し、干渉イメージング装置1を分光画像センシングシステムとして利用した変形例18について説明する。
 ここで、光源2が複数波長の光を出射する。すると、干渉光生成素子3は、光波の伝搬方向を変えながら、波長毎に異なる位相変調量で入射光の一部を位相変調する。このとき、演算部5は、時間方向で波長毎に異なる位相変調パターンを干渉光生成素子3に出力する。そして、撮像素子4は、干渉光生成素子3で生成された干渉光を検出し、波長多重画像群(干渉縞画像)を取得する。さらに、演算部5は、波長多重画像群を、波長依存性がある計算コヒーレント多重又はフーリエ分光アルゴリズムにより波長分離する。このように、干渉イメージング装置1は、機械的駆動部分が存在しないので振動に強く、信頼性が高くなる。
(変形例19:レンズレス3次元画像センシングシステム)
 図26を参照し、干渉イメージング装置1をレンズレス3次元画像センシングシステムとして利用した変形例19について説明する。
 図26に示すように、干渉光生成素子3は、物体Tで発生した光又は物体Tで回折した光の一部を位相変調し、干渉光を生成する。すると、撮像素子4が干渉光生成素子3で生成された干渉光を検出し、演算部5が物体Tの立体像を再生する(複素振幅画像)。このように、干渉イメージング装置1は、レンズを省略できるので、構成が簡易なレンズレス3次元画像センシングシステムを実現できる。
 なお、干渉イメージング装置1は、前記した変形例のように波面の曲率半径が異なる光波を生成することが好ましい。
(変形例20:シアリング干渉による定量位相画像センシングシステム)
 図27を参照し、干渉イメージング装置1をシアリング干渉による定量位相画像センシングシステムとして利用した変形例20について説明する。
 ここで、光源2がコヒーレントな光を物体Tに向けて出射する。図27に示すように、干渉光生成素子3は、光源2からの光の一部を位相変調し、干渉光を生成する。すると、撮像素子4が干渉光生成素子3で生成された干渉光を検出し、演算部5が物体Tの定量位相画像を生成する。このように、干渉イメージング装置1は、単一のビーム光により、物体Tを介する光と物体Tを介さない光とにより干渉光を生成するので、物体Tの定量位相画像を生成することができる。
(変形例21:偏光による定量位相画像センシングシステム)
 図28を参照し、干渉イメージング装置1を偏光による定量位相画像センシングシステムとして利用した変形例21について説明する。
 図28(a)に示すように、干渉イメージング装置1は、干渉光生成素子3と撮像素子4(不図示)との間に、第1偏光子60と、第2偏光子61とを備える。また、光波分離素子30が、光波分離偏光素子であることとする。
 光源2が出射した入射光は、光波分離素子30によって、偏光方向が異なる2つの光波に分離される。一の偏光方向の光波が反射部材32に向けて反射され、他の偏光方向の光波が位相変調素子31まで通過する。他の偏光方向の光波は、位相変調素子31によって位相変調され、反射部材32によって第1偏光子60に向けて反射される。
 図28(b)に示すように、第1偏光子60は、その領域に応じて、通過させる偏光成分が異なる。ここで、位相変調素子31で位相変調された他の偏光方向の光波は、第1偏光子60の領域60Aを通過する。この領域60Aは、第1偏光子60に形成された開口又はピンホール状の領域である。また、反射部材32に向けて反射された一の偏光成分の光波は、第1偏光子60の領域60A以外の領域も通過する。そこで、第1偏光子60は、領域60Aが他の偏光方向の光のみを通過させ、領域60A以外の領域が一の偏光成分の光のみを通過させればよい。
 第2偏光子61は、第1偏光子60を通過した光波の偏光方向を一致させる。その後、撮像素子4が干渉光生成素子3で生成された干渉光を検出し、演算部5が物体Tの定量位相画像を生成する。このように、干渉イメージング装置1は、単一のビーム光を偏光により分離し、物体Tを介する光と物体Tを介さない光とにより干渉光を生成するので、物体Tの定量位相画像を生成することができる。
 なお、定量位相画像センシングシステムの利用例は、前記した変形例に限定されない。
 例えば、一方の入射光を位相変調素子により球面波とし、開口を用いた空間フィルタリングを行なうことにより、定量位相画像を生成してもよい。
 また、一方の入射光を反射率分布が有るミラーにより球面波とし、定量位相画像を生成してもよい。
 また、前記した変形例では、反射型の定量位相画像センシングシステムを例示したが、透過型にも適用することができる。
 また、前記した変形例では、第1実施形態に係る干渉イメージング装置1の利用例を説明したが、第2,3実施形態も同様に利用することができる。
1 干渉イメージング装置
2 光源
3,3B~3I 干渉光生成素子
4 撮像素子(干渉光検出部)
5 演算部
30,30C,30G,30H,30I 光波分離素子
31,31D 位相変調素子
32,32B,32E,32F 反射部材
33 筐体
60 第1偏光子
60A 領域
61 第2偏光子
100 干渉イメージング装置
300,300B~300K 干渉光生成素子
310,310E~310G 光波分離素子
310K 光波分離・結合素子
320,320B,320D 位相変調素子
330,330H~330J 光波結合素子
340 筐体
350 光波分離偏光素子
360 偏光感受性位相変調素子
370 光波結合偏光素子
380 偏光子

Claims (9)

  1.  入射光から干渉光を生成するコモンパス型の干渉光生成素子であって、
     前記入射光の一部を反射し、残りの前記入射光を通過させる光波分離素子と、
     前記光波分離素子を通過した入射光を位相変調する位相変調素子と、
     前記光波分離素子で反射された入射光と重なるように、前記位相変調素子で位相変調された入射光を反射する反射部材と、
    を備えることを特徴とする干渉光生成素子。
  2.  前記反射部材は、平行平板、ウェッジ形状、凸状又は凹状であることを特徴とする請求項1に記載の干渉光生成素子。
  3.  請求項1に記載の干渉光生成素子と、
     前記干渉光生成素子が生成した干渉光を検出する干渉光検出部と、
     所定の位相変調パターンで前記位相変調素子に波長依存性をもって位相変調させると共に、計算コヒーレント多重又はフーリエ分光アルゴリズムにより、前記干渉光検出部が検出した干渉光から複素振幅画像を生成する演算部と、
    を備える干渉イメージング装置。
  4.  請求項2に記載の干渉光生成素子と、
     前記干渉光生成素子が生成した干渉光を検出する干渉光検出部と、
     所定の位相変調パターンで前記位相変調素子に波長依存性をもって位相変調させると共に、計算コヒーレント多重又はフーリエ分光アルゴリズムにより、前記干渉光検出部が検出した干渉光から複素振幅画像を生成する演算部と、
    を備える干渉イメージング装置。
  5.  入射光から干渉光を生成するコモンパス型の干渉光生成素子と、前記干渉光生成素子が生成した干渉光を検出する干渉光検出部と、前記干渉光検出部が検出した干渉光から複素振幅画像を生成する演算部とを備える干渉イメージング装置であって、
     前記干渉光生成素子は、
     前記入射光を2つの光波に分離する光波分離素子と、
     前記光波分離素子で分離された一方の入射光を通過又は位相変調し、前記光波分離素子で分離された他方の入射光を通過又は位相変調する位相変調素子と、
     前記位相変調素子から出射された一方の入射光及び他方の入射光を前記干渉光として結合する光波結合素子と、を備え、
     前記演算部は、所定の位相変調パターンで前記位相変調素子に波長依存性をもって位相変調させると共に、計算コヒーレント多重又はフーリエ分光アルゴリズムにより前記干渉光から前記複素振幅画像を生成することを特徴とする干渉イメージング装置。
  6.  前記光波分離素子は、前記入射光を偏光方向が異なる2つの光波に分離する光波分離偏光素子であり、
     前記位相変調素子は、前記光波分離偏光素子で分離された所定の偏光方向の入射光を位相変調し、前記光波分離素子で分離された他の偏光方向の入射光を通過させる偏光感受性位相変調素子であり、
     前記光波結合素子は、前記偏光感受性位相変調素子から出射された所定の偏光方向の入射光及び他の偏光方向の入射光を結合する光波結合偏光素子であり、
     前記光波結合偏光素子が結合した入射光の偏光方向を一致させる偏光子、をさらに備えることを特徴とする請求項5に記載の干渉イメージング装置。
  7.  入射光から干渉光を生成するコモンパス型の干渉光生成素子と、前記干渉光生成素子が生成した干渉光を検出する干渉光検出部と、前記干渉光検出部が検出した干渉光から複素振幅画像を生成する演算部とを備える干渉イメージング装置であって、
     前記干渉光生成素子は、
     前記入射光を2つの光波に分離する光波分離素子と、
     前記光波分離素子で分離された一方の入射光を位相変調し、前記光波分離素子で分離された他方の入射光と前記一方の入射光とを重ねて前記干渉光として出射する位相変調素子と、を備え、
     前記演算部は、所定の位相変調パターンで前記位相変調素子に波長依存性をもって位相変調させると共に、計算コヒーレント多重又はフーリエ分光アルゴリズムにより前記干渉光から前記複素振幅画像を生成することを特徴とする干渉イメージング装置。
  8.  前記位相変調素子は、厚さが異なる又は位相変調の勾配が異なることを特徴とする請求項3から請求項7の何れか一項に記載の干渉イメージング装置。
  9.  前記光波分離素子は、ウェッジ形状、凸状又は凹状であることを特徴とする請求項3から請求項7の何れか一項に記載の干渉イメージング装置。
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