WO2020107771A1 - 防止esd器件漏电的测试电路及显示面板 - Google Patents

防止esd器件漏电的测试电路及显示面板 Download PDF

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    • G09G2330/12—Test circuits or failure detection circuits included in a display system, as permanent part thereof

Definitions

  • the present application relates to the field of display technology, and in particular to a test circuit and a display panel for preventing leakage of ESD devices.
  • ESD Electro-Static discharge
  • the purpose of the embodiments of the present application is to provide a test circuit and a display panel for preventing leakage of ESD devices, which can solve the technical problem of excessive power consumption caused by leakage in the existing display panel.
  • Embodiments of the present application provide a test circuit for preventing leakage of ESD devices, which is used to perform a lighting test on a display panel, which includes:
  • ESD devices each of which has a first input terminal, a second input terminal, and a third input terminal;
  • a signal input terminal includes a first signal input terminal, a second signal input terminal and a plurality of third signal input terminals, the first signal input terminal and the first input of each of the ESD devices Terminal and the display panel are electrically connected, the second signal input terminal is electrically connected to the second input terminal of each ESD device and the display panel, and the third signal input terminal is connected to the ESD devices are in one-to-one correspondence, and the third input terminal is electrically connected to the corresponding third input terminal of the ESD device and the display panel; and
  • a switch module the switch module is connected to a control signal and is electrically connected to the signal input terminal and the display panel; when the display panel is not tested for lighting, the switch module is used to control the signal Under the control of the ESD device is no longer connected to the display panel;
  • Each of the ESD devices includes a first transistor and a second transistor
  • Both the gate and the source of the first transistor are electrically connected to the first signal input terminal; the gate and the source of the second transistor are electrically connected to the second signal input terminal; The drain of the first transistor and the drain of the second transistor are electrically connected, and electrically connected to the corresponding third signal input terminal;
  • the display panel is provided with a first signal access point, a second signal access point, and a plurality of third signal access points;
  • the first signal access point is connected to the first signal input terminal
  • the second signal access point is connected to the second signal water terminal
  • the third signal input point is connected to the third The signal input terminals are connected one by one.
  • the switch module includes a first switch unit, a second switch unit, and a plurality of third switch units;
  • the first switch unit is disposed between the first signal input terminal and the first signal access point; the second switch unit is disposed between the second signal input terminal and the second signal Between the access points; the third switch unit, the third signal input terminal and the third signal access point are in one-to-one correspondence, and the third switch unit is disposed at the corresponding third input terminal and Correspondingly between the third signal access points.
  • the first switching unit includes a third transistor, a gate of the third transistor is electrically connected to the control signal, and a source of the third transistor A pole is electrically connected to the first signal input terminal, and a drain of the third transistor is electrically connected to the first signal access point;
  • the second switching unit includes a fourth transistor, a gate of the fourth transistor is electrically connected to the control signal, a source of the fourth transistor is electrically connected to the second signal input terminal, the The drain of the fourth transistor is electrically connected to the second signal access point;
  • Each third switch unit includes a fifth transistor, a gate of the fifth transistor is electrically connected to the control signal, and a source of the fifth transistor is electrically connected to the corresponding third signal input terminal Connected, the drain of the fifth transistor is electrically connected to the corresponding third signal access point.
  • the first signal input terminal and the first input terminal of each ESD device are arranged in series; the second signal input terminal and each The second input terminal of the ESD device is arranged in series.
  • the switch module includes a sixth transistor
  • a sixth transistor is provided between the first signal access point and the first input terminal of the ESD device adjacent to the first signal access point, adjacent to the A sixth transistor is arranged between the first input terminals;
  • a sixth transistor is provided between the second signal access point and the second input end of the ESD device adjacent to the second signal access point, adjacent to the A sixth transistor is arranged between the second input terminals.
  • the signal connected to the first signal input terminal is a high-level signal
  • the signal connected to the second signal input terminal is a low-level signal
  • the transistors are all N-type transistors or P-type transistors.
  • An embodiment of the present application further provides a test circuit for preventing leakage of ESD devices, which is used for lighting test on a display panel, and is characterized by including:
  • ESD devices each of which has a first input terminal, a second input terminal, and a third input terminal;
  • a signal input terminal includes a first signal input terminal, a second signal input terminal and a plurality of third signal input terminals, the first signal input terminal and the first input of each of the ESD devices Terminal and the display panel are electrically connected, the second signal input terminal is electrically connected to the second input terminal of each ESD device and the display panel, and the third signal input terminal is connected to the ESD devices are in one-to-one correspondence, and the third input terminal is electrically connected to the corresponding third input terminal of the ESD device and the display panel; and
  • a switch module the switch module is connected to a control signal and is electrically connected to the signal input terminal and the display panel; when the display panel is not tested for lighting, the switch module is used to control the signal
  • the ESD device is no longer connected to the display panel under the control of.
  • each of the ESD devices includes a first transistor and a second transistor;
  • Both the gate and the source of the first transistor are electrically connected to the first signal input terminal; the gate and the source of the second transistor are electrically connected to the second signal input terminal; The drain of the first transistor and the drain of the second transistor are electrically connected and electrically connected to the corresponding third signal input terminal.
  • a first signal access point, a second signal access point, and a plurality of third signal access points are provided on the display panel;
  • the first signal access point is connected to the first signal input terminal
  • the second signal access point is connected to the second signal water terminal
  • the third signal input point is connected to the third The signal input terminals are connected one by one.
  • the switch module includes a first switch unit, a second switch unit, and a plurality of third switch units;
  • the first switch unit is disposed between the first signal input terminal and the first signal access point; the second switch unit is disposed between the second signal input terminal and the second signal Between the access points; the third switch unit, the third signal input terminal and the third signal access point are in one-to-one correspondence, and the third switch unit is disposed at the corresponding third input terminal and Correspondingly between the third signal access points.
  • the first switching unit includes a third transistor, a gate of the third transistor is electrically connected to the control signal, and a source of the third transistor A pole is electrically connected to the first signal input terminal, and a drain of the third transistor is electrically connected to the first signal access point;
  • the second switching unit includes a fourth transistor, a gate of the fourth transistor is electrically connected to the control signal, a source of the fourth transistor is electrically connected to the second signal input terminal, the The drain of the fourth transistor is electrically connected to the second signal access point;
  • Each third switch unit includes a fifth transistor, a gate of the fifth transistor is electrically connected to the control signal, and a source of the fifth transistor is electrically connected to the corresponding third signal input terminal Connected, the drain of the fifth transistor is electrically connected to the corresponding third signal access point.
  • the first signal input terminal and the first input terminal of each ESD device are arranged in series; the second signal input terminal and each The second input terminal of the ESD device is arranged in series.
  • the switch module includes a sixth transistor
  • a sixth transistor is provided between the first signal access point and the first input terminal of the ESD device adjacent to the first signal access point, adjacent to the A sixth transistor is arranged between the first input terminals;
  • a sixth transistor is provided between the second signal access point and the second input end of the ESD device adjacent to the second signal access point, adjacent to the A sixth transistor is arranged between the second input terminals.
  • the signal connected to the first signal input terminal is a high-level signal
  • the signal connected to the second signal input terminal is a low-level signal
  • the transistors are all N-type transistors or P-type transistors.
  • An embodiment of the present application further provides a display panel, which includes a test circuit for preventing leakage of ESD devices.
  • the test circuit for preventing leakage of ESD devices is used to perform a lighting test on a display panel, which includes:
  • ESD devices each of which has a first input terminal, a second input terminal, and a third input terminal;
  • a signal input terminal includes a first signal input terminal, a second signal input terminal and a plurality of third signal input terminals, the first signal input terminal and the first input of each of the ESD devices Terminal and the display panel are electrically connected, the second signal input terminal is electrically connected to the second input terminal of each ESD device and the display panel, and the third signal input terminal is connected to the ESD devices are in one-to-one correspondence, and the third input terminal is electrically connected to the corresponding third input terminal of the ESD device and the display panel; and
  • a switch module the switch module is connected to a control signal and is electrically connected to the signal input terminal and the display panel; when the display panel is not tested for lighting, the switch module is used to control the signal
  • the ESD device is no longer connected to the display panel under the control of.
  • each of the ESD devices includes a first transistor and a second transistor
  • Both the gate and the source of the first transistor are electrically connected to the first signal input terminal; the gate and the source of the second transistor are electrically connected to the second signal input terminal; The drain of the first transistor and the drain of the second transistor are electrically connected and electrically connected to the corresponding third signal input terminal.
  • the test circuit and the display panel for preventing electric leakage of the ESD device provided by the embodiments of the present application can control the ESD device to be inserted into the display panel by setting a switch module, thereby preventing electric leakage of the display panel, thereby reducing power consumption.
  • FIG. 1 is a first schematic structural diagram of a test circuit for preventing leakage of ESD devices according to an embodiment of the present application
  • FIG. 2 is a first schematic circuit diagram of a test circuit for preventing leakage of ESD devices according to an embodiment of the present application
  • FIG. 3 is a second schematic structural diagram of a test circuit for preventing leakage of ESD devices according to an embodiment of the present application
  • FIG. 4 is a second schematic circuit diagram of a test circuit for preventing leakage of ESD devices according to an embodiment of the present application.
  • the transistors used in all the embodiments of this application may be thin film transistors, field effect transistors or other devices with the same characteristics. Since the source and drain of the transistor used here are symmetrical, the source and drain can be interchanged of. In the embodiment of the present application, in order to distinguish the two electrodes of the transistor except the gate, one of the electrodes is called a source electrode, and the other electrode is called a drain electrode. According to the form in the drawing, the middle end of the switching transistor is a gate, the signal input end is a source, and the output end is a drain.
  • the transistors used in the embodiments of the present application may include P-type transistors and/or N-type transistors, where the P-type transistor is turned on when the gate is at a low level, and is turned off when the gate is at a high level, and the N-type transistor is at The gate turns on when the gate is high, and turns off when the gate is low.
  • FIG. 1 is a first schematic structural diagram of a test circuit for preventing leakage of ESD devices according to an embodiment of the present application.
  • the test circuit for preventing leakage of ESD devices provided by the embodiments of the present application is used to perform a lighting test on the display panel 10 and includes a plurality of ESD devices 20, a signal input terminal 30 and a switch module 40.
  • Each ESD device 20 has a first input terminal A, a second input terminal B, and a third input terminal C.
  • the signal input terminal 30 includes a first signal input terminal H, a second signal input terminal L, and a plurality of third signal input terminals Pad1, Pad2, and Pad3.
  • the first signal input terminal H is electrically connected to the first input terminal A of each ESD device 20 and the display panel 10.
  • the second signal input terminal L is electrically connected to the second input terminal B of each ESD device 20 and the display panel 10.
  • the third signal input terminals Pad1, Pad2, and Pad3 correspond one-to-one with the ESD device 30, and the third input terminals Pad1, Pad2, and Pad3 are electrically connected to the corresponding third input terminal C of the ESD device 30 and the display panel 10.
  • the switch module 40 is connected to the control signal G, and is electrically connected to the signal input terminal 30 and the display panel 10.
  • the switch module 40 controls the ESD device 20 to access the display panel 10 under the control of the control signal G; when the display panel 10 does not perform the lighting test, the switch module 40 Under the control of the control signal G, the ESD device 20 is controlled to no longer be connected to the display panel 10.
  • the display panel 10 is provided with a first signal access point H1, a second signal access point L1, and a plurality of third signal access points CT1, CT2, and CT3.
  • the first signal access point H1 is connected to the first signal input terminal H
  • the second signal access point L1 is connected to the second signal input terminal L
  • the third signal input points CT1, CT2 and CT3 are connected to the third signal input terminal Pad1 Pad2 and Pad3 are connected one-to-one.
  • the switch module 40 includes a first switch unit 401, a second switch unit 402, and a plurality of third switch units 403.
  • the first switch unit 401 is disposed between the first signal input terminal H and the first signal access point H1.
  • the second switch unit 402 is disposed between the second signal input terminal L and the second signal access point L1.
  • the third switch unit 403, the third signal input terminals Pad1, Pad2, and Pad3 and the third signal access points CT1, CT2, and CT3 correspond to each other, and the third switch unit 403 is disposed at the corresponding third input terminals Pad1, Pad2, and Pad3 Between the corresponding third signal access points CT1, CT2 and CT3.
  • FIG. 2 is a first schematic circuit diagram of a test circuit for preventing leakage of ESD devices according to an embodiment of the present application.
  • the first switching unit 401 includes a third transistor T3, the gate of the third transistor T3 is electrically connected to the control signal G, and the source of the third transistor T3 is electrically connected to the first signal input terminal H The drain of the third transistor T3 is electrically connected to the first signal access point H1.
  • the second switching unit 402 includes a fourth transistor T4, the gate of the fourth transistor T4 is electrically connected to the control signal G, the source of the fourth transistor T4 is electrically connected to the second signal input terminal L, and the drain of the fourth transistor T4 The pole is electrically connected to the second signal access point L1.
  • Each third switching unit 403 includes a fifth transistor T5.
  • the gate of the fifth transistor T5 is electrically connected to the control signal G.
  • the source of the fifth transistor T5 is electrically connected to the corresponding third signal input terminals Pad1, Pad2, and Pad3.
  • the drain of the fifth transistor T5 is electrically connected to the corresponding third signal access points CT1, CT2 and CT3.
  • Each ESD device 20 includes a first transistor T1 and a second transistor T2.
  • the gate and source of the first transistor T1 are electrically connected to the first signal input terminal H; the gate and source of the second transistor T2 are electrically connected to the second signal input terminal L; the drain of the first transistor T1 The electrode and the drain of the second transistor T2 are electrically connected and electrically connected to the corresponding third signal input terminals Pad1, Pad2, and Pad3.
  • the signal connected to the first signal input terminal H is a high-level signal
  • the signal connected to the second signal input terminal L is a low-level signal
  • the signal input to the third signal input terminal Pad1, Pad2, and Pad3 is a display panel Other test signals required.
  • the control signal G is at a high level, so that the first transistor T1, the second transistor T2, and the third transistor T3 are all turned on, and the signal input from the first signal input terminal H passes through the The first input terminal A outputs to the first signal access point H1 on the display panel 10, and the signal input from the second signal input terminal L is output to the second on the display panel 10 via the second input terminal B of each ESD device 20 The signal access point L1.
  • the signals input from each third signal input terminal Pad1, Pad2, and Pad3 are output to the corresponding third signal access points CT1, CT2, and CT2 on the display panel 10 through the third input terminal C of the corresponding ESD device 20. CT3. Therefore, when the display panel 10 performs the lighting test, the ESD device 20 can be inserted into the display panel 10, thereby preventing the display panel 10 from being damaged by static electricity.
  • the control signal G is at a low level, so that the first transistor T1, the second transistor T2, and the third transistor T3 are all turned off, thereby connecting the first signal on the ESD device 20 and the display panel 10
  • the access point H1, the second signal access point L1, and the third signal access points CT1, CT2, and CT3 are blocked. That is, at this time, the ESD device 20 is no longer connected to the display panel 10, so that the display panel 10 can be prevented from leaking electricity, thereby reducing power consumption.
  • FIG. 3 is a second schematic structural diagram of a test circuit for preventing leakage of ESD devices according to an embodiment of the present application.
  • FIG. 4 is a second schematic circuit diagram of a test circuit for preventing leakage of ESD devices according to an embodiment of the present application.
  • the difference between the test circuit 200 for preventing leakage of ESD devices shown in FIG. 3 and the test circuit 100 for preventing leakage of ESD devices shown in FIG. 1 is that the test circuit 100 for preventing leakage of ESD devices shown in FIG. It is blocked outside the display panel 10, and the test circuit 200 for preventing leakage of ESD devices shown in FIG.
  • the first signal input terminal H and the first input terminal A of each ESD device 20 are connected in series; the second signal input terminal L and the second input terminal B of each ESD device 20 are connected in series .
  • the switch module 40 includes a sixth transistor T6; a sixth transistor T6 is provided between the first signal access point H1 and the first input terminal A of the ESD device 20 adjacent to the first signal access point H1. A sixth transistor T6 is provided between the first input terminal A of the adjacent ESD device 20. A sixth transistor T6 is provided between the second signal access point L1 and the second input terminal B of the ESD device 20 adjacent to the second signal access point L1, and the second input terminal B of the adjacent ESD device 20 There is a sixth transistor T6.
  • the control signal G is at a high level, so that the sixth transistor T6 is turned on, and the signal input from the first signal input terminal H is output to the display panel 10 through the first input terminal A of each ESD device 20
  • the first signal access point H1 the signal input from the second signal input terminal L is output to the second signal access point L1 on the display panel 10 via the second input terminal B of each ESD device 20, each third
  • the signals input from the signal input terminals Pad1, Pad2, and Pad3 are output to the corresponding third signal access points CT1, CT2, and CT3 on the display panel 10 via the third input terminal C of the corresponding ESD device 20. Therefore, when the display panel 10 performs the lighting test, the ESD device 20 can be inserted into the display panel 10, thereby preventing the display panel 10 from being damaged by static electricity.
  • the control signal G is at a low level, so that the sixth transistor T6 is turned off, thereby blocking the first input terminal A and the second input terminal B of the ESD device 20 from the display panel 10 Moreover, the first input terminals A of the adjacent ESD devices 20 are blocked from each other, and the second input terminals B of the adjacent ESD devices 20 are blocked from each other, thereby preventing the display panel 10 from leaking electricity, thereby reducing power consumption.
  • An embodiment of the present application further provides a display panel, which includes the above test circuit for preventing leakage of ESD devices.
  • a display panel which includes the above test circuit for preventing leakage of ESD devices.

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Abstract

一种防止ESD器件漏电的测试电路及显示面板，通过设置一开关模块（40）控制ESD器件（20）接入显示面板（10）内，从而可以防止显示面板（10）漏电，进而减小功耗。

Description

防止ESD器件漏电的测试电路及显示面板 技术领域
本申请涉及显示技术领域，具体涉及一种防止ESD器件漏电的测试电路及显示面板。
 背景技术
ESD（Electro-Static discharge，静电放电），是指具有不同静电电位的物体互相靠近或直接接触引起的电荷转移。现有的显示面板在进行点灯测试时，信号需先通过ESD器件后再进入显示面板，从而可以避免对显示面板进行点灯测试时造成ESD损坏。
然而，当显示面板没有进行点灯测试，正常使用时，ESD器件仍接入至显示面板，且由ESD器件尺寸较大，导致显示面板存在一定漏电，造成功耗过大。
 技术问题
本申请实施例的目的在于提供一种防止ESD器件漏电的测试电路及显示面板，能够解决现有的显示面板因漏电造成功耗过大的技术问题。
 技术解决方案
本申请实施例提供一种防止ESD器件漏电的测试电路，用于对显示面板进行点灯测试，其包括：
多个ESD器件，每个所述ESD器件均具有第一输入端、第二输入端以及第三输入端；
信号输入端，所述信号输入端包括第一信号输入端、第二信号输入端以及多个第三信号输入端，所述第一信号输入端与每个所述ESD器件的所述第一输入端以及所述显示面板电性连接，所述第二信号输入端与每个所述ESD器件的所述第二输入端以及所述显示面板电性连接，所述第三信号输入端与所述ESD器件一一对应，且所述第三输入端与相应的所述ESD器件的所述第三输入端以及所述显示面板电性连接；以及
开关模块，所述开关模块接入控制信号，并电性连接于所述信号输入端与所述显示面板，当所述显示面板没有进行点灯测试时，所述开关模块用于在所述控制信号的控制下控制所述ESD器件不再接入所述显示面板内；
每个所述ESD器件均包括第一晶体管和第二晶体管；
所述第一晶体管的栅极和源极均与所述第一信号输入端电性连接；所述第二晶体管的栅极和源极均与所述第二信号输入端电性连接；所述第一晶体管的漏极以及所述第二晶体管的漏极电性连接，且与相应的所述第三信号输入端电性连接；
所述显示面板上设置有第一信号接入点、第二信号接入点以及多个第三信号接入点；
其中，所述第一信号接入点与所述第一信号输入端连接，所述第二信号接入点与所述第二信号水端连接，所述第三信号输入点与所述第三信号输入端一一对应连接。
在本申请所述的防止ESD器件漏电的测试电路中，所述开关模块包括第一开关单元、第二开关单元以及多个第三开关单元；
其中，所述第一开关单元设置在所述第一信号输入端与所述第一信号接入点之间；所述第二开关单元设置在所述第二信号输入端与所述第二信号接入点之间；所述第三开关单元、所述第三信号输入端以及所述第三信号接入点一一对应，且所述第三开关单元设置在相应所述第三输入端与相应所述第三信号接入点之间。
在本申请所述的防止ESD器件漏电的测试电路中，所述第一开关单元包括第三晶体管，所述第三晶体管的栅极与所述控制信号电性连接，所述第三晶体管的源极与所述第一信号输入端电性连接，所述第三晶体管的漏极与所述第一信号接入点电性连接；
所述第二开关单元包括第四晶体管，所述第四晶体管的栅极与所述控制信号电性连接，所述第四晶体管的源极与所述第二信号输入端电性连接，所述第四晶体管的漏极与所述第二信号接入点电性连接；
每个所述第三开关单元均包括第五晶体管，所述第五晶体管的栅极与所述控制信号电性连接，所述第五晶体管的源极与相应所述第三信号输入端电性连接，所述第五晶体管的漏极与相应所述第三信号接入点电性连接。
在本申请所述的防止ESD器件漏电的测试电路中，所述第一信号输入端以及每个所述ESD器件的所述第一输入端串联设置；所述第二信号输入端以及每个所述ESD器件的所述第二输入端串联设置。
在本申请所述的防止ESD器件漏电的测试电路中，所述开关模块包括第六晶体管；
所述第一信号接入点以及与所述第一信号接入点相邻的所述ESD器件的所述第一输入端之间设置有一个第六晶体管，相邻所述ESD器件的所述第一输入端之间设置有一个第六晶体管；
所述第二信号接入点以及与所述第二信号接入点相邻的所述ESD器件的所述第二输入端之间设置有一个第六晶体管，相邻所述ESD器件的所述第二输入端之间设置有一个第六晶体管。
在本申请所述的防止ESD器件漏电的测试电路中，所述第一信号输入端接入的信号为高电平信号，所述第二信号输入端接入的信号为低电平信号。
在本申请所述的防止ESD器件漏电的测试电路中，所述晶体管均为N型晶体管或P型晶体管。
本申请实施例还提供一种防止ESD器件漏电的测试电路，用于对显示面板进行点灯测试，其特征在于，包括：
多个ESD器件，每个所述ESD器件均具有第一输入端、第二输入端以及第三输入端；
信号输入端，所述信号输入端包括第一信号输入端、第二信号输入端以及多个第三信号输入端，所述第一信号输入端与每个所述ESD器件的所述第一输入端以及所述显示面板电性连接，所述第二信号输入端与每个所述ESD器件的所述第二输入端以及所述显示面板电性连接，所述第三信号输入端与所述ESD器件一一对应，且所述第三输入端与相应的所述ESD器件的所述第三输入端以及所述显示面板电性连接；以及
开关模块，所述开关模块接入控制信号，并电性连接于所述信号输入端与所述显示面板，当所述显示面板没有进行点灯测试时，所述开关模块用于在所述控制信号的控制下控制所述ESD器件不再接入所述显示面板内。
在本申请所述的防止ESD器件漏电的测试电路中，每个所述ESD器件均包括第一晶体管和第二晶体管；
所述第一晶体管的栅极和源极均与所述第一信号输入端电性连接；所述第二晶体管的栅极和源极均与所述第二信号输入端电性连接；所述第一晶体管的漏极以及所述第二晶体管的漏极电性连接，且与相应的所述第三信号输入端电性连接。
在本申请所述的防止ESD器件漏电的测试电路中，所述显示面板上设置有第一信号接入点、第二信号接入点以及多个第三信号接入点；
其中，所述第一信号接入点与所述第一信号输入端连接，所述第二信号接入点与所述第二信号水端连接，所述第三信号输入点与所述第三信号输入端一一对应连接。
在本申请所述的防止ESD器件漏电的测试电路中，所述开关模块包括第一开关单元、第二开关单元以及多个第三开关单元；
其中，所述第一开关单元设置在所述第一信号输入端与所述第一信号接入点之间；所述第二开关单元设置在所述第二信号输入端与所述第二信号接入点之间；所述第三开关单元、所述第三信号输入端以及所述第三信号接入点一一对应，且所述第三开关单元设置在相应所述第三输入端与相应所述第三信号接入点之间。
在本申请所述的防止ESD器件漏电的测试电路中，所述第一开关单元包括第三晶体管，所述第三晶体管的栅极与所述控制信号电性连接，所述第三晶体管的源极与所述第一信号输入端电性连接，所述第三晶体管的漏极与所述第一信号接入点电性连接；
所述第二开关单元包括第四晶体管，所述第四晶体管的栅极与所述控制信号电性连接，所述第四晶体管的源极与所述第二信号输入端电性连接，所述第四晶体管的漏极与所述第二信号接入点电性连接；
每个所述第三开关单元均包括第五晶体管，所述第五晶体管的栅极与所述控制信号电性连接，所述第五晶体管的源极与相应所述第三信号输入端电性连接，所述第五晶体管的漏极与相应所述第三信号接入点电性连接。
在本申请所述的防止ESD器件漏电的测试电路中，所述第一信号输入端以及每个所述ESD器件的所述第一输入端串联设置；所述第二信号输入端以及每个所述ESD器件的所述第二输入端串联设置。
在本申请所述的防止ESD器件漏电的测试电路中，所述开关模块包括第六晶体管；
所述第一信号接入点以及与所述第一信号接入点相邻的所述ESD器件的所述第一输入端之间设置有一个第六晶体管，相邻所述ESD器件的所述第一输入端之间设置有一个第六晶体管；
所述第二信号接入点以及与所述第二信号接入点相邻的所述ESD器件的所述第二输入端之间设置有一个第六晶体管，相邻所述ESD器件的所述第二输入端之间设置有一个第六晶体管。
在本申请所述的防止ESD器件漏电的测试电路中，所述第一信号输入端接入的信号为高电平信号，所述第二信号输入端接入的信号为低电平信号。
在本申请所述的防止ESD器件漏电的测试电路中，所述晶体管均为N型晶体管或P型晶体管。
本申请实施例还提供一种显示面板，其包括防止ESD器件漏电的测试电路，所述防止ESD器件漏电的测试电路，用于对显示面板进行点灯测试，其包括：
多个ESD器件，每个所述ESD器件均具有第一输入端、第二输入端以及第三输入端；
信号输入端，所述信号输入端包括第一信号输入端、第二信号输入端以及多个第三信号输入端，所述第一信号输入端与每个所述ESD器件的所述第一输入端以及所述显示面板电性连接，所述第二信号输入端与每个所述ESD器件的所述第二输入端以及所述显示面板电性连接，所述第三信号输入端与所述ESD器件一一对应，且所述第三输入端与相应的所述ESD器件的所述第三输入端以及所述显示面板电性连接；以及
开关模块，所述开关模块接入控制信号，并电性连接于所述信号输入端与所述显示面板，当所述显示面板没有进行点灯测试时，所述开关模块用于在所述控制信号的控制下控制所述ESD器件不再接入所述显示面板内。
在本申请所述的显示面板中，每个所述ESD器件均包括第一晶体管和第二晶体管；
所述第一晶体管的栅极和源极均与所述第一信号输入端电性连接；所述第二晶体管的栅极和源极均与所述第二信号输入端电性连接；所述第一晶体管的漏极以及所述第二晶体管的漏极电性连接，且与相应的所述第三信号输入端电性连接。
 有益效果
本申请实施例提供的防止ESD器件漏电的测试电路及显示面板，通过设置一开关模块控制ESD器件接入显示面板内，从而可以防止显示面板漏电，进而减小功耗。
 附图说明
为为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本申请实施例的防止ESD器件漏电的测试电路的第一结构示意图；
图2为本申请实施例的防止ESD器件漏电的测试电路的第一电路示意图；
图3为本申请实施例的防止ESD器件漏电的测试电路的第二结构示意图；
图4为本申请实施例的防止ESD器件漏电的测试电路的第二电路示意图。
 本发明的实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
本申请所有实施例中采用的晶体管可以为薄膜晶体管或场效应管或其他特性相同的器件，由于这里采用的晶体管的源极、漏极是对称的，所以其源极、漏极是可以互换的。在本申请实施例中，为区分晶体管除栅极之外的两极，将其中一极称为源极，另一极称为漏极。按附图中的形态规定开关晶体管的中间端为栅极、信号输入端为源极、输出端为漏极。此外本申请实施例所采用的晶体管可以包括P 型晶体管和/或N 型晶体管两种，其中，P 型晶体管在栅极为低电平时导通，在栅极为高电平时截止，N 型晶体管为在栅极为高电平时导通，在栅极为低电平时截止。
请参阅图1，图1为本申请实施例的防止ESD器件漏电的测试电路的第一结构示意图。如图1所示，本申请实施例提供的防止ESD器件漏电的测试电路，用于对显示面板10进行点灯测试，包括：多个ESD器件20、信号输入端30以及开关模块40。
其中，每个ESD器件20均具有第一输入端A、第二输入端B以及第三输入端C。信号输入端30包括第一信号输入端H、第二信号输入端L以及多个第三信号输入端Pad1、Pad2和Pad3。第一信号输入端H与每个ESD器件20的第一输入端A以及显示面板10电性连接。第二信号输入端L与每个ESD器件20的第二输入端B以及显示面板10电性连接。第三信号输入端Pad1、Pad2和Pad3与ESD器件30一一对应，且第三输入端Pad1、Pad2和Pad3与相应的ESD器件30的第三输入端C以及显示面板10电性连接。开关模块40接入控制信号G，并电性连接于信号输入端30与显示面板10。
在本申请实施例中，当显示面板10进行点灯测试时，开关模块40在控制信号G的控制下控制ESD器件20接入显示面板10内；当显示面板10没有进行点灯测试时，开关模块40在控制信号G的控制下控制ESD器件20不再接入显示面板10内。
在一些实施例中，显示面板10上设置有第一信号接入点H1、第二信号接入点L1以及多个第三信号接入点CT1、CT2和CT3。第一信号接入点H1与第一信号输入端H连接，第二信号接入点L1与第二信号输入端L连接，第三信号输入点CT1、CT2和CT3与第三信号输入端Pad1、Pad2和Pad3一一对应连接。
开关模块40包括第一开关单元401、第二开关单元402以及多个第三开关单元403。第一开关单元401设置在第一信号输入端H与第一信号接入点H1之间。第二开关单元402设置在第二信号输入端L与第二信号接入点L1之间。第三开关单元403、第三信号输入端Pad1、Pad2和Pad3以及第三信号接入点CT1、CT2和CT3一一对应，且第三开关单元403设置在相应第三输入端Pad1、Pad2和Pad3与相应第三信号接入点CT1、CT2和CT3之间。
进一步的，请结合图1、图2，图2为本申请实施例的防止ESD器件漏电的测试电路的第一电路示意图。如图1、图2所示，第一开关单元401包括第三晶体管T3，第三晶体管T3的栅极与控制信号G电性连接，第三晶体管T3的源极与第一信号输入端H电性连接，第三晶体管T3的漏极与第一信号接入点H1电性连接。
第二开关单元402包括第四晶体管T4，第四晶体管T4的栅极与控制信号G电性连接，第四晶体管T4的源极与第二信号输入端L电性连接，第四晶体管T4的漏极与第二信号接入点L1电性连接。
每个第三开关单元403均包括第五晶体管T5，第五晶体管T5的栅极与控制信号G电性连接，第五晶体管T5的源极与相应第三信号输入端Pad1、Pad2和Pad3电性连接，第五晶体管T5的漏极与相应第三信号接入点CT1、CT2和CT3电性连接。
每个ESD器件20均包括第一晶体管T1和第二晶体管T2。第一晶体管T1的栅极和源极均与第一信号输入端H电性连接；第二晶体管T2的栅极和源极均与第二信号输入端L电性连接；第一晶体管T1的漏极以及第二晶体管T2的漏极电性连接，且与相应的第三信号输入端Pad1、Pad2和Pad3电性连接。
其中，第一信号输入端H接入的信号为高电平信号，第二信号输入端接L入的信号为低电平信号，第三信号输入端Pad1、Pad2和Pad3输入的信号为显示面板需要的其他测试信号。
下面将以该防止ESD器件漏电的测试电路中的晶体管均为N型晶体管为例，对图2所示的防止ESD器件漏电的测试电路的工作原理进行详细说明。
当显示面板进行点灯测试时，控制信号G为高电平，从而第一晶体管T1、第二晶体管T2以及第三晶体管T3均打开，第一信号输入端H输入的信号经每个ESD器件20的第一输入端A输出至显示面板10上的第一信号接入点H1，第二信号输入端L输入的信号经每个ESD器件20的第二输入端B输出至显示面板10上的第二信号接入点L1，每个第三信号输入端Pad1、Pad2和Pad3输入的信号经相应ESD器件20的第三输入端C输出至显示面板10上的相应第三信号接入点CT1、CT2和CT3。从而当显示面板10进行点灯测试时，可以将ESD器件20接入显示面板10内，进而防止显示面板10静电损坏。
当显示面板10没有进行点灯测试时，控制信号G为低电平，从而第一晶体管T1、第二晶体管T2、第三晶体管T3均关闭，从而将ESD器件20与显示面板10上的第一信号接入点H1、第二信号接入点L1以及第三信号接入点CT1、CT2和CT3阻隔开。也即，此时，ESD器件20不再接入显示面板10内，从而可以防止显示面板10漏电，进而减小功耗。
请参阅图3，图4，图3为本申请实施例的防止ESD器件漏电的测试电路的第二结构示意图。图4为本申请实施例的防止ESD器件漏电的测试电路的第二电路示意图。图3所示的防止ESD器件漏电的测试电路200与图1所示的防止ESD器件漏电的测试电路100的区别在于：图1所示的防止ESD器件漏电的测试电路100是将整个ESD器件20阻隔在显示面板10外，而图3所示的的防止ESD器件漏电的测试电路200是将ESD器件20的第一输入端A和第二输入端B阻隔在显示面板10外，且相邻ESD器件20的第一输入端A之间相互阻隔开，相邻ESD器件20的第二输入端B之间相互阻隔开。
结合图3、图4所示，第一信号输入端H以及每个ESD器件20的第一输入端A串联设置；第二信号输入端L以及每个ESD器件20的第二输入端B串联设置。
其中，开关模块40包括第六晶体管T6；第一信号接入点H1以及与第一信号接入点H1相邻的ESD器件20的第一输入端A之间设置有一个第六晶体管T6，相邻ESD器件20的第一输入端A之间设置有一个第六晶体管T6。第二信号接入点L1以及与第二信号接入点L1相邻的ESD器件20的第二输入端B之间设置有一个第六晶体管T6，相邻ESD器件20的第二输入端B之间设置有一个第六晶体管T6。
下面将以该防止ESD器件漏电的测试电路中的晶体管均为N型晶体管为例，对图3所示的防止ESD器件漏电的测试电路的工作原理进行详细说明。
当显示面板进行点灯测试时，控制信号G为高电平，从而第六晶体管T6均打开，第一信号输入端H输入的信号经每个ESD器件20的第一输入端A输出至显示面板10上的第一信号接入点H1，第二信号输入端L输入的信号经每个ESD器件20的第二输入端B输出至显示面板10上的第二信号接入点L1，每个第三信号输入端Pad1、Pad2和Pad3输入的信号经相应ESD器件20的第三输入端C输出至显示面板10上的相应第三信号接入点CT1、CT2和CT3。从而当显示面板10进行点灯测试时，可以将ESD器件20接入显示面板10内，进而防止显示面板10静电损坏。
当显示面板10没有进行点灯测试时，控制信号G为低电平，从而第六晶体管T6均关闭，从而将ESD器件20的第一输入端A和第二输入端B阻隔在显示面板10外，且相邻ESD器件20的第一输入端A之间相互阻隔开，相邻ESD器件20的第二输入端B之间相互阻隔开，从而可以防止显示面板10漏电，进而减小功耗。
本申请实施例还提供一种显示面板，其包括以上的防止ESD器件漏电的测试电路。具体可参照以上描述，在此不做赘述。
以上仅为本发明的实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (20)

  1. 一种防止ESD器件漏电的测试电路，用于对显示面板进行点灯测试，其包括：
    多个ESD器件，每个所述ESD器件均具有第一输入端、第二输入端以及第三输入端；
    信号输入端，所述信号输入端包括第一信号输入端、第二信号输入端以及多个第三信号输入端，所述第一信号输入端与每个所述ESD器件的所述第一输入端以及所述显示面板电性连接，所述第二信号输入端与每个所述ESD器件的所述第二输入端以及所述显示面板电性连接，所述第三信号输入端与所述ESD器件一一对应，且所述第三输入端与相应的所述ESD器件的所述第三输入端以及所述显示面板电性连接；以及
    开关模块，所述开关模块接入控制信号，并电性连接于所述信号输入端与所述显示面板，当所述显示面板没有进行点灯测试时，所述开关模块用于在所述控制信号的控制下控制所述ESD器件不再接入所述显示面板内；
    每个所述ESD器件均包括第一晶体管和第二晶体管；
    所述第一晶体管的栅极和源极均与所述第一信号输入端电性连接；所述第二晶体管的栅极和源极均与所述第二信号输入端电性连接；所述第一晶体管的漏极以及所述第二晶体管的漏极电性连接，且与相应的所述第三信号输入端电性连接；
    所述显示面板上设置有第一信号接入点、第二信号接入点以及多个第三信号接入点；
    其中，所述第一信号接入点与所述第一信号输入端连接，所述第二信号接入点与所述第二信号水端连接，所述第三信号输入点与所述第三信号输入端一一对应连接。
  2. 根据权利要求1所述防止ESD器件漏电的测试电路，其中，所述开关模块包括第一开关单元、第二开关单元以及多个第三开关单元；
    其中，所述第一开关单元设置在所述第一信号输入端与所述第一信号接入点之间；所述第二开关单元设置在所述第二信号输入端与所述第二信号接入点之间；所述第三开关单元、所述第三信号输入端以及所述第三信号接入点一一对应，且所述第三开关单元设置在相应所述第三输入端与相应所述第三信号接入点之间。
  3. 根据权利要求2所述的防止ESD器件漏电的测试电路，其中，所述第一开关单元包括第三晶体管，所述第三晶体管的栅极与所述控制信号电性连接，所述第三晶体管的源极与所述第一信号输入端电性连接，所述第三晶体管的漏极与所述第一信号接入点电性连接；
    所述第二开关单元包括第四晶体管，所述第四晶体管的栅极与所述控制信号电性连接，所述第四晶体管的源极与所述第二信号输入端电性连接，所述第四晶体管的漏极与所述第二信号接入点电性连接；
    每个所述第三开关单元均包括第五晶体管，所述第五晶体管的栅极与所述控制信号电性连接，所述第五晶体管的源极与相应所述第三信号输入端电性连接，所述第五晶体管的漏极与相应所述第三信号接入点电性连接。
  4. 根据权利要求1所述的防止ESD器件漏电的测试电路，其中，所述第一信号输入端以及每个所述ESD器件的所述第一输入端串联设置；所述第二信号输入端以及每个所述ESD器件的所述第二输入端串联设置。
  5. 根据权利要求4所述的防止ESD器件漏电的测试电路，其中，所述开关模块包括第六晶体管；
    所述第一信号接入点以及与所述第一信号接入点相邻的所述ESD器件的所述第一输入端之间设置有一个第六晶体管，相邻所述ESD器件的所述第一输入端之间设置有一个第六晶体管；
    所述第二信号接入点以及与所述第二信号接入点相邻的所述ESD器件的所述第二输入端之间设置有一个第六晶体管，相邻所述ESD器件的所述第二输入端之间设置有一个第六晶体管。
  6. 根据权利要求1所述的防止ESD器件漏电的测试电路，其中，所述第一信号输入端接入的信号为高电平信号，所述第二信号输入端接入的信号为低电平信号。
  7. 根据权利要求1所述的防止ESD器件漏电的测试电路，其中，所述晶体管均为N型晶体管或P型晶体管。
  8. 一种防止ESD器件漏电的测试电路，用于对显示面板进行点灯测试，其包括：
    多个ESD器件，每个所述ESD器件均具有第一输入端、第二输入端以及第三输入端；
    信号输入端，所述信号输入端包括第一信号输入端、第二信号输入端以及多个第三信号输入端，所述第一信号输入端与每个所述ESD器件的所述第一输入端以及所述显示面板电性连接，所述第二信号输入端与每个所述ESD器件的所述第二输入端以及所述显示面板电性连接，所述第三信号输入端与所述ESD器件一一对应，且所述第三输入端与相应的所述ESD器件的所述第三输入端以及所述显示面板电性连接；以及
    开关模块，所述开关模块接入控制信号，并电性连接于所述信号输入端与所述显示面板，当所述显示面板没有进行点灯测试时，所述开关模块用于在所述控制信号的控制下控制所述ESD器件不再接入所述显示面板内。
  9. 根据权利要求8所述的防止ESD器件漏电的测试电路，其中，每个所述ESD器件均包括第一晶体管和第二晶体管；
    所述第一晶体管的栅极和源极均与所述第一信号输入端电性连接；所述第二晶体管的栅极和源极均与所述第二信号输入端电性连接；所述第一晶体管的漏极以及所述第二晶体管的漏极电性连接，且与相应的所述第三信号输入端电性连接。
  10. 根据权利要求8所述的防止ESD器件漏电的测试电路，其中，所述显示面板上设置有第一信号接入点、第二信号接入点以及多个第三信号接入点；
    其中，所述第一信号接入点与所述第一信号输入端连接，所述第二信号接入点与所述第二信号水端连接，所述第三信号输入点与所述第三信号输入端一一对应连接。
  11. 根据权利要求10所述防止ESD器件漏电的测试电路，其中，所述开关模块包括第一开关单元、第二开关单元以及多个第三开关单元；
    其中，所述第一开关单元设置在所述第一信号输入端与所述第一信号接入点之间；所述第二开关单元设置在所述第二信号输入端与所述第二信号接入点之间；所述第三开关单元、所述第三信号输入端以及所述第三信号接入点一一对应，且所述第三开关单元设置在相应所述第三输入端与相应所述第三信号接入点之间。
  12. 根据权利要求11所述的防止ESD器件漏电的测试电路，其中，所述第一开关单元包括第三晶体管，所述第三晶体管的栅极与所述控制信号电性连接，所述第三晶体管的源极与所述第一信号输入端电性连接，所述第三晶体管的漏极与所述第一信号接入点电性连接；
    所述第二开关单元包括第四晶体管，所述第四晶体管的栅极与所述控制信号电性连接，所述第四晶体管的源极与所述第二信号输入端电性连接，所述第四晶体管的漏极与所述第二信号接入点电性连接；
    每个所述第三开关单元均包括第五晶体管，所述第五晶体管的栅极与所述控制信号电性连接，所述第五晶体管的源极与相应所述第三信号输入端电性连接，所述第五晶体管的漏极与相应所述第三信号接入点电性连接。
  13. 根据权利要求10所述的防止ESD器件漏电的测试电路，其中，所述第一信号输入端以及每个所述ESD器件的所述第一输入端串联设置；所述第二信号输入端以及每个所述ESD器件的所述第二输入端串联设置。
  14. 根据权利要求13所述的防止ESD器件漏电的测试电路，其中，所述开关模块包括第六晶体管；
    所述第一信号接入点以及与所述第一信号接入点相邻的所述ESD器件的所述第一输入端之间设置有一个第六晶体管，相邻所述ESD器件的所述第一输入端之间设置有一个第六晶体管；
    所述第二信号接入点以及与所述第二信号接入点相邻的所述ESD器件的所述第二输入端之间设置有一个第六晶体管，相邻所述ESD器件的所述第二输入端之间设置有一个第六晶体管。
  15. 根据权利要求8所述的防止ESD器件漏电的测试电路，其中，所述第一信号输入端接入的信号为高电平信号，所述第二信号输入端接入的信号为低电平信号。
  16. 根据权利要求9所述的防止ESD器件漏电的测试电路，其中，所述晶体管均为N型晶体管或P型晶体管。
  17. 根据权利要求12所述的防止ESD器件漏电的测试电路，其中，所述晶体管均为N型晶体管或P型晶体管。
  18. 根据权利要求14所述的防止ESD器件漏电的测试电路，其中，所述晶体管均为N型晶体管或P型晶体管。
  19. 一种显示面板，其包括防止ESD器件漏电的测试电路，所述防止ESD器件漏电的测试电路，用于对显示面板进行点灯测试，其包括：
    多个ESD器件，每个所述ESD器件均具有第一输入端、第二输入端以及第三输入端；
    信号输入端，所述信号输入端包括第一信号输入端、第二信号输入端以及多个第三信号输入端，所述第一信号输入端与每个所述ESD器件的所述第一输入端以及所述显示面板电性连接，所述第二信号输入端与每个所述ESD器件的所述第二输入端以及所述显示面板电性连接，所述第三信号输入端与所述ESD器件一一对应，且所述第三输入端与相应的所述ESD器件的所述第三输入端以及所述显示面板电性连接；以及
    开关模块，所述开关模块接入控制信号，并电性连接于所述信号输入端与所述显示面板，当所述显示面板没有进行点灯测试时，所述开关模块用于在所述控制信号的控制下控制所述ESD器件不再接入所述显示面板内。
  20. 根据权利要求19所述的显示面板，其中，每个所述ESD器件均包括第一晶体管和第二晶体管；
    所述第一晶体管的栅极和源极均与所述第一信号输入端电性连接；所述第二晶体管的栅极和源极均与所述第二信号输入端电性连接；所述第一晶体管的漏极以及所述第二晶体管的漏极电性连接，且与相应的所述第三信号输入端电性连接。
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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109461396A (zh) * 2018-11-30 2019-03-12 武汉华星光电技术有限公司 防止esd器件漏电的测试电路及显示面板
CN111341821B (zh) * 2020-03-12 2022-02-22 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 有机发光二极管显示面板以及显示设备
CN111681609A (zh) * 2020-06-11 2020-09-18 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 一种显示装置和驱动电路检测方法

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7342579B2 (en) * 2004-10-11 2008-03-11 Chunghwa Picture Tubes, Ltd. Thin film transistor array plate, liquid crystal display panel and method of preventing electrostatic discharge
CN103294251A (zh) * 2012-09-25 2013-09-11 上海天马微电子有限公司 一种触摸屏的esd保护装置
CN105070239A (zh) * 2015-08-27 2015-11-18 武汉华星光电技术有限公司 一种液晶显示面板
CN206163101U (zh) * 2016-11-07 2017-05-10 上海天马微电子有限公司 一种静电释放电路、显示面板和显示设备
CN109461396A (zh) * 2018-11-30 2019-03-12 武汉华星光电技术有限公司 防止esd器件漏电的测试电路及显示面板

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102651547B (zh) * 2012-01-12 2013-06-05 京东方科技集团股份有限公司 一种静电放电保护电路及包括该保护电路的显示装置
KR102189577B1 (ko) * 2014-01-20 2020-12-14 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 그 구동 방법
CN106098684B (zh) * 2016-08-16 2019-04-26 武汉华星光电技术有限公司 一种静电防护电路
CN106098007B (zh) * 2016-08-16 2019-03-01 武汉华星光电技术有限公司 液晶面板及其控制方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7342579B2 (en) * 2004-10-11 2008-03-11 Chunghwa Picture Tubes, Ltd. Thin film transistor array plate, liquid crystal display panel and method of preventing electrostatic discharge
CN103294251A (zh) * 2012-09-25 2013-09-11 上海天马微电子有限公司 一种触摸屏的esd保护装置
CN105070239A (zh) * 2015-08-27 2015-11-18 武汉华星光电技术有限公司 一种液晶显示面板
CN206163101U (zh) * 2016-11-07 2017-05-10 上海天马微电子有限公司 一种静电释放电路、显示面板和显示设备
CN109461396A (zh) * 2018-11-30 2019-03-12 武汉华星光电技术有限公司 防止esd器件漏电的测试电路及显示面板

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