WO2020059988A1 - 발광 표시 장치의 제조 장치 및 제조 방법 - Google Patents

발광 표시 장치의 제조 장치 및 제조 방법 Download PDF

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WO2020059988A1
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최해윤
김한수
양은아
조현민
송근규
곽진오
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Definitions

  • An embodiment of the present invention relates to a manufacturing apparatus and a manufacturing method of a light emitting display device.
  • the technical object of the present invention is to provide a manufacturing apparatus and a manufacturing method of a light emitting display device to stably align light emitting elements in respective light emitting regions.
  • An apparatus for manufacturing a light emitting display device includes: a substrate transfer stage including a plurality of support plates arranged at a predetermined interval along a first direction and each extending along a second direction; And at least one electric field application module provided on at least one side of the substrate transfer stage.
  • Each of the at least one electric field applying module includes: a probe head having at least one probe pin; And a driving unit coupled to the probe head and moving the probe head at least up and down.
  • the at least one electric field applying module may include: a first electric field applying module provided on a first side of the substrate transfer stage; And a second electric field applying module provided on the second side of the substrate transfer stage to face the first electric field applying module.
  • the first and second electric field applying modules may be driven independently of each other.
  • the first and second electric field application modules may be simultaneously driven.
  • the support plates may include a first support plate disposed on a first edge of the substrate transfer stage; A second support plate disposed on a second edge of the substrate transfer stage; And at least one third support plate disposed between the first support plate and the second support plate.
  • the at least one electric field applying module includes: a first electric field applying module coupled to the first support plate; And a second electric field application module coupled to the second support plate.
  • the driving unit may include: a first driving unit horizontally moving the probe head back and forth or left and right; And a second driving unit vertically moving the probe head vertically.
  • each of the at least one electric field applying module may further include at least one sensor unit that senses the position of the probe head.
  • each of the at least one electric field applying module includes: a body part coupled to the probe head and the driving part; And it may further include at least one linear motion guide coupled to the body portion.
  • the probe head may include at least one first probe pin connected to a first power line; And at least one second probe pin connected to the second power line.
  • the manufacturing apparatus may further include a power supply connected to the first and second probe pins through the first and second power lines.
  • a method of manufacturing a light emitting display device includes: preparing substrates on which first and second electrodes are formed in respective light emitting regions, and disposing the substrates on a first stage; Supplying a light emitting device solution including a plurality of light emitting devices to the light emitting region while applying a predetermined alignment voltage to the first and second electrodes; Inserting support plates of a substrate transfer stage under the substrate, and separating the substrate from the first stage using the support plates; Placing the substrate on the second stage using the substrate transfer stage while applying the alignment voltage to the first and second electrodes; And removing the solvent of the light emitting device solution.
  • the first and second electrodes are driven by driving the electric field application module provided on at least one side of the support plates
  • the alignment voltage can be applied to the.
  • the step of supplying the light emitting device solution may include: driving the electric field application module provided on at least one side of the first stage to apply the alignment voltage to the first and second electrodes; And during the period in which the alignment voltage is applied, supplying the light-emitting element solution to the light-emitting region by a printing method.
  • the step of removing the solvent of the light emitting device solution may include driving the electric field application module provided on at least one side of the second stage to apply the alignment voltage to the first and second electrodes; And during the period in which the alignment voltage is applied, driving a heating element disposed around the substrate to supply heat to the substrate.
  • an apparatus for manufacturing a light emitting display device and a method for manufacturing a light emitting display device using the same it is possible to stably align light emitting elements in respective light emitting regions and improve the quality of the alignment.
  • FIG. 1 shows a light emitting device according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 shows a light emitting display panel according to an embodiment of the present invention.
  • 3A and 3B show an example of a pixel that may be provided in the light emitting display panel of FIG. 2.
  • FIG. 4 illustrates a light emitting unit of a pixel according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 5 shows a ledger substrate for manufacturing a light emitting display panel according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 6 illustrates an apparatus for manufacturing a light emitting display device according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 7 shows an embodiment of the configuration of the electric field application module of FIG. 6.
  • 8A to 8C show an embodiment of a horizontal movement method of the electric field application module of FIG. 7.
  • 9A to 9C show an embodiment of a vertical movement method of the electric field application module of FIG. 7.
  • 10 and 11A to 11D show an embodiment of a method of driving the manufacturing apparatus of FIG. 6.
  • FIG. 12 and 13 show another embodiment of a method of driving the manufacturing apparatus of FIG. 6.
  • 14 to 16 show various embodiments related to the arrangement of the electric field applying module that may be provided in the manufacturing apparatus of FIG. 6.
  • 17A and 17B show various embodiments related to the printing head that may be provided in the manufacturing apparatus of FIG. 6.
  • 20A shows an embodiment of a method of driving the manufacturing apparatus of FIGS. 18 and 19.
  • FIG. 20B shows an embodiment of one region (EA region) of FIG. 20A.
  • FIGS. 18 and 19 shows an embodiment of a method of driving the manufacturing apparatus of FIGS. 18 and 19.
  • 22 and 23 respectively show a manufacturing apparatus of a light emitting display device according to an embodiment of the present invention.
  • FIGS. 22 and 23 shows an embodiment of a method of driving the manufacturing apparatuses of FIGS. 22 and 23.
  • 25 and 26 illustrate an apparatus for manufacturing a light emitting display device according to an embodiment of the present invention.
  • 27 and 28 show embodiments related to the configuration and arrangement of the electric field applying module of FIGS. 25 and 26.
  • 29 and 30 show embodiments related to the configuration and arrangement of the electric field applying module of FIGS. 25 and 26.
  • 31A to 31G illustrate a method of manufacturing a light emitting display device according to an embodiment of the present invention.
  • FIGS. 25 to 30 illustrates a state in which a ledger substrate is disposed on a manufacturing apparatus of a light emitting display device according to the embodiments of FIGS. 25 to 30.
  • FIG. 1 shows a light emitting device LD according to an embodiment of the present invention.
  • the light emitting element LD a rod-shaped light emitting diode having a column shape will be illustrated.
  • the type and / or shape of the light emitting device LD that can be applied to the present invention is not limited thereto.
  • a light emitting device LD includes a first conductivity type semiconductor layer 11 and a second conductivity type semiconductor layer 13, and the first and second conductivity type semiconductors.
  • An active layer 12 interposed between the layers 11 and 13 may be included.
  • the light emitting device LD may be formed of a stacked body in which the first conductive semiconductor layer 11, the active layer 12, and the second conductive semiconductor layer 13 are sequentially stacked.
  • the light emitting element LD may be provided in a rod shape extending along one direction.
  • the extending direction of the light emitting element LD is a longitudinal direction
  • the light emitting element LD may have one end and the other end along the length direction.
  • one of the first and second conductivity type semiconductor layers 11 and 13 is disposed at one end of the light emitting device LD, and the first and second ends are provided at the other end of the light emitting device LD.
  • the remaining one of the conductive semiconductor layers 11 and 13 may be disposed.
  • the light emitting device LD may be manufactured in a rod shape.
  • the term "rod-shaped” encompasses a rod-like shape or a bar-like shape that is long in the longitudinal direction (that is, aspect ratio is greater than 1), such as a circular column or a polygonal column.
  • the shape of the cross section is not particularly limited.
  • the length of the light emitting element LD may be greater than its diameter (or the width of the cross section).
  • the light emitting device LD may have a diameter and / or length as small as a micro-scale or a nano-scale, for example.
  • the size of the light emitting element LD is not limited thereto.
  • the size of the light emitting device LD may be variously changed according to design conditions of a light emitting display device to which the light emitting device LD is applied.
  • the first conductive semiconductor layer 11 may include, for example, at least one n-type semiconductor layer.
  • the first conductive semiconductor layer 11 includes any one of InAlGaN, GaN, AlGaN, InGaN, AlN, and InN semiconductor materials, and is an n-type semiconductor doped with a first conductive dopant such as Si, Ge, Sn, etc. Layers may be included.
  • the material constituting the first conductivity type semiconductor layer 11 is not limited thereto, and in addition, the first conductivity type semiconductor layer 11 may be formed of various materials.
  • the active layer 12 is disposed on the first conductive semiconductor layer 11 and may be formed in a single or multiple quantum well structure.
  • a cladding layer (not shown) doped with a conductive dopant may be formed on the top and / or bottom of the active layer 12.
  • the clad layer may be formed of an AlGaN layer or an InAlGaN layer.
  • a material such as AlGaN, AlInGaN may be used to form the active layer 12, and in addition, various materials may constitute the active layer 12.
  • the light emitting device LD When an electric field of a predetermined voltage or more is applied to both ends of the light emitting device LD, the light emitting device LD emits light while the electron-hole pairs are combined in the active layer 12.
  • the light emitting element LD By controlling the light emission of the light emitting element LD using this principle, the light emitting element LD can be used as a light source of a pixel.
  • the second conductivity type semiconductor layer 13 is disposed on the active layer 12 and may include a semiconductor layer of a different type from the first conductivity type semiconductor layer 11.
  • the second conductivity type semiconductor layer 13 may include at least one p-type semiconductor layer.
  • the second conductivity type semiconductor layer 13 includes at least one semiconductor material of InAlGaN, GaN, AlGaN, InGaN, AlN, InN, and includes a p-type semiconductor layer doped with a second conductive dopant such as Mg. You can.
  • the material constituting the second conductivity-type semiconductor layer 13 is not limited thereto, and various other materials may constitute the second conductivity-type semiconductor layer 13.
  • the light emitting device LD may further include additional components in addition to the first conductive semiconductor layer 11, the active layer 12, and the second conductive semiconductor layer 13 described above.
  • the light emitting device LD may include one or more phosphor layers disposed on and / or below the first conductive semiconductor layer 11, the active layer 12, and / or the second conductive semiconductor layer 13, and the active layer. , May further include a semiconductor layer and / or an electrode layer.
  • the light emitting device LD may further include an insulating coating 14.
  • the insulating film 14 may be formed to surround at least the outer circumferential surface of the active layer 12, in addition to at least a portion of the first and second conductivity-type semiconductor layers 11 and 13 may be further enclosed. have.
  • the insulating film 14 has an outer peripheral surface excluding both ends of the light emitting device LD ( For example, it may enclose the entire side of the original column).
  • the insulating film 14 may cover only some of the side surfaces of the first conductive semiconductor layer 11, the active layer 12 and / or the second conductive semiconductor layer 13.
  • the insulating coating 14 may be omitted.
  • the insulating film 14 may include a transparent insulating material.
  • the insulating film 14 may include one or more insulating materials selected from the group consisting of SiO 2 , Si 3 N 4 , Al 2 O 3 and TiO 2 , but is not limited thereto. That is, the insulating film 14 may be made of various insulating materials.
  • the insulating film 14 is provided on the light emitting device LD, it is possible to prevent the active layer 12 of the light emitting device LD from being short-circuited with first and / or second electrodes not shown. Accordingly, electrical stability of the light emitting element LD can be secured.
  • an insulating film 14 on the surface of the light emitting element LD, surface defects of the light emitting element LD can be minimized to improve life and efficiency.
  • the insulating film 14 is formed on each light emitting element LD, even if a plurality of light emitting elements LD are disposed close to each other, an unwanted short circuit between the light emitting elements LD occurs. It can be prevented from occurring.
  • the light emitting device LD may be manufactured through a surface treatment process. For example, when a plurality of light-emitting elements (LD) are mixed with a fluid solution and supplied to each light-emitting region (eg, the light-emitting region of each pixel), the light-emitting elements (LD) are unevenly aggregated in the solution
  • Each light emitting device LD may be surface treated (eg, coated) so as to be uniformly dispersed without being carried out.
  • the above-described light emitting device LD may be used as a light source in various types of display devices including a light emitting display panel.
  • at least one light emitting element LD may be disposed in each pixel area of the light emitting display panel, and thus a light emitting unit of each pixel may be configured.
  • the application field of the light emitting element LD in the present invention is not limited to the display device.
  • the light emitting element LD may be used in other types of light emitting devices that require a light source, such as a lighting device.
  • FIG. 2 shows a light emitting display panel 110 according to an embodiment of the present invention.
  • 3A and 3B show an example of a pixel PXL that may be provided in the light emitting display panel 110 of FIG. 2.
  • the structure of the light emitting display panel 110 with the display area DA as a center will be briefly illustrated.
  • at least one driving circuit unit for example, a scanning driving unit and / or a data driving unit, may be further disposed on the light emitting display panel 110.
  • the light emitting display panel 110 may include a substrate 111 and a plurality of pixels PXL disposed on the substrate 111.
  • the light emitting display panel 110 may include a display area DA for displaying an image and a non-display area NDA excluding the display area DA.
  • the pixels PXL may be disposed in the display area DA on the substrate 111.
  • the display area DA is disposed in the central area of the light emitting display panel 110, and the non-display area NDA surrounds the display area DA so as to surround the edge area of the light emitting display panel 110. Can be placed on.
  • the positions of the display area DA and the non-display area NDA are not limited thereto, and their positions may be changed.
  • the substrate 111 may be a rigid substrate or a flexible substrate, and its material or physical properties are not particularly limited.
  • the substrate 111 may be a rigid substrate composed of glass or tempered glass, or a flexible substrate composed of a thin film made of plastic or metal.
  • One area on the substrate 111 is defined as the display area DA, and the pixels PXL are disposed, and the other area is defined as the non-display area NDA.
  • Various wirings and / or built-in circuit units connected to the pixels PXL of the display area DA may be disposed in the non-display area NDA.
  • Each of the pixels PXL may include at least one light emitting device LD driven by a corresponding scan signal and a data signal, for example, at least one light emitting device LD shown in FIG. 1.
  • each of the pixels PXL may include a plurality of rod-shaped light emitting diodes having a small size of micro-scale or nano-scale.
  • each of the pixels PXL includes a plurality of rod-like light emitting diodes having a size of microscale or nanoscale and connected in series and / or in parallel with each other, and the plurality of rod-like light-emitting diodes each pixel ( PXL).
  • each pixel PXL may be configured as an active pixel illustrated in FIG. 3A or 3B or the like.
  • the type and / or structure of the pixels PXL is not particularly limited.
  • each pixel PXL may be configured as a pixel of a passive or active light emitting display device having various structures currently known.
  • each pixel PXL includes a light emitting unit EMU for generating light having luminance corresponding to a data signal, and a pixel circuit PXC for driving the light emitting unit EMU. You can.
  • the light emitting unit EMU may include a plurality of light emitting elements LD connected in series and / or in parallel between the first and second pixel power sources VDD and VSS. That is, the light emitting unit EMU may be a light source unit composed of a plurality of light emitting elements LD.
  • the first and second pixel power sources VDD and VSS may have different potentials so that the light emitting elements LD emit light.
  • the first pixel power VDD may be set as a high potential pixel power
  • the second pixel power VSS may be set as a low potential pixel power.
  • the potential difference between the first and second pixel power sources VDD and VSS may be greater than or equal to a threshold voltage of the light emitting elements LD.
  • a plurality of light emitting elements LD constituting the light emitting unit EMU of each pixel PXL are in the same direction (eg, as an example) between the first and second pixel power sources VDD and VSS. Forward), but the present invention is not limited thereto.
  • some of the light emitting elements LD may be connected in the forward direction between the first and second pixel power sources VDD and VSS, and other parts may be connected in the reverse direction.
  • at least one pixel PXL may include only a single light emitting element LD.
  • one end of the light emitting elements LD constituting each light emitting unit EMU is commonly connected to the corresponding pixel circuit PXC through the first electrode of the light emitting unit EMU, and the pixel The first pixel power VDD may be connected to the circuit PXC.
  • the other end of the light emitting elements LD may be commonly connected to the second pixel power source VSS through the second electrode of the light emitting unit EMU.
  • the first electrode and the second electrode disposed in each light emitting unit EMU are referred to as first pixel electrodes and second pixel electrodes, respectively.
  • Each light emitting unit EMU may emit light at a luminance corresponding to a driving current supplied through the corresponding pixel circuit PXC. Accordingly, a predetermined image may be displayed in the display area DA.
  • the pixel circuit PXC may be connected to the scan line Si and the data line Dj of the corresponding pixel PXL.
  • the pixel circuit PXC of the pixel PXL is the i-th scan line Si of the display area DA ) And the j-th data line Dj.
  • the pixel circuit PXC may include first and second transistors M1 and M2 and a storage capacitor Cst.
  • the first electrode of the first transistor (switching transistor; M1) is connected to the data line Dj, and the second electrode is connected to the first node N1.
  • the first and second electrodes are different electrodes.
  • the first electrode is a source electrode
  • the second electrode may be a drain electrode.
  • the gate electrode of the first transistor M1 is connected to the scan line Si.
  • the first transistor M1 is turned on when a scan signal of a gate-on voltage (eg, a low voltage) is supplied from the scan line Si to turn on the data line Dj and the first node N1. Connect electrically. At this time, the data signal of the corresponding frame is supplied to the data line Dj, and the data signal is transmitted to the first node N1 via the first transistor M1. Accordingly, the voltage corresponding to the data signal is charged in the storage capacitor Cst.
  • a gate-on voltage eg, a low voltage
  • the first electrode of the second transistor (drive transistor; M2) is connected to the first pixel power supply VDD, and the second electrode emits light through the first pixel electrode (ie, the first electrode of the corresponding light emitting unit EMU). It is connected to the unit EMU.
  • the gate electrode of the second transistor M2 is connected to the first node N1.
  • the second transistor M2 controls the driving current supplied to each light emitting unit EMU in response to the voltage of the first node N1.
  • One electrode of the storage capacitor Cst is connected to the first pixel power supply VDD, and the other electrode is connected to the first node N1.
  • the storage capacitor Cst charges a voltage corresponding to the data signal supplied to the first node N1 during a corresponding frame period, and maintains the charged voltage until the data signal of the next frame is supplied.
  • the structure of the pixel circuit PXC is not limited to the embodiment shown in FIG. 3A.
  • the pixel circuit PXC may be composed of pixel circuits of various structures and / or driving methods currently known.
  • the pixel circuit PXC includes a switching element for compensating the threshold voltage of the second transistor M2, a switching element for initializing the gate voltage of the second transistor M2, and / or a light emitting unit EMU. It may further include at least one switching element such as a switching element for controlling the emission time.
  • each switching element may be configured as a transistor, but is not limited thereto.
  • the pixel circuit PXC may further include at least one capacitor, including a boosting capacitor for boosting the gate voltage of the second transistor M2.
  • transistors included in the pixel circuit PXC for example, the first and second transistors M1 and M2 are both illustrated as P-type transistors, but the present invention is not limited thereto. That is, at least one of the first and second transistors M1 and M2 may be changed to an N-type transistor.
  • both the first and second transistors M1 and M2 may be N-type transistors.
  • the pixel PXL illustrated in FIG. 3B is substantially similar in structure and operation to the pixel circuit PXC of FIG. 3A except that the connection position of some circuit elements is changed according to a change in the transistor type. Therefore, a detailed description of the pixel PXL in FIG. 3B will be omitted.
  • FIG. 4 illustrates a light emitting unit EMU of a pixel PXL according to an embodiment of the present invention.
  • EMU light emitting unit
  • FIG. 4 a light emitting unit having a relatively simple structure in which each electrode is composed of a single layer will be described.
  • the present invention is not limited thereto, and for example, at least one of the electrodes illustrated in FIG. 4 may be composed of multiple layers.
  • at least one conductive layer and / or insulating layer may be further disposed on the light emitting unit EMU.
  • the light emitting unit EMU of FIG. 4 may constitute a light source of the pixels PXL illustrated in FIGS. 2 and 3A to 3B, and may also constitute light sources of various light emitting devices.
  • FIG. 4 will be described with reference to FIGS. 3A and 3B to describe a light emitting unit (EMU) according to an embodiment of the present invention.
  • each light emitting unit EMU is connected to a plurality of first and second pixel electrodes ELT1 and ELT2 and the first and second pixel electrodes ELT1 and ELT2. It may include the light emitting device (LD) of.
  • the present invention is not limited to the embodiments illustrated in FIGS. 3A to 4.
  • the light emitting unit EMU of at least one pixel PXL may include only a single light emitting element LD.
  • each light emitting unit EMU may be disposed in a pixel area for forming each pixel PXL, and may be surrounded by a dam or bank structure (not shown).
  • the first pixel electrode ELT1 is connected to the pixel circuit of the corresponding pixel, for example, the pixel circuit PXC shown in FIG. 3A and the like, and the second pixel electrode ELT2 is the second pixel power source VSS.
  • the first pixel electrode ELT1 is connected to the second transistor M2 of FIG. 3A through the first contact hole CH1, and the second pixel electrode ELT2 is through the second contact hole CH2. It may be connected to the second pixel power supply VSS.
  • the present invention is not limited to this.
  • the first pixel electrode ELT1 is connected to the first pixel power source VDD through the first contact hole CH1
  • the second pixel electrode ELT2 is second. It may be connected to the second transistor M2 of FIG. 3B through the contact hole CH2.
  • the first and / or second pixel electrodes ELT1 and ELT2 are the first contact hole CH1, the second contact hole CH2, and / or the pixel circuit PXC, etc. It may be directly connected to or connected to the first and / or second pixel power sources VDD and VSS without passing through.
  • At least one region of the first pixel electrode ELT1 is disposed to face at least one region of the second pixel electrode ELT2, and a plurality of light emitting elements are disposed between the first and second pixel electrodes ELT1 and ELT2. (LD) can be connected.
  • the arrangement direction of the light emitting elements LD is not particularly limited. Also, the light emitting elements LD may be connected in series and / or in parallel between the first and second pixel electrodes ELT1 and ELT2.
  • the light emitting elements LD may be a micro light-emitting diode, which is as small as nano-scale to micro-scale, for example, using an inorganic crystal structure material.
  • each light emitting element LD may be the light emitting element LD of FIG. 1.
  • the light emitting elements LD are prepared in a form dispersed in a predetermined solution (hereinafter referred to as "LED solution"), and can be supplied to each light emitting unit EMU using an inkjet method or the like.
  • the light emitting elements LD may be mixed with a volatile solvent and supplied to each light emitting unit EMU.
  • the first and second pixel electrodes ELT1 and ELT2 are As the electric field is formed between the light emitting elements LD are self-aligned between the first and second pixel electrodes ELT1 and ELT2.
  • the solvent is volatilized or removed in other ways to stably arrange the light emitting elements LD between the first and second pixel electrodes ELT1 and ELT2. You can. That is, the light emitting elements LD are physically and / or electrically connected between the first and second pixel electrodes ELT1 and ELT2.
  • each light emitting unit EMU includes a first contact electrode CNE1 for stably connecting one end of the light emitting elements LD to the first pixel electrode ELT1, and the light emitting elements ( A second contact electrode CNE2 for stably connecting the other end of LD) to the second pixel electrode ELT2 may be included.
  • Each of the first and second contact electrodes CNE1 and CNE2 contacts and / or electrically contacts one of the first and second pixel electrodes ELT1 and ELT2 and at least one end of the light emitting elements LD. Can be connected.
  • the first and second contact electrodes CNE1 and CNE2 may cover both ends of the light emitting elements LD and at least one region of the first and second pixel electrodes ELT1 and ELT2.
  • a plurality of light emitting elements LD disposed in the light emitting unit EMU may be collected to configure a light source of the corresponding pixel PXL. For example, when a driving current is supplied to the light emitting unit EMU of at least one pixel PXL during each frame period, in the forward direction between the first and second pixel electrodes ELT1 and ELT2 of the pixel PXL The connected light emitting devices LD emit light and emit light having a luminance corresponding to the driving current.
  • the led substrate 100 may be for simultaneously manufacturing a plurality of light emitting display panels 110 on one mother substrate 111A. For example, after a plurality of light-emitting display panels 110 are simultaneously manufactured in the form of a ledger substrate 100 on a large mother substrate 111A, individual light-emitting display panels 110 through a scribing process, etc. Can be separated into.
  • the ledger substrate 100 includes a plurality of first and / or second directions (eg, X-axis and / or Y-axis directions) arranged on the mother substrate 111A.
  • Cells 110A may be included.
  • Each cell 110A may be for manufacturing an individual light emitting display panel 110.
  • each cell 110A may include a plurality of pixels PXL disposed in a predetermined display area DA.
  • each pixel PXL may include a light emitting unit EMU having a plurality of light emitting elements LD.
  • EMU light emitting unit having a plurality of light emitting elements LD.
  • a plurality of conductive pads 102 may be disposed in one region of the ledger substrate 100, for example, at least one side edge region of the ledger substrate 100.
  • the plurality of conductive pads 102 may include at least one pair of pads composed of first and second pads 102a and 102b that are supplied with different voltages.
  • a plurality of first and second pairs of pads 102a and 102b may be disposed in opposite edge regions of the ledger substrate 100 facing each other.
  • each pair of first and second pads 102a and 102b may be connected to at least one cell 110A.
  • the ledger substrate 100 may include a plurality of alignment wires AL for electrically connecting the cells 110A to the conductive pads 102.
  • the alignment wires AL are at least one for connecting at least one of the cells 110A formed on the ledger substrate 100 to any pair of first and second pads 102a and 102b.
  • a pair of first and second alignment wires AL1 and AL2 may be included.
  • a plurality of first and second alignment wires AL1 and AL2 pairs corresponding to the plurality of first and second pads 102a and 102b pairs may be disposed on the ledger substrate 100.
  • Each first alignment line AL1 is electrically connected to one electrode formed inside the at least one cell 110A, and each second alignment line AL2 is another electrode formed inside the at least one cell 110A. Is electrically connected to.
  • each of the first alignment lines AL1 is commonly connected to the first pixel electrodes ELT1 of the pixels PXL formed inside the at least one cell 110A
  • each of the second alignment lines ( AL2) may be commonly connected to the second pixel electrodes ELT2 of the pixels PXL formed inside the at least one cell 110A.
  • the voltage applied to the first pads 102a is transmitted to the first pixel electrodes ELT1 inside each cell 110A through the first alignment lines AL1, and the second pads 102b are applied.
  • the voltage applied to) may be transmitted to the second pixel electrodes ELT2 inside each cell 110A through the second alignment lines AL2.
  • one of the cells 110A formed on the ledger substrate 100, at least one cell 110A disposed on one side of the ledger substrate 100, for example, on the left side, is different from the other of the ledger substrate 100
  • One side for example, may be electrically connected to the pair of first and second pads 102a and 102b disposed on the right side.
  • at least one cell 110A disposed on the other side of the ledger substrate 100, for example, on the right side of the cells 110A is disposed on the opposite side of the ledger substrate 100, for example, on the left side.
  • the first and second pads 102a and 102b may be electrically connected to the pair.
  • the first and the other disposed on the other side of the ledger substrate 100 A voltage may be applied to the at least one cell 110A through a pair of second pads 102a and 102b. Accordingly, the light emitting elements LD are supplied to the at least one cell 110A, and a predetermined alignment signal for the alignment of the light emitting elements LD is supplied to the light emitting elements LD.
  • the electric field can be applied.
  • FIG. 6 illustrates an apparatus 200 for manufacturing a light emitting display device according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 6 provides light emitting elements LD on the mother substrate 111A for manufacturing the panel of the light emitting display device, that is, the light emitting display panel 110, and at the same time provides electric fields to the light emitting elements LD.
  • the manufacturing apparatus 200 hereinafter referred to as "first manufacturing apparatus 200" to which can be applied.
  • the first manufacturing apparatus 200 includes light emitting elements in the interior of each cell 110A (especially the light emitting area of each of the pixels PXL) disposed on the mother substrate 111A shown in FIG. 5.
  • the first manufacturing apparatus 200 may be an inkjet printer that supplies (eg, drops) light emitting elements LD on the mother substrate 111A by an inkjet method.
  • reference numeral “240” comprehensively corresponds to one or more electric field authorization modules, and may correspond to, for example, each electric field authorization module or a plurality of electric field authorization modules.
  • reference numeral “260” corresponds comprehensively to one or more printing heads, and may correspond to, for example, each printing head or a plurality of printing heads.
  • the first manufacturing apparatus 200 according to an embodiment of the present invention, the main plate 210 and the auxiliary plate 220 arranged sequentially from the bottom, and the upper portion of the auxiliary plate 220
  • a stage also referred to as a “first stage”
  • at least one electric field applying module 240 provided on at least one side of the stage 230, and placed on top of the stage 230
  • It includes a gantry 250 and at least one printing head 260 supported by the gantry 250 and disposed on the stage 230.
  • the electric field applying module 240 and / or the printing head 260 may be configured to enable both horizontal and vertical movement.
  • the electric field applying module 240 and / or the printing head 260 may be configured to enable both horizontal movement along the X-axis direction and vertical movement along the Z-axis direction (eg, vertical movement).
  • the stage 230 may be configured to be movable along at least one direction.
  • the stage 230 may be designed to allow horizontal movement along the Y-axis direction.
  • the process of supplying the light emitting elements LD by disposing the ledger substrate 100 on the stage 230 and simultaneously applying the electric field to the cell 110A to which the light emitting elements LD are supplied can be smoothly applied. There will be.
  • the electric field applying module 240 may be disposed to be adjacent to at least two edge regions of the stage 230, respectively.
  • the electric field applying module 240 includes a first electric field applying module 241 disposed on the first side of the stage 230 and a second electric field applying module disposed on the second side of the stage 230 ( 242).
  • the first side and the second side of the stage 230 may be opposite ends facing each other.
  • the first side and the second side may be left and right sides of the stage 230, respectively. That is, the first and second electric field applying modules 241 and 242 may be disposed adjacent to each of both sides of the stage 230 facing each other.
  • first and second electric field applying modules 241 and 242 may be connected and / or installed to a structure at the bottom of the stage 230.
  • first and second electric field applying modules 241 and 242 may be coupled to the lower plate 230a of the stage 230.
  • the positions and / or installation structures of the first and second electric field applying modules 241 and 242 are not particularly limited, and may be variously changed.
  • first and second electric field applying modules 241 and 242 may be driven independently of each other or may be driven in conjunction with each other.
  • the first and second electric field applying modules 241 and 242 may be simultaneously driven, or sequentially or alternately driven.
  • the first manufacturing apparatus 200 includes the first and second electric field applying modules 241 and 242 disposed on different sides of the stage 230, the electric field applying module 240 and the printing head While avoiding the collision with the 260, it is possible to smoothly apply the electric field on the ledger substrate 100 seated on the stage 230.
  • the electric field applying module 240 and the printing head 260 By selectively driving at least one of the first and second electric field applying modules 241 and 242 according to the position of the printing head 260, mutual interference between the electric field applying module 240 and the printing head 260 and / Or it is possible to apply a desired electric field to each cell 110A on the ledger substrate 100 while preventing collision.
  • the printing head 260 may include a plurality of printing heads for spraying different types of solutions, for example, a solution in which light-emitting elements LD having a predetermined color are dispersed, to the upper portion of the stage 230,
  • the first, second, and third printing heads 261, 262, and 263 may be included.
  • the first, second, and third printing heads 261, 262, and 263 each of a plurality of red, green, and blue light emitting elements LD are dispersed in the form of droplets of the stage 230. It may be dropped on the upper portion (for example, inside each cell 110A of the ledger substrate 100 mounted on the stage 230).
  • the first, second, and third printing heads 261, 262, and 263 are provided with spray nozzles 261a, 262a, and 263a, respectively, and each of red, green, and blue light emitting elements LD in an inkjet method Can be supplied to each cell 110A.
  • the first, second, and third printing heads 261, 262, and 263 may be inkjet heads (or jet heads).
  • the first manufacturing apparatus 200 includes both the electric field application module 240 and the printing head 260. Accordingly, while supplying the light emitting elements LD on the substrate of the light emitting display device placed on the stage 230, for example, the ledger substrate 100, and applying a predetermined electric field to the light emitting elements LD, Self-alignment of the light emitting elements LD may be induced. Accordingly, the light emitting display panel 110 using the light emitting elements LD as a light source can be easily manufactured.
  • the remaining components constituting the first manufacturing apparatus 200 may have various shapes and / or structures currently known. You can. Therefore, detailed description thereof will be omitted.
  • the electric field applying module 240 illustrated in FIG. 7 may correspond to both the first and second electric field applying modules 241 and 242 of FIG. 6.
  • the first and second electric field applying modules 241 and 242 are configured substantially the same, and may be disposed to face each other.
  • each electric field applying module 240 is coupled to a probe head PHD and the probe head PHD, and includes first and first for moving the probe head PHD in a predetermined direction.
  • the driving unit LA1 and LA2 may include a body part BD coupled to the probe head PHD and the first and second driving parts LA1 and LA2.
  • each electric field applying module 240 is coupled to the body portion BD and at least one linear motion guide LM1 and LM2 to assist the stable movement of the electric field applying module 240 , It may further include at least one sensor unit (SEU1, SEU2) for detecting the movement position of the probe head (PHD) in real time.
  • each electric field applying module 240 includes a first linear motion guide LM1 and a first sensor unit SEU1 disposed around the first driving unit LA1, and a second driving unit LA2.
  • a second linear motion guide LM2 and a second sensor unit SEU2 disposed in the vicinity may be further included.
  • the probe head PHD includes at least one probe pin (or, also referred to as "electrode pad”; PPI) disposed on one surface.
  • the probe head PHD may include a plurality of probe pins PPI arranged in the pad portion PAU located in the edge region of the lower surface.
  • each probe pin PPI may be connected to a power supply unit (not shown) to receive a predetermined power or voltage from the power supply unit.
  • the probe head PHD may be implemented as a probe bar having a bar shape, but is not limited thereto.
  • the shape, structure, and / or constituent materials of the probe head PHD may be variously changed.
  • the first driving part LA1 is coupled to the probe head PHD through the body part BD, and may move the probe head PHD in the horizontal direction.
  • the first driving unit LA1 may be a linear actuator that moves the probe head PHD back and forth or left and right along the X-axis direction.
  • the first driving unit LA1 may include a first motor MT1 and a first ball screw BS1 coupled and / or connected to the first motor MT1 in a horizontal direction. Through this, the first driving unit LA1 may adjust the horizontal position of the probe head PHD so that the probe head PHD can reach a desired position.
  • the first motor MT1 may be a servomotor, but is not limited thereto.
  • the first motor MT1 may be configured with various types of power sources in addition to the servo motor.
  • the first motor MT1 may include a motor guide or the like.
  • the first ball screw BS1 may be a rolled ball screw, but is not limited thereto.
  • the first ball screw BS1 in addition to the rolled ball screw, various mechanical devices capable of linearly moving the probe head PHD using the power generated by the first motor MT1 (eg, rotation It can be composed of a variety of parts that can convert the motion to linear motion).
  • the second driving part LA2 is coupled to the probe head PHD through the body part BD, and may move the probe head PHD in the vertical direction.
  • the second driving unit LA2 may be a linear actuator that moves the probe head PHD up and down along the Z-axis direction.
  • the second driving unit LA2 may include a second motor MT2 and a second ball screw BS2 coupled and / or connected to the second motor MT2 in the vertical direction. Through this, the second driving unit LA2 may adjust the height of the probe head PHD so that the probe head PHD can reach a desired position.
  • the second motor MT2 may be a servo motor, but is not limited thereto, and may be configured with various types of power sources. Further, according to an embodiment, the second motor MT2 may include a motor guide or the like.
  • the second ball screw BS2 may be a rolled ball screw, but is not limited thereto.
  • the probe head PHD may be linearly moved using power generated by the second motor MT2. It can be configured with a variety of mechanical devices.
  • the first linear motion guide LM1 is disposed around the first driving unit LA1 to assist horizontal movement of the probe head PHD.
  • the second linear motion guide LM2 is disposed around the second driving unit LA2 to assist vertical movement of the probe head PHD.
  • the first sensor unit SEU1 is disposed around the first driving unit LA1 to detect a horizontal position of the probe head PHD. Through the first sensor unit SEU1, it may be determined whether the corresponding electric field applying module 240, particularly the probe head PHD, has reached a desired horizontal position.
  • the first sensor unit SEU1 includes a first position sensor SEN11 for detecting the front limit of the probe head PHD and a second position for detecting the rear limit of the probe head PHD.
  • the probe head PHD is positioned between the sensor SEN12 and the first and second position sensors SEN11 and SEN12 so that the probe head PHD and the conductive pads 102 of the ledger substrate 100 It may include at least one of the third position sensor (SEN13) for detecting that it has reached the (horizontal position for contact).
  • the third position sensor SEN13
  • the front and rear limits can be detected through the first and second position sensors SEN11 and SEN12, excessive movement of the probe head PHD can be prevented. Accordingly, mechanical damage of the electric field application module 240 can be prevented.
  • it is sensed that the probe head PHD has reached the target point through the third position sensor SEN13 it is possible to secure the ease and reliability of the process.
  • the second sensor unit SEU2 is disposed around the second driving unit LA2 to sense the vertical position (ie, height) of the probe head PHD. Through the second sensor unit SEU2, it may be determined whether the corresponding electric field applying module 240, particularly the probe head PHD, has reached a desired vertical position.
  • the second sensor unit SEU2 includes a first position sensor SEN21 for detecting a rising limit of the probe head PHD, and a second position for detecting a falling limit of the probe head PHD.
  • the probe head PHD is positioned between the sensor SEN22 and the first and second position sensors SEN21 and SEN22 so that the probe head PHD and the conductive pads 102 of the ledger substrate 100 It may include at least one of the third position sensor (SEN23) for detecting that a predetermined height (for contact) has been reached.
  • the third position sensor SEN23
  • the lift limit can be detected through the first and second position sensors SEN21 and SEN22, excessive movement of the probe head PHD can be prevented. Accordingly, mechanical damage of the electric field application module 240 can be prevented.
  • it is sensed that the probe head PHD has reached the target height through the third position sensor SEN23 it is possible to secure the ease and reliability of the process.
  • 8A to 8C show an embodiment of a horizontal movement method of the electric field application module 240 of FIG. 7.
  • the electric field applying module 240 may move in the horizontal direction by the first driving unit LA1.
  • the probe head PHD may move forward along the X-axis by the first driving unit LA1.
  • the front end of the probe head PHD is spaced apart by the first distance d1, the second distance d2, and the third distance d3 gradually away from the one end of the first driving unit LA1 along the horizontal direction. You can move forward in order to pass through the positions.
  • the front end of the probe head PHD is respectively a third distance along a horizontal direction from one end of the first driving unit LA1 ( d3), the second distance d2 and the first distance d1 may be reversed to sequentially pass the spaced apart positions.
  • 9A to 9C show an embodiment of a vertical movement method of the electric field application module 240 of FIG. 7.
  • the electric field application module 240 may move in the vertical direction by the second driving unit LA2.
  • the probe head PHD may be raised along the Z-axis by the second driving unit LA2.
  • the rear surface of the probe head PHD corresponds to a position corresponding to the first height h1, the second height h2, and the third height h3 gradually increasing in the vertical direction from one end of the second driving unit LA2. You can ascend to pass in turn.
  • the rear surface of the probe head PHD descends by the second driving unit LA2
  • the rear surface of the probe head PHD has a third height h3 along a vertical direction from one end of the second driving unit LA2. 2 may be descended to sequentially pass a position spaced apart by a height h2 and a first height h1.
  • FIG. 10 and 11A to 11D show an embodiment of a method of driving the manufacturing apparatus of FIG. 6, that is, the first manufacturing apparatus 200.
  • FIG. 10 is a plan view schematically showing a state in which the ledger substrate 100 shown in FIG. 5 is disposed on the stage 230 of the first manufacturing apparatus 200.
  • the probe head PHD instead of showing the probe head PHD as a whole, it is arranged on one surface of the probe head PHD in order to show the alignment positions of the probe pins PPI and the ledger substrate 100 of the first manufacturing apparatus 200.
  • the illustrated pad portion PAU will be illustrated.
  • 10 and 11A to 11D the structure of the electric field application module 240 and the like will be schematically illustrated.
  • a plurality of probe pins PPI may be arranged in the pad portion PAU of the probe head PHD.
  • the first manufacturing apparatus 200 includes a power supply unit 270 for supplying a predetermined voltage to the probe pins PPI, and the probe pins PPI and the power supply unit 270.
  • a plurality of power lines PL1 and PL2 connected between them may be further included.
  • the power supply unit 270 may be regarded as a component of the electric field applying module 240 or may be regarded as a separate component configured outside the electric field applying module 240.
  • a pad portion PAU is disposed on one surface of the probe head PHD, for example, a lower surface, and the pad portion PAU is at least connected to the power supply unit 270 through a first power line PL1.
  • One first probe pin PPI1 and at least one second probe pin PPI2 connected to the power supply unit 270 through the second power line PL2 may be provided.
  • the pad unit PAU is disposed to be paired with a plurality of first probe pins PPI1 commonly connected to the first power line PL1 and each of the first probe pins PPI1 and a second power source.
  • a plurality of second probe pins PPI2 commonly connected to the line PL2 may be provided.
  • the first and second probe pins PPI1 and PPI2 may correspond to conductive pads 102 formed on the ledger substrate 100.
  • the first and second probe pins PPI1 and PPI2 provided in the first electric field applying module 241 are conductive disposed on the left side of the ledger substrate 100 when the first electric field applying module 241 is driven. It may be configured to contact the pads 102 to apply a predetermined voltage.
  • the first and second probe pins PPI1 and PPI2 provided in the second electric field applying module 242 are conductive disposed on the right side of the ledger substrate 100 when the second electric field applying module 242 is driven. It may be configured to contact the pads 102 to apply a predetermined voltage.
  • the power supply unit 270 supplies a predetermined voltage (or signal) having a predetermined waveform and / or potential to the first power line PL1 through the first output terminal OUT1, and A reference voltage having a predetermined reference potential may be supplied to the second power line PL2 through the 2 output terminals OUT2.
  • the power supply unit 270 may supply an AC voltage having a sine waveform to the first power line PL1 and a ground voltage to the second power line PL2.
  • a predetermined voltage supplied to the first and second power lines PL1 and PL2 is a predetermined voltage for aligning the light emitting elements LD between the first and second pixel electrodes ELT1 and ELT2. It may be an alignment signal of.
  • the first manufacturing apparatus 200 may further include at least one additional component.
  • the first manufacturing apparatus 200 may include at least one horizontal guide (HGD) disposed inside or around the first and / or second electric field applying modules 241 and 242 and the stage 230. It may further include at least one fixing portion (FXP) provided.
  • HFD horizontal guide
  • FXP fixing portion
  • first and second electric fields The application modules 241 and 242 are driven to supply a predetermined voltage to at least some of the conductive pads 102 of the ledger substrate 100. Accordingly, between the first and second pixel electrodes ELT1 and ELT2 formed in each pixel area of the at least one cell 110A, particularly the at least one cell 110A, located on the ledger substrate 100. An electric field is formed.
  • at least one printing head 260 moves to the upper portion of the ledger substrate 100 to supply light emitting elements LD to the at least one cell 110A.
  • each of the first and second electric field applying modules 241 and 242 may be an alignment signal applying device that supplies a predetermined alignment signal for alignment of the light emitting elements LD.
  • the first and second electric field applying modules 241 and 242 may be driven sequentially or alternately.
  • the first and second electric field applying modules 241 and 242 may be sequentially driven in correspondence to the position and / or movement direction of the printing head 260 in operation.
  • the first and second electric field applying modules 241 and 242 may operate sequentially or alternately to avoid collision with the printing head 260.
  • At least one printing head 260 moves from the upper right to the upper left of the stage 230 while applying droplets DRL on the upper portion of the stage 230. Can be sprayed.
  • the printing head 260 is an upper portion of the ledger substrate 100 mounted on the upper portion of the stage 230, in particular, at least one cell 110A located on the ledger substrate 100 (for example, , The light emitting device solution in which the light emitting devices LD are dispersed in the cell 110A may be moved while spraying the light emitting device solution in the form of droplets DRL.
  • the first electric field applying module 241 located on the left side of the stage 230, in particular, the first electric field applying module 241
  • the probe head PHD may move to the upper left of the stage 230.
  • the first electric field applying module 241 includes an operating printing head 260 (eg, the first printing head 261) on the right side of the stage 230. During the period of the upper portion, the electric field may be applied to the ledger substrate 100 in the upper left of the stage 230.
  • the first electric field application module 241 applies a predetermined alignment voltage to the cells 110A located on the right side of the led substrate 100 through conductive pads 102 located on the left side of the led substrate 100. can do.
  • the second electric field application module 242 may wait in the reverse and descending state based on the stage 230.
  • the second electric field applying module 242 located on the right side of the stage 230 may move to the upper right of the stage 230.
  • the second electric field application module 242 is configured to perform the stage 230 while the operating printing head 260 is located at the upper left of the stage 230.
  • An electric field may be applied to the ledger substrate 100 on the upper right side.
  • the second electric field application module 242 applies a predetermined alignment voltage to the cells 110A located on the left side of the led substrate 100 through conductive pads 102 located on the right side of the led substrate 100. can do.
  • the first electric field applying module 241 may wait in the reverse and descending state based on the stage 230.
  • At least one printing head 260 is driven to supply light emitting elements LD on the ledger substrate 100, and at least one electric field applying module 240 is driven to drive the ledger
  • An electric field for inducing alignment of the light emitting elements LD may be applied to the substrate 100.
  • the printing head 260 and the electric field applying module 240 by selectively driving the first and / or second electric field applying modules 241 and 242 according to the position of the printing head 260 in operation, the printing head 260 and the electric field applying module 240 ) And / or collisions.
  • the moving distance of the printing head 260 can be extended accordingly, and an effective area (for example, individual cells 110A) capable of supplying the light emitting elements LD on the led substrate 100 can be disposed. Area).
  • FIGS. 12 and 13 show another embodiment of a method of driving the manufacturing apparatus of FIG. 6, that is, the first manufacturing apparatus 200.
  • the same reference numerals are assigned to similar or identical components to those of FIGS. 10 to 11D, and detailed descriptions thereof will be omitted.
  • the first and second electric field applying modules 241 and 242 may be driven at the same time according to an embodiment.
  • the first and second electric field applying modules 241 and 242 may be driven independently and / or separately from each other, and may be driven simultaneously if necessary.
  • the first and second alignment wirings AL1 and AL2 are simultaneously connected to a plurality of conductive pads 102 disposed on the left and right sides of the ledger substrate 100
  • the first and second The electric field application modules 241 and 242 may be simultaneously driven to apply a predetermined electric field through both ends of the ledger substrate 100.
  • each cell 110A is connected to at least one pair of conductive pads 102 adjacent to the conductive pads 102 disposed on both sides of the ledger substrate 100, and the cell 110A ), A predetermined voltage may be applied from the at least one pair of conductive pads 102 during a period in which the light emitting elements LD are supplied.
  • cells 110A disposed on the left side of the ledger substrate 100 are cells disposed on the right side of the ledger substrate 100 from conductive pads 102 disposed on the left edge of the ledger substrate 100.
  • 110A may receive a predetermined voltage from conductive pads 102 disposed on the right edge of the ledger substrate 100. Even in this case, by reducing or minimizing the voltage drop occurring in the first and second alignment wires AL1 and AL2, it is possible to smoothly align the light emitting elements LD inside each cell 110A.
  • FIGS. 17A and 17B show various embodiments related to the manufacturing device of FIG. 6, that is, the printing head 260 that may be provided in the first manufacturing device 200. 14 to 17B, only the position of the stage 230 and the printing head 260 and / or the position of the electric field application module 240 according to the moving direction will be schematically illustrated.
  • the stage 230 and the printing head 260 may move along directions perpendicular to each other.
  • the stage 230 moves in a large width along the Y-axis direction
  • the printing head 260 moves in a relatively small width along the X-axis direction.
  • the first and second electric field applying modules 241 and 242 may be disposed on the left and right sides of the stage 230 so as not to interfere with the movement of the stage 230.
  • the stage 230 may be applied to the first and second electric field applying modules 241 and 242, particularly the first and second electric field applying modules. It can be prevented from colliding with the probe heads (PHD1, PHD2) of (241, 242).
  • the first and second electric field applying modules 241 and 242 may be driven to prevent collision with the printing head 260.
  • the stage 230 moves in a relatively large width along the X-axis direction, and the printing head 260 moves in the Y-axis direction. Can move along.
  • the first and second electric field applying modules 241 and 242 may be disposed on the upper and lower sides of the stage 230 so as not to interfere with the movement of the stage 230.
  • the electric field application module 240 may be disposed on at least three sides of the stage 230.
  • the electric field application module 240 may be disposed on all four sides of the stage 230.
  • the first manufacturing apparatus 200 may include a third electric field applying module 243 disposed on a third side of the stage 230, for example, an upper side, and the third electric field application module 243.
  • the fourth field for example, may further include a fourth electric field application module 244 disposed on the lower side.
  • each electric field applying module 240 is configured substantially the same, and each of the two electric field applying modules 240 may be disposed to face each other. Further, each electric field applying module 240 may be driven to prevent the respective probe heads PHD1, PHD2, PHD3, and PHD4 from colliding with the stage 230 and / or the printing head 260.
  • the printing head 260 may be designed to move along the X-axis and Y-axis directions.
  • the printing head 260 is designed to move in a direction intersecting the longitudinal direction while having an extended length along the X-axis or Y-axis direction as shown in FIGS. 17A and 17B. It may be.
  • a light emitting device is disposed in an effective area above the stage 230
  • the fields LD can be supplied smoothly and an electric field for alignment of the light emitting elements LD can be applied.
  • the manufacturing apparatus of the light emitting display device includes a printing head 260 for supplying light emitting elements LD and the light emitting elements ( LD).
  • the electric field application module 240 applies a predetermined alignment voltage for inducing self-alignment of the light emitting elements LD to the ledger substrate 100 (or the substrate 111 of the light emitting display panel 110). It can be delivered to.
  • the light emitting elements LD are supplied on the ledger substrate 100 (or the substrate 111 of the light emitting display panel 110) seated on the stage 230 of the first manufacturing apparatus 200.
  • the light emitting elements LD may be aligned between the first and second pixel electrodes ELT1 and ELT2 of each pixel PXL.
  • the electric field applying module 240 includes a first driving unit LA1 for horizontal movement of the probe head PHD and a second driving unit LA2 for vertical movement of the probe head PHD. Accordingly, the movement of the electric field applying module 240 can be easily controlled.
  • the first manufacturing apparatus 200 may include a plurality of electric field applying modules 240 capable of sequentially and / or simultaneously driving. According to the above embodiment, while preventing mutual interference and / or collision between the electric field applying module 240 and the printing head 260, the ledger substrate 100 (or the substrate 111 of the light emitting display panel 110) The electric field can be smoothly applied to the phase.
  • FIGS. 18 and 19 respectively show a manufacturing apparatus 300 of a light emitting display device according to an embodiment of the present invention.
  • FIGS. 18 and 19 are manufacturing devices that can be used to remove the solvent supplied with the light emitting elements LD on the substrate 111 or the ledger substrate 100 of the light emitting display panel 110.
  • An embodiment of 300 (hereinafter referred to as "second manufacturing apparatus 300") is shown.
  • the second manufacturing apparatus 300 may be used in the process of supplying droplets (DRL) including light emitting elements LD on the substrate 111 or the ledger substrate 100 of the light emitting display panel 110. It may be a drying device for removing the solvent supplied with the light emitting element (LD).
  • DDL droplets
  • LD light emitting element
  • the second manufacturing apparatus 300 may be an oven-type drying apparatus capable of accommodating the substrate 111 or the ledger substrate 100 of the light emitting display panel 110, but is not limited thereto. Does not.
  • the same reference numerals are given to similar or identical components to the first manufacturing apparatus 200 according to the embodiments of FIGS. Detailed description will be omitted.
  • reference numeral “340 (or 340 ')” may comprehensively correspond to one or more electric field application modules.
  • reference numeral “340 (or 340 ')” may correspond to each electric field applying module or a plurality of electric field applying modules.
  • the second manufacturing apparatus 300 includes a stage (also referred to as a “second stage”) 330 disposed in the chamber 360 and the stage It includes at least one electric field application module (340, 340 ') provided on at least one side of the (330), and a heating element (350) provided around the stage (330).
  • the second manufacturing apparatus 300 may further include a main plate 310 and / or an auxiliary plate 320.
  • the second manufacturing apparatus 300 includes first electric field application modules 341 and 341 'disposed on the first side of the stage 330 and second stages of the stage 330 It may include at least one of the second electric field application module (342, 342 ').
  • the first side and the second side of the stage 330 may be opposite ends facing each other.
  • the first side and the second side may be left and right sides of the stage 330, respectively. That is, the first and second electric field applying modules 341, 341 ', 342, and 342' may be disposed adjacent to each of both sides of the stage 330 facing each other.
  • the present invention is not limited to this, and the positions of the first and second electric field applying modules 341, 341 ', 342, and 342' may be changed.
  • a single electric field applying module 340 and 340 ′ may be disposed on only one side of the stage 330.
  • the first and second electric field application modules 341, 341 ', 342, and 342' may be driven independently and / or separately from each other. Accordingly, the first and second electric field application modules 341, 341 ', 342, and 342' can be easily selectively driven.
  • the first and second electric field applying modules 341, 341 ', 342, and 342' may be driven simultaneously. Accordingly, a desired electric field can be smoothly supplied on the substrate 111 or the ledger substrate 100 of the light emitting display panel 110.
  • each of the electric field applying modules 340 and 340 ′ may be configured to be substantially the same or similar to each of the electric field applying modules 240 provided in the first manufacturing apparatus 200 described above.
  • the configuration of the electric field applying modules 340 and 340 ′ provided in the second manufacturing apparatus 300 eg, a drying apparatus
  • I will do it.
  • the electric field applying module 340 of the second manufacturing device 300 is an electric field applying module provided in the first manufacturing device 200, for example, the electric field applying module 240 according to the embodiment of FIG. 7 And substantially the same or similar.
  • the electric field applying module 340 of the second manufacturing apparatus 300 according to the embodiment of FIG. 18 is at least one, such as the electric field applying module 240 of the first manufacturing apparatus 200 illustrated in FIG. 7.
  • a probe head (PHD) having a probe pin (PPI) of the first and the first and second driving units (LA1, LA2) for moving the probe head (PHD) in the horizontal direction and the vertical direction, respectively, and the probe head A body part BD coupled to the first and second driving parts LA1 and LA2 may be included.
  • each electric field applying module 340 provided in the second manufacturing apparatus 300 is disposed around the first and / or second driving units LA1 and LA2 and the probe head PHD
  • At least one sensor unit e.g., first and / or second sensor units SEU1, SEU2 for sensing the position of at least one linear motion guide (eg, a first
  • the first and / or second linear motion guides LM1 and LM2 may be further included.
  • the first driving unit LA1 horizontally moves the probe head PHD back and forth or left and right
  • the second driving unit LA2 vertically moves the probe head PHD vertically. Accordingly, the movement of the electric field application module 340 provided in the second manufacturing apparatus 300 can be easily controlled.
  • each electric field applying module 340 ′ may be configured to allow vertical movement only vertically.
  • each of the first and second electric field applying modules 341 ′ and 342 ′ of the second manufacturing apparatus 300 does not include a first driving unit LA1 for horizontal movement of the probe head PHD.
  • Only the second driving unit LA2 for vertical movement of the probe head PHD may be provided. In this case, each probe head PHD may be vertically moved up and down.
  • the second manufacturing apparatus 300 may further include an apparatus for supplying a predetermined voltage to each of the electric field applying modules 340 and 340 ', for example, the power supply unit 270 illustrated in FIG. 10.
  • the probe head PHD may include at least one first probe pin PPI1 connected to the first power line PL1 (eg, the first power line PL1) as illustrated in FIG. 10.
  • PPI2 second probe pins
  • the power supply unit 270 may be connected to at least one first and second probe pins PPI1 and PPI2, respectively, through the first and second power lines PL1 and PL2, respectively. According to an embodiment, the power supply unit 270 supplies an AC or DC signal to the at least one first probe pin PPI1 through the first power line PL1 and at least through the second power line PL2. A reference voltage having a predetermined reference potential may be supplied to one second probe pin PPI2.
  • the heating element 350 may be disposed above the stage 330 and spaced apart from the stage 330.
  • the heating element 350 may be disposed on the ceiling of the chamber 360 to discharge heat toward the stage 330.
  • the shape, size, structure, and / or constituent materials of the heating element 350 are not particularly limited, and the heating element 350 may include various heating substances currently known.
  • the position of the heating element 350 may be changed.
  • at least one heating element 350 may be disposed on at least one side corner part of the chamber 360 and / or at least one side wall.
  • FIG. 20A shows an embodiment of a method of driving the manufacturing apparatuses of FIGS. 18 and 19, that is, the second manufacturing apparatus 300.
  • Figure 20b shows an embodiment for one region (EA region) of Figure 20a.
  • the EA region of FIG. 20A may be an emission region of each pixel PXL.
  • FIGS. 20A and 20B the same reference numerals are assigned to similar or identical configurations to the above-described embodiments, and detailed descriptions thereof will be omitted.
  • the solvent (SOL) may be removed by using the second manufacturing apparatus 300 according to the embodiment of FIG. 18 or 19, for example, an oven-type drying apparatus having a heating element 350.
  • an oven-type drying apparatus having a heating element 350.
  • the solvent (SOL) supplied to the ledger substrate 100 may be removed by driving the heating element 350 of the second manufacturing apparatus 300.
  • the first and second electric field applying modules 341, 341 ', 342, and 342' of the second manufacturing apparatus 200 are moved up and down to move the probe pins PPI to the conductive pads on the ledger substrate 100.
  • a predetermined alignment voltage may be applied to the conductive pads 102.
  • the heating element 350 is driven to supply heat to the ledger substrate 100 to supply the solvent ( SOL).
  • the light emitting elements are removed in the process of removing the solvent SOL.
  • the misalignment of (LD) can be prevented.
  • the light emitting elements LD are generated by the electric field formed between the first and second pixel electrodes ELT1 and ELT2 by the alignment voltage.
  • FIG. 21 shows an embodiment of a method of driving the manufacturing apparatuses of FIGS. 18 and 19, that is, the second manufacturing apparatus 300.
  • the same reference numerals are assigned to similar or identical configurations to the above-described embodiments, and detailed description thereof will be omitted.
  • a plurality of ledger substrates in the interior of the plurality of chambers 360, for example at least the first and second chambers 361 and 362) 100) for the solvent (SOL) drying process may be performed at the same time.
  • SOL solvent
  • individual substrates 111 for manufacturing the individual light emitting display panels 110 are disposed on the stage 230 of the inkjet printer and / or drying device, and the substrates ( For 111), the process of supplying the light emitting elements LD and / or the process of drying the solvent SOL may be performed.
  • FIGS. 22 and 23 show a manufacturing apparatus 300 of a light emitting display device according to an embodiment of the present invention, respectively.
  • FIG. 24 shows an embodiment of a method of driving the manufacturing apparatus 300 of FIGS. 22 and 23.
  • FIGS. 22 and 23 are second lines that can be used to remove the solvent supplied with the light emitting elements LD on the substrate 111 or the ledger substrate 100 of the light emitting display panel 110.
  • the embodiment of FIGS. 18 and 19 is different from the embodiments
  • FIG. 24 is a method of drying a solvent (SOL) using the second manufacturing apparatus 300 of FIG. 22 or 23. Examples are shown.
  • the second manufacturing apparatus 300 according to the embodiments of FIGS.
  • the second manufacturing apparatus 300 is a hot plate type capable of applying heat to the substrate 111 or the ledger substrate 100 of the light emitting display panel 110. It may be a drying device.
  • the above-described embodiments for example, similar to the second manufacturing apparatus 300 according to the embodiments of FIGS. 18 to 20b or The same reference numerals are assigned to the same components, and detailed description thereof will be omitted.
  • the second manufacturing apparatus 300 may include a heating element 350 ′ disposed inside the stage 330.
  • the stage 330 may include a hot plate 331 including a heating element 350 '.
  • the hot plate 331 may be disposed at the upper end of the stage 330, but the position of the hot plate 331 is not limited thereto.
  • the manufacturing apparatus of the light emitting display device includes electric field applying modules 340 and 340 ′ in addition to the heating elements 350 and 350 ′. . Accordingly, a predetermined alignment voltage is supplied to the substrate 111 or the ledger substrate 100 of the light emitting display panel 110 mounted on the stage 330 of the second manufacturing apparatus 300 to provide light emitting elements ( It is possible to stably remove the solvent (SOL) of the LED solution while preventing the separation of LD).
  • SOL solvent
  • FIGS. 25 and 26 illustrate an apparatus 400 for manufacturing a light emitting display device according to an embodiment of the present invention.
  • FIGS. 25 and 26 are manufacturing devices 400 that can be used to transfer the substrate 111 or the ledger substrate 100 of the light emitting display panel 110 (hereinafter, referred to as the “third manufacturing device 400 ) ").
  • the third manufacturing apparatus 400 in the manufacturing process of the light emitting display panel 110, the ledger substrate 100 for manufacturing a plurality of light emitting display panel 110 at a time or each light emitting display
  • Each of the substrates 111 for individually manufacturing the panel 110 may be a substrate transfer device for transferring to a manufacturing device (manufacturing facility) for performing a predetermined process.
  • reference numeral "440" corresponds to one or more electric field applying modules comprehensively, for example, each electric field applying module or a plurality of electric field applying modules.
  • reference numeral "SPL” corresponds comprehensively to one or more support plates, and may correspond to, for example, each support plate or a plurality of support plates.
  • a third manufacturing apparatus 400 includes a substrate transfer stage 410 and at least one provided on at least one side of the substrate transfer stage 410. It includes an electric field application module 440.
  • the third manufacturing apparatus 400 may include a plurality of electric field application modules 440 mounted on different sides of the substrate transfer stage 410. 25 and 26 schematically show each electric field applying module 440 around the probe head PHD, so that the mutual position of the substrate transfer stage 410 and the electric field applying module 440 will be clearly illustrated.
  • the electric field applying module 440 may be configured to be substantially similar or identical to the electric field applying modules 240 and 340 provided in the first and / or second manufacturing devices 200 and 300 described above. However, it is not limited thereto.
  • the third manufacturing apparatus 400 may further include a power supply unit 470 connected to the electric field application module 440.
  • the power supply unit 470 may be regarded as a part of the components of the electric field application module 440.
  • the substrate transfer stage 410 may be a robot arm, but is not limited thereto.
  • the body part may include an arm body (ABD).
  • the support plates SPL may include a first support plate SPL1 disposed on a first edge (eg, a left edge) of the substrate transfer stage 410, and a second edge of the substrate transfer stage 410 ( For example, a second support plate SPL2 disposed on the right edge) and at least one third support plate SPL3 disposed between the first and second support plates SPL1 and SPL2 may be included.
  • the support plates SPL are arranged to be spaced apart from each other along a first direction, and each of the support plates SPL extends along a second direction (eg, a Y-axis direction) intersecting the first direction.
  • the support plates SPL may be connected to the arm body ABD.
  • at least one region of the arm body ABD may extend along the first direction to be commonly connected to the support plates SPL.
  • At least one electric field application module 440 may be provided on at least one side of the substrate transfer stage 410.
  • a first electric field application module 441 may be mounted on the first side of the substrate transfer stage 410
  • a second electric field application module 442 may be mounted on the second side of the substrate transfer stage 410.
  • the first and second electric field applying modules 441 and 442 may be disposed to face each other.
  • the first electric field applying module 441 is disposed around the first support plate SPL1, and the second electric field applying module 442 faces the second electric support plate SPL2 to face the first electric field applying module 441. ).
  • first and second electric field applying modules 441 and 442 may be integrally or non-integrated to the first and second support plates SPL1 and SPL2, respectively.
  • the present invention is not limited to this.
  • the first and second electric field applying modules 441 and 442 are disposed around the first and second support plates SPL1 and SPL2, respectively, and the first and second support plates SPL1 , SPL2).
  • the first and second electric field applying modules 441 and 442 may be driven independently and / or separately from each other. Accordingly, the first and second electric field application modules 441 and 442 can be selectively selectively driven.
  • the first and second electric field applying modules 441 and 442 may be driven simultaneously. Accordingly, during the transfer of the substrate 111 or the ledger substrate 100 of the light emitting display panel 110, a desired voltage (for example, a predetermined alignment voltage) is smoothly applied to the substrate 111 or the ledger substrate 100. Can supply.
  • a desired voltage for example, a predetermined alignment voltage
  • each electric field applying module 440 may be configured to enable horizontal movement and / or vertical movement.
  • each electric field applying module 440 may be configured to enable both horizontal movement in the front-rear or left-right direction along the X-axis direction and vertical movement in the Z-axis direction up and down.
  • each electric field applying module 440 may be configured to allow only vertical movement (eg, vertical movement) along the Z-axis direction.
  • the power supply unit 470 is connected to at least one probe pin PPI to supply a predetermined voltage or signal to the probe pin PPI.
  • the power supply unit 470 may be connected to a plurality of different probe pins PPI through the first and second power lines PL1 and PL2, respectively.
  • the power supply unit 470 supplies a predetermined voltage (or signal) having a predetermined waveform and / or potential to the first power line PL1 through the first output terminal OUT1.
  • a reference voltage having a predetermined reference potential may be supplied to the second power line PL2 through the 2 output terminals OUT2.
  • the substrate 111 is also transferred while the substrate 111 or the ledger substrate 100 of the light emitting display panel 110 is transferred using the substrate transfer stage 410.
  • a predetermined alignment voltage may be applied to the ledger substrate 100. Accordingly, it is possible to prevent the light emitting elements LD from deviating from the aligned position during the transfer of the substrate 111 or the ledger substrate 100.
  • FIGS. 27 and 28 show embodiments related to the configuration and arrangement of the electric field application module 440 of FIGS. 25 and 26.
  • the electric field applying module 440 according to the embodiment of FIGS. 27 and 28, the configuration similar or identical to the electric field applying modules 240 and 340 provided in the first and / or second manufacturing devices 200 and 300 described above The same reference numerals are given to and detailed description thereof will be omitted.
  • each electric field applying module 440 provided in the third manufacturing apparatus 400 applies each electric field provided in the first and / or second manufacturing apparatus 200 or 300.
  • the modules 240 and 340 may be configured substantially the same or similar.
  • each electric field application module 440 provided in the third manufacturing apparatus 400 includes a probe head PHD having at least one probe pin PPI and the probe head PHD, respectively.
  • the first and second driving units LA1 and LA2 for moving along the horizontal and vertical directions, and the body part BD coupled to the probe head PHD and the first and second driving units LA1 and LA2 It can contain.
  • each of the electric field application module 440 of the third manufacturing apparatus 400 is disposed around the first and / or second driving units LA1 and LA2 to detect at least one position of the probe head PHD.
  • Sensor units eg, first and / or second sensor units SEU1 and SEU2
  • at least one linear motion guide coupled to the body portion BD eg, first and / or second linear motion
  • Guides LM1 and LM2 may be further
  • the first driving unit LA1 horizontally moves the probe head PHD back and forth or left and right, and the second driving unit LA2 vertically moves the probe head PHD vertically. Accordingly, the movement of the electric field application module 440 provided in the third manufacturing apparatus 400 can be easily controlled.
  • the probe head PHD may include a plurality of probe pins PPI.
  • the probe head PHD may include at least one first probe pin PPI1 and at least one second probe pin PPI2.
  • the first and second probe pins PPI1 and PPI2 may be connected to the power supply unit 470 of FIG. 25 through first and second power lines PL1 and PL2, respectively.
  • each electric field applying module 440 may be disposed on either side of the substrate transfer stage 410.
  • each electric field applying module 440 may include any one supporting plate disposed on one edge of the substrate transfer stage 410, for example, the first or second supporting plate SPL1 of FIGS. 25 and 26. SPL2).
  • each electric field applying module 440 is disposed around any one of the support plate (SPL), but may not be directly connected and coupled to the support plate (SPL) have.
  • each electric field applying module 440 is disposed to be adjacent to any one support plate SPL, and may or may not be in contact with the support plate SPL.
  • the electric field application module 440 is connected to or coupled to the substrate transfer stage 410 including the support plate SPL, or moved together with the substrate transfer stage 410, or the substrate transfer stage 410 It can be independently moved without being linked to or coupled to.
  • each electric field applying module 440 is disposed around one of the support plates SPL, as shown in FIG. 28, and can be directly connected to and / or coupled to the support plates SPL. have.
  • each electric field applying module 440 is disposed to be adjacent to any one support plate SPL, and may be connected and / or coupled to the support plate SPL integrally or non-integrally.
  • the electric field application module 440 and the support plate SPL may be connected to or coupled to each other through a connection portion CN and a body portion BDU. In this case, the electric field application module 440 may be moved together with the support plate SPL by the substrate transfer stage 410.
  • FIGS. 29 and 30 show embodiments related to the configuration and arrangement of the electric field application module 440 'of FIGS. 25 and 26.
  • the same reference numerals are given to similar or identical components to the electric field applying module 440 according to the embodiments of FIGS. Detailed description will be omitted.
  • each electric field applying module 440 ′ may be configured to allow vertical movement only vertically.
  • the electric field applying module 440 'does not include the first driving unit LA1 according to the embodiments of FIGS. 27 and 28, and the second driving unit LA2 for vertical movement of the probe head PHD ) Can be provided.
  • each probe head PHD may be vertically moved up and down.
  • each electric field applying module 440 ' is disposed around one of the support plates SPL, as shown in FIG. 29, but is not directly connected to and coupled to the support plates SPL. You can.
  • each electric field applying module 440 ′ is disposed to be adjacent to any one support plate SPL, and may or may not contact the support plate SPL.
  • the electric field application module 440 ′ is connected to and / or coupled to the substrate transfer stage 410 including the support plate SPL or moved together with the substrate transfer stage 410, or the substrate transfer stage It can be moved independently without being coupled or coupled to 410.
  • each electric field applying module 440 ' is disposed around one of the support plates SPL, as shown in FIG. 30, to be directly connected and / or coupled to the support plates SPL.
  • each electric field applying module 440 ′ may be disposed adjacent to any one support plate SPL, and may be connected and / or coupled to the support plate SPL integrally or non-integrally.
  • the electric field application module 440 'and the support plate SPL may be connected to and / or coupled to each other through a body portion BDU. In this case, the electric field application module 440 ′ may be moved together with the support plate SPL by the substrate transfer stage 410.
  • the manufacturing apparatus of the light emitting display device is provided on at least one side of the substrate transfer stage 410 together with the substrate transfer stage 410 It includes the electric field application module (440, 440 '). Accordingly, during the transfer of the substrate 111 or the ledger substrate 100 of the light emitting display panel 110 mounted on the substrate transport stage 410, a predetermined alignment is performed on the substrate 111 or the ledger substrate 100. Voltage can be supplied. Accordingly, while preventing the separation of the light emitting elements LD due to volatilization of the solvent SOL that may occur during the transfer of the substrate 111 or the ledger substrate 100, the substrate 111 or the ledger substrate 100 ) Can be transported stably. Accordingly, it is possible to stably align the light emitting elements LD in each light emitting area EA and improve the quality of the alignment.
  • 31A to 31G illustrate a method of manufacturing a light emitting display device according to an embodiment of the present invention.
  • 31A to 31G illustrate the led substrate 100 according to an embodiment of manufacturing a plurality of light emitting display panels 110 on the led substrate 100 at one time, but the present invention is not limited thereto. .
  • a supply and alignment process of light emitting elements LD, transfer of the substrate 111, and a solvent (SOL) removal process or the like may be performed on an individual substrate 111 for manufacturing each light emitting display panel 110.
  • a supply and alignment process of light emitting elements LD, transfer of the substrate 111, and a solvent (SOL) removal process or the like may be performed on an individual substrate 111 for manufacturing each light emitting display panel 110.
  • SOL solvent
  • FIG. 32 is a manufacturing apparatus for a light emitting display device according to the embodiments of FIGS.
  • a third manufacturing apparatus 400 including a substrate transfer stage 410 on which an electric field application module 440 is mounted. It shows a state in which the ledger substrate 100 is disposed on.
  • FIGS. 31A to 32 the same reference numerals are assigned to similar or identical components in the above-described embodiments, and detailed descriptions thereof will be omitted.
  • a ledger substrate 100 (or a substrate 111 of a light emitting display device) in which first and second electrodes ELT1 and ELT2 are formed in each light emitting area EA as shown in FIG. 20B ) Is prepared, and the ledger substrate 100 is placed on the stage (hereinafter referred to as “first stage”) 230 of the first manufacturing apparatus 200.
  • first stage a stage 230 of the first manufacturing apparatus 200.
  • a plurality of lift pins LFP may be provided inside the first stage 230, and the lift pins LFP may be provided until the supply and alignment process of the light emitting elements LD to be succeeded is completed. A state that does not protrude to the upper portion of the first stage 230 may be maintained.
  • a predetermined alignment voltage is applied to the first and second electrodes ELT1 and ELT2 of the ledger substrate 100 using the electric field application module 240 of the first manufacturing apparatus 200.
  • a light emitting device solution including a plurality of light emitting devices LD is supplied to each light emitting area EA.
  • the light emitting device solution may be supplied to each light emitting region EA in the form of droplets DRL according to a printing method using the printing head 260.
  • a predetermined alignment voltage or an electric field generated due to the alignment voltage
  • each light emitting area EA is predetermined.
  • the field application module 240 of the first manufacturing apparatus 200 is moved to probe the field application module 240.
  • the pin PPI is separated from the substrate 100.
  • the lift pins LFP are raised to the top of the first stage 230. Extrude. Accordingly, the ledger substrate 100 is separated from the first stage 230.
  • a substrate transfer stage 410 on which at least one electric field application module 440 is mounted in particular, support plates SPL of the substrate transfer stage 410 are led substrates ( 100), and lifts the ledger substrate 100 using the support plates SPL.
  • support plates SPL of the substrate transfer stage 410 are led substrates ( 100)
  • lifts the ledger substrate 100 using the support plates SPL For example, by inserting the support plates (SPL) between the lift pins (LFP) to support the ledger substrate 100, by moving the support plates (SPL) upward, the ledger substrate (100) Can lift. Accordingly, the ledger substrate 100 may be completely separated from the first stage 230.
  • At least one electric field applying module 440 mounted on at least one side of the substrate transfer stage 410 is brought into contact with the ledger substrate 100, and the electric field applying module While applying a predetermined alignment voltage on the ledger substrate 100 through 440, the ledger substrate 100 may be transferred using the substrate transfer stage 410.
  • the ledger substrate is used by using the electric field application module 440 of the third manufacturing apparatus 400.
  • a predetermined alignment voltage may be applied to the conductive pads 102 of (100).
  • the alignment voltage may be transmitted to the first and second electrodes ELT1 and ELT2 formed in each light emitting area EA.
  • the ledger substrate 100 is moved to the stage of the second manufacturing apparatus 300 using the substrate transfer stage 410 (hereinafter, "product" 2 stage ").
  • the third manufacturing apparatus 400 including the substrate transfer stage 410 may be separated from the ledger substrate 100.
  • the first and second electrodes ELT1 are removed by removing the solvent SOL of the light emitting device solution while applying a predetermined alignment voltage to the ledger substrate 100 on the second stage 330.
  • the light emitting elements LD may be stably disposed between the ELT2).
  • SOL solvent
  • ELT1 first and second electrodes
  • the heating elements 350 and 350 ′ are driven to drive the ledger substrate
  • the drying process of the solvent (SOL) can be performed. Accordingly, the solvent SOL that has been supplied on the ledger substrate 100 together with the light emitting elements LD may be removed.
  • the light emitting elements LD are stably arranged in each light emitting area EMA, and the quality of the alignment can be improved.
  • the first manufacturing apparatus 200 including the printing head 260 for supplying the light emitting elements LD and the heating element 350 for drying the solvent SOL , 350 ′), and a third manufacturing apparatus having a substrate transfer stage 410 for transferring the led substrate 100 (or the substrate 111 of the light emitting display device).
  • 400 is illustrated and described in a separate configuration, the present invention is not limited thereto.
  • a multi-purpose manufacturing device may be configured that at least partially combines the features of the first, second, and / or third manufacturing devices 200, 300, and 400 described above. will be.
  • light emitting elements LD are supplied to each light emitting area EA, and the light emitting elements LD are stably interposed between the first and second electrodes ELT1 and ELT2.
  • a process step for arranging, for example, a printing process for supplying and aligning the light emitting elements LD, a transfer process for transferring the ledger substrate 100 (or the substrate 111 of the light emitting display device), and a light emitting element In all of the plurality of process steps, including the drying process to remove the solvent (SOL) of the solution, the first and second electrodes () using the respective field application modules 240, 340, 340 ', 440, 440'
  • a predetermined alignment voltage eg, an alignment signal of an AC waveform

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Abstract

본 발명의 일 실시예에 의한 발광 표시 장치의 제조 장치는, 제1 방향을 따라 소정 간격으로 배치되며 각각이 제2 방향을 따라 연장되는 복수의 지지판들을 포함하는 기판 이송 스테이지; 및 상기 기판 이송 스테이지의 적어도 일 측에 구비되는 적어도 하나의 전계 인가 모듈을 포함한다. 상기 적어도 하나의 전계 인가 모듈 각각은, 적어도 하나의 프로브 핀을 구비한 프로브 헤드; 및 상기 프로브 헤드에 결합되어, 상기 프로브 헤드를 적어도 상하로 이동시키는 구동부를 포함한다.

Description

발광 표시 장치의 제조 장치 및 제조 방법
본 발명의 실시예는 발광 표시 장치의 제조 장치 및 제조 방법에 관한 것이다.
최근, 신뢰성이 높은 무기 결정 구조의 재료를 이용하여 초소형의 발광 소자를 제조하고, 이를 발광 표시 장치의 패널(이하, "발광 표시 패널"이라 함)에 배치하여 차세대 화소 광원으로 이용하기 위한 연구가 진행되고 있다. 이러한 연구의 일환으로서, 마이크로 스케일 또는 나노 스케일 정도로 작은 초소형의 발광 소자를 제조하고, 이를 각 화소의 발광 영역에 배치하여 광원을 구성하는 기술이 개발되고 있다.
본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는, 각각의 발광 영역에 발광 소자들을 안정적으로 정렬할 수 있도록 한 발광 표시 장치의 제조 장치 및 제조 방법을 제공하는 것이다.
본 발명의 일 실시예에 의한 발광 표시 장치의 제조 장치는, 제1 방향을 따라 소정 간격으로 배치되며 각각이 제2 방향을 따라 연장되는 복수의 지지판들을 포함하는 기판 이송 스테이지; 및 상기 기판 이송 스테이지의 적어도 일 측에 구비되는 적어도 하나의 전계 인가 모듈을 포함한다. 상기 적어도 하나의 전계 인가 모듈 각각은, 적어도 하나의 프로브 핀을 구비한 프로브 헤드; 및 상기 프로브 헤드에 결합되어, 상기 프로브 헤드를 적어도 상하로 이동시키는 구동부를 포함한다.
실시예에 따라, 상기 적어도 하나의 전계 인가 모듈은, 상기 기판 이송 스테이지의 제1 측에 구비되는 제1 전계 인가 모듈; 및 상기 제1 전계 인가 모듈과 마주하도록 상기 기판 이송 스테이지의 제2 측에 구비되는 제2 전계 인가 모듈을 포함할 수 있다.
실시예에 따라, 상기 제1 및 제2 전계 인가 모듈은 서로 독립적으로 구동될 수 있다.
실시예에 따라, 상기 제1 및 제2 전계 인가 모듈은 동시에 구동될 수 있다.
실시예에 따라, 상기 지지판들은, 상기 기판 이송 스테이지의 제1 가장자리에 배치되는 제1 지지판; 상기 기판 이송 스테이지의 제2 가장자리에 배치되는 제2 지지판; 및 상기 제1 지지판과 상기 제2 지지판의 사이에 배치되는 적어도 하나의 제3 지지판을 포함할 수 있다.
실시예에 따라, 상기 적어도 하나의 전계 인가 모듈은, 상기 제1 지지판에 결합되는 제1 전계 인가 모듈; 및 상기 제2 지지판에 결합되는 제2 전계 인가 모듈을 포함할 수 있다.
실시예에 따라, 상기 구동부는, 상기 프로브 헤드를 전후 또는 좌우로 수평 이동시키는 제1 구동부; 및 상기 프로브 헤드를 상하로 수직 이동시키는 제2 구동부 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.
실시예에 따라, 상기 적어도 하나의 전계 인가 모듈 각각은, 상기 프로브 헤드의 위치를 감지하는 적어도 하나의 센서 유닛을 더 포함할 수 있다.
실시예에 따라, 상기 적어도 하나의 전계 인가 모듈 각각은, 상기 프로브 헤드 및 상기 구동부에 결합되는 바디부; 및 상기 바디부에 결합되는 적어도 하나의 리니어 모션 가이드를 더 포함할 수 있다.
실시예에 따라, 상기 프로브 헤드는, 제1 전원선에 연결되는 적어도 하나의 제1 프로브 핀; 및 제2 전원선에 연결되는 적어도 하나의 제2 프로브 핀을 포함할 수 있다.
실시예에 따라, 상기 제조 장치는, 상기 제1 및 제2 전원선을 통해 상기 제1 및 제2 프로브 핀에 연결되는 전원 공급부를 더 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 의한 발광 표시 장치의 제조 방법은, 각각의 발광 영역에 제1 및 제2 전극이 형성된 기판을 준비하고, 상기 기판을 제1 스테이지 상에 배치하는 단계; 상기 제1 및 제2 전극에 소정의 정렬 전압을 인가하면서, 상기 발광 영역에 복수의 발광 소자들을 포함한 발광 소자 용액을 공급하는 단계; 상기 기판의 하부에 기판 이송 스테이지의 지지판들을 삽입하고, 상기 지지판들을 이용하여 상기 기판을 상기 제1 스테이지로부터 분리하는 단계; 상기 제1 및 제2 전극에 상기 정렬 전압을 인가하면서, 상기 기판 이송 스테이지를 이용해 상기 기판을 제2 스테이지 상에 배치하는 단계; 및 상기 발광 소자 용액의 용매를 제거하는 단계를 포함한다.
실시예에 따라, 상기 기판 이송 스테이지를 이용해 상기 기판을 상기 제2 스테이지 상에 배치하는 단계에서, 상기 지지판들 중 적어도 하나의 일 측에 구비된 전계 인가 모듈을 구동하여 상기 제1 및 제2 전극에 상기 정렬 전압을 인가할 수 있다.
실시예에 따라, 상기 발광 소자 용액을 공급하는 단계는, 상기 제1 스테이지의 적어도 일 측에 구비된 전계 인가 모듈을 구동하여 상기 제1 및 제2 전극에 상기 정렬 전압을 인가하는 단계; 및 상기 정렬 전압이 인가되는 기간 동안, 프린팅 방식으로 상기 발광 영역에 상기 발광 소자 용액을 공급하는 단계를 포함할 수 있다.
실시예에 따라, 상기 발광 소자 용액의 용매를 제거하는 단계는, 상기 제2 스테이지의 적어도 일 측에 구비된 전계 인가 모듈을 구동하여 상기 제1 및 제2 전극에 상기 정렬 전압을 인가하는 단계; 및 상기 정렬 전압이 인가되는 기간 동안, 상기 기판의 주변에 배치된 발열체를 구동하여 상기 기판에 열을 공급하는 단계를 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 의한 발광 표시 장치의 제조 장치 및 이를 이용한 발광 표시 장치의 제조 방법에 의하면, 각각의 발광 영역에 발광 소자들을 안정적으로 정렬하고, 그 정렬의 품질을 높일 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 의한 발광 소자를 나타낸다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 의한 발광 표시 패널을 나타낸다.
도 3a 및 도 3b는 도 2의 발광 표시 패널에 구비될 수 있는 화소의 실시예를 나타낸다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 의한 화소의 발광 유닛을 나타낸다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 의한 발광 표시 패널을 제조하기 위한 원장 기판을 나타낸다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 의한 발광 표시 장치의 제조 장치를 나타낸다.
도 7은 도 6의 전계 인가 모듈의 구성에 대한 실시예를 나타낸다.
도 8a 내지 도 8c는 도 7의 전계 인가 모듈의 수평 이동 방식에 대한 실시예를 나타낸다.
도 9a 내지 도 9c는 도 7의 전계 인가 모듈의 수직 이동 방식에 대한 실시예를 나타낸다.
도 10 및 도 11a 내지 도 11d는 도 6의 제조 장치의 구동 방법에 대한 일 실시예를 나타낸다.
도 12 및 도 13은 도 6의 제조 장치의 구동 방법에 대한 다른 실시예를 나타낸다.
도 14 내지 도 16은 도 6의 제조 장치에 구비될 수 있는 전계 인가 모듈의 배치와 관련한 다양한 실시예를 나타낸다.
도 17a 및 도 17b는 도 6의 제조 장치에 구비될 수 있는 프린팅 헤드와 관련한 다양한 실시예를 나타낸다.
도 18 및 도 19는 각각 본 발명의 일 실시예에 의한 발광 표시 장치의 제조 장치를 나타낸다.
도 20a는 도 18 및 도 19의 제조 장치의 구동 방법에 대한 일 실시예를 나타낸다.
도 20b는 도 20a의 일 영역(EA 영역)에 대한 실시예를 나타낸다.
도 21은 도 18 및 도 19의 제조 장치의 구동 방법에 대한 일 실시예를 나타낸다.
도 22 및 도 23은 각각 본 발명의 일 실시예에 의한 발광 표시 장치의 제조 장치를 나타낸다.
도 24는 도 22 및 도 23의 제조 장치의 구동 방법에 대한 일 실시예를 나타낸다.
도 25 및 도 26은 본 발명의 일 실시예에 의한 발광 표시 장치의 제조 장치를 나타낸다.
도 27 및 도 28은 도 25 및 도 26의 전계 인가 모듈의 구성 및 배치와 관련한 실시예를 나타낸다.
도 29 및 도 30은 도 25 및 도 26의 전계 인가 모듈의 구성 및 배치와 관련한 실시예를 나타낸다.
도 31a 내지 도 31g는 본 발명의 일 실시예에 의한 발광 표시 장치의 제조 방법을 나타낸다.
도 32는 도 25 내지 도 30의 실시예에 의한 발광 표시 장치의 제조 장치 상에 원장 기판이 배치된 상태를 나타낸다.
본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 형태를 가질 수 있는 바, 특정 실시예를 도면에 예시하고 본문에 상세하게 설명하고자 한다. 다만, 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예에 한정되지는 않으며, 다양한 형태로 변경되어 실시될 수 있을 것이다.
한편, 도면에서 본 발명의 특징과 직접적으로 관계되지 않은 일부 구성 요소는 본 발명을 명확하게 나타내기 위하여 생략되었을 수 있다. 또한, 도면 상의 일부 구성 요소는 그 크기나 비율 등이 다소 과장되어 도시되었을 수 있다. 도면 전반에서 동일 또는 유사한 구성 요소들에 대해서는 비록 다른 도면 상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 참조 번호 및 부호를 부여하고, 중복되는 설명은 생략하기로 한다.
본 출원에서, 제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성 요소들을 구별하여 설명하는데 사용될 뿐, 상기 구성 요소들이 상기 용어에 의해 한정되지는 않는다. 또한, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서 상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성 요소, 부품 또는 이들의 조합이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성 요소, 부분품 또는 이들의 조합의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다. 또한, 어떤 요소 또는 부분이 다른 요소 또는 부분 "상에" 있다고 할 경우, 이는 상기 다른 요소 또는 부분 "바로 위에" 있는 경우뿐만 아니라 그 중간에 또 다른 요소 또는 부분이 있는 경우도 포함한다. 또한, 이하의 설명에서 규정하는 특정 위치 또는 방향 등은 상대적인 관점에서 기술한 것으로서, 일 예로 이는 보는 관점이나 방향에 따라서는 반대로 변경될 수도 있음에 유의하여야 할 것이다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예 및 그 밖에 당업자가 본 발명의 내용을 쉽게 이해하기 위하여 필요한 사항에 대하여 상세히 설명하기로 한다. 아래의 설명에서, 단수의 표현은 문맥상 명백하게 단수만을 포함하지 않는 한, 복수의 표현도 포함한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 의한 발광 소자(LD)를 나타낸다. 도 1에서는 발광 소자(LD)의 일 예로서, 원 기둥 형상의 막대형 발광 다이오드를 도시하기로 한다. 하지만, 본 발명에 적용될 수 있는 발광 소자(LD)의 종류 및/또는 형상이 이에 한정되지는 않는다.
도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 의한 발광 소자(LD)는 제1 도전형 반도체층(11) 및 제2 도전형 반도체층(13)과, 상기 제1 및 제2 도전형 반도체층(11, 13)의 사이에 개재된 활성층(12)을 포함할 수 있다. 일 예로, 발광 소자(LD)는 제1 도전형 반도체층(11), 활성층(12) 및 제2 도전형 반도체층(13)이 순차적으로 적층된 적층체로 구성될 수 있다.
실시예에 따라, 발광 소자(LD)는 일 방향을 따라 연장된 막대 형상으로 제공될 수 있다. 발광 소자(LD)의 연장 방향을 길이 방향이라고 하면, 상기 발광 소자(LD)는 상기 길이 방향을 따라 일측 단부와 타측 단부를 가질 수 있다.
실시예에 따라, 발광 소자(LD)의 일측 단부에는 제1 및 제2 도전형 반도체층(11, 13) 중 하나가 배치되고, 상기 발광 소자(LD)의 타측 단부에는 상기 제1 및 제2 도전형 반도체층(11, 13) 중 나머지 하나가 배치될 수 있다.
실시예에 따라, 발광 소자(LD)는 막대 형상으로 제조될 수 있다. 여기서, "막대형"이라 함은 원 기둥, 다각 기둥 등과 같이, 길이 방향으로 긴(즉, 종횡비가 1보다 큰) 로드 형상(rod-like shape), 혹은 바 형상(bar-like shape)을 포괄하며, 그 단면의 형상이 특별히 한정되지는 않는다. 예컨대, 발광 소자(LD)의 길이는 그 직경(또는, 단면의 너비)보다 클 수 있다.
실시예에 따라, 발광 소자(LD)는 일 예로 마이크로 스케일 또는 나노 스케일 정도로 작은 직경 및/또는 길이를 가질 수 있다. 다만, 발광 소자(LD)의 크기가 이에 한정되지는 않는다. 예컨대, 발광 소자(LD)가 적용되는 발광 표시 장치의 설계 조건 등에 따라 상기 발광 소자(LD)의 크기는 다양하게 변경될 수 있다.
제1 도전형 반도체층(11)은 일 예로 적어도 하나의 n형 반도체층을 포함할 수 있다. 예컨대, 제1 도전형 반도체층(11)은 InAlGaN, GaN, AlGaN, InGaN, AlN, InN 중 어느 하나의 반도체 재료를 포함하며, Si, Ge, Sn 등과 같은 제1 도전성 도펀트가 도핑된 n형 반도체층을 포함할 수 있다. 다만, 제1 도전형 반도체층(11)을 구성하는 물질이 이에 한정되는 것은 아니며, 이 외에도 다양한 물질로 제1 도전형 반도체층(11)을 구성할 수 있다.
활성층(12)은 제1 도전형 반도체층(11) 상에 배치되며, 단일 또는 다중 양자 우물 구조로 형성될 수 있다. 일 실시예에서, 활성층(12)의 상부 및/또는 하부에는 도전성 도펀트가 도핑된 클래드층(미도시)이 형성될 수도 있다. 일 예로, 상기 클래드층은 AlGaN층 또는 InAlGaN층으로 형성될 수 있다. 실시예에 따라, AlGaN, AlInGaN 등의 물질이 활성층(12)을 형성하는 데에 이용될 수 있으며, 이 외에도 다양한 물질이 활성층(12)을 구성할 수 있다.
발광 소자(LD)의 양단에 소정 전압 이상의 전계를 인가하게 되면, 활성층(12)에서 전자-정공 쌍이 결합하면서 발광 소자(LD)가 발광하게 된다. 이러한 원리를 이용하여 발광 소자(LD)의 발광을 제어함으로써, 상기 발광 소자(LD)를 화소의 광원으로 이용할 수 있다.
제2 도전형 반도체층(13)은 활성층(12) 상에 배치되며, 제1 도전형 반도체층(11)과 상이한 타입의 반도체층을 포함할 수 있다. 일 예로, 제2 도전형 반도체층(13)은 적어도 하나의 p형 반도체층을 포함할 수 있다. 예컨대, 제2 도전형 반도체층(13)은 InAlGaN, GaN, AlGaN, InGaN, AlN, InN 중 적어도 하나의 반도체 재료를 포함하며, Mg 등과 같은 제2 도전성 도펀트가 도핑된 p형 반도체층을 포함할 수 있다. 다만, 제2 도전형 반도체층(13)을 구성하는 물질이 이에 한정되는 것은 아니며, 이 외에도 다양한 물질이 제2 도전형 반도체층(13)을 구성할 수 있다.
일 실시예에서, 발광 소자(LD)는 상술한 제1 도전형 반도체층(11), 활성층(12) 및 제2 도전형 반도체층(13) 외에도 추가적인 구성 요소를 더 포함할 수 있다. 일 예로, 발광 소자(LD)는 제1 도전형 반도체층(11), 활성층(12) 및/또는 제2 도전형 반도체층(13)의 상부 및/또는 하부에 배치된 하나 이상의 형광체층, 활성층, 반도체층 및/또는 전극층을 추가적으로 포함할 수 있다.
또한, 실시예에 따라, 발광 소자(LD)는 절연성 피막(14)을 더 포함할 수 있다. 실시예에 따라, 절연성 피막(14)은 적어도 상기 활성층(12)의 외주면을 둘러싸도록 형성될 수 있으며, 이외에도 제1 및 제2 도전형 반도체층(11, 13)의 적어도 일부를 더 둘러쌀 수 있다.
한편, 도 1에서는 발광 소자(LD)의 적층 구조를 명확히 보여주기 위하여 절연성 피막(14)의 일부를 삭제하여 도시하였으나, 상기 절연성 피막(14)은 발광 소자(LD)의 양 단부를 제외한 외주면(예컨대, 원 기둥의 측면)을 전체적으로 둘러쌀 수 있다. 또는, 다른 실시예에서 절연성 피막(14)은 제1 도전형 반도체층(11), 활성층(12) 및/또는 제2 도전형 반도체층(13)의 측면 중 일부 영역만을 덮을 수도 있다. 또는, 또 다른 실시예에서는, 절연성 피막(14)이 생략될 수도 있다.
실시예에 따라, 절연성 피막(14)은 투명한 절연 물질을 포함할 수 있다. 예를 들어, 상기 절연성 피막(14)은 SiO2, Si3N4, Al2O3 및 TiO2로 이루어지는 군으로부터 선택된 하나 이상의 절연 물질을 포함할 수 있으나, 이에 한정되지는 않는다. 즉, 절연성 피막(14)은 다양한 절연 물질로 구성될 수 있다.
발광 소자(LD)에 절연성 피막(14)이 제공되면, 상기 발광 소자(LD)의 활성층(12)이 도시되지 않은 제1 및/또는 제2 전극 등과 단락되는 것을 방지할 수 있다. 이에 따라, 발광 소자(LD)의 전기적 안정성을 확보할 수 있다.
또한, 발광 소자(LD)의 표면에 절연성 피막(14)을 형성함에 의해 상기 발광 소자(LD)의 표면 결함을 최소화하여 수명 및 효율을 향상시킬 수 있다. 또한, 각각의 발광 소자(LD)에 절연성 피막(14)이 형성되면, 다수의 발광 소자들(LD)이 서로 밀접하여 배치되어 있는 경우에도 상기 발광 소자들(LD)의 사이에서 원치 않는 단락이 발생하는 것을 방지할 수 있다.
실시예에 따라, 발광 소자(LD)는 표면 처리 과정을 거쳐 제조될 수 있다. 예를 들어, 다수의 발광 소자들(LD)을 유동성의 용액에 혼합하여 각각의 발광 영역(일 예로, 각 화소의 발광 영역)에 공급할 때, 상기 발광 소자들(LD)이 용액 내에 불균일하게 응집하지 않고 균일하게 분산될 수 있도록 각각의 발광 소자(LD)를 표면 처리(일 예로, 코팅)할 수 있다.
상술한 발광 소자(LD)는 발광 표시 패널을 비롯하여 다양한 종류의 표시 장치에서 광원으로 이용될 수 있다. 일 예로, 발광 표시 패널의 각 화소 영역에 적어도 하나의 발광 소자(LD)를 배치하고, 이를 통해 각 화소의 발광 유닛을 구성할 수 있다. 다만, 본 발명에서 발광 소자(LD)의 적용 분야가 표시 장치에 한정되지는 않는다. 예를 들면, 발광 소자(LD)는 조명 장치와 같이 광원을 필요로 하는 다른 종류의 발광 장치에도 이용될 수 있다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 의한 발광 표시 패널(110)을 나타낸다. 그리고, 도 3a 및 도 3b는 도 2의 발광 표시 패널(110)에 구비될 수 있는 화소(PXL)의 실시예를 나타낸다. 실시예에 따라, 도 2 내지 도 3b에서는 표시 영역(DA)을 중심으로 발광 표시 패널(110)의 구조를 간략하게 도시하기로 한다. 다만, 실시예에 따라서는 적어도 하나의 구동 회로부, 일 예로 주사 구동부 및/또는 데이터 구동부 등이 발광 표시 패널(110)에 더 배치될 수도 있다.
도 2를 참조하면, 발광 표시 패널(110)은, 기판(111)과, 상기 기판(111) 상에 배치된 다수의 화소들(PXL)을 포함할 수 있다. 구체적으로, 발광 표시 패널(110)은, 영상을 표시하기 위한 표시 영역(DA)과, 상기 표시 영역(DA)을 제외한 비표시 영역(NDA)을 포함할 수 있다. 그리고, 기판(111) 상의 표시 영역(DA)에는 화소들(PXL)이 배치될 수 있다.
실시예에 따라, 표시 영역(DA)은 발광 표시 패널(110)의 중앙 영역에 배치되고, 비표시 영역(NDA)은 상기 표시 영역(DA)을 둘러싸도록 상기 발광 표시 패널(110)의 가장자리 영역에 배치될 수 있다. 다만, 표시 영역(DA) 및 비표시 영역(NDA)의 위치가 이에 한정되지는 않으며, 이들의 위치는 변경될 수 있다.
기판(111)은 경성 기판 또는 가요성 기판일 수 있으며, 그 재료나 물성이 특별히 한정되지는 않는다. 예를 들어, 기판(111)은 유리 또는 강화 유리로 구성된 경성 기판, 또는 플라스틱 또는 금속 재질의 박막 필름으로 구성된 가요성 기판일 수 있다.
기판(111) 상의 일 영역은 표시 영역(DA)으로 규정되어 상기 화소들(PXL)이 배치되고, 나머지 영역은 비표시 영역(NDA)으로 규정된다. 비표시 영역(NDA)에는 표시 영역(DA)의 화소들(PXL)에 연결되는 각종 배선들 및/또는 내장 회로부가 배치될 수 있다.
화소들(PXL) 각각은 해당 주사 신호 및 데이터 신호에 의해 구동되는 적어도 하나의 발광 소자(LD), 일 예로 도 1에 도시된 적어도 하나의 발광 소자(LD)를 포함할 수 있다. 예를 들어, 화소들(PXL) 각각은 마이크로 스케일 또는 나노 스케일 정도의 작은 크기를 가지는 복수의 막대형 발광 다이오드들을 포함할 수 있다. 일 예로, 화소들(PXL) 각각은, 마이크로 스케일 또는 나노 스케일 정도의 크기를 가지며 서로 직렬 및/또는 병렬로 연결된 다수의 막대형 발광 다이오드들을 포함하고, 상기 다수의 막대형 발광 다이오드들이 각 화소(PXL)의 광원을 구성할 수 있다.
일 실시예에서, 각각의 화소(PXL)는 도 3a 또는 도 3b 등에 도시된 능동형 화소로 구성될 수 있다. 다만, 화소들(PXL)의 종류 및/또는 구조가 특별히 한정되지는 않는다. 예를 들어, 각각의 화소(PXL)는 현재 공지된 다양한 구조의 수동형 또는 능동형 발광 표시 장치의 화소로 구성될 수 있다.
도 3a를 참조하면, 각각의 화소(PXL)는 데이터 신호에 대응하는 휘도의 빛을 생성하기 위한 발광 유닛(EMU)과, 상기 발광 유닛(EMU)을 구동하기 위한 화소 회로(PXC)를 포함할 수 있다.
실시예에 따라, 상기 발광 유닛(EMU)은 제1 및 제2 화소 전원(VDD, VSS)의 사이에 직렬 및/또는 병렬로 연결된 다수의 발광 소자들(LD)을 포함할 수 있다. 즉, 발광 유닛(EMU)은 복수의 발광 소자들(LD)로 구성된 광원 유닛일 수 있다.
실시예에 따라, 제1 및 제2 화소 전원(VDD, VSS)은 발광 소자들(LD)이 발광할 수 있도록 서로 다른 전위를 가질 수 있다. 일 예로, 제1 화소 전원(VDD)은 고전위 화소 전원으로 설정되고, 제2 화소 전원(VSS)은 저전위 화소 전원으로 설정될 수 있다. 이때, 제1 및 제2 화소 전원(VDD, VSS)의 전위 차는 발광 소자들(LD)의 문턱 전압 이상일 수 있다.
한편, 도 3a에서는 각 화소(PXL)의 발광 유닛(EMU)을 구성하는 다수의 발광 소자들(LD)이 제1 및 제2 화소 전원(VDD, VSS)의 사이에 서로 동일한 방향(일 예로, 순방향)으로 병렬 연결된 실시예를 도시하였으나, 본 발명이 이에 한정되지는 않는다. 예를 들어, 다른 실시예에서는 상기 발광 소자들(LD) 중 일부는 제1 및 제2 화소 전원(VDD, VSS)의 사이에 순방향으로 연결되고, 다른 일부는 역방향으로 연결될 수도 있다. 또는, 또 다른 실시예에서는, 적어도 하나의 화소(PXL)가 단일의 발광 소자(LD)만을 포함할 수도 있다.
실시예에 따라, 각각의 발광 유닛(EMU)을 구성하는 발광 소자들(LD)의 일단은 해당 발광 유닛(EMU)의 제1 전극을 통해 해당 화소 회로(PXC)에 공통으로 접속되며, 상기 화소 회로(PXC)를 통해 제1 화소 전원(VDD)에 접속될 수 있다. 그리고, 상기 발광 소자들(LD)의 타단은 해당 발광 유닛(EMU)의 제2 전극을 통해 제2 화소 전원(VSS)에 공통으로 접속될 수 있다. 이하에서는 각각의 발광 유닛(EMU)에 배치되는 제1 전극 및 제2 전극을 각각 제1 화소 전극 및 제2 화소 전극이라 하기로 한다.
각각의 발광 유닛(EMU)은 해당 화소 회로(PXC)를 통해 공급되는 구동 전류에 대응하는 휘도로 발광할 수 있다. 이에 따라, 표시 영역(DA)에서 소정의 영상이 표시될 수 있다.
화소 회로(PXC)는 해당 화소(PXL)의 주사선(Si) 및 데이터선(Dj)에 접속될 수 있다. 일 예로, 상기 화소(PXL)가 표시 영역(DA)의 i번째 행 및 j번째 열에 배치되었다고 할 때, 상기 화소(PXL)의 화소 회로(PXC)는 표시 영역(DA)의 i번째 주사선(Si) 및 j번째 데이터선(Dj)에 접속될 수 있다. 실시예에 따라, 화소 회로(PXC)는 제1 및 제2 트랜지스터(M1, M2)와 스토리지 커패시터(Cst)를 포함할 수 있다.
제1 트랜지스터(스위칭 트랜지스터; M1)의 제1 전극은 데이터선(Dj)에 접속되고, 제2 전극은 제1 노드(N1)에 접속된다. 여기서, 상기 제1 및 제2 전극은 서로 다른 전극으로서, 일 예로 제1 전극이 소스 전극이면 제2 전극은 드레인 전극일 수 있다. 그리고, 제1 트랜지스터(M1)의 게이트 전극은 주사선(Si)에 접속된다.
이러한 제1 트랜지스터(M1)는, 주사선(Si)으로부터 게이트-온 전압(일 예로, 로우 전압)의 주사 신호가 공급될 때 턴-온되어, 데이터선(Dj)과 제1 노드(N1)를 전기적으로 연결한다. 이때, 데이터선(Dj)으로는 해당 프레임의 데이터 신호가 공급되고, 상기 데이터 신호는 제1 트랜지스터(M1)를 경유하여 제1 노드(N1)로 전달된다. 이에 따라, 스토리지 커패시터(Cst)에는 데이터 신호에 대응하는 전압이 충전된다.
제2 트랜지스터(구동 트랜지스터; M2)의 제1 전극은 제1 화소 전원(VDD)에 접속되고, 제2 전극은 제1 화소 전극(즉, 해당 발광 유닛(EMU)의 제1 전극)을 통해 발광 유닛(EMU)에 접속된다. 그리고, 제2 트랜지스터(M2)의 게이트 전극은 제1 노드(N1)에 접속된다. 이러한 제2 트랜지스터(M2)는 제1 노드(N1)의 전압에 대응하여 각각의 발광 유닛(EMU)으로 공급되는 구동 전류를 제어한다.
스토리지 커패시터(Cst)의 일 전극은 제1 화소 전원(VDD)에 접속되고, 다른 전극은 제1 노드(N1)에 접속된다. 이러한 스토리지 커패시터(Cst)는 해당 프레임 기간 동안 제1 노드(N1)로 공급되는 데이터 신호에 대응하는 전압을 충전하고, 다음 프레임의 데이터 신호가 공급될 때까지 충전된 전압을 유지한다.
한편, 화소 회로(PXC)의 구조가 도 3a에 도시된 실시예에 한정되지는 않는다. 예컨대, 화소 회로(PXC)는 현재 공지된 다양한 구조 및/또는 구동 방식의 화소 회로로 구성될 수 있다. 일 예로, 화소 회로(PXC)는 제2 트랜지스터(M2)의 문턱전압을 보상하기 위한 스위칭 소자, 제2 트랜지스터(M2)의 게이트 전압을 초기화하기 위한 스위칭 소자, 및/또는 발광 유닛(EMU)의 발광 시간을 제어하기 위한 스위칭 소자 등과 같은 적어도 하나의 스위칭 소자를 더 포함할 수도 있다. 실시예에 따라, 각각의 스위칭 소자는 트랜지스터로 구성될 수 있으나, 이에 한정되지는 않는다. 또한, 화소 회로(PXC)는 제2 트랜지스터(M2)의 게이트 전압을 부스팅하기 위한 부스팅 커패시터를 비롯한 적어도 하나의 커패시터를 더 포함할 수도 있다.
또한, 도 3a에서는 화소 회로(PXC)에 포함되는 트랜지스터들, 예를 들어 제1 및 제2 트랜지스터(M1, M2)를 모두 P타입의 트랜지스터로 도시하였으나, 본 발명이 이에 한정되지는 않는다. 즉, 제1 및 제2 트랜지스터(M1, M2) 중 적어도 하나는 N타입의 트랜지스터로 변경될 수도 있다.
일 예로, 도 3b에 도시된 바와 같이, 제1 및 제2 트랜지스터(M1, M2)는 모두 N타입의 트랜지스터일 수 있다. 도 3b에 도시된 화소(PXL)는, 트랜지스터 타입 변경에 따라 일부 회로 소자의 접속 위치가 변경된 것을 제외하고는, 그 구성 및 동작이 도 3a의 화소 회로(PXC)와 실질적으로 유사하다. 따라서, 도 3b의 화소(PXL)에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 의한 화소(PXL)의 발광 유닛(EMU)을 나타낸다. 편의상, 도 4에서는 각각의 전극이 단일층으로 구성되는 비교적 단순한 구조의 발광 유닛(EMU)을 개시하기로 한다. 다만, 본 발명이 이에 한정되지는 않으며, 일 예로 도 4에 도시된 전극들 중 적어도 하나는 다중층으로 구성될 수도 있다. 또한, 발광 유닛(EMU)에는 도시되지 않은 적어도 하나의 도전층 및/또는 절연층이 더 배치될 수도 있음은 물론이다.
한편, 도 4의 발광 유닛(EMU)은 도 2 및 도 3a 내지 도 3b에 도시된 화소(PXL)의 광원을 구성할 수 있으며, 이외에도 다양한 발광 장치의 광원을 구성할 수 있다. 편의상, 이하에서는 도 4를 도 3a 및 도 3b와 결부하여, 본 발명의 일 실시예에 의한 발광 유닛(EMU)을 설명하기로 한다.
도 3a 내지 도 4를 참조하면, 각각의 발광 유닛(EMU)은 제1 및 제2 화소 전극(ELT1, ELT2)과, 상기 제1 및 제2 화소 전극(ELT1, ELT2)의 사이에 접속된 다수의 발광 소자들(LD)을 포함할 수 있다. 다만, 본 발명이 도 3a 내지 도 4에 도시된 실시예에 한정되지는 않는다. 예를 들어, 적어도 한 화소(PXL)의 발광 유닛(EMU)은 단일의 발광 소자(LD)만을 구비할 수도 있다. 실시예에 따라, 각각의 발광 유닛(EMU)은 각각의 화소(PXL)를 형성하기 위한 화소 영역에 배치될 수 있으며, 도시되지 않은 댐 또는 뱅크 구조물 등에 의해 둘러싸일 수 있다.
실시예에 따라, 제1 화소 전극(ELT1)은 해당 화소의 화소 회로, 일 예로 도 3a 등에 도시된 화소 회로(PXC)에 접속되고, 제2 화소 전극(ELT2)은 제2 화소 전원(VSS)에 접속될 수 있다. 일 예로, 제1 화소 전극(ELT1)은 제1 컨택홀(CH1)을 통해 도 3a의 제2 트랜지스터(M2)에 접속되고, 제2 화소 전극(ELT2)은 제2 컨택홀(CH2)을 통해 제2 화소 전원(VSS)에 접속될 수 있다.
다만, 본 발명이 이에 한정되지는 않는다. 예를 들어, 본 발명의 다른 실시예에서는, 제1 화소 전극(ELT1)이 제1 컨택홀(CH1)을 통해 제1 화소 전원(VDD)에 접속되고, 제2 화소 전극(ELT2)이 제2 컨택홀(CH2)을 통해 도 3b의 제2 트랜지스터(M2)에 접속될 수도 있다. 또는, 본 발명의 또 다른 실시예에서는, 제1 및/또는 제2 화소 전극(ELT1, ELT2)이 제1 컨택홀(CH1), 제2 컨택홀(CH2) 및/또는 화소 회로(PXC) 등을 경유하지 않고, 제1 및/또는 제2 화소 전원(VDD, VSS)에 직접적으로 연결 또는 접속될 수도 있다.
제1 화소 전극(ELT1)의 적어도 일 영역은 제2 화소 전극(ELT2)의 적어도 일 영역과 대향되도록 배치되고, 상기 제1 및 제2 화소 전극(ELT1, ELT2)의 사이에는 다수의 발광 소자들(LD)이 접속될 수 있다. 본 발명에서, 발광 소자들(LD)의 배열 방향이 특별히 한정되지는 않는다. 또한, 발광 소자들(LD)은 제1 및 제2 화소 전극(ELT1, ELT2)의 사이에 직렬 및/또는 병렬로 연결될 수 있다.
실시예에 따라, 발광 소자들(LD)은 무기 결정 구조의 재료를 이용한 초소형의, 일 예로 나노 스케일 내지 마이크로 스케일 정도로 작은, 막대형 발광 다이오드일 수 있다. 예를 들어, 각각의 발광 소자(LD)는 도 1의 발광 소자(LD)일 수 있다. 실시예에 따라, 발광 소자들(LD)은 소정의 용액(이하, "LED 용액"이라 함) 내에 분산된 형태로 준비되어, 잉크젯 방식 등을 이용해 각각의 발광 유닛(EMU)에 공급될 수 있다. 일 예로, 발광 소자들(LD)은 휘발성 용매에 섞여 각각의 발광 유닛(EMU)에 공급될 수 있다. 이때, 제1 및 제2 화소 전극(ELT1, ELT2)으로 소정의 전압("정렬 전압" 또는 "정렬 신호"라고도 함)을 인가하게 되면, 상기 제1 및 제2 화소 전극(ELT1, ELT2)의 사이에 전계가 형성되면서, 상기 제1 및 제2 화소 전극(ELT1, ELT2)의 사이에 발광 소자들(LD)이 자가 정렬하게 된다. 발광 소자들(LD)이 정렬된 이후에는 용매를 휘발시키거나 또는 그 외의 방식으로 제거함으로써, 제1 및 제2 화소 전극(ELT1, ELT2)의 사이에 발광 소자들(LD)을 안정적으로 배치할 수 있다. 즉, 발광 소자들(LD)은 제1 및 제2 화소 전극(ELT1, ELT2)의 사이에 물리적 및/또는 전기적으로 연결되게 된다.
실시예에 따라, 발광 소자들(LD)의 양단에는 각각 적어도 하나의 컨택 전극이 연결될 수 있다. 예를 들어, 각각의 발광 유닛(EMU)은, 발광 소자들(LD)의 일 단부를 제1 화소 전극(ELT1)에 안정적으로 연결하기 위한 제1 컨택 전극(CNE1)과, 상기 발광 소자들(LD)의 다른 단부를 제2 화소 전극(ELT2)에 안정적으로 연결하기 위한 제2 컨택 전극(CNE2)을 포함할 수 있다.
제1 및 제2 컨택 전극(CNE1, CNE2) 각각은, 제1 및 제2 화소 전극(ELT1, ELT2) 중 어느 하나와, 발광 소자들(LD) 중 적어도 하나의 일단에 접촉 및/또는 전기적으로 연결될 수 있다. 예를 들어, 제1 및 제2 컨택 전극(CNE1, CNE2)은, 발광 소자들(LD)의 양 단부와 제1 및 제2 화소 전극(ELT1, ELT2)의 적어도 일 영역을 커버할 수 있다.
발광 유닛(EMU)에 배치된 다수의 발광 소자들(LD)이 모여 해당 화소(PXL)의 광원을 구성할 수 있다. 일 예로, 각각의 프레임 기간 동안 적어도 한 화소(PXL)의 발광 유닛(EMU)으로 구동 전류가 공급되면, 상기 화소(PXL)의 제1 및 제2 화소 전극(ELT1, ELT2)의 사이에 순방향으로 연결된 발광 소자들(LD)이 발광하면서 상기 구동 전류에 대응하는 휘도의 빛을 방출할 수 있다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 의한 발광 표시 패널(110)을 제조하기 위한 원장 기판(100)을 나타낸다. 상기 원장 기판(100)은 하나의 모기판(111A) 상에서 다수의 발광 표시 패널들(110)을 동시에 제조하기 위한 것일 수 있다. 예를 들어, 다수의 발광 표시 패널들(110)이 대형의 모기판(111A) 상에서 원장 기판(100)의 형태로 동시에 제조된 이후, 스크라이빙 공정 등을 통해 개개의 발광 표시 패널(110)로 분리될 수 있다.
도 2 내지 도 5를 참조하면, 원장 기판(100)은, 모기판(111A) 상에서 제1 및/또는 제2 방향(일 예로, X-축 및/또는 Y-축 방향)을 따라 나열된 다수의 셀들(110A)을 포함할 수 있다. 각각의 셀(110A)은 개개의 발광 표시 패널(110)을 제조하기 위한 것일 수 있다. 예를 들어, 각각의 셀(110A)은 소정의 표시 영역(DA)에 배치된 다수의 화소들(PXL)을 포함할 수 있다. 그리고, 각각의 화소(PXL)는 다수의 발광 소자들(LD)을 구비한 발광 유닛(EMU)을 포함할 수 있다. 편의상, 도 5에서는 개별 셀(110A)의 내부 구성에 대한 도시는 생략하기로 한다.
원장 기판(100)의 일 영역, 일 예로 원장 기판(100)의 적어도 어느 일 측 가장자리 영역에는 복수의 도전성 패드들(102)이 배치될 수 있다. 실시예에 따라, 상기 복수의 도전성 패드들(102)은, 서로 다른 전압을 공급받는 제1 및 제2 패드(102a, 102b)로 구성된 적어도 한 쌍의 패드들을 포함할 수 있다. 일 예로, 원장 기판(100)의 서로 마주하는 양측 가장자리 영역에는 각각 복수의 제1 및 제2 패드(102a, 102b) 쌍이 배치될 수 있다. 실시예에 따라, 각각의 제1 및 제2 패드(102a, 102b) 쌍은 적어도 하나의 셀(110A)에 연결될 수 있다.
또한, 원장 기판(100)은 셀들(110A)을 도전성 패드들(102)에 전기적으로 연결하기 위한 복수의 정렬 배선들(AL)을 포함할 수 있다. 실시예에 따라, 상기 정렬 배선들(AL)은, 원장 기판(100)에 형성된 셀들(110A) 중 적어도 하나를 어느 한 쌍의 제1 및 제2 패드(102a, 102b)에 연결하기 위한 적어도 한 쌍의 제1 및 제2 정렬 배선(AL1, AL2)을 포함할 수 있다. 일 예로, 원장 기판(100)에는, 복수의 제1 및 제2 패드(102a, 102b) 쌍에 대응하는 복수의 제1 및 제2 정렬 배선(AL1, AL2) 쌍이 배치될 수 있다.
각각의 제1 정렬 배선(AL1)은 적어도 하나의 셀(110A) 내부에 형성된 일 전극에 전기적으로 연결되고, 각각의 제2 정렬 배선(AL2)은 적어도 하나의 셀(110A) 내부에 형성된 다른 전극에 전기적으로 연결된다. 일 예로, 각각의 제1 정렬 배선(AL1)은 적어도 하나의 셀(110A) 내부에 형성된 화소들(PXL)의 제1 화소 전극들(ELT1)에 공통으로 연결되고, 각각의 제2 정렬 배선(AL2)은 적어도 하나의 셀(110A) 내부에 형성된 화소들(PXL)의 제2 화소 전극들(ELT2)에 공통으로 연결될 수 있다. 이에 따라, 제1 패드들(102a)에 인가되는 전압은 제1 정렬 배선들(AL1)을 통해 각 셀(110A) 내부의 제1 화소 전극들(ELT1)에 전달되고, 제2 패드들(102b)에 인가되는 전압은 제2 정렬 배선들(AL2)을 통해 각 셀(110A) 내부의 제2 화소 전극들(ELT2)에 전달될 수 있다.
실시예에 따라, 원장 기판(100)에 형성된 셀들(110A) 중 상기 원장 기판(100)의 어느 일 측, 일 예로 좌측에 배치된 적어도 하나의 셀(110A)은 상기 원장 기판(100)의 다른 일 측, 일 예로 우측에 배치된 제1 및 제2 패드(102a, 102b) 쌍에 전기적으로 연결될 수 있다. 또한, 상기 셀들(110A) 중 상기 원장 기판(100)의 다른 일 측, 일 예로 우측에 배치된 적어도 하나의 셀(110A)은 상기 원장 기판(100)의 반대편 일 측, 일 예로 좌측에 배치된 제1 및 제2 패드(102a, 102b) 쌍에 전기적으로 연결될 수 있다.
이 경우, 원장 기판(100)의 어느 일 측에 배치된 적어도 하나의 셀(110A)에 발광 소자들(LD)을 공급함과 동시에, 상기 원장 기판(100)의 다른 일 측에 배치된 제1 및 제2 패드(102a, 102b) 쌍을 통해 상기 적어도 하나의 셀(110A)에 전압을 인가할 수 있다. 이에 따라, 상기 적어도 하나의 셀(110A)에 발광 소자들(LD)을 공급함과 동시에, 상기 발광 소자들(LD)의 정렬을 위한 소정의 정렬 신호를 공급함으로써, 상기 발광 소자들(LD)에 전계를 인가할 수 있게 된다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 의한 발광 표시 장치의 제조 장치(200)를 나타낸다. 구체적으로, 도 6은 상기 발광 표시 장치의 패널, 즉 발광 표시 패널(110)을 제조하기 위한 모기판(111A) 상에 발광 소자들(LD)을 공급함과 동시에 상기 발광 소자들(LD)에 전계를 인가할 수 있는 제조 장치(200)(이하, "제1 제조 장치(200)"라 함)의 실시예를 나타낸다. 일 예로, 상기 제1 제조 장치(200)는 도 5에 도시된 모기판(111A) 상에 배치된 각 셀(110A)의 내부(특히, 화소들(PXL) 각각의 발광 영역)에 발광 소자들(LD)을 공급함과 동시에, 상기 발광 소자들(LD)의 자가 정렬을 유도하기 위한 전계(또는, 상기 전계를 형성하기 위한 정렬 신호)를 인가할 수 있도록 구성될 수 있다. 또한, 실시예에 따라, 상기 제1 제조 장치(200)는 잉크젯 방식으로 모기판(111A) 상에 발광 소자들(LD)을 공급(예컨대, 투하)하는 잉크젯 프린터일 수 있다.
도 6에서, 도면 부호 "240"은 하나 이상의 전계 인가 모듈에 포괄적으로 대응하며, 예를 들어 각각의 전계 인가 모듈, 또는 복수의 전계 인가 모듈들에 모두 대응할 수 있다. 또한, 도면 부호 "260"은 하나 이상의 프린팅 헤드에 포괄적으로 대응하며, 예를 들어 각각의 프린팅 헤드, 또는 복수의 프린팅 헤드들에 모두 대응할 수 있다.
도 6을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 의한 제1 제조 장치(200)는, 하부로부터 순차적으로 배치된 주정반(210) 및 보조정반(220)과, 상기 보조정반(220)의 상부에 배치되는 스테이지("제1 스테이지"라고도 함)(230)와, 상기 스테이지(230)의 적어도 일 측에 구비되는 적어도 하나의 전계 인가 모듈(240)과, 상기 스테이지(230)의 상부에 배치되는 갠트리(250)와, 상기 갠트리(250)에 의해 지지되며 상기 스테이지(230)의 상부에 배치되는 적어도 하나의 프린팅 헤드(260)를 포함한다.
실시예에 따라, 전계 인가 모듈(240) 및/또는 프린팅 헤드(260)는, 수평 이동 및 수직 이동이 모두 가능하도록 구성될 수 있다. 일 예로, 전계 인가 모듈(240) 및/또는 프린팅 헤드(260)는, X-축 방향을 따른 수평 이동과, Z-축 방향을 따른 수직 이동(예컨대, 상하 이동)이 모두 가능하도록 구성될 수 있다. 또한, 실시예에 따라서는 스테이지(230)도 적어도 어느 일 방향을 따라 이동 가능하도록 구성될 수 있다. 일 예로, 스테이지(230)는 Y-축 방향을 따른 수평 이동이 가능하도록 설계될 수 있다.
상술한 실시예에 의하면, 스테이지(230), 전계 인가 모듈(240) 및/또는 프린팅 헤드(260)의 동작을 보다 용이하게 제어할 수 있게 된다. 이에 따라, 스테이지(230) 상에 원장 기판(100)을 배치하여 발광 소자들(LD)을 공급하는 공정과 동시에 상기 발광 소자들(LD)이 공급되는 셀(110A)에 원활히 전계를 인가할 수 있게 된다.
일 실시예에서, 전계 인가 모듈(240)은 스테이지(230)의 적어도 두 가장자리 영역에 각각 인접하도록 배치될 수 있다. 예를 들어, 전계 인가 모듈(240)은, 스테이지(230)의 제1 측에 배치되는 제1 전계 인가 모듈(241)과, 스테이지(230)의 제2 측에 배치되는 제2 전계 인가 모듈(242)을 포함할 수 있다.
실시예에 따라, 스테이지(230)의 제1 측 및 제2 측은 서로 마주하는 반대편 단부일 수 있다. 일 예로, 상기 제1 측 및 상기 제2 측은 각각 상기 스테이지(230)의 좌측 및 우측일 수 있다. 즉, 제1 및 제2 전계 인가 모듈(241, 242)은 스테이지(230)의 서로 마주하는 양측 각각에 인접하여 배치될 수 있다.
또한, 실시예에 따라, 제1 및 제2 전계 인가 모듈(241, 242)은 스테이지(230) 하단의 구조물에 연결 및/또는 설치될 수 있다. 일 예로, 제1 및 제2 전계 인가 모듈(241, 242)은 스테이지(230)의 하판(230a)에 결합될 수 있다. 다만, 본 발명에서, 제1 및 제2 전계 인가 모듈(241, 242)의 위치 및/또는 설치 구조가 특별히 한정되지는 않으며, 이는 다양하게 변경될 수 있다.
실시예에 따라, 제1 및 제2 전계 인가 모듈(241, 242)은 서로 독립적으로 구동되거나, 또는 서로 연동하여 구동될 수 있다. 일 예로, 제1 및 제2 전계 인가 모듈(241, 242)은 동시에 구동되거나, 순차 또는 교번적으로 구동될 수 있다.
이와 같이, 제1 제조 장치(200)가 스테이지(230)의 서로 다른 일 측에 배치된 제1 및 제2 전계 인가 모듈(241, 242)을 구비하게 되면, 전계 인가 모듈(240)과 프린팅 헤드(260)와의 충돌을 회피하면서, 스테이지(230) 상에 안착된 원장 기판(100) 상에 원활히 전계를 인가할 수 있게 된다. 일 예로, 프린팅 헤드(260)의 위치에 따라 제1 및 제2 전계 인가 모듈(241, 242) 중 적어도 하나를 선택적으로 구동함으로써, 전계 인가 모듈(240)과 프린팅 헤드(260)의 상호 간섭 및/또는 충돌을 방지하면서도 원장 기판(100) 상의 각 셀(110A)에 원하는 전계를 인가할 수 있게 된다.
실시예에 따라, 프린팅 헤드(260)는 서로 다른 종류의 용액, 일 예로 각각 소정 색상의 발광 소자들(LD)이 분산된 용액을 스테이지(230)의 상부로 분사하기 위한 복수의 프린팅 헤드들, 일 예로 제1, 제2 및 제3 프린팅 헤드(261, 262, 263)를 포함할 수 있다. 예를 들어, 제1, 제2 및 제3 프린팅 헤드(261, 262, 263)는 각각 다수의 적색, 녹색 및 청색 발광 소자들(LD)이 분산된 용액을 액적의 형태로 스테이지(230)의 상부(일 예로, 상기 스테이지(230) 상에 안착된 원장 기판(100)의 각 셀(110A) 내부)에 투하할 수 있다. 이를 위해, 제1, 제2 및 제3 프린팅 헤드(261, 262, 263)는 각각 분사 노즐(261a, 262a, 263a)을 구비하고, 잉크젯 방식으로 각각 적색, 녹색 및 청색 발광 소자들(LD)을 각각의 셀(110A)에 공급할 수 있다. 일 예로, 제1, 제2 및 제3 프린팅 헤드(261, 262, 263)는 잉크젯 헤드(또는, 분사 헤드)일 수 있다.
상술한 바와 같이, 본 실시예에 의한 제1 제조 장치(200)는 전계 인가 모듈(240) 및 프린팅 헤드(260)를 모두 구비한다. 이에 따라, 스테이지(230) 상에 놓인 발광 표시 장치의 기판, 일 예로 원장 기판(100) 상에 발광 소자들(LD)을 공급함과 동시에, 상기 발광 소자들(LD)에 소정의 전계를 인가하여 상기 발광 소자들(LD)의 자가 정렬을 유도할 수 있다. 이에 따라, 발광 소자들(LD)을 광원으로 이용하는 발광 표시 패널(110)을 용이하게 제조할 수 있다.
한편, 제1 제조 장치(200)를 구성하는 나머지 구성 요소들, 예를 들어 주정반(210), 보조정반(220) 및 갠트리(250) 등은, 현재 공지된 다양한 형상 및/또는 구조를 가질 수 있다. 따라서, 이에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.
도 7은 도 6의 전계 인가 모듈(240)의 구성에 대한 실시예를 나타낸다. 실시예에 따라, 도 7에 도시된 전계 인가 모듈(240)은 도 6의 제1 및 제2 전계 인가 모듈(241, 242)에 모두 대응될 수 있다. 예를 들어, 제1 및 제2 전계 인가 모듈(241, 242)은 실질적으로 동일하게 구성되며, 서로 마주하여 배치될 수 있다.
도 7을 참조하면, 각각의 전계 인가 모듈(240)은, 프로브 헤드(PHD)와, 상기 프로브 헤드(PHD)에 결합되어 상기 프로브 헤드(PHD)를 소정 방향을 따라 이동시키기 위한 제1 및 제2 구동부(LA1, LA2)와, 상기 프로브 헤드(PHD)와 제1 및 제2 구동부(LA1, LA2)에 결합되는 바디부(BD)를 포함할 수 있다.
또한, 실시예에 따라, 각각의 전계 인가 모듈(240)은, 바디부(BD)에 결합되어 상기 전계 인가 모듈(240)의 안정적인 이동을 보조하는 적어도 하나의 리니어 모션 가이드(LM1, LM2)와, 프로브 헤드(PHD) 등의 이동 위치를 실시간으로 감지하기 위한 적어도 하나의 센서 유닛(SEU1, SEU2)을 더 포함할 수 있다. 일 예로, 각각의 전계 인가 모듈(240)은, 제1 구동부(LA1)의 주변에 배치되는 제1 리니어 모션 가이드(LM1) 및 제1 센서 유닛(SEU1)과, 상기 제2 구동부(LA2)의 주변에 배치되는 제2 리니어 모션 가이드(LM2) 및 제2 센서 유닛(SEU2)을 더 포함할 수 있다.
프로브 헤드(PHD)는 일면에 배치된 적어도 하나의 프로브 핀(또는, "전극 패드"라고도 함; PPI)을 구비한다. 일 예로, 프로브 헤드(PHD)는 하부면의 가장자리 영역에 위치된 패드부(PAU) 내에 배열된 다수의 프로브 핀(PPI)을 포함할 수 있다. 실시예에 따라, 각각의 프로브 핀(PPI)은 도시되지 않은 전원 공급부에 연결되어, 상기 전원 공급부로부터 각각 소정의 전원 또는 전압을 공급받을 수 있다.
실시예에 따라, 프로브 헤드(PHD)는 바(bar) 형상을 가지는 프로브 바로 구현될 수 있으나, 이에 한정되지는 않는다. 예를 들어, 프로브 헤드(PHD)의 형상, 구조 및/또는 구성 물질 등은 다양하게 변경될 수 있다.
제1 구동부(LA1)는 바디부(BD)를 통해 프로브 헤드(PHD)에 결합되어, 상기 프로브 헤드(PHD)를 수평 방향으로 이동시킬 수 있다. 일 예로, 제1 구동부(LA1)는 X-축 방향을 따라 프로브 헤드(PHD)를 전후 또는 좌우로 이동시키는 리니어 액추에이터일 수 있다.
실시예에 따라, 제1 구동부(LA1)는 제1 모터(MT1)와, 수평 방향으로 상기 제1 모터(MT1)에 결합 및/또는 연결되는 제1 볼 스크류(BS1)를 포함할 수 있다. 이를 통해, 제1 구동부(LA1)는 프로브 헤드(PHD)가 원하는 위치에 도달할 수 있도록 상기 프로브 헤드(PHD)의 수평 위치를 조정할 수 있다.
실시예에 따라, 제1 모터(MT1)는 서보모터(servomotor)일 수 있으나 이에 한정되지는 않는다. 예를 들어, 제1 모터(MT1)는 서보모터 외에도 다양한 종류의 동력원으로 구성될 수 있다. 또한, 실시예에 따라, 제1 모터(MT1)는 모터 가이드 등을 포함하여 구성될 수 있다.
실시예에 따라, 제1 볼 스크류(BS1)는 전조 볼 스크류(rolled ball screw)일 수 있으나, 이에 한정되지는 않는다. 예를 들어, 제1 볼 스크류(BS1)는 전조 볼 스크류 외에도, 제1 모터(MT1)에 의해 발생한 동력을 이용하여 프로브 헤드(PHD)를 직선 운동시킬 수 있는 다양한 기구적 장치(일 예로, 회전 운동을 직선 운동으로 변환할 수 있는 다양한 부품)로 구성될 수 있다.
제2 구동부(LA2)는 바디부(BD)를 통해 프로브 헤드(PHD)에 결합되어, 상기 프로브 헤드(PHD)를 수직 방향으로 이동시킬 수 있다. 일 예로, 제2 구동부(LA2)는 Z-축 방향을 따라 프로브 헤드(PHD)를 상하로 이동시키는 리니어 액추에이터일 수 있다.
실시예에 따라, 제2 구동부(LA2)는 제2 모터(MT2)와, 수직 방향으로 상기 제2 모터(MT2)에 결합 및/또는 연결되는 제2 볼 스크류(BS2)를 포함할 수 있다. 이를 통해, 제2 구동부(LA2)는 프로브 헤드(PHD)가 원하는 위치에 도달할 수 있도록 상기 프로브 헤드(PHD)의 높이를 조정할 수 있다.
실시예에 따라, 제2 모터(MT2)는 서보모터일 수 있으나 이에 한정되지는 않으며, 이 외에도 다양한 종류의 동력원으로 구성될 수 있다. 또한, 실시예에 따라, 제2 모터(MT2)는 모터 가이드 등을 포함하여 구성될 수 있다.
실시예에 따라, 제2 볼 스크류(BS2)는 전조 볼 스크류일 수 있으나 이에 한정되지는 않으며, 이 외에도 제2 모터(MT2)에 의해 발생한 동력을 이용하여 프로브 헤드(PHD)를 직선 운동시킬 수 있는 다양한 기구적 장치로 구성될 수 있다.
제1 리니어 모션 가이드(LM1)는 제1 구동부(LA1)의 주변에 배치되어, 프로브 헤드(PHD)의 수평 이동을 보조할 수 있다. 그리고, 제2 리니어 모션 가이드(LM2)는 제2 구동부(LA2)의 주변에 배치되어, 프로브 헤드(PHD)의 수직 이동을 보조할 수 있다.
제1 센서 유닛(SEU1)은 제1 구동부(LA1)의 주변에 배치되어, 프로브 헤드(PHD)의 수평 위치를 감지할 수 있다. 이러한 제1 센서 유닛(SEU1)을 통해, 해당 전계 인가 모듈(240), 특히 프로브 헤드(PHD)가 원하는 수평 위치에 도달했는지 판단할 수 있다.
실시예에 따라, 제1 센서 유닛(SEU1)은, 프로브 헤드(PHD)의 전방 한계를 감지하기 위한 제1 위치 센서(SEN11)와, 프로브 헤드(PHD)의 후방 한계를 감지하기 위한 제2 위치 센서(SEN12)와, 상기 제1 및 제2 위치 센서(SEN11, SEN12)의 사이에 위치되어 프로브 헤드(PHD)가 소정의 목표 지점(예컨대, 원장 기판(100)의 도전성 패드들(102)과 접촉하기 위한 수평 위치)에 도달했음을 감지하기 위한 제3 위치 센서(SEN13) 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 제1 및 제2 위치 센서(SEN11, SEN12)를 통해 전후방 한계를 감지할 수 있게 되면, 프로브 헤드(PHD)의 과도한 이동을 방지할 수 있다. 이에 따라, 전계 인가 모듈(240)의 기계적 손상을 방지할 수 있다. 또한, 제3 위치 센서(SEN13)를 통해 프로브 헤드(PHD)가 상기 목표 지점에 도달했음을 감지하게 되면, 공정의 용이성 및 신뢰성을 확보할 수 있다.
제2 센서 유닛(SEU2)은 제2 구동부(LA2)의 주변에 배치되어, 프로브 헤드(PHD)의 수직 위치(즉, 높이)를 감지할 수 있다. 이러한 제2 센서 유닛(SEU2)을 통해, 해당 전계 인가 모듈(240), 특히 프로브 헤드(PHD)가 원하는 수직 위치에 도달했는지 판단할 수 있다.
실시예에 따라, 제2 센서 유닛(SEU2)은, 프로브 헤드(PHD)의 상승 한계를 감지하기 위한 제1 위치 센서(SEN21)와, 프로브 헤드(PHD)의 하강 한계를 감지하기 위한 제2 위치 센서(SEN22)와, 상기 제1 및 제2 위치 센서(SEN21, SEN22)의 사이에 위치되어 프로브 헤드(PHD)가 소정의 목표 높이(예컨대, 원장 기판(100)의 도전성 패드들(102)과 접촉하기 위한 소정의 높이)에 도달했음을 감지하기 위한 제3 위치 센서(SEN23) 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 제1 및 제2 위치 센서(SEN21, SEN22)를 통해 승강 한계를 감지할 수 있게 되면, 프로브 헤드(PHD)의 과도한 이동을 방지할 수 있다. 이에 따라, 전계 인가 모듈(240)의 기계적 손상을 방지할 수 있다. 또한, 제3 위치 센서(SEN23)를 통해 프로브 헤드(PHD)가 목표 높이에 도달했음을 감지하게 되면, 공정의 용이성 및 신뢰성을 확보할 수 있다.
도 8a 내지 도 8c는 도 7의 전계 인가 모듈(240)의 수평 이동 방식에 대한 실시예를 나타낸다.
도 8a 내지 도 8c를 참조하면, 전계 인가 모듈(240)은 제1 구동부(LA1)에 의해 수평 방향으로 이동할 수 있다. 일 예로, 프로브 헤드(PHD)는 제1 구동부(LA1)에 의해 X-축을 따라 전방으로 이동할 수 있다. 이 경우, 프로브 헤드(PHD)의 전방 일단은, 제1 구동부(LA1)의 일단으로부터 수평 방향을 따라 점차 멀어지는 제1 거리(d1), 제2 거리(d2) 및 제3 거리(d3)만큼 이격된 위치를 차례로 지나도록 전진할 수 있다. 반대로, 제1 구동부(LA1)에 의해 프로브 헤드(PHD)가 후방으로 이동할 경우, 상기 프로브 헤드(PHD)의 전방 단부는, 제1 구동부(LA1)의 일단으로부터 수평 방향을 따라 각각 제3 거리(d3), 제2 거리(d2) 및 제1 거리(d1)만큼 이격된 위치를 차례로 지나도록 후진할 수 있다.
도 9a 내지 도 9c는 도 7의 전계 인가 모듈(240)의 수직 이동 방식에 대한 실시예를 나타낸다.
도 9a 내지 도 9c를 참조하면, 전계 인가 모듈(240)은 제2 구동부(LA2)에 의해 수직 방향으로 이동할 수 있다. 일 예로, 프로브 헤드(PHD)는 제2 구동부(LA2)에 의해 Z-축을 따라 상승할 수 있다. 이 경우, 프로브 헤드(PHD)의 배면은 제2 구동부(LA2)의 일단으로부터 수직 방향을 따라 점차 높아지는 제1 높이(h1), 제2 높이(h2) 및 제3 높이(h3)에 해당하는 위치를 차례로 지나도록 상승할 수 있다. 반대로, 제2 구동부(LA2)에 의해 프로브 헤드(PHD)가 하강할 경우, 상기 프로브 헤드(PHD)의 배면은 제2 구동부(LA2)의 일단으로부터 수직 방향을 따라 제3 높이(h3), 제2 높이(h2) 및 제1 높이(h1)만큼 이격된 위치를 차례로 지나도록 하강할 수 있다.
도 10 및 도 11a 내지 도 11d는 도 6의 제조 장치, 즉, 제1 제조 장치(200)의 구동 방법에 대한 일 실시예를 나타낸다. 구체적으로, 도 10은 상기 제1 제조 장치(200)의 스테이지(230) 상에 일 예로 도 5에 도시된 원장 기판(100)이 배치된 상태를 개략적으로 나타낸 평면도이다. 도 10에서는 제1 제조 장치(200)의 프로브 핀들(PPI)과 원장 기판(100)의 정렬 위치를 보여주기 위하여, 프로브 헤드(PHD)를 전체적으로 도시하는 대신 상기 프로브 헤드(PHD)의 일면에 배치된 패드부(PAU)를 도시하기로 한다. 또한, 도 10 및 도 11a 내지 도 11d에서, 전계 인가 모듈(240) 등의 구조는 개략적으로 도시하기로 한다.
도 10을 참조하면, 프로브 헤드(PHD)의 패드부(PAU)에는 복수의 프로브 핀들(PPI)이 배열될 수 있다. 또한, 본 발명의 실시예에 의한 제1 제조 장치(200)는 프로브 핀들(PPI)로 소정의 전압을 공급하기 위한 전원 공급부(270)와, 상기 프로브 핀들(PPI)과 전원 공급부(270)의 사이에 연결되는 복수의 전원선들(PL1, PL2)을 더 포함할 수 있다. 한편, 상기 전원 공급부(270)는 전계 인가 모듈(240)의 구성 요소로 간주되거나, 또는 상기 전계 인가 모듈(240)의 외부에 구성되는 별개의 구성 요소로 간주할 수도 있다.
일 예로, 프로브 헤드(PHD)의 일면, 예컨대 하부면에는 패드부(PAU)가 배치되고, 상기 패드부(PAU)는, 제1 전원선(PL1)을 통해 전원 공급부(270)에 연결되는 적어도 하나의 제1 프로브 핀(PPI1)과, 제2 전원선(PL2)을 통해 전원 공급부(270)에 연결되는 적어도 하나의 제2 프로브 핀(PPI2)을 구비할 수 있다. 예컨대, 패드부(PAU)는, 제1 전원선(PL1)에 공통으로 연결되는 복수의 제1 프로브 핀들(PPI1)과, 상기 제1 프로브 핀들(PPI1) 각각과 쌍을 이루도록 배치되며 제2 전원선(PL2)에 공통으로 연결되는 복수의 제2 프로브 핀들(PPI2)을 구비할 수 있다.
실시예에 따라, 제1 및 제2 프로브 핀들(PPI1, PPI2)은 원장 기판(100)에 형성된 도전성 패드들(102)에 대응할 수 있다. 예컨대, 제1 전계 인가 모듈(241)에 구비된 제1 및 제2 프로브 핀들(PPI1, PPI2)은 상기 제1 전계 인가 모듈(241)이 구동될 때 원장 기판(100)의 좌측에 배치된 도전성 패드들(102)에 접촉되어 소정의 전압을 인가할 수 있도록 구성될 수 있다. 그리고, 제2 전계 인가 모듈(242)에 구비된 제1 및 제2 프로브 핀들(PPI1, PPI2)은 상기 제2 전계 인가 모듈(242)이 구동될 때 원장 기판(100)의 우측에 배치된 도전성 패드들(102)에 접촉되어 소정의 전압을 인가할 수 있도록 구성될 수 있다.
실시예에 따라, 전원 공급부(270)는, 제1 출력 단자(OUT1)를 통해 제1 전원선(PL1)으로 소정 파형 및/또는 전위를 가지는 소정의 전압(또는, 신호)를 공급하고, 제2 출력 단자(OUT2)를 통해 제2 전원선(PL2)으로 소정의 기준 전위를 가지는 레퍼런스 전압을 공급할 수 있다. 일 예로, 전원 공급부(270)는, 제1 전원선(PL1)으로 사인(sine) 파형을 가지는 교류 전압을 공급하고, 제2 전원선(PL2)으로 그라운드 전압을 공급할 수 있다. 실시예에 따라, 제1 및 제2 전원선(PL1, PL2)으로 공급되는 소정의 전압은 발광 소자들(LD)을 제1 및 제2 화소 전극(ELT1, ELT2)의 사이에 정렬하기 위한 소정의 정렬 신호일 수 있다.
한편, 실시예에 따라, 제1 제조 장치(200)는 적어도 하나의 추가적인 부품을 더 포함할 수 있다. 일 예로, 제1 제조 장치(200)는 제1 및/또는 제2 전계 인가 모듈(241, 242)의 내부 또는 그 주변에 배치되는 적어도 하나의 수평 가이드(HGD)와, 스테이지(230) 상에 구비되는 적어도 하나의 고정부(FXP)를 더 포함할 수 있다.
실시예에 따라, 스테이지(230) 상에 원장 기판(100)이 안착된 이후, 상기 원장 기판(100) 상에 발광 소자들(LD)을 배치하기 위한 공정이 시작되면, 제1 및 제2 전계 인가 모듈(241, 242)이 구동되어 원장 기판(100)의 도전성 패드들(102) 중 적어도 일부로 소정의 전압을 공급한다. 이에 따라, 원장 기판(100)에 위치된 적어도 하나의 셀(110A), 특히 상기 적어도 하나의 셀(110A)의 각 화소 영역에 형성된 제1 및 제2 화소 전극들(ELT1, ELT2)의 사이에 전계가 형성된다. 또한, 상기 공정이 시작되면, 적어도 하나의 프린팅 헤드(260)가 원장 기판(100)의 상부로 이동하여 상기 적어도 하나의 셀(110A)에 발광 소자들(LD)을 공급한다. 이에 따라, 상기 적어도 하나의 셀(110A)에 발광 소자들(LD)을 공급함과 동시에, 상기 발광 소자들(LD)을 상기 제1 및 제2 화소 전극들(ELT1, ELT2)의 사이에 정렬할 수 있게 된다. 즉, 실시예에 따라, 제1 및 제2 전계 인가 모듈(241, 242) 각각은, 발광 소자들(LD)의 정렬을 위한 소정의 정렬 신호를 공급하는 정렬 신호 인가 장치일 수 있다.
실시예에 따라, 제1 및 제2 전계 인가 모듈(241, 242)은 순차적 또는 교번적으로 구동될 수 있다. 예를 들어, 제1 및 제2 전계 인가 모듈(241, 242)은 동작 중인 프린팅 헤드(260)의 위치 및/또는 이동 방향에 대응하여 순차적으로 구동될 수 있다. 일 예로, 제1 및 제2 전계 인가 모듈(241, 242)은 프린팅 헤드(260)와의 충돌을 피할 수 있도록 순차적 또는 교번적으로 동작할 수 있다.
예를 들어, 도 11a 내지 도 11d에 도시된 바와 같이, 적어도 하나의 프린팅 헤드(260)는 스테이지(230)의 우측 상부로부터 좌측 상부로 이동하면서 상기 스테이지(230)의 상부에 액적(DRL)을 분사할 수 있다. 실시예에 따라, 상기 프린팅 헤드(260)는 스테이지(230)의 상부에 안착된 원장 기판(100)의 상부, 특히 상기 원장 기판(100) 상에 위치된 적어도 하나의 셀(110A)(일 예로, 상기 셀(110A)의 내부에 규정된 각각의 화소 영역)에, 발광 소자들(LD)이 분산된 발광 소자 용액을 액적(DRL)의 형태로 분사하면서 이동할 수 있다.
실시예에 따라, 프린팅 헤드(260)가 스테이지(230)의 우측으로 접근할 때 상기 스테이지(230)의 좌측에 위치된 제1 전계 인가 모듈(241), 특히 상기 제1 전계 인가 모듈(241)의 프로브 헤드(PHD)가 스테이지(230)의 좌측 상부로 이동할 수 있다. 예를 들어, 도 11a 및 도 11b에 도시된 바와 같이, 제1 전계 인가 모듈(241)은, 동작 중인 프린팅 헤드(260)(예컨대, 제1 프린팅 헤드(261))가 스테이지(230)의 우측 상부에 위치해있는 기간 동안, 상기 스테이지(230)의 좌측 상부에서 원장 기판(100)에 전계를 인가할 수 있다. 일 예로, 제1 전계 인가 모듈(241)은 원장 기판(100)의 좌측에 위치한 도전성 패드들(102)을 통해 상기 원장 기판(100)의 우측에 위치한 셀들(110A)에 소정의 정렬 전압을 인가할 수 있다. 한편, 이 기간 동안 제2 전계 인가 모듈(242)은 스테이지(230)를 기준으로 후진 및 하강한 상태에서 대기할 수 있다.
한편, 프린팅 헤드(260)가 스테이지(230)의 좌측으로 접근할 때 상기 스테이지(230)의 우측에 위치된 제2 전계 인가 모듈(242), 특히 상기 제2 전계 인가 모듈(242)의 프로브 헤드(PHD)가 스테이지(230)의 우측 상부로 이동할 수 있다. 예를 들어, 도 11c 및 도 11d에 도시된 바와 같이, 제2 전계 인가 모듈(242)은, 동작 중인 프린팅 헤드(260)가 스테이지(230)의 좌측 상부에 위치해있는 기간 동안, 상기 스테이지(230)의 우측 상부에서 원장 기판(100)에 전계를 인가할 수 있다. 일 예로, 제2 전계 인가 모듈(242)은 원장 기판(100)의 우측에 위치한 도전성 패드들(102)을 통해 상기 원장 기판(100)의 좌측에 위치한 셀들(110A)에 소정의 정렬 전압을 인가할 수 있다. 한편, 이 기간 동안 제1 전계 인가 모듈(241)은 스테이지(230)를 기준으로 후진 및 하강한 상태에서 대기할 수 있다.
상술한 실시예에 의하면, 적어도 하나의 프린팅 헤드(260)를 구동하여 원장 기판(100) 상에 발광 소자들(LD)을 공급함과 동시에, 적어도 하나의 전계 인가 모듈(240)을 구동하여 상기 원장 기판(100) 상에 상기 발광 소자들(LD)의 정렬을 유도하기 위한 전계를 인가할 수 있다. 특히, 상술한 실시예에서는 동작 중인 프린팅 헤드(260)의 위치에 따라 제1 및/또는 제2 전계 인가 모듈(241, 242)을 선택적으로 구동함으로써, 프린팅 헤드(260)와 전계 인가 모듈(240) 사이의 간섭 및/또는 충돌을 방지할 수 있다. 또한, 이에 따라 프린팅 헤드(260)의 이동 거리를 확장할 수 있게 되면서, 원장 기판(100) 상에서 발광 소자들(LD)을 공급할 수 있는 유효 영역(예컨대, 개별 셀들(110A)을 배치할 수 있는 영역)을 충분히 확보할 수 있게 된다.
도 12 및 도 13은 도 6의 제조 장치, 즉 제1 제조 장치(200)의 구동 방법에 대한 다른 실시예를 나타낸다. 도 12 및 도 13의 실시예에서, 도 10 내지 도 11d의 실시예와 유사 또는 동일한 구성에 대해서는 동일 부호를 부여하고, 이에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.
도 12 및 도 13을 참조하면, 실시예에 따라 제1 및 제2 전계 인가 모듈(241, 242)은 동시에 구동될 수도 있다. 예를 들어, 상기 제1 및 제2 전계 인가 모듈(241, 242)은 서로 독립적 및/또는 개별적으로 구동될 수 있고, 필요에 따라서는 동시에 구동될 수도 있다.
일 예로, 각각의 제1 및 제2 정렬 배선(AL1, AL2)이 원장 기판(100)의 좌측 및 우측에 배치된 복수의 도전성 패드들(102)에 동시 접속된다고 할 때, 제1 및 제2 전계 인가 모듈(241, 242)을 동시에 구동하여 원장 기판(100)의 양단을 통해 소정의 전계를 인가할 수 있다. 이 경우, 제1 및 제2 정렬 배선(AL1, AL2)에서 발생하는 전압 강하를 저감 또는 최소화함으로써, 각 셀(110A)의 내부에 발광 소자들(LD)을 원활히 정렬할 수 있게 된다.
또는, 다른 실시예에서, 각 셀(110A)은 원장 기판(100)의 양측에 배치된 도전성 패드들(102) 중 가장 인접한 적어도 한 쌍의 도전성 패드들(102)에 접속되고, 상기 셀(110A)의 내부에 발광 소자들(LD)이 공급되는 기간 동안 상기 적어도 한 쌍의 도전성 패드들(102)로부터 소정의 전압을 인가받을 수 있다. 예를 들어, 원장 기판(100)의 좌측에 배치된 셀들(110A)은 상기 원장 기판(100)의 좌측 가장자리에 배치된 도전성 패드들(102)로부터, 원장 기판(100)의 우측에 배치된 셀들(110A)은 상기 원장 기판(100)의 우측 가장자리에 배치된 도전성 패드들(102)로부터 소정의 전압을 공급받을 수 있다. 이 경우에도 제1 및 제2 정렬 배선(AL1, AL2)에서 발생하는 전압 강하를 저감 또는 최소화함으로써, 각 셀(110A)의 내부에 발광 소자들(LD)을 원활히 정렬할 수 있게 된다.
도 14 내지 도 16은 도 6의 제조 장치, 즉 제1 제조 장치(200)에 구비될 수 있는 전계 인가 모듈(240)의 배치와 관련한 다양한 실시예를 나타낸다. 그리고, 도 17a 및 도 17b는 도 6의 제조 장치, 즉 상기 제1 제조 장치(200)에 구비될 수 있는 프린팅 헤드(260)와 관련한 다양한 실시예를 나타낸다. 도 14 내지 도 17b에서는 스테이지(230) 및 프린팅 헤드(260)의 위치 및/또는 이동 방향에 따른 전계 인가 모듈(240)의 위치 등만을 개략적으로 도시하기로 한다.
도 14를 참조하면, 일 실시예에서, 스테이지(230)와 프린팅 헤드(260)는 서로 직교하는 방향을 따라 이동할 수 있다. 일 예로, 스테이지 무빙 방식의 제1 제조 장치(200)에서, 스테이지(230)는 Y-축 방향을 따라 큰 폭으로 이동하고, 프린팅 헤드(260)는 X-축 방향을 따라 상대적으로 작은 폭으로 이동할 수 있다. 이에 따라, 상기 스테이지(230) 상부의 유효 영역에 전면적으로 발광 소자들(LD)을 공급할 수 있게 된다. 상기 실시예에서, 제1 및 제2 전계 인가 모듈(241, 242)은 스테이지(230)의 이동을 방해하지 않도록 상기 스테이지(230)의 좌측 및 우측에 배치될 수 있다. 이에 따라, 스테이지(230)가 Y-축 방향을 따라 큰 폭으로 이동하더라도, 상기 스테이지(230)가 제1 및 제2 전계 인가 모듈(241, 242), 특히 상기 제1 및 제2 전계 인가 모듈(241, 242)의 프로브 헤드(PHD1, PHD2)와 충돌하는 것을 방지할 수 있다. 또한, 앞서 설명한 실시예에서와 같이 제1 및 제2 전계 인가 모듈(241, 242)은 프린팅 헤드(260)와의 충돌을 방지할 수 있도록 구동될 수 있다.
도 15를 참조하면, 일 예로 헤드 무빙 방식의 제1 제조 장치(200)에서, 스테이지(230)는 X-축 방향을 따라 비교적 큰 폭으로 이동하고, 프린팅 헤드(260)는 Y-축 방향을 따라 이동할 수 있다. 상기 실시예에서, 제1 및 제2 전계 인가 모듈(241, 242)은 스테이지(230)의 이동을 방해하지 않도록 상기 스테이지(230)의 상단 및 하단 측에 배치될 수 있다.
도 16을 참조하면, 또 다른 실시예에서는, 스테이지(230)의 적어도 세 측면에 전계 인가 모듈(240)이 배치될 수도 있다. 예를 들어, 전계 인가 모듈(240)은, 스테이지(230)의 네 측면 모두에 배치될 수 있다. 일 예로, 상기 실시예에 의한 제1 제조 장치(200)는, 스테이지(230)의 제3 측, 일 예로 상단 측에 배치되는 제3 전계 인가 모듈(243)과, 상기 스테이지(230)의 제4 측, 일 예로 하단 측에 배치되는 제4 전계 인가 모듈(244)을 더 포함할 수 있다. 실시예에 따라, 각각의 전계 인가 모듈(240)은 실질적으로 동일하게 구성되어, 각각 두 개의 전계 인가 모듈(240)이 서로 마주하도록 배치될 수 있다. 또한, 각각의 전계 인가 모듈(240)은, 각각의 프로브 헤드(PHD1, PHD2, PHD3, PHD4)가 스테이지(230) 및/또는 프린팅 헤드(260)와 충돌하는 것을 방지하도록 구동될 수 있다.
도 16의 실시예에서, 프린팅 헤드(260)는 X-축 및 Y-축 방향을 따라 이동할 수 있도록 설계될 수 있다. 또는, 다른 실시예에서, 프린팅 헤드(260)는 도 17a 및 도 17b에 도시된 바와 같이 X-축 또는 Y-축 방향을 따라 확장된 길이를 가지면서, 길이 방향에 교차하는 방향으로 이동하도록 설계될 수도 있다.
상술한 실시예들에 의하면, 스테이지(230), 전계 인가 모듈(240) 및/또는 프린팅 헤드(260)의 상호 간섭 및/또는 충돌을 방지하면서, 상기 스테이지(230) 상부의 유효 영역에 발광 소자들(LD)을 원활히 공급함과 동시에 상기 발광 소자들(LD)의 정렬을 위한 전계를 인가할 수 있다.
도 6 내지 도 17b의 실시예들에 의한 발광 표시 장치의 제조 장치, 즉 제1 제조 장치(200)는, 발광 소자들(LD)의 공급을 위한 프린팅 헤드(260)와, 상기 발광 소자들(LD)의 정렬을 위한 전계 인가 모듈(240)을 포함한다. 예를 들어, 상기 전계 인가 모듈(240)은 발광 소자들(LD)의 자가 정렬을 유도하기 위한 소정의 정렬 전압을 원장 기판(100)(또는, 발광 표시 패널(110)의 기판(111)) 상에 전달할 수 있다. 이에 따라, 상기 제1 제조 장치(200)의 스테이지(230) 상에 안착된 원장 기판(100)(또는, 발광 표시 패널(110)의 기판(111)) 상에 발광 소자들(LD)을 공급함과 동시에, 상기 발광 소자들(LD)을 각 화소(PXL)의 제1 및 제2 화소 전극(ELT1, ELT2)의 사이에 정렬할 수 있다.
또한, 상기 전계 인가 모듈(240)은, 프로브 헤드(PHD)의 수평 이동을 위한 제1 구동부(LA1)와, 상기 프로브 헤드(PHD)의 수직 이동을 위한 제2 구동부(LA2)를 포함한다. 이에 따라, 상기 전계 인가 모듈(240)의 이동을 용이하게 제어할 수 있다.
또한, 일 실시예에서, 상기 제1 제조 장치(200)는 순차 및/또는 동시 구동이 가능한 복수의 전계 인가 모듈(240)을 포함할 수 있다. 상기 실시예에 의하면, 상기 전계 인가 모듈(240)과 프린팅 헤드(260)의 상호 간섭 및/또는 충돌을 방지하면서, 원장 기판(100)(또는, 발광 표시 패널(110)의 기판(111)) 상에 원활히 전계를 인가할 수 있다.
도 18 및 도 19는 각각 본 발명의 일 실시예에 의한 발광 표시 장치의 제조 장치(300)를 나타낸다. 구체적으로, 도 18 및 도 19는 발광 표시 패널(110)의 기판(111) 또는 원장 기판(100) 상에 발광 소자들(LD)과 함께 공급된 용매를 제거하는 데에 이용될 수 있는 제조 장치(300)(이하, "제2 제조 장치(300)"라 함)의 실시예를 나타낸다. 일 예로, 상기 제2 제조 장치(300)는, 발광 표시 패널(110)의 기판(111) 또는 원장 기판(100) 상에 발광 소자들(LD)을 포함한 액적(DRL)을 공급하는 과정에서 상기 발광 소자들(LD)과 함께 공급된 용매를 제거하기 위한 건조 장치일 수 있다. 또한, 실시예에 따라, 상기 제2 제조 장치(300)는 발광 표시 패널(110)의 기판(111) 또는 원장 기판(100)을 수용할 수 있는 오븐 타입의 건조 장치일 수 있으나, 이에 한정되지는 않는다. 도 18 및 도 19의 실시예에 의한 제2 제조 장치(300)에서, 도 6 내지 도 17b의 실시예에 의한 제1 제조 장치(200)와 유사 또는 동일한 구성에 대해서는 동일 부호를 부여하고, 이에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.
도 18 및 도 19에서, 도면 부호 "340(또는, 340')"은 하나 이상의 전계 인가 모듈에 포괄적으로 대응할 수 있다. 예를 들어, 도면 부호 "340(또는, 340')"은 각각의 전계 인가 모듈, 또는 복수의 전계 인가 모듈들에 모두 대응할 수 있다.
도 18 및 도 19를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 의한 제2 제조 장치(300)는, 챔버(360) 내에 배치된 스테이지("제2 스테이지"라고도 함)(330)와, 상기 스테이지(330)의 적어도 일 측에 구비되는 적어도 하나의 전계 인가 모듈(340, 340')과, 상기 스테이지(330)의 주변에 구비되는 발열체(350)를 포함한다. 또한, 실시예에 따라, 상기 제2 제조 장치(300)는 주정반(310) 및/또는 보조정반(320) 등을 더 포함할 수 있다.
실시예에 따라, 제2 제조 장치(300)는, 스테이지(330)의 제1 측에 배치되는 제1 전계 인가 모듈(341, 341')과, 상기 스테이지(330)의 제2 측에 배치되는 제2 전계 인가 모듈(342, 342') 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 실시예에 따라, 상기 스테이지(330)의 제1 측과 제2 측은 서로 마주하는 반대편 단부일 수 있다. 일 예로, 상기 제1 측 및 상기 제2 측은 각각 상기 스테이지(330)의 좌측 및 우측일 수 있다. 즉, 제1 및 제2 전계 인가 모듈(341, 341', 342, 342')은 스테이지(330)의 서로 마주하는 양측 각각에 인접하여 배치될 수 있다. 다만, 본 발명이 이에 한정되지는 않으며, 제1 및 제2 전계 인가 모듈(341, 341', 342, 342')의 위치는 변경될 수 있다. 또한, 본 발명의 다른 실시예에서는, 스테이지(330)의 어느 일 측에만 단일의 전계 인가 모듈(340, 340')이 배치될 수도 있다.
실시예에 따라, 제1 및 제2 전계 인가 모듈(341, 341', 342, 342')은 서로 독립적 및/또는 개별적으로 구동될 수 있다. 이에 따라, 제1 및 제2 전계 인가 모듈(341, 341', 342, 342')을 용이하게 선택적으로 구동할 수 있다.
또한, 실시예에 따라, 제1 및 제2 전계 인가 모듈(341, 341', 342, 342')은 동시에 구동될 수도 있다. 이에 따라, 발광 표시 패널(110)의 기판(111) 또는 원장 기판(100) 상에 원하는 전계를 원활히 공급할 수 있다.
실시예에 따라, 각각의 전계 인가 모듈(340, 340')은, 앞서 설명한 제1 제조 장치(200)에 구비된 각각의 전계 인가 모듈(240)과 실질적으로 동일 또는 유사하게 구성될 수 있다. 이하에서는 도 18 및 도 19를 도 7과 함께 참조하여, 본 실시예에 의한 제2 제조 장치(300)(일 예로, 건조 장치)에 구비되는 전계 인가 모듈(340, 340')의 구성을 설명하기로 한다.
일 실시예에서, 제2 제조 장치(300)의 전계 인가 모듈(340)은, 제1 제조 장치(200)에 구비되는 전계 인가 모듈, 일 예로 도 7의 실시예에 의한 전계 인가 모듈(240)과 실질적으로 동일 또는 유사하게 구성될 수 있다. 일 예로, 도 18의 실시예에 의한 제2 제조 장치(300)의 전계 인가 모듈(340)은, 도 7에 도시된 제1 제조 장치(200)의 전계 인가 모듈(240)과 같이, 적어도 하나의 프로브 핀(PPI)을 구비한 프로브 헤드(PHD)와, 상기 프로브 헤드(PHD)를 각각 수평 방향 및 수직 방향을 따라 이동시키기 위한 제1 및 제2 구동부(LA1, LA2)와, 상기 프로브 헤드(PHD)와 제1 및 제2 구동부(LA1, LA2)에 결합되는 바디부(BD)를 포함할 수 있다. 또한, 실시예에 따라, 제2 제조 장치(300)에 구비되는 각각의 전계 인가 모듈(340)은, 제1 및/또는 제2 구동부(LA1, LA2)의 주변에 배치되어 프로브 헤드(PHD)의 위치를 감지하는 적어도 하나의 센서 유닛(일 예로, 제1 및/또는 제2 센서 유닛(SEU1, SEU2))과, 바디부(BD)에 결합되는 적어도 하나의 리니어 모션 가이드(일 예로, 제1 및/또는 제2 리니어 모션 가이드(LM1, LM2))를 선택적으로 더 포함할 수 있다. 실시예에 따라, 제1 구동부(LA1)는 프로브 헤드(PHD)를 전후 또는 좌우로 수평 이동시키고, 제2 구동부(LA2)는 상기 프로브 헤드(PHD)를 상하로 수직 이동시킬 수 있다. 이에 따라, 제2 제조 장치(300)에 구비된 전계 인가 모듈(340)의 이동을 용이하게 제어할 수 있다.
한편, 도 19의 실시예에 의한 제2 제조 장치(300)에서, 각각의 전계 인가 모듈(340')은, 상하로 수직 이동만 가능하도록 구성될 수도 있다. 일 예로, 상기 제2 제조 장치(300)의 제1 및 제2 전계 인가 모듈(341', 342') 각각은, 프로브 헤드(PHD)의 수평 이동을 위한 제1 구동부(LA1)는 구비하지 않고, 상기 프로브 헤드(PHD)의 수직 이동만을 위한 제2 구동부(LA2)만을 구비할 수 있다. 이 경우, 각각의 프로브 헤드(PHD)는 상하로 수직 이동될 수 있다.
또한, 제2 제조 장치(300)는 각각의 전계 인가 모듈(340, 340')에 소정의 전압을 공급하기 위한 장치, 일 예로 도 10에 도시된 전원 공급부(270)를 더 포함할 수 있다. 예를 들어, 프로브 헤드(PHD)는, 도 10에 도시된 바와 같이 제1 전원선(PL1)에 연결되는 적어도 하나의 제1 프로브 핀(PPI1)(일 예로, 상기 제1 전원선(PL1)에 공통으로 연결되는 복수의 제1 프로브 핀들(PPI1))과, 제2 전원선(PL2)에 연결되는 적어도 하나의 제2 프로브 핀(PPI2)(일 예로, 상기 제1 프로브 핀들(PPI1) 각각과 쌍을 이루며, 상기 제2 전원선(PL2)에 공통으로 연결되는 복수의 제2 프로브 핀들(PPI2))을 구비할 수 있다. 그리고, 전원 공급부(270)는 각각 제1 및 제2 전원선(PL1, PL2)을 통해 각각 적어도 하나의 제1 및 제2 프로브 핀(PPI1, PPI2)에 연결될 수 있다. 실시예에 따라, 전원 공급부(270)는, 제1 전원선(PL1)을 통해 적어도 하나의 제1 프로브 핀(PPI1)으로 교류 또는 직류 신호를 공급하고, 제2 전원선(PL2)을 통해 적어도 하나의 제2 프로브 핀(PPI2)으로 소정의 기준 전위를 가지는 레퍼런스 전압을 공급할 수 있다.
실시예에 따라, 발열체(350)는 스테이지(330)의 상부에, 상기 스테이지(330)로부터 이격되어 배치될 수 있다. 일 예로, 발열체(350)는 챔버(360)의 천장에 배치되어, 스테이지(330)를 향해 열을 방출할 수 있다. 실시예에 따라, 발열체(350)의 형상, 크기, 구조 및/또는 구성 물질이 특별히 한정되지는 않으며, 상기 발열체(350)는 현재 공지된 다양한 발열 물질을 포함할 수 있다.
또한, 실시예에 따라 발열체(350)의 위치는 변경될 수 있다. 예를 들어, 본 발명의 다른 실시예에서는 챔버(360)의 적어도 일 측 코너부 및/또는 적어도 일 측벽 상에 적어도 하나의 발열체(350)가 배치될 수도 있을 것이다.
도 20a는 도 18 및 도 19의 제조 장치, 즉 제2 제조 장치(300)의 구동 방법에 대한 일 실시예를 나타낸다. 그리고, 도 20b는 도 20a의 일 영역(EA 영역)에 대한 실시예를 나타낸다. 실시예에 따라, 도 20a의 EA 영역은, 각 화소(PXL)의 발광 영역일 수 있다. 도 20a 및 도 20b의 실시예에서, 앞서 설명한 실시예들과 유사 또는 동일한 구성에 대해서는 동일 부호를 부여하고, 이에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.
도 20a 및 도 20b를 참조하면, 앞서 설명한 제1 제조 장치(200) 등을 이용한 프린팅 방식 등을 통해 원장 기판(100)의 각 셀(110A) 내에 발광 소자들(LD)을 공급하였을 경우, 상기 각 셀(110A)의 내부에 규정된 각각의 화소 영역, 특히 뱅크(BNK)에 의해 둘러싸인 각 화소(PXL)의 발광 영역(EA)에는, 발광 소자들(LD)과 함께 LED 용액의 용매(SOL)가 공급되게 된다. 따라서, 각각의 발광 영역(EA)에 발광 소자들(LD)이 공급된 이후에는 용매(SOL)를 제거하여 제1 및 제2 화소 전극(ELT1, ELT2)의 사이에 발광 소자들(LD)을 안정적으로 배치할 수 있다.
실시예에 따라, 도 18 또는 도 19의 실시예 등에 의한 제2 제조 장치(300), 일 예로 발열체(350)를 구비한 오븐 형태의 건조 장치를 이용하여 상기 용매(SOL)를 제거할 수 있다. 일 예로, 제2 제조 장치(300)에 구비된 적어도 하나의 전계 인가 모듈(340, 340')을 이용하여 스테이지(330)의 상부에 안착된 원장 기판(100) 상에 전계를 형성한 상태에서, 상기 제2 제조 장치(300)의 발열체(350)를 구동하여 원장 기판(100)에 공급된 용매(SOL)를 제거할 수 있다.
예를 들어, 제2 제조 장치(200)의 제1 및 제2 전계 인가 모듈(341, 341', 342, 342')을 상하로 이동시켜 프로브 핀들(PPI)을 원장 기판(100) 상의 도전성 패드들(102)에 접촉시키고, 상기 도전성 패드들(102)에 소정의 정렬 전압을 인가할 수 있다. 이에 따라, 각 화소(PXL)의 제1 및 제2 화소 전극(ELT1, ELT2)에 정렬 전압이 인가된 상태에서, 발열체(350)를 구동하여 원장 기판(100)에 열을 공급함에 의해 용매(SOL)를 제거할 수 있다.
이와 같이, 각 화소(PXL)의 제1 및 제2 화소 전극(ELT1, ELT2)에 정렬 전압이 인가된 상태에서 용매(SOL)를 제거하게 되면, 용매(SOL)를 제거하는 과정에서 발광 소자들(LD)의 정렬이 틀어지는 현상을 방지할 수 있다. 예를 들어, 용매(SOL) 건조 시, 용매(SOL)의 유동이나 증기가 발생하더라도 정렬 전압에 의해 제1 및 제2 화소 전극(ELT1, ELT2)의 사이에 형성된 전계에 의해 발광 소자들(LD)의 유동 및/또는 이탈이 방지될 수 있다. 이에 따라, 각 화소(PXL)의 발광 영역(EMA)에 발광 소자들(LD)을 안정적으로 정렬하고, 그 정렬의 품질을 높일 수 있다.
도 21은 도 18 및 도 19의 제조 장치, 즉, 제2 제조 장치(300)의 구동 방법에 대한 일 실시예를 나타낸다. 도 21의 실시예에서, 앞서 설명한 실시예들과 유사 또는 동일한 구성에 대해서는 동일 부호를 부여하고, 이에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.
도 21을 도 20a 및 도 20b와 함께 참조하면, 실시예에 따라, 복수의 챔버들(360), 일 예로 적어도 제1 및 제2 챔버(361, 362)의 내부에서, 복수의 원장 기판들(100)에 대한 용매(SOL) 건조 공정을 동시에 진행할 수 있다. 한편, 본 발명의 실시예를 설명함에 있어, 적어도 하나의 원장 기판(100) 상에서 복수의 발광 표시 패널들(110)을 동시에 제조하는 예를 설명하였으나, 본 발명이 이에 한정되지는 않는다. 예를 들어, 본 발명의 다른 실시예에서는 개개의 발광 표시 패널(110)을 제조하기 위한 개개의 기판(111)을 잉크젯 프린터 및/또는 건조 장치의 스테이지(230) 상에 배치하고, 상기 기판(111)에 대하여 발광 소자들(LD)의 공급 공정 및/또는 용매(SOL) 건조 공정을 진행할 수도 있다.
도 22 및 도 23은 각각 본 발명의 일 실시예에 의한 발광 표시 장치의 제조 장치(300)를 나타낸다. 그리고, 도 24는 도 22 및 도 23의 제조 장치(300)의 구동 방법에 대한 일 실시예를 나타낸다. 구체적으로, 도 22 및 도 23은 발광 표시 패널(110)의 기판(111) 또는 원장 기판(100) 상에 발광 소자들(LD)과 함께 공급된 용매를 제거하는 데에 이용될 수 있는 제2 제조 장치(300)와 관련하여, 도 18 및 도 19의 실시예들과 다른 실시예를 나타내고, 도 24는 도 22 또는 도 23의 제2 제조 장치(300)를 이용한 용매(SOL) 건조 방법에 대한 실시예를 나타낸다. 실시예에 따라, 도 22 내지 도 24의 실시예들에 의한 제2 제조 장치(300)는 발광 표시 패널(110)의 기판(111) 또는 원장 기판(100)에 열을 가할 수 있는 핫 플레이트 타입의 건조 장치일 수 있다. 도 22 내지 도 24의 실시예에 의한 제2 제조 장치(300)를 설명함에 있어, 앞서 설명한 실시예들, 일 예로 도 18 내지 도 20b의 실시예에 의한 제2 제조 장치(300)와 유사 또는 동일한 구성에 대해서는 동일 부호를 부여하고, 이에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.
먼저 도 22 및 도 23을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 의한 제2 제조 장치(300)는, 스테이지(330)의 내부에 배치되는 발열체(350')를 포함할 수 있다. 일 예로, 스테이지(330)는, 발열체(350')를 포함한 핫 플레이트(331)를 구비할 수 있다. 실시예에 따라, 핫 플레이트(331)는 스테이지(330)의 상단부에 배치될 수 있으나, 핫 플레이트(331)의 위치가 이에 한정되지는 않는다.
도 24를 참조하면, 상기 제2 제조 장치(300)에 구비된 전계 인가 모듈(340, 340')을 이용하여 스테이지(330)의 상부에 안착된 원장 기판(100)(또는, 발광 표시 패널(110)의 개별 기판(111)) 상에 소정의 정렬 전압을 인가하면서, 발열체(350')를 구동하여 상기 원장 기판(100) 상에 공급된 용매(SOL)를 제거할 수 있다. 이에 따라, 상기 원장 기판(100) 상에 발광 소자들(LD)을 안정적으로 정렬하고, 그 정렬의 품질을 높일 수 있다.
도 18 내지 도 24의 실시예들에 의한 발광 표시 장치의 제조 장치, 즉 제2 제조 장치(300)는, 발열체(350, 350')와 더불어, 전계 인가 모듈(340, 340')을 포함한다. 이에 따라, 상기 제2 제조 장치(300)의 스테이지(330) 상에 안착된 발광 표시 패널(110)의 기판(111) 또는 원장 기판(100) 상에 소정의 정렬 전압을 공급하여 발광 소자들(LD)의 이탈을 방지하면서, LED 용액의 용매(SOL)를 안정적으로 제거할 수 있다.
도 25 및 도 26은 본 발명의 일 실시예에 의한 발광 표시 장치의 제조 장치(400)를 나타낸다. 구체적으로, 도 25 및 도 26은 발광 표시 패널(110)의 기판(111) 또는 원장 기판(100)을 이송하는 데에 이용될 수 있는 제조 장치(400)(이하, "제3 제조 장치(400)"라 함)의 실시예를 나타내는 평면도 및 측면도이다. 일 예로, 상기 제3 제조 장치(400)는, 발광 표시 패널(110)의 제조 과정에서, 복수의 발광 표시 패널들(110)을 한 번에 제조하기 위한 원장 기판(100) 또는 각각의 발광 표시 패널(110)을 개별적으로 제조하기 위한 각각의 기판(111)을, 소정의 공정을 진행하기 위한 제조 장치(제조 설비)로 이송하기 위한 기판 이송 장치일 수 있다.
도 25 및 도 26에서, 도면 부호 "440"은 하나 이상의 전계 인가 모듈에 포괄적으로 대응하며, 예를 들어 각각의 전계 인가 모듈, 또는 복수의 전계 인가 모듈들에 모두 대응할 수 있다. 또한, 도면 부호 "SPL"은 하나 이상의 지지판에 포괄적으로 대응하며, 예를 들어 각각의 지지판, 또는 복수의 지지판들에 모두 대응할 수 있다.
도 25 및 도 26을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 의한 제3 제조 장치(400)는, 기판 이송 스테이지(410)와, 상기 기판 이송 스테이지(410)의 적어도 일 측에 구비되는 적어도 하나의 전계 인가 모듈(440)을 포함한다. 일 예로, 제3 제조 장치(400)는, 기판 이송 스테이지(410)의 서로 다른 일 측에 장착된 복수의 전계 인가 모듈들(440)을 포함할 수 있다. 도 25 및 도 26에서는 프로브 헤드(PHD)를 중심으로 각각의 전계 인가 모듈(440)을 개략적으로 도시함으로써, 기판 이송 스테이지(410)와 전계 인가 모듈(440)의 상호 위치를 명료하게 나타내기로 한다. 실시예에 따라, 상기 전계 인가 모듈(440)은 앞서 설명한 제1 및/또는 제2 제조 장치(200, 300)에 구비된 전계 인가 모듈(240, 340)과 실질적으로 유사 또는 동일하게 구성될 수 있으나, 이에 한정되지는 않는다. 또한, 실시예에 따라, 제3 제조 장치(400)는, 전계 인가 모듈(440)에 연결되는 전원 공급부(470)를 더 포함할 수 있다. 한편, 실시예에 따라서는, 상기 전원 공급부(470)를 전계 인가 모듈(440)의 구성요소들 중 일부로 간주할 수도 있다.
실시예에 따라, 기판 이송 스테이지(410)는 로봇 암일 수 있으나, 이에 한정되지는 않는다. 상기 기판 이송 스테이지(410)는, 제1 방향(일 예로, X-축 방향)을 따라 소정 간격으로 배치되는 복수의 지지판들(SPL)과, 상기 지지판들(SPL)에 일체 또는 비일체로 연결되는 바디부, 일 예로, 암 바디(ABD)를 포함할 수 있다. 예를 들어, 지지판들(SPL)은, 기판 이송 스테이지(410)의 제1 가장자리(일 예로, 좌측 가장자리)에 배치되는 제1 지지판(SPL1), 상기 기판 이송 스테이지(410)의 제2 가장자리(일 예로, 우측 가장자리)에 배치되는 제2 지지판(SPL2), 및 상기 제1 및 제2 지지판(SPL1, SPL2)의 사이에 배치되는 적어도 하나의 제3 지지판(SPL3)을 포함할 수 있다. 상기 지지판들(SPL)은 제1 방향을 따라 서로 이격되도록 배치되며, 상기 지지판들(SPL) 각각은 제1 방향과 교차하는 제2 방향(일 예로, Y-축 방향)을 따라 연장되는 형태를 가질 수 있다. 이러한 지지판들(SPL)은 암 바디(ABD)에 연결될 수 있다. 일 예로, 암 바디(ABD)의 적어도 일 영역은 제1 방향을 따라 연장되어 지지판들(SPL)에 공통으로 연결될 수 있다.
실시예에 따라, 기판 이송 스테이지(410)의 적어도 일 측에는 적어도 하나의 전계 인가 모듈(440)이 구비될 수 있다. 예를 들어, 기판 이송 스테이지(410)의 제1 측에는 제1 전계 인가 모듈(441)이 장착되고, 상기 기판 이송 스테이지(410)의 제2 측에는 제2 전계 인가 모듈(442)이 장착될 수 있다. 실시예에 따라, 상기 제1 및 제2 전계 인가 모듈(441, 442)은 서로 마주하도록 배치될 수 있다. 일 예로, 제1 전계 인가 모듈(441)은 제1 지지판(SPL1)의 주변에 배치되고, 제2 전계 인가 모듈(442)은 상기 제1 전계 인가 모듈(441)과 마주하도록 제2 지지판(SPL2)의 주변에 배치될 수 있다.
일 실시예에서, 제1 및 제2 전계 인가 모듈(441, 442)은 각각 제1 및 제2 지지판(SPL1, SPL2)에 일체 또는 비일체로 결합될 수 있다. 다만, 본 발명이 이에 한정되지는 않는다. 예를 들어, 다른 실시예에서는, 제1 및 제2 전계 인가 모듈(441, 442)이 각각 제1 및 제2 지지판(SPL1, SPL2)의 주변에 배치되되, 상기 제1 및 제2 지지판(SPL1, SPL2)으로부터 분리되어 배치될 수도 있다.
실시예에 따라, 제1 및 제2 전계 인가 모듈(441, 442)은 서로 독립적 및/또는 개별적으로 구동될 수 있다. 이에 따라, 제1 및 제2 전계 인가 모듈(441, 442)을 용이하게 선택적으로 구동할 수 있다.
또한, 실시예에 따라, 제1 및 제2 전계 인가 모듈(441, 442)은 동시에 구동될 수도 있다. 이에 따라, 발광 표시 패널(110)의 기판(111) 또는 원장 기판(100)의 이송 중에, 상기 기판(111) 또는 원장 기판(100) 상에 원하는 전압(일 예로, 소정의 정렬 전압)을 원활히 공급할 수 있다.
실시예에 따라, 각각의 전계 인가 모듈(440)은 수평 이동 및/또는 수직 이동이 가능하도록 구성될 수 있다. 예를 들어, 각각의 전계 인가 모듈(440)은 X-축 방향을 따른 전후 또는 좌우로의 수평 이동과, Z-축 방향을 따른 상하로의 수직 이동이 모두 가능하도록 구성될 수 있다. 또는, 다른 실시예에서, 각각의 전계 인가 모듈(440)은 Z-축 방향을 따른 수직 이동(예컨대, 상하 이동)만이 가능하도록 구성될 수도 있다.
실시예에 따라, 전원 공급부(470)는, 적어도 하나의 프로브 핀(PPI)에 연결되어, 상기 프로브 핀(PPI)으로 소정의 전압 또는 신호를 공급한다. 일 예로, 전원 공급부(470)는 각각 제1 및 제2 전원선(PL1, PL2)을 통해 서로 다른 복수의 프로브 핀들(PPI)에 연결될 수 있다. 일 실시예에서, 전원 공급부(470)는, 제1 출력 단자(OUT1)를 통해 제1 전원선(PL1)으로 소정 파형 및/또는 전위를 가지는 소정의 전압(또는, 신호)를 공급하고, 제2 출력 단자(OUT2)를 통해 제2 전원선(PL2)으로 소정의 기준 전위를 가지는 레퍼런스 전압을 공급할 수 있다.
상술한 실시예에 의한 제3 제조 장치(400)에 의하면, 기판 이송 스테이지(410)를 이용해 발광 표시 패널(110)의 기판(111) 또는 원장 기판(100)을 이송하는 중에도 상기 기판(111) 또는 원장 기판(100)에 소정의 정렬 전압을 인가할 수 있다. 이에 따라, 상기 기판(111) 또는 원장 기판(100)의 이송 도중에 발광 소자들(LD)이 정렬된 위치에서 이탈하는 것을 방지할 수 있다.
도 27 및 도 28은 도 25 및 도 26의 전계 인가 모듈(440)의 구성 및 배치와 관련한 실시예를 나타낸다. 도 27 및 도 28의 실시예에 의한 전계 인가 모듈(440)에서, 앞서 설명한 제1 및/또는 제2 제조 장치(200, 300)에 구비되는 전계 인가 모듈(240, 340)과 유사 또는 동일한 구성에 대해서는 동일 부호를 부여하고, 이에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.
도 27 및 도 28을 참조하면, 제3 제조 장치(400)에 구비되는 각각의 전계 인가 모듈(440)은, 제1 및/또는 제2 제조 장치(200, 300)에 구비되는 각각의 전계 인가 모듈(240, 340)과 실질적으로 동일 또는 유사하게 구성될 수 있다. 예를 들어, 제3 제조 장치(400)에 구비되는 각각의 전계 인가 모듈(440)은, 적어도 하나의 프로브 핀(PPI)을 구비한 프로브 헤드(PHD)와, 상기 프로브 헤드(PHD)를 각각 수평 방향 및 수직 방향을 따라 이동시키기 위한 제1 및 제2 구동부(LA1, LA2)와, 상기 프로브 헤드(PHD)와 제1 및 제2 구동부(LA1, LA2)에 결합되는 바디부(BD)를 포함할 수 있다. 또한, 제3 제조 장치(400)의 전계 인가 모듈(440) 각각은, 제1 및/또는 제2 구동부(LA1, LA2)의 주변에 배치되어 프로브 헤드(PHD)의 위치를 감지하는 적어도 하나의 센서 유닛(일 예로, 제1 및/또는 제2 센서 유닛(SEU1, SEU2))과, 바디부(BD)에 결합되는 적어도 하나의 리니어 모션 가이드(일 예로, 제1 및/또는 제2 리니어 모션 가이드(LM1, LM2))를 선택적으로 더 포함할 수 있다.
실시예에 따라, 제1 구동부(LA1)는 프로브 헤드(PHD)를 전후 또는 좌우로 수평 이동시키고, 제2 구동부(LA2)는 상기 프로브 헤드(PHD)를 상하로 수직 이동시킬 수 있다. 이에 따라, 제3 제조 장치(400)에 구비된 전계 인가 모듈(440)의 이동을 용이하게 제어할 수 있다.
실시예에 따라, 프로브 헤드(PHD)는 복수의 프로브 핀들(PPI)을 포함할 수 있다. 일 예로, 프로브 헤드(PHD)는 도 10에 도시된 바와 같이, 적어도 하나의 제1 프로브 핀(PPI1) 및 적어도 하나의 제2 프로브 핀(PPI2)을 포함할 수 있다. 상기 제1 및 제2 프로브 핀(PPI1, PPI2)은 각각 제1 및 제2 전원선(PL1, PL2)을 통해 도 25의 전원 공급부(470)에 연결될 수 있다.
실시예에 따라, 각각의 전계 인가 모듈(440)은, 기판 이송 스테이지(410)의 어느 일 측에 배치될 수 있다. 예를 들어, 각각의 전계 인가 모듈(440)은, 기판 이송 스테이지(410)의 어느 일 가장자리에 배치되는 어느 하나의 지지판, 일 예로, 도 25 및 도 26의 제1 또는 제2 지지판(SPL1, SPL2)의 주변에 배치될 수 있다.
일 실시예에서, 각각의 전계 인가 모듈(440)은, 도 27에 도시된 바와 같이, 어느 하나의 지지판(SPL)의 주변에 배치되되 상기 지지판(SPL)에 직접적으로 연결 및 결합되지는 않을 수 있다. 예를 들어, 각각의 전계 인가 모듈(440)은 어느 하나의 지지판(SPL)에 이웃하도록 배치되어, 상기 지지판(SPL)에 접촉되거나 또는 접촉되지 않을 수 있다. 또한, 상기 전계 인가 모듈(440)은, 상기 지지판(SPL)을 포함하는 기판 이송 스테이지(410)에 연결 또는 결합되어 상기 기판 이송 스테이지(410)와 함께 이동되거나, 또는 상기 기판 이송 스테이지(410)에 연결 또는 결합되지 않고 독립적으로 이동될 수 있다.
다른 실시예에서, 각각의 전계 인가 모듈(440)은, 도 28에 도시된 바와 같이, 어느 하나의 지지판(SPL)의 주변에 배치되어 상기 지지판(SPL)에 직접적으로 연결 및/또는 결합될 수 있다. 예를 들어, 각각의 전계 인가 모듈(440)은 어느 하나의 지지판(SPL)에 이웃하도록 배치되어, 상기 지지판(SPL)에 일체 또는 비일체로 연결 및/또는 결합될 수 있다. 일 예로, 상기 전계 인가 모듈(440)과 지지판(SPL)은 연결부(CNU) 및 바디부(BDU)를 통해 서로 연결 또는 결합될 수 있다. 이 경우, 상기 전계 인가 모듈(440)은, 기판 이송 스테이지(410)에 의해 상기 지지판(SPL)과 함께 이동될 수 있다.
도 29 및 도 30은 도 25 및 도 26의 전계 인가 모듈(440')의 구성 및 배치와 관련한 실시예를 나타낸다. 도 29 및 도 30의 실시예에 의한 전계 인가 모듈(440')에서, 도 27 및 도 28의 실시예에 의한 전계 인가 모듈(440)과 유사 또는 동일한 구성에 대해서는 동일 부호를 부여하고, 이에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.
도 29 및 도 30을 참조하면, 본 실시예에 의한 각각의 전계 인가 모듈(440')은, 상하로 수직 이동만 가능하도록 구성될 수 있다. 일 예로, 상기 전계 인가 모듈(440')은, 도 27 및 도 28의 실시예에 의한 제1 구동부(LA1)는 구비하지 않고, 상기 프로브 헤드(PHD)의 수직 이동을 위한 제2 구동부(LA2)만을 구비할 수 있다. 이 경우, 각각의 프로브 헤드(PHD)는 상하로 수직 이동될 수 있다.
일 실시예에서, 각각의 전계 인가 모듈(440')은, 도 29에 도시된 바와 같이, 어느 하나의 지지판(SPL)의 주변에 배치되되 상기 지지판(SPL)에 직접적으로 연결 및 결합되지는 않을 수 있다. 예를 들어, 각각의 전계 인가 모듈(440')은 어느 하나의 지지판(SPL)에 이웃하도록 배치되어, 상기 지지판(SPL)에 접촉되거나 또는 접촉되지 않을 수 있다. 또한, 상기 전계 인가 모듈(440')은, 상기 지지판(SPL)을 포함하는 기판 이송 스테이지(410)에 연결 및/또는 결합되어 상기 기판 이송 스테이지(410)와 함께 이동되거나, 또는 상기 기판 이송 스테이지(410)에 연결 또는 결합되지 않고 독립적으로 이동될 수 있다.
다른 실시예에서, 각각의 전계 인가 모듈(440')은, 도 30에 도시된 바와 같이, 어느 하나의 지지판(SPL)의 주변에 배치되어 상기 지지판(SPL)에 직접적으로 연결 및/또는 결합될 수 있다. 예를 들어, 각각의 전계 인가 모듈(440')은 어느 하나의 지지판(SPL)에 이웃하도록 배치되어, 상기 지지판(SPL)에 일체 또는 비일체로 연결 및/또는 결합될 수 있다. 일 예로, 상기 전계 인가 모듈(440')과 지지판(SPL)은 바디부(BDU)를 통해 서로 연결 및/또는 결합될 수 있다. 이 경우, 상기 전계 인가 모듈(440')은, 기판 이송 스테이지(410)에 의해 상기 지지판(SPL)과 함께 이동될 수 있다.
도 25 내지 도 30의 실시예들에 의한 발광 표시 장치의 제조 장치, 즉 제3 제조 장치(400)는, 기판 이송 스테이지(410)와 더불어, 상기 기판 이송 스테이지(410)의 적어도 일 측에 구비된 전계 인가 모듈(440, 440')을 포함한다. 이에 의해, 상기 기판 이송 스테이지(410)에 안착된 발광 표시 패널(110)의 기판(111) 또는 원장 기판(100)의 이송 중에도, 상기 기판(111) 또는 원장 기판(100) 상에 소정의 정렬 전압을 공급할 수 있다. 이에 의해, 상기 기판(111) 또는 원장 기판(100)의 이송 중에 발생할 수 있는 용매(SOL)의 휘발 등에 의한 발광 소자들(LD)의 이탈을 방지하면서, 상기 기판(111) 또는 원장 기판(100)을 안정적으로 이송할 수 있다. 이에 따라, 각각의 발광 영역(EA)에 발광 소자들(LD)을 안정적으로 정렬하고, 그 정렬의 품질을 높일 수 있다.
도 31a 내지 도 31g는 본 발명의 일 실시예에 의한 발광 표시 장치의 제조 방법을 나타낸다. 도 31a 내지 도 31g에서는 원장 기판(100) 상에서 복수의 발광 표시 패널들(110)을 한 번에 제조하는 실시예에 따라, 상기 원장 기판(100)을 도시하였으나, 본 발명이 이에 한정되지는 않는다. 예를 들어, 다른 실시예에서는 각각의 발광 표시 패널(110)을 제조하기 위한 개개의 기판(111) 상에서, 발광 소자들(LD)의 공급 및 정렬 공정, 상기 기판(111)의 이송, 및 용매(SOL) 제거 공정 등을 수행할 수도 있다. 그리고, 도 32는 도 25 내지 도 30의 실시예에 의한 발광 표시 장치의 제조 장치, 일 예로, 전계 인가 모듈(440)이 장착된 기판 이송 스테이지(410)를 포함하는 제3 제조 장치(400) 상에 원장 기판(100)이 배치된 상태를 나타낸다. 도 31a 내지 도 32에서, 앞서 설명한 실시예들에서와 유사 또는 동일한 구성에 대해서는 동일 부호를 부여하고, 이에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.
도 1 내지 도 31a를 참조하면, 도 20b와 같이 각각의 발광 영역(EA)에 제1 및 제2 전극(ELT1, ELT2)이 형성된 원장 기판(100)(또는, 발광 표시 장치의 기판(111))을 준비하고, 상기 원장 기판(100)을 제1 제조 장치(200)의 스테이지(이하, "제1 스테이지"라 함)(230) 상에 배치한다. 한편, 상기 제1 스테이지(230)의 내부에는 복수의 리프트 핀들(LFP)이 구비될 수 있으며, 상기 리프트 핀들(LFP)은 후속될 발광 소자들(LD)의 공급 및 정렬 공정이 완료될 때까지 제1 스테이지(230)의 상부로 돌출되지 않은 상태를 유지할 수 있다.
도 1 내지 도 31b를 참조하면, 제1 제조 장치(200)의 전계 인가 모듈(240)을 이용하여 원장 기판(100)의 제1 및 제2 전극(ELT1, ELT2)에 소정의 정렬 전압을 인가하면서, 각각의 발광 영역(EA)에 복수의 발광 소자들(LD)을 포함한 발광 소자 용액을 공급한다. 실시예에 따라, 상기 발광 소자 용액은 프린팅 헤드(260)를 이용한 프린팅 방식에 따라, 액적(DRL)의 형태로 각각의 발광 영역(EA)에 공급될 수 있다.
일 실시예에서, 발광 소자 용액을 공급하는 단계는, 제1 스테이지(230)의 적어도 일 측에 구비된 적어도 하나의 전계 인가 모듈(240)을 구동하여 제1 및 제2 전극(ELT1, ELT2)에 소정의 정렬 전압(또는, 상기 정렬 전압으로 인해 발생하는 전계)을 인가하는 단계와, 상기 정렬 전압이 인가되는 기간 동안 프린팅 헤드(260)를 이용하여 각각의 발광 영역(EA)에 발광 소자 용액을 공급하는 단계를 포함할 수 있다. 즉, 본 발명의 일 실시예에서는, 적어도 하나의 전계 인가 모듈(240)을 구비한 제1 제조 장치(일 예로, 잉크젯 프린터)(200)를 이용하여, 각각의 발광 영역(EA)에 소정의 전계를 형성하면서 발광 소자들(LD)을 용액의 형태로 공급함으로써, 발광 소자들(LD)의 공급 및 정렬 공정을 동시에 진행할 수 있다.
도 1 내지 도 31c를 참조하면, 발광 소자들(LD)의 공급 및 정렬 공정이 완료된 이후, 제1 제조 장치(200)의 전계 인가 모듈(240)을 이동시켜 상기 전계 인가 모듈(240)의 프로브 핀(PPI)을 기판(100)으로부터 분리한다.
도 1 내지 도 31d를 참조하면, 제1 제조 장치(200)를 이용한 발광 소자들(LD)의 공급 및 정렬 공정이 완료된 이후, 리프트 핀들(LFP)을 상승시켜 제1 스테이지(230)의 상부로 돌출시킨다. 이에 따라, 원장 기판(100)이 제1 스테이지(230)로부터 분리된다.
도 1 내지 도 31e, 및 도 32를 참조하면, 적어도 하나의 전계 인가 모듈(440)이 장착된 기판 이송 스테이지(410), 특히 상기 기판 이송 스테이지(410)의 지지판들(SPL)을 원장 기판(100)의 하부에 삽입하고, 상기 지지판들(SPL)을 이용하여 상기 원장 기판(100)을 들어올린다. 예를 들어, 상기 지지판들(SPL)을 리프트 핀들(LFP)의 사이에 삽입하여 원장 기판(100)을 지지하면서, 상기 지지판들(SPL)을 상부로 이동시킴에 의해, 상기 원장 기판(100)을 들어올릴 수 있다. 이에 따라, 원장 기판(100)이 제1 스테이지(230)로부터 완전히 분리될 수 있다.
도 1 내지 도 31f, 및 도 32를 참조하면, 기판 이송 스테이지(410)의 적어도 일 측에 장착된 적어도 하나의 전계 인가 모듈(440)을 원장 기판(100) 상에 접촉시키고, 상기 전계 인가 모듈(440)을 통해 원장 기판(100) 상에 소정의 정렬 전압을 인가하면서, 상기 기판 이송 스테이지(410)를 이용해 원장 기판(100)을 이송할 수 있다. 예를 들어, 제3 제조 장치(400)의 지지판들(SPL) 상에 원장 기판(100)을 올려놓은 상태에서, 상기 제3 제조 장치(400)의 전계 인가 모듈(440)을 이용하여 원장 기판(100)의 도전성 패드들(102)에 소정의 정렬 전압을 인가할 수 있다. 상기 정렬 전압은 각각의 발광 영역(EA)에 형성된 제1 및 제2 전극(ELT1, ELT2)에 전달될 수 있다. 이와 같이 제1 및 제2 전극(ELT1, ELT2)에 정렬 전압이 인가되는 상태에서, 기판 이송 스테이지(410)를 이용해 원장 기판(100)을 제2 제조 장치(300)의 스테이지(이하, "제2 스테이지"라 함)(330) 상에 배치할 수 있다. 상기 원장 기판(100)이 제2 스테이지(330) 상에 배치되면, 기판 이송 스테이지(410)를 포함한 제3 제조 장치(400)를 원장 기판(100)으로부터 분리할 수 있다.
도 1 내지 도 31g를 참조하면, 제2 스테이지(330) 상에서 원장 기판(100)에 소정의 정렬 전압을 인가하면서, 발광 소자 용액의 용매(SOL)를 제거함으로써, 제1 및 제2 전극(ELT1, ELT2)의 사이에 발광 소자들(LD)을 안정적으로 배치할 수 있다. 일 실시예에서, 발광 소자 용액의 용매(SOL)를 제거하는 단계는, 제2 스테이지(330)의 적어도 일 측에 배치된 전계 인가 모듈(340)을 구동하여 제1 및 제2 전극(ELT1, ELT2)에 소정의 정렬 전압을 인가하는 단계와, 상기 정렬 전압이 인가되는 기간 동안 상기 원장 기판(100)의 주변에 배치된 발열체, 일 예로 제2 스테이지(330)의 주변 또는 내부에 배치된 발열체(350, 350')를 구동하여 상기 원장 기판(100) 상에 열을 공급하는 단계를 포함할 수 있다. 예를 들어, 원장 기판(100) 상에 소정의 정렬 전압을 인가하여 제1 및 제2 전극(ELT1, ELT2)의 사이에 전계가 형성된 상태에서, 발열체(350, 350')를 구동하여 원장 기판(100)의 온도를 높임으로써, 용매(SOL)의 건조 공정을 진행할 수 있다. 이에 따라, 발광 소자들(LD)과 함께 원장 기판(100) 상에 공급되었던 용매(SOL)를 제거할 수 있다.
이와 같이, 제1 및 제2 화소 전극(ELT1, ELT2)에 정렬 전압이 인가된 상태에서 용매(SOL)를 제거하게 되면, 용매(SOL)를 제거하는 과정에서 발광 소자들(LD)의 정렬이 틀어지는 현상을 방지할 수 있다. 이에 따라, 각각의 발광 영역(EMA)에 발광 소자들(LD)을 안정적으로 정렬하고, 그 정렬의 품질을 높일 수 있다.
한편, 도 6 내지 도 32의 실시예들에서는, 발광 소자들(LD)의 공급을 위한 프린팅 헤드(260)를 구비한 제1 제조 장치(200)와, 용매(SOL) 건조를 위한 발열체(350, 350')를 구비한 제2 제조 장치(300)와, 원장 기판(100)(또는, 발광 표시 장치의 기판(111))을 이송하기 위한 기판 이송 스테이지(410)를 구비한 제3 제조 장치(400)를 별개의 구성으로 도시 및 설명하였으나, 본 발명이 이에 한정되지는 않는다. 예를 들어, 본 발명의 다른 실시예에서는, 앞서 설명한 제1, 제2 및/또는 제3 제조 장치들(200, 300, 400)의 특징을 적어도 부분적으로 결합한 다용도의 제조 장치를 구성할 수도 있을 것이다. 일 예로, 도 6 내지 도 32의 실시예들 중 적어도 일부를 결합하여, 프린팅 헤드(260), 발열체(350, 350'), 기판 이송 스테이지(410) 및 적어도 하나의 전계 인가 모듈(240, 340, 340', 440, 440')을 구비한 발광 표시 장치의 제조 장치를 구성할 수도 있을 것이다.
상술한 실시예들에 의하면, 각각의 발광 영역(EA)에 발광 소자들(LD)을 공급하고, 상기 발광 소자들(LD)을 제1 및 제2 전극(ELT1, ELT2)의 사이에 안정적으로 배치하기 위한 공정 단계, 일 예로 발광 소자들(LD)의 공급 및 정렬을 위한 프린팅 공정, 원장 기판(100)(또는, 발광 표시 장치의 기판(111))을 이송하기 위한 이송 공정, 및 발광 소자 용액의 용매(SOL)를 제거하기 위한 건조 공정을 포함한 복수의 공정 단계들 모두에서, 각각의 전계 인가 모듈(240, 340, 340', 440, 440')을 이용하여 제1 및 제2 전극(ELT1, ELT2)에 소정의 정렬 전압(일 예로, 교류 파형의 정렬 신호)을 인가한다. 이에 따라, 발광 소자들(LD)의 공급 및 정렬 이후에 발생할 수 있는 발광 소자들(LD)의 정렬이 틀어지는 현상을 효과적으로 방지 또는 저감할 수 있다. 따라서, 상술한 실시예들에 의하면, 각각의 발광 영역(EMA)에 발광 소자들(LD)을 안정적으로 정렬하고, 그 정렬의 품질을 높일 수 있다.
본 발명의 기술 사상은 전술한 실시예에 따라 구체적으로 기술되었으나, 상기 실시예는 그 설명을 위한 것이며 그 제한을 위한 것이 아님을 주의하여야 한다. 또한, 본 발명의 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 기술 사상의 범위 내에서 다양한 변형 예가 가능함을 이해할 수 있을 것이다.
본 발명의 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라, 특허 청구범위에 의해 정해져야만 할 것이다. 또한, 특허 청구범위의 의미 및 범위, 그리고 그 균등 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.

Claims (15)

  1. 제1 방향을 따라 소정 간격으로 배치되며 각각이 제2 방향을 따라 연장되는 복수의 지지판들을 포함하는 기판 이송 스테이지; 및
    상기 기판 이송 스테이지의 적어도 일 측에 구비되는 적어도 하나의 전계 인가 모듈을 포함하며,
    상기 적어도 하나의 전계 인가 모듈 각각은,
    적어도 하나의 프로브 핀을 구비한 프로브 헤드; 및
    상기 프로브 헤드에 결합되어, 상기 프로브 헤드를 적어도 상하로 이동시키는 구동부를 포함하는 발광 표시 장치의 제조 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 적어도 하나의 전계 인가 모듈은,
    상기 기판 이송 스테이지의 제1 측에 구비되는 제1 전계 인가 모듈; 및
    상기 제1 전계 인가 모듈과 마주하도록 상기 기판 이송 스테이지의 제2 측에 구비되는 제2 전계 인가 모듈을 포함하는 발광 표시 장치의 제조 장치.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 제1 및 제2 전계 인가 모듈은 서로 독립적으로 구동되는 발광 표시 장치의 제조 장치.
  4. 제2항에 있어서,
    상기 제1 및 제2 전계 인가 모듈은 동시에 구동되는 발광 표시 장치의 제조 장치.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 지지판들은,
    상기 기판 이송 스테이지의 제1 가장자리에 배치되는 제1 지지판;
    상기 기판 이송 스테이지의 제2 가장자리에 배치되는 제2 지지판; 및
    상기 제1 지지판과 상기 제2 지지판의 사이에 배치되는 적어도 하나의 제3 지지판을 포함하는 발광 표시 장치의 제조 장치.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 적어도 하나의 전계 인가 모듈은,
    상기 제1 지지판에 결합되는 제1 전계 인가 모듈; 및
    상기 제2 지지판에 결합되는 제2 전계 인가 모듈을 포함하는 발광 표시 장치의 제조 장치.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 구동부는,
    상기 프로브 헤드를 전후 또는 좌우로 수평 이동시키는 제1 구동부; 및
    상기 프로브 헤드를 상하로 수직 이동시키는 제2 구동부 중 적어도 하나를 포함하는 발광 표시 장치의 제조 장치.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 적어도 하나의 전계 인가 모듈 각각은, 상기 프로브 헤드의 위치를 감지하는 적어도 하나의 센서 유닛을 더 포함하는 발광 표시 장치의 제조 장치.
  9. 제1항에 있어서,
    상기 적어도 하나의 전계 인가 모듈 각각은,
    상기 프로브 헤드 및 상기 구동부에 결합되는 바디부; 및
    상기 바디부에 결합되는 적어도 하나의 리니어 모션 가이드를 더 포함하는 발광 표시 장치의 제조 장치.
  10. 제1항에 있어서,
    상기 프로브 헤드는,
    제1 전원선에 연결되는 적어도 하나의 제1 프로브 핀; 및
    제2 전원선에 연결되는 적어도 하나의 제2 프로브 핀을 포함하는 발광 표시 장치의 제조 장치.
  11. 제10항에 있어서,
    상기 제1 및 제2 전원선을 통해 상기 제1 및 제2 프로브 핀에 연결되는 전원 공급부를 더 포함하는 발광 표시 장치의 제조 장치.
  12. 각각의 발광 영역에 제1 및 제2 전극이 형성된 기판을 준비하고, 상기 기판을 제1 스테이지 상에 배치하는 단계;
    상기 제1 및 제2 전극에 소정의 정렬 전압을 인가하면서, 상기 발광 영역에 복수의 발광 소자들을 포함한 발광 소자 용액을 공급하는 단계;
    상기 기판의 하부에 기판 이송 스테이지의 지지판들을 삽입하고, 상기 지지판들을 이용하여 상기 기판을 상기 제1 스테이지로부터 분리하는 단계;
    상기 제1 및 제2 전극에 상기 정렬 전압을 인가하면서, 상기 기판 이송 스테이지를 이용해 상기 기판을 제2 스테이지 상에 배치하는 단계; 및
    상기 발광 소자 용액의 용매를 제거하는 단계를 포함하는 발광 표시 장치의 제조 방법.
  13. 제12항에 있어서,
    상기 기판 이송 스테이지를 이용해 상기 기판을 상기 제2 스테이지 상에 배치하는 단계에서, 상기 지지판들 중 적어도 하나의 일 측에 구비된 전계 인가 모듈을 구동하여 상기 제1 및 제2 전극에 상기 정렬 전압을 인가함을 특징으로 하는 발광 표시 장치의 제조 방법.
  14. 제12항에 있어서,
    상기 발광 소자 용액을 공급하는 단계는,
    상기 제1 스테이지의 적어도 일 측에 구비된 전계 인가 모듈을 구동하여 상기 제1 및 제2 전극에 상기 정렬 전압을 인가하는 단계; 및
    상기 정렬 전압이 인가되는 기간 동안, 프린팅 방식으로 상기 발광 영역에 상기 발광 소자 용액을 공급하는 단계를 포함하는 발광 표시 장치의 제조 방법.
  15. 제12항에 있어서,
    상기 발광 소자 용액의 용매를 제거하는 단계는,
    상기 제2 스테이지의 적어도 일 측에 구비된 전계 인가 모듈을 구동하여 상기 제1 및 제2 전극에 상기 정렬 전압을 인가하는 단계; 및
    상기 정렬 전압이 인가되는 기간 동안, 상기 기판의 주변에 배치된 발열체를 구동하여 상기 기판에 열을 공급하는 단계를 포함하는 발광 표시 장치의 제조 방법.
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Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20210126158A1 (en) * 2018-06-27 2021-04-29 Samsung Display Co., Ltd. Apparatus for manufacturing light-emitting display device
US11787190B2 (en) 2018-12-24 2023-10-17 Samsung Display Co., Ltd. Inkjet printing device, ink ejecting method, and method for manufacturing display device
KR20220001533A (ko) * 2020-06-29 2022-01-06 삼성디스플레이 주식회사 잉크젯 프린팅 장치
KR20220003691A (ko) 2020-07-01 2022-01-11 삼성디스플레이 주식회사 쌍극자 정렬 장치, 쌍극자 정렬 방법 및 표시 장치의 제조 방법
KR20220025986A (ko) 2020-08-24 2022-03-04 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
KR20220072051A (ko) * 2020-11-24 2022-06-02 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치의 제조 장치와 제조 방법
KR20230142051A (ko) * 2022-03-31 2023-10-11 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치의 제조 장치 및 제조 방법

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20110079024A (ko) * 2009-12-31 2011-07-07 주식회사 탑 엔지니어링 어레이 테스트 장치
KR20130020475A (ko) * 2011-08-19 2013-02-27 엘지디스플레이 주식회사 오토 프로브 검사 장치 및 그의 검사 방법
KR20130044790A (ko) * 2011-10-24 2013-05-03 엘지이노텍 주식회사 반도체 소자 및 반도체 결정 성장 방법
KR101328096B1 (ko) * 2012-10-25 2013-11-13 엔젯 주식회사 인쇄형 나노물질 자가정렬 장치 및 인쇄형 나노물질 자가정렬 방법
KR20180009014A (ko) * 2016-07-15 2018-01-25 삼성디스플레이 주식회사 발광장치 및 그의 제조방법

Family Cites Families (34)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20010054915A (ko) * 1999-12-08 2001-07-02 이 창 세 실리콘웨이퍼의 제너레이션 라이프타임 측정 장치 및 그방법
TW523611B (en) * 2001-12-11 2003-03-11 Ind Tech Res Inst Ink spraying process and apparatus of color filter
KR100468849B1 (ko) * 2002-05-08 2005-01-29 삼성전자주식회사 자기정렬공정을 이용한 전계 효과 트랜지스터 채널 구조를 가지는 스캐닝 프로브 마이크로 스코프의 탐침 제조 방법
JP2006162290A (ja) * 2004-12-02 2006-06-22 Sharp Corp 磁界測定装置およびそれを備える電流測定装置、ならびに電界測定装置
KR101092027B1 (ko) * 2009-12-28 2011-12-12 한국광기술원 박막 형성장치, 이를 이용한 박막 형성방법 및 상기 박막 형성장치를 이용한 발광다이오드 제조방법
US8877636B1 (en) * 2010-02-26 2014-11-04 The United States Of America As Represented By The Adminstrator Of National Aeronautics And Space Administration Processing of nanostructured devices using microfabrication techniques
WO2012008253A1 (ja) * 2010-07-14 2012-01-19 シャープ株式会社 微細な物体の配置方法、配列装置、照明装置および表示装置
US9291588B2 (en) * 2014-03-31 2016-03-22 Eastman Kodak Company System for forming aligned patterns on a substrate
KR101627365B1 (ko) 2015-11-17 2016-06-08 피에스아이 주식회사 편광을 출사하는 초소형 led 전극어셈블리, 이의 제조방법 및 이를 포함하는 led 편광램프
KR102608419B1 (ko) * 2016-07-12 2023-12-01 삼성디스플레이 주식회사 표시장치 및 표시장치의 제조방법
KR20180055021A (ko) * 2016-11-15 2018-05-25 삼성디스플레이 주식회사 발광장치 및 그의 제조방법
JP6837886B2 (ja) * 2017-03-21 2021-03-03 株式会社日立ハイテク プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法
JP6797063B2 (ja) * 2017-04-14 2020-12-09 東京エレクトロン株式会社 ピン制御方法及び基板処理装置
JP6960830B2 (ja) * 2017-11-17 2021-11-05 株式会社日立ハイテク 真空処理装置および真空処理装置の運転方法
CN108389965B (zh) * 2018-03-01 2021-03-23 京东方科技集团股份有限公司 成膜方法、显示基板及其制作方法、显示装置
KR102627216B1 (ko) * 2018-09-14 2024-01-23 삼성디스플레이 주식회사 발광 표시 장치의 제조 장치
US20210126158A1 (en) * 2018-06-27 2021-04-29 Samsung Display Co., Ltd. Apparatus for manufacturing light-emitting display device
KR102592426B1 (ko) * 2019-01-02 2023-10-23 삼성디스플레이 주식회사 잉크젯 프린팅 장치, 쌍극자 정렬 방법 및 표시 장치의 제조 방법
WO2021010521A1 (ko) * 2019-07-16 2021-01-21 엘지전자 주식회사 오조립된 반도체 발광소자의 제거 모듈 및 이를 이용한 오조립된 반도체 발광소자의 제거방법
KR20210013416A (ko) * 2019-07-24 2021-02-04 삼성디스플레이 주식회사 잉크젯 프린팅 장치, 쌍극성 소자 정렬 방법 및 표시 장치의 제조 방법
KR20210016122A (ko) * 2019-07-31 2021-02-15 삼성디스플레이 주식회사 쌍극자 정렬 장치, 쌍극자 정렬 방법 및 표시 장치의 제조 방법
EP4071789A4 (en) * 2019-09-19 2024-02-14 Lg Electronics Inc SUBSTRATE CHUCK FOR SELF-ASSEMBLY OF LIGHT-EMITTING SEMICONDUCTOR DIODES
KR20210077060A (ko) * 2019-12-16 2021-06-25 삼성디스플레이 주식회사 잉크젯 프린트 장치 및 쌍극자 정렬 방법
KR20210077847A (ko) * 2019-12-17 2021-06-28 삼성디스플레이 주식회사 잉크젯 프린팅 장치, 쌍극성 소자의 프린팅 방법 및 표시 장치의 제조 방법
KR20210109088A (ko) * 2020-02-26 2021-09-06 삼성디스플레이 주식회사 잉크젯 프린팅 장치, 쌍극성 소자의 프린팅 방법 및 표시 장치의 제조 방법
KR20210130885A (ko) * 2020-04-22 2021-11-02 삼성디스플레이 주식회사 잉크젯 프린팅 장치 및 이를 이용한 쌍극성 소자의 프린팅 방법
KR20220001533A (ko) * 2020-06-29 2022-01-06 삼성디스플레이 주식회사 잉크젯 프린팅 장치
KR20220003691A (ko) * 2020-07-01 2022-01-11 삼성디스플레이 주식회사 쌍극자 정렬 장치, 쌍극자 정렬 방법 및 표시 장치의 제조 방법
KR20220004841A (ko) * 2020-07-02 2022-01-12 삼성디스플레이 주식회사 잉크젯 프린팅 장치 및 표시 장치의 제조 방법
KR20220072098A (ko) * 2020-11-24 2022-06-02 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치의 제조 장치와 제조 방법
KR20220072051A (ko) * 2020-11-24 2022-06-02 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치의 제조 장치와 제조 방법
KR20220165861A (ko) * 2021-06-08 2022-12-16 삼성디스플레이 주식회사 잉크젯 프린팅 장치
KR20220167809A (ko) * 2021-06-14 2022-12-22 삼성디스플레이 주식회사 잉크젯 프린팅 장치
KR20230113462A (ko) * 2022-01-21 2023-07-31 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치의 제조 방법 및 표시 장치의 제조 장치

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20110079024A (ko) * 2009-12-31 2011-07-07 주식회사 탑 엔지니어링 어레이 테스트 장치
KR20130020475A (ko) * 2011-08-19 2013-02-27 엘지디스플레이 주식회사 오토 프로브 검사 장치 및 그의 검사 방법
KR20130044790A (ko) * 2011-10-24 2013-05-03 엘지이노텍 주식회사 반도체 소자 및 반도체 결정 성장 방법
KR101328096B1 (ko) * 2012-10-25 2013-11-13 엔젯 주식회사 인쇄형 나노물질 자가정렬 장치 및 인쇄형 나노물질 자가정렬 방법
KR20180009014A (ko) * 2016-07-15 2018-01-25 삼성디스플레이 주식회사 발광장치 및 그의 제조방법

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