WO2018211736A1 - 研磨装置および研磨方法 - Google Patents
研磨装置および研磨方法 Download PDFInfo
- Publication number
- WO2018211736A1 WO2018211736A1 PCT/JP2018/000092 JP2018000092W WO2018211736A1 WO 2018211736 A1 WO2018211736 A1 WO 2018211736A1 JP 2018000092 W JP2018000092 W JP 2018000092W WO 2018211736 A1 WO2018211736 A1 WO 2018211736A1
- Authority
- WO
- WIPO (PCT)
- Prior art keywords
- polishing
- substrate
- air cylinder
- support structure
- fixed
- Prior art date
Links
- 238000005498 polishing Methods 0.000 title claims abstract description 385
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 14
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims abstract description 262
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 187
- 230000003014 reinforcing effect Effects 0.000 claims abstract description 20
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims description 72
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims description 72
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims description 72
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 abstract description 39
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 59
- 230000033001 locomotion Effects 0.000 description 32
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 27
- 239000013256 coordination polymer Substances 0.000 description 15
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 13
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 9
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 7
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 6
- 238000003708 edge detection Methods 0.000 description 5
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 5
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 4
- 230000002787 reinforcement Effects 0.000 description 4
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 3
- 230000008859 change Effects 0.000 description 3
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000004696 Poly ether ether ketone Substances 0.000 description 2
- 230000003028 elevating effect Effects 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 229920002530 polyetherether ketone Polymers 0.000 description 2
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 2
- 241000221535 Pucciniales Species 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 1
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 1
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 1
- JEIPFZHSYJVQDO-UHFFFAOYSA-N iron(III) oxide Inorganic materials O=[Fe]O[Fe]=O JEIPFZHSYJVQDO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
- 230000002265 prevention Effects 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B21/00—Machines or devices using grinding or polishing belts; Accessories therefor
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B41/00—Component parts such as frames, beds, carriages, headstocks
- B24B41/02—Frames; Beds; Carriages
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B49/00—Measuring or gauging equipment for controlling the feed movement of the grinding tool or work; Arrangements of indicating or measuring equipment, e.g. for indicating the start of the grinding operation
- B24B49/08—Measuring or gauging equipment for controlling the feed movement of the grinding tool or work; Arrangements of indicating or measuring equipment, e.g. for indicating the start of the grinding operation involving liquid or pneumatic means
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B55/00—Safety devices for grinding or polishing machines; Accessories fitted to grinding or polishing machines for keeping tools or parts of the machine in good working condition
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
- H01L21/302—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to change their surface-physical characteristics or shape, e.g. etching, polishing, cutting
- H01L21/304—Mechanical treatment, e.g. grinding, polishing, cutting
Definitions
- the present invention relates to a polishing apparatus and a polishing method for polishing a substrate such as a wafer, and more particularly to a polishing apparatus and a polishing method for polishing a peripheral portion by pressing a polishing tool against the peripheral portion of the substrate.
- FIG. 28 is a schematic view showing a conventional polishing apparatus.
- the polishing apparatus shown in FIG. 28 includes a substrate stage 300 that holds a substrate W such as a wafer, and a polishing head 307 that presses a polishing tape 305 that is a polishing tool against the substrate W.
- the polishing head 307 has a pressing member 308 and an air cylinder 309.
- the polishing head 307 is supported by a support structure 311 fixed to the base 310.
- the substrate W is held on the stage surface 300a of the substrate stage 300 by vacuum suction or the like, and is rotated around its axis along with the substrate stage 300.
- a polishing tape 305 as a polishing tool is pressed against the peripheral edge of the substrate W by a pressing member 308.
- the pressing member 308 is connected to the air cylinder 309, and the force for pressing the polishing tape 305 against the substrate W is applied from the air cylinder 309 to the pressing member 308.
- pure water is supplied to the center of the substrate W, and the upper surface of the substrate W is covered with pure water.
- the polishing tape 305 polishes the peripheral portion of the substrate W in the presence of pure water, and forms a step-shaped recess 312 having a right cross section as shown in FIG.
- the pressing member 308 presses the polishing tape 305 against the peripheral edge of the substrate W
- a reaction force from the substrate W acts on the polishing head 307.
- the polishing head 307 and the support structure 311 are inclined upward in the direction indicated by the arrow X in FIG. 28, and the entire pressing member 308 is inclined.
- the polishing tape 305 is obliquely pressed against the peripheral edge of the substrate W, and the obliquely polished surface is formed on the peripheral edge of the substrate W.
- an object of the present invention is to provide a polishing apparatus and a polishing method that can achieve a desired polishing profile by preventing tilting of the polishing head during substrate polishing.
- One aspect of the present invention is a substrate holding unit that holds a substrate, a polishing head that presses a polishing tool against the substrate, a support structure that supports the polishing head, a base structure to which the support structure is fixed, And a reinforcing structure fixed to the support structure, wherein the reinforcing structure has an anchor mechanism configured to be separable and separable from the base structure. is there.
- the anchor mechanism includes an actuator that presses the base structure.
- the actuator is arranged outside the support structure.
- a preferable aspect of the present invention further includes an operation system that operates the actuator, and the operation system is configured to generate a force that changes according to a polishing load that the polishing head presses the polishing tool on the actuator. It is characterized by.
- the base structure has a protruding portion that protrudes toward the actuator, and the actuator is disposed to face the protruding portion.
- a preferable aspect of the present invention further includes an operation system that operates the actuator, and the operation system is configured to generate a force that changes according to a polishing load that the polishing head presses the polishing tool on the actuator. It is characterized by.
- the polishing apparatus further includes a connection mechanism that connects the polishing head and the support structure, and the connection mechanism includes a first connection mechanism fixed to the polishing head; And a second connection mechanism fixed to the support structure, wherein the first connection mechanism and the second connection mechanism are configured to be fixed to each other and to be separated from each other.
- one of the first coupling mechanism and the second coupling mechanism includes an electromagnet, and the other of the first coupling mechanism and the second coupling mechanism includes a magnetic member.
- one of the first coupling mechanism and the second coupling mechanism includes a pair of air cylinders, and the other of the first coupling mechanism and the second coupling mechanism is the pair of air cylinders. It has the part arrange
- the support structure includes at least one polishing head moving mechanism that moves the polishing head.
- One aspect of the present invention is a substrate holding unit that holds a substrate, a polishing head that presses a polishing tool against the substrate, a support structure that supports the polishing head, a base structure to which the support structure is fixed,
- the coupling mechanism includes a coupling mechanism that couples the polishing head and the support structure, and the coupling mechanism includes a first coupling mechanism that is fixed to the polishing head, and a second coupling mechanism that is fixed to the support structure.
- the polishing apparatus is characterized in that the first connection mechanism and the second connection mechanism can be fixed to each other and can be separated from each other.
- one of the first coupling mechanism and the second coupling mechanism includes an electromagnet, and the other of the first coupling mechanism and the second coupling mechanism includes a magnetic member.
- one of the first coupling mechanism and the second coupling mechanism includes a pair of air cylinders, and the other of the first coupling mechanism and the second coupling mechanism is the pair of air cylinders. It has the part arrange
- the polishing apparatus further includes a reinforcing structure fixed to the support structure, and the reinforcing structure is an anchor configured to be fixable to and detachable from the base structure. It has a mechanism.
- the anchor mechanism includes an actuator that presses the base structure.
- the support structure includes at least one polishing head moving mechanism that moves the polishing head.
- One aspect of the present invention is a polishing head supported by the support structure while the anchor mechanism of the reinforcing structure fixed to the support structure is fixed to the base structure and the substrate is rotated by the substrate holding portion.
- the substrate is polished by pressing a polishing tool against the substrate, and the anchor mechanism is separated from the base structure after polishing of the substrate.
- the first connection mechanism fixed to the polishing head is connected to the second connection mechanism fixed to the support structure, and the substrate is polished.
- the method further includes a step of separating the first coupling mechanism from the second coupling mechanism after completion.
- the first connection mechanism fixed to the polishing head is connected to the second connection mechanism fixed to the support structure that supports the polishing head, and the substrate is rotated by the substrate holding portion.
- the polishing method comprises polishing the substrate by pressing a polishing tool against the substrate with the polishing head, and separating the first connecting mechanism from the second connecting mechanism after the polishing of the substrate is completed.
- the anchor mechanism of the reinforcing structure fixed to the support structure is fixed to the base structure before the substrate is polished, and the anchor mechanism is moved after the polishing of the substrate is completed.
- the method further includes a step of separating from the base structure.
- the support structure is reinforced by the anchor mechanism and / or the coupling mechanism. Therefore, the posture of the polishing head during substrate polishing is stabilized, and a desired polishing profile can be obtained.
- FIG. 5 is a sectional view taken along line FF in FIG. 2. It is the figure seen from the direction shown by the arrow G of FIG. It is a top view of a polishing head and a polishing tape supply mechanism. It is a front view of a polishing head and a polishing tape supply mechanism.
- FIG. 7 is a sectional view taken along line HH shown in FIG. 6. FIG. 7 is a side view of the polishing tape supply mechanism shown in FIG. 6.
- FIG. 3 is a schematic diagram showing a polishing apparatus viewed from a direction indicated by an arrow J in FIG. 2. It is a schematic diagram which shows the operation system for operating a 1st actuator and a 2nd actuator. It is a schematic diagram which shows other embodiment of an operation system.
- substrate is defined as an area
- An example of the substrate is a wafer.
- FIG. 1A and 1B are enlarged cross-sectional views showing the peripheral edge of the substrate. More specifically, FIG. 1A is a cross-sectional view of a so-called straight substrate, and FIG. 1B is a cross-sectional view of a so-called round substrate.
- the bevel portion is the outermost peripheral surface of the substrate W composed of an upper inclined portion (upper bevel portion) P, a lower inclined portion (lower bevel portion) Q, and a side portion (apex) R. (Denoted by B).
- the bevel portion is a portion (indicated by reference numeral B) that forms the outermost peripheral surface of the substrate W and has a curved cross section.
- the top edge portion is a flat portion E1 that is located on the radially inner side of the bevel portion B.
- the bottom edge portion is a flat portion E2 located on the opposite side of the top edge portion and located radially inward of the bevel portion B.
- the top edge portion E1 may include a region where a device is formed.
- FIG. 2 is a plan view showing a polishing apparatus according to an embodiment of the present invention
- FIG. 3 is a cross-sectional view taken along line FF in FIG. 2
- FIG. 4 is from the direction indicated by arrow G in FIG. FIG.
- the polishing apparatus includes a substrate holding unit 3 that holds a substrate W such as a wafer and rotates the substrate W, and a polishing unit 25 that polishes the substrate W on the substrate holding unit 3.
- the substrate holding unit 3 includes a holding stage 4 that holds the lower surface of the substrate W by vacuum suction, a hollow shaft 5 that is connected to the center of the holding stage 4, and a motor M 1 that rotates the hollow shaft 5. .
- the substrate W is placed on the holding stage 4 so that the center of the substrate W coincides with the axis CP of the hollow shaft 5.
- the polishing unit 25 supplies a polishing head 50 that polishes the peripheral portion of the substrate W using a polishing tape 38 as a polishing tool, and supplies the polishing tape 38 to the polishing head 50.
- a polishing tape supply mechanism 70 is provided for recovering the polishing tape 38.
- the polishing head 50 is configured to press the polishing surface of the polishing tape 38 against the top edge portion of the substrate W to form a stepped recess in the peripheral edge portion of the substrate W.
- the polishing unit 25 and the holding stage 4 are arranged in a polishing chamber 22 formed by the partition wall 20.
- the partition wall 20 is fixed on the base plate 21, and the lower portion of the substrate holder 3 extends through the bottom of the partition wall 20 and the base plate 21.
- a base structure 23 is configured by the bottom surface of the partition wall 20 and the base plate 21.
- a support structure 24 that supports the polishing head 50 is fixed to the base structure 23.
- the partition wall 20 includes a transfer port 20 a for carrying the substrate W into and out of the polishing chamber 22.
- the transport port 20a can be closed by a shutter 20b.
- the hollow shaft 5 is supported by a ball spline bearing (linear motion bearing) 6 so as to be movable up and down.
- a groove 4 a is formed on the upper surface of the holding stage 4, and this groove 4 a communicates with a communication path 7 extending through the hollow shaft 5.
- the communication path 7 is connected to a vacuum line 9 via a rotary joint 8 attached to the lower end of the hollow shaft 5.
- the communication path 7 is also connected to a nitrogen gas supply line 10 for detaching the processed substrate W from the holding stage 4. By switching between the vacuum line 9 and the nitrogen gas supply line 10, the substrate W is held on the upper surface of the holding stage 4 and separated.
- the hollow shaft 5 is rotated by the motor M1 via a pulley p1 connected to the hollow shaft 5, a pulley p2 attached to the rotation shaft of the motor M1, and a belt b1 hung on the pulleys p1 and p2. .
- the ball spline bearing 6 is a bearing that allows the hollow shaft 5 to freely move in the longitudinal direction thereof.
- the ball spline bearing 6 is fixed to a cylindrical casing 12. Therefore, the hollow shaft 5 can move linearly up and down with respect to the casing 12, and the hollow shaft 5 and the casing 12 rotate integrally.
- the hollow shaft 5 is connected to an air cylinder (elevating mechanism) 15, and the hollow shaft 5 and the holding stage 4 can be raised and lowered by the air cylinder 15.
- a radial bearing 18 is interposed between the casing 12 and a cylindrical casing 14 disposed concentrically on the outside thereof, and the casing 12 is rotatably supported by the bearing 18.
- the substrate holding unit 3 can rotate the substrate W about the axis CP and raise and lower the substrate W along the axis CP.
- a polishing unit 25 for polishing the peripheral edge of the substrate W is disposed outside the substrate holding unit 3.
- the polishing unit 25 is disposed inside the polishing chamber 22.
- the entire polishing unit 25 is fixed on the installation table 27.
- the installation table 27 is connected to a polishing head moving mechanism 30 via a support block 28.
- the polishing head moving mechanism 30 is fixed to the base plate 21.
- the support structure 24 that supports the polishing head 50 includes an installation base 27, a support block 28, and a polishing head moving mechanism 30.
- the support structure 24 extends through the base structure 23 composed of the bottom of the partition wall 20 and the base plate 21.
- the polishing head moving mechanism 30 constituting the end of the support structure 24 is fixed to the lower surface of the base structure 23, that is, the lower surface of the base plate 21.
- the polishing head moving mechanism 30 includes a ball screw mechanism 31 that slidably holds the support block 28, a motor 32 that drives the ball screw mechanism 31, and a power transmission mechanism 33 that connects the ball screw mechanism 31 and the motor 32. It has.
- the ball screw mechanism 31 includes a linear motion guide (not shown) that guides the moving direction of the support block 28.
- the power transmission mechanism 33 includes a pulley and a belt. When the motor 32 is operated, the ball screw mechanism 31 moves the support block 28 in the direction indicated by the arrow in FIG. 4 and the entire polishing unit 25 moves in the tangential direction of the substrate W.
- the polishing head moving mechanism 30 also functions as an oscillation mechanism that swings the polishing unit 25 at a predetermined amplitude and a predetermined speed.
- the polishing head moving mechanism 30 constitutes a first polishing head moving mechanism that moves the polishing unit 25 including the polishing head 50 and the polishing tape supply mechanism 70 in the first direction.
- FIG. 5 is a plan view of the polishing head 50 and the polishing tape supply mechanism 70
- FIG. 6 is a front view of the polishing head 50 and the polishing tape supply mechanism 70
- FIG. 7 is a cross-sectional view taken along the line HH shown in FIG. 8 is a side view of the polishing tape supply mechanism 70 shown in FIG. 6,
- FIG. 9 is a longitudinal sectional view of the polishing head 50 shown in FIG.
- two linear motion guides 40A and 40B extending in parallel with the radial direction of the substrate W are arranged. These linear motion guides 40A and 40B are arranged in parallel to each other.
- the polishing head 50 and the linear motion guide 40A are connected via a connection block 41A.
- the polishing head 50 is connected to a servo motor 42A and a ball screw mechanism 43A that move the polishing head 50 along the linear motion guide 40A (that is, in the radial direction of the substrate W). More specifically, the ball screw mechanism 43A is fixed to the connection block 41A, and the servo motor 42A is fixed to the installation base 27 via the support member 44A.
- the servo motor 42A is configured to rotate the screw shaft of the ball screw mechanism 43A, whereby the connecting block 41A and the polishing head 50 connected thereto are moved along the linear motion guide 40A.
- the servo motor 42A, the ball screw mechanism 43A, and the linear guide 40A constitute a second polishing head moving mechanism that moves the polishing head 50 in a second direction perpendicular to the first direction.
- the polishing tape supply mechanism 70 and the linear motion guide 40B are connected via a connection block 41B. Further, the polishing tape supply mechanism 70 is connected to a servo motor 42B and a ball screw mechanism 43B that move the polishing tape supply mechanism 70 along the linear motion guide 40B (that is, in the radial direction of the substrate W). More specifically, the ball screw mechanism 43B is fixed to the connection block 41B, and the servo motor 42B is fixed to the installation base 27 via the support member 44B. The servo motor 42B is configured to rotate the screw shaft of the ball screw mechanism 43B, whereby the connecting block 41B and the polishing tape supply mechanism 70 connected thereto are moved along the linear motion guide 40B. . In the present embodiment, the servo motor 42B, the ball screw mechanism 43B, and the linear motion guide 40B constitute a polishing tool moving mechanism that moves the polishing tape supply mechanism 70.
- the polishing head 50 includes a pressing member 51 for pressing the polishing tape 38 against the substrate W, a pressing member holder 52 that holds the pressing member 51, the pressing member holder 52, and the pressing member 51. And an air cylinder 53 as a pressing device for moving the valve up and down.
- the air cylinder 53 is held by a holding member 55. Further, the holding member 55 is fixed to an installation member 57 fixed to the connection block 41A.
- a polishing load by which the pressing member 51 presses the polishing tape 38 against the substrate W is generated by the air cylinder 53.
- the pressing member holder 52 is connected to the installation member 57 via a linear guide 58 extending in the vertical direction.
- the pressing member 51 moves downward along the linear motion guide 58, and the pressing member 51 presses the polishing tape 38 against the peripheral edge of the substrate W.
- the air cylinder 53 can raise the pressing member holder 52 and the pressing member 51 along the linear motion guide 58.
- the pressing member 51 is made of a resin such as PEEK (polyether ether ketone), a metal such as stainless steel, or a ceramic such as SiC (silicon carbide).
- the pressing member 51 has a plurality of through holes 51a extending in the vertical direction, and a vacuum line 60 is connected to the through holes 51a.
- the vacuum line 60 is provided with a valve (not shown), and a vacuum is formed in the through hole 51a of the pressing member 51 by opening the valve.
- a vacuum is formed in the through hole 51 a with the lower surface of the pressing member 51 in contact with the upper surface of the polishing tape 38, the upper surface of the polishing tape 38 is held on the lower surface of the pressing member 51.
- the pressing member 51 may have one through hole 51a. During polishing of the substrate W, a vacuum is formed in the through hole 51 a, and the polishing tape 38 is held on the lower surface of the pressing member 51.
- the pressing member holder 52, the air cylinder 53, the holding member 55, and the installation member 57 are accommodated in the box 62.
- the lower part of the pressing member holder 52 protrudes from the bottom of the box 62, and the pressing member 51 is attached to the lower part of the pressing member holder 52.
- the polishing tape supply mechanism 70 includes a supply reel 71 that supplies the polishing tape 38 and a recovery reel 72 that recovers the polishing tape 38.
- the supply reel 71 and the recovery reel 72 are connected to tension motors 73 and 74, respectively.
- the tension motors 73 and 74 can apply a predetermined tension to the polishing tape 38 by applying a predetermined torque to the supply reel 71 and the recovery reel 72.
- a polishing tape feed mechanism 76 is provided between the supply reel 71 and the recovery reel 72.
- the polishing tape feeding mechanism 76 includes a tape feeding roller 77 that feeds the polishing tape 38, a nip roller 78 that presses the polishing tape 38 against the tape feeding roller 77, and a tape feeding motor 79 that rotates the tape feeding roller 77. Yes.
- the polishing tape 38 is sandwiched between the nip roller 78 and the tape feed roller 77.
- the polishing tape 38 is fed from the supply reel 71 to the collection reel 72 by rotating the tape feed roller 77 in the direction indicated by the arrow in FIG.
- the tension motors 73 and 74 and the tape feed motor 79 are installed on the base 81.
- the base 81 is fixed to the connection block 41B.
- the base 81 has two support arms 82 and 83 extending from the supply reel 71 and the recovery reel 72 toward the polishing head 50.
- a plurality of guide rollers 84A, 84B, 84C, 84D, and 84E that support the polishing tape 38 are attached to the support arms 82 and 83.
- the polishing tape 38 is guided by these guide rollers 84A to 84E so as to surround the polishing head 50.
- the extending direction of the polishing tape 38 is perpendicular to the radial direction of the substrate W when viewed from above.
- the two guide rollers 84D and 84E located below the polishing head 50 support the polishing tape 38 so that the polishing surface of the polishing tape 38 is parallel to the surface (upper surface) of the substrate W. Further, the polishing tape 38 between the two guide rollers 84D and 84E extends in parallel with the tangential direction of the substrate W. A gap is formed between the polishing tape 38 and the substrate W in the vertical direction.
- the polishing apparatus further includes a tape edge detection sensor 100 that detects the position of the edge of the polishing tape 38.
- the tape edge detection sensor 100 is a transmissive optical sensor.
- the tape edge detection sensor 100 includes a light projecting unit 100A and a light receiving unit 100B.
- the light projecting unit 100A is fixed to the installation base 27 as shown in FIG. 5, and the light receiving unit 100B is fixed to the base plate 21 as shown in FIG.
- the tape edge detection sensor 100 is configured to detect the position of the edge of the polishing tape 38 from the amount of light received by the light receiving unit 100B.
- FIG. 11 is a schematic view of the pressing member 51, the polishing tape 38, and the substrate W in the polishing position as viewed from the lateral direction. As shown in FIG. 11, the polishing tape 38 is positioned above the peripheral edge of the substrate W, and the pressing member 51 is positioned above the polishing tape 38.
- FIG. 12 is a view showing a state in which the polishing tape 38 is pressed against the substrate W by the pressing member 51.
- the edge of the pressing member 51 at the polishing position and the edge of the polishing tape 38 coincide. That is, the polishing head 50 and the polishing tape supply mechanism 70 are independently moved to the polishing position so that the edge of the pressing member 51 and the edge of the polishing tape 38 coincide.
- the edge of the polishing tape 38 may protrude from the edge of the pressing member 51.
- the operation of the polishing apparatus described below is controlled by the operation control unit 11 shown in FIG.
- the substrate W is held by the substrate holding part 3 so that a film (for example, a device layer) formed on the surface thereof faces upward, and the substrate W is rotated about the axis CP of the substrate holding part 3.
- the A liquid for example, pure water
- the pressing member 51 and the polishing tape 38 of the polishing head 50 are each moved to a predetermined polishing position.
- the air cylinder 53 pushes down the pressing member 51 and presses the polishing tape 38 against the peripheral edge of the substrate W with a predetermined polishing load as shown in FIG.
- the polishing load can be adjusted by the pressure of the gas supplied to the air cylinder 53.
- the peripheral portion of the substrate W is polished by sliding contact between the rotating substrate W and the polishing tape 38. That is, the polishing tape 38 can form a stepped recess 312 having a right-angle cross section as shown in FIG.
- the polishing tape 38 may be swung along the tangential direction of the substrate W by the polishing head moving mechanism 30 during polishing of the substrate W.
- a liquid for example, pure water
- the liquid supplied to the substrate W spreads over the entire upper surface of the substrate W due to centrifugal force, thereby preventing polishing dust from adhering to the device formed on the substrate W.
- the polishing tape 38 is an elongated strip-shaped polishing tool.
- a grindstone may be used instead of the polishing tape 38.
- FIG. 13 is a schematic diagram showing the polishing apparatus viewed from the direction indicated by the arrow J in FIG.
- the polishing head 50 is supported by the support structure 24.
- the support structure 24 includes a connection block 41A (see FIG. 6), a linear motion guide 40A (see FIG. 6), an installation base 27 (see FIG. 6), a support block 28, and a polishing head moving mechanism 30. It is configured.
- One end of the support structure 24 is fixed to the polishing head 50, and the other end of the support structure 24 is fixed to the base plate 21 of the base structure 23.
- the polishing apparatus includes a reinforcing structure 110 fixed to the support structure 24.
- the reinforcing structure 110 includes an anchor arm 111 fixed to the support structure 24 and an anchor mechanism 112 fixed to the anchor arm 111.
- the anchor mechanism 112 is configured to be fixable to and detachable from the base structure 23.
- the anchor mechanism 112 includes a first air cylinder 114 and a second air cylinder 120 as actuators that press the base structure 23.
- the first air cylinder 114 and the second air cylinder 120 are fixed to both ends of the anchor arm 111.
- the actuator that presses the base structure 23 may be a combination of a servo motor and a ball screw mechanism.
- Compressed gas for example, compressed air
- compressed gas for example, compressed air
- the first air cylinder 114 includes a first anchor member 117 fixed to the piston rod
- the second air cylinder 120 includes a second anchor member 123 fixed to the piston rod.
- the first air cylinder 114 and the second air cylinder 120 presses the upper surface (the bottom portion of the partition wall 20) of the base structure 23 with the first anchor member 117 and the second anchor member 123, whereby the first air cylinder 114 and the second air cylinder 120 themselves are attached to the base structure. 23 can be fixed.
- the polishing head moving mechanism 30 can move the polishing unit 25 and the anchor mechanism 112 in the tangential direction of the substrate W.
- the first air cylinder 114 serving as the first actuator is disposed outside the support structure 24, and the second air cylinder 120 serving as the second actuator is disposed inside the support structure 24. More specifically, the first air cylinder 114 extends vertically from the axis CP of the substrate holder 3 and extends in a straight line K connecting the axis CP and the center of the pressing member 51.
- the second air cylinder 120 is disposed inside the support structure 24. The first air cylinder 114 and the second air cylinder 120 are located above or above the base structure 23.
- Compressed gas for example, compressed air
- Compressed gas is supplied to both the pressure chambers 115 and 121 and the back pressure chambers 116 and 122 of the first air cylinder 114 and the second air cylinder 120.
- the first air cylinder 114 and the second air cylinder 120 are separated from the base structure 23.
- the pressure of the compressed gas in the pressurizing chambers 115 and 121 is higher than the compressed gas in the back pressure chambers 116 and 122
- the first air cylinder 114 and the second air cylinder 120 press the upper surface of the base structure 23.
- the support structure 24 is reinforced by the reinforcement structure 110.
- the polishing head 50 can polish the substrate W to form a desired polishing profile. More specifically, the polishing head 50 can form a stepped recess 312 having a right cross section as shown in FIG.
- the first air cylinder 114 can cancel the reaction force acting on the polishing head 50 from the substrate W. Therefore, in one embodiment, only the first air cylinder 114 may be provided and the second air cylinder 120 may be omitted. Since the first air cylinder 114 can cancel the reaction force acting on the polishing head 50 from the substrate W, as a result, the posture of the polishing head 50 supported by the support structure 24 can be stabilized.
- FIG. 14 is a schematic diagram showing an operation system for operating the first air cylinder 114 as the first actuator and the second air cylinder 120 as the second actuator.
- This operation system is a compressed gas supply system capable of operating the first air cylinder 114 and the second air cylinder 120.
- the operation system includes the operation control unit 11 described above.
- the operation system includes a pressurized gas supply line 131 connected to a compressed gas supply line (for example, a compressed air supply line) 130 provided in a factory where a polishing apparatus is installed, and a back pressure side.
- a gas supply line 132 is provided.
- the pressurization side gas supply line 131 includes a main pressurization side line 131a, and a first pressurization side branch line 131b and a second pressurization side branch line 131c branched from the main pressurization side line 131a.
- the main pressurization side line 131a is connected to the compressed gas supply line 130.
- the first pressurization side branch line 131 b is connected to the pressurization chamber 115 of the first air cylinder 114, and the second pressurization side branch line 131 c is connected to the pressurization chamber 121 of the second air cylinder 120.
- a pressure side pressure regulator 134 and a pressure side pressure sensor 135 are attached to the main pressure side line 131a.
- a first pressurization side on / off valve 137 is attached to the first pressurization side branch line 131b, and a second pressurization side on / off valve 138 is attached to the second pressurization side branch line 131c.
- the back pressure side gas supply line 132 has a main back pressure side line 132a, a first back pressure side branch line 132b and a second back pressure side branch line 132c branched from the main back pressure side line 132a.
- the main back pressure side line 132 a is connected to the compressed gas supply line 130.
- the first back pressure side branch line 132 b is connected to the back pressure chamber 116 of the first air cylinder 114, and the second back pressure side branch line 132 c is connected to the back pressure chamber 122 of the second air cylinder 120.
- a back pressure side pressure regulator 140 and a back pressure side pressure sensor 141 are attached to the main back pressure side line 132a.
- a first back pressure side on / off valve 143 is attached to the first back pressure side branch line 132b, and a second back pressure side on / off valve 144 is attached to the second back pressure side branch line 132c.
- the pressurizing side pressure regulator 134, the first pressurizing side on / off valve 137, the second pressurizing side on / off valve 138, the back pressure side pressure regulator 140, the first back pressure side on / off valve 143, and the second back pressure side on / off valve 144 are operated by the operation control unit 11.
- the operation of the pressure regulators 134 and 140 and the valves 137, 138, 143, and 144 is controlled by the operation control unit 11.
- the pressure sensors 135 and 141 may be omitted.
- the operation control unit 11 When the operation control unit 11 opens the first pressurization side on / off valve 137 and the second pressurization side on / off valve 138, the compressed gas passes through the main pressurization side line 131a, the first pressurization side branch line 131b, and the second pressurization side branch line 131c. Then, the pressure is supplied to the pressurizing chambers 115 and 121 of the first air cylinder 114 and the second air cylinder 120.
- the operation control unit 11 transmits a command value of the pressurization side target pressure to the pressurization side pressure regulator 134, and the pressurization side pressure regulator 134 is in the pressurization chambers 115 and 121 of the first air cylinder 114 and the second air cylinder 120.
- the pressure of the compressed gas is adjusted so that the pressure of the compressed gas is maintained at the pressure target pressure.
- the operation controller 11 When the operation controller 11 opens the first back pressure side on / off valve 143 and the second back pressure side on / off valve 144, the compressed gas passes through the main back pressure side line 132a, the first back pressure side branch line 132b, and the second back pressure side branch line 132c. Then, the air is supplied to the back pressure chambers 116 and 122 of the first air cylinder 114 and the second air cylinder 120.
- the operation control unit 11 transmits a command value of the back pressure side target pressure to the back pressure side pressure regulator 140, and the back pressure side pressure regulator 140 is in the back pressure chambers 116 and 122 of the first air cylinder 114 and the second air cylinder 120.
- the pressure of the compressed gas is adjusted so that the pressure of the compressed gas is maintained at the back pressure side target pressure.
- the compressed gas is supplied to the pressurizing chambers 115 and 121 of the first air cylinder 114 and the second air cylinder 120
- the compressed gas is also supplied to the back pressure chambers 116 and 122 of the first air cylinder 114 and the second air cylinder 120. Is supplied. This is because the first air cylinder 114 and the second air cylinder 120 regardless of disturbances such as fluctuations in the pressure of the compressed gas supplied from the compressed gas supply line 130 and fluctuations in the position of the piston rods of the air cylinders 114 and 120. This is because it is possible to generate a stable force.
- first air cylinder 114 and the second air cylinder 120 when the first air cylinder 114 and the second air cylinder 120 are fixed to the base structure 23, compressed gas is supplied to the pressurizing chambers 115 and 121 and supplied to the back pressure chambers 116 and 122. You don't have to. Further, when the first air cylinder 114 and the second air cylinder 120 are separated from the base structure 23, the compressed gas may be supplied to the back pressure chambers 116 and 122 and not supplied to the pressurizing chambers 115 and 121. .
- the compressed air having the same pressure is supplied to the pressurizing chambers 115 and 121 of the first air cylinder 114 and the second air cylinder 120, and the back pressure chambers 116 and 122 of the first air cylinder 114 and the second air cylinder 120 are supplied to the back pressure chambers 116 and 122. Since the compressed gas of the same pressure is supplied, the first air cylinder 114 and the second air cylinder 120 press the base structure 23 with the same force.
- the first back pressure side on / off valve 143 and the second back pressure side on / off valve 144 may be always kept open.
- the operation controller 11 preferably opens and closes the first back pressure side on / off valve 143 and the second back pressure side on / off valve 144 at the same time.
- the operation control unit 11 may change the above-described pressure-side target pressure and / or back-pressure-side target pressure according to the polishing load with which the pressing member 51 presses the polishing tape 38 against the substrate W. For example, when the operation control unit 11 issues a command to the air cylinder 53 to increase the polishing load during polishing of the substrate W, the operation control unit 11 may increase the pressure side target pressure according to the increase in the polishing load. By such an operation, the first air cylinder 114 and the second air cylinder 120 can press the base structure 23 with a force that changes according to the polishing load. As a result, the posture of the polishing head 50 during polishing of the substrate W can be further stabilized.
- FIG. 15 is a schematic diagram showing another embodiment of the operation system. Since the configuration and operation of this embodiment that are not specifically described are the same as those of the embodiment shown in FIG. 14 described above, redundant description thereof is omitted.
- the operation system of the present embodiment is a compressed gas supply system that can independently change the forces generated by the first air cylinder 114 and the second air cylinder 120.
- the operation system of the present embodiment is configured to pressurize the compressed gas supply line 130 and the first air cylinder 114 in place of the main pressurization side line 131a, the first pressurization side branch line 131b, and the second pressurization side branch line 131c.
- a first pressurization side line 131A connected to the chamber 115, a compressed gas supply line 130, and a second pressurization side line 131B connected to the pressurization chamber 121 of the second air cylinder 120 are provided.
- a first pressure-side pressure regulator 134A, a first pressure-side pressure sensor 135A, and a first pressure-side opening / closing valve 137 are attached to the first pressure-side line 131A.
- a second pressure-side pressure regulator 134B, a second pressure-side pressure sensor 135B, and a second pressure-side opening / closing valve 138 are attached to the second pressure-side line 131B.
- the pressure sensors 135A and 135B may be omitted.
- the first pressure side pressure regulator 134A adjusts the pressure of the compressed gas in the pressure chamber 115 of the first air cylinder 114, and the second pressure side pressure regulator 134B is in the pressure chamber 121 of the second air cylinder 120. It is configured to adjust the pressure of the compressed gas.
- the first pressure side pressure regulator 134A and the second pressure side pressure regulator 134B are connected to the operation control unit 11.
- the operation controller 11 transmits a command value of the first pressurization side target pressure to the first pressurization side pressure regulator 134A, and the first pressurization side pressure regulator 134A compresses the compressed gas in the pressurization chamber 115 of the first air cylinder 114. The pressure of the compressed gas is adjusted so that the pressure is maintained at the first pressure target pressure.
- the operation control unit 11 transmits a command value of the second pressurization side target pressure to the second pressurization side pressure regulator 134B, and the second pressurization side pressure regulator 134B is in the pressurization chamber 121 of the second air cylinder 120. The pressure of the compressed gas is adjusted so that the pressure of the compressed gas is maintained at the second pressure target pressure.
- the operation system having such a configuration can independently control the force with which the first air cylinder 114 and the second air cylinder 120 press the base structure 23.
- the operation control unit 11 changes the first pressure-side target pressure and / or the second pressure-side target pressure and / or the back pressure-side target pressure according to the polishing load with which the pressing member 51 presses the polishing tape 38 against the substrate W. Also good. For example, when the operation control unit 11 issues a command to the air cylinder 53 to increase the polishing load during the polishing of the substrate W, the operation control unit 11 may increase the first pressure-side target pressure as the polishing load increases. By such an operation, the first air cylinder 114 and / or the second air cylinder 120 can press the base structure 23 with a force that changes according to the polishing load. As a result, the posture of the polishing head 50 during polishing of the substrate W can be further stabilized.
- FIG. 16 is a schematic diagram showing still another embodiment of the operation system. Since the configuration and operation of this embodiment that are not specifically described are the same as those of the embodiment shown in FIG. 15 described above, redundant description thereof is omitted.
- the operation system of the present embodiment is a compressed gas supply system that can independently change the forces generated by the first air cylinder 114 and the second air cylinder 120.
- the operation system of the present embodiment replaces the main back pressure side line 132a, the first back pressure side branch line 132b, and the second back pressure side branch line 132c described above with back pressures of the compressed gas supply line 130 and the first air cylinder 114.
- a first back pressure side line 132A connected to the chamber 116, a compressed gas supply line 130, and a second back pressure side line 132B connected to the back pressure chamber 122 of the second air cylinder 120 are provided.
- a first back pressure side pressure regulator 140A, a first back pressure side pressure sensor 141A, and a first back pressure side on-off valve 143 are attached to the first back pressure side line 132A.
- a second back pressure side pressure regulator 140B, a second back pressure side pressure sensor 141B, and a second back pressure side on-off valve 144 are attached to the second back pressure side line 132B.
- the pressure sensors 141A and 141B may be omitted.
- the first back pressure side pressure regulator 140A adjusts the pressure of the compressed gas in the back pressure chamber 116 of the first air cylinder 114, and the second back pressure side pressure regulator 140B is in the back pressure chamber 122 of the second air cylinder 120. It is configured to adjust the pressure of the compressed gas.
- the first back pressure side pressure regulator 140A and the second back pressure side pressure regulator 140B are connected to the operation control unit 11.
- the operation control unit 11 transmits a command value of the first back pressure side target pressure to the first back pressure side pressure regulator 140A, and the first back pressure side pressure regulator 140A transmits the compressed gas in the back pressure chamber 116 of the first air cylinder 114.
- the pressure of the compressed gas is adjusted so that the pressure is maintained at the first back pressure target pressure.
- the operation control unit 11 transmits the command value of the second back pressure side target pressure to the second back pressure side pressure regulator 140B, and the second back pressure side pressure regulator 140B is in the back pressure chamber 122 of the second air cylinder 120.
- the pressure of the compressed gas is adjusted so that the pressure of the compressed gas is maintained at the second back pressure side target pressure.
- the operation system having such a configuration can independently control the force with which the first air cylinder 114 and the second air cylinder 120 press the base structure 23.
- FIG. 17 is a diagram showing another embodiment of the reinforcing structure 110. Since the configuration and operation of the present embodiment that are not particularly described are the same as those of the embodiment shown in FIG. 13 described above, redundant description thereof is omitted.
- the reinforcing structure 110 of the present embodiment includes a first air cylinder 114 and a second air cylinder 120 that are disposed on the inner side of the support structure 24.
- the first air cylinder 114 is located below the second air cylinder 120, and the first air cylinder 114 and the second air cylinder 120 face each other.
- the first air cylinder 114 and the second air cylinder 120 are fixed to the anchor arm 111, and the anchor arm 111 is fixed to the support structure 24.
- the base structure 23 includes a protrusion 150 that protrudes from the base plate 21 toward the first air cylinder 114 and the second air cylinder 120.
- the end of the projecting portion 150 is fixed to the base plate 21 of the base structure 23.
- the protruding portion 150 has a horizontal portion 150 a, and the horizontal portion 150 a is located between the first air cylinder 114 and the second air cylinder 120. More specifically, the horizontal portion 150 a of the protrusion 150 is disposed between the first anchor member 117 of the first air cylinder 114 and the second anchor member 123 of the second air cylinder 120.
- the first air cylinder 114 is positioned below the horizontal portion 150a and faces the lower surface of the horizontal portion 150a.
- the second air cylinder 120 is located above the horizontal portion 150a and faces the upper surface of the horizontal portion 150a.
- the first air cylinder 114 and the second air cylinder 120 sandwiches the horizontal portion 150a of the protruding portion 150 between the first anchor member 117 and the second anchor member 123, thereby fixing the first air cylinder 114 and the second air cylinder 120 themselves to the base structure 23. Can do.
- the polishing head moving mechanism 30 can move the polishing unit 25 and the anchor mechanism 112 in the tangential direction of the substrate W.
- FIG. 18 is a view showing still another embodiment of the reinforcing structure 110.
- the reinforcing structure 110 of the present embodiment includes a first air cylinder 114 and a second air cylinder 120 that are disposed outside the support structure 24.
- the first air cylinder 114 is located above the second air cylinder 120. More specifically, the first air cylinder 114 is positioned above the horizontal portion 150a and faces the upper surface of the horizontal portion 150a.
- the second air cylinder 120 is located below the horizontal portion 150a and faces the lower surface of the horizontal portion 150a.
- Other configurations and operations of the present embodiment are the same as those of the embodiment shown in FIG.
- only the first air cylinder 114 may be provided, and the second air cylinder 120 may be omitted. Since the first air cylinder 114 can cancel the reaction force acting on the polishing head 50 from the substrate W, as a result, the posture of the polishing head 50 supported by the support structure 24 can be stabilized.
- FIG. 19 is a schematic view showing an embodiment of a polishing apparatus provided with a coupling mechanism.
- the polishing apparatus of this embodiment further includes a connecting mechanism 160 that connects the polishing head 50 and the support structure 24.
- the connection mechanism 160 includes a first connection mechanism 161 fixed to the mounting member 57 of the polishing head 50 and a second connection mechanism 162 fixed to the support block 28 of the support structure 24.
- the first connecting mechanism 161 and the second connecting mechanism 162 are configured to be fixed to each other and separable from each other.
- the coupling mechanism 160 is disposed inside the support structure 24.
- the coupling mechanism 160 is more than the support structure 24. Arranged inside. In one embodiment, the coupling mechanism 160 may be disposed outside the support structure 24.
- FIG. 20 is a schematic diagram showing the coupling mechanism 160 viewed from the direction indicated by the arrow L in FIG.
- the first coupling mechanism 161 includes a magnetic member 164
- the second coupling mechanism 162 includes an electromagnet 165.
- the entire first coupling mechanism 161 may be formed of a magnetic member.
- the first coupling mechanism 161 may include an electromagnet 165
- the second coupling mechanism 162 may include a magnetic member 164.
- the whole 2nd connection mechanism 162 may be comprised from the magnetic member.
- the operation of the electromagnet 165 is controlled by the operation control unit 11.
- the magnetic member 164 is made of a corrosion-resistant metal such as stainless steel.
- the electromagnet 165 is disposed at a position facing the magnetic member 164.
- the surface on which the electromagnet 165 contacts the magnetic member 164 is preferably composed of a surface on which rust prevention treatment such as UNIQLO treatment has been performed.
- the polishing head 50 is moved in the direction approaching the axis CP of the substrate holder 3 and the direction away from the axis CP by the second polishing head moving mechanism (servo motor 42A, ball screw mechanism 43A, and linear motion guide 40A). Can move.
- the operation control unit 11 operates the electromagnet 165, the electromagnet 165 attracts the magnetic member 164, and the first coupling mechanism 161 and the second coupling mechanism 162 are fixed to each other.
- the movable portion of the linear motion guide 40A constituting the second polishing head moving mechanism may be slightly displaced due to the reaction force of the polishing load. As a result, the polishing head 50 may be inclined.
- the electromagnet 165 is operated, so that the polishing head 50 is polishing the substrate W. The posture can be stabilized.
- the operation control unit 11 stops the operation of the electromagnet 165 and separates the first coupling mechanism 161 and the second coupling mechanism 162 from each other.
- FIG. 21 is a schematic diagram showing another embodiment of the coupling mechanism 160. Since the configuration and operation of the present embodiment that are not particularly described are the same as those of the embodiment illustrated in FIG. 20, redundant description thereof is omitted.
- the first coupling mechanism 161 includes a horizontal portion 166
- the second coupling mechanism 162 includes an arm block 168, a third air cylinder 170, and a fourth air cylinder 171.
- the arm block 168 has an L shape and is fixed to the support block 28 of the support structure 24.
- the third air cylinder 170 is fixed to the arm block 168
- the fourth air cylinder 171 is fixed to the support block 28 of the support structure 24.
- the third air cylinder 170 is disposed above the fourth air cylinder 171, and the horizontal portion 166 of the first coupling mechanism 161 is located between the third air cylinder 170 and the fourth air cylinder 171.
- the second connection mechanism 162 may include a horizontal portion 166
- the first connection mechanism 161 may include a third air cylinder 170 and a fourth air cylinder 171.
- the operations of the third air cylinder 170 and the fourth air cylinder 171 are controlled by a pressure regulator 173 and a pressure regulator 174 for adjusting the pressure of the compressed gas in the pressurization chamber and the back pressure chamber of the air cylinders 170 and 171. .
- the operations of the pressure regulator 173 and the pressure regulator 174 are controlled by the operation control unit 11.
- the polishing head 50 is moved in the direction approaching the axis CP of the substrate holder 3 and the direction away from the axis CP by the second polishing head moving mechanism (servo motor 42A, ball screw mechanism 43A, and linear motion guide 40A). Can move.
- the horizontal portion 166 is sandwiched between the third air cylinder 170 and the fourth air cylinder 171, the first coupling mechanism 161 and the second coupling mechanism 162 are fixed to each other, and the posture of the polishing head 50 is stabilized.
- Step 1 as shown in FIG. 22A, the polishing unit 25 including the polishing head 50 and the polishing tape supply mechanism 70 is in the retracted position.
- the operation control unit 11 issues a command to the substrate holding unit 3 to rotate the substrate W around the axis CP. Further, a liquid (for example, pure water) is supplied from the liquid supply nozzle to the upper surface of the substrate W.
- a liquid for example, pure water
- FIG. 22A the positions and shapes of the first air cylinder 114, the second air cylinder 120, and the connection mechanism 160 are schematically depicted.
- White circles indicating the first air cylinder 114 and the second air cylinder 120 constituting the anchor mechanism 112 indicate a state in which the first air cylinder 114 and the second air cylinder 120 are separated from the base structure 23.
- white circles indicating the coupling mechanism 160 indicate a state in which the first coupling mechanism 161 and the second coupling mechanism 162 constituting the coupling mechanism 160 are separated from each other.
- step 2 as shown in FIG. 22B, the operation control unit 11 operates the first polishing head moving mechanism 30 to move the polishing unit 25 in the first direction, and the pressing member 51 of the polishing head 50 and the polishing member.
- the tape 38 is brought close to the substrate W on the substrate holding unit 3.
- Step 3 as shown in FIG. 22C, the motion control unit 11 presses the first air cylinder 114 and the second air cylinder 120 constituting the anchor mechanism 112 against the base structure 23, and the first air cylinder 114 and the second air cylinder
- the air cylinder 120 is fixed to the base structure 23. Black circles indicating the first air cylinder 114 and the second air cylinder 120 indicate a state in which the first air cylinder 114 and the second air cylinder 120 press the base structure 23.
- step 4 the operation control unit 11 operates the servo motor 42A (second polishing head moving mechanism) and the servo motor 42B (polishing tool moving mechanism) so that the pressing member 51 and the polishing tape 38 are moved.
- the polishing head 50 and the polishing tape supply mechanism 70 are moved toward the axis CP of the substrate holding unit 3 until they are positioned above the peripheral edge of the substrate W on the substrate holding unit 3.
- step 5 as shown in FIG. 23B, the operation control unit 11 fixes the first coupling mechanism 161 and the second coupling mechanism 162 to each other.
- the operation control unit 11 operates the electromagnet 165 shown in FIG. 20 or sandwiches the horizontal part 166 between the third air cylinder 170 and the fourth air cylinder 171 shown in FIG.
- a black circle indicating the coupling mechanism 160 indicates a state in which the first coupling mechanism 161 and the second coupling mechanism 162 are fixed to each other.
- step 6 as shown in FIG. 23C, the first air cylinder 114 and the second air cylinder 120 are fixed to the base structure 23, and the first connection mechanism 161 and the second connection mechanism 162 are fixed to each other.
- the polishing head 50 lowers the pressing member 51 and presses the polishing tape 38 against the peripheral edge of the substrate W with the pressing member 51.
- the black pressing member 51 shows a state where the pressing member 51 presses the polishing tape 38 against the peripheral edge of the substrate W.
- the polishing tape 38 is slidably contacted with the peripheral edge of the substrate W in the presence of the liquid, and polishes the peripheral edge of the substrate W.
- step 7 as shown in FIG. 24A, the polishing head 50 raises the pressing member 51 and separates the polishing tape 38 from the peripheral edge of the substrate W. This completes the polishing of the substrate W.
- the white pressing member 51 shows a state in which the pressing member 51 is raised and the polishing tape 38 is separated from the peripheral edge of the substrate W.
- step 8 as shown in FIG. 24B, the first coupling mechanism 161 and the second coupling mechanism 162 are separated from each other.
- step 9 as shown in FIG. 24C, the operation control unit 11 operates the servo motor 42A (second polishing head moving mechanism) and the servo motor 42B (polishing tool moving mechanism), and the polishing head 50 and the polishing tape supply mechanism. 70 is moved away from the axis CP of the substrate holder 3.
- step 10 the operation control unit 11 separates the first air cylinder 114 and the second air cylinder 120 constituting the anchor mechanism 112 from the base structure 23.
- step 11 as shown in FIG. 25B, the operation control unit 11 operates the first polishing head moving mechanism 30 to move the polishing unit 25 including the polishing head 50 and the polishing tape supply mechanism 70 to the retracted position.
- step 12 the rotation of the substrate W is stopped and the supply of the liquid to the upper surface of the substrate W is stopped.
- the polishing apparatus includes both the anchor mechanism 112 and the coupling mechanism 160.
- the polishing apparatus may include only one of the anchor mechanism 112 and the coupling mechanism 160. Good.
- the polishing tool for polishing the substrate W may be a grindstone.
- the polishing head 50 may include one or more grindstones 180 on the lower surface thereof.
- the polishing head 50 shown in FIG. 26 is fixed to the support structure 24.
- the polishing head 50 polishes the peripheral portion of the substrate W by pressing a plurality of grindstones 180 as polishing tools against the peripheral portion of the substrate W while rotating around the axis.
- the polishing head 50 may include a disk-shaped grindstone 180 fixed to a rotation shaft 181 that extends parallel to the surface of the substrate W.
- the rotating shaft 181 is connected to a motor 182 fixed to the support structure 24.
- the peripheral portion of the substrate W is polished by pressing the outer peripheral surface of the grindstone 180 against the peripheral portion of the substrate W while the motor 182 rotates the grindstone 180.
- Other configurations and operations of the embodiment shown in FIGS. 26 and 27 are the same as those of the embodiment shown in FIGS.
- the embodiment shown in FIGS. 18 to 25 is also applicable to the embodiment shown in FIGS.
- the present invention is applicable to a polishing apparatus and a polishing method for polishing a peripheral portion by pressing a polishing tool against the peripheral portion of the substrate.
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
- Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
- Grinding And Polishing Of Tertiary Curved Surfaces And Surfaces With Complex Shapes (AREA)
- Grinding-Machine Dressing And Accessory Apparatuses (AREA)
- Constituent Portions Of Griding Lathes, Driving, Sensing And Control (AREA)
Abstract
本発明は、基板の周縁部に研磨具を押し付けて該周縁部を研磨する研磨装置および研磨方法に関する。 研磨装置は、基板(W)を保持する基板保持部(3)と、研磨具(38)を基板Wに押し付ける研磨ヘッド(50)と、研磨ヘッド(50)を支持する支持構造体(24)と、支持構造体(24)が固定されたベース構造体(23)と、支持構造体(24)に固定された補強構造体(110)とを備える。補強構造体(110)は、ベース構造体(23)に固定可能および切り離し可能に構成されたアンカー機構(112)を有している。
Description
本発明は、ウェーハなどの基板を研磨するための研磨装置および研磨方法に関し、特に、基板の周縁部に研磨具を押し付けて該周縁部を研磨する研磨装置および研磨方法に関する。
基板の周縁部を研磨するために、従来から研磨装置が使用されている。図28は、従来の研磨装置を示す模式図である。図28に示す研磨装置は、ウェーハなどの基板Wを保持する基板ステージ300と、研磨具である研磨テープ305を基板Wに押し付ける研磨ヘッド307とを有している。研磨ヘッド307は、押圧部材308およびエアシリンダ309を有している。研磨ヘッド307は、基台310に固定された支持構造体311により支持されている。
基板Wは、基板ステージ300のステージ面300a上に真空吸引などにより保持され、基板ステージ300とともにその軸心を中心に回転される。研磨具である研磨テープ305は、押圧部材308によって基板Wの周縁部に押し付けられる。押圧部材308はエアシリンダ309に連結されており、研磨テープ305を基板Wに押し付ける力はエアシリンダ309から押圧部材308に付与される。基板Wの研磨中、基板Wの中心に純水が供給され、基板Wの上面は純水で覆われる。研磨テープ305は、純水の存在下で基板Wの周縁部を研磨し、基板Wの周縁部に図29に示すような、直角の断面を有する階段状の窪み312を形成する。
しかしながら、押圧部材308が研磨テープ305を基板Wの周縁部に対して押し付けているとき、基板Wからの反力が研磨ヘッド307に作用する。この反力を受けて、研磨ヘッド307および支持構造体311は図28の矢印Xで示す方向に上方に傾き、押圧部材308の全体が傾いてしまう。結果として、図30に示すように、研磨テープ305は基板Wの周縁部に対して斜めに押し当てられ、斜めに研磨された面が基板Wの周縁部に形成されてしまう。
そこで、本発明は、基板研磨時の研磨ヘッドの傾きを防止して、所望の研磨プロファイルを達成することができる研磨装置および研磨方法を提供することを目的とする。
本発明の一態様は、基板を保持する基板保持部と、研磨具を基板に押し付ける研磨ヘッドと、前記研磨ヘッドを支持する支持構造体と、前記支持構造体が固定されたベース構造体と、前記支持構造体に固定された補強構造体とを備え、前記補強構造体は、前記ベース構造体に固定可能および切り離し可能に構成されたアンカー機構を有していることを特徴とする研磨装置である。
本発明の好ましい態様は、前記アンカー機構は、前記ベース構造体を押し付けるアクチュエータを備えていることを特徴とする。
本発明の好ましい態様は、前記アクチュエータは、前記支持構造体よりも外側に配置されていることを特徴とする。
本発明の好ましい態様は、前記アクチュエータを操作する操作システムをさらに備え、前記操作システムは、前記研磨ヘッドが前記研磨具を押し付ける研磨荷重に従って変わる力を前記アクチュエータに発生させるように構成されていることを特徴とする。
本発明の好ましい態様は、前記ベース構造体は、前記アクチュエータに向かって突出する突出部を有しており、前記アクチュエータは、前記突出部に対向して配置されていることを特徴とする。
本発明の好ましい態様は、前記アクチュエータを操作する操作システムをさらに備え、前記操作システムは、前記研磨ヘッドが前記研磨具を押し付ける研磨荷重に従って変わる力を前記アクチュエータに発生させるように構成されていることを特徴とする。
本発明の好ましい態様は、前記アクチュエータは、前記支持構造体よりも外側に配置されていることを特徴とする。
本発明の好ましい態様は、前記アクチュエータを操作する操作システムをさらに備え、前記操作システムは、前記研磨ヘッドが前記研磨具を押し付ける研磨荷重に従って変わる力を前記アクチュエータに発生させるように構成されていることを特徴とする。
本発明の好ましい態様は、前記ベース構造体は、前記アクチュエータに向かって突出する突出部を有しており、前記アクチュエータは、前記突出部に対向して配置されていることを特徴とする。
本発明の好ましい態様は、前記アクチュエータを操作する操作システムをさらに備え、前記操作システムは、前記研磨ヘッドが前記研磨具を押し付ける研磨荷重に従って変わる力を前記アクチュエータに発生させるように構成されていることを特徴とする。
本発明の好ましい態様は、前記研磨装置は、前記研磨ヘッドと前記支持構造体とを連結する連結機構をさらに備えており、前記連結機構は、前記研磨ヘッドに固定された第1連結機構と、前記支持構造体に固定された第2連結機構とを備え、前記第1連結機構および前記第2連結機構は互いに固定可能かつ互いに切り離し可能に構成されていることを特徴とする。
本発明の好ましい態様は、前記第1連結機構および前記第2連結機構のうちの一方は電磁石を備え、前記第1連結機構および前記第2連結機構のうちの他方は磁性部材を備えることを特徴とする。
本発明の好ましい態様は、前記第1連結機構および前記第2連結機構のうちの一方は一対のエアシリンダを備え、前記第1連結機構および前記第2連結機構のうちの他方は前記一対のエアシリンダの間に配置された部分を有することを特徴とする。
本発明の好ましい態様は、前記支持構造体は、前記研磨ヘッドを移動させる少なくとも1つの研磨ヘッド移動機構を含むことを特徴とする。
本発明の好ましい態様は、前記第1連結機構および前記第2連結機構のうちの一方は電磁石を備え、前記第1連結機構および前記第2連結機構のうちの他方は磁性部材を備えることを特徴とする。
本発明の好ましい態様は、前記第1連結機構および前記第2連結機構のうちの一方は一対のエアシリンダを備え、前記第1連結機構および前記第2連結機構のうちの他方は前記一対のエアシリンダの間に配置された部分を有することを特徴とする。
本発明の好ましい態様は、前記支持構造体は、前記研磨ヘッドを移動させる少なくとも1つの研磨ヘッド移動機構を含むことを特徴とする。
本発明の一態様は、基板を保持する基板保持部と、研磨具を基板に押し付ける研磨ヘッドと、前記研磨ヘッドを支持する支持構造体と、前記支持構造体が固定されたベース構造体と、前記研磨ヘッドと前記支持構造体とを連結する連結機構を備え、前記連結機構は、前記研磨ヘッドに固定された第1連結機構と、前記支持構造体に固定された第2連結機構とを備え、前記第1連結機構および前記第2連結機構は互いに固定可能かつ互いに切り離し可能に構成されていることを特徴とする研磨装置である。
本発明の好ましい態様は、前記第1連結機構および前記第2連結機構のうちの一方は電磁石を備え、前記第1連結機構および前記第2連結機構のうちの他方は磁性部材を備えることを特徴とする。
本発明の好ましい態様は、前記第1連結機構および前記第2連結機構のうちの一方は一対のエアシリンダを備え、前記第1連結機構および前記第2連結機構のうちの他方は前記一対のエアシリンダの間に配置された部分を有することを特徴とする。
本発明の好ましい態様は、前記研磨装置は、前記支持構造体に固定された補強構造体をさらに備えており、前記補強構造体は、前記ベース構造体に固定可能および切り離し可能に構成されたアンカー機構を有していることを特徴とする。
本発明の好ましい態様は、前記アンカー機構は、前記ベース構造体を押し付けるアクチュエータを備えていることを特徴とする。
本発明の好ましい態様は、前記支持構造体は、前記研磨ヘッドを移動させる少なくとも1つの研磨ヘッド移動機構を含むことを特徴とする。
本発明の好ましい態様は、前記第1連結機構および前記第2連結機構のうちの一方は一対のエアシリンダを備え、前記第1連結機構および前記第2連結機構のうちの他方は前記一対のエアシリンダの間に配置された部分を有することを特徴とする。
本発明の好ましい態様は、前記研磨装置は、前記支持構造体に固定された補強構造体をさらに備えており、前記補強構造体は、前記ベース構造体に固定可能および切り離し可能に構成されたアンカー機構を有していることを特徴とする。
本発明の好ましい態様は、前記アンカー機構は、前記ベース構造体を押し付けるアクチュエータを備えていることを特徴とする。
本発明の好ましい態様は、前記支持構造体は、前記研磨ヘッドを移動させる少なくとも1つの研磨ヘッド移動機構を含むことを特徴とする。
本発明の一態様は、支持構造体に固定されている補強構造体のアンカー機構をベース構造体に固定し、基板保持部で基板を回転させながら、前記支持構造体に支持された研磨ヘッドで研磨具を前記基板に押し付けることで前記基板を研磨し、前記基板の研磨の終了後に、前記アンカー機構を前記ベース構造体から切り離すことを特徴とする研磨方法である。
本発明の好ましい態様は、前記基板を研磨する前に、前記研磨ヘッドに固定されている第1連結機構を、前記支持構造体に固定された第2連結機構に連結し、前記基板の研磨の終了後に、前記第1連結機構を前記第2連結機構から切り離す工程をさらに含むことを特徴とする。
本発明の好ましい態様は、前記基板を研磨する前に、前記研磨ヘッドに固定されている第1連結機構を、前記支持構造体に固定された第2連結機構に連結し、前記基板の研磨の終了後に、前記第1連結機構を前記第2連結機構から切り離す工程をさらに含むことを特徴とする。
本発明の一態様は、研磨ヘッドに固定されている第1連結機構を、前記研磨ヘッドを支持する支持構造体に固定された第2連結機構に連結し、基板保持部で基板を回転させながら、前記研磨ヘッドで研磨具を前記基板に押し付けることで前記基板を研磨し、前記基板の研磨の終了後に、前記第1連結機構を前記第2連結機構から切り離すことを特徴とする研磨方法である。
本発明の好ましい態様は、前記基板を研磨する前に、前記支持構造体に固定されている補強構造体のアンカー機構をベース構造体に固定し、前記基板の研磨の終了後に、前記アンカー機構を前記ベース構造体から切り離す工程をさらに含むことを特徴とする。
本発明の好ましい態様は、前記基板を研磨する前に、前記支持構造体に固定されている補強構造体のアンカー機構をベース構造体に固定し、前記基板の研磨の終了後に、前記アンカー機構を前記ベース構造体から切り離す工程をさらに含むことを特徴とする。
本発明によれば、アンカー機構および/または連結機構により支持構造体が補強される。したがって、基板研磨中の研磨ヘッドの姿勢が安定し、所望の研磨プロファイルを得ることができる。
以下、本発明の実施形態について図面を参照して説明する。
本明細書では、基板の周縁部を、基板の最外周に位置するベベル部と、このベベル部の半径方向内側に位置するトップエッジ部およびボトムエッジ部とを含む領域として定義する。基板の例としては、ウェーハが挙げられる。
本明細書では、基板の周縁部を、基板の最外周に位置するベベル部と、このベベル部の半径方向内側に位置するトップエッジ部およびボトムエッジ部とを含む領域として定義する。基板の例としては、ウェーハが挙げられる。
図1Aおよび図1Bは、基板の周縁部を示す拡大断面図である。より詳しくは、図1Aはいわゆるストレート型の基板の断面図であり、図1Bはいわゆるラウンド型の基板の断面図である。図1Aの基板Wにおいて、ベベル部は、上側傾斜部(上側ベベル部)P、下側傾斜部(下側ベベル部)Q、および側部(アペックス)Rから構成される基板Wの最外周面(符号Bで示す)である。図1Bの基板Wにおいては、ベベル部は、基板Wの最外周面を構成する、湾曲した断面を有する部分(符号Bで示す)である。トップエッジ部は、ベベル部Bよりも半径方向内側に位置する平坦部E1である。ボトムエッジ部は、トップエッジ部とは反対側に位置し、ベベル部Bよりも半径方向内側に位置する平坦部E2である。トップエッジ部E1は、デバイスが形成された領域を含むこともある。
図2は、本発明の一実施形態に係る研磨装置を示す平面図であり、図3は、図2のF-F線断面図であり、図4は、図3の矢印Gで示す方向から見た図である。
本実施形態に係る研磨装置は、ウェーハなどの基板Wを保持し、基板Wを回転させる基板保持部3と、基板保持部3上の基板Wを研磨する研磨ユニット25を備えている。図2および図3においては、基板保持部3が基板Wを保持している状態を示している。基板保持部3は、基板Wの下面を真空吸引により保持する保持ステージ4と、保持ステージ4の中央部に連結された中空シャフト5と、この中空シャフト5を回転させるモータM1とを備えている。基板Wは、基板Wの中心が中空シャフト5の軸心CPと一致するように保持ステージ4の上に載置される。
図2に示すように、研磨ユニット25は、研磨具としての研磨テープ38を用いて基板Wの周縁部を研磨する研磨ヘッド50と、研磨テープ38を研磨ヘッド50に供給し、かつ研磨ヘッド50から研磨テープ38を回収する研磨テープ供給機構70を備えている。研磨ヘッド50は、研磨テープ38の研磨面を基板Wのトップエッジ部に押し当てて基板Wの周縁部に階段状の窪みを形成するように構成されている。研磨ユニット25および保持ステージ4は、隔壁20によって形成された研磨室22内に配置されている。
図3に示すように、隔壁20はベースプレート21上に固定されており、基板保持部3の下部は、隔壁20の底部およびベースプレート21を貫通して延びている。本実施形態では、隔壁20の底面とベースプレート21によりベース構造体23が構成されている。このベース構造体23には、研磨ヘッド50を支持する支持構造体24が固定されている。隔壁20は、基板Wを研磨室22に搬入および搬出するための搬送口20aを備えている。この搬送口20aは、シャッター20bにより閉じることが可能となっている。
中空シャフト5は、ボールスプライン軸受(直動軸受)6によって上下動自在に支持されている。保持ステージ4の上面には溝4aが形成されており、この溝4aは、中空シャフト5を通って延びる連通路7に連通している。連通路7は中空シャフト5の下端に取り付けられたロータリジョイント8を介して真空ライン9に接続されている。連通路7は、処理後の基板Wを保持ステージ4から離脱させるための窒素ガス供給ライン10にも接続されている。これらの真空ライン9と窒素ガス供給ライン10を切り替えることによって、基板Wを保持ステージ4の上面に保持し、離脱させる。
中空シャフト5は、この中空シャフト5に連結されたプーリーp1と、モータM1の回転軸に取り付けられたプーリーp2と、これらプーリーp1,p2に掛けられたベルトb1を介してモータM1によって回転される。ボールスプライン軸受6は、中空シャフト5がその長手方向へ自由に移動することを許容する軸受である。ボールスプライン軸受6は円筒状のケーシング12に固定されている。したがって、中空シャフト5は、ケーシング12に対して上下に直線移動が可能であり、中空シャフト5とケーシング12は一体に回転する。中空シャフト5は、エアシリンダ(昇降機構)15に連結されており、エアシリンダ15によって中空シャフト5および保持ステージ4が上昇および下降できるようになっている。
ケーシング12と、その外側に同心上に配置された円筒状のケーシング14との間にはラジアル軸受18が介装されており、ケーシング12は軸受18によって回転自在に支持されている。このような構成により、基板保持部3は、その軸心CPを中心に基板Wを回転させ、かつ基板Wを軸心CPに沿って上昇下降させることができる。
基板保持部3の外側には、基板Wの周縁部を研磨する研磨ユニット25が配置されている。この研磨ユニット25は、研磨室22の内部に配置されている。図4に示すように、研磨ユニット25の全体は、設置台27の上に固定されている。この設置台27は支持ブロック28を介して研磨ヘッド移動機構30に連結されている。研磨ヘッド移動機構30は、ベースプレート21に固定されている。本実施形態では、研磨ヘッド50を支持する支持構造体24は、設置台27、支持ブロック28、および研磨ヘッド移動機構30を含む。支持構造体24は、隔壁20の底部およびベースプレート21から構成されるベース構造体23を貫通して延びている。支持構造体24の端部を構成する研磨ヘッド移動機構30は、ベース構造体23の下面、すなわちベースプレート21の下面に固定されている。
研磨ヘッド移動機構30は、支持ブロック28をスライド自在に保持するボールねじ機構31と、このボールねじ機構31を駆動するモータ32と、ボールねじ機構31とモータ32とを連結する動力伝達機構33とを備えている。ボールねじ機構31は、支持ブロック28の移動方向をガイドする直動ガイド(図示せず)を備えている。動力伝達機構33は、プーリーおよびベルトなどから構成されている。モータ32を作動させると、ボールねじ機構31が支持ブロック28を図4の矢印で示す方向に動かし、研磨ユニット25全体が基板Wの接線方向に移動する。この研磨ヘッド移動機構30は、研磨ユニット25を所定の振幅および所定の速度で揺動させるオシレーション機構としても機能する。本実施形態では、研磨ヘッド移動機構30は、研磨ヘッド50および研磨テープ供給機構70を含む研磨ユニット25を第1の方向に移動させる第1研磨ヘッド移動機構を構成する。
図5は研磨ヘッド50および研磨テープ供給機構70の平面図であり、図6は研磨ヘッド50および研磨テープ供給機構70の正面図であり、図7は図6に示すH-H線断面図であり、図8は図6に示す研磨テープ供給機構70の側面図であり、図9は図6に示す研磨ヘッド50を矢印Iで示す方向から見た縦断面図である。
設置台27の上には、基板Wの半径方向と平行に延びる2つの直動ガイド40A,40Bが配置されている。これら直動ガイド40A,40Bは互いに平行に配置されている。研磨ヘッド50と直動ガイド40Aとは、連結ブロック41Aを介して連結されている。さらに、研磨ヘッド50は、該研磨ヘッド50を直動ガイド40Aに沿って(すなわち、基板Wの半径方向に)移動させるサーボモータ42Aおよびボールねじ機構43Aに連結されている。より具体的には、ボールねじ機構43Aは連結ブロック41Aに固定されており、サーボモータ42Aは設置台27に支持部材44Aを介して固定されている。サーボモータ42Aは、ボールねじ機構43Aのねじ軸を回転させるように構成されており、これにより、連結ブロック41Aおよびこれに連結された研磨ヘッド50は直動ガイド40Aに沿って移動される。本実施形態では、サーボモータ42A、ボールねじ機構43A、および直動ガイド40Aは、研磨ヘッド50を上記第1の方向と垂直な第2の方向に移動させる第2研磨ヘッド移動機構を構成する。
同様に、研磨テープ供給機構70と直動ガイド40Bとは、連結ブロック41Bを介して連結されている。さらに、研磨テープ供給機構70は、該研磨テープ供給機構70を直動ガイド40Bに沿って(すなわち、基板Wの半径方向に)移動させるサーボモータ42Bおよびボールねじ機構43Bに連結されている。より具体的には、ボールねじ機構43Bは連結ブロック41Bに固定されており、サーボモータ42Bは設置台27に支持部材44Bを介して固定されている。サーボモータ42Bは、ボールねじ機構43Bのねじ軸を回転させるように構成されており、これにより、連結ブロック41Bおよびこれに連結された研磨テープ供給機構70は直動ガイド40Bに沿って移動される。本実施形態では、サーボモータ42B、ボールねじ機構43B、および直動ガイド40Bは、研磨テープ供給機構70を移動させる研磨具移動機構を構成する。
図9に示すように、研磨ヘッド50は、研磨テープ38を基板Wに対して押し付けるための押圧部材51と、押圧部材51を保持する押圧部材ホルダー52と、この押圧部材ホルダー52および押圧部材51を上下動させる押圧装置としてのエアシリンダ53とを備えている。エアシリンダ53は、保持部材55に保持されている。さらに、保持部材55は、連結ブロック41Aに固定された据付部材57に固定されている。押圧部材51が研磨テープ38を基板Wに対して押し付ける研磨荷重はエアシリンダ53によって発生される。
押圧部材ホルダー52は、鉛直方向に延びる直動ガイド58を介して据付部材57に連結されている。エアシリンダ53により押圧部材ホルダー52を押し下げると、押圧部材51は直動ガイド58に沿って下方に移動し、押圧部材51は研磨テープ38を基板Wの周縁部に対して押し付ける。さらに、エアシリンダ53は、直動ガイド58に沿って押圧部材ホルダー52および押圧部材51を上昇させることができる。押圧部材51は、PEEK(ポリエーテルエーテルケトン)のなどの樹脂、ステンレス鋼などの金属、またはSiC(炭化ケイ素)などのセラミックから形成されている。
押圧部材51には、鉛直方向に延びる複数の貫通孔51aを有しており、この貫通孔51aには真空ライン60が接続されている。真空ライン60には、図示しない弁が設けられており、弁を開くことにより押圧部材51の貫通孔51a内に真空が形成されるようになっている。押圧部材51の下面が研磨テープ38の上面に接触した状態で貫通孔51aに真空が形成されると、研磨テープ38の上面は押圧部材51の下面に保持される。なお、押圧部材51の貫通孔51aは1つであってもよい。基板Wの研磨中は貫通孔51a内に真空が形成され、研磨テープ38は押圧部材51の下面に保持される。
押圧部材ホルダー52、エアシリンダ53、保持部材55、および据付部材57は、ボックス62内に収容されている。押圧部材ホルダー52の下部はボックス62の底部から突出しており、押圧部材ホルダー52の下部に押圧部材51が取り付けられている。
研磨テープ供給機構70は、研磨テープ38を供給する供給リール71と、研磨テープ38を回収する回収リール72とを備えている。供給リール71および回収リール72は、それぞれテンションモータ73,74に連結されている。これらテンションモータ73,74は、所定のトルクを供給リール71および回収リール72に与えることにより、研磨テープ38に所定のテンションをかけることができるようになっている。
供給リール71と回収リール72との間には、研磨テープ送り機構76が設けられている。この研磨テープ送り機構76は、研磨テープ38を送るテープ送りローラ77と、研磨テープ38をテープ送りローラ77に対して押し付けるニップローラ78と、テープ送りローラ77を回転させるテープ送りモータ79とを備えている。研磨テープ38はニップローラ78とテープ送りローラ77との間に挟まれている。テープ送りローラ77を図6の矢印で示す方向に回転させることにより、研磨テープ38は供給リール71から回収リール72に送られる。
テンションモータ73,74およびテープ送りモータ79は、基台81に設置されている。この基台81は連結ブロック41Bに固定されている。基台81は、供給リール71および回収リール72から研磨ヘッド50に向かって延びる2本の支持アーム82,83を有している。支持アーム82,83には、研磨テープ38を支持する複数のガイドローラ84A,84B,84C,84D,84Eが取り付けられている。研磨テープ38はこれらのガイドローラ84A~84Eにより、研磨ヘッド50を囲むように案内される。
研磨テープ38の延びる方向は、上から見たときに、基板Wの半径方向に対して垂直である。研磨ヘッド50の下方に位置する2つのガイドローラ84D,84Eは、研磨テープ38の研磨面が基板Wの表面(上面)と平行となるように研磨テープ38を支持している。さらに、これら2つのガイドローラ84D,84Eの間にある研磨テープ38は、基板Wの接線方向と平行に延びている。研磨テープ38と基板Wとの間には、鉛直方向において隙間が形成されている。
研磨装置は、研磨テープ38の縁部の位置を検出するテープエッジ検出センサ100をさらに備えている。テープエッジ検出センサ100は、透過型の光学式センサである。テープエッジ検出センサ100は、投光部100Aと受光部100Bとを有している。投光部100Aは、図5に示すように、設置台27に固定されており、受光部100Bは、図3に示すように、ベースプレート21に固定されている。このテープエッジ検出センサ100は、受光部100Bによって受光される光の量から研磨テープ38の縁部の位置を検出するように構成されている。
基板Wを研磨するときは、図10に示すように、研磨ヘッド50および研磨テープ供給機構70は、サーボモータ42A,42Bおよびボールねじ機構43A,43Bによりそれぞれ所定の研磨位置にまで移動される。研磨位置にある研磨テープ38は、基板Wの接線方向に延びている。図11は、研磨位置にある押圧部材51、研磨テープ38、および基板Wを横方向から見た模式図である。図11に示すように、研磨テープ38は、基板Wの周縁部の上方に位置し、さらに研磨テープ38の上方に押圧部材51が位置する。
図12は、押圧部材51により研磨テープ38を基板Wに押し付けている状態を示す図である。本実施形態では、図12に示すように、研磨位置にある押圧部材51の縁部と研磨テープ38の縁部は一致している。すなわち、押圧部材51の縁部と研磨テープ38の縁部が一致するように、研磨ヘッド50および研磨テープ供給機構70がそれぞれ独立に研磨位置に移動される。一実施形態では、研磨テープ38の縁部は、押圧部材51の縁部から突出してもよい。
次に、上述のように構成された研磨装置の研磨動作について説明する。以下に説明する研磨装置の動作は、図2に示す動作制御部11によって制御される。基板Wは、その表面に形成されている膜(例えば、デバイス層)が上を向くように基板保持部3に保持され、さらに基板Wは、基板保持部3の軸心CPを中心に回転される。回転する基板Wの中心には、図示しない液体供給ノズルから液体(例えば、純水)が供給される。研磨ヘッド50の押圧部材51および研磨テープ38は、図11に示すように、それぞれ所定の研磨位置にまで移動される。
次に、エアシリンダ53(図9参照)は、押圧部材51を押し下げ、図12に示すように、押圧部材51で研磨テープ38を基板Wの周縁部に所定の研磨荷重で押し付ける。研磨荷重は、エアシリンダ53に供給する気体の圧力により調整することができる。回転する基板Wと、研磨テープ38との摺接により、基板Wの周縁部が研磨される。すなわち、研磨テープ38は、図29に示すような、直角の断面を有する階段状の窪み312を形成することができる。
基板Wの研磨レートを上げるために、基板Wの研磨中に研磨ヘッド移動機構30により研磨テープ38を基板Wの接線方向に沿って揺動させてもよい。研磨中は、回転する基板Wの中心部に液体(例えば純水)が供給され、基板Wは水の存在下で研磨される。基板Wに供給された液体は、遠心力により基板Wの上面全体に広がり、これにより基板Wに形成されたデバイスに研磨屑が付着してしまうことが防止される。研磨テープ38は、細長い帯状の研磨具である。基板Wを研磨するための研磨具として、研磨テープ38に代えて、砥石を用いてもよい。
図13は、図2の矢印Jで示す方向から見た研磨装置を示す模式図である。図13に示すように、研磨ヘッド50は、支持構造体24に支持されている。本実施形態では、支持構造体24は、連結ブロック41A(図6参照)、直動ガイド40A(図6参照)、設置台27(図6参照)、支持ブロック28、および研磨ヘッド移動機構30により構成されている。支持構造体24の一端は研磨ヘッド50に固定され、支持構造体24の他端はベース構造体23のベースプレート21に固定されている。
研磨装置は、支持構造体24に固定された補強構造体110を備えている。この補強構造体110は、支持構造体24に固定されたアンカーアーム111と、アンカーアーム111に固定されたアンカー機構112を有している。アンカー機構112は、ベース構造体23に固定可能および切り離し可能に構成されている。本実施形態では、アンカー機構112は、ベース構造体23を押し付けるアクチュエータとしての第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120を備えている。第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120は、アンカーアーム111の両端に固定されている。一実施形態では、ベース構造体23を押し付けるアクチュエータは、サーボモータとボールねじ機構との組み合わせでもよい。
第1エアシリンダ114の加圧室115および背圧室116にはそれぞれ圧縮気体(例えば、圧縮空気)が供給される。同様に、第2エアシリンダ120の加圧室121および背圧室122にはそれぞれ圧縮気体(例えば、圧縮空気)が供給される。第1エアシリンダ114は、そのピストンロッドに固定された第1アンカー部材117を備えており、第2エアシリンダ120は、そのピストンロッドに固定された第2アンカー部材123を備えている。
第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120の加圧室115,121内の圧縮気体の圧力が、背圧室116,122内の圧縮気体よりも高いとき、第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120は、第1アンカー部材117および第2アンカー部材123でベース構造体23の上面(隔壁20の底部)を押し付け、これによって、第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120自体をベース構造体23に固定することができる。第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120の加圧室115,121内の圧縮気体の圧力が、背圧室116,122内の圧縮気体よりも低いとき、第1アンカー部材117および第2アンカー部材123はベース構造体23から離れ、これにより第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120はベース構造体23から切り離される。したがって、研磨ヘッド移動機構30は、研磨ユニット25およびアンカー機構112を基板Wの接線方向に移動させることができる。
第1アクチュエータである第1エアシリンダ114は、支持構造体24よりも外側に配置されており、第2アクチュエータである第2エアシリンダ120は、支持構造体24よりも内側に配置されている。より具体的には、基板保持部3の軸心CPから垂直に延び、かつ軸心CPと押圧部材51の中心とを結ぶ直線Kの延びる方向に関して、第1エアシリンダ114は、支持構造体24よりも外側に配置され、第2エアシリンダ120は、支持構造体24よりも内側に配置されている。第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120は、ベース構造体23の上、または上方に位置している。
圧縮気体(例えば圧縮空気)は、第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120の加圧室115,121および背圧室116,122の両方に供給される。加圧室115,121内の圧縮気体の圧力が、背圧室116,122内の圧縮気体よりも低いとき、第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120は、ベース構造体23から離れる。加圧室115,121内の圧縮気体の圧力が、背圧室116,122内の圧縮気体よりも高いとき、第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120は、ベース構造体23の上面を押し付け、これにより支持構造体24が補強構造体110によって補強される。結果として、支持構造体24に支持されている研磨ヘッド50の姿勢が安定する。よって、研磨ヘッド50は、基板Wを研磨して所望の研磨プロファイルを形成することができる。より具体的には、研磨ヘッド50は、図29に示すような直角の断面を有する階段状の窪み312を基板Wの周縁部に形成することができる。
特に、第1エアシリンダ114は、基板Wから研磨ヘッド50に作用する反力をキャンセルすることができる。その為、一実施形態では、第1エアシリンダ114のみを設け、第2エアシリンダ120は省略してもよい。第1エアシリンダ114は、基板Wから研磨ヘッド50に作用する反力をキャンセルすることができるので、結果として、支持構造体24に支持されている研磨ヘッド50の姿勢を安定させることができる。
図14は、第1アクチュエータである第1エアシリンダ114および第2アクチュエータである第2エアシリンダ120を操作するための操作システムを示す模式図である。この操作システムは、第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120を操作することができる圧縮気体供給システムである。操作システムは、上述した動作制御部11を含んで構成される。
図14に示すように、操作システムは、研磨装置が設置されている工場に設けられた圧縮気体供給ライン(例えば、圧縮空気供給ライン)130に接続された加圧側気体供給ライン131と、背圧側気体供給ライン132を備えている。加圧側気体供給ライン131は、主加圧側ライン131aと、この主加圧側ライン131aから分岐する第1加圧側分岐ライン131bおよび第2加圧側分岐ライン131cを有する。主加圧側ライン131aは圧縮気体供給ライン130に接続されている。第1加圧側分岐ライン131bは、第1エアシリンダ114の加圧室115に接続され、第2加圧側分岐ライン131cは第2エアシリンダ120の加圧室121に接続されている。主加圧側ライン131aには加圧側圧力レギュレータ134および加圧側圧力センサ135が取り付けられている。第1加圧側分岐ライン131bには第1加圧側開閉弁137が取り付けられ、第2加圧側分岐ライン131cには第2加圧側開閉弁138が取り付けられている。
背圧側気体供給ライン132は、主背圧側ライン132aと、この主背圧側ライン132aから分岐する第1背圧側分岐ライン132bおよび第2背圧側分岐ライン132cを有する。主背圧側ライン132aは圧縮気体供給ライン130に接続されている。第1背圧側分岐ライン132bは、第1エアシリンダ114の背圧室116に接続され、第2背圧側分岐ライン132cは第2エアシリンダ120の背圧室122に接続されている。主背圧側ライン132aには背圧側圧力レギュレータ140および背圧側圧力センサ141が取り付けられている。第1背圧側分岐ライン132bには第1背圧側開閉弁143が取り付けられ、第2背圧側分岐ライン132cには第2背圧側開閉弁144が取り付けられている。
加圧側圧力レギュレータ134、第1加圧側開閉弁137、第2加圧側開閉弁138、背圧側圧力レギュレータ140、第1背圧側開閉弁143、および第2背圧側開閉弁144は、動作制御部11に接続されており、これら圧力レギュレータ134,140および弁137,138,143,144の動作は動作制御部11によって制御される。圧力センサ135,141は省略してもよい。
動作制御部11が第1加圧側開閉弁137および第2加圧側開閉弁138を開くと、圧縮気体は主加圧側ライン131a、第1加圧側分岐ライン131b、および第2加圧側分岐ライン131cを通って第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120の加圧室115,121に供給される。動作制御部11は、加圧側目標圧力の指令値を加圧側圧力レギュレータ134に送信し、加圧側圧力レギュレータ134は、第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120の加圧室115,121内の圧縮気体の圧力が加圧側目標圧力に維持されるように圧縮気体の圧力を調整する。
動作制御部11が第1背圧側開閉弁143および第2背圧側開閉弁144を開くと、圧縮気体は主背圧側ライン132a、第1背圧側分岐ライン132b、および第2背圧側分岐ライン132cを通って第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120の背圧室116,122に供給される。動作制御部11は、背圧側目標圧力の指令値を背圧側圧力レギュレータ140に送信し、背圧側圧力レギュレータ140は、第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120の背圧室116,122内の圧縮気体の圧力が背圧側目標圧力に維持されるように圧縮気体の圧力を調整する。
第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120の加圧室115,121に圧縮気体が供給されている間、第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120の背圧室116,122にも圧縮気体が供給される。これは、圧縮気体供給ライン130から供給される圧縮気体の圧力の変動や、各エアシリンダ114,120のピストンロッドの位置変動などの外乱にかかわらず、第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120が安定した力を発生することを可能とするためである。
一実施形態では、第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120をベース構造体23に固定しているとき、圧縮気体を加圧室115,121に供給し、背圧室116,122には供給しなくてもよい。また、第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120をベース構造体23から離間させるとき、圧縮気体を背圧室116,122に供給し、加圧室115,121には供給しなくてもよい。
第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120の加圧室115,121には同じ圧力の圧縮気体が供給され、かつ第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120の背圧室116,122には同じ圧力の圧縮気体が供給されるので、第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120は、同じ力でベース構造体23を押し付ける。
第1背圧側開閉弁143および第2背圧側開閉弁144は、常時開いた状態に維持されていてもよい。動作制御部11は、第1背圧側開閉弁143および第2背圧側開閉弁144を同時に開き、同時に閉じることが好ましい。
動作制御部11は、上述した加圧側目標圧力および/または背圧側目標圧力を、押圧部材51が研磨テープ38を基板Wに押し付ける研磨荷重に従って変化させてもよい。例えば、基板Wの研磨中に動作制御部11がエアシリンダ53に指令を発して研磨荷重を上げるときは、動作制御部11は加圧側目標圧力を研磨荷重の増加に従って上げてもよい。このような操作により、第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120は、研磨荷重に従って変化する力でベース構造体23を押し付けることができる。結果として、基板Wの研磨中の研磨ヘッド50の姿勢をより安定させることができる。
図15は、操作システムの他の実施形態を示す模式図である。特に説明しない本実施形態の構成および動作は、上述した図14に示す実施形態と同じであるので、その重複する説明を省略する。本実施形態の操作システムは、第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120が発生する力をそれぞれ独立に変化させることができる圧縮気体供給システムである。
本実施形態の操作システムは、上述した主加圧側ライン131a、第1加圧側分岐ライン131b、および第2加圧側分岐ライン131cに代えて、圧縮気体供給ライン130と第1エアシリンダ114の加圧室115に接続された第1加圧側ライン131Aと、圧縮気体供給ライン130と第2エアシリンダ120の加圧室121に接続された第2加圧側ライン131Bを備えている。第1加圧側ライン131Aには、第1加圧側圧力レギュレータ134A、第1加圧側圧力センサ135A、および第1加圧側開閉弁137が取り付けられている。第2加圧側ライン131Bには、第2加圧側圧力レギュレータ134B、第2加圧側圧力センサ135B、および第2加圧側開閉弁138が取り付けられている。圧力センサ135A,135Bは省略してもよい。第1加圧側圧力レギュレータ134Aは、第1エアシリンダ114の加圧室115内の圧縮気体の圧力を調整し、第2加圧側圧力レギュレータ134Bは、第2エアシリンダ120の加圧室121内の圧縮気体の圧力を調整するように構成される。
第1加圧側圧力レギュレータ134Aおよび第2加圧側圧力レギュレータ134Bは、動作制御部11に接続されている。動作制御部11は、第1加圧側目標圧力の指令値を第1加圧側圧力レギュレータ134Aに送信し、第1加圧側圧力レギュレータ134Aは、第1エアシリンダ114の加圧室115内の圧縮気体の圧力が第1加圧側目標圧力に維持されるように圧縮気体の圧力を調整する。同様に、動作制御部11は、第2加圧側目標圧力の指令値を第2加圧側圧力レギュレータ134Bに送信し、第2加圧側圧力レギュレータ134Bは、第2エアシリンダ120の加圧室121内の圧縮気体の圧力が第2加圧側目標圧力に維持されるように圧縮気体の圧力を調整する。このような構成を有する操作システムは、第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120がベース構造体23を押し付ける力を独立に制御することができる。
動作制御部11は、第1加圧側目標圧力、および/または第2加圧側目標圧力、および/または背圧側目標圧力を、押圧部材51が研磨テープ38を基板Wに押し付ける研磨荷重に従って変化させてもよい。例えば、基板Wの研磨中に動作制御部11がエアシリンダ53に指令を発して研磨荷重を上げるときは、動作制御部11は第1加圧側目標圧力を研磨荷重の増加に従って上げてもよい。このような操作により、第1エアシリンダ114および/または第2エアシリンダ120は、研磨荷重に従って変化する力でベース構造体23を押し付けることができる。結果として、基板Wの研磨中の研磨ヘッド50の姿勢をより安定させることができる。
図16は、操作システムのさらに他の実施形態を示す模式図である。特に説明しない本実施形態の構成および動作は、上述した図15に示す実施形態と同じであるので、その重複する説明を省略する。本実施形態の操作システムは、第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120が発生する力をそれぞれ独立に変化させることができる圧縮気体供給システムである。
本実施形態の操作システムは、上述した主背圧側ライン132a、第1背圧側分岐ライン132b、および第2背圧側分岐ライン132cに代えて、圧縮気体供給ライン130と第1エアシリンダ114の背圧室116に接続された第1背圧側ライン132Aと、圧縮気体供給ライン130と第2エアシリンダ120の背圧室122に接続された第2背圧側ライン132Bを備えている。第1背圧側ライン132Aには、第1背圧側圧力レギュレータ140A,第1背圧側圧力センサ141A,および第1背圧側開閉弁143が取り付けられている。第2背圧側ライン132Bには、第2背圧側圧力レギュレータ140B,第2背圧側圧力センサ141B,および第2背圧側開閉弁144が取り付けられている。圧力センサ141A,141Bは省略してもよい。第1背圧側圧力レギュレータ140Aは、第1エアシリンダ114の背圧室116内の圧縮気体の圧力を調整し、第2背圧側圧力レギュレータ140Bは、第2エアシリンダ120の背圧室122内の圧縮気体の圧力を調整するように構成される。
第1背圧側圧力レギュレータ140Aおよび第2背圧側圧力レギュレータ140Bは、動作制御部11に接続されている。動作制御部11は、第1背圧側目標圧力の指令値を第1背圧側圧力レギュレータ140Aに送信し、第1背圧側圧力レギュレータ140Aは、第1エアシリンダ114の背圧室116内の圧縮気体の圧力が第1背圧側目標圧力に維持されるように圧縮気体の圧力を調整する。同様に、動作制御部11は、第2背圧側目標圧力の指令値を第2背圧側圧力レギュレータ140Bに送信し、第2背圧側圧力レギュレータ140Bは、第2エアシリンダ120の背圧室122内の圧縮気体の圧力が第2背圧側目標圧力に維持されるように圧縮気体の圧力を調整する。このような構成を有する操作システムは、第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120がベース構造体23を押し付ける力を独立に制御することができる。
図17は、補強構造体110の他の実施形態を示す図である。特に説明しない本実施形態の構成および動作は、上述した図13に示す実施形態と同じであるので、その重複する説明を省略する。本実施形態の補強構造体110は、支持構造体24よりも内側に配置された第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120を備えている。第1エアシリンダ114は第2エアシリンダ120の下方に位置し、第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120は互いに対向している。第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120はアンカーアーム111に固定され、アンカーアーム111は支持構造体24に固定されている。
ベース構造体23は、ベースプレート21から第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120に向かって突出する突出部150を備えている。この突出部150の端部はベース構造体23のベースプレート21に固定されている。突出部150は水平部150aを有しており、この水平部150aは第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120の間に位置している。より具体的には、突出部150の水平部150aは、第1エアシリンダ114の第1アンカー部材117および第2エアシリンダ120の第2アンカー部材123の間に配置されている。第1エアシリンダ114は水平部150aの下方に位置し、水平部150aの下面に対向している。第2エアシリンダ120は水平部150aの上方に位置し、水平部150aの上面に対向している。
第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120の加圧室115,121内の圧縮気体の圧力が、背圧室116,122内の圧縮気体よりも高いとき、第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120は、第1アンカー部材117および第2アンカー部材123で突出部150の水平部150aを挟み、これによって、第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120自体をベース構造体23に固定することができる。第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120の加圧室115,121内の圧縮気体の圧力が、背圧室116,122内の圧縮気体よりも低いとき、第1アンカー部材117および第2アンカー部材123は突出部150の水平部150aから離れ、これにより第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120はベース構造体23から切り離される。したがって、研磨ヘッド移動機構30は、研磨ユニット25およびアンカー機構112を基板Wの接線方向に移動させることができる。
図18は、補強構造体110のさらに他の実施形態を示す図である。本実施形態の補強構造体110は、支持構造体24よりも外側に配置された第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120を備えている。第1エアシリンダ114は第2エアシリンダ120の上方に位置している。より具体的には、第1エアシリンダ114は水平部150aの上方に位置し、水平部150aの上面に対向している。第2エアシリンダ120は水平部150aの下方に位置し、水平部150aの下面に対向している。本実施形態のその他の構成および動作は、上述した図17に示す実施形態と同じであるので、その重複する説明を省略する。
図17および図18において、一実施形態では、第1エアシリンダ114のみを設け、第2エアシリンダ120は省略してもよい。第1エアシリンダ114は、基板Wから研磨ヘッド50に作用する反力をキャンセルすることができるので、結果として、支持構造体24に支持されている研磨ヘッド50の姿勢を安定させることができる。
図19は、連結機構を備えた研磨装置の一実施形態を示す模式図である。本実施形態の研磨装置は、上述したアンカー機構112に加えて、研磨ヘッド50と支持構造体24とを連結する連結機構160をさらに備えている。図19では、上述したアンカー機構112の図示は省略されている。連結機構160は、研磨ヘッド50の据付部材57に固定された第1連結機構161と、支持構造体24の支持ブロック28に固定された第2連結機構162とを備える。第1連結機構161および第2連結機構162は互いに固定可能かつ互いに分離可能に構成されている。連結機構160は、支持構造体24よりも内側に配置されている。より具体的には、基板保持部3の軸心CPから垂直に延び、かつ軸心CPと押圧部材51の中心とを結ぶ直線Kの延びる方向に関して、連結機構160は、支持構造体24よりも内側に配置されている。一実施形態では、連結機構160は、支持構造体24よりも外側に配置されてもよい。
図20は図19の矢印Lで示す方向から見た連結機構160を示す模式図である。図20に示すように、本実施形態では、第1連結機構161は磁性部材164を備えており、第2連結機構162は電磁石165を備えている。第1連結機構161の全体が磁性部材から構成されてもよい。一実施形態では、第1連結機構161は電磁石165を備え、第2連結機構162は磁性部材164を備えてもよい。この場合も、第2連結機構162の全体が磁性部材から構成されてもよい。
電磁石165の動作は動作制御部11によって制御される。磁性部材164はステンレス鋼などの耐腐食性のある金属から構成されている。電磁石165は、磁性部材164に対向する位置に配置されている。基板Wの上面に供給された液体(例えば純水)が電磁石165に接触すると、電磁石165が錆びてしまい、基板Wのコンタミネーションの原因ともなりうる。そこで、電磁石165の錆を防止するために、電磁石165が磁性部材164と接触する面は、ユニクロ処理などの防錆処理が施された面から構成されることが好ましい。
電磁石165が作動していないとき、第1連結機構161と第2連結機構162とは互いに切り離されている。したがって、研磨ヘッド50は第2研磨ヘッド移動機構(サーボモータ42A、ボールねじ機構43A、および直動ガイド40A)によって基板保持部3の軸心CPに近接する方向および軸心CPから離間する方向に移動することができる。動作制御部11が電磁石165を作動させると、電磁石165は磁性部材164を引き寄せ、第1連結機構161と第2連結機構162とが互いに固定される。
基板Wを研磨しているとき、第2研磨ヘッド移動機構を構成する直動ガイド40Aの可動部は、研磨荷重の反力を受けて僅かに変位することがある。結果として、研磨ヘッド50が傾くおそれがある。本実施形態によれば、押圧部材51が研磨位置にあるとき(例えば、基板Wの研磨を開始する直前に)電磁石165を作動させることにより、基板Wを研磨しているときの研磨ヘッド50の姿勢を安定させることができる。基板Wの研磨が終了した後、動作制御部11は電磁石165の動作を停止させ、第1連結機構161と第2連結機構162とを互いに切り離す。
図21は、連結機構160の他の実施形態を示す模式図である。特に説明しない本実施形態の構成および動作は、図20に示す実施形態と同じであるので、その重複する説明を省略する。本実施形態では、第1連結機構161は水平部166を備えており、第2連結機構162はアームブロック168、第3エアシリンダ170、および第4エアシリンダ171を備えている。アームブロック168はL字形状を有しており、かつ支持構造体24の支持ブロック28に固定されている。第3エアシリンダ170はアームブロック168に固定され、第4エアシリンダ171は支持構造体24の支持ブロック28に固定されている。
第3エアシリンダ170は第4エアシリンダ171の上方に配置されており、第1連結機構161の水平部166は第3エアシリンダ170と第4エアシリンダ171との間に位置している。一実施形態では、第2連結機構162は水平部166を備え、第1連結機構161は第3エアシリンダ170および第4エアシリンダ171を備えてもよい。第3エアシリンダ170および第4エアシリンダ171の動作は、これらエアシリンダ170,171の加圧室および背圧室内の圧縮気体の圧力を調整するための圧力レギュレータ173および圧力レギュレータ174によって制御される。圧力レギュレータ173および圧力レギュレータ174の動作は動作制御部11によって制御される。
第3エアシリンダ170および第4エアシリンダ171が水平部166から離れているとき、第1連結機構161と第2連結機構162とは互いに切り離されている。したがって、研磨ヘッド50は第2研磨ヘッド移動機構(サーボモータ42A、ボールねじ機構43A、および直動ガイド40A)によって基板保持部3の軸心CPに近接する方向および軸心CPから離間する方向に移動することができる。第3エアシリンダ170および第4エアシリンダ171との間に水平部166が挟まれると、第1連結機構161と第2連結機構162とが互いに固定され、研磨ヘッド50の姿勢が安定する。
次に、上述したアンカー機構112および連結機構160の動作の一実施形態について説明する。ステップ1では、図22Aに示すように、研磨ヘッド50および研磨テープ供給機構70を含む研磨ユニット25は、退避位置にある。研磨ユニット25が退避位置にあるとき、動作制御部11は基板保持部3に指令を発して基板Wを軸心CPを中心に回転させる。さらに、液体供給ノズルから液体(例えば、純水)を基板Wの上面に供給する。図22Aにおいて、第1エアシリンダ114、第2エアシリンダ120、および連結機構160の位置および形状は模式的に描かれている。アンカー機構112を構成する第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120を示す白丸は、第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120がベース構造体23から離れている状態を示している。同様に、連結機構160を示す白丸は、連結機構160を構成する第1連結機構161および第2連結機構162が互いに離れている状態を示している。
ステップ2では、図22Bに示すように、動作制御部11は、第1研磨ヘッド移動機構30を作動させて、研磨ユニット25を第1の方向に移動させ、研磨ヘッド50の押圧部材51および研磨テープ38を基板保持部3上の基板Wに近づける。ステップ3では、図22Cに示すように、動作制御部11は、アンカー機構112を構成する第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120をベース構造体23に押し付け、第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120をベース構造体23に固定させる。第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120を示す黒丸は、第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120がベース構造体23を押し付けている状態を示している。
ステップ4では、図23Aに示すように、動作制御部11はサーボモータ42A(第2研磨ヘッド移動機構)およびサーボモータ42B(研磨具移動機構)を作動させて、押圧部材51および研磨テープ38が基板保持部3上の基板Wの周縁部の上方に位置するまで、研磨ヘッド50および研磨テープ供給機構70を基板保持部3の軸心CPに向かって移動させる。ステップ5では、図23Bに示すように、動作制御部11は、第1連結機構161および第2連結機構162を互いに固定させる。具体的には、動作制御部11は、図20に示す電磁石165を作動させるか、または図21に示す第3エアシリンダ170および第4エアシリンダ171で水平部166を挟み込む。連結機構160を示す黒丸は、第1連結機構161および第2連結機構162が互いに固定されている状態を示している。
ステップ6では、図23Cに示すように、第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120がベース構造体23に固定され、かつ第1連結機構161および第2連結機構162が互いに固定されている状態で、研磨ヘッド50は押圧部材51を下降させ、押圧部材51で研磨テープ38を基板Wの周縁部に押し付ける。黒い押圧部材51は、押圧部材51が研磨テープ38を基板Wの周縁部に押し付けている状態を示している。研磨テープ38は、液体の存在下で基板Wの周縁部に摺接され、基板Wの周縁部を研磨する。
ステップ7では、図24Aに示すように、研磨ヘッド50は押圧部材51を上昇させ、研磨テープ38を基板Wの周縁部から離間させる。これにより基板Wの研磨が終了する。白い押圧部材51は、押圧部材51が上昇して研磨テープ38が基板Wの周縁部から離れている状態を示している。ステップ8では、図24Bに示すように、第1連結機構161および第2連結機構162を互いに引き離す。ステップ9では、図24Cに示すように、動作制御部11はサーボモータ42A(第2研磨ヘッド移動機構)およびサーボモータ42B(研磨具移動機構)を作動させて、研磨ヘッド50および研磨テープ供給機構70を基板保持部3の軸心CPから遠ざかる方向に移動させる。
ステップ10では、図25Aに示すように、動作制御部11は、アンカー機構112を構成する第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120をベース構造体23から切り離させる。ステップ11では、図25Bに示すように、動作制御部11は、第1研磨ヘッド移動機構30を作動させて、研磨ヘッド50および研磨テープ供給機構70を含む研磨ユニット25を退避位置まで移動させる。図示しないが、ステップ12では、基板Wの回転を停止させ、基板Wの上面への液体の供給を停止させる。
上述した実施形態では、研磨装置は、アンカー機構112および連結機構160の両方を備えているが、一実施形態では、研磨装置は、アンカー機構112または連結機構160のいずれか一方のみを備えてもよい。
基板Wを研磨するための研磨具は、砥石であってもよい。例えば、図26に示すように、研磨ヘッド50は、その下面に1つまたは複数の砥石180を備えてもよい。図26に示す研磨ヘッド50は支持構造体24に固定されている。研磨ヘッド50は、その軸心を中心に回転しながら、研磨具としての複数の砥石180を基板Wの周縁部に押し付けることで、基板Wの周縁部を研磨する。一実施形態では、図27に示すように、研磨ヘッド50は、基板Wの表面と平行に延びる回転軸181に固定された円盤状の砥石180を備えてもよい。回転軸181は、支持構造体24に固定されたモータ182に連結されている。モータ182が砥石180を回転させながら、砥石180の外周面を基板Wの周縁部に押し付けることで、基板Wの周縁部を研磨する。図26および図27に示す実施形態のその他の構成および動作は、図13乃至図17に示す実施形態と同じであるので、その重複する説明を省略する。図18乃至図25に示す実施形態は、図26および図27に示す実施形態にも適用可能である。
上述した実施形態は、本発明が属する技術分野における通常の知識を有する者が本発明を実施できることを目的として記載されたものである。上記実施形態の種々の変形例は、当業者であれば当然になしうることであり、本発明の技術的思想は他の実施形態にも適用しうる。したがって、本発明は、記載された実施形態に限定されることはなく、特許請求の範囲によって定義される技術的思想に従った最も広い範囲に解釈されるものである。
本発明は、基板の周縁部に研磨具を押し付けて該周縁部を研磨する研磨装置および研磨方法に利用可能である。
3 基板保持部
4 保持ステージ
5 中空シャフト
6 ボールスプライン軸受(直動軸受)
7 連通路
8 ロータリジョイント
9 真空ライン
10 窒素ガス供給ライン
11 動作制御部
12 ケーシング
14 ケーシング
15 エアシリンダ(昇降機構)
18 ラジアル軸受
20 隔壁
21 ベースプレート
22 研磨室
23 ベース構造体
24 支持構造体
25 研磨ユニット
27 設置台
28 支持ブロック
30 研磨ヘッド移動機構
31 ボールねじ機構
32 モータ
33 動力伝達機構
38 研磨テープ
40A,40B 直動ガイド
41A,41B 連結ブロック
42A,42B サーボモータ
43A,43B ボールねじ機構
44A,44B 支持部材
50 研磨ヘッド
51 押圧部材
52 押圧部材ホルダー
53 エアシリンダ
55 保持部材
57 据付部材
58 直動ガイド
60 真空ライン
62 ボックス
70 研磨テープ供給機構
71 供給リール
72 回収リール
73,74 テンションモータ
76 研磨テープ送り機構
77 テープ送りローラ
78 ニップローラ
79 テープ送りモータ
81 基台
82,83 支持アーム
84A,84B,84C,84D,84E ガイドローラ
100 テープエッジ検出センサ
100A 投光部
100B 受光部
110 補強構造体
111 アンカーアーム
112 アンカー機構
114 第1エアシリンダ
115 加圧室
116 背圧室
117 第1アンカー部材
120 第2エアシリンダ
121 加圧室
122 背圧室
123 第2アンカー部材
130 圧縮気体供給ライン
131 加圧側気体供給ライン
131a 主加圧側ライン
131b 第1加圧側分岐ライン
131c 第2加圧側分岐ライン
131A 第1加圧側ライン
131B 第2加圧側ライン
132 背圧側気体供給ライン
132a 主背圧側ライン
132b 第1背圧側分岐ライン
132c 第2背圧側分岐ライン
132A 第1背圧側ライン
132B 第2背圧側ライン
134 加圧側圧力レギュレータ
134A 第1加圧側圧力レギュレータ
134B 第2加圧側圧力レギュレータ
135 加圧側圧力センサ
135A 第1加圧側圧力センサ
135B 第2加圧側圧力センサ
137 第1加圧側開閉弁
138 第2加圧側開閉弁
140 背圧側圧力レギュレータ
140A 第1背圧側圧力レギュレータ
140B 第2背圧側圧力レギュレータ
141 背圧側圧力センサ
141A 第1背圧側圧力センサ
141B 第2背圧側圧力センサ
143 第1背圧側開閉弁
144 第2背圧側開閉弁
150 突出部
150a 水平部
160 連結機構
161 第1連結機構
162 第2連結機構
164 磁性部材
165 電磁石
166 水平部
168 アームブロック
170 第3エアシリンダ
171 第4エアシリンダ
173 圧力レギュレータ
174 圧力レギュレータ
p1,p2 プーリー
b1 ベルト
M1 モータ
W 基板
4 保持ステージ
5 中空シャフト
6 ボールスプライン軸受(直動軸受)
7 連通路
8 ロータリジョイント
9 真空ライン
10 窒素ガス供給ライン
11 動作制御部
12 ケーシング
14 ケーシング
15 エアシリンダ(昇降機構)
18 ラジアル軸受
20 隔壁
21 ベースプレート
22 研磨室
23 ベース構造体
24 支持構造体
25 研磨ユニット
27 設置台
28 支持ブロック
30 研磨ヘッド移動機構
31 ボールねじ機構
32 モータ
33 動力伝達機構
38 研磨テープ
40A,40B 直動ガイド
41A,41B 連結ブロック
42A,42B サーボモータ
43A,43B ボールねじ機構
44A,44B 支持部材
50 研磨ヘッド
51 押圧部材
52 押圧部材ホルダー
53 エアシリンダ
55 保持部材
57 据付部材
58 直動ガイド
60 真空ライン
62 ボックス
70 研磨テープ供給機構
71 供給リール
72 回収リール
73,74 テンションモータ
76 研磨テープ送り機構
77 テープ送りローラ
78 ニップローラ
79 テープ送りモータ
81 基台
82,83 支持アーム
84A,84B,84C,84D,84E ガイドローラ
100 テープエッジ検出センサ
100A 投光部
100B 受光部
110 補強構造体
111 アンカーアーム
112 アンカー機構
114 第1エアシリンダ
115 加圧室
116 背圧室
117 第1アンカー部材
120 第2エアシリンダ
121 加圧室
122 背圧室
123 第2アンカー部材
130 圧縮気体供給ライン
131 加圧側気体供給ライン
131a 主加圧側ライン
131b 第1加圧側分岐ライン
131c 第2加圧側分岐ライン
131A 第1加圧側ライン
131B 第2加圧側ライン
132 背圧側気体供給ライン
132a 主背圧側ライン
132b 第1背圧側分岐ライン
132c 第2背圧側分岐ライン
132A 第1背圧側ライン
132B 第2背圧側ライン
134 加圧側圧力レギュレータ
134A 第1加圧側圧力レギュレータ
134B 第2加圧側圧力レギュレータ
135 加圧側圧力センサ
135A 第1加圧側圧力センサ
135B 第2加圧側圧力センサ
137 第1加圧側開閉弁
138 第2加圧側開閉弁
140 背圧側圧力レギュレータ
140A 第1背圧側圧力レギュレータ
140B 第2背圧側圧力レギュレータ
141 背圧側圧力センサ
141A 第1背圧側圧力センサ
141B 第2背圧側圧力センサ
143 第1背圧側開閉弁
144 第2背圧側開閉弁
150 突出部
150a 水平部
160 連結機構
161 第1連結機構
162 第2連結機構
164 磁性部材
165 電磁石
166 水平部
168 アームブロック
170 第3エアシリンダ
171 第4エアシリンダ
173 圧力レギュレータ
174 圧力レギュレータ
p1,p2 プーリー
b1 ベルト
M1 モータ
W 基板
Claims (20)
- 基板を保持する基板保持部と、
研磨具を基板に押し付ける研磨ヘッドと、
前記研磨ヘッドを支持する支持構造体と、
前記支持構造体が固定されたベース構造体と、
前記支持構造体に固定された補強構造体とを備え、
前記補強構造体は、前記ベース構造体に固定可能および切り離し可能に構成されたアンカー機構を有していることを特徴とする研磨装置。 - 前記アンカー機構は、前記ベース構造体を押し付けるアクチュエータを備えていることを特徴とする請求項1に記載の研磨装置。
- 前記アクチュエータは、前記支持構造体よりも外側に配置されていることを特徴とする請求項2に記載の研磨装置。
- 前記アクチュエータを操作する操作システムをさらに備え、
前記操作システムは、前記研磨ヘッドが前記研磨具を押し付ける研磨荷重に従って変わる力を前記アクチュエータに発生させるように構成されていることを特徴とする請求項3に記載の研磨装置。 - 前記ベース構造体は、前記アクチュエータに向かって突出する突出部を有しており、
前記アクチュエータは、前記突出部に対向して配置されていることを特徴とする請求項2に記載の研磨装置。 - 前記アクチュエータを操作する操作システムをさらに備え、
前記操作システムは、前記研磨ヘッドが前記研磨具を押し付ける研磨荷重に従って変わる力を前記アクチュエータに発生させるように構成されていることを特徴とする請求項5に記載の研磨装置。 - 前記研磨装置は、前記研磨ヘッドと前記支持構造体とを連結する連結機構をさらに備えており、
前記連結機構は、前記研磨ヘッドに固定された第1連結機構と、前記支持構造体に固定された第2連結機構とを備え、前記第1連結機構および前記第2連結機構は互いに固定可能かつ互いに切り離し可能に構成されていることを特徴とする請求項1に記載の研磨装置。 - 前記第1連結機構および前記第2連結機構のうちの一方は電磁石を備え、前記第1連結機構および前記第2連結機構のうちの他方は磁性部材を備えることを特徴とする請求項7に記載の研磨装置。
- 前記第1連結機構および前記第2連結機構のうちの一方は一対のエアシリンダを備え、前記第1連結機構および前記第2連結機構のうちの他方は前記一対のエアシリンダの間に配置された部分を有することを特徴とする請求項7に記載の研磨装置。
- 前記支持構造体は、前記研磨ヘッドを移動させる少なくとも1つの研磨ヘッド移動機構を含むことを特徴とする請求項1に記載の研磨装置。
- 基板を保持する基板保持部と、
研磨具を基板に押し付ける研磨ヘッドと、
前記研磨ヘッドを支持する支持構造体と、
前記支持構造体が固定されたベース構造体と、
前記研磨ヘッドと前記支持構造体とを連結する連結機構を備え、
前記連結機構は、前記研磨ヘッドに固定された第1連結機構と、前記支持構造体に固定された第2連結機構とを備え、前記第1連結機構および前記第2連結機構は互いに固定可能かつ互いに切り離し可能に構成されていることを特徴とする研磨装置。 - 前記第1連結機構および前記第2連結機構のうちの一方は電磁石を備え、前記第1連結機構および前記第2連結機構のうちの他方は磁性部材を備えることを特徴とする請求項11に記載の研磨装置。
- 前記第1連結機構および前記第2連結機構のうちの一方は一対のエアシリンダを備え、前記第1連結機構および前記第2連結機構のうちの他方は前記一対のエアシリンダの間に配置された部分を有することを特徴とする請求項11に記載の研磨装置。
- 前記研磨装置は、前記支持構造体に固定された補強構造体をさらに備えており、
前記補強構造体は、前記ベース構造体に固定可能および切り離し可能に構成されたアンカー機構を有していることを特徴とする請求項11に記載の研磨装置。 - 前記アンカー機構は、前記ベース構造体を押し付けるアクチュエータを備えていることを特徴とする請求項14に記載の研磨装置。
- 前記支持構造体は、前記研磨ヘッドを移動させる少なくとも1つの研磨ヘッド移動機構を含むことを特徴とする請求項11に記載の研磨装置。
- 支持構造体に固定されている補強構造体のアンカー機構をベース構造体に固定し、
基板保持部で基板を回転させながら、前記支持構造体に支持された研磨ヘッドで研磨具を前記基板に押し付けることで前記基板を研磨し、
前記基板の研磨の終了後に、前記アンカー機構を前記ベース構造体から切り離すことを特徴とする研磨方法。 - 前記基板を研磨する前に、前記研磨ヘッドに固定されている第1連結機構を、前記支持構造体に固定された第2連結機構に連結し、
前記基板の研磨の終了後に、前記第1連結機構を前記第2連結機構から切り離す工程をさらに含むことを特徴とする請求項17に記載の研磨方法。 - 研磨ヘッドに固定されている第1連結機構を、前記研磨ヘッドを支持する支持構造体に固定された第2連結機構に連結し、
基板保持部で基板を回転させながら、前記研磨ヘッドで研磨具を前記基板に押し付けることで前記基板を研磨し、
前記基板の研磨の終了後に、前記第1連結機構を前記第2連結機構から切り離すことを特徴とする研磨方法。 - 前記基板を研磨する前に、前記支持構造体に固定されている補強構造体のアンカー機構をベース構造体に固定し、
前記基板の研磨の終了後に、前記アンカー機構を前記ベース構造体から切り離す工程をさらに含むことを特徴とする請求項19に記載の研磨方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017-096604 | 2017-05-15 | ||
JP2017096604A JP6840617B2 (ja) | 2017-05-15 | 2017-05-15 | 研磨装置および研磨方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
WO2018211736A1 true WO2018211736A1 (ja) | 2018-11-22 |
Family
ID=64273846
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
PCT/JP2018/000092 WO2018211736A1 (ja) | 2017-05-15 | 2018-01-05 | 研磨装置および研磨方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6840617B2 (ja) |
TW (1) | TWI762554B (ja) |
WO (1) | WO2018211736A1 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN114178949A (zh) * | 2020-08-24 | 2022-03-15 | 株式会社三信 | 研磨机器人装置 |
CN115533688A (zh) * | 2021-01-28 | 2022-12-30 | 马鞍山市华茂机械科技有限公司 | 一种环形件加工用打磨装置的操作方法 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09155725A (ja) * | 1995-12-12 | 1997-06-17 | Speedfam Co Ltd | 防振機構付き片面研磨装置 |
JPH11198026A (ja) * | 1998-01-16 | 1999-07-27 | Ebara Corp | ポリッシング装置 |
JP2002143535A (ja) * | 2000-11-15 | 2002-05-21 | Heiwa Corp | 揚送研磨装置の設置構造及び設置方法 |
JP2012213849A (ja) * | 2011-03-25 | 2012-11-08 | Ebara Corp | 研磨装置および研磨方法 |
JP2014150131A (ja) * | 2013-01-31 | 2014-08-21 | Ebara Corp | 研磨装置および研磨方法 |
-
2017
- 2017-05-15 JP JP2017096604A patent/JP6840617B2/ja active Active
-
2018
- 2018-01-05 WO PCT/JP2018/000092 patent/WO2018211736A1/ja active Application Filing
- 2018-01-16 TW TW107101488A patent/TWI762554B/zh active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09155725A (ja) * | 1995-12-12 | 1997-06-17 | Speedfam Co Ltd | 防振機構付き片面研磨装置 |
JPH11198026A (ja) * | 1998-01-16 | 1999-07-27 | Ebara Corp | ポリッシング装置 |
JP2002143535A (ja) * | 2000-11-15 | 2002-05-21 | Heiwa Corp | 揚送研磨装置の設置構造及び設置方法 |
JP2012213849A (ja) * | 2011-03-25 | 2012-11-08 | Ebara Corp | 研磨装置および研磨方法 |
JP2014150131A (ja) * | 2013-01-31 | 2014-08-21 | Ebara Corp | 研磨装置および研磨方法 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN114178949A (zh) * | 2020-08-24 | 2022-03-15 | 株式会社三信 | 研磨机器人装置 |
CN114178949B (zh) * | 2020-08-24 | 2024-02-06 | 株式会社三信 | 研磨机器人装置 |
CN115533688A (zh) * | 2021-01-28 | 2022-12-30 | 马鞍山市华茂机械科技有限公司 | 一种环形件加工用打磨装置的操作方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP6840617B2 (ja) | 2021-03-10 |
TWI762554B (zh) | 2022-05-01 |
TW201901778A (zh) | 2019-01-01 |
JP2018192545A (ja) | 2018-12-06 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US10486285B2 (en) | Substrate processing apparatus, substrate processing method, substrate holding mechanism, and substrate holding method | |
KR102073919B1 (ko) | 연마 장치 및 연마 방법 | |
JP4660505B2 (ja) | 基板キャリアシステムおよび基板を研磨する方法 | |
US8070560B2 (en) | Polishing apparatus and method | |
EP1075351B1 (en) | Apparatus and method for chemical-mechanical polishing (cmp) using a head having direct pneumatic wafer polishing pressure system | |
US6558232B1 (en) | System and method for CMP having multi-pressure zone loading for improved edge and annular zone material removal control | |
JP5635482B2 (ja) | 弾性膜 | |
TWI423316B (zh) | 研磨方法及研磨裝置、及研磨裝置控制用程式 | |
WO2018211736A1 (ja) | 研磨装置および研磨方法 | |
US20070212988A1 (en) | Polishing apparatus | |
US9707661B2 (en) | Polishing method and polishing apparatus | |
JP2010274415A (ja) | 研磨装置 | |
KR20200116859A (ko) | 적층 멤브레인, 적층 멤브레인을 구비하는 기판 보유 지지 장치 및 기판 처리 장치 | |
TW201302381A (zh) | 板狀體之研磨裝置 | |
JP4307674B2 (ja) | ウェーハの研磨装置 | |
JP6412217B2 (ja) | 研磨装置 | |
KR102108298B1 (ko) | Cmp 설비의 패드 교체장치 및 방법 | |
JP2001079757A (ja) | 研磨装置 | |
JP2000326218A (ja) | ウェーハ研磨装置及びウェーハ製造方法 | |
KR101329028B1 (ko) | 화학적 기계적 연마 장치의 연마 헤드 | |
JP2002231670A (ja) | ポリッシング装置 | |
JP2007111780A (ja) | 研磨機および研磨方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
121 | Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application |
Ref document number: 18802965 Country of ref document: EP Kind code of ref document: A1 |
|
NENP | Non-entry into the national phase |
Ref country code: DE |
|
122 | Ep: pct application non-entry in european phase |
Ref document number: 18802965 Country of ref document: EP Kind code of ref document: A1 |