WO2018177853A1 - Vorrichtung und verfahren zur bestimmung der konzentration eines dampfes - Google Patents

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Definitions

  • the invention relates to a device for determining the partial pressure or the concentration of a vapor in a volume with a sensor body which can be brought into oscillation and temperature-controlled to a temperature below the condensation temperature of the steam, whose oscillation frequency is due to a vapor condensed on its sensor surface formed mass accumulation is influenced, wherein the side facing away from the sensor surface rear side of the sensor body bears against a heat transfer surface of a heat transfer body.
  • the invention further relates to a method for determining the partial pressure or the concentration of a vapor in a volume, wherein the vapor is transported in a transport direction to a sensor surface of a sensor body, which is heated to a temperature below the condensation temperature of the vapor, so in that the vapor condenses as an accumulation of mass influencing an oscillation frequency of the sensor body on the sensor surface, for which purpose heat is withdrawn from the sensor body through a heat transfer body by means of a cooling element.
  • PRIOR ART WO 2015/128279 A1 describes an apparatus and a method for determining the concentration of a vapor by means of QCM (Quartz Crystal Microbalance).
  • the QCM is used to determine the vapor concentration or the partial pressure of a vapor in an inert gas flow.
  • DE 10 2015 104 240 AI describes a similar device. There it is intended to heat the QCM from its back to bring the sensor surface to a temperature at which the mass accumulation of the condensed vapor evaporates.
  • US 2014/0053779 Al describes the use of a QCM, wherein the rear of the sensor body, a gas flow can be fed into the sensor housing.
  • the sensor body When using a QCM in a coating device for determining a layer thickness of a deposited on a substrate layer, the sensor body is in good thermal contact with the environment and is thermally insulated from a support of the sensor body.
  • the vapor concentration or the partial pressure of the vapor in a volume is determined by a generic sensor body characterized in that the oscillation frequency is influenced by a mass accumulation generated by the condensation of the vapor on the surface of the sensor body.
  • the resonant frequency of the sensor body drifts away from an initial value as mass accumulation increases, with the change in frequency per unit time being a measure of the vapor concentration in the volume.
  • the increase in time on the sensor surface of the sensor body is additionally influenced by the transport properties, in particular the diffusion property of the gas phase of the volume, and the length of a vapor transport channel between a window to the volume and the sensor surface of the oscillating sensor body. The life of such a sensor body is limited by the achievement of a maximum mass accumulation on the sensor surface.
  • the sensor body If this maximum mass accumulation is reached, either the sensor body must be replaced or the sensor body must be cleaned by heating. For this purpose, the sensor body is heated to a temperature which is above the condensation temperature of the vapor, so that the condensate from the sensor surface sublimated.
  • the invention has for its object to improve the method described above and the device described above procedurally, in particular to reduce the cleaning cycle time.
  • each claim, each subclaim represents an independent solution to the problem and the individual claims can be combined with each other arbitrarily, with the combination of individual arrival features is provided.
  • the invention proposes means by which the Cleaning times can be reduced.
  • the sensor body has a sensor surface pointing toward the volume, on which the volume of vapor transported by a vapor transport channel to the sensor body can condense to mass accumulation.
  • the sensor surface and in particular the entire sensor body on a Temperature to be cooled which is below the condensation temperature of the vapor.
  • the volume which is preferably a gas transport channel through which an organic vapor is transported with an inert gas, is maintained at a temperature above the condensation temperature of the vapor, for example, this temperature may be 350 ° C.
  • the surface temperature of the sensor body should be 220 ° C.
  • the rear surface of the sensor body opposite the sensor surface rests on a heat transfer surface of a heat conductor, through which the heat is transported from the sensor body to a cooling element with which the heat is dissipated.
  • the heat transfer body is formed between the heat transfer surface and a heat dissipation surface of a heating element, with which the sensor body is heated so that the sensor surface reaches a temperature at which the accumulated condensate can sublimate.
  • the temperature preferably reaches at least 350.degree.
  • an insulating element may be disposed between the heating element and the cooling element, which has a lower thermal conductivity than the heat transfer body formed by the heating element.
  • the heating element may be an electrically heatable element. It may have a heating resistor through which an electrical heating current passes to heat the heating element to the evaporation temperature at which the mass accumulation can be vaporized.
  • the insulating element preferably has such an insulating effect that the heating rate or the cooling rate is about 3 ° C / s.
  • the insulating element forms a heat flow resistance and is preferably designed such that a temperature difference of at least 160 ° C can form between a heat dissipation surface of the heating element and a cooling surface of the cooling element, when the cooling element exerts a cooling function and at the same time the heating element performs a heating function the sensor body to a temperature above the evaporator Heating temperature of the condensate is heated.
  • the heating element is withdrawn from the heating element through the insulating element by the cooling element, so that it can cool to the operating temperature in which steam can condense on the sensor surface.
  • the thickness of the insulating element or its thermal conductivity is selected so that the heating times for cleaning are not too long and on the other hand, the cooling times after the cleaning step are also not too long. It is enough if the above
  • Another aspect of the invention is the thermal decoupling of the sensor body from the wall of the volume or a thermally conductive connected to the wall pipe socket.
  • the wall of the volume can thus be heated without the heat input to the wall resulting in an increase in the temperature of the sensor body.
  • a thermal insulation element is provided between the edge of the sensor body and a housing part thermally connected to the wall of the volume.
  • This thermally insulating element may be a spring, in particular a compression spring.
  • the sensor surface may have a temperature which is at least 100 ° C lower than the temperature of the wall of the volume.
  • means are provided to generate a gas stream, in particular an inert gas Ström, which is the
  • Steam transport direction is directed counter to the sensor surface.
  • the transport of the vapor from the volume to the sensor surface essentially takes place by the diffusion and in particular the diffusion through a vapor transport channel.
  • the gas flow according to the invention is the transport direction, that is, for example, the diffusion direction directed against.
  • the gas is to flow with suitable flow-generating means of the sensor surface in the direction of a window through which the steam can enter the transport channel steam.
  • a "Tooling Factor" can be specified. It is possible to reduce the condensation rate of the vapor on the sensor surface by choosing a suitable gas flow.
  • a vapor transport channel adjoins the window to the volume, which is surrounded by a wall around.
  • This wall may preferably be a pipe socket or a funnel-shaped skirt. This wall extends directly to the sensor surface, wherein the sensor surface can extend parallel to the surface of the window.
  • An edge of the wall may be spaced from the surface of the sensor body. The peripheral edge can also be spaced from a holder surrounding the sensor body.
  • the gap formed thereby forms a flat nozzle, through which the gas flow flows in a direction parallel to the sensor surface.
  • a gas flow is preferably formed from the edge of the sensor surface in towards the center of the sensor surface.
  • the flat nozzle is preferably a ring flat nozzle.
  • the sensor body is preferably located on a carrier which is arranged in a sensor housing.
  • the sensor housing has a gas supply line through which the gas can be fed into the sensor housing.
  • a gas flow can flow through, with which an organic vapor is transported.
  • the volume and in particular the gas pipe designed and heated as a pipe has a window. This window has an opening through which the steam can diffuse.
  • the window is preferably followed by the pipe socket, which forms a diffusion path.
  • the pipe socket has a free edge which is spaced from the sensor surface. This creates a gap.
  • the gap forms a slot die, which may have the shape of an annular channel.
  • the gas stream flowing through this annular channel into the pipe socket generates a flow which opposes the diffusion, so that the average transport speed of the steam from the window to the sensor surface can be adjusted by adjusting the flow velocity.
  • the flow through the pipe socket is adjusted such that the increase in time on the sensor surface is large enough to obtain a sufficiently high signal-to-noise ratio.
  • a sensor arrangement according to the invention can be arranged both in the steam supply line and in the process chamber or at the edge of the process chamber be.
  • the steam transported through the gas feed line is diluted several times on its way from the evaporator to the process chamber or to the gas inlet member, so that a partial vapor difference of 5: 1 can be established between the steam generator and the process chamber.
  • the gas supply in the pipe socket can be a structurally identical partial pressure sensor both in the steam supply and in the Use process chamber.
  • the sensitivity of the sensor can be set by a factor greater than 10. This is of particular importance when a plurality of gas supply lines are provided on a coating device, for supplying different vapors, wherein a vapor represents a dopant which is fed into the process chamber only with a very low partial pressure.
  • the device may preferably be used without supplemental gas feed.
  • the sensor body is preferably formed by a QCM (Quartz Crystal Monitor), which is a vibrating body formed by a crystal.
  • the oscillating body may preferably consist of GaP0 4 .
  • the sensor arrangement is preferably used to determine the vapor of an organic precursor which is transported through an inert gas flow through a gas conduit forming the volume. The vapor is transported to a gas inlet member of a coating apparatus in which OLED devices, e.g., screens or the like, are manufactured.
  • the sensor arrangement is in particular part of a control loop, with which a time-constant steam flow rate is conducted into the process chamber of an OLED coating device.
  • the volume may be formed by a deposition chamber whose walls have a temperature which is lower than the condensation temperature of the gas, wherein such a volume is not flowed through and preferably also has no inert gas atmosphere, but essentially only a vapor source, for example an evaporator for generating of steam and a substrate on which the steam is to condense.
  • the volume is preferably formed by a steam transport line in the form of a heated pipeline through which a steam generated by a steam generator is transported by means of a carrier gas.
  • the walls of the vapor transport line have a temperature that is greater than the condensation temperature of the vapor.
  • Material for the sensor body can be used quartz.
  • a material is used which can be used above 50 ° C and preferably far above 50 ° C as a vibrating body.
  • the condensation rate of the vapor on the sensor surface is about 5 times greater than when the sensor body is used on or in a volume in which steam is generated without forming a flow, that is as mentioned above in a deposition chamber.
  • the sensors used In the preferred use of the sensor body on a vapor-carrying steam transport line, the sensors used must have an approximately five times higher sensitivity. With the measures according to the invention these requirements should be achieved.
  • the sensor body is given an increased lifetime, although a higher deposition rate is to be expected when operating the sensor on a vapor transport line.
  • the spring elements While in the prior art the spring elements are supported on the rear side of the sensor body, according to the invention the sensor surface is acted upon by the spring elements, in particular at its edge, so that the rear side of the sensor body is in good thermal condition. shear conduction is applied to the heat transfer body. This opposite to the prior art inverted arrangement decouples the temperature of the sensor body from the temperature of the environment, ie the vapor or the carrier gas.
  • FIG. 1 shows a section according to the line I - I in Fig. 2 a gas transport line 1, is transported with the vapor of an organic starting material from a vapor source to a gas inlet member of an OLED coating device, the section line I - I centrally through a window. 3 placed in the wall 4 of the vapor transport line 1;
  • FIG. 2 shows the section along the line II - II in Fig. 1.
  • Fig. 3 enlarges the detail III in Fig. 1;
  • the vapor transport line 1 forms a volume 2, through which passes a transported by an inert gas vapor of an organic starting material.
  • the wall 4 of the vapor transport line is heated to a temperature above the condensation temperature of the vapor, for example to 350 ° C.
  • the volume 2 of the vapor transport line 1 is connected via a window 3 and an adjoining vapor transport channel 20 with a sensor surface 6 of a sensor body 5.
  • the diameter of the steam transport channel 20 corresponds approximately to the diameter of the window 3.
  • the steam transport channel 20 is surrounded by a tubular nozzle 17, which forms a funnel-shaped skirt which forms a free edge on its side facing away from the window 3 ,
  • the edge of the pipe socket 17 is spaced from the sensor surface 6 by a gap. This gap forms an annular flow channel 16, so that a flat nozzle is formed, through which a gas stream G can flow.
  • the vapor contained in the volume 2 of the organic starting material is transported in particular by diffusion in a transport direction T through the window 3 and the vapor transport channel 20 to the sensor surface 6 of the sensor body 5.
  • the transport of the steam takes place against the gas flow G, which flows counter to the transport direction T through the steam transport channel 20 and the window 3.
  • the transport rate of the vapor in the direction of the transport direction T towards the sensor surface 6 can thus be adjusted.
  • a cooling element 11 is provided, which is connected via a heat transfer body with the back 7 of the sensor body 5 thermally conductive. With the cooling element 11, the sensor surface 6 is cooled to a temperature of, for example, 220 °, at which temperature the vapor condenses on the sensor surface 6.
  • the sensor body 5 is formed by a QCM, which is caused to oscillate with suitable means known from the prior art.
  • the QCM is part of a resonant circuit.
  • the resonance frequency of the QCM is influenced by the mass accumulation of the condensed vapor formed on the sensor surface 6. From the change in the resonant frequency conclusions can be drawn on the vapor concentration or the partial pressure of the vapor in the volume 2.
  • the mass accumulation rate on the sensor surface 6 can be reduced by increasing the gas flow G. As a result, the cycle duration of the sensor body 5 can be extended.
  • the heat transfer body is a heating element 8.
  • the heating element 8 has a heat transfer surface 9, which is in heat-conducting contact with the back 7 of the sensor body 5.
  • a ratioableit Structure 18, which is different from the heat transfer surface 9 and opposite in the embodiment of the heat transfer surface 9, is thermally conductively connected to a cooling surface 19 of the cooling element 11, so that the heating element 8 has the function of a heat transfer body when fed into the heating element 8 no electrical heat output becomes.
  • the insulating element 10 has a lower thermal conductivity than the heating element 8.
  • the heat-conducting property of the insulating element 10 is selected so that the sensor surface 6 can be heated to a temperature when the cooling element 11 is not switched off by supplying electrical heating power to the heating element 8 which can sublimate the condensate accumulated on sensor surface 6.
  • the Heat transfer surface 9 thus has, on the one hand, the function of dissipating heat from the sensor body 5 during normal operation and, on the other hand, supplying heat to the sensor body 5 during the cleaning operation.
  • the heating element 8 is withdrawn through the insulation element 10 through heat.
  • the heating element 8 cools down and also extracts heat from the sensor body 5, so that the sensor surface 6 is brought to a temperature below the condensation temperature of the steam.
  • the heating element 8, the insulating member 10 and the cooling element 11 form a sensor body carrier, which is inserted in a housing 14, in which a gas feed line 15 opens, through which the gas stream is fed, as purge gas G through the annular gap-shaped opening between the edge of the steam transport channel 20 surrounding pipe socket 17 and the sensor surface 6 flows through the vapor transport channel 20.
  • the gas stream G preferably consists of an inert gas. It may be nitrogen, a noble gas or even hydrogen.
  • the gas stream G preferably consists of an inert gas. It may be nitrogen, a noble gas or even hydrogen.
  • a contact element 12 which has a ring shape and surrounds a central region of the sensor surface 6.
  • the sensor body 5 is preferably excited to vibrate such that the contact line of the contact element extends on a node line.
  • a countercontact to the contact element 12 forms the rear side of the sensor body 5.
  • the contact element 12 and the mating contact are connected to an electronic circuit for carrying out the oscillation.
  • the spring elements 12 thus provide a heat transfer resistance in the manner of a heat insulating element, so that the temperature of the sensor body 5 can be adjusted substantially independently of the temperature of the wall 4 of the volume 2 and of the temperature of the pipe socket 17.
  • a device which is characterized in that the heat transfer body is formed by a heating element 8, which is connected in a heat-conducting manner to a cooling element 11 with a heat dissipating surface 18 different from the heat transfer surface 9.
  • a device which is characterized in that the heating element 8 is electrically heated.
  • a device which is characterized in that the heat transfer surface 9 runs essentially parallel to the heat dissipation surface 18.
  • a device which is characterized in that between the heat dissipation surface 18 and a cooling surface 19 of the cooling element 11, an insulation element 10 is arranged, which has a lower thermal conductivity as the heating element 8 and by which heat from the heating element 8 to the cooling element 11 is transportable.
  • a device which is characterized in that the volume 2 is formed by a vapor transport line 1 through which a carrier gas carrying the vapor can flow.
  • a device which is characterized in that means are provided for generating a directed from the sensor surface 6 to the volume 2 gas flow (G).
  • a method which is characterized in that for cleaning the sensor surface 6 of the heat transfer body is operated as a heating element 8, wherein by feeding electrical heating energy into the heating element 8, the surface temperature of the sensor surface 6 is brought to a temperature above the condensation temperature of the vapor.
  • a method which is characterized in that, during the heating of the heating element 8, it is transported through an insulating element 10 to the cooling element 11.
  • a method which is characterized in that, in particular when cleaning the sensor surface 6, a directed from the sensor surface 6 toward the volume 2 gas flow is generated, is transported by the evaporated from the sensor surface 6 condensate into the volume 2.
  • a method which is characterized in that the volume 2 is formed by a vapor transport line 1, through which the vapor is transported by means of a carrier gas.

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Abstract

Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Bestimmung des Partialdrucks oder der Konzentration eines Dampfes in einem Volumen (2) mit einem in eine Os- zillation bringbaren, auf eine Temperatur unterhalb der Kondensationstempe- raturdes Dampfes temperierbaren Sensorkörper (5), dessen Oszillationsfre- quenz durch eine auf seiner Sensoroberfläche (6) von kondensiertem Dampf gebildete Massenanhäufung beeinflusst wird, wobei die von der Sensoroberflä- che (6) weg weisende Rückseite (7) des Sensorkörpers (5) an einer Wärmeüber- tragungsfläche (9) eines Wärmeübertragungskörpers anliegt. Der Wärmeüber- tragungskörper wird von einem elektrisch beheizbaren Heizelement (8) ausge- bildet, das mit einer von der Wärmeübertragungsfläche (9) verschiedenen Wärmeableitfläche (18) wärmeleitend mit einem Kühlelement (11) verbunden ist, wobei die Wärmeübertragungsfläche (9) im Wesentlichen parallel zur Wär- meableitfläche (18) verläuft

Description

Beschreibung
Vorrichtung und Verfahren zur Bestimmung der Konzentration eines
Dampfes
Gebiet der Technik
[0001] Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Bestimmung des Partial- drucks oder der Konzentration eines Dampfes in einem Volumen mit einem in eine Oszillation bringbaren, auf eine Temperatur unterhalb der Kondensationstemperatur des Dampfes temperierbaren Sensorkörper, dessen Oszillationsfrequenz durch eine auf seiner Sensoroberfläche von kondensiertem Dampf gebildete Massenanhäufung beeinflusst wird, wobei die von der Sensoroberfläche weg weisende Rückseite des Sensorkörpers an einer Wärmeübertragungsfläche eines Wärmeübertragungskörpers anliegt.
[0002] Die Erfindung betrifft darüber hinaus ein Verfahren zur Bestimmung des Partialdrucks oder der Konzentration eines Dampfes in einem Volumen, wobei der Dampf in einer Transportrichtung zu einer Sensoroberfläche eines Sensorkörpers transportiert wird, welche auf eine Temperatur unterhalb der Kondensationstemperatur des Dampfes temperiert wird, so dass der Dampf als eine eine Oszillationsfrequenz des Sensorkörpers auf der Sensoroberfläche beeinflussende Massenanhäufung kondensiert, wozu dem Sensorkörper durch einen Wärmeübertragungskörper hindurch mittels eines Kühlelementes Wärme entzogen wird.
Stand der Technik [0003] Die WO 2015/128279 AI beschreibt eine Vorrichtung und ein Verfahren zum Bestimmen der Konzentration eines Dampfes mittels QCM (Quartz Crystal Microbalance). Mit dem QCM soll die Dampf konzentration bzw. der Partial- druck eines Dampfes in einer Inertgasströmung bestimmt werden. [0004] Die DE 10 2015 104 240 AI beschreibt eine ähnliche Vorrichtung. Dort ist vorgesehen, den QCM von seiner Rückseite her zu beheizen, um die Sensoroberfläche auf eine Temperatur zu bringen, bei der die Massenanhäufung des kondensierten Dampfes abdampft. [0005] Die US 2014/ 0053779 AI beschreibt die Verwendung eines QCM, wobei rückwärtig des Sensorkörpers eine Gasströmung in das Sensorgehäuse eingespeist werden kann.
[0006] Bei der Verwendung eines QCMs in einer Beschichtungseinrichtung zur Bestimmung einer Schichtdicke einer auf einem Substrat abgeschiedenen Schicht steht der Sensorkörper in einem guten thermischen Kontakt zur Umgebung und ist gegenüber einem Träger des Sensorkörpers thermisch isoliert.
Zusammenfassung der Erfindung
[0007] Die Dampfkonzentration bzw. der Partialdruck des Dampfes in einem Volumen wird mit einem gattungsgemäßen Sensorkörper dadurch bestimmt, dass dessen Schwingfrequenz durch eine von der Kondensation des Dampfes auf der Oberfläche des Sensorkörpers erzeugte Massenanhäufung beeinflusst wird. Die Resonanzfrequenz des Sensorkörpers driftet mit zunehmender Massenanhäufung von einem Ausgangswert weg, wobei die Änderung der Frequenz pro Zeiteinheit ein Maß für die Dampfkonzentration in dem Volumen ist. Der zeitliche Massenzuwachs auf der Sensoroberfläche des Sensorkörpers wird darüber hinaus von den Transporteigenschaften, insbesondere der Diffusionseigenschaft der Gasphase des Volumens, beeinflusst sowie von der Länge eines Dampftransportkanals zwischen einem Fenster zum Volumen und der Sensoroberfläche des oszillierenden Sensorkörpers. [0008] Die Lebensdauer eines derartigen Sensorkörpers ist durch das Erreichen einer maximalen Massenanhäufung auf der Sensoroberfläche begrenzt. Ist diese maximale Massenanhäufung erreicht, muss entweder der Sensorkörper ausgetauscht werden oder der Sensorkörper muss durch Aufheizen gereinigt werden. Hierzu wird der Sensorkörper auf eine Temperatur aufgeheizt, die oberhalb der Kondensationstemperatur des Dampfes liegt, damit das Kondensat von der Sensoroberfläche sublimiert.
[0009] Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, das eingangs beschriebene Verfahren und die eingangs beschriebene Vorrichtung verfahrenstechnisch zu verbessern, insbesondere die Reinigungszykluszeit zu vermindern.
[0010] Gelöst wird die Aufgabe durch die in den Ansprüchen angegebene Erfindung, wobei jeder Anspruch, auch jeder Unteranspruch eine eigenständige Lösung der Aufgabe darstellt und die einzelnen Ansprüche beliebig miteinander kombiniert werden können, wobei auch die Kombination einzelner An- Spruchsmerkmale vorgesehen ist.
[0011] Während bei den bislang verwendeten Vorrichtungen eine hohe thermische Masse zum Reinigen der Sensoroberfläche aufgeheizt werden muss und diese hohe thermische Masse auch wieder abgekühlt werden muss, so dass Reinigungszeiten von 90 Minuten und mehr entstehen, schlägt die Erfindung Mittel vor, mit denen die Reinigungszeiten vermindert werden können.
[0012] Zunächst und im Wesentlichen wird vorgeschlagen, dass der Sensorkörper eine zum Volumen hin weisende Sensoroberfläche aufweist, auf der der durch einen Dampftransportkanal vom Volumen her zum Sensorkörper transportierte Dampf zu einer Massenanhäufung kondensieren kann. Hierzu muss die Sensoroberfläche und insbesondere auch der gesamte Sensorkörper auf eine Temperatur abgekühlt werden, die unterhalb der Kondensationstemperatur des Dampfes liegt. Das Volumen, bei dem es sich bevorzugt um einen Gastransportkanal handelt, durch den mit einem Inertgas ein organischer Dampf transportiert wird, wird auf einer Temperatur gehalten, die oberhalb der Kondensa- tionstemperatur des Dampfes ist, beispielsweise kann diese Temperatur 350°C betragen. Die Oberflächentemperatur des Sensorkörpers soll hingegen 220°C betragen. Um dies zu erreichen, liegt die der Sensoroberfläche gegenüberliegende Rückseite des Sensorkörpers auf einer Wärmeübertragungsfläche eines Wärmeleiters auf, durch den die Wärme vom Sensorkörper hin zu einem Küh- lelement transportiert wird, mit dem die Wärme abgeführt wird. Erfindungsgemäß wird der Wärmeübertragungskörper zwischen Wärmeübertragungsfläche und einer Wärmeableitfläche von einem Heizelement ausgebildet, mit welchem der Sensorkörper derart aufheizbar ist, dass die Sensoroberfläche eine Temperatur erreicht, bei der das darauf angehäufte Kondensat sublimieren kann. Hierzu erreicht die Temperatur vorzugsweise zumindest 350°C. Um den Aufheizprozess des Sensorkörpers zu beschleunigen, kann zwischen dem Heizelement und dem Kühlelement ein Isolationselement angeordnet sein, das eine geringere Wärmeleitfähigkeit aufweist als der vom Heizelement ausgebildete Wärmeübertragungskörper. Bei dem Heizelement kann es sich um ein elektrisch beheizbares Element handeln. Es kann einen Heizwiderstand aufweisen, durch den ein elektrischer Heizstrom hindurchströmt, um das Heizelement auf die Abdampftemperatur aufzuheizen, bei der die Massenanhäufung verdampf werden kann. Das Isolationselement hat bevorzugt eine derartige Isolationswirkung, dass die Aufheizgeschwindigkeit oder die Abkühlgeschwindig- keit bei etwa 3°C/ s liegt. Das Isolationselement bildet einen Wärmeflusswider- stand und ist bevorzugt so ausgebildet, dass sich zwischen einer Wärmeableitfläche des Heizelementes und einer Kühlfläche des Kühlelementes ein Temperaturunterschied von mindestens 160°C ausbilden kann, wenn das Kühlelement eine Kühlfunktion ausübt und gleichzeitig das Heizelement eine Heizfunktion ausübt, bei der der Sensorkörper auf eine Temperatur oberhalb der Verdamp- fungstemperatur des Kondensats aufgeheizt wird. Nach Beendigung des Reinigungsschrittes, bei dem das abgedampfte Kondensat mit einem Gasstrom durch den Dampftransportkanal in das Volumen transportiert wird und die Beheizung des Heizelementes beendet wird, wird dem Heizelement durch das Isolationselement hindurch vom Kühlelement Wärme entzogen, so dass es sich auf die Betriebstemperatur abkühlen kann, bei der auf der Sensoroberfläche Dampf kondensieren kann. Die Dicke des Isolationselementes bzw. dessen Wärmeleitfähigkeit wird so ausgewählt, dass die Aufheizzeiten zum Reinigen nicht zu lang sind und andererseits die Abkühlzeiten nach dem Reinigungs- schritt ebenfalls nicht zu lang sind. Es reicht aus, wenn der oben genannte
Temperaturunterschied von 160°C erreicht wird bei einer Wärmeleistung von 80 % des Heizelementes. Mit der erfindungs gemäßen Ausgestaltung des Sensorkörperträgers als Heizelement, durch welches Wärme vom Sensorkörper zum Kühlelement übertragbar ist, können die Reinigungszyklen auf Zeiten zwischen 2 und 3 Minuten verkürzt werden. Der Gasstrom, der vom Rand der Sensoroberfläche her über die Sensoroberfläche geführt wird, beschleunigt den Reinigungsprozess ebenfalls, indem er den abgedampften Dampf hin zum Volumen transportiert.
[0013] Ein weiterer Aspekt der Erfindung ist die thermische Entkopplung des Sensorkörpers von der Wand des Volumens bzw. einem mit der Wand wärmeleitend verbundenen Rohrstutzen. Die Wand des Volumens kann somit beheizt werden, ohne dass die Wärmezufuhr zur Wandung eine Erhöhung der Temperatur des Sensorkörpers zur Folge hat. Erfindungs gemäß ist ein thermisches Isolationselement zwischen dem Rand des Sensorkörpers und einem wärmelei- tend mit der Wand des Volumens verbundenen Gehäuseteiles vorgesehen. Bei diesem thermisch isolierenden Element kann es sich um eine Feder, insbesondere um eine Druckfeder, handeln. Zufolge dieser Ausgestaltung kann die Sensoroberfläche eine Temperatur aufweisen, die um mindestens 100°C niedriger ist als die Temperatur der Wand des Volumens. [0014] Des Weiteren wird vorgeschlagen, dass Mittel vorgesehen sind, um einen Gasstrom, insbesondere einen Inert gas ström, zu erzeugen, der der
Dampftransportrichtung zur Sensoroberfläche entgegen gerichtet ist. Der Transport des Dampfes vom Volumen hin zur Sensoroberfläche erfolgt im We- sentlichen durch die Diffusion und insbesondere die Diffusion durch einen Dampftransportkanal hindurch. Die erfindungsgemäße Gasströmung ist der Transportrichtung, also bspw. der Diffusionsrichtung entgegen gerichtet. Das Gas soll mit geeigneten Strömungserzeugenden Mitteln von der Sensoroberfläche in Richtung eines Fensters strömen, durch welches der Dampf in den Dampf transportkanal eintreten kann. Durch eine geeignete Wahl des Volumenstroms oder Massenstroms des entgegen der Transportrichtung durch den Dampftransportkanal hindurch strömenden Gasstroms kann ein "Tooling Factor" vorgegeben werden. Es lässt sich die Kondensationsrate des Dampfes auf der Sensoroberfläche durch Wahl eines geeigneten Gasstroms herabsetzen. Durch eine der Diffusion entgegen gerichtete Gasströmung im Dampftransportkanal wird die maximale Massenanhäufung auf der Sensoroberfläche erst nach einer längeren Betriebszeit erreicht. In einer bevorzugten Ausgestaltung der Erfindung erfolgt die Einspeisung des Gasstroms, der auch als Spülgasstrom bezeichnet werden kann, in unmittelbarer Nachbarschaft der Sensor- Oberfläche des Sensorkörpers. In einer bevorzugten Ausgestaltung schließt sich an das Fenster zum Volumen ein Dampftransportkanal an, der von einer Wandung ringsumschlossen ist. Bei dieser Wandung kann es sich bevorzugt um einen Rohrstutzen bzw. eine trichterförmige Schürze handeln. Diese Wandung erstreckt sich bis unmittelbar zur Sensoroberfläche, wobei die Sensoroberfläche parallel zur Fläche des Fensters verlaufen kann. Eine Randkante der Wandung kann von der Oberfläche des Sensorkörpers beabstandet sein. Die Randkante kann aber auch von einer den Sensorkörper umgebenden Halterung beabstandet sein. Der dadurch gebildete Spalt bildet eine Flachdüse, durch welche der Gasstrom in einer Richtung parallel zur Sensoroberfläche einströmt. Es bil- det sich bevorzugt eine Gasströmung vom Rand der Sensoroberfläche in Rieh- tung auf das Zentrum der Sensoroberfläche aus. Bevorzugt handelt es sich bei der Flachdüse um eine Ringflachdüse. Der Sensorkörper liegt bevorzugt auf einem Träger, der in einem Sensorgehäuse angeordnet ist. Das Sensorgehäuse besitzt eine Gaszuleitung, durch die das Gas in das Sensorgehäuse eingespeist werden kann. Durch eine das Volumen ausbildende Gasleitung kann eine Gasströmung hindurchströmen, mit der ein organischer Dampf transportiert wird. Das Volumen und insbesondere die als Rohr ausgebildete und beheizte Gasleitung besitzt ein Fenster. Dieses Fenster besitzt eine Öffnung, durch die der Dampf hindurch diffundieren kann. An das Fenster schließt sich bevorzugt der Rohrstutzen an, der eine Diffusionsstrecke ausbildet. Der Rohrstutzen besitzt einen freien Rand, der von der Sensoroberfläche beabstandet ist. Hierdurch bildet sich ein Spalt. Der Spalt bildet eine Breitschlitzdüse aus, die die Form eines Ringkanals haben kann. Der durch diesen Ringkanal in den Rohrstutzen einströmende Gasstrom erzeugt eine der Diffusion entgegen gerichtete Strömung, so dass die mittlere Transportgeschwindigkeit des Dampfes vom Fenster zur Sensoroberfläche durch Einstellen der Strömungsgeschwindigkeit justiert werden kann. Bei der Justage wird die Strömung durch den Rohrstutzen derart eingestellt, dass der zeitliche Massenzuwachs auf der Sensoroberfläche groß genug ist, um ein ausreichend hohes Signal-/ Rauschverhältnis zu bekommen. [0015] In einer von dem Erfindungsgedanken mit umfassten Beschichtungsan- lage, die eine Prozesskammer aufweist, in die mittels eines Gaseinlassorganes der Dampf eingespeist wird, kann eine erfindungs gemäße Sensoranordnung sowohl in der Dampfzuleitung als auch in der Prozesskammer bzw. am Rand der Prozesskammer angeordnet sein. Der durch die Gaszuleitung hindurch transportierte Dampf wird auf seinem Weg vom Verdampfer zur Prozesskammer bzw. zum Gaseinlassorgan mehrfach verdünnt, so dass sich zwischen Dampferzeuger und Prozesskammer ein Partialdampfunterschied von 5 : 1 einstellen kann. Als Folge der Gaseinspeisung in den Rohrstutzen lässt sich ein baugleicher Partialdrucksensor sowohl in der Dampfzuleitung als auch in der Prozesskammer verwenden. Mit dem Gasstrom, der einen "Tooling-Gasstrom" ausbildet, lässt sich die Sensitivität des Sensors um einen Faktor größer als 10 einstellen. Dies ist insbesondere von Bedeutung, wenn an einer Beschichtungs- vorrichtung mehrere Gaszuleitungen vorgesehen sind, zum Zuleiten verschie- dener Dämpfe, wobei ein Dampf einen Dotierstoff darstellt, der nur mit einem sehr geringen Partialdruck in die Prozesskammer eingespeist wird. Zum Messen eines Dotierstoff dampfes kann die Vorrichtung bevorzugt ohne ergänzende Gaseinspeisung verwendet werden.
[0016] Der Sensorkörper wird bevorzugt von einem QCM (Quartz Crystal Monitor) ausgebildet, bei dem es sich um einen Schwingkörper handelt, der von einem Kristall ausgebildet wird. Der Schwingkörper kann bevorzugt aus GaP04 bestehen. Die Sensor anordnung wird bevorzugt verwendet, um den Dampf eines organischen Precursors zu bestimmen, der mittels eines Inertgasstroms durch eine das Volumen ausbildende Gasleitung hindurch transpor- tiert wird. Der Dampf wird zu einem Gaseinlassorgan einer Beschichtungs anläge transportiert, in der OLED-Bauelemente, bspw. Bildschirme oder dergleichen hergestellt werden. Die Sensoranordnung ist insbesondere Teil eines Regelkreises, mit dem eine zeitlich konstante Dampfflussrate in die Prozesskammer einer OLED-Beschichtungseinrichtung geleitet wird. Das Volumen kann von einer Depositionskammer ausgebildet sein, deren Wände eine Temperatur aufweisen, die niedriger ist als die Kondensationstemperatur des Gases, wobei ein derartiges Volumen nicht durchströmt ist und bevorzugt auch keine Inertgasatmosphäre aufweist, sondern im Wesentlichen lediglich eine Dampfquelle, beispielsweise einen Verdampfer zum Erzeugen des Dampfes und ein Substrat, auf dem der Dampf kondensieren soll. Bevorzugt wird das Volumen aber von einer Dampftransportleitung in Form einer beheizten Rohrleitung ausgebildet, durch die ein von einem Dampferzeuger erzeugter Dampf mittels eines Trägergases transportiert wird. Die Wände der Dampftransportleitung haben eine Temperatur, die größer ist als die Kondensationstemperatur des Dampfes. Als Werkstoff für den Sensorkörper kann Quarz verwendet werden. Bevorzugt wird aber ein Werkstoff verwendet, der oberhalb von 50°C und bevorzugt weit oberhalb von 50°C als Schwingkörper verwendet werden kann. Bei einem Betrieb des Sensorkörpers an einer Dampftransportleitung ist die Kondens ations- rate des Dampfes auf der Sensoroberfläche etwa 5 mal so groß wie bei der Verwendung des Sensor körpers an einem oder in einem Volumen, in welchem ohne Ausbildung einer Strömung ein Dampf erzeugt wird, also wie oben erwähnt bei einer Depositionskammer. Bei der bevorzugten Verwendung des Sensorkörpers an einer dampfdurchströmten Dampf transportleitung müssen die ver- wendeten Sensoren eine etwa fünffach höhere Empfindlichkeit aufweisen. Mit den erfindungsgemäßen Maßnahmen sollen diese Erfordernisse erreicht werden. Der Sensorkörper erhält eine vergrößerte Lebensdauer, obwohl beim Betrieb des Sensors an einer Dampftransportleitung eine höhere Depositionsrate zu erwarten ist. [0017] Bei einem bekannten QCM, mit dem die Schichtdicke einer auf einem Substrat abgeschiedenen Schicht durch Änderung der Schwingfrequenz ermittelt wird, besteht zwischen dem Sensorkörper und einem Sensor körperträger eine schlechte Wärmeleitverbindung. Eine gute Wärmeleitverbindung besteht hingegen zur Umgebung, also zum Dampf bzw. zu einem Trägergas. Wird bei dieser Anordnung der Sensorkörperträger gekühlt, so kann eine nachteilhafte Kondensation außerhalb der Sensoroberfläche stattfinden. Erfindungsgemäß besteht zwischen der Rückseite des Sensorkörpers und des Sensorkörperträgers, der hier ein Wärmeübertragungskörper ist, eine gute Wärmeleitverbindung. Die Oberfläche des Wärmeübertragungskörpers kann die Funktion eines elektrischen Kontaktes aufweisen. Ein anderer elektrischer Kontakt wird über Federelemente erzielt. Während sich beim Stand der Technik sich die Federelemente an der Rückseite des Sensorkörpers abstützen, wird erfindungsgemäß die Sensoroberfläche insbesondere an ihrem Rand von den Federelementen beaufschlagt, so dass die Rückseite des Sensorkörpers in guter thermi- scher Leitverbindung am Wärmeübertragungskörper anliegt. Diese gegenüber dem Stand der Technik invertierte Anordnung entkoppelt die Temperatur des Sensorkörpers von der Temperatur der Umgebung, also des Dampfes bzw. des Träger gases.
Kurze Beschreibung der Zeichnungen
[0018] Im Folgenden wird die Erfindung anhand eines Ausführungsbeispiels im Detail erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 einen Schnitt gemäß der Linie I - I in Fig. 2 einer Gastransportleitung 1, mit der Dampf eines organischen Ausgangsstoffes von einer Dampfquelle hin zu einem Gaseinlassorgan einer OLED-Beschichtungseinrichtung transportiert wird, wobei die Schnittlinie I - I mittig durch ein Fenster 3 in der Wand 4 der Dampftransportleitung 1 gelegt ist;
Fig. 2 den Schnitt gemäß der Linie II - II in Fig. 1;
Fig. 3 vergrößert den Ausschnitt III in der Fig. 1;
Fig. 4 einen Schnitt gemäß der Linie IV-IV in Figur 3.
Beschreibung der Ausführungsformen
[0019] Die Dampf transportleitung 1 bildet ein Volumen 2 aus, durch welches ein von einem Inertgas transportierter Dampf eines organischen Ausgangsstoffes hindurchtritt. Die Wand 4 der Dampftransportleitung wird auf eine Temperatur oberhalb der Kondensationstemperatur des Dampfes, beispielsweise auf 350°C temperiert. [0020] Das Volumen 2 der Dampftransportleitung 1 ist über ein Fenster 3 und einen sich daran anschließenden Dampftransportkanal 20 mit einer Sensoroberfläche 6 eines Sensorkörpers 5 verbunden. Der Durchmesser des Dampftrans- portkanales 20 entspricht in etwa dem Durchmesser des Fensters 3. Beim Aus- führungsbeispiel wird der Dampftransportkanal 20 von einem rohrförmigen Stutzen 17 umgeben, der eine trichterförmige Schürze ausbildet, die an ihrer vom Fenster 3 weg weisenden Seite einen freien Rand ausbildet.
[0021] Der Rand des Rohrstutzens 17 ist von der Sensoroberfläche 6 durch einen Spalt beabstandet. Dieser Spalt bildet einen ringförmigen Strömungskanal 16 aus, so dass sich eine Flachdüse ausbildet, durch die ein Gasstrom G hindurchströmen kann.
[0022] Der im Volumen 2 enthaltene Dampf des organischen Ausgangsstoffes wird insbesondere durch Diffusion in einer Transportrichtung T durch das Fenster 3 und den Dampftransportkanal 20 hindurch zur Sensoroberfläche 6 des Sensorkörpers 5 transportiert. Der Transport des Dampfes erfolgt dabei gegen die Gasströmung G, die entgegen der Transportrichtung T durch den Dampftransportkanal 20 und das Fenster 3 strömt. Durch den Massenfluss bzw. den Volumenstrom des Gasstromes G lässt sich somit die Transportrate des Dampfes in Richtung der Transportrichtung T hin zur Sensoroberfläche 6 ein- stellen.
[0023] Es ist ein Kühlelement 11 vorgesehen, das über einen Wärmeübertragungskörper mit der Rückseite 7 des Sensorkörpers 5 wärmeleitend verbunden ist. Mit dem Kühlelement 11 wird die Sensoroberfläche 6 auf eine Temperatur von beispielsweise 220° abgekühlt, bei dieser Temperatur kondensiert der Dampf auf der Sensoroberfläche 6. [0024] Der Sensorkörper 5 wird von einem QCM ausgebildet, der mit geeigneten, aus dem Stand der Technik her bekannten Mitteln in eine Schwingung versetzt wird. Der QCM ist insbesondere Teil eines Schwingkreises. Die Resonanzfrequenz des QCM wird von der auf der Sensoroberfläche 6 gebildeten Massen- anhäufung des kondensierten Dampfes beeinflusst. Aus der Änderung der Resonanzfrequenz können Rückschlüsse auf die Dampfkonzentration bzw. den Partialdruck des Dampfes im Volumen 2 gezogen werden. Die Massenanhäufungsrate auf der Sensoroberfläche 6 kann durch Vergrößerung des Gasstromes G vermindert werden. Hierdurch lässt sich die Zyklusdauer des Sensorkörpers 5 verlängern.
[0025] Gemäß einem Aspekt der Erfindung ist der Wärmeübertragungskörper ein Heizelement 8. Das Heizelement 8 besitzt eine Wärmeübertragungsfläche 9, die in wärmeleitendem Kontakt zur Rückseite 7 des Sensorkörpers 5 steht. Eine Wärmeableitfläche 18, die von der Wärmeübertragungsfläche 9 verschieden ist und beim Ausführungsbeispiel der Wärmeübertragungsfläche 9 gegenüberliegt, ist wärmeleitend mit einer Kühlfläche 19 des Kühlelementes 11 verbunden, so dass das Heizelement 8 die Funktion eines Wärmeübertragungskörpers aufweist, wenn in das Heizelement 8 keine elektrische Wärmeleistung eingespeist wird. [0026] Im Ausführungsbeispiel ist ferner vorgesehen, dass zwischen der
Wärmeableitfläche 18 des Heizelementes 8 und der Kühlfläche 19 des Kühlelementes 11 ein Isolierelement 10 angeordnet ist. Das Isolier element 10 hat eine geringere Wärmeleitfähigkeit als das Heizelement 8. Die Wärmeleiteigenschaft des Isolationselementes 10 ist so gewählt, dass bei nicht abgeschalteter Kühlleis- tung des Kühlelementes 11 durch Einspeisung elektrischer Heizleistung in das Heizelement 8 die Sensoroberfläche 6 auf eine Temperatur aufheizbar ist, bei der das auf Sensoroberfläche 6 angehäufte Kondensat sublimieren kann. Die Wärmeübertragungsfläche 9 hat somit einerseits die Funktion, während des Normalbetriebs Wärme vom Sensorkörper 5 abzuführen und andererseits während des Reinigungsbetriebs Wärme dem Sensorkörper 5 zuzuführen.
[0027] Wird die Wärmezufuhr zum Heizelement 8 beendet, so wird dem Heizelement 8 durch das Isolationselement 10 hindurch Wärme entzogen. Das Heizelement 8 kühlt sich dabei ab und entzieht dem Sensorkörper 5 ebenfalls Wärme, so dass die Sensoroberfläche 6 auf eine Temperatur unterhalb der Kondensationstemperatur des Dampfes gebracht wird.
[0028] Das Heizelement 8, das Isolationselement 10 und das Kühlelement 11 bilden einen Sensorkörperträger, der in einem Gehäuse 14 steckt, in das eine Gaszuleitung 15 mündet, durch welche der Gasstrom eingespeist wird, der als Spülgasstrom G durch die ringspaltförmige Öffnung zwischen dem Rand des den Dampf transportkanals 20 umgebenden Rohrstutzens 17 und der Sensoroberfläche 6 durch den Dampftransportkanal 20 hindurchströmt. Der Gasstrom G besteht bevorzugt aus einem Inertgas. Dabei kann es sich um Stickstoff, ein Edelgas oder aber auch um Wasserstoff handeln. Bevorzugt besteht der
Gasstrom G aus demselben Stoff, aus dem auch der Trägergasstrom besteht, mit dem der Dampf durch das von einer Gasleitung ausgebildeten Volumen 2 transportiert wird. [0029] Es ist ein Kontaktelement 12 vorgesehen, das eine Ringform aufweist und einen zentralen Bereich der Sensoroberfläche 6 umgibt. Der Sensorkörper 5 wird bevorzugt derart zum Schwingen angeregt, dass die Berührungslinie des Kontaktelementes auf einer Knotenlinie verläuft. Einen Gegenkontakt zum Kontaktelement 12 bildet die Rückseite des Sensorkörpers 5. Das Kontaktele- ment 12 und der Gegenkontakt sind zur Durchführung der Oszillation an einer elektronischen Schaltung angeschlossen. [0030] Es sind bevorzugt mehrere Federelemente 13 vorgesehen, mit denen sich das Kontaktelement 12 an einem heißen Teil des Gehäuses abstützt. Die Federelemente 12 bieten somit einen Wärmeübertragungswiderstand in der Art eines Wärmeisolationselementes, so dass die Temperatur des Sensorkörpers 5 im Wesentlichen unabhängig von der Temperatur der Wandung 4 des Volumens 2 bzw. von der Temperatur des Rohrstutzens 17 eingestellt werden kann.
[0031] Die vorstehenden Ausführungen dienen der Erläuterung der von der Anmeldung insgesamt erfassten Erfindungen, die den Stand der Technik zumindest durch die folgenden Merkmalskombinationen jeweils auch eigenstän- dig weiterbilden, wobei zwei, mehrere oder alle dieser Merkmalskombinationen auch kombiniert sein können, nämlich:
[0032] Eine Vorrichtung, die dadurch gekennzeichnet ist, dass der Wärmeübertragungskörper von einem Heizelement 8 ausgebildet ist, das mit einer von der Wärmeübertragungsfläche 9 verschiedenen Wärmeableitfläche 18 wärme- leitend mit einem Kühlelement 11 verbunden ist.
[0033] Eine Vorrichtung, die dadurch gekennzeichnet ist, dass das Heizelement 8 elektrisch beheizbar ist.
[0034] Eine Vorrichtung, die dadurch gekennzeichnet ist, dass die Wärme- übertragungsfläche 9 im Wesentlichen parallel zur Wärmeableitfläche 18 ver- läuft.
[0035] Eine Vorrichtung, die dadurch gekennzeichnet ist, dass zwischen der Wärmeableitfläche 18 und einer Kühlfläche 19 des Kühlelementes 11 ein Isolationselement 10 angeordnet ist, dass eine geringere Wärmeleitfähigkeit aufweist als das Heizelement 8 und durch welches Wärme vom Heizelement 8 zum Kühlelement 11 transportierbar ist.
[0036] Eine Vorrichtung, die dadurch gekennzeichnet ist, dass das Volumen 2 von einer von einem den Dampf transportierenden Trägergas durchströmbaren Dampftransportleitung 1 gebildet ist.
[0037] Eine Vorrichtung, die dadurch gekennzeichnet ist, dass die Sensoroberfläche 6 mittels eines wärmeisolierenden Elementes von der Wand 4 des Volumens 2 oder einer mit der Wand 4 wärmeleitend verbundenen Rohr Stutzens 17 thermisch getrennt ist. [0038] Eine Vorrichtung, die dadurch gekennzeichnet ist, dass das thermisch isolierende Element ein Federelement 13 ist.
[0039] Eine Vorrichtung, die dadurch gekennzeichnet ist, dass Mittel vorgesehen sind, um eine von der Sensoroberfläche 6 zum Volumen 2 gerichteten Gasstrom (G) zu erzeugen. [0040] Ein Verfahren, das dadurch gekennzeichnet ist, dass zum Reinigen der Sensoroberfläche 6 der Wärmeübertragungskörper als Heizelement 8 betrieben wird, wobei durch Einspeisen elektrischer Heizenergie in das Heizelement 8 die Oberflächentemperatur der Sensoroberfläche 6 auf eine Temperatur oberhalb der Kondensationstemperatur des Dampfes gebracht wird. [0041] Ein Verfahren, das dadurch gekennzeichnet ist, dass während des Be- heizens des Heizelementes 8 durch ein Isolationselement 10 zum Kühlelement 11 transportiert wird. [0042] Ein Verfahren, das dadurch gekennzeichnet ist, dass insbesondere beim Reinigen der Sensoroberfläche 6 ein von der Sensoroberfläche 6 hin zum Volumen 2 gerichteter Gasstrom erzeugt wird, mit dem von der Sensoroberfläche 6 verdampftes Kondensat ins Volumen 2 transportiert wird. [0043] Ein Verfahren, das dadurch gekennzeichnet ist, dass das Volumen 2 von einer Dampftransportleitung 1 gebildet ist, durch den der Dampf mittels eines Trägergases hindurchtransportiert wird.
[0044] Alle offenbarten Merkmale sind (für sich, aber auch in Kombination untereinander) erfindungswesentlich. In die Offenbarung der Anmeldung wird hiermit auch der Offenbarungsinhalt der zugehörigen/beigefügten Prioritätsunterlagen (Abschrift der Voranmeldung) vollinhaltlich mit einbezogen, auch zu dem Zweck, Merkmale dieser Unterlagen in Ansprüche vorliegender Anmeldung mit aufzunehmen. Die Unteransprüche charakterisieren, auch ohne die Merkmale eines in Bezug genommenen Anspruchs, mit ihren Merkmalen eigenständige erfinderische Weiterbildungen des Standes der Technik, insbesondere um auf Basis dieser Ansprüche Teilanmeldungen vorzunehmen. Die in jedem Anspruch angegebene Erfindung kann zusätzlich ein oder mehrere der in der vorstehenden Beschreibung, insbesondere mit Bezugsziffern versehene und/ oder in der Bezugsziffernliste angegebene Merkmale aufweisen. Die Er- findung betrifft auch Gestaltungsformen, bei denen einzelne der in der vorstehenden Beschreibung genannten Merkmale nicht verwirklicht sind, insbesondere soweit sie erkennbar für den jeweiligen Verwendungszweck entbehrlich sind oder durch andere technisch gleichwirkenden Mittel ersetzt werden können. Liste der Bezugszeichen
1 Dampftransportleitung
2 Volumen
3 Fenster
4 Wand
5 Sensorkörper
6 Sensoroberfläche
7 Rückseite
8 Heizelement
9 Wärmeübertragungsfläche
10 Isolationselement
11 Kühlelement
12 Kontaktelement
13 Federelement
14 Gehäuse
15 Gaszuleitung
16 Strömungskanal
17 Rohrstutzen
18 Wärmeableitfläche
19 Kühlfläche
20 Dampftransportkanal
G Spülgasstrom
T Transportrichtung

Claims

Ansprüche
Vorrichtung zur Bestimmung des Partialdrucks oder der Konzentration eines Dampfes in einem Volumen (2) mit einem in eine Oszillation bringbaren, auf eine Temperatur unterhalb der Kondensationstemperatur des Dampfes temperierbaren Sensorkörper (5), dessen Oszillationsfrequenz durch eine auf seiner Sensoroberfläche (6) von kondensiertem Dampf gebildete Massenanhäufung beeinflusst wird, wobei die von der Sensoroberfläche (6) weg weisende Rückseite (7) des Sensorkörpers (5) an einer Wärmeübertragungsfläche (9) eines von einem Kühlelement (11) kühlbaren und als Heizelement (8) ausgebildeten Wärmeübertragungskörpers anliegt, dadurch gekennzeichnet, dass der Wärmeübertragungskörper mit einer von der Wärmeübertragungsfläche (9) verschiedenen Wärmeableitfläche (18) wärmeleitend mit dem Kühlelement (11) verbunden ist.
Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das Heizelement (8) elektrisch beheizbar ist.
Vorrichtung nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Wärmeübertragungsfläche (9) im Wesentlichen parallel zur Wärmeableitfläche (18) verläuft.
Vorrichtung nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass zwischen der Wärmeableitfläche (18) und einer Kühlfläche (19) des Kühlelementes (11) ein Isolationselement (10) angeordnet ist, dass eine geringere Wärmeleitfähigkeit aufweist als das Heizelement (8) und durch welches Wärme vom Heizelement (8) zum Kühlelement (11) transportierbar ist. Vorrichtung nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass das Volumen (2) von einer von einem den Dampf transportierenden Trägergas durchströmbaren Dampftransportleitung (1) gebildet ist.
Vorrichtung zur Bestimmung des Partialdrucks oder der Konzentration eines Dampfes in einem Volumen (2) mit einem in eine Oszillation bringbaren, auf eine Temperatur unterhalb der Kondensationstemperatur des Dampfes temperierbaren Sensorkörper (5), dessen Oszillationsfrequenz durch eine auf seiner Sensoroberfläche (6) von kondensiertem Dampf gebildete Massenanhäufung beeinflusst wird, wobei die von der Sensoroberfläche (6) weg weisende Rückseite (7) des Sensorkörpers (5) an einer Wärmeübertragungsfläche (9) eines Wärmeübertragungskörpers anliegt, dadurch gekennzeichnet, dass die Sensoroberfläche (6) mittels eines wärmeisolierenden Elementes von der Wand (4) des Volumens (2) oder einer mit der Wand (4) wärmeleitend verbundenen Rohrstutzens (17) thermisch getrennt ist.
Vorrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass das thermisch isolierende Element ein Federelement (13) ist.
Verfahren zur Bestimmung des Partialdrucks oder der Konzentration eines Dampfes in einem Volumen (2), wobei der Dampf in einer Transportrichtung (T) zu einer Sensoroberfläche (6) eines Sensorkörpers (5) transportiert wird, welche auf eine Temperatur unterhalb der Kondensationstemperatur des Dampfes temperiert wird, so dass der Dampf als eine eine Oszillationsfrequenz des Sensorkörpers (5) auf der Sensoroberfläche (6) beeinflussende Massenanhäufung kondensiert, wozu dem Sensorkörper (5) durch einen Wärmeübertragungskörper hindurch mittels eines Kühlelementes (11) Wärme entzogen wird, dadurch gekennzeichnet, dass zum Reinigen der Sensoroberfläche (6) der Wärmeübertragungskörper als Heizelement (8) betrieben wird, wobei durch Einspeisen elektrischer Heizenergie in das Heizelement (8) die Oberflächentemperatur der Sensoroberfläche (6) auf eine Temperatur oberhalb der Kondensationstemperatur des Dampfes gebracht wird.
Verfahren nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass während des Beheizens des Heizelementes (8) Wärme durch ein Isolationselement (10) zum Kühlelement (11) transportiert wird.
Verfahren nach einem der Ansprüche 8 bis 9, dadurch gekennzeichnet, dass das Volumen (2) von einer Dampftransportleitung (1) gebildet ist, durch den der Dampf mittels eines Trägergases hindurchtransportiert wird.
11. Vorrichtung oder Verfahren, gekennzeichnet durch eines oder mehrere der kennzeichnenden Merkmale eines der vorhergehenden Ansprüche.
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Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102019128515A1 (de) * 2019-10-22 2021-04-22 Apeva Se Verfahren zum Betrieb eines QCM-Sensors
DE102020103822A1 (de) 2020-02-13 2021-08-19 Apeva Se Vorrichtung zum Verdampfen eines organischen Pulvers
DE102020116271A1 (de) 2020-06-19 2021-12-23 Apeva Se Vorrichtung und Verfahren zum Verdampfen eines organischen Pulvers
DE102020122800A1 (de) 2020-09-01 2022-03-03 Apeva Se Vorrichtung zum Abscheiden von OLED-Schichten mit einer Run-/Vent-Leitung
DE102020123764A1 (de) 2020-09-11 2022-03-17 Apeva Se Verfahren zum Erzeugen eines zeitlich konstanten Dampfflusses sowie Verfahren zum Einstellen eines Arbeitspunktes einer Vorrichtung zum Erzeugen eines Dampfes

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58223009A (ja) * 1982-06-18 1983-12-24 Nippon Soken Inc 水晶発振式膜厚モニタ
US20140053779A1 (en) 2012-08-22 2014-02-27 Uchicago Argonne, Llc Micro-balance sensor integrated with atomic layer deposition chamber
WO2015128279A1 (de) 2014-02-26 2015-09-03 Aixtron Se Vorrichtung und verfahren zur bestimmung der konzentration eines dampfes mittels eines schwingkörpersensors
DE102015104240A1 (de) 2015-03-20 2016-09-22 Aixtron Se Durch Aufheizen zu reinigender QCM-Sensor und dessen Verwendung in einem OVPD-Beschichtungssystem

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5282925A (en) * 1992-11-09 1994-02-01 International Business Machines Corporation Device and method for accurate etching and removal of thin film
US5567267A (en) * 1992-11-20 1996-10-22 Tokyo Electron Limited Method of controlling temperature of susceptor
JPH09157846A (ja) * 1995-12-01 1997-06-17 Teisan Kk 温度調節装置
US6072163A (en) 1998-03-05 2000-06-06 Fsi International Inc. Combination bake/chill apparatus incorporating low thermal mass, thermally conductive bakeplate
US6125687A (en) * 1998-08-20 2000-10-03 International Business Machines Corporation Apparatus for measuring outgassing of volatile materials from an object
US6295861B1 (en) 1999-01-28 2001-10-02 Advanced Technology Materials, Inc. Quartz crystal microbalance sensors and semiconductor manufacturing process systems comprising same
US7230204B2 (en) * 2003-03-28 2007-06-12 Tokyo Electron Limited Method and system for temperature control of a substrate
US7275436B2 (en) 2003-04-21 2007-10-02 Tangidyne Corporation Method and apparatus for measuring film thickness and film thickness growth
US8137465B1 (en) * 2005-04-26 2012-03-20 Novellus Systems, Inc. Single-chamber sequential curing of semiconductor wafers
US8999245B2 (en) * 2009-07-07 2015-04-07 Tricorn Tech Corporation Cascaded gas chromatographs (CGCs) with individual temperature control and gas analysis systems using same
US9382625B2 (en) * 2014-05-01 2016-07-05 Applied Materials, Inc. Remote plasma source based cyclic CVD process for nanocrystalline diamond deposition
KR20170041884A (ko) * 2014-08-11 2017-04-17 비코 인스트루먼츠 인코포레이티드 음향 가스 농도 감지 및 유동 제어를 위한 개선된 엔클로저

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58223009A (ja) * 1982-06-18 1983-12-24 Nippon Soken Inc 水晶発振式膜厚モニタ
US20140053779A1 (en) 2012-08-22 2014-02-27 Uchicago Argonne, Llc Micro-balance sensor integrated with atomic layer deposition chamber
WO2015128279A1 (de) 2014-02-26 2015-09-03 Aixtron Se Vorrichtung und verfahren zur bestimmung der konzentration eines dampfes mittels eines schwingkörpersensors
DE102015104240A1 (de) 2015-03-20 2016-09-22 Aixtron Se Durch Aufheizen zu reinigender QCM-Sensor und dessen Verwendung in einem OVPD-Beschichtungssystem

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