WO2018105002A1 - レーザ装置 - Google Patents

レーザ装置 Download PDF

Info

Publication number
WO2018105002A1
WO2018105002A1 PCT/JP2016/086057 JP2016086057W WO2018105002A1 WO 2018105002 A1 WO2018105002 A1 WO 2018105002A1 JP 2016086057 W JP2016086057 W JP 2016086057W WO 2018105002 A1 WO2018105002 A1 WO 2018105002A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
laser
pulse
energy
pulse energy
control unit
Prior art date
Application number
PCT/JP2016/086057
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
武志 浅山
Original Assignee
ギガフォトン株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ギガフォトン株式会社 filed Critical ギガフォトン株式会社
Priority to PCT/JP2016/086057 priority Critical patent/WO2018105002A1/ja
Priority to JP2018555336A priority patent/JP6845255B2/ja
Priority to CN201680090475.1A priority patent/CN109891689B/zh
Publication of WO2018105002A1 publication Critical patent/WO2018105002A1/ja
Priority to US16/402,270 priority patent/US10965090B2/en

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/10Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating
    • H01S3/102Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating by controlling the active medium, e.g. by controlling the processes or apparatus for excitation
    • H01S3/104Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating by controlling the active medium, e.g. by controlling the processes or apparatus for excitation in gas lasers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/09Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping
    • H01S3/091Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping using optical pumping
    • H01S3/094Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping using optical pumping by coherent light
    • H01S3/0943Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping using optical pumping by coherent light of a gas laser
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/10Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating
    • H01S3/13Stabilisation of laser output parameters, e.g. frequency or amplitude
    • H01S3/131Stabilisation of laser output parameters, e.g. frequency or amplitude by controlling the active medium, e.g. by controlling the processes or apparatus for excitation
    • H01S3/134Stabilisation of laser output parameters, e.g. frequency or amplitude by controlling the active medium, e.g. by controlling the processes or apparatus for excitation in gas lasers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/02Constructional details
    • H01S3/03Constructional details of gas laser discharge tubes
    • H01S3/036Means for obtaining or maintaining the desired gas pressure within the tube, e.g. by gettering, replenishing; Means for circulating the gas, e.g. for equalising the pressure within the tube
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/14Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range characterised by the material used as the active medium
    • H01S3/22Gases
    • H01S3/223Gases the active gas being polyatomic, i.e. containing two or more atoms
    • H01S3/225Gases the active gas being polyatomic, i.e. containing two or more atoms comprising an excimer or exciplex

Definitions

  • This disclosure relates to a laser device.
  • exposure apparatuses In recent years, in semiconductor exposure apparatuses (hereinafter referred to as “exposure apparatuses”), improvement in resolution has been demanded as semiconductor integrated circuits have been miniaturized and highly integrated. For this reason, the wavelength of light emitted from the exposure light source is being shortened.
  • a gas laser device is used as an exposure light source in place of a conventional mercury lamp.
  • a gas laser apparatus for exposure a KrF excimer laser apparatus that outputs ultraviolet laser light with a wavelength of 248 nm and an ArF excimer laser apparatus that outputs ultraviolet laser light with a wavelength of 193 nm are used.
  • the spontaneous amplitude of the KrF excimer laser device and the ArF excimer laser device is as wide as about 350 to 400 pm. Therefore, if the projection lens is made of a material that transmits ultraviolet rays such as KrF and ArF laser light, chromatic aberration may occur. As a result, the resolution can be reduced. Therefore, it is necessary to narrow the spectral line width of the laser light output from the gas laser device until the chromatic aberration is negligible. Therefore, a narrowband module (Line ⁇ ⁇ ⁇ Narrow Module: LNM) with a narrowband element (etalon, grating, etc.) is provided in the laser resonator of the gas laser device to narrow the spectral line width. There is.
  • a laser device whose spectral line width is narrowed is referred to as a narrow-band laser device.
  • a first laser device of the present disclosure includes a pair of electrodes, and emits pulsed laser light having pulse energy corresponding to an applied voltage applied between the pair of electrodes at each frequency at a plurality of pulse repetition frequencies.
  • the applied voltage is controlled based on the chamber, an energy detector provided on the optical path of the pulsed laser light and detecting the pulse energy of the pulsed laser light, and the target pulse energy and the pulse energy detected by the energy detector.
  • a voltage control unit and a pulse energy control unit that periodically varies the target pulse energy at a modulation frequency corresponding to each of a plurality of pulse repetition frequencies with the reference energy as a fluctuation center.
  • a second laser device of the present disclosure includes a laser chamber that includes a pair of electrodes, and emits a pulsed laser beam having a pulse energy corresponding to an applied voltage applied between the pair of electrodes at a predetermined pulse repetition frequency; An energy detector that is provided on the optical path of the pulse laser beam and detects the pulse energy of the pulse laser beam, and a voltage controller that controls the applied voltage based on the target pulse energy and the pulse energy detected by the energy detector And a pulse energy control unit that periodically varies the target pulse energy at a predetermined modulation frequency with each of the plurality of reference energies as a fluctuation center.
  • a third laser device of the present disclosure includes a laser chamber that includes a pair of electrodes, and emits a pulsed laser beam having a pulse energy corresponding to an applied voltage applied between the pair of electrodes at a predetermined pulse repetition frequency; An energy detector that is provided on the optical path of the pulse laser beam and detects the pulse energy of the pulse laser beam, and a voltage controller that controls the applied voltage based on the target pulse energy and the pulse energy detected by the energy detector And a pulse energy control unit that periodically varies the target pulse energy at a modulation frequency corresponding to each of the plurality of reference energies, with each of the plurality of reference energies as a center of variation.
  • FIG. 1 schematically shows a configuration example of a laser apparatus according to Comparative Example 1.
  • FIG. 2 is a flowchart illustrating an example of a flow of pulse energy control by the laser control unit in the laser apparatus according to the first comparative example.
  • FIG. 3 is a flowchart illustrating an example of a flow of control gain calculation processing by the laser control unit in the laser apparatus according to the first comparative example.
  • FIG. 4 is a flowchart showing an example of a gain oscillation subroutine in the control gain calculation process of FIG.
  • FIG. 5 shows a first example of measured values of pulse energy and charging voltage for each pulse in the laser device according to Comparative Example 1.
  • FIG. 1 schematically shows a configuration example of a laser apparatus according to Comparative Example 1.
  • FIG. 2 is a flowchart illustrating an example of a flow of pulse energy control by the laser control unit in the laser apparatus according to the first comparative example.
  • FIG. 3 is a flowchart illustrating an example of a flow of control gain calculation processing by
  • FIG. 6 shows a first example of a change in pulse energy with respect to a change in charging voltage in the laser apparatus according to Comparative Example 1.
  • FIG. 7 shows a second example of measured values of pulse energy and charging voltage for each pulse in the laser device according to Comparative Example 1.
  • FIG. 8 shows a second example of a change in pulse energy with respect to a change in charging voltage in the laser device according to Comparative Example 1.
  • FIG. 9 schematically shows a configuration example of a laser apparatus according to Comparative Example 2.
  • FIG. 10 is a flowchart illustrating an example of a flow of control gain calculation processing by the laser control unit in the laser apparatus according to Comparative Example 2.
  • FIG. 11 shows an example of measured values of pulse energy and charging voltage for each pulse in the laser device according to Comparative Example 2.
  • FIG. 10 is a flowchart illustrating an example of a flow of control gain calculation processing by the laser control unit in the laser apparatus according to Comparative Example 2.
  • FIG. 11 shows an example of measured values of pulse energy and charging voltage for each pulse in
  • FIG. 12 shows an example of the result of spectrum analysis of the pulse energy and the charging voltage in FIG.
  • FIG. 13 shows a first example of a change in pulse energy with respect to a change in charging voltage in the laser device according to Comparative Example 2.
  • FIG. 14 shows a second example of a change in pulse energy with respect to a change in charging voltage in the laser device according to Comparative Example 2.
  • FIG. 15 shows an example of measured values of pulse energy and charging voltage for each pulse in the laser apparatus according to the first embodiment.
  • FIG. 16 shows an example of the result of spectral analysis of the pulse energy and the charging voltage in FIG.
  • FIG. 17 is a flowchart illustrating an example of a flow of control gain calculation processing by the laser control unit in the laser apparatus according to the first embodiment.
  • FIG. 18 is a flowchart following FIG.
  • FIG. 19 is a flowchart following FIG.
  • FIG. 20 is a flowchart illustrating an example of a flow of pulse energy control by the laser control unit in the laser apparatus according to the first embodiment.
  • FIG. 21 shows an example of measured values of pulse energy and charging voltage for each pulse in the laser apparatus according to the second embodiment.
  • FIG. 22 shows an example of the result of spectral analysis of the pulse energy and the charging voltage in FIG.
  • FIG. 23 is a flowchart illustrating an example of a flow of control gain calculation processing by the laser control unit in the laser apparatus according to the second embodiment.
  • FIG. 24 is a flowchart following FIG.
  • FIG. 25 is a flowchart following FIG.
  • FIG. 26 shows an example of measured values of pulse energy and charging voltage for each pulse in the laser apparatus according to the third embodiment.
  • FIG. 27 shows an example of measured values of pulse energy and charging voltage per unit time in the laser apparatus according to the third embodiment.
  • FIG. 28 shows an example of the result of spectral analysis of the pulse energy and the charging voltage in FIG.
  • FIG. 29 is a flowchart illustrating an example of a flow of control gain calculation processing by the laser control unit in the laser apparatus according to the third embodiment.
  • FIG. 30 is a flowchart subsequent to FIG.
  • FIG. 31 is a flowchart following FIG.
  • FIG. 32 is a flowchart illustrating an example of a flow of pulse energy control by the laser control unit in the laser apparatus according to the third embodiment.
  • FIG. 33 shows an example of measured values of pulse energy and charging voltage for each pulse in the laser apparatus according to the fourth embodiment.
  • FIG. 34 shows an example of measured values of pulse energy and charging voltage per unit time in the laser apparatus according to the fourth embodiment.
  • FIG. 35 shows an example of the result of spectral analysis of the pulse energy and the charging voltage in FIG.
  • FIG. 36 is a flowchart illustrating an example of a flow of control gain calculation processing by the laser control unit in the laser apparatus according to the fourth embodiment.
  • FIG. 37 is a flowchart following FIG.
  • FIG. 38 is a flowchart following FIG.
  • FIG. 39 is a flowchart following FIG.
  • FIG. 40 is a flowchart following FIG.
  • FIG. 41 is a flowchart following FIG.
  • FIG. 42 is a flowchart following FIG.
  • FIG. 43 is a flowchart following FIG.
  • FIG. 44 is a flowchart subsequent to FIG. FIG.
  • FIG. 45 is a flowchart illustrating an example of a flow of pulse energy control by the laser control unit in the laser apparatus according to the fourth embodiment.
  • FIG. 46 is a flowchart showing an example of subroutine A of step S805A in FIG.
  • FIG. 47 is a flowchart showing an example of subroutine B of step S804A in FIG.
  • FIG. 48 is a flowchart showing an example of subroutine C in step S803A in FIG.
  • FIG. 49 schematically illustrates a configuration example of a laser apparatus according to the fifth embodiment.
  • Comparative Example> (Laser apparatus that performs energy control using control gain) 1.1 Comparative Example 1 (FIGS. 1 to 8) 1.1.1 Configuration of Comparative Example 1 1.1.2 Operation of Comparative Example 1 1.1.3 Problems of Comparative Example 1 1.2 Comparative Example 2 (FIGS. 9 to 14) 1.2.1 Configuration of Comparative Example 2 1.2.2 Operation of Comparative Example 2 1.2.2 Problems of Comparative Example 2 ⁇ 2.
  • Embodiment 1> (Laser apparatus using a plurality of control gains according to the value of target pulse energy) (FIGS. 15 to 20) 2.1 Configuration 2.2 Operation 2.3 Action and Effect ⁇ 3.
  • Second Embodiment> (Laser apparatus using a plurality of control gains according to a target pulse energy value and a modulation frequency value) (FIGS. 21 to 25) 3.1 Configuration 3.2 Operation 3.3 Action / Effect ⁇ 4.
  • Third Embodiment> (Laser Device Using Plural Control Gains According to Pulse Repetition Frequency Value) (FIGS. 26 to 32) 4.1 Configuration 4.2 Operation 4.3 Action / Effect ⁇ 5.
  • Embodiment 4> (Laser apparatus using a plurality of control gains according to a target pulse energy value and a pulse repetition frequency value) (FIGS. 33 to 48) 5.1 Configuration 5.2 Operation 5.3 Action / Effect ⁇ 6.
  • Embodiment 5> (Laser apparatus including MOPO system) 6.1 Configuration (Fig. 49) 6.2 Operation 6.3 Action / Effect ⁇ 7.
  • FIG. 1 schematically illustrates a configuration example of a laser apparatus 101 according to comparative example 1 with respect to the embodiment of the present disclosure.
  • the laser apparatus 101 may be an excimer laser apparatus that outputs a pulsed laser beam Lp toward the exposure apparatus 4.
  • the laser device 101 includes a laser control unit 2, a laser oscillator system 3, a laser gas supply device 91, and a laser gas exhaust device 92.
  • the laser oscillator system 3 may include a laser resonator, a laser chamber 20, a pulse power module (PPM) 28, a pulse energy detector 30, and a charger 90.
  • PPM pulse power module
  • the laser chamber 20 includes windows 21 and 22 that transmit laser light, a pair of discharge electrodes 23 and 24, an electrical insulating member 25, a cross flow fan (CFF) 26, a motor 27, and a pressure sensor 34. You may go out.
  • the laser chamber 20 may include a heat exchanger (not shown).
  • the laser chamber 20 emits a pulse laser beam Lp having a pulse energy E corresponding to an applied voltage applied between the pair of discharge electrodes 23 and 24 at a predetermined pulse repetition frequency Rp.
  • the applied voltage applied between the pair of discharge electrodes 23 and 24 may be a voltage corresponding to the charging voltage V by the charger 90.
  • the laser resonator may include an output coupling mirror 35 as an output coupler (OC: Output Coupler) and a narrowband module (LNM: Line Narrowing module) 10.
  • the laser resonator may be provided with two slits (not shown).
  • the laser chamber 20 may be arranged such that the discharge region of the pair of discharge electrodes 23 and 24 is arranged on the optical path of the laser resonator.
  • the narrowband module 10 may include a prism 12 for expanding a laser beam and a grating 11.
  • the prism 12 may be arranged so that the beam of laser light output from the laser chamber 20 is expanded by the prism 12 and incident on the grating 11 at a predetermined angle.
  • the grating 11 may have a Littrow arrangement in which the incident angle of the laser beam and the diffraction angle are substantially the same angle.
  • the output coupling mirror 35 may be a partial reflection mirror coated with a multilayer film that reflects a part of the laser light generated in the laser chamber 20 and transmits a part of the laser light.
  • the pulse energy detector 30 is provided on the optical path of the pulse laser beam Lp, and detects the pulse energy E of the pulse laser beam Lp.
  • the pulse energy detector 30 may include a beam splitter 31, a condenser lens 32, and an optical sensor 33 that detects the pulse energy E.
  • the beam splitter 31 may be disposed on the optical path of the pulsed laser light Lp output from the output coupling mirror 35.
  • the condenser lens 32 may be disposed on the optical path of the pulsed laser light Lp reflected by the beam splitter 31.
  • the optical sensor 33 may be disposed near the condensing position of the condensing lens 32.
  • the pulse power module 28 includes a switch 29 for discharging the pair of discharge electrodes 23 and 24, and may be connected to one of the discharge electrodes 23 via the electrical insulating member 25.
  • the other discharge electrode 24 may be connected to the grounded laser chamber 20.
  • the pulse power module 28 may include a charging capacitor (not shown).
  • the charger 90 and the pulse power module 28 may be electrically connected to each other so as to charge a charging capacitor (not shown) of the pulse power module 28.
  • the charger 90 may receive data indicating the charging voltage V from the laser control unit 2.
  • the charging voltage V may be a voltage for charging a charging capacitor (not shown).
  • the charging voltage V may be controlled by the laser control unit 2 based on the pulse energy E measured by the pulse energy detector 30.
  • the charging voltage V may be a voltage corresponding to an applied voltage applied between the pair of discharge electrodes 23 and 24.
  • the oscillation control signal Str and the target pulse energy Et may be input to the laser control unit 2 from the exposure apparatus controller 5 of the exposure apparatus 4.
  • the laser controller 2 and the pulse power module 28 may be electrically connected to each other so that the switch 29 is turned on / off in synchronization with the oscillation trigger signal Str.
  • the laser control unit 2 may include a storage unit 51 that stores various data.
  • the storage unit 51 may store target pulse energy Et, pulse energy E data measured by the pulse energy detector 30, data indicating the charging voltage V, and the like as various data.
  • the storage unit 51 may store a control gain Gc for performing energy control of the pulsed laser light Lp, data of a pulse repetition frequency Rp used for calculation of the control gain Gc, and the number of oscillation pulses Np.
  • the storage unit 51 may store data such as other set values used for calculating the control gain Gc.
  • the laser controller 2 is a voltage controller that controls an applied voltage applied between the pair of discharge electrodes 23 and 24 based on the target pulse energy Et and the pulse energy E detected by the pulse energy detector 30. May be.
  • the laser control unit 2 may be a gain calculation unit that calculates a control gain Gc.
  • the laser controller 2 controls the energy of the pulsed laser light Lp output from the laser chamber 20 by controlling the charging voltage V using the control gain Gc.
  • the laser gas supply device 91 may include a gas cylinder (not shown) that supplies laser gas into the laser chamber 20 and a supply valve (not shown) as a flow rate control valve that controls the supply of laser gas from the gas cylinder.
  • the laser gas may contain, for example, Ar or Kr as a rare gas. Further, the laser gas may contain, for example, F 2 gas as a halogen gas. Further, the laser gas may contain Ne or He as a buffer gas, for example. Further, the laser gas may contain a mixed gas of these gases. For example, the laser gas may include an Ar + Ne mixed gas or an Ar + Ne + F 2 mixed gas.
  • the laser gas exhaust device 92 may be configured to exhaust the laser gas in the laser chamber 20.
  • the laser gas exhaust device 92 may include an exhaust valve (not shown) and an exhaust pump (not shown).
  • the laser control unit 2 may receive the oscillation trigger signal Str and the target pulse energy Et from the exposure apparatus controller 5 of the exposure apparatus 4.
  • the laser control unit 2 may set the charging voltage V in the charger 90 so that the target pulse energy Et is obtained. Further, the laser control unit 2 may operate the switch 29 of the pulse power module 28 in synchronization with the oscillation trigger signal Str. Thereby, in the laser chamber 20, a high voltage corresponding to the charging voltage V is applied between the pair of discharge electrodes 23, 24, and the laser gas breaks down in the discharge region between the pair of discharge electrodes 23, 24, causing discharge. Can be generated.
  • the laser gas is excited in the laser chamber 20, and laser oscillation can occur between the narrowband module 10 constituting the laser resonator and the output coupling mirror 35.
  • the pulse laser beam Lp narrowed by the prism 12 and the grating 11 of the narrow band module 10 can be output.
  • the laser oscillation region can be limited by two slits (not shown) in the laser resonator.
  • the laser device 101 is not necessarily a narrow-band laser device but may be a laser device that outputs natural oscillation light.
  • a high reflection mirror may be arranged instead of the band narrowing module 10.
  • the pulse laser beam Lp output from the output coupling mirror 35 can be partially reflected toward the optical sensor 33 as sample light for detecting the pulse energy E by the beam splitter 31.
  • the pulse energy detector 30 may transmit the detected pulse energy E data to the laser control unit 2.
  • the pulsed laser light Lp that has passed through the beam splitter 31 can enter the exposure apparatus 4.
  • the laser control unit 2 may store the data of the charging voltage V and the pulse energy E when the pulse laser beam Lp is output in the storage unit 51.
  • the laser control unit 2 may perform feedback control of the charging voltage V so as to be the target pulse energy Et based on the difference ⁇ E between the target pulse energy Et and the actually output pulse energy E.
  • the laser control unit 2 may control the laser gas supply device 91 to supply the laser gas into the laser chamber 20 until a predetermined pressure is reached when the charging voltage V becomes higher than the maximum value in the allowable range. Further, when the charging voltage V becomes lower than the minimum value in the allowable range, the laser control unit 2 may control the laser gas exhaust device 92 to exhaust the laser gas from the laser chamber 20 until a predetermined pressure is reached.
  • the laser device 101 may store data of the charging voltage V and the pulse energy E when the target pulse energy Et is changed stepwise in a state where the control right is on the laser device 101 side in the storage unit 51.
  • a control gain Gc used in feedback control may be newly calculated from the relationship ⁇ V / ⁇ E between the pulse energy E and the charging voltage V at this time.
  • the coefficient Gs is preferably a value of 0.3 or more and 1 or less, for example, so that control does not diverge.
  • the control gain Gc is set in advance with an initial value as a parameter.
  • the parameter range of the initial value of the control gain Gc may be, for example, 0.1 or more and 2 or less.
  • the control gain Gc may be calculated according to a flowchart shown in FIG.
  • FIG. 2 is a flowchart showing an example of a flow of control of the pulse energy E by the laser control unit 2 in the laser apparatus 101 according to the comparative example 1.
  • the laser controller 2 reads the target pulse energy Et from the exposure apparatus controller 5 or the storage unit 51 (step S101). Next, the laser controller 2 determines whether laser oscillation has occurred (step S102). If the laser controller 2 determines that laser oscillation is not occurring (step S102; N), the process of step S102 is repeated.
  • the laser controller 2 reads the value of the pulse energy E from the pulse energy detector 30 (step S103).
  • the laser control unit 2 determines that the pulse energy E is smaller than the target pulse energy Et (E ⁇ Et)
  • the difference between the target pulse energy Et and the pulse energy E ( A value obtained by multiplying Et ⁇ E) by the control gain Gc is added to the charging voltage V to obtain a new charging voltage V (step S105), and the data of the charging voltage V is written in the storage unit 51 (step S108).
  • V V + (Et-E) ⁇ Gc
  • the laser control unit 2 determines that the pulse energy E is larger than the target pulse energy Et (E> Et)
  • the difference between the pulse energy E and the target pulse energy Et (as shown in the following equation)
  • a value obtained by multiplying E ⁇ Et) by the control gain Gc is subtracted from the charging voltage V to obtain a new charging voltage V (step S107), and data of the charging voltage V is written in the storage unit 51 (step S108).
  • V V- (E-Et) ⁇ Gc
  • the laser controller 2 determines whether or not the charging voltage V is equal to or higher than a predetermined maximum value Vmax (step S109).
  • the laser control unit 2 determines that the charging voltage V is not equal to or higher than the predetermined maximum value Vmax (step S109; N)
  • the process returns to step S101.
  • the energy control process is terminated.
  • FIG. 3 is a flowchart illustrating an example of a flow of calculation processing of the control gain Gc by the laser control unit 2 in the laser apparatus 101 according to the first comparative example.
  • the process of FIG. 3 may be performed, for example, after an instruction from the exposure apparatus 4, after exchanging the laser gas, or after adjusting the gas pressure of the laser gas. In addition, the process of FIG. 3 may be performed at regular intervals.
  • the laser controller 2 reads the pulse repetition frequency Rp from the exposure apparatus controller 5 or the storage unit 51 (step S201).
  • the laser control unit 2 reads the number of oscillation pulses Np from the exposure apparatus controller 5 or the storage unit 51 (step S202).
  • the number of oscillation pulses Np is preferably 2000 pulses or more and 5000 pulses or less, for example.
  • the laser control unit 2 sets the target pulse energy Et to the reference energy Eta (step S203).
  • the laser control unit 2 writes the set target pulse energy Et in the storage unit 51.
  • the laser control unit 2 performs a gain oscillation process (step S204).
  • gain oscillation processing here, processing shown in a subroutine shown in FIG.
  • the laser controller 2 sets the pulse counter value N to N + 1 (step S205).
  • the laser control unit 2 reads the value of the pulse energy E from the pulse energy detector 30, and writes the value of the pulse energy E of the nth pulse as Ean in the storage unit 51 (step S206).
  • the laser control unit 2 reads the value of the charging voltage V set in the charger 90 from the storage unit 51, and writes the value of the charging voltage V in the nth pulse as Van in the storage unit 51 (step S207). .
  • the laser controller 2 determines whether or not the pulse counter value N has exceeded the number of oscillation pulses Np (step S208). If the laser control unit 2 determines that the pulse counter value N does not exceed the oscillation pulse number Np (step S208; N), the process returns to step S204.
  • the laser controller 2 sets the target pulse energy Et to the reference energy Eta as shown in the following equation.
  • Average pulse energy Ave. Ea and average charging voltage Ave. Va is calculated (step S209).
  • the laser controller 2 sets the pulse counter value N to 0 (step S210).
  • the laser controller 2 sets the target pulse energy Et to the reference energy Etb (step S211).
  • the laser control unit 2 writes the set target pulse energy Et in the storage unit 51.
  • the laser control unit 2 performs a gain oscillation process (step S212).
  • gain oscillation processing here, processing shown in a subroutine shown in FIG.
  • the laser controller 2 sets the pulse counter value N to N + 1 (step S213).
  • the laser control unit 2 reads the value of the pulse energy E from the pulse energy detector 30, and writes the value of the pulse energy E of the nth pulse as Ebn in the storage unit 51 (step S214).
  • the laser control unit 2 reads the value of the charging voltage V set in the charger 90 from the storage unit 51, and writes the value of the charging voltage V in the nth pulse as Vbn in the storage unit 51 (step S215). .
  • the laser controller 2 determines whether or not the pulse counter value N has exceeded the number of oscillation pulses Np (step S216). If the laser control unit 2 determines that the pulse counter value N does not exceed the oscillation pulse number Np (step S216; N), the process returns to step S212.
  • the laser controller 2 sets the target pulse energy Et to the reference energy Etb as shown in the following equation.
  • Average pulse energy Ave. Eb and average charging voltage Ave. Vb is calculated (step S217).
  • Ave. Eb ⁇ Ebn / Np Ave.
  • Vb ⁇ Vbn / Np
  • the laser controller 2 sets the pulse counter value N to 0 (step S218).
  • the laser control unit 2 calculates the value of the control gain Gc as in the following equation (step S219), and ends the process.
  • ⁇ V / ⁇ E (Ave.Vb-Ave.Va) / (Ave.Eb-Ave.Ea)
  • Gc Gs ⁇ ⁇ V / ⁇ E
  • FIG. 4 is a flowchart showing an example of a gain oscillation subroutine in the control gain calculation process of FIG.
  • the laser controller 2 reads the target pulse energy Et from the storage unit 51 (step S301). Next, the laser controller 2 determines whether laser oscillation has occurred (step S302). If the laser control unit 2 determines that laser oscillation is not occurring (step S302; N), the process of step S302 is repeated.
  • the laser controller 2 reads the value of the pulse energy E from the pulse energy detector 30 (step S303).
  • the laser controller 2 compares the pulse energy E with the target pulse energy Et (step S304).
  • the current charging voltage V data is used as it is as the charging voltage V data (step S306).
  • the laser control unit 2 determines that the pulse energy E is smaller than the target pulse energy Et (E ⁇ Et)
  • the difference between the target pulse energy Et and the pulse energy E ( A value obtained by multiplying Et ⁇ E) by the initial value Gc0 of the control gain Gc is added to the charging voltage V to obtain a new charging voltage V (step S305).
  • V V + (Et ⁇ E) ⁇ Gc0
  • the laser controller 2 determines whether or not the charging voltage V is equal to or higher than a predetermined maximum value Vmax (step S308).
  • the laser control unit 2 determines that the charging voltage V is not equal to or higher than the predetermined maximum value Vmax (step S308; N)
  • the data of the charging voltage V is written in the storage unit 51 (step S310), The gain oscillation process ends.
  • step S308 when it is determined that the charging voltage V is equal to or higher than the predetermined maximum value Vmax (step S308; Y), the maximum value Vmax is set as the charging voltage V (step S309), and data of the charging voltage V is stored in the storage unit 51. (Step S310), and the gain oscillation process is terminated.
  • FIG. 5 shows a first example of measured values of the pulse energy E and the charging voltage V for each pulse in the laser apparatus 101 according to the comparative example 1.
  • FIG. 6 shows a first example of a change in pulse energy E with respect to a change in charging voltage V in the laser apparatus 101 according to Comparative Example 1.
  • the horizontal axis indicates the pulse number of the pulse laser beam Lp
  • the vertical axis indicates the pulse energy E (mJ) and the charging voltage V (kV).
  • the horizontal axis indicates the charging voltage V (kV)
  • the vertical axis indicates the pulse energy E (mJ).
  • the average pulse energy Ave. calculated in step S209 of FIG. Ea is 9 mJ
  • average charging voltage Ave. Va is 19 kV.
  • the average pulse energy Ave. calculated in step S217 of FIG. Eb is 11 mJ
  • average charging voltage Ave. Vb is 23 kV.
  • the reciprocal of the linear slope ⁇ E / ⁇ V in FIG. 6 corresponds to ⁇ V / ⁇ E calculated in step S219 in FIG.
  • ⁇ V / ⁇ E calculated in step S219 in FIG.
  • the slope ⁇ E / ⁇ V can be changed according to the variation of the pulse energy E. For this reason, a deviation also occurs in ⁇ V / ⁇ E calculated in step S209 of FIG. 3, and the calculation accuracy of the control gain Gc may be deteriorated.
  • FIG. 7 shows a second example of measured values of the pulse energy E and the charging voltage V for each pulse in the laser apparatus 101 according to the comparative example 1.
  • FIG. 8 shows a second example of the change in the pulse energy E with respect to the change in the charging voltage V in the laser apparatus 101 according to the first comparative example.
  • the horizontal axis indicates the pulse number of the pulse laser beam Lp
  • the vertical axis indicates the pulse energy E (mJ) and the charging voltage V (kV).
  • the horizontal axis represents the charging voltage V (kV)
  • the vertical axis represents the pulse energy E (mJ).
  • a plurality of control gains Gca and Gcb corresponding to the value of the target pulse energy Et may be calculated as follows.
  • Gca Gs ⁇ ⁇ Va / ⁇ Ea Et> 10:
  • Gcb Gs ⁇ ⁇ Vb / ⁇ Eb
  • the laser apparatus 101 may perform gain oscillation in three stages and calculate the average pulse energy and the average charging voltage three by three.
  • the control gain Gca can be calculated based on the reciprocal ( ⁇ Va / ⁇ Ea) of the slope ⁇ Ea / ⁇ Va of the straight line in FIG.
  • the control gain Gcb can be calculated based on the reciprocal ( ⁇ Vb / ⁇ Eb) of the slope ⁇ Eb / ⁇ Vb of the straight line in FIG.
  • the control gain Gc is calculated by changing the charging voltage V and the pulse energy E in a stepped manner.
  • the calculation accuracy may be deteriorated according to the variation of the pulse energy E.
  • the calculation time can be increased by increasing the number of pulses when calculating the control gain Gc and performing averaging. For this reason, development of a technique capable of calculating the control gain Gc with high accuracy in a short time is desired.
  • FIG. 9 schematically shows a configuration example of the laser apparatus 1 according to the comparative example 2.
  • the laser device 1 according to Comparative Example 2 has a configuration in which a function generator 52 is added to the laser control unit 2 in the laser device 101 according to Comparative Example 1.
  • the function generator 52 causes the target pulse energy Et to be changed at a modulation frequency Fm with a predetermined reference energy as a fluctuation center. A process of periodically changing is performed.
  • the function of the function generator 52 may be realized by a hard wafer, or may be realized by the laser control unit 2 executing a program corresponding to the function of the function generator 52.
  • FIG. 10 is a flowchart illustrating an example of a flow of calculation processing of the control gain Gc by the laser control unit 2 in the laser apparatus 1 according to the comparative example 2.
  • the processing in FIG. 10 may be performed, for example, after an instruction from the exposure apparatus 4, after exchanging the laser gas, or after adjusting the gas pressure of the laser gas. In addition, the processing of FIG. 10 may be performed at regular intervals.
  • the laser controller 2 reads the pulse repetition frequency Rp from the exposure apparatus controller 5 or the storage unit 51 (step S401).
  • the laser control unit 2 reads the number of oscillation pulses Np from the exposure apparatus controller 5 or the storage unit 51 (step S402).
  • the number of oscillation pulses Np is preferably 400 pulses or more and 1500 pulses or less, for example.
  • the number of oscillation pulses Np is more preferably a power of 2, such as 512 pulses or 1024 pulses.
  • the laser control unit 2 sets the target pulse energy Et to the reference energy Eta (step S403).
  • the laser control unit 2 writes the set target pulse energy Et in the storage unit 51.
  • the laser control unit 2 causes the function generator 52 to periodically vary the target pulse energy Et around the reference energy Eta as a fluctuation center as shown in the following equation (step S404).
  • Fma is a modulation frequency of the target pulse energy Et.
  • Rp / Fma is preferably an integer.
  • the range of Rp / Fma is desirably 4 or more and 10 or less.
  • the range of the amplitude ⁇ Ie is preferably 0.5 mJ or more and 2 mJ or less.
  • Et Eta + ⁇ Ie ⁇ sin (N ⁇ 2 ⁇ ⁇ ⁇ Fma / Rp)
  • the laser control unit 2 performs a gain oscillation process (step S405).
  • the gain oscillation processing here may be substantially the same as the subroutine shown in FIG. 4, for example.
  • the laser controller 2 sets the pulse counter value N to N + 1 (step S406).
  • the laser control unit 2 reads the value of the pulse energy E from the pulse energy detector 30, and writes the value of the pulse energy E of the nth pulse as Ean in the storage unit 51 (step S407).
  • the laser control unit 2 reads the value of the charging voltage V set in the charger 90 from the storage unit 51, and writes the value of the charging voltage V in the nth pulse as Van in the storage unit 51 (step S408). .
  • the laser controller 2 determines whether or not the pulse counter value N has exceeded the number of oscillation pulses Np (step S409). If the laser control unit 2 determines that the pulse counter value N does not exceed the number of oscillation pulses Np (step S409; N), the process returns to step S404.
  • the laser control unit 2 performs the stored data sequence of the pulse energy E and the charging voltage V. Then, the spectrum analysis is performed, and the amplitude component Iea at the modulation frequency Fma of the pulse energy E and the amplitude component Iva at the modulation frequency Fma of the charging voltage V are obtained (step S410).
  • Spectral analysis may use Fourier transform, discrete Fourier transform, or fast Fourier transform.
  • the laser controller 2 sets the pulse counter value N to 0 (step S411).
  • the laser control unit 2 calculates the value of the control gain Gc as in the following equation (step S412), and ends the process.
  • the coefficient Gs is preferably a value of 0.3 or more and 1 or less, for example, so that control does not diverge.
  • FIG. 11 shows an example of measured values of the pulse energy E and the charging voltage V for each pulse in the laser device 1 according to the comparative example 2.
  • FIG. 12 shows an example of the result of spectrum analysis of the pulse energy E and the charging voltage V in FIG.
  • the horizontal axis indicates the pulse number of the pulse laser beam Lp
  • the vertical axis indicates the pulse energy E (mJ) or the charging voltage V (kV).
  • the horizontal axis in FIG. 11 corresponds to time.
  • the horizontal axis indicates the frequency (Hz)
  • the vertical axis indicates the amplitude value.
  • amplitude components Iea and Iva as shown in FIG. 12 are obtained by the spectrum analysis processing in step S410 of FIG.
  • FIG. 13 shows a first example of a change in pulse energy E with respect to a change in charging voltage V in the laser apparatus 1 according to Comparative Example 2.
  • FIG. 14 shows a second example of a change in pulse energy E with respect to a change in charging voltage V in the laser apparatus 1 according to Comparative Example 2.
  • the horizontal axis represents the charging voltage V (kV)
  • the vertical axis represents the pulse energy E (mJ).
  • Embodiment 1> Laser apparatus using a plurality of control gains according to the value of target pulse energy
  • the laser apparatus according to Embodiment 1 of the present disclosure will be described.
  • substantially the same components as those of the laser device according to the comparative example are denoted by the same reference numerals, and description thereof is omitted as appropriate.
  • the laser device according to the first embodiment may have a configuration in which a function generator 52 is added to the laser control unit 2 in the laser device 101 according to the comparative example 1 in substantially the same manner as the laser device 1 according to the comparative example 2. .
  • the laser device according to Embodiment 1 is different from the laser device 1 according to Comparative Example 2 in the energy control processing by the laser control unit 2 and the control gain Gc calculation processing.
  • the laser control unit 2 may be a pulse energy control unit that periodically varies the target pulse energy Et at a predetermined modulation frequency with each of a plurality of reference energies as a variation center. Good.
  • the plurality of reference energies may be, for example, Eta, Etb, Etc.
  • the predetermined modulation frequency may be Fma, for example.
  • the laser control unit 2 may be a gain calculation unit that calculates a plurality of control gains corresponding to each of a plurality of reference energies, for example, Gca, Gcb, and Gcc.
  • the laser control unit 2 as the gain calculation unit may calculate the amplitude component of the pulse energy E when the target pulse energy Et is periodically changed at a predetermined modulation frequency with each of the plurality of reference energies as the change center. Good.
  • the laser control unit 2 applies an applied voltage applied between the pair of discharge electrodes 23 and 24 when the target pulse energy Et is periodically changed at a predetermined modulation frequency with each of a plurality of reference energies as the change center.
  • the amplitude component of the corresponding charging voltage V may be calculated.
  • the amplitude component of the calculated pulse energy E may be, for example, Iea, Ieb, Iec.
  • the calculated amplitude component of the charging voltage V may be, for example, Iva, Ivb, Ivc.
  • the laser control unit 2 may calculate a plurality of control gains based on the amplitude component of the pulse energy E and the amplitude component of the charging voltage V.
  • the laser control unit 2 further applies between the pair of discharge electrodes 23 and 24 based on a plurality of control gains.
  • a voltage control unit that controls the charging voltage V corresponding to the applied voltage may be used.
  • the laser control unit 2 periodically varies the target pulse energy Et at a predetermined modulation frequency Fma with each of the plurality of reference energies Eta, Etb, Etc as the center of variation, thereby providing a plurality of control gains Gca, Gcb, Gcc may be calculated.
  • a plurality of control gains Gca, Gcb, and Gcc corresponding to the value of the target pulse energy Et may be calculated as the control gain Gc.
  • the control gain Gca may be calculated based on the reference energy Eta.
  • the control gain Gcb may be calculated based on the reference energy Etb.
  • the control gain Gcc may be calculated based on the reference energy Etc.
  • each reference energy Eta, Etb, Etc may be Eta ⁇ Etb ⁇ Etc.
  • the set value of the target pulse energy Et shown below is an example, and is not limited to the value shown below.
  • FIG. 15 shows an example of measured values of the pulse energy E and the charging voltage V for each pulse in the laser apparatus according to the first embodiment.
  • FIG. 16 shows an example of the result of spectral analysis of the pulse energy E and the charging voltage V in FIG.
  • the horizontal axis indicates the pulse number of the pulse laser beam Lp
  • the vertical axis indicates the pulse energy E (mJ) or the charging voltage V (kV).
  • the horizontal axis in FIG. 15 corresponds to time.
  • the horizontal axis indicates the frequency (Hz)
  • the vertical axis indicates the amplitude value.
  • FIG. 17 is a flowchart illustrating an example of a flow of calculation processing of the control gain Gc by the laser control unit 2 in the laser apparatus according to the first embodiment.
  • FIG. 18 is a flowchart following FIG.
  • FIG. 19 is a flowchart following FIG.
  • the amplitude component Ie (Iea, Ieb, Iec) of the pulse energy E and the amplitude component Iv (Iva, Ivb, Ivc) of the charging voltage V as shown in FIG. ) May be calculated.
  • the processing in FIGS. 17 to 19 may be performed, for example, after an instruction from the exposure apparatus 4, after exchanging the laser gas, or after adjusting the gas pressure of the laser gas. Moreover, you may process for every fixed period.
  • the laser control unit 2 reads the pulse repetition frequency Rp from the exposure apparatus controller 5 or the storage unit 51 (step S401A).
  • the laser control unit 2 reads the number of oscillation pulses Np from the exposure apparatus controller 5 or the storage unit 51 (step S402A).
  • the number of oscillation pulses Np is preferably 400 pulses or more and 1500 pulses or less, for example.
  • the number of oscillation pulses Np is more preferably a power of 2, such as 512 pulses or 1024 pulses.
  • the laser control unit 2 sets the target pulse energy Et to the reference energy Eta (step S403A).
  • the laser control unit 2 writes the set target pulse energy Et in the storage unit 51.
  • the laser control unit 2 causes the function generator 52 to periodically change the target pulse energy Et around the reference energy Eta as the fluctuation center as shown in the following equation (step S404A).
  • Fma is a modulation frequency of the target pulse energy Et.
  • Rp / Fma is preferably an integer.
  • the range of Rp / Fma is desirably 4 or more and 10 or less.
  • the range of the amplitude ⁇ Ie is preferably 0.5 mJ or more and 2 mJ or less.
  • Rp may be 6000 Hz, for example.
  • Fma may be 1200 Hz, for example.
  • Et Eta + ⁇ Ie ⁇ sin (N ⁇ 2 ⁇ ⁇ ⁇ Fma / Rp)
  • the laser controller 2 performs a gain oscillation process (step S405A).
  • the gain oscillation processing here may be substantially the same as the subroutine shown in FIG. 4, for example.
  • the laser controller 2 sets the pulse counter value N to N + 1 (step S406A).
  • the laser control unit 2 reads the value of the pulse energy E from the pulse energy detector 30, and writes the value of the pulse energy E of the nth pulse as Ean in the storage unit 51 (step S407A).
  • the laser control unit 2 reads the value of the charging voltage V set in the charger 90 from the storage unit 51, and writes the value of the charging voltage V in the nth pulse as Van in the storage unit 51 (step S408A). .
  • the laser controller 2 determines whether or not the pulse counter value N has exceeded the number of oscillation pulses Np (step S409A). If the laser control unit 2 determines that the pulse counter value N does not exceed the oscillation pulse number Np (step S409A; N), the process returns to step S404A.
  • the laser control unit 2 applies the stored data string of the pulse energy E and the charging voltage V. Then, spectrum analysis is performed to obtain an amplitude component Iea at the modulation frequency Fma of the pulse energy E and an amplitude component Iva at the modulation frequency Fma of the charging voltage V (step S410A). Spectral analysis may use Fourier transform, discrete Fourier transform, or fast Fourier transform.
  • the laser controller 2 sets the pulse counter value N to 0 (step S411A).
  • the laser control unit 2 calculates the value Gca of the control gain Gc as in the following equation (step S412A), and proceeds to the process of FIG.
  • the coefficient Gs is preferably a value of 0.3 or more and 1 or less, for example, so that control does not diverge.
  • the laser control unit 2 reads the pulse repetition frequency Rp from the exposure apparatus controller 5 or the storage unit 51 (step S401B).
  • the laser control unit 2 reads the number of oscillation pulses Np from the exposure apparatus controller 5 or the storage unit 51 (step S402B).
  • the number of oscillation pulses Np is preferably 400 pulses or more and 1500 pulses or less, for example.
  • the number of oscillation pulses Np is more preferably a power of 2, such as 512 pulses or 1024 pulses.
  • the laser controller 2 sets the target pulse energy Et to the reference energy Etb (step S403B).
  • the laser control unit 2 writes the set target pulse energy Et in the storage unit 51.
  • the laser control unit 2 causes the function generator 52 to periodically vary the target pulse energy Et around the reference energy Etb as a fluctuation center as shown in the following equation (step S404B).
  • Fma is a modulation frequency of the target pulse energy Et.
  • Rp / Fma is preferably an integer.
  • the range of Rp / Fma is desirably 4 or more and 10 or less.
  • the range of the amplitude ⁇ Ie is preferably 0.5 mJ or more and 2 mJ or less.
  • Rp may be 6000 Hz, for example.
  • Fma may be 1200 Hz, for example.
  • Et Etb + ⁇ Ie ⁇ sin (N ⁇ 2 ⁇ ⁇ ⁇ Fma / Rp)
  • the laser controller 2 performs a gain oscillation process (step S405B).
  • the gain oscillation processing here may be substantially the same as the subroutine shown in FIG. 4, for example.
  • the laser controller 2 sets the pulse counter value N to N + 1 (step S406B).
  • the laser controller 2 reads the value of the pulse energy E from the pulse energy detector 30, and writes the value of the pulse energy E of the nth pulse as Ebn in the storage unit 51 (step S407B).
  • the laser control unit 2 reads the value of the charging voltage V set in the charger 90 from the storage unit 51, and writes the value of the charging voltage V in the nth pulse as Vbn in the storage unit 51 (step S408B). .
  • the laser controller 2 determines whether or not the pulse counter value N has exceeded the number of oscillation pulses Np (step S409B). If the laser control unit 2 determines that the pulse counter value N does not exceed the oscillation pulse number Np (step S409B; N), the process returns to step S404B.
  • the laser control unit 2 applies the stored pulse energy E and charging voltage V to the data string. Then, the spectrum analysis is performed, and the amplitude component Ieb at the modulation frequency Fma of the pulse energy E and the amplitude component Ivb at the modulation frequency Fma of the charging voltage V are obtained (step S410B).
  • Spectral analysis may use Fourier transform, discrete Fourier transform, or fast Fourier transform.
  • the laser controller 2 sets the pulse counter value N to 0 (step S411B).
  • the laser control unit 2 calculates the value Gcb of the control gain Gc as in the following equation (step S412B), and proceeds to the process of FIG.
  • the coefficient Gs is preferably a value of 0.3 or more and 1 or less, for example, so that control does not diverge.
  • the laser controller 2 reads the pulse repetition frequency Rp from the exposure apparatus controller 5 or the storage unit 51 (step S401C).
  • the laser control unit 2 reads the number of oscillation pulses Np from the exposure apparatus controller 5 or the storage unit 51 (step S402C).
  • the number of oscillation pulses Np is preferably 400 pulses or more and 1500 pulses or less, for example.
  • the number of oscillation pulses Np is more preferably a power of 2, such as 512 pulses or 1024 pulses.
  • the laser controller 2 sets the target pulse energy Et to the reference energy Etc (step S403C).
  • the laser control unit 2 writes the set target pulse energy Et in the storage unit 51.
  • the laser control unit 2 causes the function generator 52 to periodically vary the target pulse energy Et around the reference energy Etc as a fluctuation center as shown in the following equation (step S404C).
  • Fma is a modulation frequency of the target pulse energy Et.
  • Rp / Fma is preferably an integer.
  • the range of Rp / Fma is desirably 4 or more and 10 or less.
  • the range of the amplitude ⁇ Ie is preferably 0.5 mJ or more and 2 mJ or less.
  • Rp may be 6000 Hz, for example.
  • Fma may be 1200 Hz, for example.
  • Et Etc + ⁇ Ie ⁇ sin (N ⁇ 2 ⁇ ⁇ ⁇ Fma / Rp)
  • the laser control unit 2 performs gain oscillation processing (step S405C).
  • the gain oscillation processing here may be substantially the same as the subroutine shown in FIG. 4, for example.
  • the laser control unit 2 sets the pulse counter value N to N + 1 (step S406C).
  • the laser control unit 2 reads the value of the pulse energy E from the pulse energy detector 30, and writes the value of the pulse energy E of the nth pulse as Ecn in the storage unit 51 (step S407C).
  • the laser control unit 2 reads the value of the charging voltage V set in the charger 90 from the storage unit 51, and writes the value of the charging voltage V in the nth pulse as Vcn in the storage unit 51 (step S408C). .
  • the laser controller 2 determines whether or not the pulse counter value N exceeds the number of oscillation pulses Np (step S409C).
  • the laser control unit 2 determines that the pulse counter value N does not exceed the oscillation pulse number Np (step S409C; N)
  • the process returns to step S404C.
  • the laser control unit 2 applies the stored data string of pulse energy E and charging voltage V to the data string. Then, the spectrum analysis is performed to obtain the amplitude component Iec at the modulation frequency Fma of the pulse energy E and the amplitude component Ivc at the modulation frequency Fma of the charging voltage V (step S410C). Spectral analysis may use Fourier transform, discrete Fourier transform, or fast Fourier transform.
  • the laser controller 2 sets the pulse counter value N to 0 (step S411C).
  • the laser controller 2 calculates the value Gcc of the control gain Gc as in the following equation (step S412C), and ends the process.
  • the coefficient Gs is preferably a value of 0.3 or more and 1 or less, for example, so that control does not diverge.
  • FIG. 20 is a flowchart illustrating an example of a flow of control of the pulse energy E by the laser control unit 2 in the laser apparatus according to the first embodiment.
  • the laser controller 2 reads the target pulse energy Et from the exposure apparatus controller 5 or the storage unit 51 (step S501).
  • the laser controller 2 determines which of the plurality of control gains Gca, Gcb, Gcc the target pulse energy Et corresponds to (step S502).
  • the control gains Gca, Gcb, Gcc may be calculated according to the flowcharts shown in FIGS.
  • the laser control unit 2 sets the value of the control gain Gc to Gca when the target pulse energy Et is equal to or less than a predetermined value, for example, when it is determined that Et ⁇ (Eta + Etb) / 2 (step S503).
  • the laser control unit 2 determines that (Eta + Etb) / 2 ⁇ Et ⁇ (Etb + Etc) / 2, the value of the control gain Gc is set to Gcb ( Step S504).
  • the laser control unit 2 sets the value of the control gain Gc to Gcc (step S505).
  • step S506 determines whether or not laser oscillation has occurred. If the laser controller 2 determines that laser oscillation is not occurring (step S506; N), the process of step S506 is repeated.
  • step S506 if it is determined that laser oscillation has occurred (step S506; Y), the laser controller 2 reads the value of the pulse energy E from the pulse energy detector 30 (step S507).
  • the laser controller 2 compares the pulse energy E with the target pulse energy Et (step S508).
  • the current charging voltage V data is used as it is as the charging voltage V data (step S510). Write to the storage unit 51 (step S512).
  • the laser control unit 2 determines that the pulse energy E is smaller than the target pulse energy Et (E ⁇ Et)
  • the difference between the target pulse energy Et and the pulse energy E ( A value obtained by multiplying Et ⁇ E) by the control gain Gc is added to the charging voltage V to obtain a new charging voltage V (step S509), and the data of the charging voltage V is written in the storage unit 51 (step S512).
  • V V + (Et-E) ⁇ Gc
  • the laser control unit 2 determines that the pulse energy E is larger than the target pulse energy Et (E> Et)
  • the difference between the pulse energy E and the target pulse energy Et (as shown in the following equation)
  • a value obtained by multiplying E ⁇ Et) by the control gain Gc is subtracted from the charging voltage V to obtain a new charging voltage V (step S511), and the data of the charging voltage V is written in the storage unit 51 (step S513).
  • V V- (E-Et) ⁇ Gc
  • the laser controller 2 determines whether or not the charging voltage V is equal to or higher than a predetermined maximum value Vmax (step S513).
  • the laser control unit 2 determines that the charging voltage V is not equal to or higher than the predetermined maximum value Vmax (step S513; N)
  • the process returns to step S501.
  • the energy control process is terminated.
  • the laser control unit 2 calculates three control gains Gca, Gcb, and Gcc, and performs energy control based on the three control gains Gca, Gcb, and Gcc.
  • the number for calculating the control gain Gc is not limited to three and may be two or four or more.
  • the laser control unit 2 may perform energy control based on two or four or more control gains Gc.
  • Second Embodiment> (Laser apparatus using a plurality of control gains according to a target pulse energy value and a modulation frequency value)
  • a laser apparatus according to Embodiment 2 of the present disclosure will be described.
  • the same reference numerals are given to the same components as those in the comparative example or the laser device according to the first embodiment, and the description thereof will be omitted as appropriate.
  • the laser device according to the second embodiment may have a configuration in which a function generator 52 is added to the laser control unit 2 in the laser device 101 according to the comparative example 1 in substantially the same manner as the laser device 1 according to the comparative example 2. .
  • the laser device according to Embodiment 2 differs from the laser device 1 according to Comparative Example 2 in the energy control processing by the laser control unit 2 and the control gain Gc calculation processing.
  • the laser control unit 2 periodically varies the target pulse energy Et at a modulation frequency corresponding to each of the plurality of reference energies, with each of the plurality of reference energies serving as a center of variation. It may be an energy control unit.
  • the plurality of reference energies may be, for example, Eta, Etb, Etc.
  • the modulation frequency corresponding to each of the plurality of reference energies may be, for example, Fma, Fmb, Fmc.
  • the laser control unit 2 may be a gain calculation unit that calculates a plurality of control gains corresponding to each of a plurality of reference energies, for example, Gca, Gcb, and Gcc.
  • the laser control unit 2 uses the pulse energy E when the target pulse energy Et is periodically changed at a modulation frequency corresponding to each of the plurality of reference energies, with each of the plurality of reference energies as the fluctuation center. May be calculated. Further, the laser control unit 2 has a pair of discharge electrodes 23 in a case where the target pulse energy Et is periodically changed at a modulation frequency corresponding to each of the plurality of reference energies, with each of the plurality of reference energies being the center of change.
  • the amplitude component of the charging voltage V corresponding to the applied voltage applied between 24 may be calculated.
  • the amplitude component of the calculated pulse energy E may be, for example, Iea, Ieb, Iec.
  • the calculated amplitude component of the charging voltage V may be, for example, Iva, Ivb, Ivc. Then, the laser control unit 2 may calculate a plurality of control gains based on the amplitude component of the pulse energy E and the amplitude component of the charging voltage V.
  • the laser control unit 2 sets the target pulse energy Et at modulation frequencies Fma, Fmb, and Fmc corresponding to each of the plurality of reference energies Eta, Etb, and Etc, with each of the plurality of reference energies Eta, Etb, and Etc as fluctuation centers.
  • a plurality of control gains Gca, Gcb, and Gcc may be calculated by periodically changing them.
  • a plurality of control gains Gca, Gcb, and Gcc corresponding to the value of the target pulse energy Et and the value of the modulation frequency may be calculated as the control gain Gc.
  • the control gain Gca may be calculated based on the reference energy Eta and the modulation frequency Fma.
  • control gain Gcb may be calculated based on the reference energy Etb and the modulation frequency Fmb.
  • control gain Gcc may be calculated based on the reference energy Etc and the modulation frequency Fmc.
  • the magnitude relationship of each reference energy Eta, Etb, Etc may be Eta ⁇ Etb ⁇ Etc.
  • the magnitude relationship between the modulation frequencies Fma, Fmb, and Fmc may be Fma>Fmb> Fmc.
  • the set value of the target pulse energy Et shown below is an example, and is not limited to the value shown below.
  • FIG. 21 illustrates an example of measured values of the pulse energy E and the charging voltage V for each pulse in the laser apparatus according to the second embodiment of the present disclosure.
  • FIG. 22 shows an example of the result of spectral analysis of the pulse energy E and the charging voltage V in FIG.
  • the horizontal axis indicates the pulse number of the pulse laser beam Lp
  • the vertical axis indicates the pulse energy E (mJ) or the charging voltage V (kV).
  • the horizontal axis of FIG. 21 corresponds to time.
  • the horizontal axis represents frequency (Hz) and the vertical axis represents amplitude value.
  • FIG. 23 is a flowchart illustrating an example of a flow of control gain Gc calculation processing by the laser control unit 2 in the laser apparatus according to the second embodiment.
  • FIG. 24 is a flowchart following FIG.
  • FIG. 25 is a flowchart following FIG.
  • the amplitude component Ie (Iea, Ieb, Iec) of the pulse energy E and the amplitude component Iv (Iva, Ivb, Ivc) of the charging voltage V as shown in FIG. ) May be calculated.
  • 23 to 25 may be performed, for example, after an instruction from the exposure apparatus 4, after exchanging the laser gas, or after adjusting the gas pressure of the laser gas. Moreover, you may process for every fixed period.
  • the laser control unit 2 reads the pulse repetition frequency Rp from the exposure apparatus controller 5 or the storage unit 51 (step S601A).
  • the number of oscillation pulses Npa is preferably 400 pulses or more and 1500 pulses or less, for example.
  • the number of oscillation pulses Npa is more preferably a power of 2, such as 512 pulses or 1024 pulses.
  • the laser control unit 2 sets the target pulse energy Et to the reference energy Eta (step S603A).
  • the laser control unit 2 writes the set target pulse energy Et in the storage unit 51.
  • the laser control unit 2 causes the function generator 52 to periodically vary the target pulse energy Et around the reference energy Eta as a fluctuation center as shown in the following equation (step S604A).
  • Fma is a modulation frequency of the target pulse energy Et corresponding to the reference energy Eta.
  • Rp / Fma is preferably an integer.
  • the range of Rp / Fma is desirably 4 or more and 10 or less.
  • the range of the amplitude ⁇ Ie is preferably 0.5 mJ or more and 2 mJ or less.
  • Rp may be 6000 Hz, for example.
  • Fma may be 1200 Hz, for example.
  • Et Eta + ⁇ Ie ⁇ sin (N ⁇ 2 ⁇ ⁇ Fma / Rp)
  • the laser control unit 2 performs a gain oscillation process (step S605A).
  • the gain oscillation processing here may be substantially the same as the subroutine shown in FIG. 4, for example.
  • the laser controller 2 sets the pulse counter value N to N + 1 (step S606A).
  • the laser control unit 2 reads the value of the pulse energy E from the pulse energy detector 30, and writes the value of the pulse energy E of the nth pulse as Ean in the storage unit 51 (step S607A).
  • the laser control unit 2 reads the value of the charging voltage V set in the charger 90 from the storage unit 51, and writes the value of the charging voltage V in the nth pulse as Van in the storage unit 51 (step S608A). .
  • the process returns to step S604A.
  • step S609A; Y the laser control unit 2 proceeds to the process of FIG.
  • the laser control unit 2 reads the pulse repetition frequency Rp from the exposure apparatus controller 5 or the storage unit 51 (step S601B).
  • the number of oscillation pulses Npb is preferably 400 pulses or more and 1500 pulses or less, for example.
  • the number of oscillation pulses Npb is more preferably a power of 2, such as 512 pulses or 1024 pulses.
  • the laser controller 2 sets the target pulse energy Et to the reference energy Etb (step S603B).
  • the laser control unit 2 writes the set target pulse energy Et in the storage unit 51.
  • the laser control unit 2 causes the function generator 52 to periodically vary the target pulse energy Et around the reference energy Etb as a fluctuation center as shown in the following equation (step S604B).
  • Fmb is a modulation frequency of the target pulse energy Et corresponding to the reference energy Etb.
  • Rp / Fmb is preferably an integer.
  • the range of Rp / Fmb is desirably 4 or more and 10 or less.
  • the range of the amplitude ⁇ Ie is preferably 0.5 mJ or more and 2 mJ or less.
  • Rp may be 6000 Hz, for example.
  • Fmb may be 1000 Hz, for example.
  • Et Etb + ⁇ Ie ⁇ sin (N ⁇ 2 ⁇ ⁇ ⁇ Fmb / Rp)
  • the laser control unit 2 performs gain oscillation processing (step S605B).
  • the gain oscillation processing here may be substantially the same as the subroutine shown in FIG. 4, for example.
  • the laser controller 2 sets the pulse counter value N to N + 1 (step S606B).
  • the laser control unit 2 reads the value of the pulse energy E from the pulse energy detector 30, and writes the value of the pulse energy E of the nth pulse as Ebn in the storage unit 51 (step S607B).
  • the laser control unit 2 reads the value of the charging voltage V set in the charger 90 from the storage unit 51, and writes the value of the charging voltage V in the nth pulse as Vbn in the storage unit 51 (step S608B). .
  • the process returns to step S604B.
  • step S609B; Y the laser control unit 2 proceeds to the process of FIG.
  • the laser controller 2 reads the pulse repetition frequency Rp from the exposure apparatus controller 5 or the storage unit 51 (step S601C).
  • the number of oscillation pulses Npc is preferably 400 pulses or more and 1500 pulses or less, for example.
  • the number of oscillation pulses Npc is more preferably a power of 2, such as 512 pulses or 1024 pulses.
  • the laser controller 2 sets the target pulse energy Et to the reference energy Etc (step S603C).
  • the laser control unit 2 writes the set target pulse energy Et in the storage unit 51.
  • the laser control unit 2 causes the function generator 52 to periodically vary the target pulse energy Et around the reference energy Etc as a fluctuation center as shown in the following equation (step S604C).
  • Fmc is a modulation frequency of the target pulse energy Et corresponding to the reference energy Etc.
  • Rp / Fmc is preferably an integer.
  • the range of Rp / Fmc is desirably 4 or more and 10 or less.
  • the range of the amplitude ⁇ Ie is preferably 0.5 mJ or more and 2 mJ or less.
  • the amplitude ⁇ Ie may be determined by a ratio with respect to the reference energy Etc.
  • Rp may be 6000 Hz, for example.
  • Fmc may be 600 Hz, for example.
  • Et Etc + ⁇ Ie ⁇ sin (N ⁇ 2 ⁇ ⁇ ⁇ Fmc / Rp)
  • the laser controller 2 performs a gain oscillation process (step S605C).
  • the gain oscillation processing here may be substantially the same as the subroutine shown in FIG. 4, for example.
  • the laser controller 2 sets the pulse counter value N to N + 1 (step S606C).
  • the laser control unit 2 reads the value of the pulse energy E from the pulse energy detector 30, and writes the value of the pulse energy E of the nth pulse as Ecn in the storage unit 51 (step S607C).
  • the laser control unit 2 reads the value of the charging voltage V set in the charger 90 from the storage unit 51, and writes the value of the charging voltage V in the nth pulse as Vcn in the storage unit 51 (step S608C). .
  • the process returns to step S604C.
  • the laser control unit 2 stores the stored pulse energy E and the charging voltage V in a data string.
  • the spectrum analysis is performed, and the amplitude components Iea, Ieb, Iec of the pulse energy E at the plurality of modulation frequencies Fma, Fmb, Fmc, and the charging voltages V at the plurality of modulation frequencies Fma, Fmb, Fmc, respectively.
  • the amplitude components Iva, Ivb, and Ivc are obtained together (step S610C).
  • Spectral analysis may use Fourier transform, discrete Fourier transform, or fast Fourier transform.
  • the laser controller 2 sets the pulse counter value N to 0 (step S611C).
  • the laser control unit 2 collectively calculates the values Gca, Gcb, and Gcc of the plurality of control gains Gc as in the following expression (step S612C), and ends the process.
  • the coefficient Gs is preferably a value of 0.3 or more and 1 or less, for example, so that control does not diverge.
  • the energy control in the second embodiment may be substantially the same as the control shown in FIG.
  • the control gains Gca, Gcb, Gcc may be calculated according to the flowcharts shown in FIGS.
  • the laser control unit 2 calculates three control gains Gca, Gcb, and Gcc, and performs energy control based on the three control gains Gca, Gcb, and Gcc.
  • the number for calculating the control gain Gc is not limited to three and may be two or four or more.
  • the laser control unit 2 may perform energy control based on two or four or more control gains Gc.
  • Embodiment 3> Laser apparatus using a plurality of control gains according to the value of pulse repetition frequency
  • a laser device according to Embodiment 3 of the present disclosure will be described.
  • substantially the same components as those of the laser device according to the comparative example, the first embodiment, or the second embodiment are denoted by the same reference numerals, and description thereof is omitted as appropriate.
  • the laser device according to the third embodiment may have a configuration in which a function generator 52 is added to the laser control unit 2 in the laser device 101 according to the comparative example 1 in substantially the same manner as the laser device 1 according to the comparative example 2. .
  • the laser apparatus according to Embodiment 3 differs from the laser apparatus 1 according to Comparative Example 2 in the energy control process performed by the laser control unit 2 and the control gain Gc calculation process.
  • the laser control unit 2 periodically varies the target pulse energy Et at a modulation frequency corresponding to each of a plurality of pulse repetition frequencies with a predetermined reference energy as a fluctuation center. It may be a control unit.
  • the predetermined reference energy may be Eta, for example.
  • the plurality of pulse repetition frequencies may be Rpa, Rpb, Rpc, for example.
  • the modulation frequency corresponding to each of the plurality of pulse repetition frequencies may be, for example, Fma, Fmb, Fmc.
  • the laser control unit 2 may be a gain calculation unit that calculates a plurality of control gains corresponding to each of a plurality of pulse repetition frequencies, for example, Gca, Gcb, and Gcc.
  • the laser control unit 2 as the gain calculation unit changes the pulse energy E when the target pulse energy Et is periodically changed at a modulation frequency corresponding to each of a plurality of pulse repetition frequencies with a predetermined reference energy as a fluctuation center.
  • An amplitude component may be calculated.
  • the laser control unit 2 has a pair of discharge electrodes 23 and 24 when the target pulse energy Et is periodically changed at a modulation frequency corresponding to each of a plurality of pulse repetition frequencies with a predetermined reference energy as a fluctuation center.
  • You may calculate the amplitude component of the charging voltage V corresponding to the applied voltage applied in between.
  • the amplitude component of the calculated pulse energy E may be, for example, Iea, Ieb, Iec.
  • the calculated amplitude component of the charging voltage V may be, for example, Iva, Ivb, Ivc. Then, the laser control unit 2 may calculate a plurality of control gains based on the amplitude component of the pulse energy E and the amplitude component of the charging voltage V.
  • the laser chamber 20 may emit pulsed laser light Lp having a pulse energy E corresponding to an applied voltage applied between the pair of discharge electrodes 23 and 24 at each of a plurality of pulse repetition frequencies.
  • the laser control unit 2 periodically varies the target pulse energy Et at a modulation frequency Fma, Fmb, Fmc corresponding to each of a plurality of pulse repetition frequencies Rpa, Rpb, Rpc, with a predetermined reference energy Eta as the center of variation.
  • a plurality of control gains Gca, Gcb, Gcc may be calculated. Accordingly, for example, as described below, a plurality of control gains Gca, Gcb, and Gcc corresponding to a plurality of pulse repetition frequencies Rpa, Rpb, and Rpc may be calculated as the control gain Gc.
  • the modulation frequency corresponding to the pulse repetition frequency Rpa may be Fma
  • the modulation frequency corresponding to the pulse repetition frequency Rpb may be Fmb
  • the modulation frequency corresponding to the pulse repetition frequency Rpc may be Fmc.
  • the magnitude relationship between the modulation frequencies Fma, Fmb, and Fmc may be Fma>Fmb> Fmc.
  • the magnitude relationship between the pulse repetition frequencies Rpa, Rpb, and Rpc may be Rpa>Rpb> Rpc.
  • the pulse repetition frequency Rpa may be 6000 Hz, for example.
  • the pulse repetition frequency Rpb may be, for example, 5000 Hz.
  • the pulse repetition frequency Rpc may be 3000 Hz, for example.
  • Gcc Gs ⁇ Ivc / Iec
  • FIG. 26 illustrates an example of measured values of the pulse energy E and the charging voltage V for each pulse in the laser apparatus according to the third embodiment of the present disclosure.
  • FIG. 27 shows an example of measured values of the pulse energy E and the charging voltage V per unit time in the laser apparatus according to the third embodiment.
  • FIG. 28 shows an example of the result of spectral analysis of the pulse energy E and the charging voltage V in FIG.
  • the horizontal axis indicates the pulse number of the pulse laser beam Lp
  • the vertical axis indicates the pulse energy E (mJ) or the charging voltage V (kV).
  • FIG. 27 shows the measured values obtained by converting the horizontal axis of FIG. 26 into time.
  • the horizontal axis indicates the frequency (Hz)
  • the vertical axis indicates the amplitude value.
  • FIG. 29 is a flowchart illustrating an example of the flow of control gain Gc calculation processing by the laser control unit 2 in the laser apparatus according to the third embodiment.
  • FIG. 30 is a flowchart subsequent to FIG.
  • FIG. 31 is a flowchart following FIG.
  • the amplitude component Ie (Iea, Ieb, Iec) of the pulse energy E and the amplitude component Iv (Iva, Ivb, Ivc) of the charging voltage V as shown in FIG. ) May be calculated.
  • the processing in FIGS. 29 to 31 may be performed, for example, after an instruction from the exposure apparatus 4, after exchanging the laser gas, or after adjusting the gas pressure of the laser gas. Moreover, you may process for every fixed period.
  • the laser control unit 2 reads the number of oscillation pulses Np from the exposure apparatus controller 5 or the storage unit 51 (step S702A).
  • the number of oscillation pulses Np is preferably 400 pulses or more and 1500 pulses or less, for example.
  • the number of oscillation pulses Np is more preferably a power of 2, such as 512 pulses or 1024 pulses.
  • the laser control unit 2 sets the target pulse energy Et to the reference energy Eta (step S703A).
  • the laser control unit 2 writes the set target pulse energy Et in the storage unit 51.
  • the laser control unit 2 causes the function generator 52 to periodically vary the target pulse energy Et around the reference energy Eta as a fluctuation center as shown in the following equation (step S704A).
  • Fma is a modulation frequency of the target pulse energy Et corresponding to the pulse repetition frequency Rpa.
  • Rpa / Fma is preferably an integer.
  • the range of Rpa / Fma is desirably 4 or more and 10 or less.
  • the range of the amplitude ⁇ Ie is preferably 0.5 mJ or more and 2 mJ or less.
  • Rpa may be 6000 Hz, for example.
  • Fma may be 1200 Hz, for example.
  • Et Eta + ⁇ Ie ⁇ sin (N ⁇ 2 ⁇ ⁇ ⁇ Fma / Rpa)
  • the laser controller 2 performs a gain oscillation process (step S705A).
  • the gain oscillation processing here may be substantially the same as the subroutine shown in FIG. 4, for example.
  • the laser controller 2 sets the pulse counter value N to N + 1 (step S706A).
  • the laser controller 2 reads the value of the pulse energy E from the pulse energy detector 30, and writes the value of the pulse energy E of the nth pulse as Ean in the storage unit 51 (step S707A).
  • the laser control unit 2 reads the value of the charging voltage V set in the charger 90 from the storage unit 51, and writes the value of the charging voltage V in the nth pulse as Van in the storage unit 51 (step S708A). .
  • the laser controller 2 determines whether or not the pulse counter value N has exceeded the number of oscillation pulses Np (step S709A). If the laser control unit 2 determines that the pulse counter value N does not exceed the oscillation pulse number Np (step S709A; N), the process returns to step S704A.
  • the laser control unit 2 applies the stored pulse energy E and charging voltage V to the data string. Then, spectrum analysis is performed to obtain an amplitude component Iea at the modulation frequency Fma of the pulse energy E and an amplitude component Iva at the modulation frequency Fma of the charging voltage V (step S710A). Spectral analysis may use Fourier transform, discrete Fourier transform, or fast Fourier transform.
  • the laser controller 2 sets the pulse counter value N to 0 (step S711A).
  • the laser control unit 2 calculates the value Gca of the control gain Gc as in the following equation (step S712A), and proceeds to the process of FIG.
  • the coefficient Gs is preferably a value of 0.3 or more and 1 or less, for example, so that control does not diverge.
  • the laser control unit 2 reads the number of oscillation pulses Np from the exposure apparatus controller 5 or the storage unit 51 (step S702B).
  • the number of oscillation pulses Np is preferably 400 pulses or more and 1500 pulses or less, for example.
  • the number of oscillation pulses Np is more preferably a power of 2, such as 512 pulses or 1024 pulses.
  • the laser control unit 2 sets the target pulse energy Et to the reference energy Eta (step S703B).
  • the laser control unit 2 writes the set target pulse energy Et in the storage unit 51.
  • the laser control unit 2 causes the function generator 52 to periodically change the target pulse energy Et around the reference energy Eta as the fluctuation center as shown in the following equation (step S704B).
  • Fmb is a modulation frequency of the target pulse energy Et corresponding to the pulse repetition frequency Rpb.
  • Rpb / Fmb is preferably an integer.
  • the range of Rpb / Fmb is preferably 4 or more and 10 or less.
  • the range of the amplitude ⁇ Ie is preferably 0.5 mJ or more and 2 mJ or less.
  • Rpb may be, for example, 5000 Hz.
  • Fmb may be 1000 Hz, for example.
  • Et Eta + ⁇ Ie ⁇ sin (N ⁇ 2 ⁇ ⁇ ⁇ Fmb / Rpb)
  • the laser control unit 2 performs a gain oscillation process (step S705B).
  • the gain oscillation processing here may be substantially the same as the subroutine shown in FIG. 4, for example.
  • the laser controller 2 sets the pulse counter value N to N + 1 (step S706B).
  • the laser control unit 2 reads the value of the pulse energy E from the pulse energy detector 30, and writes the value of the pulse energy E of the nth pulse as Ebn in the storage unit 51 (step S707B).
  • the laser control unit 2 reads the value of the charging voltage V set in the charger 90 from the storage unit 51, and writes the value of the charging voltage V in the nth pulse as Vbn in the storage unit 51 (step S708B). .
  • the laser controller 2 determines whether or not the pulse counter value N has exceeded the number of oscillation pulses Np (step S709B). If the laser control unit 2 determines that the pulse counter value N does not exceed the number of oscillation pulses Np (step S709B; N), the process returns to step S704B.
  • the laser control unit 2 performs the stored data sequence of the pulse energy E and the charging voltage V. Then, the spectrum analysis is performed, and the amplitude component Ieb at the modulation frequency Fmb of the pulse energy E and the amplitude component Ivb at the modulation frequency Fmb of the charging voltage V are obtained (step S710B).
  • Spectral analysis may use Fourier transform, discrete Fourier transform, or fast Fourier transform.
  • the laser controller 2 sets the pulse counter value N to 0 (step S711B).
  • the laser control unit 2 calculates the value Gcb of the control gain Gc as in the following equation (step S712B), and proceeds to the process of FIG.
  • the coefficient Gs is preferably a value of 0.3 or more and 1 or less, for example, so that control does not diverge.
  • the laser control unit 2 reads the number of oscillation pulses Np from the exposure apparatus controller 5 or the storage unit 51 (step S702C).
  • the number of oscillation pulses Np is preferably 400 pulses or more and 1500 pulses or less, for example.
  • the number of oscillation pulses Np is more preferably a power of 2, such as 512 pulses or 1024 pulses.
  • the laser control unit 2 sets the target pulse energy Et to the reference energy Eta (step S703C).
  • the laser control unit 2 writes the set target pulse energy Et in the storage unit 51.
  • the laser control unit 2 causes the function generator 52 to periodically vary the target pulse energy Et around the reference energy Eta as a fluctuation center as shown in the following equation (step S704C).
  • Fmc is a modulation frequency of the target pulse energy Et corresponding to the pulse repetition frequency Rpc.
  • Rpc / Fmc is preferably an integer.
  • the range of Rpc / Fmc is desirably 4 or more and 10 or less.
  • the range of the amplitude ⁇ Ie is preferably 0.5 mJ or more and 2 mJ or less.
  • Rpc may be, for example, 3000 Hz.
  • Fmc may be 600 Hz, for example.
  • Et Eta + ⁇ Ie ⁇ sin (N ⁇ 2 ⁇ ⁇ ⁇ Fmc / Rpc)
  • the laser control unit 2 performs gain oscillation processing (step S705C).
  • the gain oscillation processing here may be substantially the same as the subroutine shown in FIG. 4, for example.
  • the laser controller 2 sets the pulse counter value N to N + 1 (step S706C).
  • the laser control unit 2 reads the value of the pulse energy E from the pulse energy detector 30, and writes the value of the pulse energy E of the nth pulse as Ecn in the storage unit 51 (step S707C).
  • the laser control unit 2 reads the value of the charging voltage V set in the charger 90 from the storage unit 51, and writes the value of the charging voltage V in the nth pulse as Vcn in the storage unit 51 (step S708C). .
  • the laser controller 2 determines whether or not the pulse counter value N exceeds the number of oscillation pulses Np (step S709C).
  • the laser control unit 2 determines that the pulse counter value N does not exceed the oscillation pulse number Np (step S709C; N)
  • the process returns to step S704C.
  • the laser control unit 2 performs the stored data sequence of the pulse energy E and the charging voltage V. Then, the spectrum analysis is performed, and the amplitude component Iec at the modulation frequency Fmc of the pulse energy E and the amplitude component Ivc at the modulation frequency Fmc of the charging voltage V are obtained (step S710C).
  • Spectral analysis may use Fourier transform, discrete Fourier transform, or fast Fourier transform.
  • the laser controller 2 sets the pulse counter value N to 0 (step S711C).
  • the laser controller 2 calculates a value Gcc of the control gain Gc as in the following equation (step S712C), and ends the process.
  • the coefficient Gs is preferably a value of 0.3 or more and 1 or less, for example, so that control does not diverge.
  • FIG. 32 is a flowchart illustrating an example of a flow of pulse energy control by the laser control unit 2 in the laser apparatus according to the third embodiment.
  • the laser controller 2 reads the pulse repetition frequency Rp from the exposure apparatus controller 5 or the storage unit 51 (step S800).
  • the laser control unit 2 reads the target pulse energy Et from the exposure apparatus controller 5 or the storage unit 51 (step S801).
  • the laser control unit 2 determines which of the plurality of control gains Gca, Gcb, Gcc corresponds to the pulse repetition frequency Rp (step S802).
  • the control gains Gca, Gcb, Gcc may be calculated according to the flowcharts shown in FIGS.
  • the laser control unit 2 sets the value of the control gain Gc to Gca (step S803).
  • the laser control unit 2 determines that (Rpc + Rpb) / 2 ⁇ Rp ⁇ (Rpb + Rpa) / 2, the value of the control gain Gc is set to Gcb ( Step S804).
  • the laser control unit 2 sets the value of the control gain Gc to Gcc when the pulse repetition frequency Rp is equal to or less than a predetermined value, for example, when it is determined that Rp ⁇ (Rpc + Rpb) / 2 (step S805).
  • step S806 determines whether or not laser oscillation has occurred. If the laser control unit 2 determines that laser oscillation is not occurring (step S806; N), the process of step S806 is repeated.
  • step S806 if it is determined that laser oscillation has occurred (step S806; Y), the laser controller 2 reads the value of the pulse energy E from the pulse energy detector 30 (step S807).
  • the laser controller 2 compares the pulse energy E with the target pulse energy Et (step S808).
  • the current charging voltage V data is used as it is as the charging voltage V data (step S810). Write to the storage unit 51 (step S812).
  • the laser control unit 2 determines that the pulse energy E is smaller than the target pulse energy Et (E ⁇ Et)
  • the difference between the target pulse energy Et and the pulse energy E ( A value obtained by multiplying Et ⁇ E) by the control gain Gc is added to the charging voltage V to obtain a new charging voltage V (step S809), and the data of the charging voltage V is written in the storage unit 51 (step S812).
  • V V + (Et-E) ⁇ Gc
  • the laser control unit 2 determines that the pulse energy E is larger than the target pulse energy Et (E> Et)
  • the difference between the pulse energy E and the target pulse energy Et (as shown in the following equation)
  • a value obtained by multiplying E ⁇ Et) by the control gain Gc is subtracted from the charging voltage V to obtain a new charging voltage V (step S811), and data of the charging voltage V is written in the storage unit 51 (step S813).
  • V V- (E-Et) ⁇ Gc
  • the laser controller 2 determines whether or not the charging voltage V is equal to or higher than a predetermined maximum value Vmax (step S813). If the laser control unit 2 determines that the charging voltage V is not equal to or higher than the predetermined maximum value Vmax (step S813; N), the process returns to step S801. On the other hand, when it is determined that the charging voltage V is equal to or higher than the predetermined maximum value Vmax (step S813; Y), the energy control process is terminated.
  • the laser control unit 2 calculates the three control gains Gca, Gcb, and Gcc based on the three pulse repetition frequencies Rpa, Rpb, and Rpc has been described.
  • the number of repetition frequencies Rp may be 2 or a number of 4 or more.
  • the number of control gains Gc to be calculated may be 2 or 4 or more depending on the number of the pulse repetition frequencies Rp.
  • the laser control unit 2 may perform energy control based on two or four or more control gains Gc.
  • Embodiment 4 (Laser apparatus using a plurality of control gains according to a target pulse energy value and a pulse repetition frequency value) Next, a laser apparatus according to Embodiment 4 of the present disclosure will be described.
  • substantially the same components as those of the laser device according to the comparative example, the first embodiment, the second embodiment, or the third embodiment are denoted by the same reference numerals, and description thereof is omitted as appropriate.
  • the laser device according to the fourth embodiment may have a configuration in which a function generator 52 is added to the laser control unit 2 in the laser device 101 according to the comparative example 1 in substantially the same manner as the laser device 1 according to the comparative example 2. .
  • the laser device according to Embodiment 4 differs from the laser device 1 according to Comparative Example 2 in the energy control process by the laser control unit 2 and the control gain Gc calculation process.
  • the laser control unit 2 periodically varies the target pulse energy Et at a modulation frequency corresponding to each of a plurality of pulse repetition frequencies, with each of a plurality of reference energies as a fluctuation center. It may be a pulse energy control unit.
  • the plurality of reference energies may be, for example, Eta, Etb, Etc.
  • the plurality of pulse repetition frequencies may be Rpa, Rpb, Rpc, for example.
  • the modulation frequency corresponding to each of the plurality of pulse repetition frequencies may be, for example, Fma, Fmb, Fmc.
  • the laser control unit 2 calculates a plurality of control gains corresponding to each of the plurality of reference energies and each of the plurality of pulse repetition frequencies, for example, Gcaa, Gcba, Gcca, Gcab, Gcbb, Gcac, Gcbc, Gccc. It may be a gain calculation unit.
  • the laser control unit 2 as the gain calculation unit performs pulse energy when the target pulse energy Et is periodically changed at a modulation frequency corresponding to each of a plurality of pulse repetition frequencies, with each of a plurality of reference energies as a fluctuation center.
  • the amplitude component of E may be calculated.
  • the laser control unit 2 makes a pair of discharge electrodes 23 when the target pulse energy Et is periodically changed at a modulation frequency corresponding to each of a plurality of pulse repetition frequencies, with each of a plurality of reference energies as a change center. , 24, the amplitude component of the charging voltage V corresponding to the applied voltage applied between them may be calculated.
  • the calculated amplitude component of the pulse energy E may be, for example, Ieaa, Ieab, Ieac, Ieba, Iebb, Iebc, Ieca, Iecb, Iecc.
  • the calculated amplitude component of the charging voltage V may be, for example, Ivaa, Ivab, Ivac, Ivba, Ivbb, Ivbc, Ivca, Ivcb, Ivcc.
  • the laser control unit 2 may calculate a plurality of control gains based on the amplitude component of the pulse energy E and the amplitude component of the charging voltage V.
  • the laser chamber 20 may emit pulsed laser light Lp having a pulse energy E corresponding to an applied voltage applied between the pair of discharge electrodes 23 and 24 at each of a plurality of pulse repetition frequencies.
  • the laser control unit 2 uses the target pulse energy Et as the modulation frequency Fma, Fmb, Fmc corresponding to each of the plurality of pulse repetition frequencies Rpa, Rpb, Rpc, with each of the plurality of reference energies Eta, Etb, Etc as the center of variation.
  • a plurality of control gains Gcaa, Gcba, Gcca, Gcab, Gcbb, Gcac, Gcbc, and Gccc may be calculated by periodically varying.
  • a plurality of control gains Gcaa, Gcba, Gcca, Gcab, Gcbb, Gcac, Gcbc, Gccc corresponding to the value of the target pulse energy Et and the value of the pulse repetition frequency are set as the control gain Gc. It may be calculated.
  • the control gains Gcaa, Gcba, Gcca may be calculated based on the reference energy Eta.
  • the control gains Gcab, Gcbb, Gccb may be calculated based on the reference energy Etb.
  • the control gains Gcac, Gcbc, Gccc may be calculated based on the reference energy Etc.
  • each reference energy Eta, Etb, Etc may be Eta ⁇ Etb ⁇ Etc.
  • the modulation frequency corresponding to the pulse repetition frequency Rpa may be Fma
  • the modulation frequency corresponding to the pulse repetition frequency Rpb may be Fmb
  • the modulation frequency corresponding to the pulse repetition frequency Rpc may be Fmc.
  • the magnitude relationship between the modulation frequencies Fma, Fmb, and Fmc may be Fma>Fmb> Fmc.
  • the magnitude relationship between the pulse repetition frequencies Rpa, Rpb, and Rpc may be Rpa>Rpb> Rpc.
  • the pulse repetition frequency Rpa may be 6000 Hz, for example.
  • the pulse repetition frequency Rpb may be, for example, 5000 Hz.
  • the pulse repetition frequency Rpc may be 3000 Hz, for example. Note that the values of the plurality of pulse repetition frequencies Rpa, Rpb, and Rpc listed here are examples, and are not limited to these values. Moreover, the set value of the target pulse energy Et shown below is an example, and is not limited to the values shown below.
  • FIG. 33 illustrates an example of measured values of the pulse energy E and the charging voltage V for each pulse in the laser apparatus according to the fourth embodiment of the present disclosure.
  • FIG. 34 shows an example of measured values of the pulse energy E and the charging voltage V per unit time in the laser apparatus according to the fourth embodiment.
  • FIG. 35 shows an example of the result of spectral analysis of the pulse energy E and the charging voltage V in FIG.
  • the horizontal axis indicates the pulse number of the pulse laser beam Lp
  • the vertical axis indicates the pulse energy E (mJ) or the charging voltage V (kV).
  • FIG. 34 shows the measured values obtained by converting the horizontal axis of FIG. 33 into time.
  • the horizontal axis represents frequency (Hz) and the vertical axis represents amplitude value.
  • FIG. 36 is a flowchart illustrating an example of a flow of control gain calculation processing by the laser control unit in the laser apparatus according to the fourth embodiment.
  • FIG. 37 is a flowchart following FIG.
  • FIG. 38 is a flowchart following FIG.
  • FIG. 39 is a flowchart following FIG.
  • FIG. 40 is a flowchart following FIG.
  • FIG. 41 is a flowchart following FIG.
  • FIG. 42 is a flowchart following FIG.
  • FIG. 43 is a flowchart following FIG.
  • FIG. 44 is a flowchart subsequent to FIG.
  • the amplitude component Ie (Ieaa, Ieab, Ieac, Ieba, Iebb, Iebc, Ieca, Iecb, Iecc) of the pulse energy E as shown in FIG.
  • the amplitude component Iv (Ivaa, Ivab, Ivac, Ivba, Ivbb, Ivbc, Ivca, Ivcb, Ivcc) of the voltage V may be calculated.
  • FIGS. 36 to 44 may be performed, for example, after an instruction from the exposure apparatus 4, after exchanging the laser gas, or after adjusting the gas pressure of the laser gas. Moreover, you may process for every fixed period.
  • the laser controller 2 reads the number of oscillation pulses Np from the exposure apparatus controller 5 or the storage unit 51 (step S902A).
  • the number of oscillation pulses Np is preferably 400 pulses or more and 1500 pulses or less, for example.
  • the number of oscillation pulses Np is more preferably a power of 2, such as 512 pulses or 1024 pulses.
  • the laser control unit 2 sets the target pulse energy Et to the reference energy Eta (step S903A).
  • the laser control unit 2 writes the set target pulse energy Et in the storage unit 51.
  • the laser control unit 2 causes the function generator 52 to periodically vary the target pulse energy Et with the reference energy Eta as the fluctuation center, as shown in the following equation (step S904A).
  • Fma is a modulation frequency of the target pulse energy Et corresponding to the pulse repetition frequency Rpa.
  • Rpa / Fma is preferably an integer.
  • the range of Rpa / Fma is desirably 4 or more and 10 or less.
  • the range of the amplitude ⁇ Ie is preferably 0.5 mJ or more and 2 mJ or less.
  • Rpa may be 6000 Hz, for example.
  • Fma may be 1200 Hz, for example.
  • Et Eta + ⁇ Ie ⁇ sin (N ⁇ 2 ⁇ ⁇ ⁇ Fma / Rpa)
  • the laser control unit 2 performs gain oscillation processing (step S905A).
  • the gain oscillation processing here may be substantially the same as the subroutine shown in FIG. 4, for example.
  • the laser controller 2 sets the pulse counter value N to N + 1 (step S906A).
  • the laser control unit 2 reads the value of the pulse energy E from the pulse energy detector 30, and writes the value of the pulse energy E of the nth pulse as Ean in the storage unit 51 (step S907A).
  • the laser control unit 2 reads the value of the charging voltage V set in the charger 90 from the storage unit 51, and writes the value of the charging voltage V in the nth pulse as Van in the storage unit 51 (step S908A). .
  • the laser controller 2 determines whether or not the pulse counter value N exceeds the number of oscillation pulses Np (step S909A). If the laser control unit 2 determines that the pulse counter value N does not exceed the number of oscillation pulses Np (step S909A; N), the process returns to step S904A.
  • the laser control unit 2 performs the stored data sequence of the pulse energy E and the charging voltage V. Then, the spectrum analysis is performed to obtain the amplitude component Ieaa at the modulation frequency Fma of the pulse energy E and the amplitude component Ivaa at the modulation frequency Fma of the charging voltage V (step S910A). Spectral analysis may use Fourier transform, discrete Fourier transform, or fast Fourier transform.
  • the laser controller 2 sets the pulse counter value N to 0 (step S911A).
  • the laser control unit 2 calculates the value Gcaa of the control gain Gc as in the following equation (step S912A), and proceeds to the process of FIG.
  • the coefficient Gs is preferably a value of 0.3 or more and 1 or less, for example, so that control does not diverge.
  • the laser control unit 2 reads the number of oscillation pulses Np from the exposure apparatus controller 5 or the storage unit 51 (step S902B).
  • the number of oscillation pulses Np is preferably 400 pulses or more and 1500 pulses or less, for example.
  • the number of oscillation pulses Np is more preferably a power of 2, such as 512 pulses or 1024 pulses.
  • the laser controller 2 sets the target pulse energy Et to the reference energy Etb (step S903B).
  • the laser control unit 2 writes the set target pulse energy Et in the storage unit 51.
  • the laser control unit 2 causes the function generator 52 to periodically vary the target pulse energy Et around the reference energy Etb as a fluctuation center as shown in the following equation (step S904B).
  • Fma is a modulation frequency of the target pulse energy Et corresponding to the pulse repetition frequency Rpa.
  • Rpa / Fma is preferably an integer.
  • the range of Rpa / Fma is desirably 4 or more and 10 or less.
  • the range of the amplitude ⁇ Ie is preferably 0.5 mJ or more and 2 mJ or less.
  • Rpa may be 6000 Hz, for example.
  • Fma may be 1200 Hz, for example.
  • Et Etb + ⁇ Ie ⁇ sin (N ⁇ 2 ⁇ ⁇ ⁇ Fma / Rpa)
  • the laser control unit 2 performs a gain oscillation process (step S905B).
  • the gain oscillation processing here may be substantially the same as the subroutine shown in FIG. 4, for example.
  • the laser controller 2 sets the pulse counter value N to N + 1 (step S906B).
  • the laser control unit 2 reads the value of the pulse energy E from the pulse energy detector 30, and writes the value of the pulse energy E of the nth pulse as Ebn in the storage unit 51 (step S907B).
  • the laser control unit 2 reads the value of the charging voltage V set in the charger 90 from the storage unit 51, and writes the value of the charging voltage V in the nth pulse as Vbn in the storage unit 51 (step S908B). .
  • the laser controller 2 determines whether or not the pulse counter value N has exceeded the number of oscillation pulses Np (step S909B).
  • the laser control unit 2 determines that the pulse counter value N does not exceed the number of oscillation pulses Np (step S909B; N)
  • the process returns to step S904B.
  • the laser control unit 2 performs the stored data sequence of the pulse energy E and the charging voltage V. Then, the spectrum analysis is performed, and the amplitude component Ieab at the modulation frequency Fma of the pulse energy E and the amplitude component Ivab at the modulation frequency Fma of the charging voltage V are obtained (step S910B).
  • Spectral analysis may use Fourier transform, discrete Fourier transform, or fast Fourier transform.
  • the laser controller 2 sets the pulse counter value N to 0 (step S911B).
  • the laser control unit 2 calculates the value Gcab of the control gain Gc as in the following equation (step S912B), and proceeds to the process of FIG.
  • the coefficient Gs is preferably a value of 0.3 or more and 1 or less, for example, so that control does not diverge.
  • the laser control unit 2 reads the number of oscillation pulses Np from the exposure apparatus controller 5 or the storage unit 51 (step S902C).
  • the number of oscillation pulses Np is preferably 400 pulses or more and 1500 pulses or less, for example.
  • the number of oscillation pulses Np is more preferably a power of 2, such as 512 pulses or 1024 pulses.
  • the laser controller 2 sets the target pulse energy Et to the reference energy Etc (step S903C).
  • the laser control unit 2 writes the set target pulse energy Et in the storage unit 51.
  • the laser control unit 2 causes the function generator 52 to periodically vary the target pulse energy Et around the reference energy Etc as a fluctuation center as shown in the following equation (step S904C).
  • Fma is a modulation frequency of the target pulse energy Et corresponding to the pulse repetition frequency Rpa.
  • Rpa / Fma is preferably an integer.
  • the range of Rpa / Fma is desirably 4 or more and 10 or less.
  • the range of the amplitude ⁇ Ie is preferably 0.5 mJ or more and 2 mJ or less.
  • Rpa may be 6000 Hz, for example.
  • Fma may be 1200 Hz, for example.
  • Et Etc + ⁇ Ie ⁇ sin (N ⁇ 2 ⁇ ⁇ ⁇ Fmc / Rpc)
  • the laser controller 2 performs a gain oscillation process (step S905C).
  • the gain oscillation processing here may be substantially the same as the subroutine shown in FIG. 4, for example.
  • the laser controller 2 sets the pulse counter value N to N + 1 (step S906C).
  • the laser control unit 2 reads the value of the pulse energy E from the pulse energy detector 30, and writes the value of the pulse energy E of the nth pulse as Ecn in the storage unit 51 (step S907C).
  • the laser control unit 2 reads the value of the charging voltage V set in the charger 90 from the storage unit 51, and writes the value of the charging voltage V in the nth pulse as Vcn in the storage unit 51 (step S908C). .
  • the laser controller 2 determines whether or not the pulse counter value N has exceeded the number of oscillation pulses Np (step S909C).
  • the laser control unit 2 determines that the pulse counter value N does not exceed the oscillation pulse number Np (step S909C; N)
  • the laser control unit 2 returns to the process of step S904C.
  • the laser control unit 2 performs the stored data sequence of the pulse energy E and the charging voltage V. Then, spectrum analysis is performed to obtain an amplitude component Ieac at the modulation frequency Fma of the pulse energy E and an amplitude component Ivac at the modulation frequency Fma of the charging voltage V (step S910C). Spectral analysis may use Fourier transform, discrete Fourier transform, or fast Fourier transform.
  • the laser controller 2 sets the pulse counter value N to 0 (step S911C).
  • the laser control unit 2 calculates the value Gcac of the control gain Gc as in the following equation (step S912C), and proceeds to the process of FIG.
  • the coefficient Gs is preferably a value of 0.3 or more and 1 or less, for example, so that control does not diverge.
  • the laser controller 2 reads the number of oscillation pulses Np from the exposure apparatus controller 5 or the storage unit 51 (step S902D).
  • the number of oscillation pulses Np is preferably 400 pulses or more and 1500 pulses or less, for example.
  • the number of oscillation pulses Np is more preferably a power of 2, such as 512 pulses or 1024 pulses.
  • the laser control unit 2 sets the target pulse energy Et to the reference energy Eta (step S903D).
  • the laser control unit 2 writes the set target pulse energy Et in the storage unit 51.
  • the laser control unit 2 causes the function generator 52 to periodically vary the target pulse energy Et around the reference energy Eta as a fluctuation center as shown in the following equation (step S904D).
  • Fmb is a modulation frequency of the target pulse energy Et corresponding to the pulse repetition frequency Rpb.
  • Rpb / Fmb is preferably an integer.
  • the range of Rpb / Fmb is preferably 4 or more and 10 or less.
  • the range of the amplitude ⁇ Ie is preferably 0.5 mJ or more and 2 mJ or less.
  • Rpb may be, for example, 5000 Hz.
  • Fmb may be 1000 Hz, for example.
  • Et Eta + ⁇ Ie ⁇ sin (N ⁇ 2 ⁇ ⁇ ⁇ Fmb / Rpb)
  • the laser controller 2 performs a gain oscillation process (step S905D).
  • the gain oscillation processing here may be substantially the same as the subroutine shown in FIG. 4, for example.
  • the laser controller 2 sets the pulse counter value N to N + 1 (step S906D).
  • the laser controller 2 reads the value of the pulse energy E from the pulse energy detector 30, and writes the value of the pulse energy E of the nth pulse as Ean in the storage unit 51 (step S907D).
  • the laser control unit 2 reads the value of the charging voltage V set in the charger 90 from the storage unit 51, and writes the value of the charging voltage V in the nth pulse as Van in the storage unit 51 (step S908D). .
  • the laser controller 2 determines whether or not the pulse counter value N has exceeded the number of oscillation pulses Np (step S909D). If the laser control unit 2 determines that the pulse counter value N does not exceed the number of oscillation pulses Np (step S909D; N), the process returns to step S904D.
  • step S909D when it is determined that the pulse counter value N has exceeded the number of oscillation pulses Np (step S909D; Y), the laser control unit 2 performs the stored data sequence of the pulse energy E and the charging voltage V. Then, the spectrum analysis is performed, and the amplitude component Ieba at the modulation frequency Fmb of the pulse energy E and the amplitude component Ivba at the modulation frequency Fmb of the charging voltage V are obtained (step S910D). Spectral analysis may use Fourier transform, discrete Fourier transform, or fast Fourier transform.
  • the laser controller 2 sets the pulse counter value N to 0 (step S911D).
  • the laser control unit 2 calculates the value Gcba of the control gain Gc as in the following equation (step S912D), and proceeds to the process of FIG.
  • the coefficient Gs is preferably a value of 0.3 or more and 1 or less, for example, so that control does not diverge.
  • the laser control unit 2 reads the number of oscillation pulses Np from the exposure apparatus controller 5 or the storage unit 51 (step S902E).
  • the number of oscillation pulses Np is preferably 400 pulses or more and 1500 pulses or less, for example.
  • the number of oscillation pulses Np is more preferably a power of 2, such as 512 pulses or 1024 pulses.
  • the laser controller 2 sets the target pulse energy Et to the reference energy Etb (step S903E).
  • the laser control unit 2 writes the set target pulse energy Et in the storage unit 51.
  • the laser control unit 2 causes the function generator 52 to periodically vary the target pulse energy Et around the reference energy Etb as a fluctuation center as shown in the following equation (step S904E).
  • Fmb is a modulation frequency of the target pulse energy Et corresponding to the pulse repetition frequency Rpb.
  • Fmb is a modulation frequency of the target pulse energy Et corresponding to the pulse repetition frequency Rpb.
  • Rpb / Fmb is preferably an integer.
  • the range of Rpb / Fmb is preferably 4 or more and 10 or less.
  • the range of the amplitude ⁇ Ie is preferably 0.5 mJ or more and 2 mJ or less.
  • the amplitude ⁇ Ie may be determined by a ratio with respect to the reference energy Etb.
  • Rpb may be, for example, 5000 Hz.
  • Fmb may be 1000 Hz, for example.
  • Et Etb + ⁇ Ie ⁇ sin (N ⁇ 2 ⁇ ⁇ ⁇ Fmb / Rpb)
  • the laser controller 2 performs a gain oscillation process (step S905E).
  • the gain oscillation processing here may be substantially the same as the subroutine shown in FIG. 4, for example.
  • the laser controller 2 sets the pulse counter value N to N + 1 (step S906E).
  • the laser control unit 2 reads the value of the pulse energy E from the pulse energy detector 30, and writes the value of the pulse energy E of the nth pulse as Ebn in the storage unit 51 (step S907E).
  • the laser control unit 2 reads the value of the charging voltage V set in the charger 90 from the storage unit 51, and writes the value of the charging voltage V in the nth pulse as Vbn in the storage unit 51 (step S908E). .
  • the laser controller 2 determines whether or not the pulse counter value N has exceeded the number of oscillation pulses Np (step S909E).
  • the laser control unit 2 determines that the pulse counter value N does not exceed the oscillation pulse number Np (step S909E; N)
  • the process returns to step S904E.
  • the laser control unit 2 performs the stored data sequence of the pulse energy E and the charging voltage V. Then, the spectrum analysis is performed, and the amplitude component Iebb at the modulation frequency Fmb of the pulse energy E and the amplitude component Ivbb at the modulation frequency Fmb of the charging voltage V are obtained (step S910E).
  • Spectral analysis may use Fourier transform, discrete Fourier transform, or fast Fourier transform.
  • the laser controller 2 sets the pulse counter value N to 0 (step S911E).
  • the laser control unit 2 calculates the value Gcbb of the control gain Gc as in the following equation (step S912E), and proceeds to the process of FIG.
  • the coefficient Gs is preferably a value of 0.3 or more and 1 or less, for example, so that control does not diverge.
  • the laser control unit 2 reads the number of oscillation pulses Np from the exposure apparatus controller 5 or the storage unit 51 (step S902F).
  • the number of oscillation pulses Np is preferably 400 pulses or more and 1500 pulses or less, for example.
  • the number of oscillation pulses Np is more preferably a power of 2, such as 512 pulses or 1024 pulses.
  • the laser controller 2 sets the target pulse energy Et to the reference energy Etc (step S903F).
  • the laser control unit 2 writes the set target pulse energy Et in the storage unit 51.
  • the laser control unit 2 causes the function generator 52 to periodically vary the target pulse energy Et around the reference energy Etc as a fluctuation center as shown in the following equation (step S904F).
  • Fmb is a modulation frequency of the target pulse energy Et corresponding to the pulse repetition frequency Rpb.
  • Rpb / Fmb is preferably an integer.
  • the range of Rpb / Fmb is preferably 4 or more and 10 or less.
  • the range of the amplitude ⁇ Ie is preferably 0.5 mJ or more and 2 mJ or less.
  • Rpb may be, for example, 5000 Hz.
  • Fmb may be 1000 Hz, for example.
  • Et Etc + ⁇ Ie ⁇ sin (N ⁇ 2 ⁇ ⁇ ⁇ Fmb / Rpb)
  • the laser controller 2 performs a gain oscillation process (step S905F).
  • the gain oscillation processing here may be substantially the same as the subroutine shown in FIG. 4, for example.
  • the laser controller 2 sets the pulse counter value N to N + 1 (step S906F).
  • the laser control unit 2 reads the value of the pulse energy E from the pulse energy detector 30, and writes the value of the pulse energy E of the nth pulse as Ecn in the storage unit 51 (step S907F).
  • the laser control unit 2 reads the value of the charging voltage V set in the charger 90 from the storage unit 51, and writes the value of the charging voltage V in the nth pulse as Vcn in the storage unit 51 (step S908F). .
  • the laser controller 2 determines whether or not the pulse counter value N has exceeded the number of oscillation pulses Np (step S909F). If the laser control unit 2 determines that the pulse counter value N does not exceed the number of oscillation pulses Np (step S909F; N), the process returns to step S904F.
  • the laser control unit 2 performs the stored data sequence of the pulse energy E and the charging voltage V. Then, spectrum analysis is performed to obtain an amplitude component Iebc at the modulation frequency Fmb of the pulse energy E and an amplitude component Ivbc at the modulation frequency Fmc of the charging voltage V (step S910F). Spectral analysis may use Fourier transform, discrete Fourier transform, or fast Fourier transform.
  • the laser controller 2 sets the pulse counter value N to 0 (step S911F).
  • the laser control unit 2 calculates a value Gcbc of the control gain Gc as in the following equation (step S912F), and proceeds to the process of FIG.
  • the coefficient Gs is preferably a value of 0.3 or more and 1 or less, for example, so that control does not diverge.
  • the laser control unit 2 reads the number of oscillation pulses Np from the exposure apparatus controller 5 or the storage unit 51 (step S902G).
  • the number of oscillation pulses Np is preferably 400 pulses or more and 1500 pulses or less, for example.
  • the number of oscillation pulses Np is more preferably a power of 2, such as 512 pulses or 1024 pulses.
  • the laser control unit 2 sets the target pulse energy Et to the reference energy Eta (step S903G).
  • the laser control unit 2 writes the set target pulse energy Et in the storage unit 51.
  • the laser control unit 2 causes the function generator 52 to periodically change the target pulse energy Et around the reference energy Eta as a fluctuation center as shown in the following equation (step S904G).
  • Fmc is a modulation frequency of the target pulse energy Et corresponding to the pulse repetition frequency Rpc.
  • Rpc / Fmc is preferably an integer.
  • the range of Rpc / Fmc is desirably 4 or more and 10 or less.
  • the range of the amplitude ⁇ Ie is preferably 0.5 mJ or more and 2 mJ or less.
  • Rpc may be, for example, 3000 Hz.
  • Fmc may be 600 Hz, for example.
  • Et Eta + ⁇ Ie ⁇ sin (N ⁇ 2 ⁇ ⁇ ⁇ Fmc / Rpc)
  • the laser control unit 2 performs a gain oscillation process (step S905G).
  • the gain oscillation processing here may be substantially the same as the subroutine shown in FIG. 4, for example.
  • the laser controller 2 sets the pulse counter value N to N + 1 (step S906G).
  • the laser control unit 2 reads the value of the pulse energy E from the pulse energy detector 30, and writes the value of the pulse energy E of the nth pulse as Ean in the storage unit 51 (step S907G).
  • the laser control unit 2 reads the value of the charging voltage V set in the charger 90 from the storage unit 51, and writes the value of the charging voltage V in the nth pulse as Van in the storage unit 51 (step S908G). .
  • the laser controller 2 determines whether or not the pulse counter value N exceeds the number of oscillation pulses Np (step S909G). If the laser control unit 2 determines that the pulse counter value N does not exceed the number of oscillation pulses Np (step S909G; N), the process returns to step S904G.
  • the laser control unit 2 performs the stored data sequence of the pulse energy E and the charging voltage V. Then, spectrum analysis is performed to obtain an amplitude component Ieca at the modulation frequency Fmc of the pulse energy E and an amplitude component Ivca at the modulation frequency Fmc of the charging voltage V (step S910G). Spectral analysis may use Fourier transform, discrete Fourier transform, or fast Fourier transform.
  • the laser controller 2 sets the pulse counter value N to 0 (step S911G).
  • the laser control unit 2 calculates a value Gcca of the control gain Gc as in the following equation (step S912G), and proceeds to the process of FIG.
  • the coefficient Gs is preferably a value of 0.3 or more and 1 or less, for example, so that control does not diverge.
  • the laser control unit 2 reads the number of oscillation pulses Np from the exposure apparatus controller 5 or the storage unit 51 (step S902H).
  • the number of oscillation pulses Np is preferably 400 pulses or more and 1500 pulses or less, for example.
  • the number of oscillation pulses Np is more preferably a power of 2, such as 512 pulses or 1024 pulses.
  • the laser controller 2 sets the target pulse energy Et to the reference energy Etb (step S903H).
  • the laser control unit 2 writes the set target pulse energy Et in the storage unit 51.
  • the laser control unit 2 causes the function generator 52 to periodically vary the target pulse energy Et around the reference energy Etb as a fluctuation center as shown in the following equation (step S904H).
  • Fmc is a modulation frequency of the target pulse energy Et corresponding to the pulse repetition frequency Rpc.
  • Rpc / Fmc is preferably an integer.
  • the range of Rpc / Fmc is desirably 4 or more and 10 or less.
  • the range of the amplitude ⁇ Ie is preferably 0.5 mJ or more and 2 mJ or less.
  • Rpc may be, for example, 3000 Hz.
  • Fmc may be 600 Hz, for example.
  • Et Etb + ⁇ Ie ⁇ sin (N ⁇ 2 ⁇ ⁇ ⁇ Fmc / Rpc)
  • the laser controller 2 performs a gain oscillation process (step S905H).
  • the gain oscillation processing here may be substantially the same as the subroutine shown in FIG. 4, for example.
  • the laser controller 2 sets the pulse counter value N to N + 1 (step S906H).
  • the laser control unit 2 reads the value of the pulse energy E from the pulse energy detector 30, and writes the value of the pulse energy E of the nth pulse as Ebn in the storage unit 51 (step S907H).
  • the laser control unit 2 reads the value of the charging voltage V set in the charger 90 from the storage unit 51, and writes the value of the charging voltage V in the nth pulse as Vbn in the storage unit 51 (step S908H). .
  • the laser controller 2 determines whether or not the pulse counter value N has exceeded the number of oscillation pulses Np (step S909H).
  • the laser control unit 2 determines that the pulse counter value N does not exceed the oscillation pulse number Np (step S909H; N)
  • the process returns to step S904H.
  • the laser control unit 2 applies the stored data string of the pulse energy E and the charging voltage V. Then, the spectrum analysis is performed, and the amplitude component Iecb at the modulation frequency Fmc of the pulse energy E and the amplitude component Ivcb at the modulation frequency Fmc of the charging voltage V are obtained (step S910H).
  • Spectral analysis may use Fourier transform, discrete Fourier transform, or fast Fourier transform.
  • the laser controller 2 sets the pulse counter value N to 0 (step S911H).
  • the laser control unit 2 calculates the value Gcb of the control gain Gc as in the following equation (step S912H), and proceeds to the process of FIG.
  • the coefficient Gs is preferably a value of 0.3 or more and 1 or less, for example, so that control does not diverge.
  • the laser control unit 2 reads the number of oscillation pulses Np from the exposure apparatus controller 5 or the storage unit 51 (step S902I).
  • the number of oscillation pulses Np is preferably 400 pulses or more and 1500 pulses or less, for example.
  • the number of oscillation pulses Np is more preferably a power of 2, such as 512 pulses or 1024 pulses.
  • the laser controller 2 sets the target pulse energy Et to the reference energy Etc (step S903I).
  • the laser control unit 2 writes the set target pulse energy Et in the storage unit 51.
  • the laser control unit 2 causes the function generator 52 to periodically vary the target pulse energy Et with the reference energy Etc as the center of variation, as shown in the following equation (step S904I).
  • Fmc is a modulation frequency of the target pulse energy Et corresponding to the pulse repetition frequency Rpc.
  • Rpc / Fmc is preferably an integer.
  • the range of Rpc / Fmc is desirably 4 or more and 10 or less.
  • the range of the amplitude ⁇ Ie is preferably 0.5 mJ or more and 2 mJ or less.
  • Rpc may be, for example, 3000 Hz.
  • Fmc may be 600 Hz, for example.
  • Et Etc + ⁇ Ie ⁇ sin (N ⁇ 2 ⁇ ⁇ ⁇ Fmc / Rpc)
  • the laser controller 2 performs a gain oscillation process (step S905I).
  • the gain oscillation processing here may be substantially the same as the subroutine shown in FIG. 4, for example.
  • the laser controller 2 sets the pulse counter value N to N + 1 (step S906I).
  • the laser control unit 2 reads the value of the pulse energy E from the pulse energy detector 30, and writes the value of the pulse energy E of the nth pulse as Ecn in the storage unit 51 (step S907I).
  • the laser control unit 2 reads the value of the charging voltage V set in the charger 90 from the storage unit 51, and writes the value of the charging voltage V in the nth pulse as Vcn in the storage unit 51 (step S908I). .
  • the laser controller 2 determines whether or not the pulse counter value N exceeds the number of oscillation pulses Np (step S909I).
  • the laser control unit 2 determines that the pulse counter value N does not exceed the oscillation pulse number Np (step S909I; N)
  • the process returns to step S904I.
  • the laser control unit 2 performs the stored data sequence of the pulse energy E and the charging voltage V. Then, the spectrum analysis is performed to obtain the amplitude component Iecc at the modulation frequency Fmc of the pulse energy E and the amplitude component Ivcc at the modulation frequency Fmc of the charging voltage V (step S910I). Spectral analysis may use Fourier transform, discrete Fourier transform, or fast Fourier transform.
  • the laser controller 2 sets the pulse counter value N to 0 (step S911I).
  • the laser controller 2 calculates the value Gcc of the control gain Gc as in the following equation (step S912I), and ends the process.
  • the coefficient Gs is preferably a value of 0.3 or more and 1 or less, for example, so that control does not diverge.
  • FIG. 45 is a flowchart illustrating an example of a flow of control of the pulse energy E by the laser control unit 2 in the laser apparatus according to the fourth embodiment.
  • FIG. 46 shows an example of subroutine A in step S805A in FIG.
  • FIG. 47 shows an example of subroutine B of step S804A in FIG.
  • FIG. 48 shows an example of subroutine C in step S803A in FIG.
  • the laser controller 2 reads the pulse repetition frequency Rp from the exposure apparatus controller 5 or the storage unit 51 (step S800A).
  • the laser control unit 2 reads the target pulse energy Et from the exposure apparatus controller 5 or the storage unit 51 (step S801A).
  • the laser controller 2 determines the value of the pulse repetition frequency Rp (step S802A).
  • the laser control unit 2 When the pulse repetition frequency Rp exceeds a predetermined value, for example, when it is determined that (Rpb + Rpa) / 2 ⁇ Rp, the laser control unit 2 performs the processing of subroutine C in FIG. 48 (step S803A).
  • Step S804A When the target pulse energy Et is within a predetermined range, for example, when the laser control unit 2 determines that (Rpc + Rpb) / 2 ⁇ Rp ⁇ (Rpb + Rpa) / 2, the process of subroutine B in FIG. 47 is performed ( Step S804A).
  • the laser control unit 2 When the pulse repetition frequency Rp is equal to or lower than a predetermined value, for example, when it is determined that Rp ⁇ (Rpc + Rpb) / 2, the laser control unit 2 performs the processing of subroutine A in FIG. 46 (step S805A).
  • step S806A determines whether or not laser oscillation has occurred. If the laser control unit 2 determines that laser oscillation is not occurring (step S806A; N), the process of step S806A is repeated.
  • step S806A if it is determined that laser oscillation has occurred (step S806A; Y), the laser controller 2 reads the value of the pulse energy E from the pulse energy detector 30 (step S807A).
  • the laser controller 2 compares the pulse energy E with the target pulse energy Et (step S808A).
  • the current charging voltage V data is used as it is as the charging voltage V data (step S810A). Write to the storage unit 51 (step S812A).
  • the laser control unit 2 determines that the pulse energy E is smaller than the target pulse energy Et (E ⁇ Et)
  • the difference between the target pulse energy Et and the pulse energy E ( A value obtained by multiplying Et ⁇ E) by the control gain Gc is added to the charging voltage V to obtain a new charging voltage V (step S809A), and data of the charging voltage V is written in the storage unit 51 (step S812A).
  • V V + (Et-E) ⁇ Gc
  • the laser control unit 2 determines that the pulse energy E is larger than the target pulse energy Et (E> Et)
  • the difference between the pulse energy E and the target pulse energy Et (as shown in the following equation)
  • a value obtained by multiplying E ⁇ Et) by the control gain Gc is subtracted from the charging voltage V to obtain a new charging voltage V (step S811A), and the data of the charging voltage V is written in the storage unit 51 (step S813A).
  • V V- (E-Et) ⁇ Gc
  • the laser controller 2 determines whether or not the charging voltage V is equal to or higher than a predetermined maximum value Vmax (step S813A). If the laser control unit 2 determines that the charging voltage V is not equal to or greater than the predetermined maximum value Vmax (step S813A; N), the process returns to step S801. On the other hand, when it is determined that the charging voltage V is equal to or higher than the predetermined maximum value Vmax (step S813A; Y), the energy control process is terminated.
  • FIG. 46 shows an example of subroutine A in step S805A in FIG.
  • the laser control unit 2 determines which of the plurality of control gains Gcaa, Gcab, and Gcac corresponds to the target pulse energy Et (step S10A).
  • the control gains Gcaa, Gcab, and Gcac may be calculated according to the flowcharts shown in FIGS.
  • the laser control unit 2 sets the value of the control gain Gc to Gcaa when the target pulse energy Et is equal to or less than a predetermined value, for example, when it is determined that Et ⁇ (Eta + Etb) / 2 (step S11A).
  • the laser control unit 2 determines that the target pulse energy Et is within a predetermined range, for example, (Eta + Etb) / 2 ⁇ Et ⁇ (Etb + Etc) / 2, the value of the control gain Gc is set to Gcab ( Step S12A).
  • the laser control unit 2 sets the value of the control gain Gc to Gcac (step S13A).
  • FIG. 47 shows an example of subroutine B of step S804A in FIG.
  • the laser control unit 2 determines which of the plurality of control gains Gcba, Gcbb, and Gcbc the target pulse energy Et corresponds to (step S10B).
  • control gains Gcba, Gcbb, and Gcbc may be calculated according to the flowcharts shown in FIGS. 39 to 41 described above.
  • the laser control unit 2 sets the value of the control gain Gc to Gcba when the target pulse energy Et is equal to or less than a predetermined value, for example, when it is determined that Et ⁇ (Eta + Etb) / 2 (step S11B).
  • the laser control unit 2 determines that (Eta + Etb) / 2 ⁇ Et ⁇ (Etb + Etc) / 2, the value of the control gain Gc is set to Gcbb ( Step S12B).
  • the laser control unit 2 sets the value of the control gain Gc to Gcbc (step S13B).
  • FIG. 48 shows an example of subroutine C in step S803A in FIG.
  • the laser control unit 2 determines which of the plurality of control gains Gcca, Gccb, and Gccc the target pulse energy Et corresponds to (step S10C).
  • the control gains Gcca, Gccb, Gccc may be calculated according to the flowcharts shown in FIGS.
  • the laser control unit 2 sets the value of the control gain Gc to Gcca when the target pulse energy Et is equal to or less than a predetermined value, for example, when it is determined that Et ⁇ (Eta + Etb) / 2 (step S11C).
  • the target pulse energy Et is within a predetermined range, for example, when the laser control unit 2 determines that (Eta + Etb) / 2 ⁇ Et ⁇ (Etb + Etc) / 2, the value of the control gain Gc is set to Gccb ( Step S12C).
  • the laser control unit 2 sets the value of the control gain Gc to Gccc (step S13C).
  • a plurality of control gains Gc are calculated according to a plurality of pulse repetition frequencies Rpa, Rpb, Rpc and the value of the target pulse energy Et.
  • the accuracy of control of the pulse energy E can be improved when the target pulse energy Et is changed.
  • the laser control unit 2 calculates nine control gains Gc based on the three pulse repetition frequencies Rpa, Rpb, and Rpc and the three reference energies Eta, Etb, and Etc.
  • the number of the pulse repetition frequency Rp and the reference energy Et may be 2 or 4 or more, respectively.
  • the number of control gains Gc to be calculated may be other than 9 depending on the number of pulse repetition frequencies Rp and the number of reference energies Et.
  • Embodiment 5 (Laser apparatus including MOPO system) Next, a laser apparatus according to Embodiment 5 of the present disclosure will be described.
  • substantially the same components as those of the laser device according to the comparative example, the first embodiment, the second embodiment, the third embodiment, or the fourth embodiment are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is omitted as appropriate.
  • the single chamber laser device has been described as an example.
  • the techniques of Embodiments 1 to 4 can be applied to laser devices other than the single chamber laser device.
  • the techniques of Embodiments 1 to 4 can be applied to a laser system including a master oscillator (MO) and an amplifier.
  • the present invention may be applied to a MOPO system including a master oscillator and a power oscillator (PO) as an amplifier.
  • FIG. 49 schematically illustrates a configuration example of the laser apparatus 1A according to the fifth embodiment of the present disclosure.
  • a laser apparatus 1A according to Embodiment 5 includes a master oscillator 6 and a power oscillator 7.
  • the master oscillator 6 determines optical quality such as the wavelength of laser light and the spectral line width.
  • the power oscillator 7 amplifies the pulse laser beam Lp output from the master oscillator 6.
  • the power oscillator 7 outputs the amplified pulsed laser light Lp toward the exposure device 4.
  • reflection mirrors 37 and 38 may be arranged as an optical system for guiding the pulsed laser light Lp output from the master oscillator 6 to the power oscillator 7.
  • the master oscillator 6 may include a laser resonator, a laser chamber 20, a pulse power module 28, and a pulse energy detector 30 in substantially the same manner as the laser device 1 according to the comparative example 2.
  • the power oscillator 7 may include a laser chamber 20A, a pulse power module 28A, a pulse energy detector 30A, an output coupling mirror 35A as an output coupler, and a partial reflection mirror 36.
  • the laser chamber 20A may include windows 21A and 22A that transmit laser light, a pair of discharge electrodes 23A and 24A, and a pressure sensor 34A in substantially the same manner as the laser chamber 20.
  • the laser chamber 20A may include a cross flow fan, a motor, a heat exchanger, and the like (not shown) substantially similar to the laser chamber 20.
  • the laser chamber 20A emits a pulse laser beam Lp having a pulse energy E corresponding to an applied voltage applied between the pair of discharge electrodes 23A and 24A at a predetermined pulse repetition frequency Rp.
  • the applied voltage applied between the pair of discharge electrodes 23 ⁇ / b> A and 24 ⁇ / b> A may be a voltage corresponding to the charging voltage V by the charger 90.
  • Each of the output coupling mirror 35A and the partial reflection mirror 36 may be coated with a multilayer film that reflects a part of the pulse laser beam Lp and transmits a part thereof.
  • the output coupling mirror 35 ⁇ / b> A and the partial reflection mirror 36 may constitute a laser resonator of the power oscillator 7.
  • the laser chamber 20A may be disposed so that the discharge region of the pair of discharge electrodes 23A and 24A is disposed on the optical path of the laser resonator.
  • the pulse energy detector 30A is provided on the optical path of the pulse laser beam Lp output from the output coupling mirror 35A, and detects the pulse energy E of the pulse laser beam Lp.
  • the pulse energy detector 30A may include a beam splitter 31A, a condenser lens 32A, and an optical sensor 33A that detects the pulse energy E.
  • the beam splitter 31A may be disposed on the optical path of the pulsed laser light Lp output from the output coupling mirror 35A.
  • the condensing lens 32A may be disposed on the optical path of the pulsed laser light Lp reflected by the beam splitter 31A.
  • the optical sensor 33A may be disposed in the vicinity of the condensing position of the condensing lens 32A.
  • the pulse power module 28A includes a switch 29A for discharging the pair of discharge electrodes 23A, 24A, and may be connected to one of the discharge electrodes 23A via an electric insulating member (not shown).
  • the other discharge electrode 24A may be connected to the grounded laser chamber 20A.
  • the pulse power module 28A may include a charging capacitor (not shown).
  • the charger 90 and the pulse power module 28A may be electrically connected to each other so as to charge a charging capacitor (not shown) of the pulse power module 28A.
  • the charger 90 may receive data indicating the charging voltage V from the laser control unit 2.
  • the charging voltage V may be a voltage for charging a charging capacitor (not shown).
  • the charging voltage V may be controlled by the laser control unit 2 based on the pulse energy E measured by the pulse energy detector 30A.
  • the charging voltage V may be a voltage corresponding to an applied voltage applied between the pair of discharge electrodes 23A and 24A.
  • the oscillation control signal Str and the target pulse energy Et may be input to the laser control unit 2 from the exposure apparatus controller 5 of the exposure apparatus 4.
  • the laser controller 2 and the pulse power module 28A may be electrically connected to each other so that the switch 29A is turned on / off in synchronization with the oscillation trigger signal Str.
  • the laser controller 2 applies an applied voltage between the pair of discharge electrodes 23 and 24 in the master oscillator 6 based on the target pulse energy Et and the pulse energy E detected by the pulse energy detector 30 of the master oscillator 6.
  • a voltage control unit for controlling Further, the laser controller 2 is based on the target pulse energy Et and the pulse energy E detected by the pulse energy detector 30A of the power oscillator 7 based on the pulse energy E detected by the pulse energy detector 30.
  • a voltage control unit that controls an applied voltage applied between the pair of discharge electrodes 23A and 24A in the power oscillator 7 may be used.
  • the laser control unit 2 may be a gain calculation unit that calculates a control gain Gc in each of the master oscillator 6 and the power oscillator 7.
  • the laser control unit 2 outputs the master oscillator 6 and the power oscillator 7 from the master oscillator 6 and the power oscillator 7 by controlling the charging voltage V using the control gain Gc for each of the master oscillator 6 and the power oscillator 7.
  • the energy control of the pulsed laser beam Lp is performed.
  • the laser gas supply device 91 includes a gas cylinder (not shown) that supplies a laser gas into each of the laser chamber 20 and the laser chamber 20A, and a supply valve (not shown) as a flow rate control valve that controls the supply of the laser gas from the gas cylinder. May be.
  • the laser gas exhaust device 92 may be configured to exhaust the laser gas inside each of the laser chamber 20 and the laser chamber 20A.
  • the laser gas exhaust device 92 may include an exhaust valve (not shown) and an exhaust pump (not shown).
  • the control gain Gc may be calculated for each of the master oscillator 6 and the power oscillator 7 in substantially the same manner as the laser device according to the first embodiment, the second embodiment, the third embodiment, or the fourth embodiment. Based on the control gain Gc calculated for each of the master oscillator 6 and the power oscillator 7, each of the master oscillator 6 and the power oscillator 7 is described in the first embodiment, the second embodiment, the third embodiment, or the fourth embodiment.
  • the energy control may be performed in substantially the same manner as the laser apparatus according to the above.

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Lasers (AREA)

Abstract

本開示によるレーザ装置は、一対の電極を含み、一対の電極間に印加された印加電圧に応じたパルスエネルギを有するパルスレーザ光を、複数のパルス繰り返し周波数における各周波数で出射するレーザチャンバと、パルスレーザ光の光路上に設けられ、パルスレーザ光のパルスエネルギを検出するエネルギ検出器と、目標パルスエネルギとエネルギ検出器によって検出されたパルスエネルギとに基づいて、印加電圧を制御する電圧制御部と、目標パルスエネルギを、基準エネルギを変動中心として、複数のパルス繰り返し周波数のそれぞれに応じた変調周波数で周期的に変動させるパルスエネルギ制御部とを備える。

Description

レーザ装置
 本開示は、レーザ装置に関する。
 近年、半導体露光装置(以下、「露光装置」という)においては、半導体集積回路の微細化および高集積化につれて、解像力の向上が要請されている。このため、露光用光源から放出される光の短波長化が進められている。一般的に、露光用光源には、従来の水銀ランプに代わってガスレーザ装置が用いられる。たとえば、露光用のガスレーザ装置としては、波長248nmの紫外線のレーザ光を出力するKrFエキシマレーザ装置、ならびに波長193nmの紫外線のレーザ光を出力するArFエキシマレーザ装置が用いられる。
 次世代の露光技術としては、露光装置側の露光用レンズとウエハとの間が液体で満たされる液浸露光が実用化されている。この液浸露光では、露光用レンズとウエハとの間の屈折率が変化するため、露光用光源の見かけの波長が短波長化する。ArFエキシマレーザ装置を露光用光源として液侵露光が行われた場合、ウエハには水中における波長134nmの紫外光が照射される。この技術をArF液浸露光(又はArF液浸リソグラフィー)という。
 KrFエキシマレーザ装置およびArFエキシマレーザ装置の自然発振幅は、約350~400pmと広い。そのため、KrF及びArFレーザ光のような紫外線を透過する材料で投影レンズを構成すると、色収差が発生してしまう場合がある。その結果、解像力が低下し得る。そこで、ガスレーザ装置から出力されるレーザ光のスペクトル線幅を、色収差が無視できる程度となるまで狭帯域化する必要がある。そのため、ガスレーザ装置のレーザ共振器内には、スペクトル線幅を狭帯域化するために、狭帯域化素子(エタロン、グレーティング等)を有する狭帯域化モジュール(Line Narrow Module:LNM)が設けられる場合がある。以下では、スペクトル線幅が狭帯域化されるレーザ装置を狭帯域化レーザ装置という。
特表2016-522443号公報
概要
 本開示の第1のレーザ装置は、一対の電極を含み、一対の電極間に印加された印加電圧に応じたパルスエネルギを有するパルスレーザ光を、複数のパルス繰り返し周波数における各周波数で出射するレーザチャンバと、パルスレーザ光の光路上に設けられ、パルスレーザ光のパルスエネルギを検出するエネルギ検出器と、目標パルスエネルギとエネルギ検出器によって検出されたパルスエネルギとに基づいて、印加電圧を制御する電圧制御部と、目標パルスエネルギを、基準エネルギを変動中心として、複数のパルス繰り返し周波数のそれぞれに応じた変調周波数で周期的に変動させるパルスエネルギ制御部とを備える。
 本開示の第2のレーザ装置は、一対の電極を含み、一対の電極間に印加された印加電圧に応じたパルスエネルギを有するパルスレーザ光を、所定のパルス繰り返し周波数で出射するレーザチャンバと、パルスレーザ光の光路上に設けられ、パルスレーザ光のパルスエネルギを検出するエネルギ検出器と、目標パルスエネルギとエネルギ検出器によって検出されたパルスエネルギとに基づいて、印加電圧を制御する電圧制御部と、目標パルスエネルギを、複数の基準エネルギのそれぞれを変動中心として、所定の変調周波数で周期的に変動させるパルスエネルギ制御部とを備える。
 本開示の第3のレーザ装置は、一対の電極を含み、一対の電極間に印加された印加電圧に応じたパルスエネルギを有するパルスレーザ光を、所定のパルス繰り返し周波数で出射するレーザチャンバと、パルスレーザ光の光路上に設けられ、パルスレーザ光のパルスエネルギを検出するエネルギ検出器と、目標パルスエネルギとエネルギ検出器によって検出されたパルスエネルギとに基づいて、印加電圧を制御する電圧制御部と、目標パルスエネルギを、複数の基準エネルギのそれぞれを変動中心として、複数の基準エネルギのそれぞれに応じた変調周波数で周期的に変動させるパルスエネルギ制御部とを備える。
 本開示のいくつかの実施形態を、単なる例として、添付の図面を参照して以下に説明する。
図1は、比較例1に係るレーザ装置の一構成例を概略的に示す。 図2は、比較例1に係るレーザ装置におけるレーザ制御部によるパルスエネルギの制御の流れの一例を示すフローチャートである。 図3は、比較例1に係るレーザ装置におけるレーザ制御部による制御ゲインの算出処理の流れの一例を示すフローチャートである。 図4は、図3の制御ゲインの算出処理におけるゲイン発振のサブルーチンの一例を示すフローチャートである。 図5は、比較例1に係るレーザ装置におけるパルス毎のパルスエネルギと充電電圧との計測値の第1の例を示す。 図6は、比較例1に係るレーザ装置における充電電圧の変化に対するパルスエネルギの変化の第1の例を示す。 図7は、比較例1に係るレーザ装置におけるパルス毎のパルスエネルギと充電電圧との計測値の第2の例を示す。 図8は、比較例1に係るレーザ装置における充電電圧の変化に対するパルスエネルギの変化の第2の例を示す。 図9は、比較例2に係るレーザ装置の一構成例を概略的に示す。 図10は、比較例2に係るレーザ装置におけるレーザ制御部による制御ゲインの算出処理の流れの一例を示すフローチャートである。 図11は、比較例2に係るレーザ装置におけるパルス毎のパルスエネルギと充電電圧との計測値の一例を示す。 図12は、図11におけるパルスエネルギと充電電圧とをスペクトル解析した結果の一例を示す。 図13は、比較例2に係るレーザ装置における充電電圧の変化に対するパルスエネルギの変化の第1の例を示す。 図14は、比較例2に係るレーザ装置における充電電圧の変化に対するパルスエネルギの変化の第2の例を示す。 図15は、実施形態1に係るレーザ装置におけるパルス毎のパルスエネルギと充電電圧との計測値の一例を示す。 図16は、図15におけるパルスエネルギと充電電圧とをスペクトル解析した結果の一例を示す。 図17は、実施形態1に係るレーザ装置におけるレーザ制御部による制御ゲインの算出処理の流れの一例を示すフローチャートである。 図18は、図17に続くフローチャートである。 図19は、図18に続くフローチャートである。 図20は、実施形態1に係るレーザ装置におけるレーザ制御部によるパルスエネルギの制御の流れの一例を示すフローチャートである。 図21は、実施形態2に係るレーザ装置におけるパルス毎のパルスエネルギと充電電圧との計測値の一例を示す。 図22は、図21におけるパルスエネルギと充電電圧とをスペクトル解析した結果の一例を示す。 図23は、実施形態2に係るレーザ装置におけるレーザ制御部による制御ゲインの算出処理の流れの一例を示すフローチャートである。 図24は、図23に続くフローチャートである。 図25は、図24に続くフローチャートである。 図26は、実施形態3に係るレーザ装置におけるパルス毎のパルスエネルギと充電電圧との計測値の一例を示す。 図27は、実施形態3に係るレーザ装置における単位時間毎のパルスエネルギと充電電圧との計測値の一例を示す。 図28は、図26におけるパルスエネルギと充電電圧とをスペクトル解析した結果の一例を示す。 図29は、実施形態3に係るレーザ装置におけるレーザ制御部による制御ゲインの算出処理の流れの一例を示すフローチャートである。 図30は、図29に続くフローチャートである。 図31は、図30に続くフローチャートである。 図32は、実施形態3に係るレーザ装置におけるレーザ制御部によるパルスエネルギの制御の流れの一例を示すフローチャートである。 図33は、実施形態4に係るレーザ装置におけるパルス毎のパルスエネルギと充電電圧との計測値の一例を示す。 図34は、実施形態4に係るレーザ装置における単位時間毎のパルスエネルギと充電電圧との計測値の一例を示す。 図35は、図33におけるパルスエネルギと充電電圧とをスペクトル解析した結果の一例を示す。 図36は、実施形態4に係るレーザ装置におけるレーザ制御部による制御ゲインの算出処理の流れの一例を示すフローチャートである。 図37は、図36に続くフローチャートである。 図38は、図37に続くフローチャートである。 図39は、図38に続くフローチャートである。 図40は、図39に続くフローチャートである。 図41は、図40に続くフローチャートである。 図42は、図41に続くフローチャートである。 図43は、図42に続くフローチャートである。 図44は、図43に続くフローチャートである。 図45は、実施形態4に係るレーザ装置におけるレーザ制御部によるパルスエネルギの制御の流れの一例を示すフローチャートである。 図46は、図45におけるステップS805AのサブルーチンAの一例を示すフローチャートである。 図47は、図45におけるステップS804AのサブルーチンBの一例を示すフローチャートである。 図48は、図45におけるステップS803AのサブルーチンCの一例を示すフローチャートである。 図49は、実施形態5に係るレーザ装置の一構成例を概略的に示す。
実施形態
<内容>
<1.比較例>(制御ゲインを用いたエネルギ制御を行うレーザ装置)
 1.1 比較例1(図1~図8)
  1.1.1 比較例1の構成
  1.1.2 比較例1の動作
  1.1.3 比較例1の課題
 1.2 比較例2(図9~図14)
  1.2.1 比較例2の構成
  1.2.2 比較例2の動作
  1.2.2 比較例2の課題
<2.実施形態1>(目標パルスエネルギの値に応じた複数の制御ゲインを用いるレーザ装置)(図15~図20)
 2.1 構成
 2.2 動作
 2.3 作用・効果
<3.実施形態2>(目標パルスエネルギの値と変調周波数の値とに応じた複数の制御ゲインを用いるレーザ装置)(図21~図25)
 3.1 構成
 3.2 動作
 3.3 作用・効果
<4.実施形態3>(パルス繰り返し周波数の値に応じた複数の制御ゲインを用いるレーザ装置)(図26~図32)
 4.1 構成
 4.2 動作
 4.3 作用・効果
<5.実施形態4>(目標パルスエネルギの値とパルス繰り返し周波数の値とに応じた複数の制御ゲインを用いるレーザ装置)(図33~図48)
 5.1 構成
 5.2 動作
 5.3 作用・効果
<6.実施形態5>(MOPOシステムを含むレーザ装置)
 6.1 構成(図49)
 6.2 動作
 6.3 作用・効果
<7.その他>
 以下、本開示の実施形態について、図面を参照しながら詳しく説明する。
 以下に説明される実施形態は、本開示のいくつかの例を示すものであって、本開示の内容を限定するものではない。また、各実施形態で説明される構成及び動作の全てが本開示の構成及び動作として必須であるとは限らない。
 なお、同一の構成要素には同一の参照符号を付して、重複する説明を省略する。
<1.比較例>(制御ゲインを用いたエネルギ制御を行うレーザ装置)
[1.1 比較例1]
[1.1.1 比較例1の構成]
 図1は、本開示の実施形態に対する比較例1に係るレーザ装置101の一構成例を概略的に示している。
 比較例1に係るレーザ装置101は、露光装置4に向けてパルスレーザ光Lpを出力するエキシマレーザ装置であってもよい。レーザ装置101は、レーザ制御部2と、レーザ発振器システム3と、レーザガス供給装置91と、レーザガス排気装置92とを備えている。
 レーザ発振器システム3は、レーザ共振器と、レーザチャンバ20と、パルスパワーモジュール(PPM:Pulse Power Module)28と、パルスエネルギ検出器30と、充電器90とを含んでいてもよい。
 レーザチャンバ20は、レーザ光を透過するウインドウ21,22と、一対の放電電極23,24と、電気絶縁部材25と、クロスフローファン(CFF)26と、モータ27と、圧力センサ34とを含んでいてもよい。レーザチャンバ20は、図示しない熱交換器を含んでいてもよい。
 レーザチャンバ20は、一対の放電電極23,24間に印加された印加電圧に応じたパルスエネルギEを有するパルスレーザ光Lpを、設定された所定のパルス繰り返し周波数Rpで出射する。一対の放電電極23,24間に印加される印加電圧は、充電器90による充電電圧Vに応じた電圧であってもよい。
 レーザ共振器は、出力結合器(OC:Output Coupler)としての出力結合ミラー35と、狭帯域化モジュール(LNM:Line Narrowing Module)10とを含んでいてもよい。レーザ共振器には、図示しない2つのスリットが設けられていてもよい。レーザ共振器の光路上に一対の放電電極23,24の放電領域が配置されるように、レーザチャンバ20が配置されてもよい。
 狭帯域化モジュール10は、レーザ光のビームを拡大するプリズム12と、グレーティング11とを含んでいてもよい。プリズム12は、レーザチャンバ20から出力されたレーザ光のビームがプリズム12でビーム拡大されてグレーティング11に所定の角度で入射するように配置されてもよい。グレーティング11は、レーザ光の入射角度と回折角度とが略同じ角度となるリトロー配置であってももよい。
 出力結合ミラー35は、レーザチャンバ20内で発生したレーザ光の一部を反射し、一部を透過する多層膜がコートされた部分反射ミラーであってもよい。
 パルスエネルギ検出器30は、パルスレーザ光Lpの光路上に設けられ、パルスレーザ光LpのパルスエネルギEを検出する。パルスエネルギ検出器30は、ビームスプリッタ31と、集光レンズ32と、パルスエネルギEを検出する光センサ33とを含んでいてもよい。
 ビームスプリッタ31は、出力結合ミラー35から出力されたパルスレーザ光Lpの光路上に配置されていてもよい。集光レンズ32は、ビームスプリッタ31で反射されたパルスレーザ光Lpの光路上に配置されていてもよい。光センサ33は、集光レンズ32の集光位置の近傍に配置されてもよい。
 パルスパワーモジュール28は、一対の放電電極23,24を放電させるためのスイッチ29を含み、電気絶縁部材25を介して、一方の放電電極23と接続されていてもよい。他方の放電電極24は、接地されたレーザチャンバ20と接続されていてもよい。パルスパワーモジュール28は、図示しない充電コンデンサを含んでいてもよい。
 充電器90とパルスパワーモジュール28は、パルスパワーモジュール28の図示しない充電コンデンサを充電するように、互いに電気的に接続されていてもよい。充電器90は、充電電圧Vを示すデータをレーザ制御部2から受信してもよい。充電電圧Vは、図示しない充電コンデンサを充電する電圧であってもよい。充電電圧Vは、パルスエネルギ検出器30によって計測されたパルスエネルギEに基づいて、レーザ制御部2によって制御されてもよい。充電電圧Vは、一対の放電電極23,24間に印加する印加電圧に対応した電圧であってもよい。
 レーザ制御部2には、露光装置4の露光装置コントローラ5から発振トリガ信号Strと目標パルスエネルギEtとが入力されてもよい。レーザ制御部2とパルスパワーモジュール28は、発振トリガ信号Strに同期して、スイッチ29がオン/オフされるように互いに電気的に接続されていてもよい。
 レーザ制御部2は、各種データを記憶する記憶部51を含んでいてもよい。記憶部51は、各種データとして、目標パルスエネルギEt、パルスエネルギ検出器30によって計測されたパルスエネルギEのデータ、充電電圧Vを示すデータ等を記憶してもよい。また、記憶部51は、パルスレーザ光Lpのエネルギ制御を行うための制御ゲインGcと、制御ゲインGcの算出に用いられるパルス繰り返し周波数Rp、及び発振パルス数Npのデータとを記憶してもよい。また、記憶部51は、制御ゲインGcの算出に用いられるその他の設定値等のデータを記憶してもよい。
 レーザ制御部2は、目標パルスエネルギEtと、パルスエネルギ検出器30によって検出されたパルスエネルギEとに基づいて、一対の放電電極23,24間に印加する印加電圧を制御する電圧制御部であってもよい。
 レーザ制御部2は、制御ゲインGcを算出するゲイン算出部であってもよい。レーザ制御部2は、制御ゲインGcを用いて充電電圧Vを制御することにより、レーザチャンバ20から出力されるパルスレーザ光Lpのエネルギ制御を行う。
 レーザガス供給装置91は、レーザチャンバ20内にレーザガスを供給する図示しないガスボンベと、ガスボンベからのレーザガスの供給を制御する流量制御弁としての図示しない供給バルブとを含んでいてもよい。レーザガスは、例えば、レアガスとしてAr又はKrを含んでいてもよい。また、レーザガスは、例えば、ハロゲンガスとしてF2ガスを含んでいてもよい。また、レーザガスは、例えば、バッファガスとしてNe又はHeを含んでいてもよい。また、レーザガスは、それらのガスの混合ガスを含んでいてもよい。例えば、レーザガスは、Ar+Ne混合ガス、又はAr+Ne+F2混合ガスを含んでいてもよい。
 レーザガス排気装置92は、レーザチャンバ20内のレーザガスを排気できるように構成されていてもよい。レーザガス排気装置92は、図示しない排気バルブと、図示しない排気ポンプとを含んでいてもよい。
[1.1.2 比較例1の動作]
 レーザ制御部2は、露光装置4の露光装置コントローラ5から発振トリガ信号Strと目標パルスエネルギEtとを受信してもよい。レーザ制御部2は、目標パルスエネルギEtとなるように充電器90に充電電圧Vを設定してもよい。また、レーザ制御部2は、発振トリガ信号Strに同期させてパルスパワーモジュール28のスイッチ29を動作させてもよい。これにより、レーザチャンバ20において、一対の放電電極23,24間に充電電圧Vに応じた高電圧が印加され、一対の放電電極23,24間の放電領域においてレーザガスが絶縁破壊して、放電が生成され得る。その結果、レーザチャンバ20内においてレーザガスが励起され、レーザ共振器を構成する狭帯域化モジュール10と出力結合ミラー35との間でレーザ発振が起こり得る。出力結合ミラー35からは、狭帯域化モジュール10のプリズム12とグレーティング11とによって狭帯域化されたパルスレーザ光Lpが出力され得る。この際、レーザ共振器内の図示しない2つのスリットによってレーザ発振領域が制限され得る。
 なお、レーザ装置101は必ずしも、狭帯域化レーザ装置でなく、自然発振光を出力するレーザ装置であってもよい。例えば、狭帯域化モジュール10の代わりに、高反射ミラーを配置してもよい。
 出力結合ミラー35から出力されたパルスレーザ光Lpは、ビームスプリッタ31によって一部がパルスエネルギEを検出するためのサンプル光として、光センサ33に向けて反射され得る。パルスエネルギ検出器30は、検出したパルスエネルギEのデータを、レーザ制御部2に送信してもよい。一方、ビームスプリッタ31を透過したパルスレーザ光Lpは、露光装置4に入射し得る。
 レーザ制御部2は、パルスレーザ光Lpが出力された場合の充電電圧VとパルスエネルギEとのデータを記憶部51に記憶してもよい。
 レーザ制御部2は、目標パルスエネルギEtと実際に出力されたパルスエネルギEとの差ΔEに基づいて、目標パルスエネルギEtとなるように充電電圧Vをフィードバック制御してもよい。
 レーザ制御部2は、充電電圧Vが許容範囲の最大値より高くなったら、レーザガス供給装置91を制御して、所定の圧力となるまでレーザガスをレーザチャンバ20内に供給してもよい。また、レーザ制御部2は、充電電圧Vが許容範囲の最小値より低くなったら、レーザガス排気装置92を制御して、所定の圧力となるまでレーザガスをレーザチャンバ20内から排気してもよい。
 レーザ装置101は,制御権がレーザ装置101側にある状態で目標パルスエネルギEtを階段状に変化させたときの充電電圧VとパルスエネルギEとのデータを記憶部51に記憶してもよい。このときのパルスエネルギEと充電電圧Vとの関係ΔV/ΔEから、フィードバック制御で使用する制御ゲインGcをあらたに算出してもよい。
(比較例1におけるエネルギ制御の具体例)
 放電励起式エキシマレーザの場合、充電電圧Vを高くすると、パルスエネルギEは高くなり、充電電圧Vを低くするとパルスエネルギEは小さくなる。この特性に従って、レーザ制御部2は、パルスレーザ光LpのパルスエネルギEが目標エネルギEtとなるように充電電圧Vを制御する。エネルギ制御で用いられる制御ゲインGcは、以下の式のように、レーザの特性で決定されるΔV/ΔEと係数Gsとの積で決定される。
 Gc=Gs・ΔV/ΔE
 係数Gsは、制御が発散しないように例えば,0.3以上、1以下の値が望ましい。制御ゲインGcは初期値をパラメータであらかじめ設定しておく。制御ゲインGcの初期値のパラメータの範囲は例えば0.1以上、2以下であってもよい。制御ゲインGcは、後述する図3に示すフローチャートに従って算出してもよい。
 図2は、比較例1に係るレーザ装置101におけるレーザ制御部2によるパルスエネルギEの制御の流れの一例を示すフローチャートである。
 まず、レーザ制御部2は、露光装置コントローラ5又は記憶部51から、目標パルスエネルギEtの読み込みを行う(ステップS101)。次に、レーザ制御部2は、レーザ発振したか否かを判断する(ステップS102)。レーザ制御部2は、レーザ発振していないと判断した場合(ステップS102;N)には、ステップS102の処理を繰り返す。
 一方、レーザ発振したと判断した場合(ステップS102;Y)には、レーザ制御部2は、パルスエネルギ検出器30から、パルスエネルギEの値を読み込む(ステップS103)。
 次に、レーザ制御部2は、パルスエネルギEと目標パルスエネルギEtとの比較を行う(ステップS104)。レーザ制御部2は、パルスエネルギEと目標パルスエネルギEtとが略同じと判断した場合(E=Et)には、現在の充電電圧Vのデータをそのまま充電電圧Vのデータとして(ステップS106)、記憶部51に書き込む(ステップS108)。
 一方、レーザ制御部2は、パルスエネルギEが目標パルスエネルギEtよりも小さいと判断した場合(E<Et)には、以下の式のように、目標パルスエネルギEtとパルスエネルギEとの差(Et-E)に制御ゲインGcを乗じた値を充電電圧Vに加算し、あらたな充電電圧Vとして(ステップS105)、その充電電圧Vのデータを記憶部51に書き込む(ステップS108)。
 V=V+(Et-E)・Gc
 また、レーザ制御部2は、パルスエネルギEが目標パルスエネルギEtよりも大きいと判断した場合(E>Et)には、以下の式のように、パルスエネルギEと目標パルスエネルギEtとの差分(E-Et)に制御ゲインGcを乗じた値を充電電圧Vから減算し、あらたな充電電圧Vとして(ステップS107)、その充電電圧Vのデータを記憶部51に書き込む(ステップS108)。
 V=V-(E-Et)・Gc
 次に、レーザ制御部2は、充電電圧Vが所定の最大値Vmax以上になったか否かを判断する(ステップS109)。レーザ制御部2は、充電電圧Vが所定の最大値Vmax以上になっていないと判断した場合(ステップS109;N)には、ステップS101の処理に戻る。一方、充電電圧Vが所定の最大値Vmax以上になったと判断した場合(ステップS109;Y)には、エネルギ制御の処理を終了する。
(比較例1における制御ゲインの算出処理の具体例)
 図3は、比較例1に係るレーザ装置101におけるレーザ制御部2による制御ゲインGcの算出処理の流れの一例を示すフローチャートである。
 図3の処理は、例えば、露光装置4からの指示、レーザガスの交換後、又はレーザガスのガス圧調整後に行ってもよい。また、一定の期間毎に図3の処理を行ってもよい。
 まず、レーザ制御部2は、露光装置コントローラ5又は記憶部51から、パルス繰り返し周波数Rpの読み込みを行う(ステップS201)。次に、レーザ制御部2は、露光装置コントローラ5又は記憶部51から、発振パルス数Npの読み込みを行う(ステップS202)。発振パルス数Npは、例えば2000パルス以上5000パルス以下が好ましい。
 次に、レーザ制御部2は、目標パルスエネルギEtを基準エネルギEtaに設定する(ステップS203)。レーザ制御部2は、その設定した目標パルスエネルギEtを記憶部51に書き込む。次に、レーザ制御部2は、ゲイン発振の処理を行う(ステップS204)。ここでのゲイン発振の処理としては、後述する図4に示すサブルーチンに示す処理を行う。
 次に、レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値NをN+1に設定する(ステップS205)。
 次に、レーザ制御部2は、パルスエネルギ検出器30から、パルスエネルギEの値を読み込み、記憶部51に、n番目のパルスのパルスエネルギEの値をEanとして書き込む(ステップS206)。
 次に、レーザ制御部2は、充電器90に設定した充電電圧Vの値を記憶部51から読み込み、記憶部51に、n番目のパルスにおける充電電圧Vの値をVanとして書き込む(ステップS207)。
 次に、レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値Nが発振パルス数Npを超えたか否かを判断する(ステップS208)。レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値Nが発振パルス数Npを超えていないと判断した場合(ステップS208;N)には、ステップS204の処理に戻る。
 一方、パルスのカウンタ値Nが発振パルス数Npを超えたと判断した場合(ステップS208;Y)には、レーザ制御部2は、以下の式のように、目標パルスエネルギEtを基準エネルギEtaに設定した場合における平均パルスエネルギAve.Eaと平均充電電圧Ave.Vaとを計算する(ステップS209)。
 Ave.Ea=ΣEan/Np
 Ave.Va=ΣVan/Np
 次に、レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値Nを0に設定する(ステップS210)。次に、レーザ制御部2は、目標パルスエネルギEtを基準エネルギEtbに設定する(ステップS211)。レーザ制御部2は、その設定した目標パルスエネルギEtを記憶部51に書き込む。次に、レーザ制御部2は、ゲイン発振の処理を行う(ステップS212)。ここでのゲイン発振の処理としては、後述する図4に示すサブルーチンに示す処理を行う。
 次に、レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値NをN+1に設定する(ステップS213)。
 次に、レーザ制御部2は、パルスエネルギ検出器30から、パルスエネルギEの値を読み込み、記憶部51に、n番目のパルスのパルスエネルギEの値をEbnとして書き込む(ステップS214)。
 次に、レーザ制御部2は、充電器90に設定した充電電圧Vの値を記憶部51から読み込み、記憶部51に、n番目のパルスにおける充電電圧Vの値をVbnとして書き込む(ステップS215)。
 次に、レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値Nが発振パルス数Npを超えたか否かを判断する(ステップS216)。レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値Nが発振パルス数Npを超えていないと判断した場合(ステップS216;N)には、ステップS212の処理に戻る。
 一方、パルスのカウンタ値Nが発振パルス数Npを超えたと判断した場合(ステップS216;Y)には、レーザ制御部2は、以下の式のように、目標パルスエネルギEtを基準エネルギEtbに設定した場合における平均パルスエネルギAve.Ebと平均充電電圧Ave.Vbとを計算する(ステップS217)。
 Ave.Eb=ΣEbn/Np
 Ave.Vb=ΣVbn/Np
 次に、レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値Nを0に設定する(ステップS218)。
 次に、レーザ制御部2は、以下の式のように、制御ゲインGcの値を計算し(ステップS219)、処理を終了する。
 ΔV/ΔE=(Ave.Vb-Ave.Va)/(Ave.Eb-Ave.Ea)
 Gc=Gs・ΔV/ΔE
 図4は、図3の制御ゲインの算出処理におけるゲイン発振のサブルーチンの一例を示すフローチャートである。
 まず、レーザ制御部2は、記憶部51から、目標パルスエネルギEtの読み込みを行う(ステップS301)。次に、レーザ制御部2は、レーザ発振したか否かを判断する(ステップS302)。レーザ制御部2は、レーザ発振していないと判断した場合(ステップS302;N)には、ステップS302の処理を繰り返す。
 一方、レーザ発振したと判断した場合(ステップS302;Y)には、レーザ制御部2は、パルスエネルギ検出器30から、パルスエネルギEの値を読み込む(ステップS303)。
 次に、レーザ制御部2は、パルスエネルギEと目標パルスエネルギEtとの比較を行う(ステップS304)。レーザ制御部2は、パルスエネルギEと目標パルスエネルギEtとが略同じと判断した場合(E=Et)には、現在の充電電圧Vのデータをそのまま充電電圧Vのデータとする(ステップS306)。
 一方、レーザ制御部2は、パルスエネルギEが目標パルスエネルギEtよりも小さいと判断した場合(E<Et)には、以下の式のように、目標パルスエネルギEtとパルスエネルギEとの差(Et-E)に制御ゲインGcの初期値Gc0を乗じた値を充電電圧Vに加算し、あらたな充電電圧Vとする(ステップS305)。
 V=V+(Et-E)・Gc0
 また、レーザ制御部2は、パルスエネルギEが目標パルスエネルギEtよりも大きいと判断した場合(E>Et)には、以下の式のように、パルスエネルギEと目標パルスエネルギEtとの差分(E-Et)に制御ゲインGcの初期値Gc0を乗じた値を充電電圧Vから減算し、あらたな充電電圧Vとする(ステップS307)。
 V=V-(E-Et)・Gc0
 次に、レーザ制御部2は、充電電圧Vが所定の最大値Vmax以上になったか否かを判断する(ステップS308)。レーザ制御部2は、充電電圧Vが所定の最大値Vmax以上になっていないと判断した場合(ステップS308;N)には、その充電電圧Vのデータを記憶部51に書き込み(ステップS310)、ゲイン発振の処理を終了する。
 一方、充電電圧Vが所定の最大値Vmax以上になったと判断した場合(ステップS308;Y)には、最大値Vmaxを充電電圧Vとして(ステップS309)、その充電電圧Vのデータを記憶部51に書き込み(ステップS310)、ゲイン発振の処理を終了する。
 なお、制御ゲインGcの初期値Gc0は、例えば0.1以上、2以下の値であってもよい。制御ゲインGcを計算した後は、初期値Gc0をその計算した値(Gc0=Gc)にしてもよい。
 図5は、比較例1に係るレーザ装置101におけるパルス毎のパルスエネルギEと充電電圧Vとの計測値の第1の例を示している。図6は、比較例1に係るレーザ装置101における充電電圧Vの変化に対するパルスエネルギEの変化の第1の例を示している。図5において、横軸はパルスレーザ光Lpのパルス番号、縦軸はパルスエネルギE(mJ)及び充電電圧V(kV)を示す。図6において、横軸は充電電圧V(kV)、縦軸はパルスエネルギE(mJ)を示す。
 図5の例では、図3のステップS209で計算される平均パルスエネルギAve.Eaは9mJ、平均充電電圧Ave.Vaは19kVとなっている。また、図3のステップS217で計算される平均パルスエネルギAve.Ebは11mJ、平均充電電圧Ave.Vbは23kVとなっている。
 図6における直線の傾きΔE/ΔVの逆数は、図3のステップS219で計算されるΔV/ΔEに相当する。図6に示したように、傾きΔE/ΔVと、実際の充電電圧VとパルスエネルギEとの関係曲線V-Eとには、ずれが生じ得る。また、傾きΔE/ΔVはパルスエネルギEのばらつきに応じて、変化し得る。このため、図3のステップS209で計算されるΔV/ΔEにもずれが生じ、制御ゲインGcの算出精度が悪くなり得る。
 図7は、比較例1に係るレーザ装置101におけるパルス毎のパルスエネルギEと充電電圧Vとの計測値の第2の例を示している。図8は、比較例1に係るレーザ装置101における充電電圧Vの変化に対するパルスエネルギEの変化の第2の例を示している。図7において、横軸はパルスレーザ光Lpのパルス番号、縦軸はパルスエネルギE(mJ)及び充電電圧V(kV)を示す。図8において、横軸は充電電圧V(kV)、縦軸はパルスエネルギE(mJ)を示す。
 比較例1に係るレーザ装置101において、例えば以下のように、目標パルスエネルギEtの値に応じた複数の制御ゲインGca,Gcbを算出してもよい。
 Et≦10:Gca=Gs・ΔVa/ΔEa
 Et>10:Gcb=Gs・ΔVb/ΔEb
 例えば図7に示したように、レーザ装置101において、3段階に分けてゲイン発振を行い、平均パルスエネルギと平均充電電圧とをそれぞれ3つずつ計算するようにしてもよい。この場合、図8における直線の傾きΔEa/ΔVaの逆数(ΔVa/ΔEa)に基づいて制御ゲインGcaが計算され得る。また、図8における直線の傾きΔEb/ΔVbの逆数(ΔVb/ΔEb)に基づいて制御ゲインGcbが計算され得る。
[1.1.3 比較例1の課題]
 以上のように、比較例1に係るレーザ装置101では、充電電圧VとパルスエネルギEとを階段状に変化させて、制御ゲインGcを算出する。この場合、パルスエネルギEのばらつきに応じて、算出精度が悪くなり得る。制御ゲインGcの算出精度を改善するために、制御ゲインGcを算出する際のパルス数を増やして平均化を実施すると、算出時間が増加し得る。このため、短時間で精度よく制御ゲインGcを算出することができる技術の開発が望まれる。
[1.2 比較例2]
[1.2.1 比較例2の構成]
 図9は、比較例2に係るレーザ装置1の一構成例を概略的に示している。
 比較例2に係るレーザ装置1は、比較例1に係るレーザ装置101におけるレーザ制御部2に、ファンクションジェネレータ52を追加した構成となっている。
 後述するように、レーザ装置1では、レーザ制御部2が制御ゲインGcの算出処理を行う際に、ファンクションジェネレータ52によって、目標パルスエネルギEtを、所定の基準エネルギを変動中心として、変調周波数Fmで周期的に変動させる処理を行う。
 ファンクションジェネレータ52の機能は、ハードウエハで実現してもよいし、ファンクションジェネレータ52の機能に相当するプログラムをレーザ制御部2が実行することにより実現してもよい。
 その他の構成は、比較例1に係るレーザ装置101と略同様であってもよい。
[1.2.2 比較例2の動作]
 レーザ装置1では,制御権がレーザ装置1側にある状態で目標パルスエネルギEtを変調周波数Fmで周期的に変動させたときのパルスエネルギEと充電電圧Vとのデータを記憶部51に記憶する。レーザ装置1では,記憶されたパルスエネルギEと充電電圧Vとのデータ列に対してスペクトル解析を行う。ここで,スペクトル解析はフーリエ解析,離散的フーリエ解析,又は高速フーリエ解析などを用いてもよい。レーザ装置1では,変調周波数FmのパルスエネルギEの振幅成分Ieと、充電電圧Vの振幅成分Ivとを算出する。レーザ装置1では,このときの振幅成分Ieと振幅成分Ivとの関係Iv/Ieに基づいて、制御ゲインGcを算出する。以下、図10を参照して、具体的な算出処理を説明する。
(比較例2における制御ゲインの算出処理の具体例)
 図10は、比較例2に係るレーザ装置1におけるレーザ制御部2による制御ゲインGcの算出処理の流れの一例を示すフローチャートである。
 図10の処理は、例えば、露光装置4からの指示、レーザガスの交換後、又はレーザガスのガス圧調整後に行ってもよい。また、一定の期間毎に図10の処理を行ってもよい。
 まず、レーザ制御部2は、露光装置コントローラ5又は記憶部51から、パルス繰り返し周波数Rpの読み込みを行う(ステップS401)。次に、レーザ制御部2は、露光装置コントローラ5又は記憶部51から、発振パルス数Npの読み込みを行う(ステップS402)。発振パルス数Npは、例えば400パルス以上1500パルス以下が好ましい。発振パルス数Npは、512パルス、1024パルスなど、2の累乗がより好ましい。
 次に、レーザ制御部2は、目標パルスエネルギEtを基準エネルギEtaに設定する(ステップS403)。レーザ制御部2は、その設定した目標パルスエネルギEtを記憶部51に書き込む。
 次に、レーザ制御部2は、ファンクションジェネレータ52によって、以下の式のように、目標パルスエネルギEtを、基準エネルギEtaを変動中心として、周期的に変動させる(ステップS404)。Fmaは、目標パルスエネルギEtの変調周波数である。Rp/Fmaは整数が望ましい。Rp/Fmaの範囲は4以上、10以下が望ましい。振幅ΔIeの範囲は0.5mJ以上、2mJ以下が望ましい。振幅ΔIeは、基準エネルギEtaに対する比率で決定してもよい。例えば、ΔIe=Eta・(5%~10%)としてもよい。
 Et=Eta+ΔIe・sin(N・2・π・Fma/Rp)
 次に、レーザ制御部2は、ゲイン発振の処理を行う(ステップS405)。ここでのゲイン発振の処理は、例えば図4に示すサブルーチンと略同様であってもよい。
 次に、レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値NをN+1に設定する(ステップS406)。
 次に、レーザ制御部2は、パルスエネルギ検出器30から、パルスエネルギEの値を読み込み、記憶部51に、n番目のパルスのパルスエネルギEの値をEanとして書き込む(ステップS407)。
 次に、レーザ制御部2は、充電器90に設定した充電電圧Vの値を記憶部51から読み込み、記憶部51に、n番目のパルスにおける充電電圧Vの値をVanとして書き込む(ステップS408)。
 次に、レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値Nが発振パルス数Npを超えたか否かを判断する(ステップS409)。レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値Nが発振パルス数Npを超えていないと判断した場合(ステップS409;N)には、ステップS404の処理に戻る。
 一方、パルスのカウンタ値Nが発振パルス数Npを超えたと判断した場合(ステップS409;Y)には、レーザ制御部2は、記憶されたパルスエネルギEと充電電圧Vとのデータ列に対して、スペクトル解析を実行し、パルスエネルギEの変調周波数Fmaにおける振幅成分Ieaと、充電電圧Vの変調周波数Fmaにおける振幅成分Ivaとを求める(ステップS410)。スペクトル解析は、フーリエ変換、離散フーリエ変換、又は高速フーリエ変換などを用いてもよい。
 次に、レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値Nを0に設定する(ステップS411)。
 次に、レーザ制御部2は、以下の式のように、制御ゲインGcの値を計算し(ステップS412)、処理を終了する。係数Gsは、制御が発散しないように例えば,0.3以上、1以下の値が望ましい。
 Gc=Gs・ΔV/ΔE=Gs・Iva/Iea
 図11は、比較例2に係るレーザ装置1におけるパルス毎のパルスエネルギEと充電電圧Vとの計測値の一例を示している。図12は、図11におけるパルスエネルギEと充電電圧Vとをスペクトル解析した結果の一例を示している。図11において、横軸はパルスレーザ光Lpのパルス番号、縦軸はパルスエネルギE(mJ)、又は充電電圧V(kV)を示す。比較例2では、パルス繰り返し周波数Rpは一定なので、図11の横軸は時間に相当する。図12において、横軸は周波数(Hz)、縦軸は振幅値を示す。
 図10のステップS410でのスペクトル解析の処理により、例えば図12に示したような振幅成分Iea,Ivaが求められる。
 その他の動作は、比較例1に係るレーザ装置101と略同様であってもよい。
[1.2.2 比較例2の課題]
 図13は、比較例2に係るレーザ装置1における充電電圧Vの変化に対するパルスエネルギEの変化の第1の例を示している。図14は、比較例2に係るレーザ装置1における充電電圧Vの変化に対するパルスエネルギEの変化の第2の例を示している。図13及び図14において、横軸は充電電圧V(kV)、縦軸はパルスエネルギE(mJ)を示す。図14には、パルス繰り返し周波数Rp=4000Hz発振時の特性と、Rp=6000Hz発振時の特性とを示す。
 図13及び図14における直線の傾きΔE/ΔVの逆数は、図3のステップS412で計算される制御ゲインGcにおけるIva/Ieaに相当する。
 図13に示したように、パルスエネルギEの値によって傾きΔE/ΔVが異なるので、ある1つの目標パルスエネルギEtに基づいて制御ゲインGcを算出した場合、エネルギ制御の精度が悪くなり得る。このため、目標パルスエネルギEtの値に応じた複数の制御ゲインGcを算出することが望ましい。
 また、図13に示したように、パルス繰り返し周波数Rpの値によって,傾きΔE/ΔVが異なるので、ある1つのパルス繰り返し周波数Rpに基づいて制御ゲインGcを算出した場合、エネルギ制御の精度が悪くなり得る。このため、複数のパルス繰り返し周波数Rpの値に応じた複数の制御ゲインGcを算出することが望ましい。
<2.実施形態1>(目標パルスエネルギの値に応じた複数の制御ゲインを用いるレーザ装置)
 次に、本開示の実施形態1に係るレーザ装置について説明する。なお、以下では上記比較例に係るレーザ装置の構成要素と略同じ部分については、同一符号を付し、適宜説明を省略する。
[2.1 構成]
 実施形態1に係るレーザ装置は、上記比較例2に係るレーザ装置1と略同様に、比較例1に係るレーザ装置101におけるレーザ制御部2に、ファンクションジェネレータ52を追加した構成であってもよい。
 実施形態1に係るレーザ装置は、上記比較例2に係るレーザ装置1に対して、レーザ制御部2によるエネルギ制御の処理と、制御ゲインGcの算出処理とが異なっている。
 実施形態1に係るレーザ装置では、レーザ制御部2は、目標パルスエネルギEtを、複数の基準エネルギのそれぞれを変動中心として、所定の変調周波数で周期的に変動させるパルスエネルギ制御部であってもよい。複数の基準エネルギは、例えばEta,Etb,Etcであってもよい。所定の変調周波数は例えばFmaであってもよい。
 また、レーザ制御部2は、複数の基準エネルギのそれぞれに対応する複数の制御ゲイン、例えばGca,Gcb,Gccを算出するゲイン算出部であってもよい。
 ゲイン算出部としてのレーザ制御部2は、目標パルスエネルギEtを複数の基準エネルギのそれぞれを変動中心として所定の変調周波数で周期的に変動させた場合におけるパルスエネルギEの振幅成分を算出してもよい。また、レーザ制御部2は、目標パルスエネルギEtを複数の基準エネルギのそれぞれを変動中心として所定の変調周波数で周期的に変動させた場合における一対の放電電極23,24間に印加する印加電圧に対応する充電電圧Vの振幅成分を算出してもよい。算出されるパルスエネルギEの振幅成分は、例えばIea,Ieb,Iecであってもよい。算出される充電電圧Vの振幅成分は、例えばIva,Ivb,Ivcであってもよい。そして、レーザ制御部2は、パルスエネルギEの振幅成分と充電電圧Vの振幅成分とに基づいて、複数の制御ゲインを算出してもよい。
 また、レーザ制御部2は、目標パルスエネルギEt、及びパルスエネルギ検出器30によって検出されたパルスエネルギEに加えてさらに、複数の制御ゲインに基づいて、一対の放電電極23,24間に印加する印加電圧に対応する充電電圧Vを制御する電圧制御部であってもよい。
 その他の構成は、上記比較例に係るレーザ装置と略同様であってもよい。
[2.2 動作]
 レーザ制御部2は、目標パルスエネルギEtを、複数の基準エネルギEta,Etb,Etcのそれぞれを変動中心として、所定の変調周波数Fmaで周期的に変動させることにより、複数の制御ゲインGca,Gcb,Gccを算出してもよい。これにより、例えば以下のように、制御ゲインGcとして、目標パルスエネルギEtの値に応じた複数の制御ゲインGca,Gcb,Gccを算出してもよい。例えば基準エネルギEtaに基づいて制御ゲインGcaを算出してもよい。例えば基準エネルギEtbに基づいて制御ゲインGcbを算出してもよい。例えば基準エネルギEtcに基づいて制御ゲインGccを算出してもよい。各基準エネルギEta,Etb,Etcの大小関係は、Eta<Etb<Etcであってもよい。なお、以下に示す目標パルスエネルギEtの設定値は一例であり、以下に示す値に限定されない。
 Et≦9.5:Gca=Gs・Iva/Iea
 9.5<Et≦10.5:Gcb=Gs・Ivb/Ieb
 10.5<Et:Gcc=Gs・Ivc/Iec
(実施形態1における制御ゲインの算出処理の具体例)
 図15は、実施形態1に係るレーザ装置におけるパルス毎のパルスエネルギEと充電電圧Vとの計測値の一例を示している。図16は、図15におけるパルスエネルギEと充電電圧Vとをスペクトル解析した結果の一例を示している。図15において、横軸はパルスレーザ光Lpのパルス番号、縦軸はパルスエネルギE(mJ)、又は充電電圧V(kV)を示す。実施形態1では、パルス繰り返し周波数Rpは一定なので、図15の横軸は時間に相当する。図16において、横軸は周波数(Hz)、縦軸は振幅値を示す。
 図17は、実施形態1に係るレーザ装置におけるレーザ制御部2による制御ゲインGcの算出処理の流れの一例を示すフローチャートを示している。図18は、図17に続くフローチャートである。図19は、図18に続くフローチャートである。
 図17~図19の処理では、スペクトル解析により、例えば図16に示したようなパルスエネルギEの振幅成分Ie(Iea,Ieb,Iec)と、充電電圧Vの振幅成分Iv(Iva,Ivb,Ivc)とを算出してもよい。
 図17~図19の処理は、例えば、露光装置4からの指示、レーザガスの交換後、又はレーザガスのガス圧調整後に行ってもよい。また、一定の期間毎に処理を行ってもよい。
 図17に示したように、まず、レーザ制御部2は、露光装置コントローラ5又は記憶部51から、パルス繰り返し周波数Rpの読み込みを行う(ステップS401A)。次に、レーザ制御部2は、露光装置コントローラ5又は記憶部51から、発振パルス数Npの読み込みを行う(ステップS402A)。発振パルス数Npは、例えば400パルス以上1500パルス以下が好ましい。発振パルス数Npは、512パルス、1024パルスなど、2の累乗がより好ましい。
 次に、レーザ制御部2は、目標パルスエネルギEtを基準エネルギEtaに設定する(ステップS403A)。レーザ制御部2は、その設定した目標パルスエネルギEtを記憶部51に書き込む。
 次に、レーザ制御部2は、ファンクションジェネレータ52によって、以下の式のように、目標パルスエネルギEtを、基準エネルギEtaを変動中心として、周期的に変動させる(ステップS404A)。Fmaは、目標パルスエネルギEtの変調周波数である。Rp/Fmaは整数が望ましい。Rp/Fmaの範囲は4以上、10以下が望ましい。振幅ΔIeの範囲は0.5mJ以上、2mJ以下が望ましい。振幅ΔIeは、基準エネルギEtaに対する比率で決定してもよい。例えば、ΔIe=Eta・(5%~10%)としてもよい。Rpは例えば6000Hzであってもよい。Fmaは例えば1200Hzであってもよい。
 Et=Eta+ΔIe・sin(N・2・π・Fma/Rp)
 次に、レーザ制御部2は、ゲイン発振の処理を行う(ステップS405A)。ここでのゲイン発振の処理は、例えば図4に示すサブルーチンと略同様であってもよい。
 次に、レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値NをN+1に設定する(ステップS406A)。
 次に、レーザ制御部2は、パルスエネルギ検出器30から、パルスエネルギEの値を読み込み、記憶部51に、n番目のパルスのパルスエネルギEの値をEanとして書き込む(ステップS407A)。
 次に、レーザ制御部2は、充電器90に設定した充電電圧Vの値を記憶部51から読み込み、記憶部51に、n番目のパルスにおける充電電圧Vの値をVanとして書き込む(ステップS408A)。
 次に、レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値Nが発振パルス数Npを超えたか否かを判断する(ステップS409A)。レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値Nが発振パルス数Npを超えていないと判断した場合(ステップS409A;N)には、ステップS404Aの処理に戻る。
 一方、パルスのカウンタ値Nが発振パルス数Npを超えたと判断した場合(ステップS409A;Y)には、レーザ制御部2は、記憶されたパルスエネルギEと充電電圧Vとのデータ列に対して、スペクトル解析を実行し、パルスエネルギEの変調周波数Fmaにおける振幅成分Ieaと、充電電圧Vの変調周波数Fmaにおける振幅成分Ivaとを求める(ステップS410A)。スペクトル解析は、フーリエ変換、離散フーリエ変換、又は高速フーリエ変換などを用いてもよい。
 次に、レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値Nを0に設定する(ステップS411A)。
 次に、レーザ制御部2は、以下の式のように、制御ゲインGcの値Gcaを計算し(ステップS412A)、図18の処理に進む。係数Gsは、制御が発散しないように例えば,0.3以上、1以下の値が望ましい。
 Gca=Gs・ΔV/ΔE=Gs・Iva/Iea
 図18の処理では、まず、レーザ制御部2は、露光装置コントローラ5又は記憶部51から、パルス繰り返し周波数Rpの読み込みを行う(ステップS401B)。次に、レーザ制御部2は、露光装置コントローラ5又は記憶部51から、発振パルス数Npの読み込みを行う(ステップS402B)。発振パルス数Npは、例えば400パルス以上1500パルス以下が好ましい。発振パルス数Npは、512パルス、1024パルスなど、2の累乗がより好ましい。
 次に、レーザ制御部2は、目標パルスエネルギEtを基準エネルギEtbに設定する(ステップS403B)。レーザ制御部2は、その設定した目標パルスエネルギEtを記憶部51に書き込む。
 次に、レーザ制御部2は、ファンクションジェネレータ52によって、以下の式のように、目標パルスエネルギEtを、基準エネルギEtbを変動中心として、周期的に変動させる(ステップS404B)。Fmaは、目標パルスエネルギEtの変調周波数である。Rp/Fmaは整数が望ましい。Rp/Fmaの範囲は4以上、10以下が望ましい。振幅ΔIeの範囲は0.5mJ以上、2mJ以下が望ましい。振幅ΔIeは、基準エネルギEtbに対する比率で決定してもよい。例えば、ΔIe=Etb・(5%~10%)としてもよい。Rpは例えば6000Hzであってもよい。Fmaは例えば1200Hzであってもよい。
 Et=Etb+ΔIe・sin(N・2・π・Fma/Rp)
 次に、レーザ制御部2は、ゲイン発振の処理を行う(ステップS405B)。ここでのゲイン発振の処理は、例えば図4に示すサブルーチンと略同様であってもよい。
 次に、レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値NをN+1に設定する(ステップS406B)。
 次に、レーザ制御部2は、パルスエネルギ検出器30から、パルスエネルギEの値を読み込み、記憶部51に、n番目のパルスのパルスエネルギEの値をEbnとして書き込む(ステップS407B)。
 次に、レーザ制御部2は、充電器90に設定した充電電圧Vの値を記憶部51から読み込み、記憶部51に、n番目のパルスにおける充電電圧Vの値をVbnとして書き込む(ステップS408B)。
 次に、レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値Nが発振パルス数Npを超えたか否かを判断する(ステップS409B)。レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値Nが発振パルス数Npを超えていないと判断した場合(ステップS409B;N)には、ステップS404Bの処理に戻る。
 一方、パルスのカウンタ値Nが発振パルス数Npを超えたと判断した場合(ステップS409B;Y)には、レーザ制御部2は、記憶されたパルスエネルギEと充電電圧Vとのデータ列に対して、スペクトル解析を実行し、パルスエネルギEの変調周波数Fmaにおける振幅成分Iebと、充電電圧Vの変調周波数Fmaにおける振幅成分Ivbとを求める(ステップS410B)。スペクトル解析は、フーリエ変換、離散フーリエ変換、又は高速フーリエ変換などを用いてもよい。
 次に、レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値Nを0に設定する(ステップS411B)。
 次に、レーザ制御部2は、以下の式のように、制御ゲインGcの値Gcbを計算し(ステップS412B)、図19の処理に進む。係数Gsは、制御が発散しないように例えば,0.3以上、1以下の値が望ましい。
 Gcb=Gs・ΔV/ΔE=Gs・Ivb/Ieb
 図19の処理では、まず、レーザ制御部2は、露光装置コントローラ5又は記憶部51から、パルス繰り返し周波数Rpの読み込みを行う(ステップS401C)。次に、レーザ制御部2は、露光装置コントローラ5又は記憶部51から、発振パルス数Npの読み込みを行う(ステップS402C)。発振パルス数Npは、例えば400パルス以上1500パルス以下が好ましい。発振パルス数Npは、512パルス、1024パルスなど、2の累乗がより好ましい。
 次に、レーザ制御部2は、目標パルスエネルギEtを基準エネルギEtcに設定する(ステップS403C)。レーザ制御部2は、その設定した目標パルスエネルギEtを記憶部51に書き込む。
 次に、レーザ制御部2は、ファンクションジェネレータ52によって、以下の式のように、目標パルスエネルギEtを、基準エネルギEtcを変動中心として、周期的に変動させる(ステップS404C)。Fmaは、目標パルスエネルギEtの変調周波数である。Rp/Fmaは整数が望ましい。Rp/Fmaの範囲は4以上、10以下が望ましい。振幅ΔIeの範囲は0.5mJ以上、2mJ以下が望ましい。振幅ΔIeは、基準エネルギEtcに対する比率で決定してもよい。例えば、ΔIe=Etc・(5%~10%)としてもよい。Rpは例えば6000Hzであってもよい。Fmaは例えば1200Hzであってもよい。
 Et=Etc+ΔIe・sin(N・2・π・Fma/Rp)
 次に、レーザ制御部2は、ゲイン発振の処理を行う(ステップS405C)。ここでのゲイン発振の処理は、例えば図4に示すサブルーチンと略同様であってもよい。
 次に、レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値NをN+1に設定する(ステップS406C)。
 次に、レーザ制御部2は、パルスエネルギ検出器30から、パルスエネルギEの値を読み込み、記憶部51に、n番目のパルスのパルスエネルギEの値をEcnとして書き込む(ステップS407C)。
 次に、レーザ制御部2は、充電器90に設定した充電電圧Vの値を記憶部51から読み込み、記憶部51に、n番目のパルスにおける充電電圧Vの値をVcnとして書き込む(ステップS408C)。
 次に、レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値Nが発振パルス数Npを超えたか否かを判断する(ステップS409C)。レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値Nが発振パルス数Npを超えていないと判断した場合(ステップS409C;N)には、ステップS404Cの処理に戻る。
 一方、パルスのカウンタ値Nが発振パルス数Npを超えたと判断した場合(ステップS409C;Y)には、レーザ制御部2は、記憶されたパルスエネルギEと充電電圧Vとのデータ列に対して、スペクトル解析を実行し、パルスエネルギEの変調周波数Fmaにおける振幅成分Iecと、充電電圧Vの変調周波数Fmaにおける振幅成分Ivcとを求める(ステップS410C)。スペクトル解析は、フーリエ変換、離散フーリエ変換、又は高速フーリエ変換などを用いてもよい。
 次に、レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値Nを0に設定する(ステップS411C)。
 次に、レーザ制御部2は、以下の式のように、制御ゲインGcの値Gccを計算し(ステップS412C)、処理を終了する。係数Gsは、制御が発散しないように例えば,0.3以上、1以下の値が望ましい。
 Gcc=Gs・ΔV/ΔE=Gs・Ivc/Iec
(実施形態1におけるエネルギ制御の具体例)
 図20は、実施形態1に係るレーザ装置におけるレーザ制御部2によるパルスエネルギEの制御の流れの一例を示すフローチャートである。
 まず、レーザ制御部2は、露光装置コントローラ5又は記憶部51から、目標パルスエネルギEtの読み込みを行う(ステップS501)。
 次に、レーザ制御部2は、目標パルスエネルギEtが複数の制御ゲインGca,Gcb,Gccのいずれに対応するか判断する(ステップS502)。制御ゲインGca,Gcb,Gccは、上述の図17~図19に示すフローチャートに従って算出してもよい。
 レーザ制御部2は、目標パルスエネルギEtが所定の値以下の場合、例えばEt≦(Eta+Etb)/2であると判断した場合には、制御ゲインGcの値をGcaとする(ステップS503)。
 レーザ制御部2は、目標パルスエネルギEtが所定の範囲の場合、例えば(Eta+Etb)/2<Et≦(Etb+Etc)/2であると判断した場合には、制御ゲインGcの値をGcbとする(ステップS504)。
 レーザ制御部2は、目標パルスエネルギEtが所定の値を超えた場合、例えば(Etb+Etc)/2<Etであると判断した場合には、制御ゲインGcの値をGccとする(ステップS505)。
 次に、レーザ制御部2は、レーザ発振したか否かを判断する(ステップS506)。レーザ制御部2は、レーザ発振していないと判断した場合(ステップS506;N)には、ステップS506の処理を繰り返す。
 一方、レーザ発振したと判断した場合(ステップS506;Y)には、レーザ制御部2は、パルスエネルギ検出器30から、パルスエネルギEの値を読み込む(ステップS507)。
 次に、レーザ制御部2は、パルスエネルギEと目標パルスエネルギEtとの比較を行う(ステップS508)。レーザ制御部2は、パルスエネルギEと目標パルスエネルギEtとが略同じと判断した場合(E=Et)には、現在の充電電圧Vのデータをそのまま充電電圧Vのデータとして(ステップS510)、記憶部51に書き込む(ステップS512)。
 一方、レーザ制御部2は、パルスエネルギEが目標パルスエネルギEtよりも小さいと判断した場合(E<Et)には、以下の式のように、目標パルスエネルギEtとパルスエネルギEとの差(Et-E)に制御ゲインGcを乗じた値を充電電圧Vに加算し、あらたな充電電圧Vとして(ステップS509)、その充電電圧Vのデータを記憶部51に書き込む(ステップS512)。
 V=V+(Et-E)・Gc
 また、レーザ制御部2は、パルスエネルギEが目標パルスエネルギEtよりも大きいと判断した場合(E>Et)には、以下の式のように、パルスエネルギEと目標パルスエネルギEtとの差分(E-Et)に制御ゲインGcを乗じた値を充電電圧Vから減算し、あらたな充電電圧Vとして(ステップS511)、その充電電圧Vのデータを記憶部51に書き込む(ステップS513)。
 V=V-(E-Et)・Gc
 次に、レーザ制御部2は、充電電圧Vが所定の最大値Vmax以上になったか否かを判断する(ステップS513)。レーザ制御部2は、充電電圧Vが所定の最大値Vmax以上になっていないと判断した場合(ステップS513;N)には、ステップS501の処理に戻る。一方、充電電圧Vが所定の最大値Vmax以上になったと判断した場合(ステップS513;Y)には、エネルギ制御の処理を終了する。
 その他の動作は、上記比較例に係るレーザ装置と略同様であってもよい。
[2.3 作用・効果]
 実施形態1のレーザ装置によれば、目標パルスエネルギEtの値に応じた複数の制御ゲインGca,Gcb,Gccを算出するようにしたので、目標パルスエネルギEtを変更した場合におけるパルスエネルギEの制御の精度が改善され得る。
 なお、以上の実施形態1の説明では、レーザ制御部2が、3つの制御ゲインGca,Gcb,Gccを算出し、それら3つの制御ゲインGca,Gcb,Gccに基づいて、エネルギ制御を行う例を述べたが、制御ゲインGcを算出する数は3つに限らず、2又は4以上の数であってもよい。レーザ制御部2は、2又は4以上の制御ゲインGcに基づいて、エネルギ制御を行ってもよい。
<3.実施形態2>(目標パルスエネルギの値と変調周波数の値とに応じた複数の制御ゲインを用いるレーザ装置)
 次に、本開示の実施形態2に係るレーザ装置について説明する。なお、以下では上記比較例、又は実施形態1に係るレーザ装置の構成要素と略同じ部分については、同一符号を付し、適宜説明を省略する。
[3.1 構成]
 実施形態2に係るレーザ装置は、上記比較例2に係るレーザ装置1と略同様に、比較例1に係るレーザ装置101におけるレーザ制御部2に、ファンクションジェネレータ52を追加した構成であってもよい。
 実施形態2に係るレーザ装置は、上記比較例2に係るレーザ装置1に対して、レーザ制御部2によるエネルギ制御の処理と、制御ゲインGcの算出処理とが異なっている。
 実施形態2に係るレーザ装置では、レーザ制御部2は、目標パルスエネルギEtを、複数の基準エネルギのそれぞれを変動中心として、複数の基準エネルギのそれぞれに応じた変調周波数で周期的に変動させるパルスエネルギ制御部であってもよい。複数の基準エネルギは、例えばEta,Etb,Etcであってもよい。複数の基準エネルギのそれぞれに応じた変調周波数は、例えばFma,Fmb,Fmcであってもよい。
 また、レーザ制御部2は、複数の基準エネルギのそれぞれに対応する複数の制御ゲイン、例えばGca,Gcb,Gccを算出するゲイン算出部であってもよい。
 ゲイン算出部としてのレーザ制御部2は、目標パルスエネルギEtを複数の基準エネルギのそれぞれを変動中心として、複数の基準エネルギのそれぞれに応じた変調周波数で周期的に変動させた場合におけるパルスエネルギEの振幅成分を算出してもよい。また、レーザ制御部2は、目標パルスエネルギEtを複数の基準エネルギのそれぞれを変動中心として、複数の基準エネルギのそれぞれに応じた変調周波数で周期的に変動させた場合における一対の放電電極23,24間に印加する印加電圧に対応する充電電圧Vの振幅成分を算出してもよい。算出されるパルスエネルギEの振幅成分は、例えばIea,Ieb,Iecであってもよい。算出される充電電圧Vの振幅成分は、例えばIva,Ivb,Ivcであってもよい。そして、レーザ制御部2は、パルスエネルギEの振幅成分と充電電圧Vの振幅成分とに基づいて、複数の制御ゲインを算出してもよい。
 その他の構成は、上記比較例、又は実施形態1に係るレーザ装置と略同様であってもよい。
[3.2 動作]
 レーザ制御部2は、目標パルスエネルギEtを、複数の基準エネルギEta,Etb,Etcのそれぞれを変動中心として、複数の基準エネルギEta,Etb,Etcのそれぞれに応じた変調周波数Fma,Fmb,Fmcで周期的に変動させることにより、複数の制御ゲインGca,Gcb,Gccを算出してもよい。これにより、例えば以下のように、制御ゲインGcとして、目標パルスエネルギEtの値と変調周波数の値とに応じた複数の制御ゲインGca,Gcb,Gccを算出してもよい。例えば基準エネルギEtaと変調周波数Fmaとに基づいて制御ゲインGcaを算出してもよい。例えば基準エネルギEtbと変調周波数Fmbとに基づいて制御ゲインGcbを算出してもよい。例えば基準エネルギEtcと変調周波数Fmcとに基づいて制御ゲインGccを算出してもよい。各基準エネルギEta,Etb,Etcの大小関係は、Eta<Etb<Etcであってもよい。各変調周波数Fma,Fmb,Fmcの大小関係は、Fma>Fmb>Fmcであってもよい。なお、以下に示す目標パルスエネルギEtの設定値は一例であり、以下に示す値に限定されない。
 Et≦9.5:Gca=Gs・Iva/Iea
 9.5<Et≦10.5:Gcb=Gs・Ivb/Ieb
 10.5<Et:Gcc=Gs・Ivc/Iec
(実施形態2における制御ゲインの算出処理の具体例)
 図21は、本開示の実施形態2に係るレーザ装置におけるパルス毎のパルスエネルギEと充電電圧Vとの計測値の一例を示している。図22は、図21におけるパルスエネルギEと充電電圧Vとをスペクトル解析した結果の一例を示している。図21において、横軸はパルスレーザ光Lpのパルス番号、縦軸はパルスエネルギE(mJ)、又は充電電圧V(kV)を示す。実施形態2では、パルス繰り返し周波数Rpは一定なので、図21の横軸は時間に相当する。図22において、横軸は周波数(Hz)、縦軸は振幅値を示す。
 図23は、実施形態2に係るレーザ装置におけるレーザ制御部2による制御ゲインGcの算出処理の流れの一例を示すフローチャートを示している。図24は、図23に続くフローチャートである。図25は、図24に続くフローチャートである。
 図23~図25の処理では、スペクトル解析により、例えば図22に示したようなパルスエネルギEの振幅成分Ie(Iea,Ieb,Iec)と、充電電圧Vの振幅成分Iv(Iva,Ivb,Ivc)とを算出してもよい。
 図23~図25の処理は、例えば、露光装置4からの指示、レーザガスの交換後、又はレーザガスのガス圧調整後に行ってもよい。また、一定の期間毎に処理を行ってもよい。
 図23に示したように、まず、レーザ制御部2は、露光装置コントローラ5又は記憶部51から、パルス繰り返し周波数Rpの読み込みを行う(ステップS601A)。次に、レーザ制御部2は、露光装置コントローラ5又は記憶部51から、発振パルス数Np=Npaの読み込みを行う(ステップS602A)。発振パルス数Npaは、例えば400パルス以上1500パルス以下が好ましい。発振パルス数Npaは、512パルス、1024パルスなど、2の累乗がより好ましい。
 次に、レーザ制御部2は、目標パルスエネルギEtを基準エネルギEtaに設定する(ステップS603A)。レーザ制御部2は、その設定した目標パルスエネルギEtを記憶部51に書き込む。
 次に、レーザ制御部2は、ファンクションジェネレータ52によって、以下の式のように、目標パルスエネルギEtを、基準エネルギEtaを変動中心として、周期的に変動させる(ステップS604A)。Fmaは、基準エネルギEtaに対応する目標パルスエネルギEtの変調周波数である。Rp/Fmaは整数が望ましい。Rp/Fmaの範囲は4以上、10以下が望ましい。振幅ΔIeの範囲は0.5mJ以上、2mJ以下が望ましい。振幅ΔIeは、基準エネルギEtaに対する比率で決定してもよい。例えば、ΔIe=Eta・(5%~10%)としてもよい。Rpは例えば6000Hzであってもよい。Fmaは例えば1200Hzであってもよい。
 Et=Eta+ΔIe・sin(N・2・π・Fma/Rp)
 次に、レーザ制御部2は、ゲイン発振の処理を行う(ステップS605A)。ここでのゲイン発振の処理は、例えば図4に示すサブルーチンと略同様であってもよい。
 次に、レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値NをN+1に設定する(ステップS606A)。
 次に、レーザ制御部2は、パルスエネルギ検出器30から、パルスエネルギEの値を読み込み、記憶部51に、n番目のパルスのパルスエネルギEの値をEanとして書き込む(ステップS607A)。
 次に、レーザ制御部2は、充電器90に設定した充電電圧Vの値を記憶部51から読み込み、記憶部51に、n番目のパルスにおける充電電圧Vの値をVanとして書き込む(ステップS608A)。
 次に、レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値Nが発振パルス数Np=Npaを超えたか否かを判断する(ステップS609A)。レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値Nが発振パルス数Np=Npaを超えていないと判断した場合(ステップS609A;N)には、ステップS604Aの処理に戻る。
 一方、パルスのカウンタ値Nが発振パルス数Np=Npaを超えたと判断した場合(ステップS609A;Y)には、レーザ制御部2は、図24の処理に進む。
 図24の処理では、まず、レーザ制御部2は、露光装置コントローラ5又は記憶部51から、パルス繰り返し周波数Rpの読み込みを行う(ステップS601B)。次に、レーザ制御部2は、露光装置コントローラ5又は記憶部51から、発振パルス数Np=Npbの読み込みを行う(ステップS602B)。発振パルス数Npbは、例えば400パルス以上1500パルス以下が好ましい。発振パルス数Npbは、512パルス、1024パルスなど、2の累乗がより好ましい。
 次に、レーザ制御部2は、目標パルスエネルギEtを基準エネルギEtbに設定する(ステップS603B)。レーザ制御部2は、その設定した目標パルスエネルギEtを記憶部51に書き込む。
 次に、レーザ制御部2は、ファンクションジェネレータ52によって、以下の式のように、目標パルスエネルギEtを、基準エネルギEtbを変動中心として、周期的に変動させる(ステップS604B)。Fmbは、基準エネルギEtbに対応する目標パルスエネルギEtの変調周波数である。Rp/Fmbは整数が望ましい。Rp/Fmbの範囲は4以上、10以下が望ましい。振幅ΔIeの範囲は0.5mJ以上、2mJ以下が望ましい。振幅ΔIeは、基準エネルギEtbに対する比率で決定してもよい。例えば、ΔIe=Etb・(5%~10%)としてもよい。Rpは例えば6000Hzであってもよい。Fmbは例えば1000Hzであってもよい。
 Et=Etb+ΔIe・sin(N・2・π・Fmb/Rp)
 次に、レーザ制御部2は、ゲイン発振の処理を行う(ステップS605B)。ここでのゲイン発振の処理は、例えば図4に示すサブルーチンと略同様であってもよい。
 次に、レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値NをN+1に設定する(ステップS606B)。
 次に、レーザ制御部2は、パルスエネルギ検出器30から、パルスエネルギEの値を読み込み、記憶部51に、n番目のパルスのパルスエネルギEの値をEbnとして書き込む(ステップS607B)。
 次に、レーザ制御部2は、充電器90に設定した充電電圧Vの値を記憶部51から読み込み、記憶部51に、n番目のパルスにおける充電電圧Vの値をVbnとして書き込む(ステップS608B)。
 次に、レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値Nが発振パルス数Np=Npbを超えたか否かを判断する(ステップS609B)。レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値Nが発振パルス数Np=Npbを超えていないと判断した場合(ステップS609B;N)には、ステップS604Bの処理に戻る。
 一方、パルスのカウンタ値Nが発振パルス数Np=Npbを超えたと判断した場合(ステップS609B;Y)には、レーザ制御部2は、図25の処理に進む。
 図25の処理では、まず、レーザ制御部2は、露光装置コントローラ5又は記憶部51から、パルス繰り返し周波数Rpの読み込みを行う(ステップS601C)。次に、レーザ制御部2は、露光装置コントローラ5又は記憶部51から、発振パルス数Np=Npcの読み込みを行う(ステップS602C)。発振パルス数Npcは、例えば400パルス以上1500パルス以下が好ましい。発振パルス数Npcは、512パルス、1024パルスなど、2の累乗がより好ましい。
 次に、レーザ制御部2は、目標パルスエネルギEtを基準エネルギEtcに設定する(ステップS603C)。レーザ制御部2は、その設定した目標パルスエネルギEtを記憶部51に書き込む。
 次に、レーザ制御部2は、ファンクションジェネレータ52によって、以下の式のように、目標パルスエネルギEtを、基準エネルギEtcを変動中心として、周期的に変動させる(ステップS604C)。Fmcは、基準エネルギEtcに対応する目標パルスエネルギEtの変調周波数である。Rp/Fmcは整数が望ましい。Rp/Fmcの範囲は4以上、10以下が望ましい。振幅ΔIeの範囲は0.5mJ以上、2mJ以下が望ましい。振幅ΔIeは、基準エネルギEtcに対する比率で決定してもよい。例えば、ΔIe=Etc・(5%~10%)としてもよい。Rpは例えば6000Hzであってもよい。Fmcは例えば600Hzであってもよい。
 Et=Etc+ΔIe・sin(N・2・π・Fmc/Rp)
 次に、レーザ制御部2は、ゲイン発振の処理を行う(ステップS605C)。ここでのゲイン発振の処理は、例えば図4に示すサブルーチンと略同様であってもよい。
 次に、レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値NをN+1に設定する(ステップS606C)。
 次に、レーザ制御部2は、パルスエネルギ検出器30から、パルスエネルギEの値を読み込み、記憶部51に、n番目のパルスのパルスエネルギEの値をEcnとして書き込む(ステップS607C)。
 次に、レーザ制御部2は、充電器90に設定した充電電圧Vの値を記憶部51から読み込み、記憶部51に、n番目のパルスにおける充電電圧Vの値をVcnとして書き込む(ステップS608C)。
 次に、レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値Nが発振パルス数Np=Npcを超えたか否かを判断する(ステップS609C)。レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値Nが発振パルス数Np=Npcを超えていないと判断した場合(ステップS609C;N)には、ステップS604Cの処理に戻る。
 一方、パルスのカウンタ値Nが発振パルス数Np=Npcを超えたと判断した場合(ステップS609C;Y)には、レーザ制御部2は、記憶されたパルスエネルギEと充電電圧Vとのデータ列に対して、スペクトル解析を実行し、複数の変調周波数Fma,Fmb,FmcにおけるそれぞれのパルスエネルギEの振幅成分Iea,Ieb,Iecと、複数の変調周波数Fma,Fmb,Fmcにおけるそれぞれの充電電圧Vの振幅成分Iva,Ivb,Ivcとをまとめて求める(ステップS610C)。スペクトル解析は、フーリエ変換、離散フーリエ変換、又は高速フーリエ変換などを用いてもよい。
 次に、レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値Nを0に設定する(ステップS611C)。
 次に、レーザ制御部2は、以下の式のように、複数の制御ゲインGcの値Gca,Gcb,Gccをまとめて計算し(ステップS612C)、処理を終了する。係数Gsは、制御が発散しないように例えば,0.3以上、1以下の値が望ましい。
 Gca=Gs・ΔV/ΔE=Gs・Iva/Iea
 Gcb=Gs・ΔV/ΔE=Gs・Ivb/Ieb
 Gcc=Gs・ΔV/ΔE=Gs・Ivc/Iec
(実施形態2におけるエネルギ制御の具体例)
 実施形態2におけるエネルギ制御は、図20に示した制御と略同様であってもよい。図20の制御を行うに際し、制御ゲインGca,Gcb,Gccを、上述の図23~図25に示すフローチャートに従って算出してもよい。
 その他の動作は、上記比較例、又は実施形態1に係るレーザ装置と略同様であってもよい。
[3.3 作用・効果]
 実施形態2のレーザ装置によれば、目標パルスエネルギEtの値に応じた複数の制御ゲインGca,Gcb,Gccを算出するようにしたので、目標パルスエネルギEtを変更した場合におけるパルスエネルギEの制御の精度が改善され得る。この際、目標パルスエネルギEtの値を変えた際のパルスエネルギEの振幅成分Ieと充電電圧Eの振幅成分Ivとを、最後にまとめてスペクトル解析を行うことで求めることができるので、複数の制御ゲインGca,Gcb,Gccを算出するのに要する処理時間を短縮し得る。
 なお、以上の実施形態2の説明では、レーザ制御部2が、3つの制御ゲインGca,Gcb,Gccを算出し、それら3つの制御ゲインGca,Gcb,Gccに基づいて、エネルギ制御を行う例を述べたが、制御ゲインGcを算出する数は3つに限らず、2又は4以上の数であってもよい。レーザ制御部2は、2又は4以上の制御ゲインGcに基づいて、エネルギ制御を行ってもよい。
 その他の作用・効果は、上記比較例、又は実施形態1に係るレーザ装置と略同様であってもよい。
<4.実施形態3>(パルス繰り返し周波数の値に応じた複数の制御ゲインを用いるレーザ装置)
 次に、本開示の実施形態3に係るレーザ装置について説明する。なお、以下では上記比較例、実施形態1、又は実施形態2に係るレーザ装置の構成要素と略同じ部分については、同一符号を付し、適宜説明を省略する。
[4.1 構成]
 実施形態3に係るレーザ装置は、上記比較例2に係るレーザ装置1と略同様に、比較例1に係るレーザ装置101におけるレーザ制御部2に、ファンクションジェネレータ52を追加した構成であってもよい。
 実施形態3に係るレーザ装置は、上記比較例2に係るレーザ装置1に対して、レーザ制御部2によるエネルギ制御の処理と、制御ゲインGcの算出処理とが異なっている。
 実施形態3に係るレーザ装置では、レーザ制御部2は、目標パルスエネルギEtを、所定の基準エネルギを変動中心として、複数のパルス繰り返し周波数のそれぞれに応じた変調周波数で周期的に変動させるパルスエネルギ制御部であってもよい。所定の基準エネルギは、例えばEtaであってもよい。複数のパルス繰り返し周波数は、例えばRpa,Rpb,Rpcであってもよい。複数のパルス繰り返し周波数のそれぞれに応じた変調周波数は、例えばFma,Fmb,Fmcであってもよい。
 また、レーザ制御部2は、複数のパルス繰り返し周波数のそれぞれに対応する複数の制御ゲイン、例えばGca,Gcb,Gccを算出するゲイン算出部であってもよい。
 ゲイン算出部としてのレーザ制御部2は、目標パルスエネルギEtを所定の基準エネルギを変動中心として、複数のパルス繰り返し周波数のそれぞれに応じた変調周波数で周期的に変動させた場合におけるパルスエネルギEの振幅成分を算出してもよい。また、レーザ制御部2は、目標パルスエネルギEtを所定の基準エネルギを変動中心として、複数のパルス繰り返し周波数のそれぞれに応じた変調周波数で周期的に変動させた場合における一対の放電電極23,24間に印加する印加電圧に対応する充電電圧Vの振幅成分を算出してもよい。算出されるパルスエネルギEの振幅成分は、例えばIea,Ieb,Iecであってもよい。算出される充電電圧Vの振幅成分は、例えばIva,Ivb,Ivcであってもよい。そして、レーザ制御部2は、パルスエネルギEの振幅成分と充電電圧Vの振幅成分とに基づいて、複数の制御ゲインを算出してもよい。
 レーザチャンバ20は、一対の放電電極23,24間に印加された印加電圧に応じたパルスエネルギEを有するパルスレーザ光Lpを、複数のパルス繰り返し周波数における各周波数で出射してもよい。
 その他の構成は、上記比較例、実施形態1、又は実施形態2に係るレーザ装置と略同様であってもよい。
[4.2 動作]
 レーザ制御部2は、目標パルスエネルギEtを、所定の基準エネルギEtaを変動中心として、複数のパルス繰り返し周波数Rpa,Rpb,Rpcのそれぞれに応じた変調周波数Fma,Fmb,Fmcで周期的に変動させることにより、複数の制御ゲインGca,Gcb,Gccを算出してもよい。これにより、例えば以下のように、制御ゲインGcとして、複数のパルス繰り返し周波数Rpa,Rpb,Rpcに応じた複数の制御ゲインGca,Gcb,Gccを算出してもよい。例えばパルス繰り返し周波数Rpaに応じた変調周波数をFmaとし、パルス繰り返し周波数Rpbに応じた変調周波数をFmbとし、パルス繰り返し周波数Rpcに応じた変調周波数をFmcとしてもよい。各変調周波数Fma,Fmb,Fmcの大小関係は、Fma>Fmb>Fmcであってもよい。各パルス繰り返し周波数Rpa,Rpb,Rpcの大小関係は、Rpa>Rpb>Rpcであってもよい。パルス繰り返し周波数Rpaは、例えば6000Hzであってもよい。パルス繰り返し周波数Rpbは、例えば5000Hzであってもよい。パルス繰り返し周波数Rpcは、例えば3000Hzであってもよい。なお、ここで挙げた複数のパルス繰り返し周波数Rpa,Rpb,Rpcの値は一例であり、これらの値に限定されない。
 Rpa:Gca=Gs・Iva/Iea
 Rpb:Gcb=Gs・Ivb/Ieb
 Rpc:Gcc=Gs・Ivc/Iec
(実施形態3における制御ゲインの算出処理の具体例)
 図26は、本開示の実施形態3に係るレーザ装置におけるパルス毎のパルスエネルギEと充電電圧Vとの計測値の一例を示している。図27は、実施形態3に係るレーザ装置における単位時間毎のパルスエネルギEと充電電圧Vとの計測値の一例を示す。図28は、図26におけるパルスエネルギEと充電電圧Vとをスペクトル解析した結果の一例を示している。図26において、横軸はパルスレーザ光Lpのパルス番号、縦軸はパルスエネルギE(mJ)、又は充電電圧V(kV)を示す。図27は、図26の横軸を時間に換算した計測値を示している。図28において、横軸は周波数(Hz)、縦軸は振幅値を示す。
 図29は、実施形態3に係るレーザ装置におけるレーザ制御部2による制御ゲインGcの算出処理の流れの一例を示すフローチャートを示している。図30は、図29に続くフローチャートである。図31は、図30に続くフローチャートである。
 図29~図31の処理では、スペクトル解析により、例えば図28に示したようなパルスエネルギEの振幅成分Ie(Iea,Ieb,Iec)と、充電電圧Vの振幅成分Iv(Iva,Ivb,Ivc)とを算出してもよい。
 図29~図31の処理は、例えば、露光装置4からの指示、レーザガスの交換後、又はレーザガスのガス圧調整後に行ってもよい。また、一定の期間毎に処理を行ってもよい。
 図29に示したように、まず、レーザ制御部2は、露光装置コントローラ5又は記憶部51から、パルス繰り返し周波数Rp=Rpaの読み込みを行う(ステップS701A)。次に、レーザ制御部2は、露光装置コントローラ5又は記憶部51から、発振パルス数Npの読み込みを行う(ステップS702A)。発振パルス数Npは、例えば400パルス以上1500パルス以下が好ましい。発振パルス数Npは、512パルス、1024パルスなど、2の累乗がより好ましい。
 次に、レーザ制御部2は、目標パルスエネルギEtを基準エネルギEtaに設定する(ステップS703A)。レーザ制御部2は、その設定した目標パルスエネルギEtを記憶部51に書き込む。
 次に、レーザ制御部2は、ファンクションジェネレータ52によって、以下の式のように、目標パルスエネルギEtを、基準エネルギEtaを変動中心として、周期的に変動させる(ステップS704A)。Fmaは、パルス繰り返し周波数Rpaに対応する目標パルスエネルギEtの変調周波数である。Rpa/Fmaは整数が望ましい。Rpa/Fmaの範囲は4以上、10以下が望ましい。振幅ΔIeの範囲は0.5mJ以上、2mJ以下が望ましい。振幅ΔIeは、基準エネルギEtaに対する比率で決定してもよい。例えば、ΔIe=Eta・(5%~10%)としてもよい。Rpaは例えば6000Hzであってもよい。Fmaは例えば1200Hzであってもよい。
 Et=Eta+ΔIe・sin(N・2・π・Fma/Rpa)
 次に、レーザ制御部2は、ゲイン発振の処理を行う(ステップS705A)。ここでのゲイン発振の処理は、例えば図4に示すサブルーチンと略同様であってもよい。
 次に、レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値NをN+1に設定する(ステップS706A)。
 次に、レーザ制御部2は、パルスエネルギ検出器30から、パルスエネルギEの値を読み込み、記憶部51に、n番目のパルスのパルスエネルギEの値をEanとして書き込む(ステップS707A)。
 次に、レーザ制御部2は、充電器90に設定した充電電圧Vの値を記憶部51から読み込み、記憶部51に、n番目のパルスにおける充電電圧Vの値をVanとして書き込む(ステップS708A)。
 次に、レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値Nが発振パルス数Npを超えたか否かを判断する(ステップS709A)。レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値Nが発振パルス数Npを超えていないと判断した場合(ステップS709A;N)には、ステップS704Aの処理に戻る。
 一方、パルスのカウンタ値Nが発振パルス数Npを超えたと判断した場合(ステップS709A;Y)には、レーザ制御部2は、記憶されたパルスエネルギEと充電電圧Vとのデータ列に対して、スペクトル解析を実行し、パルスエネルギEの変調周波数Fmaにおける振幅成分Ieaと、充電電圧Vの変調周波数Fmaにおける振幅成分Ivaとを求める(ステップS710A)。スペクトル解析は、フーリエ変換、離散フーリエ変換、又は高速フーリエ変換などを用いてもよい。
 次に、レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値Nを0に設定する(ステップS711A)。
 次に、レーザ制御部2は、以下の式のように、制御ゲインGcの値Gcaを計算し(ステップS712A)、図30の処理に進む。係数Gsは、制御が発散しないように例えば,0.3以上、1以下の値が望ましい。
 Gca=Gs・ΔV/ΔE=Gs・Iva/Iea
 図30の処理では、まず、レーザ制御部2は、露光装置コントローラ5又は記憶部51から、パルス繰り返し周波数Rp=Rpbの読み込みを行う(ステップS701B)。次に、レーザ制御部2は、露光装置コントローラ5又は記憶部51から、発振パルス数Npの読み込みを行う(ステップS702B)。発振パルス数Npは、例えば400パルス以上1500パルス以下が好ましい。発振パルス数Npは、512パルス、1024パルスなど、2の累乗がより好ましい。
 次に、レーザ制御部2は、目標パルスエネルギEtを基準エネルギEtaに設定する(ステップS703B)。レーザ制御部2は、その設定した目標パルスエネルギEtを記憶部51に書き込む。
 次に、レーザ制御部2は、ファンクションジェネレータ52によって、以下の式のように、目標パルスエネルギEtを、基準エネルギEtaを変動中心として、周期的に変動させる(ステップS704B)。Fmbは、パルス繰り返し周波数Rpbに対応する目標パルスエネルギEtの変調周波数である。Rpb/Fmbは整数が望ましい。Rpb/Fmbの範囲は4以上、10以下が望ましい。振幅ΔIeの範囲は0.5mJ以上、2mJ以下が望ましい。振幅ΔIeは、基準エネルギEtaに対する比率で決定してもよい。例えば、ΔIe=Eta・(5%~10%)としてもよい。Rpbは例えば5000Hzであってもよい。Fmbは例えば1000Hzであってもよい。
 Et=Eta+ΔIe・sin(N・2・π・Fmb/Rpb)
 次に、レーザ制御部2は、ゲイン発振の処理を行う(ステップS705B)。ここでのゲイン発振の処理は、例えば図4に示すサブルーチンと略同様であってもよい。
 次に、レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値NをN+1に設定する(ステップS706B)。
 次に、レーザ制御部2は、パルスエネルギ検出器30から、パルスエネルギEの値を読み込み、記憶部51に、n番目のパルスのパルスエネルギEの値をEbnとして書き込む(ステップS707B)。
 次に、レーザ制御部2は、充電器90に設定した充電電圧Vの値を記憶部51から読み込み、記憶部51に、n番目のパルスにおける充電電圧Vの値をVbnとして書き込む(ステップS708B)。
 次に、レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値Nが発振パルス数Npを超えたか否かを判断する(ステップS709B)。レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値Nが発振パルス数Npを超えていないと判断した場合(ステップS709B;N)には、ステップS704Bの処理に戻る。
 一方、パルスのカウンタ値Nが発振パルス数Npを超えたと判断した場合(ステップS709B;Y)には、レーザ制御部2は、記憶されたパルスエネルギEと充電電圧Vとのデータ列に対して、スペクトル解析を実行し、パルスエネルギEの変調周波数Fmbにおける振幅成分Iebと、充電電圧Vの変調周波数Fmbにおける振幅成分Ivbとを求める(ステップS710B)。スペクトル解析は、フーリエ変換、離散フーリエ変換、又は高速フーリエ変換などを用いてもよい。
 次に、レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値Nを0に設定する(ステップS711B)。
 次に、レーザ制御部2は、以下の式のように、制御ゲインGcの値Gcbを計算し(ステップS712B)、図31の処理に進む。係数Gsは、制御が発散しないように例えば,0.3以上、1以下の値が望ましい。
 Gcb=Gs・ΔV/ΔE=Gs・Ivb/Ieb
 図31の処理では、まず、レーザ制御部2は、露光装置コントローラ5又は記憶部51から、パルス繰り返し周波数Rp=Rpcの読み込みを行う(ステップS701C)。次に、レーザ制御部2は、露光装置コントローラ5又は記憶部51から、発振パルス数Npの読み込みを行う(ステップS702C)。発振パルス数Npは、例えば400パルス以上1500パルス以下が好ましい。発振パルス数Npは、512パルス、1024パルスなど、2の累乗がより好ましい。
 次に、レーザ制御部2は、目標パルスエネルギEtを基準エネルギEtaに設定する(ステップS703C)。レーザ制御部2は、その設定した目標パルスエネルギEtを記憶部51に書き込む。
 次に、レーザ制御部2は、ファンクションジェネレータ52によって、以下の式のように、目標パルスエネルギEtを、基準エネルギEtaを変動中心として、周期的に変動させる(ステップS704C)。Fmcは、パルス繰り返し周波数Rpcに対応する目標パルスエネルギEtの変調周波数である。Rpc/Fmcは整数が望ましい。Rpc/Fmcの範囲は4以上、10以下が望ましい。振幅ΔIeの範囲は0.5mJ以上、2mJ以下が望ましい。振幅ΔIeは、基準エネルギEtaに対する比率で決定してもよい。例えば、ΔIe=Eta・(5%~10%)としてもよい。Rpcは例えば3000Hzであってもよい。Fmcは例えば600Hzであってもよい。
 Et=Eta+ΔIe・sin(N・2・π・Fmc/Rpc)
 次に、レーザ制御部2は、ゲイン発振の処理を行う(ステップS705C)。ここでのゲイン発振の処理は、例えば図4に示すサブルーチンと略同様であってもよい。
 次に、レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値NをN+1に設定する(ステップS706C)。
 次に、レーザ制御部2は、パルスエネルギ検出器30から、パルスエネルギEの値を読み込み、記憶部51に、n番目のパルスのパルスエネルギEの値をEcnとして書き込む(ステップS707C)。
 次に、レーザ制御部2は、充電器90に設定した充電電圧Vの値を記憶部51から読み込み、記憶部51に、n番目のパルスにおける充電電圧Vの値をVcnとして書き込む(ステップS708C)。
 次に、レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値Nが発振パルス数Npを超えたか否かを判断する(ステップS709C)。レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値Nが発振パルス数Npを超えていないと判断した場合(ステップS709C;N)には、ステップS704Cの処理に戻る。
 一方、パルスのカウンタ値Nが発振パルス数Npを超えたと判断した場合(ステップS709C;Y)には、レーザ制御部2は、記憶されたパルスエネルギEと充電電圧Vとのデータ列に対して、スペクトル解析を実行し、パルスエネルギEの変調周波数Fmcにおける振幅成分Iecと、充電電圧Vの変調周波数Fmcにおける振幅成分Ivcとを求める(ステップS710C)。スペクトル解析は、フーリエ変換、離散フーリエ変換、又は高速フーリエ変換などを用いてもよい。
 次に、レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値Nを0に設定する(ステップS711C)。
 次に、レーザ制御部2は、以下の式のように、制御ゲインGcの値Gccを計算し(ステップS712C)、処理を終了する。係数Gsは、制御が発散しないように例えば,0.3以上、1以下の値が望ましい。
 Gcc=Gs・ΔV/ΔE=Gs・Ivc/Iec
(実施形態3におけるエネルギ制御の具体例)
 図32は、実施形態3に係るレーザ装置におけるレーザ制御部2によるパルスエネルギの制御の流れの一例を示すフローチャートを示している。
 まず、レーザ制御部2は、露光装置コントローラ5又は記憶部51から、パルス繰り返し周波数Rpの読み込みを行う(ステップS800)。
 次に、レーザ制御部2は、露光装置コントローラ5又は記憶部51から、目標パルスエネルギEtの読み込みを行う(ステップS801)。
 次に、レーザ制御部2は、パルス繰り返し周波数Rpが複数の制御ゲインGca,Gcb,Gccのいずれに対応するか判断する(ステップS802)。制御ゲインGca,Gcb,Gccは、上述の図29~図31に示すフローチャートに従って算出してもよい。
 レーザ制御部2は、パルス繰り返し周波数Rpが所定の値を超えた場合、例えば(Rpb+Rpa)/2<Rpであると判断した場合には、制御ゲインGcの値をGcaとする(ステップS803)。
 レーザ制御部2は、目標パルスエネルギEtが所定の範囲の場合、例えば(Rpc+Rpb)/2<Rp≦(Rpb+Rpa)/2であると判断した場合には、制御ゲインGcの値をGcbとする(ステップS804)。
 レーザ制御部2は、パルス繰り返し周波数Rpが所定の値以下の場合、例えばRp≦(Rpc+Rpb)/2であると判断した場合には、制御ゲインGcの値をGccとする(ステップS805)。
 次に、レーザ制御部2は、レーザ発振したか否かを判断する(ステップS806)。レーザ制御部2は、レーザ発振していないと判断した場合(ステップS806;N)には、ステップS806の処理を繰り返す。
 一方、レーザ発振したと判断した場合(ステップS806;Y)には、レーザ制御部2は、パルスエネルギ検出器30から、パルスエネルギEの値を読み込む(ステップS807)。
 次に、レーザ制御部2は、パルスエネルギEと目標パルスエネルギEtとの比較を行う(ステップS808)。レーザ制御部2は、パルスエネルギEと目標パルスエネルギEtとが略同じと判断した場合(E=Et)には、現在の充電電圧Vのデータをそのまま充電電圧Vのデータとして(ステップS810)、記憶部51に書き込む(ステップS812)。
 一方、レーザ制御部2は、パルスエネルギEが目標パルスエネルギEtよりも小さいと判断した場合(E<Et)には、以下の式のように、目標パルスエネルギEtとパルスエネルギEとの差(Et-E)に制御ゲインGcを乗じた値を充電電圧Vに加算し、あらたな充電電圧Vとして(ステップS809)、その充電電圧Vのデータを記憶部51に書き込む(ステップS812)。
 V=V+(Et-E)・Gc
 また、レーザ制御部2は、パルスエネルギEが目標パルスエネルギEtよりも大きいと判断した場合(E>Et)には、以下の式のように、パルスエネルギEと目標パルスエネルギEtとの差分(E-Et)に制御ゲインGcを乗じた値を充電電圧Vから減算し、あらたな充電電圧Vとして(ステップS811)、その充電電圧Vのデータを記憶部51に書き込む(ステップS813)。
 V=V-(E-Et)・Gc
 次に、レーザ制御部2は、充電電圧Vが所定の最大値Vmax以上になったか否かを判断する(ステップS813)。レーザ制御部2は、充電電圧Vが所定の最大値Vmax以上になっていないと判断した場合(ステップS813;N)には、ステップS801の処理に戻る。一方、充電電圧Vが所定の最大値Vmax以上になったと判断した場合(ステップS813;Y)には、エネルギ制御の処理を終了する。
 その他の動作は、上記比較例、実施形態1、又は実施形態2に係るレーザ装置と略同様であってもよい。
[4.3 作用・効果]
 実施形態3のレーザ装置によれば、複数のパルス繰り返し周波数Rpa,Rpb,Rpcに応じた複数の制御ゲインGca,Gcb,Gccを算出するようにしたので、パルス繰り返し周波数Rpを変更した場合におけるパルスエネルギEの制御の精度が改善され得る。
 なお、以上の実施形態3の説明では、レーザ制御部2が、3つのパルス繰り返し周波数Rpa,Rpb,Rpcに基づいて、3つの制御ゲインGca,Gcb,Gccを算出する例を述べたが、パルス繰り返し周波数Rpの数は、2又は4以上の数であってもよい。算出する制御ゲインGcの数は、それら複数のパルス繰り返し周波数Rpの数に応じて2又は4以上の数であってもよい。レーザ制御部2は、2又は4以上の制御ゲインGcに基づいて、エネルギ制御を行ってもよい。
 その他の作用・効果は、上記比較例、実施形態1、又は実施形態2に係るレーザ装置と略同様であってもよい。
<5.実施形態4>(目標パルスエネルギの値とパルス繰り返し周波数の値とに応じた複数の制御ゲインを用いるレーザ装置)
 次に、本開示の実施形態4に係るレーザ装置について説明する。なお、以下では上記比較例、実施形態1、実施形態2、又は実施形態3に係るレーザ装置の構成要素と略同じ部分については、同一符号を付し、適宜説明を省略する。
[5.1 構成]
 実施形態4に係るレーザ装置は、上記比較例2に係るレーザ装置1と略同様に、比較例1に係るレーザ装置101におけるレーザ制御部2に、ファンクションジェネレータ52を追加した構成であってもよい。
 実施形態4に係るレーザ装置は、上記比較例2に係るレーザ装置1に対して、レーザ制御部2によるエネルギ制御の処理と、制御ゲインGcの算出処理とが異なっている。
 実施形態4に係るレーザ装置では、レーザ制御部2は、目標パルスエネルギEtを、複数の基準エネルギのそれぞれを変動中心として、複数のパルス繰り返し周波数のそれぞれに応じた変調周波数で周期的に変動させるパルスエネルギ制御部であってもよい。複数の基準エネルギは、例えばEta,Etb,Etcであってもよい。複数のパルス繰り返し周波数は、例えばRpa,Rpb,Rpcであってもよい。複数のパルス繰り返し周波数のそれぞれに応じた変調周波数は、例えばFma,Fmb,Fmcであってもよい。
 また、レーザ制御部2は、複数の基準エネルギのそれぞれと複数のパルス繰り返し周波数のそれぞれとに対応する複数の制御ゲイン、例えばGcaa,Gcba,Gcca,Gcab,Gcbb,Gcac,Gcbc,Gcccを算出するゲイン算出部であってもよい。
 ゲイン算出部としてのレーザ制御部2は、目標パルスエネルギEtを複数の基準エネルギのそれぞれを変動中心として、複数のパルス繰り返し周波数のそれぞれに応じた変調周波数で周期的に変動させた場合におけるパルスエネルギEの振幅成分を算出してもよい。また、レーザ制御部2は、目標パルスエネルギEtを複数の基準エネルギのそれぞれを変動中心として、複数のパルス繰り返し周波数のそれぞれに応じた変調周波数で周期的に変動させた場合における一対の放電電極23,24間に印加する印加電圧に対応する充電電圧Vの振幅成分を算出してもよい。算出されるパルスエネルギEの振幅成分は、例えばIeaa,Ieab,Ieac,Ieba,Iebb,Iebc,Ieca,Iecb,Ieccであってもよい。算出される充電電圧Vの振幅成分は、例えばIvaa,Ivab,Ivac,Ivba,Ivbb,Ivbc,Ivca,Ivcb,Ivccであってもよい。そして、レーザ制御部2は、パルスエネルギEの振幅成分と充電電圧Vの振幅成分とに基づいて、複数の制御ゲインを算出してもよい。
 レーザチャンバ20は、一対の放電電極23,24間に印加された印加電圧に応じたパルスエネルギEを有するパルスレーザ光Lpを、複数のパルス繰り返し周波数における各周波数で出射してもよい。
 その他の構成は、上記比較例、実施形態1、実施形態2、又は実施形態3に係るレーザ装置と略同様であってもよい。
[5.2 動作]
 レーザ制御部2は、目標パルスエネルギEtを、複数の基準エネルギEta,Etb,Etcのそれぞれを変動中心として、複数のパルス繰り返し周波数Rpa,Rpb,Rpcのそれぞれに応じた変調周波数Fma,Fmb,Fmcで周期的に変動させることにより、複数の制御ゲインGcaa,Gcba,Gcca,Gcab,Gcbb,Gcac,Gcbc,Gcccを算出してもよい。これにより、例えば以下のように、制御ゲインGcとして、目標パルスエネルギEtの値とパルス繰り返し周波数の値とに応じた複数の制御ゲインGcaa,Gcba,Gcca,Gcab,Gcbb,Gcac,Gcbc,Gcccを算出してもよい。例えば基準エネルギEtaに基づいて制御ゲインGcaa,Gcba,Gccaを算出してもよい。例えば基準エネルギEtbに基づいて制御ゲインGcab,Gcbb,Gccbを算出してもよい。例えば基準エネルギEtcに基づいて制御ゲインGcac,Gcbc,Gcccを算出してもよい。各基準エネルギEta,Etb,Etcの大小関係は、Eta<Etb<Etcであってもよい。また、例えばパルス繰り返し周波数Rpaに応じた変調周波数をFmaとし、パルス繰り返し周波数Rpbに応じた変調周波数をFmbとし、パルス繰り返し周波数Rpcに応じた変調周波数をFmcとしてもよい。各変調周波数Fma,Fmb,Fmcの大小関係は、Fma>Fmb>Fmcであってもよい。各パルス繰り返し周波数Rpa,Rpb,Rpcの大小関係は、Rpa>Rpb>Rpcであってもよい。パルス繰り返し周波数Rpaは、例えば6000Hzであってもよい。パルス繰り返し周波数Rpbは、例えば5000Hzであってもよい。パルス繰り返し周波数Rpcは、例えば3000Hzであってもよい。なお、ここで挙げた複数のパルス繰り返し周波数Rpa,Rpb,Rpcの値は一例であり、これらの値に限定されない。また、以下に示す目標パルスエネルギEtの設定値は一例であり、以下に示す値に限定されない。
 Rpa,Et≦9.5:Gcaa=Gs・Ivaa/Ieaa
 Rpb,Et≦9.5:Gcba=Gs・Ivba/Ieba
 Rpc,Et≦9.5:Gcca=Gs・Ivca/Ieca
 Rpa,9.5<Et≦10.5:Gcab=Gs・Ivab/Ieab
 Rpb,9.5<Et≦10.5:Gcbb=Gs・Ivbb/Iebb
 Rpc,9.5<Et≦10.5:Gccb=Gs・Ivcb/Iecb
 Rpa,10.5<Et:Gcac=Gs・Ivac/Ieac
 Rpb,10.5<Et:Gcbc=Gs・Ivbc/Iebc
 Rpc,10.5<Et:Gccc=Gs・Ivcc/Iecc
(実施形態4における制御ゲインの算出処理の具体例)
 図33は、本開示の実施形態4に係るレーザ装置におけるパルス毎のパルスエネルギEと充電電圧Vとの計測値の一例を示している。図34は、実施形態4に係るレーザ装置における単位時間毎のパルスエネルギEと充電電圧Vとの計測値の一例を示す。図35は、図33におけるパルスエネルギEと充電電圧Vとをスペクトル解析した結果の一例を示している。図33において、横軸はパルスレーザ光Lpのパルス番号、縦軸はパルスエネルギE(mJ)、又は充電電圧V(kV)を示す。図34は、図33の横軸を時間に換算した計測値を示している。図35において、横軸は周波数(Hz)、縦軸は振幅値を示す。
 図36は、実施形態4に係るレーザ装置におけるレーザ制御部による制御ゲインの算出処理の流れの一例を示すフローチャートを示している。図37は、図36に続くフローチャートである。図38は、図37に続くフローチャートである。図39は、図38に続くフローチャートである。図40は、図39に続くフローチャートである。図41は、図40に続くフローチャートである。図42は、図41に続くフローチャートである。図43は、図42に続くフローチャートである。図44は、図43に続くフローチャートである。
 図36~図44の処理では、スペクトル解析により、例えば図35に示したようなパルスエネルギEの振幅成分Ie(Ieaa,Ieab,Ieac,Ieba,Iebb,Iebc,Ieca,Iecb,Iecc)と、充電電圧Vの振幅成分Iv(Ivaa,Ivab,Ivac,Ivba,Ivbb,Ivbc,Ivca,Ivcb,Ivcc)とを算出してもよい。
 図36~図44の処理は、例えば、露光装置4からの指示、レーザガスの交換後、又はレーザガスのガス圧調整後に行ってもよい。また、一定の期間毎に処理を行ってもよい。
 図36に示したように、まず、レーザ制御部2は、露光装置コントローラ5又は記憶部51から、パルス繰り返し周波数Rp=Rpaの読み込みを行う(ステップS901A)。次に、レーザ制御部2は、露光装置コントローラ5又は記憶部51から、発振パルス数Npの読み込みを行う(ステップS902A)。発振パルス数Npは、例えば400パルス以上1500パルス以下が好ましい。発振パルス数Npは、512パルス、1024パルスなど、2の累乗がより好ましい。
 次に、レーザ制御部2は、目標パルスエネルギEtを基準エネルギEtaに設定する(ステップS903A)。レーザ制御部2は、その設定した目標パルスエネルギEtを記憶部51に書き込む。
 次に、レーザ制御部2は、ファンクションジェネレータ52によって、以下の式のように、目標パルスエネルギEtを、基準エネルギEtaを変動中心として、周期的に変動させる(ステップS904A)。Fmaは、パルス繰り返し周波数Rpaに対応する目標パルスエネルギEtの変調周波数である。Rpa/Fmaは整数が望ましい。Rpa/Fmaの範囲は4以上、10以下が望ましい。振幅ΔIeの範囲は0.5mJ以上、2mJ以下が望ましい。振幅ΔIeは、基準エネルギEtaに対する比率で決定してもよい。例えば、ΔIe=Eta・(5%~10%)としてもよい。Rpaは例えば6000Hzであってもよい。Fmaは例えば1200Hzであってもよい。
 Et=Eta+ΔIe・sin(N・2・π・Fma/Rpa)
 次に、レーザ制御部2は、ゲイン発振の処理を行う(ステップS905A)。ここでのゲイン発振の処理は、例えば図4に示すサブルーチンと略同様であってもよい。
 次に、レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値NをN+1に設定する(ステップS906A)。
 次に、レーザ制御部2は、パルスエネルギ検出器30から、パルスエネルギEの値を読み込み、記憶部51に、n番目のパルスのパルスエネルギEの値をEanとして書き込む(ステップS907A)。
 次に、レーザ制御部2は、充電器90に設定した充電電圧Vの値を記憶部51から読み込み、記憶部51に、n番目のパルスにおける充電電圧Vの値をVanとして書き込む(ステップS908A)。
 次に、レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値Nが発振パルス数Npを超えたか否かを判断する(ステップS909A)。レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値Nが発振パルス数Npを超えていないと判断した場合(ステップS909A;N)には、ステップS904Aの処理に戻る。
 一方、パルスのカウンタ値Nが発振パルス数Npを超えたと判断した場合(ステップS909A;Y)には、レーザ制御部2は、記憶されたパルスエネルギEと充電電圧Vとのデータ列に対して、スペクトル解析を実行し、パルスエネルギEの変調周波数Fmaにおける振幅成分Ieaaと、充電電圧Vの変調周波数Fmaにおける振幅成分Ivaaとを求める(ステップS910A)。スペクトル解析は、フーリエ変換、離散フーリエ変換、又は高速フーリエ変換などを用いてもよい。
 次に、レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値Nを0に設定する(ステップS911A)。
 次に、レーザ制御部2は、以下の式のように、制御ゲインGcの値Gcaaを計算し(ステップS912A)、図37の処理に進む。係数Gsは、制御が発散しないように例えば,0.3以上、1以下の値が望ましい。
 Gcaa=Gs・ΔV/ΔE=Gs・Ivaa/Ieaa
 図37の処理では、まず、レーザ制御部2は、露光装置コントローラ5又は記憶部51から、パルス繰り返し周波数Rp=Rpaの読み込みを行う(ステップS901B)。次に、レーザ制御部2は、露光装置コントローラ5又は記憶部51から、発振パルス数Npの読み込みを行う(ステップS902B)。発振パルス数Npは、例えば400パルス以上1500パルス以下が好ましい。発振パルス数Npは、512パルス、1024パルスなど、2の累乗がより好ましい。
 次に、レーザ制御部2は、目標パルスエネルギEtを基準エネルギEtbに設定する(ステップS903B)。レーザ制御部2は、その設定した目標パルスエネルギEtを記憶部51に書き込む。
 次に、レーザ制御部2は、ファンクションジェネレータ52によって、以下の式のように、目標パルスエネルギEtを、基準エネルギEtbを変動中心として、周期的に変動させる(ステップS904B)。Fmaは、パルス繰り返し周波数Rpaに対応する目標パルスエネルギEtの変調周波数である。Rpa/Fmaは整数が望ましい。Rpa/Fmaの範囲は4以上、10以下が望ましい。振幅ΔIeの範囲は0.5mJ以上、2mJ以下が望ましい。振幅ΔIeは、基準エネルギEtbに対する比率で決定してもよい。例えば、ΔIe=Etb・(5%~10%)としてもよい。Rpaは例えば6000Hzであってもよい。Fmaは例えば1200Hzであってもよい。
 Et=Etb+ΔIe・sin(N・2・π・Fma/Rpa)
 次に、レーザ制御部2は、ゲイン発振の処理を行う(ステップS905B)。ここでのゲイン発振の処理は、例えば図4に示すサブルーチンと略同様であってもよい。
 次に、レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値NをN+1に設定する(ステップS906B)。
 次に、レーザ制御部2は、パルスエネルギ検出器30から、パルスエネルギEの値を読み込み、記憶部51に、n番目のパルスのパルスエネルギEの値をEbnとして書き込む(ステップS907B)。
 次に、レーザ制御部2は、充電器90に設定した充電電圧Vの値を記憶部51から読み込み、記憶部51に、n番目のパルスにおける充電電圧Vの値をVbnとして書き込む(ステップS908B)。
 次に、レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値Nが発振パルス数Npを超えたか否かを判断する(ステップS909B)。レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値Nが発振パルス数Npを超えていないと判断した場合(ステップS909B;N)には、ステップS904Bの処理に戻る。
 一方、パルスのカウンタ値Nが発振パルス数Npを超えたと判断した場合(ステップS909B;Y)には、レーザ制御部2は、記憶されたパルスエネルギEと充電電圧Vとのデータ列に対して、スペクトル解析を実行し、パルスエネルギEの変調周波数Fmaにおける振幅成分Ieabと、充電電圧Vの変調周波数Fmaにおける振幅成分Ivabとを求める(ステップS910B)。スペクトル解析は、フーリエ変換、離散フーリエ変換、又は高速フーリエ変換などを用いてもよい。
 次に、レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値Nを0に設定する(ステップS911B)。
 次に、レーザ制御部2は、以下の式のように、制御ゲインGcの値Gcabを計算し(ステップS912B)、図38の処理に進む。係数Gsは、制御が発散しないように例えば,0.3以上、1以下の値が望ましい。
 Gcab=Gs・ΔV/ΔE=Gs・Ivab/Ieab
 図38の処理では、まず、レーザ制御部2は、露光装置コントローラ5又は記憶部51から、パルス繰り返し周波数Rp=Rpaの読み込みを行う(ステップS901C)。次に、レーザ制御部2は、露光装置コントローラ5又は記憶部51から、発振パルス数Npの読み込みを行う(ステップS902C)。発振パルス数Npは、例えば400パルス以上1500パルス以下が好ましい。発振パルス数Npは、512パルス、1024パルスなど、2の累乗がより好ましい。
 次に、レーザ制御部2は、目標パルスエネルギEtを基準エネルギEtcに設定する(ステップS903C)。レーザ制御部2は、その設定した目標パルスエネルギEtを記憶部51に書き込む。
 次に、レーザ制御部2は、ファンクションジェネレータ52によって、以下の式のように、目標パルスエネルギEtを、基準エネルギEtcを変動中心として、周期的に変動させる(ステップS904C)。Fmaは、パルス繰り返し周波数Rpaに対応する目標パルスエネルギEtの変調周波数である。Rpa/Fmaは整数が望ましい。Rpa/Fmaの範囲は4以上、10以下が望ましい。振幅ΔIeの範囲は0.5mJ以上、2mJ以下が望ましい。振幅ΔIeは、基準エネルギEtcに対する比率で決定してもよい。例えば、ΔIe=Etc・(5%~10%)としてもよい。Rpaは例えば6000Hzであってもよい。Fmaは例えば1200Hzであってもよい。
 Et=Etc+ΔIe・sin(N・2・π・Fmc/Rpc)
 次に、レーザ制御部2は、ゲイン発振の処理を行う(ステップS905C)。ここでのゲイン発振の処理は、例えば図4に示すサブルーチンと略同様であってもよい。
 次に、レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値NをN+1に設定する(ステップS906C)。
 次に、レーザ制御部2は、パルスエネルギ検出器30から、パルスエネルギEの値を読み込み、記憶部51に、n番目のパルスのパルスエネルギEの値をEcnとして書き込む(ステップS907C)。
 次に、レーザ制御部2は、充電器90に設定した充電電圧Vの値を記憶部51から読み込み、記憶部51に、n番目のパルスにおける充電電圧Vの値をVcnとして書き込む(ステップS908C)。
 次に、レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値Nが発振パルス数Npを超えたか否かを判断する(ステップS909C)。レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値Nが発振パルス数Npを超えていないと判断した場合(ステップS909C;N)には、ステップS904Cの処理に戻る。
 一方、パルスのカウンタ値Nが発振パルス数Npを超えたと判断した場合(ステップS909C;Y)には、レーザ制御部2は、記憶されたパルスエネルギEと充電電圧Vとのデータ列に対して、スペクトル解析を実行し、パルスエネルギEの変調周波数Fmaにおける振幅成分Ieacと、充電電圧Vの変調周波数Fmaにおける振幅成分Ivacとを求める(ステップS910C)。スペクトル解析は、フーリエ変換、離散フーリエ変換、又は高速フーリエ変換などを用いてもよい。
 次に、レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値Nを0に設定する(ステップS911C)。
 次に、レーザ制御部2は、以下の式のように、制御ゲインGcの値Gcacを計算し(ステップS912C)、図39の処理に進む。係数Gsは、制御が発散しないように例えば,0.3以上、1以下の値が望ましい。
 Gcac=Gs・ΔV/ΔE=Gs・Ivac/Ieac
 図39の処理では、まず、レーザ制御部2は、露光装置コントローラ5又は記憶部51から、パルス繰り返し周波数Rp=Rpbの読み込みを行う(ステップS901D)。次に、レーザ制御部2は、露光装置コントローラ5又は記憶部51から、発振パルス数Npの読み込みを行う(ステップS902D)。発振パルス数Npは、例えば400パルス以上1500パルス以下が好ましい。発振パルス数Npは、512パルス、1024パルスなど、2の累乗がより好ましい。
 次に、レーザ制御部2は、目標パルスエネルギEtを基準エネルギEtaに設定する(ステップS903D)。レーザ制御部2は、その設定した目標パルスエネルギEtを記憶部51に書き込む。
 次に、レーザ制御部2は、ファンクションジェネレータ52によって、以下の式のように、目標パルスエネルギEtを、基準エネルギEtaを変動中心として、周期的に変動させる(ステップS904D)。Fmbは、パルス繰り返し周波数Rpbに対応する目標パルスエネルギEtの変調周波数である。Rpb/Fmbは整数が望ましい。Rpb/Fmbの範囲は4以上、10以下が望ましい。振幅ΔIeの範囲は0.5mJ以上、2mJ以下が望ましい。振幅ΔIeは、基準エネルギEtaに対する比率で決定してもよい。例えば、ΔIe=Eta・(5%~10%)としてもよい。Rpbは例えば5000Hzであってもよい。Fmbは例えば1000Hzであってもよい。
 Et=Eta+ΔIe・sin(N・2・π・Fmb/Rpb)
 次に、レーザ制御部2は、ゲイン発振の処理を行う(ステップS905D)。ここでのゲイン発振の処理は、例えば図4に示すサブルーチンと略同様であってもよい。
 次に、レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値NをN+1に設定する(ステップS906D)。
 次に、レーザ制御部2は、パルスエネルギ検出器30から、パルスエネルギEの値を読み込み、記憶部51に、n番目のパルスのパルスエネルギEの値をEanとして書き込む(ステップS907D)。
 次に、レーザ制御部2は、充電器90に設定した充電電圧Vの値を記憶部51から読み込み、記憶部51に、n番目のパルスにおける充電電圧Vの値をVanとして書き込む(ステップS908D)。
 次に、レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値Nが発振パルス数Npを超えたか否かを判断する(ステップS909D)。レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値Nが発振パルス数Npを超えていないと判断した場合(ステップS909D;N)には、ステップS904Dの処理に戻る。
 一方、パルスのカウンタ値Nが発振パルス数Npを超えたと判断した場合(ステップS909D;Y)には、レーザ制御部2は、記憶されたパルスエネルギEと充電電圧Vとのデータ列に対して、スペクトル解析を実行し、パルスエネルギEの変調周波数Fmbにおける振幅成分Iebaと、充電電圧Vの変調周波数Fmbにおける振幅成分Ivbaとを求める(ステップS910D)。スペクトル解析は、フーリエ変換、離散フーリエ変換、又は高速フーリエ変換などを用いてもよい。
 次に、レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値Nを0に設定する(ステップS911D)。
 次に、レーザ制御部2は、以下の式のように、制御ゲインGcの値Gcbaを計算し(ステップS912D)、図40の処理に進む。係数Gsは、制御が発散しないように例えば,0.3以上、1以下の値が望ましい。
 Gcba=Gs・ΔV/ΔE=Gs・Ivba/Ieba
 図40の処理では、まず、レーザ制御部2は、露光装置コントローラ5又は記憶部51から、パルス繰り返し周波数Rp=Rpbの読み込みを行う(ステップS901E)。次に、レーザ制御部2は、露光装置コントローラ5又は記憶部51から、発振パルス数Npの読み込みを行う(ステップS902E)。発振パルス数Npは、例えば400パルス以上1500パルス以下が好ましい。発振パルス数Npは、512パルス、1024パルスなど、2の累乗がより好ましい。
 次に、レーザ制御部2は、目標パルスエネルギEtを基準エネルギEtbに設定する(ステップS903E)。レーザ制御部2は、その設定した目標パルスエネルギEtを記憶部51に書き込む。
 次に、レーザ制御部2は、ファンクションジェネレータ52によって、以下の式のように、目標パルスエネルギEtを、基準エネルギEtbを変動中心として、周期的に変動させる(ステップS904E)。Fmbは、パルス繰り返し周波数Rpbに対応する目標パルスエネルギEtの変調周波数である。Fmbは、パルス繰り返し周波数Rpbに対応する目標パルスエネルギEtの変調周波数である。Rpb/Fmbは整数が望ましい。Rpb/Fmbの範囲は4以上、10以下が望ましい。振幅ΔIeの範囲は0.5mJ以上、2mJ以下が望ましい。振幅ΔIeは、基準エネルギEtbに対する比率で決定してもよい。例えば、ΔIe=Etb・(5%~10%)としてもよい。Rpbは例えば5000Hzであってもよい。Fmbは例えば1000Hzであってもよい。
 Et=Etb+ΔIe・sin(N・2・π・Fmb/Rpb)
 次に、レーザ制御部2は、ゲイン発振の処理を行う(ステップS905E)。ここでのゲイン発振の処理は、例えば図4に示すサブルーチンと略同様であってもよい。
 次に、レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値NをN+1に設定する(ステップS906E)。
 次に、レーザ制御部2は、パルスエネルギ検出器30から、パルスエネルギEの値を読み込み、記憶部51に、n番目のパルスのパルスエネルギEの値をEbnとして書き込む(ステップS907E)。
 次に、レーザ制御部2は、充電器90に設定した充電電圧Vの値を記憶部51から読み込み、記憶部51に、n番目のパルスにおける充電電圧Vの値をVbnとして書き込む(ステップS908E)。
 次に、レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値Nが発振パルス数Npを超えたか否かを判断する(ステップS909E)。レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値Nが発振パルス数Npを超えていないと判断した場合(ステップS909E;N)には、ステップS904Eの処理に戻る。
 一方、パルスのカウンタ値Nが発振パルス数Npを超えたと判断した場合(ステップS909E;Y)には、レーザ制御部2は、記憶されたパルスエネルギEと充電電圧Vとのデータ列に対して、スペクトル解析を実行し、パルスエネルギEの変調周波数Fmbにおける振幅成分Iebbと、充電電圧Vの変調周波数Fmbにおける振幅成分Ivbbとを求める(ステップS910E)。スペクトル解析は、フーリエ変換、離散フーリエ変換、又は高速フーリエ変換などを用いてもよい。
 次に、レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値Nを0に設定する(ステップS911E)。
 次に、レーザ制御部2は、以下の式のように、制御ゲインGcの値Gcbbを計算し(ステップS912E)、図41の処理に進む。係数Gsは、制御が発散しないように例えば,0.3以上、1以下の値が望ましい。
 Gcbb=Gs・ΔV/ΔE=Gs・Ivbb/Iebb
 図41の処理では、まず、レーザ制御部2は、露光装置コントローラ5又は記憶部51から、パルス繰り返し周波数Rp=Rpbの読み込みを行う(ステップS901F)。次に、レーザ制御部2は、露光装置コントローラ5又は記憶部51から、発振パルス数Npの読み込みを行う(ステップS902F)。発振パルス数Npは、例えば400パルス以上1500パルス以下が好ましい。発振パルス数Npは、512パルス、1024パルスなど、2の累乗がより好ましい。
 次に、レーザ制御部2は、目標パルスエネルギEtを基準エネルギEtcに設定する(ステップS903F)。レーザ制御部2は、その設定した目標パルスエネルギEtを記憶部51に書き込む。
 次に、レーザ制御部2は、ファンクションジェネレータ52によって、以下の式のように、目標パルスエネルギEtを、基準エネルギEtcを変動中心として、周期的に変動させる(ステップS904F)。Fmbは、パルス繰り返し周波数Rpbに対応する目標パルスエネルギEtの変調周波数である。Rpb/Fmbは整数が望ましい。Rpb/Fmbの範囲は4以上、10以下が望ましい。振幅ΔIeの範囲は0.5mJ以上、2mJ以下が望ましい。振幅ΔIeは、基準エネルギEtcに対する比率で決定してもよい。例えば、ΔIe=Etc・(5%~10%)としてもよい。Rpbは例えば5000Hzであってもよい。Fmbは例えば1000Hzであってもよい。
 Et=Etc+ΔIe・sin(N・2・π・Fmb/Rpb)
 次に、レーザ制御部2は、ゲイン発振の処理を行う(ステップS905F)。ここでのゲイン発振の処理は、例えば図4に示すサブルーチンと略同様であってもよい。
 次に、レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値NをN+1に設定する(ステップS906F)。
 次に、レーザ制御部2は、パルスエネルギ検出器30から、パルスエネルギEの値を読み込み、記憶部51に、n番目のパルスのパルスエネルギEの値をEcnとして書き込む(ステップS907F)。
 次に、レーザ制御部2は、充電器90に設定した充電電圧Vの値を記憶部51から読み込み、記憶部51に、n番目のパルスにおける充電電圧Vの値をVcnとして書き込む(ステップS908F)。
 次に、レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値Nが発振パルス数Npを超えたか否かを判断する(ステップS909F)。レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値Nが発振パルス数Npを超えていないと判断した場合(ステップS909F;N)には、ステップS904Fの処理に戻る。
 一方、パルスのカウンタ値Nが発振パルス数Npを超えたと判断した場合(ステップS909F;Y)には、レーザ制御部2は、記憶されたパルスエネルギEと充電電圧Vとのデータ列に対して、スペクトル解析を実行し、パルスエネルギEの変調周波数Fmbにおける振幅成分Iebcと、充電電圧Vの変調周波数Fmcにおける振幅成分Ivbcとを求める(ステップS910F)。スペクトル解析は、フーリエ変換、離散フーリエ変換、又は高速フーリエ変換などを用いてもよい。
 次に、レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値Nを0に設定する(ステップS911F)。
 次に、レーザ制御部2は、以下の式のように、制御ゲインGcの値Gcbcを計算し(ステップS912F)、図42の処理に進む。係数Gsは、制御が発散しないように例えば,0.3以上、1以下の値が望ましい。
 Gcbc=Gs・ΔV/ΔE=Gs・Ivbc/Iebc
 図42の処理では、まず、レーザ制御部2は、露光装置コントローラ5又は記憶部51から、パルス繰り返し周波数Rp=Rpcの読み込みを行う(ステップS901G)。次に、レーザ制御部2は、露光装置コントローラ5又は記憶部51から、発振パルス数Npの読み込みを行う(ステップS902G)。発振パルス数Npは、例えば400パルス以上1500パルス以下が好ましい。発振パルス数Npは、512パルス、1024パルスなど、2の累乗がより好ましい。
 次に、レーザ制御部2は、目標パルスエネルギEtを基準エネルギEtaに設定する(ステップS903G)。レーザ制御部2は、その設定した目標パルスエネルギEtを記憶部51に書き込む。
 次に、レーザ制御部2は、ファンクションジェネレータ52によって、以下の式のように、目標パルスエネルギEtを、基準エネルギEtaを変動中心として、周期的に変動させる(ステップS904G)。Fmcは、パルス繰り返し周波数Rpcに対応する目標パルスエネルギEtの変調周波数である。Rpc/Fmcは整数が望ましい。Rpc/Fmcの範囲は4以上、10以下が望ましい。振幅ΔIeの範囲は0.5mJ以上、2mJ以下が望ましい。振幅ΔIeは、基準エネルギEtaに対する比率で決定してもよい。例えば、ΔIe=Eta・(5%~10%)としてもよい。Rpcは例えば3000Hzであってもよい。Fmcは例えば600Hzであってもよい。
 Et=Eta+ΔIe・sin(N・2・π・Fmc/Rpc)
 次に、レーザ制御部2は、ゲイン発振の処理を行う(ステップS905G)。ここでのゲイン発振の処理は、例えば図4に示すサブルーチンと略同様であってもよい。
 次に、レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値NをN+1に設定する(ステップS906G)。
 次に、レーザ制御部2は、パルスエネルギ検出器30から、パルスエネルギEの値を読み込み、記憶部51に、n番目のパルスのパルスエネルギEの値をEanとして書き込む(ステップS907G)。
 次に、レーザ制御部2は、充電器90に設定した充電電圧Vの値を記憶部51から読み込み、記憶部51に、n番目のパルスにおける充電電圧Vの値をVanとして書き込む(ステップS908G)。
 次に、レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値Nが発振パルス数Npを超えたか否かを判断する(ステップS909G)。レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値Nが発振パルス数Npを超えていないと判断した場合(ステップS909G;N)には、ステップS904Gの処理に戻る。
 一方、パルスのカウンタ値Nが発振パルス数Npを超えたと判断した場合(ステップS909G;Y)には、レーザ制御部2は、記憶されたパルスエネルギEと充電電圧Vとのデータ列に対して、スペクトル解析を実行し、パルスエネルギEの変調周波数Fmcにおける振幅成分Iecaと、充電電圧Vの変調周波数Fmcにおける振幅成分Ivcaとを求める(ステップS910G)。スペクトル解析は、フーリエ変換、離散フーリエ変換、又は高速フーリエ変換などを用いてもよい。
 次に、レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値Nを0に設定する(ステップS911G)。
 次に、レーザ制御部2は、以下の式のように、制御ゲインGcの値Gccaを計算し(ステップS912G)、図43の処理に進む。係数Gsは、制御が発散しないように例えば,0.3以上、1以下の値が望ましい。
 Gcca=Gs・ΔV/ΔE=Gs・Ivca/Ieca
 図43の処理では、まず、レーザ制御部2は、露光装置コントローラ5又は記憶部51から、パルス繰り返し周波数Rp=Rpcの読み込みを行う(ステップS901H)。次に、レーザ制御部2は、露光装置コントローラ5又は記憶部51から、発振パルス数Npの読み込みを行う(ステップS902H)。発振パルス数Npは、例えば400パルス以上1500パルス以下が好ましい。発振パルス数Npは、512パルス、1024パルスなど、2の累乗がより好ましい。
 次に、レーザ制御部2は、目標パルスエネルギEtを基準エネルギEtbに設定する(ステップS903H)。レーザ制御部2は、その設定した目標パルスエネルギEtを記憶部51に書き込む。
 次に、レーザ制御部2は、ファンクションジェネレータ52によって、以下の式のように、目標パルスエネルギEtを、基準エネルギEtbを変動中心として、周期的に変動させる(ステップS904H)。Fmcは、パルス繰り返し周波数Rpcに対応する目標パルスエネルギEtの変調周波数である。Rpc/Fmcは整数が望ましい。Rpc/Fmcの範囲は4以上、10以下が望ましい。振幅ΔIeの範囲は0.5mJ以上、2mJ以下が望ましい。振幅ΔIeは、基準エネルギEtbに対する比率で決定してもよい。例えば、ΔIe=Etb・(5%~10%)としてもよい。Rpcは例えば3000Hzであってもよい。Fmcは例えば600Hzであってもよい。
 Et=Etb+ΔIe・sin(N・2・π・Fmc/Rpc)
 次に、レーザ制御部2は、ゲイン発振の処理を行う(ステップS905H)。ここでのゲイン発振の処理は、例えば図4に示すサブルーチンと略同様であってもよい。
 次に、レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値NをN+1に設定する(ステップS906H)。
 次に、レーザ制御部2は、パルスエネルギ検出器30から、パルスエネルギEの値を読み込み、記憶部51に、n番目のパルスのパルスエネルギEの値をEbnとして書き込む(ステップS907H)。
 次に、レーザ制御部2は、充電器90に設定した充電電圧Vの値を記憶部51から読み込み、記憶部51に、n番目のパルスにおける充電電圧Vの値をVbnとして書き込む(ステップS908H)。
 次に、レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値Nが発振パルス数Npを超えたか否かを判断する(ステップS909H)。レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値Nが発振パルス数Npを超えていないと判断した場合(ステップS909H;N)には、ステップS904Hの処理に戻る。
 一方、パルスのカウンタ値Nが発振パルス数Npを超えたと判断した場合(ステップS909H;Y)には、レーザ制御部2は、記憶されたパルスエネルギEと充電電圧Vとのデータ列に対して、スペクトル解析を実行し、パルスエネルギEの変調周波数Fmcにおける振幅成分Iecbと、充電電圧Vの変調周波数Fmcにおける振幅成分Ivcbとを求める(ステップS910H)。スペクトル解析は、フーリエ変換、離散フーリエ変換、又は高速フーリエ変換などを用いてもよい。
 次に、レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値Nを0に設定する(ステップS911H)。
 次に、レーザ制御部2は、以下の式のように、制御ゲインGcの値Gcbを計算し(ステップS912H)、図44の処理に進む。係数Gsは、制御が発散しないように例えば,0.3以上、1以下の値が望ましい。
 Gccb=Gs・ΔV/ΔE=Gs・Ivcb/Iecb
 図44の処理では、まず、レーザ制御部2は、露光装置コントローラ5又は記憶部51から、パルス繰り返し周波数Rp=Rpcの読み込みを行う(ステップS901I)。次に、レーザ制御部2は、露光装置コントローラ5又は記憶部51から、発振パルス数Npの読み込みを行う(ステップS902I)。発振パルス数Npは、例えば400パルス以上1500パルス以下が好ましい。発振パルス数Npは、512パルス、1024パルスなど、2の累乗がより好ましい。
 次に、レーザ制御部2は、目標パルスエネルギEtを基準エネルギEtcに設定する(ステップS903I)。レーザ制御部2は、その設定した目標パルスエネルギEtを記憶部51に書き込む。
 次に、レーザ制御部2は、ファンクションジェネレータ52によって、以下の式のように、目標パルスエネルギEtを、基準エネルギEtcを変動中心として、周期的に変動させる(ステップS904I)。Fmcは、パルス繰り返し周波数Rpcに対応する目標パルスエネルギEtの変調周波数である。Rpc/Fmcは整数が望ましい。Rpc/Fmcの範囲は4以上、10以下が望ましい。振幅ΔIeの範囲は0.5mJ以上、2mJ以下が望ましい。振幅ΔIeは、基準エネルギEtcに対する比率で決定してもよい。例えば、ΔIe=Etc・(5%~10%)としてもよい。Rpcは例えば3000Hzであってもよい。Fmcは例えば600Hzであってもよい。
 Et=Etc+ΔIe・sin(N・2・π・Fmc/Rpc)
 次に、レーザ制御部2は、ゲイン発振の処理を行う(ステップS905I)。ここでのゲイン発振の処理は、例えば図4に示すサブルーチンと略同様であってもよい。
 次に、レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値NをN+1に設定する(ステップS906I)。
 次に、レーザ制御部2は、パルスエネルギ検出器30から、パルスエネルギEの値を読み込み、記憶部51に、n番目のパルスのパルスエネルギEの値をEcnとして書き込む(ステップS907I)。
 次に、レーザ制御部2は、充電器90に設定した充電電圧Vの値を記憶部51から読み込み、記憶部51に、n番目のパルスにおける充電電圧Vの値をVcnとして書き込む(ステップS908I)。
 次に、レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値Nが発振パルス数Npを超えたか否かを判断する(ステップS909I)。レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値Nが発振パルス数Npを超えていないと判断した場合(ステップS909I;N)には、ステップS904Iの処理に戻る。
 一方、パルスのカウンタ値Nが発振パルス数Npを超えたと判断した場合(ステップS909I;Y)には、レーザ制御部2は、記憶されたパルスエネルギEと充電電圧Vとのデータ列に対して、スペクトル解析を実行し、パルスエネルギEの変調周波数Fmcにおける振幅成分Ieccと、充電電圧Vの変調周波数Fmcにおける振幅成分Ivccとを求める(ステップS910I)。スペクトル解析は、フーリエ変換、離散フーリエ変換、又は高速フーリエ変換などを用いてもよい。
 次に、レーザ制御部2は、パルスのカウンタ値Nを0に設定する(ステップS911I)。
 次に、レーザ制御部2は、以下の式のように、制御ゲインGcの値Gccを計算し(ステップS912I)、処理を終了する。係数Gsは、制御が発散しないように例えば,0.3以上、1以下の値が望ましい。
 Gccc=Gs・ΔV/ΔE=Gs・Ivcc/Iecc
(実施形態4におけるエネルギ制御の具体例)
 図45は、実施形態4に係るレーザ装置におけるレーザ制御部2によるパルスエネルギEの制御の流れの一例を示すフローチャートを示している。図46は、図45におけるステップS805AのサブルーチンAの一例を示している。図47は、図45におけるステップS804AのサブルーチンBの一例を示している。図48は、図45におけるステップS803AのサブルーチンCの一例を示している。
 まず、レーザ制御部2は、露光装置コントローラ5又は記憶部51から、パルス繰り返し周波数Rpの読み込みを行う(ステップS800A)。
 次に、レーザ制御部2は、露光装置コントローラ5又は記憶部51から、目標パルスエネルギEtの読み込みを行う(ステップS801A)。
 次に、レーザ制御部2は、パルス繰り返し周波数Rpの値を判断する(ステップS802A)。
 レーザ制御部2は、パルス繰り返し周波数Rpが所定の値を超えた場合、例えば(Rpb+Rpa)/2<Rpであると判断した場合には、図48のサブルーチンCの処理を行う(ステップS803A)。
 レーザ制御部2は、目標パルスエネルギEtが所定の範囲の場合、例えば(Rpc+Rpb)/2<Rp≦(Rpb+Rpa)/2であると判断した場合には、図47のサブルーチンBの処理を行う(ステップS804A)。
 レーザ制御部2は、パルス繰り返し周波数Rpが所定の値以下の場合、例えばRp≦(Rpc+Rpb)/2であると判断した場合には、図46のサブルーチンAの処理を行う(ステップS805A)。
 次に、レーザ制御部2は、レーザ発振したか否かを判断する(ステップS806A)。レーザ制御部2は、レーザ発振していないと判断した場合(ステップS806A;N)には、ステップS806Aの処理を繰り返す。
 一方、レーザ発振したと判断した場合(ステップS806A;Y)には、レーザ制御部2は、パルスエネルギ検出器30から、パルスエネルギEの値を読み込む(ステップS807A)。
 次に、レーザ制御部2は、パルスエネルギEと目標パルスエネルギEtとの比較を行う(ステップS808A)。レーザ制御部2は、パルスエネルギEと目標パルスエネルギEtとが略同じと判断した場合(E=Et)には、現在の充電電圧Vのデータをそのまま充電電圧Vのデータとして(ステップS810A)、記憶部51に書き込む(ステップS812A)。
 一方、レーザ制御部2は、パルスエネルギEが目標パルスエネルギEtよりも小さいと判断した場合(E<Et)には、以下の式のように、目標パルスエネルギEtとパルスエネルギEとの差(Et-E)に制御ゲインGcを乗じた値を充電電圧Vに加算し、あらたな充電電圧Vとして(ステップS809A)、その充電電圧Vのデータを記憶部51に書き込む(ステップS812A)。
 V=V+(Et-E)・Gc
 また、レーザ制御部2は、パルスエネルギEが目標パルスエネルギEtよりも大きいと判断した場合(E>Et)には、以下の式のように、パルスエネルギEと目標パルスエネルギEtとの差分(E-Et)に制御ゲインGcを乗じた値を充電電圧Vから減算し、あらたな充電電圧Vとして(ステップS811A)、その充電電圧Vのデータを記憶部51に書き込む(ステップS813A)。
 V=V-(E-Et)・Gc
 次に、レーザ制御部2は、充電電圧Vが所定の最大値Vmax以上になったか否かを判断する(ステップS813A)。レーザ制御部2は、充電電圧Vが所定の最大値Vmax以上になっていないと判断した場合(ステップS813A;N)には、ステップS801の処理に戻る。一方、充電電圧Vが所定の最大値Vmax以上になったと判断した場合(ステップS813A;Y)には、エネルギ制御の処理を終了する。
 図46は、図45におけるステップS805AのサブルーチンAの一例を示している。
 サブルーチンAでは、まず、レーザ制御部2は、目標パルスエネルギEtが複数の制御ゲインGcaa,Gcab,Gcacのいずれに対応するか判断する(ステップS10A)。制御ゲインGcaa,Gcab,Gcacは、上述の図36~図38に示すフローチャートに従って算出してもよい。
 レーザ制御部2は、目標パルスエネルギEtが所定の値以下の場合、例えばEt≦(Eta+Etb)/2であると判断した場合には、制御ゲインGcの値をGcaaとする(ステップS11A)。
 レーザ制御部2は、目標パルスエネルギEtが所定の範囲の場合、例えば(Eta+Etb)/2<Et≦(Etb+Etc)/2であると判断した場合には、制御ゲインGcの値をGcabとする(ステップS12A)。
 レーザ制御部2は、目標パルスエネルギEtが所定の値を超えた場合、例えば(Etb+Etc)/2<Etであると判断した場合には、制御ゲインGcの値をGcacとする(ステップS13A)。
 図47は、図45におけるステップS804AのサブルーチンBの一例を示している。
 サブルーチンBでは、まず、レーザ制御部2は、目標パルスエネルギEtが複数の制御ゲインGcba,Gcbb,Gcbcのいずれに対応するか判断する(ステップS10B)。
 制御ゲインGcba,Gcbb,Gcbcは、上述の図39~図41に示すフローチャートに従って算出してもよい。
 レーザ制御部2は、目標パルスエネルギEtが所定の値以下の場合、例えばEt≦(Eta+Etb)/2であると判断した場合には、制御ゲインGcの値をGcbaとする(ステップS11B)。
 レーザ制御部2は、目標パルスエネルギEtが所定の範囲の場合、例えば(Eta+Etb)/2<Et≦(Etb+Etc)/2であると判断した場合には、制御ゲインGcの値をGcbbとする(ステップS12B)。
 レーザ制御部2は、目標パルスエネルギEtが所定の値を超えた場合、例えば(Etb+Etc)/2<Etであると判断した場合には、制御ゲインGcの値をGcbcとする(ステップS13B)。
 図48は、図45におけるステップS803AのサブルーチンCの一例を示している。
 サブルーチンCでは、まず、レーザ制御部2は、目標パルスエネルギEtが複数の制御ゲインGcca,Gccb,Gcccのいずれに対応するか判断する(ステップS10C)。制御ゲインGcca,Gccb,Gcccは、上述の図42~図44に示すフローチャートに従って算出してもよい。
 レーザ制御部2は、目標パルスエネルギEtが所定の値以下の場合、例えばEt≦(Eta+Etb)/2であると判断した場合には、制御ゲインGcの値をGccaとする(ステップS11C)。
 レーザ制御部2は、目標パルスエネルギEtが所定の範囲の場合、例えば(Eta+Etb)/2<Et≦(Etb+Etc)/2であると判断した場合には、制御ゲインGcの値をGccbとする(ステップS12C)。
 レーザ制御部2は、目標パルスエネルギEtが所定の値を超えた場合、例えば(Etb+Etc)/2<Etであると判断した場合には、制御ゲインGcの値をGcccとする(ステップS13C)。
 その他の動作は、上記比較例、実施形態1、実施形態2、又は実施形態3に係るレーザ装置と略同様であってもよい。
[5.3 作用・効果]
 実施形態4のレーザ装置によれば、制御ゲインGcを、複数のパルス繰り返し周波数Rpa,Rpb,Rpcと目標パルスエネルギEtの値とに応じて複数、算出するようにしたので、パルス繰り返し周波数Rpと目標パルスエネルギEtとを変更した場合におけるパルスエネルギEの制御の精度が改善され得る。
 なお、以上の実施形態4の説明では、レーザ制御部2が、3つのパルス繰り返し周波数Rpa,Rpb,Rpcと3つの基準エネルギEta,Etb,Etcとに基づいて、9つの制御ゲインGcを算出する例を述べたが、パルス繰り返し周波数Rp及び基準エネルギEtの数はそれぞれ、2又は4以上の数であってもよい。算出する制御ゲインGcの数は、それらパルス繰り返し周波数Rp及び基準エネルギEtの数に応じて9以外の数であってもよい。
 その他の作用・効果は、上記比較例、実施形態1、実施形態2、又は実施形態3に係るレーザ装置と略同様であってもよい。
<6.実施形態5>(MOPOシステムを含むレーザ装置)
 次に、本開示の実施形態5に係るレーザ装置について説明する。なお、以下では上記比較例、実施形態1、実施形態2、実施形態3、又は実施形態4に係るレーザ装置の構成要素と略同じ部分については、同一符号を付し、適宜説明を省略する。
[6.1 構成]
 上記比較例及び、実施形態1~4では、シングルチャンバ方式のレーザ装置を例に説明したが、実施形態1~4の技術は、シングルチャンバ方式以外のレーザ装置にも適用し得る。例えば、実施形態1~4の技術は、マスタオシレータ(MO)と増幅器とを含むレーザシステムに適用し得る。例えば、マスタオシレータと、増幅器としてのパワーオシレータ(PO)とを含むMOPOシステムに適用してもよい。
 図49は、本開示の実施形態5に係るレーザ装置1Aの一構成例を概略的に示している。
 実施形態5に係るレーザ装置1Aは、マスタオシレータ6と、パワーオシレータ7とを含んでいる。マスタオシレータ6は、レーザ光の波長やスペクトル線幅等の光品位を決定する。パワーオシレータ7は、マスタオシレータ6から出力されたパルスレーザ光Lpを増幅する。パワーオシレータ7は、増幅したパルスレーザ光Lpを露光装置4に向けて出力する。
 マスタオシレータ6とパワーオシレータ7との間には、マスタオシレータ6から出力されたパルスレーザ光Lpをパワーオシレータ7に導くための光学系として、反射ミラー37,38が配置されていてもよい。
 マスタオシレータ6は、比較例2に係るレーザ装置1と略同様に、レーザ共振器と、レーザチャンバ20と、パルスパワーモジュール28と、パルスエネルギ検出器30とを備えていてもよい。
 パワーオシレータ7は、レーザチャンバ20Aと、パルスパワーモジュール28Aと、パルスエネルギ検出器30Aと、出力結合器としての出力結合ミラー35Aと、部分反射ミラー36とを備えていてもよい。
 レーザチャンバ20Aは、レーザチャンバ20と略同様に、レーザ光を透過するウインドウ21A,22Aと、一対の放電電極23A,24Aと、圧力センサ34Aとを含んでいてもよい。
 レーザチャンバ20Aは、レーザチャンバ20と略同様に、図示しないクロスフローファン、モータ、及び熱交換器等を含んでいてもよい。
 レーザチャンバ20Aは、一対の放電電極23A,24Aの間に印加された印加電圧に応じたパルスエネルギEを有するパルスレーザ光Lpを、設定された所定のパルス繰り返し周波数Rpで出射する。一対の放電電極23A,24Aの間に印加される印加電圧は、充電器90による充電電圧Vに応じた電圧であってもよい。
 出力結合ミラー35Aと部分反射ミラー36とにはそれぞれ、パルスレーザ光Lpの一部を反射し、一部を透過する多層膜がコートされていてもよい。出力結合ミラー35Aと部分反射ミラー36とによって、パワーオシレータ7のレーザ共振器が構成されてもよい。レーザ共振器の光路上に一対の放電電極23A,24Aの放電領域が配置されるように、レーザチャンバ20Aが配置されてもよい。
 パルスエネルギ検出器30Aは、出力結合ミラー35Aから出力されたパルスレーザ光Lpの光路上に設けられ、パルスレーザ光LpのパルスエネルギEを検出する。パルスエネルギ検出器30Aは、ビームスプリッタ31Aと、集光レンズ32Aと、パルスエネルギEを検出する光センサ33Aとを含んでいてもよい。
 ビームスプリッタ31Aは、出力結合ミラー35Aから出力されたパルスレーザ光Lpの光路上に配置されていてもよい。集光レンズ32Aは、ビームスプリッタ31Aで反射されたパルスレーザ光Lpの光路上に配置されていてもよい。光センサ33Aは、集光レンズ32Aの集光位置の近傍に配置されてもよい。
 パルスパワーモジュール28Aは、一対の放電電極23A,24Aを放電させるためのスイッチ29Aを含み、図示しない電気絶縁部材を介して、一方の放電電極23Aと接続されていてもよい。他方の放電電極24Aは、接地されたレーザチャンバ20Aと接続されていてもよい。パルスパワーモジュール28Aは、図示しない充電コンデンサを含んでいてもよい。
 充電器90とパルスパワーモジュール28Aは、パルスパワーモジュール28Aの図示しない充電コンデンサを充電するように、互いに電気的に接続されていてもよい。充電器90は、充電電圧Vを示すデータをレーザ制御部2から受信してもよい。充電電圧Vは、図示しない充電コンデンサを充電する電圧であってもよい。充電電圧Vは、パルスエネルギ検出器30Aによって計測されたパルスエネルギEに基づいて、レーザ制御部2によって制御されてもよい。充電電圧Vは、一対の放電電極23A,24Aの間に印加する印加電圧に対応した電圧であってもよい。
 レーザ制御部2には、露光装置4の露光装置コントローラ5から発振トリガ信号Strと目標パルスエネルギEtとが入力されてもよい。レーザ制御部2とパルスパワーモジュール28Aは、発振トリガ信号Strに同期して、スイッチ29Aがオン/オフされるように互いに電気的に接続されていてもよい。
 レーザ制御部2は、目標パルスエネルギEtと、マスタオシレータ6のパルスエネルギ検出器30によって検出されたパルスエネルギEとに基づいて、マスタオシレータ6における一対の放電電極23,24間に印加する印加電圧を制御する電圧制御部であってもよい。また、レーザ制御部2は、目標パルスエネルギEtと、パルスエネルギ検出器30によって検出されたパルスエネルギEとに基づいて、パワーオシレータ7のパルスエネルギ検出器30Aによって検出されたパルスエネルギEとに基づいて、パワーオシレータ7における一対の放電電極23A,24Aの間に印加する印加電圧を制御する電圧制御部であってもよい。
 レーザ制御部2は、マスタオシレータ6とパワーオシレータ7とのそれぞれにおける制御ゲインGcを算出するゲイン算出部であってもよい。レーザ制御部2は、マスタオシレータ6とパワーオシレータ7とのそれぞれに対して、それぞれの制御ゲインGcを用いて充電電圧Vを制御することにより、マスタオシレータ6とパワーオシレータ7とのそれぞれから出力されるパルスレーザ光Lpのエネルギ制御を行う。
 レーザガス供給装置91は、レーザチャンバ20とレーザチャンバ20Aとのそれぞれの内部にレーザガスを供給する図示しないガスボンベと、ガスボンベからのレーザガスの供給を制御する流量制御弁としての図示しない供給バルブとを含んでいてもよい。
 レーザガス排気装置92は、レーザチャンバ20とレーザチャンバ20Aとのそれぞれの内部のレーザガスを排気できるように構成されていてもよい。レーザガス排気装置92は、図示しない排気バルブと、図示しない排気ポンプとを含んでいてもよい。
 その他の構成は、上記比較例、実施形態1、実施形態2、実施形態3、又は実施形態4に係るレーザ装置と略同様であってもよい。
[6.2 動作]
 マスタオシレータ6とパワーオシレータ7とのそれぞれについて、上記実施形態1、実施形態2、実施形態3、又は実施形態4に係るレーザ装置と略同様にして制御ゲインGcを算出してもよい。マスタオシレータ6とパワーオシレータ7とのそれぞれについて算出された制御ゲインGcに基づいて、マスタオシレータ6とパワーオシレータ7とのそれぞれについて、上記実施形態1、実施形態2、実施形態3、又は実施形態4に係るレーザ装置と略同様にしてエネルギ制御を実施してもよい。
 その他の動作は、上記比較例、実施形態1、実施形態2、実施形態3、又は実施形態4に係るレーザ装置と略同様であってもよい。
[6.3 作用・効果]
 実施形態5のレーザ装置によれば、マスタオシレータと増幅器とを含むレーザシステムにおいて、マスタオシレータと増幅器とのそれぞれにおけるパルスエネルギEの制御の精度が改善され得る。
 その他の作用・効果は、上記比較例、実施形態1、実施形態2、実施形態3、又は実施形態4に係るレーザ装置と略同様であってもよい。
<7.その他>
 上記の説明は、制限ではなく単なる例示を意図している。従って、添付の特許請求の範囲を逸脱することなく本開示の実施形態に変更を加えることができることは、当業者には明らかであろう。
 本明細書及び添付の特許請求の範囲全体で使用される用語は、「限定的でない」用語と解釈されるべきである。例えば、「含む」又は「含まれる」という用語は、「含まれるものとして記載されたものに限定されない」と解釈されるべきである。「有する」という用語は、「有するものとして記載されたものに限定されない」と解釈されるべきである。また、本明細書、及び添付の特許請求の範囲に記載される不定冠詞「1つの」は、「少なくとも1つ」又は「1又はそれ以上」を意味すると解釈されるべきである。

Claims (19)

  1.  一対の電極を含み、前記一対の電極間に印加された印加電圧に応じたパルスエネルギを有するパルスレーザ光を、複数のパルス繰り返し周波数における各周波数で出射するレーザチャンバと、
     前記パルスレーザ光の光路上に設けられ、前記パルスレーザ光のパルスエネルギを検出するエネルギ検出器と、
     目標パルスエネルギと前記エネルギ検出器によって検出されたパルスエネルギとに基づいて、前記印加電圧を制御する電圧制御部と、
     前記目標パルスエネルギを、基準エネルギを変動中心として、前記複数のパルス繰り返し周波数のそれぞれに応じた変調周波数で周期的に変動させるパルスエネルギ制御部と
     を備える
     レーザ装置。
  2.  請求項1に記載のレーザ装置であって、
     前記複数のパルス繰り返し周波数は、第1のパルス繰り返し周波数と、第2のパルス繰り返し周波数とを含み、
     前記変調周波数は、前記第1のパルス繰り返し周波数に応じた第1の変調周波数と、前記第2のパルス繰り返し周波数に応じた第2の変調周波数とを含み、
     前記第1のパルス繰り返し周波数をRpa、前記第2のパルス繰り返し周波数をRpb、
     前記第1の変調周波数をFma、前記第2のパルス繰り返し周波数に応じた第2の変調周波数をFmbとしたとき、
     Rpa>Rpb
     Fma>Fmb
     を満たす。
  3.  請求項1に記載のレーザ装置であって、
     前記複数のパルス繰り返し周波数のそれぞれに対応する複数の制御ゲインを算出するゲイン算出部、をさらに備える。
  4.  請求項3に記載のレーザ装置であって、
     前記電圧制御部は、前記目標パルスエネルギ、及び前記エネルギ検出器によって検出された前記パルスエネルギに加えてさらに、前記複数の制御ゲインに基づいて、前記印加電圧を制御する。
  5.  請求項3に記載のレーザ装置であって、
     前記ゲイン算出部は、
     前記目標パルスエネルギを前記変調周波数で周期的に変動させた場合における前記パルスエネルギの振幅成分と前記印加電圧の振幅成分とを算出し、
     前記パルスエネルギの振幅成分と前記印加電圧の振幅成分とに基づいて、前記複数の制御ゲインを算出する。
  6.  請求項1に記載のレーザ装置であって、
     前記パルスエネルギ制御部は、前記目標パルスエネルギを、複数の前記基準エネルギのそれぞれを変動中心として周期的に変動させる。
  7.  請求項6に記載のレーザ装置であって、
     前記複数の基準エネルギは、第1の基準エネルギと、第2の基準エネルギとを含み、
     前記複数のパルス繰り返し周波数は、第1のパルス繰り返し周波数と、第2のパルス繰り返し周波数とを含み、
     前記変調周波数は、前記第1のパルス繰り返し周波数に応じた第1の変調周波数と、前記第2のパルス繰り返し周波数に応じた第2の変調周波数とを含み、
     前記第1の基準エネルギをEta、前記第2の基準エネルギEtb、
     前記第1のパルス繰り返し周波数をRpa、前記第2のパルス繰り返し周波数をRpb、
     前記第1の変調周波数をFma、前記第2のパルス繰り返し周波数に応じた第2の変調周波数をFmbとしたとき、
     Eta<Etb
     Rpa>Rpb
     Fma>Fmb
     を満たす。
  8.  請求項6に記載のレーザ装置であって、
     前記複数の基準エネルギのそれぞれに対応する複数の制御ゲインを算出するゲイン算出部、をさらに備える。
  9.  請求項8に記載のレーザ装置であって、
     前記電圧制御部は、前記目標パルスエネルギ、及び前記エネルギ検出器によって検出された前記パルスエネルギに加えてさらに、前記複数の制御ゲインに基づいて、前記印加電圧を制御する。
  10.  請求項8に記載のレーザ装置であって、
     前記ゲイン算出部は、
     前記目標パルスエネルギを前記複数の基準エネルギのそれぞれを変動中心として前記変調周波数で周期的に変動させた場合における前記パルスエネルギの振幅成分と前記印加電圧の振幅成分とを算出し、
     前記パルスエネルギの振幅成分と前記印加電圧の振幅成分とに基づいて、前記複数の制御ゲインを算出する。
  11.  一対の電極を含み、前記一対の電極間に印加された印加電圧に応じたパルスエネルギを有するパルスレーザ光を、所定のパルス繰り返し周波数で出射するレーザチャンバと、
     前記パルスレーザ光の光路上に設けられ、前記パルスレーザ光のパルスエネルギを検出するエネルギ検出器と、
     目標パルスエネルギと前記エネルギ検出器によって検出された前記パルスエネルギとに基づいて、前記印加電圧を制御する電圧制御部と、
     前記目標パルスエネルギを、複数の基準エネルギのそれぞれを変動中心として、所定の変調周波数で周期的に変動させるパルスエネルギ制御部と
     を備える
     レーザ装置。
  12.  請求項11に記載のレーザ装置であって、
     前記複数の基準エネルギのそれぞれに対応する複数の制御ゲインを算出するゲイン算出部、をさらに備える。
  13.  請求項12に記載のレーザ装置であって、
     前記電圧制御部は、前記目標パルスエネルギ、及び前記エネルギ検出器によって検出された前記パルスエネルギに加えてさらに、前記複数の制御ゲインに基づいて、前記印加電圧を制御する。
  14.  請求項12に記載のレーザ装置であって、
     前記ゲイン算出部は、
     前記目標パルスエネルギを前記複数の基準エネルギのそれぞれを変動中心として前記所定の変調周波数で周期的に変動させた場合における前記パルスエネルギの振幅成分と前記印加電圧の振幅成分とを算出し、
     前記パルスエネルギの振幅成分と前記印加電圧の振幅成分とに基づいて、前記複数の制御ゲインを算出する。
  15.  一対の電極を含み、前記一対の電極間に印加された印加電圧に応じたパルスエネルギを有するパルスレーザ光を、所定のパルス繰り返し周波数で出射するレーザチャンバと、
     前記パルスレーザ光の光路上に設けられ、前記パルスレーザ光のパルスエネルギを検出するエネルギ検出器と、
     目標パルスエネルギと前記エネルギ検出器によって検出された前記パルスエネルギとに基づいて、前記印加電圧を制御する電圧制御部と、
     前記目標パルスエネルギを、複数の基準エネルギのそれぞれを変動中心として、前記複数の基準エネルギのそれぞれに応じた変調周波数で周期的に変動させるパルスエネルギ制御部と
     を備える
     レーザ装置。
  16.  請求項15に記載のレーザ装置であって、
     前記複数の基準エネルギは、第1の基準エネルギと、第2の基準エネルギとを含み、
     前記変調周波数は、前記第1の基準エネルギに応じた第1の変調周波数と、前記第2の基準エネルギに応じた第2の変調周波数を含み、
     前記第1の基準エネルギをEta、前記第2の基準エネルギEtb、
     前記第1のパルス繰り返し周波数をRpa、前記第2のパルス繰り返し周波数をRpb、
     前記第1の変調周波数をFma、前記第2のパルス繰り返し周波数に応じた第2の変調周波数をFmbとしたとき、
     Eta<Etb
     Fma>Fmb
     を満たす。
  17.  請求項15に記載のレーザ装置であって、
     前記複数の基準エネルギのそれぞれに対応する複数の制御ゲインを算出するゲイン算出部、をさらに備える。
  18.  請求項17に記載のレーザ装置であって、
     前記電圧制御部は、前記目標パルスエネルギ、及び前記エネルギ検出器によって検出された前記パルスエネルギに加えてさらに、前記複数の制御ゲインに基づいて、前記印加電圧を制御する。
  19.  請求項17に記載のレーザ装置であって、
     前記ゲイン算出部は、
     前記目標パルスエネルギを前記複数の基準エネルギのそれぞれを変動中心として前記変調周波数で周期的に変動させた場合における前記パルスエネルギの振幅成分と前記印加電圧の振幅成分とを算出し、
     前記パルスエネルギの振幅成分と前記印加電圧の振幅成分とに基づいて、前記複数の制御ゲインを算出する。
PCT/JP2016/086057 2016-12-05 2016-12-05 レーザ装置 WO2018105002A1 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/JP2016/086057 WO2018105002A1 (ja) 2016-12-05 2016-12-05 レーザ装置
JP2018555336A JP6845255B2 (ja) 2016-12-05 2016-12-05 レーザ装置
CN201680090475.1A CN109891689B (zh) 2016-12-05 2016-12-05 激光装置
US16/402,270 US10965090B2 (en) 2016-12-05 2019-05-03 Laser apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/JP2016/086057 WO2018105002A1 (ja) 2016-12-05 2016-12-05 レーザ装置

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
US16/402,270 Continuation US10965090B2 (en) 2016-12-05 2019-05-03 Laser apparatus

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2018105002A1 true WO2018105002A1 (ja) 2018-06-14

Family

ID=62491049

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2016/086057 WO2018105002A1 (ja) 2016-12-05 2016-12-05 レーザ装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US10965090B2 (ja)
JP (1) JP6845255B2 (ja)
CN (1) CN109891689B (ja)
WO (1) WO2018105002A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2021048947A1 (ja) * 2019-09-11 2021-03-18

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11081852B2 (en) * 2017-04-24 2021-08-03 Cymer, Llc Laser light energy and dose control using repetition rate based gain estimators
CN116960712A (zh) * 2022-04-18 2023-10-27 北京科益虹源光电技术有限公司 准分子激光器能量掉点检测方法及装置
CN116914551B (zh) * 2023-09-12 2023-12-19 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 应用于极紫外光刻光源的co2激光功率稳定方法及装置

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09107146A (ja) * 1995-10-11 1997-04-22 Komatsu Ltd レーザ光の出力制御装置
JPH11191653A (ja) * 1997-10-10 1999-07-13 Cymer Inc エキシマレーザに関するパルスエネルギ制御
JP2000021717A (ja) * 1998-06-30 2000-01-21 Nikon Corp 露光量制御方法及び露光装置
JP2006088163A (ja) * 2004-09-21 2006-04-06 Fanuc Ltd レーザ装置

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE69617254T2 (de) * 1995-09-27 2002-07-04 Komatsu Ltd., Tokio/Tokyo Laservorrichtung
JP3830591B2 (ja) * 1996-11-05 2006-10-04 株式会社小松製作所 レーザ装置
US5982800A (en) 1997-04-23 1999-11-09 Cymer, Inc. Narrow band excimer laser
US5835520A (en) 1997-04-23 1998-11-10 Cymer, Inc. Very narrow band KrF laser
US6339604B1 (en) * 1998-06-12 2002-01-15 General Scanning, Inc. Pulse control in laser systems
US6580054B1 (en) 2002-06-10 2003-06-17 New Wave Research Scribing sapphire substrates with a solid state UV laser
CN1287442C (zh) * 2002-07-30 2006-11-29 新浪潮研究公司 利用固态uv激光器对蓝宝石衬底划线
JP4531323B2 (ja) 2002-09-13 2010-08-25 株式会社半導体エネルギー研究所 レーザ装置、レーザ照射方法、および半導体装置の作製方法
US20060261051A1 (en) * 2005-05-19 2006-11-23 Mark Unrath Synthetic pulse repetition rate processing for dual-headed laser micromachining systems
JP5240526B2 (ja) * 2010-03-15 2013-07-17 オムロン株式会社 レーザ加工装置、レーザ光源装置、および、レーザ光源装置の制御方法
JP2012216768A (ja) * 2011-03-30 2012-11-08 Gigaphoton Inc レーザシステム、極端紫外光生成システム、およびレーザ光生成方法
WO2014017562A1 (ja) * 2012-07-26 2014-01-30 ギガフォトン株式会社 レーザ装置及びレーザ装置の制御方法
JP6204363B2 (ja) * 2012-09-07 2017-09-27 ギガフォトン株式会社 レーザ装置及びレーザ装置の制御方法
JPWO2014046186A1 (ja) * 2012-09-21 2016-08-18 ギガフォトン株式会社 レーザ装置
JP6063199B2 (ja) * 2012-10-15 2017-01-18 ギガフォトン株式会社 放電励起式ガスレーザ装置
JP6227123B2 (ja) 2013-05-20 2017-11-08 エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. 放射源の制御方法およびこの放射源を備えたリソグラフィ装置
WO2016084263A1 (ja) * 2014-11-28 2016-06-02 ギガフォトン株式会社 狭帯域化レーザ装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09107146A (ja) * 1995-10-11 1997-04-22 Komatsu Ltd レーザ光の出力制御装置
JPH11191653A (ja) * 1997-10-10 1999-07-13 Cymer Inc エキシマレーザに関するパルスエネルギ制御
JP2000021717A (ja) * 1998-06-30 2000-01-21 Nikon Corp 露光量制御方法及び露光装置
JP2006088163A (ja) * 2004-09-21 2006-04-06 Fanuc Ltd レーザ装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2021048947A1 (ja) * 2019-09-11 2021-03-18
JP7416811B2 (ja) 2019-09-11 2024-01-17 ギガフォトン株式会社 レーザ装置、及び電子デバイスの製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN109891689B (zh) 2021-05-11
JP6845255B2 (ja) 2021-03-17
US10965090B2 (en) 2021-03-30
JPWO2018105002A1 (ja) 2019-10-24
CN109891689A (zh) 2019-06-14
US20190280451A1 (en) 2019-09-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10965090B2 (en) Laser apparatus
US5856991A (en) Very narrow band laser
US10615565B2 (en) Line narrowed laser apparatus
US20060239309A1 (en) Two-stage laser pulse energy control device and two-stage laser system
CN112771444A (zh) 激光系统和电子器件的制造方法
WO2014038584A1 (ja) レーザ装置及びレーザ装置の制御方法
US10283927B2 (en) Line narrowed laser apparatus
US9647415B2 (en) Laser apparatus and method of controlling laser apparatus
US9601893B2 (en) Laser apparatus
US20190148905A1 (en) Gas laser device
KR102707954B1 (ko) 광원용 제어 시스템
US9722385B2 (en) Laser chamber
JP4094307B2 (ja) ガスレーザ装置
US20190173259A1 (en) Laser apparatus
WO2022157897A1 (ja) レーザシステムの制御方法、レーザシステム、及び電子デバイスの製造方法
KR20200051818A (ko) 레이저 챔버에서 전극 수명을 연장시키기 위한 장치 및 방법
EP1060543A4 (en) RELIABLE MODULAR, NARROW-BANDED EXCIMER-LIGHTING EXCIMER LASER WITH PRODUCTION QUALITY
US11239625B2 (en) Laser apparatus including gas supply device and exhausting device
WO2024180767A1 (ja) ガスレーザ装置、レーザガスの温度制御方法及び電子デバイスの製造方法
WO2024047871A1 (ja) 狭帯域化レーザ装置、及び電子デバイスの製造方法
JP5832581B2 (ja) 狭帯域化レーザのスペクトル幅調整装置
WO2024185147A1 (ja) ガスレーザ装置、及び電子デバイスの製造方法
WO2021048947A1 (ja) レーザ装置、及び電子デバイスの製造方法
TW202303294A (zh) 用於磁性交換網路之電子模組
Nakaike et al. Spectral metrologies for ultra-line-narrowed F2 laser

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 16923570

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 2018555336

Country of ref document: JP

Kind code of ref document: A

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

122 Ep: pct application non-entry in european phase

Ref document number: 16923570

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1