WO2017183086A1 - 質量分析装置 - Google Patents
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Abstract
Description
図8(b)の例は、単位着目領域102のサイズつまりはレーザ光照射位置のステップ幅とは無関係にレーザ光の照射径を設定し、各単位着目領域102に対しレーザ光を照射しつつ単位着目領域102のサイズに相当するステップ幅でレーザ光照射位置を移動させる場合である。この場合には、分析対象領域101内においてレーザ光が照射されない領域つまりは非イオン化領域104が多い。そのため、試料の利用効率が低く、生成されるイオン量も少ないために高感度の分析が行えない。また、レーザ光が照射されない領域にのみ存在している物質は質量分析結果に全く反映されないので、重要な物質を見逃すおそれがある。
例えば特許文献1に記載のイメージング質量分析装置では、試料に照射するレーザ光の照射径は調整可能である。図8(c)の例は、単位着目領域102のサイズつまりはレーザ光照射位置のステップ幅に合わせてレーザ光の照射径を調整し、具体的には、単位着目領域102のサイズとレーザ光照射径とがほぼ同じになるように該レーザ光照射径を調整し、各単位着目領域102に対しレーザ光を照射しつつ単位着目領域102のサイズに相当するステップ幅でレーザ光照射位置を移動させる場合である。この場合でも、各単位着目領域102の四隅に非イオン化領域104が残ることが避けられない。
図8(d)の例は、レーザ光照射径は図8(b)の例と同じであるが、レーザ光照射位置のステップ幅をレーザ光照射径に合わせるように該ステップ幅を狭め、一つの単位着目領域102内において異なる微小領域に対する多数の分析を行うようにしたものである(非特許文献2参照)。一つの単位着目領域102内の異なる微小領域に対して得られた質量分析結果が積算又は平均化されることで、その単位着目領域102に対する質量分析結果が算出される。この場合には、方式Bとは異なり、レーザ光照射径を調整する必要がないので、レーザ光照射径可変機構は不要である。その反面、分析回数及びレーザ光照射位置移動回数が方式Bよりも増えるため、トータルの分析時間が長くなるという欠点がある。また、この場合でも、略円形状であるレーザ光照射領域に外接する矩形状の領域の四隅に非イオン化領域104が残ることが避けられない。
図8(e)の例は、方式Bと同様にレーザ光照射径を大きくすると共に、単位着目領域102のサイズよりも小さい所定のステップ幅(この例では、単位着目領域102のX軸方向、Y軸方向のサイズの約1/2のステップ幅)でレーザ光照射位置を移動させる場合である(非特許文献3参照)。上記方式A~Cではいずれも、異なるレーザ光照射位置に照射されたレーザ光が重なり合うことはなかったが、この方式Dでは、隣接するレーザ光照射位置に照射されたレーザ光が重なり合う。その結果、分析対象領域101の周縁部以外では非イオン化領域104は解消され、分析対象領域101の周縁部に沿ってごく一部の非イオン化領域104が残るだけであって、試料の利用効率は100%にかなり近くなる。
それぞれのレーザ光照射領域内に存在する物質の量は有限であり、或る領域にレーザ光を照射して質量分析を行ったあと同じ領域にレーザ光を照射しても得られるイオンの量はかなり少なくなる。そのため、レーザ光照射領域の一部が重なり合っている場合、あとから照射されたレーザ光に対応して得られるイオンの量は少なくなる。
a)レーザ光を射出するレーザ光源部と、
b)前記レーザ光源部から射出されたレーザ光を、その光束の断面形状が1種類のみで平面充填が可能である所定の図形形状になるように整形するレーザ光整形部と、
c)前記試料上のレーザ光照射位置が移動するように該試料と照射レーザ光との相対位置関係を制御する位置制御部であって、そのレーザ光の光束の断面形状が前記所定の図形形状に整形されて前記試料上に照射されるときに該レーザ光の照射領域によって平面充填がなされるように該試料と照射レーザ光との相対位置関係を制御する位置制御部と、
を備えることを特徴としている。
以下、本発明の一実施例であるイメージング質量分析装置について、添付図面を参照して説明する。
図1は本実施例のイメージング質量分析装置の概略構成図である。本実施例のイメージング質量分析装置では、イオン化法として大気圧マトリクス支援レーザ脱離イオン化(AP-MALDI)法又は大気圧レーザ脱離イオン化(AP-LDI)法を用いている。
上記第1実施例のイメージング質量分析装置では、レーザ光照射領域のサイズを変えても該領域の形状が保たれる。そのためには、従来装置において集光光学系が配置されていた位置に比べて試料100に近い位置に結像光学系15が配置される必要がある。しかしながら、質量分析装置では、試料100から生成されたイオンを収集するための要素、例えば図1中のイオン輸送管22やイオンを試料100近傍から引き出すための直流電場を形成する引出電極(図1では省略)などを試料100の至近に配置しなければならず、スペースの制約上、試料100の至近に結像光学系15を配置できない場合がある。この第2実施例のイメージング質量分析装置はそうした場合に対応した構成である。
この第2実施例では、第1実施例で用いられていた結像光学系15に代えて、従来装置で用いられていたのと同じ焦点距離の集光光学系150を用い、従来と同じ位置(図4(a)中で点線で示す位置)に配置する。そして、この集光光学系150の近傍、通常は集光光学系150からかなり近い位置にアパーチャ部材14を配置する。この場合、アパーチャ部材14、集光光学系150、試料100の位置関係、及び集光光学系150の焦点距離は、アパーチャ部材14の開口形状を試料100上に結像する条件を満たさない。その結果、従来装置と同様に、アパーチャ部材14の開口141の形状は試料100に結像されず、試料100上のレーザ光照射領域は図4(b)に示すように略円形又は略楕円形になる。
このように第2実施例のイメージング質量分析装置は、従来装置で通常使用されている集光光学系を利用しながらアパーチャ部材14の配置と該集光光学系の位置とを適宜に調整することで、単位着目領域が大きいときには第1実施例と同様に、レーザ照射領域の形状を単位着目領域とほぼ同じ矩形状にすることができる。この第2実施例のイメージング質量分析装置は、ハードウエアの実現の容易性と効果の上での実用性との観点から適切な構成であるといえる。
上記第1、第2実施例では、試料上でのレーザ照射領域の形状が正方形状になるようにアパーチャ形状を定めていたが、試料上でのレーザ照射領域の形状は平面充填が可能であれば他の形状でも構わない。平面充填が可能な正多角形は正三角形(図7(a)参照)、正方形、正六角形(図7(b)参照)の三種類である。また、そうした正多角形以外にも、平行四辺形、任意の三角形、平行六辺形、任意の四角形、或いはこうした図形を元にして様々に変形した図形が平面充填可能である。ただし、この図形形状は次のような条件を満たすことが望ましい。
100…試料
101…分析対象領域
102…単位着目領域
103…レーザ光照射領域
104…非イオン化領域
11…試料台
12…試料台駆動部
13…レーザ照射部
14…アパーチャ部材
15…結像光学系
150…集光光学系
16…レーザ光
17…結像光学系駆動部
18…アパーチャ駆動部
19…照射光サイズ変更部
20…真空チャンバ
21…真空ポンプ
22…イオン輸送管
23…イオン輸送光学系
24…イオン分離・検出部
30…制御部
301…走査制御部
31…入力部
32…データ処理部
33…表示部
Claims (7)
- 試料にレーザ光を照射してそのレーザ光照射領域に存在する試料中の物質をイオン化するイオン源を具備し、該イオン源で生成されたイオン又はそれに由来するイオンを質量分析する質量分析装置において、
a)レーザ光を射出するレーザ光源部と、
b)前記レーザ光源部から射出されたレーザ光を、その光束の断面形状が1種類のみで平面充填が可能である所定の図形形状になるように整形するレーザ光整形部と、
c)前記試料上のレーザ光照射位置が移動するように該試料と照射レーザ光との相対位置関係を制御する位置制御部であって、そのレーザ光の光束の断面形状が前記所定の図形形状に整形されて前記試料上に照射されるときに該レーザ光の照射領域によって平面充填がなされるように該試料と照射レーザ光との相対位置関係を制御する位置制御部と、
を備えることを特徴とする質量分析装置。 - 請求項1に記載の質量分析装置であって、
前記レーザ光整形部はレーザ光の光束の断面形状を矩形状に整形することを特徴とする質量分析装置。 - 請求項1に記載の質量分析装置であって、
前記試料に照射されるレーザ光の大きさを変更するサイズ変更部をさらに備えることを特徴とする質量分析装置。 - 請求項3に記載の質量分析装置であって、
前記サイズ変更部により試料に照射されるレーザ光の大きさを大きくするように変更されたときに前記レーザ光整形部により該レーザ光の断面形状が矩形状に整形されるようにしたことを特徴とする質量分析装置。 - 請求項1に記載の質量分析装置であって、
前記レーザ光整形部は、前記光源部から射出されたレーザ光の光軸上に設けられた所定形状の開口が形成されたアパーチャ部材を含むことを特徴とする質量分析装置。 - 請求項1に記載の質量分析装置であって、
前記位置制御部により試料と照射レーザ光との相対位置関係を制御しつつ該試料にレーザ光を照射して得られたイオンを質量分析することで得られた質量分析結果に基づいて、試料上の所定の1次元的な又は2次元的な分析対象領域についての質量分析結果のグラフ又は質量分析イメージング画像を作成するデータ処理部をさらに備えることを特徴とする質量分析装置。 - 請求項1~6のいずれか1項に記載の質量分析装置であって、
前記イオン源はマトリクス支援レーザ脱離イオン化法による又はレーザ脱離イオン化法によるイオン源であることを特徴とする質量分析装置。
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