WO2016208114A1 - 樹脂成形体およびその製造方法 - Google Patents

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thermoplastic resin
thermosetting
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山川　裕之
龍介 泉
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株式会社デンソー
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Definitions

  • the present disclosure relates to a resin molded body in which a part of the surface of a thermosetting resin member is sealed with a thermoplastic resin member, and the remainder of the surface of the thermosetting resin member is exposed from the thermoplastic resin member, and the It is related with the manufacturing method of such a resin molding.
  • thermosetting resin member made of a thermosetting resin that seals the sealed component
  • thermosetting resin member made of a thermosetting resin that seals the sealed component
  • thermosetting resin member seals the sealing surface which is a part of the surface of the thermosetting resin member, and exposes the exposed surface which is the remaining part of the surface.
  • thermosetting resin in terms of high adhesion and low stress to the sealed component
  • thermoplastic resin each of the dimensional accuracy and toughness of the molded product is good. It takes advantage of it.
  • an epoxy resin etc. are mentioned as a thermosetting resin
  • PPS polyphenylene sulfide
  • PBT polybutylene terephthalate
  • thermosetting resin material that is a raw material of the thermosetting resin member, and this is heated to complete the curing to form a thermosetting resin member, that is, primary molding. I do.
  • thermoplastic resin member is heated by performing injection molding so as to cover the sealing surface of the surface of the thermosetting resin member with the thermoplastic resin material which is a raw material of the thermoplastic resin member.
  • the plastic molding process for forming the film that is, secondary molding is performed.
  • a resin molded body is completed.
  • thermosetting resin member since the adhesiveness of the thermoplastic resin to the thermosetting resin is poor, peeling is likely to occur at the interface between the thermosetting resin member and the thermoplastic resin member.
  • thermosetting resin member In this type of resin molded body, as described above, the sealing surface that is a part of the surface of the thermosetting resin member is sealed with the thermoplastic resin member, but the exposed surface that is the remainder of the surface. Is exposed from the thermoplastic resin member.
  • thermosetting resin member In a resin molded body in which a part of the surface of a thermosetting resin member is sealed with a thermoplastic resin member, the thermosetting resin member and the thermoplastic resin are formed. It aims at improving the adhesiveness with a resin member.
  • the resin molded body includes a thermosetting resin member made of a thermosetting resin and a thermoplastic resin that seals a sealing surface that is a part of the surface of the thermosetting resin member. And a thermoplastic resin member. The exposed surface which is the remaining part of the surface of the thermosetting resin member is exposed from the thermoplastic resin member. An additive containing a functional group is added to the thermoplastic resin member.
  • the thermosetting resin member has a surface layer made of a thermosetting resin having a carboxyl group concentration or a phenol group concentration higher than that of the thermosetting resin in the base portion on at least a part of the sealing surface. The carboxyl group or phenol group present in the surface layer and the functional group present in the additive are chemically bonded.
  • the surface layer constituting the sealing surface in direct contact with the thermoplastic resin member in the thermosetting resin member has a high concentration of carboxyl groups or phenol groups having high reactivity with the functional groups present in the additive. It is supposed to have. Therefore, since many chemical bonds between the carboxyl group or phenol group in the surface layer and the functional group in the additive can be formed at the interface between the thermosetting resin member and the thermoplastic resin member, the thermosetting resin The adhesion between the member and the thermoplastic resin member can be improved.
  • the resin molded body includes a thermosetting resin member made of a thermosetting resin and a thermoplastic resin that seals a sealing surface that is a part of the surface of the thermosetting resin member. And a thermoplastic resin member. The exposed surface which is the remaining part of the surface of the thermosetting resin member is exposed from the thermoplastic resin member.
  • the method for producing a resin molded body includes the following steps.
  • thermosetting resin material that is a raw material of the thermosetting resin member is used, and the thermosetting resin material is heated to complete the curing.
  • a resin member is formed.
  • the surface layer forming step at least a part of the sealing surface of the thermosetting resin member is chemically reacted and denatured so that the carboxyl group concentration or the phenol group concentration is higher than the thermosetting resin in the base portion.
  • the surface layer is made of a thermosetting resin.
  • thermosetting resin member is formed by injection-molding the material to which the additive is added to chemically bond the carboxyl group or phenol group present in the surface layer with the functional group present in the additive added to the thermoplastic resin material.
  • the sealing surface is sealed with a thermoplastic resin member.
  • thermosetting resin member and the thermoplastic resin member can be improved.
  • FIG. 2 is a cross-sectional view showing a region R in the semiconductor device in FIG. 1. It is the external appearance perspective view which showed typically the thermosetting resin member in the semiconductor device in FIG. It is a schematic sectional drawing which shows the hardening mold process in the manufacturing method of the semiconductor device concerning 1st Embodiment. It is a schematic sectional drawing which shows the surface layer formation process in the manufacturing method of the semiconductor device concerning 1st Embodiment. It is a schematic sectional drawing which shows the surface layer formation process following FIG. It is a schematic sectional drawing which shows the plastic mold process in the manufacturing method of the semiconductor device concerning 1st Embodiment. It is a schematic sectional drawing which shows the plastic molding process following FIG. It is the external appearance perspective view which showed typically the thermosetting resin member contained in the semiconductor device as a resin molding concerning 2nd Embodiment of this indication.
  • FIG. 1 A resin molded body according to the first embodiment of the present disclosure will be described with reference to FIGS. 1 to 3.
  • the thickness of the surface layer 11a formed on the surface of the thermosetting resin member 10 to be described later, the height of the step 11b, and the additive 20a in the thermoplastic resin member 20 are easily understood. In order to do this, it is greatly deformed.
  • FIG. 3 the surface layer 11 a formed on the surface of the thermosetting resin member 10 is shown with hatching on the surface.
  • This resin molded body is mounted on a vehicle such as an automobile, and is applied as a semiconductor device for driving various electronic devices for the vehicle.
  • the semiconductor device as the resin molded body of the present embodiment includes a thermosetting resin member 10 and a thermoplastic resin member 20 that seals a part of the surface of the thermosetting resin member 10.
  • the thermosetting resin member 10 is made of a thermosetting resin such as an epoxy resin, and a filler made of an insulating material such as silica or alumina may be contained in the resin as necessary. Such a thermosetting resin member 10 is formed by performing transfer molding, compression molding, molding by a potting method, and thermosetting treatment.
  • the thermoplastic resin member 20 is made of a thermoplastic resin such as PPS (polyphenylene sulfide) or PBT (polybutylene terephthalate), and performs injection molding so as to seal a part of the thermosetting resin member 10. This is what was formed.
  • PPS polyphenylene sulfide
  • PBT polybutylene terephthalate
  • thermoplastic resin member 20 seals a part of the surface of the thermosetting resin member 10, so that a part of the surface of the thermosetting resin member 10 is sealed by the thermoplastic resin member 20.
  • the surface 11 is used.
  • the remainder which is parts other than the sealing surface 11 among the surfaces of the thermosetting resin member 10 is the exposed surface 12 exposed from the thermoplastic resin member 20.
  • the exposed surface 12 is exposed to the outside of the thermoplastic resin member 20.
  • thermosetting resin member 10 is configured to have a rectangular parallelepiped block shape. A part of the surface of the thermosetting resin member 10 on the one end 10a side in the longitudinal direction of the thermosetting resin member 10 is used as a sealing surface 11, and the thermosetting resin on the other end 10b side in the longitudinal direction. The remainder of the surface of the member is an exposed surface 12.
  • thermosetting resin member 10 shown in FIGS. 1 and 3 has a rectangular parallelepiped shape having one end surface in the longitudinal direction, the other end surface facing the end surface, and four side surfaces extending in the longitudinal direction. I am doing.
  • the sealing surface 11 of the thermosetting resin member 10 is a portion on the one end 10a side in the longitudinal direction among the one end surface in the longitudinal direction and the four side surfaces.
  • the exposed surface 12 is the other end surface in the longitudinal direction and a portion on the other end 10b side in the longitudinal direction among the four side surfaces.
  • thermosetting resin member 10 includes therein a semiconductor element 30 as a first sealed component sealed by the thermosetting resin member 10 and an electrical connection member 40 as a second sealed component. Have.
  • the semiconductor element 30 as the first sealed component is a sensor chip made of a silicon semiconductor or the like used for a magnetic sensor, an optical sensor, a pressure sensor, or the like. Such a semiconductor element 30 is formed by a normal semiconductor process.
  • the entire semiconductor element 30 is sealed with the thermosetting resin member 10, and the semiconductor element 30 detects external magnetism via the thermosetting resin member 10. Like to do.
  • an opening for opening a part of the semiconductor element 30 is formed in the thermosetting resin member 10, and the semiconductor element 30 is interposed through the opening. It detects light and pressure.
  • the electrical connection member 40 as the second sealed component is for electrically connecting the semiconductor element 30 and a wiring member (not shown) outside the semiconductor device.
  • a part 41 of the electrical connection member 40 is covered with the thermosetting resin member 10, and the remaining part 42 protrudes from the sealing surface 11 of the thermosetting resin member 10. Further, the remaining part 42 of the electrical connection member 40 is sealed by the thermoplastic resin member 20 outside the thermosetting resin member 10, and the tip portion thereof is exposed from the thermoplastic resin member 20.
  • connection method with this semiconductor element 30 is not specifically limited, Here, it connects with the bonding wires 50, such as Al and Au.
  • thermoplastic resin member 20 seals the remaining part 42 of the electrical connection member 40, but the thermoplastic resin member 20 has an opening 21. In the opening 21, a part of the remaining portion 42 of the electrical connection member 40 is exposed to the outside of the thermoplastic resin member 20.
  • the opening 21 of the thermoplastic resin member 20 is a portion to which an external wiring member (not shown) such as a connector member is inserted and connected, whereby the external wiring member and the electrical connection member 40 are connected to each other. It is designed to be electrically connected.
  • the electrical connection member 40 functions as a device for detecting and outputting the semiconductor element 30, and the semiconductor element 30 can be electrically exchanged with the outside of the apparatus via the electrical connection member 40.
  • a terminal terminal made of a rod-shaped member such as Cu or Al is used as such an electrical connection member 40, but a circuit board or the like may be used as the electrical connection member 40.
  • a part of the sealing surface 11 of the thermosetting resin member 10 is configured as a surface layer 11a.
  • the surface layer 11a is made of a thermosetting resin having a higher carboxyl group concentration or higher phenol group concentration than the base portion thermosetting resin.
  • the surface layer 11a is formed in a surface layer forming step (see FIGS. 5 and 6), which will be described later, and the surface portion of the thermosetting resin member 10 is chemically modified by a laser to be altered.
  • a laser reaction layer This is a so-called laser reaction layer.
  • the laser is not limited, but a CO2 laser, a YAG laser, or the like is used, for example.
  • the new surface is a concave surface.
  • the concave new surface is activated by the laser energy to become a portion where the concentration of the carboxyl group or the concentration of the phenol group is increased, and is formed as the surface layer 11a.
  • the formation surface of the surface layer 11 a in the surface of the thermosetting resin member 10 is recessed with respect to a portion other than the formation surface, and the formation surface and the other portions A step 11b is formed between them.
  • the height of the step 11b is several ⁇ m or more (for example, 5 ⁇ m or more).
  • the concentration of the carboxyl group in the surface layer 11a is about several percent while the concentration of the carboxyl group is substantially 0% in the thermosetting resin of the base portion. Become.
  • the concentration of the carboxyl group or the concentration of the phenol group in the surface layer 11a and the underlying portion thereof is confirmed by staining XPS analysis (stained X-ray photoelectron spectroscopy, XPS is an abbreviation for X-ray Photoelectron Spectroscopy).
  • the thickness of the surface layer 11a is not limited, but is about several tens of ⁇ m, for example.
  • the formation surface of the surface layer 11a is the surface irradiated with the laser in the present embodiment, but is roughened by the laser irradiation so that the sealing surface 11 and the exposed surface 12 other than the formation surface are formed.
  • the roughened surface has a higher degree of roughening (surface roughness).
  • the surface layer 11a has a concavo-convex shape inheriting the concavo-convex shape resulting from the roughening.
  • an additive 20 a is added in the thermoplastic resin member 20.
  • the additive 20a is made of a polymer containing any one or more functional groups such as an epoxy group, a hydroxyl group, an amino group, and a carbonyl group. Although it does not limit, as additive 20a, what is used for the main ingredient of an epoxy resin is mentioned, for example.
  • thermoplastic resin member 20 compared with the site
  • a large amount of the additive 20a in 20 is present.
  • Such localization of the additive 20a in the thermoplastic resin member 20 is confirmed by mapping analysis using EPMA (electron probe microanalyzer, abbreviation for Electron Probe MicroAnalyzer).
  • the carboxyl group or phenol group present in the surface layer 11a and the functional group present in the additive 20a are chemically bonded.
  • the chemical bond at this interface is obtained by chemically reacting a functional group such as an epoxy group or a hydroxyl group in the additive 20a with a carboxyl group or a phenol group in the surface layer 11a. Is mentioned.
  • Such a chemical bond between the surface layer 11a and the additive 20a is confirmed by a peak wavelength of FT-IR (Fourier transform infrared spectroscopy, abbreviation for Fourier-transform infrared spectroscopy).
  • FT-IR Fastier transform infrared spectroscopy, abbreviation for Fourier-transform infrared spectroscopy.
  • the remaining part 42 of the electrical connection member 40 that is the second sealed component protrudes from the sealing surface 11 of the thermosetting resin member 10, and heat It is sealed with a plastic resin member 20.
  • the surface layer 11 a described above is formed around the remaining portion 42 of the electrical connecting member 40 on the sealing surface 11 positioned between the exposed surface 12 and the remaining portion 42 of the electrical connecting member 40. It is provided so as to form a continuous ring shape.
  • FIG. 3 shows, the surface layer 11a is formed only in the sealing surface 11 in the thermosetting resin member 10, ie, only inside the thermoplastic resin member 20. As shown in FIG. ing. For this reason, the edge part of the surface layer 11a is located inside the thermoplastic resin member 20.
  • thermosetting resin material that is a raw material of the thermosetting resin member 10 is used, and the thermosetting resin material is heated to complete the curing.
  • the member 10 is formed.
  • thermosetting resin member 10 is completed.
  • a contaminant layer (not shown) made of contaminants exists on the outermost surface of the thermosetting resin member 10 formed in this curing mold process.
  • the contaminant is, for example, a release agent or a foreign matter attached to the surface of the thermosetting resin member 10 during the process.
  • the mold release agent is provided on the surface of the mold 100 or mixed with the thermosetting resin material itself in order to ensure mold release properties in the molding, and is made of, for example, siloxane or fatty acid.
  • thermosetting resin member 10 a surface layer forming step is performed on the thermosetting resin member 10.
  • a part of the sealing surface 11 in the thermosetting resin member 10, that is, a portion of the sealing surface 11 that forms the surface layer 11 a is chemically reacted to change the surface layer 11 a described above.
  • a portion of the sealing surface 11 in the thermosetting resin member 10 where the surface layer 11 a is formed is irradiated with the laser 200.
  • the surface layer 11a is formed by making the said site
  • the contaminated layer located on the outermost surface is removed in the laser irradiated portion, so that the portion has the above-described step 11b and is recessed and roughened. It is said.
  • the concave new surface is activated by the laser energy to form the surface layer 11a.
  • thermoplastic resin material to which an additive 20a that is a raw material of the thermoplastic resin member 20 is added is injection-molded with respect to the sealing surface 11 including the surface layer 11a of the thermosetting resin member 10.
  • the thermoplastic resin material to which the additive 20a is added can be obtained, for example, by kneading a polymer having a functional group to be the additive 20a into a thermoplastic resin material to be a base material.
  • thermoplastic resin member 20 As a result, in the plastic molding process, the high-concentration carboxyl group or phenol group present in the surface layer 11a and the functional group present in the additive 20a contained in the thermoplastic resin material are chemically bonded, while the thermosetting resin.
  • the sealing surface 11 of the member 10 is sealed with the thermoplastic resin member 20.
  • thermosetting resin member 10 is an epoxy resin
  • carboxyl group or the phenol group in the surface layer 11a obtained by modifying the epoxy resin and the epoxy present in the additive 20a are used.
  • chemical bonds with groups, hydroxyl groups and the like are used.
  • the chemical bond is a covalent bond, the bond is stronger.
  • thermosetting resin member 10 high adhesion between the surface layer 11a and the thermoplastic resin member 20 in the thermosetting resin member 10 can be obtained.
  • the plastic molding process is completed, and the semiconductor device as the resin molded body of this embodiment is completed.
  • each process after said surface layer formation process processes selectively with respect to a part of surface of the thermosetting resin member 10, masking etc. are suitably performed on the surface which does not process. After applying, each step is performed.
  • a part of the sealing surface 11 that is in direct contact with the thermoplastic resin member 20 in the thermosetting resin member 10 is constituted by the surface layer 11a.
  • the surface layer 11a has a high concentration of carboxyl groups or phenol groups that are highly reactive with the functional groups present in the additive 20a.
  • thermosetting resin member 10 at the interface between the thermosetting resin member 10 and the thermoplastic resin member 20 via the surface layer 11a, many chemical bonds are formed between the carboxyl group or phenol group in the surface layer 11a and the functional group in the additive 20a. can do. Therefore, according to this embodiment, the adhesiveness between the thermosetting resin member 10 and the thermoplastic resin member 20 can be improved.
  • the formation surface of the surface layer 11a is a roughened surface as described above, the adhesion between the surface layer 11a and the thermoplastic resin member 20 is determined by the uneven shape of the roughened surface. Further improvement is expected.
  • thermoplastic resin member 20 in the sealing form of the thermoplastic resin member 20 like this embodiment, it is located in the boundary of the sealing surface 11 and the exposed surface 12 among the interfaces of the thermosetting resin member 10 and the thermoplastic resin member 20. Intruding substances such as external moisture and contaminants may enter the apparatus along the interface from the end portion. In particular, in the case of an in-vehicle semiconductor device like this embodiment, there is a risk that contaminants such as moisture and oil existing in the use environment may enter.
  • the surface of the sealing surface 11 in the thermosetting resin member 10 is located at a portion located between the exposed surface 12 and the remaining portion 42 of the electrical connection member 40 protruding from the sealing surface 11.
  • the layer 11a is provided so as to have the above-described closed shape.
  • this closed ring-shaped part is a part where high adhesion is obtained as described above and peeling is prevented. Therefore, according to the present embodiment, for example, from the left side to the right side in FIG. 1, the intruding substance from the exposed surface 12 side to the remaining part 42 of the electrical connection member 40 through the interface between the resin members 10 and 20. Reaching as much as possible can be prevented.
  • FIG. 1 A semiconductor device as a resin molded body according to the second embodiment of the present disclosure will be described with reference to FIG.
  • This embodiment is different from the first embodiment in that the arrangement pattern of the surface layer 11a in the thermosetting resin member 10 is changed, and here, the difference will be mainly described. .
  • the arrangement pattern of the surface layer 11a was made into the closed annular pattern continuous over four side surfaces in the rectangular parallelepiped thermosetting resin member 10.
  • FIG. the surface layer 11 a is disposed only on the end face on the one end 10 a side, that is, on one end face of the rectangular parallelepiped thermosetting resin member 10.
  • the arrangement pattern of the surface layer 11a is a closed ring shape surrounding the remaining portion 42 of the electrical connection member 40 protruding from the one end surface which is the sealing surface 11.
  • the effect of the closed ring pattern is exhibited as in the first embodiment.
  • the surface layer 11a is configured as a laser reaction layer.
  • the surface layer 11a is made of a thermosetting resin having a higher carboxyl group concentration or phenol group concentration than the base portion thermosetting resin. If it is a thing, it will not be limited to a laser reaction layer.
  • the surface layer 11a may be a layer formed by light irradiation other than a laser that activates the surface of the thermosetting resin member 10.
  • the surface layer 11a was provided in a part of sealing surface 11 in the thermosetting resin member 10, It may be provided on the entire sealing surface 11. That is, the surface layer 11a may be provided on at least a part of the sealing surface 11.
  • the surface layer 11a is formed up to the exposed surface 12 in addition to the sealing surface 11. Furthermore, the surface layer 11 a may be formed on the entire surface of the thermosetting resin member 10.
  • the continuous closed ring arrangement pattern as described above is preferable. You may arrange in a shape.
  • the step 11 b is sealed inside the thermoplastic resin member 20.
  • the surface layer 11a may have a structure formed continuously from the sealing surface 11 in the thermosetting resin member 10 to a part of the exposed surface 12, in which case the step 11b is It is exposed from the thermoplastic resin member and is visible.
  • first sealed component and the second sealed component may be anything as long as they can be sealed with the thermosetting resin member 10, and the semiconductor element 30 and the electrical connection member described above. It is not limited to 40 or a circuit board.
  • thermosetting resin member 10 is not limited to the above-mentioned rectangular parallelepiped shape, and may be spherical or other indefinite shape.
  • the thermoplastic resin member 20 may be sealed as long as a part of the surface of the thermosetting resin member 10 is sealed and the remaining part is exposed.
  • the one end 10a side is not limited to the sealing surface 11 and the other end 10b side is an exposed surface.
  • the resin molding is a semiconductor device
  • the semiconductor element 30 etc. which become the to-be-sealed components sealed with the thermosetting resin member 10 etc. are provided in the thermosetting resin member 10 inside. It was what was done.
  • the resin molded body is not limited to such a semiconductor device.
  • the thermosetting resin member 10 may have a configuration without a sealed component.
  • present disclosure is not limited to the above-described embodiment, and can be appropriately changed within the scope of the present disclosure.
  • the above embodiments are not irrelevant to each other, and can be combined as appropriate unless the combination is clearly impossible, and the above embodiments are not limited to the illustrated examples. Absent.

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Abstract

樹脂成形体は、熱硬化性樹脂部材（１０）と、熱硬化性樹脂部材の封止面（１１）を封止する熱可塑性樹脂部材（２０）と、を備える。熱硬化性樹脂部材の露出面（１２）は、熱可塑性樹脂部材より露出している。熱可塑性樹脂部材には官能基を含有する添加剤（２０ａ）が添加されており、熱硬化性樹脂部材は、封止面の一部に、下地部分の熱硬化性樹脂よりもカルボキシル基の濃度またはフェノール基の濃度が高い熱硬化性樹脂よりなる表面層（１１ａ）を有する。表面層に存在するカルボキシル基またはフェノール基と添加剤に存在する官能基とが化学結合されている。これにより、熱硬化性樹脂部材と熱可塑性樹脂部材との密着性の向上できる。

Description

樹脂成形体およびその製造方法 関連出願の相互参照
　本出願は、当該開示内容が参照によって本出願に組み込まれた、２０１５年６月２６日に出願された日本特許出願２０１５－１２８８０１を基にしている。
　本開示は、熱硬化性樹脂部材の表面の一部を熱可塑性樹脂部材で封止し、熱硬化性樹脂部材の表面の残部を熱可塑性樹脂部材より露出させてなる樹脂成形体、および、そのような樹脂成形体の製造方法に関する。
　従来より、この種の樹脂成形体として、部品が実装された基板等よりなる被封止部品と、被封止部品を封止する熱硬化性樹脂よりなる熱硬化性樹脂部材と、熱硬化性樹脂部材の表面を封止する熱可塑性樹脂よりなる熱可塑性樹脂部材と、を備える樹脂成形体が提案されている（たとえば特許文献１参照）。ここで、熱可塑性樹脂部材は、熱硬化性樹脂部材の表面の一部である封止面を封止し、当該表面の残部である露出面を露出させている。
　このような樹脂成形体は、熱硬化性樹脂については、被封止部品に対する高密着性や低応力性の点で好ましく、熱可塑性樹脂については、成形物の寸法精度や靭性がよい、という各利点を生かしたものである。たとえば、熱硬化性樹脂としてはエポキシ樹脂等が挙げられ、熱可塑性樹脂としては、ＰＰＳ（ポリフェニレンサルファイド）やＰＢＴ（ポリブチレンテレフタレート）等が挙げられる。
　このような樹脂成形体の一般的な製造方法は、次の通りである。まず、被封止部品を、熱硬化性樹脂部材の原料である熱硬化性樹脂材料で被覆し、これを加熱して硬化完了させて熱硬化性樹脂部材を形成する硬化モールド工程、つまり一次成形を行う。
　次に、熱可塑性樹脂部材の原料である熱可塑性樹脂材料にて熱硬化性樹脂部材の表面のうちの封止面を被覆するように射出成形を行うことで、加熱することにより熱可塑性樹脂部材を形成する可塑モールド工程、つまり二次成形を行う。こうして、樹脂成形体ができあがる。
特許第３６２０１８４号公報
　しかしながら、このような樹脂成形体においては、熱硬化性樹脂に対する熱可塑性樹脂の密着性が悪いため、熱硬化性樹脂部材と熱可塑性樹脂部材との界面で剥離が生じやすい。
　この種の樹脂成形体においては、上記したように、熱硬化性樹脂部材の表面の一部である封止面は、熱可塑性樹脂部材で封止されるが、当該表面の残部である露出面は、熱可塑性樹脂部材より露出する。
　そのため、上記界面で剥離が発生すると、たとえば、上記界面のうち外部に露出する部分、すなわち、上記界面のうち熱硬化性樹脂部材における封止面と露出面との境界に位置する端部から、外部の水分や汚染物質等が、上記界面に沿って樹脂成形体の内部に侵入することになる。
　このような上記界面での剥離に対して、上記従来公報では、熱可塑モールド工程後に、上記界面のうち上記封止面と露出面との境界に位置する端部に、別の充填材料を配置することで、上記界面の端部を被覆し、上記界面の剥離を防止するようにしている。しかし、この場合、充填材料を別途用いる必要が生じることから、樹脂成形体の形状の制約やコストアップ等招くおそれがある。
　本開示は、上記した点に鑑みてなされたものであり、熱硬化性樹脂部材の表面の一部を熱可塑性樹脂部材で封止してなる樹脂成形体において、熱硬化性樹脂部材と熱可塑性樹脂部材との密着性の向上を図ることを目的とする。
　本開示の第１態様によると、樹脂成形体は、熱硬化性樹脂よりなる熱硬化性樹脂部材と、熱硬化性樹脂部材の表面の一部である封止面を封止する熱可塑性樹脂よりなる熱可塑性樹脂部材と、を備える。熱硬化性樹脂部材の表面の残部である露出面は、熱可塑性樹脂部材より露出している。熱可塑性樹脂部材には官能基を含有する添加剤が添加されている。熱硬化性樹脂部材は、封止面の少なくとも一部に、下地部分の熱硬化性樹脂よりもカルボキシル基の濃度またはフェノール基の濃度が高い熱硬化性樹脂よりなる表面層を有するものである。表面層に存在するカルボキシル基またはフェノール基と添加剤に存在する官能基とが化学結合されている。
　それによれば、熱硬化性樹脂部材において熱可塑性樹脂部材と直接接触する封止面を構成する表面層は、添加剤に存在する官能基との反応性が高いカルボキシル基またはフェノール基を、高濃度に有したものとされている。そのため、熱硬化性樹脂部材と熱可塑性樹脂部材との界面において、表面層中のカルボキシル基またはフェノール基と添加剤中の官能基との化学結合を多く形成することができるから、熱硬化性樹脂部材と熱可塑性樹脂部材との密着性の向上を図ることができる。
　本開示の第２態様によると、樹脂成形体は、熱硬化性樹脂よりなる熱硬化性樹脂部材と、熱硬化性樹脂部材の表面の一部である封止面を封止する熱可塑性樹脂よりなる熱可塑性樹脂部材と、を備える。熱硬化性樹脂部材の表面の残部である露出面は、熱可塑性樹脂部材より露出する。樹脂成形体の製造方法は、以下の各工程を備えるものである。
　すなわち、樹脂成形体の製造方法において、硬化モールド工程では、熱硬化性樹脂部材の原料である熱硬化性樹脂材料を用い、熱硬化性樹脂材料を加熱して硬化完了させることにより、熱硬化性樹脂部材を形成する。表面層形成工程では、熱硬化性樹脂部材における封止面の少なくとも一部を、化学反応させて変質させることにより、下地部分の熱硬化性樹脂よりもカルボキシル基の濃度またはフェノール基の濃度が高い熱硬化性樹脂よりなる表面層とする。可塑モールド工程では、表面層が形成された熱硬化性樹脂部材に対して、熱可塑性樹脂部材の原料である熱可塑性樹脂材料として表面層に存在する官能基と化学結合する官能基を含有する添加剤を添加した材料を、射出成形することにより、表面層に存在するカルボキシル基またはフェノール基と熱可塑性樹脂材料に添加した添加剤に存在する官能基とを化学結合させつつ、熱硬化性樹脂部材における封止面を熱可塑性樹脂部材で封止する。
　それによれば、上記第１態様に記載の樹脂成形体を適切に製造し得る樹脂成形体の製造方法が提供される。そのため、熱硬化性樹脂部材と熱可塑性樹脂部材との密着性の向上を図ることができる。
本開示の第１実施形態にかかる樹脂成形体としての半導体装置を示す概略断面図である。 図１中の半導体装置における領域Ｒを示す断面図である。 図１中の半導体装置における熱硬化性樹脂部材を模式的に示した外観斜視図である。 第１実施形態にかかる半導体装置の製造方法における硬化モールド工程を示す概略断面図である。 第１実施形態にかかる半導体装置の製造方法における表面層形成工程を示す概略断面図である。 図５に続く表面層形成工程を示す概略断面図である。 第１実施形態にかかる半導体装置の製造方法における可塑モールド工程を示す概略断面図である。 図７に続く可塑モールド工程を示す概略断面図である。 本開示の第２実施形態にかかる樹脂成形体としての半導体装置に含まれる熱硬化性樹脂部材を模式的に示した外観斜視図である。
　以下に、図面を参照しながら本開示を実施するための複数の形態を説明する。各形態において先行する形態で説明した事項に対応する部分には同一の参照符号を付して重複する説明を省略する場合がある。各形態において構成の一部のみを説明している場合は、構成の他の部分については先行して説明した他の形態を適用することができる。各実施形態で具体的に組合せが可能であることを明示している部分同士の組合せばかりではなく、特に組合せに支障が生じなければ、明示してなくとも実施形態同士を部分的に組み合せることも可能である。
　（第１実施形態）
　本開示の第１実施形態にかかる樹脂成形体について、図１～図３を参照して述べる。なお、図１では、後述する熱硬化性樹脂部材１０の表面に形成された表面層１１ａの厚さ、段差１１ｂの高さ、および、熱可塑性樹脂部材２０中の添加剤２０ａについては、わかりやすくするために、大きくデフォルメして示してある。また、図３では、熱硬化性樹脂部材１０の表面に形成された表面層１１ａについて、その表面に斜線ハッチングを施して示している。
　この樹脂成形体は、たとえば自動車などの車両に搭載され、車両用の各種電子装置を駆動するための半導体装置として適用されるものである。本実施形態の樹脂成形体としての半導体装置は、熱硬化性樹脂部材１０と、熱硬化性樹脂部材１０の表面の一部を封止する熱可塑性樹脂部材２０とを備えて構成されている。
　熱硬化性樹脂部材１０は、エポキシ樹脂等の熱硬化性樹脂よりなるもので、必要に応じて、当該樹脂中にシリカやアルミナ等の絶縁性材料よりなるフィラーが含有されていてもよい。このような熱硬化性樹脂部材１０は、トランスファー成形、コンプレッション成形、あるいは、ポッティング法等による成形および熱硬化処理を行うことで、形成されたものである。
　また、熱可塑性樹脂部材２０は、ＰＰＳ（ポリフェニレンサルファイド）やＰＢＴ（ポリブチレンテレフタレート）等の熱可塑性樹脂よりなるもので、熱硬化性樹脂部材１０の一部を封止するように射出成形を行うことにより、形成されたものである。
　この熱可塑性樹脂部材２０が熱硬化性樹脂部材１０の表面の一部を封止することにより、熱硬化性樹脂部材１０の表面の一部は、熱可塑性樹脂部材２０により封止された封止面１１とされている。そして、熱硬化性樹脂部材１０の表面のうち封止面１１以外の部分である残部は、熱可塑性樹脂部材２０より露出する露出面１２とされている。露出面１２は熱可塑性樹脂部材２０の外部に露出している。
　ここでは、図１および図３に示されるように、熱硬化性樹脂部材１０は、直方体状のブロック形状をなすものとして構成されている。そして、この熱硬化性樹脂部材１０の長手方向の一端１０ａ側における熱硬化性樹脂部材１０の表面の一部が、封止面１１とされ、当該長手方向の他端１０ｂ側における熱硬化性樹脂部材の表面の残部が、露出面１２とされている。
　さらに具体的に言うならば、図１、図３に示される熱硬化性樹脂部材１０は、長手方向の一端面とこれに対向する他端面、および、長手方向に延びる４個の側面を有する直方体をなしている。そして、熱硬化性樹脂部材１０の封止面１１は、当該長手方向の一端面と４個の側面のうちの当該長手方向の一端１０ａ側の部位とされ、一方、熱硬化性樹脂部材１０の露出面１２は、当該長手方向の他端面と４個の側面のうちの当該長手方向の他端１０ｂ側の部位とされている。
　熱硬化性樹脂部材１０は、その内部に、熱硬化性樹脂部材１０により封止された第１の被封止部品としての半導体素子３０、第２の被封止部品としての電気接続部材４０を有している。
　第１の被封止部品である半導体素子３０は、磁気センサや光センサ、あるいは、圧力センサ等に用いられるシリコン半導体等よりなるセンサチップである。このような半導体素子３０は、通常の半導体プロセスにより形成されるものである。
　たとえば、磁気センサ用の半導体素子３０の場合、半導体素子３０の全体が熱硬化性樹脂部材１０により封止されており、半導体素子３０は、熱硬化性樹脂部材１０を介して外部の磁気を検出するようにしている。
　また、光センサや圧力センサ用の半導体素子３０の場合、半導体素子３０の一部を開口させる図示しない開口部が、熱硬化性樹脂部材１０に形成され、半導体素子３０は、当該開口部を介して光や圧力を検出するようになっている。
　一方、第２の被封止部品である電気接続部材４０は、半導体素子３０と半導体装置の外部の図示しない配線部材とを電気的に接続するためのものである。ここでは、電気接続部材４０の一部４１は熱硬化性樹脂部材１０に被覆されて、残部４２は熱硬化性樹脂部材１０における封止面１１より突出する。また、電気接続部材４０の残部４２は、熱硬化性樹脂部材１０の外部にて熱可塑性樹脂部材２０により封止され、かつ、その先端部が熱可塑性樹脂部材２０から露出させられている。
　ここで、電気接続部材４０の一部４１は、熱硬化性樹脂部材１０内にて、半導体素子３０と電気接続されている。この半導体素子３０との接続手法は特に限定するものではないが、ここでは、ＡｌやＡｕ等のボンディングワイヤ５０により接続されている。
　一方、熱可塑性樹脂部材２０は、電気接続部材４０の残部４２を封止しているが、熱可塑性樹脂部材２０には開口部２１が形成されている。そして、この開口部２１において、電気接続部材４０の残部４２のうちのさらに一部が、熱可塑性樹脂部材２０の外部に露出している。
　この熱可塑性樹脂部材２０の開口部２１は、図示しない外部の配線部材、たとえばコネクタ部材等が挿入されて接続される部位であり、それにより、この外部の配線部材と電気接続部材４０とが、電気的に接続されるようになっている。
　つまり、電気接続部材４０は、半導体素子３０の検出や出力等の用をなすものとして機能し、半導体素子３０は、電気接続部材４０を介して、装置の外部との電気的なやり取りを可能としている。このような電気接続部材４０として、本実施形態では、ＣｕやＡｌ等の棒状部材よりなるターミナル端子を用いているが、その他、回路基板などを電気接続部材４０として用いてもよい。
　ここで、図１～図３に示されるように、熱硬化性樹脂部材１０の封止面１１の一部は、表面層１１ａとして構成されている。この表面層１１ａは、下地部分の熱硬化性樹脂よりもカルボキシル基の濃度またはフェノール基の濃度が高い熱硬化性樹脂よりなる。
　ここでは、表面層１１ａは、後述する表面層形成工程（図５、図６参照）にて形成されるもので、熱硬化性樹脂部材１０の表面部分をレーザにより化学反応させて変質させてなる層、いわゆるレーザ反応層である。ここで、レーザとしては、限定するものではないが、たとえばＣＯ２レーザやＹＡＧレーザ等が用いられる。
　また、本実施形態では、この表面層１１ａを形成するためのレーザ照射により、熱硬化性樹脂部材１０の表面の汚染物層等が除去された新生面とされるため、この新生面は凹んだ面となる。そして、この凹んだ新生面がレーザエネルギーにより活性化されて、カルボキシル基の濃度またはフェノール基の濃度が高まった部分となり、表面層１１ａとして形成される。
　こうして、図１に示されるように、熱硬化性樹脂部材１０の表面のうち表面層１１ａの形成面は、当該形成面以外の部分に対して凹んでおり、当該形成面とそれ以外の部分との間には段差１１ｂが形成されている。この段差１１ｂの高さは、数μｍ以上（たとえば５μｍ以上）である。
　このような表面層１１ａの存在は、ＦＥ－ＴＥＭ（電界放射型透過電子顕微鏡、英語：Ｆｉｅｌｄ　Ｅｍｉｓｓｉｏｎ－Ｔｒａｎｓｍｉｓｓｉｏｎ　Ｅｌｅｃｔｒｏｎ　Ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｅの略称）のプラズモンロス（ｐｌａｓｍｏｎ　ｌｏｓｓ）像の観察により確認される。
　また、限定するものではないが、たとえばカルボキシル基の場合、下地部分の熱硬化性樹脂ではカルボキシル基の濃度は実質０％であるのに対し、表面層１１ａにおけるカルボキシル基の濃度は数％程度となる。ここで、表面層１１ａおよびその下地部分におけるカルボキシル基の濃度あるいはフェノール基の濃度は、染色ＸＰＳ分析（染色Ｘ線光電子分光、ＸＰＳは、Ｘ－ｒａｙ　Ｐｈｏｔｏｅｌｅｃｔｒｏｎ　Ｓｐｅｃｔｒｏｓｃｏｐｙの略称）により確認される。
　このような表面層１１ａの厚さは、限定するものではないが、たとえば数十μｍ程度とされる。また、表面層１１ａの形成面は、本実施形態では、上述のレーザ照射された面であるが、このレーザ照射によって粗化されることで、当該形成面以外の封止面１１および露出面１２よりも粗化度合（表面粗さ）が大きい粗化面とされている。そして、図１、図２に示されるように、表面層１１ａは、この粗化による凹凸形状を承継した凹凸形状をなしている。
　また、熱可塑性樹脂部材２０内には、添加剤２０ａが添加されている。添加剤２０ａは、エポキシ基、水酸基、アミノ基、カルボニル基などのいずれか１つもしくは複数の官能基を含有するポリマーよりなるものである。限定するものではないが、添加剤２０ａとしては、たとえばエポキシ樹脂の主剤に用いられるものが挙げられる。
　そして、図２に示されるように、熱硬化性樹脂部材１０における表面層１１ａと熱可塑性樹脂部材２０との界面では、熱可塑性樹脂部材２０における当該界面以外の部位に比べて、熱可塑性樹脂部材２０中の添加剤２０ａが多く集まって存在している。このような熱可塑性樹脂部材２０中の添加剤２０ａの局在化については、ＥＰＭＡ（電子線マイクロアナライザ、Ｅｌｅｃｔｒｏｎ　Ｐｒｏｂｅ　ＭｉｃｒｏＡｎａｌｙｓｅｒの略称）によるマッピング分析により確認される。
　そして、この表面層１１ａと熱可塑性樹脂部材２０との界面では、表面層１１ａに存在するカルボキシル基またはフェノール基と添加剤２０ａに存在する官能基とが化学結合されている。この界面における化学結合は、添加剤２０ａ中のエポキシ基や水酸基などの官能基が、表面層１１ａ中のカルボキシル基またはフェノール基と化学反応したもので、特に限定しないが、エーテル結合等の共有結合が挙げられる。
　このような表面層１１ａと添加剤２０ａとの化学結合は、ＦＴ－ＩＲ（フーリエ変換型赤外分光法、Ｆｏｕｒｉｅｒ－ｔｒａｎｓｆｏｒｍ　ｉｎｆｒａｒｅｄ　ｓｐｅｃｔｒｏｓｃｏｐｙの略称）のピーク波長により確認される。たとえば、上記具体例に示したような熱可塑性樹脂部材２０に添加剤２０ａを含有したものの場合は、当該界面における化学結合として、エーテル結合（Ｃ－Ｏ－Ｃ）の存在が多く確認されたが、添加剤２０ａを含有しないものの場合は、エーテル結合は殆ど存在が確認されなかった。
　また、上述したが、図１、図３に示されるように、第２の被封止部品である電気接続部材４０の残部４２は、熱硬化性樹脂部材１０における封止面１１より突出し、熱可塑性樹脂部材２０により封止されている。
　そして、熱硬化性樹脂部材１０において露出面１２と電気接続部材４０の残部４２との間に位置する封止面１１には、上記した表面層１１ａが、電気接続部材４０の残部４２の周りに連続した閉環形状をなすように設けられている。
　ここでは、図３に示されるように、電気接続部材４０の残部４２は、直方体状の熱硬化性樹脂部材１０の一端面から突出している。そして、表面層１１ａの配置パターンは、直方体状の熱硬化性樹脂部材１０における４個の側面に渡って連続する閉環状のパターンとされている。
　また、本実施形態では、図１、図３に示されるように、表面層１１ａは、熱硬化性樹脂部材１０における封止面１１内にのみ、つまり熱可塑性樹脂部材２０の内側にのみ形成されている。このため、表面層１１ａの端部は、熱可塑性樹脂部材２０の内側に位置している。
　次に、本実施形態の半導体装置の製造方法について、図４～図８も参照して述べる。まず、図４に示される硬化モールド工程では、熱硬化性樹脂部材１０の原料である熱硬化性樹脂材料を用い、この熱硬化性樹脂材料を加熱して硬化完了させることにより、熱硬化性樹脂部材１０を形成する。
　具体的に、この硬化モールド工程では、半導体素子３０と電気接続部材４０とをボンディングワイヤ５０で接続したものを、金型１００に設置し、図４に示されるように、トランスファー成形あるいはコンプレッション成形により封止し、さらに、このものを加熱、硬化する。こうして、熱硬化性樹脂部材１０ができあがる。なお、この硬化モールド工程は、ポッティング等により行ってもよい。
　この硬化モールド工程で形成された熱硬化性樹脂部材１０の最表面には、汚染物よりなる図示しない汚染物層が存在する。ここで、汚染物とは、たとえば離型剤や工程中に熱硬化性樹脂部材１０の表面に付着した異物等である。離型剤とは、上記成形において型離れ性を確保するために、金型１００の表面に設けられたり、熱硬化性樹脂材料自身に混合されたりするもので、たとえばシロキサンや脂肪酸等よりなる。
　次に、図５、図６に示されるように、熱硬化性樹脂部材１０に対して表面層形成工程を行う。この工程では、熱硬化性樹脂部材１０における封止面１１の一部、すなわち封止面１１のうちの表面層１１ａを形成する部位を、化学反応させて変質させることにより、上記した表面層１１ａとする。
　具体的に、本実施形態では、図５に示されるように、熱硬化性樹脂部材１０における封止面１１のうちの表面層１１ａを形成する部位に、レーザ２００を照射する。そして、レーザ２００が照射された当該部位を、レーザ２００のエネルギーにより化学反応させることにより、図６に示されるように、表面層１１ａが形成される。
　上述したが、このレーザ照射の際、レーザ照射された部位では最表面に位置する汚染物層が除去されることで、当該部位は、上記した段差１１ｂを有して凹むとともに粗化された新生面とされる。そして、この凹んだ新生面がレーザエネルギーにより活性化されて、表面層１１ａとなる。
　こうして、表面層形成工程を行った後、図７、図８に示される可塑モールド工程を行う。この工程では、熱硬化性樹脂部材１０のうち表面層１１ａを含む封止面１１に対して、熱可塑性樹脂部材２０の原料である添加剤２０ａを添加した熱可塑性樹脂材料を、射出成形する。添加剤２０ａが添加された熱可塑性樹脂材料は、たとえば、添加剤２０ａとなる官能基を有するポリマーを母材となる熱可塑性樹脂材料に混練することにより得ることができる。
　これにより、可塑モールド工程では、表面層１１ａに存在する高濃度のカルボキシル基またはフェノール基と、熱可塑性樹脂材料に含まれる添加剤２０ａに存在する官能基とが化学結合しつつ、熱硬化性樹脂部材１０における封止面１１が熱可塑性樹脂部材２０で封止される。
　この可塑モールド工程における化学結合としては、たとえば熱硬化性樹脂部材１０がエポキシ樹脂である場合、エポキシ樹脂を変質させてなる表面層１１ａ中のカルボキシル基またはフェノール基と、添加剤２０ａに存在するエポキシ基、水酸基等との化学結合が挙げられる。この場合、化学結合は共有結合となるため、より強度の高い結合となる。
　そして、この化学結合により、熱硬化性樹脂部材１０における表面層１１ａと熱可塑性樹脂部材２０との間の高密着性を得ることができるのである。こうして、可塑モールド工程が完了し、本実施形態の樹脂成形体としての半導体装置ができあがる。
　なお、上記の表面層形成工程以降の各工程は、熱硬化性樹脂部材１０の表面の一部に対して選択的に処理を行うものであるため、処理を行わない表面には適宜マスキング等を施したうえで、当該各工程を行うようにする。
　ところで、本実施形態によれば、熱硬化性樹脂部材１０において熱可塑性樹脂部材２０と直接接触する封止面１１の一部が表面層１１ａにより構成されている。そして、この表面層１１ａは、添加剤２０ａに存在する官能基との反応性が高いカルボキシル基またはフェノール基を、高濃度に有したものとされている。
　そのため、表面層１１ａを介した熱硬化性樹脂部材１０と熱可塑性樹脂部材２０との界面において、表面層１１ａ中のカルボキシル基またはフェノール基と添加剤２０ａ中の官能基との化学結合を多く形成することができる。そのため、本実施形態によれば、熱硬化性樹脂部材１０と熱可塑性樹脂部材２０との密着性の向上を図ることができる。
　また、本実施形態では、表面層１１ａの形成面が、上記したように粗化面とされているので、この粗化面の凹凸形状によって、表面層１１ａと熱可塑性樹脂部材２０との密着性の更なる向上が期待される。
　また、本実施形態のような熱可塑性樹脂部材２０の封止形態では、熱硬化性樹脂部材１０と熱可塑性樹脂部材２０との界面のうち、封止面１１と露出面１２との境界に位置する端部から、外部の水分や汚染物等の侵入物質が、当該界面に沿って装置内に侵入するおそれがある。特に、本実施形態のような車載用の半導体装置の場合、たとえば使用環境中に存在する水分やオイル等の汚染物が侵入してくるおそれがある。
　このとき、本実施形態のように、被封止部品である電気接続部材４０の残部４２が熱硬化性樹脂部材１０における封止面１１より突出して熱可塑性樹脂部材２０で封止されている場合、上記の侵入物質が、電気接続部材４０の残部に付着し、特性等に悪影響を及ぼす可能性がある。
　その点、本実施形態では、熱硬化性樹脂部材１０における封止面１１のうち、露出面１２と封止面１１より突出する電気接続部材４０の残部４２との間に位置する部位に、表面層１１ａを、上記閉環形状をなすように設けている。
　そして、この閉環形状の部分は、上述のように高密着性が得られていて、剥離が防止される部位となる。そのため、本実施形態によれば、たとえば図１の左側から右側へ向かって、上記の侵入物質が、露出面１２側から両樹脂部材１０、２０の界面を介して電気接続部材４０の残部４２へ到達するのを極力防止することができる。
　（第２実施形態）
　本開示の第２実施形態にかかる樹脂成形体としての半導体装置について、図９を参照して述べる。本実施形態は、上記第１実施形態に比べて、熱硬化性樹脂部材１０における表面層１１ａの配置パターンを変えたところが相違するものであり、ここでは、その相違点を中心に述べることとする。
　上記第１実施形態では、上記図３に示したように、表面層１１ａの配置パターンは、直方体状の熱硬化性樹脂部材１０における４個の側面に渡って連続する閉環状パターンとされていた。これに対して、本実施形態では、図９に示されるように、表面層１１ａは、直方体状の熱硬化性樹脂部材１０における一端１０ａ側の端面すなわち一端面のみに配置されている。
　この場合も、表面層１１ａの配置パターンは、封止面１１である当該一端面より突出する電気接続部材４０の残部４２の周りを取り囲む閉環形状とされている。そして、この場合も、上記第１実施形態と同様、当該閉環状のパターンによる効果が発揮される。
　なお、上記した各実施形態では、表面層１１ａは、レーザ反応層として構成されていたが、下地部分の熱硬化性樹脂よりもカルボキシル基の濃度またはフェノール基の濃度が高い熱硬化性樹脂よりなるものであれば、レーザ反応層に限定するものではない。たとえば、表面層１１ａとしては、熱硬化性樹脂部材１０の表面を活性化するようなレーザ以外の光照射などにより、形成された層であってもよい。
　また、上記した各実施形態では、上記図１、図３、図９に示したように、表面層１１ａは、熱硬化性樹脂部材１０における封止面１１の一部に設けられていたが、封止面１１の全体に設けられていてもよい。つまり、表面層１１ａは、封止面１１の少なくとも一部に設けられたものであればよい。
　また、表面層１１ａは、封止面１１に加えて露出面１２まで形成されていても何ら問題ない。さらに、表面層１１ａは、熱硬化性樹脂部材１０の表面全体に形成されていてもよい。
　また、表面層１１ａを封止面１１の一部に設ける場合、上記したように連続する閉環状の配置パターンが好ましいが、それ以外にも、表面層１１ａを、封止面１１に対して島状に配置してもよい。
　また、上記図１では、表面層１１ａを封止面１１の範囲内に設けた構造としたため、段差１１ｂは、熱可塑性樹脂部材２０の内側に封止されたものとされていた。これに対して、表面層１１ａは、熱硬化性樹脂部材１０における封止面１１を超えて露出面１２の一部まで連続して形成された構造であっても良く、その場合、段差１１ｂは、熱可塑性樹脂部材より露出し、目視可能なものとされる。
　また、第１の被封止部品および第２の被封止部品としては、熱硬化性樹脂部材１０で封止されることが可能なものであればよく、上記した半導体素子３０や電気接続部材４０あるいは回路基板に限定されるものではない。
　また、熱硬化性樹脂部材１０の形状は、上記した直方体状のものに限定されるものではなく、球状、その他、不定形状などであってもよい。また、熱可塑性樹脂部材２０の封止形態は、熱硬化性樹脂部材１０の表面の一部が封止され残部が露出するものであればよく、上記図示例のような熱硬化性樹脂部材１０の一端１０ａ側が封止面１１、他端１０ｂ側が露出面とされたものに限定するものではない。
　また、上記実施形態では、樹脂成形体は半導体装置であり、熱硬化性樹脂部材１０の内部には、熱硬化性樹脂部材１０で封止された被封止部品となる半導体素子３０などが設けられたものであった。しかし、樹脂成形体としては、このような半導体装置に限定されるものではなく、たとえば熱硬化性樹脂部材１０として被封止部品を持たない構成のものであってもよい。
　また、本開示は上記した実施形態に限定されるものではなく、本開示の範囲内において適宜変更が可能である。また、上記各実施形態は、互いに無関係なものではなく、組み合わせが明らかに不可な場合を除き、適宜組み合わせが可能であり、また、上記各実施形態は、上記の図示例に限定されるものではない。
　本開示は、実施例に準拠して記述されたが、本開示は当該実施例や構造に限定されるものではないと理解される。本開示は、様々な変形例や均等範囲内の変形をも包含する。加えて、様々な組み合わせや形態、さらには、それらに一要素のみ、それ以上、あるいはそれ以下、を含む他の組み合わせや形態をも、本開示の範疇や思想範囲に入るものである。

Claims (7)

  1. 　熱硬化性樹脂よりなる熱硬化性樹脂部材（１０）と、
    　前記熱硬化性樹脂部材の表面の一部である封止面（１１）を封止する熱可塑性樹脂よりなる熱可塑性樹脂部材（２０）と、を備え、
    　前記熱硬化性樹脂部材の表面の残部である露出面（１２）は、前記熱可塑性樹脂部材より露出しており、
    　前記熱可塑性樹脂部材には官能基を含有する添加剤（２０ａ）が添加されており、
    　前記熱硬化性樹脂部材は、前記封止面の少なくとも一部に、下地部分の前記熱硬化性樹脂よりもカルボキシル基の濃度またはフェノール基の濃度が高い熱硬化性樹脂よりなる表面層（１１ａ）を有するものであり、
    　前記表面層に存在するカルボキシル基またはフェノール基と前記添加剤に存在する官能基とが化学結合されている樹脂成形体。
  2. 　前記表面層は、前記熱硬化性樹脂部材の表面部分をレーザにより化学反応させてなる層である請求項１に記載の樹脂成形体。
  3. 　前記表面層に存在するカルボキシル基またはフェノール基と前記添加剤に存在する官能基との化学結合は、エーテル結合である請求項１または２に記載の樹脂成形体。
  4. 　一部（４１）が前記熱硬化性樹脂部材に被覆されて、残部（４２）が前記熱硬化性樹脂部材における前記封止面より突出する被封止部品（４０）が備えられており、
    　前記被封止部品の残部は、前記熱可塑性樹脂部材により封止されており、
    　前記熱硬化性樹脂部材において、前記露出面と前記被封止部品の残部との間に位置する前記封止面には、前記表面層が、前記被封止部品の残部の周りに閉環形状をなすように設けられている請求項１ないし３のいずれか１つに記載の樹脂成形体。
  5. 　熱硬化性樹脂よりなる熱硬化性樹脂部材（１０）と、
    　前記熱硬化性樹脂部材の表面の一部である封止面（１１）を封止する熱可塑性樹脂よりなる熱可塑性樹脂部材（２０）と、を備え、
    　前記熱硬化性樹脂部材の表面の残部である露出面（１２）は、前記熱可塑性樹脂部材より露出する樹脂成形体の製造方法であって、
    　前記熱硬化性樹脂部材の原料である熱硬化性樹脂材料を用い、前記熱硬化性樹脂材料を加熱して硬化完了させることにより、前記熱硬化性樹脂部材を形成する硬化モールド工程と、
    　前記熱硬化性樹脂部材における前記封止面の少なくとも一部を、化学反応させて変質させることにより、下地部分の前記熱硬化性樹脂よりもカルボキシル基の濃度またはフェノール基の濃度が高い熱硬化性樹脂よりなる表面層（１１ａ）とする表面層形成工程と、
    　前記表面層が形成された前記熱硬化性樹脂部材に対して、前記熱可塑性樹脂部材の原料である熱可塑性樹脂材料として前記表面層に存在する官能基と化学結合する官能基を含有する添加剤（２０ａ）を添加した材料を、射出成形することにより、
    　前記表面層に存在するカルボキシル基またはフェノール基と前記熱可塑性樹脂材料に添加した前記添加剤に存在する官能基とを化学結合させつつ、前記熱硬化性樹脂部材における前記封止面を前記熱可塑性樹脂部材で封止する可塑モールド工程と、を備える樹脂成形体の製造方法。
  6. 　前記表面層形成工程では、前記熱硬化性樹脂部材における前記封止面の少なくとも一部に、レーザを照射し、当該封止面の少なくとも一部を、前記レーザのエネルギーにより化学反応させることにより、前記表面層を形成する請求項５に記載の樹脂成形体の製造方法。
  7. 　前記表面層に存在するカルボキシル基またはフェノール基と前記添加剤に存在する官能基との化学結合は、エーテル結合である請求項５または６に記載の樹脂成形体の製造方法。
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