WO2016152628A1 - 積層光学フィルムの欠陥検査方法、光学フィルムの欠陥検査方法及び積層光学フィルムの製造方法 - Google Patents

積層光学フィルムの欠陥検査方法、光学フィルムの欠陥検査方法及び積層光学フィルムの製造方法 Download PDF

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    • G01N2021/8924—Dents; Relief flaws

Definitions

  • the present invention relates to a laminated optical film defect inspection method and an optical film defect inspection method, and also relates to a laminated optical film manufacturing method.
  • polarizing plates having polarizing properties As optical films having optical properties, polarizing plates having polarizing properties, retardation plates having birefringence, and the like are known.
  • a polarizing plate in which a TAC (Triacetyl Cellulose) film is bonded to both sides of a main surface of a polarizer (Polyvinyl Alcohol: PVA) as an optical film body is known.
  • the retardation plate one in which the retardation plate is composed of an optical film main body alone is known.
  • a protective film may be bonded to this type of optical film, or an adhesive material with a separate film may be bonded to form a laminated optical film.
  • Patent Documents 1 and 2 disclose a method for inspecting defects of this type of optical film and laminated optical film.
  • marking is performed on the surface of the optical film and the laminated optical film, for example, so as to surround the defect, in accordance with the defect, Excluded from use as a product.
  • the mark to be marked is required to have a size corresponding to the size of the defect.
  • defect inspection may be performed twice or more.
  • a defect inspection may be performed every time the respective layers of the optical film and the laminated optical film are bonded, or different inspection methods may be performed to detect different defects.
  • the defects detected before the previous time are duplicated and the defect rate cannot be obtained with high accuracy.
  • the mark marked before the previous time is detected as a defect, and the corresponding mark is marked (for example, surrounding the defect), resulting in an increase in the final mark size. There's a problem.
  • An object of the present invention is to provide a defect inspection method for laminated optical films and a defect inspection method for optical films. Another object of the present invention is to provide a method for producing a laminated optical film.
  • the method for inspecting defects in a laminated optical film of the present invention is a method for inspecting defects in a laminated optical film while obtaining a laminated optical film by laminating at least one of a protective film and an adhesive material on the optical film.
  • a first inspection step for performing defect inspection a step for producing a laminated optical film by bonding at least one of a protective film and an adhesive material to the optical film, and a recording step for recording defect information detected in the first inspection step
  • the defect information recorded in the recording step is read and the defect corresponding to the defect information is read It does not detect.
  • defect inspection method for laminated optical films in the second inspection process, defects corresponding to the defect information recorded in the recording process are not detected. Therefore, when performing defect inspection twice or more, it is possible to prevent duplicate detection of defects detected before the previous time. Further, according to the defect inspection method for the laminated optical film, the defect detected in the first inspection step before the second inspection step is recorded by recording the defect information detected in the first inspection step in the recording step. Since the marking is not performed on the optical film corresponding to the above, it is possible to prevent the detection of the mark corresponding to the defect detected before the previous time.
  • the defect inspection method in the first inspection step and the defect inspection method in the second inspection step described above may be the same or different.
  • the optical film defect inspection method of the present invention is a method for inspecting optical film defects, a first inspection step for inspecting optical film defects, and a record for recording defect information detected in the first inspection step.
  • the defect information recorded in the recording process is read, and the defect corresponding to the defect information is not detected.
  • the optical film in this invention is not only a single-layer optical film composed of an optical film main body, but also an optical film including the optical film main body, and a laminated optical film in which at least one of a protective film and an adhesive material is bonded to the optical film. It is a concept that includes
  • the method for producing a laminated optical film of the present invention is a method for producing a laminated optical film by laminating at least one of a protective film and an adhesive material on an optical film, and includes the above-described defect inspection method for a laminated optical film. According to this method for producing a laminated optical film, advantages similar to those of the above-described defect inspection method for laminated optical films can be obtained.
  • the defect inspection of the optical film and the laminated optical film when the defect inspection of the optical film and the laminated optical film is performed twice or more, it is possible to prevent the detection of the defects detected before the previous time, and as a result, the defect rate can be accurately obtained. Further, according to the present invention, when the defect inspection of the optical film and the laminated optical film is performed twice or more, it is possible to prevent the detection of the mark corresponding to the defect detected before the last time, and as a result, the final mark size Can be prevented, and the yield of the optical film can be prevented from decreasing.
  • FIG. 4 is a cross-sectional view of the laminated optical film taken along line IV-IV in FIG. 3.
  • FIG. 6 is a cross-sectional view of the laminated optical film taken along line VI-VI in FIG. 5. It is a figure for demonstrating the 1st marking process in the conventional defect inspection method, and is a figure which shows one main surface of the laminated optical film in the conventional defect inspection method. It is sectional drawing of the laminated optical film along the VIII-VIII line of FIG. It is a figure for demonstrating the 2nd marking process in the conventional defect inspection method, and is a figure which shows one main surface of the laminated optical film in the conventional defect inspection method.
  • FIG. 6 is a cross-sectional view of the laminated optical film taken along line VI-VI in FIG. 5. It is a figure for demonstrating the 1st marking process in the conventional defect inspection method, and is a figure which shows one main surface of the laminated optical film in the conventional defect inspection method. It is sectional drawing of the laminated optical film along the VIII-VIII line of FIG. It is a figure for demonstrating the 2nd marking process in the conventional defect inspection method, and is a figure
  • FIG. 10 is a cross-sectional view of the laminated optical film along the line XX in FIG. 9. It is a figure which shows the defect inspection method and manufacturing method of a laminated optical film which concern on the 2nd Embodiment of this invention. It is a figure which shows the defect inspection method and manufacturing method of a laminated optical film which concern on the 2nd Embodiment of this invention. It is a figure for demonstrating the recording process in the defect inspection method of the laminated optical film which concerns on the 2nd Embodiment of this invention, and is a figure which shows one main surface of a laminated optical film. It is sectional drawing of the laminated optical film along the XIV-XIV line
  • FIG. 16 is a cross-sectional view of the laminated optical film taken along line XVI-XVI in FIG. 15.
  • FIGS. 1 and 2 are diagrams showing a defect inspection method and a manufacturing method for a laminated optical film according to the first embodiment of the present invention.
  • 3 and 5 are views showing one main surface of the laminated optical film in different steps of the defect inspection method according to the first embodiment of the present invention, and
  • FIGS. 4 and 6 are FIGS. 3 and 5.
  • It is sectional drawing of the laminated optical film shown in FIG. 1 to 6 show XY plane coordinates.
  • the X direction indicates the width direction of the laminated optical film
  • the Y direction indicates the longitudinal direction of the laminated optical film.
  • the optical film 11 is unwound from the original fabric roll 101.
  • the optical film 11 includes an optical film body having optical properties.
  • Examples of the optical film 11 include a polarizing plate having polarization characteristics and a retardation plate having birefringence.
  • the optical film 11 when the optical film 11 is a polarizing plate, the optical film 11 includes a polarizer (Polyvinyl Alcohol: PVA) as an optical film body, and TAC (Triacetyl Cellulose) films are bonded to both sides of the main surface of the polarizer. .
  • PVA Polyvinyl Alcohol
  • TAC Triacetyl Cellulose
  • a light inspection device disposed on the one main surface 11a side of the optical film 11 by irradiating the optical film 11 with light by a light source (not shown) disposed on the other main surface 11b side of the optical film 11
  • the light transmitted through the optical film 11 is received by 111, and a defect inspection of the optical film 11 is performed based on the received transmitted light (first inspection step, transmission inspection).
  • the protective film 12 is unwound from the raw fabric roll 102, and the protective film 12 is laminated on the one main surface 11 a side of the optical film 11.
  • a PET (Polyethylene Terephthalate) film or the like is used as the protective film 12.
  • the optical film 11 and the protective film 12 are bonded together by the bonding roll 103 to generate a laminated optical film 10A.
  • the defect information (defect information) detected in the first inspection process is used as a code to form the laminated optical film. It records on the surface edge part by the side of the protective film 12 of 10 A of films (recording process).
  • the coordinate information of these defects 20 is used as a bar code 40 and the laminated optical film is used. It records with respect to each defect 20 in the X direction edge part of the surface at the side of the protective film 12 of 10 A of films. 4 and 1 schematically show only one defect 20 in FIG. 3 and the barcode 40 corresponding to the defect 20.
  • One bar code 40 may be recorded for every predetermined section in the Y direction (for example, every 60 mm interval). In this case, information on all the defects existing in the predetermined section may be collectively recorded on one barcode 40.
  • the laminated optical film 10 ⁇ / b> A is wound around the original fabric roll 104.
  • the laminated optical film 10 ⁇ / b> A is unwound from the original fabric roll 104, and the separate film (release film) 14 is bonded to the adhesive material 15 from the original fabric roll 105. 13 is fed out, and the adhesive film 13 with a separate film is laminated on the optical film 11 side of the laminated optical film 10A.
  • PET Polyethylene Terephthalate
  • the laminated optical film 10 ⁇ / b> A and the adhesive material 13 with a separate film are bonded together by the bonding roll 106 to generate a laminated optical film 10 ⁇ / b> B.
  • the laminated optical film 10B is irradiated with light by a light source (not shown) arranged on the other main surface 10b side (separate film-attached adhesive material 13 side) of the laminated optical film 10B, and one side of the laminated optical film 10B.
  • the light transmitted through the laminated optical film 10B is received by the inspector 115 arranged on the main surface 10a side (protective film 12 side) of the laminated optical film 10B, and defect inspection of the laminated optical film 10B is performed based on the received transmitted light (first). 2 inspection process, transmission inspection).
  • the inspection device 115 is a transmission inspection device.
  • the defect information recorded on the barcode 40 in the recording process is read by the code reader 117, and the defect 20 corresponding to the read defect information is not detected. That is, in the second inspection process, the defect 21 that is not detected in the first inspection process and is detected for the first time in the second inspection process is detected (see FIGS. 5 and 6). Specifically, in the second inspection step, a defect at the same position as the defect coordinate read from the barcode 40 is determined as the same defect and is not detected.
  • FIG. 6 schematically shows one defect 20 in FIG. 5 and two linear marks 31 corresponding to the defect 20, and also corresponds to one defect 21 in FIG. 5 and the defect 21.
  • Two linear marks 31 are schematically shown.
  • FIG. 2 schematically shows only one defect 20 or 21 in FIG. 5 and two linear marks 31 corresponding to the defect 20 or 21.
  • the laminated optical film 10 ⁇ / b> B is wound around the original fabric roll 107.
  • FIGS. 7 and 9 are views showing one main surface of the laminated optical film in different steps of the conventional defect inspection method
  • FIGS. 8 and 10 are laminated optical films shown in FIGS. FIG.
  • the conventional defect inspection method includes a first marking step and a second marking step instead of the recording step and the marking step in the present embodiment, and does not detect the defect detected in the first inspection step in the second inspection step. This is different from the defect inspection method according to the present embodiment in that it does not have the function.
  • the first marking step for example, as shown in FIG. 7 and FIG. 8, when three defects 20 are detected that are caused by mixing of foreign matter inside the laminated optical film 10 ⁇ / b> A, X for each of these defects 20 is detected. Marking on the surface of the laminated optical film 10A on the protective film 12 side so as to sandwich the defect 20, in other words, by enclosing the defect 20 by marking the linear mark 30 in the Y direction on each side of the direction. I do.
  • the second marking step for example, as shown in FIGS. 8 and 10, when two defects 21 caused by foreign matters mixed in the laminated optical film 10 ⁇ / b> B are detected, X for each of these defects 21 is detected.
  • the defect 20 is detected again in the first inspection step, and the mark 30 formed in the first marking step is regarded as a defect. To detect.
  • the second marking process corresponding to the defect 20 detected in the first inspection process and the mark 30 formed in the first marking process, these defects 20 and the mark 30 are sandwiched.
  • a mark 31 is formed so as to surround the defect 20 and the mark 30.
  • the defect inspection when the defect inspection is performed twice or more, defects detected before the previous time are detected in the second and subsequent inspections, and the defect rate can be accurately obtained. There is a problem that you can not. Further, in the second and subsequent inspections, the mark marked before the previous time is detected as a defect, and correspondingly, the mark is further marked in the vicinity of the defect. As a result, the final mark size is increased and the yield of the optical film is increased. There is a problem that decreases.
  • the defect inspection method for the laminated optical film of the first embodiment since the defect corresponding to the defect information recorded in the recording process is not detected in the second inspection process, the defect inspection is performed twice or more. In addition, it is possible to prevent the defect 20 detected before the previous time from being duplicated, and as a result, the defect rate can be accurately obtained. Moreover, according to the defect inspection method for the laminated optical film of the first embodiment, the defect information detected in the first inspection step is recorded as the barcode 40 in the recording step, so that the second inspection step is performed. Since marking is not performed on the optical film corresponding to the defect 20 detected in the first inspection step, it is possible to prevent detection of a mark corresponding to the defect detected before the previous time. Therefore, it is possible to prevent a decrease in the yield of the optical film due to an increase in the final mark size. [Modification of First Embodiment]
  • the method of performing the same kind of defect inspection in multiple times before and after the process of bonding the protective film 12 and the adhesive material 13 with a separate film to the optical film 11 was illustrated.
  • the idea of the present invention is a mode in which different types of defect inspection are performed in combination, for example, in the first embodiment, a transmission inspection is performed as a first inspection step, and a second inspection step is performed.
  • the present invention can also be applied to a form for performing a reflection inspection.
  • different inspections may be performed in combination on the same laminated optical film.
  • the transmission inspection is suitable for detecting black foreign matters mixed inside the optical film, but it is difficult to detect small bubbles mixed on the optical film surface.
  • the reflection inspection is suitable for detecting small bubbles mixed on the optical film surface, but it is difficult to detect black foreign matters mixed inside the optical film.
  • FIG. 11 and FIG. 12 are views showing a defect inspection method and a manufacturing method of a laminated optical film according to the second embodiment of the present invention.
  • 13 and 15 are views showing one main surface of the laminated optical film in different steps of the defect inspection method for the laminated optical film according to the second embodiment of the present invention.
  • FIG. 16 is a cross-sectional view of the laminated optical film shown in FIGS. 13 and 15.
  • the laminated optical film 10 ⁇ / b> B is fed out from the original fabric roll 101. And by the light source (not shown) arrange
  • the defect information detected in the first inspection step is used as a code to code the laminated optical film 10A. It records on the surface edge part by the side of the protective film 12 (recording process).
  • the coordinate information of these defects 20 is used as a barcode 40, and the laminated optics It records with respect to each defect 20 in the X direction edge part of the surface at the side of the protective film 12 of 10 A of films. 14 and 11 schematically show only one defect 20 in FIG. 13 and the barcode 40 corresponding to the defect 20.
  • the laminated optical film 10 ⁇ / b> B is wound around the original fabric roll 104.
  • the laminated optical film 10 ⁇ / b> B is fed out from the original fabric roll 104.
  • light was irradiated to the laminated optical film 10B by a light source (not shown) arranged on the one main surface 10a side of the laminated optical film 10B, and arranged on the one main surface 10a side of the laminated optical film 10B.
  • the inspection device 115 receives the light reflected by the one main surface 10a of the laminated optical film 10B, and performs a defect inspection of the laminated optical film 10B based on the received reflected light (second inspection step, reflection inspection).
  • the inspection device 115 is a reflection inspection device.
  • the defect information recorded on the barcode 40 in the recording process is read by the code reader 117, and the defect 20 corresponding to the read defect information is not detected. That is, in the second inspection process, the defect 25 which is not detected in the first inspection process and is detected for the first time in the second inspection process is detected (see FIGS. 15 and 16). Specifically, in the second inspection step, a defect at the same position as the defect coordinate read from the barcode 40 is determined as the same defect and is not detected.
  • FIG. 16 schematically shows one defect 20 in FIG. 15 and two linear marks 31 corresponding to the defect 20, and also corresponds to one defect 25 in FIG. 15 and the defect 25.
  • Two linear marks 31 are schematically shown.
  • FIG. 12 schematically shows only one defect 20 or 25 in FIG. 15 and two linear marks 31 corresponding to the defect 20 or 25.
  • the laminated optical film 10 ⁇ / b> B is wound around the original fabric roll 107.
  • the defect inspection method and manufacturing method of the laminated optical film of the second embodiment can also provide the same advantages as the defect inspection method and manufacturing method of the laminated optical film of the first embodiment.
  • the present invention is not limited to the above-described embodiment, and various modifications can be made.
  • the form in which the defect inspection is performed twice is illustrated, but the idea of the present invention can be applied to the form in which the defect inspection is performed three times or more.
  • the transmission inspection and the reflection inspection are exemplified as the types of defect inspection, but the types of defect inspection are not limited thereto.
  • the idea of the present invention can also be applied to a defect inspection method including a crossed Nicol inspection.
  • the coordinate information of the detected defect 20 is recorded on the laminated optical film 10A as the barcode 40.
  • the detected coordinate information of the defect 20 is recorded in a memory such as a computer. Also good.
  • the coordinate information of the defect recorded on the barcode 40 is read by the code reader 117 in the second inspection step.
  • the coordinate information recorded in the memory of a computer or the like is read. You may read.
  • 10A, 10B ... laminated optical film, 11 ... optical film, 12 ... protective film, 13 ... adhesive material with separate film, 14 ... separate film, 15 ... adhesive material, 20, 21, 25 ... defect, 30, 31 ... mark, 40 ... Bar code (code), 101, 102, 104, 105, 107 ... Raw roll, 103, 106 ... Laminating roll, 111 ... Transmission inspection device, 113, 119 ... Inkjet printer, 115 ... Inspection device (transmission) (Inspector or reflection inspector) 117: Code reader.

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Abstract

　積層光学フィルムの欠陥検査方法は、光学フィルム１１の欠陥検査を行う第１検査工程と、光学フィルム１１に保護フィルム１２及び粘着材１３を貼り合せて積層光学フィルム１０Ａ，１０Ｂを生成する工程と、第１検査工程において検出された欠陥２０の情報をコード４０として積層光学フィルム１０Ａに記録する記録工程と、積層光学フィルム１０Ｂの欠陥検査を行う第２検査工程と、第１検査工程において検出された欠陥２０、及び、第２検査工程において検出された欠陥２１に対応して積層光学フィルム１０Ｂにマーキングを行うマーキング工程とを含み、第２検査工程では、記録工程において記録した欠陥情報を読み取り、当該欠陥情報に対応する欠陥２０を重複検出しない。

Description

積層光学フィルムの欠陥検査方法、光学フィルムの欠陥検査方法及び積層光学フィルムの製造方法
　本発明は、積層光学フィルムの欠陥検査方法及び光学フィルムの欠陥検査方法に関し、積層光学フィルムの製造方法にも関する。
　光学特性を有する光学フィルムとして、偏光特性を有する偏光板、複屈折性を有する位相差板などが知られている。例えば、偏光板として、光学フィルム本体としての偏光子（Ｐｏｌｙｖｉｎｙｌ　Ａｌｃｏｈｏｌ：ＰＶＡ）の主面両側にＴＡＣ（Ｔｒｉａｃｅｔｙｌ　Ｃｅｌｌｕｌｏｓｅ）フィルムが貼り合わされたものが知られている。位相差板として、位相差板が光学フィルム本体単独からなるものが知られている。この種の光学フィルムには、保護フィルムが貼合されたり、セパレートフィルムが付いた状態の粘着材が貼合されて積層光学フィルムとされることもある。
　この種の光学フィルム及び積層光学フィルムでは、例えば上記貼合の際に、内部又は表面に異物や気泡が混入すると、光学的な欠陥が生じることがある。特許文献１～２には、この種の光学フィルム及び積層光学フィルムの欠陥を検査する方法が開示されている。
　この種の欠陥検査方法によって欠陥が検出されると、欠陥に対応して、例えば欠陥を囲うように、光学フィルム及び積層光学フィルムの表面上にマーキングが行われ、マーキングが行われた領域は、製品としての利用から除かれる。
特開２００９－６９１４２号公報 特開２０１１－６５１８４号公報
　このような欠陥検査方法では、欠陥の数を過不足なく正確に数えることが求められる。また、マーキングされるマークは、欠陥の大きさに対応した大きさであることが求められる。
　ところで、この種の光学フィルム及び積層光学フィルムの欠陥検査では、２回以上の欠陥検査を行うことがある。例えば、光学フィルム及び積層光学フィルムの各層を貼合するごとに欠陥検査を行ったり、異なる欠陥を検出するために異なる検査方法を行ったりすることがある。
　しかしながら、２回以上の欠陥検査を行う場合、２回目以降の検査において、前回以前に検出された欠陥を重複検出してしまい、欠陥率を精度よく求められないという問題がある。２回目以降の検査において、前回以前にマーキングされたマークを欠陥として検出して、それに対応して（例えば欠陥を囲うように）マーキングしてしまい、その結果、最終マークサイズが大きくなってしまうという問題がある。
　そこで、本発明は、２回以上の欠陥検査を行う際に、前回以前に検出された欠陥を重複検出すること、及び、前回以前に検出された欠陥に対応するマークを検出することを防止することが可能な積層光学フィルムの欠陥検査方法及び光学フィルムの欠陥検査方法を提供することを目的とする。また、本発明は、積層光学フィルムの製造方法を提供することをも目的とする。
　本発明の積層光学フィルムの欠陥検査方法は、光学フィルムに保護フィルム及び粘着材の少なくとも一方を貼り合せて積層光学フィルムを得ながら、積層光学フィルム中の欠陥を検査する方法であって、光学フィルムの欠陥検査を行う第１検査工程と、光学フィルムに保護フィルム及び粘着材の少なくとも一方を貼り合せて積層光学フィルムを生成する工程と、第１検査工程において検出された欠陥情報を記録する記録工程と、積層光学フィルムの欠陥検査を行う第２検査工程と、第１検査工程において検出された欠陥、及び、第２検査工程において検出された欠陥に対応して積層光学フィルムにマーキングを行うマーキング工程とを含み、第２検査工程では、記録工程において記録した欠陥情報を読み取り、当該欠陥情報に対応する欠陥を検出しない。
　この積層光学フィルムの欠陥検査方法によれば、第２検査工程では、記録工程において記録した欠陥情報に対応する欠陥を検出しない。よって、２回以上の欠陥検査を行う際に、前回以前に検出された欠陥を重複検出することを防止できる。また、この積層光学フィルムの欠陥検査方法によれば、記録工程において、第１検査工程で検出された欠陥情報を記録することにより、第２検査工程の前に第１検査工程で検出された欠陥に対応して光学フィルムにマーキングを行わないので、前回以前に検出された欠陥に対応するマークを検出することを防止できる。
　上記した第１検査工程における欠陥検査方法と上記した第２検査工程における欠陥検査方法とは、同一であってもよいし、異なっていてもよい。
　本発明の光学フィルムの欠陥検査方法は、光学フィルムの欠陥を検査する方法であって、光学フィルムの欠陥検査を行う第１検査工程と、第１検査工程において検出された欠陥情報を記録する記録工程と、光学フィルムに対して、第１検査工程における欠陥検査とは異なる欠陥検査を行う第２検査工程と、第１検査工程において検出された欠陥、及び、第２検査工程において検出された欠陥に対応して光学フィルムにマーキングを行うマーキング工程とを含み、第２検査工程では、記録工程において記録した欠陥情報を読み取り、当該欠陥情報に対応する欠陥を検出しない。
　この発明における光学フィルムは、光学フィルム本体からなる単層光学フィルムのみならず、光学フィルム本体を含む光学フィルム、及び、その光学フィルムに保護フィルム及び粘着材の少なくとも一方を貼り合せた積層光学フィルムをも含む概念である。
　この光学フィルムの欠陥検査方法でも、第２検査工程では、記録工程において記録した欠陥情報に対応する欠陥を検出しないので、２回以上の欠陥検査を行う際に、前回以前に検出された欠陥を重複検出することを防止できる。この光学フィルムの欠陥検査方法でも、記録工程において、第１検査工程で検出された欠陥情報を記録することにより、第２検査工程の前に第１検査工程で検出された欠陥に対応して光学フィルムにマーキングを行わないので、前回以前に検出された欠陥に対応するマークを検出することを防止できる。
　本発明の積層光学フィルムの製造方法は、光学フィルムに保護フィルム及び粘着材の少なくとも一方を貼り合せて積層光学フィルムを製造する方法であって、上記した積層光学フィルムの欠陥検査方法を含む。この積層光学フィルムの製造方法によれば、上記した積層光学フィルムの欠陥検査方法と同様の利点が得られる。
　本発明によれば、光学フィルム及び積層光学フィルムの欠陥検査を２回以上行う際に、前回以前に検出された欠陥を重複検出することを防止でき、その結果、欠陥率を精度よく求められる。また、本発明によれば、光学フィルム及び積層光学フィルムの欠陥検査を２回以上行う際に、前回以前に検出された欠陥に対応するマークを検出することを防止でき、その結果、最終マークサイズが大きくなってしまい、光学フィルムの収率が低下してしまうことを防止できる。
本発明の第１の実施形態に係る積層光学フィルムの欠陥検査方法及び製造方法を示す図である。 本発明の第１の実施形態に係る積層光学フィルムの欠陥検査方法及び製造方法を示す図である。 本発明の第１の実施形態に係る積層光学フィルムの欠陥検査方法における記録工程を説明するための図であり、積層光学フィルムの一方の主面を示す図である。 図３のＩＶ―ＩＶ線に沿った積層光学フィルムの断面図である。 本発明の第１の実施形態に係る積層光学フィルムの欠陥検査方法におけるマーキング工程を説明するための図であり、積層光学フィルムの一方の主面を示す図である。 図５のＶＩ―ＶＩ線に沿った積層光学フィルムの断面図である。 従来の欠陥検査方法における第１マーキング工程を説明するための図であり、従来の欠陥検査方法における積層光学フィルムの一方の主面を示す図である。 図７のＶＩＩＩ―ＶＩＩＩ線に沿った積層光学フィルムの断面図である。 従来の欠陥検査方法における第２マーキング工程を説明するための図であり、従来の欠陥検査方法における積層光学フィルムの一方の主面を示す図である。 図９のＸ―Ｘ線に沿った積層光学フィルムの断面図である。 本発明の第２の実施形態に係る積層光学フィルムの欠陥検査方法及び製造方法を示す図である。 本発明の第２の実施形態に係る積層光学フィルムの欠陥検査方法及び製造方法を示す図である。 本発明の第２の実施形態に係る積層光学フィルムの欠陥検査方法における記録工程を説明するための図であり、積層光学フィルムの一方の主面を示す図である。 図１３のＸＩＶ―ＸＩＶ線に沿った積層光学フィルムの断面図である。 本発明の第２の実施形態に係る積層光学フィルムの欠陥検査方法におけるマーキング工程を説明するための図であり、積層光学フィルムの一方の主面を示す図である。 図１５のＸＶＩ―ＸＶＩ線に沿った積層光学フィルムの断面図である。
　以下、図面を参照して本発明の好適な実施形態について詳細に説明する。なお、各図面において同一又は相当の部分に対しては同一の符号を附すこととする。
［第１の実施形態］
　図１及び図２は、本発明の第１の実施形態に係る積層光学フィルムの欠陥検査方法及び製造方法を示す図である。図３及び図５は、本発明の第１の実施形態に係る欠陥検査方法の異なる工程における積層光学フィルムの一方の主面を示す図であり、図４及び図６は、図３及び図５に示す積層光学フィルムの断面図である。図１～図６には、ＸＹ平面座標が示されている。Ｘ方向は積層光学フィルムの幅方向を示し、Ｙ方向は積層光学フィルムの長手方向を示す。
　まず、図１に示すように、原反ロール１０１から光学フィルム１１を繰り出す。光学フィルム１１は、光学特性を有する光学フィルム本体を含む。光学フィルム１１としては、偏光特性を有する偏光板、複屈折性を有する位相差板などが挙げられる。例えば、光学フィルム１１が偏光板である場合、光学フィルム１１は光学フィルム本体として偏光子（Polyvinyl Alcohol：ＰＶＡ）を含み、この偏光子の主面両側にＴＡＣ（Triacetyl Cellulose）フィルムが貼り合わされている。一方、光学フィルム１１が位相差板である場合、位相差板が光学フィルム本体に相当する。
　次いで、光学フィルム１１の他方の主面１１ｂ側に配置された光源（図示せず）によって、光学フィルム１１に光を照射し、光学フィルム１１の一方の主面１１ａ側に配置された透過検査器１１１によって、光学フィルム１１を透過した光を受光し、受光した透過光に基づいて光学フィルム１１の欠陥検査を行う（第１検査工程、透過検査）。
　次いで、原反ロール１０２から保護フィルム１２を繰り出し、保護フィルム１２を光学フィルム１１の一方の主面１１ａ側に積層する。保護フィルム１２としてはＰＥＴ（Ｐｏｌｙｅｔｈｙｌｅｎｅ　Ｔｅｒｅｐｈｔｈａｌａｔｅ）フィルムなどが用いられる。次いで、貼合ロール１０３によって光学フィルム１１と保護フィルム１２とを貼り合わせ、積層光学フィルム１０Ａを生成する。
　次いで、積層光学フィルム１０Ａの保護フィルム１２側に配置されたインクジェット印刷器１１３を用いて（液滴法によって）、第１検査工程で検出された欠陥の情報（欠陥情報）をコードとして、積層光学フィルム１０Ａの保護フィルム１２側の表面端部に記録する（記録工程）。
　例えば、図３及び図４に示すように、積層光学フィルム１０Ａ内部に異物が混入することによって生じる３つの欠陥２０が検出された場合、これらの欠陥２０の座標情報をバーコード４０として、積層光学フィルム１０Ａの保護フィルム１２側の表面のＸ方向端部に、各欠陥２０に対して記録する。図４及び図１では、図３における１つの欠陥２０、及び、この欠陥２０に対応するバーコード４０のみを概略的に示す。
　Ｙ方向の所定区間ごとに（例えば、６０ｍｍ間隔ごとに）、１つのバーコード４０を記録してもよい。この場合、所定区間に存在する欠陥全ての情報を纏めて１つのバーコード４０に記録すればよい。
　次いで、原反ロール１０４に積層光学フィルム１０Ａを巻き取る。
　次いで、図２に示すように、原反ロール１０４から積層光学フィルム１０Ａを繰り出し、また、原反ロール１０５から、セパレートフィルム（離型フィルム）１４が粘着材１５に貼り合わされたセパレートフィルム付き粘着材１３を繰り出し、積層光学フィルム１０Ａの光学フィルム１１側にセパレートフィルム付き粘着材１３を積層する。セパレートフィルムの材料としてはＰＥＴ（Ｐｏｌｙｅｔｈｙｌｅｎｅ　Ｔｅｒｅｐｈｔｈａｌａｔｅ）などが用いられる。次いで、貼合ロール１０６によって積層光学フィルム１０Ａとセパレートフィルム付き粘着材１３とを貼り合わせ、積層光学フィルム１０Ｂを生成する。
　次いで、積層光学フィルム１０Ｂの他方の主面１０ｂ側（セパレートフィルム付き粘着材１３側）に配置された光源（図示せず）によって、積層光学フィルム１０Ｂに光を照射し、積層光学フィルム１０Ｂの一方の主面１０ａ側（保護フィルム１２側）に配置された検査器１１５によって、積層光学フィルム１０Ｂを透過した光を受光し、受光した透過光に基づいて積層光学フィルム１０Ｂの欠陥検査を行う（第２検査工程、透過検査）。第１の実施形態において、検査器１１５は、透過検査器である。
　第２検査工程では、コード読取器１１７によって、記録工程でバーコード４０に記録した欠陥情報を読み取り、読み取った欠陥情報に対応する欠陥２０を検出しない。すなわち、第２検査工程では、第１検査工程では検出されておらず、第２検査工程で初めて検出された欠陥２１を検出する（図５及び図６を参照）。具体的には、第２検査工程では、バーコード４０から読み取った欠陥座標と同じ位置の欠陥を同一欠陥と判別して検出しない。
　次いで、積層光学フィルム１０Ｂの一方の主面１０ａ側に配置されたインクジェット印刷器１１９を用いて（液滴法によって）、第１検査工程で検出された欠陥（すなわち、バーコード４０から読み取った欠陥）、及び、第２検査工程で検出された欠陥に対応して、積層光学フィルム１０Ｂの一方の主面１０ａ側の表面にマーキングを行う（マーキング工程）。
　例えば、図３及び図４に示すように、第１検査工程において、積層光学フィルム１０Ａ内部に異物が混入することによって生じる３つの欠陥２０が検出され、図５及び図６に示すように、第２検査工程において、積層光学フィルム１０Ｂ内部に異物が混入することによって生じる２つの欠陥２１が検出された場合、これらの欠陥２０，２１それぞれに対してＸ方向の両側それぞれに、線状のマーク３１をＹ方向にマーキングすることによって、欠陥２０，２１を挟み込むように、換言すれば欠陥２０，２１を囲うように、積層光学フィルム１０Ｂの一方の主面１０ａ側の表面にマーキングを行う。
　図６では、図５における１つの欠陥２０、及び、この欠陥２０に対応する２つの線状のマーク３１を概略的に示すと共に、図５における１つの欠陥２１、及び、この欠陥２１に対応する２つの線状のマーク３１を概略的に示す。図２では、図５における１つの欠陥２０又は２１、及び、この欠陥２０又は２１に対応する２つの線状のマーク３１のみを概略的に示す。
　次いで、積層光学フィルム１０Ｂを原反ロール１０７に巻き取る。
　ここで、図７及び図９は、従来の欠陥検査方法の異なる工程における積層光学フィルムの一方の主面を示す図であり、図８及び図１０は、図７及び図９に示す積層光学フィルムの断面図である。
　従来の欠陥検査方法では、本実施形態において記録工程及びマーキング工程に代えて、第１マーキング工程及び第２マーキング工程を備え、第２検査工程において、第１検査工程で検出された欠陥を検出しないという機能を備えていない点で、本実施形態の欠陥検査方法と相違する。
　第１マーキング工程では、例えば、図７及び図８に示すように、積層光学フィルム１０Ａ内部に異物が混入することによって生じる３つの欠陥２０が検出された場合、これらの欠陥２０それぞれに対してＸ方向の両側それぞれに、線状のマーク３０をＹ方向にマーキングすることによって、欠陥２０を挟み込むように、換言すれば欠陥２０を囲うように、積層光学フィルム１０Ａの保護フィルム１２側の表面にマーキングを行う。
　第２マーキング工程では、例えば、図８及び図１０に示すように、積層光学フィルム１０Ｂ内部に異物が混入することによって生じる２つの欠陥２１が検出された場合、これらの欠陥２１それぞれに対してＸ方向の両側それぞれに、線状のマーク３１をＹ方向にマーキングすることによって、欠陥２１を挟み込むように、換言すれば欠陥２１を囲うように、積層光学フィルム１０Ｂの一方の主面１０ａ側の表面にマーキングを行う。
　この従来の欠陥検査方法では、図８及び図１０に示すように、第２検査工程において、第１検査工程で欠陥２０を再度検出すると共に、第１マーキング工程で形成されたマーク３０を欠陥として検出する。その結果、第２マーキング工程において、第１検査工程で検出された欠陥２０及び第１マーキング工程で形成されたマーク３０に対応して、これらの欠陥２０及びマーク３０を挟み込むように、換言すれば欠陥２０及びマーク３０を囲うように、マーク３１が形成される。
　このように、従来の欠陥検査方法では、２回以上の欠陥検査を行う場合、２回目以降の検査において、前回以前に検出された欠陥を重複検出してしまい、欠陥率を精度よく求めることができないという問題がある。また、２回目以降の検査において、前回以前にマーキングされたマークを欠陥として検出して、それに対応して欠陥の近傍に更にマーキングし、その結果、最終マークサイズが大きくなり、光学フィルムの収率が低下するという問題がある。
　しかしながら、第１の実施形態の積層光学フィルムの欠陥検査方法によれば、第２検査工程では、記録工程において記録した欠陥情報に対応する欠陥を検出しないので、２回以上の欠陥検査を行う際に、前回以前に検出された欠陥２０を重複検出することを防止でき、その結果、欠陥率を精度よく求められる。また、第１の実施形態の積層光学フィルムの欠陥検査方法によれば、記録工程において、第１検査工程で検出された欠陥情報をバーコード４０として記録することにより、第２検査工程の前に第１検査工程で検出された欠陥２０に対応して光学フィルムにマーキングを行わないので、前回以前に検出された欠陥に対応するマークを検出することを防止できる。そのため、最終マークサイズが大きくなることによる光学フィルムの収率の低下を防止できる。
［第１の実施形態の変形例］
　第１の実施形態では、光学フィルム１１に保護フィルム１２及びセパレートフィルム付き粘着材１３を貼り合わせる工程の前と後とで同一の種類の欠陥検査（透過検査）を複数回行う方法を例示した。しかしながら、本発明の思想は、以下に詳説するように、異なる種類の欠陥検査を組み合わせて行う形態、例えば、第１の実施形態において、第１検査工程として透過検査を行い、第２検査工程として反射検査を行う形態にも適用可能である。
［第２の実施形態］
　第１の実施形態では、光学フィルム１１に保護フィルム１２及びセパレートフィルム付き粘着材１３を貼り合わせる工程の前と後とで複数回の欠陥検査を行う方法を例示したが、本発明の思想は、同一の積層光学フィルムに対して複数回の欠陥検査を行う方法にも適用可能である。
　例えば、同一の積層光学フィルムに対して、異なる検査（例えば、透過検査及び反射検査）を組み合わせて行う場合がある。例えば、透過検査は、光学フィルム内部に混入する黒色系の異物の検出に適しているが、光学フィルム表面に混入する小さい気泡の検出が困難である。一方、反射検査は、光学フィルム表面に混入する小さい気泡の検出に適しているが、光学フィルム内部に混入する黒色系の異物の検出が困難である。
　以下に、同一の積層光学フィルムに対して異なる検査を組み合わせて行う欠陥検査方法を例示する。この第２の実施形態では、積層光学フィルムの欠陥検査方法を例示する。しかしながら、本発明の思想は、単層光学フィルムに対して異なる検査を組み合わせて行う欠陥検査方法にも適用可能である。
　図１１及び図１２は、本発明の第２の実施形態に係る積層光学フィルムの欠陥検査方法及び製造方法を示す図である。図１３及び図１５は、本発明の第２の実施形態に係る積層光学フィルムの欠陥検査方法の異なる工程における積層光学フィルムの一方の主面を示す図であり、図１４及び図１６は、図１３及び図１５に示す積層光学フィルムの断面図である。
　まず、図１１に示すように、原反ロール１０１から積層光学フィルム１０Ｂを繰り出す。そして、積層光学フィルム１０Ｂの他方の主面１０ｂ側に配置された光源（図示せず）によって、積層光学フィルム１０Ｂに光を照射し、積層光学フィルム１０Ｂの一方の主面１０ａ側に配置された透過検査器１１１によって、積層光学フィルム１０Ｂを透過した光を受光し、受光した透過光に基づいて積層光学フィルム１０Ｂの欠陥検査を行う（第１検査工程、透過検査）。
　次いで、積層光学フィルム１０Ｂの一方の主面１０ａ側に配置されたインクジェット印刷器１１３を用いて（液滴法によって）、第１検査工程で検出された欠陥情報をコードとして、積層光学フィルム１０Ａの保護フィルム１２側の表面端部に記録する（記録工程）。
　例えば、図１３及び図１４に示すように、積層光学フィルム１０Ｂ内部に異物が混入することによって生じる３つの欠陥２０が検出された場合、これらの欠陥２０の座標情報をバーコード４０として、積層光学フィルム１０Ａの保護フィルム１２側の表面のＸ方向端部に、各欠陥２０に対して記録する。図１４及び図１１では、図１３における１つの欠陥２０、及び、この欠陥２０に対応するバーコード４０のみを概略的に示す。
　次いで、原反ロール１０４に積層光学フィルム１０Ｂを巻き取る。
　次いで、図１２に示すように、原反ロール１０４から積層光学フィルム１０Ｂを繰り出す。次いで、積層光学フィルム１０Ｂの一方の主面１０ａ側に配置された光源（図示せず）によって、積層光学フィルム１０Ｂに光を照射し、積層光学フィルム１０Ｂの一方の主面１０ａ側に配置された検査器１１５によって、積層光学フィルム１０Ｂの一方の主面１０ａで反射した光を受光し、受光した反射光に基づいて積層光学フィルム１０Ｂの欠陥検査を行う（第２検査工程、反射検査）。第２の実施形態において、検査器１１５は反射検査器である。
　第２検査工程では、コード読取器１１７によって、記録工程でバーコード４０に記録した欠陥情報を読み取り、読み取った欠陥情報に対応する欠陥２０を検出しない。すなわち、第２検査工程では、第１検査工程では検出されておらず、第２検査工程で初めて検出された欠陥２５を検出する（図１５及び図１６を参照）。具体的には、第２検査工程では、バーコード４０から読み取った欠陥座標と同じ位置の欠陥を同一欠陥と判別して検出しない。
　次いで、積層光学フィルム１０Ｂの一方の主面１０ａ側に配置されたインクジェット印刷器１１９を用いて（液滴法によって）、第１検査工程で検出された欠陥（すなわち、バーコード４０から読み取った欠陥）、及び、第２検査工程で検出された欠陥に対応して、積層光学フィルム１０Ｂの一方の主面１０ａ側の表面にマーキングを行う（マーキング工程）。
　例えば、図１３及び図１４に示すように、第１検査工程において、積層光学フィルム１０Ｂ内部に異物が混入することによって生じる３つの欠陥２０が検出され、図１５及び図１６に示すように、第２検査工程において、積層光学フィルム１０Ｂ表面に気泡が混入することによって生じる２つの欠陥２５が検出された場合、これらの欠陥２０，２５それぞれに対してＸ方向の両側それぞれに、線状のマーク３１をＹ方向にマーキングすることによって、欠陥２０，２５を挟み込むように、換言すれば欠陥２０，２５を囲うように、積層光学フィルム１０Ｂの一方の主面１０ａ側の表面にマーキングを行う。
　図１６では、図１５における１つの欠陥２０、及び、この欠陥２０に対応する２つの線状のマーク３１を概略的に示すと共に、図１５における１つの欠陥２５、及び、この欠陥２５に対応する２つの線状のマーク３１を概略的に示す。図１２では、図１５における１つの欠陥２０又は２５、及び、この欠陥２０又は２５に対応する２つの線状のマーク３１のみを概略的に示す。
　次いで、積層光学フィルム１０Ｂを原反ロール１０７に巻き取る。
　この第２の実施形態の積層光学フィルムの欠陥検査方法及び製造方法でも、第１の実施形態の積層光学フィルムの欠陥検査方法及び製造方法と同様の利点を得ることができる。
　本発明は上記した本実施形態に限定されることなく種々の変形が可能である。例えば、本実施形態では、欠陥検査を２回行う形態を例示したが、本発明の思想は、欠陥検査を３回以上行う形態にも適用可能である。
　本実施形態では、欠陥検査の種類として透過検査及び反射検査を例示したが、欠陥検査の種類はこれに限定されない。本発明の思想は、クロスニコル検査などを含む欠陥検査方法にも適用可能である。
　本実施形態では、記録工程において、検出した欠陥２０の座標情報をバーコード４０として積層光学フィルム１０Ａに記録したが、記録工程において、検出した欠陥２０の座標情報をコンピュータ等のメモリーに記録してもよい。また、本実施形態では、第２検査工程において、コード読取器１１７によってバーコード４０に記録した欠陥の座標情報を読み取ったが、第２検査工程において、コンピュータ等のメモリーに記録された座標情報を読み取ってもよい。
　１０Ａ，１０Ｂ…積層光学フィルム、１１…光学フィルム、１２…保護フィルム、１３…セパレートフィルム付き粘着材、１４…セパレートフィルム、１５…粘着材、２０，２１，２５…欠陥、３０，３１…マーク、４０…バーコード（コード）、１０１，１０２，１０４，１０５，１０７…原反ロール、１０３、１０６…貼合ロール、１１１…透過検査器、１１３，１１９…インクジェット印刷器、１１５…検査器（透過検査器又は反射検査器）、１１７…コード読取器。

Claims (5)

  1. 　光学フィルムに保護フィルム及び粘着材の少なくとも一方を貼り合せて積層光学フィルムを得ながら、前記積層光学フィルム中の欠陥を検査する方法であって、
    　前記光学フィルムの欠陥検査を行う第１検査工程と、
    　前記光学フィルムに前記保護フィルム及び前記粘着材の少なくとも一方を貼り合せて前記積層光学フィルムを生成する工程と、
    　前記第１検査工程において検出された欠陥情報を記録する記録工程と、
    　前記積層光学フィルムの欠陥検査を行う第２検査工程と、
    　前記第１検査工程において検出された欠陥、及び、前記第２検査工程において検出された欠陥に対応して前記積層光学フィルムにマーキングを行うマーキング工程と、
    を含み、
    　前記第２検査工程では、前記記録工程において記録した前記欠陥情報を読み取り、当該欠陥情報に対応する欠陥を検出しない、
    積層光学フィルムの欠陥検査方法。
  2. 　前記第１検査工程における欠陥検査方法と前記第２検査工程における欠陥検査方法とは同一である、請求項１に記載の積層光学フィルムの欠陥検査方法。
  3. 　前記第１検査工程における欠陥検査方法と前記第２検査工程における欠陥検査方法とは異なる、請求項１に記載の積層光学フィルムの欠陥検査方法。
  4. 　光学フィルムの欠陥を検査する方法であって、
    　前記光学フィルムの欠陥検査を行う第１検査工程と、
    　前記第１検査工程において検出された欠陥情報を記録する記録工程と、
    　前記光学フィルムに対して、前記第１検査工程における欠陥検査とは異なる欠陥検査を行う第２検査工程と、
    　前記第１検査工程において検出された欠陥、及び、前記第２検査工程において検出された欠陥に対応して前記光学フィルムにマーキングを行うマーキング工程と、
    を含み、
    　前記第２検査工程では、前記記録工程において記録した前記欠陥情報を読み取り、当該欠陥情報に対応する欠陥を検出しない、
    光学フィルムの欠陥検査方法。
  5. 　光学フィルムに保護フィルム及び粘着材の少なくとも一方を貼り合せて積層光学フィルムを製造する方法であって、
    　請求項１～３の何れか１項に記載の積層光学フィルムの欠陥検査方法を含む、
    積層光学フィルムの製造方法。
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