WO2016151819A1 - 発光装置 - Google Patents

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WO2016151819A1
WO2016151819A1 PCT/JP2015/059239 JP2015059239W WO2016151819A1 WO 2016151819 A1 WO2016151819 A1 WO 2016151819A1 JP 2015059239 W JP2015059239 W JP 2015059239W WO 2016151819 A1 WO2016151819 A1 WO 2016151819A1
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WO
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electrode
emitting device
insulating layer
light emitting
substrate
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Application number
PCT/JP2015/059239
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English (en)
French (fr)
Inventor
淳志 田口
博樹 丹
範明 和氣
高橋　正樹
Original Assignee
パイオニア株式会社
東北パイオニア株式会社
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Filing date
Publication date
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Priority to PCT/JP2015/059239 priority Critical patent/WO2016151819A1/ja
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    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05B—ELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
    • H05B33/00—Electroluminescent light sources
    • H05B33/12—Light sources with substantially two-dimensional radiating surfaces
    • H05B33/22—Light sources with substantially two-dimensional radiating surfaces characterised by the chemical or physical composition or the arrangement of auxiliary dielectric or reflective layers
    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K50/00—Organic light-emitting devices
    • H10K50/10—OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED]
    • H10K50/11—OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED] characterised by the electroluminescent [EL] layers

Definitions

  • the present invention relates to a light emitting device.
  • the organic EL element has a configuration in which an organic layer is sandwiched between a first electrode and a second electrode.
  • Such a light-emitting device may be required to be transparent depending on the application.
  • the first electrode and the second electrode may be formed of a transparent conductive material.
  • Patent Document 1 describes that a correction layer having the same material and the same thickness as the cathode is provided in a region where the cathode is not formed.
  • a metal thin film having a low work function such as magnesium, aluminum and calcium is described. The correction layer is formed on the cathode with the insulating layer interposed therebetween.
  • Patent Document 2 describes a substrate with a transparent electrode in which a refractive index control layer and a transparent electrode layer are sequentially formed on a transparent substrate.
  • the refractive index control layer is a laminate of two or more layers having an average refractive index of 1.45 to 1.60 and a total film thickness of 1000 to 2500 nm.
  • An example of a problem to be solved by the present invention is to make the edge of the electrode less noticeable while suppressing the decrease in transparency of the light emitting device.
  • the invention according to claim 1 is a translucent substrate; A first electrode formed on the substrate and having translucency; An insulating layer formed on the substrate and the first electrode and having an opening overlapping the first electrode; An organic layer located within the opening; A translucent second electrode formed on the organic layer; An intermediate layer formed on at least a part of a region of the side surface of the first electrode overlapping the insulating layer; With In the light emitting device, the refractive index of the intermediate layer is between the refractive index of the first electrode and the refractive index of the insulating layer.
  • the invention according to claim 12 includes a translucent substrate, A first electrode formed on the substrate and having translucency; An insulating layer formed on the substrate and the first electrode and having an opening overlapping the first electrode; An organic layer located within the opening; A translucent second electrode formed on the organic layer; An intermediate layer formed on at least a part of a region of the side surface of the first electrode overlapping the insulating layer; With The intermediate layer is a light emitting device including a material constituting the first electrode and a material constituting the insulating layer.
  • the invention according to claim 13 is a translucent substrate; A first electrode formed on the substrate and having translucency; An insulating layer formed on the substrate and the first electrode and having an opening overlapping the first electrode; An organic layer located within the opening; A translucent second electrode formed on the organic layer; An intermediate layer formed on at least a part of a region of the side surface of the first electrode overlapping the insulating layer; With The intermediate layer is a light emitting device containing silicon, oxygen, and nitrogen.
  • FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line AA in FIG.
  • FIG. 3 is a cross-sectional view taken along the line BB in FIG.
  • FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line CC of FIG.
  • translucency means transmitting at least visible light.
  • FIG. 1 is a plan view showing a configuration of a light emitting device 10 according to the embodiment.
  • FIG. 2 is a view in which the partition 170, the insulating layer 150, and the second electrode 130 are removed from FIG. 3 is a cross-sectional view taken along line AA in FIG. 1
  • FIG. 4 is a cross-sectional view taken along line BB in FIG. 1
  • FIG. 5 is a cross-sectional view taken along line CC in FIG.
  • the light emitting device 10 includes a substrate 100, a first electrode 110, an insulating layer 150, an organic layer 120, a second electrode 130, and an intermediate layer 200.
  • the substrate 100 is a light-transmitting substrate.
  • the first electrode 110 is formed on the substrate 100 and has translucency.
  • the insulating layer 150 is formed on the substrate 100 and the first electrode 110, and has an opening 152 that overlaps the first electrode 110.
  • the organic layer 120 is located at least in the opening 152.
  • the second electrode 130 is formed on the organic layer 120 and has translucency.
  • the intermediate layer 200 is formed on at least a part of a region of the side surface of the first electrode 110 that overlaps the insulating layer 150.
  • the refractive index of the intermediate layer 200 is between the refractive index of the first electrode 110 and the refractive index of the insulating layer 150.
  • the light emitting device 10 has a wiring 116.
  • the wiring 116 is formed on the substrate 100 and has translucency.
  • the insulating layer 150 is also formed on the wiring 116.
  • the intermediate layer 200 is formed in at least a part of a region overlapping the insulating layer 150 on the side surface of the wiring 116.
  • the refractive index of the intermediate layer 200 is between the refractive index of the wiring 116 and the refractive index of the insulating layer 150. Details will be described below.
  • the light emitting device 10 is a display device, and includes a substrate 100, a first electrode 110, a plurality of first terminals 112, a plurality of second terminals 132, a light emitting unit 140, an insulating layer 150, a plurality of openings 152, and a plurality.
  • the opening 154, the plurality of lead wires 114, the organic layer 120, the second electrode 130, the plurality of lead wires 134, and the plurality of partition walls 170 are provided.
  • the substrate 100 is formed of a light-transmitting material such as glass or a light-transmitting resin.
  • the substrate 100 is, for example, a polygon such as a rectangle.
  • the substrate 100 may have flexibility.
  • the thickness of the substrate 100 is, for example, not less than 10 ⁇ m and not more than 1000 ⁇ m.
  • the substrate 100 is glass, the thickness of the substrate 100 is, for example, 200 ⁇ m or less.
  • the substrate 100 is formed using, for example, PEN (polyethylene naphthalate), PES (polyethersulfone), PET (polyethylene terephthalate), or polyimide.
  • the substrate 100 is a resin
  • an inorganic barrier film such as SiN x or SiON is formed on at least one surface (preferably both surfaces) of the substrate 100 in order to suppress moisture from permeating the substrate 100.
  • the refractive index n 1 of the substrate 100 is, for example, not less than 1.4 and not more than 1.6.
  • the light emitting unit 140 is formed on the substrate 100 and has an organic EL element.
  • This organic EL element has a configuration in which a first electrode 110, an organic layer 120, and a second electrode 130 are laminated in this order.
  • the first electrode 110 is formed on the substrate 100 and is a transparent electrode having translucency.
  • the transparent conductive material constituting the transparent electrode is a metal-containing material, for example, a metal oxide such as ITO (Indium Tin Oxide), IZO (Indium Zinc Oxide), IWZO (Indium Tungsten Zinc Oxide), or ZnO (Zinc Oxide). is there.
  • the thickness of the first electrode 110 is, for example, not less than 10 nm and not more than 500 nm.
  • the first electrode 110 is formed using, for example, a sputtering method or a vapor deposition method using a mask.
  • the first electrode 110 may be a thin metal material (for example, Ag or an Ag alloy), a carbon nanotube, or a conductive organic material such as PEDOT / PSS.
  • Refractive index n 2 of the first electrode 110 is larger than the refractive index n 1 of the substrate 100, for example, is 1.8 to 2.2.
  • the first electrode 110 extends in a line shape in the first direction (Y direction in FIGS. 1 and 2).
  • the end portion of the first electrode 110 is electrically and physically connected to the lead wiring 114.
  • the lead wiring 114 is formed using the same material as that of the first electrode 110. For this reason, the lead-out wiring 114 has translucency.
  • the lead wiring 114 is integrated with the first electrode 110.
  • the lead wiring 114 is connected to the first terminal 112. In the example shown in this figure, the end of the lead wiring 114 is the first terminal 112.
  • An insulating layer 150 is formed on the conductor pattern to be the plurality of first electrodes 110 and on the substrate 100 positioned therebetween.
  • the insulating layer 150 covers a part of the upper surface of the conductor pattern that becomes the first electrode 110.
  • the insulating layer 150 is formed using a light-sensitive photosensitive resin material such as polyimide resin.
  • the insulating layer 150 may be formed using a resin other than a polyimide resin, for example, an epoxy resin or an acrylic resin.
  • Refractive index n 3 of insulating layer 150, the refractive index n 1 of the substrate 100 is located between the refractive index n 2 of the first electrode 110, for example, it is 1.6 to 1.8.
  • a second electrode 130 is formed on the organic layer 120. Similar to the first electrode 110, the second electrode 130 is a transparent electrode having translucency. As the material constituting the second electrode 130, the materials exemplified as the material constituting the first electrode 110 can be used. However, the first electrode 110 and the second electrode 130 may be formed using different materials, or may be formed using the same material. The film thickness of the second electrode 130 and the method of forming the second electrode 130 are the same as the film thickness of the first electrode 110 and the method of forming the second electrode 130. However, the film thickness of the second electrode 130 may be different from the film thickness of the first electrode 110.
  • the second electrode 130 extends in a second direction (X direction in FIG. 1) intersecting the first direction.
  • a partition wall 170 is formed between the adjacent second electrodes 130.
  • the partition wall 170 extends in parallel to the second electrode 130, that is, in the second direction, and is provided to separate the second electrode 130 from each other.
  • the partition wall 170 has a trapezoidal cross-sectional shape (reverse trapezoidal shape). That is, the width of the upper surface of the partition wall 170 is larger than the width of the lower surface of the partition wall 170. Therefore, if the partition wall 170 is formed before the second electrode 130, the second electrode 130 is formed on one surface side of the substrate 100 by using an evaporation method or a sputtering method. Can be formed collectively.
  • the partition wall 170 also has a function of dividing the organic layer 120.
  • the base of the partition wall 170 is an insulating layer 150, for example.
  • the partition 170 is, for example, a photosensitive resin such as a polyimide resin, and is formed in a desired pattern by being exposed and developed.
  • the partition wall 170 may be made of a resin other than a polyimide resin, for example, an inorganic material such as an epoxy resin, an acrylic resin, or silicon dioxide.
  • the light emitting device 10 may not have the partition wall 170.
  • the second electrode 130 is formed in a predetermined pattern by using a mask at the time of sputtering or vapor deposition.
  • the insulating layer 150 has a plurality of openings 152 and a plurality of openings 154.
  • the opening 152 is located at the intersection of the first electrode 110 and the second electrode 130 on a plane parallel to the substrate 100. Specifically, the plurality of openings 152 are arranged in the direction in which the first electrode 110 extends (the Y direction in FIG. 1). The plurality of openings 152 are also arranged in the extending direction of the second electrode 130 (X direction in FIG. 1). For this reason, the plurality of openings 152 are arranged to form a matrix.
  • the organic layer 120 In the region overlapping with the opening 152, the organic layer 120 is formed.
  • the organic layer 120 has a light emitting layer. For this reason, the light emitting part 140 is located in each of the regions overlapping with the opening 152.
  • the organic layer 120 has a configuration in which, for example, a hole injection layer, a light emitting layer, and an electron injection layer are stacked.
  • a hole transport layer may be formed between the hole injection layer and the light emitting layer.
  • an electron transport layer may be formed between the light emitting layer and the electron injection layer.
  • the organic layer 120 may be formed by a vapor deposition method.
  • at least one layer of the organic layer 120 for example, a layer in contact with the first electrode 110, may be formed by a coating method such as an inkjet method, a printing method, or a spray method. In this case, the remaining layers of the organic layer 120 are formed by vapor deposition.
  • all the layers of the organic layer 120 may be formed using the apply
  • the hole injection layer of the organic layer 120 is in contact with the first electrode 110, and the electron injection layer of the organic layer 120 is in contact with the second electrode 130.
  • the layers constituting the organic layer 120 are shown to protrude to the outside of the opening 152. And as shown in FIG. 4, the organic layer 120 may be continuously formed between the adjacent openings 152 in the direction in which the partition 170 extends, or may not be formed continuously. Good. However, as shown in FIG. 5, the organic layer 120 is not formed in the opening 154.
  • the light emitting unit 140 is located in each of the regions overlapping with the opening 152.
  • the first electrode 110 is a region that overlaps the opening 152 in the conductor pattern that becomes the first electrode 110 in the direction in which the conductor pattern that becomes the first electrode 110 extends.
  • the edges in the width direction (both ends of the first electrode 110 in FIG. 4) of the upper surface are covered with the insulating layer 150.
  • a portion located between adjacent first electrodes 110 in the conductor pattern to be the first electrode 110 can be defined as the wiring 116.
  • the wiring 116 is covered with an insulating layer 150.
  • the opening 154 is located in a region overlapping with one end side of each of the plurality of second electrodes 130 in plan view.
  • the openings 154 are arranged along one side of the matrix formed by the openings 152. When viewed in a direction along this one side (for example, the Y direction in FIG. 1, ie, the direction along the first electrode 110), the openings 154 are arranged at a predetermined interval. A part of the lead wiring 134 is exposed from the opening 154.
  • the lead wiring 134 is connected to the second electrode 130 through the opening 154.
  • the lead-out wiring 134 is a wiring that electrically connects the second electrode 130 to the second terminal 132, and has a layer made of the same material as the first electrode 110. One end side of the lead wiring 134 is located below the opening 154, and the other end side of the lead wiring 134 is led out of the insulating layer 150. In the example shown in the drawing, the other end side of the lead-out wiring 134 is a second terminal 132.
  • a conductive member such as FPC (Flexible Printed Circuit) is connected to the first terminal 112 and the second terminal 132.
  • FPC Flexible Printed Circuit
  • the first terminal 112 and the second terminal 132 are arranged along the same side of the substrate 100. For this reason, when FPC is used as the conductive member, the first terminal 112 and the second terminal 132 can be connected to one FPC.
  • the light emitting device 10 has an intermediate layer 200.
  • the intermediate layer 200 includes at least a part (preferably all) of the side surface of the first electrode 110 that overlaps the insulating layer 150 and at least a part of the side surface of the wiring 116 that overlaps the insulating layer 150 (preferably All).
  • the intermediate layer 200 is also formed on the side surface of the first terminal 112, the side surface of the lead wiring 114, the side surface of the second terminal 132, and the side surface of the lead wiring 134.
  • the thickness of the intermediate layer 200 is, for example, not less than 50 nm and not more than 500 nm.
  • the refractive index n 4 of the intermediate layer 200 is between the refractive index n 2 of the first electrode 110 and the refractive index n 3 of the insulating layer 150.
  • the intermediate layer 200 may be formed using both the material constituting the first electrode 110 and the material constituting the insulating layer 150, for example.
  • the volume content of the same material as the first electrode 110 in the intermediate layer 200 is, for example, 30% or more and 70% or less. Note that the volume content of the same material as that of the first electrode 110 can be replaced with, for example, the area ratio of the same material as that of the first electrode 110 in the cross-sectional photograph of the intermediate layer 200.
  • the intermediate layer 200 may be formed using a material containing silicon, oxygen, and nitrogen such as silicon oxynitride.
  • the ratio of the nitrogen content of the intermediate layer 200 to the oxygen content of the intermediate layer 200 is, for example, 2 or more and 9 or less. Note that this ratio can be replaced with a peak height ratio in, for example, XRF (X-ray fluorescence) or EDX (Energy Dispersive X-ray Spectroscopy).
  • the first electrode 110, the wiring 116, the first terminal 112, the second terminal 132, and the lead wirings 114 and 134 are formed on the substrate 100. These are formed using, for example, a sputtering method or a vapor deposition method using a mask. However, these may be formed using other methods.
  • the intermediate layer 200 is formed on the side surface of the first electrode 110, the side surface of the first terminal 112, the side surface of the second terminal 132, the side surface of the wiring 116, and the side surfaces of the lead wires 114 and 134.
  • the intermediate layer 200 is formed using the material constituting the first electrode 110 and the material constituting the insulating layer 150, the intermediate layer 200 is applied with, for example, the material constituting the first electrode 110, and the insulating layer It forms by apply
  • the intermediate layer 200 is formed using a material containing silicon, oxygen, and nitrogen
  • the intermediate layer 200 is formed using a vapor phase method such as a CVD method and a lithography method, for example.
  • a photosensitive insulating film to be the insulating layer 150 is formed on the substrate 100 and the first electrode 110 by using, for example, a coating method. Thereafter, the insulating film is exposed and developed. Thereby, the insulating layer 150 is formed. In this step, openings 152 and 154 are also formed. Next, the partition 170, the organic layer 120, and the second electrode 130 are formed in this order.
  • the substrate 100, the first electrode 110, and the second electrode 130 are translucent. Therefore, the light emitting device 10 becomes a transparent display.
  • the refractive index n 3 of the refractive index n 2 and the insulating layer 150 of the first electrode 110 is different, the light is scattered at the interface side with the insulating layer 150 of the first electrode 110, as a result, the first electrode 110 The edge may be noticed by the user.
  • at least a part (preferably all) of the region facing the insulating layer 150 among the side surfaces of the first electrode 110 is covered with the intermediate layer 200.
  • Refractive index n 4 of the intermediate layer 200 is located between the refractive index n 3 of the refractive index n 2 and the insulating layer 150 of the first electrode 110. For this reason, compared with the case where the intermediate layer 200 is not provided, light is less likely to be scattered between the side surface of the first electrode 110 and the insulating layer 150, and thus the user is less likely to notice the edge of the first electrode 110. Become.
  • the intermediate layer 200 is also formed on the side surface of the wiring 116, the side surface of the portion of the lead-out wiring 114 that is covered with the insulating layer 150, and the side surface of the portion of the lead-out wiring 134 that is covered with the insulating layer 150. ing. Therefore, light is less likely to be scattered between each of these side surfaces and the insulating layer 150. Therefore, the user is less likely to notice the edge of the wiring 116, the edge of the extraction wiring 114, and the edge of the extraction wiring 134.
  • (Second Embodiment) 6, 7, and 8 are cross-sectional views of the light emitting device 10 according to the second embodiment, and correspond to FIGS. 3, 4, and 5 in the first embodiment, respectively.
  • the light emitting device 10 according to the present embodiment has the same configuration as the light emitting device 10 according to the first embodiment, except for the layout of the intermediate layer 200.
  • the insulating layer 150 covers the edges in the width direction (both ends of the first electrode 110 in FIG. 7) on the upper surface of the first electrode 110, as in the embodiment.
  • the intermediate layer 200 is formed in at least a part (preferably all) of the region covered with the insulating layer 150 on the upper surface of the first electrode 110.
  • the intermediate layer 200 is formed in at least a part of the region covered with the insulating layer 150 on the upper surface of the wiring 116.
  • the insulating layer 150 and the intermediate layer 200 are formed on the entire surface of the wiring 116 in a cross section in a direction orthogonal to the direction in which the wiring 116 extends (Y direction in FIG. 1).
  • the intermediate layer 200 is formed on the entire surface of the region covered with the insulating layer 150 in the wiring 116.
  • the intermediate layer 200 is formed on the entire surface of the lead wire 134 covered with the insulating layer 150. Similarly, the intermediate layer 200 is formed on the entire surface of the lead wiring 114 covered with the insulating layer 150.
  • the user is less likely to notice the edge of the first electrode 110, the edge of the wiring 116, the edge of the extraction wiring 114, and the edge of the extraction wiring 134.
  • the intermediate layer 200 is also formed on the upper surface of the first electrode 110, the upper surface of the wiring 116, the upper surface of the extraction wiring 114, and the upper surface of the extraction wiring 134, the accuracy required for the position of the intermediate layer 200 is low. Become. Therefore, the manufacturing cost of the light emitting device 10 can be reduced.
  • the intermediate layer 200 is a portion of the substrate 100 that is located around the first electrode 110, a portion that is located around the first terminal 112, and the extraction wiring 114. May be formed in a portion located around the wiring 116, a portion located around the wiring 116, a portion located around the second terminal 132, and a portion located around the lead-out wiring 134.
  • FIGS. 1 to 5 are plan views showing the configuration of the light emitting device 10 according to the third embodiment.
  • 11, 12, and 13 are cross-sectional views illustrating the configuration of the light emitting device 10. 9 to 13 correspond to FIGS. 1 to 5 in the embodiment.
  • the light emitting device 10 according to the present embodiment is the same as the light emitting device 10 according to the first embodiment, except that the intermediate layer 200 is also provided on the surface of the substrate 100 where the light emitting unit 140 is formed. It is the composition. Therefore, the intermediate layer 200 is at least partly (all in the example shown in the figure) between the substrate 100 and the first electrode 110, at least partly (all in the example shown in the figure) between the substrate 100 and the wiring 116, At least a part (all in the example shown in the figure) between the insulating layer 150 located next to the first electrode 110 and the substrate 100, and at least a part between the insulating layer 150 located next to the wiring 116 and the substrate 100 ( All in the example shown in the figure), at least a part between the substrate 100 and the extraction wiring 114 (all in the example shown in the figure), and at least a part between the substrate 100 and the extraction wiring 134 (all in the example shown in the figure). ). Then, the refractive index n 4 of the intermediate layer 200 formed on the substrate 100 is
  • the refractive index n 3 of the insulating layer 150 is between the refractive index n 2 of the first electrode 110 and the refractive index n 1 of the substrate 100, and the refractive index n 4 of the intermediate layer 200 is the first electrode 110.
  • N 4 is preferably between ⁇ (n 1 ⁇ n 2 ) and (n 2 + n 3 ) / 2.
  • the wavelength of the maximum peak of the emission spectrum of the organic layer 120 is ⁇ and the thickness of the intermediate layer 200 is d, 0.9 ⁇ / 4 ⁇ n 4 ⁇ d ⁇ 1.1 ⁇ / 4, and It is preferable that ⁇ (n 1 ⁇ n 2 ) ⁇ n 4 ⁇ (n 2 + n 3 ) / 2.
  • the material of the intermediate layer 200 formed on the substrate 100 is the same as the material of the intermediate layer 200 shown in the first embodiment.
  • the intermediate layer 200 formed on the substrate 100 may be different from the material of the intermediate layer 200 that covers the side surface of the first electrode 110.
  • the thickness of the intermediate layer 200 formed on the substrate 100 is, for example, not less than 50 nm and not more than 500 nm.
  • the intermediate layer 200 is formed between the first electrode 110 and the substrate 100.
  • Refractive index n 4 of the intermediate layer 200 is located between the refractive index n 2 of the refractive index n 1 and the first electrode 110 of the substrate 100.
  • the light extraction efficiency from the organic layer 120 is improved.
  • n 4 is ⁇ (n 1 ⁇ n 2 )
  • the light extraction efficiency from the organic layer 120 is further improved.
  • n 4 is ⁇ (n 1 ⁇ n 2 )
  • the light extraction efficiency from the organic layer 120 is Further improve.
  • n 4 of the intermediate layer 200 is between the refractive index n 3 of the refractive index n 2 and the insulating layer 150 of the first electrode 110, a user, an insulating layer 150 of the side surface of the first electrode 110 It becomes difficult to see the contact part.
  • n 4 is (n 2 + n 3 ) / 2
  • the above-described portion of the side surface of the first electrode 110 is the least visible. Therefore, ⁇ (n 1 ⁇ n 2 ) ⁇ n 4 ⁇ (n 2 + n 3 ) / 2 has good light extraction efficiency from the organic layer 120 and is in contact with the insulating layer 150 among the side surfaces of the first electrode 110. It is a condition that makes it difficult to see the part.

Landscapes

  • Electroluminescent Light Sources (AREA)

Abstract

　基板（１００）は透光性の基板である。第１電極（１１０）は基板（１００）に形成されており、透光性を有している。絶縁層（１５０）は基板（１００）及び第１電極（１１０）の上に形成されており、かつ、第１電極（１１０）と重なる開口（１５２）を有している。有機層（１２０）は少なくとも開口（１５２）内に位置している。第２電極（１３０）は有機層（１２０）の上に形成されており、透光性を有している。中間層（２００）は、第１電極（１１０）の側面のうち絶縁層（１５０）と重なる領域の少なくとも一部に形成されている。そして中間層（２００）の屈折率は、第１電極（１１０）の屈折率と絶縁層（１５０）の屈折率の間である。

Description

発光装置
　本発明は、発光装置に関する。
　近年は、有機ＥＬ素子を発光部として利用する発光装置の開発が進んでいる。有機ＥＬ素子は、有機層を、第１電極及び第２電極で挟んだ構成を有している。このような発光装置には、用途によっては透明であることが要求される場合がある。発光装置を透明にするためには、第１電極及び第２電極を、透明導電材料で形成すればよい。
　一方、発光装置を透明にした場合、有機ＥＬ素子の電極の縁が目立つこともある。これに対して特許文献１には、陰極が形成されていない領域に、陰極と同じ材料及び同一の厚みを有する補正層を設けることが記載されている。陰極の例として、マグネシウム、アルミニウム、カルシウム等の低仕事関数の金属薄膜が記載されている。この補正層は、絶縁層を挟んで陰極の上に形成されている。
　なお、特許文献２には、透明基材上に屈折率制御層および透明電極層が順に形成されている透明電極付き基板にて記載されている。屈折率制御層は、平均屈折率１．４５～１．６０で全体の膜厚は１０００～２５００ｎｍである2層以上の積層体となっている。
特開２００２－２７０３７７号公報 特開２０１４－１９８４２３号公報
　特許文献１に記載されているように、発光装置を透明にした場合、有機ＥＬ素子の電極の縁が目立つこともある。しかし特許文献１に記載の技術では、陰極が形成されていない領域に、陰極と同じ材料及び同一の厚みを有する補正層を設ける必要がある。このため、発光装置の透明性が低下してしまう。
　本発明が解決しようとする課題としては、発光装置の透明性が低下することを抑制しつつ、電極の縁を目立ちにくくすることが一例として挙げられる。
　請求項１に記載の発明は、透光性の基板と、
　前記基板に形成され、透光性を有する第１電極と、
　前記基板及び前記第１電極の上に形成され、前記第１電極と重なる開口を有する絶縁層と、
　前記開口内に位置する有機層と、
　前記有機層の上に形成された透光性の第２電極と、
　前記第１電極の側面のうち前記絶縁層と重なる領域の少なくとも一部に形成された中間層と、
を備え、
　前記中間層の屈折率は、前記第１電極の屈折率と前記絶縁層の屈折率の間である発光装置である。
　請求項１２に記載の発明は、透光性の基板と、
　前記基板に形成され、透光性を有する第１電極と、
　前記基板及び前記第１電極の上に形成され、前記第１電極と重なる開口を有する絶縁層と、
　前記開口内に位置する有機層と、
　前記有機層の上に形成された透光性の第２電極と、
　前記第１電極の側面のうち前記絶縁層と重なる領域の少なくとも一部に形成された中間層と、
を備え、
　前記中間層は、前記第１電極を構成する材料と前記絶縁層を構成する材料を含んでいる発光装置である。
　請求項１３に記載の発明は、透光性の基板と、
　前記基板に形成され、透光性を有する第１電極と、
　前記基板及び前記第１電極の上に形成され、前記第１電極と重なる開口を有する絶縁層と、
　前記開口内に位置する有機層と、
　前記有機層の上に形成された透光性の第２電極と、
　前記第１電極の側面のうち前記絶縁層と重なる領域の少なくとも一部に形成された中間層と、
を備え、
　前記中間層は、シリコン、酸素、及び窒素を含んでいる発光装置である。
　上述した目的、およびその他の目的、特徴および利点は、以下に述べる好適な実施の形態、およびそれに付随する以下の図面によってさらに明らかになる。
実施形態に係る発光装置の構成を示す平面図である。 図１から隔壁、絶縁層、及び第２電極を取り除いた図である。 図１のＡ－Ａ断面図である。 図１のＢ－Ｂ断面図である。 図１のＣ－Ｃ断面図である。 第２の実施形態に係る発光装置の構成を示す断面図である。 第２の実施形態に係る発光装置の構成を示す断面図である。 第２の実施形態に係る発光装置の構成を示す断面図である。 第３の実施形態に係る発光装置の構成を示す平面図である。 第３の実施形態に係る発光装置の構成を示す平面図である。 第３の実施形態に係る発光装置の構成を示す断面図である。 第３の実施形態に係る発光装置の構成を示す断面図である。 第３の実施形態に係る発光装置の構成を示す断面図である。
　以下、本発明の実施の形態について、図面を用いて説明する。尚、すべての図面において、同様な構成要素には同様の符号を付し、適宜説明を省略する。また、以下の説明において、透光性を有するとは、少なくとも可視光を透過することを意味する。
　図１は、実施形態に係る発光装置１０の構成を示す平面図である。図２は、図１から隔壁１７０、絶縁層１５０、及び第２電極１３０を取り除いた図である。図３は図１のＡ－Ａ断面図であり、図４は図１のＢ－Ｂ断面図であり、図５は図１のＣ－Ｃ断面図である。
　実施形態に係る発光装置１０は、基板１００、第１電極１１０、絶縁層１５０、有機層１２０、第２電極１３０、及び中間層２００を備えている。基板１００は透光性の基板である。第１電極１１０は基板１００に形成されており、透光性を有している。絶縁層１５０は基板１００及び第１電極１１０の上に形成されており、かつ、第１電極１１０と重なる開口１５２を有している。有機層１２０は少なくとも開口１５２内に位置している。第２電極１３０は有機層１２０の上に形成されており、透光性を有している。中間層２００は、第１電極１１０の側面のうち絶縁層１５０と重なる領域の少なくとも一部に形成されている。そして中間層２００の屈折率は、第１電極１１０の屈折率と絶縁層１５０の屈折率の間である。
　また、発光装置１０は配線１１６を有している。配線１１６は基板１００の上に形成されており、透光性を有している。絶縁層１５０は、配線１１６の上にも形成されている。そして中間層２００は、配線１１６の側面のうち絶縁層１５０と重なる領域の少なくとも一部に形成されている。中間層２００の屈折率は、配線１１６の屈折率と絶縁層１５０の屈折率の間である。以下、詳細に説明する。
　実施形態に係る発光装置１０は、表示装置であり、基板１００、第１電極１１０、複数の第１端子１１２、複数の第２端子１３２、発光部１４０、絶縁層１５０、複数の開口１５２、複数の開口１５４、複数の引出配線１１４、有機層１２０、第２電極１３０、複数の引出配線１３４、及び複数の隔壁１７０を有している。
　基板１００は、例えばガラスや透光性の樹脂などの透光性の材料で形成されている。基板１００は、例えば矩形などの多角形である。基板１００は可撓性を有していてもよい。基板１００が可撓性を有している場合、基板１００の厚さは、例えば１０μｍ以上１０００μｍ以下である。特に基板１００がガラスである場合、基板１００の厚さは、例えば２００μｍ以下である。基板１００が樹脂である場合、基板１００は、例えばＰＥＮ（ポリエチレンナフタレート）、ＰＥＳ（ポリエーテルサルホン）、ＰＥＴ（ポリエチレンテレフタラート）、又はポリイミドを用いて形成されている。また、基板１００が樹脂である場合、水分が基板１００を透過することを抑制するために、基板１００の少なくとも一面（好ましくは両面）に、ＳｉＮｘやＳｉＯＮなどの無機バリア膜が形成されている。基板１００がガラス基板の場合、基板１００の屈折率ｎ１は、例えば１．４以上１．６以下である。
　発光部１４０は基板１００に形成されており、有機ＥＬ素子を有している。この有機ＥＬ素子は、第１電極１１０、有機層１２０、及び第２電極１３０をこの順に積層させた構成を有している。
　第１電極１１０は、基板１００の上に形成されており、透光性を有する透明電極である。透明電極を構成する透明導電材料は、金属を含む材料、例えば、ＩＴＯ（Ｉｎｄｉｕｍ　Ｔｉｎ　Ｏｘｉｄｅ）、ＩＺＯ（Ｉｎｄｉｕｍ　Ｚｉｎｃ　Ｏｘｉｄｅ）、ＩＷＺＯ（Ｉｎｄｉｕｍ　Ｔｕｎｇｓｔｅｎ　Ｚｉｎｃ　Ｏｘｉｄｅ）、ＺｎＯ（Ｚｉｎｃ　Ｏｘｉｄｅ）等の金属酸化物である。第１電極１１０の厚さは、例えば１０ｎｍ以上５００ｎｍ以下である。第１電極１１０は、例えばマスクを用いたスパッタリング法又は蒸着法を用いて形成される。なお、第１電極１１０は、薄い金属材料（例えばＡｇまたはＡｇ合金）、カーボンナノチューブ、又はＰＥＤＯＴ／ＰＳＳなどの導電性有機材料であってもよい。第１電極１１０の屈折率ｎ２は基板１００の屈折率ｎ１よりも大きく、例えば１．８以上２．２以下である。
　第１電極１１０は、第１方向（図１及び図２におけるＹ方向）にライン状に延在している。そして第１電極１１０の端部は、引出配線１１４に電気的かつ物理的に接続している。引出配線１１４は、第１電極１１０と同様の材料を用いて形成されている。このため、引出配線１１４は透光性を有している。本実施例では、引出配線１１４は第１電極１１０と一体になっている。そして、引出配線１１４は第１端子１１２に接続している。本図に示す例では、引出配線１１４の端部が第１端子１１２になっている。
　複数の第１電極１１０となる導体パターン上及びその間に位置する基板１００の上には、絶縁層１５０が形成されている。絶縁層１５０は、第１電極１１０となる導体パターンの上面の一部を覆っている。絶縁層１５０は、例えばポリイミド系樹脂などの、透光性を有する感光性の樹脂材料を用いて形成されている。絶縁層１５０は、ポリイミド系樹脂以外の樹脂、例えばエポキシ系樹脂やアクリル系樹脂を用いて形成されていてもよい。絶縁層１５０の屈折率ｎ３は、基板１００の屈折率ｎ１と第１電極１１０の屈折率ｎ２の間に位置しており、例えば１．６以上１．８以下である。
　有機層１２０の上には、第２電極１３０が形成されている。第２電極１３０は、第１電極１１０と同様に、透光性を有する透明電極である。第２電極１３０を構成する材料には、第１電極１１０を構成する材料として例示した材料を用いることができる。ただし、第１電極１１０と第２電極１３０は互いに異なる材料を用いて形成されていてもよいし、互いに同じ材料を用いて形成されていてもよい。また、第２電極１３０の膜厚及び第２電極１３０の形成方法は、第１電極１１０の膜厚及び第２電極１３０の形成方法と同様である。ただし、第２電極１３０の膜厚は第１電極１１０の膜厚と異なっていてもよい。
　第２電極１３０は、第１方向と交わる第２方向（図１におけるＸ方向）に延在している。そして隣り合う第２電極１３０の間には、隔壁１７０が形成されている。隔壁１７０は、第２電極１３０と平行すなわち第２方向に延在しており、第２電極１３０を互いに分離するために設けられている。
　詳細には、隔壁１７０は、断面が台形の上下を逆にした形状（逆台形）になっている。すなわち隔壁１７０の上面の幅は、隔壁１７０の下面の幅よりも大きい。このため、隔壁１７０を第２電極１３０より前に形成しておくと、蒸着法やスパッタリング法を用いて、第２電極１３０を基板１００の一面側に形成することで、複数の第２電極１３０を一括で形成することができる。また、隔壁１７０は、有機層１２０を分断する機能も有している。
　隔壁１７０の下地は、例えば絶縁層１５０である。隔壁１７０は、例えばポリイミド系樹脂などの感光性の樹脂であり、露光及び現像されることによって、所望のパターンに形成されている。なお、隔壁１７０はポリイミド系樹脂以外の樹脂、例えばエポキシ系樹脂やアクリル系樹脂、二酸化珪素等の無機材料で構成されていても良い。
　なお、発光装置１０は隔壁１７０を有していなくてもよい。この場合、第２電極１３０は、スパッタリング時又は蒸着時にマスクを用いることにより、所定のパターンに形成される。
　また、絶縁層１５０には、複数の開口１５２及び複数の開口１５４が形成されている。開口１５２は、基板１００と平行な面において、第１電極１１０と第２電極１３０の交点に位置している。具体的には、複数の開口１５２は、第１電極１１０が延在する方向（図１におけるＹ方向）に並んでいる。また、複数の開口１５２は、第２電極１３０の延在方向（図１におけるＸ方向）にも並んでいる。このため、複数の開口１５２はマトリクスを構成するように配置されていることになる。
　そして、開口１５２と重なる領域には、有機層１２０が形成されている。有機層１２０は発光層を有している。このため、発光部１４０は、開口１５２と重なる領域それぞれに位置していることになる。
　詳細には、有機層１２０は、例えば、正孔注入層、発光層、及び電子注入層を積層させた構成を有している。正孔注入層と発光層との間には正孔輸送層が形成されていてもよい。また、発光層と電子注入層との間には電子輸送層が形成されていてもよい。有機層１２０は蒸着法で形成されてもよい。また、有機層１２０のうち少なくとも一つの層、例えば第１電極１１０と接触する層は、インクジェット法、印刷法、又はスプレー法などの塗布法によって形成されてもよい。なお、この場合、有機層１２０の残りの層は、蒸着法によって形成されている。また、有機層１２０のすべての層が、塗布法を用いて形成されていてもよい。そして、有機層１２０の正孔注入層は第１電極１１０に接しており、有機層１２０の電子注入層は第２電極１３０に接している。
　なお、図３及び図４に示す例では、有機層１２０を構成する各層は、いずれも開口１５２の外側まではみ出している場合を示している。そして図４に示すように、有機層１２０は、隔壁１７０が延在する方向において、隣り合う開口１５２の間にも連続して形成されていてもよいし、連続して形成していなくてもよい。ただし、図５に示すように、有機層１２０は、開口１５４には形成されていない。
　また、上記したように、発光部１４０は、開口１５２と重なる領域それぞれに位置していることになる。このため、図３に示すように、第１電極１１０は、厳密には、第１電極１１０となる導体パターンが延在する方向において、第１電極１１０となる導体パターンのうち開口１５２と重なる領域と定義することができる。この定義に従った第１電極１１０において、上面のうち幅方向の縁（図４における第１電極１１０の両端）は、絶縁層１５０で覆われている。そして、第１電極１１０となる導体パターンのうち隣り合う第１電極１１０の間に位置する部分は、配線１１６と定義することができる。配線１１６は、絶縁層１５０によって覆われている。
　開口１５４は、平面視で複数の第２電極１３０のそれぞれの一端側と重なる領域に位置している。また開口１５４は、開口１５２が構成するマトリクスの一辺に沿って配置されている。そしてこの一辺に沿う方向（例えば図１におけるＹ方向、すなわち第１電極１１０に沿う方向）で見た場合、開口１５４は、所定の間隔で配置されている。開口１５４からは、引出配線１３４の一部分が露出している。そして、引出配線１３４は、開口１５４を介して第２電極１３０に接続している。
　引出配線１３４は、第２電極１３０を第２端子１３２に電気的に接続する配線であり、第１電極１１０と同一の材料からなる層を有している。引出配線１３４の一端側は開口１５４の下に位置しており、引出配線１３４の他端側は、絶縁層１５０の外部に引き出されている。そして本図に示す例では、引出配線１３４の他端側は第２端子１３２となっている。
　第１端子１１２及び第２端子１３２には、ＦＰＣ（Flexible Printed Circuit）などの導通部材が接続される。本図に示す例では、第１端子１１２及び第２端子１３２は基板１００の同一の辺に沿って配置されている。このため、導通部材としてＦＰＣを用いた場合、第１端子１１２及び第２端子１３２を、一つのＦＰＣに接続することができる。
　また、発光装置１０は中間層２００を有している。中間層２００は、第１電極１１０の側面のうち絶縁層１５０と重なる領域の少なくとも一部（好ましくは全部）、及び、配線１１６の側面のうち絶縁層１５０と重なる領域の少なくとも一部（好ましくは全部）に形成されている。本図に示す例において、中間層２００は、第１端子１１２の側面、引出配線１１４の側面、第２端子１３２の側面、及び引出配線１３４の側面にも形成されている。中間層２００の厚さは、例えば５０ｎｍ以上５００ｎｍ以下である。
　中間層２００の屈折率ｎ４は、第１電極１１０の屈折率ｎ２と絶縁層１５０の屈折率ｎ３の間である。このようにするためには、中間層２００を、例えば第１電極１１０を構成する材料と絶縁層１５０を構成する材料の双方を用いて形成すればよい。この場合、中間層２００における第１電極１１０と同じ材料の体積含有率は、例えば３０％以上７０％以下である。なお、第１電極１１０と同じ材料の体積含有率は、例えば中間層２００の断面写真における第１電極１１０と同じ材料の面積比率と置き換えることができる。
　また中間層２００を酸窒化シリコンなど、シリコン、酸素、及び窒素を含む材料を用いて形成してもよい。この場合、中間層２００の酸素含有率に対する中間層２００の窒素含有率の比率は、例えば２以上９以下である。なお、この比率は、例えばＸＲＦ（X‐ray Fluorescence）や、ＥＤＸ（Energy Dispersive X-ray Spectroscopy）におけるピーク高さの比と置き換えることもできる。
　次に、本実施形態における発光装置１０の製造方法を説明する。まず、基板１００上に第１電極１１０、配線１１６、第１端子１１２、第２端子１３２、及び引出配線１１４，１３４を形成する。これらは、例えばマスクを用いたスパッタリング法又は蒸着法を用いて形成される。ただし、これらは他の方法を用いて形成されてもよい。
　次いで、第１電極１１０の側面、第１端子１１２の側面、第２端子１３２の側面、配線１１６の側面、及び引出配線１１４，１３４の側面に、中間層２００を形成する。中間層２００が第１電極１１０を構成する材料と絶縁層１５０を構成する材料を用いて形成されている場合、中間層２００は、例えば第１電極１１０を構成する材料を塗布し、かつ絶縁層１５０を構成する材料を塗布し、その後これらを加熱処理することにより、形成される。なお、第１電極１１０を構成する材料を含む塗布材料と、絶縁層１５０を構成する塗布材料とを予め混ぜておき、この混合材料を塗布して加熱処理しても、中間層２００を形成することができる。
　また、中間層２００がシリコン、酸素、及び窒素を含む材料を用いて形成されている場合、中間層２００は、例えばＣＶＤ法などの気相法及びリソグラフィー法を用いて形成される。
　次いで、基板１００、第１電極１１０の上に、絶縁層１５０となる感光性の絶縁膜を、例えば塗布法を用いて形成する。その後、この絶縁膜を露光及び現像する。これにより、絶縁層１５０が形成される。この工程において、開口１５２，１５４も形成される。次いで、隔壁１７０、有機層１２０、及び第２電極１３０を、この順に形成する。
　本実施形態において、基板１００、第１電極１１０、及び第２電極１３０は透光性を有している。従って、発光装置１０は透明なディスプレイになる。ただし、第１電極１１０の屈折率ｎ２と絶縁層１５０の屈折率ｎ３は異なるため、第１電極１１０の側面と絶縁層１５０の界面で光が散乱し、その結果、第１電極１１０の縁にユーザが気づく可能性がある。これに対して本実施形態において、第１電極１１０の側面のうち絶縁層１５０に面する領域の少なくとも一部（好ましくは全部）は、中間層２００で覆われている。中間層２００の屈折率ｎ４は、第１電極１１０の屈折率ｎ２と絶縁層１５０の屈折率ｎ３の間に位置している。このため、中間層２００が設けられない場合と比較して、第１電極１１０の側面と絶縁層１５０の間で光は散乱しにくくなる、従って、ユーザは、第１電極１１０の縁に気づきにくくなる。
　また、中間層２００は、配線１１６の側面、引出配線１１４のうち絶縁層１５０で覆われている部分の側面、及び引出配線１３４のうち絶縁層１５０で覆われている部分の側面にも形成されている。従って、これらの各側面と絶縁層１５０の間でも光は散乱しにくくなる。従って、ユーザは、配線１１６の縁、引出配線１１４の縁、及び引出配線１３４の縁にも気づきにくくなる。
（第２の実施形態）
　図６、図７、及び図８は、第２の実施形態に係る発光装置１０の断面図であり、それぞれ第１の実施形態における図３、図４、及び図５に対応している。本実施形態に係る発光装置１０は、中間層２００のレイアウトを除いて、第１の実施形態に係る発光装置１０と同様の構成を有している。
　本実施形態において、絶縁層１５０は、実施形態と同様に、第１電極１１０の上面のうち幅方向の縁（図７における第１電極１１０の両端）を覆っている。そして、中間層２００は、図６及び図７に示すように、第１電極１１０の上面のうち絶縁層１５０で覆われている領域の少なくとも一部（好ましくは全部）に形成されている。
　また、中間層２００は、図６に示すように、配線１１６の上面のうち絶縁層１５０で覆われている領域の少なくとも一部に形成されている。図６及び図７に示す例において、配線１１６が延在する方向に直交する方向（図１のＹ方向）の断面において、絶縁層１５０及び中間層２００は配線１１６の全面に形成されている。言い換えると、中間層２００は配線１１６のうち絶縁層１５０で覆われている領域の全面に形成されている。
　また、図８に示すように、中間層２００は、引出配線１３４のうち絶縁層１５０で覆われている領域の全面に形成されている。同様に、中間層２００は、引出配線１１４のうち絶縁層１５０で覆われている領域の全面に形成されている。
　本実施形態によっても、ユーザは、第１電極１１０の縁、配線１１６の縁、引出配線１１４の縁、及び引出配線１３４の縁に気づきにくくなる。また、中間層２００が第１電極１１０の上面、配線１１６の上面、引出配線１１４の上面、及び引出配線１３４の上面にも形成されているため、中間層２００の位置に要求される精度は低くなる。従って、発光装置１０の製造コストを低くすることができる。
　なお、第１の実施形態及び第２の実施形態において、中間層２００は、基板１００のうち、第１電極１１０の周囲に位置する部分、第１端子１１２の周囲に位置する部分、引出配線１１４の周囲に位置する部分、配線１１６の周囲に位置する部分、第２端子１３２の周囲に位置する部分、及び引出配線１３４の周囲に位置する部分に形成されていてもよい。
（第３の実施形態）
　図９及び図１０は、第３の実施形態に係る発光装置１０の構成を示す平面図である。図１１、図１２、及び図１３は、発光装置１０の構成を示す断面図である。図９～図１３は、実施形態における図１～図５に対応している。
　本実施形態に係る発光装置１０は、基板１００のうち発光部１４０が形成されている面にも中間層２００を有している点を除いて、第１の実施形態に係る発光装置１０と同様の構成である。このため、中間層２００は、基板１００と第１電極１１０の間の少なくとも一部（図に示す例では全部）、基板１００と配線１１６の間の少なくとも一部（図に示す例では全部）、第１電極１１０の隣に位置する絶縁層１５０と基板１００の間の少なくとも一部（図に示す例では全部）、配線１１６の隣に位置する絶縁層１５０と基板１００の間の少なくとも一部（図に示す例では全部）、基板１００と引出配線１１４の間の少なくとも一部（図に示す例では全部）、及び、基板１００と引出配線１３４の間の少なくとも一部（図に示す例では全部）に形成されている。そして、基板１００に形成された中間層２００の屈折率ｎ４は、基板１００の屈折率ｎ１と第１電極１１０の屈折率ｎ２の間に位置している。
　さらに詳細には、絶縁層１５０の屈折率ｎ３は、第１電極１１０の屈折率ｎ２と基板１００の屈折率ｎ１の間であり、中間層２００の屈折率ｎ４は第１電極１１０の屈折率ｎ２と絶縁層１５０の屈折率ｎ３の間であるのが好ましい。また、ｎ４は、√（ｎ１×ｎ２）と（ｎ２＋ｎ３）／２の間であるのが好ましい。さらに、有機層１２０の発光スペクトルの最大ピークの波長をλとして、中間層２００の厚さをｄとしたとき、０．９λ／４≦ｎ４×ｄ≦１．１λ／４であり、かつ、√（ｎ１×ｎ２）≦ｎ４≦（ｎ２＋ｎ３）／２であるのが好ましい。
　なお、基板１００の上に形成されている中間層２００の材料は、第１の実施形態に示した中間層２００の材料と同じである。ただし、基板１００の上に形成されている中間層２００は、第１電極１１０の側面を覆う中間層２００の材料と異なっていてもよい。また、基板１００の上に形成されている中間層２００の厚さは、例えば５０ｎｍ以上５００ｎｍ以下である。
　本実施形態によれば、第１電極１１０と基板１００の間には中間層２００が形成されている。中間層２００の屈折率ｎ４は、基板１００の屈折率ｎ１と第１電極１１０の屈折率ｎ２の間に位置している。このため、ここに中間層２００を設けない場合と比較して、有機層１２０からの光の取り出し効率は向上する。ｎ４が√（ｎ１×ｎ２）である場合、有機層１２０からの光の取り出し効率は、さらに向上する。また、０．９λ／４≦ｎ４×ｄ≦１．１λ／４であり、かつ、ｎ４が√（ｎ１×ｎ２）である場合も、有機層１２０からの光の取り出し効率は、さらに向上する。
　また、中間層２００の屈折率ｎ４は第１電極１１０の屈折率ｎ２と絶縁層１５０の屈折率ｎ３の間であるため、ユーザは、第１電極１１０の側面のうち絶縁層１５０と接する部分を視認しにくくなる。ｎ４が（ｎ２＋ｎ３）／２の場合、第１電極１１０の側面のうち上記した部分は最も視認されにくくなる。従って、√（ｎ１×ｎ２）≦ｎ４≦（ｎ２＋ｎ３）／２が、有機層１２０からの光の取り出し効率が良く、かつ第１電極１１０の側面のうち絶縁層１５０と接する部分を視認しにくい条件である。
　以上、図面を参照して実施形態及び実施例について述べたが、これらは本発明の例示であり、上記以外の様々な構成を採用することもできる。

Claims (14)

  1. 　透光性の基板と、
    　前記基板に形成され、透光性を有する第１電極と、
    　前記基板及び前記第１電極の上に形成され、前記第１電極と重なる開口を有する絶縁層と、
    　前記開口内に位置する有機層と、
    　前記有機層の上に形成された透光性の第２電極と、
    　前記第１電極の側面のうち前記絶縁層と重なる領域の少なくとも一部に形成された中間層と、
    を備え、
    　前記中間層の屈折率は、前記第１電極の屈折率と前記絶縁層の屈折率の間である発光装置。
  2. 　請求項１に記載の発光装置において、
    　前記絶縁層は、前記第１電極の上面の一部を覆っており、
    　前記中間層は、前記第１電極の上面のうち前記絶縁層に覆われている領域の少なくとも一部に形成されている発光装置。
  3. 　請求項１又は２に記載の発光装置において、
    　前記基板に形成され、前記第１電極または前記第２電極に電気的に接続している配線を備え、
    　前記配線は透光性を有しており、かつ少なくとも一部が前記絶縁層に覆われており、
    　前記中間層は、前記配線の側面のうち前記絶縁層と重なる領域の少なくとも一部に形成されている発光装置。
  4. 　請求項３に記載の発光装置において、
    　前記絶縁層は、前記配線の上面の少なくとも一部を覆っており、
    　前記中間層は、前記配線の上面のうち前記絶縁層に覆われている領域の少なくとも一部に形成されている発光装置。
  5. 　請求項４に記載の発光装置において、
    　前記配線が延在する方向に直交する方向の断面において、
    　　前記絶縁層は前記配線の全体を覆っており、
    　　前記中間層は、前記配線のうち前記絶縁層で覆われている領域の全面に形成されている発光装置。
  6. 　請求項１～５のいずれか一項に記載の発光装置において、
    　前記中間層は、前記基板と前記絶縁層の間に形成されている発光装置。
  7. 　請求項１～６のいずれか一項に記載の発光装置において、
    　前記中間層は、前記第１電極を構成する材料と前記絶縁層を構成する材料を含んでいる発光装置。
  8. 　請求項１～６のいずれか一項に記載の発光装置において、
    　前記中間層はシリコン、酸素、及び窒素を含んでいる発光装置。
  9. 　請求項１～８のいずれか一項に記載の発光装置において、
    　前記第１電極はＩＴＯ、ＩＺＯ、Ａｇ、又はＡｇ合金を用いて形成されている発光装置。
  10. 　請求項１～９のいずれか一項に記載の発光装置において、
    　前記第２電極はＩＴＯ、ＩＺＯ、Ａｇ、又はＡｇ合金を用いて形成されている発光装置。
  11. 　請求項３～５のいずれか一項に記載の発光装置において、
    　前記配線はＩＴＯ、ＩＺＯ、Ａｇ、又はＡｇ合金を用いて形成されている発光装置。
  12. 　透光性の基板と、
    　前記基板に形成され、透光性を有する第１電極と、
    　前記基板及び前記第１電極の上に形成され、前記第１電極と重なる開口を有する絶縁層と、
    　前記開口内に位置する有機層と、
    　前記有機層の上に形成された透光性の第２電極と、
    　前記第１電極の側面のうち前記絶縁層と重なる領域の少なくとも一部に形成された中間層と、
    を備え、
    　前記中間層は、前記第１電極を構成する材料と前記絶縁層を構成する材料を含んでいる発光装置。
  13. 　透光性の基板と、
    　前記基板に形成され、透光性を有する第１電極と、
    　前記基板及び前記第１電極の上に形成され、前記第１電極と重なる開口を有する絶縁層と、
    　前記開口内に位置する有機層と、
    　前記有機層の上に形成された透光性の第２電極と、
    　前記第１電極の側面のうち前記絶縁層と重なる領域の少なくとも一部に形成された中間層と、
    を備え、
    　前記中間層は、シリコン、酸素、及び窒素を含んでいる発光装置。
  14. 　請求項１２又は１３に記載の発光装置において、
    　前記中間層の厚さは５０ｎｍ以上である発光装置。
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