WO2016017276A1 - 制御パラメータ設定方法、制御装置及びプログラム - Google Patents

制御パラメータ設定方法、制御装置及びプログラム Download PDF

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WO2016017276A1
WO2016017276A1 PCT/JP2015/066224 JP2015066224W WO2016017276A1 WO 2016017276 A1 WO2016017276 A1 WO 2016017276A1 JP 2015066224 W JP2015066224 W JP 2015066224W WO 2016017276 A1 WO2016017276 A1 WO 2016017276A1
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WO
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control parameter
component
mounting
throughput
target
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Application number
PCT/JP2015/066224
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English (en)
French (fr)
Inventor
智 伏見
正浩 星野
Original Assignee
ヤマハ発動機株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
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Publication date
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Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K13/00—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
    • H05K13/04—Mounting of components, e.g. of leadless components

Definitions

  • the present invention relates to a control parameter setting method, a control device, and a program.
  • Patent Document 1 a technique related to “a quality improvement method for improving the quality of a component or material used for production of a component mounting board by a component mounting machine” described in Patent Document 1 can be cited.
  • Patent Document 1 it is determined whether the operating status or the quality status satisfies a predetermined standard due to parts or materials. However, the required operating status and quality status vary depending on the substrate type to be produced. Patent Document 1 does not describe mounting on a plurality of different substrates with the same device.
  • an object of the present invention is to provide a technique suitable for mounting on a plurality of different substrates with the same apparatus.
  • a control parameter setting method provides a control parameter for a component mounting apparatus to mount each of a plurality of types of components on a substrate with a throughput indicating the capability of mounting the component on the substrate per unit time.
  • a switching step is included for switching according to each of the target throughput that is the target value and the target mounting quality that is the target value of the mounting quality when the component is mounted on the board.
  • a control device provides a throughput target value indicating a component mounting capability per unit time for a control parameter for the component mounting device to mount each of a plurality of types of components on the substrate. And a switching unit that switches according to each of the target throughput and the target mounting quality that is a target value of the mounting quality when the component is mounted on the board.
  • a component mounting apparatus includes the control device described above and a component mounting apparatus that mounts each of a plurality of types of components on a substrate.
  • a program according to still another aspect of the present invention is a computer-executable program, and when executed by the computer, the computer controls the component mounting apparatus to mount each of a plurality of types of components on the board.
  • Switching the parameter according to each of the target throughput, which is the target value of throughput indicating the mounting ability of the component on the board per unit time, and the target mounting quality, which is the target value of mounting quality when the component is mounted on the board Function as part.
  • FIG. 1 is a configuration diagram of a component mounting apparatus according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a block diagram illustrating a configuration example of a control system for a component mounting apparatus according to the present invention.
  • FIG. 3 is a block diagram illustrating a hardware configuration example of the control device.
  • FIG. 4 is an example of a component library.
  • FIG. 5 is an example of an evaluation result library.
  • FIG. 6 is an example of an operation flowchart of the control device.
  • FIG. 7 is a diagram illustrating an example of a screen for acquiring a target value.
  • FIG. 8 is an example of an operation flowchart for obtaining a target value.
  • FIG. 9 is a diagram illustrating an example of a control parameter setting screen.
  • FIG. 1 is a configuration diagram of a component mounting apparatus according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a block diagram illustrating a configuration example of a control system for a component mounting apparatus according to the present invention.
  • FIG. 10 is a flowchart showing details of the control parameter setting process.
  • FIG. 11 is a diagram illustrating an example of a suction state of components.
  • FIG. 12 is a graph showing the relationship between the suction rate and the variation in the suction position deviation amount.
  • FIG. 13 is a graph showing the relationship between the control parameters of one component and the evaluation items.
  • FIG. 14 is a diagram illustrating an example of a collective target setting screen according to a modification.
  • a component mounting apparatus (chip mounter) described below is an apparatus that enables a large number of components such as a plurality of types of electronic components to be mounted on an object such as a printed circuit board by soldering using a reflow method. is there.
  • the present invention is not limited to this, and any component that mounts a plurality of types of components on other objects may be used.
  • the component mounting apparatus includes a component mounting apparatus that mounts each of a plurality of types of components on a printed board, and a control device that controls the operation of the component mounting apparatus.
  • FIG. 1 is a configuration diagram of a component mounting apparatus 100 according to an embodiment of the present embodiment.
  • the component mounting apparatus 100 includes a number of component feeders 101, a head Y-axis drive unit 102, a head X-axis drive unit 103, a head 104, a suction nozzle 105, a substrate recognition camera 106, a component recognition camera 107, and a printed circuit board conveyance path 108.
  • a number of component feeders 101 includes a number of component feeders 101, a head Y-axis drive unit 102, a head X-axis drive unit 103, a head 104, a suction nozzle 105, a substrate recognition camera 106, a component recognition camera 107, and a printed circuit board conveyance path 108.
  • the component feeder 101 is provided with a carrier tape. In the pocket of the carrier tape, a component P to be mounted on the printed board S (board) is stored.
  • the head 104 is provided with a plurality of suction nozzles 105 in the circumferential direction. The head 104 is moved in the XY direction by the head Y-axis drive unit 102 and the head X-axis drive unit 103, and is rotatable in the circumferential direction.
  • Each of the board recognition camera 106 and the part recognition camera 107 images the printed board S and the part P to identify the type and position.
  • the printed circuit board conveyance path 108 conveys the printed circuit board S. A solder paste is applied to the printed board S at the mounting position of the component P.
  • the head 104 rotates the head part of the predetermined component P from the carrier tape, and sequentially sucks it by the suction nozzle 105, moves the sucked component P onto the printed board S, and puts it on a predetermined position on the printed board S. Press the solder paste onto the solder paste in a predetermined order.
  • This operation is controlled by the control device 200 described later. Since the drive control itself is known, the description thereof is omitted.
  • FIG. 2 is a block diagram illustrating a configuration example of the control system 1 of the component mounting apparatus.
  • the control system 1 includes a control device 200, a sensor 300, and a component mounting device 100. These are directly connected via a communication network (not shown), or wired or wirelessly.
  • the control device 200 includes a control unit 201, an input unit 202, an output unit 203, an external communication unit 204, and a storage unit 205.
  • the control unit 201 includes a motor drive unit 211, a throughput calculation unit 212, a control parameter acquisition unit 213, and a control parameter switching unit 214 (switching unit).
  • the storage unit 205 includes storage areas for production plan information 221, printed circuit board design information 222, feeder position information 223, mounting sequence information 224, component library 225, evaluation result library 226, and target value information 227.
  • the input unit 202 receives input of information.
  • the output unit 203 outputs information.
  • the external communication unit 204 communicates with an external device. Various sensor values are input from the sensor 300 to the control device 200.
  • the motor drive unit 211 controls the motors of the head Y-axis drive unit 102, the head X-axis drive unit 103, and other drive units (not shown) of the component mounting apparatus 100 according to the control flow, and mounts predetermined components on the printed circuit board S. Control to do.
  • the throughput calculation unit 212 calculates the throughput of each component from the control parameters.
  • the control parameter acquisition unit 213 acquires control parameters for mounting each of a plurality of types of components on the substrate of the component mounting apparatus 100 according to each of the target throughput and the target mounting quality.
  • the control parameter switching unit 214 switches control parameters of the component mounting apparatus 100. Details of these will be described later. Each information in the storage unit 205 will be described later.
  • FIG. 3 is a block diagram illustrating a hardware configuration example of the control device 200.
  • the control device 200 includes an arithmetic device 301, a memory 302, an external storage device 303, an input device 304, an output device 305, a communication device 306, and a storage medium drive device 307.
  • the computing device 301 is, for example, a CPU (Central Processing Unit).
  • the memory 302 is a volatile or non-volatile memory.
  • the external storage device 303 is, for example, an HDD (Hard Disk Drive) or an SSD (Solid State Drive).
  • the storage medium driving device 307 can read and write information with respect to, for example, a CD (Compact Disk), a DVD (Digital Versatile Disk), or any other portable storage medium 308.
  • the input device 304 is, for example, a touch panel, a keyboard, a numeric keypad, a mouse, or a microphone.
  • the output device 305 is, for example, a touch panel, a display device, a printer, or a speaker.
  • the input device 304 and the output device 305 may be realized by a single device such as a touch panel.
  • the communication device 306 is, for example, an interface for connecting to another device (not shown) or a NIC (Network Interface Card) for connecting to a communication network (not shown).
  • Each functional unit of the control unit 201 can be realized by loading a predetermined program into the memory 302 and executing it by the arithmetic unit 301.
  • the predetermined program is downloaded to the external storage device 303 from the storage medium 308 via the storage medium driving device 307 or from a communication network (not shown) via the communication device 306 and loaded into the memory 302 for calculation.
  • the apparatus 301 may be executed.
  • the program may be directly loaded into the memory 302 from the storage medium 308 via the storage medium driving device 307 or from the communication network via the communication device 306 and executed by the arithmetic unit 301.
  • some or all of the respective units of the control unit 201 may be realized as hardware by a circuit or the like.
  • the storage unit 205 can be realized by all or part of the memory 302, the external storage device 303, the storage medium driving device 307, the storage medium 308, and the like.
  • the calculation device 301 may be realized by controlling all or part of the memory 302, the external storage device 303, the storage medium driving device 307, the storage medium 308, and the like by executing the above-described program.
  • the output unit 203 can be realized by the output device 305.
  • the input unit 202 can be realized by the input device 304.
  • the external communication unit 204 can be realized by the communication device 306.
  • the control device 200 is connected to each of the component mounting device 100 and the sensor 300 via an interface (not shown) or the communication device 306.
  • Each functional unit of the control device 200 may be realized by one device or may be realized by being distributed by a plurality of devices.
  • the above-described configurations of the component mounting device 100, the control device 200, and the sensor 300 are for convenience, and some or all of the component mounting device 100, the control device 200, and the sensor 300 may be configured as one device.
  • the control device 200 may be configured as one of a plurality of functions of the component mounting device 100.
  • the sensor 300 may be provided inside or outside the control device 200.
  • the production plan information 221 indicates the production amount for each printed circuit board S.
  • the printed circuit board design information 222 indicates dimensions of the printed circuit board S, components P to be mounted on the printed circuit board S, positioning mark coordinates, mounting coordinates of each component P on the printed circuit board S, and the like.
  • the feeder position information 223 indicates a part P and a holding position on the part mounting apparatus 100 of the feeder 101 that supplies the part P.
  • the mounting sequence information 224 indicates, for each component P, the feeder that supplies the component P, the suction nozzle 105 that sucks the component P, the order in which the component P is sucked, the mounting position on the printed circuit board S, and the like.
  • FIG. 4 is a table format diagram showing an example of the component library 225.
  • Each record in the component library 225 includes a component ID 401, component information 402, and a control parameter 403.
  • the component ID 401 is identification information of the component P.
  • the component information 402 indicates information regarding the component P indicated by the component ID 401.
  • the control parameter 403 indicates each control parameter until the component P indicated by the component ID 401 is picked up from the feeder 101 by the head 104 and mounted on the printed circuit board S.
  • the part information 402 includes a part type and a carrier tape type.
  • the component type is information on the component P
  • the carrier tape type is information on the carrier tape that supplies the component P.
  • the component type includes, for example, a package type indicating the external type of the component P, the presence / absence of magnetism, the type of the component P, the length of the external part of the component, the width of the external part, and the maximum thickness of the external part. included.
  • the carrier tape type includes a material of the carrier tape CT, a pocket shape in which the part P is accommodated, a pocket size, and the like.
  • the control parameters 403 include suction height, suction descending deceleration, suction rising deceleration, XY beam deceleration, and rotational deceleration.
  • the suction height is a stop height of the suction nozzle 105 when sucking the component P.
  • the adsorption lowering deceleration indicates the deceleration rate of the lowering of the adsorption nozzle 105 at the time of adsorption.
  • the suction rise / deceleration indicates the deceleration rate of the rise of the suction nozzle 105 after the component suction.
  • the XY beam deceleration indicates a deceleration rate of each of the head Y-axis drive unit 102 and the head X-axis drive unit 103 when the component P is transported from the feeder 101 to a predetermined position on the printed circuit board S.
  • the rotational deceleration indicates a deceleration rate of rotation of the head 104 or the suction nozzle 105 when the component P is oriented in the mounting direction on the printed circuit board S.
  • one set of component information 402 can be set for one component (component ID), but a plurality of sets of control parameters 403 can be set for one component.
  • component ID component
  • control parameters 403 can be set for one component. For example, in FIG. 4, for the component P with the component ID “A”, one set of component information 402 and a plurality of sets of control parameters 403 are set.
  • FIG. 5 is a table format showing an example of the evaluation result library.
  • Each record of the evaluation result library 226 includes a component ID 501, a control parameter 502, and an evaluation result 503.
  • the component ID 501 is identification information for distinguishing components.
  • the control parameter 502 indicates each control parameter until the component indicated by the component ID 501 is picked up from the feeder 101 by the head 104 and mounted on the printed circuit board S.
  • the evaluation result 503 indicates a value for each evaluation item when the component indicated by the component ID 501 is mounted on the printed circuit board S using the control parameter of the control parameter 502.
  • the control parameter 502 includes the same items and values as the control parameter 403.
  • the evaluation result 503 includes a value for each evaluation item.
  • the evaluation items here include throughput and mounting quality.
  • the mounting quality is an index indicating whether or not the component P to be mounted has been mounted on the printed circuit board S in a good state without leakage.
  • the value indicating the mounting quality is not limited to this, but here, it is assumed that a mounting quality index having a correlation with the mounting quality, such as a suction rate, a take-out rate, a suction position deviation variation, and a mounting position deviation variation is included. .
  • the throughput is a ratio with respect to the standard throughput.
  • the reference throughput is the maximum value of the number of components that can be mounted on the printed circuit board S per unit time, and is generally indicated in units of “cph”. As this reference throughput, what is regarded as the performance of the component mounting apparatus can be used.
  • the throughput is an index indicating the mounting ability of components on the printed circuit board S per unit time, and can be calculated by the throughput calculation unit 212 from the control parameter, the reference throughput, a predetermined function, and the like.
  • the suction rate is a success rate for sucking the component P from the feeder 101.
  • the take-out rate is a failure rate for mounting the component P on the printed circuit board S.
  • the suction position deviation variation indicates the distance between the suction reference position in the component P and the suction position between the suction nozzle 105 and the component P at the time of suction.
  • the mounting position deviation variation indicates the distance between the mounting reference position of the component P on the printed circuit board S and the mounting position of the component P at the time of mounting.
  • FIG. 6 is an example of an operation flowchart of the control device 200.
  • the timing at which this operation is started is not particularly limited.
  • the operation is started when an instruction is input via the input unit 202.
  • the process demonstrated below demonstrates as what is performed for every printed circuit board S.
  • FIG. 6 is an example of an operation flowchart of the control device 200.
  • the control parameter acquisition unit 213 acquires information necessary for processing (S601).
  • the information acquired here is, for example, production plan information 221, printed circuit board design information 222, feeder position information 223, mounting sequence information 224, and the like. These pieces of information may be stored in the storage unit 205 in advance, may be input from another device (not shown) via the external communication unit 204, or may be input from the input unit 202.
  • the control parameter acquisition unit 213 acquires a target throughput that is a target value of throughput and a target mounting quality that is a target value of mounting quality (S602).
  • the target mounting quality is not particularly limited, but here, it is assumed that the target adsorption rate and the target take-out rate are included.
  • the control parameter acquisition unit 213 acquires a control parameter for each component according to each of the target throughput and the target mounting quality.
  • the control parameter switching unit 214 switches the control parameter setting of the component mounting apparatus 100 from the control parameter acquired by the control parameter acquisition unit 213 (S603; switching step).
  • FIG. 7 is an example of a screen for acquiring the target value.
  • FIG. 8 is an example of an operation flowchart for obtaining a target value.
  • the control parameter acquisition unit 213 first generates a parts list (S801). For this purpose, the control parameter acquisition unit 213 acquires the component ID of the component P mounted on the printed circuit board S from the printed circuit board design information 222, and uses this as a component list.
  • the control parameter acquisition unit 213 acquires the component throughput and mounting quality values acquired in S801 from the evaluation result library 226 (S802). Therefore, the control parameter acquisition unit 213 refers to the component ID 501 of each record in the evaluation result library 226 and acquires the evaluation result 503 of the record that matches the component ID acquired in S801. At this time, when there are a plurality of sets for one component, the control parameter acquisition unit 213 acquires all the sets. Further, the values of throughput and mounting quality acquired here may be values of the same items as the target value to be acquired. As described above, here, the target values acquired by the control parameter acquisition unit 213 are the target throughput and the target mounting quality, and include the target suction rate and the target take-out rate as the target mounting quality. Therefore, here, the control parameter acquisition unit 213 will be described as acquiring the throughput, the adsorption rate value, and the take-out rate value.
  • the control parameter acquisition unit 213 outputs the component list acquired in this way and the values of throughput and mounting quality to the output unit 203 to prompt the user to input a target value.
  • the control parameter acquisition unit 213 stores and sets the input value as the target value in the target value information 227 (S803), and proceeds to the process described later.
  • the screen 700 in FIG. 7 is an example of outputting a parts list and values of throughput and mounting quality.
  • the screen 700 includes a column 701, a column 702, and a column 703.
  • a column 701 shows each component included in the component list acquired in S801.
  • the target value for each part shown in the column 701 can be input.
  • a column 703 shows the throughput and mounting quality values acquired in S802 for each component shown in the column 701.
  • the value in the column 703 is shown as the minimum value and the maximum value of each value acquired in S802.
  • the column 703 “throughput” of the component ID “A” is an example in which the minimum value is “70” and the maximum value is “100”.
  • the user uses the input unit 202 to input each target value for each part in the column 702 and presses the setting button 704.
  • the control parameter acquisition unit 213 adds each value input in the field 702 to the target value information 227 as a target value.
  • FIG. 9 is an example of a control parameter setting screen.
  • FIG. 10 is an example of a detailed flow of control parameter setting.
  • the control parameter acquisition unit 213 selects one component (S1001). This selection may be made by the user instructing one of the parts using the input unit 202, or even if the control parameter acquisition unit 213 selects one of the parts from the part list acquired in S801. Good. The processing described below is performed on the component selected here.
  • the control parameter acquisition unit 213 acquires a past setting value that is a value set as a control parameter for the component (S1002). Therefore, the control parameter acquisition unit 213 refers to the component ID 401 of each record in the component library 225, and acquires the control parameter 403 of the record that matches the component selected in S1001 as a past setting value. As described above, a plurality of sets of control parameters 403 can be included for one component, but the control parameter acquisition unit 213 acquires a set of all control parameters 403.
  • the control parameter acquisition unit 213 acquires the component throughput and mounting quality values acquired in S1001 (S1003). Therefore, the control parameter acquisition unit 213 refers to the component ID 501 of each record in the evaluation result library 226, and acquires the evaluation result 503 of the record that matches the component selected in S1001. At this time, when there are a plurality of sets for one component, the control parameter acquisition unit 213 acquires all the sets.
  • the control parameter acquisition unit 213 acquires a control parameter that can obtain a value closest to the target value as a recommended value (S1004).
  • the technique for acquiring the recommended value is not limited to this, but may be acquired from the similarity, may be acquired from a plurality of throughputs and mounting quality near the target value, or may be acquired from a combination thereof.
  • the control parameter acquisition unit 213 calculates similarity from the target throughput and target mounting quality acquired in S602 and the set of throughput and mounting quality values acquired in S1003, and is closest to the target value from this similarity. Specify the control parameter when the value is obtained.
  • the technique for calculating the degree of similarity may be a known one, and is not particularly limited. For example, for each set of values of throughput and mounting quality, the difference for each evaluation item is summed to a square, and further, a square root is obtained. It may be calculated.
  • the evaluation item here is at least one of the evaluation items of the evaluation result 503. Details of this will be described later.
  • the control parameter acquisition unit 213 determines that the control parameter when the obtained similarity is the minimum is the control parameter when the value closest to the target value is obtained. judge.
  • the acquisition from multiple throughputs and mounting quality near the target value will be described later.
  • the above two techniques may be configured to employ either one of the target parts stored in the evaluation result library 226 according to the throughput and the number of evaluation qualities.
  • the recommended value may be acquired by any other technique.
  • the control parameter acquisition unit 213 sets the target value for one or more of the evaluation items when the target value is not included in the range of the past throughput and the mounting quality (between the maximum value and the minimum value) or other predetermined conditions.
  • the recommended value may not necessarily be acquired.
  • the control parameter acquisition unit 213 may acquire the control parameter as a reference value instead of as a recommended value.
  • the control parameter acquisition unit 213 outputs the past setting value acquired in S1002, the throughput and mounting quality value acquired in S1003, the recommended value acquired in S1004, and the like to the output unit 203 (S1005). Obtained as a set value (S1006). Details of this processing will be described later.
  • the control parameter acquisition unit 213 determines whether or not the setting value acquired in S1006 is a new value (S1007). Therefore, the control parameter acquisition unit 213 refers to the component ID 401 and the control parameter 403 of each record of the component library 225, and the control parameter 403 includes the same or a part of the setting value set acquired in S1006. It is determined whether or not. If the same is not included, the control parameter acquisition unit 213 determines that the setting value acquired in S1006 is a new value.
  • the control parameter acquisition unit 213 adds the control parameter acquired in S1006 to the component library 225 (S1008). That is, the control parameter acquisition unit 213 additionally stores the set value set acquired in S1006 in the control parameter 403 of the component library 225.
  • the control parameter acquisition unit 213 determines whether the processing is complete (S1009). Whether or not the process is complete may be determined based on whether or not the above process has been performed on all components mounted on the target printed circuit board. However, the determination of whether or not the process is finished is not limited to this.
  • the control parameter acquisition unit 213 outputs the set value set acquired in S1006 to the control parameter switching unit 214 (S1010).
  • the control parameter switching unit 214 switches the control parameter by storing the set value set in an arbitrary storage area as the control parameter of the component mounting apparatus 100 (completion of the switching step).
  • the screen 900 includes a column 901, a column 902, a column 903, a column 904, a column 905, and a column 906.
  • a column 901 shows the part selected in S1001.
  • a column 902 shows a list of control parameters to be set. In a column 903, a set value for each control parameter shown in the column 902 can be input.
  • a column 904 shows the recommended values acquired in S1004 for each control parameter shown in the column 902.
  • a column 905 shows the past setting value acquired in S1002 for each control parameter shown in the column 902.
  • a column 906 shows values of throughput and mounting quality acquired in S1003 for each control parameter shown in the column 902.
  • the past setting value in the column 905 indicates the minimum value and the maximum value among the past setting values acquired in S1002.
  • the value of the throughput and mounting quality in the column 906 indicates the minimum value and the maximum value of the values acquired in S1003 for each item. In this way, the user can easily register the set value.
  • the column 902 may be input by the user using the output unit 203. Further, when the recommended value is acquired, the recommended value may be output as it is in the column 902 so that the user does not need to input the set value. By doing in this way, the setting of a control parameter can be simplified more.
  • the control parameter acquisition unit 213 displays the field 903.
  • the form may be changed to indicate that, for example, changing the color or leaving it blank. In this way, the user can set the control parameter with reference to the past value even when it is unknown whether the target value can be achieved from the past throughput and mounting quality.
  • the user uses the input unit 202 to press the setting button 908 or the like.
  • the control parameter acquisition unit 213 passes each value input in the field 903 to the control parameter switching unit 214 and the throughput calculation unit 212 as a control parameter.
  • the control device 200 causes the component mounting device 100 to perform mounting on the printed circuit board S a predetermined number of times using the switched control parameters, and is a value indicating throughput and mounting quality.
  • the value indicating the mounting quality includes a mounting quality index having a correlation with the mounting quality, such as a suction rate, a take-out rate, a suction position shift variation, and a mounting position shift variation.
  • the throughput is calculated by the throughput calculation unit 212 using the control parameter from the control parameter acquisition unit 213, the reference throughput, a predetermined relational expression, and the like.
  • the suction rate, take-out rate, suction position shift variation, and mounting position shift variation are obtained from the output from the sensor 300, the output from the board recognition camera 106 and the component recognition camera 107 of the component mounting apparatus 100, and the like. Since these are known, the details are omitted.
  • the control parameter switching unit 214 registers the throughput and mounting quality acquired in S604 in the evaluation result library 226 (S605; storing in the storage device). At this time, for each component P, the control parameter switching unit 214 stores the control parameter passed in S603 in the control parameter 502 of the evaluation result library 226 and the throughput and the mounting quality acquired in S604 as the evaluation result 503. If the same control parameter set is already stored in the control parameter 502, the control parameter switching unit 214 may add and store a new record, or delete and store an old record. . It is possible to determine whether or not a target value described below is achieved by using the value registered in this way.
  • the control parameter acquisition unit 213 compares the target value of the target value information 227 with the throughput and mounting quality of the evaluation result library 226, and determines whether the target value has been achieved (S606). That is, it is determined whether or not the currently set control parameter is a control parameter that satisfies each of the target throughput and the target mounting quality.
  • the process returns to S603. In addition, before or after returning to S603, the process may return to S602 and acquire a new target value input again.
  • the control parameter acquisition unit 213 determines whether or not the production plan is completed (S607). This determination may be made, for example, by referring to the production plan information 221 and determining whether or not the above processing has been performed on all target printed circuit boards S. As a result of the determination in S607, if the production plan is not completed (S607: No), the control parameter acquisition unit 213 returns to the process in S604.
  • the control parameter acquisition unit 213 ends the process.
  • control parameters set in the past are output as shown in the screen 900 shown in FIG.
  • the range (difference between the minimum value and the maximum value) is displayed. ) Will spread.
  • the throughput and mounting quality in the column 906 are updated to reflect new values.
  • the value range (difference between the maximum value and the minimum value) shown in the column 906 is small (for example, in FIG. In the combination of 902 “adsorption descending deceleration” and the column 906 “throughput” (“99.2-99.99”, etc.), the influence of the setting value change is smaller than the range of the past setting value in the column 905. Therefore, for example, when priority is given to throughput, a control parameter having a large throughput change range may be changed.
  • the value of the control parameter having a large change in the adsorption rate may be changed.
  • the value of the control parameter that has a large change in adsorption rate and a small change in throughput may be changed.
  • the suction rate in an actual component mounting apparatus is generally 99.98% or more in a stable state, and the suction failure is less than 2 in 10,000. Accordingly, the occurrence of several defects can be counted only after the number of mountings in S604 is set to 10,000 parts. For this reason, unless tens of thousands of parts are picked up and mounted every time the control parameter is changed, it is impossible to grasp how the change in the control parameter affects the pick-up rate and the take-out rate.
  • FIG. 11 is a diagram illustrating an example of a suction state of the component P. Since the component P is fed under the suction nozzle 105 by the intermittent operation of the component feeding mechanism of the feeder 101, it is sucked in various postures and motion states. Let d be the amount of deviation between the suction position 1101 on the component P by the suction nozzle 105 and the correct suction position 1102. Such a suction position shift amount d is different every time even if the same component is sucked with the same control parameter.
  • FIG. 12 is a graph 1200 showing the relationship between the suction rate and the variation in the suction position deviation amount d.
  • the horizontal axis indicates the variation in the suction position deviation amount d
  • the vertical axis indicates the suction rate.
  • the variation in the adsorption position deviation amount d can be calculated by several tens of adsorption operations. Therefore, by acquiring the variation in the suction position deviation amount d, the possibility of occurrence of a defect can be evaluated prior to the actual change in the suction rate. Therefore, in the achievement determination of the target value in S606, the variation in the suction position deviation amount d is used as an evaluation index for the suction rate.
  • the suction rate from the variation in the suction position deviation amount d may be calculated from a predetermined function including the variation in the suction position deviation amount d as a variable.
  • the variable of the predetermined function may include not only the variation in the suction position deviation amount d but also any information in the component information 402 of the component library 225.
  • the control parameter acquisition unit 213 achieves the target value depending on whether or not the value obtained from the predetermined function and the variation in the adsorption position deviation amount d satisfies a predetermined condition determined according to the target value. It is good to determine whether or not.
  • control parameter in S603 is adjusted so as to improve the suction rate by several tens of suction operations by adjusting the control parameter so that the variation in the suction position deviation amount d is reduced. Can do. As a result, adjustment of the control parameter that can achieve the target value can be realized in a short time.
  • Such calculation of mounting quality can be applied not only to the suction rate but also to other mounting quality such as a take-out rate.
  • the above process may be performed by performing the above-described processing on the mounting position deviation variation. That is, all the mounting qualities can be calculated from the values of quality items having a correlation with the mounting quality. Further, the recommended value and the reference value acquired in S1004 may be calculated so as to obtain the estimated adsorption rate and take-out rate calculated by the above processing.
  • FIG. 13 is a graph 1300 showing an example of the relationship between the control parameters of one component and the evaluation items.
  • the horizontal axis of the graph 1300 is one of the control parameters, for example, the suction height.
  • the vertical axis of the graph 1300 is the value of the evaluation item, and in FIG.
  • the range that can be set as the control parameter and the range that can be acquired as the value at that time are indicated by hatching.
  • “X” in the figure indicates the variation of the actually set control parameter and the suction position deviation amount obtained at that time. Therefore, the graph 1300 shows an example in which the range of the past set value of the suction height is “x1” to “x4”, and the range of variation in the suction position deviation amount at that time is “y1” to “y4”. .
  • the target mounting quality is defined, but the value of the mounting quality that is the target of this target mounting quality can be calculated from the values of correlated quality items. Therefore, the target value of the correlated quality item may be calculated from the target mounting quality.
  • the target value of the correlated quality item may be calculated from the predetermined function including the target mounting quality and the value of the correlated quality item as a variable.
  • the recommended value is obtained by calculating the similarity between the target value, the throughput, and the mounting quality value.
  • the target suction rate is “Ya”
  • the target value of the variation in the suction position deviation amount at that time is obtained as “ya” from a predetermined function or the like.
  • control parameter that can obtain a value closest to the target value by calculating a recommended value from a plurality of throughputs and mounting quality in the vicinity of the target value.
  • a plurality of value sets in the vicinity of the target value may be used, and the number of value sets is not limited to two in the vicinity. That is, a recommended value can be obtained from a plurality of value sets near the target value by a technique such as regression analysis.
  • a technique such as regression analysis.
  • a recommended value is calculated from the values of correlated quality items, such as variations in the amount of suction position deviation.
  • the present invention is not limited to this.
  • a recommended value may be calculated by the above processing from a value of mounting quality adopted as a target value such as an adsorption rate and a take-out rate.
  • target values are set for each control parameter, but this is not restrictive.
  • the respective weights of the target throughput and the mounting quality may be set at a time, and the target value may be determined according to this.
  • FIG. 14 is a diagram illustrating an example of a collective target setting screen 1400 according to a modification.
  • Screen 1400 includes a slide bar 1401. In the slide bar 1401, whether the priority item is the throughput or the mounting quality can be designated at the bar 1412 position on the slide 1411.
  • the control parameter acquisition unit 213 sets a target value according to the position of the bar 1412 in the entire slide 1411.
  • the control parameter to be switched is obtained according to the ratio between the target throughput and the target mounting quality.
  • the control parameter acquisition unit 213 acquires the maximum throughput and the value of the mounting quality at that throughput from the past throughput and the mounting quality. Get the minimum throughput and the value of the implementation quality at that throughput.
  • the control parameter acquisition unit 213 calculates a weight of at least one of throughput and mounting quality according to the position of the bar 1412 in the entire slide 1411.
  • the control parameter acquisition unit 213 may interpolate the acquired value between the maximum and minimum values by a known technique such as regression analysis, calculate a value corresponding to the calculated weight, and use this as a target value.
  • control parameter acquisition unit 213 determines the throughput when the sum of squares of the suction rate and the take-out rate is minimized from the past throughput and the mounting quality, and the suction Each value of the rate and the takeout rate, the throughput when the sum of the squares of the adsorption rate and the takeout rate is maximized, and each value of the adsorption rate and the takeout rate are acquired.
  • the control parameter acquisition unit 213 calculates a weight of at least one of throughput and mounting quality according to the position of the bar 1412 in the entire slide 1411.
  • the control parameter acquisition unit 213 may interpolate the acquired value between the maximum and minimum values by a known technique such as regression analysis, calculate a value corresponding to the calculated weight, and use this as a target value. Thereby, compared with the case where the target value is set for each component, the time required for setting the target value can be greatly reduced.
  • the components to be mounted are provided in a state of being stored in a carrier tape, and the components are first set together with the carrier tape in the component feeder.
  • the component mounting apparatus 100 lowers the suction nozzle to the component in the carrier tape, sucks the component with the suction nozzle and removes it from the carrier tape, further transports the component onto the printed circuit board, and places it at a specified position on the printed circuit board. By repeatedly mounting components, all components on the board are mounted at specified positions.
  • One component mounting apparatus has 10 or more suction nozzles, and can transport tens of thousands of components per hour by carrying many components at once.
  • control parameters cause a decrease in production throughput such as movement acceleration, and it is necessary to adjust the control parameters so that the target production throughput and mounting quality are satisfied at the same time.
  • the same parts are used for the production of multiple boards, but the target mounting quality and production throughput differ for each board.
  • a consumer product board for personal use such as a mobile phone has a very large production quantity, it is acceptable that some mounting is unnecessary, and control parameters giving priority to production throughput are set.
  • the mounting quality is set strictly rather than the production throughput.
  • control parameters can be set according to throughput and mounting quality. Therefore, it is suitable for mounting on a plurality of different substrates with the same apparatus. This is particularly suitable when multiple varieties of different uses are manufactured together on the same line.
  • the user inputs the set value of the control parameter.
  • the present invention is not limited to this, and the acquired recommended value may be automatically set as the set value.
  • at least some of the plurality of control parameters may be automatically set as set values as they are, and other portions may be input by the user.
  • control parameters may be fixed. Therefore, should be included information indicating preliminarily which control parameter is fixed to the table or the like, when setting the control parameters in the above process, the setting of the acquisition and parameters recommended values for fixed control parameters Do not do it.
  • the mounting quality adopted as the target value is not limited to the one in which a practical numerical value cannot be obtained as an evaluation index only after a large amount of mounting is performed, such as the above-described adsorption rate and take-out rate.
  • mounting quality that allows practical numerical values to be acquired by several tens of mountings such as the above-described suction position shift variation and mounting position shift variation, may be adopted as the target value.
  • control lines and information lines indicate what is considered necessary for explanation, and not all control lines and information lines on mounting are necessarily shown. Actually, it may be considered that almost all the components are connected to each other.
  • the control parameter setting method according to the present invention described above can be provided not as a component mounting apparatus including the component mounting apparatus 100 and the control apparatus 200 but as an operation program executed by a computer included in the component mounting apparatus.
  • a program can be recorded on a computer-readable recording medium such as a flexible disk attached to the computer, a CD-ROM, a ROM, a RAM, and a memory card, and provided as a program product.
  • the program can be provided by being recorded on a recording medium such as a hard disk of the control device 200.
  • a program can also be provided by downloading via a network.

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Abstract

制御パラメータ設定方法は、部品装着装置(１００)が複数種類の部品の各々を基板上に装着するための制御パラメータ(４０３)を、単位時間当たりの基板(Ｓ)に対する部品の実装能力を示すスループットの目標値である目標スループット、及び部品を基板に実装する際の実装品質の目標値である目標実装品質の各々に応じて切り替える切替ステップ(Ｓ６０３)、を含む。

Description

制御パラメータ設定方法、制御装置及びプログラム
　本発明は、制御パラメータ設定方法、制御装置及びプログラムに関するものである。
　本発明の背景技術として、特許文献１に記載の、「部品実装機による部品実装基板の生産に用いられる部品または材料の品質を改善する品質改善方法」に係る技術を挙げることができる。
　特許文献１に記載の技術では、部品または材料に起因して稼働状況または品質状況が所定の基準を満たすか否か判断している。しかし、求められる稼働状況及び品質状況は、生産する基板品種ごとに異なる。特許文献１には、複数の異なる基板に対し同じ装置で実装することについての記載はない。
特開２００７－３３５６０９号公報
　そこで、本発明は、複数の異なる基板に対し同じ装置で実装することに適した技術を提供することを目的とする。
　本発明の一の局面に係る制御パラメータ設定方法は、部品装着装置が複数種類の部品の各々を基板上に装着するための制御パラメータを、単位時間当たりの基板に対する部品の実装能力を示すスループットの目標値である目標スループット、及び部品を基板に実装する際の実装品質の目標値である目標実装品質の各々に応じて切り替える切替ステップを含む。
　本発明の他の局面に係る制御装置は、部品装着装置が複数種類の部品の各々を基板上に装着するための制御パラメータを、単位時間当たりの基板に対する部品の実装能力を示すスループットの目標値である目標スループット、及び部品を基板に実装する際の実装品質の目標値である目標実装品質の各々に応じて切り替える切替部を有する。
　本発明のさらに他の局面に係る部品実装装置は、上記の制御装置と、複数種類の部品の各々を基板上に装着する部品装着装置と、を含む。
　本発明のさらに他の局面に係るプログラムは、コンピュータ実行可能なプログラムであって、コンピュータにより実行されると、コンピュータを、部品装着装置が複数種類の部品の各々を基板上に装着するための制御パラメータを、単位時間当たりの基板に対する部品の実装能力を示すスループットの目標値である目標スループット、及び部品を基板に実装する際の実装品質の目標値である目標実装品質の各々に応じて切り替える切替部、として機能させる。
　本発明の目的、特徴及び利点は、以下の詳細な説明と添付図面とによって、より明白となる。
図１は、本発明の一実施形態に係る部品装着装置の構成図である。 図２は、本発明に係る部品実装装置の制御システムの構成例を示すブロック図である。 図３は、前記制御装置のハードウェア構成例を示すブロック図である。 図４は、部品ライブラリの例である。 図５は、評価結果ライブラリの例である。 図６は、前記制御装置の動作フローチャートの例である。 図７は、目標値を取得するための画面例を示す図である。 図８は、目標値を取得する動作フローチャートの例である。 図９は、制御パラメータ設定画面の例を示す図である。 図１０は、制御パラメータ設定処理の詳細を示すフローチャートである。 図１１は、部品の吸着状態の一例を示す図である。 図１２は、吸着率と吸着位置ずれ量のばらつきとの関係を示すグラフである。 図１３は、一つの部品の制御パラメータと、評価項目との関係を示すグラフである。 図１４は、変形例による一括目標設定画面の例を示す図である。
　以下、本発明の一実施形態を図面に基づいて詳細に説明する。なお、実施の形態を説明するための全図において、同一部には原則として同一の符号を付し、その繰り返しの説明は省略する。
　以下で説明する部品実装装置（チップマウンタ）は、例えば、プリント基板等の対象物に対して、リフロー方式によるはんだ接合により複数種類の電子部品等の部品を多数装着することを可能とする装置である。ただし、これに限るわけではなく、複数種類の部品を他の対象物上に実装するものであればよい。部品実装装置は、複数種類の部品の各々をプリント基板上に装着する部品装着装置と、該部品装着装置の動作を制御する制御装置とを含む。
　図１は、本実施形態の一実施形態に係る部品装着装置１００の構成図である。部品装着装置１００は、多数の部品フィーダ１０１、ヘッドＹ軸駆動部１０２、ヘッドＸ軸駆動部１０３、ヘッド１０４、吸着ノズル１０５、基板認識カメラ１０６、部品認識カメラ１０７、及びプリント基板搬送路１０８を有する。
　部品フィーダ１０１にはキャリアテープが設けられている。キャリアテープのポケットには、プリント基板Ｓ（基板）に搭載される部品Ｐが収められている。ヘッド１０４には、複数の吸着ノズル１０５が周方向に設けられている。ヘッド１０４は、ヘッドＹ軸駆動部１０２及びヘッドＸ軸駆動部１０３によりＸ－Ｙ方向へ移動され、また、周方向に回転可能である。基板認識カメラ１０６、部品認識カメラ１０７の各々は、プリント基板Ｓ及び部品Ｐを撮像して種類や位置を識別する。プリント基板搬送路１０８は、プリント基板Ｓを搬送する。このプリント基板Ｓには、部品Ｐの搭載位置にはんだペーストが塗布などされている。
　ヘッド１０４は、キャリアテープから所定の部品Ｐを、ヘッド部分を回転させて、吸着ノズル１０５により順次吸着し、吸着した部品Ｐをプリント基板Ｓ上に移動させて、プリント基板Ｓ上の所定位置に所定順ではんだペースト上に押し付けて装着させる。この動作は、後述する制御装置２００により制御される。駆動制御そのものは公知であるので説明は省略する。
　図２は、部品実装装置の制御システム１の構成例を示すブロック図である。制御システム１は、制御装置２００、センサ３００及び部品装着装置１００を含む。これらは、図示しない通信ネットワークを介して、又は、有線又は無線により直接接続されている。
　制御装置２００は、制御部２０１、入力部２０２、出力部２０３、外部通信部２０４、及び記憶部２０５を含む。制御部２０１は、モータ駆動部２１１、スループット算出部２１２、制御パラメータ取得部２１３及び制御パラメータ切替部２１４（切替部）を含む。記憶部２０５は、生産計画情報２２１、プリント基板設計情報２２２、フィーダ位置情報２２３、実装シーケンス情報２２４、部品ライブラリ２２５、評価結果ライブラリ２２６及び目標値情報２２７の記憶領域を含む。入力部２０２は情報の入力を受け付ける。出力部２０３は情報を出力する。外部通信部２０４は、外部の装置と通信する。また、制御装置２００には、センサ３００から各種センサ値が入力される。
　モータ駆動部２１１は、部品装着装置１００のヘッドＹ軸駆動部１０２、ヘッドＸ軸駆動部１０３及び図示しない他駆動部のモータを制御フローにしたがって制御し、プリント基板Ｓ上に所定の部品を実装するよう制御する。スループット算出部２１２は、制御パラメータから各部品のスループットを算出する。制御パラメータ取得部２１３は、部品装着装置１００の、複数種類の部品の各々を基板上に装着するための制御パラメータを、目標スループット及び目標実装品質の各々に応じて取得する。制御パラメータ切替部２１４は、部品装着装置１００の制御パラメータを切り替える。これらの詳細は後述する。また、記憶部２０５内の各情報については後述する。
　図３は、制御装置２００のハードウェア構成例を示すブロック図である。制御装置２００は、演算装置３０１、メモリ３０２、外部記憶装置３０３、入力装置３０４、出力装置３０５、通信装置３０６及び記憶媒体駆動装置３０７を有する。
　演算装置３０１は、例えばＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ　Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ　Ｕｎｉｔ）である。メモリ３０２は、揮発性や不揮発性のメモリである。外部記憶装置３０３は、例えば、ＨＤＤ（Ｈａｒｄ　Ｄｉｓｋ　Ｄｒｉｖｅ）やＳＳＤ（Ｓｏｌｉｄ　Ｓｔａｔｅ　Ｄｒｉｖｅ）である。記憶媒体駆動装置３０７は、例えばＣＤ（Ｃｏｍｐａｃｔ　Ｄｉｓｋ）やＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ　Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ　Ｄｉｓｋ）、その他任意の可搬性を有する記憶媒体３０８に対して情報を読み書き可能である。
　入力装置３０４は、例えばタッチパネル、キーボード、テンキー、マウス、マイクロフォンである。出力装置３０５は、例えば、タッチパネル、ディスプレイ装置、プリンタ、スピーカである。入力装置３０４及び出力装置３０５は、タッチパネルなどにより１つの装置で実現されてもよい。通信装置３０６は、例えば、図示しない他装置と接続するためのインタフェースや、図示しない通信ネットワークに接続するためのＮＩＣ（Ｎｅｔｗｏｒｋ　Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ　Ｃａｒｄ）である。
　制御部２０１の各機能部は、所定のプログラムをメモリ３０２にロードして演算装置３０１が実行することにより実現可能である。この所定のプログラムは、記憶媒体駆動装置３０７を介して記憶媒体３０８から、あるいは、通信装置３０６を介して図示しない通信ネットワークから、外部記憶装置３０３にダウンロードされ、そして、メモリ３０２にロードされ、演算装置３０１が実行するようにしてもよい。また、記憶媒体駆動装置３０７を介して記憶媒体３０８から、あるいは、通信装置３０６を介して通信ネットワークから、メモリ３０２に直接ロードされ、演算装置３０１が実行するようにしてもよい。あるいは、制御部２０１の各部のうち一部又はすべてを、回路等によりハードウェアとして実現してもよい。
　記憶部２０５は、メモリ３０２、外部記憶装置３０３、記憶媒体駆動装置３０７及び記憶媒体３０８等の全て又は一部により実現可能である。又は、演算装置３０１が上記プログラムの実行により、メモリ３０２、外部記憶装置３０３、記憶媒体駆動装置３０７及び記憶媒体３０８等の全て又は一部を制御することで実現してもよい。
　出力部２０３は、出力装置３０５により実現可能である。入力部２０２は、入力装置３０４により実現可能である。外部通信部２０４は、通信装置３０６により実現可能である。
　制御装置２００は、図示しないインタフェース、又は、通信装置３０６を介して、部品装着装置１００、センサ３００の各々と接続される。制御装置２００の各機能部は、１つの装置により実現されてもよく、複数の装置により分散されて実現されてもよい。部品装着装置１００、制御装置２００及びセンサ３００の上記構成は、便宜上のものであり、部品装着装置１００、制御装置２００及びセンサ３００のうち一部又は全てが、１つの装置として構成されてもよい。例えば、制御装置２００は、部品装着装置１００の複数の機能のうちの１つとして構成されてもよい。その場合、センサ３００は、制御装置２００の内部又は外部に設けられてもよい。
　ここで、記憶部２０５内の各情報について説明する。生産計画情報２２１は、プリント基板Ｓ毎の生産量を示す。プリント基板設計情報２２２は、プリント基板Ｓの寸法、プリント基板Ｓに装着する部品Ｐ、位置決めマーク座標、プリント基板Ｓへの各部品Ｐの装着座標などを示す。フィーダ位置情報２２３は、部品Ｐと、その部品Ｐを供給するフィーダ１０１の部品装着装置１００上の保持位置などを示す。実装シーケンス情報２２４は、部品Ｐごとに、部品Ｐを供給するフィーダ、部品Ｐを吸着する吸着ノズル１０５、部品Ｐを吸着する順、プリント基板Ｓ上の装着位置などを示す。これらは、上述した、制御装置２００による部品Ｐの装着制御のための情報である。これらの情報は装着制御が実現できればよく、上記のように、装着制御そのものは公知であるため、詳細な説明は省略する。また、目標値情報２２７は、後述する処理により取得される。
　図４は、部品ライブラリ２２５の例を示す表形式の図である。部品ライブラリ２２５の各レコードは、部品ＩＤ４０１、部品情報４０２、制御パラメータ４０３を含む。部品ＩＤ４０１は、部品Ｐの識別情報である。部品情報４０２は、部品ＩＤ４０１で示す部品Ｐに関する情報を示す。制御パラメータ４０３は、部品ＩＤ４０１で示す部品Ｐをヘッド１０４でフィーダ１０１から吸着し、プリント基板Ｓ上に搭載するまでの各制御パラメータを示す。
　図４の例では、部品情報４０２には、部品種別と、キャリアテープ種別とが含まれている。部品種別は、部品Ｐに関する情報であり、キャリアテープ種別とは、その部品Ｐを供給するキャリアテープに関する情報である。部品種別には、具体的には、例えば、部品Ｐの外形種類を示すパッケージ種類、磁性の有無、部品Ｐの種類、部品外形の長さ、部品外形の幅、部品外形の最大厚さなどが含まれる。キャリアテープ種別には、具体的には、キャリアテープＣＴの素材、部品Ｐが収められるポケット形状、ポケットサイズなどが含まれる。
　制御パラメータ４０３には、吸着高さ、吸着下降減速、吸着上昇減速、ＸＹビーム減速、回転減速が含まれる。吸着高さは、部品Ｐを吸着する際の吸着ノズル１０５の停止高さである。吸着下降減速は、吸着のときの吸着ノズル１０５の下降の減速率を示す。吸着上昇減速は、部品吸着後の吸着ノズル１０５の上昇の減速率を示す。ＸＹビーム減速は、フィーダ１０１上からプリント基板Ｓ上の所定位置へ部品Ｐを運搬するときの、ヘッドＹ軸駆動部１０２及びヘッドＸ軸駆動部１０３の各々の減速率を示す。回転減速は、プリント基板Ｓ上の装着方向に部品Ｐの向きを合わるときの、ヘッド１０４や吸着ノズル１０５の回転の減速率を示す。
　部品ライブラリ２２５において、部品情報４０２は１つの部品（部品ＩＤ）に対し１セット設定できるが、制御パラメータ４０３は１つの部品に対し複数セットを設定可能である。例えば、図４では、部品ＩＤ「Ａ」の部品Ｐについて、部品情報４０２は１セット、制御パラメータ４０３は複数セット設定されている。
　図５は、評価結果ライブラリの例を示す表形式の図である。評価結果ライブラリ２２６の各レコードは、部品ＩＤ５０１、制御パラメータ５０２、評価結果５０３を含む。部品ＩＤ５０１は、部品を区別する識別情報である。制御パラメータ５０２は、部品ＩＤ５０１に示す部品をヘッド１０４でフィーダ１０１から吸着し、プリント基板Ｓ上に搭載するまでの各制御パラメータを示す。評価結果５０３は、部品ＩＤ５０１に示す部品を、制御パラメータ５０２の制御パラメータでプリント基板Ｓ上に搭載するときの、評価項目毎の値を示す。
　図５の例では、制御パラメータ５０２には、上記制御パラメータ４０３と同じ項目及びその値が含まれる。評価結果５０３には、評価項目毎の値が含まれる。ここでいう評価項目はスループットと、実装品質とを含む。実装品質は、実装対象の部品Ｐをプリント基板Ｓへ、漏れなく、良好な状態で実装できたか否かを示す指標である。実装品質を示す値は、これに限定しないが、ここでは、吸着率、持ち帰り率、吸着位置ずればらつき、装着位置ずればらつき等の、実装品質と相関のある実装品質指標が含まれるものとして説明する。
　スループットとは、基準スループットに対する割合である。基準スループットとは、単位時間あたりにプリント基板Ｓへ搭載可能な部品数の最高値であり、一般的に「ｃｐｈ」という単位で示される。この基準スループットは、部品実装装置の性能とされているものを用いることができる。スループットは、単位時間当たりのプリント基板Ｓに対する部品の実装能力を示す指標であり、制御パラメータと、基準スループットと、所定関数等とから、スループット算出部２１２が算出することができる。
　吸着率とは、フィーダ１０１から部品Ｐを吸着する成功率である。持ち帰り率とは、プリント基板Ｓへ部品Ｐを搭載する失敗率である。吸着位置ずればらつきとは、部品Ｐにおける吸着基準位置と、吸着時における吸着ノズル１０５と部品Ｐとの吸着位置との距離を示す。装着位置ずればらつきとは、プリント基板Ｓにおける部品Ｐの装着基準位置と、装着時における部品Ｐとの装着位置との距離を示す。
　図６は、制御装置２００の動作フローチャートの例である。この動作が開始されるタイミングは特に限定せず、例えば入力部２０２を介して指示が入力された場合などに開始される。なお、以下で説明する処理は、プリント基板Ｓ毎に行われるものとして説明する。
　制御パラメータ取得部２１３は、処理に必要な情報を取得する（Ｓ６０１）。ここで取得する情報は、例えば、生産計画情報２２１、プリント基板設計情報２２２、フィーダ位置情報２２３、実装シーケンス情報２２４等である。これらの情報は、予め記憶部２０５に記憶されていてもよく、図示しない他装置から外部通信部２０４を介して入力されてもよく、或いは入力部２０２から入力されたものであってもよい。
　次に、制御パラメータ取得部２１３は、部品Ｐごとに、スループットの目標値である目標スループットと、実装品質の目標値である目標実装品質とを取得する（Ｓ６０２）。目標実装品質は、特に限定しないが、ここでは、目標吸着率と、目標持ち帰り率とを含むものとする。次に、制御パラメータ取得部２１３は、目標スループット及び目標実装品質の各々に応じて部品ごとの制御パラメータを取得する。制御パラメータ切替部２１４は、部品装着装置１００の制御パラメータの設定を、制御パラメータ取得部２１３により取得された制御パラメータ切り替える（Ｓ６０３；切替ステップ）。
　上記Ｓ６０２の処理を詳細に説明する。図７は、目標値を取得するための画面例である。図８は、目標値を取得する動作フローチャートの例である。制御パラメータ取得部２１３は、まず、部品リストを生成する（Ｓ８０１）。そのために、制御パラメータ取得部２１３は、プリント基板設計情報２２２から、プリント基板Ｓに実装する部品Ｐの部品ＩＤを取得し、これを部品リストとする。
　次に、制御パラメータ取得部２１３は、評価結果ライブラリ２２６から、Ｓ８０１で取得した部品のスループット及び実装品質の値を取得する（Ｓ８０２）。そのために、制御パラメータ取得部２１３は、評価結果ライブラリ２２６の各レコードの部品ＩＤ５０１を参照して、Ｓ８０１で取得した部品ＩＤと一致するレコードの評価結果５０３を取得する。このとき、制御パラメータ取得部２１３は、１つの部品に対し複数セットがある場合は、すべてのセットを取得する。また、ここで取得するスループット及び実装品質の値は、取得対象の目標値と同じ項目の値であってもよい。上記のように、ここでは、制御パラメータ取得部２１３が取得する目標値は、目標スループットと、目標実装品質とであり、目標実装品質として、目標吸着率と、目標持ち帰り率とを含む。従って、ここでは、制御パラメータ取得部２１３は、スループットと、吸着率の値と、持ち帰り率の値とを取得するものとして説明する。
　制御パラメータ取得部２１３は、このように取得した部品リストと、スループット及び実装品質の値とを出力部２０３に出力して、ユーザに、目標値の入力を促す。値が入力されると、制御パラメータ取得部２１３は、入力された値を目標値として目標値情報２２７に記憶させて設定し（Ｓ８０３）、後述する処理に移行する。
　図７の画面７００は、部品リストと、スループット及び実装品質の値とを出力する例である。画面７００は、欄７０１、欄７０２、欄７０３を含む。欄７０１には、Ｓ８０１で取得した部品リストに含まれる各部品が示される。欄７０２には、欄７０１に示す部品ごとの目標値が入力可能である。欄７０３には、欄７０１に示す部品ごとの、Ｓ８０２で取得したスループット及び実装品質の値が示される。
　欄７０３の値は、Ｓ８０２で取得した各値の最小値及び最大値として示される。例えば、図７の場合、部品ＩＤ「Ａ」の欄７０３「スループット」は、最小値が「７０」、最大値が「１００」である例である。このようにすることで、ユーザは、目標値の見当をつけることが容易となる。
　ユーザは、入力部２０２を用いて、欄７０２に、部品ごとに、目標値の各々を入力し、設定ボタン７０４を押下する。制御パラメータ取得部２１３は、欄７０２に入力された各値を目標値として、目標値情報２２７に追加する。
　次に、上記Ｓ６０３の処理を詳細に説明する。図９は、制御パラメータ設定画面の例である。図１０は、制御パラメータ設定の詳細フローの例である。制御パラメータ取得部２１３は、部品を１つ選択する（Ｓ１００１）。この選択は、ユーザが入力部２０２を用いていずれかの部品を指示することで選択してもよく、制御パラメータ取得部２１３がＳ８０１で取得した部品リストから部品のうち１つを選択してもよい。以下で説明する処理は、ここで選択した部品に対し行われる。
　制御パラメータ取得部２１３は、部品に対する制御パラメータとして設定された値である過去設定値を取得する（Ｓ１００２）。そのために、制御パラメータ取得部２１３は、部品ライブラリ２２５の各レコードの部品ＩＤ４０１を参照して、Ｓ１００１で選択した部品と一致するレコードの制御パラメータ４０３を、過去設定値として取得する。上記のように、１つの部品に対し制御パラメータ４０３は複数セット含まれうるが、制御パラメータ取得部２１３は、全ての制御パラメータ４０３のセットを取得する。
　制御パラメータ取得部２１３は、Ｓ１００１で取得した部品のスループット及び実装品質の値を取得する（Ｓ１００３）。そのために、制御パラメータ取得部２１３は、評価結果ライブラリ２２６の各レコードの部品ＩＤ５０１を参照して、Ｓ１００１で選択した部品と一致するレコードの評価結果５０３を取得する。このとき、制御パラメータ取得部２１３は、１つの部品に対し複数セットがある場合は、すべてのセットを取得する。
　制御パラメータ取得部２１３は、目標値に最も近い値を得ることの可能な制御パラメータを、推奨値として取得する（Ｓ１００４）。推奨値を取得する技術は、これに限定しないが、類似度から取得してもよく、目標値近傍の複数のスループット及び実装品質から取得してもよく、これらの組み合わせから取得してもよい。
　類似度からの取得について説明する。制御パラメータ取得部２１３は、Ｓ６０２で取得した目標スループット及び目標実装品質と、Ｓ１００３で取得したスループット及び実装品質の値のセットとから、類似度を算出し、この類似度から、目標値に最も近い値を得たときの制御パラメータを特定する。
　類似度を算出する技術は公知のものであってもよく、特に限定しないが、例えば、スループット及び実装品質の値のセットごとに、評価項目毎の差分を二乗和し、さらに平方根を得ることで算出してもよい。ここでいう評価項目とは、評価結果５０３の評価項目のうち少なくとも１つである。この詳細は後述する。このようにして類似度を得た場合、制御パラメータ取得部２１３は、得られた類似度が最少となったときの制御パラメータが、目標値に最も近い値を得たときの制御パラメータであると判定する。
　目標値近傍の複数のスループット及び実装品質からの取得については後述する。なお、上記２つの技術については、評価結果ライブラリ２２６に記憶されている対象部品のスループット及び評価品質の数に応じて、いずれかを採用するように構成してもよい。あるいは、他の任意の技術により、推奨値を取得してもよい。
　制御パラメータ取得部２１３は、評価項目のうち１つ又は複数について、目標値が過去のスループット及び実装品質の範囲内（最大値から最小値の間）に含まれない場合や、他の所定条件を満たさない場合、初めて制御パラメータを設定する場合などは、必ずしも推奨値を取得しなくてもよい。あるいは、この場合、制御パラメータ取得部２１３は、推奨値としてではなく参考値として制御パラメータを取得してもよい。
　制御パラメータ取得部２１３は、Ｓ１００２で取得した過去設定値、Ｓ１００３で取得したスループット及び実装品質の値、Ｓ１００４で取得した推奨値等を出力部２０３に出力し（Ｓ１００５）、設定する制御パラメータを、設定値として取得する（Ｓ１００６）。この処理の詳細は後述する。
　制御パラメータ取得部２１３は、Ｓ１００６で取得した設定値が新たな値であるか否か判定する（Ｓ１００７）。そのために、制御パラメータ取得部２１３は、部品ライブラリ２２５の各レコードの部品ＩＤ４０１、制御パラメータ４０３を参照し、制御パラメータ４０３に、Ｓ１００６で取得した設定値セットの一部又は全てと同じものが含まれているか否か判定する。同じものが含まれていない場合、制御パラメータ取得部２１３は、Ｓ１００６で取得した設定値が新たな値であると判定する。
　Ｓ１００７の判定の結果、設定値が新たな値である場合（Ｓ１００７：Ｙｅｓ）、制御パラメータ取得部２１３は、部品ライブラリ２２５に、Ｓ１００６で取得した制御パラメータを追加する（Ｓ１００８）。即ち、制御パラメータ取得部２１３は、部品ライブラリ２２５の制御パラメータ４０３に、Ｓ１００６で取得した設定値セットを追加格納する。
　Ｓ１００７の判定の結果、設定値が新たな値でない場合（Ｓ１００７：Ｎｏ）、又は、Ｓ１００８の処理の後、制御パラメータ取得部２１３は、処理が終了であるか否か判定する（Ｓ１００９）。処理が終了であるか否かは、対象のプリント基板に搭載するすべての部品に対し上記処理を行ったか否かにより判定してもよい。ただし、処理が終了であるか否かの判定はこれに限定しない。
　Ｓ１００９の判定の結果、処理が終了である場合（Ｓ１００９：Ｙｅｓ）、後述するＳ１０１０の処理に移行する。Ｓ１００９の判定の結果、処理が終了でない場合（Ｓ１００９：Ｎｏ）、Ｓ１００１の処理に移行し、他の部品について上記処理を行う。
　制御パラメータ取得部２１３は、Ｓ１００６で取得した設定値セットを制御パラメータ切替部２１４に出力する（Ｓ１０１０）。制御パラメータ切替部２１４は、その設定値セットを、部品装着装置１００の制御パラメータとして任意の記憶領域に格納等することで、制御パラメータを切り替える（切替ステップの完了）。
　図９の画面９００は、Ｓ１００５で出力される画面の例である。画面９００は、欄９０１、欄９０２、欄９０３、欄９０４、欄９０５、欄９０６を含む。欄９０１は、Ｓ１００１で選択している部品を示す。欄９０２には、設定する制御パラメータの一覧が示される。欄９０３には、欄９０２に示す制御パラメータごとの設定値が入力可能である。欄９０４には、欄９０２に示す制御パラメータごとの、Ｓ１００４で取得した推奨値が示される。欄９０５には、欄９０２に示す制御パラメータごとの、Ｓ１００２で取得された過去設定値が示される。欄９０６には、欄９０２に示す制御パラメータごとの、Ｓ１００３で取得したスループット及び実装品質の値が示される。
　欄９０５の過去設定値は、Ｓ１００２で取得された過去設定値のうち、最小値及び最大値が示される。また、欄９０６のスループット及び実装品質の値は、項目毎に、Ｓ１００３で取得された値の最小値及び最大値が示される。このようにすることで、ユーザは、設定値の見当をつけることが容易となる。
　欄９０２は、ユーザが出力部２０３を用いて入力可能としてもよい。また、推奨値が取得された場合は、その推奨値をそのまま欄９０２に示して出力し、ユーザによる設定値の入力を不要としてもよい。このようにすることで、制御パラメータの設定をより簡易化できる。
　この場合、欄９０３には推奨値が示されるので、過去のスループット及び実装品質から目標値が達成可能であれば、ユーザは、そのときの制御パラメータをそのまま利用することが容易となる。一方、上記のように、目標値が過去のスループット及び実装品質の範囲内に含まれない場合や、参考値としての制御パラメータが取得された場合など、制御パラメータ取得部２１３は、欄９０３の表示形態を、例えば色を変える、空欄のまましておくなど、その旨を示すように変更してもよい。このようにすることで、ユーザは、過去のスループット及び実装品質から目標値が達成可能か否か不明な場合であっても、過去の値を参考にして制御パラメータを設定することができる。
　ユーザは、入力部２０２を用いて、設定ボタン９０８を押下等する。制御パラメータ取得部２１３は、欄９０３に入力された各値を制御パラメータとして、制御パラメータ切替部２１４及びスループット算出部２１２に渡す。
　図６に戻る。上記のように制御パラメータが設定されると、制御装置２００は、その切り替えられた制御パラメータにて、部品装着装置１００にプリント基板Ｓへの実装を所定回数行わせ、スループット及び実装品質を示す値を取得する（Ｓ６０４；取得ステップ）。実装品質を示す値としては、吸着率、持ち帰り率、吸着位置ずればらつき、及び装着位置ずればらつきの、実装品質と相関のある実装品質指標が含まれる。スループットは、スループット算出部２１２が、制御パラメータ取得部２１３からの制御パラメータと、基準スループットと、所定の関係式等とを用いて算出する。吸着率、持ち帰り率、吸着位置ずればらつき、装着位置ずればらつきは、センサ３００からの出力、部品装着装置１００の基板認識カメラ１０６、部品認識カメラ１０７からの出力などから得られる。これらは公知であるので詳細は省略する。
　制御パラメータ切替部２１４は、Ｓ６０４で取得したスループット及び実装品質を、評価結果ライブラリ２２６に登録する（Ｓ６０５；記憶装置に記憶させるステップ）。このとき、制御パラメータ切替部２１４は、部品Ｐごとに、Ｓ６０３で渡された制御パラメータを評価結果ライブラリ２２６の制御パラメータ５０２に、Ｓ６０４で取得したスループット及び実装品質を評価結果５０３として記憶させる。なお、制御パラメータ５０２に、既に同じ制御パラメータセットが記憶されている場合、制御パラメータ切替部２１４は、新たなレコードを追加して記憶させてもよく、古いレコードを削除して記憶させてもよい。このようにして登録した値を用いて、以下で説明する目標値を達成しているか否かの判定を行うことができる。
　制御パラメータ取得部２１３は、目標値情報２２７の目標値と、評価結果ライブラリ２２６のスループット及び実装品質とを比較し、目標値を達成しているか否か判定する（Ｓ６０６）。つまり、現状で設定されている制御パラメータが、目標スループット及び目標実装品質の各々を満たす制御パラメータであるか否かが判定される。
　Ｓ６０６の判定の結果、目標値を達成していない場合（Ｓ６０６：Ｎｏ）、Ｓ６０３の処理に戻る。なお、Ｓ６０３に戻る前又は後で、Ｓ６０２に戻り、再度新たな目標値の入力を取得してもよい。Ｓ６０６の判定の結果、目標値を達成している場合（Ｓ６０６：Ｙｅｓ）、制御パラメータ取得部２１３は、生産計画完了か否か判定する（Ｓ６０７）。この判定は、例えば、生産計画情報２２１を参照し、対象とするすべてのプリント基板Ｓに対して上記処理を行ったか否かにより判定してもよい。Ｓ６０７の判定の結果、生産計画完了でない場合（Ｓ６０７：Ｎｏ）、制御パラメータ取得部２１３はＳ６０４の処理に戻る。つまり、目標値を達成している場合には、取得ステップＳ６０４で取得された制御パラメータに自動的に切り替えられ、部品装着装置１００が当該制御パラメータで部品Ｐの各々をプリント基板Ｓに装着することになる。なお、Ｓ６０４に戻る前又は後で、Ｓ６０２又はＳ６０３に戻ってもよい。Ｓ６０７の判定の結果、生産計画完了の場合（Ｓ６０７：Ｙｅｓ）、制御パラメータ取得部２１３は処理を終了する。
　上記のように、Ｓ６０３では、過去に設定した制御パラメータを図９に示す画面９００のように出力する。２回目以降のＳ６０３の処理では、先のＳ６０３の処理で欄９０３の設定値を過去に設定したことがない新たな値とした場合、欄９０５に示される範囲（最小値と最大値との差）が広がる。
　また、欄９０６のスループット及び実装品質も、新たな値が反映されて更新される。ここで、欄９０２の制御パラメータと欄９０６のスループット又は実装品質との組み合わせのうち、欄９０６に示される値の範囲（最大値と最小値との差）が小さいもの（例えば図９において、欄９０２「吸着下降減速」と欄９０６「スループット」との組み合わせにおける「９９．２－９９．９９」など）については、欄９０５の過去設定値の範囲にくらべて、設定値変更の影響が小さい。従って、例えば、スループットを優先したい場合は、スループットの変化幅が大きい制御パラメータを変更すればよい。また、吸着率を優先したい場合は、吸着率の変化が大きい制御パラメータの値を変更すればよい。さらに、吸着率を優先したいがスループットの低下はできる限り抑えたい場合は、吸着率の変化が大きくかつスループットの変化が少ない制御パラメータの値を変更すればよい。
　以上の動作により、目標とするスループットと実装品質とが変わっても、過去の値から目標を達成する制御パラメータを選択し、切り替えることが可能なので、切り替えが容易となる。また、過去に達成したことがない目標であっても、過去の値を確認しながらの制御パラメータ変更が可能であるため、目標を達成する制御パラメータの設定が容易となる。
　ここで、Ｓ６０６の目標値の達成判定について説明する。実際の部品装着装置での吸着率は、一般的に、安定した状態では９９．９８%以上であり、吸着不良は１万個に２個以下の不良しか発生しない。従って、Ｓ６０４における実装回数を、１万個の部品に設定して初めて数個の不良発生を計数可能となる。このため、制御パラメータを変更するたびに数万個の部品の吸着、装着を実施しないと制御パラメータの変更が吸着率及び持ち帰り率にどう影響するか把握できない。
　図１１は、部品Ｐの吸着状態の一例を示す図である。部品Ｐは、フィーダ１０１の部品送り機構の間欠動作により吸着ノズル１０５の下に送られるため、さまざまな姿勢、運動状態で吸着される。吸着ノズル１０５による部品Ｐ上の吸着位置１１０１と、正しい吸着位置１１０２とのずれ量をｄとする。このような吸着位置ずれ量ｄは、同じ部品を同じ制御パラメータで吸着しても毎回異なる。
　図１２は、吸着率と吸着位置ずれ量ｄのばらつきとの関係を示すグラフ１２００である。グラフ１２００において、横軸は吸着位置ずれ量ｄのばらつきを示し、縦軸は吸着率を示す。図１２から明らかなように、吸着位置ずれ量ｄのばらつきが大きいと、即ち吸着位置ずれ量ｄ標準偏差が大きいと、吸着不良が発生する確率が高くなる。従って、吸着位置ずれ量ｄのばらつきから吸着不良の発生しやすさ、換言すれば、吸着率が推測可能である。
　上記のように、多量の吸着、装着をしないと、評価指標として実用的な吸着率の数値が取得できないが、吸着位置ずれ量ｄのばらつきは数十個の吸着動作によりに算出できる。従って、吸着位置ずれ量ｄのばらつきを取得することで、実際の吸着率の変化より先行して不良発生の可能性を評価できる。そこで、Ｓ６０６の目標値の達成判定では、吸着位置ずれ量ｄのばらつきを、吸着率に対する評価指標として用いる。吸着位置ずれ量ｄのばらつきから吸着率を評価するには、例えば、吸着位置ずれ量ｄのばらつきを変数として含む所定関数から算出するとよい。この所定関数の変数としては、吸着位置ずれ量ｄのばらつきだけでなく、部品ライブラリ２２５の部品情報４０２内のいずれかの情報を含んでもよい。制御パラメータ取得部２１３は、この所定関数と、吸着位置ずれ量ｄのばらつき等とから得られた値が、目標値に応じて定まる所定条件を満たしているか否かにより、目標値が達成されているか否かを判定するとよい。
　また、Ｓ６０３の制御パラメータの設定では、吸着位置ずれ量ｄのばらつきが小さくなるように制御パラメータを調整することにより、数十回の吸着動作により吸着率を改善する方向に制御パラメータを調整することができる。その結果、目標値を達成可能な制御パラメータの調整が短時間で実現できる。
　このような実装品質の算出は、吸着率だけではなく、持ち帰り率等の他の実装品質にも適用することができる。持ち帰り率の場合は、上記処理を、装着位置ずればらつきに対し行うことで算出してもよい。即ち、すべての実装品質は、実装品質と相関のある品質項目の値から算出することができる。また、Ｓ１００４で取得する推奨値及び参考値は、上記処理により算出される推定された吸着率及び持ち帰り率を得るように算出されてもよい。
　図１３は、一つの部品の制御パラメータと、評価項目との関係の一例を示すグラフ１３００である。グラフ１３００の横軸は、制御パラメータのうち１つであり、例えば吸着高さである。グラフ１３００の縦軸は、評価項目の値であり、図１３では吸着位置ずれ量のばらつきである。
　図では、制御パラメータとして設定しうる範囲と、そのときの値として取得されうる範囲を斜線で示している。図示するように、ある制御パラメータの値が同じであっても、そのときに得られる吸着位置ずれ量のばらつきは常に同じとは限らず、ある程度の範囲をもつ。図中の「Ｘ」は、実際に設定された制御パラメータと、そのとき得られた吸着位置ずれ量のばらつきを示す。従って、グラフ１３００は、吸着高さの過去設定値の範囲は「ｘ１」から「ｘ４」であり、そのときの吸着位置ずれ量のばらつきの範囲は「ｙ１」から「ｙ４」である例を示す。
　上記のように、本実施の形態では、目標実装品質を定めているが、この目標実装品質の対象となる実装品質の値は、相関のある品質項目の値から算出することができる。従って、目標実装品質から、相関のある品質項目の目標値を算出してもよい。そのためには、例えば、目標実装品質と、相関のある品質項目の値を変数として含む上記所定関数などから、相関のある品質項目の目標値を算出可能としてもよい。
　上記のように、Ｓ１００４の処理では、目標値とスループット及び実装品質値との類似度を算出して推奨値を取得している。例えば、目標吸着率が「Ｙａ」であり、そのときの吸着位置ずれ量のばらつきの目標値が、所定関数などから、「ｙａ」と得られる場合の例を説明する。
　目標値「ｙａ」は過去に得られた値の範囲内であるから、目標値「ｙａ」の近傍２点（ｘ１，ｙ１）と（ｘ２，ｙ２）のから、推奨値「ｘａ」を次に示す式で算出して取得してもよい。
　ｘａ＝ｙａ×（ｘ２－ｘ１）／（ｙ２－ｙ１）＋ｘ１
　また、例えば、例えば、目標吸着率が「Ｙｂ」であり、そのときの吸着位置ずれ量のばらつきの目標値が、所定関数などから、「ｙｂ」と得られる場合の例を説明する。目標値「ｙｂ」は過去に得られた値の範囲外であるから、目標値「ｙｂ」近傍の２点（ｘ３，ｙ３）と（ｘ４，ｙ４）から、推奨値「ｘｂ」を次に示す式で算出して取得してもよい。
　ｘｂ＝ｙｂ×（ｘ４－ｘ３）／（ｙ４－ｙ３）＋ｘ３
　上記のように、目標値近傍の複数のスループット及び実装品質から推奨値を算出することで、目標値に最も近い値を得ることの可能な制御パラメータを取得することが可能となる。
　上記いずれの場合であっても、目標値近傍の複数の値セットを用いればよく、値セットの数は近傍２点に限定しない。即ち、目標値近傍の複数の値セットから、回帰分析などの技術により推奨値を得ることができる。また、上記では説明の簡略化のために１つの制御パラメータの場合を説明したが、複数のパラメータに対し上記処理を行ってもよい。
　また、上記では、吸着位置ずれ量のばらつきのように、相関のある品質項目の値から推奨値を算出する例を説明しているが、これに限らない。例えば吸着率、持ち帰り率のように、目標値として採用する実装品質の値から、上記処理により推奨値を算出してもよい。
　＜変形例＞
　上記では、制御パラメータ毎に目標値を設定したが、これに限るわけではない。目標スループットと実装品質との各々の重みを一括で設定し、これに従い目標値を定めてもよい。
　図１４は、変形例による一括目標設定画面１４００の例を示す図である。画面１４００は、スライドバー１４０１を含む。スライドバー１４０１では、優先する項目をスループットにするか実装品質にするかを、スライド１４１１上のバー１４１２位置で指定することができる。制御パラメータ取得部２１３は、スライド１４１１全体におけるバー１４１２の位置に応じて、目標値を設定する。この変形例では、取得ステップにおいて、目標スループットと、目標実装品質との各々の割合に応じて、切り替える制御パラメータを取得することになる。
　そのために、例えば、制御パラメータ取得部２１３は、バー１４１２がスループット側にある場合は、過去のスループット及び実装品質から、最大スループット、および、そのスループットのときの実装品質の値を取得し、さらに、最小スループット、および、そのスループットのときの実装品質の値を取得する。制御パラメータ取得部２１３は、スライド１４１１全体におけるバー１４１２の位置に応じて、スループット及び実装品質のうち少なくとも一方の重みを算出する。制御パラメータ取得部２１３は、上記取得した最大と最小との間の値を回帰分析などの公知技術により補間して、算出した重みに応じた値を算出し、これを目標値としてもよい。
　また、例えば、制御パラメータ取得部２１３は、バー１４１２が実装品質側にある場合は、過去のスループット及び実装品質から、吸着率と持ち帰り率の二乗和が最小となる場合のスループット、および、その吸着率及び持ち帰り率の各々の値と、吸着率と持ち帰り率の二乗和が最大となる場合のスループット、および、その吸着率及び持ち帰り率の各々の値とを取得する。制御パラメータ取得部２１３は、スライド１４１１全体におけるバー１４１２の位置に応じて、スループット及び実装品質のうち少なくとも一方の重みを算出する。制御パラメータ取得部２１３は、上記取得した最大と最小との間の値を回帰分析などの公知技術により補間して、算出した重みに応じた値を算出し、これを目標値としてもよい。これにより、部品個々に目標値を設定する場合に比べ、目標値設定に要する時間を大幅に短縮できる。
　図１に示すような部品装着装置１００では、装着される部品はキャリアテープに納められた状態で提供され、はじめにキャリアテープごと部品を部品フィーダにセットする。部品装着装置１００は、キャリアテープ内の部品に吸着ノズルを降下し、部品を吸着ノズルで吸着してキャリアテープから取り出し、さらに、部品をプリント基板上に運搬し、プリント基板上の指定の位置に部品を装着することを繰り返すことにより、基板上の全部品を指定の位置に装着する。１台の部品装着装置は１０本以上の吸着ノズルを有し、一度に多数の部品を運搬することにより１時間に数万個の部品を装着できる。
　これらの動作を正確に行うため、例えば吸着ノズルの停止高さ、移動加速度など、様々な装置制御パラメータを扱う部品に合わせて調整する必要がある。しかし、部品やキャリアテープのばらつき、仕様変更等により各部の寸法が当初の値から変化することがある。そのため、当初の制御パラメータの設定では、部品を吸着できない、基板上に搬送する途中で落下する、搬送途中で吸着位置がずれて基板上の装着位置がずれる、ノズルから部品が離れず、部品が付着した状態で次の部品を吸着しようとするといった実装不良が発生する。従って、実装不良を生じないように制御パラメータを調整し直す必要がある。
　また、制御パラメータには移動加速のような生産スループットの低下を招くものがあり、目標とする生産スループットと実装品質が同時に成立するように制御パラメータを調整する必要がある。
　通常、同じ部品は複数の基板生産に使用されるが、基板ごとに目標とする実装品質と生産スループットは異なる。例えば、携帯電話のような個人向け消費財用基板は生産数量が非常に多いので、多少の実装不要は容認し、生産スループットを優先した制御パラメータを設定する。一方、産業向け機器用基板は生産数が少ないので、生産スループットよりも、実装品質を厳しく設定する。
　上記の実施形態では、スループットと実装品質とに応じて制御パラメータを設定することができる。従って、複数の異なる基板に対し同じ装置で実装するには好適である。用途の異なる多品種が同じラインで混在して製造されるような場合には特に好適である。
　なお、上記では、制御パラメータの設定値をユーザが入力するものとしたが、これに限るわけではなく、取得された推奨値をそのまま設定値として自動的に設定してもよい。また、複数の制御パラメータの少なくとも一部をそのまま設定値として自動的に設定し、他の一部については、ユーザにより入力されてもよい。
　また、制御パラメータのうち１つ又は複数を固定としてもよい。そのために、予めどの制御パラメータが固定であるかを示す情報をテーブル等に含めておき、上記処理で制御パラメータを設定する場合、固定とされた制御パラメータについては推奨値の取得やパラメータの設定をしないようにするとよい。
　また、目標値として採用する実装品質は、例えば上記の吸着率及び持ち帰り率のように、多量の実装を行って初めて評価指標として実用的な数値が取得できないものに限らない。例えば上記した吸着位置ずればらつきや装着位置ずればらつきのように、数十個の実装により実用的な数値が取得可能な実装品質を、目標値として採用してもよい。
　以上、本発明者によってなされた発明を実施の形態に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施の形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能であることはいうまでもない。例えば、上記の実施例は本発明を分かりやすく説明するために詳細に説明したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに限定されるものではない。また、ある実施例の構成の一部を他の実施例の構成に置き換えることが可能であり、また、ある実施例の構成に他の実施例の構成を加えることも可能である。また、各実施例の構成の一部について、他の構成の追加・削除・置換をすることが可能である。
　また、上記の各図において、制御線や情報線は説明上必要と考えられるものを示しており、必ずしも実装上の全ての制御線や情報線を示しているとは限らない。実際にはほとんど全ての構成が相互に接続されていると考えてもよい。
　以上説明した本発明に係る制御パラメータ設定方法は、部品装着装置１００及び制御装置２００を含む部品実装装置としてではなく、当該部品実装装置が含むコンピュータが実行する動作プログラムとして提供することもできる。このようなプログラムは、コンピュータに付属するフレキシブルディスク、ＣＤ－ＲＯＭ、ＲＯＭ、ＲＡＭおよびメモリカードなどのコンピュータ読取り可能な記録媒体にて記録させて、プログラム製品として提供することもできる。若しくは、制御装置２００のハードディスクなどの記録媒体にて記録させて、プログラムを提供することもできる。また、ネットワークを介したダウンロードによって、プログラムを提供することもできる。
　本発明によれば、複数の異なる基板に対し同じ装置で実装することに適した技術を提供することができる。

Claims (10)

  1. 　部品装着装置が複数種類の部品の各々を基板上に装着するための制御パラメータを、単位時間当たりの基板に対する部品の実装能力を示すスループットの目標値である目標スループット、及び部品を基板に実装する際の実装品質の目標値である目標実装品質の各々に応じて切り替える切替ステップ、を含むこと
    を特徴とする制御パラメータ設定方法。
  2. 　請求項１に記載の制御パラメータ設定方法であって、
    　制御パラメータと、当該制御パラメータで部品を装着したときのスループット及び実装品質とから、切り替える制御パラメータを取得する取得ステップ、を有すること
    を特徴とする制御パラメータ設定方法。
  3. 　請求項２に記載の制御パラメータ設定方法であって、
    　前記取得ステップでは、制御パラメータと、当該制御パラメータで部品を装着したときのスループット及び実装品質とから、前記目標スループット及び前記目標実装品質の各々を満たす制御パラメータを取得し、
    　前記切替ステップでは、取得された前記制御パラメータに自動的に切り替えて、前記部品装着装置に、当該制御パラメータで部品の各々を基板上に装着させること
    を特徴とする制御パラメータ設定方法。
  4. 　請求項２に記載の制御パラメータ設定方法であって、
    　前記取得ステップでは、制御パラメータと、当該制御パラメータで部品を装着したときのスループット及び実装品質とのセットを複数用いて、前記目標スループット及び前記目標実装品質の各々を満たす制御パラメータを取得すること
    を特徴とする制御パラメータ設定方法。
  5. 　請求項１に記載の制御パラメータ設定方法であって、
    　切り替えた制御パラメータでのスループット及び実装品質の各々を取得し、当該制御パラメータと、スループット及び実装品質とを、記憶装置に記憶させるステップ、を有すること
    を特徴とする制御パラメータ設定方法。
  6. 　請求項２に記載の制御パラメータであって、
    　前記取得ステップでは、実装品質を、実装品質と相関のある実装品質指標から算出すること
    を特徴とする制御パラメータ設定方法。
  7. 　請求項２に記載の制御パラメータであって、
    　前記取得ステップでは、目標スループットと、目標実装品質との各々の割合に応じて、切り替える制御パラメータを取得すること
    を特徴とする制御パラメータ設定方法。
  8. 　部品装着装置が複数種類の部品の各々を基板上に装着するための制御パラメータを、単位時間当たりの基板に対する部品の実装能力を示すスループットの目標値である目標スループット、及び部品を基板に実装する際の実装品質の目標値である目標実装品質の各々に応じて切り替える切替部、を有すること
    を特徴とする制御装置。
  9. 　請求項８に記載の制御装置と、
    　複数種類の部品の各々を基板上に装着する部品装着装置と、
    を含む部品実装装置。
  10. 　コンピュータ実行可能なプログラムであって、コンピュータにより実行されると、コンピュータを、
    　部品装着装置が複数種類の部品の各々を基板上に装着するための制御パラメータを、単位時間当たりの基板に対する部品の実装能力を示すスループットの目標値である目標スループット、及び部品を基板に実装する際の実装品質の目標値である目標実装品質の各々に応じて切り替える切替部、として機能させることを特徴とするプログラム。
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