WO2016015300A1 - 一种测试装置及其测试方法 - Google Patents

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    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
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    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells

Definitions

  • the OST device has weak test capability for short, and the stability is poor, resulting in more short circuit faults being applied to the product, resulting in scrapping.
  • feederlO signal emission device
  • detector20 detection device
  • a feederlO device sends a signal when detecting, defect sensorli and open sensorl2 receive signals, although the sensor (sensor) is different, But all signals transmitted from the same gate line or data line, the feederlO device and the detector20 device respectively set the detection line 40
  • gate line or data line if the gate line or data line appears open, the signal sent by the detector [
  • the signal status received by the sensor tracks the line number of the open/short abnormality, and then the AQI (the full name of the Automatic Optic Inspection is automatic optical detection). Point, so that the repair device can be repaired later. However, the degree of signal weakening caused by different short positions is different. If the signal strength is weak or the specification device is unreasonable, the short detection rate will be reduced, plus
  • the fourth sensor is disposed above the open sensor, and the distance between the fourth sensor and the open sensor is adjustable.
  • the vertical distance between the fourth sensor and the open sensor is the distance between the feedback signals of two adjacent pole lines or data lines.
  • Another object of the present invention is to provide a test method for the above test apparatus for testing a de-polar line or a data line of a display panel, the test steps of which include -
  • the signal transmitting device and the detecting device are disposed at two ends of the gate line or the data line to be tested, and the fourth sensor of the signal transmitting device and the detecting device are respectively connected to the adjacent gate line or the data line;
  • the signal transmitting device sends a detection signal
  • the detecting device receives the detection signal
  • the method further includes the step of: when the signal is determined to be a short circuit, the fourth sensor received by the signal transmitting device and the detecting device receives the detection signal and the normal detection signal strength and weakness, and determines the position of the short circuit.
  • the method further includes: establishing a reference template step; taking an average of thousands of points between the gate lines or the data lines for short-circuit processing, and then performing the operations of steps A to C and G as above for each short-circuit, and recording the short-circuit
  • the signal received by the position and signal transmitting device and the fourth sensor of the detecting device is respectively strong.
  • the detection signal obtained in step G is compared with the reference template obtained in step H, and the position distance recorded by the signal of the closest reference template is the fault point.
  • the present invention can accurately judge the short circuit and open circuit phenomenon occurring in the production process of the gate line or the data line in the display panel, and can accurately judge the specific short circuit position, thereby facilitating the smooth subsequent repair work. Carrying out, not only greatly improved the yield rate, but also further improved the repair efficiency.
  • Figure 1 is a schematic view of a conventional detecting device.
  • FIG. 2 is a schematic view showing the working state of the existing detecting device.
  • FIG. 3 is a schematic structural view of a signal transmitting device and a detecting device of the detecting device of the present invention.
  • Figure 4 is a flow chart of the detection method.
  • Figure 5 is a schematic diagram of the detection circuit having a short circuit fault.
  • Fig. 6 is a schematic diagram showing an open circuit failure of the detection line.
  • Figure 7 is a schematic diagram of the detection signals when the detection circuit has an open circuit and a short circuit fault.
  • Fig. 8 is a view showing a detection signal for detecting an open circuit and a short circuit fault ⁇ of the line using the fourth sensor.
  • Figure 9 is a schematic diagram showing the detection of line short-circuit faults at different positions.
  • Figure 10 is a schematic diagram of the state detection signal for Figure 9.
  • the test device for testing the gate line or data lme of the display panel is similar to the existing test device, as shown in FIG. 1 and FIG. 2, including the feeder 10 (Signal transmitting device) and detecto O (detecting device) are respectively fixed on the moving track 30 for detecting the detecting line 40 (gate lme or data lme).
  • the feeder 10 and the detector 20 are separated by a defect sensor 11 (open sensor), open sensor 12 (edge sensor), edge sensor 13 (edge sensor), feeder 10 and detector.
  • a fourth sensor 14 is further disposed on the 20 for detecting the feedback signals of the two adjacent detection lines 40.
  • the fourth sensor 14 is disposed above the defect sensor 11, the open sensor 12, and the edge sensor 13 of the side-by-side ]!].
  • the detection method includes the steps:
  • the feeder 10 and the detector 20 are disposed at two ends of the detecting line 40 to be tested, and the fourth sensor 14 of the feeder 10 and the deteetor 20 are respectively connected to the adjacent detecting line 40;
  • feeder 10 sends a detection signal
  • the detector 20 receives the detection signal.
  • Short-circuit processing is performed on average between several points between the detection lines 40, then S70 is performed for each short-circuit, and the position of the short-circuit and the feeder 10 are recorded.
  • the signal of the fourth sensor 14 of the detector 20 is received separately For reference models.
  • the detection signal obtained in step S70 is compared with the reference template, and the position distance recorded by the signal of the closest reference template is taken as the fault point.
  • the B when there is an open circuit or a short circuit in the detection line, the B is open circuit and the C is short circuit.
  • the signal detected by the detector 20 is as shown in Fig. 7.
  • the middle A signal When an open circuit occurs, the middle A signal will be missing, see, and in the event of a short circuit, the signal peak will be different from other signal peaks due to the shunting. See C's signal peak is weaker than others, if the signal is weakened, When there is little difference from the normal signal, it may happen due to the missed detection.
  • the signal is detected by the fourth sensor 14 of the feeder 10 and the detector 20, as shown in Fig.
  • the signal waveforms such as E2 and F2 it can be seen that when the short-circuit position is far away, the signal weakening will be relatively large.
  • the reference template can be established by the above method, and then according to the actually detected signal. Compare, to confirm the short circuit of some test lines, and the location of the short circuit, accurate positioning.

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Abstract

一种测试装置，用于测试显示面板的栅极线或数据线，包括信号发射装置（10）与侦测装置（20），其中信号发射装置（10）与侦测装置（20）分别并排设有信号传感器（11）、开路传感器（12）和边缘传感器（13），其中，所述信号发射装置（10）与侦测装置（20）上分别设有第四传感器（14），用于侦测相邻两条栅极线或数据线的反馈信号。还提供了一种测试方法。所述测试装置和测试方法可以准确地判断显示面板中的栅极线或数据线生产过程中出现的短路、开路现象，并且可以就具体的短路位置做准确的判断，便于后续修补工作的顺利进行，不但大大提高了出产良品率，还进一步提高了修补效率。

Description

种测试装置及其测试方
Figure imgf000002_0001
随着信息社会的快速发展， 显示设备的需求迅猛增长， 因而也推动了液晶 面板行业的快速发展， 面板的产量不断提升， 对产品的品质及良率也有了更高 要求， 同时对生产检测设备的要求也提出更高要求。
现有测试装置 OST (open short test )设备，主要是针对 Array制程 i gate line
(栅极线） 与 daia line (数据线） 进行测试， 把 open (开路） 或 short (短路） 的不良检测出来， 通过扫描装置定位， 以便后续 repair (修补） 设备进行修补。 但目前 OST设备针对 short测试能力较弱，且稳定性差，导致较多的短路不良漏 应用到产品中， 造成报废。
一般的 OST设备的关键装置如图 1、 图 2所示， 包括 feederlO (信号发射装 置）与 detector20 (侦测装置）， feederl O与 detector20—般都包含 defect sensorl i
(信号传感器）、 open sensor 12 (开路传感器）、 edge sensorl3 (边缘传感器）, 只是测试过程中角色不同， 检测时一个 feederlO装置发出信号， defect sensorli 和 open sensorl2接收信号， 虽 sensor (传感器） 不同， 但都是同一 gate line或 data line传输过来的信号， feederlO装置与 detector20装置分别置 检测线 40
( gate line或 data line )的两端，如果 gate line或 data line出现 open, 贝 [| feederlO 装置发出的信号 detector20装置无法½收到； 如果是 gate line或 data line出现 short, 则 feederlO装置发出的信号会被分流削弱， 导致 detector20接收到的信号 变弱， 通过 sensor接收到的信号状况追踪 open/short异常发生的 line编号， 再通 过 AQI (Automatic Optic Inspection的全称是自动光学检测） 检查装置定位异常 点， 以便后续 repair设备进行修补。 但不同的 short位置造成的信号削弱程度是 不一样的， 如果信号强弱或规格设备不合理， 都会造成 short检出率降低， 再加
：检测设备检测能力波动， 所以 short异常经常会被漏检。
Figure imgf000002_0002
or别并排设有信号传感器、 开路传感器和边缘传感器， 其中， 所述信号发射装 置与侦测
Figure imgf000002_0003
馈信号。 其中， 所述第四传感器设于开路传感器上方， 第四传感器与开路传感器的 距离可调。
其中， 所述第四传感器与开路传感器的垂直距离为相邻两条删极线或数据 线的反馈信号的距离。
本发明的另一个目的还在于提供一种以上测试装置的测试方法， 用于测试 显示面板的删极线或数据线， 其测试步骤包括-
A、将信号发射装置与侦测装置设于要测试的栅极线或数据线的两端， 信号 发射装置与侦测装置的第四传感器分别连接相邻的栅极线或数据线；
B、 信号发射装置发出检测信号；
C、 侦测装置接收检测信号；
D、 将接收到检测信号与正常线路检测信号对比；
E、 如没有检测到信号， 则判断为开路故障；
F、 如检测到比正常线路检测信号弱的信号， 则判断为短路。
其中， 还包括步骤 当判断为短路时， 通过信号发射装置与侦测装置上 设有第四传感器收到检测信号与正常检测信号强弱比对， 判断短路所处的位置。
其中， 还包括建立参照样板步骤] 在栅极线或数据线之间平均取若千点 进行短路处理， 然后进行对每一短路进行一次如以上步骤 A至 C和 G的操作， 并记录短路的位置和信号发射装置与侦测装置的第四传感器分别接收到的信号 强弱。
其中， 将步骤 G获得的检测信号与步骤 H获得的参照样板进行比较， 取最 接近的参照样板的信号所记录的位置距离为故障点。
有益效果： 本发明可以准确地将判断显示面板中的栅极线或数据线生产过 程中出现的短路、 开路现象， 并―且可以就具体的短路位置做准确的判断， 便于 后续修补工作的顺利进行， 不但大大提高了出产良品率， 还进一步提高了修补 效率。
图 1是现有检测装置示意图。
图 2是現有检测装置工作状态示意图。
图 3是本发明检测装置的信号发射装置与侦测装置结构示意图。
图 4是检测方法流程图。
图 5是检测线路有短路故障示意图。 图 6是检测线路有开路故障示意图。
图 7是检测线路有开路和短路故障时的检测信号示意图。
图 8是使用第四传感器检测线路有开路和短路故障^的检测信号示意图。 图 9是检测线路短路故障处于不同位置示意图。
图 10是针对图 9状态检测信号示意图。
下面将结合 ^图用实施例对本发明进行具体说明。
本实施例提供的这种用于测试显示面板的 gate line (删极线）或 data lme (数 据线） 的测试装置， 和现有测试装置近似， 如图 1、 图 2所示， 包括 feeder 10 (信号发射装置） 与 detecto O (侦测装置）， 分别固定于移动轨道 30上， 用于 对检测线 40 (gate lme或 data lme ) 进行检测操作。 特别之处在于， 参见图 3， feeder 10与 detector 20分另 ll并排设有 defect sensor 11 (信-号传感器)、 open sensor 12 (开路传感器）、 edge sensor 13 (边缘传感器）， feeder 10与 detector 20上还分 别设有第四传感器 14， 用于侦测相邻两条检测线 40的反馈信号。 第四传感器 14设于并 排歹!]的 defect sensor 11、 open sensor 12、 edge sensor 13的上方， 准. 确地讲， 是设于 open sensor〗2上方， 第四传感器 1.4与 open sensor〗2的垂直 距离为相邻两条检测线 40的距离 A， 以便精确定位连接相邻两条检测线 40。另 外， 为了适应不同规格线距的显示面板检测要求， 实施例中， 第四传感器 14 与 open sensor 12的距离 A可调，根据需要检测的显示面板的 gate line或 data line 的线距做相应调整。 下面将介绍用这种测试装置测试显示面板的检测线 40的测 试方法， 参照图 4， 检测方法包括步骤：
S10、 将 feeder 10与 detector 20设于要测试的检测线 40的两端， feeder 10 与 deteetor 20的第四传感器 14分别连接相邻的检测线 40 ;
S20、 feeder 10发出检测信号；
S30、 detector 20接收检测信号；
S40、 将接收到检测信号与正常线路检测信号对比；
S50、 如没有接收到检测信号， 则判断为开路故障；
S60、 如接收到比正常线路检测信号弱的信号， 则判断为短路；
S70 : 当判断为短路时， 通过 feeder 10与 detector 20上设有第四传感器 14 收到检测信号与正常检测信号强弱比对， 判断短路所处的位置。
为了更准确地定位故障发生的位置， 还可以采取以下方法： 在检测线 40之 间平均取若干点进行短路处理， 然后进行对每一短路进行 S70的操作， 并记录 短路的位置和 feeder 10与 detector 20的第四传感器 14分别接收到的信号强弱作 为参照样板。 在检测过程中将步骤 S70获得的检测信号与参照样板进行比较， 取最接近的参照样板的信号所记录的位置距离为故障点。
再如图 5、 图 6所示， 在检测线中出现开路、 短路现象时， 见图中 B处为开 路， C处为短路， detector 20检测到的信号如图 7， 当发生开路时， 中间将缺少 一个信号， 见 处， 而在发生短路时， 由于信号会被分流削弱发生信号峰与其 他信号峰不同的现象， 见 C ' 的信号峰相比于其他有所削弱， 如果该信号削弱后 与正常信号区别不大时可能会因为造成漏检的情况发生。 然而， 在用 feeder 10 与 detector 20的第四传感器 14检测信号时， 见图 8， 在开路情况下， 信号波形 没有变化， 而在短路时， 只有一个削弱的信号峰 C'， 然而短路位置不同时， 由 于信号峰削弱程度有区别的也将导致信号峰值有区别， 如图 9、 图 10所示， 比 如某检测线中分别有两处发生了短路， 分别是靠近 feeder 10一侧的 E和靠近 detector 20一侧的 F , 那么， feeder 10的第四传感器 14检测以上 E和 F短路时 检测到的信号波形如 E1和 Fl , detector 20的第四传感器 14检测以上 E和 F短 路时检测到的信号波形如 E2和: F2， 可以看到， 当短路位置离得比较远时， 信号 削弱将相对比较大， 依据此规律用以上方法可以先建立参照样板， 然后再根据 实际检測到的信号进行比对， 以确认某些检測线发生短路， 和短路所发生的位 置， 准确定位。

Claims

1、 一种测试装置， 用于测试显示面板的删极线或数据线， 包括信号发射装 置与侦測装置， 其中信号发射装置与侦测装置分别并排设有信号传感器、 开路 传感器和边缘传感器， 其中， 所述信号发射装置与侦测装置上分别设有第四传 感器， 用于侦测相邻两条删极线或数据线的反馈信号。
2、 根据权利要求 1所述的测试装置， 其中， 所述第四传感器设于开路传感 器上方， 第四传感器与开路传感器的距离可调。
3、 根据权利要求 1所述的测试装置， 其中， 所述第四传感器与开路传感器 的垂直距离为相邻两条删极线或数据线的反馈信号的距离。
4、 一种测试方法， 用于测试显示面板的删极线或数据线， 具备如权利要求 1所述的测试装置， 其测试步骤包括：
A、将信号发射装置与侦测装置设于要测试的栅极线或数据线的两端， 信号 发射装置与侦测装置的第四传感器分别连接相邻的栅极线或数据线；
B、 信号发射装置发出检测信号；
C、 侦测装置接收检测信号；
D、 将接收到检测信号与正常线路检测信号对比；
E、 如没有接收到检测信号， 则判断为开路故障；
F、 如接收到比正常线路检测信号弱的信号， 则判断为短路。
5、 根据权利要求 4所述的测试方法， 其中， 还包括步骤 G : 当判断为短路 时， 通过信号发射装置与侦测装置上设有第四传感器收到检测信号与正常检测 信号强弱比对， 判断短路所处的位置。
6、 根据权利要求 5所述的测试方法， 其中， 还包括建立参照样板步骤 H: 在栅极线或数据线之间平均取若干点进行短路处理， 然后进行对每一短路进行 一次如以上步骤 A至 C和 G的操作， 并记录短路的位置和信号发射装置与侦测 装置的第四传感器分别接收到的信号强弱。
7、 根据权利要求 6所述的测试方法， 其中， 将步骤 G获得的检测信号与步 M H 的参照样板进行比较， 取最接近的参照样板的信号所记录的位置距离
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