CN104122689A - 一种测试装置及其测试方法 - Google Patents
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Abstract
一种测试装置,用于测试显示面板的删极线或数据线,包括信号发射装置与侦测装置,其中信号发射装置与侦测装置分别并排设有信号传感器、开路传感器和边缘传感器,其中,所述信号发射装置与侦测装置上分别设有第四传感器,用于侦测相邻两条删极线或数据线的反馈信号。还提供了一种检测方法。本发明可以准确地将判断显示面板中的栅极线或数据线生产过程中出现的短路、开路现象,并且可以就具体的短路位置做准确的判断,便于后续修补工作的顺利进行,不但大大提高了出产良品率,还进一步提高了修补效率。
Description
技术领域
本发明涉及用于测试液晶面板的测试装置及其测试方法。
背景技术
随着信息社会的快速发展,显示设备的需求迅猛增长,因而也推动了液晶面板行业的快速发展,面板的产量不断提升,对产品的品质及良率也有了更高要求,同时对生产检测设备的要求也提出更高要求。
现有测试装置OST(open short test)设备,主要是针对Array制程的gate line(栅极线)与data line(数据线)进行测试,把open(开路)或short(短路)的不良检测出来,通过扫描装置定位,以便后续repair(修补)设备进行修补。但目前OST设备针对short测试能力较弱,且稳定性差,导致较多的短路不良漏应用到产品中,造成报废。
一般的OST设备的关键装置如图1、图2所示,包括feeder10(信号发射装置)与detector20(侦测装置),feeder10与detector20一般都包含defect sensor11(信号传感器)、open sensor12(开路传感器)、edge sensor13(边缘传感器),只是测试过程中角色不同,检测时一个feeder10装置发出信号,defect sensor11和open sensor12接收信号,虽sensor(传感器)不同,但都是同一gate line或data line传输过来的信号,feeder10装置与detector20装置分别置于检测线40(gate line或data line)的两端,如果gate line或data line出现open,则feeder10装置发出的信号detector20装置无法接收到;如果是gate line或data line出现short,则feeder10装置发出的信号会被分流削弱,导致detector20接收到的信号变弱,通过sensor接收到的信号状况追踪open/short异常发生的line编号,再通过AOI(Automatic Optic Inspection的全称是自动光学检测)检查装置定位异常点,以便后续repair设备进行修补。但不同的short位置造成的信号削弱程度是不一样的,如果信号强弱或规格设备不合理,都会造成short检出率降低,再加上检测设备检测能力波动,所以short异常经常会被漏检。
发明内容
为了克服以上不足,本发明将提供一种测试装置,用于测试显示面板的删极线或数据线,包括信号发射装置与侦测装置,其中信号发射装置与侦测装置分别并排设有信号传感器、开路传感器和边缘传感器,其特征在于,所述信号发射装置与侦测装置上分别设有第四传感器,用于侦测相邻两条删极线或数据线的反馈信号。
优选地,所述第四传感器设于开路传感器上方,第四传感器与开路传感器的距离可调。
优选地,所述第四传感器与开路传感器的垂直距离为相邻两条删极线或数据线的反馈信号的距离。
本发明的另一个目的还在于提供一种以上测试装置的测试方法,用于测试显示面板的删极线或数据线,其测试步骤包括:
A、将信号发射装置与侦测装置设于要测试的栅极线或数据线的两端,信号发射装置与侦测装置的第四传感器分别连接相邻的栅极线或数据线;
B、信号发射装置发出检测信号;
C、侦测装置接收检测信号;
D、将接收到检测信号与正常线路检测信号对比;
E、如没有检测到信号,则判断为开路故障;
F、如检测到比正常线路检测信号弱的信号,则判断为短路。
优选地,还包括步骤G:当判断为短路时,通过信号发射装置与侦测装置上设有第四传感器收到检测信号与正常检测信号强弱比对,判断短路所处的位置。
优选地,还包括建立参照样板步骤H:在栅极线或数据线之间平均取若干点进行短路处理,然后进行对每一短路进行一次如以上步骤A至C和G的操作,并记录短路的位置和信号发射装置与侦测装置的第四传感器分别接收到的信号强弱。
优选地,将步骤G获得的检测信号与步骤H获得的参照样板进行比较,取最接近的参照样板的信号所记录的位置距离为故障点。
有益效果:本发明可以准确地将判断显示面板中的栅极线或数据线生产过程中出现的短路、开路现象,并且可以就具体的短路位置做准确的判断,便于后续修补工作的顺利进行,不但大大提高了出产良品率,还进一步提高了修补效率。
附图说明
图1是现有检测装置示意图。
图2是现有检测装置工作状态示意图。
图3是本发明检测装置的信号发射装置与侦测装置结构示意图。
图4是检测方法流程图。
图5是检测线路有短路故障示意图。
图6是检测线路有开路故障示意图。
图7是检测线路有开路和短路故障时的检测信号示意图。
图8是使用第四传感器检测线路有开路和短路故障时的检测信号示意图。
图9是检测线路短路故障处于不同位置示意图。
图10是针对图9状态检测信号示意图。
具体实施方式
下面将结合附图用实施例对本发明进行具体说明。
本实施例提供的这种用于测试显示面板的gate line(删极线)或data line(数据线)的测试装置,和现有测试装置近似,如图1、图2所示,包括feeder10(信号发射装置)与detector20(侦测装置),分别固定于移动轨道30上,用于对检测线40(gate line或data line)进行检测操作。特别之处在于,参见图3,feeder10与detector20分别并排设有defect sensor11(信号传感器)、open sensor12(开路传感器)、edge sensor13(边缘传感器),feeder10与detector20上还分别设有第四传感器14,用于侦测相邻两条检测线40的反馈信号。第四传感器14设于并排排列的defect sensor11、open sensor12、edge sensor13的上方,准确地讲,是设于open sensor12上方,且第四传感器14与open sensor12的垂直距离为相邻两条检测线40的距离A,以便精确定位连接相邻两条检测线40。另外,为了适应不同规格线距的显示面板检测要求,本实施例中,第四传感器14与open sensor12的距离A可调,根据需要检测的显示面板的gate line或data line的线距做相应调整。下面将介绍用这种测试装置测试显示面板的检测线40的测试方法,参照图4,检测方法包括步骤:
S10、将feeder10与detector20设于要测试的检测线40的两端,feeder10与detector20的第四传感器14分别连接相邻的检测线40;
S20、feeder10发出检测信号;
S30、detector20接收检测信号;
S40、将接收到检测信号与正常线路检测信号对比;
S50、如没有接收到检测信号,则判断为开路故障;
S60、如接收到比正常线路检测信号弱的信号,则判断为短路;
S70:当判断为短路时,通过feeder10与detector20上设有第四传感器14收到检测信号与正常检测信号强弱比对,判断短路所处的位置。
为了更准确地定位故障发生的位置,还可以采取以下方法:在检测线40之间平均取若干点进行短路处理,然后进行对每一短路进行S70的操作,并记录短路的位置和feeder10与detector20的第四传感器14分别接收到的信号强弱作为参照样板。在检测过程中将步骤S70获得的检测信号与参照样板进行比较,取最接近的参照样板的信号所记录的位置距离为故障点。
再如图5、图6所示,在检测线中出现开路、短路现象时,见图中B处为开路,C处为短路,detector20检测到的信号如图7,当发生开路时,中间将缺少一个信号,见B’处,而在发生短路时,由于信号会被分流削弱发生信号峰与其他信号峰不同的现象,见C’的信号峰相比于其他有所削弱,如果该信号削弱后与正常信号区别不大时可能会因为造成漏检的情况发生。然而,在用feeder10与detector20的第四传感器14检测信号时,见图8,在开路情况下,信号波形没有变化,而在短路时,只有一个削弱的信号峰C’,然而短路位置不同时,由于信号峰削弱程度有区别的也将导致信号峰值有区别,如图9、图10所示,比如某检测线中分别有两处发生了短路,分别是靠近feeder10一侧的E和靠近detector20一侧的F,那么,feeder10的第四传感器14检测以上E和F短路时检测到的信号波形如E1和F1,detector20的第四传感器14检测以上E和F短路时检测到的信号波形如E2和F2,可以看到,当短路位置离得比较远时,信号削弱将相对比较大,依据此规律用以上方法可以先建立参照样板,然后再根据实际检测到的信号进行比对,以确认某些检测线发生短路,和短路所发生的位置,准确定位。
Claims (7)
1.一种测试装置,用于测试显示面板的删极线或数据线,包括信号发射装置(10)与侦测装置(20),其中信号发射装置(10)与侦测装置(20)分别并排设有信号传感器(11)、开路传感器(12)和边缘传感器(13),其特征在于,所述信号发射装置(10)与侦测装置(20)上分别设有第四传感器(14),用于侦测相邻两条删极线或数据线的反馈信号。
2.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,所述第四传感器(14)设于开路传感器(12)上方,第四传感器(14)与开路传感器(12)的距离可调。
3.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,所述第四传感器(14)与开路传感器(12)的垂直距离为相邻两条删极线或数据线的反馈信号的距离。
4.一种测试方法,用于测试显示面板的删极线或数据线,具备如权利要求1所述的测试装置,其测试步骤包括:
A、将信号发射装置(10)与侦测装置(20)设于要测试的栅极线或数据线的两端,信号发射装置(10)与侦测装置(20)的第四传感器(14)分别连接相邻的栅极线或数据线;
B、信号发射装置(10)发出检测信号;
C、侦测装置(20)接收检测信号;
D、将接收到检测信号与正常线路检测信号对比;
E、如没有接收到检测信号,则判断为开路故障;
F、如接收到比正常线路检测信号弱的信号,则判断为短路。
5.根据权利要求4所述的测试方法,其特征在于,还包括步骤G:当判断为短路时,通过信号发射装置(10)与侦测装置(20)上设有第四传感器(14)收到检测信号与正常检测信号强弱比对,判断短路所处的位置。
6.根据权利要求5所述的测试方法,其特征在于,还包括建立参照样板步骤H:在栅极线或数据线之间平均取若干点进行短路处理,然后进行对每一短路进行一次如以上步骤A至C和G的操作,并记录短路的位置和信号发射装置与侦测装置的第四传感器分别接收到的信号强弱。
7.根据权利要求6所述的测试方法,其特征在于,将步骤G获得的检测信号与步骤H获得的参照样板进行比较,取最接近的参照样板的信号所记录的位置距离为故障点。
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN111179791A (zh) * | 2018-11-12 | 2020-05-19 | 惠科股份有限公司 | 一种显示面板、检测方法及显示装置 |
CN111610461A (zh) * | 2019-02-22 | 2020-09-01 | 兴城科技股份有限公司 | 用于检查玻璃基板的开路/短路检查机及其检查方法 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102654658A (zh) * | 2011-08-03 | 2012-09-05 | 北京京东方光电科技有限公司 | 一种tft阵列基板检测方法及检测装置 |
CN103308817A (zh) * | 2013-06-20 | 2013-09-18 | 京东方科技集团股份有限公司 | 阵列基板线路检测装置及检测方法 |
CN103487960A (zh) * | 2013-10-21 | 2014-01-01 | 京东方科技集团股份有限公司 | 光栅基板短路检测方法 |
CN103487955A (zh) * | 2013-09-02 | 2014-01-01 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种短路测量方法 |
CN103852922A (zh) * | 2014-02-21 | 2014-06-11 | 合肥鑫晟光电科技有限公司 | 一种阵列基板检测方法及检测装置 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6246074B1 (en) * | 1998-09-30 | 2001-06-12 | Lg.Philips Lcd Co., Ltd. | Thin film transistor substrate with testing circuit |
JP4562358B2 (ja) * | 2003-07-04 | 2010-10-13 | 株式会社ユニオンアロー・テクノロジー | 導電パターン検査装置 |
JP2006200993A (ja) * | 2005-01-19 | 2006-08-03 | Oht Inc | 回路パターン検査装置およびその方法 |
JP4291843B2 (ja) * | 2006-10-19 | 2009-07-08 | 株式会社東京カソード研究所 | パターン検査装置 |
CN103309064B (zh) * | 2013-05-24 | 2015-11-25 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 传感器、检测装置及检测方法 |
-
2014
- 2014-07-29 CN CN201410364582.1A patent/CN104122689A/zh active Pending
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Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102654658A (zh) * | 2011-08-03 | 2012-09-05 | 北京京东方光电科技有限公司 | 一种tft阵列基板检测方法及检测装置 |
CN103308817A (zh) * | 2013-06-20 | 2013-09-18 | 京东方科技集团股份有限公司 | 阵列基板线路检测装置及检测方法 |
CN103487955A (zh) * | 2013-09-02 | 2014-01-01 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种短路测量方法 |
CN103487960A (zh) * | 2013-10-21 | 2014-01-01 | 京东方科技集团股份有限公司 | 光栅基板短路检测方法 |
CN103852922A (zh) * | 2014-02-21 | 2014-06-11 | 合肥鑫晟光电科技有限公司 | 一种阵列基板检测方法及检测装置 |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
童敏明、唐守锋、董海波: "《传感器原理与应用技术》", 31 January 2012, 清华大学出版社 * |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN111179791A (zh) * | 2018-11-12 | 2020-05-19 | 惠科股份有限公司 | 一种显示面板、检测方法及显示装置 |
WO2020098036A1 (zh) * | 2018-11-12 | 2020-05-22 | 惠科股份有限公司 | 一种显示面板、检测方法及显示装置 |
CN111179791B (zh) * | 2018-11-12 | 2021-04-16 | 惠科股份有限公司 | 一种显示面板、检测方法及显示装置 |
US11361697B2 (en) | 2018-11-12 | 2022-06-14 | HKC Corporation Limited | Display panel, detection method and display device |
CN111610461A (zh) * | 2019-02-22 | 2020-09-01 | 兴城科技股份有限公司 | 用于检查玻璃基板的开路/短路检查机及其检查方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2016015300A1 (zh) | 2016-02-04 |
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