WO2014190639A1 - 用于显示面板的线类不良的检测方法和检测装置 - Google Patents

用于显示面板的线类不良的检测方法和检测装置 Download PDF

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WO2014190639A1
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detection screen
scan line
line
detection
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李明
张钟石
金用燮
刘晓涛
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合肥京东方光电科技有限公司
京东方科技集团股份有限公司
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    • G09G2310/02—Addressing, scanning or driving the display screen or processing steps related thereto
    • G09G2310/0202—Addressing of scan or signal lines

Definitions

  • Embodiments of the present invention relate to a detection method and a detecting device for line defects of a display panel. Background technique
  • detecting the line defect of the display panel is an indispensable process step for ensuring the display quality.
  • a pattern generator short-circuit detection method which detects whether there is a line defect in the display panel by inputting a control signal on the display panel to test the graphic display condition of the display panel. Due to the limitations of the pattern generator short-circuit detection method, more than 4 defects cannot be detected, and it is impossible to distinguish between a bad one and a bad one.
  • Figure 1 shows the detection process using the pattern generator short-circuit detection method.
  • Figure 2 shows the display result of the panel in the module signal input state. Comparing Fig. 1 with Fig. 2, it can be seen that the line type defect indication line 1 appearing in Fig. 1 disappears in Fig. 2, and the line type defect indication lines 2 and 3 appearing in Fig. 1 still exist in Fig. 2, and Fig. 1
  • the indicator line 1 in the middle is a bad one, and the indicator lines 2 and 3 are really bad.
  • the reason why the bad indication lines 2 and 3 appear may be caused by a broken line in the display panel.
  • the embodiment of the present invention provides a detection method and a detection device for a line defect of a display panel, which can make the detection result more close to the lighting inspection result of the module signal input state, and can detect the true defect of the display panel.
  • An aspect of the present invention provides a method for detecting a line defect of a display panel, the display panel including a plurality of rows of gate lines and a plurality of columns of data lines, the gate lines and the data lines crossing each other thereby defining an array of arrays Pixel units, each of which includes transistors as switching elements, the switches of which are controlled by respective gate lines, the method comprising: respectively inputting odd-numbered gate scan lines and even-numbered gate scan lines of the display panel a first turn-on signal and a first turn-off signal, the transistors controlled by the odd-line gate scan lines are turned on, and the transistors controlled by the even-numbered gate-scan lines are turned off to obtain a first of the display panel Detecting a picture; inputting a second off signal and a second on signal
  • the method described above may further include: inputting a third on signal to the odd row gate scan line and the even row gate scan line of the display panel, so that the odd row gate scan line and the even row grid The transistors controlled by the scan line are all turned on to obtain a third detection screen of the display panel; comparing the first detection screen, the second detection screen, and the third detection screen, determining that the third The detection screen is displayed, but the defective display line that is not displayed correspondingly on the first detection screen and the second detection screen is a false display.
  • the first on signal and the second on signal are the same; the first off signal and the second off signal are the same.
  • the first conduction signal, the second conduction signal, and the third conduction signal are all the same.
  • the first on signal, the second on signal, and/or the third on signal are high level signals
  • the first off signal and/or the The second off signal is a low level signal.
  • the first on signal, the second on signal, and/or the third on signal are an alternating current signal or a direct current signal
  • the first off signal and/or the The second off signal is a DC signal
  • the voltage value ranges from 15 volts to 28 volts
  • First off When the signal and/or the second off signal is a DC signal, the voltage value ranges from -10 volts to -6 volts.
  • the first conduction signal, the second conduction signal, and/or the third conduction signal are a DC signal of 21.5 volts or an AC signal of -7.8 volts to 21.5 volts.
  • the first off signal and/or the second off signal is a -7.8 volt DC signal.
  • the detecting apparatus comprising: a signal output unit for scanning a line and an even number of odd-numbered rows of the display panel in a first stage
  • the gate scan lines respectively input a first turn-on signal and a first turn-off signal to turn on the transistors controlled by the odd-line gate scan lines, and the transistors controlled by the even-numbered gate-scan lines are turned off, obtaining a first detection screen of the display panel; and for inputting a second off signal and a second on signal to the odd row gate scan line and the even row gate scan line of the display panel, respectively, in the second stage,
  • the transistors controlled by the odd-line scan lines are turned off, and the transistors controlled by the even-numbered gate scan lines are turned on to obtain a second detection screen of the display panel; and the determining unit is configured to perform the first detection Determining a poor display line on the screen and the second detection screen, and determining that a bad display line appearing on the first detection screen or the second detection screen is The
  • the signal output unit may be further configured to: in the third stage, input the third to the odd-numbered gate scan line and the even-numbered-row scan line of the display panel And turning on the signals, and turning on the transistors controlled by the odd-numbered row gate lines and the even-numbered row-gate lines to obtain a third detection screen of the display panel.
  • the determining unit may be further configured to compare the third detection screen, the first detection screen, and the second detection screen, and determine to display on the third detection screen.
  • the defective display line that is not correspondingly displayed on the first detection screen and the second detection screen is a false display.
  • FIG. 1 shows a detection result of a display panel when performing an existing detection line type defect
  • FIG. 2 shows the same display panel as shown in FIG. 1 when the module control signal is input. Show results
  • Figure 3 shows a structural view of the test electrode on the display panel
  • Figure 5 is a timing chart showing the first type of detection signal input mode
  • Figure 6 is a timing chart showing the second detection signal input mode
  • Fig. 7 is a view showing the results of the first detection screen, the second detection screen, and the third detection screen. detailed description
  • the display panel of the embodiment of the present invention includes a plurality of rows of gate lines and a plurality of columns of data lines, the gate lines and the data lines crossing each other thereby defining pixel units arranged in an array.
  • each pixel unit includes a thin film transistor as a switching element and a pixel electrode and a common electrode for controlling the arrangement of the liquid crystal.
  • the gate of the thin film transistor of each pixel is electrically connected or integrally formed with the corresponding gate line
  • the source is electrically connected or integrally formed with the corresponding data line
  • the drain is electrically connected or integrally formed with the corresponding pixel electrode.
  • An embodiment of the present invention provides a method for detecting a line defect of a display panel
  • the display panel includes a plurality of rows of gate lines and a plurality of columns of data lines, the gate lines and the data lines crossing each other thereby defining pixel units arranged in an array, each of the pixel units including transistors as switching elements, and the switches of the transistors are corresponding Grid line control.
  • the detection method includes the following steps.
  • Step S310 inputting a first on signal and a first off signal to the odd row gate scan lines (ie, gate lines of the odd rows) and the even row gate scan lines (ie, the gate lines of the even rows) of the display panel, respectively, so that the odd rows are
  • the gate of the gate scan line is turned on, and the transistor controlled by the even gate scan line is turned off to obtain the first detection screen of the display panel;
  • S320 Input a second off signal and a second on signal respectively to the odd row gate scan line and the even row gate scan line of the display panel, so that the transistors controlled by the odd row gate scan lines are turned off, and the transistors controlled by the even row gate scan lines are turned off. Turning on, obtaining a second detection screen of the display panel;
  • the odd-numbered gate scan lines and the even-numbered-row gate scan lines are respectively input to the turn-on signals, and the odd-numbered-row gate scan lines and the even-numbered-row-row scan lines are respectively turned on to obtain a detection screen, thereby determining whether the display panel exists.
  • the defective detection that is, the steps S310 and S320 described above in the embodiment are used to sequentially turn on the transistors controlled by the odd-numbered gate-scanning lines and the even-numbered-row-scanning lines to obtain two different detection screens.
  • the odd-numbered gate-scanning lines and the even-numbered-row-gate scanning lines simultaneously input the same control signal, which causes the adjacent gate lines to be displayed even if there is a short circuit, that is, There is a case where the short circuit between the line and the line cannot be displayed properly.
  • the method of this embodiment can avoid such a situation.
  • another embodiment of the present invention further provides a method, which further includes the following steps in addition to steps S310 and S330 of the above embodiment.
  • obtaining the first on signal input by the first detection picture is the same as obtaining the second on signal input by the second detection picture; obtaining the first off signal input by the first detection picture and obtaining the input of the second detection picture
  • the second off signal is the same.
  • the first on signal and the second on signal described above are the same as the third on signal.
  • the third detection picture obtained by the step S340 is a detection result obtained by the conventional short-circuit detection mode, wherein there may be a false bad display on the third detection picture; two steps are obtained through steps S310 and S320.
  • the first detection picture and the second detection picture in which the images are complementary. Normally, that is, in the case where the lines displayed on the third detection screen are all true display, the combination of the lines displayed on the first detection screen and the second detection screen should correspond to the third detection screen.
  • the odd-row raster scan lines and the even-row raster scan lines are respectively turned on to obtain two different detection screens, which can avoid such a situation: when the third detection screen is obtained, The odd-row raster scan line and the even-row raster scan line simultaneously input the same control signal, and the voltages of the odd-even rows are equal, so that a short circuit between the lines and the line cannot be detected, so that the normal display cannot be normally displayed.
  • the method of the present embodiment can avoid such a situation that the adjacent gate scan lines are not turned on at the same time. In the conventional detection method, a false defective display line exists due to the presence of static electricity.
  • the detection result is more close to the lighting inspection result of the module signal input state, and the false defect and the true bad detection condition can be distinguished.
  • the first on signal, the second on signal, and/or the third on signal are high level signals
  • the first off signal and/or the second off signal are low level signals.
  • the first on signal, the second on signal, and/or the third on signal are an alternating current signal or a direct current signal
  • the first off signal and/or the second off signal are direct current signals
  • the voltage value may range from 15 volts to 28 volts; the first shutdown signal and/or the second shutdown signal is DC
  • the voltage can range from -10 volts to -6 volts. In such a range, transistors controlled by odd-line scan lines and even-row line scan lines can be turned on and off better, so that the detection effect is better and improved. Detection accuracy.
  • the first turn-on signal, the second turn-on signal, and/or the third turn-on signal are a 21.5 volt DC signal or an AC signal of -7.8 volts to 21.5 volts; a first turn-off signal and/or a second turn-off signal It is a -7.8 volt DC signal.
  • the gate of the transistor of the corresponding gate line row can be completely turned on or turned off, thereby improving the detection effect.
  • the detection input signals on the display panel 10 include: a data signal Data 100, a gate scan line signal Gate 200, a common voltage signal V. ⁇ m , DS (source data switch) and GS (gate scan line signal switch).
  • the control terminals on the display panel 10 respectively have an even row gate scan line G011, an odd row gate scan line GE12, a gate scan line switch GS 13, a common voltage V ⁇ m 14, a yellow data signal DY 15, a cyan data signal DC 16,
  • the purple data signal DM17 and the data line switch DS 18 are indicated.
  • the data line related port mainly controls the gray scale and the data line of the display panel, and the common power supply V ⁇ m 14 , the yellow data signal DY 15 , the cyan data signal DC 16 , the purple data signal DM 17 and the data line of each detection access terminal.
  • the switch DS 18 cannot be changed during the detection process, and the input signal of the common power supply V com terminal 14 cannot be changed. Therefore, only by changing the signal input manner on the even-numbered row-gate scanning line GO 11 and the odd-line scanning line GE 12 Bad judgment.
  • 0 to 8 are input at the data line input end (including the yellow data signal DY 15, the cyan data signal DC16, and the purple data signal DM17).
  • Volt DC or AC voltage common voltage V ⁇ m 14 is set to 3.2 to 4.2 volts, and even row gate scan line GO 11 and odd row gate scan line GE 12 are respectively input alternating voltages between minus 7.8 and 21.5 volts .
  • the third on-signal is input to the odd-numbered gate scan line and the even-row-row scan line of the display panel to be detected, so that the odd-numbered-row scan line and the even-numbered-row scan line are both turned on.
  • the input third conduction signal is an alternating current signal that is alternately output between the first voltage value and the second voltage value.
  • the first voltage value is 21.5 volts and the second voltage value is negative 7.8 volts.
  • the transistors controlled by the even-numbered row gate scanning line GO 11 and the odd-numbered gate scanning line GE 12 are stepwise turned on and detected by the step S310 and the step S320, and the first step is obtained.
  • the signal input manners of the two complementary pictures of the detection picture and the second detection picture are: the odd-line raster scan line GE 12 inputs the first on-signal, and the even-row raster scan line GO 11 inputs the first off-signal to obtain the first detection. Screen; the odd-line scan line GE 12 inputs a second turn-off signal, and when the even-row line scan line GO 11 inputs a second turn-on signal, a second detection picture is obtained.
  • the first on signal can be the same as the second on signal
  • the first off signal can be the same as the second off signal, so the first off signal and the first on signal can be alternated on the even row gate scan line GO 11 , respectively.
  • the even-numbered row-gate scanning line GO 11 and the odd-numbered-row scanning line GE 12 are stepwise opened for displaying the detection of the panel line class being really bad.
  • the first mode is: the first on signal and the second on signal are the same, and are an alternating current signal of -7.8 volts to 21.5 volts; the first off signal is the same as the second off signal, and is a dc signal of -7.8 volts.
  • the second mode is: the first turn-on signal is the same as the second turn-on signal, and is a 21.5 volt DC signal; the first turn-off signal is the same as the second turn-off signal, and is a -7.8 volt DC signal.
  • the first input mode realizes the timing control diagram of the second detection picture as shown in FIG. 5, and the alternating current voltage between the negative 7.8 to 21.5 volts is input to the even-numbered gate scanning line GO11, and the input is performed on the odd-line scanning line GE12.
  • a negative DC voltage of 7.8 volts causes the transistor controlled by the even row gate scanning line GO 11 to be turned on, and the transistor controlled by the odd row gate scanning line GE 12 is turned off to obtain a second detection screen, and the input method is adopted to input the even row grid
  • the control signals of the scanning line GO 11 and the odd-line scanning line GE 12 are also exchanged, even if the odd-line scanning line GE 12 inputs an alternating alternating voltage of between 7.8 and 21.5 volts, the even-numbered-row scanning line GO 11 input is negative 7.8.
  • the volt DC voltage can turn on the odd-row raster scan line GE 12 and the even-row raster scan line 11 to close, obtaining the first detection picture.
  • the first detection screen and the second detection screen are obtained, it is possible to detect the true defective display of the display panel.
  • the principle is as follows.
  • the display panel forms a really poor display line: one is a gate scan line break; the other is a short circuit between adjacent gate scan lines.
  • the gate scan line is broken on the display panel, the transistors controlled by the odd row gate scan line GE and the even row gate scan line GO are respectively turned on, and the first detection screen and the above-mentioned first detection screen are obtained.
  • the second detection screen may display a defective display line that is broken due to the gate scan line on one of the first detection screen and the second detection screen according to the position of the gate scan line disconnection.
  • the transistors controlled by the odd-numbered gate-scanning lines GE and the even-numbered-row-scanning lines GO are respectively turned on, and the equivalent DCs of the even-numbered gate-scanning lines GO and the odd-numbered-gate scanning lines GE are not Similarly, the high signal is caused to flow into the signal through the short-circuit point to the low gate scan line, thereby forming a weak line, so that the transistors controlled by the odd-numbered gate-scanning lines and the even-numbered-row-scanning lines can be respectively turned on to obtain two detection pictures. Detected.
  • the embodiment of the present invention after obtaining the first detection screen and the second detection screen described above, it is possible to determine that the defective display line appearing on the first detection screen or the second detection screen is a bad display.
  • the even-numbered gate scanning line GO and the odd-line scanning line GE are input with the same control signal, and the parity lines are equal in voltage, resulting in a line. A short circuit between the lines and the line cannot be displayed, and the short circuit between the gate scan lines cannot be detected normally.
  • another embodiment of the present invention further obtains a third detection picture in the normal detection mode, and the third detection picture is compared with the first detection picture and the second detection picture to determine the first detection.
  • the type of the true bad display line appearing on the screen or the second detection screen such as the bad display line appearing on the first detection screen or the second detection screen, is not displayed on the third detection screen, and the bad display can be determined.
  • the line is formed by a short circuit between the gate scan lines.
  • the detection signal input method is used to obtain the detection result as shown in FIG. 7, 20, 30, and 40 in the figure are the graphics displayed on the third detection screen, the first detection screen, and the second detection screen, respectively. Comparing a detection picture, a second detection picture and a third detection picture, it can be seen that the weak line 31 on the picture 30 is not displayed on the picture 20, and the weak line can be determined.
  • the second input mode realizes the timing control diagram of the second detection picture as shown in FIG. 6.
  • the DC line of the even-numbered gate scanning line GO11 is 21.5 volts
  • the input of the odd-line scanning line GE 12 is 7.8 volts of DC.
  • the voltage causes the even row gate scan line GO 11 to be turned on, and the odd row gate scan line GE 12 is turned off to obtain a second detection picture; after that, the input mode, the even row gate scan line GO 11 and the odd row gate scan line GE 12 are used Control signal exchange, even if the odd-row raster scan line GE 12 input is a DC voltage of 21.5 volts, and the even-row gate scan line GO 11 inputs a DC voltage of minus 7.8 volts, the odd-numbered gate scan line GE 12 can be turned on. The even-row raster scan line 11 is turned off to obtain a first detection screen.
  • an alternating current signal of minus 7.8 volts to 21.5 volts is applied to both the odd-numbered row gate scanning line and the even-numbered row-gate scanning line to obtain a third detection picture.
  • the even-numbered gate-scanning line GO 11 and the odd-numbered-row scanning line GE 12 are both turned on, wherein between the adjacent two gate scanning lines Due to the presence of static electricity, it may be in a micro-conducting state. At this time, the voltages on the adjacent two gate scan lines may be superimposed, and two grid scan lines having static electricity may be brighter than the other lines. A dark display line appears, indicating that it is a bad display, and is formed as a false defect.
  • the first detection picture and the second detection picture are obtained by separately turning the odd-numbered gate-scanning lines and the even-numbered-row gate scanning lines, because the odd-numbered row-gate scanning lines and the even-numbered-row lines are obtained.
  • the scan lines are not turned on at the same time, so the superposition effect between the adjacent two gate scan lines is weak and can be ignored, and no bad display lines are generated in the first picture and the second detection picture.
  • the first detection screen and the second detection screen with the third detection screen obtained in step S340, in the normal case, that is, when the lines displayed on the third detection screen are all true display, the first The combination of the detection lines and the lines displayed on the second detection screen should correspond to the first detection screen, but in the case where the third detection screen has a false bad display, the false display defective lines do not appear in the first detection.
  • the display line that is present on the third detection screen but is not displayed on the first detection screen and the second detection screen can be determined as a defective display; if it exists on the third detection screen, it exists The display line on the first detection screen or the second detection screen can be determined to be a bad display.
  • the detection result is obtained by using the above detection signal input mode, as shown in FIG. 7, 20, 30, and 40 in the figure are the graphics displayed on the third detection screen, the first detection screen, and the second detection screen, respectively. Comparing a detection picture, a second detection picture and a third detection picture, it can be seen that the line 21 on the picture 20 is not displayed on the picture 30 and the picture 40, and the line 21 can be determined to be a false bad display; The line 22 on the 20 is displayed on the picture 30, which can determine that the line 22 is a bad display.
  • Another embodiment of the present invention also provides a detecting apparatus for the detecting method as described above, the apparatus comprising a signal output unit, a judging unit, and a result output unit.
  • the signal output unit is configured to input the first on signal and the first off signal to the odd row gate scan line and the even row gate scan line of the display panel respectively in the first stage, so that the odd row gate scan lines are controlled
  • the transistor is turned on, and the transistor controlled by the even row gate scan line is turned off to obtain the first detection picture of the display panel; and in the second stage, the second line is turned to the odd row gate scan line and the even row gate scan line of the display panel respectively
  • the signal and the second on signal cause the transistors controlled by the odd row gate scan lines to be turned off, and the transistors controlled by the even row gate scan lines are turned on to obtain the second detection picture of the display panel.
  • the judging unit is configured to judge the poor display line on the first detection screen and the second detection screen, and determine that the defective display line appearing on the first detection screen or the second detection screen is a bad display.
  • the result output unit is used to output the judgment result of the judgment unit.
  • the signal output unit may be further configured to input a third on signal to the odd row gate scan line and the even row gate scan line of the display panel in the third stage, so as to control the odd row gate scan line and the even row gate scan line
  • the transistors are all turned on to obtain a third detection screen of the display panel.
  • the determining unit may be further configured to compare the third detection screen, the first detection screen, and the second detection screen to determine that the third detection screen is displayed, but the first detection screen and the second detection screen are not correspondingly displayed.
  • the bad display line is a false display.
  • the signal output unit, the determination unit, and the result output unit may be implemented by a general-purpose dedicated circuit or a general-purpose circuit such as a processor (CPU, DSP), or may be implemented at least partially in software, firmware, or the like, and will not be described in detail herein.
  • first turn-on signal and the second turn-on signal are the same; the first turn-off signal and the second turn-off signal are the same.
  • first on signal, the second on signal, and the third on signal are all the same.
  • the first on signal, the second on signal, and/or the third on signal are high level signals
  • the first off signal and/or the second off signal are low level signals.
  • first turn-on signal, the second turn-on signal, and/or the third turn-on signal are an AC signal or a DC signal
  • first turn-off signal and/or the second turn-off signal are DC signals
  • the voltage value may range from 15 volts to 28 volts, and the first shutdown signal and/or the second shutdown signal is DC.
  • the voltage can range from -10 volts to -6 volts.
  • the first turn-on signal, the second turn-on signal, and/or the third turn-on signal are a 21.5 volt DC signal or an AC signal of -7.8 volts to 21.5 volts, a first turn-off signal and/or a second turn-off signal It is a -7.8 volt DC signal.
  • the detection method and the detection device of the specific embodiment of the present invention make the detection result more close to the module letter
  • the result of the lighting check of the input status can distinguish between false and true bad detection.

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Abstract

一种用于显示面板（10）的线类不良的检测方法。所述方法包括：向显示面板（10）的奇数行栅扫描线（GE12）和偶数行栅扫描线（GS13）分别输入第一导通信号和第一关闭信号，使奇数行栅扫描线（GE12）控制的晶体管导通，而偶数行栅扫描线（GS13）控制的晶体管关闭，获得第一检测画面；向显示面板（10）的奇数行栅扫描线（GE12）和偶数行栅扫描线（GS13）分别输入第二关闭信号和第二导通信号，使奇数行栅扫描线（GE12）控制的晶体管关闭，而偶数行栅扫描线（GS13）控制的晶体管导通，获得第二检测画面；比较第一检测画面和第二检测画面，确定在第一检测画面或第二检测画面上出现的不良显示线为真的不良显示。还提供了一种用于显示面板（10）的线类不良的检测装置。该方法使检测结果更能够接近模组信号输入状态的点灯检查结果，能够检测出显示面板（10）的真的不良情况。

Description

用于显示面板的线类不良的检测方法和检测装置 技术领域
本发明的实施例涉及一种用于显示面板的线类不良的检测方法和检测装 置。 背景技术
在液晶显示面板的制造过程中， 对显示面板的线类不良进行检测是保证 显示质量必不可少的工艺步骤。
由于当前小尺寸产品越来越多的出现， 显示面板的精度越来越高， 原始 的检测方法已经不能够满足显示面板的线类不良检查的需求。 基于该需求， 人们提出了一种图形产生器短接检测方法， 该方法通过在显示面板输入控制 信号， 以测试显示面板的图形显示情况来检测显示面板是否存在线类不良。 由于图形产生器短接检测方法具有局限性， 4艮多不良无法检查出， 而且无法 区分真的不良和^ 的不良。
如图 1所示为采用图形产生器短接检测方法的检测过程， 图 2为显示面 板在模组信号输入状态下的显示结果。 比较图 1与图 2可以看出， 图 1中出 现的线类不良指示线 1在图 2中消失， 图 1中出现的线类不良指示线 2和 3 在图 2中仍然存在， 则图 1中的指示线 1为 ^^的不良， 而指示线 2和 3则为 真的不良。 真的不良指示线 2和 3出现的原因可能为显示面板内的线路断路 造成。 线类不良指示线 1出现的原因为： 采用图形产生器短接检测方法进行 检测过程中， 由于静电 （ESD ) 的存在使得指示线 1中的线路导通， 从而形 成为图 1所示形式的线路缺陷。 然而， 采用传统的图形产生器短接检测方法 时， 无法区分上述 的不良和真的不良。 发明内容
本发明的实施例提供了一种用于显示面板的线类不良的检测方法和检测 装置， 使检测结果更能够接近模组信号输入状态的点灯检查结果， 能够检测 出显示面板的真的不良情况。 本发明一方面提供了一种用于显示面板的线类不良的检测方法， 所述显 示面板包含多行栅线和多列数据线， 这些栅线和数据线彼此交叉由此限定了 排列为阵列的像素单元， 每个像素单元包括作为开关元件的晶体管， 这些晶 体管的开关由相应的栅线控制， 所述方法包括： 向所述显示面板的奇数行栅 扫描线和偶数行栅扫描线分别输入第一导通信号和第一关闭信号， 使所述奇 数行栅扫描线控制的所述晶体管导通， 而所述偶数行栅扫描线控制的所述晶 体管关闭， 获得所述显示面板的第一检测画面； 向所述显示面板的奇数行栅 扫描线和偶数行栅扫描线分别输入第二关闭信号和第二导通信号， 使所述奇 数行栅扫描线控制的所述晶体管关闭， 而所述偶数行栅扫描线控制的所述晶 体管导通， 获得所述显示面板的第二检测画面； 比较所述第一检测画面和所 述第二检测画面， 确定在所述第一检测画面或所述第二检测画面上出现的不 良显示线为真的不良显示。
例如， 上述所述的方法可以还包括： 向所述显示面板的奇数行栅扫描线 和偶数行栅扫描线均输入第三导通信号， 使所述奇数行栅扫描线和所述偶数 行栅扫描线控制的所述晶体管均导通， 获得所述显示面板的第三检测画面； 比较所述第一检测画面、 所述第二检测画面和所述第三检测画面， 确定在所 述第三检测画面显示、 但在所述第一检测画面和所述第二检测画面没有对应 显示的不良显示线为假的不良显示。
例如， 上述所述的方法， 所述第一导通信号和所述第二导通信号相同； 所述第一关闭信号和所述第二关闭信号相同。
例如， 上述所述的方法， 所述第一导通信号、 所述第二导通信号和所述 第三导通信号均相同。
例如， 上述所述的方法， 所述第一导通信号、 所述第二导通信号和 /或所 述第三导通信号为高电平信号，所述第一关闭信号和 /或所述第二关闭信号为 低电平信号。
例如， 上述所述的方法， 所述第一导通信号、 所述第二导通信号和 /或所 述第三导通信号为交流信号或直流信号，所述第一关闭信号和 /或所述第二关 闭信号为直流信号。
例如， 上述所述的方法， 所述第一导通信号、 所述第二导通信号和 /或所 述第三导通信号为直流信号时， 电压值范围为 15伏至 28伏， 所述第一关闭 信号和 /或所述第二关闭信号为直流信号时， 电压值范围为 -10伏至 -6伏。 例如， 上述所述的方法， 所述第一导通信号、 所述第二导通信号和 /或所 述第三导通信号为 21.5伏的直流信号或者为 -7.8伏至 21.5伏的交流信号，所 述第一关闭信号和 /或所述第二关闭信号为 -7.8伏的直流信号。
本发明另一方面还提供了一种用于上述所述方法的检测装置， 所述检测 装置包括： 信号输出单元， 用于在第一阶段， 向所述显示面板的奇数行栅扫 描线和偶数行栅扫描线分别输入第一导通信号和第一关闭信号， 使所述奇数 行栅扫描线控制的所述晶体管导通， 而所述偶数行栅扫描线控制的所述晶体 管关闭， 获得所述显示面板的第一检测画面； 以及用于在第二阶段， 向所述 显示面板的奇数行栅扫描线和偶数行栅扫描线分别输入第二关闭信号和第二 导通信号， 使所述奇数行栅扫描线控制的所述晶体管关闭， 而所述偶数行栅 扫描线控制的所述晶体管导通， 获得所述显示面板的第二检测画面； 判断单 元，用于对所述第一检测画面和所述第二检测画面上的显示不良线进行判断， 确定在所述第一检测画面或所述第二检测画面上出现的不良显示线为真的不 良显示； 结果输出单元， 用于输出所述判断单元的判断结果。
例如， 上述所述的检测装置中， 所述信号输出单元还可以用于： 在第三 阶段， 向所述显示面板的所述奇数行栅扫描线和所述偶数行栅扫描线均输入 第三导通信号， 使所述奇数行栅扫描线和所述偶数行栅扫描线控制的晶体管 均导通， 获得所述显示面板的第三检测画面。
例如， 上述所述的检测装置中， 所述判断单元还可用于将所述第三检测 画面、 所述第一检测画面、 所述第二检测画面进行比较， 确定在所述第三检 测画面显示、 但在所述第一检测画面和所述第二检测画面没有对应显示的不 良显示线为假的不良显示。 附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案， 下面将对实施例的附图作 筒单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅涉及本发明的一些实施例， 而非对本发明的限制。
图 1示出显示面板在进行现有的检测线类不良时的检测结果；
图 2示出与图 1所示的相同的显示面板在模组控制信号输入状态时的显 示结果；
图 3示出显示面板上的测试电极结构图；
图 4示出显示面板的测试原理结构图；
图 5示出第一种检测信号输入方式的时序图；
图 6示出第二种检测信号输入方式的时序图；
图 7示出第一检测画面、 第二检测画面和第三检测画面的结果示意图。 具体实施方式
为使本发明实施例的目的、 技术方案和优点更加清楚， 下面将结合本发 明实施例的附图，对本发明实施例的技术方案进行清楚、 完整地描述。显然， 所描述的实施例是本发明的一部分实施例， 而不是全部的实施例。 基于所描 述的本发明的实施例， 本领域普通技术人员在无需创造性劳动的前提下所获 得的所有其他实施例， 都属于本发明保护的范围。
除非另作定义， 此处使用的技术术语或者科学术语应当为本发明所属领 域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本公开中使用的 "第一"、 "第 二" 以及类似的词语并不表示任何顺序、 数量或者重要性， 而只是用来区分 不同的组成部分。 "一个" 、 "一" 或者 "该" 等类似词语也不表示数量限 制， 而是表示存在至少一个。 "A和 /或 B" 表示 A和 B中任一个或者 A和 B二者。 "包括" 或者 "包含" 等类似的词语意指出现该词前面的元件或者 物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同， 而不排除其他元件 或者物件。 "连接" 或者 "相连" 等类似的词语并非限定于物理的或者机械 的连接，而是可以包括电性的连接，不管是直接的还是间接的。 "上"、 "下"、 "左" 、 "右" 等仅用于表示相对位置关系， 当被描述对象的绝对位置改变 后， 则该相对位置关系也可能相应地改变。
本发明实施例的显示面板包括多行栅线和多列数据线， 这些栅线和数据 线彼此交叉由此限定了排列为阵列的像素单元。 例如， 每个像素单元包括作 为开关元件的薄膜晶体管和用于控制液晶的排列的像素电极和公共电极。 例 如， 每个像素的薄膜晶体管的栅极与相应的栅线电连接或一体形成， 源极与 相应的数据线电连接或一体形成，漏极与相应的像素电极电连接或一体形成。
本发明一个实施例提供了一种用于显示面板的线类不良的检测方法， 该 显示面板包含多行栅线和多列数据线， 这些栅线和数据线彼此交叉由此限定 了排列为阵列的像素单元， 每个像素单元包括作为开关元件的晶体管， 这些 晶体管的开关由相应的栅线控制。 该检测方法包括如下步骤。
步骤 S310, 向显示面板的奇数行栅扫描线（即奇数行的栅线）和偶数行 栅扫描线（即偶数行的栅线）分别输入第一导通信号和第一关闭信号， 使奇 数行栅扫描线控制的晶体管导通， 而偶数行栅扫描线控制的晶体管关闭， 获 得显示面板的第一检测画面；
S320 , 向显示面板的奇数行栅扫描线和偶数行栅扫描线分别输入第二关 闭信号和第二导通信号， 使奇数行栅扫描线控制的晶体管关闭， 而偶数行栅 扫描线控制的晶体管导通， 获得显示面板的第二检测画面；
S330, 比较第一检测画面和第二检测画面， 确定在第一检测画面或第二 检测画面上出现的不良显示线为真的不良显示。
本实施例的方法使奇数行栅扫描线和偶数行栅扫描线分别输入导通信 号， 奇数行栅扫描线和偶数行栅扫描线分别导通以获得检测画面， 由此来判 断显示面板是否存在不良的检测，即，采用本实施例上述的步骤 S310和 S320, 依次使奇数行栅扫描线和偶数行栅扫描线控制的晶体管分别导通， 获得两个 不同检测画面的方式。 而采用如图 1、 2的传统的检测方式时， 奇数行栅扫描 线和偶数行栅扫描线同时输入相同控制信号， 这造成相邻的栅线之间即使存 在短路也无法显示出来， 也即存在无法正常显示线与线之间短路所造成真的 不良的情况。 本实施例的方法可以避免这样的情况。
同时， 在如图 1、 2的传统的检测方式中，存在由于静电所造成的假的不 良显示线的情况； 而本实施例的方法由于相邻栅扫描线不同时导通， 可以避 免出现这种情况， 因此能够明确检测出显示面板的真的不良情况。
优选地， 本发明的另一个实施例还提供一种方法， 除上述实施例的步骤 S310和 S330之外， 进一步包括如下步骤。
S340 , 向显示面板的奇数行栅扫描线和偶数行栅扫描线均分别输入第三 导通信号， 使奇数行栅扫描线和偶数行栅扫描线控制的晶体管分别导通， 获 得显示面板的第三检测画面；
S350, 比较第一检测画面、 第二检测画面和第三检测画面， 确定在第三 检测画面显示、 但在第一检测画面和第二检测画面没有对应显示的不良显示 线为假的不良显示。
例如， 获得第一检测画面所输入的第一导通信号与获得第二检测画面所 输入的第二导通信号相同； 获得第一检测画面输入的第一关闭信号与获得第 二检测画面输入的第二关闭信号相同。
例如， 上述的第一导通信号、 第二导通信号与第三导通信号相同。
采用上述的检测方法， 通过步骤 S340所获得的第三检测画面为常规采 用短接检测方式获得的检测结果， 其中该第三检测画面上可能存在假的不良 显示； 通过步骤 S310和 S320获得两个图像相互补的第一检测画面和第二检 测画面。 正常情况下， 也即第三检测画面所显示线条均为真的不良显示的情 况下， 该第一检测画面和第二检测画面所显示图线的组合应该与第三检测画 面相对应。
然而， 采用上述实施例的步骤 S310和 S320, 依次使奇数行栅扫描线和 偶数行栅扫描线分别导通， 获得两个不同检测画面， 可以避免出现这样的情 况： 获得第三检测画面时， 奇数行栅扫描线和偶数行栅扫描线同时输入相同 控制信号， 奇偶行的电压相等， 造成线与线之间短路无法检测出来， 从而无 法正常显示真的不良。 同时，本实施例的方法由于相邻栅扫描线不同时导通， 还能够避免出现这样的情况： 现有的检测方式中， 由于静电的存在而造成假 的不良显示线存在。
因此通过比较第一检测画面、 第二检测画面和第三检测画面， 能够确定 显示面板上的假的线类不良显示和真的线类不良显示。 采用本发明实施例所 述测试方法时， 使检测结果更能够接近模组信号输入状态的点灯检查结果， 能够分辨出假的不良和真的不良检测情况。
进一步地， 例如， 上述第一导通信号、 第二导通信号和 /或第三导通信号 为高电平信号， 第一关闭信号和 /或第二关闭信号为低电平信号。
进一步地， 例如， 上述第一导通信号、 第二导通信号和 /或第三导通信号 为交流信号或直流信号， 第一关闭信号和 /或第二关闭信号为直流信号。
例如， 第一导通信号、 第二导通信号和 /或第三导通信号为直流信号时， 电压值范围可为 15伏至 28伏；第一关闭信号和 /或第二关闭信号为直流信号 时， 电压值范围可为 -10伏至 -6伏。 在这样一个范围， 奇数行栅扫描线和偶 数行栅扫描线控制的晶体管能够较好的导通和关闭， 使检测效果更好， 提高 检测精确率。
例如， 第一导通信号、 第二导通信号和 /或第三导通信号为 21.5 伏的直 流信号或者为 -7.8伏至 21.5伏的交流信号；第一关闭信号和 /或第二关闭信号 为 -7.8伏的直流信号。 此时， 相应的栅线行的晶体管的栅极能够完全打开或 者关闭， 提高检测效果。
以下将结合图 3至图 7对本发明所述测试方法的信号采用上述输入方式 时的测试原理进行详细说明。
参阅图 3所示的显示面板上的测试电极结构图， 图 4所示的测试电路示 意图， 显示面板 10上的检测输入信号包括： 数据信号 Data 100、栅扫描线信 号 Gate 200、 公共电压信号 V∞m、 DS (源极数据开关）和 GS (栅扫描线信 号开关）。 在显示面板 10上的控制端分别以偶数行栅扫描线 G011、 奇数行 栅扫描线 GE12、 栅扫描线开关 GS 13、 公共电压 V∞m14、 黄色数据信号 DY 15、 青色数据信号 DC 16、 紫色数据信号 DM17和数据线开关 DS 18表示。
数据线相关端口主要控制显示面板的灰阶和数据线的亮灭， 各检测接入 端公共电源 V∞m14、 黄色数据信号 DY 15、 青色数据信号 DC 16、 紫色数据 信号 DM 17和数据线开关 DS 18在检测过程中均无法改变， 此外公共电源 Vcom14端的输入信号也无法改变，因此只有通过改变偶数行栅扫描线 GO 11、 奇数行栅扫描线 GE 12上的信号输入方式实现真不良的判断。
通常， 利用图 3及图 4所示电路结构采用短接检测方式进行信号供给检 测时， 在数据线输入端 （包括黄色数据信号 DY 15、 青色数据信号 DC16、 紫色数据信号 DM17 )输入 0至 8伏的直流或者交流电压， 公共电压 V∞m14 设置为 3.2至 4.2伏， 而偶数行栅扫描线 GO 11和奇数行栅扫描线 GE 12分 别输入在负 7.8至 21.5伏之间交替的交流电压。
也即， 所示步骤 S340 中， 向待检测显示面板的奇数行栅扫描线和偶数 行栅扫描线分别输入第三导通信号， 使奇数行栅扫描线和偶数行栅扫描线均 导通， 获得待检测显示面板的第三检测画面时， 所输入第三导通信号为在第 一电压值与第二电压值之间交替输出的交流信号。通常，该第一电压值为 21.5 伏， 第二电压值为负 7.8伏。
本发明的实施例所述检测方法， 通过步骤 S310和步骤 S320使偶数行栅 扫描线 GO 11和奇数行栅扫描线 GE 12控制的晶体管分步打开检测，获得第 一检测画面和第二检测画面两种互补画面的信号输入方式为： 奇数行栅扫描 线 GE 12输入第一导通信号， 偶数行栅扫描线 GO 11输入第一关闭信号时， 获得第一检测画面； 奇数行栅扫描线 GE 12输入第二关闭信号， 偶数行栅扫 描线 GO 11输入第二导通信号时， 获得第二检测画面。
由于第一导通信号可以与第二导通信号相同， 第一关闭信号可以与第二 关闭信号相同， 因此可以分别将第一关闭信号和第一导通信号交替在偶数行 栅扫描线 GO 11和奇数行栅扫描线 GE 12上输入，使偶数行栅扫描线 GO 11 和奇数行栅扫描线 GE 12分步打开， 用于显示面板线类真不良的检测。
本实施例中，使偶数行栅扫描线 GO 11和奇数行栅扫描线 GE 12控制的 晶体管分别打开的实现方式具有两种。
第一种方式为： 第一导通信号和第二导通信号相同， 为 -7.8伏至 21.5伏 的交流信号； 第一关闭信号与第二关闭信号相同， 为 -7.8伏的直流信号。
第二种方式为： 第一导通信号与第二导通信号相同， 为 21.5伏的直流信 号； 第一关闭信号与第二关闭信号相同， 为 -7.8伏的直流信号。
第一种输入方式实现第二检测画面的时序控制图如图 5所示， 在偶数行 栅扫描线 GO 11输入负 7.8至 21.5伏之间交替的交流电压，在奇数行栅扫描 线 GE 12输入呈负 7.8伏的直流电压， 使偶数行栅扫描线 GO 11控制的晶体 管导通， 奇数行栅扫描线 GE 12控制的晶体管关闭， 获得第二检测画面， 采 用该输入方式，将输入偶数行栅扫描线 GO 11和奇数行栅扫描线 GE 12的控 制信号交换， 也即使奇数行栅扫描线 GE 12输入负 7.8至 21.5伏之间交替的 交流电压， 偶数行栅扫描线 GO 11输入呈负 7.8伏的直流电压， 则可以使奇 数行栅扫描线 GE 12导通， 偶数行栅扫描线 11关闭， 获得第一检测画面。
通过上述第一种实施方式， 在获得第一检测画面和第二检测画面后， 即 能够检测显示面板的真的不良显示。 原理如下所述。
通常， 显示面板形成真的不良显示线的原因包括两种： 一种为栅扫描线 断路； 另一种为相邻栅扫描线之间发生短路。 采用本发明实施例的方式， 当 显示面板上存在栅扫描线断路的情况时， 使奇数行栅扫描线 GE和偶数行栅 扫描线 GO控制的晶体管分别导通， 获得上述的第一检测画面和第二检测画 面， 根据栅扫描线断路的位置， 可以在第一检测画面和第二检测画面其中之 一检测画面上显示出由于栅扫描线断路的不良显示线。 当显示面板上存在相 邻栅扫描线之间短路的情况时，使奇数行栅扫描线 GE和偶数行栅扫描线 GO 控制的晶体管分别导通， 偶数行栅扫描线 GO和奇数行栅扫描线 GE的等效 直流不相同， 导致高的信号通过短路点往低的栅扫描线流入信号， 从而形成 弱线， 因此可以通过使奇数行栅扫描线和偶数行栅扫描线控制的晶体管分别 导通获得两个检测画面而检测出来。
因此， 通过本发明实施例， 在获得上述的第一检测画面和第二检测画面 后， 即可以确定在第一检测画面或第二检测画面上出现的不良显示线为真的 不良显示。
采用上述方式， 不会出现现有的采用获得第三检测画面的方式检测时， 偶数行栅扫描线 GO和奇数行栅扫描线 GE输入的是相同的控制信号， 奇偶 行的电压相等， 造成线与线之间短路也无法显示出来， 不能正常检测出栅扫 描线之间短路的不良情况。
另外， 最佳地， 本发明的另一实施例还进一步获得正常检测方式下的第 三检测画面，通过该第三检测画面与第一检测画面和第二检测画面进行比较， 可以确定第一检测画面或第二检测画面上所出现的真不良显示线的类型， 如 在第一检测画面或第二检测画面上出现的不良显示线， 在第三检测画面上没 有显示， 则可以确定该不良显示线为栅扫描线之间短路形成。
举例说明， 如采用上述检测信号输入方式获得检测结果如图 7所示， 图 中的 20、 30和 40分别为第三检测画面、 第一检测画面和第二检测画面所显 示图形， 通过将第一检测画面、 第二检测画面和第三检测画面进行比较， 可 以看出， 图片 30上的弱线条 31在图片 20上没有显示， 可以确定该弱线条
31为由于线路短路引起的真的不良显示。
第二种输入方式实现第二检测画面的时序控制图如图 6所示， 在偶数行 栅扫描线 GO 11呈 21.5伏的直流电压， 在奇数行栅扫描线 GE 12输入呈负 7.8伏的直流电压， 使偶数行栅扫描线 GO 11导通， 奇数行栅扫描线 GE 12 关闭， 获得第二检测画面； 之后采用该输入方式， 偶数行栅扫描线 GO 11和 奇数行栅扫描线 GE 12的控制信号交换， 也即使奇数行栅扫描线 GE 12输入 呈 21.5伏的直流电压， 偶数行栅扫描线 GO 11输入呈负 7.8伏的直流电压， 则可以使奇数行栅扫描线 GE 12导通， 偶数行栅扫描线 11关闭， 获得第一 检测画面。 进一步地， 对奇数行栅扫描线和偶数行栅扫描线均通入负 7.8伏到 21.5 伏的交流信号， 得到第三检测画面。 通过将第一检测画面、 第二检测画面与 第三检测画面比较能够检测静电类不良引起的假的不良显示。原理如下所述。
采用现有的检测方式时， 也即采用获得第三检测画面的检测方式时， 偶 数行栅扫描线 GO 11和奇数行栅扫描线 GE 12均导通，其中相邻两条栅扫描 线之间由于静电作用的存在， 可能处于微导通的状态， 此时相邻两条栅扫描 线上的电压会发生叠加， 有静电存在的两条栅扫描线会有两条比其他行更亮 或更暗的显示线出现， 从而指示为不良显示， 形成为假的不良。 当采用本发 明实施例时，采用分别使奇数行栅扫描线和偶数行栅扫描线分步导通的方式， 获得第一检测画面和第二检测画面， 由于奇数行栅扫描线和偶数行栅扫描线 并不是同时导通， 因此相邻的两条栅扫描线之间的叠加效应很弱， 从而可以 忽略， 此时第一画面和第二检测画面中不会产生不良显示线。
因此通过将第一检测画面和第二检测画面与步骤 S340所获得的第三检 测画面进行比较， 正常情况下， 也即第三检测画面所显示线条均为真的不良 显示的情况下， 第一检测画面和第二检测画面所显示图线的组合应该与第一 检测画面相对应， 但在第三检测画面存在假的不良显示的情况下， 该假的显 示不良线条不会出现在第一检测画面和第二检测画面上。 这样以确定对于存 在于第三检测画面， 但在第一检测画面和第二检测画面上均没有显示的显示 线则可以确定为^^的不良显示； 对于既存在于第三检测画面上， 又存在于第 一检测画面或第二检测画面上的显示线则可以确定为真的不良显示。
举例说明， 如采用上述检测信号输入方式获得检测结果为图 7所示， 图 中的 20、 30和 40分别为第三检测画面、 第一检测画面和第二检测画面所显 示图形， 通过将第一检测画面、 第二检测画面和第三检测画面进行比较， 可 以看出， 图片 20上的线条 21在图片 30和图片 40上均没有显示， 则可以确 定该线条 21为假的不良显示； 图片 20上的线条 22在图片 30上有显示， 该 可以确定该线条 22为真的不良显示。
本发明的另一个实施例还提供了一种用于如上所述检测方法的检测装 置， 该装置包括信号输出单元、 判断单元和结果输出单元。
信号输出单元用于在第一阶段， 向显示面板的奇数行栅扫描线和偶数行 栅扫描线分别输入第一导通信号和第一关闭信号， 使奇数行栅扫描线控制的 晶体管导通， 而偶数行栅扫描线控制的晶体管关闭， 获得显示面板的第一检 测画面； 以及在第二阶段， 向显示面板的奇数行栅扫描线和偶数行栅扫描线 分别输入第二关闭信号和第二导通信号， 使奇数行栅扫描线控制的晶体管关 闭， 而偶数行栅扫描线控制的晶体管导通， 获得显示面板的第二检测画面。
判断单元用于对第一检测画面和第二检测画面上的显示不良线进行判 断， 确定在第一检测画面或第二检测画面上出现的不良显示线为真的不良显 示。
结果输出单元用于输出判断单元的判断结果。
例如， 信号输出单元还可以用于在第三阶段， 向显示面板的奇数行栅扫 描线和偶数行栅扫描线均输入第三导通信号， 使奇数行栅扫描线和偶数行栅 扫描线控制的晶体管均导通， 获得显示面板的第三检测画面。
进一步地， 判断单元还可以用于将第三检测画面、 第一检测画面、 第二 检测画面进行比较， 确定在第三检测画面显示、 但在第一检测画面和第二检 测画面没有对应显示的不良显示线为假的不良显示。
信号输出单元、 判断单元和结果输出单元可以采用通常的专用电路或者 例如处理器（CPU、 DSP )等通用电路实现， 或者也可以至少部分地以软件、 固件等方式实现， 这里不再详述。
例如， 第一导通信号和第二导通信号相同； 第一关闭信号和第二关闭信 号相同。 例如， 第一导通信号、 第二导通信号和第三导通信号均相同。
进一步地， 例如， 第一导通信号、 第二导通信号和 /或第三导通信号为高 电平信号， 第一关闭信号和 /或第二关闭信号为低电平信号。
进一步地， 例如， 第一导通信号、 第二导通信号和 /或第三导通信号为交 流信号或直流信号， 第一关闭信号和 /或第二关闭信号为直流信号。
例如， 第一导通信号、 第二导通信号和 /或第三导通信号为直流信号时， 电压值范围可为 15伏至 28伏，第一关闭信号和 /或第二关闭信号为直流信号 时， 电压值范围可为 -10伏至 -6伏。
例如， 第一导通信号、 第二导通信号和 /或第三导通信号为 21.5 伏的直 流信号或者为 -7.8伏至 21.5伏的交流信号，第一关闭信号和 /或第二关闭信号 为 -7.8伏的直流信号。
本发明具体实施例检测方法和检测装置， 使检测结果更能够接近模组信 号输入状态的点灯检查结果， 能够分辨出假的不良和真的不良检测情况。 以上仅是本发明的示范性实施方式， 而非用于限制本发明的保护范围 , 本发明的保护范围由所附的权利要求确定。

Claims

权利要求书
1.一种用于显示面板的线类不良的检测方法，所述显示面板包含多行栅 线和多列数据线， 该栅线和数据线彼此交叉由此限定了排列为阵列的像素单 元， 每个像素单元包括作为开关元件的晶体管， 该晶体管的开关由相应的栅 线控制， 所述方法包括：
向所述显示面板的奇数行栅扫描线和偶数行栅扫描线分别输入第一导通 信号和第一关闭信号， 使所述奇数行栅扫描线控制的所述晶体管导通， 而所 述偶数行栅扫描线控制的所述晶体管关闭， 获得所述显示面板的第一检测画 面；
向所述显示面板的奇数行栅扫描线和偶数行栅扫描线分别输入第二关闭 信号和第二导通信号， 使所述奇数行栅扫描线控制的所述晶体管关闭， 而所 述偶数行栅扫描线控制的所述晶体管导通， 获得所述显示面板的第二检测画 面；
比较所述第一检测画面和所述第二检测画面， 确定在所述第一检测画面 或所述第二检测画面上出现的不良显示线为真的不良显示。
2. 如权利要求 1所述的方法， 还包括：
向所述显示面板的奇数行栅扫描线和偶数行栅扫描线均输入第三导通信 号，使所述奇数行栅扫描线和所述偶数行栅扫描线控制的所述晶体管均导通， 获得所述显示面板的第三检测画面；
比较所述第一检测画面、 所述第二检测画面和所述第三检测画面， 确定 在所述第三检测画面显示、 但在所述第一检测画面和所述第二检测画面没有 对应显示的不良显示线为假的不良显示。
3. 如权利要求 1所述的方法， 其中， 所述第一导通信号和所述第二导通 信号相同； 所述第一关闭信号和所述第二关闭信号相同。
4. 如权利要求 2所述的方法， 其中， 所述第一导通信号、 所述第二导通 信号和所述第三导通信号均相同。
5. 如权利要求 2所述的方法， 其中， 所述第一导通信号、 所述第二导通 信号和 /或所述第三导通信号为高电平信号， 所述第一关闭信号和 /或所述第 二关闭信号为低电平信号。
6. 如权利要求 2所述的方法， 其中， 所述第一导通信号、 所述第二导通 信号和 /或所述第三导通信号为交流信号或直流信号， 所述第一关闭信号和 / 或所述第二关闭信号为直流信号。
7. 如权利要求 6所述的方法， 其中， 所述第一导通信号、 所述第二导通 信号和 /或所述第三导通信号为直流信号时， 电压值范围为 15伏至 28伏， 所 述第一关闭信号和 /或所述第二关闭信号为直流信号时， 电压值范围为 -10伏 至 -6伏。
8. 如权利要求 6所述的方法， 其中， 所述第一导通信号、 所述第二导通 信号和 /或所述第三导通信号为 21.5伏的直流信号或者为 -7.8伏至 21.5伏的 交流信号， 所述第一关闭信号和 /或所述第二关闭信号为 -7.8伏的直流信号。
9. 一种用于权利要求 1所述方法的检测装置， 包括：
信号输出单元， 用于在第一阶段， 向所述显示面板的奇数行栅扫描线和 偶数行栅扫描线分别输入第一导通信号和第一关闭信号， 使所述奇数行栅扫 描线控制的所述晶体管导通，而所述偶数行栅扫描线控制的所述晶体管关闭， 获得所述显示面板的第一检测画面； 以及用于在第二阶段， 向所述显示面板 的奇数行栅扫描线和偶数行栅扫描线分别输入第二关闭信号和第二导通信 号， 使所述奇数行栅扫描线控制的所述晶体管关闭， 而所述偶数行栅扫描线 控制的所述晶体管导通， 获得所述显示面板的第二检测画面；
判断单元， 用于对所述第一检测画面和所述第二检测画面上的显示不良 线进行判断， 确定在所述第一检测画面或所述第二检测画面上出现的不良显 示线为真的不良显示；
结果输出单元， 用于输出所述判断单元的判断结果。
10. 如权利要求 9所述的检测装置， 其中， 所述信号输出单元还用于： 在第三阶段， 向所述显示面板的所述奇数行栅扫描线和所述偶数行栅扫描线 均输入第三导通信号， 使所述奇数行栅扫描线和所述偶数行栅扫描线控制的 晶体管均导通， 获得所述显示面板的第三检测画面。
11. 如权利要求 10所述的检测装置， 其中， 所述判断单元还用于将所述 第三检测画面、 所述第一检测画面、 所述第二检测画面进行比较， 确定在所 述第三检测画面显示、 但在所述第一检测画面和所述第二检测画面没有对应 显示的不良显示线为假的不良显示。
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