WO2014103370A1 - 部品実装装置、部品実装システム、および部品実装方法 - Google Patents

部品実装装置、部品実装システム、および部品実装方法 Download PDF

Info

Publication number
WO2014103370A1
WO2014103370A1 PCT/JP2013/058409 JP2013058409W WO2014103370A1 WO 2014103370 A1 WO2014103370 A1 WO 2014103370A1 JP 2013058409 W JP2013058409 W JP 2013058409W WO 2014103370 A1 WO2014103370 A1 WO 2014103370A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
bonding agent
component
unit
circuit board
component mounting
Prior art date
Application number
PCT/JP2013/058409
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
青木 慎
Original Assignee
株式会社東芝
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 株式会社東芝 filed Critical 株式会社東芝
Publication of WO2014103370A1 publication Critical patent/WO2014103370A1/ja

Links

Images

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K1/00Soldering, e.g. brazing, or unsoldering
    • B23K1/0008Soldering, e.g. brazing, or unsoldering specially adapted for particular articles or work
    • B23K1/0016Brazing of electronic components
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K1/00Soldering, e.g. brazing, or unsoldering
    • B23K1/008Soldering within a furnace
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K1/00Soldering, e.g. brazing, or unsoldering
    • B23K1/20Preliminary treatment of work or areas to be soldered, e.g. in respect of a galvanic coating
    • B23K1/203Fluxing, i.e. applying flux onto surfaces
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K3/00Tools, devices, or special appurtenances for soldering, e.g. brazing, or unsoldering, not specially adapted for particular methods
    • B23K3/06Solder feeding devices; Solder melting pans
    • B23K3/0607Solder feeding devices
    • B23K3/0638Solder feeding devices for viscous material feeding, e.g. solder paste feeding
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies
    • H01L24/75Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L24/81Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a bump connector
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K13/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
    • H05K13/04Mounting of components, e.g. of leadless components
    • H05K13/046Surface mounting
    • H05K13/0465Surface mounting by soldering
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/32Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/34Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
    • H05K3/3447Lead-in-hole components
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/32Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/34Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
    • H05K3/3457Solder materials or compositions; Methods of application thereof
    • H05K3/3485Applying solder paste, slurry or powder
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K2101/00Articles made by soldering, welding or cutting
    • B23K2101/36Electric or electronic devices
    • B23K2101/42Printed circuits
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/12Structure, shape, material or disposition of the bump connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/13Structure, shape, material or disposition of the bump connectors prior to the connecting process of an individual bump connector
    • H01L2224/13001Core members of the bump connector
    • H01L2224/13099Material
    • H01L2224/131Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • H01L2224/161Disposition
    • H01L2224/16151Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/16221Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/16225Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • H01L2224/16237Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation the bump connector connecting to a bonding area disposed in a recess of the surface of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/75Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
    • H01L2224/7501Means for cleaning, e.g. brushes, for hydro blasting, for ultrasonic cleaning, for dry ice blasting, using gas-flow, by etching, by applying flux or plasma
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/75Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
    • H01L2224/7525Means for applying energy, e.g. heating means
    • H01L2224/75251Means for applying energy, e.g. heating means in the lower part of the bonding apparatus, e.g. in the apparatus chuck
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/75Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
    • H01L2224/755Cooling means
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/75Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
    • H01L2224/756Means for supplying the connector to be connected in the bonding apparatus
    • H01L2224/75601Storing means
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/75Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
    • H01L2224/756Means for supplying the connector to be connected in the bonding apparatus
    • H01L2224/75611Feeding means
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/75Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
    • H01L2224/7565Means for transporting the components to be connected
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/75Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
    • H01L2224/757Means for aligning
    • H01L2224/75703Mechanical holding means
    • H01L2224/75704Mechanical holding means in the lower part of the bonding apparatus, e.g. in the apparatus chuck
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/75Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
    • H01L2224/757Means for aligning
    • H01L2224/75703Mechanical holding means
    • H01L2224/75705Mechanical holding means in the upper part of the bonding apparatus, e.g. in the bonding head
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/75Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
    • H01L2224/757Means for aligning
    • H01L2224/75743Suction holding means
    • H01L2224/75745Suction holding means in the upper part of the bonding apparatus, e.g. in the bonding head
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/75Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
    • H01L2224/758Means for moving parts
    • H01L2224/75801Lower part of the bonding apparatus, e.g. XY table
    • H01L2224/75804Translational mechanism
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/75Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
    • H01L2224/758Means for moving parts
    • H01L2224/75821Upper part of the bonding apparatus, i.e. bonding head
    • H01L2224/75824Translational mechanism
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/75Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
    • H01L2224/759Means for monitoring the connection process
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/75Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
    • H01L2224/759Means for monitoring the connection process
    • H01L2224/75901Means for monitoring the connection process using a computer, e.g. fully- or semi-automatic bonding
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/81Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a bump connector
    • H01L2224/81009Pre-treatment of the bump connector or the bonding area
    • H01L2224/8101Cleaning the bump connector, e.g. oxide removal step, desmearing
    • H01L2224/81011Chemical cleaning, e.g. etching, flux
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/81Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a bump connector
    • H01L2224/8119Arrangement of the bump connectors prior to mounting
    • H01L2224/81191Arrangement of the bump connectors prior to mounting wherein the bump connectors are disposed only on the semiconductor or solid-state body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/81Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a bump connector
    • H01L2224/8138Bonding interfaces outside the semiconductor or solid-state body
    • H01L2224/81399Material
    • H01L2224/814Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/81Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a bump connector
    • H01L2224/818Bonding techniques
    • H01L2224/81801Soldering or alloying
    • H01L2224/81815Reflow soldering
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/10Bump connectors ; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/12Structure, shape, material or disposition of the bump connectors prior to the connecting process
    • H01L24/13Structure, shape, material or disposition of the bump connectors prior to the connecting process of an individual bump connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/10Bump connectors ; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L24/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector

Definitions

  • Embodiments described herein relate generally to a component mounting apparatus, a component mounting system, and a component mounting method.
  • this type of apparatus has few inconveniences such as variations in bonding strength.
  • an embodiment of the present invention has, as an example, an object of obtaining a component mounting apparatus, a component mounting system, and a component mounting method that perform processing in a new procedure with less inconvenience.
  • the component bonding apparatus includes, as an example, a bonding agent holding unit, a substrate holding unit, a component holding unit, a first moving unit, and a second moving unit.
  • the bonding agent holding part holds the bonding agent in a fluid and exposed state.
  • the substrate holding part detachably holds a circuit board having a first surface and a second surface opposite to the first surface and provided with a through hole penetrating the first surface and the second surface. .
  • the component holding part has a pin that passes through the through hole and detachably holds a component mounted on the first surface side.
  • the first moving unit can change the relative position of the exposed portion of the bonding agent and the circuit board by moving at least one of the bonding agent holding unit and the substrate holding unit.
  • the second moving unit can change the relative position between the circuit board and the component by moving at least one of the substrate holding unit and the component holding unit.
  • a 1st moving part makes a bonding agent contact the area
  • the second moving unit passes the pin through the through hole from the first surface side.
  • the first moving unit separates the bonding agent from the second surface.
  • FIG. 1 is a schematic diagram of an example of a component mounting system according to the embodiment.
  • FIG. 2 is a schematic diagram illustrating an example of a circuit board (board assembly) processed by the example of the component mounting system according to the embodiment.
  • FIG. 3 is a schematic configuration diagram of an example of a component mounting apparatus according to the embodiment.
  • FIG. 4 is a schematic configuration diagram (functional block diagram) of a control unit as an example of the component mounting apparatus according to the embodiment.
  • FIG. 5 is a flowchart illustrating an example of a processing procedure performed by the component mounting apparatus according to the embodiment.
  • FIG. 6 is a schematic diagram of a part of an example of the component mounting apparatus according to the embodiment, showing a state before the circuit board and the bonding agent come into contact with each other.
  • FIG. 1 is a schematic diagram of an example of a component mounting system according to the embodiment.
  • FIG. 2 is a schematic diagram illustrating an example of a circuit board (board assembly) processed by the example of the component mounting system according to
  • FIG. 7 is a schematic diagram of a part of an example of the component mounting apparatus according to the embodiment, in which the circuit board and the bonding agent are in contact with each other.
  • FIG. 8 is a schematic diagram of a part of an example of the component mounting apparatus according to the embodiment, showing a state before components are mounted.
  • FIG. 9 is a schematic diagram of a part of an example of the component mounting apparatus according to the embodiment, showing a state in which components are mounted.
  • FIG. 10 is a schematic view of a part of an example of the component mounting apparatus according to the embodiment, and shows a state in which the bonding agent is separated after the components are mounted.
  • FIG. 11 is a schematic diagram of a part of an example of the component mounting apparatus according to the embodiment, and shows a state in which the component holding unit is separated after the bonding agent is separated.
  • a component mounting system 100 for mounting components 40 and 50 (electronic components, electrical components, packages, elements, see FIG. 2) on a circuit board 30 (see FIG. 2) is shown in FIG.
  • a component mounting apparatus 60 that mounts a component 50 (another component, a surface mount component) by a surface mounting technique (reflow method) and a component mounting apparatus 1 that mounts a component 40 by a pin insertion method are provided.
  • a bonding agent for example, solder, cream solder
  • the component 50 is placed on the surface 31 or the surface 32 and heated. After cooling, the component 50 is attached to the circuit board 30.
  • An electrode (not shown) provided on the component 50 and an electrode (not shown) provided on the circuit board 30 are joined and electrically connected to each other.
  • the component mounting apparatus 1 mounts a component 40 having a body 41 and a pin 42 protruding from the body 41, as shown in FIGS.
  • the circuit board 30 is provided with a through hole 33.
  • the pins 42 passed through the through holes 33 and the electrodes (not shown) of the circuit board 30 are joined to each other by a bonding agent 20 (for example, solder) and are electrically connected.
  • the temperature in the component mounting apparatus 1 is a temperature at which the bonding agent 20 is locally melted, the temperature is maintained as a whole so that the bonding agent 20 does not melt. Therefore, when the component 40 is mounted on the circuit board 30 by the component mounting apparatus 1, the component 50 mounted by the component mounting apparatus 60 is not detached from the circuit board 30.
  • a substrate assembly 70 (see FIG. 2) in which the components 40 and 50 are mounted on the circuit board 30 is obtained by processing in the component mounting apparatuses 60 and 1.
  • the component mounting apparatus 1 includes a control unit 10, a bonding agent temperature sensor 2, a position sensor 3, a temperature sensor 4, an air adjustment unit 5, and a temperature adjustment unit 6. , Auxiliary agent application unit 7, bonding agent temperature adjustment unit 8, bonding agent flow unit 9, bonding agent moving unit 11, bonding agent holding unit 12, substrate conveying unit 13, substrate holding unit 14, substrate moving unit 15, component holding unit 16, a component moving part 17 and the like are provided.
  • Control unit 10 executes arithmetic processing and controls each unit of component mounting device 1.
  • the bonding agent temperature sensor 2 measures the temperature of the bonding agent 20 (see FIGS. 6 to 11).
  • the bonding agent temperature sensor 2 can be configured as, for example, a thermocouple or a temperature sensor IC (integrated circuit).
  • the bonding agent temperature sensor 2 measures the temperature of the bonding agent 20 maintained in a state of flowing in the bonding agent holding unit 12. Further, the bonding agent temperature sensor 2 may directly measure the temperature of the bonding agent 20, or a temperature corresponding to the temperature of the bonding agent 20 (for example, the temperature of the bonding agent holding unit 12 containing the bonding agent 20. ) May be measured.
  • the position sensor 3 detects the positions of the circuit board 30 (see FIG. 2), the component 40, the component holding unit 16, and the like.
  • the position sensor 3 can be configured as a camera (imaging unit).
  • the position sensor 3 captures an image including a plurality of markers 34 provided on the circuit board 30.
  • the temperature sensor 4 measures the temperature in the component mounting apparatus 1 (for example, the temperature around the circuit board 30 and the temperature on the surface 31 side of the circuit board 30).
  • the temperature sensor 4 can be configured as, for example, a thermocouple or a temperature sensor IC (integrated circuit).
  • the air adjustment unit 5 adjusts the temperature of the atmosphere (air) in the component mounting apparatus 1.
  • the air adjusting unit 5 includes a cooling unit, a blower unit (fan), and the like.
  • the air adjusting unit 5 is an example of a cooling unit that cools the component 40.
  • the temperature adjusting unit 6 adjusts the temperature of a part (for example, the component holding unit 16) in the component mounting apparatus 1.
  • the temperature adjustment unit 6 includes a cooling unit (for example, a Peltier element).
  • the temperature adjustment unit 6 is an example of a cooling unit that cools the component 40.
  • the auxiliary agent application unit 7 applies a bonding auxiliary agent (for example, flux) to the inner surface of the through hole 33 of the circuit board 30 or the pin 42 of the component 40.
  • a bonding auxiliary agent for example, flux
  • the auxiliary agent application unit 7 has a spray for spraying a liquid auxiliary agent.
  • the bonding agent temperature adjusting unit 8 adjusts the temperature of the bonding agent 20.
  • the bonding agent temperature adjusting unit 8 includes a heating unit (for example, a heating wire).
  • the bonding agent flow section 9 causes the bonding agent 20 to flow in a state of being heated and flowing.
  • the bonding agent flow part 9 includes a pump (for example, a spiral pump), a motor, and the like.
  • the bonding agent moving part 11 changes the position of the bonding agent 20 in a flowing state.
  • the bonding agent moving unit 11 moves the bonding agent holding unit 12.
  • the bonding agent moving unit 11 includes, for example, a rail, a slider, an arm, an actuator, and the like (not shown).
  • the bonding agent moving part 11 can change the position of the bonding agent 20 in three dimensions.
  • the bonding agent moving part 11 can be an example of a first moving part.
  • the bonding agent holding unit 12 (bonding agent working unit, bonding agent jet forming unit, bonding agent overflow forming unit, bonding agent ejection unit, bonding agent discharge unit, bonding agent nozzle, bonding agent tank) has fluidity and is exposed.
  • the bonding agent 20 is held in the finished state.
  • the bonding agent holding unit 12 jets the bonding agent 20 upwardly from the tank 12a that houses the bonding agent 20 (the jet of the bonding agent 20 is generated). And an ejection portion 12b to be formed.
  • the ejection portion 12b is provided with an ejection port 12c (opening), and the tank 12a is provided with a recovery port 12d (opening) for collecting the ejected bonding agent 20.
  • region 20a overflow area
  • the board transport unit 13 carries the circuit board 30 into the component mounting apparatus 1 (for example, a place where the component 40 is mounted) and also carries the circuit board 30 out of the component mounting apparatus 1.
  • the substrate transport unit 13 includes, for example, a rail, a slider, an arm, an actuator, and the like (not shown).
  • the board holding unit 14 holds the circuit board 30.
  • the substrate holding unit 14 sandwiches the end portions 30a on both sides of the circuit board 30 from the surface 31 side and the surface 32 side (chuck). is doing).
  • the board moving unit 15 changes the position of the circuit board 30 in the component mounting apparatus 1.
  • the substrate moving unit 15 moves the substrate holding unit 14.
  • the substrate moving unit 15 includes, for example, a rail, a slider, an arm, an actuator, and the like (not shown). Further, the substrate moving unit 15 can change the position of the circuit board 30 in three dimensions.
  • the substrate moving unit 15 can be an example of a first moving unit and a second moving unit.
  • the component holding unit 16 holds the component 40.
  • the component holding portion 16 sucks the surface 40 a opposite to the pin 42 of the component 40.
  • the component holding unit 16 can sandwich (hold, support, grasp) the component 40 with a plurality of arms or the like.
  • the component moving unit 17 changes the position of the component 40.
  • the component moving unit 17 moves the component holding unit 16.
  • the component moving unit 17 includes, for example, a rail, a slider, an arm, an actuator, and the like (not shown).
  • the component moving unit 17 can change the position of the component 40 in three dimensions.
  • the component moving unit 17 can be an example of a first moving unit and a second moving unit.
  • the circuit board 30 (see FIGS. 2 and 6 to 11) is a plate-shaped rigid board.
  • the circuit board 30 has a surface 31 (first surface) and an opposite surface 32 (second surface). Further, the circuit board 30 is provided with a through hole 33 that passes through the surface 31 and the surface 32 and through which the pin 42 of the component 40 passes.
  • the circuit board 30 has an insulator (not shown) and a conductor (conductor pattern, wiring pattern, not shown).
  • the control unit 10 includes a main control unit 10 a, a position detection unit 10 b, a temperature detection unit 10 c, an air conditioning control unit 10 d, a temperature control unit 10 e, and an auxiliary unit. 10f, bonding agent temperature control unit 10g, bonding agent flow control unit 10h, bonding agent movement control unit 10i, substrate transfer control unit 10j, substrate holding control unit 10k, substrate movement control unit 10m, component holding control unit 10n And a component movement control unit 10p.
  • Each of these units can be included in a central processing unit (CPU) together with the main control unit 10a, or can be configured as a controller separate from the CPU. Further, a CPU that executes arithmetic processing according to a program can function as a part of these.
  • CPU central processing unit
  • the main controller 10a executes arithmetic processing according to the read program.
  • Data used in arithmetic processing, data of arithmetic processing results, and the like are stored in a storage unit (not shown).
  • the program is stored (installed) in a nonvolatile storage unit (not shown).
  • the position detection unit 10b acquires position data of the circuit board 30, the component 40, the component holding unit 16, and the like from data acquired by the position sensor 3 (in this embodiment, image data as an example). Further, the temperature detection unit 10 c acquires temperature data in the component mounting apparatus 1 from the measurement result of the temperature sensor 4.
  • the air conditioning controller 10d controls the air conditioner 5 based on the temperature data acquired by the temperature detector 10c.
  • the air conditioning control unit 10d controls the operation (for example, operation, stop, cooling strength, etc.) of the air conditioning unit 5 so that the temperature in the component mounting apparatus 1 is within a predetermined range. To do.
  • the temperature control unit 10e controls the temperature adjustment unit 6.
  • the temperature control unit 10e operates the operation of the temperature adjustment unit 6 (for example, so that the temperature of a part (for example, the component holding unit 16) in the component mounting apparatus 1 is within a predetermined range. , Operation, stop, cooling intensity, etc.).
  • the auxiliary agent application control unit 10f controls the operation (for example, operation (application (spray)), stop, variable application (spray) amount, variable application (spray) direction, etc.) of the auxiliary agent application unit 7.
  • the bonding agent temperature control unit 10 g controls the bonding agent temperature adjustment unit 8.
  • the bonding agent temperature control unit 10g operates the bonding agent temperature adjustment unit 8 so that the temperature of the bonding agent 20 is within a predetermined range (for example, operation, stop, heating intensity, etc.).
  • the bonding agent flow control unit 10 h controls the operation (for example, operation (flow), stop, variable flow rate, etc.) of the bonding agent flow unit 9.
  • the bonding agent movement control unit 10 i controls the operation (for example, operation (movement), stop, position, speed, etc.) of the bonding agent movement unit 11.
  • the substrate transfer control unit 10j controls the operation (for example, operation (movement), stop, position, speed, etc.) of the substrate transfer unit 13.
  • the substrate holding control unit 10k controls the operation (for example, operation (holding (chuck)), release, etc.) of the substrate holding unit 14.
  • the substrate movement control unit 10m controls the operation (for example, operation (movement), stop, position, speed, etc.) of the substrate movement unit 15.
  • the component holding control unit 10n controls the operation (for example, operation (holding (chuck)), release, etc.) of the component holding unit 16.
  • the component movement control unit 10p controls the operation (for example, operation (movement), stop, position, speed, etc.) of the component movement unit 17.
  • the board conveyance unit 13 controlled by the board conveyance control unit 10j carries (carrys) the circuit board 30 into the component mounting apparatus 1 (for example, a place where the component 40 is mounted) (step S1). ).
  • the substrate holding unit 14 controlled by the substrate holding control unit 10k holds the circuit board 30 (step S2).
  • the substrate movement control unit 10m controlled by the substrate moving unit 15 moves the circuit board 30 to a position where the auxiliary agent is applied by the auxiliary agent application control unit 10f.
  • the auxiliary agent application unit 7 controlled by the auxiliary agent application control unit 10f applies (sprays) the auxiliary agent to the circuit board 30 (for example, the through hole 33 and the electrode) (step S3).
  • the substrate moving unit 15 controlled by the substrate movement control unit 10m moves the circuit board 30 to the mounting position (mounting standby position) of the component 40 (step S4).
  • the bonding agent moving unit 11 controlled by the bonding agent movement control unit 10i moves the bonding agent holding unit 12 to the mounting processing standby position of the component 40 (step S5, FIG. 6).
  • the mounting process standby position P11 is a position that is spaced apart from the mounting process position P12 (see FIG. 7) where the mounting process is performed in the thickness direction of the circuit board 30 (downward as an example in the present embodiment).
  • a state in which the mounting process is performed on the circuit board 30 by movement toward the circuit board 30 in the thickness direction of the circuit board 30, that is, a state in which the bonding agent 20 is in contact with the surface 32 of the circuit board 30 (mounting processing position P11) It is a position that can be moved to.
  • step S6 the bonding agent holding unit 12 closer to the surface 32 of the circuit board 30, and the bonding agent 20 is opened in the through hole 33 of the surface 32.
  • the region is brought into contact (step S6, FIG. 7).
  • step S6 the bonding agent holding part 12 is positioned at the mounting processing position P12.
  • step S ⁇ b> 6 the bonding agent 20 having fluidity enters the through hole 33 by intermolecular force (surface tension), the pressure of the bonding agent 20, or the like.
  • the bonding agent 20 is filled from the surface 32 side of the through hole 33 to the surface 31 side, but not to overflow to the surface 31 side.
  • the flow of the bonding agent 20 is maintained in a state where the bonding agent 20 is in contact with the surface 2 of the circuit board 30 by the movement of the bonding agent holding portion 12.
  • the temperature of the bonding agent 20 is maintained at a temperature at which fluidity is maintained. Therefore, the bonding agent 20 that has entered the through-hole 33 is heated by the bonding agent 20 that is maintained at a flowing temperature when the bonding agent holding portion 12 is in the mounting processing position P12 shown in FIG.
  • the fluid state is maintained. Furthermore, in this embodiment, as an example, as shown in FIG.
  • the ejection direction of the bonding agent 20 at the ejection port 12 c is the direction in which the through hole 33 extends (the circuit board 30. Along the thickness direction). Therefore, according to the present embodiment, as an example, the bonding agent 20 easily enters the through hole 33, and variations in the bonding agent 20 in the through hole 33 are easily suppressed.
  • the component holding unit 16 controlled by the component holding control unit 10n holds the component 40 to be mounted (step S7).
  • the component moving unit 16 controlled by the component movement control unit 10p moves the component holding unit 16, that is, the component 40, to a position where the auxiliary agent is applied by the auxiliary agent applying unit 7.
  • the auxiliary agent application unit 7 controlled by the auxiliary agent application control unit 10f applies (sprays) the auxiliary agent to the pins 42 of the component 40 (step S8).
  • step S9 the component moving unit 16 controlled by the component movement control unit 10p moves the circuit board 30 to the mounting standby position P21 of the component 40 (step S9, FIG. 8).
  • the mounting standby position P21 is a position separated from the mounting position P22 (see FIG. 9) in the thickness direction of the circuit board 30 (in this embodiment, as an example, upward), and is moved once (in this case, the circuit board 30). It is a position that can be moved to the mounting position P22 (see FIG. 9) by moving closer to the circuit board 30 in the thickness direction.
  • the component moving unit 17 controlled by the component movement control unit 10p moves the component holding unit 16, that is, the component 40, and inserts the pin 42 into the through hole 33. That is, the component 40 moves to the mounting position P22 and is mounted at a predetermined position on the circuit board 30 (step S10, FIG. 9).
  • the pin 42 is inserted into the through hole 33 filled with the bonding agent 20 in step S9.
  • the bonding agent 20 enters the through hole 33 in which the pin 42 is inserted. For this reason, for example, if the pin 42 is arranged in a biased manner or is inclined in the through hole 33 to form a place where the gap between the pin 42 and the through hole 33 is narrow, the bonding agent 20 is difficult to enter.
  • the pin 42 is inserted into the through hole 33 in which the bonding agent 20 is in a fluid state (soft state) (filled without being biased).
  • a fluid state soft state
  • the bonding agent 20 enters the through-hole 33 in which the pin 42 is inserted, inconveniences such as local shortage and lack of the bonding agent 20 are less likely to occur.
  • step S11 the bonding agent moving unit 11 controlled by the bonding agent movement control unit 10 i separates the bonding agent holding unit 12 from the surface 32 of the circuit board 30.
  • the bonding agent 20 having high fluidity is separated from the surface 32, the temperature of the bonding agent 20 in the through hole 33 is lowered, and solidification is started (step S11, FIG. 10).
  • step S11 the relative positions of the substrate holder 14 holding the circuit board 30 and the component holder 16 holding the component 40 remain the same as in step S10 (FIG. 9). Maintained.
  • step S13 when there is a next component 40 to be mounted on the circuit board 30 by the component mounting apparatus 1 (Yes in step S13), the process returns to step S5.
  • the substrate transport unit 13 controlled by the substrate transport control unit 10j carries out (transports) the circuit board 30 to the outside of the component mounting apparatus 1 (step S14).
  • the bonding agent holding portion 12 is also used for mounting the next component 40 (another component 40). Note that the bonding agent holding portion 12 may be provided in each of the plurality of components 40. In that case, the processing time tends to be shorter. In addition, each said step can be implemented in parallel suitably.
  • the bonding agent moving part 11 is an example of the first moving part
  • the component moving part 17 is the second moving part. It is an example.
  • different parts can be used as the first moving part and the second moving part.
  • the bonding agent moving part 11 is not moved in the thickness direction of the circuit board 30
  • the board moving part 15 and the component moving part 16 are examples of the first moving part.
  • the bonding agent 20 is brought into contact with the surface 32 side of the circuit board 30 of the through hole 33, and the bonding agent 20 enters the through hole 33, and the surface 31 side.
  • the bonding agent 20 is separated from the surface 32 in a state where the pin 42 is passed through the through hole 33 and the pin 42 is passed through the through hole 33. Therefore, according to the present embodiment, as an example, variation in the distribution of the bonding agent 20 in the through hole 33 is easily suppressed. Therefore, as an example, individual variations in the bonding strength of the pin 42 or the component 40 due to the bonding agent 20 are easily suppressed.
  • the pin 42 of the component 40 can be bonded to the electrode of the circuit board 30 while the component 40 is mounted, the space occupied by the component mounting apparatus 1 can be further reduced. And the time required for implementation may be shortened.
  • the bonding agent 20 comes into contact with a part of the surface 32.
  • the bonding agent 20 is retained. That is, according to this embodiment, as an example, a so-called spot flow of the bonding agent 20 is formed. Therefore, as an example, it is easy to suppress the influence of the heat of the bonding agent 20 over a wider range of the circuit board 30.
  • the bonding agent 20 is held in a state of contacting all the pins 42 included in the component 40. Therefore, the bonding of the pins 42 of the component 40 to the electrodes (not shown) of the circuit board 30 can be completed at a time.
  • the bonding agent holding unit 12 forms a region 20 a that rises and flows of the bonding agent 20, and the surface 32 of the circuit board 30 contacts the region 20 a that rises and flows. Therefore, it is easy to make the bonding agent 20 act on the surface 32 more easily or more reliably locally.
  • the mounting of the plurality of components 40 on the circuit board 30 is sequentially performed, and the bonding agent holding unit 12 is shared by the mounting of the plurality of components 40 on the circuit board 30. Therefore, according to the present embodiment, as an example, the component mounting apparatus 1 can have a simpler configuration.
  • the component mounting apparatus 1 includes an air adjusting unit 5 and a temperature adjusting unit 6 (cooling unit) for cooling the component 40. Therefore, according to this embodiment, as an example, it is easy to suppress the occurrence of inconvenience due to the component 40 being heated (overheated). In addition, when the component 40 is mounted on the circuit board 30 on which another component 50 is mounted by the reflow method, the other component 50 is hardly affected by heat.
  • the air adjustment part 5 adjusts the air on the opposite side (surface 31 side) of the bonding agent holding part 12 of the circuit board 30 as an example. In this case, as an example, a decrease in the temperature of the bonding agent 20 of the bonding agent holding unit 12 is easily suppressed.
  • the component mounting apparatus 1 includes the auxiliary agent applying unit 7 that applies the auxiliary agent to the inner surface of the pin 42 or the through hole 33. Therefore, according to the present embodiment, as an example, the occurrence of bonding failure due to the bonding agent 20 is more easily suppressed.
  • the component mounting apparatus 1 mounts the component 40 on the circuit board 30 on which another component 50 is surface-mounted by the reflow method using the component mounting apparatus 60. Therefore, according to the present embodiment, as an example, the body 41 of the component 40 is easily made of a material having lower heat resistance because the component 40 is not mounted by a reflow method (pin-in paste method) that becomes a higher temperature environment.

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
  • Molten Solder (AREA)

Abstract

 実施形態にかかる部品接合装置は、一例として、接合剤保持部と、基板保持部と、部品保持部と、第一の移動部と、第二の移動部と、備える。第二の移動部は、基板保持部および部品保持部のうち少なくともいずれか一方を動かして回路基板と部品との相対的な位置を変更可能である。第一の移動部が、第二の面の少なくとも貫通孔が開口された領域に接合剤を接触させる。接合剤が第二の面側に接触された状態で、第二の移動部が、第一の面側からピンを貫通孔に通す。ピンが貫通孔に通された状態で、第一の移動部が、第二の面から接合剤を離間させる。

Description

部品実装装置、部品実装システム、および部品実装方法
 本発明の実施形態は、部品実装装置、部品実装システム、および部品実装方法に関する。
 従来、流動性を有した状態のはんだの噴流を回路基板の部品の裏側に作用させてはんだ付けを行うフローはんだ付け装置が知られている。
特開2009-43956号公報
 この種の装置では、一例としては、接合強度のばらつき等の不都合が少ないことが望ましい。
 そこで、本発明の実施形態は、一例として、より不都合が少ない新しい手順で処理を行う部品実装装置、部品実装システム、および部品実装方法を得ることを目的の一つとする。
 実施形態にかかる部品接合装置は、一例として、接合剤保持部と、基板保持部と、部品保持部と、第一の移動部と、第二の移動部と、備える。接合剤保持部は、流動性を有しかつ露出された状態に接合剤を保持する。基板保持部は、第一の面とこの反対側の第二の面とを有し第一の面と第二の面とを貫通した貫通孔が設けられた回路基板を、着脱可能に保持する。部品保持部は、貫通孔を通るピンを有し第一の面側に実装される部品を、着脱可能に保持する。第一の移動部は、接合剤保持部および基板保持部のうち少なくともいずれか一方を動かして接合剤の露出された部分と回路基板との相対的な位置を変更可能である。第二の移動部は、基板保持部および部品保持部のうち少なくともいずれか一方を動かして回路基板と部品との相対的な位置を変更可能である。第一の移動部が、第二の面の少なくとも貫通孔が開口された領域に接合剤を接触させる。接合剤が第二の面側に接触された状態で、第二の移動部が、第一の面側からピンを貫通孔に通す。ピンが貫通孔に通された状態で、第一の移動部が、第二の面から接合剤を離間させる。
図1は、実施形態にかかる部品実装システムの一例の模式図である。 図2は、実施形態にかかる部品実装システムの一例で処理される回路基板(基板アセンブリ)の一例が示された模式図である。 図3は、実施形態にかかる部品実装装置の一例の概略構成図である。 図4は、実施形態にかかる部品実装装置の一例の制御部の概略構成図(機能ブロック図)である。 図5は、実施形態にかかる部品実装装置による処理手順の一例が示されたフローチャートである。 図6は、実施形態にかかる部品実装装置の一例の一部の模式図であって、回路基板と接合剤とが接触する前の状態が示された図である。 図7は、実施形態にかかる部品実装装置の一例の一部の模式図であって、回路基板と接合剤とが接触した状態が示された図である。 図8は、実施形態にかかる部品実装装置の一例の一部の模式図であって、部品が装着される前の状態が示された図である。 図9は、実施形態にかかる部品実装装置の一例の一部の模式図であって、部品が装着された状態が示された図である。 図10は、実施形態にかかる部品実装装置の一例の一部の模式図であって、部品が装着された後、接合剤が離間された状態が示された図である。 図11は、実施形態にかかる部品実装装置の一例の一部の模式図であって、接合剤が離間された後、部品保持部が離間された状態が示された図である。
<実施形態>
 本実施形態では、一例として、回路基板30(図2参照)に部品40,50(電子部品、電気部品、パッケージ、素子、図2参照)を実装する部品実装システム100は、図1に示されるように、表面実装技術(リフロー方式)で部品50(別の部品、表面実装部品)を実装する部品実装装置60と、ピン挿入方式で部品40を実装する部品実装装置1と、を備えている。部品実装装置60では、回路基板30の面31または面32に印刷等で接合剤(例えば、はんだ、クリームはんだ等)が塗布され、当該面31または面32に部品50が載置され、加熱された後に冷却されることで、部品50が回路基板30に取り付けられる。部品50に設けられた電極(図示されず)と回路基板30に設けられた電極(図示されず)とが、互いに接合され、電気的に接続される。
 部品実装装置1は、本実施形態では、一例として、図6~11に示されるように、ボディ41および当該ボディ41から突出したピン42を有した部品40を実装する。回路基板30には、貫通孔33が設けられている。貫通孔33に通されたピン42と回路基板30の電極(図示されず)とが、接合剤20(一例としては、はんだ)によって互いに接合され、電気的に接続される。部品実装装置1中の温度は、局所的には接合剤20が溶ける温度であるものの、全体としては、接合剤20が溶けない温度に維持されている。よって、部品実装装置1で回路基板30に部品40が実装される際に、部品実装装置60で実装された部品50が回路基板30から外れることは無い。部品実装装置60,1での処理により、回路基板30に部品40,50が実装された基板アセンブリ70(図2参照)が得られる。
 本実施形態では、一例として、図3に示されるように、部品実装装置1は、制御部10や、接合剤温度センサ2、位置センサ3、温度センサ4、空気調節部5、温度調節部6、補助剤塗布部7、接合剤温度調節部8、接合剤流動部9、接合剤移動部11、接合剤保持部12、基板搬送部13、基板保持部14、基板移動部15、部品保持部16、部品移動部17等を備えている。
 制御部10(制御装置、部品実装制御装置、制御ユニット)は、演算処理を実行し、部品実装装置1の各部を制御する。
 接合剤温度センサ2は、接合剤20(図6~11参照)の温度を測定する。接合剤温度センサ2は、例えば、熱電対や温度センサIC(integrated circuit)等として構成することができる。また、接合剤温度センサ2は、一例としては、接合剤保持部12で流動する状態で維持されている接合剤20の温度を測定する。また、接合剤温度センサ2は、接合剤20の温度を直接測定してもよいし、接合剤20の温度に対応した温度(一例としては、接合剤20を収容した接合剤保持部12の温度)を測定してもよい。
 位置センサ3は、回路基板30(図2参照)や、部品40、部品保持部16等の位置を検出する。位置センサ3は、一例としては、カメラ(撮像部)として構成することができる。また、位置センサ3は、一例としては、回路基板30に設けられた複数のマーカ34を含む画像を撮像する。
 温度センサ4は、部品実装装置1内の温度(一例としては、回路基板30の周囲の温度、回路基板30の面31側の温度)を測定する。温度センサ4は、例えば、熱電対や温度センサIC(integrated circuit)等として構成することができる。
 空気調節部5は、部品実装装置1内の雰囲気(空気)の温度を調節する。空気調節部5は、一例としては、冷却部や、送風部(ファン)等を有する。空気調節部5は、部品40を冷却する冷却部の一例である。
 温度調節部6は、部品実装装置1内の部位(一例としては、部品保持部16)の温度を調節する。温度調節部6は、冷却部(一例としては、ペルティエ素子)を有する。温度調節部6は、部品40を冷却する冷却部の一例である。
 補助剤塗布部7は、回路基板30の貫通孔33の内面あるいは部品40のピン42に、接合の補助剤(一例としては、フラックス)を塗布する。補助剤塗布部7は、一例としては、液状の補助剤を噴霧するスプレーを有する。
 接合剤温度調節部8は、接合剤20の温度を調節する。接合剤温度調節部8は、一例としては、加熱部(一例としては、電熱線)を有する。
 接合剤流動部9は、加熱されて流動する状態に接合剤20を流動させる。接合剤流動部9は、ポンプ(一例としては、渦巻ポンプ)や、モータ等を有する。
 接合剤移動部11は、流動する状態の接合剤20の位置を変化させる。接合剤移動部11は、一例としては、接合剤保持部12を移動する。接合剤移動部11は、例えば、レールや、スライダ、アーム、アクチュエータ等(図示されず)を有する。また、接合剤移動部11は、接合剤20の位置を3次元で変化させることができる。接合剤移動部11は、第一の移動部の一例であることができる。
 接合剤保持部12(接合剤作用部、接合剤噴流形成部、接合剤オーバーフロー形成部、接合剤噴出部、接合剤吐出部、接合剤ノズル、接合剤槽)は、流動性を有しかつ露出された状態に接合剤20を保持する。本実施形態では、一例として、図6~11に示されるように、接合剤保持部12は、接合剤20を収容する槽12aと、上方へ接合剤20を噴出する(接合剤20の噴流を形成する)噴出部12bと、を有する。噴出部12bには噴出口12c(開口部)が設けられ、槽12aには、噴出された接合剤20を回収する回収口12d(開口部)が設けられる。これにより、噴出口12cの外側(上側)には、接合剤20が盛り上がって流れる領域20a(あふれる領域、オーバーフロー領域)が形成される。
 基板搬送部13は、回路基板30を部品実装装置1の中(一例としては、部品40の実装が行われる場所)へ搬入するとともに、回路基板30を部品実装装置1の外へ搬出する。基板搬送部13は、例えば、レールや、スライダ、アーム、アクチュエータ等(図示されず)を有する。
 基板保持部14は、回路基板30を保持する。本実施形態では、一例として、図6~11に示されるように、基板保持部14は、回路基板30の両側の端部30aのそれぞれを、面31側および面32側から挟んでいる(チャックしている)。
 基板移動部15は、部品実装装置1の中での回路基板30の位置を変化させる。基板移動部15は、一例としては、基板保持部14を移動する。基板移動部15は、例えば、レールや、スライダ、アーム、アクチュエータ等(図示されず)を有する。また、基板移動部15は、回路基板30の位置を3次元で変化させることができる。基板移動部15は、第一の移動部ならびに第二の移動部の一例であることができる。
 部品保持部16は、部品40を保持する。本実施形態では、一例として、図8~11に示されるように、部品保持部16は、部品40のピン42とは反対側の面40aを吸着する。あるいは、部品保持部16は、複数のアーム等で部品40を挟む(保持する、支持する、掴む)ことができる。
 部品移動部17は、部品40の位置を変化させる。部品移動部17は、一例としては、部品保持部16を移動する。部品移動部17は、例えば、レールや、スライダ、アーム、アクチュエータ等(図示されず)を有する。また、部品移動部17は、部品40の位置を3次元で変化させることができる。部品移動部17は、第一の移動部ならびに第二の移動部の一例であることができる。
 回路基板30(図2,6~11参照)は、板状のリジッド基板である。回路基板30は、面31(第一の面)と、この反対側の面32(第二の面)と、を有する。また、回路基板30には、面31と面32とを貫通し部品40のピン42が通される貫通孔33が設けられている。また、回路基板30は、絶縁体部(図示されず)と、導体部(導体パターン、配線パターン、図示されず)と、を有している。
 また、本実施形態では、一例として、図4に示されるように、制御部10は、主制御部10aや、位置検出部10b、温度検出部10c、空調制御部10d、温度制御部10e、補助剤塗布制御部10f、接合剤温度制御部10g、接合剤流動制御部10h、接合剤移動制御部10i、基板搬送制御部10j、基板保持制御部10k、基板移動制御部10m、部品保持制御部10n、部品移動制御部10p等を有している。これら各部は、主制御部10aとともにCPU(central processing unit)に含まれるか、あるいはCPUとは別のコントローラとして構成されることができる。また、プログラムにしたがって演算処理を実行するCPUが、これらの一部として機能することができる。
 主制御部10aは、読み出されたプログラムにしたがって演算処理を実行する。演算処理で用いられるデータや、演算処理結果のデータ等は、記憶部(図示されず)に記憶される。また、プログラムは、不揮発性の記憶部(図示されず)に記憶される(インストールされる)。
 位置検出部10bは、位置センサ3が取得したデータ(本実施形態では、一例として画像データ)から、回路基板30や、部品40、部品保持部16等の位置データを取得する。また、温度検出部10cは、温度センサ4の測定結果から、部品実装装置1内の温度データを取得する。
 空調制御部10dは、温度検出部10cが取得した温度データに基づいて空気調節部5を制御する。本実施形態では、一例として、空調制御部10dは、部品実装装置1内の温度が所定範囲内となるように、空気調節部5の動作(例えば、稼働や、停止、冷却強度等)を制御する。
 温度制御部10eは、温度調節部6を制御する。本実施形態では、一例として、温度制御部10eは、部品実装装置1内の部位(一例としては、部品保持部16)の温度が所定範囲内となるように、温度調節部6の動作(例えば、稼働や、停止、冷却強度等)を制御する。
 補助剤塗布制御部10fは、補助剤塗布部7の動作(例えば、稼働(塗布(噴霧))や、停止、塗布(噴霧)量の可変、塗布(噴霧)方向の可変等)を制御する。
 接合剤温度制御部10gは、接合剤温度調節部8を制御する。本実施形態では、一例として、接合剤温度制御部10gは、接合剤20の温度が所定範囲内となるように、接合剤温度調節部8の動作(例えば、稼働や、停止、加熱強度等)を制御する。また、接合剤流動制御部10hは、接合剤流動部9の動作(例えば、稼働(流動)や、停止、流量の可変等)を制御する。また、接合剤移動制御部10iは、接合剤移動部11の動作(例えば、稼働(移動)や、停止、位置、速度等)を制御する。
 基板搬送制御部10jは、基板搬送部13の動作(例えば、稼働(移動)や、停止、位置、速度等)を制御する。また、基板保持制御部10kは、基板保持部14の動作(例えば、稼働(保持(チャック))や、解放等)を制御する。また、基板移動制御部10mは、基板移動部15の動作(例えば、稼働(移動)や、停止、位置、速度等)を制御する。
 部品保持制御部10nは、部品保持部16の動作(例えば、稼働(保持(チャック))や、解放等)を制御する。また、部品移動制御部10pは、部品移動部17の動作(例えば、稼働(移動)や、停止、位置、速度等)を制御する。
 ここで、図5~11を参照して、本実施形態にかかる部品実装装置1による部品40の実装の手順(方法)の一例が説明される。
 まず、基板搬送制御部10jによって制御された基板搬送部13は、回路基板30を部品実装装置1の中(一例としては、部品40の実装が行われる場所)へ搬入(搬送)する(ステップS1)。
 次に、基板保持制御部10kによって制御された基板保持部14は、回路基板30を保持する(ステップS2)。
 次に、基板移動部15によって制御された基板移動制御部10mは、回路基板30を補助剤塗布制御部10fによって補助剤が塗布される位置へ移動する。そして、補助剤塗布制御部10fによって制御された補助剤塗布部7は、回路基板30(例えば、貫通孔33や電極等)に、補助剤を塗布(噴霧)する(ステップS3)。
 次に、基板移動制御部10mによって制御された基板移動部15は、回路基板30を部品40の実装位置(実装待機位置)へ移動する(ステップS4)。
 次に、接合剤移動制御部10iによって制御された接合剤移動部11は、接合剤保持部12を部品40の実装処理待機位置へ移動する(ステップS5、図6)。実装処理待機位置P11は、実装処理が行われる実装処理位置P12(図7参照)から回路基板30の厚さ方向(本実施形態では、一例として下方)に離間した位置であり、一度の移動(この場合は回路基板30の厚さ方向へ回路基板30に近付く移動)によって回路基板30に対する実装処理が行われる状態すなわち回路基板30の面32に接合剤20が接触した状態(実装処理位置P11)に移動できる位置である。
 次に、接合剤移動制御部10iによって制御された接合剤移動部11は、接合剤保持部12を回路基板30の面32に近づけて、接合剤20を面32の貫通孔33が開口された領域に接触させる(ステップS6、図7)。ステップS6で、接合剤保持部12は、実装処理位置P12に位置される。このステップS6では、流動性を有した接合剤20が、分子間力(表面張力)や接合剤20の圧力等によって、貫通孔33内に進入する。本実施形態では、一例として、接合剤20は、貫通孔33の面32側から面31側に至るまで、ただし、面31側へあふれないように充填される。また、本実施形態では、一例として、図7に示されるように、接合剤保持部12の移動によって接合剤20が回路基板30の面2に接触した状態で、接合剤20の流動は維持される。接合剤20の温度は、流動性が保たれる温度に維持される。よって、貫通孔33内に進入した接合剤20は、接合剤保持部12が図7に示される実装処理位置P12にある状態では、流動する温度に保たれている接合剤20によって加熱されるため、流動性を有した状態が維持される。さらに、本実施形態では、一例として、図7に示されるように、噴出口12cでの接合剤20の噴出方向(噴出口12cの開放方向)が、貫通孔33の延びた方向(回路基板30の厚さ方向)に沿っている。よって、本実施形態によれば、一例としては、貫通孔33内に接合剤20が進入しやすい上、貫通孔33内での接合剤20のばらつきが抑制されやすい。
 次に、部品保持制御部10nによって制御された部品保持部16は、実装する部品40を保持する(ステップS7)。
 次に、部品移動制御部10pによって制御された部品移動部16は、部品保持部16すなわち部品40を補助剤塗布部7によって補助剤が塗布される位置へ移動する。そして、補助剤塗布制御部10fによって制御された補助剤塗布部7は、部品40のピン42に補助剤を塗布(噴霧)する(ステップS8)。
 次に、部品移動制御部10pによって制御された部品移動部16は、回路基板30を部品40の実装待機位置P21へ移動する(ステップS9、図8)。ステップS9の状態の一例が、図8に示されている。実装待機位置P21は、実装位置P22(図9参照)から回路基板30の厚さ方向(本実施形態では、一例として上方)に離間した位置であり、一度の移動(この場合は回路基板30の厚さ方向へ回路基板30に近付く移動)によって実装位置P22(図9参照)に移動できる位置である。
 次に、部品移動制御部10pによって制御された部品移動部17は、部品保持部16すなわち部品40を動かして、ピン42を貫通孔33に挿入する。すなわち、部品40が実装位置P22へ移動し、回路基板30の所定の位置に装着される(ステップS10、図9)。ステップS10では、ステップS9によって接合剤20が充填された貫通孔33に、ピン42が挿入される。従来のフロー工法では、ピン42が挿入された貫通孔33に接合剤20が進入する。このため、例えばピン42が貫通孔33の中で偏って配置されたり傾いて配置されたりしてピン42と貫通孔33との隙間が狭い場所が形成されると、接合剤20が進入しにくくなる虞があった。これに対し、本実施形態にかかる方法では、接合剤20が流動性を有した状態(柔軟な状態)で入っている(偏らずに満たされた)貫通孔33にピン42が挿入されるため、ピン42が挿入された貫通孔33に接合剤20が進入する場合に比べて、接合剤20の局所的な不足や欠如等の不都合が生じ難い。
 次に、接合剤移動制御部10iによって制御された接合剤移動部11は、接合剤保持部12を回路基板30の面32から離間させる。これにより、流動性を有する温度が高い接合剤20が面32から離間するため、貫通孔33に入っている接合剤20の温度が低下し、固化が開始される(ステップS11、図10)。図10からわかるように、ステップS11では、回路基板30を保持する基板保持部14と部品40を保持する部品保持部16との相対的な位置は、ステップS10(図9)での状態のまま維持される。
 そして、接合剤20が固化するのに十分な時間(部品保持部16による部品40の保持を解除しても部品40が倒れたり抜けたりする等の不都合が生じない時間)が経過した時点で、部品保持制御部10nによって制御される部品保持部16は、部品40の保持を解除する(ステップS12、図11)。
 ここで、部品実装装置1によって回路基板30に実装する次の部品40がある場合は(ステップS13でYes)、ステップS5へ戻る。次の部品40が無い場合は(ステップS13でNo)、基板搬送制御部10jによって制御された基板搬送部13は、回路基板30を部品実装装置1の外へ搬出(搬送)する(ステップS14)。次の部品40(別の部品40)の実装でも、接合剤保持部12が使用される。なお、複数の部品40のそれぞれに接合剤保持部12が設けられてもよい。その場合には、処理時間がより短くなりやすい。なお、上記各ステップは、適宜並行して実施することができる。
 図6~11の例では、回路基板30の厚さ方向での各部の移動については、接合剤移動部11が第一の移動部の一例であり、部品移動部17が第二の移動部の一例である。ただし、ステップS1~ステップS14で行われる各部の移動については、別の部分を第一の移動部および第二の移動部とすることができる。例えば、接合剤移動部11を回路基板30の厚さ方向に動かさない場合、基板移動部15ならびに部品移動部16が第一の移動部の一例となる。
 以上、説明したように、本実施形態では、一例として、接合剤20が貫通孔33の回路基板30の面32側に接触され、貫通孔33に接合剤20が進入した状態で、面31側からピン42が貫通孔33に通され、当該ピン42が前記貫通孔33に通された状態で、接合剤20が面32から離間される。よって、本実施形態によれば、一例としては、貫通孔33内での接合剤20の分布のばらつきが抑制されやすい。よって、一例としては、接合剤20によるピン42あるいは部品40の接合強度の個体ばらつきが抑制されやすい。また、本実施形態によれば、一例としては、部品40をマウントしながら部品40のピン42を回路基板30の電極に接合することができるため、部品実装装置1の占有スペースをより小さくできる場合があるとともに、実装に要する時間が短縮される場合がある。
 また、本実施形態では、一例として、図8,9に示されるように、部品40のピン42が貫通孔33に通された際に、接合剤20が面32の一部に接触する状態に、接合剤20が保持される。すなわち、本実施形態によれば、一例としては、接合剤20の所謂スポットフローが形成される。よって、一例としては、接合剤20の熱による影響が回路基板30のより広い範囲に及ぶのが抑制されやすい。また、本実施形態では、一例として、部品40のピン42が貫通孔33に通された際に、当該部品40が有した全てのピン42に接触する状態に、接合剤20が保持される。よって、当該部品40のピン42の回路基板30の電極(図示されず)との接合を、一度に終わらせることができる。
 また、本実施形態では、一例として、接合剤保持部12では、接合剤20の盛り上がって流れる領域20aが形成され、回路基板30の面32には、当該盛り上がって流れる領域20aが接触される。よって、接合剤20を面32に局所的により容易にあるいはより確実に作用させやすい。
 また、本実施形態では、一例として、回路基板30に複数の部品40の実装が順次行われ、接合剤保持部12が、複数の部品40の回路基板30への実装で共用される。よって、本実施形態によれば、一例としては、部品実装装置1をより簡素な構成とすることができる。
 また、本実施形態では、一例として、部品実装装置1は、部品40を冷却する空気調節部5や温度調節部6等(冷却部)を備える。よって、本実施形態によれば、一例としては、部品40が加熱(過熱)されることによる不都合が生じるのが抑制されやすい。また、リフロー方式で別の部品50が実装された回路基板30に部品40が実装される場合に、当該別の部品50に熱の影響が及びにくい。なお、空気調節部5は、一例として、回路基板30の接合剤保持部12とは反対側(面31側)の空気の調節を行う。この場合、一例としては、接合剤保持部12の接合剤20の温度が低下するのが抑制されやすい。
 また、本実施形態では、一例として、部品実装装置1は、ピン42または貫通孔33の内面に補助剤を塗布する補助剤塗布部7を備えた。よって、本実施形態によれば、一例としては、接合剤20による接合不良が生じるのがより一層抑制されやすい。
 また、本実施形態では、一例として、部品実装装置1は、部品実装装置60でリフロー方式によって別の部品50が表面実装された回路基板30に、部品40を実装する。よって、本実施形態によれば、一例としては、部品40をより高温環境となるリフロー方式(ピンインペースト方式)で実装しない分、部品40のボディ41がより耐熱性の低い材料で構成されやすい。
 以上、本発明の実施形態および変形例を例示したが、上記実施形態および変形例はあくまで一例であって、発明の範囲を限定することは意図していない。上記実施形態および変形例は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、組み合わせ、変更を行うことができる。上記実施形態および変形例は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。また上記実施形態と変形例との間で、構成要素を部分的に置き換えることも可能である。また、各構成要素のスペック(構造や、種類、方向、形状、大きさ、長さ、幅、厚さ、高さ、数、配置、位置、材質等)は、適宜に変更して実施することができる。

Claims (9)

  1.  流動性を有しかつ露出された状態に接合剤を保持する接合剤保持部と、
     第一の面とこの反対側の第二の面とを有し前記第一の面と前記第二の面とを貫通した貫通孔が設けられた回路基板を、着脱可能に保持する基板保持部と、
     前記貫通孔を通るピンを有し前記第一の面側に実装される部品を、着脱可能に保持する部品保持部と、
     前記接合剤保持部および前記基板保持部のうち少なくともいずれか一方を動かして前記接合剤の露出された部分と前記回路基板との相対的な位置を変更可能な第一の移動部と、
     前記基板保持部および前記部品保持部のうち少なくともいずれか一方を動かして前記回路基板と前記部品との相対的な位置を変更可能な第二の移動部と、
    を備え、
     前記第一の移動部が、前記第二の面の少なくとも前記貫通孔が開口された領域に前記接合剤を接触させ、
     前記接合剤が前記第二の面側に接触された状態で、前記第二の移動部が、前記第一の面側から前記ピンを前記貫通孔に通し、
     前記ピンが前記貫通孔に通された状態で、前記第一の移動部が、前記第二の面から前記接合剤を離間させる、部品実装装置。
  2.  前記接合剤保持部は、前記部品の前記ピンが前記貫通孔に通された際に前記接合剤が前記第二の面の一部に接触するとともに当該部品が有した全ての前記ピンに接触する状態に、前記接合剤を保持する、請求項1に記載の部品実装装置。
  3.  前記接合剤保持部は、盛り上がって流れる領域が形成された状態に前記接合剤を保持し、
     前記第一の移動部は、前記第二の面に前記盛り上がった領域を接触させる、請求項1に記載の部品実装装置。
  4.  前記回路基板に複数の前記部品の実装を順次行い、
     前記接合剤保持部を、前記複数の部品の前記回路基板への実装で共用する、請求項1に記載の部品実装装置。
  5.  前記部品を冷却する冷却部を備えた、請求項1に記載の部品実装装置。
  6.  前記ピンまたは前記貫通孔の内面に補助剤を塗布する補助剤塗布部を備えた、請求項1に記載の部品実装装置。
  7.  リフロー方式で別の部品が表面実装された前記回路基板に、前記部品を実装する、請求項1~6のうちいずれか一つに記載の部品実装装置。
  8.  請求項7に記載の部品実装装置と、リフロー方式で前記別の部品を実装する別の部品実装装置と、を備えた、部品実装システム。
  9.  流動性を有しかつ露出された状態に接合剤を保持する接合剤保持部と、第一の面とこの反対側の第二の面とを有し前記第一の面と前記第二の面とを貫通した貫通孔が設けられた回路基板を着脱可能に保持する基板保持部と、前記貫通孔を通るピンを有し前記第一の面側に実装される部品を着脱可能に保持する部品保持部と、前記接合剤保持部および前記基板保持部のうち少なくともいずれか一方を動かして前記接合剤の露出された部分と前記回路基板との相対的な位置を変更可能な第一の移動部と、前記基板保持部および前記部品保持部のうち少なくともいずれか一方を動かして前記回路基板と前記部品との相対的な位置を変更可能な第二の移動部と、を備えた部品実装装置による部品実装方法であって、
     前記第一の移動部が、前記第二の面の少なくとも前記貫通孔が開口された領域に前記接合剤を接触させ、
     前記接合剤が前記第二の面側に接触された状態で、前記第二の移動部が、前記第一の面側から前記ピンを前記貫通孔に通し、
     前記ピンが前記貫通孔に通された状態で、前記第一の移動部が、前記第二の面から前記接合剤を離間させる、
     部品実装方法。
PCT/JP2013/058409 2012-12-28 2013-03-22 部品実装装置、部品実装システム、および部品実装方法 WO2014103370A1 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012288509A JP2014130948A (ja) 2012-12-28 2012-12-28 部品実装装置、部品実装システム、および部品実装方法
JP2012-288509 2012-12-28

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2014103370A1 true WO2014103370A1 (ja) 2014-07-03

Family

ID=51020480

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2013/058409 WO2014103370A1 (ja) 2012-12-28 2013-03-22 部品実装装置、部品実装システム、および部品実装方法

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JP2014130948A (ja)
WO (1) WO2014103370A1 (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102014223680B4 (de) * 2014-11-20 2017-03-16 Stabilo International Gmbh Aktiver Griffel mit asymmetrischen Schaltzuständen
JP6788674B2 (ja) * 2016-08-01 2020-11-25 株式会社Fuji はんだ付け装置
WO2018061207A1 (ja) * 2016-09-30 2018-04-05 富士機械製造株式会社 対基板作業機、および挿入方法

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5193825U (ja) * 1975-01-28 1976-07-28
JPH02307671A (ja) * 1989-05-24 1990-12-20 Tamura Seisakusho Co Ltd はんだ付け方法
JPH0525768U (ja) * 1991-09-13 1993-04-02 富士通テン株式会社 フラツクスのすいあがり防止構造
JP2001036226A (ja) * 1999-07-19 2001-02-09 Fujitsu Ten Ltd 半田付け装置
JP2001044612A (ja) * 1999-07-30 2001-02-16 Ideya:Kk スポット噴流半田用のノズルおよびスポット噴流半田装置、並びに噴流半田の噴流形成方法
JP2001298267A (ja) * 2000-04-14 2001-10-26 Nihon Dennetsu Keiki Co Ltd はんだ付け方法
JP2004106061A (ja) * 2003-12-17 2004-04-08 Matsushita Electric Ind Co Ltd プリント基板ユニットの製造方法ならびにはんだ付け装置
JP2010080945A (ja) * 2008-08-29 2010-04-08 Sumitomo Electric System Solutions Co Ltd 挿入実装部品の半田付け方法、挿入実装部品の半田付け構造及び電子回路基板

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5193825U (ja) * 1975-01-28 1976-07-28
JPH02307671A (ja) * 1989-05-24 1990-12-20 Tamura Seisakusho Co Ltd はんだ付け方法
JPH0525768U (ja) * 1991-09-13 1993-04-02 富士通テン株式会社 フラツクスのすいあがり防止構造
JP2001036226A (ja) * 1999-07-19 2001-02-09 Fujitsu Ten Ltd 半田付け装置
JP2001044612A (ja) * 1999-07-30 2001-02-16 Ideya:Kk スポット噴流半田用のノズルおよびスポット噴流半田装置、並びに噴流半田の噴流形成方法
JP2001298267A (ja) * 2000-04-14 2001-10-26 Nihon Dennetsu Keiki Co Ltd はんだ付け方法
JP2004106061A (ja) * 2003-12-17 2004-04-08 Matsushita Electric Ind Co Ltd プリント基板ユニットの製造方法ならびにはんだ付け装置
JP2010080945A (ja) * 2008-08-29 2010-04-08 Sumitomo Electric System Solutions Co Ltd 挿入実装部品の半田付け方法、挿入実装部品の半田付け構造及び電子回路基板

Also Published As

Publication number Publication date
JP2014130948A (ja) 2014-07-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4793187B2 (ja) 電子部品実装システムおよび電子部品実装方法
KR100979471B1 (ko) 본딩 장치 및 본딩 방법
TWI626866B (zh) 基板檢查方法、零件安裝方法及印刷基板的製造方法
JPH0215698A (ja) はんだ付着装置
WO2014103370A1 (ja) 部品実装装置、部品実装システム、および部品実装方法
CN101347056A (zh) 印刷线路板的制造方法及制造装置
JP6227992B2 (ja) 半田付け装置および方法
JP2015115427A (ja) 半田付け装置および方法
JP2021010013A (ja) はんだペーストフラックスを塗布するための方法および装置
US6734537B1 (en) Assembly process
JP4797894B2 (ja) 電子部品搭載装置および電子部品実装方法
WO2007023825A1 (en) Electronic component mounting method
JP2014112597A (ja) リフローはんだ付け方法およびリフロー炉
JP5437221B2 (ja) ボンディング装置
JP2013055296A (ja) はんだ印刷機及びはんだ付け方法
JP2006344871A (ja) リフロー半田付け方法および装置
JP4702237B2 (ja) 電子部品搭載装置および電子部品実装方法
JP2009031111A (ja) 半導体集積装置ソケットモジュール
JP4743059B2 (ja) 電子部品実装システムおよび電子部品実装方法
JP2008066625A (ja) 電子部品搭載装置および電子部品実装方法
JP6759350B2 (ja) はんだ付け装置
Krammer et al. Method for selective solder paste application for BGA rework
JP5273841B2 (ja) プローブ実装方法
WO2021111538A1 (ja) 電子部材の取外し方法及びその装置
JP5281389B2 (ja) 半田付け装置

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 13868166

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

122 Ep: pct application non-entry in european phase

Ref document number: 13868166

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1