WO2014102902A1 - 板反り検出装置、デスケーリング制御装置、パススケジュール計算装置 - Google Patents

板反り検出装置、デスケーリング制御装置、パススケジュール計算装置 Download PDF

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    • G01B21/08—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness for measuring thickness

Definitions

  • the present invention relates to a plate warpage detection device, a descaling control device, and a path schedule calculation device.
  • a plate warp detection device that detects warpage of a material to be rolled based on an image captured by a CCD camera has been proposed. According to the plate warpage detection device, it is possible to detect the warpage of the material to be rolled (see, for example, Patent Documents 1 and 2).
  • a plate warp detection device that estimates the difference in elongation between the upper and lower surfaces of the material to be rolled from the rotation speed of the upper and lower work rolls of the rolling mill and detects the warpage of the material to be rolled based on the difference in elongation has been proposed. Yes.
  • the plate warpage detection device it is possible to detect the warpage of the material to be rolled without using a device dedicated to plate warpage (see, for example, Patent Document 3).
  • This invention was made in order to solve the above-mentioned subject, and the object is to provide a board warp detection device etc. which can detect warpage of a material to be rolled, without using a dedicated device. is there.
  • the sheet warpage detection device is based on a rolling load actual value and a roll gap actual value during rolling in a rolling mill, and calculates a gauge meter plate thickness of the material to be rolled.
  • a thickness calculated by the thickness meter detected by the thickness meter disposed downstream of the rolling mill with respect to the rolling direction of the rolled material by the rolling mill and calculated by the gauge meter thickness calculation unit Based on the same point sampling data of the same thickness data editing unit edited by the same point data editing means and the gauge meter plate thickness, editing the meter plate thickness to the same point sampling data of a fixed length pitch, And a detector for detecting a warp on the front side of the material to be rolled.
  • the descaling control device in the next pass, when the sheet warpage detection device detects the warp on the front side of the material to be rolled in the halfway rolling pass when the rolling mill reciprocally rolls the material to be rolled. And a descaling control unit for stopping water injection at the warp generation unit.
  • a warp correction path adding unit for adding a light pressure-reducing path to the pass schedule.
  • FIG. 1 It is a block diagram of the board curvature detection apparatus in Embodiment 1 of this invention. It is an example of the time chart of the gauge meter plate
  • FIG. 1 is a block diagram of a plate warpage detection apparatus according to Embodiment 1 of the present invention.
  • a descaling device header 2 is provided on one side of the reversible rolling mill 1.
  • a thickness gauge 3 is provided on one side of the header 2.
  • the rolling mill 1 reciprocally rolls a material to be rolled 4 such as a thick steel plate. At this time, the rolling load actual value P and the roll gap actual value S of the rolling mill 1 are sampled at regular intervals.
  • the descaling device header 2 appropriately sprays water onto the material 4 to be rolled.
  • the thickness gauge 3 samples the thickness gauge detected thickness at a constant cycle.
  • a plate warpage detection device 5 is connected to the rolling mill 1 and the thickness gauge 3.
  • the plate warpage detection device 5 includes a gauge meter thickness calculation unit 5a, an identical point data editing unit 5b, and a warp curvature calculation unit 5c.
  • the mill elongation amount S m is calculated by the following equation (1).
  • W is the width of the material to be rolled 4.
  • D R is the roll diameter.
  • f m () is a functional expression for calculating the mill elongation amount S m .
  • the gauge meter plate thickness calculator 5a calculates the gauge meter plate thickness h GM based on the actual roll gap value S, the mill elongation Sm, and the like. Specifically, the gauge meter plate thickness h GM is calculated using the following equation (2).
  • R THML is the roll thermal expansion amount.
  • R WEAR is the amount of roll wear.
  • the same point data editing unit 5b samples the thickness gauge detected thickness every 20 msec.
  • the periodic sampling of the thickness detected by the thickness gauge is performed when the material to be rolled 4 is conveyed forwardly from the rolling mill 1 in the direction of the thickness gauge 3, and the tip of the material to be rolled 4 is directly below the thickness gauge 3. It is performed until it stops after reaching.
  • the position of the material to be rolled 4 immediately below the plate thickness meter 3 is the plate thickness sampling end position. That is, during the reverse conveyance from the thickness gauge 3 to the rolling mill 1 while the conveyance of the material to be rolled 4 is stopped, the periodic thickness sampling of the thickness gauge detected thickness is not performed.
  • the same point data editing unit 5b edits the periodic sampling data of the thickness meter detected thickness into sampling data every 50 mm from the tip of the plate based on the actual table speed value immediately below the thickness meter 3.
  • the same point data editing unit 5b edits the gauge meter plate thickness calculated by the gauge meter plate thickness calculating unit 5a into sampling data having the same constant length pitch as the plate thickness gauge detected thickness. .
  • the warp curvature calculation unit 5c detects a warp as a detection unit based on the same point sampling data of the thickness meter detected thickness and the gauge meter plate thickness edited by the same point data editing unit 5b. Specifically, the curvature radius, the warp height, and the warp length for each same point are calculated.
  • FIGS. 2 and 3 are time chart examples of gauge meter plate thickness and plate thickness gauge detection thickness used in the plate warpage detection apparatus according to Embodiment 1 of the present invention.
  • the horizontal axis in FIG. 2 and FIG. 3 represents time.
  • the vertical axis at the top of FIGS. 2 and 3 represents the rolling load.
  • the vertical axis in the second row from the top in FIGS. 2 and 3 represents the gauge meter plate thickness.
  • the vertical axis in the third row from the top in FIGS. 2 and 3 represents the plate thickness gauge detection thickness.
  • the vertical axis at the bottom of FIGS. 2 and 3 represents the speed of the rolling mill 1.
  • FIG. 2 shows an example when the material to be rolled 4 is not warped. As shown in FIG. 2, the gauge meter plate thickness is first sampled. Thereafter, the thickness gauge detected thickness is sampled. There is no sudden fluctuation in either sampling result.
  • FIG. 3 shows an example when the material to be rolled 4 is warped.
  • the portion corresponding to the front side of the material 4 to be rolled is surrounded by a round wavy line in the gauge meter plate thickness and the plate thickness gauge detected thickness.
  • the variation of the gauge meter plate thickness is equivalent to the case where no warpage of the material to be rolled 4 occurs.
  • the thickness gauge detected thickness fluctuates more than when the material to be rolled 4 is not warped. That is, the warp of the material to be rolled 4 appears in the variation of the thickness gauge detected thickness.
  • FIG. 4 is a side view of a material to be rolled that has been rolled into a rolling mill using the sheet warpage detection device according to Embodiment 1 of the present invention.
  • FIG. 5 is an enlarged view of a main part of FIG.
  • the detection direction of the thickness gauge detection thickness is perpendicular to the conveyance direction of the material 4 to be rolled. For this reason, in the curvature part of the to-be-rolled material 4, the value of thickness gauge detection thickness differs from the value of gauge meter plate thickness.
  • the warp curvature calculation unit 5c is based on the plate thickness detection thickness, the gauge meter plate thickness, etc. at the adjacent sampling positions, and the warp curvature radius, the warp height, and the warp length at each sampling position. Calculate In FIG. 5, reference numerals are given to two sampling positions for the sake of simplicity.
  • X 1 (mm) is a certain sampling position.
  • X 2 (mm) is a sampling position next to the sampling position X 1 .
  • ⁇ X 12 is a length between the sampling position X 1 and the sampling position X 2 .
  • H gm, 1 (mm) is a gauge meter thickness at the sampling positions X 1.
  • H gm, 2 (mm) is a gauge meter thickness in the sampling position X 2.
  • H scn, 1 (mm) is a thickness gauge detecting the thickness at the sampling positions X 1.
  • H scn, 2 (mm) is a thickness gauge detecting the thickness at the sampling position X 2.
  • warp curvature computing unit 5c the warp angle theta 1 at the sampling positions X 1 is calculated using the following equation (3).
  • the warp curvature computing unit 5c, the warp angle theta 2 in the sampling position X 2 is calculated using the following equation (4).
  • the warp curvature computing unit 5c the difference [Delta] [theta] 12 of the warp angle between the sampling positions X 1 and the sampling positions X 2 is calculated using the following equation (5).
  • the warp curvature calculating unit 5c calculates the true length [Delta] S 12 of the rolled material 4 moving between the sampling positions X 1 and the sampling positions X 2 using the following equation (6).
  • the warp curvature computing unit 5c, the radius of curvature R 1 at the sampling positions X 1 is calculated using the following equation (7).
  • the warp curvature computing unit 5c, a warp height H wrap, 1 at the sampling positions X 1 is calculated using the following equation (8).
  • the warp curvature calculation unit 5c recognizes a sampling position where the warp height of the material to be rolled 4 is equal to or less than the minimum warp recognition height.
  • the minimum recognition height is designated in advance as 20 mm.
  • the warp curvature calculation unit 5c sets the length from the tip of the material to be rolled 4 to the sampling position as the warp length.
  • FIG. 6 is a diagram for explaining the result of calculation of the warp height by the plate warp detection device according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 6 represents the distance from the tip of the material 4 to be rolled.
  • the vertical axis on the left side of FIG. 6 represents the gauge meter plate thickness and the plate thickness gauge detected thickness.
  • the vertical axis on the right side of FIG. 6 represents the warp height.
  • the gauge meter plate thickness is a substantially constant value regardless of the distance from the tip of the material 4 to be rolled.
  • the thickness gauge detected thickness becomes a larger value.
  • the thickness gauge detected thickness is substantially the same value as the gauge meter thickness.
  • the warp height of the material to be rolled 4 becomes larger as the distance from the tip of the material to be rolled 4 is shorter.
  • the warp height of the material to be rolled 4 is almost zero. That is, it can be seen that the material to be rolled 4 is not warped at a position where the distance from the tip of the material to be rolled 4 is longer than about 700 mm.
  • the curvature of the to-be-rolled material 4 is detected using the thickness meter 3 generally provided. For this reason, the curvature of the material 4 to be rolled can be detected without using a dedicated device.
  • warpage curvature of the material to be rolled 4 may be calculated for each sampling position (i) by using the data of the previous sampling position (i-1) and the next sampling position (i + 1).
  • FIG. FIG. 7 is a block diagram of a plate warpage detection apparatus according to Embodiment 2 of the present invention.
  • symbol is attached
  • An error may occur between the gauge meter plate thickness and the true plate thickness of the material 4 to be rolled. This error is called a gauge meter error.
  • a gauge meter error When there is a gauge meter error, a deviation occurs between the gauge meter plate thickness and the plate thickness meter detected thickness even in the vicinity of the steady portion of the material 4 to be rolled. Due to the deviation, the calculation accuracy of the warp curvature and the warp height of the material to be rolled 4 is lowered.
  • the gauge warpage detection device 5 of the second embodiment is provided with a gauge meter deviation correction unit 5d.
  • the gauge meter deviation correction unit 5d uses the following equation (9) to calculate the gauge meter deviation correction amount ⁇ h gm comp based on the gauge meter plate thickness and the plate thickness meter detected thickness edited by the same point data editing unit 5b. calculate.
  • h scn body (mm) is the average value of the thickness gauge detection thickness in the stationary part of the material 4 to be rolled.
  • h gm body (mm) is an average value of the gauge meter plate thickness in the steady portion of the material 4 to be rolled.
  • the steady portion of the material to be rolled 4 is defined as a range of 30% of the length of the material to be rolled 4 on the exit side of each pass at the center in the rolling direction of the material to be rolled 4.
  • the warp curvature calculator 5c of this embodiment calculates the gauge meter deviation correction amount to all the same point sampling data of the gauge meter plate thickness when calculating the warp curvature radius, warp height, and warp length of the material 4 to be rolled. Add ⁇ h gm comp .
  • the warp of the material to be rolled 4 can be detected correctly. .
  • FIG. FIG. 8 is a block diagram of a descaling control device using a plate warpage detection device according to Embodiment 3 of the present invention.
  • symbol is attached
  • the descaling control device 6 includes a control unit 6a.
  • the control unit 6a has a function of controlling water jetting of the descaling device based on the warp length of the material to be rolled 4 detected by the plate warp detection device 5.
  • FIG. 9 is a diagram for explaining a control method of the descaling apparatus by the descaling control apparatus using the plate warpage detection apparatus in the third embodiment of the present invention.
  • the plate warpage detection device 5 displays information on the warp length of the material to be rolled 4 on the descaling control device 6. Output to. In the next i + 1 pass, the warp start position is in front of the tail end of the material to be rolled 4 by the warp length.
  • the descaling control device 6 tracks the tail end of the material 4 to be rolled during the i + 1 pass rolling. In the steady part of the material 4 to be rolled, the descaling control device 6 causes the descaling device to perform descaling. With this implementation, the header 2 sprays water onto the spray contact point of the material 4 to be rolled. Thereafter, when the warpage start position of the material to be rolled 4 reaches the spray contact point, the descaling control device 6 causes the descaling device to stop water injection.
  • water is not injected onto the warped portion of the material 4 to be rolled. For this reason, it is possible to prevent local overcooling of the warped portion of the material 4 to be rolled. As a result, the temperature control of the material to be rolled 4 can be stabilized. Due to the stability, sufficient mechanical properties can be obtained in the final product.
  • the descaling stop position is determined based on the warp length of the material 4 to be rolled. For this reason, homogenization of the material to be rolled 4 can be expected rather than the operator's visual treatment.
  • FIG. 10 is a block diagram of a path schedule calculation apparatus using a plate warpage detection apparatus according to Embodiment 4 of the present invention.
  • symbol is attached
  • the path schedule calculation device 7 includes a warp correction path addition unit 7a.
  • the warp correction path adding unit 7 a has a function of adding a warp correction path to the path schedule determined by the path schedule calculation device 7 based on the warp height of the material to be rolled 4 calculated by the plate warpage detection device 5.
  • the warp correction pass is set to a pass in which the amount of reduction is sufficiently smaller than the normal reduction.
  • the warp correction pass is set to have the same roll gap as the previous actual pass.
  • the number of correction passes and each pass correction reduction amount are set according to the warp height of the material 4 to be rolled.
  • the number N of correction passes is calculated by the following equation (10).
  • each pass correction reduction amount ⁇ h is calculated by the following equation (11).
  • H wrap max (mm) is the maximum value of the warp height of the material 4 to be rolled.
  • f pss () is a function for determining the number N of correction passes based on the warp height of the material 4 to be rolled.
  • f red () is a function for determining each pass correction reduction amount ⁇ h based on the warp height of the material 4 to be rolled.
  • the fourth embodiment described above when the material to be rolled 4 is warped, a warp correction pass is added to the pass schedule after the next pass. For this reason, the curvature of the to-be-rolled material 4 can be reduced. As a result, unstable conveyance of the material 4 to be rolled can be avoided. Moreover, the collision of the to-be-rolled material 4 with peripheral facilities, such as a downstream leveler and a cooling device, can be avoided. This avoidance improves the production efficiency. At this time, the number of correction passes, each pass correction reduction amount, and the like are determined according to the height of warpage of the material to be rolled 4. As a result, the burden on the operator can be greatly reduced.
  • the warp correction pass may be set using a stratification table in which the maximum value of the warp height of the material to be rolled 4 is set as a stratification condition and the number of correction passes and each pass correction reduction amount are indexed.
  • the plate warpage detection device can be used for a rolling system that detects the warpage of a material to be rolled without using a dedicated device.

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Abstract

　専用の装置を用いることなく、被圧延材（４）の反りを検出することができる板反り検出装置（５）等を提供する。　板反り検出装置（５）は、圧延機（１）における圧延中の圧延荷重実績値とロールギャップ実績値とに基づいて、前記被圧延材（４）のゲージメータ板厚を計算するゲージメータ板厚演算部（５ａ）と、圧延方向に対して前記圧延機（１）よりも下流側に配置された板厚計（３）が検出した前記被圧延材（４）の検出厚と前記ゲージメータ板厚とを、定長ピッチの同一点サンプリングデータに編集する同一点データ編集部（５ｂ）と、前記同一点サンプリングデータに基づいて、前記被圧延材（４）の先側の反りを検出する検出部と、を備える。

Description

板反り検出装置、デスケーリング制御装置、パススケジュール計算装置
　この発明は、板反り検出装置、デスケーリング制御装置、パススケジュール計算装置に関するものである。
　ＣＣＤカメラの撮像画像に基づいて被圧延材の反りを検出する板反り検出装置が提案されている。当該板反り検出装置によれば、被圧延材の反りを検出することができる（例えば、特許文献１及び２参照）。
　しかしながら、当該板反り検出装置においては、板反り専用のＣＣＤカメラを圧延機の直近に設ける必要がある。
　これに対し、圧延機の上下作業ロールの回転速度から被圧延材の上下面の伸び差を推定し、当該伸び差に基づいて、被圧延材の反りを検出する板反り検出装置が提案されている。当該板反り検出装置によれば、板反り専用の装置を用いることなく、被圧延材の反りを検出し得る（例えば、特許文献３参照）。
日本特許第３７２４７２０号公報 日本特開２００６－７２３５号公報 日本特開２００２－９６１０３号公報
　しかしながら、被圧延材の上面と下面との変形抵抗の差等も、被圧延材の反りの原因となる。このため、上下作業ロールの回転速度の差のみでは、被圧延材の反りを検出することは困難である。
　この発明は、上述の課題を解決するためになされたもので、その目的は、専用の装置を用いることなく、被圧延材の反りを検出することができる板反り検出装置等を提供することである。
　この発明に係る板反り検出装置は、圧延機における圧延中の圧延荷重実績値とロールギャップ実績値とに基づいて、前記被圧延材のゲージメータ板厚を計算するゲージメータ板厚演算部と、前記圧延機による前記被圧延材の圧延方向に対して前記圧延機よりも下流側に配置された板厚計が検出した前記被圧延材の検出厚と前記ゲージメータ板厚演算部が計算したゲージメータ板厚とを、定長ピッチの同一点サンプリングデータに編集する同一点データ編集部と、前記同一点データ編集手段が編集した検出厚とゲージメータ板厚との同一点サンプリングデータに基づいて、前記被圧延材の先側の反りを検出する検出部と、を備えたものである。
　この発明に係るデスケーリング制御装置は、圧延機が被圧延材を往復圧延する際の途中圧延パスにおいて板反り検出装置が前記被圧延材の先側の反りを検出した場合に、次のパスにおいて、前記反りの発生部での水噴射を停止させるデスケーリング制御部、を備えたものである。
　この発明に係るパススケジュール計算装置は、圧延機が被圧延材を往復圧延する際の途中圧延パスにおいて板反り検出装置が前記被圧延材の先側の反りを検出した場合に、次のパス以降のパススケジュールに軽圧下パスを追加する反り矯正パス追加部、を備えたものである。
　この発明によれば、専用の装置を用いることなく、被圧延材の反りを検出することができる。
この発明の実施の形態１における板反り検出装置のブロック図である。 この発明の実施の形態１における板反り検出装置で利用するゲージメータ板厚と板厚計検出厚のタイムチャートの例である。 この発明の実施の形態１における板反り検出装置で利用するゲージメータ板厚と板厚計検出厚のタイムチャートの例である。 この発明の実施の形態１における板反り検出装置を利用した圧延機に圧延された被圧延材の側面図である。 図４の要部拡大図である。 この発明の実施の形態１における板反り検出装置による反り高さの計算結果を説明するための図である。 この発明の実施の形態２における板反り検出装置のブロック図である。 この発明の実施の形態３における板反り検出装置を利用したデスケーリング制御装置のブロック図である。 この発明の実施の形態３における板反り検出装置を利用したデスケーリング制御装置によるデスケーリング装置の制御方法を説明するための図である。 この発明の実施の形態４における板反り検出装置を利用したパススケジュール計算装置のブロック図である。
　この発明を実施するための形態について添付の図面に従って説明する。なお、各図中、同一又は相当する部分には同一の符号を付しており、その重複説明は適宜に簡略化ないし省略する。
実施の形態１．
　図１はこの発明の実施の形態１における板反り検出装置のブロック図である。
　図１において、可逆式の圧延機１の一側には、デスケーリング装置のヘッダ２が設けられる。ヘッダ２の一側には、板厚計３が設けられる。
　圧延機１は、厚鋼板等の被圧延材４を往復圧延する。この際、圧延機１の圧延荷重実績値Ｐとロールギャップ実績値Ｓとが定周期でサンプリングされる。デスケーリング装置のヘッダ２は、適宜、被圧延材４に対して水を噴射する。板厚計３は、板厚計検出厚を定周期でサンプリングする。
　圧延機１と板厚計３とには、板反り検出装置５が接続される。板反り検出装置５は、ゲージメータ板厚演算部５ａ、同一点データ編集部５ｂ、反り曲率演算部５ｃを備える。
　ゲージメータ板厚演算部５ａは、圧延荷重実績値Ｐ等に基づいて、ミル伸び量Ｓｍを計算する。具体的には、ミル伸び量Ｓｍは、次の（１）式で計算される。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000001
　ただし、Ｗは、被圧延材４の幅である。ＤＲは、ロール径である。ｆｍ（）は、ミル伸び量Ｓｍを計算する関数式である。
　次に、ゲージメータ板厚演算部５ａは、ロールギャップ実績値Ｓ、ミル伸び量Ｓｍ等に基づいて、ゲージメータ板厚ｈＧＭを計算する。具体的には、ゲージメータ板厚ｈＧＭは、次の（２）式を用いて計算される。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000002
　ただし、ＲＴＨＭＬは、ロール熱膨張量である。ＲＷＥＡＲは、ロール摩耗量である。
　例えば、同一点データ編集部５ｂは、２０ｍｓｅｃ毎に板厚計検出厚をサンプリングする。板厚計検出厚の定周期サンプリングは、被圧延材４が圧延機１から板厚計３の方向へ正転搬送されている際に、被圧延材４の先端が板厚計３の直下に到達してから停止するまで行われる。被圧延材４の正転搬送が停止した際、板厚計３の直下において、被圧延材４の位置は、板厚サンプリング終了位置となる。つまり、被圧延材４の搬送の停止中、板厚計３から圧延機１方向への逆転搬送中、板厚計検出厚の定周期サンプリングは行われない。
　例えば、同一点データ編集部５ｂは、板厚計３の直下のテーブル速度実績値に基づいて、板厚計検出厚の定周期サンプリングデータを板先端から５０ｍｍ毎のサンプリングデータに編集する。
　同一点データ編集部５ｂは、圧延機１の速度実績値に基づいて、ゲージメータ板厚演算部５ａが計算したゲージメータ板厚を板厚計検出厚と同一定長ピッチのサンプリングデータに編集する。
　反り曲率演算部５ｃは、検出部として、同一点データ編集部５ｂが編集した板厚計検出厚とゲージメータ板厚との同一点サンプリングデータに基づいて、反りを検出する。具体的には、同一点毎の反り曲率半径、反り高さ、反り長さが計算される。
　次に、図２と図３とを用いて、ゲージメータ板厚と板厚計検出厚とのサンプリング結果を説明する。
　図２と図３はこの発明の実施の形態１における板反り検出装置で利用するゲージメータ板厚と板厚計検出厚のタイムチャートの例である。
　図２と図３との横軸は、時間を表す。図２と図３との最上段の縦軸は、圧延荷重を表す。図２と図３との上から２段目の縦軸は、ゲージメータ板厚を表す。図２と図３との上から３段目の縦軸は、板圧計検出厚を表す。図２と図３との最下段の縦軸は、圧延機１の速度を表す。
　図２は被圧延材４の反りが発生しないときの例である。図２に示すように、まず、ゲージメータ板厚がサンプリングされる。その後、板厚計検出厚がサンプリングされる。どちらのサンプリング結果にも、急激な変動はない。
　図３は被圧延材４の反りが発生したときの例である。図３において、ゲージメータ板厚と板厚計検出厚の図中において、被圧延材４の先側に対応した箇所は、丸波線で囲まれる。図３に示すように、ゲージメータ板厚の変動は、被圧延材４の反りが発生していない場合と同等である。これに対し、板厚計検出厚は、被圧延材４の反りが発生していない場合よりも大きく変動する。すなわち、被圧延材４の反りは、板厚計検出厚の変動に表れる。
　次に、図４と図５を用いて、被圧延材４の反り曲率半径、反り高さ、反り長さの計算手順を説明する。
　図４はこの発明の実施の形態１における板反り検出装置を利用した圧延機に圧延された被圧延材の側面図である。図５は図４の要部拡大図である。
　図４に示すように、板厚計検出厚の検出方向は、被圧延材４の搬送方向に対して垂直である。このため、被圧延材４の反り部においては、板厚計検出厚の値は、ゲージメータ板厚の値と異なる。
　そこで、図５に示すように、反り曲率演算部５ｃは、隣接したサンプリング位置の板厚検出厚、ゲージメータ板厚等に基づいて、各サンプリング位置の反り曲率半径、反り高さ、反り長さを計算する。なお、図５においては、説明を簡単にするため、２点のサンプリング位置に対して符号を付す。
　Ｘ１（ｍｍ）は、あるサンプリング位置である。Ｘ２（ｍｍ）は、サンプリング位置Ｘ１の次のサンプリング位置である。ΔＸ１２は、サンプリング位置Ｘ１とサンプリング位置Ｘ２との間の長さである。
　Ｈｇｍ，１（ｍｍ）は、サンプリング位置Ｘ１におけるゲージメータ板厚である。Ｈｇｍ，２（ｍｍ）はサンプリング位置Ｘ２におけるゲージメータ板厚である。Ｈｓｃｎ，１（ｍｍ）はサンプリング位置Ｘ１における板厚計検出厚である。Ｈｓｃｎ，２（ｍｍ）は、サンプリング位置Ｘ２における板厚計検出厚である。
　まず、反り曲率演算部５ｃは、サンプリング位置Ｘ１における反り角度θ１を次の（３）式を用いて計算する。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000003
　次に、反り曲率演算部５ｃは、サンプリング位置Ｘ２における反り角度θ２を次の（４）式を用いて計算する。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000004
　次に、反り曲率演算部５ｃは、サンプリング位置Ｘ１とサンプリング位置Ｘ２との反り角度の差Δθ１２を次の（５）式を用いて計算する。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000005
　次に、反り曲率演算部５ｃは、サンプリング位置Ｘ１とサンプリング位置Ｘ２の間に移動する被圧延材４の真の長さΔＳ１２を次の（６）式を用いて計算する。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000006
　次に、反り曲率演算部５ｃは、サンプリング位置Ｘ１における曲率半径Ｒ１を次の（７）式を用いて計算する。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000007
　次に、反り曲率演算部５ｃは、サンプリング位置Ｘ１における反り高さＨｗｒａｐ，１を次の（８）式を用いて計算する。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000008
　次に、反り曲率演算部５ｃは、被圧延材４の反り高さが最少反り認識高さ以下となるサンプリング位置を認識する。例えば、最少認識高さは、２０ｍｍに予め指定される。その後、反り曲率演算部５ｃは、被圧延材４の先端から当該サンプリング位置までの長さを反り長さとする。
　次に、図６を用いて、被圧延材４の反り高さの計算結果を説明する。
図６はこの発明の実施の形態１における板反り検出装置による反り高さの計算結果を説明するための図である。
　図６の横軸は、被圧延材４先端からの距離を表す。図６の左側の縦軸は、ゲージメータ板厚、板厚計検出厚を表す。図６の右側の縦軸は、反り高さを表す。
　図６に示すように、ゲージメータ板厚は、被圧延材４先端からの距離にかかわらず、略一定の値である。これに対し、被圧延材４先端からの距離が短い位置ほど、板厚計検出厚は大きい値となる。被圧延材４先端からの距離が７００ｍｍ程度よりも長い位置においては、板厚計検出厚は、ゲージメータ板厚とほぼ同じ値となる。
　この場合、被圧延材４先端からの距離が短い位置ほど、被圧延材４の反り高さは、大きな値となる。被圧延材４先端からの距離が７００ｍｍ程度よりも長い位置においては、被圧延材４の反り高さは、ほぼ０となる。すなわち、被圧延材４先端からの距離が７００ｍｍ程度よりも長い位置においては、被圧延材４の反りが発生していないことが分かる。
　以上で説明した実施の形態１によれば、一般的に設けられている板厚計３を利用して、被圧延材４の反りが検出される。このため、専用の装置を用いることなく、被圧延材４の反りを検出することができる。
　なお、各サンプリング位置（ｉ）に対し、前回サンプリング位置（ｉ－１）と次回サンプリング位置（ｉ＋１）のデータを使って、被圧延材４の反り曲率を計算してもよい。
実施の形態２．
　図７はこの発明の実施の形態２における板反り検出装置のブロック図である。なお、実施の形態１と同一又は相当部分には同一符号を付して説明を省略する。
　ゲージメータ板厚と被圧延材４の真の板厚との間には、誤差が生じ得る。当該誤差は、ゲージメータ誤差と呼ばれる。ゲージメータ誤差がある場合、被圧延材４の定常部付近においても、ゲージメータ板厚と板厚計検出厚との間には、偏差が生じる。当該偏差により、被圧延材４の反り曲率と反り高さの計算精度が低下する。
　そこで、実施の形態２の板反り検出装置５には、ゲージメータ偏差補正部５ｄが設けられる。ゲージメータ偏差補正部５ｄは、同一点データ編集部５ｂが編集したゲージメータ板厚と板厚計検出厚とに基づいて、ゲージメータ偏差補正量Δｈｇｍ ｃｏｍｐを次の（９）式を用いて計算する。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000009
　ただし、ｈｓｃｎ ｂｏｄｙ（ｍｍ）は、被圧延材４の定常部における板厚計検出厚の平均値である。ｈｇｍ ｂｏｄｙ（ｍｍ）は、被圧延材４の定常部におけるゲージメータ板厚の平均値である。例えば、被圧延材４の定常部は、被圧延材４の圧延方向中央部における、各パス出側の被圧延材４の長さに対する３０％の長さの範囲と定義される。
　本実施の形態の反り曲率演算部５ｃは、被圧延材４の反り曲率半径、反り高さ、反り長さを計算する際にゲージメータ板厚の全ての同一点サンプリングデータにゲージメータ偏差補正量Δｈｇｍ ｃｏｍｐを加算する。
　以上で説明した実施の形態２によれば、ゲージメータ板厚と被圧延材４の真の板厚との間に誤差が生じた場合でも、被圧延材４の反りを正しく検出することができる。
実施の形態３．
　図８はこの発明の実施の形態３における板反り検出装置を利用したデスケーリング制御装置のブロック図である。なお、実施の形態２と同一又は相当部分には同一符号を付して説明を省略する。
　図８において、デスケーリング制御装置６は、制御部６ａを備える。制御部６ａは、板反り検出装置５が検出した被圧延材４の反り長さに基づいて、デスケーリング装置の水噴射を制御する機能を備える。
　次に、図９を用いて、デスケーリング装置の制御方法を説明する。
　図９はこの発明の実施の形態３における板反り検出装置を利用したデスケーリング制御装置によるデスケーリング装置の制御方法を説明するための図である。
　図９に示すように、あるパス（ｉパス）で、被圧延材４の反りが検出されると、板反り検出装置５は、被圧延材４の反り長さに関する情報をデスケーリング制御装置６に出力する。次のｉ＋１パスにおいて、反り開始位置は、被圧延材４の尾端よりも反り長さの分だけ手前となる。
　そこで、デスケーリング制御装置６は、ｉ＋１パスの圧延中において、被圧延材４の尾端をトラッキングする。被圧延材４の定常部においては、デスケーリング制御装置６は、デスケーリング装置にデスケーリングを実施させる。当該実施により、ヘッダ２は、被圧延材４のスプレー接触点に対して水を噴射する。その後、被圧延材４の反り開始位置がスプレー接触点に到達すると、デスケーリング制御装置６は、デスケーリング装置に水噴射を停止させる。
　以上で説明した実施の形態３によれば、被圧延材４の反りの発生部に対しては、水が噴射されない。このため、被圧延材４の反りの発生部に対し、局所的な過冷却を防止することができる。その結果、被圧延材４の温度制御を安定させることができる。当該安定により、最終製品で十分な機械特性を得ることができる。
　また、デスケーリングの停止位置は、被圧延材４の反り長さに基づいて決まる。このため、オペレータの目視による処置よりも被圧延材４の均質化を期待することができる。
実施の形態４．
　図１０はこの発明の実施の形態４における板反り検出装置を利用したパススケジュール計算装置のブロック図である。なお、実施の形態２と同一又は相当部分には同一符号を付して説明を省略する。
　図１０において、パススケジュール計算装置７は、反り矯正パス追加部７ａを備える。反り矯正パス追加部７ａは、板反り検出装置５が計算した被圧延材４の反り高さに基づいて、パススケジュール計算装置７が決定するパススケジュールに反り矯正パスを追加する機能を備える。
　例えば、反り矯正パスは、通常の圧下よりも十分に圧下量を小さくしたパスに設定される。例えば、反り矯正パスは、一つ前の実パスと同じロールギャップとなるように設定される。例えば、反り矯正パスにおいては、被圧延材４の反り高さに応じて、矯正パス数と各パス矯正圧下量とが設定される。
　例えば、矯正パス数Ｎは、次の（１０）式で計算される。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000010
　例えば、各パス矯正圧下量Δｈは、次の（１１）式で計算される。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000011
　ただし、Ｈｗｒａｐ ｍａｘ（ｍｍ）は、被圧延材４の反り高さの最大値である。ｆｐｓｓ（）は、被圧延材４の反り高さに基づいて矯正パス数Ｎを決定する関数である。ｆｒｅｄ（）は、被圧延材４の反り高さに基づいて各パス矯正圧下量Δｈを決定する関数である。
　以上で説明した実施の形態４によれば、被圧延材４の反りが発生した場合、次パス以降のパススケジュールに反り矯正パスが追加される。このため、被圧延材４の反りを低減することができる。その結果、不安定な被圧延材４の搬送を回避することができる。また、下流側のレベラー、冷却装置等の周辺設備への被圧延材４の衝突を回避することができる。当該回避により、生産能率が向上する。この際、矯正パス数、各パス矯正圧下量等は、被圧延材４の反りの高さに応じて決まる。その結果、オペレータの負担も大幅に低減することができる。
　なお、被圧延材４の反り高さの最大値を層別条件とし、矯正パス数と各パス矯正圧下量を索引する層別テーブルを用いて、反り矯正パスを設定してもよい。
　以上のように、この発明に係る板反り検出装置は、専用の装置を用いることなく、被圧延材の反りを検出する圧延システムに利用できる。
　１　圧延機、　２　ヘッダ、　３　板厚計、　４　被圧延材、　５　板反り検出装置、　５ａ　ゲージメータ板厚演算部、　５ｂ　同一点データ編集部、　５ｃ　反り曲率演算部、　５ｄ　ゲージメータ偏差補正部、　６　デスケーリング制御装置、　６ａ　制御部、　７　パススケジュール計算装置、　７ａ　反り矯正パス追加部

Claims (4)

  1. 　圧延機における圧延中の圧延荷重実績値とロールギャップ実績値とに基づいて、前記被圧延材のゲージメータ板厚を計算するゲージメータ板厚演算部と、
    　前記圧延機による前記被圧延材の圧延方向に対して前記圧延機よりも下流側に配置された板厚計が検出した前記被圧延材の検出厚と前記ゲージメータ板厚演算部が計算したゲージメータ板厚とを、定長ピッチの同一点サンプリングデータに編集する同一点データ編集部と、
    　前記同一点データ編集手段が編集した検出厚とゲージメータ板厚との同一点サンプリングデータに基づいて、前記被圧延材の先側の反りを検出する検出部と、
    を備えたことを特徴とする板反り検出装置。
  2. 　前記同一点データ編集手段が編集した検出厚とゲージメータ板厚との同一点サンプリングデータに基づいて、前記被圧延材の定常部の検出厚とゲージメータ板厚との平均偏差を計算する偏差補正部、
    を備え、
    　前記検出部は、前記平均偏差を用いてゲージメータ板厚を補正することを特徴とする請求項１に記載の板反り検出装置。
  3. 　前記圧延機が前記被圧延材を往復圧延する際の途中圧延パスにおいて請求項１又は請求項２に記載の板反り検出装置が前記被圧延材の先側の反りを検出した場合に、次のパスにおいて、前記反りの発生部での水噴射を停止させるデスケーリング制御部、
    を備えたことを特徴とするデスケーリング制御装置。
  4. 　前記圧延機が前記被圧延材を往復圧延する際の途中圧延パスにおいて請求項１又は請求項２に記載の板反り検出装置が前記被圧延材の先側の反りを検出した場合に、次のパス以降のパススケジュールに軽圧下パスを追加する反り矯正パス追加部、
    を備えたことを特徴とするパススケジュール計算装置。
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