WO2014077075A1 - 導通検査装置 - Google Patents

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    • G01R31/58—Testing of lines, cables or conductors

Definitions

  • the present invention relates to a continuity inspection device for electric wires such as a wire harness in which connector terminals are connected to both ends.
  • a continuity test is performed in order to detect wire disconnection, terminal connection failure, and the like.
  • the continuity test is performed by measuring the potential appearing at the corresponding terminal of the connector on the other end side of the electric wire in a state where the inspection voltage is applied to the terminal to be inspected of the connector on the one end side of the electric wire from the inspection device side. .
  • the above-described continuity inspection is performed by fitting the connector on the inspection apparatus side to one or both connectors of the electric wire.
  • the continuity is detected.
  • the terminal is deformed by repeated insertion and removal of the terminal during the inspection.
  • the contact on the inspection device side is opposed to the terminal of the connector at both ends of the electric wire in a non-contact state, and an arc is generated between one contact and the terminal on the one end side of the electric wire by the pulse voltage applied from the inspection device. It has been proposed to generate static electricity in an electric wire by generating a discharge that does not occur.
  • JP-A-7-280864 JP H07-280864 A
  • the present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to determine the electrostatic potential of an electric wire charged by applying a voltage to one probe opposed to a terminal at one end of the electric wire. Conductivity that makes it easier to leak static electricity from the wire after inspection when measuring through the other probe facing the terminal at the other end of the wire and inspecting the continuity of the wire based on the result It is to provide an inspection device.
  • a continuity inspection apparatus for inspecting a continuity state of an electric wire having a first terminal on one end side and a second terminal on the other end side.
  • a voltage is applied to the first probe, and the surface potential of the second terminal is measured through the second probe in a state where the reference electrode plate is fixed at a potential lower than the potential of the applied voltage. Based on the measurement result Inspect the continuity of the wires.
  • the surface potential of the second terminal on the other end side of the electric wire is measured through the second probe, and it is determined whether or not the electric potential corresponds to the applied voltage of the first probe, thereby inspecting the conduction state of the electric wire. be able to.
  • the electrons attracted to the reference electrode plate having a lower potential than the electrostatic potential charged in the middle portion of the electric wire are the reference electrode. It is discharged from the board into the air and moves to the middle part of the wire. Then, an electron movement path is formed from the reference electrode plate to the first probe through the intermediate portion and one end of the electric wire, and an electric current flows through the movement path in a direction opposite to the electron. Static electricity (positive charge) is leaked from the wire through the route.
  • the potential of static electricity generated at the first terminal on one end side of the wire by applying a voltage to the first probe can be measured with a surface potentiometer as an absolute potential with respect to the fixed potential of the reference electrode plate, floating between the wires Without being affected by the crosstalk due to the capacitance, the electrostatic potential of the electric wire can be accurately measured and reflected in the conduction state inspection.
  • the distance between each terminal of the electric wire and the first probe and the second probe, and the distance between the intermediate part of the electric wire and the reference electrode plate are both accompanied by the generation of an arc. To the extent that no air discharge occurs.
  • the continuity test apparatus is a continuity test apparatus for inspecting the continuity state of a plurality of electric wires each having a first terminal on one end side and a second terminal on the other end side, A plurality of first probes opposed to each of the first terminals in a non-contact state, a plurality of second probes opposed to each of the second terminals in a non-contact state, and arranged along the middle portion of the plurality of electric wires A reference electrode plate. Then, a voltage is applied to one of the first probes, and the second terminal of the wire corresponding to at least one of the first probes in a state where the reference electrode plate is fixed at a potential lower than the potential of the applied voltage. The surface potential of one or more second terminals including the above is measured through the second probe, and the conduction state of the plurality of electric wires is inspected based on the measurement result.
  • the surface potential of the second terminal on the other end side of the plurality of electric wires including the electric wire is the same potential (however, the potential of the reference electrode plate is not Is not), there is a short-circuit between wires or terminals between one wire and another wire, or the continuity test target connects multiple wires to the other end of a wire.
  • the result of the inspection is that the connection circuit is the same.
  • FIG. 1 is an explanatory diagram illustrating a basic configuration of a continuity test apparatus according to an embodiment.
  • FIG. 2 is a perspective view showing a main part of the continuity testing apparatus shown in FIG. 3 shows that the surface potential of the terminal at the other end of the wire measured by the measuring instrument of FIG. 1 is divided into a case where the reference electrode plate is set to the ground potential and a case where the reference electrode plate is floated from the ground potential. It is the graph plotted according to the distance with the intermediate part.
  • FIG. 4 is a graph showing the relationship between the surface potential of the terminal at the other end of the electric wire and the size of the reference electrode plate measured by the measuring instrument of FIG.
  • the continuity inspection apparatus 1 is an apparatus that performs continuity inspection of electric wires 51 and 53 such as a wire harness (not shown) of a vehicle.
  • first terminals 51a and 53a are connected to one end side of each of the electric wires 51 and 53 (core wire (not shown) covered with an insulating coating (not shown)), and the other end side is connected to the other end side.
  • the second terminals 51b and 53b are connected.
  • First terminals 51a and 53a on one end side of the electric wires 51 and 53 are accommodated in the first connector 55a.
  • the second terminals 51b and 53b on the other end side are accommodated in the second connector 55b.
  • the continuity testing apparatus 1 includes a power supply side connector receiver 3 in which the first connector 55 a is accommodated, a test side connector receiver 5 in which the second connector 55 b is accommodated, and intermediate portions 51 c and 53 c of the electric wires 51 and 53.
  • the reference electrode plate 7 is provided.
  • the continuity testing apparatus 1 includes a power supply unit 9 that energizes the electric wires 51 and 53 to be inspected and a first switching device 11 that switches the electric wires 51 and 53 to be energized.
  • the continuity testing apparatus 1 includes a measuring instrument 13 that measures the surface potential of the second terminals 51b and 53b on the other end side of the electric wires 51 and 53 to be inspected, and second terminals 51b and 53b that are targets of measuring the surface potential. And a second switching device 15 for switching between.
  • the power supply side connector receiver 3 includes two power supply probes 3a and 3b (first probes).
  • the front end surfaces of the power supply probes 3a and 3b face the front ends of the first terminals 51a and 53a of the first connector 55a accommodated in the power supply side connector receiver 3 in a non-contact state.
  • Each of the power supply probes 3 a and 3 b is connected to the power supply unit 9 via the first switch 11.
  • a voltage of a predetermined magnitude is applied from the power supply unit 9 to the power supply probes 3 a and 3 b connected to the power supply unit 9 via the first switch 11.
  • the power supply probes 3a and 3b to which a voltage of a predetermined magnitude is applied generate an air discharge without generating an arc between the first terminals 51a and 53a of the first connector 55a facing each other.
  • the electric wires 51 and 53 connected to 51a and 53a are charged with static electricity.
  • the inspection-side connector receiver 5 includes two inspection probes 5a and 5b (second probes).
  • the tip surfaces of the inspection probes 5a and 5b face the tips of the second terminals 51b and 53b of the second connector 55b accommodated in the inspection-side connector receiver 5 in a non-contact state.
  • the inspection probes 5 a and 5 b are connected to the measuring instrument 13 via the second switching machine 15.
  • the measuring instrument 13 connected to the inspection probes 5a and 5b via the second switching device 15 performs the surface potential of the second terminals 51b and 53b facing the inspection probes 5a and 5b with a conventionally known surface potential meter. Measure with Although the measuring instrument 13 is connected to the ground in terms of a circuit, since the measuring instrument 13 has a high internal impedance, it is grounded from the inspection probes 5a and 5b via the second switch 15 and the measuring instrument 13. The current path leading to is substantially not formed.
  • the reference electrode plate 7 is formed in a U-shaped cross-section that is open at the top and sides by a conductor such as metal, and is connected to the ground to have a ground potential (0 V).
  • the inner wall and the bottom wall of the reference electrode plate 7 are arranged along the intermediate portions 51 c and 53 c of the electric wires 51 and 53.
  • the direction opposite to the movement of electrons is directed from the power supply probes 3a and 3b toward the first terminals 51a and 53a.
  • the intermediate portions 51c and 53c of the electric wires 51 and 53 and the reference electrode plate 7 arranged at a predetermined interval therebetween the intermediate direction of the electric wires 51 and 53 is opposite to the movement of electrons.
  • the current flowing from the power supply unit 9 toward the power supply probes 3a and 3b to which a voltage of a predetermined magnitude is applied via the first switching device 11 is indicated by a clockwise arrow in FIG.
  • the current flows from one terminal 51a, 53a toward the ground through the intermediate portions 51c, 53c of the electric wires 51, 53 and the reference electrode plate 7.
  • the distance between the electrode plate 7 and the electrode plate 7 is such that an air discharge without an arc is generated between the two with the distance therebetween.
  • FIG. 1 two power feeding probes 3 a and 3 b and two inspection probes 5 a and 5 b are illustrated in each of the connector receivers 3 and 5 on the power feeding side and the inspection side for easy viewing of the drawing.
  • the same number of probes as the number of terminals of the connectors 55a and 55b respectively accommodated in the connector receivers 3 and 5 on the power supply side and the inspection side are connected to the connector receivers 3 and 5 on the power supply side and the inspection side. Each is provided.
  • one power supply side connector receiver 3 (inspection side connector receiver 5) shares one reference electrode plate 7.
  • Slits 3j and 5j are formed in the inner walls 3i and 5i of the connector receivers 3 and 5 on the power feeding side and the inspection side, and the connectors 55a and 55b are inserted into the connector receivers 3 and 5 from above, The flanges 57a and 57b of the connectors 55a and 55b are inserted into the slits 3j and 5j. Thereby, each connector 55a, 55b accommodated in each connector receptacle 3, 5 is prevented from coming off.
  • the power supply probes 9 a and 3 b to which voltage is applied by the power supply unit 9 are switched to either one by the first switch 11.
  • the power supply probe 3a has been switched.
  • a voltage is applied from the power supply unit 9 to the power feeding probe 3a.
  • the electrostatic potential is a potential corresponding to the electrostatic capacity between the intermediate portion 51c of the electric wire 51 and the reference electrode plate 7 disposed along the intermediate portion 51c, that is, the ground potential (0V) of the reference electrode plate 7. Absolute potential. Therefore, the measuring device 13 is connected to the inspection probe 5 a by the second switching device 15, and the surface potential of the second terminal 51 b on the other end side of the electric wire 51 facing the inspection probe 5 a is measured by the measuring device 13.
  • the static electricity of the electric wire 51 is not discharged to the ground via the inspection probe 5a, the second switching device 15, and the measuring instrument 13, and the electric wire 51 is charged with static electricity. Maintained.
  • the surface potential of the second terminal on the other end side is the same potential (but not ground potential) in a plurality of electric wires including the electric wire. If there is a short circuit between wires or terminals between a wire and another wire, or the continuity test target is a connection circuit that connects multiple wires to the other end of a wire. The test result is.
  • the surface potential of the 2nd terminal 51b of the electric wire 51 measured with the measuring instrument 13 is an electric potential corresponding to the voltage applied to the electric power feeding probe 3a by the power supply unit 9, the electric wire 51, the 1st terminal 51a, the 2nd terminal
  • the test result indicates that the conduction state of 51b is normal. Further, if the surface potential of the second terminal 51b is the ground potential (0V), the electric wire 51 is broken or there is a connection failure between the electric wire 51 and the first terminal 51a and the second terminal 51b. It becomes the test result that it has occurred.
  • the measurement target of the surface potential by the measuring instrument 13 is changed from the second terminal 51b of the electric wire 51 to the second terminal 53b of the electric wire 53 by the second switching device 15. You may switch to Then, the surface potentials of the second terminals 51b and 53b of the electric wires 51 and 53 are respectively measured, and when the measured surface potentials of the two second terminals 51b and 53b are the same potential (but not the ground potential) A short circuit between the electric wires 51 and 53 or between the terminals 51a, 53a, 51b and 53b occurs between the electric wires 51 and 53, or a plurality of electric wires are connected to the other end of a certain electric wire. The result of the inspection is that the connection circuit is the same.
  • FIG. 3 shows a case where the surface potential of the second terminal on the other end side of the electric wire measured by the measuring instrument of FIG. 1 is divided into a case where the reference electrode plate is set to the ground potential and a case where the reference electrode plate is floated from the ground potential. It is explanatory drawing plotted according to the distance of a board and the intermediate part of an electric wire.
  • the measuring device 13 measures the potential of the electric wire 51 charged with static electricity by applying a voltage to the power supply probe 3a with the surface potential of the second terminal 51b
  • the reference electrode plate 7 is set to the ground potential as described above.
  • the electrostatic potential is an absolute potential with respect to the ground potential (0V) of the reference electrode plate 7 arranged along the intermediate portion 51c of the electric wire 51.
  • the surface potential of the second terminal 51b of the electric wire 51 measured by the measuring instrument 13 is not affected by the stray capacitance between the electric wire 51 and the electric wire 53, and the voltage applied to the power supply probe 3a by the power supply unit 9 is not affected. And roughly equivalent values are measured stably.
  • the electrostatic potential charged in the electric wire 51 varies irregularly due to the effect of stray capacitance generated between the electric wire 51 and the electric wire 53, and is measured by the measuring instrument 13.
  • the surface potential of the second terminal 51b of the electric wire 51 to be used becomes an unstable value. That is, as shown in region A of FIG. 3, the potential of the reference electrode plate 7 is unstable, so that the measured potential is not stable.
  • the reference electrode plate 7 is set to the ground potential (0V)
  • the distance between the reference electrode plate 7 and the intermediate portions 51c and 53c of the electric wires 51 and 53 is 30 mm or more, the presence of the reference electrode plate 7 is caused.
  • the degree to which the electrostatic potential of the electric wire 51 becomes an absolute potential with respect to the ground potential (0 V) is weakened. Therefore, the surface potential of the second terminal 51b of the electric wire 51 measured by the measuring instrument 13 changes to a value lower than the voltage applied to the power feeding probes 3a and 3b. That is, as shown by the region B in FIG. 3, if the distance between the electric wires 51 and 53 and the reference electrode plate 7 is long, the measurement potential is not stable.
  • the electrostatic potential of the intermediate portions 51c and 53c of the electric wires 51 and 53 is particularly related to the dimension (width size) of the reference electrode plate 7 in the extending direction of the electric wires 51 and 53, as shown in the graph of FIG. Instead, it becomes an absolute potential with respect to the ground potential (0 V) of the reference electrode plate 7. That is, even if the reference electrode plate 7 is wider than a certain area, the measurement potential does not change. Therefore, the width size of the reference electrode plate 7 can be set to an appropriate size according to the space where the continuity test apparatus 1 is installed.
  • the reference electrode plate 7 having the ground potential (0 V) is disposed along the intermediate portions 51c and 53c of the electric wires 51 and 53 to be continuity-tested.
  • the reference electrode plate 7 secures a discharge path of electrostatic charges (positive charge leakage path) charged in the electric wires 51 and 53 after the continuity test.
  • the reference electrode plate 7 is connected from the intermediate portions 51c and 53c of the electric wires 51 and 53. It is possible to secure a leakage path of static electricity through the route through the above and prevent the electric wires 51 and 53 after the continuity test from being stored with static electricity.
  • the electrostatic potential charged in the electric wires 51 and 53 by voltage application to the power supply probes 3a and 3b can be measured by the measuring instrument 13 as an absolute potential with respect to the ground potential (0V) of the reference electrode plate 7, Without being affected by crosstalk due to stray capacitance between the wires 53, the static electricity potential of the wires 51 and 53 can be accurately measured and reflected in the inspection of the conduction state.
  • the reference electrode plate 7 is connected to the ground to obtain the ground potential (0V), but the potential of the reference electrode plate 7 is lower than the electrostatic potential of the electric wires 51 and 53. As long as it is a potential, it may be a fixed potential other than the ground potential (0 V).
  • the continuity test apparatus of the present invention is extremely useful when performing a continuity test on an electric wire such as a wire harness having a connector terminal connected to the end.

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Abstract

　導通検査装置（１）は、導通検査する対象の電線（５１，５３）の中間部（５１ｃ，５３ｃ）に沿って、接地電位とした基準電極板（７）を配置し、導通検査後の電線（５１，５３）に帯電した静電気の放電経路（正電荷の漏洩経路）を基準電極板（７）により確保する。これにより、導通検査後の電線（５１，５３）が静電気を蓄えたままとなるのを防ぐ。また、給電プローブ（３ａ，３ｂ）への電圧印加により電線（５１，５３）に帯電した静電気の電位を、電線（５１，５３）の端子（５１ｂ，５３ｂ）の表面電位を通じて、基準電極板（７）の接地電位に対する絶対電位として計測器（１３）で測定する。これにより、電線（５１，５３）間の浮遊容量によるクロストークの影響を受けずに、電線（５１，５３）の静電気の電位を正確に測定する。

Description

導通検査装置
　本発明は、両端部にコネクタの端子が接続されたワイヤハーネス等の電線に関する導通検査装置に関する。
　両端部にコネクタの端子が接続されたワイヤハーネス等の電線では、電線の断線や端子の接続不良等を検出するために導通検査が行われる。導通検査は、検査装置側から電線の一端側においてコネクタの検査対象の端子に検査用電圧を印加した状態で、電線の他端側においてコネクタの対応する端子に現れる電位を測定することで行われる。
　上述した導通検査は、電線の一方又は両方のコネクタに検査装置側のコネクタを嵌合させて行われるが、その際にはコネクタの端子に検査装置側のコネクタの端子が挿抜されるので、導通検査の際に端子の挿抜が繰り返されて端子が変形する可能性がある。
　そこで、電線の両端のコネクタの端子に検査装置側のコンタクトを非接触状態でそれぞれ対向させ、検査装置から印加されるパルス電圧により一方のコンタクトと電線の一端側の端子との間に、アークが生じない程度の放電を発生させて、電線に静電気を発生させることが提案されている。
　この提案によれば、電線の導通状態が正常であれば、他方のコンタクトと電線の他端側の端子との間にも、アークが生じない程度の放電が生じるので、他方のコンタクトの電位を通じて電線の他端側の端子電位を検査装置で測定することで、電線の導通状態を検査することができる（例えば、特許文献１）。
特開平７－２８０８６４号公報(JP H07-280864 A)
　上述した提案の導通検査においては、電線に発生する静電気が非常に小さいので、その静電気による電線の他端側端子の電位を測定するのに、内部インピーダンスが高い表面電位計を用いる必要がある。但し、表面電位計の内部インピーダンスが高いと、導通検査後に電線の静電気が表面電位計を通じて漏洩しにくくなるので、検査後の電線が静電気を蓄えたままとなってしまう。
　本発明は上記事情に鑑みなされたもので、本発明の目的は、電線の一端の端子に非接触状態で対向させた一方のプローブへの電圧印加によって帯電させた電線の静電気の電位を、電線の他端の端子に非接触状態で対向させた他方のプローブを通じて測定し、その結果に基づいて電線の導通状態を検査する際に、検査後の電線から静電気を漏洩させやすくすることができる導通検査装置を提供することにある。
　上記目的を達成するために、本発明の第１の特徴係る導通検査装置は、一端側の第１端子と他端側の第２端子とを有する電線の導通状態を検査するための導通検査装置であって、第１端子に非接触状態で対向させた第１プローブと、第２端子に非接触状態で対向させた第２プローブと、電線の中間部に沿って配置された基準電極板とを備える。そして、第１プローブへ電圧を印加し、基準電極板が印加電圧の電位よりも低い電位に固定された状態で、第２端子の表面電位を第２プローブを通じて測定し、その測定結果に基づいて電線の導通状態を検査する。
　このような構成により、電線の一端側の第１端子に対向する第１プローブに電圧を印加すると、第１プローブの正電位により電線の一端側の第１端子に吸引された電子が第１端子から空中に放出されて第１プローブに移動する。すると、正電荷が溜まった電線の一端側が静電気を帯電した状態となり、これに伴い、電線の全体が静電気を帯びた状態となって、電線全体の電位が電線の一端と同じ電位となる。
　したがって、電線の他端側の第２端子の表面電位を第２プローブを通じて測定し、第１プローブの印加電圧に対応する電位であるか否かを判別することで、電線の導通状態を検査することができる。
　ここで、静電気が帯電した電線の中間部に沿って配置された基準電極板との間では、電線の中間部に帯電した静電気の電位より低い電位の基準電極板に吸引された電子が基準電極板から空中に放出されて電線の中間部に移動する。すると、基準電極板から電線の中間部及び一端を経て第１プローブに至る電子の移動経路が形成され、この移動経路を電子と逆向きに電流が流れるようになって、この電流の流れに沿った経路で電線に帯電した静電気（正電荷）が漏洩する。
　よって、導通検査後の電線から静電気を漏洩させる経路が内部インピーダンスの高い表面電位計を含む経路上で確保できなくても、電線の中間部から基準電極板を経た経路で静電気の漏洩経路を確保して、導通検査後の電線が静電気を蓄えたままとなってしまうのを防ぐことができる。
　しかも、第１プローブへの電圧印加により電線の一端側の第１端子に発生した静電気の電位を、基準電極板の固定された電位に対する絶対電位として表面電位計で測定できるので、電線間の浮遊容量によるクロストークの影響を受けずに、電線の静電気の電位を正確に測定して導通状態の検査に反映させることができる。
　なお、電線の各端子と第１プローブ及び第２プローブとの間隔や、電線の中間部と基準電極板との間隔は、いずれも、それらの間隔を挟んだ両者間で、アークの発生を伴わない空中放電が発生する程度とする。
　本発明の第２の特徴に係る導通検査装置は、一端側の第１端子と他端側の第２端子とをそれぞれ有する複数の電線の導通状態を検査するための導通検査装置であって、第１端子の各々に非接触状態で対向させた複数の第１プローブと、第２端子の各々に非接触状態で対向させた複数の第２プローブと、複数の電線の中間部に沿って配置された基準電極板とを備える。そして、第１プローブのうちのひとつへ電圧を印加し、基準電極板が印加電圧の電位よりも低い電位に固定された状態で、少なくとも第１プローブのうちのひとつに対応する電線の第２端子を含む１以上の第２端子の表面電位を第２プローブを通じて測定し、その測定結果に基づいて複数の電線の導通状態を検査する。
　このような構成により、各電線の他端側の第２端子に現れる表面電位に対する、他の電線とのクロストークの影響の出現は、先に説明したように、基準電極板の存在により排除される。
　したがって、ある電線の一端側の第１端子に静電気を帯電させた時に、その電線の他端側の第２端子の表面電位だけが、第１プローブの印加電圧に対応する電位であるである場合は、その電線が導通状態にある、という検査結果になる。
　また、ある電線の一端側の第１端子に静電気を帯電させた時に、その電線を含む複数の電線において、他端側の第２端子の表面電位が同一電位（但し、基準電極板の電位ではない）である場合は、ある電線と他の電線との間で電線どうしまたは端子どうしの短絡が発生しているか、あるいは、導通検査の対象が、ある電線の他端側に複数の電線を接続した接続回路である、という検査結果になる。
　さらに、ある電線の一端側の第１端子に静電気を帯電させた時に、全電線の他端側の第２端子の表面電位がいずれも接地電位である場合は、ある電線に断線が発生しているか、ある電線とその両端の端子との間に接続不良が発生している、という検査結果になる。
　このように、複数の電線で構成されるワイヤハーネス等の導通検査を行う際に、多様な導通状態を個別に検査結果として取得することができる。
　本発明の特徴に係る導通検査装置によれば、電線の一端の端子に非接触状態で対向させた一方のプローブへの電圧印加によって帯電させた電線の静電気の電位を、電線の他端の端子に非接触状態で対向させた他方のプローブを通じて測定し、その結果に基づいて電線の導通状態を検査する際に、検査後の電線から静電気を漏洩させやすくすることができる。
図１は、実施形態に係る導通検査装置の原理的な構成を示す説明図である。 図２は、図１に示す導通検査装置の要部を示す斜視図である。 図３は、図１の計測器で測定される電線の他端の端子の表面電位を、基準電極板を接地電位とした場合と接地電位からフローティングした場合とに分けて、基準電極板と電線の中間部との距離別にプロットしたグラフである。 図４は、図１の計測器で測定される電線の他端の端子の表面電位と基準電極板の大きさとの関係を示すグラフである。
　以下、本発明の実施形態について図１―４を参照して説明する。
　実施形態に係る導通検査装置１は、車両のワイヤハーネス（不図示）等の電線５１，５３の導通検査を行う装置である。本実施形態では、各電線５１，５３（の絶縁被膜（不図示）によって被覆された芯線（不図示））の一端側には第１端子５１ａ，５３ａが接続されており、他端側には第２端子５１ｂ，５３ｂが接続されている。各電線５１，５３の一端側の第１端子５１ａ，５３ａが第１コネクタ５５ａに収容されている。他端側の第２端子５１ｂ，５３ｂが第２コネクタ５５ｂに収容されている。
　導通検査装置１は、第１コネクタ５５ａが収容される給電側コネクタ受け３と、第２コネクタ５５ｂが収容される検査側コネクタ受け５と、各電線５１，５３の中間部５１ｃ，５３ｃに沿って配置された基準電極板７とを備える。また、導通検査装置１は、検査対象の電線５１，５３に通電させる電源ユニット９と、通電させる対象の電線５１，５３を切り替える第１切替機１１とを備える。さらに、導通検査装置１は、検査対象の電線５１，５３の他端側の第２端子５１ｂ，５３ｂの表面電位を測定する計測器１３と、表面電位を測定する対象の第２端子５１ｂ，５３ｂを切り替える第２切替機１５とを備える。
　給電側コネクタ受け３は、２つの給電プローブ３ａ，３ｂ（第１プローブ）を備える。各給電プローブ３ａ，３ｂの先端面は、給電側コネクタ受け３に収容された第１コネクタ５５ａの第１端子５１ａ，５３ａの先端に非接触状態で対向する。
　各給電プローブ３ａ，３ｂは、第１切替機１１を介して電源ユニット９に接続される。第１切替機１１を介して電源ユニット９に接続された給電プローブ３ａ，３ｂには、電源ユニット９から所定の大きさの電圧が印加される。所定の大きさの電圧が印加された給電プローブ３ａ，３ｂは、対向する第１コネクタ５５ａの第１端子５１ａ，５３ａとの間に、アークの発生を伴わない空中放電を発生させ、第１端子５１ａ，５３ａに接続された電線５１，５３に静電気を帯電させる。
　詳しくは、電線５１，５３の一端側の第１端子５１ａ，５３ａに対向する給電プローブ３ａ，３ｂに電圧を印加すると、給電プローブ３ａ，３ｂの正電位により第１端子５１ａ，５３ａに吸引された電子が、第１端子５１ａ，５３ａから空中に放出されて給電プローブ３ａ，３ｂに移動する。すると、正電荷が溜まった電線５１，５３の一端が静電気を帯電した状態となり、これに伴い、電線５１，５３の全体が静電気を帯びた状態となって、電線５１，５３全体が同じ電位となる。
　一方、検査側コネクタ受け５は、２つの検査プローブ５ａ，５ｂ（第２プローブ）を備える。各検査プローブ５ａ，５ｂの先端面は、検査側コネクタ受け５に収容された第２コネクタ５５ｂの第２端子５１ｂ，５３ｂの先端に非接触状態で対向する。
　各検査プローブ５ａ，５ｂは、第２切替機１５を介して計測器１３に接続される。第２切替機１５を介して検査プローブ５ａ，５ｂに接続された計測器１３は、検査プローブ５ａ，５ｂに対向する第２端子５１ｂ，５３ｂの表面電位を、従来公知の表面電位計で行う方法で測定する。なお、計測器１３は回路的にアースに接続されているものの、計測器１３は高い内部インピーダンスを有しているので、検査プローブ５ａ，５ｂから第２切替機１５及び計測器１３を介してアースに至る電流経路は実質的に形成されない。
　基準電極板７は、金属等の導体により上方及び側方が開放された断面Ｕ字状に形成されており、アースに接続されて接地電位（0 V）とされている。基準電極板７の内壁及び底壁は、各電線５１，５３の中間部５１ｃ，５３ｃに沿って配置されている。
　各電線５１，５３の中間部５１ｃ，５３ｃと基準電極板７との間では、静電気が帯電した中間部５１ｃ，５３ｃの正電位により基準電極板７の対向する部分に吸引された電子が、基準電極板７から空中に放出されて各電線５１，５３の中間部５１ｃ，５３ｃに移動する。
　なお、給電プローブ３ａ，３ｂとこれに対向する一端側の第１端子５１ａ，５３ａとの間では、電子の移動とは逆の向きで、給電プローブ３ａ，３ｂから第１端子５１ａ，５３ａに向けて電流が流れる。また、各電線５１，５３の中間部５１ｃ，５３ｃとこれに所定間隔をおいて配置された基準電極板７との間では、電子の移動とは逆の向きで、各電線５１，５３の中間部５１ｃ，５３ｃから基準電極板７に向けて電流が流れる。
　したがって、電源ユニット９から第１切替機１１を介して所定の大きさの電圧が印加される給電プローブ３ａ，３ｂに向けて流れる電流は、図１中の右回りの矢印で示すように、第１端子５１ａ，５３ａから電線５１，５３の中間部５１ｃ，５３ｃ及び基準電極板７を経てアースに向けて流れることになる。
　ちなみに、第１端子５１ａ，５３ａと給電プローブ３ａ，３ｂとの間隔、第２端子５１ｂ，５３ｂと検査プローブ５ａ，５ｂとの間隔、電線５１，５３の中間部５１ｃ，５３ｃ（における芯線）と基準電極板７との間隔は、いずれも、それらの間隔を挟んだ両者間で、アークの発生を伴わない空中放電が発生する程度とする。
　ところで、図１においては、図面の見やすさのため、給電側及び検査側の各コネクタ受け３，５に２つずつの給電プローブ３ａ，３ｂ及び検査プローブ５ａ，５ｂをそれぞれ図示した。しかし、実際には、給電側や検査側の各コネクタ受け３，５にそれぞれ収容する各コネクタ５５ａ，５５ｂの端子数と同じ数のプローブが、給電側及び検査側の各コネクタ受け３，５にそれぞれ設けられる。
　例えば、図２の斜視図に示す例では、各コネクタ５５ａ，５５ｂの端子数と同じ８つの給電プローブ３ａ～３ｈ及び検査プローブ５ａ～５ｈが、給電側や検査側の各コネクタ受け３，５にそれぞれ設けられている。また、図２に示す例では、６つの給電側コネクタ受け３（検査側コネクタ受け５）で１つの基準電極板７を共用している。
　給電側や検査側の各コネクタ受け３，５の内側壁３ｉ，５ｉにはスリット３ｊ，５ｊが形成されており、上方から各コネクタ受け３，５に各コネクタ５５ａ，５５ｂを挿入した状態で、各コネクタ５５ａ，５５ｂのフランジ５７ａ，５７ｂがスリット３ｊ，５ｊに挿入される。これにより、各コネクタ受け３，５に収容した各コネクタ５５ａ，５５ｂが抜け止めされる。
　次に、実施形態に係る導通検査装置１の動作について説明する。まず、電源ユニット９により電圧印加する給電プローブ３ａ，３ｂを第１切替機１１によりどちらかに切り替える。ここでは、給電プローブ３ａに切り替えたものとする。そして、電源ユニット９から給電プローブ３ａに電圧を印加する。
　すると、給電プローブ３ａに対向する第１端子５１ａから給電プローブ３ａへの電子の移動により、第１端子５１ａを有する電線５１の全体が静電気を帯電した状態となる。この静電気の電位は、電線５１の中間部５１ｃとこれに沿って配置された基準電極板７との間の静電容量に応じた電位、つまり、基準電極板７の接地電位（0 V）に対する絶対電位となる。そこで、第２切替機１５により計測器１３を検査プローブ５ａに接続し、検査プローブ５ａに対向する電線５１の他端側の第２端子５１ｂの表面電位を計測器１３で測定する。
　このとき、計測器１３の内部インピーダンスが高いことから、電線５１の静電気が検査プローブ５ａ、第２切替機１５、計測器１３を介してアースに放電されることはなく、電線５１は静電気を帯電した状態に維持される。
　また、ある電線の一端側の第１端子に静電気を帯電させた時に、その電線を含む複数の電線において、他端側の第２端子の表面電位が同一電位（但し、接地電位でない）である場合は、ある電線と他の電線との間で電線どうしまたは端子どうしの短絡が発生しているか、あるいは、導通検査の対象が、ある電線の他端側に複数の電線を接続した接続回路である、という検査結果になる。
　そして、計測器１３で測定した電線５１の第２端子５１ｂの表面電位が、電源ユニット９による給電プローブ３ａへの印加電圧に対応する電位であれば、電線５１、第１端子５１ａ、第２端子５１ｂの導通状態が正常であるという検査結果になる。また、第２端子５１ｂの表面電位が接地電位（0 V）であれば、電線５１に断線が生じているか、あるいは、電線５１と第１端子５１ａ，第２端子５１ｂとの間に接続不良が生じているという検査結果になる。
　なお、電源ユニット９により給電プローブ３ａに電圧印加を行っている間に、計測器１３による表面電位の測定対象を第２切替機１５により電線５１の第２端子５１ｂから電線５３の第２端子５３ｂに切り替えても良い。そして、両電線５１，５３の第２端子５１ｂ，５３ｂの表面電位をそれぞれ測定し、測定したふたつの第２端子５１ｂ，５３ｂの表面電位が同一電位（但し、接地電位でない）である場合は、両電線５１，５３間で電線５１，５３どうしまたは端子５１ａ，５３ａ、５１ｂ，５３ｂどうしの短絡が発生しているか、あるいは、導通検査の対象が、ある電線の他端側に複数の電線を接続した接続回路である、という検査結果になる。
　図３は、図１の計測器で測定される電線の他端側の第２端子の表面電位を、基準電極板を接地電位とした場合と接地電位からフローティングした場合とに分けて、基準電極板と電線の中間部との距離別にプロットした説明図である。
　例えば、給電プローブ３ａへの電圧印加により静電気を帯電した電線５１の電位を第２端子５１ｂの表面電位により計測器１３で測定する場合、基準電極板７を接地電位とすれば、先に説明したように、静電気の電位は、電線５１の中間部５１ｃに沿って配置された基準電極板７の接地電位（0 V）に対する絶対電位となる。このため、計測器１３が測定する電線５１の第２端子５１ｂの表面電位には、電線５１と電線５３との間の浮遊容量の影響が現れず、電源ユニット９による給電プローブ３ａへの印加電圧と大体同等の値が安定して測定される。
　一方、基準電極板７を接地せずフローティングすると、電線５１に帯電した静電気の電位が、電線５１と電線５３との間に生じる浮遊容量の影響で不規則に変動するので、計測器１３で測定される電線５１の第２端子５１ｂの表面電位が不安定な値となる。すなわち、図３の領域Ａで示すように、基準電極板７の電位が不安定であるため、測定電位が安定しない。
　なお、基準電極板７を接地電位（0 V）とした場合でも、基準電極板７と電線５１，５３の中間部５１ｃ，５３ｃとの間隔が30 mm以上離れると、基準電極板７の存在により電線５１の静電気の電位が接地電位（0 V）に対する絶対電位となる度合いが弱まる。したがって、計測器１３により測定される電線５１の第２端子５１ｂの表面電位が、給電プローブ３ａ，３ｂへの印加電圧よりも低い値に変化する。すなわち、図３の領域Ｂで示すように、電線５１、５３と基準電極板７の距離が遠いと、測定電位が安定しない。
　ちなみに、電線５１，５３の中間部５１ｃ，５３ｃの静電気の電位は、図４のグラフに示すように、電線５１，５３の延在方向における基準電極板７の寸法（幅サイズ）とは特に関係なく、基準電極板７の接地電位（0 V）に対する絶対電位となる。すなわち、基準電極板７が一定面積より広くても測定電位に変化がない。したがって、基準電極板７の幅サイズは、導通検査装置１を設置する場所のスペースに合わせて適切なサイズとすることができる。
　計測器１３による電線５１，５３の第２端子５１ｂ，５３ｂの表面電位の測定が終わり、電源ユニット９による給電プローブ３ａ，３ｂへの電圧印加が停止されると、静電気が帯電した電線５１，５３の中間部５１ｃ，５３ｃに基準電極板７から電子が放電により移動し、電線５１，５３の静電気が中間部５１ｃ，５３ｃから基準電極板７を経てアースに向け放電される。したがって、導通検査の終了後に各コネクタ５５ａ，５５ｂを給電側及び検査側の各コネクタ受け３，５から外した後の電線５１，５３は、静電気を帯電していない状態となる。
　このように、実施形態に係る導通検査装置１によれば、導通検査する対象の電線５１，５３の中間部５１ｃ，５３ｃに沿って、接地電位（0 V）とした基準電極板７を配置して、導通検査後の電線５１，５３に帯電した静電気の放電経路（正電荷の漏洩経路）を基準電極板７により確保する構成とした。
　よって、導通検査後の電線５１，５３から静電気を漏洩させる経路が内部インピーダンスの高い計測器１３を含む経路上で確保できなくても、電線５１，５３の中間部５１ｃ，５３ｃから基準電極板７を経た経路で静電気の漏洩経路を確保して、導通検査後の電線５１，５３が静電気を蓄えたままとなってしまうのを防ぐことができる。
　しかも、給電プローブ３ａ，３ｂへの電圧印加により電線５１，５３に帯電した静電気の電位を、基準電極板７の接地電位（0 V）に対する絶対電位として計測器１３で測定できるので、電線５１，５３間の浮遊容量によるクロストークの影響を受けずに、電線５１，５３の静電気の電位を正確に測定して導通状態の検査に反映させることができる。
　なお、実施形態に係る導通検査装置１では、基準電極板７をアースに接続して接地電位（0 V）としたが、基準電極板７の電位は、電線５１，５３の静電気の電位より低い電位であれば、接地電位（0 V）以外の固定の電位であっても構わない。
　本発明の導通検査装置は、端部にコネクタの端子が接続されたワイヤハーネス等の電線に関する導通検査を行う際に用いて極めて有用である。

Claims (4)

  1. 　一端側の第１端子と他端側の第２端子とを有する電線の導通状態を検査するための導通検査装置であって、
    　前記第１端子に非接触状態で対向させた第１プローブと、
    　前記第２端子に非接触状態で対向させた第２プローブと、
    　前記電線の中間部に沿って配置された基準電極板と
    を備え、
    　前記第１プローブへ電圧を印加し、前記基準電極板が前記印加電圧の電位よりも低い電位に固定された状態で、前記第２端子の表面電位を前記第２プローブを通じて測定し、その測定結果に基づいて前記電線の導通状態を検査する
    ことを特徴とする導通検査装置。
  2. 　請求項１に記載の導通検査装置であって、前記基準電極板の電位が接地電位であることを特徴とする導通検査装置。
  3. 　一端側の第１端子と他端側の第２端子とをそれぞれ有する複数の電線の導通状態を検査するための導通検査装置であって、
    　前記第１端子の各々に非接触状態で対向させた複数の第１プローブと、
    　前記第２端子の各々に非接触状態で対向させた複数の第２プローブと、
    　前記複数の電線の中間部に沿って配置された基準電極板と
    を備え、
    　前記第１プローブのうちのひとつへ電圧を印加し、前記基準電極板が前記印加電圧の電位よりも低い電位に固定された状態で、少なくとも前記第１プローブのうちのひとつに対応する電線の第２端子を含む１以上の第２端子の表面電位を前記第２プローブを通じて測定し、その測定結果に基づいて前記複数の電線の導通状態を検査する
    ことを特徴とする導通検査装置。
  4. 　請求項３に記載の導通検査装置であって、前記基準電極板の電位が接地電位であることを特徴とする導通検査装置。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116559550A (zh) * 2023-06-05 2023-08-08 西安交通大学 一种低温流体流动静电积聚强度测量实验装置及方法

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6864979B2 (ja) * 2015-06-05 2021-04-28 矢崎総業株式会社 導通検査方法及び導通検査装置
CN105974259B (zh) * 2016-06-27 2018-10-23 苏州韵安电器有限公司 一种导线自动测试装置
AT524105A1 (de) * 2020-08-13 2022-02-15 Khu Peter Durchgangsprüfung eines Kabels
CN114639520B (zh) * 2020-12-15 2025-07-15 泰科电子(上海)有限公司 检测机构、导线定位装置及导线加工设备
CN113009266B (zh) * 2021-03-18 2024-06-21 广州亚美智造科技有限公司 一种治具插拔检测电路

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS526989A (en) * 1975-07-04 1977-01-19 Dainichi Nippon Cables Ltd Electric test method for multicore cable
JP2002014135A (ja) * 2000-06-30 2002-01-18 Hioki Ee Corp 回路基板検査方法および回路基板検査装置
JP2009103683A (ja) * 2007-10-01 2009-05-14 Mitsubishi Electric Corp 静電気帯電試験装置および静電気帯電試験方法

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4878017A (en) * 1986-10-28 1989-10-31 Williams Bruce T High speed D.C. non-contacting electrostatic voltage follower
JPH07280864A (ja) * 1994-04-12 1995-10-27 Amp Japan Ltd 導通検査方法及び導通検査装置
JP3600796B2 (ja) * 1998-06-23 2004-12-15 ケイエステクノ株式会社 フェンスセンサ
JP2001091543A (ja) * 1999-09-27 2001-04-06 Hitachi Ltd 半導体検査装置
US7123022B2 (en) * 2004-04-28 2006-10-17 Agilent Technologies, Inc. Method and apparatus for non-contact testing and diagnosing electrical paths through connectors on circuit assemblies
JP4794828B2 (ja) * 2004-06-08 2011-10-19 キヤノン株式会社 電位測定装置および画像形成装置
US20070059965A1 (en) * 2005-09-13 2007-03-15 Magna International Inc. Method and apparatus for non-contact grounding detection in an electrostatic paint system
KR100898584B1 (ko) * 2007-09-10 2009-05-20 주식회사 하이닉스반도체 정전기 방전 회로
CN101533057A (zh) * 2008-03-13 2009-09-16 安捷伦科技有限公司 用于测试电路导通性的装置和方法
KR101006097B1 (ko) * 2008-11-10 2011-01-07 주식회사 하이닉스반도체 정전기 보호회로

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS526989A (en) * 1975-07-04 1977-01-19 Dainichi Nippon Cables Ltd Electric test method for multicore cable
JP2002014135A (ja) * 2000-06-30 2002-01-18 Hioki Ee Corp 回路基板検査方法および回路基板検査装置
JP2009103683A (ja) * 2007-10-01 2009-05-14 Mitsubishi Electric Corp 静電気帯電試験装置および静電気帯電試験方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116559550A (zh) * 2023-06-05 2023-08-08 西安交通大学 一种低温流体流动静电积聚强度测量实验装置及方法

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Publication number Publication date
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