WO2014057612A1 - グラフェン膜の製造方法およびグラフェン膜ならびにグラフェン膜を用いた透明導電膜 - Google Patents

グラフェン膜の製造方法およびグラフェン膜ならびにグラフェン膜を用いた透明導電膜 Download PDF

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Definitions

  • the present invention relates to a graphene film manufacturing method and a graphene film. More specifically, the present invention relates to a method for producing a graphene film and a graphene film that can be transferred onto a substrate having an uneven surface.
  • single-layer graphene the mobility of carriers (electrons) is about 15000 cm 2 / V ⁇ s, which is known to be higher by one digit or more than silicon. Focusing on this point, various industrial applications of single-layer graphene have been proposed. Its application destinations are diverse, including applications to transistors exceeding Si, spin injection devices, gas sensors for detecting single molecules, and the like. In particular, the application of graphene to conductive thin films and transparent conductive films has attracted attention and is being actively developed.
  • Non-Patent Document 3 reports that a graphene thin film with good film quality can be uniformly formed on a Cu foil by a CVD method. Specifically, by placing a Cu foil inside the CVD furnace, introducing hydrogen while raising the temperature to 1000 ° C., and supplying a hydrocarbon-based gas such as methane there, the surface of the Cu foil Graphene is deposited on the film.
  • the graphene thus formed As an application of a conductive thin film or a transparent conductive film, it is necessary to peel it off from the Cu surface and form it on a target substrate.
  • PMMA Polymethyl methacrylate
  • the Cu foil is removed by etching.
  • the graphene / PMMA film is attached to the final substrate so that the graphene is in contact with the substrate.
  • PMMA is dissolved in an organic solvent such as acetone, graphene can be formed on the surface of the final substrate.
  • the D peak of Raman spectroscopy which is said to be caused by crystal defects, is not observed, and exhibits very good crystallinity. That is, the conventional transfer method can be said to be an effective method when transferring to a flat substrate.
  • the inventors of the present application also attempted to produce a graphene film on a solar cell by using a conventional transfer method similar to Non-Patent Document 3. As a result, graphene could not be transferred onto the solar cell.
  • the inventor of the present application as a cause that could not be transferred, in the solar cell, in order to improve the light confinement efficiency in the electrode formed on the surface of the substrate or in contact with the substrate, texture that is uneven about 30 nm or more This is because the surface of the solar cell to be transferred (the surface of the semiconductor layer on the light receiving surface side) has a texture structure of about 30 nm.
  • the flatness of the graphene is about 1 nm, and the graphene can contact the convex part of the texture during the transfer, but the graphene does not contact the concave part.
  • the graphene peeled off due to insufficient contact between the graphene and the substrate.
  • the present invention aims to solve the above problems. That is, the present invention provides a method for uniformly transferring a graphene film on a substrate having graphene and unevenness by reducing or eliminating contact failure between the graphene and a surface having unevenness such as a texture. This opens up the possibility of applying graphene films to applications such as batteries.
  • the inventor of the present application notices that when graphene is transferred onto an uneven surface having a texture structure such as a solar cell, the unevenness on the surface may cause a reduction in transfer efficiency. It was. Therefore, the inventors of the present application searched for a method for efficiently adhering graphene to an uneven surface. Then, it was confirmed that the graphene itself has a concavo-convex structure so that the graphene fits the concavo-convex surface of the transfer target during transfer, and the efficiency of adhesion of graphene is improved and the transfer efficiency is improved.
  • the second substrate is preferably PMMA (polymethyl methacrylate) or PDMS (polydimethylsiloxane).
  • a graphene film is provided.
  • the first substrate and the second substrate are names used in the present application to distinguish the transition metal substrate and the temporary support film of the resin from each other or other substrates, respectively.
  • the third substrate is an arbitrary substrate of an arbitrary material as long as the first substrate and the second substrate are different substrates.
  • the third substrate is an object that is a substrate or base made of any material including the materials of the first and second substrates.
  • the graphene film formed on the surface of the third substrate is continuously used as a substrate to be supported thereafter. In that case, the third substrate is determined from the viewpoint of the application to which the graphene film is applied.
  • a layer on the light-receiving surface side of the thin film solar cell can be given.
  • This layer also inherits the irregularities formed on the substrate or the like and has irregularities of about 30 nm or more on the surface.
  • the graphene film is used as a transparent electrode layer of a thin film solar cell.
  • Patent Document 1 describes that in a thin-film solar cell made of an amorphous material, the height difference of peaks and valleys (unevenness) on the surface of the lower electrode layer, which is an electrode in contact with the substrate, is 50 nm to 150 nm.
  • the uppermost layer of the solar cell takes over the unevenness on the surface of the lower electrode layer, and the uppermost layer also has an unevenness of about 30 nm.
  • the graphene film having unevenness can be used as a transparent conductive film of a solar cell.
  • the unevenness of the surface layer of the solar cell has randomness. For this reason, even if the first substrate is simply provided with regular irregularities and transferred, the graphene film may not fit well on the surface layer of the solar cell.
  • the unevenness pattern existing in the surface layer on the light-receiving surface side of the solar cell is taken in advance and the unevenness is provided on the surface of the first substrate using this mold, the unevenness of the graphene film is Fits the irregularities of the surface layer of the solar cell.
  • the upper limit is 10 layers. In that case, it is advantageous that the light transmittance in the film thickness direction of the graphene film provided in the present invention is 70% or more.
  • Graphene refers to a substance in a state in which carbon atoms are bonded to each other by sp 2 bonds and formed into a film or a layer having one or more atomic layers. Therefore, in the present application, the meaning of the term graphene includes not only single-layer graphene but also a sheet of carbon atoms including a plurality of atomic layers. In addition, when calling it a graphene film
  • Concavity and convexity refers to a structure raised from a flat state. Therefore, there are various shapes in the method of raising, and it is not limited. In the present application, it refers to a portion having a height of approximately 30 nm or more.
  • “contacting” and “pasting” do not necessarily include only those that are in close contact with each other. For example, what is placed, supported, or placed on the substrate while taking over the unevenness of the substrate is also included in “contact” and “stick”.
  • the use of a graphene film having irregularities on the irregularities on the surface which is the cause of the decrease in transfer efficiency, improves the adhesion efficiency of the graphene film, and the graphene film having high transfer efficiency This opens up the possibility of applying the graphene film to any application that uses electrical conductivity.
  • FIG. 1 is an explanatory diagram of each step of the process of the graphene film manufacturing method of the present embodiment.
  • the surface of the first substrate 11 that is a transition metal substrate is etched to have a concavo-convex of about 30 nm or more like the surface 11a shown in FIG. Forming a surface.
  • a graphene 10 having a sheet-like crystal structure of one or more carbon atoms is grown by supplying a source material containing carbon to the surface 11a.
  • the graphene 10 can be grown by a CVD method or a PVD method (physical vapor deposition).
  • the CVD method heats a transition metal substrate maintained at various conditions such as an ultrahigh vacuum of 1 ⁇ 10 ⁇ 7 Pa or less, a low pressure of about 10 to 10,000 Pa, and an atmospheric pressure to about 600 to 1200 ° C.
  • a hydrocarbon gas such as methane containing carbon atoms is sprayed onto the transition metal substrate in that state. By this treatment, methane gas is cracked (dissociative adsorption). Carbon atoms derived from the supplied gas receive a catalytic effect on the surface of the transition metal substrate, migrate to a long distance, reach the nucleus of graphene, and graphene grows.
  • the transition metal substrate may be formed of a thin film with the surface being a single crystal surface.
  • graphene can be grown by MBE (molecular beam epitaxy) or PLD (pulse laser deposition) as a method for growing graphene by the PVD method.
  • MBE molecular beam epitaxy
  • PLD pulse laser deposition
  • atomic carbon is generated by heating graphite to 1200 to 2000 ° C. in an ultra-high vacuum, and the atomic carbon converted into a molecular beam is supplied onto the surface of the heated transition metal substrate.
  • the graphene film is formed by the catalytic effect of the transition metal substrate.
  • PLD ablate graphite with an KrF excimer laser in an ultra-high vacuum, so that instantaneously evaporated carbon is supplied in a molecular beam state. When the carbon molecular beam is supplied to the heated transition metal substrate, graphene is formed on the surface of the transition metal substrate.
  • the transition metal for the first substrate described above Fe, Co, Ni, Cu, Mo, Ru, Rh, Pd, W, Re, Ir, Pt, or an alloy thereof can be used.
  • the form of the transition metal substrate can be a foil, a thin film, a bulk, and a single crystal or a polycrystal thereof. The most typical of these transition metal substrates is copper foil.
  • the transition metal substrate serves as a support substrate for graphene and, as described above, serves as a catalyst for cracking (decomposing) the supplied carbon-containing gas and promotes the growth of graphene having a sheet-like crystal structure. Indicates.
  • a second substrate 12 that is a resin support film is formed so as to be in contact with the surface of the graphene 10.
  • the second substrate 12 is formed while maintaining the state of the graphene 10 formed on the surface of the first substrate.
  • the second substrate 12 is made of a material capable of holding the graphene 10.
  • the most typical second substrate 12 is obtained by volatilizing a solvent or polymerizing a precursor from a precursor such as a solvent-soluble resin dissolved in a solvent or a prepolymer before becoming a polymer. It is solidified.
  • the resin support film to be the second substrate 12, for example, can exhibit a certain degree of support function, is not affected by the subsequent removal of the first substrate 11, and is final if necessary.
  • the material is selected from materials satisfying the condition that it can be removed without affecting the graphene 10.
  • the graphene 10 at this stage is sandwiched between the first substrate 11 (transition metal substrate) and the second substrate 12 (resin support substrate) (FIG. 1D).
  • the transition metal substrate which is the first substrate 11 is removed.
  • etching with an acid can be employed. This removal process is selected from a technique that does not alter the graphene 10.
  • the graphene 10 is attached to the second substrate 12 and the surface is exposed.
  • the surface of the graphene 10 on the side in contact with the first substrate 11 faces the third substrate 13, which is another substrate, with respect to the surface 13 a of the third substrate 13. paste. Concavities and convexities called texture are formed on the surface 13 a of the third substrate 13.
  • the third substrate 13 is a substrate different from both the first substrate 11 and the second substrate 12.
  • the second substrate 12 is removed as shown in FIG.
  • any technique that hardly affects the graphene 10 and the third substrate 13 can be employed.
  • the third substrate 13 is an inorganic substance such as a silicon substrate or a glass substrate
  • the second substrate 12 can be removed with an organic solvent that dissolves the material of the resin support substrate.
  • the material and properties of the second substrate 12 (resin support film) are those that can be removed in this step.
  • the graphene film can be manufactured by forming the graphene 10 on the surface of the third substrate 13.
  • a technique of scraping the metal uniformly and randomly is optimal.
  • the method it is desirable to use wet etching with acid or dry etching by reactive ion etching.
  • the height of the etching needs to be larger than the unevenness of the third substrate, which is a transfer target, and a structure called a texture such as a solar cell generally has an unevenness of 30 nm or more. 30 nm or more is desirable.
  • the second substrate 14 (resin support substrate) employed in the present embodiment can be made of any material that can satisfy the above-described conditions.
  • a suitable material for the second substrate 12 is PMMA (polymethyl methacrylate) or PDMS (polydimethylsiloxane).
  • PMMA and PDMS can be easily applied with a solution dissolved in a solvent, and it is also easy to volatilize the solvent to form a temporary support film of resin. Furthermore, it can withstand a process (etching process) for removing the first substrate 11 and can easily remove the second substrate itself. Furthermore, a film as much as required for transferring the graphene 10 can be formed.
  • PMMA and PDMS satisfying these conditions are suitable materials used as the second substrate 12 (resin support substrate) in the present embodiment.
  • the shape of the unevenness of the first substrate is inherited, and has the same unevenness of about 30 nm. Therefore, when transferred onto the uneven third substrate, the graphene film The unevenness of the third substrate and the unevenness of the third substrate enter alternately to fit the shape, and the graphene film can adhere to the third substrate, so that the graphene film can be transferred efficiently.
  • the height index of the unevenness can be calculated from a height difference measured by, for example, a scanning electron microscope, a transmission electron microscope, an atomic force microscope, or the like.
  • the unevenness of the texture structure of a general third substrate using this method is, for example, about 30 nm in the semiconductor layer on the light receiving surface side of the solar cell. Therefore, in the preferable configuration of the graphene film, the unevenness is preferably 30 nm or more.
  • the graphene film provided in the present embodiment preferably has 1 or more and 10 or less atomic layers of graphene.
  • the reason is related to the application of the graphene film.
  • Graphene is known to exhibit high mobility, particularly in single layer graphene.
  • the graphene film is used as a transparent conductive film or the like in applications where light transmission is required, there is an upper limit in the number of layers from the viewpoint of transmittance.
  • the upper limit is 10 layers. It is.
  • Example 1 is a sample of a graphene film manufactured according to the above-described embodiment.
  • the materials, amounts used, ratios, processing contents, processing procedures, directions of elements or members, specific arrangements, and the like shown in the following examples can be appropriately changed without departing from the gist of the present invention. Therefore, the scope of the present invention is not limited to the following specific examples. Further, reference is made to the already described drawings.
  • the first substrate 11 As the first substrate 11, a 10 mm square Cu polished (chemical mechanical polished) Cu foil (100 ⁇ m thick) was employed. The arithmetic average roughness Ra of this substrate is about 1 nm.
  • the first substrate 11 is immersed in a mixed solution of 5 ml of hydrochloric acid, 5 ml of hydrogen peroxide, and 25 ml of water for 10 seconds, washed with running water for 5 minutes, and dried, so that the surface of the first substrate 11 has 30 nm unevenness 11a. Formed.
  • the first substrate 11 was placed in a CVD reactor and evacuated to 1 ⁇ 10 ⁇ 3 Pa. Then, the first substrate 11 was heated to 1000 ° C.
  • the substrate was immersed in a mixed solution of 10 ml of hydrochloric acid, 10 ml of hydrogen peroxide and 50 ml of pure water, and etched until the Cu foil as the first substrate 11 was completely removed. Then, the laminated body of the graphene 10 and the 2nd board
  • the third substrate 13 was pressed against the surface of textured SnO / glass (Asahi-U manufactured by Asahi Glass) and heated at 180 ° C. for 30 minutes. By this heating, the PMMA was softened, and the graphene 10 was brought into close contact with the SnO surface of the third substrate 13 that was a SnO / glass substrate.
  • the PMMA of the second substrate 12 was removed from the surface of the graphene 10 by immersing in acetone for 5 minutes. Further, the sample was washed with ultrapure water for 5 minutes to obtain a graphene film sample in which the graphene 10 was disposed on the third substrate 13 as shown in FIG.
  • Example 1 which is a graphene film manufactured according to the present embodiment was observed. It was found that the graphene was transferred uniformly. However, in the micrograph, the difference in density between the graphene and the ground is small, and it is difficult to illustrate in black and white, so illustration is omitted. Thus, the effect of the present invention was demonstrated.

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Abstract

 グラフェンと表面にテクスチャなどの凹凸のある表面との接触不良を削減または解消することにより、グラフェンと凹凸を持つ基板上に均一にグラフェン膜を転写することを課題とする。 遷移金属基板である第1基板の表面に凹凸を形成する工程と、前記第1基板に炭素を含む原料物質を供給することにより、1層以上の炭素原子のシート状の結晶構造を有するグラフェンを成長させる工程と、該グラフェンの表面に接して、樹脂の仮支持膜である第2基板を形成する工程と、前記第1基板を除去する工程と、前記第2基板と前記グラフェンとの積層体を第3基板の表面に対し前記グラフェンの前記第1基板に接していた側の表面を向けて前記積層体を貼り付ける工程と、前記第2基板を除去する工程と、を含む。

Description

グラフェン膜の製造方法およびグラフェン膜ならびにグラフェン膜を用いた透明導電膜
 本発明は、グラフェン膜の製造方法およびグラフェン膜に関する。さらに詳細には本発明は、表面に凹凸のある基板に転写することの出来るグラフェン膜の製造方法およびグラフェン膜に関する。
 従来、sp結合で互いに結合して炭素原子のシート状の結晶構造を有するグラフェンにおいて、炭素原子の単層のシートからなるグラフェン(単層グラフェンという)が発見されている。単層グラフェンは、非特許文献1及び非特許文献2に記載のように、半整数ホール効果などの2次元性に由来する特異な量子伝導が報告され、物性物理の分野で注目されている。
 単層グラフェンでは、キャリア(電子)の移動度が約15000cm/V・sであり、シリコンに比べ一桁以上高い値を示すことが知られている。この点に注目し単層グラフェンの各種の産業応用が提案されている。その応用先は多岐にわたり、Siを超えるトランジスタへの応用、スピン注入デバイス、単分子を検出するガスセンサーなどを含んでいる。なかでも、導電性薄膜や透明導電膜へのグラフェンの適用が注目されており活発に開発が行われている。
 グラフェンを、導電性薄膜または透明導電膜として利用する際の重要な特性の一つが、低いシート抵抗である。シート抵抗は、膜厚と導電率とに反比例することから、膜厚を厚くするほどシート抵抗は低い値が得られる。また、導電率は移動度に比例するため、良質な膜のグラフェンを成膜して、炭素原子の配列に不整合等を減らすことにより、移動度を高められれば、様々な応用の可能性が拓ける。
 また、グラフェンの典型的な製造方法の一つが、CVD法である。例えば非特許文献3では、CVD法によってCuフォイル上に膜質の良いグラフェン薄膜を均一に成膜できることが報告されている。具体的には、CVD炉の内部にCuフォイルを配置して、1000℃まで昇温しながら水素を導入しておき、そこにメタンなどの炭化水素系のガスを供給することにより、Cuフォイル表面にグラフェンが成膜される。
 こうして形成されたグラフェンを導電性薄膜や透明導電膜の用途として用いるためには、Cu表面から剥離して目的の基板に形成する必要がある。その手法の典型的なものでは、形成されたグラフェンの上に、樹脂の仮支持膜としてPMMA(Polymethyl methacrylate)を形成する。その後、Cuフォイルをエッチングにより取り除く。次いで、グラフェン/PMMA膜を、最終的な基板に対して、グラフェンがその基板に接する向きに貼り付ける。その後にアセトンなどの有機溶媒にてPMMAを溶解させれば、グラフェンを当該最終的な基板の面の上に形成することができる。実際、この手法(以下、従来の転写法と呼ぶ)により形成したグラフェンにおいては、結晶の欠陥に起因するといわれるラマン分光法のDピークが観測されず、非常に良質な結晶性を示す。つまり、従来の転写法は平坦な基板に転写する場合には有効な手法といえる。
特開平8-288529号公報
K. S. Novoselov, A. K. Geim, S. V. Morozov,D. Jiang, Y. Zhang, S. V. Dubonos, I. V. Grigorieva, A. A. Firsov, Science 306(2004)666. K. S. Novoselov, D. Jiang, F. Schedin, T. J.Booth, V. V. Khotkevich, S. V. Morozov and K. Geim, Proc. Natl. Acad. Sci.U.S.A. 102 (2005) 10451. Xuesong Li, et al., "Transferof Large-Area Graphene Films for High-Performance Transparent ConductiveElectrodes", Nano Lett. 9, (2009) 4359-4362.
 そこで、本願の発明者らも、非特許文献3と同様の従来の転写法を用いて、太陽電池上へのグラフェン膜の作製を試みた。その結果、太陽電池上には、グラフェンを転写できなかった。本願の発明者は、転写できなかった原因としては、太陽電池では、基板表面や基板上に接して形成される電極に、光の閉じ込め効率を向上させるために、30nm程度以上の凹凸であるテクスチャと呼ばれる構造を用いており、転写対象の太陽電池表面(受光面側半導体層表面)にも30nm程度のテクスチャ構造が有るためと考える。従来の転写法ではグラフェンの平坦性が1nm程度であり、転写の際にテクスチャの凸の部分にはグラフェンは接触できるが、凹の部分にはグラフェンは接触せず、結果としてPMMAを除去した際に、グラフェンと基板との接触が不十分でグラフェンは剥離してしまったと推測される。
 本発明は、上記課題の解決することを目的とする。すなわち本発明は、グラフェンと、表面にテクスチャなどの凹凸のある表面との接触不良を削減または解消することにより、グラフェンと凹凸を持つ基板上に均一にグラフェン膜を転写することを提供し、太陽電池などの用途へのグラフェン膜の適用の可能性を拓くものである。
 本願の発明者は、上述したように、太陽電池などのテクスチャ構造を持つ、凹凸のある表面上に、グラフェンを転写すると、表面の凹凸が転写の能率を低下させる要因になりかねないことに気づいた。そこで、本願の発明者らは、凹凸のある表面に効率良くグラフェンが密着する方法を探索した。そして、グラフェン自体を凹凸構造とすることで、転写の際にグラフェンが転写対象の表面の凹凸にフィットとし、グラフェンの付着の効率が向上し転写能率が向上することを確認した。
 すなわち、本発明のある態様においては、遷移金属基板である第1基板の表面に凹凸を形成する工程と、前記第1基板に炭素を含む原料物質を供給することにより、1層以上の炭素原子のシート状の結晶構造を有するグラフェンを成長させる工程と、該グラフェンの表面に接して樹脂の仮支持膜である第2基板を形成する工程と、前記第1基板を除去する工程と、前記第2基板と前記グラフェンとの積層体を第3基板の表面に対し前記グラフェンの前記第1基板に接していた側の表面を向けて前記積層体を貼り付ける工程と、前記第2基板を除去する工程と、を含むグラフェン膜の製造方法が提供される。
 第2基板がPMMA(ポリメチルメタクリレート)またはPDMS(ポリジメチルシロキサン)であることが好ましい。
 また、本発明のある態様においては、凹凸のある遷移金属基板上にグラフェンを成長することで、基板の凹凸を引き継いだ、1層以上の炭素原子がシート状に形成された結晶構造を有する膜である、グラフェン膜が提供される。
 本発明の各態様において、第1基板および第2基板は、それぞれ、遷移金属基板および樹脂の仮支持膜を互いに、または他の基板から区別するために本出願で用いる呼称である。これに対し、第3基板は、第1基板とも第2基板とも別の基板である限り、任意の材質の任意の基板である。つまり、第3基板は、第1および第2基板の材質も含めて任意の材質により作製された基板または基体とする物体である。通常は、第3基板の面の上に形成されたグラフェン膜を、その後に支持する基板とて使用し続ける。その場合、第3基板はグラフェン膜が適用される用途の観点から決定される。
 第3基板の例としては、薄膜太陽電池の受光面側の層が挙げられる。
この層も、基板などに形成された凹凸を引き継いで、30nm程度、またはそれ以上の凹凸を、表面に有するものである。この場合、グラフェン膜は、薄膜太陽電池の透明電極層として用いられる。
例えば、特許文献1には、アモルファス系材料から成る薄膜太陽電池において、基板に接する電極である、下部電極層表面の山谷(凹凸)の高低差が50nm~150nmであることが記載されている。この下部電極層表面の凹凸を、太陽電池の最上層が引き継ぎ、最上層にも30nm程度の凹凸が出来る。このとき、凹凸を有したグラフェン膜は、太陽電池の透明導電膜として用いることができる。
 ただ、太陽電池の表面層が有する凹凸には、ランダムネスが有る。このため、単に第1基板に、規則的な凹凸を設けて転写しても、太陽電池の表面層に、グラフェン膜が、上手くフィットしない場合がある。この場合には、予め、太陽電池の受光面側の表面層に存在している凹凸の型を取り、この型を用いて、第1基板の表面に凹凸を設ければ、グラフェン膜の凹凸が、太陽電池の表面層の凹凸にフィットする。
 グラフェンは原子層1層で約2.3%もの高い光吸収を示すため、本発明で透明導電膜としてグラフェン膜を採用すると、10層を上限とすると好適である。その場合、本発明において提供されるグラフェン膜の膜厚方向の光透過率が70%以上であると有利である。
 さて、グラフェンとは、sp結合で互いに結合して炭素原子が1原子層以上の膜状または層状に形成されている状態の物質を指す。したがって、本出願において、グラフェンという文言の意味としては、単層グラフェンだけではなく、複数の原子層で成る炭素原子のシートも含む。なお、本出願においてグラフェン膜と呼ぶときは、例えば第3基板などの、何らかの基板または基体に支持された状態のグラフェンを意図している。
 凹凸とは、平坦な状態から隆起した構造を呼ぶ。したがって、隆起の仕方にはさまざまな形状があり、限定されるものでは無い。本出願においては、概ね30nm以上の高さとなっている部分を指している。
 なお、本発明において、「接して」や「貼り付ける」とは、必ずしも全面的に密着しているものだけを含むものではない。例えば基板の凹凸を引き継いで基板上に載置または支持または配置されているものも、「接して」や「貼り付ける」に含まれる。
 本発明のいずれかの態様においては、転写能率の低下の原因である表面の凹凸に対し、凹凸を有するグラフェン膜を使用することにより、グラフェン膜の付着効率が向上し、転写能率の高いグラフェン膜が提供され、導電性を利用する任意の用途へのグラフェン膜の適用の可能性が拓ける。
本発明のある実施形態におけるグラフェン膜の製造方法の工程の各段階の様子を示す説明図である。
 以下、本発明に係るグラフェン膜の製造方法およびグラフェン膜を、図面を参照して説明する。当該説明に際し特に言及がない限り、全図にわたり共通する部分または要素には共通する参照符号が付されている。また、図中、各実施形態の要素のそれぞれは、必ずしも互いの縮尺比を保って示してはいない。
<実施の形態1>
 本実施形態においては、グラフェン膜の製造方法およびグラフェン膜が提供される。図1は、本実施形態のグラフェン膜の製造方法の工程の各段階の説明図である。
 図1(a)に示すようにまず、遷移金属基板である第1基板11の表面をエッチングすることにより図1(b)に示す、表面11aのように30nm程度、またはそれ以上の凹凸を持つ表面を形成する。次いで、図1(c)に示すように、表面11aに炭素を含む原料物質を供給することにより、1層以上の炭素原子のシート状の結晶構造を有するグラフェン10を成長させる。
 具体的には、グラフェン10の成長法としては、CVD法またはPVD法(物理的気相堆積)により成膜することができる。このうちCVD法では、1×10-7Pa以下の超高真空中や、10~10000Pa程度の低圧や大気圧などの、さまざまな条件下に維持した遷移金属基板を600~1200℃程度に加熱する。その状態の遷移金属基板に対して、炭素原子を含むメタンなどの炭化水素ガスを吹き付ける。この処理によりメタンガスはクラッキング(解離吸着)される。供給されたガスに由来する炭素原子は、遷移金属基板の表面の触媒効果を受け、長い距離をマイグレーションすることで、グラフェンの核に到達し、グラフェンが成長してゆく。なお、遷移金属基板は、表面を単結晶の表面とし、薄膜により形成されていてもよい。
 一方、PVD法によるグラフェンの成長方法としては、MBE(分子線エピタキシー法)やPLD(パルスレーザー堆積)などにより、グラフェンを成長させることが可能である。MBEでは超高真空中でグラファイトを1200~2000℃に加熱することで原子状の炭素を発生させ、分子線となった原子状炭素を、加熱した遷移金属基板表面上に供給する。これにより、遷移金属基板の触媒効果によってグラフェンが成膜される。これに対しPLDでは、超高真空中でグラファイトをKrFのエキシマレーザーにてアブレーションすることで、瞬時に蒸発した炭素が分子線の状態で供給される。この炭素の分子線を加熱された遷移金属基板に供給すると、遷移金属基板の表面にグラフェンが成膜される。
 なお、上述した第1基板のための遷移金属には、Fe、Co、Ni、Cu、Mo、Ru、Rh、Pd、W、Re、Ir、Ptまたはこれらの合金を採用することが可能である。また、遷移金属基板の形態は、フォイル、薄膜、バルク、およびそれらの単結晶、多結晶などとすることができる。これらのうち最も典型的な遷移金属基板は銅箔である。遷移金属基板は、グラフェンの支持基板となるとともに、上述したとおり、供給された炭素を含有するガスをクラッキング(分解)する触媒となり、炭素原子がシート状の結晶構造のグラフェンの成長を促進する作用を示す。
 次に図1(d)のように、樹脂支持膜である第2基板12を、グラフェン10の表面に接するように形成する。具体的には、第1基板の面の上に形成されているグラフェン10を、その状態を維持しつつ第2基板12を形成する。この際、第2基板12は、グラフェン10を保持することが可能な材質により作製する。例えばグラフェン10に接した状態で、液状の材質から固化させることが可能で、その後にグラフェン10を保持しうる材質が、この第2基板12に適している。最も典型的な第2基板12は、溶媒に溶けている状態の溶媒可溶性の樹脂や、高分子となる前のプレポリマーなどの前駆体から、溶媒を揮発させたり、前駆体を重合させることによって固化したものである。この第2基板12となる樹脂支持膜は、例えば、ある程度の支持機能を発揮することができること、後の第1基板11の除去の際に影響を受けないこと、さらに、必要に応じて最終的にグラフェン10に影響を与えずに除去可能であること、という条件を満たす材質から選択される。この段階のグラフェン10は、第1基板11(遷移金属基板)と第2基板12(樹脂支持基板)とに挟まれた状態となっている(図1(d))。
 次いで図1(e)のように、第1基板11である遷移金属基板を除去する。遷移金属基板を除去するためには、例えば酸によるエッチングを採用することが可能である。この除去の処理は、グラフェン10を変質させない手法から選択される。第1基板が完全に除去されると、グラフェン10が第2基板12に付着して表面を露出させている状態になる。
 その後、図1(f)のように、グラフェン10の第1基板11に接していた側の表面を、他の基板である第3基板13に向けて、第3基板13の表面13aに対して貼り付ける。第3基板13の表面13aにはテクスチャと呼ばれる凹凸が形成されている。なお、第3基板13は、第1基板11とも第2基板12とも別の基板である。
 最後に図1(g)のように第2基板12を除去する。この手法としては、グラフェン10および第3基板13に対して影響を及ぼしにくい任意の手法を採用することができる。例えば、第3基板13がシリコン基板やガラス基板などの無機物であるなら、樹脂支持基板の材質を溶解させる有機溶媒によって第2基板12を除去することができる。第2基板12(樹脂支持膜)の材質や性状は、本工程において除去可能なものを採用しておく。
 以上の工程により、グラフェン10を第3基板13の面の上に形成してグラフェン膜を製造することができる。次に、より詳細な製造条件について説明する。
 本実施形態においては、第1基板である遷移金属をエッチングするためには、金属を均一かつランダムに削り取る手法が最適である。その方法としては酸などによるウエットエッチングや反応性イオンエッチングなどによるドライエッチングを使用することが望ましい。このときエッチングの高さは転写対象である、第3基板の凹凸よりも大きい必要があり、一般的に太陽電池などのテクスチャと呼ばれる構造では30nm以上の凹凸があるため、本エッチングによる高さは30nm以上が望ましい。
 本実施形態において採用する第2基板14(樹脂支持基板)は、上述した条件を満たすことが可能な任意の材質のものとすることができる。第2基板12として好適なものは、PMMA(ポリメチルメタクリレート)またはPDMS(ポリジメチルシロキサン)である。PMMAやPDMSは、溶媒に溶解させた状態の溶液により、容易に塗布することが可能であり、また、その溶媒を揮発させて樹脂の仮支持膜を形成することも容易である。さらに、第1基板11の除去のための処理(エッチング処理)にも耐えられる上、第2基板自体を除去することも容易に実施することができる。そしてさらに、グラフェン10を転写するために要する程度の膜を形成することができる。これらの条件を満たすPMMAやPDMSは、本実施形態において第2基板12(樹脂支持基板)として採用する材質の好適なものである。
 本実施形態において提供されるグラフェン膜では、第1基板の凹凸の形状を引き継ぎ、同じく30nm程度の凹凸を有しており、そのため、凹凸のある第3基板上に転写した際には、グラフェン膜の凹凸と第3基板の凹凸が互い違いに入り込み形状にフィットするとともに、グラフェン膜が第3基板に付着することが出来、効率良くグラフェン膜を転写することが出来る。
 ここで、凹凸の高さ指標は例えば走査電子顕微鏡、透過電子顕微鏡、原子間力顕微鏡などによって測定される高低差から算出できる。この方法を用いた一般的な第3基板のテクスチャ構造の凹凸は、例えば太陽電池の受光面側の半導体層では30nm程度である。したがって、グラフェン膜の好ましい構成では、好ましくは、凹凸が30nm以上とされる。
 本実施形態において提供されるグラフェン膜は、グラフェンの原子層数が1層以上10層以下であると好適である。その理由は、グラフェン膜の適用用途に関係している。グラフェンは、特に単層グラフェンにおいて高い移動度を示すことが知られている。他方、グラフェン膜が、光の透過が要求される用途において透明導電膜などとして利用される場合、透過率の点から層数には上限が存在する。具体的には、グラフェンは原子層1層で約2.3%もの高い光吸収を示すため、本実施形態で例えば、透明導電膜としてグラフェン膜を採用すると、10層を上限とすることが好適である。その場合、本実施形態において提供されるグラフェン膜の膜厚方向の光透過率が70%以上とすると有利である。
[実施例]
 次に、本実施形態のグラフェン膜の実施例について説明する。実施例1は上述した実施形態に従って作製したグラフェン膜のサンプルである。以下の実施例に示す材料、使用量、割合、処理内容、処理手順、要素または部材の向きや具体的配置等は本発明の趣旨を逸脱しない限り適宜変更することかできる。したがって、本発明の範囲は以下の具体例に限定されるものではない。また、既に説明した図面を引き続き参照する。
 まず、第1基板11としては10mm角のCMP研磨(化学的機械研磨)したCuフォイル(膜厚100μm)を採用した。この基板の算術平均粗さRaは、1nm程度である。この第1基板11を、塩酸5ml、過酸化水素5ml、水25mlの混合液に10秒浸漬した後、5分間の流水洗浄し、乾燥させることで、第1基板11の表面に30nmの凹凸11aを形成した。この第1基板11をCVDの反応炉に配置し、1×10-3Paまで真空引きを行った。そして、水素を5Pa(3.8×10-2Torr)導入した状態で、第1基板11を50℃/minの昇温レートで1000℃まで加熱した。その後、第1基板11を1000℃に保持した状態で水素の供給を停止し、原料ガスとしてメタンを約4.0×10Pa(約3Torr)導入した。第1基板11の基板温度とガス圧を保持した状態で10min成膜を行った。成膜後は100℃/secの冷却レートにて急冷し、第1基板11にグラフェン10を成長させた。
 次に、グラフェン10の表面に、ジククロベンゼンで10wt%に溶解したPMMA溶液を20μl滴下し、回転数4000rpm、60秒の条件で、スピンコートした。その後40℃、30分間の条件で乾燥させ、PMMA膜による樹脂支持基板として第2基板12を形成した。
 次いで、塩酸10ml、過酸化水素10ml、純水50mlの混合液に浸漬し、第1基板11としたCuフォイルが完全になくなるまでエッチングした。その後、5分間の流水洗浄し、乾燥させることで30nmの凹凸が付いたグラフェン10と第2基板12の積層体を形成した。
 その後、第3基板13であるテクスチャ付きSnO/glass(旭硝子製Asahi-U)の表面に押し付け、180℃、30分間の条件で加熱した。この加熱により、PMMAが軟化し、グラフェン10を、SnO/glass基板である第3基板13のSnO表面に密着させた。
 最後に、アセトンにて5分間浸漬することにより、第2基板12のPMMAをグラフェン10の表面から除去した。さらに超純水にて5分間洗浄して、図4のようにグラフェン10を第3基板13に配置した、グラフェン膜のサンプルを得た。
 本実施形態に従って作製したグラフェン膜である実施例1サンプルの走査電子顕微鏡像を観察した。グラフェンが均一に転写されていることが判った。ただ顕微鏡写真では、グラフェンと下地との濃淡差が小さく、白黒2値で図示するのは困難なので、図示は省略する。以上により本発明の効果が実証された。
 以上、本発明の実施形態を具体的に説明した。上述の実施形態および実施例は、発明を説明するために記載されたものであり、本出願の発明の範囲は、特許請求の範囲の記載に基づいて定められるべきものである。また、各実施形態の他の組合せを含む本発明の範囲内に存在する変形例もまた、特許請求の範囲に含まれるものである。
  10 グラフェン
  11 第1基板
  11a 表面
  12 第2基板
  13 第3基板
  13a 表面
 

Claims (8)

  1. 遷移金属基板である第1基板の表面に凹凸を形成する工程と、前記第1基板に炭素を含む原料物質を供給することにより、1層以上の炭素原子のシート状の結晶構造を有するグラフェンを成長させる工程と、該グラフェンの表面に接して、樹脂の仮支持膜である第2基板を形成する工程と、前記第1基板を除去する工程と、前記第2基板と前記グラフェンとの積層体を第3基板の表面に対し前記グラフェンの前記第1基板に接していた側の表面を向けて前記積層体を貼り付ける工程と、前記第2基板を除去する工程と、を含むグラフェン膜の製造方法。
  2. 第1基板の表面に凹凸を形成する工程が、ウエットエッチングまたはドライエッチングによって形成される請求項1に記載のグラフェン膜の製造方法。
  3. 第1基板の表面の凹凸が30nm以上である請求項1または請求項2のいずれか1項に記載のグラフェン膜の製造方法。
  4. 前記第2基板がPMMAまたはPDMSである請求項1に記載のグラフェン膜の製造方法。
  5.  前記第3基板が、薄膜太陽電池の受光面側に位置する層である請求項1に記載のグラフェン膜の製造方法。
  6. 遷移金属基板が表面に30nm以上の凹凸を有し、その形状を引き継ぐことにより、高さ30nm以上の凹凸を有して当該基板の表面に接して配置されているグラフェン膜。
  7. グラフェンの層数が1層以上10層以下であることを特徴とする請求項6に記載のグラフェン膜。
  8. 請求項6または請求項7に記載のグラフェンを少なくとも1層有し、膜厚方向の光透過率が70%以上であるグラフェン膜を用いた透明導電膜。








     
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015227507A (ja) * 2014-06-02 2015-12-17 コリア インスティチュート オブ エナジー リサーチ 窒素ドープされた炭素表面を有する金属−炭素ハイブリッド複合体及びその製造方法
JP2017512181A (ja) * 2015-03-26 2017-05-18 中国科学院上海微系統与信息技術研究所 グラフェンの成長方法
CN114296571A (zh) * 2021-12-14 2022-04-08 重庆石墨烯研究院有限公司 一种显示屏石墨烯触控膜的制备方法
CN114800989A (zh) * 2022-04-21 2022-07-29 常州富烯科技股份有限公司 石墨烯纤维、模具、石墨烯纤维增强导热垫片、制备方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012094254A (ja) * 2010-10-25 2012-05-17 Sony Corp 透明導電膜、透明導電膜の製造方法、光電変換装置および電子機器
WO2012070385A1 (ja) * 2010-11-24 2012-05-31 富士電機株式会社 グラフェンを含む導電性薄膜および透明導電膜
JP2012162442A (ja) * 2010-03-17 2012-08-30 National Institute Of Advanced Industrial Science & Technology 透明導電性炭素膜の製造方法及び透明導電性炭素膜

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012162442A (ja) * 2010-03-17 2012-08-30 National Institute Of Advanced Industrial Science & Technology 透明導電性炭素膜の製造方法及び透明導電性炭素膜
JP2012094254A (ja) * 2010-10-25 2012-05-17 Sony Corp 透明導電膜、透明導電膜の製造方法、光電変換装置および電子機器
WO2012070385A1 (ja) * 2010-11-24 2012-05-31 富士電機株式会社 グラフェンを含む導電性薄膜および透明導電膜

Non-Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
TAKESHI FUJII ET AL.: "Transparent Conductive Films using Graphene for Solar Cells", GEKKAN DISPLAY, vol. 18, 1 January 2012 (2012-01-01), pages 79 - 84 *
TAKESHI FUJII: "Hall measurement of CVD fabricated graphene as transparent conductive films", 2010 NEN SHUKI DAI 71 KAI EXTENDED ABSTRACTS, 30 August 2010 (2010-08-30) *
TAKESHI FUJII: "Kagakuteki Hakuri Oyobi CVD ni yoru Graphene no Seimaku to Taiyo Denchiyo Tomei Doden'maku eno Oyo to Tenbo", ABSTRACTS OF AUTUMN MEETING OF THE SOCIETY OF CHEMICAL ENGINEERS, vol. 44, 19 August 2012 (2012-08-19), JAPAN, pages G313 *

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015227507A (ja) * 2014-06-02 2015-12-17 コリア インスティチュート オブ エナジー リサーチ 窒素ドープされた炭素表面を有する金属−炭素ハイブリッド複合体及びその製造方法
US9700877B2 (en) 2014-06-02 2017-07-11 Korea Institute Of Energy Research Metal-carbon hybrid composite having nitrogen-doped carbon surface and method for manufacturing the same
JP2017512181A (ja) * 2015-03-26 2017-05-18 中国科学院上海微系統与信息技術研究所 グラフェンの成長方法
CN114296571A (zh) * 2021-12-14 2022-04-08 重庆石墨烯研究院有限公司 一种显示屏石墨烯触控膜的制备方法
CN114296571B (zh) * 2021-12-14 2024-04-09 重庆石墨烯研究院有限公司 一种显示屏石墨烯触控膜的制备方法
CN114800989A (zh) * 2022-04-21 2022-07-29 常州富烯科技股份有限公司 石墨烯纤维、模具、石墨烯纤维增强导热垫片、制备方法
CN114800989B (zh) * 2022-04-21 2023-08-11 常州富烯科技股份有限公司 石墨烯纤维、模具、石墨烯纤维增强导热垫片、制备方法

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