WO2013172568A1 - 광조사 각도 조절가능한 조명부를 포함하는 비전검사장치 - Google Patents

광조사 각도 조절가능한 조명부를 포함하는 비전검사장치 Download PDF

Info

Publication number
WO2013172568A1
WO2013172568A1 PCT/KR2013/003608 KR2013003608W WO2013172568A1 WO 2013172568 A1 WO2013172568 A1 WO 2013172568A1 KR 2013003608 W KR2013003608 W KR 2013003608W WO 2013172568 A1 WO2013172568 A1 WO 2013172568A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
lighting
unit
light irradiation
irradiation angle
illumination
Prior art date
Application number
PCT/KR2013/003608
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
이현율
강근형
김기현
박찬화
Original Assignee
주식회사 미르기술
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 미르기술 filed Critical 주식회사 미르기술
Publication of WO2013172568A1 publication Critical patent/WO2013172568A1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation

Definitions

  • the present invention relates to a vision inspection apparatus, and more particularly, to a vision inspection apparatus including a light irradiation angle adjustable illumination unit configured to adjust the light irradiation angle of the illumination unit constituting the illumination unit.
  • a vision inspection device for inspecting a light emitting diode (LED) component or a printed circuit board (PCB) inspects a mounting state such as lifting or inclination of a component and transfers it to the next process according to the inspection result.
  • LED light emitting diode
  • PCB printed circuit board
  • the position adjusting device adjusts the initial position, and after the adjustment is completed, the illumination is illuminated with a LED component or a printed circuit board.
  • the camera checks the height of the shape of the radiated grid light.
  • the height inspection apparatus calculates the height of the photographing part and compares it with the reference value, thereby inspecting the good / bad of the LED parts and the mounting associated with the height.
  • a vision inspection apparatus it is configured to secure a clear image by irradiating light onto the surface of the inspection object for two-dimensional inspection of the inspection object.
  • Conventional vision inspection apparatus inspects the defect of good parts by irradiating the light from the lighting unit to the surface of the inspection object, taking the inspection object through the camera unit and comparing it with the reference image.
  • the lighting unit is formed by fixing a plurality of LED light emitting devices in a single circular ring shape.
  • an object of the present invention is to form the lighting unit by dividing the light unit constituting the lighting unit, and to assemble the lighting unit to configure the entire lighting unit, it is easy to manufacture the lighting unit It is to provide a vision inspection device comprising a light irradiation angle adjustable illumination.
  • Still another object of the present invention is to provide a vision inspection apparatus including a light irradiation angle adjustable illumination unit that can minimize trial and error for lighting unit design and processing by configuring the light irradiation angle of each lighting unit to be adjustable. will be.
  • Still another object of the present invention is to adjust the light irradiation angle which can improve the brightness uniformity of the total light irradiated on the inspection object by allowing the light to be removed when the light portion is overlapped or the light is not emitted. It is to provide a vision inspection device including an illumination unit.
  • Vision inspection apparatus including a light irradiation angle adjustable illumination unit according to the present invention for achieving the above object is a vision inspection device for determining the good or bad by photographing the inspection object with a camera, and a stage unit for seating the inspection object; And a lens unit and an image sensing unit, the camera unit for capturing an image of the inspection object, an illumination unit for providing illumination to the inspection object, and an image photographed by the camera unit to read or examine the inspection object. And a control unit for controlling the components, wherein the lighting unit is divided into a plurality of lighting units, and the light irradiation angles of the plurality of lighting units are adjustable. do.
  • the plurality of lighting units are arranged adjacent to each other in the circumferential direction.
  • the lighting unit may include a rotating plate detachably coupled to the lighting units, and may be configured to change light irradiation angles of the lighting units by the rotation of the rotating plate.
  • one end of the lighting unit is rotatably fixed and the other end of the lighting unit is configured in a free end state, it can be configured to change the position of the end of the lighting unit in the free end state by the rotation of the rotating plate. .
  • the present invention it is possible to facilitate the manufacturing of the lighting unit by forming the lighting units constituting the lighting unit by unit, and assembling the lighting unit to configure the entire lighting unit.
  • the illumination unit when the light is irradiated by the illumination unit, it is possible to remove a portion where the light overlaps or does not shine, it is possible to improve the brightness uniformity of the entire light irradiated on the inspection object.
  • FIG. 1 is a schematic side cross-sectional view of a vision inspection apparatus including an illumination angle adjustable illumination unit according to the present invention
  • FIG. 2 is an exploded perspective view and a combined perspective view of a vision inspection apparatus including an adjustable light irradiation angle according to the present invention
  • FIG 3 is a perspective view showing the principle that the light irradiation angle is adjusted in the vision inspection apparatus according to the present invention.
  • FIG. 1 is a schematic side cross-sectional view of a vision inspection apparatus including a light irradiation angle adjustable lighting unit according to the present invention
  • Figure 2 is an exploded perspective view and a combined perspective view of a vision inspection apparatus including a light irradiation angle adjustable lighting unit according to the present invention
  • 3 is a perspective view showing the principle that the light irradiation angle is adjusted in the vision inspection apparatus according to the present invention.
  • the vision inspection apparatus including an illumination angle adjustable illumination unit is a vision inspection apparatus for determining the inspection object 5 by photographing the inspection object with a camera, It comprises a stage unit 10 for seating, a lens and an image sensing unit including a camera unit 20 for taking an image of the inspection object 5, and an illumination unit for providing illumination to the inspection object ( 30), a vision processor 40 for determining whether the inspection object is good or bad by reading the image photographed by the camera unit 20, and a control unit 50 for controlling the configuration, the lighting unit 30 is divided into a plurality of lighting units 142, characterized in that the light irradiation angle of the plurality of lighting units 142 is configured to be adjustable.
  • Vision inspection apparatus is installed to perform the vision inspection before moving to the next process through the conveyor of the preceding equipment, when inspecting the surface-mounted parts of the printed circuit board after the work in the surface mounting line.
  • Such a vision inspection apparatus may be installed in a manner that is arranged in a space formed between the conveyor of the line and the trailing equipment, or may be used in the form of a single table without being connected to the line or the trailing equipment.
  • the stage unit 10 is a component for seating the inspection object 5, such as a PCB substrate to be subjected to vision inspection, for example, a robot arm, a transfer roller or a motor and a conveyor belt through the control of the control unit 50.
  • the inspection object 5 conveyed by a conveying means such as is seated.
  • the camera unit 20 is configured to photograph the two-dimensional shape of the inspection object, and is installed on the stage unit 10.
  • the image sensing unit included in the camera unit 20 includes an imaging device such as a charge coupled device (CCD) or a complementary metal-oxide semiconductor (CMOS).
  • an imaging device such as a charge coupled device (CCD) or a complementary metal-oxide semiconductor (CMOS).
  • CCD charge coupled device
  • CMOS complementary metal-oxide semiconductor
  • the lighting unit 30 is configured to illuminate the inspection object 5 and is disposed at the side of the camera unit 20.
  • the lighting unit 30 may include a light emitting device 144 such as an LED or a light bulb, and may include a heat radiating member for dissipating heat generated from the light emitting device 144.
  • a light emitting device 144 such as an LED or a light bulb
  • a heat radiating member for dissipating heat generated from the light emitting device 144.
  • the vision processing unit 40 may determine the good or bad of the inspection object 5 by comparing the image of the inspection object 5 taken by the camera unit 20 with a pre-stored reference (standard) image.
  • the controller 50 is a component that controls the driving and operation of the camera unit 20, the lighting unit 30, and the like, and may be provided to control the driving of the entire inspection apparatus according to the present invention.
  • the controller 50 is responsible for the physical control of the position control of the inspection apparatus, the processing of the photographed image and the control of the light source unit according to the system control program, as well as performing data operation.
  • control unit 50 is responsible for the overall control of the inspection apparatus, such as output device control for outputting the test results to the monitor and input device control for the operator to set and input various items.
  • the plurality of lighting units 142 constituting the lighting unit 30 are disposed adjacent to each other in the circumferential direction to form a circular ring shape.
  • the lower end of the lighting unit 142 is rotatably fixed to the unit accommodating part 38 and the upper end of the lighting unit is installed to be in a free end state.
  • the unit fastening unit 36 is provided at an upper portion of the lighting unit 142, and the connector unit 34 is connected to the unit fastening unit 36.
  • the connector part 34 is provided with a fastening part 35 so that the fastening part 35 is accommodated in the guide part 33 in the rotating plate 35.
  • the guide part 33 is formed in an oblique diagonal line along the circumferential direction of the rotating plate 35.
  • the lighting unit 142 can be inclined forward or returned to its original position.
  • the light irradiation angle of the lighting unit 142 can be adjusted.
  • FIG. 1 Although only one lighting unit 30 is illustrated in FIG. 1, the present invention is not limited thereto, and a plurality of lighting units 30 may be disposed along the height of the vision inspection apparatus.

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

본 발명에 따른 광조사 각도 조절가능한 조명부를 포함하는 비전검사장치는 검사대상물을 카메라로 촬영하여 양호 또는 불량을 판별하기 위한 비전검사장치로서, 검사대상물을 안착시키는 스테이지부와, 렌즈와 이미지감지부를 포함하여 구성되되 검사대상물의 영상을 촬영하기 위한 카메라부와, 상기 검사대상물에 조명을 제공하기 위한 조명부와, 상기 카메라부에서 촬영된 영상을 판독하여 상기 검사대상물의 양호 또는 불량을 판별하는 비전처리부와, 상기 구성들을 제어하기 위한 제어부를 포함하며, 상기 조명부는 복수 개의 조명 유닛들로 분할 구성되며, 상기 복수 개의 조명 유닛들의 광조사각도가 조절가능하게 구성되는 것을 특징으로 한다. 본 발명에 의해, 조명부를 구성하는 조명들을 유닛별로 구분하여 형성하고, 이러한 조명유닛을 조립하여 전체 조명부를 구성하도록 함으로써 조명부 제작을 용이하게 할 수 있다. 또한, 각 조명유닛의 광조사 각도를 조절가능하게 구성함으로써 조명부 설계 및 가공을 위한 시행착오를 최소화할 수 있으며, 조명부에 의한 광조사 시 광이 중첩되거나 광이 비치지 않는 부분을 제거할 수 있도록 함으로써, 검사대상물 상에 조사되는 전체 광의 밝기 균일도를 향상시킬 수 있다.

Description

광조사 각도 조절가능한 조명부를 포함하는 비전검사장치
본 발명은 비전검사장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 조명부를 구성하는 조명유닛의 광조사 각도를 조절할 수 있도록 구성되는 광조사 각도 조절가능한 조명부를 포함하는 비전검사장치에 관한 것이다.
일반적으로, 엘이디(LED: Light Emitting Diode)부품, 인쇄회로기판(PCB)을 검사하기 위한 비전검사장치는 부품의 들뜸이나 기울어짐과 같은 실장상태를 검사하며 검사결과에 따라 다음 공정으로 이송시키게 된다.
통상적인 부품의 검사를 위한 3차원비전검사방법은, 컨베이어를 통해 검사대상물이 수평 이송되면 위치조절장치에서 초기 위치를 조절하고, 조절이 완료된 후 격자무늬 구조를 띈 조명이 엘이디 부품 또는 인쇄회로기판을 조사하면 카메라가 조사된 격자무늬 광의 형태를 촬영하여 높이를 검사한다.
이후 높이검사장치는 촬영 부분의 높이를 연산하고 기준값과 비교함으로써, 높이와 연관되는 엘이디 부품과 실장의 양호/불량을 검사한다.
또한, 카메라를 통한 검사대상물의 2차원적 촬영 및 기준 영상과의 비교를 통해서도 표면실장부품의 실장 유/무 및 실장 불량 여부를 검사하게 된다.
이러한 비전검사장치에서는, 검사대상물의 2차원적 검사를 위해 검사대상물의 표면에 광을 조사하여 선명한 영상을 확보하도록 구성된다.
종래 비전검사장치는 조명부로부터의 광을 검사대상물의 표면에 조사하고, 카메라부를 통해 검사대상물을 촬영하여 기준 영상과 비교함으로써, 부품의 양호 불량을 검사한다.
그런데, 상기와 같은 종래 비전검사장치에서는 상기 조명부가 다수개의 엘이디 발광소자들을 하나의 원형 링 형상으로 고정 배치시켜 형성된다.
따라서, 전체 조명부를 제작하기가 번거롭고 난해하며, 일단 조명부가 형성된 상태에서는 조명부의 광 조사각도를 변경할 수 없게 된다.
이러한 점은 조명부 설계 및 가공 과정을 어렵고 번거롭게 하며, 전체 비전검사장치의 제조 단가를 현저히 상승시키는 요인이 된다.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로서, 본 발명의 목적은 조명부를 구성하는 조명들을 유닛별로 구분하여 형성하고, 이러한 조명유닛을 조립하여 전체 조명부를 구성하도록 함으로써, 조명부 제작을 용이하게 할 수 있는 광조사 각도 조절가능한 조명부를 포함하는 비전검사장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 또 다른 목적은, 각 조명유닛의 광조사 각도를 조절가능하게 구성함으로써, 조명부 설계 및 가공을 위한 시행착오를 최소화할 수 있는 광조사 각도 조절가능한 조명부를 포함하는 비전검사장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 또 다른 목적은, 조명부에 의한 광조사 시 광이 중첩되거나 광이 비치지 않는 부분을 제거할 수 있도록 함으로써, 검사대상물 상에 조사되는 전체 광의 밝기 균일도를 향상시킬 수 있는 광조사 각도 조절가능한 조명부를 포함하는 비전검사장치를 제공하는 것이다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 광조사 각도 조절가능한 조명부를 포함하는 비전검사장치는 검사대상물을 카메라로 촬영하여 양호 또는 불량을 판별하기 위한 비전검사장치로서, 검사대상물을 안착시키는 스테이지부와, 렌즈와 이미지감지부를 포함하여 구성되되 검사대상물의 영상을 촬영하기 위한 카메라부와, 상기 검사대상물에 조명을 제공하기 위한 조명부와, 상기 카메라부에서 촬영된 영상을 판독하여 상기 검사대상물의 양호 또는 불량을 판별하는 비전처리부와, 상기 구성들을 제어하기 위한 제어부를 포함하며, 상기 조명부는 복수 개의 조명 유닛들로 분할 구성되며, 상기 복수 개의 조명 유닛들의 광조사각도가 조절가능하게 구성되는 것을 특징으로 한다.
바람직하게는, 상기 복수 개의 조명유닛들은 원주 방향으로 인접하여 배치된다.
여기서, 상기 조명유닛들과 착탈가능하게 결합되는 회전판을 포함하며 상기 회전판의 회전에 의해 상기 조명유닛들의 광조사 각도가 변경되도록 구성될 수 있다.
또한, 상기 조명유닛의 일단은 회전가능하게 고정되고 상기 조명유닛의 타단은 자유단 상태로 구성되어, 상기 회전판의 회전에 의해 상기 자유단 상태의 조명유닛 단부의 위치가 변경가능하도록 구성될 수 있다.
본 발명에 의해, 조명부를 구성하는 조명들을 유닛별로 구분하여 형성하고, 이러한 조명유닛을 조립하여 전체 조명부를 구성하도록 함으로써 조명부제작을 용이하게 할 수 있다.
또한, 각 조명유닛의 광조사 각도를 조절가능하게 구성함으로써 조명부 설계 및 가공을 위한 시행착오를 최소화할 수 있다.
또한, 조명부에 의한 광조사 시 광이 중첩되거나 광이 비치지 않는부분을 제거할 수 있도록 함으로써, 검사대상물 상에 조사되는 전체 광의 밝기 균일도를 향상시킬 수 있다.
첨부의 하기 도면들은, 발명의 상세한 설명과 함께 본 발명의 기술적 사상을 이해시키기 위한 것이므로, 본 발명은 하기 도면에 도시된 사항에 한정해석되어서는 아니 된다.
도 1 은 본 발명에 따른 광조사 각도 조절가능한 조명부를 포함하는 비전검사장치의 개략 측단면도이며,
도 2 는 본 발명에 따른 광조사 각도 조절가능한 조명부를 포함하는 비전검사장치의 분해사시도 및 결합사시도이며,
도 3 은 본 발명에 따른 비전검사장치에서 광조사 각도가 조절되는 원리를 도시하는 사시도이다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 구성을 상세히 설명하기로한다.
이에 앞서, 본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어는 사전적인 의미로 한정 해석되어서는 아니되며, 발명자는 자신의 발명을 최선의 방법으로 설명하기 위해 용어의 개념을 적절히 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여, 본 발명의 기술적 사상에 부합되는 의미와 개념으로 해석되어야 한다.
따라서, 본 명세서에 기재된 실시예 및 도면에 도시된 구성은 본 발명의 바람직한 실시예에 불과할 뿐이고, 본 발명의 기술적 사상을 모두 표현하는 것은 아니므로, 본 출원 시점에 있어 이들을 대체할 수 있는 다양한 균등물과 변형예들이 존재할 수 있음을 이해하여야 한다.
도 1 은 본 발명에 따른 광조사 각도 조절가능한 조명부를 포함하는 비전검사장치의 개략 측단면도이며, 도 2 는 본 발명에 따른 광조사 각도 조절가능한 조명부를 포함하는 비전검사장치의 분해사시도 및 결합사시도이며, 도 3 은 본 발명에 따른 비전검사장치에서 광조사 각도가 조절되는 원리를 도시하는 사시도이다.
도 1 내지 3 을 참조하면, 본 발명에 따른 광조사 각도 조절가능한 조명부를 포함하는 비전검사장치는 검사대상물을 카메라로 촬영하여 양호 또는 불량을 판별하기 위한 비전검사장치로서, 검사대상물(5)을 안착시키는 스테이지부(10)와, 렌즈와 이미지감지부를 포함하여 구성되되 검사대상물(5)의 영상을 촬영하기 위한 카메라부(20)와, 상기 검사대상물(5)에 조명을 제공하기 위한 조명부(30)와, 상기 카메라부(20)에서 촬영된 영상을 판독하여 상기 검사대상물의 양호 또는 불량을 판별하는 비전처리부(40)와, 상기 구성들을 제어하기 위한 제어부(50)를 포함하며, 상기 조명부(30)는 복수 개의 조명 유닛들(142)로 분할 구성되며, 상기 복수 개의 조명 유닛들(142)의 광조사각도가 조절가능하게 구성되는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 따른 비전검사장치는 표면실장라인에서 작업을 마친 인쇄회로기판의 표면실장부품을 검사할 경우, 선행장비의 컨베이어를 통해 다음 공정으로 이동되기 이전에 비전검사를 실시할 수 있도록 설치된다.
이와 같은 비전검사장치는 선, 후행 장비의 컨베이어와 컨베이어 사이에 형성되는 공간에 배치되는 방식으로 설치되거나, 또는 선, 후행장비와 연계되지 않고 단독 테이블 형태로도 사용될 수 있다.
상기 스테이지부(10)는 비전 검사의 대상이 되는 PCB 기판 등의 검사대상물(5)을 안착시키기 위한 구성으로서, 예를 들어 제어부(50)의 제어를 통한 로봇 암, 이송롤러 또는 모터 및 컨베이어벨트 등의 이송 수단에 의해 이송된 상기 검사대상물(5)이 안착된다.
상기 카메라부(20)는 검사대상물의 2차원적 형상을 촬영하기 위한 구성이며, 상기 스테이지부(10)의 상부에 설치된다.
상기 카메라부(20) 내에 포함되는 이미지감지부는 씨씨디(CCD:Charge Coupled Device) 또는 씨모스(CMOS: Complementary metal-oxide semiconductor)와 같은 촬상소자로 구성된다.
상기 조명부(30)는 상기 검사대상물(5)에 조명을 비추기 위한 구성으로서, 상기 카메라부(20)의 측부에 배치된다.
상기 조명부(30)는 엘이디 또는 전구와 같은 발광소자(144)를 포함하여 구성되며, 상기 발광소자(144)로부터 발생되는 열을 방출하기 위한 방열부재를 포함할 수 있다.
상기 비전처리부(40)는 상기 카메라부(20)에 의해 촬영된 검사대상물(5)의 영상을 미리 저장된 기준(표준) 영상과 비교함으로써, 검사대상물(5)의 양호 불량을 판단할 수 있다.
상기 제어부(50)는 상기 카메라부(20), 조명부(30) 등의 구동 및 동작을 제어하는 구성요소로써, 본 발명에 따른 검사장치 전체의 구동을 제어하도록 마련될 수 있다.
상기 제어부(50)는 시스템 제어 프로그램에 따라 검사장치의 위치제어와 촬영된 영상의 처리와 광원부 제어 등의 물리적인 제어를 담당함은 물론 데이터 연산 작업을 수행한다.
아울러, 상기 제어부(50)는 검사결과를 모니터에 출력하기 위한 출력장치 제어와 작업자가 제반사항을 설정 및 입력할 수 있는 입력장치 제어 등 검사장치의 총괄적인 제어를 담당한다.
상기 조명부(30)를 이루는 복수 개의 조명유닛(142)들은 원형의 링 형상을 구성하도록 원주 방향으로 인접하여 배치된다.
여기서, 또한, 상기 조명유닛(142)의 하단은 유닛수용부(38)에 회전가능하게 고정되고 상기 조명유닛의 상단은 자유단 상태가 되도록 설치된다.
상기 조명유닛(142)의 상부에는 유닛체결부(36)가 마련되고, 상기 유닛체결부(36)에는 커넥터부(34)가 연결된다.
상기 커넥터부(34)에는 체결부(35)가 형성되어 상기 체결부(35)가 회전판(35) 내의 가이드부(33)에 수용된다.
상기 가이드부(33)는 상기 회전판(35)의 원주 방향을 따라 비스듬한 사선으로 형성된다.
그리하여, 도 3 에 도시된 바와 같이, 상기 회전판(35)의 시계 또는 반시계 방향의 회전에 의해 상기 커넥터부(34)의 체결부(35)는 상기 가이드부(33)내를 슬라이딩 하게되고, 따라서 도 3 에서 화살표 방향으로 전후진 이동된다.
그리하여, 상기 회전판(35)을 시계방향 또는 반시계 방향으로 회전시킴으로써 상기 조명유닛(142)들이 전방으로 기울어지거나 원래의 위치로 되돌아갈 수 있다.
따라서, 상기 조명유닛(142)들의 광 조사각도를 조절할 수 있다.
비록, 도 1 에서는 하나의 조명부만(30)을 예시하였으나, 이에 한정되는 것은 아니며 비전검사장치의 높이를 따라 복수 개의 조명부(30)가 배치될 수도 있다.
이상, 본 발명은 비록 한정된 실시예와 도면에 의해 설명되었으나, 본 발명의 기술적 사상은 이러한 것에 한정되지 않으며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해, 본 발명의 기술적 사상과 하기 될 특허청구범위의 균등범위 내에서 다양한 수정 및 변형 실시가 가능할 것이다.

Claims (4)

  1. 검사대상물을 카메라로 촬영하여 양호 또는 불량을 판별하기 위한 비전검사장치로서,
    검사대상물을 안착시키는 스테이지부와;
    렌즈와 이미지감지부를 포함하여 구성되되 검사대상물의 영상을 촬영하기 위한 카메라부와;
    상기 검사대상물에 조명을 제공하기 위한 조명부와;
    상기 카메라부에서 촬영된 영상을 판독하여 상기 검사대상물의 양호 또는 불량을 판별하는 비전처리부와;
    상기 구성들을 제어하기 위한 제어부를 포함하며,
    상기 조명부는 복수 개의 조명 유닛들로 분할 구성되며, 상기 복수 개의 조명 유닛들의 광조사각도가 조절가능하게 구성되는 것을 특징으로 하는 광조사 각도조절가능한 조명부를 포함하는 비전검사장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 복수 개의 조명유닛들은 원주 방향으로 인접하여 배치되는 것을 특징으로 하는 광조사 각도 조절가능한 조명부를 포함하는 비전검사장치.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 조명유닛들과 착탈가능하게 결합되는 회전판을 포함하며 상기 회전판의 회전에 의해 상기 조명유닛들의 광조사 각도가 변경되도록 구성되는 것을 특징으로 하는 광조사 각도 조절가능한 조명부를 포함하는 비전검사장치.
  4. 제 3 항에 있어서,
    상기 조명유닛의 일단은 회전가능하게 고정되고 상기 조명유닛의 타단은 자유단 상태로 구성되어, 상기 회전판의 회전에 의해 상기 자유단 상태의 조명유닛 단부의 위치가 변경가능하도록 구성되는 것을 특징으로 하는 광조사 각도 조절가능한 조명부를 포함하는 비전검사장치.
PCT/KR2013/003608 2012-05-17 2013-04-26 광조사 각도 조절가능한 조명부를 포함하는 비전검사장치 WO2013172568A1 (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR10-2012-0052469 2012-05-17
KR1020120052469A KR101363520B1 (ko) 2012-05-17 2012-05-17 광조사 각도 조절가능한 조명부를 포함하는 비전검사장치

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2013172568A1 true WO2013172568A1 (ko) 2013-11-21

Family

ID=49583937

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/KR2013/003608 WO2013172568A1 (ko) 2012-05-17 2013-04-26 광조사 각도 조절가능한 조명부를 포함하는 비전검사장치

Country Status (2)

Country Link
KR (1) KR101363520B1 (ko)
WO (1) WO2013172568A1 (ko)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101720954B1 (ko) * 2015-10-19 2017-03-29 주식회사 영우디에스피 패널 표면 검사장치
KR102008271B1 (ko) * 2017-03-03 2019-08-08 (주)커넥슨 광학검사장치용 조명유닛
KR20200082002A (ko) * 2018-12-28 2020-07-08 (주)미래컴퍼니 테라헤르츠파를 이용한 검사장치
KR102232290B1 (ko) * 2018-12-31 2021-03-25 주식회사 포휴 비전 검사 장치를 구비한 플렉서블 디스플레이 폴딩장치
KR102240462B1 (ko) * 2020-12-14 2021-04-13 손호국 에폭시 실링 검사 시스템
KR20220142598A (ko) 2021-04-14 2022-10-24 삼성디스플레이 주식회사 조명 장치 및 이를 포함하는 광학 검사 장치

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20010036825A (ko) * 1999-10-12 2001-05-07 정상용 가동거울을 이용한 3차원 비젼 검사방법 및 이를 이용한 컴퓨터 비젼 시스템
KR20090103152A (ko) * 2008-03-27 2009-10-01 호서대학교 산학협력단 반도체 패키지의 외관 검사를 위한 광학 시스템
KR20100122140A (ko) * 2009-05-12 2010-11-22 (주)제이티 반도체소자 비전검사장치 및 그 방법

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20010036825A (ko) * 1999-10-12 2001-05-07 정상용 가동거울을 이용한 3차원 비젼 검사방법 및 이를 이용한 컴퓨터 비젼 시스템
KR20090103152A (ko) * 2008-03-27 2009-10-01 호서대학교 산학협력단 반도체 패키지의 외관 검사를 위한 광학 시스템
KR20100122140A (ko) * 2009-05-12 2010-11-22 (주)제이티 반도체소자 비전검사장치 및 그 방법

Also Published As

Publication number Publication date
KR20130128620A (ko) 2013-11-27
KR101363520B1 (ko) 2014-02-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2013172568A1 (ko) 광조사 각도 조절가능한 조명부를 포함하는 비전검사장치
WO2012121558A1 (ko) 영상 선명도가 개선된 비전검사장치
WO2013048093A2 (ko) 비접촉식 부품검사장치 및 부품검사방법
WO2012121556A2 (ko) 다중 격자 무늬를 이용한 비전검사장치
WO2012091344A2 (ko) 비전검사장치
WO2016163840A1 (ko) 3차원 형상 측정장치
WO2012134146A1 (ko) 스테레오 비전과 격자 무늬를 이용한 비전검사장치
CN103874406A (zh) 部件安装装置
WO2013176482A1 (ko) 3차원 형상 측정장치의 높이 측정 방법
CN107110789B (zh) 贴装有部件的基板检查方法及检查装置
TWI747365B (zh) 外觀檢查裝置
KR101099392B1 (ko) 비전검사장치
KR101361537B1 (ko) 적외선패턴조사부를 구비하는 비전검사장치
WO2012150782A1 (ko) 편광판과 다중 격자 무늬를 이용한 비전검사장치
WO2012134147A1 (ko) 가시광선의 격자무늬와 비가시광선의 격자 무늬를 이용한 비전검사장치
WO2012134145A1 (ko) 서로 다른 색깔의 다중 격자 무늬를 이용한 비전검사장치
KR101123051B1 (ko) 비전검사장치
KR101442666B1 (ko) 복수 행의 조명부재를 포함하는 비전검사장치
WO2012157952A2 (ko) 피시비 기판 검사장치
KR101390368B1 (ko) 광량조절부재를 포함하는 비전검사장치
JP6067407B2 (ja) 検査装置
KR20130094882A (ko) 광유도부재를 포함하는 비전검사장치
CN114223321B (zh) 光源装置
KR20140109211A (ko) 카메라 촬영 방법 및 카메라 촬영 시스템
CN113466260A (zh) 检查装置

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 13790156

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

122 Ep: pct application non-entry in european phase

Ref document number: 13790156

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1