WO2013136474A1 - 冷却システム - Google Patents

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▲高▼須 庸一
阿部 知行
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    • F28D7/16Heat-exchange apparatus having stationary tubular conduit assemblies for both heat-exchange media, the media being in contact with different sides of a conduit wall the conduits being arranged in parallel spaced relation
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    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F28HEAT EXCHANGE IN GENERAL
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    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00

Definitions

  • the technology disclosed in the present application relates to a cooling system.
  • an electronic device Conventionally, an electronic device, a supply pipe for supplying a cooling fluid to the electronic device, and a discharge pipe for discharging the cooling fluid from the electronic device are provided, and the temperature of the cooling fluid to be supplied to the electronic device is controlled in order to suppress condensation.
  • a cooling device that keeps the temperature higher than the temperature of the environment in which is installed.
  • an object is to supply a cooling fluid having a temperature lower than the temperature of the environment in which the electronic device is installed to the electronic device.
  • a cooling system including an electronic device, a supply pipe, a discharge pipe, and a heat exchange unit.
  • the supply pipe supplies a cooling fluid to the electronic device, and the discharge pipe discharges the cooling fluid from the electronic device.
  • the heat exchange unit exchanges heat between the supply pipe and the discharge pipe when the temperature of the cooling fluid flowing through the supply pipe is lower than the dew point of the environment where the electronic device is installed.
  • a cooling fluid having a temperature lower than the temperature of the environment in which the electronic device is installed can be supplied to the electronic device.
  • the cooling system 10 includes an electronic device 12, a supply pipe 14, a discharge pipe 16, and a heat exchange unit 18.
  • the electronic device 12 has a blower 20 and a substrate 22.
  • the air blower 20 is a fan, for example, and forms a flow of cooling air W inside the housing 24 of the electronic device 12.
  • the substrate 22 is accommodated in the housing 24 and is disposed downstream of the air blowing unit 20 in the flow of the cooling air W.
  • the substrate 22 includes a plurality of heating elements 31, 32, 33, and 34 and a cooling unit 40.
  • Each of the heating elements 31 to 34 is, for example, an arithmetic element (CPU) or an electronic component mounted on the substrate 22 and consumes power to generate heat.
  • other heating elements 35, 36, and 37 such as a memory module (DIMM) are mounted on the substrate 22.
  • DIMM memory module
  • the cooling unit 40 has a plurality of cooling members 41, 42, 43, 44.
  • the cooling member 41 is, for example, a cooling plate, and is formed in a hollow shape.
  • a plurality of fins 46 are erected from the inner wall surface of the cooling member 41.
  • the cooling member 41 is superimposed on the heating element 31.
  • the other cooling members 42 to 44 have the same configuration as the cooling member 41, and are superposed on the heating elements 32 to 34, respectively.
  • the supply pipe 14 connects an outlet of a cooling fluid circulation device (not shown) and an inlet of the cooling member 41 (an inlet of the cooling unit 40), and an exhaust pipe 16 connects an outlet of the cooling member 44 (an outlet of the cooling unit 40). And the inlet of the cooling fluid circulation device described above.
  • the outlet of the cooling member 41 and the inlet of the cooling member 42 are connected by a connecting pipe 51, and the outlet of the cooling member 42 and the inlet of the cooling member 43 are connected by a connecting pipe 52.
  • the outlet of the cooling member 43 and the inlet of the cooling member 44 are connected by a connection pipe 53.
  • cooling fluid circulation device (not shown)
  • the cooling fluid is supplied to the electronic device 12 through the supply pipe 14 and returns to the above-described cooling fluid circulation device from the electronic device 12 through the discharge pipe 16.
  • the cooling fluid flowing through the supply pipe 14 reaches the cooling member 44 through the cooling member 41, the connecting pipe 51, the cooling member 42, the connecting pipe 52, the cooling member 43, and the connecting pipe 53. Further, the cooling fluid reaching the cooling members 41 to 44 returns to the cooling fluid circulation device through the discharge pipe 16.
  • the heat generating elements 31 to 34 are cooled by heat exchange between the cooling members 41 to 44 (cooling unit 40) through which the cooling fluid flows and the heat generating elements 31 to 34, respectively.
  • the cooling fluid in this case, for example, water is used.
  • supply pipe 14 and the discharge pipe 16 described above have parallel portions 14A and 16A provided in parallel with each other.
  • heat exchange part 18 is provided in these parallel parts 14A and 16A.
  • the heat exchange part 18 has the 1st porous body 62 and the 2nd porous body 64, as FIG. 3 shows.
  • the first porous body 62 and the second porous body 64 are accommodated in the housing 24.
  • the first porous body 62 has an annular cross section, and is provided around the supply pipe 14.
  • the second porous body 64 is provided between the discharge pipe 16 and the first porous body 62, and connects the discharge pipe 16 and the first porous body 62.
  • the first porous body 62 and the second porous body 64 are made of, for example, a polyimide-based or fluorine-based resin.
  • the first porous body 62 is subjected to water repellent treatment on the entire surface including the inner peripheral surfaces of the plurality of holes.
  • a fluorocarbon or silicone treatment agent is used.
  • the second porous body 64 is subjected to a hydrophilic treatment on the entire surface including the inner peripheral surfaces of the plurality of holes.
  • a hydrophilic treatment for example, an acrylamide type treatment agent or the like is used.
  • the flow of the cooling air W is formed inside the housing 24 by the air blowing unit 20 described above.
  • the flow of the cooling air W is formed inside the casing 24 of the electronic device 12, so that the first porous body 62 and the second porous body 64 have the electronic device 12.
  • An atmosphere of an environment 70 in which is installed is supplied.
  • this cooling system 10 when a cooling fluid is sent from a cooling fluid circulation device (not shown), the cooling fluid is supplied to the cooling members 41 to 44.
  • the heat generating elements 31 to 34 are cooled by heat exchange between the cooling members 41 to 44 through which the cooling fluid flows and the heat generating elements 31 to 34, respectively.
  • the atmosphere of the environment 70 is sufficiently dry and the dew point of the environment 70 is lower than the temperature of the cooling fluid, no condensation occurs in the supply pipe 14.
  • the humidity around the electronic device 12 is locally high, and when the dew point of the environment 70 is higher than the temperature of the cooling fluid, the supply pipe is provided in the heat exchange region by the heat exchange unit 18. Condensation occurs at 14.
  • the first porous body 62 is subjected to water repellent treatment on the entire surface including the inner peripheral surfaces of the plurality of holes, and the second porous body 64 includes a plurality of water repellent treatments.
  • the entire surface including the inner peripheral surface of the hole is subjected to hydrophilic treatment. Therefore, the condensed water generated in the supply pipe 14 is absorbed by the first porous body 62 and then moves to the second porous body 64.
  • the thermal resistance between the supply pipe 14 and the discharge pipe 16 decreases, heat is transferred from the high-temperature cooling fluid flowing through the discharge pipe 16 to the low-temperature cooling fluid flowing through the supply pipe 14, and cooling flows through the supply pipe 14. The temperature of the fluid rises.
  • the heat exchange unit 18 discharges the supply pipe 14. Heat is exchanged with the pipe 16. Therefore, even when the humidity of the environment 70 in which the electronic device 12 is installed rises locally, dew condensation on the substrate 22 can be suppressed. Therefore, a cooling fluid having a temperature lower than that of the environment 70 can be supplied to the electronic device 12 without providing an excessive margin.
  • first porous body 62 and the second porous body 64 are used for the heat exchanging portion 18, heat exchange can be performed with a simple structure.
  • the dew condensation water can be moved smoothly. Thereby, heat exchange between the supply pipe 14 and the discharge pipe 16 can be performed quickly.
  • the atmosphere of the environment 70 in which the electronic device 12 is installed is supplied to the first porous body 62 and the second porous body 64, rapid heat exchange corresponding to the atmosphere of the environment 70 is performed. It can be performed.
  • first porous body 62 and the second porous body 64 are accommodated in the housing 24 of the electronic device 12. Therefore, the first porous body 62 is supplied by the casing 24 while supplying the atmosphere of the environment 70 in which the electronic device 12 is installed to the first porous body 62 and the second porous body 64 by the blower unit 20. And the 2nd porous body 64 can be protected.
  • the cooling system 80 according to the second embodiment of the technology disclosed in the present application shown in FIG. 4 is configured as follows with respect to the cooling system 10 according to the first embodiment described above.
  • a bent portion 14B that is bent in a substantially U shape in plan view is formed at a portion upstream of the heat exchange region (parallel portion 14A) by the heat exchange portion 18 in the supply pipe 14.
  • a radiator 82 is provided in the bent portion 14B.
  • the bent portion 14 ⁇ / b> B and the radiator 82 are disposed on the downstream side of the flow of the cooling air W from the substrate 22.
  • the cooling system 10 even if the temperature of the cooling air rises due to the heating elements 31 to 34 mounted on the substrate 22 and the other heating elements 35 to 37, the cooling air is cooled by the radiator 82. be able to. Thereby, the temperature rise of the environment 70 in which the electronic device 12 is installed can be suppressed.
  • the cooling system 90 according to the third embodiment of the technology disclosed in the present application shown in FIG. 5 is configured as follows with respect to the cooling system 80 according to the second embodiment described above.
  • bypass pipe 92 is added to the cooling system 90.
  • the bypass pipe 92 is located upstream of the heat exchange region (parallel portion 14A) by the heat exchange unit 18 in the supply pipe 14 and from the heat exchange region (parallel portion 16A) by the heat exchange unit 18 in the discharge pipe 16. It bypasses the downstream part.
  • a flow rate adjusting portion 94 such as a flow rate adjusting valve is provided at a branch portion between the bypass pipe 92 and the parallel portion 14A.
  • the flow rate adjusting unit 94 adjusts the ratio between the flow rate of the cooling fluid flowing through the supply pipe 14 and the flow rate of the cooling fluid flowing through the bypass pipe 92.
  • the cooling system 90 includes a temperature detector 96, a humidity detector 98, and a control unit 100, as shown in FIG.
  • the temperature detector 96 is provided near the inlet of the cooling unit 40 and detects the temperature of the cooling fluid supplied to the cooling unit 40.
  • the humidity detector 98 is installed in the environment 70 and detects the humidity (relative humidity) of the environment 70.
  • the control unit 100 is, for example, an electronic circuit having an arithmetic element (CPU) or a storage device.
  • the flow rate adjusting unit 94 is based on the detection results of the temperature detector 96 and the humidity detector 98 so that the temperature of the cooling fluid supplied to the cooling unit 40 is higher than the dew point of the environment 70. Is controlled by the control unit 100.
  • the flow rate adjusting unit 94 is set so that the flow rate of the cooling fluid supplied to the cooling unit 40 decreases. Is controlled. Thereby, since the temperature of the cooling fluid flowing through the discharge pipe 16 is increased, the temperature of the cooling fluid flowing through the supply pipe 14 is also increased. As a result, condensation on the substrate 22 can be suppressed.
  • the flow rate adjusting unit 94 is set so that the flow rate of the cooling fluid supplied to the cooling unit 40 increases. Is controlled. That is, the control unit 100 is based on the detection results of the temperature detector 96 and the humidity detector 98 so that the temperature of the cooling fluid supplied to the cooling unit 40 falls within a certain temperature range higher than the dew point of the environment 70. The flow rate adjusting unit 94 is controlled. This constant temperature range is set to a temperature that is higher than the dew point of the environment 70 and that can appropriately cool the heating elements 31 to 34.
  • the temperature of the cooling fluid supplied to the cooling unit 40 can be maintained at an appropriate value necessary for cooling the heating elements 31 to 34 while maintaining the temperature higher than the dew point of the environment 70. Thereby, the heating elements 31 to 34 can be appropriately cooled.
  • the first porous body 62 is subjected to water repellent treatment
  • the second porous body 64 is subjected to hydrophilic treatment, whereby the first porous body 62 is changed to the second porous body 62.
  • Condensed water was moved to the mass 64.
  • the hole diameter of each hole in the first porous body 62 may be set larger than the hole diameter of each hole in the second porous body 64.
  • dew condensation water may be moved from the 1st porous body 62 to the 2nd porous body 64 by utilizing the capillary phenomenon by the difference in this hole diameter.
  • the hole diameter in this case is an average hole diameter of a plurality of holes.
  • the dew condensation water generated in the supply pipe 14 can be smoothly moved from the first porous body 62 to the second porous body 64. As a result, the thermal resistance between the supply pipe 14 and the discharge pipe 16 is lowered. As a result, the heat exchange between the supply pipe 14 and the discharge pipe 16 can be quickly performed as in the above-described embodiment. .
  • the pore diameter of each hole in the first porous body 62 is the second It may be set larger than the hole diameter of each hole in the porous body 64.
  • the first porous body 62 and the second porous body 64 are accommodated in the housing 24 of the electronic device 12.
  • the first porous body 62 and the second porous body 64 may be provided outside the housing 24 of the electronic device 12. Thereby, the atmosphere of the environment 70 in which the electronic device 12 is installed may be supplied to the first porous body 62 and the second porous body 64.
  • the heat exchanging portion 18 has the first porous body 62 and the second porous body 64.
  • the member 104 may be included.
  • the water repellent member 102 has an annular cross section and is provided around the supply pipe 14.
  • the water repellent member 102 has water repellency, for example, by performing water repellent treatment on the surface of the resin member.
  • the hydrophilic member 104 is provided between the discharge pipe 16 and the water repellent member 102, and connects the discharge pipe 16 and the water repellent member 102.
  • the hydrophilic member 104 has hydrophilicity by, for example, applying a hydrophilic treatment to the surface of the resin member.

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Abstract

 一つの側面として、電子機器が設置された環境の温度より低温の冷却流体を電子機器に供給することを目的とする。 冷却システム(10)は、電子機器(12)と、供給配管(14)と、排出配管(16)と、熱交換部(18)とを備えている。供給配管(14)は、電子機器(12)に冷却流体を供給し、排出配管(16)は、電子機器(12)から冷却流体を排出する。熱交換部(18)は、供給配管(14)を流れる冷却流体の温度が電子機器(12)の設置された環境の露点よりも低い場合に、供給配管(14)と排出配管(16)との間で熱交換する。

Description

冷却システム
 本願の開示する技術は、冷却システムに関する。
 従来、電子機器と、電子機器に冷却流体を供給する供給配管と、電子機器から冷却流体を排出する排出配管を備え、結露を抑制するために、電子機器に供給する冷却流体の温度を電子機器が設置された環境の温度よりも高く保つようにした冷却装置が知られている。
特開平7-218075号公報
 しかしながら、上述の冷却装置では、電子機器が設置された環境の湿度が考慮されていない。このため、この環境の温度より低温の冷却流体を電子機器に供給することができない。
 そこで、本願の開示する技術は、一つの側面として、電子機器が設置された環境の温度より低温の冷却流体を電子機器に供給することを目的とする。
 上記目的を達成するために、本願の開示する技術によれば、電子機器と、供給配管と、排出配管と、熱交換部とを備えた冷却システムが提供される。供給配管は、電子機器に冷却流体を供給し、排出配管は、電子機器から冷却流体を排出する。熱交換部は、供給配管を流れる冷却流体の温度が電子機器の設置された環境の露点よりも低い場合に、供給配管と排出配管との間で熱交換する。
 本願の開示する技術によれば、電子機器が設置された環境の温度より低温の冷却流体を電子機器に供給することができる。
第一実施形態に係る冷却システムの平面図である。 基板の断面図である。 熱交換部及びその周辺部の断面図である。 第二実施形態に係る冷却システムの平面図である。 第三実施形態に係る冷却システムの平面図である。 第三実施形態における温度検出器、湿度検出器、及び、制御部のブロック図である。 熱交換部の変形例を示す断面図である。
 [第一実施形態]
 はじめに、本願の開示する技術の第一実施形態を説明する。
 図1に示されるように、本願の開示する技術の第一実施形態に係る冷却システム10は、電子機器12と、供給配管14と、排出配管16と、熱交換部18を備えている。
 電子機器12は、送風部20と基板22を有している。送風部20は、例えば、ファンとされており、電子機器12の筐体24の内部に冷却風Wの流れを形成する。基板22は、筐体24の内部に収容されており、送風部20よりも冷却風Wの流れの下流側に配置されている。
 この基板22は、複数の発熱体31,32,33,34と、冷却部40を有している。各発熱体31~34は、例えば、基板22に実装された演算素子(CPU)や電子部品等とされており、電力を消費して発熱する。また、基板22には、発熱体31~34の他に、例えば、メモリモジュール(DIMM)などのその他の発熱体35,36,37が実装されている。
 冷却部40は、複数の冷却部材41,42,43,44を有している。図2に示されるように、冷却部材41は、例えば、クーリングプレートとされており、中空状に形成されている。この冷却部材41の内壁面からは、複数のフィン46が立設されている。この冷却部材41は、発熱体31に重ね合わされている。その他の冷却部材42~44も、冷却部材41と同様の構成とされており、発熱体32~34にそれぞれ重ね合わされている。
 供給配管14は、図示しない冷却流体循環装置の出口と冷却部材41の入口(冷却部40の入口)とを接続しており、排出配管16は、冷却部材44の出口(冷却部40の出口)と上述の冷却流体循環装置の入口とを接続している。
 また、冷却部材41の出口と冷却部材42の入口とは、接続管51により接続されており、冷却部材42の出口と冷却部材43の入口とは、接続管52により接続されている。また、冷却部材43の出口と冷却部材44の入口とは、接続管53により接続されている。
 そして、図示しない冷却流体循環装置から冷却流体が送出されると、この冷却流体は、供給配管14を通じて電子機器12に供給され、電子機器12から排出配管16を通じて上述の冷却流体循環装置に戻る。
 つまり、より具体的には、供給配管14を流れる冷却流体は、冷却部材41、接続管51、冷却部材42、接続管52、冷却部材43、及び、接続管53を通って冷却部材44に至る。また、冷却部材41~44に至った冷却流体は、排出配管16を通じて冷却流体循環装置に戻る。
 また、このときに、冷却流体が流れる冷却部材41~44(冷却部40)と発熱体31~34とがそれぞれ熱交換することで、発熱体31~34が冷却される。この場合の冷却流体としては、例えば、水などが使用される。
 また、上述の供給配管14及び排出配管16は、互いに並列に設けられた並列部14A,16Aを有している。そして、この並列部14A,16Aには、熱交換部18が設けられている。
 熱交換部18は、図3に示されるように、第一多孔質体62と第二多孔質体64を有している。この第一多孔質体62及び第二多孔質体64は、筐体24の内部に収容されている。
 第一多孔質体62は、断面円環状に形成されており、供給配管14の周囲に設けられている。一方、第二多孔質体64は、排出配管16と第一多孔質体62との間に設けられており、この排出配管16と第一多孔質体62とを繋いでいる。この第一多孔質体62及び第二多孔質体64は、例えば、ポリイミド系、又は、フッ素系の樹脂により形成されている。
 また、第一多孔質体62には、複数の孔の内周面を含む全体に撥水処理が施されている。この撥水処理には、例えば、フロン系、又は、シリコーン系の処理剤等が用いられる。一方、第二多孔質体64には、複数の孔の内周面を含む全体に親水処理が施されている。この親水処理には、例えば、アクリルアミド系の処理剤等が用いられる。この第一多孔質体62及び第二多孔質体64の下方には、断熱材で形成された受け皿66が設けられている。
 また、図1に示されるように、筐体24の内部には、上述の送風部20により、冷却風Wの流れが形成される。そして、このようにして、電子機器12の筐体24の内部に冷却風Wの流れが形成されることにより、第一多孔質体62及び第二多孔質体64には、電子機器12が設置された環境70の雰囲気が供給されている。
 次に、本願の開示する技術の第一実施形態の作用及び効果について説明する。
 この冷却システム10では、図示しない冷却流体循環装置から冷却流体が送出されると、冷却流体が各冷却部材41~44に供給される。そして、冷却流体が流れる冷却部材41~44と発熱体31~34とがそれぞれ熱交換することで、発熱体31~34が冷却される。
 このとき、例えば、環境70の雰囲気が十分に乾燥しており、この環境70の露点が冷却流体の温度よりも低ければ、供給配管14に結露は発生しない。一方、例えば作業者がコンピュータルームに入ったため、電子機器12の周辺の湿度が局所的に高くなり、環境70の露点が冷却流体の温度よりも高くなると熱交換部18による熱交換領域において供給配管14に結露が生じる。
 ここで、上述のように、第一多孔質体62には、複数の孔の内周面を含む全体に撥水処理が施されており、第二多孔質体64には、複数の孔の内周面を含む全体に親水処理が施されている。従って、供給配管14に生じた結露水は、第一多孔質体62により吸収された後、第二多孔質体64に移動する。この結果、供給配管14と排出配管16との間の熱抵抗が下がり、排出配管16を流れる高温の冷却流体から供給配管14を流れる低温の冷却流体へ熱が移動し、供給配管14を流れる冷却流体の温度が上昇する。
 このように、この冷却システム10によれば、供給配管14を流れる冷却流体の温度が電子機器12の設置された環境70の露点よりも低い場合には、熱交換部18により供給配管14と排出配管16との間で熱交換される。よって、電子機器12が設置された環境70の湿度が局所的に上昇した場合でも、基板22上での結露を抑制することができる。従って、過剰なマージンを設けることなく、環境70の温度よりも低温の冷却流体を電子機器12に供給することができる。
 しかも、熱交換部18に第一多孔質体62及び第二多孔質体64を用いているので、簡単な構造により熱交換することができる。
 また、第一多孔質体62には、撥水処理が施され、第二多孔質体64には、親水処理が施されているので、結露水の移動を円滑に行うことができる。これにより、供給配管14と排出配管16との間の熱交換を迅速に行うことができる。
 また、第一多孔質体62及び第二多孔質体64には、電子機器12が設置された環境70の雰囲気が供給されているので、この環境70の雰囲気に対応した迅速な熱交換を行うことができる。
 また、第一多孔質体62及び第二多孔質体64は、電子機器12の筐体24の内部に収容されている。従って、送風部20により電子機器12が設置された環境70の雰囲気を第一多孔質体62及び第二多孔質体64に供給しつつ、この筐体24により第一多孔質体62及び第二多孔質体64を保護することができる。
 [第二実施形態]
 次に、本願の開示する技術の第二実施形態を説明する。
 図4に示される本願の開示する技術の第二実施形態に係る冷却システム80は、上述の第一実施形態に係る冷却システム10に対し、次の如く構成が変更されている。
 つまり、供給配管14における熱交換部18による熱交換領域(並列部14A)よりも上流側の部位には、平面視にて略U字状に折り曲げられた折曲部14Bが形成されている。この折曲部14Bには、ラジエータ82が設けられている。この折曲部14B及びラジエータ82は、基板22よりも冷却風Wの流れの下流側に配置されている。
 従って、この冷却システム10によれば、基板22に実装された発熱体31~34や、その他の発熱体35~37により冷却風の温度が上昇しても、この冷却風をラジエータ82により冷却することができる。これにより、電子機器12が設置された環境70の温度の上昇を抑制することができる。
 [第三実施形態]
 次に、本願の開示する技術の第三実施形態を説明する。
 図5に示される本願の開示する技術の第三実施形態に係る冷却システム90は、上述の第二実施形態に係る冷却システム80に対し、次の如く構成が変更されている。
 つまり、この冷却システム90には、バイパス管92が追加されている。このバイパス管92は、供給配管14における熱交換部18による熱交換領域(並列部14A)よりも上流側の部位と、排出配管16における熱交換部18による熱交換領域(並列部16A)よりも下流側の部位とをバイパスしている。
 また、このバイパス管92と並列部14Aとの分岐部には、例えば、流量調整バルブ等の流量調整部94が設けられている。この流量調整部94は、供給配管14を流れる冷却流体の流量と、バイパス管92を流れる冷却流体の流量との割合を調整する。
 さらに、この冷却システム90は、図6に示されるように、温度検出器96、湿度検出器98、及び、制御部100を備えている。
 温度検出器96は、冷却部40の入口付近に設けられており、冷却部40に供給される冷却流体の温度を検出する。湿度検出器98は、環境70に設置されており、この環境70の湿度(相対湿度)を検出する。制御部100は、例えば、演算素子(CPU)や記憶装置を有する電子回路等とされている。
 そして、この冷却システム90では、冷却部40に供給される冷却流体の温度が環境70の露点よりも高くなるように、温度検出器96及び湿度検出器98の検出結果に基づいて流量調整部94が制御部100により制御される。
 従って、例えば、冷却部40に供給される冷却流体の温度が環境70の露点以下となるような場合には、冷却部40に供給される冷却流体の流量が少なくなるように、流量調整部94が制御される。これにより、排出配管16を流れる冷却流体の温度が上昇するため、供給配管14を流れる冷却流体の温度も上昇する。この結果、基板22上での結露を抑制することができる。
 また、例えば、冷却部40に供給される冷却流体の温度が環境70の露点よりも十分に高い場合には、冷却部40に供給される冷却流体の流量が多くなるように、流量調整部94が制御される。すなわち、制御部100は、冷却部40に供給される冷却流体の温度が環境70の露点よりも高い一定の温度範囲に収まるように、温度検出器96及び湿度検出器98の検出結果に基づいて流量調整部94を制御する。この一定の温度範囲は、環境70の露点よりも高く、且つ、発熱体31~34を適切に冷却できる温度に設定される。
 従って、冷却部40に供給される冷却流体の温度を、環境70の露点よりも高く維持しつつ、発熱体31~34の冷却に必要な適切な値に保つことができる。これにより、発熱体31~34を適切に冷却することができる。
 次に、上記各実施形態の変形例について説明する。
 上記各実施形態では、第一多孔質体62に撥水処理が施され、第二多孔質体64に親水処理が施されることにより、第一多孔質体62から第二多孔質体64へ結露水が移動されていた。ところが、その他にも、例えば、第一多孔質体62における各孔の孔径が、第二多孔質体64における各孔の孔径よりも大きく設定されても良い。そして、この孔径の違いによる毛細管現象を利用することにより、第一多孔質体62から第二多孔質体64へ結露水が移動されても良い。なお、この場合の孔径とは、複数の孔の平均孔径のことである。
 このように構成されていても、供給配管14に生じた結露水の移動を第一多孔質体62から第二多孔質体64へ円滑に行うことができる。これにより、供給配管14と排出配管16との間の熱抵抗が下がるので、この結果、上記実施形態と同様に、供給配管14と排出配管16との間の熱交換を迅速に行うことができる。
 また、第一多孔質体62に撥水処理が施され、第二多孔質体64に親水処理が施された上で、第一多孔質体62における各孔の孔径が、第二多孔質体64における各孔の孔径よりも大きく設定されても良い。
 また、上記各実施形態において、第一多孔質体62及び第二多孔質体64は、電子機器12の筐体24の内部に収容されていた。ところが、第一多孔質体62及び第二多孔質体64は、電子機器12の筐体24の外部に設けられていても良い。そして、これにより、電子機器12が設置された環境70の雰囲気が第一多孔質体62及び第二多孔質体64に供給されても良い。
 また、上記各実施形態において、熱交換部18は、第一多孔質体62と第二多孔質体64を有していたが、図7に示されるように、撥水部材102と親水部材104を有していても良い。
 撥水部材102は、断面円環状に形成されており、供給配管14の周囲に設けられている。この撥水部材102は、例えば、樹脂部材の表面に撥水処理を施す等により撥水性を有している。一方、親水部材104は、排出配管16と撥水部材102との間に設けられており、この排出配管16と撥水部材102とを繋いでいる。この親水部材104は、例えば、樹脂部材の表面に親水処理等を施す等により親水性を有している。
 このように構成されていても、供給配管14に生じた結露水の移動を撥水部材102から親水部材104へ円滑に行うことができる。これにより、供給配管14と排出配管16との間の熱抵抗が下がるので、この結果、上記実施形態と同様に、供給配管14と排出配管16との間の熱交換を迅速に行うことができる。
 以上、本願の開示する技術の一態様について説明したが、本願の開示する技術は、上記に限定されるものでなく、上記以外にも、その主旨を逸脱しない範囲内において種々変形して実施可能であることは勿論である。

Claims (18)

  1.  電子機器と、
     前記電子機器に冷却流体を供給する供給配管と、
     前記電子機器から前記冷却流体を排出する排出配管と、
     前記供給配管を流れる前記冷却流体の温度が前記電子機器の設置された環境の露点よりも低い場合に、前記供給配管と前記排出配管との間で熱交換する熱交換部と、
     を備えた冷却システム。
  2.  前記熱交換部は、
     前記供給配管に設けられた第一多孔質体と、
     前記排出配管と前記第一多孔質体とを繋ぐ第二多孔質体と、
     を有している、
     請求項1に記載の冷却システム。
  3.  前記第一多孔質体には、撥水処理が施され、
     前記第二多孔質体には、親水処理が施されている、
     請求項2に記載の冷却システム。
  4.  前記撥水処理には、フロン系、又は、シリコーン系の処理剤が用いられている、
     請求項3に記載の冷却システム。
  5.  前記親水処理には、アクリルアミド系の処理剤が用いられている、
     請求項3又は請求項4に記載の冷却システム。
  6.  前記第一多孔質体の孔径は、前記第二多孔質体の孔径よりも大きく設定されている、
     請求項2~請求項5のいずれか一項に記載の冷却システム。
  7.  前記第一多孔質体及び前記第二多孔質体には、前記環境の雰囲気が供給されている、
     請求項2~請求項6のいずれか一項に記載の冷却システム。
  8.  前記第一多孔質体及び前記第二多孔質体は、前記電子機器の筐体の内部に収容され、
     前記第一多孔質体及び前記第二多孔質体には、送風部によって前記筐体の内部に冷却風の流れが形成されることにより、前記環境の雰囲気が供給されている、
     請求項7に記載の冷却システム。
  9.  前記第一多孔質体は、前記供給配管の周囲に設けられている、
     請求項2~請求項8のいずれか一項に記載の冷却システム。
  10.  前記第一多孔質体及び前記第二多孔質体は、ポリイミド系、又は、フッ素系の樹脂により形成されている、
     請求項2~請求項9のいずれか一項に記載の冷却システム。
  11.  前記熱交換部は、
     前記供給配管に設けられた撥水部材と、
     前記排出配管と前記撥水部材とを繋ぐ親水部材と、
     を有している、
     請求項1に記載の冷却システム。
  12.  前記供給配管及び前記排出配管は、互いに並列に設けられた並列部を有し、
     前記熱交換部は、前記並列部に設けられている、
     請求項1~請求項11のいずれか一項に記載の冷却システム。
  13.  前記電子機器は、発熱体が実装された基板と、前記発熱体と熱交換する冷却部とを有し、
     前記供給配管は、前記冷却部に前記冷却流体を供給する、
     請求項1~請求項12のいずれか一項に記載の冷却システム。
  14.  前記電子機器の筐体の内部に冷却風の流れを形成する送風部と、
     前記筐体の内部に収容され発熱体が実装された基板よりも前記冷却風の流れの下流側に配置されると共に、前記供給配管に設けられたラジエータと、
     を備えた請求項1~請求項13のいずれか一項に記載の冷却システム。
  15.  前記供給配管における前記熱交換部による熱交換領域よりも上流側の部位には、平面視にて略U字状に折り曲げられた折曲部が形成され、
     前記ラジエータは、前記折曲部に設けられている、
     請求項14に記載の冷却システム。
  16.  前記供給配管における前記熱交換部による熱交換領域よりも上流側の部位と、前記排出配管における前記熱交換部による熱交換領域よりも下流側の部位とをバイパスするバイパス管と、
     前記供給配管を流れる前記冷却流体の流量と前記バイパス管を流れる前記冷却流体の流量との割合を調整する流量調整部と、
     を備えた請求項1~請求項15のいずれか一項に記載の冷却システム。
  17.  前記電子機器に供給される前記冷却流体の温度を検出する温度検出器と、
     前記環境の湿度を検出する湿度検出器と、
     前記電子機器に供給される前記冷却流体の温度が前記環境の露点よりも高くなるように、前記温度検出器及び前記湿度検出器の検出結果に基づいて前記流量調整部を制御する制御部と、
     を備えた請求項16に記載の冷却システム。
  18.  前記制御部は、前記電子機器に供給される前記冷却流体の温度が前記環境の露点よりも高い一定の温度範囲に収まるように、前記温度検出器及び前記湿度検出器の検出結果に基づいて前記流量調整部を制御する、
     請求項17に記載の冷却システム。
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Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019016709A (ja) * 2017-07-07 2019-01-31 富士通株式会社 冷却装置、排気浄化装置及び自動車

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04320399A (ja) * 1991-04-19 1992-11-11 Fujitsu Ltd 電子機器の冷却装置
JP3166395U (ja) * 2010-07-20 2011-03-03 倍億▲得▼科技股▲ふん▼有限公司 冷却システムを有する情報機器収納キャビネット
JP2011247573A (ja) * 2010-04-26 2011-12-08 Gac Corp 冷房システム

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4526011A (en) * 1983-03-03 1985-07-02 Control Data Corporation Dew point sensitive computer cooling system
US4576009A (en) * 1984-01-31 1986-03-18 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Heat transmission device
US5181558A (en) * 1990-11-13 1993-01-26 Matsushita Refrigeration Company Heat exchanger
US5847927A (en) * 1997-01-27 1998-12-08 Raytheon Company Electronic assembly with porous heat exchanger and orifice plate
US6401807B1 (en) * 1997-04-03 2002-06-11 Silent Systems, Inc. Folded fin heat sink and fan attachment
JP2004060986A (ja) * 2002-07-29 2004-02-26 Ube Ind Ltd フレキシブル熱交換器及びその製造方法
TWM249438U (en) * 2003-12-15 2004-11-01 Dong-Mau Want A radiator with seamless heat conductor
KR100698462B1 (ko) * 2005-01-06 2007-03-23 (주)셀시아테크놀러지스한국 하이드로필릭 윅을 사용한 판형 열전달 장치, 이의 제조 방법 및 이를 포함하는 칩 셋
US7705342B2 (en) * 2005-09-16 2010-04-27 University Of Cincinnati Porous semiconductor-based evaporator having porous and non-porous regions, the porous regions having through-holes
US7662723B2 (en) * 2005-12-13 2010-02-16 Lam Research Corporation Methods and apparatus for in-situ substrate processing
NZ579617A (en) * 2007-03-28 2011-09-30 Mitsubishi Electric Corp Heat exchanger having fins with fine pores for adsorbing water by capillary action
US8069912B2 (en) * 2007-09-28 2011-12-06 Caterpillar Inc. Heat exchanger with conduit surrounded by metal foam
US8322406B2 (en) * 2008-07-14 2012-12-04 University Of Central Florida Research Foundation, Inc. Thermally conductive porous element-based recuperators

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04320399A (ja) * 1991-04-19 1992-11-11 Fujitsu Ltd 電子機器の冷却装置
JP2011247573A (ja) * 2010-04-26 2011-12-08 Gac Corp 冷房システム
JP3166395U (ja) * 2010-07-20 2011-03-03 倍億▲得▼科技股▲ふん▼有限公司 冷却システムを有する情報機器収納キャビネット

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