WO2013061679A1 - 高周波増幅器モジュール及び高周波増幅器モジュールユニット - Google Patents

高周波増幅器モジュール及び高周波増幅器モジュールユニット Download PDF

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stage amplifier
amplifier
bypass
final stage
driver stage
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謙治 向井
堀口 健一
檜枝 護重
勝也 嘉藤
平野 嘉仁
山本 和也
上馬 弘敬
紫村 輝之
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三菱電機株式会社
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    • H03F2203/7209Indexing scheme relating to gated amplifiers, i.e. amplifiers which are rendered operative or inoperative by means of a control signal the gated amplifier being switched from a first band to a second band

Definitions

  • the present invention relates to, for example, a high-frequency amplifier module that amplifies an RF signal, which is a high-frequency signal, and a high-frequency amplifier module unit in which a plurality of the high-frequency amplifier modules are mounted.
  • FIG. 12 is a block diagram showing a conventional high-frequency amplifier module disclosed in Non-Patent Document 1 below.
  • the conventional high frequency amplifier module when an RF signal is input from the RF input terminal 101, the multistage driver stage amplifier 102 amplifies the RF signal, and the final stage amplifier 103 receives the RF signal amplified by the driver stage amplifier 102. Further amplification is performed, and the amplified RF signal is output to the RF output terminal 104.
  • a bypass path 105 is provided in parallel with the final stage amplifier 103, and the output destination of the changeover switch 107 is switched to the bypass path 105 side under the control of the changeover control circuit 106, and the changeover switch 108 is turned off. If so, the RF signal amplified by the driver stage amplifier 102 is not amplified by the final stage amplifier 103 but is output from the RF output terminal 104 via the bypass path 105.
  • the power supply voltages of the driver stage amplifier 102 and the final stage amplifier 103 are supplied from the Vcc power supply 109, and the bias of the driver stage amplifier 102 and the final stage amplifier 103 is set by the bias circuit 110.
  • each component is generally formed on a silicon substrate.
  • a driver stage amplifier is used to increase efficiency.
  • 102 and the final stage amplifier 103 are formed on a gallium arsenide substrate which is a compound semiconductor having excellent high frequency characteristics.
  • the switching control circuit 106 and the bias circuit 110 are also formed on the gallium arsenide substrate in accordance with the requirement of the size of the entire module. That is, in the high frequency amplifier module disclosed in Non-Patent Document 1, the entire module is formed on a gallium arsenide substrate.
  • the entire module is formed on a gallium arsenide substrate to achieve high efficiency.
  • the gallium arsenide substrate which is a compound semiconductor having excellent high-frequency characteristics, has a problem that the manufacturing cost becomes expensive because the unit price of the chip is high.
  • the present invention has been made to solve the above-described problems, and it is possible to realize cost reduction while maintaining high frequency characteristics equivalent to the case where the entire module is formed on a gallium arsenide substrate.
  • An object of the present invention is to obtain a high-frequency amplifier module and a high-frequency amplifier module unit.
  • a high-frequency amplifier module a multistage driver stage amplifier that amplifies a signal input from an input terminal, amplifies the signal amplified by the driver stage amplifier, and outputs the amplified signal to an output terminal
  • a final stage amplifier the driver stage amplifier is formed on a silicon substrate, and the final stage amplifier is formed on a gallium arsenide substrate.
  • a multistage driver stage amplifier that amplifies a signal input from an input terminal, and a final stage amplifier that amplifies the signal amplified by the driver stage amplifier and outputs the amplified signal to an output terminal
  • the driver stage amplifier is formed on the silicon substrate and the final stage amplifier is formed on the gallium arsenide substrate. The cost can be reduced while maintaining the same high frequency characteristics as the above.
  • FIG. 1 is a configuration diagram showing a high-frequency amplifier module according to Embodiment 1 of the present invention.
  • FIG. It is a block diagram which shows the high frequency amplifier module by Embodiment 2 of this invention. It is a block diagram which shows the high frequency amplifier module by Embodiment 3 of this invention. It is a block diagram which shows the high frequency amplifier module by Embodiment 4 of this invention. It is a block diagram which shows the high frequency amplifier module by Embodiment 5 of this invention. It is a block diagram which shows the high frequency amplifier module by Embodiment 6 of this invention. It is a block diagram which shows the high frequency amplifier module unit by Embodiment 7 of this invention. It is a block diagram which shows the high frequency amplifier module unit by Embodiment 8 of this invention.
  • FIG. 1 is a block diagram showing a high-frequency amplifier module according to Embodiment 1 of the present invention.
  • an RF input terminal 1 is a terminal for inputting an RF signal.
  • the input matching circuit 2 is a matching circuit on the input side of the driver stage amplifier 3.
  • the driver stage amplifier 3 is a multi-stage amplifier composed of 1 to N stages of amplifying elements, amplifies the RF signal input from the RF input terminal 1, and outputs the amplified RF signal to the interstage matching circuit 4.
  • the interstage matching circuit 4 is a matching circuit disposed between the driver stage amplifier 3 and the final stage amplifier 5.
  • the final stage amplifier 5 is a device that further amplifies the RF signal amplified by the driver stage amplifier 3 and outputs the amplified RF signal to the output matching circuit 6.
  • the output matching circuit 6 is a matching circuit on the output side of the final stage amplifier 5.
  • the RF output terminal 7 is a terminal for outputting the RF signal amplified by the final stage amplifier 5.
  • the Vcc power supply 8 is a power supply that outputs a power supply voltage Vcc.
  • the Vcc voltage control circuit 9 is a power supply voltage control circuit that controls the DC voltage supplied to the drains or collectors of the driver stage amplifier 3 and the final stage amplifier 5. Note that the DC voltage supplied to the drains or collectors of the driver stage amplifier 3 and the final stage amplifier 5 may be the same voltage as the power supply voltage Vcc output from the Vcc power supply 8, or a voltage obtained by varying the power supply voltage Vcc. It may be.
  • the bias circuit 10 is a circuit for setting the bias of the driver stage amplifier 3 and the final stage amplifier 5 by controlling the direct current voltage or direct current supplied to the gates or bases of the driver stage amplifier 3 and the final stage amplifier 5.
  • the silicon substrate 11 is a substrate formed of silicon, and the driver stage amplifier 3, the Vcc voltage control circuit 9 and the bias circuit 10 are formed on the silicon substrate 11.
  • the input matching circuit 2, the interstage matching circuit 4, the output matching circuit 6, and the final stage amplifier 5 are formed on a gallium arsenide substrate.
  • the Vcc voltage control circuit 9 controls the DC voltage supplied to the drains or collectors of the driver stage amplifier 3 and the final stage amplifier 5.
  • the final stage amplifier 5 is set to a drivable state.
  • the bias circuit 10 sets the amplification factor of the RF signal in the driver stage amplifier 3 and the final stage amplifier 5 to a desired value, for example, according to the setting information of the amplification factor given from the outside, for example.
  • the bias of the driver stage amplifier 3 and the final stage amplifier 5 is set by controlling the direct current voltage or direct current supplied to the gate or base of the stage amplifier 5.
  • the RF signal When an RF signal is input from the RF input terminal 1 while the bias of the driver stage amplifier 3 and the final stage amplifier 5 is set by the bias circuit 10, the RF signal passes through the input matching circuit 2 and passes through the driver stage. Input to the amplifier 3.
  • the driver stage amplifier 3 amplifies the RF signal that has passed through the input matching circuit 2 and outputs the amplified RF signal to the interstage matching circuit 4.
  • the RF signal output from the driver stage amplifier 3 passes through the interstage matching circuit 4 and is input to the final stage amplifier 5.
  • the final stage amplifier 5 amplifies the RF signal that has passed through the interstage matching circuit 4 and outputs the amplified RF signal to the output matching circuit 6.
  • the RF signal output from the final stage amplifier 5 passes through the output matching circuit 6 and is output from the RF output terminal 7 to the outside.
  • the driver stage amplifier 3 is formed on the silicon substrate 11 and the final stage amplifier 5 is formed on the gallium arsenide substrate.
  • the driver stage amplifier 3 is an amplifier that does not particularly affect the high frequency characteristics. Therefore, if the final stage amplifier 5 is formed on the gallium arsenide substrate having excellent high frequency characteristics, the entire module is formed on the gallium arsenide substrate even if the driver stage amplifier 3 is formed on the silicon substrate 11. High frequency characteristics equivalent to that of the case can be maintained. In this manner, by forming the driver stage amplifier 3 on the silicon substrate 11, the area of the chip formed of the gallium arsenide substrate can be reduced, so that the cost can be reduced.
  • the input matching circuit 2, the interstage matching circuit 4 and the output matching circuit 6 are formed on the gallium arsenide substrate. However, all of them are not formed on the gallium arsenide substrate. Even if a part of the module is formed on the silicon substrate 11 (or an external module), the high frequency characteristics equivalent to the case where the entire module is formed on the gallium arsenide substrate can be maintained.
  • the input matching circuit 2 and the interstage matching circuit 4 may be formed on the silicon substrate 11 (or an external module), and the output matching circuit 6 may be formed on the gallium arsenide substrate.
  • the circuit 2 may be formed on the silicon substrate 11 (or an external module), and the interstage matching circuit 4 and the output matching circuit 6 may be formed on the gallium arsenide substrate.
  • the output matching circuit 6 may be formed on the silicon substrate 11 (or an external module), and the input matching circuit 2 and the interstage matching circuit 4 may be formed on the gallium arsenide substrate.
  • the high frequency amplifier module includes the input matching circuit 2, the interstage matching circuit 4, and the output matching circuit 6, but the input matching circuit 2, the interstage matching circuit 4 and the A high-frequency amplifier module in which part or all of the output matching circuit 6 is not mounted may be used.
  • FIG. FIG. 2 is a block diagram showing a high-frequency amplifier module according to Embodiment 2 of the present invention.
  • the bypass path 21 is a path having one end connected to the input side of the driver stage amplifier 3 and the other end connected to the output side of the final stage amplifier 5.
  • a path where the driver stage amplifier 3 and the final stage amplifier 5 are arranged is referred to as a “main path”.
  • the bypass amplifier 22 is a driver stage amplifier disposed on the bypass path 21, and the size of the bypass amplifier 22 is such that the amplification factor of the signal is smaller than the total amplification factor of the driver stage amplifier 3 and the final stage amplifier 5. Designed to.
  • the path switching switch 23 is disposed on the bypass path 21 on the input side of the bypass amplifier 22 and is turned on / off under the control of the switching control circuit 26.
  • the path switching switch 24 is disposed on the bypass path 21 on the output side of the bypass amplifier 22 and is turned on / off under the control of the switching control circuit 26.
  • the path switching switch 25 is a switch that is disposed on the output side of the driver stage amplifier 3 on the main path and is turned on / off under the control of the switching control circuit 26.
  • the switching control circuit 26 is a circuit that selects the main path or the bypass path 21 as a path through which the RF signal flows by turning on / off the path switching switches 23, 24, and 25.
  • a bypass amplifier 22, path switching switches 23, 24, 25 and a switching control circuit 26 are formed on the silicon substrate 11.
  • the Vcc voltage control circuit 9 controls the DC voltage supplied to the drains or collectors of the driver stage amplifier 3, the final stage amplifier 5 and the bypass amplifier 22,
  • the driver stage amplifier 3, the final stage amplifier 5, and the bypass amplifier 22 are set in a drivable state.
  • the bias circuit 10 sets the amplification factor of the RF signal in the driver stage amplifier 3, the final stage amplifier 5 and the bypass amplifier 22 to a desired value, for example, according to the setting information of the amplification factor given from the outside.
  • the bias of the driver stage amplifier 3, the final stage amplifier 5 and the bypass amplifier 22 is set by controlling the direct current voltage or direct current supplied to the gates or bases of the amplifier 3, the final stage amplifier 5 and the bypass amplifier 22.
  • the RF signal passes through the input matching circuit 2.
  • the switching control circuit 26 controls the path switching switches 23 and 24 to be turned on and turns the path switching switch 25 to be off.
  • the bypass path 21 is selected as a path through which the RF signal flows.
  • the RF signal that has passed through the input matching circuit 2 is input to the bypass amplifier 22.
  • the bypass amplifier 22 amplifies the RF signal that has passed through the input matching circuit 2 and outputs the amplified RF signal to the output matching circuit 6.
  • the RF signal output from the bypass amplifier 22 passes through the output matching circuit 6 and is output from the RF output terminal 7 to the outside.
  • the switching control circuit 26 controls the path switching switches 23 and 24 to be turned off and turns the path switching switch 25 on. By controlling, the main route is selected as the route through which the RF signal flows.
  • the RF signal that has passed through the input matching circuit 2 is input to the driver stage amplifier 3.
  • the driver stage amplifier 3 amplifies the RF signal that has passed through the input matching circuit 2 and outputs the amplified RF signal to the interstage matching circuit 4.
  • the RF signal output from the driver stage amplifier 3 passes through the interstage matching circuit 4 and is input to the final stage amplifier 5.
  • the final stage amplifier 5 amplifies the RF signal that has passed through the interstage matching circuit 4 and outputs the amplified RF signal to the output matching circuit 6.
  • the RF signal output from the final stage amplifier 5 passes through the output matching circuit 6 and is output from the RF output terminal 7 to the outside.
  • the driver stage amplifier 3 and the bypass amplifier 22 are formed on the silicon substrate 11 and the final stage amplifier 5 is formed on the gallium arsenide substrate.
  • the stage amplifier 5 and the driver stage amplifier 3 and the bypass amplifier 22 are amplifiers that do not particularly affect the high frequency characteristics. Therefore, if the final stage amplifier 5 is formed on the gallium arsenide substrate having excellent high frequency characteristics, the entire module is mounted on the gallium arsenide substrate even if the driver stage amplifier 3 and the bypass amplifier 22 are formed on the silicon substrate 11. It is possible to maintain the high frequency characteristics equivalent to the case where it is formed.
  • the driver stage amplifier 3 and the bypass amplifier 22 on the silicon substrate 11, the area of the chip formed of the gallium arsenide substrate can be reduced, so that the cost can be reduced.
  • the path switching switches 23, 24, and 25 are formed on the silicon substrate 11, but the path switching switches 23, 24, and 25 may be formed on the gallium arsenide substrate.
  • the high-frequency amplifier module includes the input matching circuit 2, the interstage matching circuit 4, and the output matching circuit 6. However, the input matching circuit 2, the interstage matching circuit 4 and A high-frequency amplifier module in which part or all of the output matching circuit 6 is not mounted may be used.
  • FIG. 3 is a block diagram showing a high-frequency amplifier module according to Embodiment 3 of the present invention.
  • the bypass path 31 is a path having one end connected to the output side of the driver stage amplifier 3 and the other end connected to the output side of the final stage amplifier 5.
  • a path in which the driver stage amplifier 3 and the final stage amplifier 5 are arranged is referred to as a “main path”.
  • the bypass amplifier 32 is a final stage amplifier arranged on the bypass path 31, and the size of the bypass amplifier 32 is designed to be smaller than the size of the final stage amplifier 5.
  • the path switching switch 33 is disposed on the bypass path 31 on the input side of the bypass amplifier 32 and is turned on / off under the control of the switching control circuit 36.
  • the path switching switch 34 is disposed on the output side of the bypass amplifier 32 on the bypass path 31 and is turned on / off under the control of the switching control circuit 36.
  • the path switching switch 35 is a switch that is disposed on the output side of the driver stage amplifier 3 on the main path and is turned on / off under the control of the switching control circuit 36.
  • the switching control circuit 36 is a circuit that selects the main path or the bypass path 31 as a path through which the RF signal flows by turning on / off the path switching switches 33, 34, and 35.
  • a bypass amplifier 32, path switching switches 33, 34, and 35 and a switching control circuit 36 are formed on the silicon substrate 11.
  • the Vcc voltage control circuit 9 controls the DC voltage supplied to the drains or collectors of the driver stage amplifier 3, the final stage amplifier 5 and the bypass amplifier 32.
  • the driver stage amplifier 3, the final stage amplifier 5, and the bypass amplifier 32 are set in a drivable state.
  • the bias circuit 10 sets the amplification factor of the RF signal in the driver stage amplifier 3, the final stage amplifier 5 and the bypass amplifier 32 to a desired value, for example, according to the setting information of the amplification factor given from the outside.
  • the bias of the driver stage amplifier 3, the final stage amplifier 5, and the bypass amplifier 32 is set by controlling the direct current voltage or direct current supplied to the gates or bases of the amplifier 3, the final stage amplifier 5, and the bypass amplifier 32.
  • the driver stage amplifier 3 When an RF signal is input from the RF input terminal 1 while the bias of the driver stage amplifier 3, the final stage amplifier 5 and the bypass amplifier 32 is set by the bias circuit 10, the RF signal passes through the input matching circuit 2. To do.
  • the driver stage amplifier 3 amplifies the RF signal that has passed through the input matching circuit 2.
  • the switching control circuit 36 controls the path switching switches 33 and 34 to turn on and turns the path switching switch 35 off.
  • the bypass path 31 is selected as a path through which the RF signal flows.
  • the RF signal amplified by the driver stage amplifier 3 is input to the bypass amplifier 32.
  • the bypass amplifier 32 amplifies the RF signal that has passed through the input matching circuit 2 and outputs the amplified RF signal to the output matching circuit 6.
  • the RF signal output from the bypass amplifier 32 passes through the output matching circuit 6 and is output to the outside from the RF output terminal 7.
  • the switching control circuit 36 controls the path switching switches 33 and 34 to be turned off and the path switching switch 35 to be turned on.
  • the main route is selected as the route through which the RF signal flows.
  • the RF signal amplified by the driver stage amplifier 3 passes through the interstage matching circuit 4 and is input to the final stage amplifier 5.
  • the final stage amplifier 5 amplifies the RF signal that has passed through the interstage matching circuit 4 and outputs the amplified RF signal to the output matching circuit 6.
  • the RF signal output from the final stage amplifier 5 passes through the output matching circuit 6 and is output from the RF output terminal 7 to the outside.
  • the driver stage amplifier 3 and the bypass amplifier 32 are formed on the silicon substrate 11 and the final stage amplifier 5 is formed on the gallium arsenide substrate.
  • the stage amplifier 5 and the driver stage amplifier 3 and the bypass amplifier 32 are amplifiers that do not particularly affect the high frequency characteristics. Therefore, if the final stage amplifier 5 is formed on the gallium arsenide substrate having excellent high frequency characteristics, the entire module is mounted on the gallium arsenide substrate even if the driver stage amplifier 3 and the bypass amplifier 32 are formed on the silicon substrate 11. It is possible to maintain the high frequency characteristics equivalent to the case where it is formed.
  • the driver stage amplifier 3 and the bypass amplifier 32 it is possible to reduce the area of the chip formed of the gallium arsenide substrate, thereby realizing cost reduction.
  • the path switching switches 33, 34, and 35 are formed on the silicon substrate 11, but the path switching switches 33, 34, and 35 may be formed on the gallium arsenide substrate.
  • the high frequency amplifier module includes the input matching circuit 2, the interstage matching circuit 4, and the output matching circuit 6. However, the input matching circuit 2, the interstage matching circuit 4 and A high-frequency amplifier module in which part or all of the output matching circuit 6 is not mounted may be used.
  • FIG. 4 is a block diagram showing a high-frequency amplifier module according to Embodiment 4 of the present invention.
  • the bypass path 41 is a path having one end connected to the input side of the driver stage amplifier 3 and the other end connected to the output side of the final stage amplifier 5.
  • a path where the driver stage amplifier 3 and the final stage amplifier 5 are arranged is referred to as a “main path”.
  • the bypass driver stage amplifier 42 is a multistage amplifier that is arranged on the bypass path 41 and includes 1 to N stages of amplifying elements.
  • the bypass driver stage amplifier 42 amplifies the RF signal input from the RF input terminal 1.
  • the bypass final stage amplifier 43 is a device that is disposed on the bypass path 41, further amplifies the RF signal amplified by the bypass driver stage amplifier 42, and outputs the amplified RF signal to the output matching circuit 6.
  • the size of the bypass final stage amplifier 43 is designed to be smaller than the size of the final stage amplifier 5.
  • the path switching switch 44 is disposed on the bypass path 41 on the input side of the bypass driver stage amplifier 42 and is turned on / off under the control of the switching control circuit 47.
  • the path switching switch 45 is disposed on the output side of the bypass driver stage amplifier 42 on the bypass path 41 and is turned on / off under the control of the switching control circuit 47.
  • the path switching switch 46 is disposed on the output side of the driver stage amplifier 3 on the main path and is turned on / off under the control of the switching control circuit 47.
  • the switching control circuit 47 is a circuit that selects the main path or the bypass path 41 as a path through which the RF signal flows by turning on / off the path switching switches 44, 45, and 46.
  • a bypass driver stage amplifier 42, path switching switches 44, 45, 46 and a switching control circuit 46 are formed on the silicon substrate 11.
  • the bypass final stage amplifier 43 is formed on a gallium arsenide substrate.
  • the Vcc voltage control circuit 9 supplies the drain or collector of the driver stage amplifier 3, final stage amplifier 5, bypass driver stage amplifier 42 and bypass final stage amplifier 43.
  • the driver stage amplifier 3, the final stage amplifier 5, the bypass driver stage amplifier 42, and the bypass final stage amplifier 43 are set in a drivable state.
  • the bias circuit 10 sets the amplification factor of the RF signal in the driver stage amplifier 3, the final stage amplifier 5, the bypass driver stage amplifier 42, and the bypass final stage amplifier 43 to a desired value.
  • the driver stage amplifier 3 By controlling the DC voltage or DC current supplied to the gates or bases of the driver stage amplifier 3, the final stage amplifier 5, the bypass driver stage amplifier 42, and the bypass final stage amplifier 43 according to the setting information, the driver stage amplifier 3, The biases of the final stage amplifier 5, the bypass driver stage amplifier 42, and the bypass final stage amplifier 43 are set.
  • the RF signal is inputted.
  • the signal passes through the input matching circuit 2.
  • the switching control circuit 46 controls the path switching switches 44 and 45 to turn on and turns the path switching switch 46 off.
  • the bypass path 41 is selected as a path through which the RF signal flows.
  • the RF signal that has passed through the input matching circuit 2 is input to the bypass driver stage amplifier 42.
  • the bypass driver stage amplifier 42 amplifies the RF signal that has passed through the input matching circuit 2, and outputs the amplified RF signal to the bypass final stage amplifier 43.
  • the bypass final stage amplifier 43 further amplifies the RF signal amplified by the bypass driver stage amplifier 42 and outputs the amplified RF signal to the output matching circuit 6.
  • the RF signal output from the bypass final stage amplifier 43 passes through the output matching circuit 6 and is output to the outside from the RF output terminal 7.
  • the switching control circuit 46 controls the path switching switches 44 and 45 to turn off and turns on the path switching switch 46.
  • the main route is selected as the route through which the RF signal flows.
  • the RF signal that has passed through the input matching circuit 2 is input to the driver stage amplifier 3.
  • the driver stage amplifier 3 amplifies the RF signal that has passed through the input matching circuit 2 and outputs the amplified RF signal to the interstage matching circuit 4.
  • the RF signal output from the driver stage amplifier 3 passes through the interstage matching circuit 4 and is input to the final stage amplifier 5.
  • the final stage amplifier 5 amplifies the RF signal that has passed through the interstage matching circuit 4 and outputs the amplified RF signal to the output matching circuit 6.
  • the RF signal output from the final stage amplifier 5 passes through the output matching circuit 6 and is output from the RF output terminal 7 to the outside.
  • the driver stage amplifier 3 and the bypass driver stage amplifier 42 are formed on the silicon substrate 11, and the final stage amplifier 5 and the bypass final stage amplifier 43 are formed on the gallium arsenide substrate.
  • the amplifiers governing the characteristics are the final stage amplifier 5 and the bypass final stage amplifier 43, and the driver stage amplifier 3 and the bypass driver stage amplifier 42 are amplifiers that do not particularly affect the high frequency characteristics. Therefore, if the final stage amplifier 5 and the bypass final stage amplifier 43 are formed on the gallium arsenide substrate having excellent high frequency characteristics, the driver stage amplifier 3 and the bypass driver stage amplifier 42 may be formed on the silicon substrate 11, It is possible to maintain high frequency characteristics equivalent to the case where the entire module is formed on a gallium arsenide substrate. Thus, by forming the driver stage amplifier 3 and the bypass driver stage amplifier 42 on the silicon substrate 11, it is possible to reduce the area of the chip formed of the gallium arsenide substrate, thereby realizing cost reduction. it can.
  • the path switching switches 44, 45, 46 are formed on the silicon substrate 11, but the path switching switches 44, 45, 46 may be formed on the gallium arsenide substrate.
  • the high frequency amplifier module includes the input matching circuit 2, the interstage matching circuit 4, and the output matching circuit 6. However, the input matching circuit 2, the interstage matching circuit 4 and A high-frequency amplifier module in which part or all of the output matching circuit 6 is not mounted may be used.
  • FIG. FIG. 5 is a block diagram showing a high-frequency amplifier module according to Embodiment 5 of the present invention.
  • the first bypass path 51 is a path having one end connected to the input side of the driver stage amplifier 3 and the other end connected to the output side of the driver stage amplifier 3.
  • the second bypass path 52 is a path having one end connected to the input side of the final stage amplifier 5 and the other end connected to the output side of the final stage amplifier 5.
  • a path in which the driver stage amplifier 3 and the final stage amplifier 5 are arranged is referred to as a “main path”.
  • the bypass amplifier 53 is a driver stage amplifier disposed on the first bypass path 51, and the size of the bypass amplifier 52 is designed to be smaller than the size of the driver stage amplifier 3.
  • the path switching switch 54 is disposed on the output side of the bypass amplifier 53 on the first bypass path 51 and is turned on / off under the control of the switching control circuit 57.
  • the path switching switch 55 is a switch that is disposed on the second bypass path 52 and is turned on / off under the control of the switching control circuit 57.
  • the path switching switch 56 is disposed on the output side of the driver stage amplifier 3 on the main path, and is turned on / off under the control of the switching control circuit 57.
  • the switching control circuit 57 is a circuit that selects the main path or the bypass paths 51 and 52 as a path through which the RF signal flows by turning on / off the path switching switches 54, 55, and 56.
  • a bypass amplifier 53, path switching switches 54, 55, 56 and a switching control circuit 57 are formed on the silicon substrate 11.
  • the Vcc voltage control circuit 9 controls the DC voltage supplied to the drains or collectors of the driver stage amplifier 3, the final stage amplifier 5 and the bypass amplifier 53.
  • the driver stage amplifier 3, the final stage amplifier 5, and the bypass amplifier 53 are set in a driveable state.
  • the bias circuit 10 sets, for example, the amplification factor of the RF signal in the driver stage amplifier 3, the final stage amplifier 5, and the bypass amplifier 53 to a desired value.
  • the bias of the driver stage amplifier 3, the final stage amplifier 5, and the bypass amplifier 53 is set by controlling the direct current voltage or direct current supplied to the gates or bases of the amplifier 3, the final stage amplifier 5, and the bypass amplifier 53.
  • the RF signal passes through the input matching circuit 2.
  • the switching control circuit 57 controls the path switching switches 54 and 55 to be turned on and the path switching switch 56 to be turned off.
  • the first bypass path 51 and the second bypass path 52 are selected as the paths through which the RF signal flows.
  • the RF signal that has passed through the input matching circuit 2 is input to the bypass amplifier 53.
  • the bypass amplifier 53 amplifies the RF signal that has passed through the input matching circuit 2, and outputs the amplified RF signal.
  • the RF signal output from the bypass amplifier 53 is input to the output matching circuit 6 via the second bypass path 52.
  • the RF signal output from the bypass amplifier 22 passes through the output matching circuit 6 and is output from the RF output terminal 7 to the outside.
  • the switching control circuit 57 controls the path switching switch 55 to be turned on and turns the path switching switches 54 and 56 to be off.
  • the main circuit and the second bypass path 52 are selected as the paths through which the RF signal flows.
  • the RF signal that has passed through the input matching circuit 2 is input to the driver stage amplifier 3.
  • the driver stage amplifier 3 amplifies the RF signal that has passed through the input matching circuit 2 and outputs the amplified RF signal.
  • the RF signal output from the driver stage amplifier 3 is input to the output matching circuit 6 via the second bypass path 52.
  • the RF signal output from the driver stage amplifier 3 passes through the output matching circuit 6 and is output from the RF output terminal 7 to the outside.
  • the switching control circuit 57 controls the path switching switch 56 to be turned on and the path switching switches 54 and 54 to be turned off. By controlling, the main circuit is selected as a path through which the RF signal flows.
  • the RF signal that has passed through the input matching circuit 2 is input to the driver stage amplifier 3.
  • the driver stage amplifier 3 amplifies the RF signal that has passed through the input matching circuit 2 and outputs the amplified RF signal to the interstage matching circuit 4.
  • the RF signal output from the driver stage amplifier 3 passes through the interstage matching circuit 4 and is input to the final stage amplifier 5.
  • the final stage amplifier 5 amplifies the RF signal that has passed through the interstage matching circuit 4 and outputs the amplified RF signal to the output matching circuit 6.
  • the RF signal output from the final stage amplifier 5 passes through the output matching circuit 6 and is output from the RF output terminal 7 to the outside.
  • the driver stage amplifier 3 and the bypass amplifier 53 are formed on the silicon substrate 11 and the final stage amplifier 5 is formed on the gallium arsenide substrate.
  • the stage amplifier 5 and the driver stage amplifier 3 and the bypass amplifier 53 are amplifiers that do not particularly affect the high frequency characteristics. Therefore, if the final stage amplifier 5 is formed on the gallium arsenide substrate having excellent high frequency characteristics, the entire module is mounted on the gallium arsenide substrate even if the driver stage amplifier 3 and the bypass amplifier 53 are formed on the silicon substrate 11. It is possible to maintain the high frequency characteristics equivalent to the case where it is formed.
  • the driver stage amplifier 3 and the bypass amplifier 53 on the silicon substrate 11, the area of the chip formed of the gallium arsenide substrate can be reduced, so that the cost can be reduced.
  • the path switching switches 54, 55, and 56 are formed on the silicon substrate 11, but the path switching switches 54, 55, and 56 may be formed on the gallium arsenide substrate.
  • the high frequency amplifier module includes the input matching circuit 2, the interstage matching circuit 4, and the output matching circuit 6, but the input matching circuit 2, the interstage matching circuit 4 and the A high-frequency amplifier module in which part or all of the output matching circuit 6 is not mounted may be used.
  • FIG. 6 is a block diagram showing a high-frequency amplifier module according to Embodiment 6 of the present invention.
  • the final stage amplifiers 61-1 to 61-N are connected in parallel to the output side of the driver stage amplifier 3, and further amplify the RF signal amplified by the driver stage amplifier 3 to obtain the amplified RF signal.
  • This device outputs to the output matching circuits 62-1 to 62-N.
  • the output matching circuits 62-1 to 62-N are matching circuits on the output side of the final stage amplifiers 61-1 to 61-N.
  • the RF output terminals 63-1 to 63-N are terminals for outputting the RF signals amplified by the final stage amplifiers 61-1 to 61-N.
  • the path switching switch 64 is a switch for outputting the RF signal amplified by the driver stage amplifier 3 to any one of the final stage amplifiers 61 under the control of the switching control circuit 65.
  • the switching control circuit 65 is a circuit that switches the output destination of the path switching switch 64.
  • the driver stage amplifier 3, the Vcc voltage control circuit 9, the bypass circuit 10, the path switching switch 64 and the switching control circuit 65 are formed on the silicon substrate 11.
  • the input matching circuit 2 and the output matching circuits 62-1 to 62-N and the final stage amplifiers 61-1 to 61-N are formed on a gallium arsenide substrate.
  • the Vcc voltage control circuit 9 controls the DC voltage supplied to the drains or collectors of the driver stage amplifier 3 and the final stage amplifiers 61-1 to 61-N.
  • the driver stage amplifier 3 and the final stage amplifiers 61-1 to 61-N are set in a drivable state.
  • the bias circuit 10 sets the amplification factor of the RF signal in the driver stage amplifier 3 and the final stage amplifiers 61-1 to 61-N to a desired value.
  • the bias circuit 10 The bias of the driver stage amplifier 3 and the final stage amplifiers 61-1 to 61-N is controlled by controlling the DC voltage or direct current supplied to the gates or bases of the driver stage amplifier 3 and the final stage amplifiers 61-1 to 61-N. Set.
  • the RF signal is input to the input matching circuit 2 Pass through.
  • the switching control circuit 65 switches the output destination of the path switching switch 64 to the final stage amplifier 61 corresponding to the frequency of the RF signal, and the RF signal is transmitted. The signal is input to the final stage amplifier 61.
  • the output destination of the path switching switch 64 is switched to the final stage amplifier 61-1, and if the frequency of the RF signal is BHz, the output destination of the path switching switch 64 is switched to the final stage amplifier.
  • the frequency of the RF signal is CHz, the output destination of the path switching switch 64 is switched to the final stage amplifier 61-N.
  • the final stage amplifier 61 to which the RF signal is input from the driver stage amplifier 3 via the path switching switch 64 amplifies the RF signal, and the amplified RF signal Is output to the output matching circuit 62.
  • the RF signals output from the final stage amplifiers 61-1 to 61-N pass through the output matching circuits 62-1 to 62-N and are output to the outside from the RF output terminals 63-1 to 63-N.
  • the driver stage amplifier 3 is formed on the silicon substrate 11 and the final stage amplifiers 61-1 to 61-N are formed on the gallium arsenide substrate.
  • the driver stage amplifier 3 is an amplifier that does not particularly affect the high frequency characteristics.
  • the entire module is made of gallium arsenide even if the driver stage amplifier 3 is formed on the silicon substrate 11. High frequency characteristics equivalent to those formed on the substrate can be maintained. In this manner, by forming the driver stage amplifier 3 on the silicon substrate 11, the area of the chip formed of the gallium arsenide substrate can be reduced, so that the cost can be reduced.
  • the path switching switch 64 is formed on the silicon substrate 11, but the path switching switch 64 may be formed on the gallium arsenide substrate.
  • the high frequency amplifier module includes the input matching circuit 2 and the final stage amplifiers 61-1 to 61-N. However, the input matching circuit 2 and the final stage amplifier 61-1 are shown. A high-frequency amplifier module in which part or all of .about.61-N is not mounted may be used. Moreover, the high frequency amplifier module which mounts the interstage matching circuit may be sufficient.
  • FIG. 7 is a block diagram showing a high-frequency amplifier module according to Embodiment 7 of the present invention.
  • the bypass path 27 is a path in which one end is connected to the output side of the driver stage amplifier 3 and the other end is connected to the output side of the final stage amplifier 5.
  • a path in which the driver stage amplifier 3 and the final stage amplifier 5 are arranged is referred to as a “main path”.
  • the path switching switch 28 is a switch that is disposed on the bypass path 27 and is turned on / off under the control of the switching control circuit 29.
  • the switching control circuit 29 is a circuit that selects the main path or the bypass path 27 as a path through which the RF signal flows by turning on / off the path switching switches 25 and 28.
  • path switching switches 25 and 28 and a switching control circuit 29 are formed on the silicon substrate 11.
  • the Vcc voltage control circuit 9 controls the DC voltage supplied to the drains or collectors of the driver stage amplifier 3 and the final stage amplifier 5.
  • the final stage amplifier 5 is set to a drivable state.
  • the bias circuit 10 sets the amplification factor of the RF signal in the driver stage amplifier 3 and the final stage amplifier 5 to a desired value, for example, according to the setting information of the amplification factor given from the outside, for example.
  • the bias of the driver stage amplifier 3 and the final stage amplifier 5 is set by controlling the direct current voltage or direct current supplied to the gate or base of the stage amplifier 5.
  • the RF signal passes through the input matching circuit 2.
  • the switching control circuit 29 controls the path switching switch 28 to be turned on and the path switching switch 25 to be turned off.
  • the bypass path 27 is selected as the path through which the RF signal flows.
  • the RF signal that has passed through the input matching circuit 2 is input to the output matching circuit 6 via the bypass path 27.
  • the RF signal output from the bypass path 27 passes through the output matching circuit 6 and is output from the RF output terminal 7 to the outside.
  • the switching control circuit 29 controls the path switching switch 25 to be on and controls the path switching switch 28 to be off.
  • the main route is selected as the route through which the RF signal flows.
  • the RF signal that has passed through the input matching circuit 2 is input to the driver stage amplifier 3.
  • the driver stage amplifier 3 amplifies the RF signal that has passed through the input matching circuit 2 and outputs the amplified RF signal to the interstage matching circuit 4.
  • the RF signal output from the driver stage amplifier 3 passes through the interstage matching circuit 4 and is input to the final stage amplifier 5.
  • the final stage amplifier 5 amplifies the RF signal that has passed through the interstage matching circuit 4 and outputs the amplified RF signal to the output matching circuit 6.
  • the RF signal output from the final stage amplifier 5 passes through the output matching circuit 6 and is output from the RF output terminal 7 to the outside.
  • the driver stage amplifier 3 is formed on the silicon substrate 11 and the final stage amplifier 5 is formed on the gallium arsenide substrate.
  • the amplifier dominant in the high frequency characteristics is the final stage amplifier 5.
  • the driver stage amplifier 3 is an amplifier that does not particularly affect the high frequency characteristics. Therefore, if the final stage amplifier 5 is formed on the gallium arsenide substrate having excellent high frequency characteristics, the entire module is formed on the gallium arsenide substrate even if the driver stage amplifier 3 is formed on the silicon substrate 11. High frequency characteristics equivalent to that of the case can be maintained. In this manner, by forming the driver stage amplifier 3 on the silicon substrate 11, the area of the chip formed of the gallium arsenide substrate can be reduced, so that the cost can be reduced.
  • the path switching switches 25 and 28 are formed on the silicon substrate 11, but the path switching switches 25 and 28 may be formed on the gallium arsenide substrate.
  • the high-frequency amplifier module is mounted with the input matching circuit 2, the interstage matching circuit 4, and the output matching circuit 6. However, the input matching circuit 2, the interstage matching circuit 4 and A high-frequency amplifier module in which part or all of the output matching circuit 6 is not mounted may be used.
  • FIG. 8 is a block diagram showing a high-frequency amplifier module according to Embodiment 8 of the present invention.
  • the gallium arsenide substrate 71 is a substrate formed of gallium arsenide, and the interstage matching circuit 4, the final stage amplifier 5, and the temperature detection circuit 72 are formed.
  • the temperature detection circuit 72 has a function of detecting the temperature of the gallium arsenide substrate 71 and performs a process of adjusting the bias set by the bias circuit 10 in accordance with the temperature of the gallium arsenide substrate 71.
  • the temperature detection circuit 72 constitutes bias adjustment means.
  • the bias circuit 10 sets, for example, the amplification factor of the RF signal in the driver stage amplifier 3 and the final stage amplifier 5 to a desired value. For example, as in the first embodiment, setting information of the amplification factor given from the outside, etc. Accordingly, the bias of the driver stage amplifier 3 and the final stage amplifier 5 is set by controlling the direct current voltage or direct current supplied to the gates or bases of the driver stage amplifier 3 and the final stage amplifier 5.
  • the temperature detection circuit 72 has a function of detecting the temperature of the gallium arsenide substrate 71 and detects the temperature T of the gallium arsenide substrate 71.
  • the temperature detection circuit 72 includes a diode or a bipolar transistor having substantially the same temperature characteristics as the gallium arsenide substrate 71, so that the temperature of the gallium arsenide substrate 71 can be detected.
  • the temperature detection circuit 72 calculates a difference ⁇ T between the temperature T of the gallium arsenide substrate 71 and a preset reference temperature Tref, and outputs an adjustment signal corresponding to the difference ⁇ T. Output to the bias circuit 10.
  • ⁇ T T-Tref
  • the bias circuit 10 When the bias circuit 10 receives the adjustment signal corresponding to the difference ⁇ T from the temperature detection circuit 72, the bias circuit 10 controls the driver stage amplifier 3 and the final stage amplifier 5 according to the adjustment signal (the driver stage amplifier 3 and the final stage amplifier 5). For example, when the temperature T of the gallium arsenide substrate 71 is higher than the reference temperature Tref, the larger the absolute value of the difference ⁇ T is, the larger the difference is. Adjust the control voltage to be small. Conversely, when the temperature T of the gallium arsenide substrate 71 is lower than the reference temperature Tref, the control voltage is adjusted to increase as the absolute value of the difference ⁇ T increases. This makes it possible to supply a bias capable of temperature compensation.
  • the driver stage amplifier 3 is formed on the silicon substrate 11 and the final stage amplifier 5 is formed on the gallium arsenide substrate 71.
  • the amplifier dominant in the high frequency characteristics is the final stage amplifier 5.
  • the driver stage amplifier 3 is an amplifier that does not particularly affect the high frequency characteristics. For this reason, if the final stage amplifier 5 is formed on the gallium arsenide substrate 71 having excellent high frequency characteristics, the entire module is formed on the gallium arsenide substrate 71 even if the driver stage amplifier 3 is formed on the silicon substrate 11. It is possible to maintain high frequency characteristics equivalent to that in the case where it is used.
  • a temperature detection circuit 72 having a function of detecting the temperature of the gallium arsenide substrate 71 and adjusting the bias set by the bias circuit 10 according to the temperature of the gallium arsenide substrate 71 is formed on the gallium arsenide substrate 71. Therefore, even if the bias circuit 10 is formed on the silicon substrate 11, a high frequency amplifier module capable of temperature compensation can be obtained. In this case, since it is not necessary to form the bias circuit 10 on the gallium arsenide substrate 71, the area of the chip formed by the gallium arsenide substrate 71 can be reduced, and the high frequency amplifier module capable of temperature compensation is obtained. However, cost reduction can be realized.
  • FIG. 9 is a block diagram showing a high-frequency amplifier module according to Embodiment 9 of the present invention.
  • the current mirror type bias circuit 73 is a circuit that is formed on the gallium arsenide substrate 71 and forms a current mirror by a constant current control signal output from the bias circuit 10, and a bias that adjusts a bias set by the bias circuit 10. Adjusting means is configured. It is assumed that the current mirror transistor constituting the current mirror type bias circuit 73 is composed of the same device as the final stage transistor 5.
  • a current mirror type bias circuit 73 is formed on a gallium arsenide substrate 71, and a current mirror is formed by a constant current control signal output from the bias circuit 10. For this reason, if the current mirror transistor constituting the current mirror type bias circuit 73 is composed of the same device as the final stage transistor 5, the current mirror type bias circuit 73 outputs the output signal of the bias circuit 10.
  • the control signal is adjusted according to the temperature of the gallium arsenide substrate 71, and the control signal after the temperature adjustment is given to the final stage amplifier 5.
  • a control signal that is an output signal of the bias circuit 10 formed on the silicon substrate 11 is directly applied to the final stage amplifier 5 formed on the gallium arsenide substrate 71. This makes it possible to supply a bias capable of temperature compensation.
  • the driver stage amplifier 3 is formed on the silicon substrate 11 and the final stage amplifier 5 is formed on the gallium arsenide substrate 71.
  • the amplifier dominant in the high frequency characteristics is the final stage amplifier 5.
  • the driver stage amplifier 3 is an amplifier that does not particularly affect the high frequency characteristics. For this reason, if the final stage amplifier 5 is formed on the gallium arsenide substrate 71 having excellent high frequency characteristics, the entire module is formed on the gallium arsenide substrate 71 even if the driver stage amplifier 3 is formed on the silicon substrate 11. It is possible to maintain high frequency characteristics equivalent to that in the case where it is used.
  • the current mirror type bias circuit 73 for forming a current mirror by the constant current control signal output from the bias circuit 10 is formed on the gallium arsenide substrate 71, the bias circuit 10 is formed on the silicon substrate 11. Even so, a high-frequency amplifier module capable of temperature compensation can be obtained. In this case, since it is not necessary to form the bias circuit 10 on the gallium arsenide substrate 71, the area of the chip formed by the gallium arsenide substrate 71 can be reduced, and the high frequency amplifier module capable of temperature compensation is obtained. However, cost reduction can be realized.
  • the current mirror type bias circuit 73 for forming the current mirror by the constant current control signal output from the bias circuit 10 is formed on the gallium arsenide substrate 71, but the current mirror type bias is shown.
  • an emitter follower type bias circuit including a bipolar transistor composed of the same device as the final stage transistor 5 may be formed on the gallium arsenide substrate 71.
  • a constant voltage control signal which is an output signal of the bias circuit 10 is adjusted according to the temperature of the gallium arsenide substrate 71 by the emitter follower type bias circuit, and the control signal after temperature adjustment is supplied to the final stage amplifier 5. Be able to.
  • the current mirror type bias circuit 73 is formed on the gallium arsenide substrate 71, it is possible to supply a bias capable of temperature compensation, and even a high frequency amplifier module capable of temperature compensation has a low Cost reduction can be realized.
  • FIG. 10 is a block diagram showing a high frequency amplifier module unit according to Embodiment 10 of the present invention.
  • RF input terminals 81-1 to 81-M are terminals for inputting RF signals.
  • the high frequency amplifier modules 82-1 to 82-M are the high frequency amplifier modules described in any of the first to fifth embodiments and the seventh to ninth embodiments (the high frequency amplifier modules described in FIGS. 1 to 5 and 7 to 9).
  • RF signals amplified by the high-frequency amplifier modules 82-1 to 82-M are output from the RF output terminals 83-1 to 83-M.
  • FIG. 11 is a block diagram showing a high frequency amplifier module unit according to Embodiment 11 of the present invention.
  • the high frequency amplifier modules 91-1 to 91-M are the high frequency amplifier modules described in the sixth embodiment (the high frequency amplifier module illustrated in FIG. 6), and are amplified by the high frequency amplifier modules 91-1 to 91-M.
  • the RF signal thus output is output from the RF output terminals 92-1 to 92-M.

Abstract

 RF入力端子1から入力されたRF信号を増幅するドライバ段増幅器3と、そのドライバ段増幅器3により増幅された信号を増幅し、増幅後の信号をRF出力端子7に出力する最終段増幅器5とを備え、そのドライバ段増幅器3がシリコン基板11上に形成され、その最終段増幅器5がガリウム砒素基板上に形成されている。これにより、モジュールの全体がガリウム砒素基板71上に形成されている場合と同等の高周波特性を維持しながら、低コスト化を実現することができる。

Description

高周波増幅器モジュール及び高周波増幅器モジュールユニット
 この発明は、例えば、高周波信号であるRF信号を増幅する高周波増幅器モジュールと、その高周波増幅器モジュールが複数個実装されている高周波増幅器モジュールユニットとに関するものである。
 図12は以下の非特許文献1に開示されている従来の高周波増幅器モジュールを示す構成図である。
 従来の高周波増幅器モジュールでは、RF入力端子101からRF信号が入力されると、多段構成のドライバ段増幅器102がRF信号を増幅し、最終段増幅器103がドライバ段増幅器102により増幅されたRF信号を更に増幅して、増幅後のRF信号をRF出力端子104に出力する。
 ただし、最終段増幅器103と並列にバイパス経路105が設けられており、切替制御回路106の制御の下で、切替スイッチ107の出力先がバイパス経路105側に切り替えられ、切替スイッチ108がオフの状態になっていれば、ドライバ段増幅器102により増幅されたRF信号は、最終段増幅器103では増幅されずに、バイパス経路105を経由してRF出力端子104から出力される。
 なお、ドライバ段増幅器102及び最終段増幅器103の電源電圧は、Vcc電源109から供給されており、ドライバ段増幅器102及び最終段増幅器103のバイアスは、バイアス回路110により設定されている。
 高周波増幅器モジュールでは、各構成要素がシリコン基板上に形成されることが一般的であったが、非特許文献1に開示されている高周波増幅器モジュールでは、高効率化を図るために、ドライバ段増幅器102や最終段増幅器103を高周波特性に優れている化合物半導体であるガリウム砒素基板上に形成するようにしている。
 また、切替制御回路106やバイアス回路110についても、モジュール全体のサイズの要求からガリウム砒素基板上に形成するようにしている。
 即ち、非特許文献1に開示されている高周波増幅器モジュールでは、モジュールの全体をガリウム砒素基板上に形成するようにしている。
G.Hau et al.,"Multi-Mode WCDMA Power Amplifier Module with Improved Low-Power Efficiency using Stage-Bypass," IEEE RFIC Symposium Dig.,pp.163-166,June 2010
 従来の高周波増幅器モジュールは以上のように構成されているので、モジュールの全体がガリウム砒素基板上に形成されて高効率化が図られている。しかし、高周波特性に優れている化合物半導体であるガリウム砒素基板はチップ単価が高いため、製造コストが高価になってしまう課題があった。
 この発明は上記のような課題を解決するためになされたもので、モジュールの全体がガリウム砒素基板上に形成されている場合と同等の高周波特性を維持しながら、低コスト化を実現することができる高周波増幅器モジュール及び高周波増幅器モジュールユニットを得ることを目的とする。
 この発明に係る高周波増幅器モジュールは、入力端子から入力された信号を増幅する多段構成のドライバ段増幅器と、そのドライバ段増幅器により増幅された信号を増幅し、増幅後の信号を出力端子に出力する最終段増幅器とを備え、そのドライバ段増幅器がシリコン基板上に形成され、その最終段増幅器がガリウム砒素基板上に形成されているようにしたものである。
 この発明によれば、入力端子から入力された信号を増幅する多段構成のドライバ段増幅器と、そのドライバ段増幅器により増幅された信号を増幅し、増幅後の信号を出力端子に出力する最終段増幅器とを備え、そのドライバ段増幅器がシリコン基板上に形成され、その最終段増幅器がガリウム砒素基板上に形成されているように構成したので、モジュールの全体がガリウム砒素基板上に形成されている場合と同等の高周波特性を維持しながら、低コスト化を実現することができる効果がある。
この発明の実施の形態1による高周波増幅器モジュールを示す構成図である。 この発明の実施の形態2による高周波増幅器モジュールを示す構成図である。 この発明の実施の形態3による高周波増幅器モジュールを示す構成図である。 この発明の実施の形態4による高周波増幅器モジュールを示す構成図である。 この発明の実施の形態5による高周波増幅器モジュールを示す構成図である。 この発明の実施の形態6による高周波増幅器モジュールを示す構成図である。 この発明の実施の形態7による高周波増幅器モジュールユニットを示す構成図である。 この発明の実施の形態8による高周波増幅器モジュールユニットを示す構成図である。 この発明の実施の形態9による高周波増幅器モジュールを示す構成図である。 この発明の実施の形態10による高周波増幅器モジュールを示す構成図である。 この発明の実施の形態11による高周波増幅器モジュールを示す構成図である。 非特許文献1に開示されている従来の高周波増幅器モジュールを示す構成図である。
 以下、この発明をより詳細に説明するために、この発明を実施するための形態について、添付の図面に従って説明する。
実施の形態1.
 図1はこの発明の実施の形態1による高周波増幅器モジュールを示す構成図である。
 図1において、RF入力端子1はRF信号を入力する端子である。
 入力整合回路2はドライバ段増幅器3の入力側の整合回路である。
 ドライバ段増幅器3は1~N段の増幅素子から構成されている多段の増幅器であり、RF入力端子1から入力されたRF信号を増幅し、増幅後のRF信号を段間整合回路4に出力するデバイスである。
 段間整合回路4はドライバ段増幅器3と最終段増幅器5の間に配置されている整合回路である。
 最終段増幅器5はドライバ段増幅器3により増幅されたRF信号を更に増幅して、増幅後のRF信号を出力整合回路6に出力するデバイスである。
 出力整合回路6は最終段増幅器5の出力側の整合回路である。
 RF出力端子7は最終段増幅器5により増幅されたRF信号を出力する端子である。
 Vcc電源8は電源電圧Vccを出力する電源である。
 Vcc電圧制御回路9はドライバ段増幅器3及び最終段増幅器5のドレイン又はコレクタに供給する直流電圧を制御する電源電圧制御回路である。
 なお、ドライバ段増幅器3及び最終段増幅器5のドレイン又はコレクタに供給する直流電圧は、Vcc電源8から出力される電源電圧Vccと同じ電圧であってもよいし、その電源電圧Vccを可変した電圧であってもよい。
 バイアス回路10はドライバ段増幅器3及び最終段増幅器5のゲート又はベースに供給する直流電圧又は直流電流を制御することで、ドライバ段増幅器3及び最終段増幅器5のバイアスを設定する回路である。
 シリコン基板11はシリコンで形成されている基板であり、シリコン基板11にはドライバ段増幅器3、Vcc電圧制御回路9及びバイアス回路10が形成されている。
 入力整合回路2、段間整合回路4及び出力整合回路6と最終段増幅器5は、ガリウム砒素基板上に形成されている。
 次に動作について説明する。
 まず、Vcc電圧制御回路9は、Vcc電源8から電源電圧Vccの供給を受けると、ドライバ段増幅器3及び最終段増幅器5のドレイン又はコレクタに供給する直流電圧を制御することで、ドライバ段増幅器3及び最終段増幅器5を駆動可能な状態に設定する。
 バイアス回路10は、ドライバ段増幅器3及び最終段増幅器5におけるRF信号の増幅率等を所望値に設定するため、例えば、外部から与えられる増幅率の設定情報等にしたがって、ドライバ段増幅器3及び最終段増幅器5のゲート又はベースに供給する直流電圧又は直流電流を制御することで、ドライバ段増幅器3及び最終段増幅器5のバイアスを設定する。
 バイアス回路10によりドライバ段増幅器3及び最終段増幅器5のバイアスが設定されている状態で、RF入力端子1からRF信号が入力されると、そのRF信号は入力整合回路2を通過してドライバ段増幅器3に入力される。
 ドライバ段増幅器3は、入力整合回路2を通過してきたRF信号を増幅し、増幅後のRF信号を段間整合回路4に出力する。
 ドライバ段増幅器3から出力されたRF信号は、段間整合回路4を通過して最終段増幅器5に入力される。
 最終段増幅器5は、段間整合回路4を通過してきたRF信号を増幅し、増幅後のRF信号を出力整合回路6に出力する。
 最終段増幅器5から出力されたRF信号は、出力整合回路6を通過して、RF出力端子7から外部に出力される。
 図1の高周波増幅器モジュールでは、ドライバ段増幅器3がシリコン基板11上に形成され、最終段増幅器5がガリウム砒素基板上に形成されているが、高周波特性に支配的な増幅器は最終段増幅器5であり、ドライバ段増幅器3は高周波特性に特段の影響を与えない増幅器である。
 このため、高周波特性に優れているガリウム砒素基板上に最終段増幅器5を形成すれば、ドライバ段増幅器3をシリコン基板11上に形成しても、モジュールの全体がガリウム砒素基板上に形成されている場合と同等の高周波特性を維持することができる。
 このように、ドライバ段増幅器3をシリコン基板11上に形成することで、ガリウム砒素基板で形成するチップの面積を削減することができるため、低コスト化を実現することができる。
 この実施の形態1では、入力整合回路2、段間整合回路4及び出力整合回路6をガリウム砒素基板上に形成しているものを示したが、その全てをガリウム砒素基板上に形成せずに、その一部をシリコン基板11(あるいは、外部のモジュール)上に形成するようにしても、モジュールの全体がガリウム砒素基板上に形成されている場合と同等の高周波特性を維持することができる。
 例えば、入力整合回路2と段間整合回路4をシリコン基板11(あるいは、外部のモジュール)上に形成して、出力整合回路6をガリウム砒素基板上に形成するようにしてもよいし、入力整合回路2をシリコン基板11(あるいは、外部のモジュール)上に形成して、段間整合回路4と出力整合回路6をガリウム砒素基板上に形成するようにしてもよい。
 また、出力整合回路6をシリコン基板11(あるいは、外部のモジュール)上に形成して、入力整合回路2と段間整合回路4をガリウム砒素基板上に形成するようにしてもよい。
 なお、この実施の形態1では、高周波増幅器モジュールが入力整合回路2、段間整合回路4及び出力整合回路6を実装しているものを示したが、入力整合回路2、段間整合回路4及び出力整合回路6の一部又は全部を実装していない高周波増幅器モジュールであってもよい。
実施の形態2.
 図2はこの発明の実施の形態2による高周波増幅器モジュールを示す構成図であり、図において、図1と同一符号は同一または相当部分を示すので説明を省略する。
 バイパス経路21は一端がドライバ段増幅器3の入力側に接続され、他端が最終段増幅器5の出力側に接続されている経路である。
 この実施の形態2では、ドライバ段増幅器3及び最終段増幅器5が配置されている経路を「主経路」と称する。
 バイパス増幅器22はバイパス経路21上に配置されているドライバ段増幅器であり、バイパス増幅器22のサイズは、信号の増幅率が、ドライバ段増幅器3及び最終段増幅器5のトータルの増幅率より小さくなるように設計されている。
 経路切替用スイッチ23はバイパス経路21上で、バイパス増幅器22の入力側に配置され、切替制御回路26の制御の下でオン/オフするスイッチである。
 経路切替用スイッチ24はバイパス経路21上で、バイパス増幅器22の出力側に配置され、切替制御回路26の制御の下でオン/オフするスイッチである。
 経路切替用スイッチ25は主経路上で、ドライバ段増幅器3の出力側に配置され、切替制御回路26の制御の下でオン/オフするスイッチである。
 切替制御回路26は経路切替用スイッチ23,24,25をオン/オフすることで、RF信号を流す経路として、主経路又はバイパス経路21を選択する回路である。
 この実施の形態2では、バイパス増幅器22、経路切替用スイッチ23,24,25及び切替制御回路26がシリコン基板11上に形成されている。
 次に動作について説明する。
 まず、Vcc電圧制御回路9は、Vcc電源8から電源電圧Vccの供給を受けると、ドライバ段増幅器3、最終段増幅器5及びバイパス増幅器22のドレイン又はコレクタに供給する直流電圧を制御することで、ドライバ段増幅器3、最終段増幅器5及びバイパス増幅器22を駆動可能な状態に設定する。
 バイアス回路10は、ドライバ段増幅器3、最終段増幅器5及びバイパス増幅器22におけるRF信号の増幅率等を所望値に設定するため、例えば、外部から与えられる増幅率の設定情報等にしたがって、ドライバ段増幅器3、最終段増幅器5及びバイパス増幅器22のゲート又はベースに供給する直流電圧又は直流電流を制御することで、ドライバ段増幅器3、最終段増幅器5及びバイパス増幅器22のバイアスを設定する。
 バイアス回路10によりドライバ段増幅器3、最終段増幅器5及びバイパス増幅器22のバイアスが設定されている状態で、RF入力端子1からRF信号が入力されると、そのRF信号は入力整合回路2を通過する。
 切替制御回路26は、例えば、外部からRF信号を低出力電力で駆動する旨を示す制御情報を入力すると、経路切替用スイッチ23,24をオンに制御して、経路切替用スイッチ25をオフに制御することで、RF信号を流す経路として、バイパス経路21を選択する。
 これにより、入力整合回路2を通過したRF信号がバイパス増幅器22に入力される。
 バイパス増幅器22は、入力整合回路2を通過してきたRF信号を増幅し、増幅後のRF信号を出力整合回路6に出力する。
 バイパス増幅器22から出力されたRF信号は、出力整合回路6を通過して、RF出力端子7から外部に出力される。
 切替制御回路26は、例えば、外部からRF信号を高出力電力で駆動する旨を示す制御情報を入力すると、経路切替用スイッチ23,24をオフに制御して、経路切替用スイッチ25をオンに制御することで、RF信号を流す経路として、主経路を選択する。
 これにより、入力整合回路2を通過したRF信号がドライバ段増幅器3に入力される。
 ドライバ段増幅器3は、入力整合回路2を通過してきたRF信号を増幅し、増幅後のRF信号を段間整合回路4に出力する。
 ドライバ段増幅器3から出力されたRF信号は、段間整合回路4を通過して最終段増幅器5に入力される。
 最終段増幅器5は、段間整合回路4を通過してきたRF信号を増幅し、増幅後のRF信号を出力整合回路6に出力する。
 最終段増幅器5から出力されたRF信号は、出力整合回路6を通過して、RF出力端子7から外部に出力される。
 図2の高周波増幅器モジュールでは、ドライバ段増幅器3及びバイパス増幅器22がシリコン基板11上に形成され、最終段増幅器5がガリウム砒素基板上に形成されているが、高周波特性に支配的な増幅器は最終段増幅器5であり、ドライバ段増幅器3及びバイパス増幅器22は高周波特性に特段の影響を与えない増幅器である。
 このため、高周波特性に優れているガリウム砒素基板上に最終段増幅器5を形成すれば、ドライバ段増幅器3及びバイパス増幅器22をシリコン基板11上に形成しても、モジュールの全体がガリウム砒素基板上に形成されている場合と同等の高周波特性を維持することができる。
 このように、ドライバ段増幅器3及びバイパス増幅器22をシリコン基板11上に形成することで、ガリウム砒素基板で形成するチップの面積を削減することができるため、低コスト化を実現することができる。
 なお、この実施の形態2では、経路切替用スイッチ23,24,25がシリコン基板11上に形成されているが、経路切替用スイッチ23,24,25がガリウム砒素基板上に形成されていてもよい。
 また、この実施の形態2では、高周波増幅器モジュールが入力整合回路2、段間整合回路4及び出力整合回路6を実装しているものを示したが、入力整合回路2、段間整合回路4及び出力整合回路6の一部又は全部を実装していない高周波増幅器モジュールであってもよい。
実施の形態3.
 図3はこの発明の実施の形態3による高周波増幅器モジュールを示す構成図であり、図において、図1と同一符号は同一または相当部分を示すので説明を省略する。
 バイパス経路31は一端がドライバ段増幅器3の出力側に接続され、他端が最終段増幅器5の出力側に接続されている経路である。
 この実施の形態3では、ドライバ段増幅器3及び最終段増幅器5が配置されている経路を「主経路」と称する。
 バイパス増幅器32はバイパス経路31上に配置されている最終段増幅器であり、バイパス増幅器32のサイズは、最終段増幅器5のサイズより小さくなるように設計されている。
 経路切替用スイッチ33はバイパス経路31上で、バイパス増幅器32の入力側に配置され、切替制御回路36の制御の下でオン/オフするスイッチである。
 経路切替用スイッチ34はバイパス経路31上で、バイパス増幅器32の出力側に配置され、切替制御回路36の制御の下でオン/オフするスイッチである。
 経路切替用スイッチ35は主経路上で、ドライバ段増幅器3の出力側に配置され、切替制御回路36の制御の下でオン/オフするスイッチである。
 切替制御回路36は経路切替用スイッチ33,34,35をオン/オフすることで、RF信号を流す経路として、主経路又はバイパス経路31を選択する回路である。
 この実施の形態3では、バイパス増幅器32、経路切替用スイッチ33,34,35及び切替制御回路36がシリコン基板11上に形成されている。
 次に動作について説明する。
 まず、Vcc電圧制御回路9は、Vcc電源8から電源電圧Vccの供給を受けると、ドライバ段増幅器3、最終段増幅器5及びバイパス増幅器32のドレイン又はコレクタに供給する直流電圧を制御することで、ドライバ段増幅器3、最終段増幅器5及びバイパス増幅器32を駆動可能な状態に設定する。
 バイアス回路10は、ドライバ段増幅器3、最終段増幅器5及びバイパス増幅器32におけるRF信号の増幅率等を所望値に設定するため、例えば、外部から与えられる増幅率の設定情報等にしたがって、ドライバ段増幅器3、最終段増幅器5及びバイパス増幅器32のゲート又はベースに供給する直流電圧又は直流電流を制御することで、ドライバ段増幅器3、最終段増幅器5及びバイパス増幅器32のバイアスを設定する。
 バイアス回路10によりドライバ段増幅器3、最終段増幅器5及びバイパス増幅器32のバイアスが設定されている状態で、RF入力端子1からRF信号が入力されると、そのRF信号は入力整合回路2を通過する。
 ドライバ段増幅器3は、入力整合回路2を通過してきたRF信号を増幅する。
 切替制御回路36は、例えば、外部からRF信号を低出力電力で駆動する旨を示す制御情報を入力すると、経路切替用スイッチ33,34をオンに制御して、経路切替用スイッチ35をオフに制御することで、RF信号を流す経路として、バイパス経路31を選択する。
 これにより、ドライバ段増幅器3により増幅されたRF信号がバイパス増幅器32に入力される。
 バイパス増幅器32は、入力整合回路2を通過してきたRF信号を増幅し、増幅後のRF信号を出力整合回路6に出力する。
 バイパス増幅器32から出力されたRF信号は、出力整合回路6を通過して、RF出力端子7から外部に出力される。
 切替制御回路36は、例えば、外部からRF信号を高出力電力で駆動する旨を示す制御情報を入力すると、経路切替用スイッチ33,34をオフに制御して、経路切替用スイッチ35をオンに制御することで、RF信号を流す経路として、主経路を選択する。
 これにより、ドライバ段増幅器3により増幅されたRF信号は、段間整合回路4を通過して最終段増幅器5に入力される。
 最終段増幅器5は、段間整合回路4を通過してきたRF信号を増幅し、増幅後のRF信号を出力整合回路6に出力する。
 最終段増幅器5から出力されたRF信号は、出力整合回路6を通過して、RF出力端子7から外部に出力される。
 図3の高周波増幅器モジュールでは、ドライバ段増幅器3及びバイパス増幅器32がシリコン基板11上に形成され、最終段増幅器5がガリウム砒素基板上に形成されているが、高周波特性に支配的な増幅器は最終段増幅器5であり、ドライバ段増幅器3及びバイパス増幅器32は高周波特性に特段の影響を与えない増幅器である。
 このため、高周波特性に優れているガリウム砒素基板上に最終段増幅器5を形成すれば、ドライバ段増幅器3及びバイパス増幅器32をシリコン基板11上に形成しても、モジュールの全体がガリウム砒素基板上に形成されている場合と同等の高周波特性を維持することができる。
 このように、ドライバ段増幅器3及びバイパス増幅器32をシリコン基板11上に形成することで、ガリウム砒素基板で形成するチップの面積を削減することができるため、低コスト化を実現することができる。
 なお、この実施の形態3では、経路切替用スイッチ33,34,35がシリコン基板11上に形成されているが、経路切替用スイッチ33,34,35がガリウム砒素基板上に形成されていてもよい。
 また、この実施の形態3では、高周波増幅器モジュールが入力整合回路2、段間整合回路4及び出力整合回路6を実装しているものを示したが、入力整合回路2、段間整合回路4及び出力整合回路6の一部又は全部を実装していない高周波増幅器モジュールであってもよい。
実施の形態4.
 図4はこの発明の実施の形態4による高周波増幅器モジュールを示す構成図であり、図において、図1と同一符号は同一または相当部分を示すので説明を省略する。
 バイパス経路41は一端がドライバ段増幅器3の入力側に接続され、他端が最終段増幅器5の出力側に接続されている経路である。
 この実施の形態4では、ドライバ段増幅器3及び最終段増幅器5が配置されている経路を「主経路」と称する。
 バイパスドライバ段増幅器42はバイパス経路41上に配置され、1~N段の増幅素子から構成されている多段の増幅器であり、バイパスドライバ段増幅器42はRF入力端子1から入力されたRF信号を増幅するデバイスである。
 バイパス最終段増幅器43はバイパス経路41上に配置され、バイパスドライバ段増幅器42により増幅されたRF信号を更に増幅して、増幅後のRF信号を出力整合回路6に出力するデバイスである。
 なお、バイパス最終段増幅器43のサイズは、最終段増幅器5のサイズより小さくなるように設計されている。
 経路切替用スイッチ44はバイパス経路41上で、バイパスドライバ段増幅器42の入力側に配置され、切替制御回路47の制御の下でオン/オフするスイッチである。
 経路切替用スイッチ45はバイパス経路41上で、バイパスドライバ段増幅器42の出力側に配置され、切替制御回路47の制御の下でオン/オフするスイッチである。
 経路切替用スイッチ46は主経路上で、ドライバ段増幅器3の出力側に配置され、切替制御回路47の制御の下でオン/オフするスイッチである。
 切替制御回路47は経路切替用スイッチ44,45,46をオン/オフすることで、RF信号を流す経路として、主経路又はバイパス経路41を選択する回路である。
 この実施の形態4では、バイパスドライバ段増幅器42、経路切替用スイッチ44,45,46及び切替制御回路46がシリコン基板11上に形成されている。
 バイパス最終段増幅器43は、ガリウム砒素基板上に形成されている。
 次に動作について説明する。
 まず、Vcc電圧制御回路9は、Vcc電源8から電源電圧Vccの供給を受けると、ドライバ段増幅器3、最終段増幅器5、バイパスドライバ段増幅器42及びバイパス最終段増幅器43のドレイン又はコレクタに供給する直流電圧を制御することで、ドライバ段増幅器3、最終段増幅器5、バイパスドライバ段増幅器42及びバイパス最終段増幅器43を駆動可能な状態に設定する。
 バイアス回路10は、ドライバ段増幅器3、最終段増幅器5、バイパスドライバ段増幅器42及びバイパス最終段増幅器43におけるRF信号の増幅率等を所望値に設定するため、例えば、外部から与えられる増幅率の設定情報等にしたがって、ドライバ段増幅器3、最終段増幅器5、バイパスドライバ段増幅器42及びバイパス最終段増幅器43のゲート又はベースに供給する直流電圧又は直流電流を制御することで、ドライバ段増幅器3、最終段増幅器5、バイパスドライバ段増幅器42及びバイパス最終段増幅器43のバイアスを設定する。
 バイアス回路10によりドライバ段増幅器3、最終段増幅器5、バイパスドライバ段増幅器42及びバイパス最終段増幅器43のバイアスが設定されている状態で、RF入力端子1からRF信号が入力されると、そのRF信号は入力整合回路2を通過する。
 切替制御回路46は、例えば、外部からRF信号を低出力電力で駆動する旨を示す制御情報を入力すると、経路切替用スイッチ44,45をオンに制御して、経路切替用スイッチ46をオフに制御することで、RF信号を流す経路として、バイパス経路41を選択する。
 これにより、入力整合回路2を通過したRF信号がバイパスドライバ段増幅器42に入力される。
 バイパスドライバ段増幅器42は、入力整合回路2を通過してきたRF信号を増幅し、増幅後のRF信号をバイパス最終段増幅器43に出力する。
 バイパス最終段増幅器43は、バイパスドライバ段増幅器42により増幅されたRF信号を更に増幅し、増幅後のRF信号を出力整合回路6に出力する。
 バイパス最終段増幅器43から出力されたRF信号は、出力整合回路6を通過して、RF出力端子7から外部に出力される。
 切替制御回路46は、例えば、外部からRF信号を高出力電力で駆動する旨を示す制御情報を入力すると、経路切替用スイッチ44,45をオフに制御して、経路切替用スイッチ46をオンに制御することで、RF信号を流す経路として、主経路を選択する。
 これにより、入力整合回路2を通過したRF信号がドライバ段増幅器3に入力される。
 ドライバ段増幅器3は、入力整合回路2を通過してきたRF信号を増幅し、増幅後のRF信号を段間整合回路4に出力する。
 ドライバ段増幅器3から出力されたRF信号は、段間整合回路4を通過して最終段増幅器5に入力される。
 最終段増幅器5は、段間整合回路4を通過してきたRF信号を増幅し、増幅後のRF信号を出力整合回路6に出力する。
 最終段増幅器5から出力されたRF信号は、出力整合回路6を通過して、RF出力端子7から外部に出力される。
 図4の高周波増幅器モジュールでは、ドライバ段増幅器3及びバイパスドライバ段増幅器42がシリコン基板11上に形成され、最終段増幅器5及びバイパス最終段増幅器43がガリウム砒素基板上に形成されているが、高周波特性に支配的な増幅器は最終段増幅器5及びバイパス最終段増幅器43であり、ドライバ段増幅器3及びバイパスドライバ段増幅器42は高周波特性に特段の影響を与えない増幅器である。
 このため、高周波特性に優れているガリウム砒素基板上に最終段増幅器5及びバイパス最終段増幅器43を形成すれば、ドライバ段増幅器3及びバイパスドライバ段増幅器42をシリコン基板11上に形成しても、モジュールの全体がガリウム砒素基板上に形成されている場合と同等の高周波特性を維持することができる。
 このように、ドライバ段増幅器3及びバイパスドライバ段増幅器42をシリコン基板11上に形成することで、ガリウム砒素基板で形成するチップの面積を削減することができるため、低コスト化を実現することができる。
 なお、この実施の形態4では、経路切替用スイッチ44,45,46がシリコン基板11上に形成されているが、経路切替用スイッチ44,45,46がガリウム砒素基板上に形成されていてもよい。
 また、この実施の形態4では、高周波増幅器モジュールが入力整合回路2、段間整合回路4及び出力整合回路6を実装しているものを示したが、入力整合回路2、段間整合回路4及び出力整合回路6の一部又は全部を実装していない高周波増幅器モジュールであってもよい。
実施の形態5.
 図5はこの発明の実施の形態5による高周波増幅器モジュールを示す構成図であり、図において、図1と同一符号は同一または相当部分を示すので説明を省略する。
 第1のバイパス経路51は一端がドライバ段増幅器3の入力側に接続され、他端がドライバ段増幅器3の出力側に接続されている経路である。
 第2のバイパス経路52は一端が最終段増幅器5の入力側に接続され、他端が最終段増幅器5の出力側に接続されている経路である。
 この実施の形態5では、ドライバ段増幅器3及び最終段増幅器5が配置されている経路を「主経路」と称する。
 バイパス増幅器53は第1のバイパス経路51上に配置されているドライバ段増幅器であり、バイパス増幅器52のサイズは、ドライバ段増幅器3のサイズより小さくなるように設計されている。
 経路切替用スイッチ54は第1のバイパス経路51上で、バイパス増幅器53の出力側に配置され、切替制御回路57の制御の下でオン/オフするスイッチである。
 経路切替用スイッチ55は第2のバイパス経路52上に配置され、切替制御回路57の制御の下でオン/オフするスイッチである。
 経路切替用スイッチ56は主経路上で、ドライバ段増幅器3の出力側に配置され、切替制御回路57の制御の下でオン/オフするスイッチである。
 切替制御回路57は経路切替用スイッチ54,55,56をオン/オフすることで、RF信号を流す経路として、主経路又はバイパス経路51,52を選択する回路である。
 この実施の形態5では、バイパス増幅器53、経路切替用スイッチ54,55,56及び切替制御回路57がシリコン基板11上に形成されている。
 次に動作について説明する。
 まず、Vcc電圧制御回路9は、Vcc電源8から電源電圧Vccの供給を受けると、ドライバ段増幅器3、最終段増幅器5及びバイパス増幅器53のドレイン又はコレクタに供給する直流電圧を制御することで、ドライバ段増幅器3、最終段増幅器5及びバイパス増幅器53を駆動可能な状態に設定する。
 バイアス回路10は、ドライバ段増幅器3、最終段増幅器5及びバイパス増幅器53におけるRF信号の増幅率等を所望値に設定するため、例えば、外部から与えられる増幅率の設定情報等にしたがって、ドライバ段増幅器3、最終段増幅器5及びバイパス増幅器53のゲート又はベースに供給する直流電圧又は直流電流を制御することで、ドライバ段増幅器3、最終段増幅器5及びバイパス増幅器53のバイアスを設定する。
 バイアス回路10によりドライバ段増幅器3、最終段増幅器5及びバイパス増幅器53のバイアスが設定されている状態で、RF入力端子1からRF信号が入力されると、そのRF信号は入力整合回路2を通過する。
 切替制御回路57は、例えば、外部からRF信号を低出力電力で駆動する旨を示す制御情報を入力すると、経路切替用スイッチ54,55をオンに制御して、経路切替用スイッチ56をオフに制御することで、RF信号を流す経路として、第1のバイパス経路51と第2のバイパス経路52を選択する。
 これにより、入力整合回路2を通過したRF信号がバイパス増幅器53に入力される。
 バイパス増幅器53は、入力整合回路2を通過してきたRF信号を増幅し、増幅後のRF信号を出力する。
 バイパス増幅器53から出力されたRF信号は、第2のバイパス経路52経由で出力整合回路6に入力される。
 バイパス増幅器22から出力されたRF信号は、出力整合回路6を通過して、RF出力端子7から外部に出力される。
 切替制御回路57は、例えば、外部からRF信号を中出力電力で駆動する旨を示す制御情報を入力すると、経路切替用スイッチ55をオンに制御して、経路切替用スイッチ54,56をオフに制御することで、RF信号を流す経路として、主回路と第2のバイパス経路52を選択する。
 これにより、入力整合回路2を通過したRF信号がドライバ段増幅器3に入力される。
 ドライバ段増幅器3は、入力整合回路2を通過してきたRF信号を増幅し、増幅後のRF信号を出力する。
 ドライバ段増幅器3から出力されたRF信号は、第2のバイパス経路52経由で出力整合回路6に入力される。
 ドライバ段増幅器3から出力されたRF信号は、出力整合回路6を通過して、RF出力端子7から外部に出力される。
 切替制御回路57は、例えば、外部からRF信号を高出力電力で駆動する旨を示す制御情報を入力すると、経路切替用スイッチ56をオンに制御して、経路切替用スイッチ54,54をオフに制御することで、RF信号を流す経路として、主回路を選択する。
 これにより、入力整合回路2を通過したRF信号がドライバ段増幅器3に入力される。
 ドライバ段増幅器3は、入力整合回路2を通過してきたRF信号を増幅し、増幅後のRF信号を段間整合回路4に出力する。
 ドライバ段増幅器3から出力されたRF信号は、段間整合回路4を通過して最終段増幅器5に入力される。
 最終段増幅器5は、段間整合回路4を通過してきたRF信号を増幅し、増幅後のRF信号を出力整合回路6に出力する。
 最終段増幅器5から出力されたRF信号は、出力整合回路6を通過して、RF出力端子7から外部に出力される。
 図5の高周波増幅器モジュールでは、ドライバ段増幅器3及びバイパス増幅器53がシリコン基板11上に形成され、最終段増幅器5がガリウム砒素基板上に形成されているが、高周波特性に支配的な増幅器は最終段増幅器5であり、ドライバ段増幅器3及びバイパス増幅器53は高周波特性に特段の影響を与えない増幅器である。
 このため、高周波特性に優れているガリウム砒素基板上に最終段増幅器5を形成すれば、ドライバ段増幅器3及びバイパス増幅器53をシリコン基板11上に形成しても、モジュールの全体がガリウム砒素基板上に形成されている場合と同等の高周波特性を維持することができる。
 このように、ドライバ段増幅器3及びバイパス増幅器53をシリコン基板11上に形成することで、ガリウム砒素基板で形成するチップの面積を削減することができるため、低コスト化を実現することができる。
 なお、この実施の形態5では、経路切替用スイッチ54,55,56がシリコン基板11上に形成されているが、経路切替用スイッチ54,55,56がガリウム砒素基板上に形成されていてもよい。
 また、この実施の形態5では、高周波増幅器モジュールが入力整合回路2、段間整合回路4及び出力整合回路6を実装しているものを示したが、入力整合回路2、段間整合回路4及び出力整合回路6の一部又は全部を実装していない高周波増幅器モジュールであってもよい。
実施の形態6.
 図6はこの発明の実施の形態6による高周波増幅器モジュールを示す構成図であり、図において、図1と同一符号は同一または相当部分を示すので説明を省略する。
 最終段増幅器61-1~61-Nはドライバ段増幅器3の出力側にN個並列に接続されており、ドライバ段増幅器3により増幅されたRF信号を更に増幅して、増幅後のRF信号を出力整合回路62-1~62-Nに出力するデバイスである。
 出力整合回路62-1~62-Nは最終段増幅器61-1~61-Nの出力側の整合回路である。
 RF出力端子63-1~63-Nは最終段増幅器61-1~61-Nにより増幅されたRF信号を出力する端子である。
 経路切替用スイッチ64は切替制御回路65の制御の下で、ドライバ段増幅器3により増幅されたRF信号を何れかの最終段増幅器61に出力するスイッチである。
 切替制御回路65は経路切替用スイッチ64の出力先を切り替える回路である。
 この実施の形態6では、ドライバ段増幅器3、Vcc電圧制御回路9、バイパス回路10、経路切替用スイッチ64及び切替制御回路65がシリコン基板11上に形成されている。
 入力整合回路2及び出力整合回路62-1~62-Nと最終段増幅器61-1~61-Nは、ガリウム砒素基板上に形成されている。
 次に動作について説明する。
 まず、Vcc電圧制御回路9は、Vcc電源8から電源電圧Vccの供給を受けると、ドライバ段増幅器3及び最終段増幅器61-1~61-Nのドレイン又はコレクタに供給する直流電圧を制御することで、ドライバ段増幅器3及び最終段増幅器61-1~61-Nを駆動可能な状態に設定する。
 バイアス回路10は、ドライバ段増幅器3及び最終段増幅器61-1~61-NにおけるRF信号の増幅率等を所望値に設定するため、例えば、外部から与えられる増幅率の設定情報等にしたがって、ドライバ段増幅器3及び最終段増幅器61-1~61-Nのゲート又はベースに供給する直流電圧又は直流電流を制御することで、ドライバ段増幅器3及び最終段増幅器61-1~61-Nのバイアスを設定する。
 バイアス回路10によりドライバ段増幅器3及び最終段増幅器61-1~61-Nのバイアスが設定されている状態で、RF入力端子1からRF信号が入力されると、そのRF信号は入力整合回路2を通過する。
 この実施の形態6では、RF入力端子1から周波数が異なるRF信号が順次入力される場合を想定する。
 切替制御回路65は、例えば、外部からRF信号の周波数を示す情報を入力すると、経路切替用スイッチ64の出力先を上記RF信号の周波数に対応する最終段増幅器61に切り替えて、そのRF信号が当該最終段増幅器61に入力されるようにする。
 例えば、RF信号の周波数がAHzならば、経路切替用スイッチ64の出力先を最終段増幅器61-1に切り替え、RF信号の周波数がBHzならば、経路切替用スイッチ64の出力先を最終段増幅器61-2に切り替え、RF信号の周波数がCHzならば、経路切替用スイッチ64の出力先を最終段増幅器61-Nに切り替えるようにする。
 最終段増幅器61-1~61-Nのうち、ドライバ段増幅器3から経路切替用スイッチ64を介してRF信号が入力された最終段増幅器61は、そのRF信号を増幅し、増幅後のRF信号を出力整合回路62に出力する。
 最終段増幅器61-1~61-Nから出力されたRF信号は、出力整合回路62-1~62-Nを通過して、RF出力端子63-1~63-Nから外部に出力される。
 図6の高周波増幅器モジュールでは、ドライバ段増幅器3がシリコン基板11上に形成され、最終段増幅器61-1~61-Nがガリウム砒素基板上に形成されているが、高周波特性に支配的な増幅器は最終段増幅器61-1~61-Nであり、ドライバ段増幅器3は高周波特性に特段の影響を与えない増幅器である。
 このため、高周波特性に優れているガリウム砒素基板上に最終段増幅器61-1~61-Nを形成すれば、ドライバ段増幅器3をシリコン基板11上に形成しても、モジュールの全体がガリウム砒素基板上に形成されている場合と同等の高周波特性を維持することができる。
 このように、ドライバ段増幅器3をシリコン基板11上に形成することで、ガリウム砒素基板で形成するチップの面積を削減することができるため、低コスト化を実現することができる。
 なお、この実施の形態6では、経路切替用スイッチ64がシリコン基板11上に形成されているが、経路切替用スイッチ64がガリウム砒素基板上に形成されていてもよい。
 また、この実施の形態6では、高周波増幅器モジュールが入力整合回路2及び最終段増幅器61-1~61-Nを実装しているものを示したが、入力整合回路2及び最終段増幅器61-1~61-Nの一部又は全部を実装していない高周波増幅器モジュールであってもよい。
 また、段間整合回路を実装している高周波増幅器モジュールであってもよい。
実施の形態7.
 図7はこの発明の実施の形態7による高周波増幅器モジュールを示す構成図であり、図において、図2と同一符号は同一または相当部分を示すので説明を省略する。
 バイパス経路27は一端がドライバ段増幅器3の出力側に接続され、他端が最終段増幅器5の出力側に接続されている経路である。
 この実施の形態7では、ドライバ段増幅器3及び最終段増幅器5が配置されている経路を「主経路」と称する。
 経路切替用スイッチ28はバイパス経路27上に配置され、切替制御回路29の制御の下でオン/オフするスイッチである。
 切替制御回路29は経路切替用スイッチ25,28をオン/オフすることで、RF信号を流す経路として、主経路又はバイパス経路27を選択する回路である。
 この実施の形態7では、経路切替用スイッチ25,28及び切替制御回路29がシリコン基板11上に形成されている。
 次に動作について説明する。
 まず、Vcc電圧制御回路9は、Vcc電源8から電源電圧Vccの供給を受けると、ドライバ段増幅器3及び最終段増幅器5のドレイン又はコレクタに供給する直流電圧を制御することで、ドライバ段増幅器3及び最終段増幅器5を駆動可能な状態に設定する。
 バイアス回路10は、ドライバ段増幅器3及び最終段増幅器5におけるRF信号の増幅率等を所望値に設定するため、例えば、外部から与えられる増幅率の設定情報等にしたがって、ドライバ段増幅器3及び最終段増幅器5のゲート又はベースに供給する直流電圧又は直流電流を制御することで、ドライバ段増幅器3及び最終段増幅器5のバイアスを設定する。
 バイアス回路10によりドライバ段増幅器3及び最終段増幅器5のバイアスが設定されている状態で、RF入力端子1からRF信号が入力されると、そのRF信号は入力整合回路2を通過する。
 切替制御回路29は、例えば、外部からRF信号を低出力電力で駆動する旨を示す制御情報を入力すると、経路切替用スイッチ28をオンに制御して、経路切替用スイッチ25をオフに制御することで、RF信号を流す経路として、バイパス経路27を選択する。
 これにより、入力整合回路2を通過したRF信号がバイパス経路27経由で出力整合回路6に入力される。
 バイパス経路27から出力されたRF信号は、出力整合回路6を通過して、RF出力端子7から外部に出力される。
 切替制御回路29は、例えば、外部からRF信号を高出力電力で駆動する旨を示す制御情報を入力すると、経路切替用スイッチ25をオンに制御して、経路切替用スイッチ28をオフに制御することで、RF信号を流す経路として、主経路を選択する。
 これにより、入力整合回路2を通過したRF信号がドライバ段増幅器3に入力される。
 ドライバ段増幅器3は、入力整合回路2を通過してきたRF信号を増幅し、増幅後のRF信号を段間整合回路4に出力する。
 ドライバ段増幅器3から出力されたRF信号は、段間整合回路4を通過して最終段増幅器5に入力される。
 最終段増幅器5は、段間整合回路4を通過してきたRF信号を増幅し、増幅後のRF信号を出力整合回路6に出力する。
 最終段増幅器5から出力されたRF信号は、出力整合回路6を通過して、RF出力端子7から外部に出力される。
 図7の高周波増幅器モジュールでは、ドライバ段増幅器3がシリコン基板11上に形成され、最終段増幅器5がガリウム砒素基板上に形成されているが、高周波特性に支配的な増幅器は最終段増幅器5であり、ドライバ段増幅器3は高周波特性に特段の影響を与えない増幅器である。
 このため、高周波特性に優れているガリウム砒素基板上に最終段増幅器5を形成すれば、ドライバ段増幅器3をシリコン基板11上に形成しても、モジュールの全体がガリウム砒素基板上に形成されている場合と同等の高周波特性を維持することができる。
 このように、ドライバ段増幅器3をシリコン基板11上に形成することで、ガリウム砒素基板で形成するチップの面積を削減することができるため、低コスト化を実現することができる。
 なお、この実施の形態7では、経路切替用スイッチ25,28がシリコン基板11上に形成されているが、経路切替用スイッチ25,28がガリウム砒素基板上に形成されていてもよい。
 また、この実施の形態7では、高周波増幅器モジュールが入力整合回路2、段間整合回路4及び出力整合回路6を実装しているものを示したが、入力整合回路2、段間整合回路4及び出力整合回路6の一部又は全部を実装していない高周波増幅器モジュールであってもよい。
実施の形態8.
 図8はこの発明の実施の形態8による高周波増幅器モジュールを示す構成図であり、図において、図2と同一符号は同一または相当部分を示すので説明を省略する。
 ガリウム砒素基板71はガリウム砒素で形成されている基板であり、段間整合回路4、最終段増幅器5及び温度検知回路72が形成されている。
 温度検知回路72はガリウム砒素基板71の温度を検知する機能を有し、ガリウム砒素基板71の温度に応じてバイアス回路10により設定されるバイアスを調整する処理を実施する。なお、温度検知回路72はバイアス調整手段を構成している。
 次に動作について説明する。
 ただし、温度検知回路72が実装されている点以外は、上記実施の形態1と同様であるため、ここでは、主に温度検知回路72の処理内容について説明する。
 バイアス回路10は、ドライバ段増幅器3及び最終段増幅器5におけるRF信号の増幅率等を所望値に設定するため、上記実施の形態1と同様に、例えば、外部から与えられる増幅率の設定情報等にしたがって、ドライバ段増幅器3及び最終段増幅器5のゲート又はベースに供給する直流電圧又は直流電流を制御することで、ドライバ段増幅器3及び最終段増幅器5のバイアスを設定する。
 このとき、温度検知回路72は、ガリウム砒素基板71の温度を検知する機能を有し、ガリウム砒素基板71の温度Tを検知する。
 例えば、温度検知回路72が、ガリウム砒素基板71と略同一の温度特性を有するダイオード又はバイポーラトランジスタを備えることで、ガリウム砒素基板71の温度を検知することができる。
 温度検知回路72は、ガリウム砒素基板71の温度Tを検知すると、ガリウム砒素基板71の温度Tと予め設定されている基準温度Trefとの差分ΔTを算出し、その差分ΔTに対応する調整信号をバイアス回路10に出力する。
   ΔT=T-Tref
 バイアス回路10は、温度検知回路72から差分ΔTに対応する調整信号を受けると、その調整信号にしたがって、ドライバ段増幅器3及び最終段増幅器5に対する制御信号(ドライバ段増幅器3及び最終段増幅器5のゲート又はベースに供給する直流電圧又は直流電流を制御する制御電圧)を調整するが、例えば、ガリウム砒素基板71の温度Tが基準温度Trefより高い場合、その差分ΔTの絶対値が大きい程、その制御電圧が小さくなるように調整する。
 逆に、ガリウム砒素基板71の温度Tが基準温度Trefより低い場合、その差分ΔTの絶対値が大きい程、その制御電圧が大きくなるように調整する。
 これにより、温度補償が可能なバイアス供給が可能になる。
 図8の高周波増幅器モジュールは、ドライバ段増幅器3がシリコン基板11上に形成され、最終段増幅器5はガリウム砒素基板71上に形成されているが、高周波特性に支配的な増幅器は最終段増幅器5であり、ドライバ段増幅器3は高周波特性に特段の影響を与えない増幅器である。
 このため、高周波特性に優れているガリウム砒素基板71上に最終段増幅器5を形成すれば、ドライバ段増幅器3をシリコン基板11上に形成しても、モジュールの全体がガリウム砒素基板71上に形成されている場合と同等の高周波特性を維持することができる。
 さらに、ガリウム砒素基板71の温度を検知する機能を有し、ガリウム砒素基板71の温度に応じてバイアス回路10により設定されるバイアスを調整する温度検知回路72をガリウム砒素基板71上に形成しているので、バイアス回路10をシリコン基板11上に形成していても、温度補償が可能な高周波増幅器モジュールを得ることができる。
 この場合、バイアス回路10をガリウム砒素基板71上に形成する必要がないため、ガリウム砒素基板71で形成するチップの面積を削減することができるようになり、温度補償が可能な高周波増幅器モジュールであっても、低コスト化を実現することができる。
実施の形態9.
 図9はこの発明の実施の形態9による高周波増幅器モジュールを示す構成図であり、図において、図2と同一符号は同一または相当部分を示すので説明を省略する。
 カレントミラー型バイアス回路73はガリウム砒素基板71上に形成され、バイアス回路10から出力される定電流の制御信号によってカレントミラーを形成する回路であり、バイアス回路10により設定されるバイアスを調整するバイアス調整手段を構成している。
 なお、カレントミラー型バイアス回路73を構成しているカレントミラー用トランジスタは、最終段トランジスタ5と同デバイスで構成されているものとする。
 図9の高周波増幅器モジュールでは、カレントミラー型バイアス回路73がガリウム砒素基板71上に形成されており、バイアス回路10から出力される定電流の制御信号によってカレントミラーを形成している。
 このため、カレントミラー型バイアス回路73を構成しているカレントミラー用トランジスタが、最終段トランジスタ5と同デバイスで構成されていれば、カレントミラー型バイアス回路73によって、バイアス回路10の出力信号である制御信号が、ガリウム砒素基板71の温度に応じて調整され、温度調整後の制御信号が最終段増幅器5に与えられる。
 因みに、上記実施の形態2では、シリコン基板11上に形成されているバイアス回路10の出力信号である制御信号が、直接、ガリウム砒素基板71上に形成されている最終段増幅器5に与えられる。
 これにより、温度補償が可能なバイアス供給が可能になる。
 図9の高周波増幅器モジュールは、ドライバ段増幅器3がシリコン基板11上に形成され、最終段増幅器5はガリウム砒素基板71上に形成されているが、高周波特性に支配的な増幅器は最終段増幅器5であり、ドライバ段増幅器3は高周波特性に特段の影響を与えない増幅器である。
 このため、高周波特性に優れているガリウム砒素基板71上に最終段増幅器5を形成すれば、ドライバ段増幅器3をシリコン基板11上に形成しても、モジュールの全体がガリウム砒素基板71上に形成されている場合と同等の高周波特性を維持することができる。
 さらに、バイアス回路10から出力される定電流の制御信号によってカレントミラーを形成するカレントミラー型バイアス回路73をガリウム砒素基板71上に形成しているので、バイアス回路10をシリコン基板11上に形成していても、温度補償が可能な高周波増幅器モジュールを得ることができる。
 この場合、バイアス回路10をガリウム砒素基板71上に形成する必要がないため、ガリウム砒素基板71で形成するチップの面積を削減することができるようになり、温度補償が可能な高周波増幅器モジュールであっても、低コスト化を実現することができる。
 この実施の形態9では、バイアス回路10から出力される定電流の制御信号によってカレントミラーを形成するカレントミラー型バイアス回路73をガリウム砒素基板71上に形成するものを示したが、カレントミラー型バイアス回路73の代わりに、最終段トランジスタ5と同デバイスで構成されているバイポーラトランジスタを含むエミッタフォロア型バイアス回路をガリウム砒素基板71上に形成するようにしてもよい。
 この場合、エミッタフォロア型バイアス回路によって、バイアス回路10の出力信号である定電圧の制御信号が、ガリウム砒素基板71の温度に応じて調整され、温度調整後の制御信号が最終段増幅器5に与えられるようになる。
 したがって、カレントミラー型バイアス回路73がガリウム砒素基板71上に形成されている場合と同様に、温度補償が可能なバイアス供給が可能になり、温度補償が可能な高周波増幅器モジュールであっても、低コスト化を実現することができる。
実施の形態10.
 図10はこの発明の実施の形態10による高周波増幅器モジュールユニットを示す構成図である。
 図10において、RF入力端子81-1~81-MはRF信号を入力する端子である。
 この実施の形態10では、RF入力端子81-1~81-Mから周波数が異なるRF信号が入力される場合を想定する。
 高周波増幅器モジュール82-1~82-Mは、上記実施の形態1~5,7~9のいずれかに記載されている高周波増幅器モジュール(図1~図5、図7~図9に記載の高周波増幅器モジュール)であり、高周波増幅器モジュール82-1~82-Mにより増幅されたRF信号がRF出力端子83-1~83-Mから出力される。
 複数の高周波増幅器モジュールを実装している高周波増幅器モジュールユニットを構築する場合でも、図10に示すように、シリコン基板とガリウム砒素基板で形成されている高周波増幅器モジュール82-1~82-Mを実装することで、上記実施の形態1~5,7~9と同様に、優れた高周波特性を維持しながら、低コスト化を実現することができる効果を奏する。
実施の形態11.
 図11はこの発明の実施の形態11による高周波増幅器モジュールユニットを示す構成図であり、図において、図10と同一符号は同一または相当部分を示すので説明を省略する。
 高周波増幅器モジュール91-1~91-Mは、上記実施の形態6に記載されている高周波増幅器モジュール(図6に記載の高周波増幅器モジュール)であり、高周波増幅器モジュール91-1~91-Mにより増幅されたRF信号がRF出力端子92-1~92-Mから出力される。
 複数の高周波増幅器モジュールを実装している高周波増幅器モジュールユニットを構築する場合でも、図10に示すように、シリコン基板とガリウム砒素基板で形成されている高周波増幅器モジュール91-1~91-Mを実装することで、上記実施の形態6と同様に、優れた高周波特性を維持しながら、低コスト化を実現することができる効果を奏する。
 なお、本願発明はその発明の範囲内において、各実施の形態の自由な組み合わせ、あるいは各実施の形態の任意の構成要素の変形、もしくは各実施の形態において任意の構成要素の省略が可能である。
 この発明は、例えば、高周波信号であるRF信号を増幅する際、モジュールの全体がガリウム砒素基板上に形成されている場合と同等の高周波特性を維持しながら、低コスト化を実現する必要性が高い高周波増幅器モジュールに適している。
 1 RF入力端子、2 入力整合回路、3 ドライバ段増幅器、4 段間整合回路、5 最終段増幅器、6 出力整合回路、7 RF出力端子、8 Vcc電源、9 Vcc電圧制御回路(電源電圧制御回路)、10 バイアス回路、11 シリコン基板、21,27,31,41 バイパス経路、22,32 バイパス増幅器、23,24,25,28,33,34,35,44,45,46 経路切替用スイッチ、26,29,36,47 切替制御回路、42 バイパスドライバ段増幅器、43 バイパス最終段増幅器、51 第1のバイパス経路、52 第2のバイパス経路、53 バイパス増幅器、54,55,56 経路切替用スイッチ、57 切替制御回路、61-1~61-N 最終段増幅器、62-1~62-N 出力整合回路、63-1~63-N RF出力端子、64 経路切替用スイッチ、65 切替制御回路、71 ガリウム砒素基板、72 温度検知回路(バイアス調整手段)、73 カレントミラー型バイアス回路(バイアス調整手段)、81-1~81-M RF入力端子、82-1~82-M 高周波増幅器モジュール、83-1~83-M RF出力端子、91-1~91-M 高周波増幅器モジュール、92-1~92-M RF出力端子、101 RF入力端子、102 ドライバ段増幅器、103 最終段増幅器、104 RF出力端子、105 バイパス経路、106 切替制御回路、107,108 切替スイッチ、109 Vcc電源、110 バイアス回路。

Claims (20)

  1.  入力端子から入力された信号を増幅する多段構成のドライバ段増幅器と、上記ドライバ段増幅器により増幅された信号を増幅し、増幅後の信号を出力端子に出力する最終段増幅器とを備えた高周波増幅器モジュールにおいて、
     上記ドライバ段増幅器がシリコン基板上に形成され、上記最終段増幅器がガリウム砒素基板上に形成されていることを特徴とする高周波増幅器モジュール。
  2.  一端がドライバ段増幅器の入力側に接続され、他端が最終段増幅器の出力側に接続されているバイパス経路と、上記バイパス経路上に配置されているバイパス増幅器とを備え、
     上記バイパス増幅器がシリコン基板上に形成されていることを特徴とする請求項1記載の高周波増幅器モジュール。
  3.  一端がドライバ段増幅器の出力側に接続され、他端が最終段増幅器の出力側に接続されているバイパス経路と、上記バイパス経路上に配置され、上記最終段増幅器よりサイズが小さいバイパス増幅器とを備え、
     上記バイパス増幅器がシリコン基板上に形成されていることを特徴とする請求項1記載の高周波増幅器モジュール。
  4.  一端がドライバ段増幅器の入力側に接続され、他端が最終段増幅器の出力側に接続されているバイパス経路と、上記バイパス経路上に配置され、上記入力端子から入力された信号を増幅する多段構成のバイパスドライバ段増幅器と、上記バイパス経路上配置され、上記バイパスドライバ段増幅器により増幅された信号を増幅し、増幅後の信号を出力端子に出力するバイパス最終段増幅器とを備え、
     上記バイパスドライバ段増幅器がシリコン基板上に形成され、上記バイパス最終段増幅器がガリウム砒素基板上に形成されていることを特徴とする請求項1記載の高周波増幅器モジュール。
  5.  一端がドライバ段増幅器の入力側に接続され、他端がドライバ段増幅器の出力側に接続されている第1のバイパス経路と、一端が最終段増幅器の入力側に接続され、他端が上記最終段増幅器の出力側に接続されている第2のバイパス経路と、上記第1のバイパス経路上に配置され、上記ドライバ段増幅器よりサイズが小さいバイパス増幅器とを備え、
     上記バイパス増幅器がシリコン基板上に形成されていることを特徴とする請求項1記載の高周波増幅器モジュール。
  6.  ガリウム砒素基板上に形成されている最終段増幅器が、ドライバ段増幅器の出力側に複数並列に接続されていることを特徴とする請求項1記載の高周波増幅器モジュール。
  7.  一端がドライバ段増幅器の出力側に接続され、他端が最終段増幅器の出力側に接続されているバイパス経路を備えていることを特徴とする請求項1記載の高周波増幅器モジュール。
  8.  ドライバ段増幅器の入力側に入力整合回路、上記ドライバ段増幅器と最終段増幅器の間に段間整合回路、上記最終段増幅器の出力側に出力整合回路が配置されており、上記入力整合回路、上記段間整合回路及び上記出力整合回路の一部又は全部がガリウム砒素基板上に形成されていることを特徴とする請求項1記載の高周波増幅器モジュール。
  9.  ドライバ段増幅器の入力側に入力整合回路、上記ドライバ段増幅器と最終段増幅器の間に段間整合回路、上記最終段増幅器の出力側に出力整合回路が配置されており、上記入力整合回路、上記段間整合回路及び上記出力整合回路の一部又は全部がシリコン基板上又は外部のモジュール上に形成されていることを特徴とする請求項1記載の高周波増幅器モジュール。
  10.  ドライバ段増幅器及び最終段増幅器が配置されている主経路又はバイパス経路のうち、信号を流す経路を選択する経路切替用スイッチが設けられており、上記経路切替用スイッチがシリコン基板上に形成されていることを特徴とする請求項2記載の高周波増幅器モジュール。
  11.  経路切替用スイッチを制御する切替制御回路が設けられており、上記切替制御回路がシリコン基板上に形成されていることを特徴とする請求項10記載の高周波増幅器モジュール。
  12.  複数の最終段増幅器のうち、ドライバ段増幅器により増幅された信号を与える最終段増幅器を切り替える経路切替用スイッチが設けられており、上記経路切替用スイッチがシリコン基板上に形成されていることを特徴とする請求項6記載の高周波増幅器モジュール。
  13.  経路切替用スイッチを制御する切替制御回路が設けられており、上記切替制御回路がシリコン基板上に形成されていることを特徴とする請求項12記載の高周波増幅器モジュール。
  14.  ドライバ段増幅器及び最終段増幅器のバイアスを設定するバイアス回路が設けられており、上記バイアス回路がシリコン基板上に形成されていることを特徴とする請求項1記載の高周波増幅器モジュール。
  15.  ドライバ段増幅器及び最終段増幅器の電源電圧を制御する電源電圧制御回路が設けられており、上記電源電圧制御回路がシリコン基板上に形成されていることを特徴とする請求項1記載の高周波増幅器モジュール。
  16.  ガリウム砒素基板上に形成されており、バイアス回路により設定されるバイアスを調整するバイアス調整手段を備えていることを特徴とする請求項14記載の高周波増幅器モジュール。
  17.  バイアス調整手段が、ガリウム砒素基板の温度を検知する温度検知回路で構成されており、上記温度検知回路が、上記ガリウム砒素基板の温度に応じてバイアス回路により設定されるバイアスを調整することを特徴とする請求項16記載の高周波増幅器モジュール。
  18.  バイアス調整手段が、バイポーラトランジスタを含むカレントミラー型のバイアス回路で構成されていることを特徴とする請求項16記載の高周波増幅器モジュール。
  19.  バイアス調整手段が、バイポーラトランジスタを含むエミッタフォロア型のバイアス回路で構成されていることを特徴とする請求項16記載の高周波増幅器モジュール。
  20.  請求項1記載の高周波増幅器モジュールが複数個実装されている高周波増幅器モジュールユニット。
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