WO2012161304A1 - シンチレータパネルおよびシンチレータパネルの製造方法 - Google Patents

シンチレータパネルおよびシンチレータパネルの製造方法 Download PDF

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WO2012161304A1
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partition
coating film
partition wall
scintillator panel
mass
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井口雄一朗
濱野翼
小林康宏
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東レ株式会社
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    • G01T1/20Measuring radiation intensity with scintillation detectors
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Definitions

  • This invention relates to the scintillator panel which comprises the radiation detection apparatus used for a medical diagnostic apparatus, a nondestructive inspection apparatus, etc.
  • X-ray images using films have been widely used in medical practice.
  • digital radiation such as computed radiography (CR) and flat panel type radiation detectors (flat panel detector: FPD) has been used.
  • Detection devices have been developed.
  • a scintillator panel In a flat plate X-ray detector (FPD), a scintillator panel is used to convert radiation into visible light.
  • the scintillator panel includes an X-ray phosphor such as cesium iodide (CsI), and the X-ray phosphor emits visible light in response to the irradiated X-rays, and the light emission is converted into an electrical signal by a TFT or CCD. Is converted into digital image information.
  • CsI cesium iodide
  • TFT or CCD TFT or CCD. Is converted into digital image information.
  • FPD has a problem that the S / N ratio is low. This is because visible light is scattered by the phosphor itself when the X-ray phosphor emits light. In order to reduce the influence of this light scattering, a method of filling a phosphor in a cell partitioned by a partition has been proposed (Patent Documents 1 to 4).
  • a conventionally used method is a method of etching a silicon wafer or a screen printing method using a glass paste which is a mixture of a pigment or ceramic powder and a low-melting glass powder.
  • the size of the scintillator panel that can be formed is limited by the size of the silicon wafer, and a large size such as a 500 mm square cannot be obtained.
  • the multi-layer screen printing method using glass paste high-precision processing is difficult due to changes in the dimensions of the screen printing plate.
  • a certain partition wall width is required to increase the strength of the partition pattern in order to prevent the collapse defect of the partition pattern.
  • the width of the barrier rib pattern is widened, the space between the barrier ribs is relatively narrow, the volume that can be filled with the phosphor is reduced, and the filling amount is not uniform.
  • the scintillator panel obtained by this method has the drawbacks that the amount of X-ray phosphor is small, so that light emission becomes weak and light emission unevenness occurs. This is an obstacle to clear imaging in low-dose imaging.
  • Japanese Patent Laid-Open No. 5-60871 Japanese Patent Laid-Open No. 5-188148 JP 2011-188148 A JP 2011-007552 A
  • An object of the present invention is to provide a scintillator panel that eliminates the above-mentioned drawbacks, forms a narrow partition wall in a large area with high accuracy, has high luminous efficiency, and realizes clear image quality.
  • a scintillator panel having a flat substrate, a grid-like partition provided on the substrate, and a scintillator layer made of a phosphor filled in a cell partitioned by the partition,
  • a method of manufacturing a partition member having a flat substrate and a grid-shaped partition provided on the substrate Applying a photosensitive paste containing a low melting point glass powder containing 2 to 20% by mass of an alkali metal oxide and a photosensitive organic component on a substrate to form a photosensitive paste coating film;
  • a step of exposing the obtained photosensitive paste coating film through a photomask having a predetermined opening A development process for dissolving and removing a portion soluble in the developer of the photosensitive paste coating film after exposure, A baking process in which the photosensitive paste coating film pattern after development is heated to 500 ° C. to 700 ° C. to remove organic components and soften and sinter low-melting glass to form partition walls;
  • the manufacturing method of the partition member containing this.
  • a method of manufacturing a scintillator panel having a flat substrate, a grid-like partition provided on the substrate, and a scintillator layer made of a phosphor filled in a cell defined by the partition There, Applying a photosensitive paste containing a low melting point glass powder containing 2 to 20% by mass of an alkali metal oxide and a photosensitive organic component on a substrate to form a photosensitive paste coating film; A step of exposing the obtained photosensitive paste coating film through a photomask having a predetermined opening; A development process for dissolving and removing a portion soluble in the developer of the photosensitive paste coating film after exposure, A baking process for forming the partition wall by heating the developed photosensitive paste coating film pattern to 500 ° C.
  • a method of manufacturing a scintillator panel including: (4) From a flat substrate, a buffer layer provided on the substrate, a grid-like partition provided on the buffer layer, and a phosphor filled in a cell partitioned by the partition
  • a scintillator panel having a scintillator layer comprising: Applying a buffer layer paste containing an inorganic powder selected from a low-melting glass powder and a ceramic powder and a photosensitive organic component on the substrate to form a buffer layer paste coating film; Exposing the entire surface of the buffer layer paste coating film, A barrier rib photosensitive paste containing a low melting glass powder containing 2 to 20% by mass of an alkali metal oxide and a photosensitive organic component is coated on the buffer layer paste coating film after the exposure.
  • the buffer layer paste coating film and the developed photosensitive paste coating film pattern are heated to 500 ° C. to 700 ° C. to remove organic components and soften and sinter low-melting glass to simultaneously form the buffer layer and partition walls.
  • a method of manufacturing a scintillator panel including:
  • the partition wall can be formed with high accuracy with a large area, it is possible to provide a scintillator panel and a method for manufacturing the scintillator panel for realizing a large size and clear photographing.
  • FIG. 1 is a cross-sectional view schematically showing a configuration of a radiation detection apparatus including a scintillator panel of the present invention.
  • FIG. 2 is a perspective view schematically showing the configuration of the scintillator panel of the present invention.
  • the radiation detection apparatus 1 includes a scintillator panel 2, an output substrate 3, and a power supply unit 12.
  • the scintillator panel 2 includes a scintillator layer 7 made of a phosphor, absorbs the energy of incident radiation such as X-rays, and emits electromagnetic waves having a wavelength in the range of 300 nm to 800 nm, that is, from ultraviolet light centering on visible light. Emits electromagnetic waves (light) in the range of infrared light.
  • the scintillator panel 2 is composed of a substrate 4, a grid-like partition wall 6 for partitioning cells formed thereon, and a scintillator layer 7 made of phosphor filled in a space formed by the partition wall. Is done. Further, by further forming the buffer layer 5 between the substrate 1 and the partition wall 6, the partition wall 6 can be stably formed. Further, by increasing the reflectance of the buffer layer 5 with respect to visible light, the light emitted from the scintillator layer 7 can efficiently reach the photoelectric conversion layer 9 on the output substrate 3.
  • the output substrate 3 has a photoelectric conversion layer 9 and an output layer 10 in which pixels including photosensors and TFTs are two-dimensionally formed on a substrate 11.
  • the radiation detection apparatus 1 is formed by adhering or bringing the light output surface of the scintillator panel 2 and the photoelectric conversion layer 9 of the output substrate 3 into contact with each other via a diaphragm layer 8 made of polyimide resin or the like.
  • the light emitted from the scintillator layer 7 reaches the photoelectric conversion layer 9, performs photoelectric conversion at the photoelectric conversion layer 9, and outputs the result.
  • each cell is partitioned by a partition wall.
  • the substrate used in the scintillator panel of the present invention various types of glass, polymer materials, metals, and the like can be used as long as the materials have radiation transparency.
  • plate glass made of glass such as quartz, borosilicate glass, chemically tempered glass
  • ceramic substrate made of ceramic such as sapphire, silicon nitride, silicon carbide
  • semiconductor such as silicon, germanium, gallium arsenide, gallium phosphorus, gallium nitrogen
  • Semiconductor substrate comprising: cellulose acetate film, polyester film, polyethylene terephthalate film, polyamide film, polyimide film, triacetate film, polycarbonate film, carbon fiber reinforced resin sheet and other polymer films (plastic film); aluminum sheet, iron sheet, copper
  • a metal sheet such as a sheet; a metal sheet having a metal oxide coating layer, an amorphous carbon substrate, or the like can be used.
  • the thickness of the plate glass is preferably 2.0 mm or less, and more preferably 1.0 mm or less.
  • the partition walls are made of a material mainly composed of low melting point glass containing 2 to 20% by mass of an alkali metal oxide.
  • a material mainly composed of a low melting point glass containing 2 to 20% by mass of an alkali metal oxide has an appropriate refractive index and softening temperature, and is suitable for forming a narrow partition wall in a large area with high accuracy.
  • the low melting point glass is a glass having a softening temperature of 700 ° C. or lower.
  • the phrase “low melting point glass as a main component” means that 50% by mass to 100% by mass of the material constituting the partition walls is low melting point glass powder.
  • a photosensitive paste containing a low melting point glass powder containing 2 to 20% by mass of an alkali metal oxide and a photosensitive organic component is applied on a substrate, and a photosensitive paste coating film is applied.
  • An exposure step of exposing the obtained photosensitive paste coating film through a photomask having a predetermined opening, and dissolving and removing a portion soluble in the developer of the photosensitive paste coating film after exposure includes a baking process in which the developed photosensitive paste coating film pattern is heated to a high temperature to remove organic components and soften and sinter low-melting glass to form partition walls.
  • a necessary portion of the photosensitive paste coating film is photocured by exposure, or an unnecessary portion of the photosensitive paste coating film is photodecomposed, so that the dissolution contrast of the photosensitive paste coating film with respect to the developer is increased.
  • the development step unnecessary portions of the photosensitive paste coating film after exposure are removed with a developer, and a photosensitive paste coating film pattern in which only necessary portions remain is obtained.
  • the obtained photosensitive paste coating film pattern is fired at a temperature of preferably 500 to 700 ° C., more preferably 500 to 650 ° C., whereby organic components are decomposed and distilled, and a low melting point is obtained.
  • the glass powder is softened and sintered to form partition walls containing low melting glass.
  • the firing temperature is preferably 500 ° C. or higher. Further, when the firing temperature exceeds 700 ° C., when a general glass substrate is used as the substrate, the deformation of the substrate becomes large, and therefore the firing temperature is desirably 700 ° C. or less.
  • the method of the present invention can be processed with higher accuracy than a processing method in which a glass paste is laminated and printed by multilayer screen printing and then fired.
  • the photosensitive paste used in the present invention is composed of an inorganic powder containing an organic component containing a photosensitive organic component and a low melting glass powder containing 2 to 20% by mass of an alkali metal oxide.
  • the organic component needs a certain amount to form the photosensitive paste coating film pattern before firing, but if there is too much organic component, the amount of the substance to be removed in the firing process increases and the firing shrinkage ratio is large. Therefore, pattern defects are likely to occur in the firing process.
  • the organic component is too small, the mixing and dispersibility of the inorganic fine particles in the paste will be reduced, so that not only will defects easily occur during firing, but the applicability of the paste will decrease due to an increase in paste viscosity.
  • the content of the inorganic powder in the photosensitive paste is preferably 30% by mass to 80% by mass, and more preferably 40% by mass to 70% by mass.
  • the low melting point glass powder is preferably 50% by mass to 100% by mass with respect to the whole inorganic powder. When the low melting point glass powder is less than 50% by mass of the inorganic powder, sintering does not proceed well in the firing step, and the strength of the obtained partition wall is lowered, which is not preferable.
  • a glass composed of a low-melting glass having a softening temperature of 480 ° C. or higher is used as the low-melting glass powder to be used. It is preferable to use a powder.
  • the softening temperature is less than 480 ° C.
  • the low-melting glass is softened before the organic component is sufficiently removed during firing, and the organic component residue is taken into the glass. In this case, there is a concern that the organic components are gradually released later and the product quality is deteriorated.
  • organic component residues incorporated in the glass cause the coloring of the glass.
  • the organic components can be completely removed.
  • the firing temperature in the firing step is preferably 500 to 700 ° C., more preferably 500 to 650 ° C.
  • the softening temperature of the low-melting glass is preferably 480 to 700 ° C., more preferably 480 to 640 ° C. More preferably, the temperature is 480 to 620 ° C.
  • the softening temperature is determined by calculating the endothermic temperature at the endothermic peak from the DTA curve obtained by measuring the sample using a differential thermal analyzer (DTA, “Differential Differential Thermal Balance TG8120” manufactured by Rigaku Corporation). Obtained by extrapolation. Specifically, using a differential thermal analyzer, the temperature is increased from room temperature to 20 ° C./min using alumina powder as a standard sample, and the inorganic powder as a measurement sample is measured to obtain a DTA curve. The softening point Ts obtained by extrapolating the endothermic end temperature at the endothermic peak from the obtained DTA curve by the tangent method is defined as the softening temperature.
  • DTA differential Thermal analyzer
  • the thermal expansion coefficient of the low-melting glass is preferably 40 to 90 ⁇ 10 ⁇ 7 (/ K), more preferably 40 to 65 ⁇ 10 ⁇ 7 .
  • the thermal expansion coefficient is larger than 90 ⁇ 10 ⁇ 7 , the panel is greatly warped, so that it can be assembled as a radiation detection device. It becomes difficult.
  • crosstalk of emitted light occurs in the panel surface, and variations in detection sensitivity of emitted light amount occur, making it difficult to detect high-definition images.
  • the thermal expansion coefficient is smaller than 40 ⁇ 10 ⁇ 7 , the softening temperature of the low-melting glass cannot be lowered sufficiently.
  • a metal oxide selected from lead oxide, bismuth oxide, zinc oxide and alkali metal oxide which is an effective material for lowering the glass melting point, can be used.
  • alkali metal refers to lithium, sodium, potassium, rubidium, and cesium, but the alkali metal oxide used in the present invention refers to a metal oxide selected from lithium oxide, sodium oxide, and potassium oxide. .
  • the content X (M 2 O) of the alkali metal oxide in the low-melting glass needs to be in the range of 2 to 20% by mass. If the content of the alkali metal oxide is less than 2% by mass, the softening temperature becomes high, and thus the firing step needs to be performed at a high temperature. For this reason, when a glass substrate is used as the substrate, the substrate is deformed in the baking process, and thus the resulting scintillator panel is likely to be distorted or defects in the partition walls are easily generated. Moreover, when there is more content of an alkali metal oxide than 20 mass%, the viscosity of glass will fall too much in a baking process. Therefore, the shape of the obtained partition wall is likely to be distorted. Moreover, when the porosity of the obtained partition wall becomes too small, the light emission luminance of the obtained scintillator panel is lowered.
  • the alkali metal oxide it is desirable to add 3 to 10% by mass of zinc oxide in order to adjust the viscosity of the glass at a high temperature.
  • the content of zinc oxide is 3% by mass or less, the viscosity of the glass at a high temperature is high, and when 10% by mass or more is added, the cost of the glass tends to be high.
  • the low melting glass contains silicon oxide, boron oxide, aluminum oxide, alkaline earth metal oxides, etc. to stabilize the low melting glass. Properties, crystallinity, transparency, refractive index, thermal expansion characteristics, and the like can be controlled.
  • the composition of the low-melting glass is preferably set to the composition range shown below because a low-melting glass having viscosity characteristics suitable for the present invention can be produced.
  • Alkali metal oxide 2 to 20% by mass Zinc oxide: 3-10% by mass Silicon oxide: 20-40% by mass Boron oxide: 25-40% by mass Aluminum oxide: 10-30% by mass Alkaline earth metal oxide: 5 to 15% by mass
  • the alkaline earth metal refers to one or more metals selected from magnesium, calcium, barium and strontium.
  • the particle size of the inorganic particles containing the low-melting glass powder was evaluated using a particle size distribution measuring device (“MT3300” manufactured by Nikkiso Co., Ltd.). As a measurement method, the inorganic powder was put into a sample chamber filled with water, and the measurement was performed after ultrasonic treatment for 300 seconds.
  • MT3300 particle size distribution measuring device
  • the particle size of the low-melting glass powder is preferably 50% volume average particle size (D50) in the range of 1.0 to 4.0 ⁇ m.
  • D50 volume average particle size
  • the particle size of the low-melting glass powder is preferably 50% volume average particle size (D50) in the range of 1.0 to 4.0 ⁇ m.
  • D50 volume average particle size
  • the aggregation of particles becomes strong, it becomes difficult to obtain uniform dispersibility, and the fluidity of the paste becomes unstable. In such a case, the thickness uniformity when the paste is applied decreases.
  • D50 exceeds 4.0 ⁇ m, the surface unevenness of the obtained sintered body becomes large, and the pattern tends to be crushed in a subsequent process.
  • the photosensitive paste used in the present invention may contain, as a filler, high melting point glass that does not soften at 700 ° C. or ceramic particles such as silicon oxide, aluminum oxide, titanium oxide, and zirconium oxide, in addition to the above-described low melting point glass powder.
  • high melting point glass that does not soften at 700 ° C.
  • ceramic particles such as silicon oxide, aluminum oxide, titanium oxide, and zirconium oxide
  • the filler preferably has an average particle size of 0.5 to 4.0 ⁇ m for the same reason as the low melting point glass powder.
  • the average refractive index n1 of the low-melting glass powder and the average refractive index n2 of the photosensitive organic component preferably satisfy ⁇ 0.1 ⁇ n1-n2 ⁇ 0.1, It is more preferable that ⁇ 0.01 ⁇ n1 ⁇ n2 ⁇ 0.01 is satisfied, and it is further more preferable that ⁇ 0.005 ⁇ n1 ⁇ n2 ⁇ 0.005 is satisfied.
  • ⁇ 0.01 ⁇ n1 ⁇ n2 ⁇ 0.01 is satisfied
  • ⁇ 0.005 ⁇ n1 ⁇ n2 ⁇ 0.005 is satisfied.
  • the refractive index of the low melting point glass powder can be measured by the Becke line detection method.
  • the refractive index at a wavelength of 436 nm (g line) at 25 ° C. was defined as the refractive index of the low-melting glass powder in the present invention.
  • the average refractive index of the photosensitive organic component can be determined by measuring the coating film composed of the photosensitive organic component by ellipsometry.
  • the refractive index at a wavelength of 436 nm (g line) at 25 ° C. was defined as the average refractive index of the photosensitive organic component.
  • the photosensitive paste used in the present invention contains a photosensitive organic component as an organic component, and can be patterned by the photosensitive paste method as described above.
  • the reactivity can be controlled by using a photosensitive monomer, photosensitive oligomer, photosensitive polymer, photopolymerization initiator, or the like as the photosensitive organic component.
  • the photosensitivity in the photosensitive monomer, photosensitive oligomer and photosensitive polymer means that when the paste is irradiated with actinic rays, the photosensitive monomer, photosensitive oligomer or photosensitive polymer is photocrosslinked or photopolymerized. It means that the chemical structure changes due to the reaction.
  • the photosensitive monomer is a compound having an active carbon-carbon double bond, and examples thereof include monofunctional compounds and polyfunctional compounds having a vinyl group, acryloyl group, methacryloyl group, and acrylamide group as functional groups.
  • a compound selected from a polyfunctional acrylate compound and a polyfunctional methacrylate compound in an organic component in an amount of 10 to 80% by mass increases the crosslink density during curing by photoreaction and improves pattern formation. This is preferable. Since various types of compounds have been developed as the polyfunctional acrylate compound and the polyfunctional methacrylate compound, it is possible to appropriately select them from the viewpoint of reactivity, refractive index, and the like.
  • Photosensitive oligomers and photosensitive polymers include, for example, acrylic acid, methacrylic acid, itaconic acid, crotonic acid, maleic acid, fumaric acid, vinyl acetic acid or their anhydrides and other carboxyl group-containing monomers and methacrylic acid esters, acrylic acid. It can be obtained by copolymerizing monomers such as ester, styrene, acrylonitrile, vinyl acetate, 2-hydroxyacrylate.
  • an ethylenically unsaturated group having a glycidyl group or an isocyanate group with respect to a mercapto group, amino group, hydroxyl group or carboxyl group in the oligomer or polymer As a method for introducing an active carbon-carbon unsaturated double bond into an oligomer or polymer, an ethylenically unsaturated group having a glycidyl group or an isocyanate group with respect to a mercapto group, amino group, hydroxyl group or carboxyl group in the oligomer or polymer.
  • a method in which a saturated compound, a carboxylic acid such as acrylic acid chloride, methacrylic acid chloride or allyl chloride, or maleic acid is reacted can be used.
  • the photopolymerization initiator is a compound that generates radicals when irradiated with an active light source.
  • Specific examples include benzophenone, methyl o-benzoylbenzoate, 4,4-bis (dimethylamino) benzophenone, 4,4-bis (diethylamino) benzophenone, 4,4-dichlorobenzophenone, 4-benzoyl-4-methyl.
  • the photosensitive paste can contain a copolymer having a carboxyl group as a binder.
  • a copolymer having a carboxyl group for example, acrylic acid, methacrylic acid, itaconic acid, crotonic acid, maleic acid, fumaric acid, vinyl acetic acid or a carboxyl group-containing monomer such as acid anhydride thereof, and methacrylic acid ester, It can be obtained by selecting other monomers such as acrylate, styrene, acrylonitrile, vinyl acetate, 2-hydroxyacrylate and copolymerizing using an initiator such as azobisisobutyronitrile.
  • a copolymer having acrylic acid ester or methacrylic acid ester and acrylic acid or methacrylic acid as a copolymerization component is preferably used since the thermal decomposition temperature at the time of firing is low.
  • the photosensitive paste becomes a paste excellent in solubility in an alkaline aqueous solution by containing a copolymer having a carboxyl group.
  • the acid value of the copolymer having a carboxyl group is preferably 50 to 150 mgKOH / g.
  • an acid value shall be 50 mgKOH / g or more. Therefore, it is not necessary to increase the concentration of the developing solution, and it is possible to prevent peeling of the exposed portion and obtain a high-definition pattern.
  • the copolymer having a carboxyl group has an ethylenically unsaturated group in the side chain.
  • the ethylenically unsaturated group include an acryl group, a methacryl group, a vinyl group, and an allyl group.
  • the photosensitive paste is prepared by adding an organic solvent and a binder to a photosensitive organic component comprising a low melting glass powder and a photosensitive monomer, photosensitive oligomer, photosensitive polymer, photopolymerization initiator, etc. Then, the mixture is uniformly mixed and dispersed with three rollers or a kneader.
  • the viscosity of the photosensitive paste can be appropriately adjusted depending on the addition ratio of inorganic powder, thickener, organic solvent, polymerization inhibitor, plasticizer, anti-settling agent, etc., but the range is in the range of 2 to 200 Pa ⁇ s.
  • the inside is preferable.
  • a viscosity of 2 to 5 Pa ⁇ s is preferable.
  • a viscosity of 50 to 200 Pa ⁇ s is preferable.
  • a viscosity of 10 to 50 Pa ⁇ s is preferable.
  • a partition wall can be formed by applying the photosensitive paste thus obtained onto a substrate, forming a desired pattern by a photolithography method, and further baking.
  • the barrier rib is manufactured using the photosensitive paste by a photolithography method
  • the present invention is not limited to this.
  • a photosensitive paste coating film is formed by coating a photosensitive paste on the entire surface or partially on the substrate.
  • a coating method methods such as a screen printing method, a bar coater, a roll coater, a die coater, and a blade coater can be used.
  • the coating thickness can be adjusted by selecting the number of coatings, screen mesh and paste viscosity.
  • an exposure process is performed.
  • a method of exposing through a photomask is common, as is done in normal photolithography.
  • a method of directly drawing with a laser beam or the like without using a photomask may be used.
  • a proximity exposure machine or the like can be used as the exposure apparatus.
  • when performing exposure of a large area after apply
  • examples of the actinic rays used include near infrared rays, visible rays, and ultraviolet rays.
  • ultraviolet rays are most preferable, and as the light source, for example, a low-pressure mercury lamp, a high-pressure mercury lamp, an ultrahigh-pressure mercury lamp, a halogen lamp, or a germicidal lamp can be used.
  • a low-pressure mercury lamp for example, a high-pressure mercury lamp, an ultrahigh-pressure mercury lamp, a halogen lamp, or a germicidal lamp can be used.
  • an ultrahigh pressure mercury lamp is suitable.
  • exposure conditions vary depending on the coating thickness, exposure is usually performed for 0.01 to 30 minutes using an ultrahigh pressure mercury lamp with an output of 1 to 100 mW / cm 2 .
  • development is performed using the difference in solubility in the developer between the exposed portion and the unexposed portion of the photosensitive paste coating film to obtain a photosensitive paste coating film pattern having a desired lattice shape.
  • Development is performed by dipping, spraying, or brushing.
  • a solvent that can dissolve the organic components in the paste can be used for the developer.
  • the developer is preferably composed mainly of water.
  • development can be performed with an alkaline aqueous solution.
  • an inorganic alkaline aqueous solution such as sodium hydroxide, sodium carbonate, calcium hydroxide or the like can be used.
  • an organic alkaline aqueous solution because an alkaline component can be easily removed during firing.
  • the organic alkali include tetramethylammonium hydroxide, trimethylbenzylammonium hydroxide, monoethanolamine, and diethanolamine.
  • the concentration of the alkaline aqueous solution is preferably 0.05 to 5% by mass, more preferably 0.1 to 1% by mass. If the alkali concentration is too low, the soluble portion is not removed, and if the alkali concentration is too high, the pattern portion may be peeled off and the insoluble portion may be corroded.
  • the development temperature at the time of development is preferably 20 to 50 ° C. for process control.
  • a firing process is performed in a firing furnace.
  • the atmosphere and temperature of the firing process vary depending on the type of photosensitive paste and substrate, but firing is performed in air, nitrogen, hydrogen, or the like.
  • the firing furnace a batch-type firing furnace or a belt-type continuous firing furnace can be used.
  • the firing is preferably carried out by holding at a temperature of 500 to 700 ° C. for 10 to 60 minutes.
  • the firing temperature is more preferably 500 to 650 ° C.
  • the height (H) of the partition walls is preferably 100 to 1000 ⁇ m, more preferably 160 to 500 ⁇ m, and further preferably 250 to 500 ⁇ m.
  • the height of the partition wall exceeds 1000 ⁇ m, pattern formation during processing becomes difficult.
  • the height of the partition walls is lowered, the amount of phosphor that can be filled is reduced, so that the light emission luminance of the obtained scintillator panel is lowered, and clear photographing becomes difficult.
  • the pattern shape of the partition wall is not particularly limited, but a lattice shape or a stripe shape is preferable.
  • the pitch (P) of the partition walls is preferably 60 ⁇ m to 1000 ⁇ m. If the pitch is less than 60 ⁇ m, pattern formation during processing becomes difficult. On the other hand, if the pitch is too large, it is difficult to perform high-accuracy image capturing using the obtained scintillator panel.
  • the bottom width (Lb) of the partition walls is preferably 20 ⁇ m to 150 ⁇ m, and the top width (Lt) of the partition walls is preferably 15 ⁇ m to 80 ⁇ m. If the bottom width of the partition is less than 20 ⁇ m, defects in the partition are likely to occur during firing. On the other hand, when the bottom width of the partition wall is increased, the amount of phosphor that can be filled in the space partitioned by the partition wall is reduced. When the top width of the partition is less than 15 ⁇ m, the strength of the partition is lowered. On the other hand, when the top width of the partition wall exceeds 80 ⁇ m, the region from which the emitted light of the scintillator layer can be extracted becomes narrow.
  • the aspect ratio (H / Lb) of the partition wall height (H) to the partition wall bottom width (Lb) is preferably 1.0 to 25.0.
  • the aspect ratio (H / P) of the partition wall height (H) to the partition wall pitch (P) is preferably 0.1 to 3.5.
  • a partition wall having a higher aspect ratio (H / P) with respect to the partition wall pitch is one pixel divided with higher definition, and more phosphor can be filled in a space per pixel.
  • shapes such as a square, a rectangle, a parallelogram, and a trapezoid can be selected as appropriate.
  • a grid-like partition wall having a square cell shape is preferable. It is not limited.
  • the height and width of the partition walls were measured by exposing a section of the partition walls perpendicular to the substrate and observing the section with a scanning electron microscope (S2400, manufactured by Hitachi, Ltd.).
  • the width of the partition wall at the contact portion between the partition wall and the substrate was measured as the bottom width (Lb).
  • the width of the partition wall at the contact portion between the partition wall and the buffer layer was measured as the bottom width (Lb).
  • variety of the partition topmost part was measured as top part width (Lt).
  • the partition walls are formed by sintering inorganic powder contained in the photosensitive paste.
  • the inorganic powders forming the partition walls are fused, but voids remain between them.
  • the ratio of the voids included in the partition walls can be adjusted by the temperature design of the firing process for firing the partition walls. It is preferable to set the ratio (void ratio) of the void portion in the entire partition wall to 2 to 25%, because a partition wall having both visible light reflection characteristics and strength can be formed.
  • the porosity is less than 2%, the light emission luminance of the obtained scintillator panel is lowered due to the low reflectance of the partition walls.
  • the porosity exceeds 25%, the strength of the partition wall is insufficient, and it tends to collapse.
  • the porosity is more preferably 5 to 25%, further preferably 5 to 20%.
  • the porosity is measured by precisely polishing the cross section of the partition wall, then observing with an electron microscope, converting the inorganic material part and the void part into two gradations, and determining the ratio of the area of the void part closed to the area of the partition wall cross section. calculate.
  • the buffer layer is also preferable to provide a buffer layer made of an inorganic component selected from low melting glass and ceramics between the partition wall and the substrate.
  • the buffer layer has an effect of relaxing the stress applied to the partition walls in the firing step and realizing stable partition formation.
  • the buffer layer has a high reflectance because the light emission luminance of the scintillator panel can be increased by reflecting visible light emitted by the phosphor in the direction of the photoelectric conversion element.
  • the buffer layer is preferably made of low-melting glass and ceramics.
  • the low melting point glass the same glass as the partition wall can be used.
  • the ceramic titanium oxide, aluminum oxide, zirconium oxide and the like are preferable.
  • a paste in which an organic component and an inorganic powder such as a low-melting glass powder and a ceramic powder are dispersed in a solvent is applied to a substrate and dried to form a buffer layer paste coating film.
  • the buffer layer paste coating film is baked at a temperature of preferably 500 to 700 ° C., more preferably 500 to 650 ° C., whereby the buffer layer can be formed.
  • the buffer layer paste coating film is formed using the same photosensitive organic component as the barrier rib photosensitive paste as the organic component of the buffer layer paste, and then the buffer layer paste coating film is formed. It is preferable to expose the entire surface of the paste coating film for curing and cure the coating film.
  • a buffer layer paste is applied using a thermosetting organic component containing any polymerizable compound selected from a polymerizable monomer, a polymerizable oligomer and a polymerizable polymer as an organic component of the buffer layer paste, and a thermal polymerization initiator. It is also preferable to heat cure after forming the film. Since these methods make the buffer layer paste coating film insoluble in the solvent, the buffer layer paste coating film is prevented from dissolving or peeling off in the step of applying the barrier rib photosensitive paste thereon. be able to.
  • thermosetting buffer layer paste a binder such as ethyl cellulose, a dispersant, a thickener, a plasticizer, an anti-settling agent, and the like can be appropriately added to the thermosetting buffer layer paste.
  • the reflectance of the buffer layer with respect to a wavelength of 550 nm is preferably 60% or more.
  • the scintillator panel can be completed by filling the cells partitioned by the barrier ribs with phosphors.
  • the cell refers to a space partitioned by a grid-like partition wall.
  • the phosphor filled in the cell is called a scintillator layer.
  • CsI is preferable because it has a relatively high conversion rate from X-rays to visible light and high reflectivity due to phosphor crystals.
  • activators for example, a mixture of CsI and sodium iodide (NaI) at an arbitrary molar ratio, indium (In), thallium (Tl), lithium (Li), potassium (K), rubidium (Rb), sodium (Na) CsI containing an activator such as is preferable.
  • thallium compounds such as thallium bromide (TlBr), thallium chloride (TlCl), or thallium fluoride (TlF, TlF 3 ) can be used as an activator.
  • the scintillator layer is formed by, for example, a method of depositing crystalline CsI (in this case, a thallium compound such as thallium bromide can be co-deposited) by vacuum deposition, or phosphor slurry dispersed in water on a substrate.
  • crystalline CsI in this case, a thallium compound such as thallium bromide can be co-deposited
  • phosphor slurry dispersed in water on a substrate for example, a method of depositing crystalline CsI (in this case, a thallium compound such as thallium bromide can be co-deposited) by vacuum deposition, or phosphor slurry dispersed in water on a substrate.
  • Application method phosphor powder, phosphor binder prepared by mixing organic binders such as ethyl cellulose and acrylic resin, and organic solvents such as terpineol and ⁇ -butyrolactone, etc. it can.
  • the amount of phosphor filled in the cell partitioned by the partition wall is such that the volume fraction occupied by the phosphor (hereinafter referred to as phosphor volume filling factor) is 55% to 100% with respect to the space volume in the cell. It is preferably 60% to 100%, more preferably 70% to 100%. If the phosphor volume fraction is less than 55%, incident X-rays cannot be efficiently converted into visible light. In order to increase the conversion efficiency of incident X-rays, it is preferable to fill the space of the cell with a high density of phosphors.
  • Photosensitive monomer M-1 Trimethylolpropane triacrylate
  • photosensitive monomer M-2 Tetrapropylene glycol dimethacrylate
  • photosensitive monomer M-3 In the following formula (A), R 1 and R 2 are hydrogen, and R 3 is ethylene Oxide-propylene oxide co-oligomer, R 4 is isophorone diisocyanate residue, molecular weight is 19,000 R 1- (R 4 -R 3 ) n -R 4 -R 2
  • Polymerization inhibitor 1,6-hexanediol-bis [(3,5-di-tert-butyl-4-hydroxyphenyl) propionate])
  • Ultraviolet absorber solution Sudan IV (manufactured by Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd.) ⁇ -butyrolactone 0.3 mass% solution
  • Binder polymer Ethyl cellulose (manufactured by Hercules)
  • Viscosity modifier Flownon EC121 (manufactured by Kyoeisha Chemical Co., Ltd.)
  • Solvent A ⁇ -butyrolactone
  • Solvent B Terpineol low melting glass powder A: SiO 2 27% by mass, B 2 O 3 31% by mass, ZnO 6% by mass, Li 2 O 7% by mass, MgO 2% by mass, CaO 2% by mass, BaO 2% by mass, Al 2 O 3 23% by mass, refraction.
  • Low melting glass powder B SiO 2 28% by mass, B 2 O 3 30% by mass, ZnO 6% by mass, Li 2 O 2% by mass, MgO 3% by mass, CaO 3% by mass, BaO 3% by mass, Al 2 O 3 25% by mass, refraction.
  • Low melting glass powder D SiO 2 27 mass%, B 2 O 3 33 mass%, ZnO 4 mass%, Li 2 O 4 mass%, K 2 O 2 mass%, MgO 2 mass%, CaO 3 mass%, BaO 2 mass%, Al 2 O 3 23 mass%, refractive index (ng): 1.553, softening temperature 613 ° C., thermal expansion coefficient 55 ⁇ 10 ⁇ 7 , average particle diameter 2.1 ⁇ m
  • Photosensitive paste A for partition walls 4 parts by weight of photosensitive monomer M-1, 6 parts by weight of photosensitive monomer M-2, 24 parts by weight of photosensitive polymer, 6 parts by weight of photopolymerization initiator, 0.2 of polymerization inhibitor Part by mass and 12.8 parts by mass of the ultraviolet absorber solution were dissolved in 38 parts by mass of the solvent A by heating at a temperature of 80 ° C. After cooling the obtained solution, 9 mass parts of viscosity modifiers were added, and the organic solution 1 was produced.
  • the refractive index (ng) of the organic coating film obtained by applying and drying the organic solution 1 on a glass substrate was 1.555.
  • Paste A 30 parts by mass of the low-melting glass powder A and 10 parts by mass of the high-melting glass powder A are added to 60 parts by mass of the prepared organic solution 1, and then kneaded with a three-roller kneader, so Paste A was prepared.
  • Barrier photosensitive paste B An organic solution 1 was prepared in the same manner as the barrier rib photosensitive paste A. Next, 30 parts by mass of the low-melting glass powder B and 10 parts by mass of the high-melting glass powder A are added to 60 parts by mass of the prepared organic solution 1, and then kneaded with a three-roller kneader, so Paste B was prepared.
  • Photosensitive paste C for partition walls 5 parts by weight of photosensitive monomer M-1, 5 parts by weight of photosensitive monomer M-3, 24 parts by weight of photosensitive polymer, 6 parts by weight of photopolymerization initiator, 0.2 of polymerization inhibitor Part by mass and 12.8 parts by mass of the ultraviolet absorber solution were dissolved in 38 parts by mass of the solvent A by heating at a temperature of 80 ° C. After cooling the obtained solution, 9 mass parts of viscosity modifiers were added, and the organic solution 2 was produced.
  • the refractive index (ng) of the organic coating film obtained by applying and drying the organic solution 2 on a glass substrate was 1.559.
  • Paste C was prepared.
  • Barrier photosensitive paste D An organic solution 1 was prepared in the same manner as the barrier rib photosensitive paste A. Next, 40 parts by mass of the low-melting glass powder A was added to 60 parts by mass of the produced organic solution 1, and then kneaded with a three-roller kneader to produce a photosensitive paste D for partition walls.
  • Barrier photosensitive paste E An organic solution 1 was prepared in the same manner as the barrier rib photosensitive paste A. Next, 39 parts by mass of low-melting glass powder A and 1 part by mass of high-melting glass powder A were added to 60 parts by mass of the prepared organic solution 1, and then kneaded with a three-roller kneader to produce a photosensitive film for partition walls. Paste E was prepared.
  • Barrier photosensitive paste F An organic solution 1 was prepared in the same manner as the barrier rib photosensitive paste A. Next, 25 parts by mass of the low-melting glass powder A and 15 parts by mass of the high-melting glass powder A are added to 60 parts by mass of the produced organic solution 1, and then kneaded with a three-roller kneader to produce a photosensitive film for the partition wall. Paste F was prepared.
  • Barrier photosensitive paste G An organic solution 1 was prepared in the same manner as the barrier rib photosensitive paste A. Next, 20 parts by mass of the low-melting glass powder A and 20 parts by mass of the high-melting glass powder A are added to 60 parts by mass of the prepared organic solution 1, and then kneaded with a three-roller kneader, so Paste G was prepared.
  • Barrier photosensitive paste H An organic solution 1 was prepared in the same manner as the barrier rib photosensitive paste A. Next, 30 parts by mass of the low-melting glass powder D and 10 parts by mass of the high-melting glass powder A are added to 60 parts by mass of the prepared organic solution 1, and then kneaded with a three-roller kneader to produce a photosensitive film for the partition wall. Paste H was prepared.
  • Photosensitive paste I for barrier ribs 8 parts by weight of photosensitive monomer M-1, 4 parts by weight of photosensitive monomer M-3, 24 parts by weight of photosensitive polymer, 4 parts by weight of photopolymerization initiator, 0.2 of polymerization inhibitor Part by mass and 12.8 parts by mass of the ultraviolet absorber solution were dissolved in 38 parts by mass of the solvent A by heating at a temperature of 80 ° C. After cooling the obtained solution, 9 mass parts of viscosity modifiers were added, and the organic solution 3 was produced. The refractive index (ng) of the organic coating film obtained by applying the organic solution 3 to a glass substrate and drying was 1.553.
  • Paste I 30 parts by mass of the low-melting glass powder A and 10 parts by mass of the high-melting glass powder A are added to 60 parts by mass of the prepared organic solution 3, and then kneaded with a three-roller kneader, so Paste I was prepared.
  • Barrier photosensitive paste J An organic solution 1 was prepared in the same manner as the barrier rib photosensitive paste A. Next, 40 parts by mass of the low-melting glass powder E was added to 60 parts by mass of the produced organic solution 1, and then kneaded with a three-roller kneader to prepare a photosensitive paste J for partition walls.
  • Barrier photosensitive paste K An organic solution 3 was prepared in the same manner as the barrier rib photosensitive paste I. Next, 35 parts by mass of the low-melting glass powder F and 5 parts by mass of the high-melting glass powder A are added to 60 parts by mass of the prepared organic solution 3, and then kneaded with a three-roller kneader, so Paste K was prepared.
  • Barrier photosensitive paste L An organic solution 3 was prepared in the same manner as the barrier rib photosensitive paste I. Next, 35 parts by mass of the low-melting glass powder D and 5 parts by mass of the high-melting glass powder A are added to 60 parts by mass of the prepared organic solution 3, and then kneaded with a three-roller kneader, so Paste L was produced.
  • Barrier photosensitive paste M An organic solution 1 was prepared in the same manner as the barrier rib photosensitive paste A. Next, 40 parts by mass of glass powder G was added to 60 parts by mass of the produced organic solution 1, and then kneaded with a three-roller kneader to produce a photosensitive paste M for partition walls.
  • Barrier photosensitive paste N An organic solution 2 was prepared in the same manner as the barrier rib photosensitive paste C. Next, 30 parts by mass of the low-melting glass powder H and 10 parts by mass of the high-melting glass powder A are added to 60 parts by mass of the prepared organic solution 1, and then kneaded with a three-roller kneader to produce a photosensitive film for the partition wall. Paste N was prepared.
  • Screen printing paste A was prepared by mixing 50 parts by mass of a terpineol solution containing 10% by mass of ethyl cellulose and 50 parts by mass of low-melting glass powder A.
  • the refractive index (ng) of the organic coating film obtained by applying and drying a terpineol solution containing 10% by mass of ethyl cellulose on a glass substrate was 1.49.
  • Screen printing paste B for partition walls 50 parts by mass of terpineol solution containing 10% by mass of ethyl cellulose, 40 parts by mass of low-melting glass powder A, and 10 parts by mass of high-melting glass powder A were prepared to produce paste B for screen printing. did.
  • a photocurable buffer layer paste A was prepared by adding 3 parts by mass of the above titanium oxide powder to 97 parts by mass of the photosensitive paste A for partition walls and re-kneading.
  • thermosetting buffer layer paste B was prepared by kneading.
  • thermosetting buffer layer paste C was prepared by kneading.
  • the phosphor volume filling factor was measured as follows. The difference between the weight of the barrier rib member on which the buffer layer and the barrier ribs were formed on the substrate and the weight of the scintillator panel after filling the phosphor was taken as the total weight of the phosphors filled. The total phosphor weight thus calculated was divided by the specific gravity of the phosphor to calculate the phosphor volume. Further, a calculated value obtained by dividing the volume of the phosphor by the volume of space in all the cells was used as the volume filling rate of the phosphor.
  • the total cell volume is a value obtained by multiplying the space volume in one cell partitioned by the partition walls and the total number of cells included in the scintillator panel.
  • the spatial volume in one cell can be calculated
  • the space shape of the cell is a regular square frustum having the same vertical and horizontal partition wall pitch, partition wall bottom width (Lb), and partition wall top width
  • the relationship between the partition bottom width (Lb), the partition top width (Lt), and the partition height (H) is expressed by the following formula 1.
  • the amount of warpage of the panel is 50 ⁇ m or less, it is a smooth scintillator panel, and the variation in the detection sensitivity of the amount of emitted light when the entire panel surface emits light can be suppressed to less than 2%, resulting in a high-definition image. Can be detected. If the amount of warpage of the panel is greater than 50 ⁇ m and less than 100 ⁇ m, the variation in the detection sensitivity of the emitted light is slightly increased, but the variation in the detection sensitivity of the emitted light amount when the entire surface of the panel is emitted is suppressed to less than 5%. It is possible.
  • the amount of warpage of the panel is larger than 100 ⁇ m, the variation in the detection sensitivity of the amount of emitted light when the entire panel surface emits light is 5% or more. In addition, since many crosstalks of emitted light occur, high-definition image detection becomes difficult.
  • the produced scintillator panel was set in any of PaxScan2520, PaxScan4336, and PaxScan3030 (Varian FPD) to produce a radiation detection apparatus.
  • X-rays having a tube voltage of 80 kVp were irradiated from the substrate side of the scintillator panel, and the amount of light emitted from the phosphor layer was detected by any of PaxScan 2520, PaxScan 4336, and PaxScan 3030.
  • the evaluation of luminance was performed by relative evaluation with respect to the result of Example 1.
  • the produced scintillator panel was set in one of PaxScan 2520, PaxScan 4336, and PaxScan 3030 to produce a radiation detection apparatus.
  • X-rays with a tube voltage of 80 kVp were irradiated from the substrate side of the scintillator panel, and a solid image was taken. This was reproduced as an image by an image reproducing device, and the obtained print image was visually observed to evaluate the presence or absence of image defects, crosstalk and linear noise.
  • Example 1 The partition wall photosensitive paste A is dried to 500 ⁇ m on a 500 mm ⁇ 500 mm glass substrate (OA-10, manufactured by Nippon Electric Glass Co., Ltd., thermal expansion coefficient 38 ⁇ 10 ⁇ 7 , substrate thickness 0.7 mm). Then, it was coated with a die coater and dried to form a photosensitive paste coating film for partition walls. Next, the photosensitive paste coating film for barrier ribs is applied to an ultrahigh pressure via a photomask (a chromium mask having a grid-like opening having a pitch of 127 ⁇ m in both vertical and horizontal directions and a line width of 20 ⁇ m) in which openings corresponding to a desired barrier rib pattern are formed.
  • a photomask a chromium mask having a grid-like opening having a pitch of 127 ⁇ m in both vertical and horizontal directions and a line width of 20 ⁇ m
  • Exposure was performed at 600 mJ / cm 2 with a mercury lamp.
  • the exposed photosensitive paste coating film for barrier ribs was developed in a 0.5% aqueous ethanolamine solution, and unexposed portions were removed to form a lattice-shaped photosensitive paste coating film pattern. Further, the photosensitive paste coating film pattern is baked in the air at 585 ° C. for 15 minutes, and the partition pitch is 127 ⁇ m, the partition top width is 25 ⁇ m, the partition bottom width is 50 ⁇ m, the partition height is 340 ⁇ m, and the grid partition size is 480 mm ⁇ 480 mm. A partition wall member having was obtained. The porosity of the partition wall was 8.3%.
  • CsI: Tl 1 mol: 0.003 mol
  • the substrate warpage amount of the scintillator panel 1 was 50 ⁇ m or more and 60 ⁇ m or less.
  • Example 2 The buffer layer paste A was applied to a 500 mm ⁇ 500 mm glass substrate (OA-10, manufactured by Nippon Electric Glass Co., Ltd.) with a 15 ⁇ m bar coater, dried, and then exposed to 500 mJ / cm 2 on the entire surface with an ultrahigh pressure mercury lamp. Then, a buffer layer paste coating film having a thickness of 12 ⁇ m was formed.
  • OA-10 manufactured by Nippon Electric Glass Co., Ltd.
  • the barrier rib photosensitive paste A is applied by a die coater so as to have a dry thickness of 500 ⁇ m, and dried to form a barrier rib photosensitive paste coating film. Formed.
  • the photosensitive paste coating film for barrier ribs is applied to the ultra high pressure mercury lamp through a photomask having openings corresponding to the desired barrier rib pattern (a chromium mask having a grid-like opening having a pitch of 127 ⁇ m in both vertical and horizontal directions and a line width of 20 ⁇ m). And exposed at 600 mJ / cm 2 .
  • the exposed photosensitive paste coating film for barrier ribs was developed in a 0.5% aqueous ethanolamine solution, and unexposed portions were removed to form a lattice-shaped photosensitive paste coating film pattern. Further, the buffer layer paste coating film and the photosensitive paste coating film pattern were simultaneously baked in the air at 585 ° C. for 15 minutes.
  • the partition pitch was 127 ⁇ m
  • the partition top width was 25 ⁇ m
  • the partition bottom width was 50 ⁇ m
  • the partition height was 480 ⁇ m, and 480 mm.
  • a partition member having a grid-like partition wall having a size of ⁇ 480 mm was obtained.
  • the reflectance with respect to light having a wavelength of 550 nm in the portion where only the buffer layer was formed was 65%.
  • the partition wall porosity was 8.0%.
  • CsI: Tl 1 mol: 0.003 mol
  • the substrate warpage amount of the scintillator panel 2 was 70 ⁇ m or more and 80 ⁇ m or less.
  • Example 3 A partition wall member was prepared in the same manner as in Example 2 except that baking was performed at 645 ° C. for 15 minutes using the partition wall photosensitive paste B.
  • the partition walls of the partition member thus obtained were lattice-shaped partition walls having a partition wall pitch of 127 ⁇ m, partition wall top width of 22 ⁇ m, partition wall bottom width of 60 ⁇ m, partition wall height of 325 ⁇ m and a size of 480 mm ⁇ 480 mm.
  • the reflectance with respect to light having a wavelength of 550 nm in the portion where only the buffer layer was formed was 53%.
  • the partition wall porosity was 9.5%.
  • the amount of substrate warpage of the scintillator panel 3 was 30 ⁇ m or less.
  • Example 4 A barrier rib member was prepared in the same manner as in Example 2 except that baking was performed at 540 ° C. for 15 minutes using the barrier rib photosensitive paste C.
  • the partition walls of the obtained partition member were lattice-shaped partition walls having a partition wall pitch of 127 ⁇ m, partition wall top width of 23 ⁇ m, partition wall bottom width of 55 ⁇ m, partition wall height of 320 ⁇ m and a size of 480 mm ⁇ 480 mm.
  • the reflectance with respect to light having a wavelength of 550 nm in the portion where only the buffer layer was formed was 70%.
  • the partition wall porosity was 4.4%.
  • CsI: Tl 1 mol: 0.003 mol
  • the amount of substrate warpage of the scintillator panel 4 was 130 ⁇ m or more and 150 ⁇ m or less.
  • the luminance was 110% of Example 1 and the luminance variation was 6.5%.
  • Example 5 A partition wall member was produced in the same manner as in Example 2 except that the partition wall photosensitive paste D was used.
  • the partition walls of the obtained partition member were lattice-shaped partition walls having a partition wall pitch of 127 ⁇ m, partition wall top width of 24 ⁇ m, partition wall bottom width of 53 ⁇ m, partition wall height of 320 ⁇ m and a size of 480 mm ⁇ 480 mm.
  • the reflectance with respect to light having a wavelength of 550 nm in the portion where only the buffer layer was formed was 65%.
  • the partition wall porosity was 0.8%.
  • CsI: Tl 1 mol: 0.003 mol
  • the substrate warpage amount of the scintillator panel 5 was 130 ⁇ m or more and 150 ⁇ m or less.
  • the luminance was 105% of Example 1 and the luminance variation was 6.0%.
  • Example 6 A partition wall member was produced in the same manner as in Example 2 except that the partition wall photosensitive paste E was used.
  • the partition walls of the obtained partition member were lattice-shaped partition walls having a partition wall pitch of 127 ⁇ m, partition wall top width of 24 ⁇ m, partition wall bottom width of 53 ⁇ m, partition wall height of 320 ⁇ m and a size of 480 mm ⁇ 480 mm.
  • the reflectance with respect to light having a wavelength of 550 nm in the portion where only the buffer layer was formed was 65%.
  • the partition wall porosity was 2.0%.
  • the amount of substrate warpage of the scintillator panel 6 was 90 ⁇ m or more and 100 ⁇ m or less.
  • a good image with 4.7% luminance variation was obtained without defects including linear noise, and the luminance was 120% of Example 1. It was.
  • Example 7 A partition wall member was produced in the same manner as in Example 2 except that the partition wall photosensitive paste F was used.
  • the partition walls of the obtained partition member were lattice partition walls having a partition pitch of 127 ⁇ m, partition top width 34 ⁇ m, partition bottom width 60 ⁇ m, partition height 370 ⁇ m and a size of 480 mm ⁇ 480 mm.
  • the reflectance with respect to light having a wavelength of 550 nm in the portion where only the buffer layer was formed was 65%.
  • the porosity of the partition walls was 24.8%.
  • the amount of substrate warpage of the scintillator panel 7 was 50 ⁇ m or more and 60 ⁇ m or less.
  • As a result of evaluating the radiation detection apparatus comprising the manufactured scintillator panel 7 and PaxScan 2520 there was no defect including linear noise, a good image with a luminance variation of 2.2% was obtained, and the luminance was 140% of Example 1. It was.
  • Example 8 A partition wall member was produced in the same manner as in Example 2 except that the partition wall photosensitive paste G was used.
  • the partition walls of the obtained partition member were lattice-shaped partition walls having a partition pitch of 127 ⁇ m, partition top width of 35 ⁇ m, partition wall bottom width of 60 ⁇ m, partition wall height of 380 ⁇ m and a size of 480 mm ⁇ 480 mm.
  • the reflectance with respect to light having a wavelength of 550 nm in the portion where only the buffer layer was formed was 65%.
  • the partition wall porosity was 32.3%.
  • CsI: Tl 1 mol: 0.003 mol
  • the substrate warpage amount of the scintillator panel 8 was 50 ⁇ m or more and 60 ⁇ m or less.
  • the luminance was 140% of Example 1 and the luminance variation was 2.1%. However, 15 image defects occurred in the plane.
  • Example 9 A barrier rib member was prepared in the same manner as in Example 2 except that baking was performed at 620 ° C. for 15 minutes using the barrier rib photosensitive paste H.
  • the partition walls of the obtained partition member were lattice-shaped partitions having a partition pitch of 127 ⁇ m, a partition top width of 25 ⁇ m, a partition bottom width of 40 ⁇ m, and a partition wall height of 340 ⁇ m and a size of 480 mm ⁇ 480 mm.
  • the reflectance with respect to light having a wavelength of 550 nm in the portion where only the buffer layer was formed was 60%.
  • the partition wall porosity was 9.4%.
  • CsI: Tl 1 mol: 0.003 mol
  • CsI: TlI 1 mol: 0.003 mol
  • the amount of substrate warpage of the scintillator panel 9 was 30 ⁇ m or more and 40 ⁇ m or less.
  • Example 10 The buffer layer paste B is applied to a 500 mm ⁇ 500 mm glass substrate (OA-10 manufactured by Nippon Electric Glass Co., Ltd.) with a 15 ⁇ m bar coater, dried and heat-cured at 150 ° C. for 30 minutes, and a buffer layer having a thickness of 12 ⁇ m.
  • a partition wall member was produced in the same manner as in Example 2 except that the paste coating film was formed.
  • the partition walls of the partition member thus obtained were lattice-shaped partition walls having a partition wall pitch of 127 ⁇ m, partition wall top width of 25 ⁇ m, partition wall bottom width of 48 ⁇ m, partition wall height of 340 ⁇ m, and a size of 480 mm ⁇ 480 mm.
  • the reflectance with respect to light having a wavelength of 550 nm in the portion where only the buffer layer was formed was 66%.
  • the partition wall porosity was 8.1%.
  • CsI: Tl 1 mol: 0.003 mol
  • the substrate warpage amount of the scintillator panel 10 was 70 ⁇ m or more and 80 ⁇ m or less.
  • Example 11 The above buffer layer paste B was applied to a 500 mm ⁇ 500 mm glass substrate (OA-10 manufactured by Nippon Electric Glass Co., Ltd.) with a 15 ⁇ m bar coater, dried and heat-cured at 150 ° C. for 30 minutes, and a buffer layer having a thickness of 12 ⁇ m. A paste coating film was formed. The buffer layer paste coating film formed on the substrate was baked in air at 585 ° C. for 15 minutes to form a buffer layer. Thereafter, the barrier rib photosensitive paste was formed in the same manner as in Example 2 to form a lattice-shaped photosensitive paste coating film pattern. Furthermore, the photosensitive paste coating film pattern was baked in the air at 585 ° C. for 15 minutes.
  • the partition walls of the obtained partition member were lattice-shaped partition walls having a partition wall pitch of 127 ⁇ m, partition wall top width of 25 ⁇ m, partition wall bottom width of 51 ⁇ m, partition wall height of 340 ⁇ m and a size of 480 mm ⁇ 480 mm.
  • the reflectance with respect to light having a wavelength of 550 nm in the portion where only the buffer layer was formed was 60%.
  • the partition wall porosity was 8.1%.
  • the substrate warpage amount of the scintillator panel 11 was 90 ⁇ m or more and 100 ⁇ m or less.
  • a good image with a brightness variation of 4.4% was obtained without defects including linear noise, and the brightness was 132% of Example 1. It was.
  • Example 12 A partition wall member was produced in the same manner as in Example 10 except that the partition wall photosensitive paste I was used.
  • the partition walls of the obtained partition member were lattice-shaped partition walls having a partition wall pitch of 127 ⁇ m, partition wall top width of 25 ⁇ m, partition wall bottom width of 60 ⁇ m, partition wall height of 340 ⁇ m and a size of 480 mm ⁇ 480 mm.
  • the reflectance with respect to light having a wavelength of 550 nm in the portion where only the buffer layer was formed was 65%.
  • the partition wall porosity was 8.2%.
  • CsI: Tl 1 mol: 0.003 mol
  • the amount of substrate warpage of the scintillator panel 12 was 70 ⁇ m or more and 80 ⁇ m or less.
  • a good image with a brightness variation of 3.5% was obtained without defects including linear noise, and the brightness was 135% of Example 1. It was.
  • Example 13 A partition wall member was prepared in the same manner as in Example 1 except that the partition wall photosensitive paste J was used and the firing temperature was 565 ° C. for 15 minutes. However, although the exposure amount at the time of exposure of the photosensitive paste coating film was adjusted, a part of the photosensitive paste pattern was buried and a partition wall having a uniform in-plane partition width was not obtained.
  • the partition wall obtained by exposure with an ultra-high pressure mercury lamp at 500 mJ / cm 2 was measured at a portion where no filling occurred, partition wall pitch 127 ⁇ m, partition top width 25 ⁇ m, partition bottom It was a grid-like partition wall having a width of 75 ⁇ m and a partition wall height of 340 ⁇ m and a size of 480 mm ⁇ 480 mm.
  • the reflectance for light having a wavelength of 550 nm in the portion where only the buffer layer was formed was 67%, but the low melting point glass of the buffer paste did not sinter and cracks occurred at the interface between the partition walls and the buffer layer.
  • the partition wall porosity was 3.0%.
  • CsI: Tl 1 mol: 0.003 mol
  • the substrate warpage amount of the scintillator panel 13 was 90 ⁇ m or more and 100 ⁇ m or less.
  • the luminance was 110% of Example 1 and the luminance variation was 4.2%.
  • Example 14 Similarly to Example 2, a buffer layer paste coating film was formed on a glass substrate.
  • the barrier rib photosensitive paste A was applied with a die coater so as to have a dry thickness of 590 ⁇ m and dried to form a barrier rib photosensitive paste coating film.
  • the photosensitive paste coating film for barrier ribs is applied to an ultrahigh pressure via a photomask (a chromium mask having a grid-like opening having a pitch of 127 ⁇ m in both vertical and horizontal directions and a line width of 20 ⁇ m) in which openings corresponding to a desired barrier rib pattern are formed. Exposure was performed at 750 mJ / cm 2 with a mercury lamp.
  • a photomask a chromium mask having a grid-like opening having a pitch of 127 ⁇ m in both vertical and horizontal directions and a line width of 20 ⁇ m
  • the exposed photosensitive paste coating film for barrier ribs was developed in a 0.5% aqueous ethanolamine solution, and unexposed portions were removed to form a lattice-shaped photosensitive paste coating film pattern. Further, the buffer layer paste coating film and the photosensitive paste coating film pattern were simultaneously fired in the air at 585 ° C. for 15 minutes, and the partition pitch was 127 ⁇ m, the partition top width was 27 ⁇ m, the partition bottom width was 65 ⁇ m, the partition height was 400 ⁇ m, and 480 mm. A partition member having a grid-like partition wall having a size of ⁇ 480 mm was obtained. The reflectance with respect to light having a wavelength of 550 nm in the portion where only the buffer layer was formed was 65%. The partition wall porosity was 8.1%.
  • the amount of substrate warpage of the scintillator panel 14 was 60 ⁇ m or more and 70 ⁇ m or less.
  • there was no defect including linear noise a good image with a brightness variation of 3.2% was obtained, and the brightness was 119% of Example 1. It was.
  • Example 15 Similarly to Example 2, a buffer layer paste coating film was formed on a glass substrate.
  • the barrier rib photosensitive paste A was applied by a die coater so as to have a dry thickness of 740 ⁇ m and dried to form a barrier rib photosensitive paste coating film.
  • the photosensitive paste coating film for barrier ribs is applied to an ultra-high pressure via a photomask (a chromium mask having a grid-like opening having a pitch of 194 ⁇ m and a line width of 20 ⁇ m in both vertical and horizontal directions) in which openings corresponding to a desired barrier rib pattern are formed. Exposure was performed at 950 mJ / cm 2 with a mercury lamp.
  • a photomask a chromium mask having a grid-like opening having a pitch of 194 ⁇ m and a line width of 20 ⁇ m in both vertical and horizontal directions
  • the exposed photosensitive paste coating film for barrier ribs was developed in a 0.5% aqueous ethanolamine solution, and unexposed portions were removed to form a lattice-shaped photosensitive paste coating film pattern. Further, the buffer layer paste coating film and the photosensitive paste coating film pattern were simultaneously fired in the air at 585 ° C. for 15 minutes, and the partition pitch was 194 ⁇ m, the partition top width was 28 ⁇ m, the partition bottom width was 58 ⁇ m, and the partition height was 500 ⁇ m, and 480 mm. A partition member having a grid-like partition wall having a size of ⁇ 480 mm was obtained. The reflectance with respect to light having a wavelength of 550 nm in the portion where only the buffer layer was formed was 64%. The partition wall porosity was 7.9%.
  • the amount of substrate warpage of the scintillator panel 15 was 70 ⁇ m or more and 80 ⁇ m or less.
  • Example 16 Similarly to Example 2, a buffer layer paste coating film was formed on a glass substrate. Next, the barrier rib photosensitive paste A was applied by a die coater so as to have a dry thickness of 210 ⁇ m and dried to form a barrier rib photosensitive paste coating film. Next, the photosensitive paste coating film for the partition is formed through a photomask (a chromium mask having a grid-shaped opening with a pitch of 63.5 ⁇ m and a line width of 14 ⁇ m in both length and width) in which openings corresponding to a desired partition pattern are formed. It exposed at 450 mJ / cm ⁇ 2 > with the ultrahigh pressure mercury lamp.
  • a photomask a chromium mask having a grid-shaped opening with a pitch of 63.5 ⁇ m and a line width of 14 ⁇ m in both length and width
  • the exposed photosensitive paste coating film for barrier ribs was developed in a 0.5% aqueous ethanolamine solution, and unexposed portions were removed to form a lattice-shaped photosensitive paste coating film pattern. Furthermore, the buffer layer paste coating film and the photosensitive paste coating film pattern were simultaneously baked in the air at 585 ° C. for 15 minutes, and the partition pitch was 63.5 ⁇ m, the partition top width was 16 ⁇ m, the partition bottom width was 22 ⁇ m, and the partition height was 160 ⁇ m. A partition member having a lattice partition having a size of 480 mm ⁇ 480 mm was obtained. The reflectance with respect to light having a wavelength of 550 nm in the portion where only the buffer layer was formed was 64%. The partition wall porosity was 7.9%.
  • the amount of substrate warpage of the scintillator panel 16 was 60 ⁇ m or more and 70 ⁇ m or less.
  • a good image with a luminance variation of 3.0% was obtained without defects including linear noise, and the luminance was 92% of Example 1. It was.
  • Example 17 Similarly to Example 2, a buffer layer paste coating film was formed on a glass substrate.
  • the barrier rib photosensitive paste A was applied by a die coater so as to have a dry thickness of 680 ⁇ m and dried to form a barrier rib photosensitive paste coating film.
  • the photosensitive paste coating film for barrier ribs is applied to an ultrahigh pressure via a photomask (a chromium mask having a grid-like opening having a pitch of 139 ⁇ m in both vertical and horizontal directions and a line width of 20 ⁇ m) in which openings corresponding to a desired barrier rib pattern are formed. Exposure was performed at 820 mJ / cm 2 with a mercury lamp.
  • a photomask a chromium mask having a grid-like opening having a pitch of 139 ⁇ m in both vertical and horizontal directions and a line width of 20 ⁇ m
  • the exposed photosensitive paste coating film for barrier ribs was developed in a 0.5% aqueous ethanolamine solution, and unexposed portions were removed to form a lattice-shaped photosensitive paste coating film pattern. Further, the buffer layer paste coating film and the photosensitive paste coating film pattern were simultaneously fired in the air at 585 ° C. for 15 minutes.
  • the partition pitch was 139 ⁇ m
  • the partition top width was 26 ⁇ m
  • the partition bottom width was 51 ⁇ m
  • the partition height was 450 ⁇ m
  • 480 mm A partition member having a grid-like partition wall having a size of ⁇ 480 mm was obtained.
  • the reflectance with respect to light having a wavelength of 550 nm in the portion where only the buffer layer was formed was 65%.
  • the partition wall porosity was 8.1%.
  • CsI: Tl 1 mol: 0.003 mol
  • the amount of substrate warpage of the scintillator panel 17 was 60 ⁇ m or more and 70 ⁇ m or less.
  • Example 18 Using the photosensitive paste K for partition walls and the buffer layer paste C, partition members were prepared in the same manner as in Example 10 except that firing was performed at 650 ° C. for 15 minutes.
  • the partition walls of the partition member thus obtained were lattice-shaped partition walls having a partition wall pitch of 127 ⁇ m, partition wall top width of 24 ⁇ m, partition wall bottom width of 70 ⁇ m, partition wall height of 370 ⁇ m and a size of 480 mm ⁇ 480 mm.
  • the reflectance with respect to light having a wavelength of 550 nm in the portion where only the buffer layer was formed was 66%.
  • the porosity of the partition walls was 14.1%.
  • CsI: Tl 1 mol: 0.003 mol
  • CsI: TlI 1 mol: 0.003 mol
  • the amount of substrate warpage of the scintillator panel 18 was 30 ⁇ m or less.
  • a good image with 1.3% luminance variation was obtained without defects including linear noise, and the luminance was 128% of Example 1. It was.
  • Example 19 A buffer layer paste coating film was formed on a glass substrate in the same manner as in Example 10.
  • the barrier rib photosensitive paste H was applied by a die coater so as to have a dry thickness of 290 ⁇ m and dried to form a barrier rib photosensitive paste coating film.
  • the photosensitive paste coating film for barrier ribs is applied to an ultrahigh pressure via a photomask (a chromium mask having a grid-like opening having a pitch of 127 ⁇ m in both vertical and horizontal directions and a line width of 20 ⁇ m) in which openings corresponding to a desired barrier rib pattern are formed. Exposure was performed at 550 mJ / cm 2 with a mercury lamp.
  • the exposed photosensitive paste coating film for barrier ribs was developed in a 0.5% aqueous ethanolamine solution, and unexposed portions were removed to form a lattice-shaped photosensitive paste coating film pattern. Further, the buffer layer paste coating film and the photosensitive paste coating film pattern were simultaneously baked in the air at 620 ° C. for 15 minutes.
  • the partition pitch was 127 ⁇ m
  • the partition top width was 20 ⁇ m
  • the partition bottom width was 30 ⁇ m
  • the partition height was 200 ⁇ m
  • and 480 mm A partition member having a grid-like partition wall having a size of ⁇ 480 mm was obtained.
  • the reflectance with respect to light having a wavelength of 550 nm in the portion where only the buffer layer was formed was 61%.
  • the partition wall porosity was 9.0%.
  • CsI: Tl 1 mol: 0.003 mol
  • the amount of substrate warpage of the scintillator panel 19 was 30 ⁇ m or more and 40 ⁇ m or less.
  • Example 20 A barrier rib member was prepared in the same manner as in Example 19 except that the photosensitive paste H for barrier ribs had a dry thickness of 360 ⁇ m and was exposed to 600 mJ / cm 2 with an ultrahigh pressure mercury lamp.
  • the partition wall of the obtained partition wall member had a partition wall pitch of 127 ⁇ m, a partition wall top width of 22 ⁇ m, a partition wall bottom width of 35 ⁇ m, a partition wall height of 250 ⁇ m, and a partition wall member having a grid-shaped partition wall of 480 mm ⁇ 480 mm.
  • the reflectance with respect to light having a wavelength of 550 nm in the portion where only the buffer layer was formed was 61%. Further, the porosity of the partition walls was 9.2%.
  • CsI: Tl 1 mol: 0.003 mol
  • the amount of substrate warpage of the scintillator panel 20 was 30 ⁇ m or more and 40 ⁇ m or less.
  • Example 21 A buffer layer paste coating film was formed on a glass substrate in the same manner as in Example 15. Next, the barrier rib photosensitive paste A was applied by a die coater so as to have a dry thickness of 580 ⁇ m and dried to form a barrier rib photosensitive paste coating film. Next, the photosensitive paste coating film for barrier ribs is applied to an ultra-high pressure via a photomask (a chromium mask having a grid-like opening having a pitch of 194 ⁇ m and a line width of 20 ⁇ m in both vertical and horizontal directions) in which openings corresponding to a desired barrier rib pattern are formed. It exposed at 1000 mJ / cm ⁇ 2 > with the mercury lamp.
  • a photomask a chromium mask having a grid-like opening having a pitch of 194 ⁇ m and a line width of 20 ⁇ m in both vertical and horizontal directions
  • the exposed photosensitive paste coating film for barrier ribs was developed in a 0.5% aqueous ethanolamine solution, and unexposed portions were removed to form a lattice-shaped photosensitive paste coating film pattern. Further, the buffer layer paste coating film and the photosensitive paste coating film pattern were simultaneously baked in the air at 585 ° C. for 15 minutes.
  • the partition pitch was 194 ⁇ m
  • the partition top width was 25 ⁇ m
  • the partition bottom width was 50 ⁇ m
  • the partition height was 400 ⁇ m
  • 480 mm A partition member having a grid-like partition wall having a size of ⁇ 480 mm was obtained.
  • the reflectance with respect to light having a wavelength of 550 nm in the portion where only the buffer layer was formed was 66%.
  • the partition wall porosity was 8.5%.
  • CsI: Tl 1 mol: 0.003 mol
  • the substrate warpage amount of the scintillator panel 21 was 50 ⁇ m or more and 60 ⁇ m or less.
  • Example 22 A barrier rib member was prepared in the same manner as in Example 19 except that the photosensitive paste H for barrier ribs had a dry thickness of 500 ⁇ m and was exposed to 600 mJ / cm 2 with an ultrahigh pressure mercury lamp.
  • the partition wall of the obtained partition wall member had a partition wall pitch of 127 ⁇ m, a partition wall top width of 24 ⁇ m, a partition wall bottom width of 45 ⁇ m, a partition wall height of 340 ⁇ m, and a partition wall member having a size of 480 mm ⁇ 480 mm.
  • the reflectance with respect to light having a wavelength of 550 nm in the portion where only the buffer layer was formed was 61%. Further, the porosity of the partition walls was 9.2%.
  • CsI: Tl 1 mol: 0.003 mol
  • the substrate warpage amount of the scintillator panel 22 was 30 ⁇ m or more and 40 ⁇ m or less.
  • Example 23 A partition wall member was produced in the same manner as in Example 22 using the photosensitive paste H for partition walls.
  • the partition wall of the obtained partition wall member had a partition wall pitch of 127 ⁇ m, a partition wall top width of 25 ⁇ m, a partition wall bottom width of 50 ⁇ m, a partition wall height of 340 ⁇ m and a grid partition wall having a size of 480 mm ⁇ 480 mm.
  • the reflectance with respect to light having a wavelength of 550 nm in the portion where only the buffer layer was formed was 62%. Further, the porosity of the partition walls was 9.4%.
  • the amount of substrate warpage of the scintillator panel 23 was 50 ⁇ m or more and 60 ⁇ m or less.
  • crosstalk of emitted light occurred at 20 locations in the plane, but an image was obtained and the luminance was 145% of Example 1.
  • Example 24 A buffer layer paste coating film was formed on a glass substrate in the same manner as in Example 10.
  • the barrier rib photosensitive paste A was applied by a die coater so as to have a dry thickness of 1000 ⁇ m and dried to form a barrier rib photosensitive paste coating film.
  • the photosensitive paste coating film for barrier ribs is applied to an ultrahigh pressure via a photomask (a chromium mask having a grid-like opening having a pitch of 508 ⁇ m and a line width of 35 ⁇ m in both vertical and horizontal directions) in which openings corresponding to a desired barrier rib pattern are formed. It exposed at 1750 mJ / cm ⁇ 2 > with the mercury lamp.
  • a photomask a chromium mask having a grid-like opening having a pitch of 508 ⁇ m and a line width of 35 ⁇ m in both vertical and horizontal directions
  • the exposed photosensitive paste coating film for barrier ribs was developed in a 0.5% aqueous ethanolamine solution, and unexposed portions were removed to form a lattice-shaped photosensitive paste coating film pattern. Further, the buffer layer paste coating film and the photosensitive paste coating film pattern were simultaneously fired in the air at 585 ° C. for 15 minutes, and the partition pitch 508 ⁇ m, the partition top width 45 ⁇ m, the partition bottom width 100 ⁇ m, the partition height 700 ⁇ m, and 480 mm. A partition member having a grid-like partition wall having a size of ⁇ 480 mm was obtained. The reflectance with respect to light having a wavelength of 550 nm in the portion where only the buffer layer was formed was 65%. Further, the porosity of the partition walls was 10.2%.
  • the amount of substrate warpage of the scintillator panel 24 was 130 ⁇ m or more and 150 ⁇ m or less.
  • an image having periodic detection unevenness was obtained for every four pixels.
  • the luminance was 115% of Example 1.
  • Example 25 A barrier rib member was prepared in the same manner as in Example 19 except that the photosensitive paste H for barrier ribs and the buffer layer paste C were used, the photosensitive paste coating film thickness was 620 ⁇ m, and exposure was performed at 700 mJ / cm 2 with an ultrahigh pressure mercury lamp. did.
  • the partition wall of the obtained partition wall member had a partition wall pitch of 127 ⁇ m, a partition wall top width of 25 ⁇ m, a partition wall bottom width of 37 ⁇ m, a partition wall height of 420 ⁇ m, and a partition wall member having a size of 480 mm ⁇ 480 mm.
  • the reflectance with respect to light having a wavelength of 550 nm in the portion where only the buffer layer was formed was 68%. Further, the porosity of the partition walls was 9.4%.
  • the amount of substrate warpage of the scintillator panel 25 was 40 ⁇ m or more and 50 ⁇ m or less.
  • a good image with a brightness variation of 1.8% was obtained without defects including linear noise, and the brightness was 152% of Example 1. It was.
  • Example 26 The buffer layer paste A was applied to a 500 mm ⁇ 500 mm glass substrate (OA-10, manufactured by Nippon Electric Glass Co., Ltd.) with a 15 ⁇ m bar coater, dried, and then exposed to light of 500 mJ / cm 2 over about 12 ⁇ m. The buffer layer was formed.
  • OA-10 500 mm ⁇ 500 mm glass substrate
  • 15 ⁇ m bar coater 15 ⁇ m bar coater
  • the photosensitive paste for barrier ribs of the previous period was applied with a die coater so as to have a dry thickness of 400 ⁇ m and dried.
  • exposure was performed through a photomask (a chromium mask having a grid-like opening having a pitch of 160 ⁇ m in both vertical and horizontal directions and a line width of 20 ⁇ m) in which openings corresponding to the partition wall pattern were formed.
  • a photomask a chromium mask having a grid-like opening having a pitch of 160 ⁇ m in both vertical and horizontal directions and a line width of 20 ⁇ m
  • partition pitch 160 ⁇ m partition top width 30 ⁇ m, partition bottom width 55 ⁇ m, partition height 340 ⁇ m, 480 mm
  • partition member having a grid-like partition wall having a size of ⁇ 480 mm was obtained.
  • the reflectance with respect to light having a wavelength of 550 nm in the portion where only the buffer layer was formed was 72%. Further, the porosity of the partition walls was 8.3%.
  • the amount of substrate warpage of the prepared scintillator panel 26 was 70 ⁇ m or more and 80 ⁇ m or less.
  • the luminance was 108% of Example 1. It was.
  • Example 27 Buffer layer paste A was applied with a 30 ⁇ m bar coater, dried, and then exposed to 600 mJ / cm 2 of whole surface light with an ultrahigh pressure mercury lamp to form a buffer layer paste coating film having a thickness of 23 ⁇ m. Similarly, a partition member was produced. The partition walls of the obtained partition member were lattice-shaped partitions having a partition pitch of 127 ⁇ m, a partition top width of 22 ⁇ m, a partition bottom width of 55 ⁇ m, and a partition wall height of 325 ⁇ m and a size of 480 mm ⁇ 480 mm. The reflectance with respect to light having a wavelength of 550 nm in the portion where only the buffer layer was formed was 64%. The partition wall porosity was 9.5%.
  • CsI: Tl 1 mol: 0.003 mol
  • the substrate warpage amount of the scintillator panel 3 was 30 ⁇ m or more and 40 ⁇ m or less.
  • Comparative Example 1 The above-mentioned screen printing paste B for buffer layer is applied to a 500 mm ⁇ 500 mm glass substrate (OA-10 manufactured by Nippon Electric Glass Co., Ltd.) by screen printing to a film thickness of 15 ⁇ m, dried, and then buffer layer paste. A coating film was formed. Thereafter, the partition wall screen-printing glass paste A is formed into a film by screen printing using a pattern having a vertical and horizontal pitch of 160 ⁇ m, an opening length of 130 ⁇ m ⁇ 130 ⁇ m, a wall width of 35 ⁇ m and a size corresponding to a predetermined number of pixels. Coating and drying at a thickness of 40 ⁇ m were repeated 12 layers. Thereafter, firing was performed in air at 550 ° C.
  • OA-10 manufactured by Nippon Electric Glass Co., Ltd.
  • a partition wall having a partition wall top width of 35 ⁇ m, a partition wall bottom width of 65 ⁇ m, a partition wall height of 450 ⁇ m and a size of 480 mm ⁇ 480 mm as a size corresponding to a predetermined number of pixels.
  • the reflectance with respect to 550 nm light of the portion where only the buffer layer was formed was 69%.
  • the partition wall porosity was 2%.
  • the substrate warpage amount of the created scintillator panel 28 was 80 ⁇ m or more and 100 ⁇ m or less.
  • the luminance was 88% of that of Example 1.
  • 40 or more image defects occurred in the plane.
  • CsI: Tl 1 mol: 0.003 mol
  • the substrate warpage amount of the scintillator panel 29 was 80 ⁇ m or more and 100 ⁇ m or less.
  • the luminance was only 88% of that of Example 1. Further, the brightness variation was 7.5%, and 35 image defects were generated in the plane.
  • Comparative Example 3 A partition wall member was produced in the same manner as in Comparative Example 2 except that the partition wall screen printing paste B was used.
  • the partition wall of the obtained partition member was a grid-like partition wall having a partition wall pitch of 127 ⁇ m, a partition wall top width of 35 ⁇ m, a partition wall bottom width of 55 ⁇ m, and a partition wall height of 350 ⁇ m and a size of 480 mm ⁇ 480 mm.
  • the reflectance with respect to light having a wavelength of 550 nm in the portion where only the buffer layer was formed was 65%.
  • the partition wall porosity was 4.1%.
  • the amount of substrate warpage of the scintillator panel 30 was 60 ⁇ m or more and 70 ⁇ m or less.
  • the luminance was only 90% of that of Example 1.
  • the luminance variation was 6.5%, and 35 image defects occurred in the plane.
  • Comparative Example 4 A partition wall member was prepared in the same manner as in Example 2, except that the partition wall photosensitive paste M was used and the firing temperature was changed to 710 ° C. for 20 minutes.
  • the partition walls of the partition member obtained were lattice-shaped partition walls having a partition wall pitch of 127 ⁇ m, partition wall top width of 35 ⁇ m, partition wall bottom width of 48 ⁇ m, partition wall height of 380 ⁇ m and a size of 480 mm ⁇ 480 mm.
  • the reflectance with respect to light having a wavelength of 550 nm in the portion where only the buffer layer was formed was 53%.
  • the partition wall porosity was 30%.
  • the warpage amount of the obtained panel was greatly distorted to 700 ⁇ m or more and 800 ⁇ m or less, and the partition wall was not cut or cracked.
  • Comparative Example 5 A partition wall member was produced in the same manner as in Example 2 except that the baking temperature was set to 530 ° C. for 15 minutes using the partition wall photosensitive paste N.
  • the partition walls of the partition member thus obtained were lattice-shaped partition walls having a partition wall pitch of 127 ⁇ m, partition wall top width of 35 ⁇ m, partition wall bottom width of 100 ⁇ m, partition wall height of 280 ⁇ m and a size of 480 mm ⁇ 480 mm.
  • the reflectance of light having a wavelength of 550 nm in the portion where only the buffer layer was formed was 75%, but the low melting point glass of the buffer paste did not sinter and cracks occurred at the interface between the partition walls and the buffer layer.
  • the partition wall porosity was 1%.
  • CsI: Tl 1 mol: 0.003 mol
  • CsI: TlI 1 mol: 0.003 mol
  • the amount of substrate warpage of the scintillator panel 31 was 250 ⁇ m or more and 300 ⁇ m or less.
  • deformation of the partition wall occurred, and the phosphor adhered to the top of the partition wall.
  • the luminance was only 75% of that of Example 1. Further, the brightness variation was 9.8%, and 50 image defects occurred in the plane.
  • a radiation detection apparatus can be obtained that has a high light emission luminance and that has little distortion of the partition wall structure, image unevenness, and linear noise, and that can provide a good image.

Abstract

 平板状の基板、該基板の上に設けられた格子状の隔壁、および、前記隔壁により区画されたセル内に充填された蛍光体からなるシンチレータ層を有するシンチレータパネルであって、前記隔壁が、アルカリ金属酸化物を2~20質量%含有する低融点ガラスを主成分とする材料により構成されているシンチレータパネル。大面積に細幅の隔壁を高精度に形成し、発光効率が高く、鮮明な画質を実現するシンチレータパネルを提供する。

Description

シンチレータパネルおよびシンチレータパネルの製造方法
 本発明は、医療診断装置、非破壊検査機器等に用いられる放射線検出装置を構成するシンチレータパネルに関する。
 従来、医療現場において、フィルムを用いたX線画像が広く用いられてきた。しかし、フィルムを用いたX線画像はアナログ画像情報であるため、近年、コンピューテッドラジオグラフィ(computed radiography:CR)やフラットパネル型の放射線ディテクタ(flat panel detector:FPD)等のデジタル方式の放射線検出装置が開発されている。
 平板X線検出装置(FPD)においては、放射線を可視光に変換するために、シンチレータパネルが使用される。シンチレータパネルは、ヨウ化セシウム(CsI)等のX線蛍光体を含み、照射されたX線に応じて、該X線蛍光体が可視光を発光して、その発光をTFTやCCDで電気信号に変換することにより、X線の情報をデジタル画像情報に変換する。しかし、FPDは、S/N比が低いという問題があった。これは、X線蛍光体が発光する際に、蛍光体自体によって、可視光が散乱してしまうことなどに起因する。この光の散乱の影響を小さくするために、隔壁で仕切られたセル内に蛍光体を充填する方法が提案されてきた(特許文献1~4)。
 しかし、そのような隔壁を形成する方法として、従来用いられてきた方法は、シリコンウェハをエッチング加工する方法、あるいは、顔料またはセラミック粉末と低融点ガラス粉末との混合物であるガラスペーストをスクリーン印刷法を用いて多層にパターン印刷した後に焼成して、隔壁パターンを形成する方法などである。シリコンウェハをエッチング加工する方法では、形成できるシンチレータパネルのサイズが、シリコンウェハのサイズによって限定され、500mm角のような大サイズのものを得ることはできなかった。大サイズのものを作るには小サイズのものを複数並べて作ることになるが、その製作は精度的に難しく、大面積のシンチレータパネルを作製することが困難であった。
 また、ガラスペーストを用いた多層スクリーン印刷法では、スクリーン印刷版の寸法変化などにより、高精度の加工が困難である。また多層スクリーン印刷を行う際に、隔壁パターンの崩壊欠損を防ぐために、隔壁パターンの強度を高くするために、一定の隔壁幅が必要になる。隔壁パターンの幅が広くなると、相対的に隔壁間のスペースが狭くなり、蛍光体を充填できる体積が小さくなる上に、充填量が均一とならない。そのため、この方法で得られたシンチレータパネルは、X線蛍光体の量が少ないために、発光が弱くなる、発光ムラが生じるといった欠点がある。これは、低線量での撮影において、鮮明な撮影を行うには障害となってくる。
 つまり、発光効率が高く、鮮明な画質を実現するシンチレータパネルを作製するためには、大面積を高精度で加工でき、かつ、隔壁の幅を細くできる隔壁の加工技術が必要である。
特開平5-60871号公報 特開平5-188148号公報 特開2011-188148号公報 特開2011-007552号公報
 本発明は上記欠点を解消し、大面積に細幅の隔壁を高精度に形成し、発光効率が高く、鮮明な画質を実現するシンチレータパネルを提供することを課題にする。
 この課題は次の技術手段の何れかによって達成される。
(1)平板状の基板、該基板の上に設けられた格子状の隔壁、および、前記隔壁により区画されたセル内に充填された蛍光体からなるシンチレータ層を有するシンチレータパネルであって、前記隔壁が、アルカリ金属酸化物を2~20質量%含有する低融点ガラスを主成分とする材料により構成されているシンチレータパネル。
(2)平板状の基板および該基板の上に設けられた格子状の隔壁を有する隔壁部材を製造する方法であって、
基板上に、アルカリ金属酸化物を2~20質量%含有する低融点ガラス粉末と感光性有機成分を含有する感光性ペーストを塗布し、感光性ペースト塗布膜を形成する工程、
得られた感光性ペースト塗布膜を所定の開口部を有するフォトマスクを介して露光する工程、
露光後の感光性ペースト塗布膜の現像液に可溶な部分を溶解除去する現像工程、
現像後の感光性ペースト塗布膜パターンを500℃~700℃に加熱して有機成分を除去すると共に低融点ガラスを軟化および焼結させ、隔壁を形成する焼成工程、
を含む隔壁部材の製造方法。
(3)平板状の基板、該基板の上に設けられた格子状の隔壁、および、該隔壁により区画されたセル内に充填された蛍光体からなるシンチレータ層を有するシンチレータパネルを製造する方法であって、
基板上に、アルカリ金属酸化物を2~20質量%含有する低融点ガラス粉末と感光性有機成分を含有する感光性ペーストを塗布し、感光性ペースト塗布膜を形成する工程、
得られた感光性ペースト塗布膜を所定の開口部を有するフォトマスクを介して露光する工程、
露光後の感光性ペースト塗布膜の現像液に可溶な部分を溶解除去する現像工程、
現像後の感光性ペースト塗布膜パターンを500℃~700℃に加熱して有機成分を除去すると共に低融点ガラスを軟化および焼結させ、隔壁を形成する焼成工程、および、
該隔壁により区画されたセル内に蛍光体を充填する工程、
を含むシンチレータパネルの製造方法。
(4)平板状の基板、該基板の上に設けられた緩衝層、該緩衝層の上に設けられた格子状の隔壁、および、該隔壁により区画されたセル内に充填された蛍光体からなるシンチレータ層を有するシンチレータパネルを製造する方法であって、
基板上に、低融点ガラス粉末およびセラミックス粉末から選ばれた無機粉末および感光性有機成分を含む緩衝層用ペーストを塗布し、緩衝層用ペースト塗布膜を形成する工程、
該緩衝層用ペースト塗布膜を全面露光する工程、
露光後の緩衝層用ペースト塗布膜の上に、アルカリ金属酸化物を2~20質量%含有する低融点ガラス粉末と感光性有機成分を含有する隔壁用感光性ペーストを塗布し、隔壁用感光性ペースト塗布膜を形成する工程、
得られた隔壁用感光性ペースト塗布膜を所定の開口部を有するフォトマスクを介して露光する工程、
露光後の感光性ペースト塗布膜の現像液に可溶な部分を溶解除去する現像工程、
緩衝層用ペースト塗布膜および現像後の感光性ペースト塗布膜パターンを500℃~700℃に加熱して有機成分を除去すると共に低融点ガラスを軟化および焼結させ、緩衝層および隔壁を同時に形成する焼成工程、および、
該隔壁により区画されたセル内に蛍光体を充填する工程、
を含むシンチレータパネルの製造方法。
 本発明により、大面積で高精度に隔壁を形成できることから、大サイズで、かつ、鮮明な撮影を実現するためのシンチレータパネルおよびその製造方法が提供できるようになった。
本発明のシンチレータパネルを含む放射線検出装置の構成を模式的に表した断面図である。 本発明のシンチレータパネルの構成を模式的に表した斜視図である。
 以下、図を用いて本発明のシンチレータパネルおよびそれを用いた放射線検出装置の好ましい構成について説明するが、本発明はこれらに限定されない。
 図1は、本発明のシンチレータパネルを含む放射線検出装置の構成を模式的に表した断面図である。図2は、本発明のシンチレータパネルの構成を模式的に表した斜視図である。放射線検出装置1は、シンチレータパネル2、出力基板3、および電源部12からなる。シンチレータパネル2は、蛍光体からなるシンチレータ層7を含み、X線等の入射された放射線のエネルギーを吸収して、波長が300nmから800nmの範囲の電磁波、すなわち、可視光線を中心に紫外光から赤外光にわたる範囲の電磁波(光)を発光する。
 シンチレータパネル2は、基板4と、その上に形成されたセルを仕切るための格子状の隔壁6と、その隔壁で形成された空間内に、充填された蛍光体からなるシンチレータ層7とから構成される。また、基板1と隔壁6の間に、緩衝層5をさらに形成することで、隔壁6の安定的な形成が可能になる。また、この緩衝層5の可視光に対する反射率を高くすることにより、シンチレータ層7で発光した光を効率良く出力基板上3の光電変換層9に到達させることができる。
 出力基板3は、基板11上にフォトセンサとTFTからなる画素が2次元状に形成された光電変換層9および出力層10を有する。シンチレータパネル2の出光面と出力基板3の光電変換層9をポリイミド樹脂等からなる隔膜層8を介して、接着あるいは密着させることで放射線検出装置1となる。シンチレータ層7で発光した光が光電変換層9に到達し、光電変換層9で光電変換を行い、出力する。本発明のシンチレータパネルは各セルを隔壁が仕切っているので、格子状に配置された光電変換素子の画素の大きさおよびピッチと、シンチレータパネルのセルの大きさおよびピッチを一致させることにより、蛍光体によって光が散乱されても、散乱光が隣のセルに到達するのを防ぐことができる。これによって光散乱による画像のボケが低減でき、高精度の撮影が可能になる。
 本発明のシンチレータパネルに用いる基板としては、放射線の透過性を有する材料であれば、各種のガラス、高分子材料、金属等を用いることができる。例えば、石英、ホウ珪酸ガラス、化学的強化ガラスなどのガラスからなる板ガラス;サファイア、チッ化珪素、炭化珪素などのセラミックからなるセラミック基板;シリコン、ゲルマニウム、ガリウム砒素、ガリウム燐、ガリウム窒素などの半導体からなる半導体基板;セルロースアセテートフィルム、ポリエステルフィルム、ポリエチレンテレフタレートフィルム、ポリアミドフィルム、ポリイミドフィルム、トリアセテートフィルム、ポリカーボネートフィルム、炭素繊維強化樹脂シート等の高分子フィルム(プラスチックフィルム);アルミニウムシート、鉄シート、銅シート等の金属シート;金属酸化物の被覆層を有する金属シートやアモルファスカーボン基板などを用いることができる。中でも、板ガラスは、平坦性および耐熱性の点で望ましい。さらに、シンチレータパネルの持ち運びの利便性の点でシンチレータパネルの軽量化が進められていることから、板ガラスは厚み2.0mm以下であることが好ましく、さらに好ましくは1.0mm以下である。
 この基板上に、隔壁を形成するが、隔壁は、耐久性および耐熱性の点から、ガラス材料から構成されることが好ましい。本発明のシンチレータパネルでは、隔壁は、アルカリ金属酸化物を2~20質量%含有する低融点ガラスを主成分とする材料により構成されていることを特徴とする。アルカリ金属酸化物を2~20質量%含有する低融点ガラスを主成分とする材料は、適切な屈折率と軟化温度を有し、細幅の隔壁を大面積に高精度に形成するのに適している。なお、本発明において、低融点ガラスとは、軟化温度が700℃以下のガラスのことである。また、低融点ガラスを主成分とするとは、隔壁を構成する材料の50質量%~100質量%が低融点ガラス粉末であることを言う。
 本発明のシンチレータパネルの製造方法では、基板上に、アルカリ金属酸化物を2~20質量%含有する低融点ガラス粉末と感光性有機成分を含有する感光性ペーストを塗布し、感光性ペースト塗布膜を形成する工程、得られた感光性ペースト塗布膜を所定の開口部を有するフォトマスクを介して露光する露光工程、露光後の感光性ペースト塗布膜の現像液に可溶な部分を溶解除去する現像工程、現像後の感光性ペースト塗布膜パターンを高温に加熱して有機成分を除去すると共に低融点ガラスを軟化および焼結させ、隔壁を形成する焼成工程を含む。露光工程においては、露光により感光性ペースト塗布膜の必要な部分を光硬化させ、もしくは、感光性ペースト塗布膜の不要な部分を光分解させて、感光性ペースト塗布膜の現像液に対する溶解コントラストをつける。現像工程においては、露光後の感光性ペースト塗布膜の不要部分が現像液で除去され、必要な部分のみが残存した感光性ペースト塗布膜パターンが得られる。
 焼成工程においては、得られた感光性ペースト塗布膜パターンを、好ましくは500~700℃、より好ましくは500~650℃の温度で焼成することにより、有機成分が分解留去されると共に、低融点ガラス粉末が軟化および焼結されて、低融点ガラスを含む隔壁が形成される。有機成分を完全に除去するために、焼成温度は500℃以上が好ましい。また、焼成温度が700℃を超えると、基板として一般的なガラス基板を用いた場合、基板の変形が大きくなるため、焼成温度は700℃以下が望ましい。
 本発明の方法は、ガラスペーストを多層スクリーン印刷によって積層印刷した後に焼成する加工方法よりも、高精度の加工が可能である。
 本発明で用いる感光性ペーストは、感光性有機成分を含有する有機成分とアルカリ金属酸化物を2~20質量%含有する低融点ガラス粉末を含む無機粉末から構成される。有機成分は、焼成前の感光性ペースト塗布膜パターンを形成するために一定量が必要であるが、有機成分が多すぎると、焼成工程で除去する物質の量が多くなり、焼成収縮率が大きくなるため、焼成工程でのパターン欠損を生じやすい。一方、有機成分が過少になると、ペースト中での無機微粒子の混合および分散性が低下するため、焼成時に欠陥が生じやすくなるばかりでなく、ペーストの粘度の上昇のためペーストの塗布性が低下し、さらにペーストの安定性にも悪影響があり好ましくないことがある。そこで、感光性ペースト中の無機粉末の含有量が30質量%~80質量%であることが好ましく、より好ましくは、40質量%~70質量%である。また、無機粉末の全体に対して、低融点ガラス粉末は50質量%~100質量%であることが好ましい。低融点ガラス粉末が無機粉末の50質量%未満であると、焼成工程において焼結が良好に進まず、得られる隔壁の強度が低下するので好ましくない。
 焼成工程において、有機成分をほぼ完全に除き、かつ、得られる隔壁が一定の強度を有するようにするためには、用いる低融点ガラス粉末として、軟化温度が480℃以上の低融点ガラスからなるガラス粉末を用いることが好ましい。軟化温度が480℃未満では、焼成時に有機成分が十分に除かれる前に、低融点ガラスが軟化してしまい、有機成分の残存物がガラス中に取り込まれてしまう。この場合は、後々に有機成分が徐々に放出されて、製品品質を低下させる懸念がある。また、ガラス中に取り込まれた有機成分の残存物がガラスの着色の要因となる。軟化温度が480℃以上の低融点ガラス粉末を用い、500℃以上の温度で焼成することにより、有機成分を完全に除去することができる。前述のように、焼成工程における焼成温度は、500~700℃が好ましく、500~650℃がより好ましいため、低融点ガラスの軟化温度は480~700℃が好ましく、480~640℃がより好ましく、480~620℃がさらに好ましい。
 軟化温度は、示差熱分析装置(DTA、株式会社リガク製「差動型示差熱天秤TG8120」)を用いて、サンプルを測定して得られるDTA曲線から、吸熱ピークにおける吸熱終了温度を接線法により外挿して求められる。具体的には、示差熱分析装置を用いて、アルミナ粉末を標準試料として、室温から20℃/分で昇温して、測定サンプルとなる無機粉末を測定し、DTA曲線を得る。得られたDTA曲線より、吸熱ピークにおける吸熱終了温度を接線法により外挿して求めた軟化点Tsを軟化温度と定義する。
 低融点ガラスの熱膨張係数は40~90×10-7(/K)が好ましく、さらに好ましくは40~65×10-7である。基板上に、低融点ガラスを含む感光性ペースト塗布膜を形成して焼成した際、熱膨張係数が90×10-7より大きいと、パネルが大幅に反るため、放射線検出装置として組み立てることが困難となる。また、パネルの反りが発生した放射線検出装置は、パネル面内で発光光のクロストークが発生したり、発光光量の検出感度のバラつきが発生するため、高精細な画像検出が難しくなる。また、熱膨張係数が40×10-7より小さい場合は、低融点ガラスの軟化温度を十分に下げることができない。
 低融点ガラスを得るためには、ガラスを低融点化するために有効な材料である、酸化鉛、酸化ビスマス、酸化亜鉛およびアルカリ金属酸化物から選ばれた金属酸化物を用いることができる。中でも、アルカリ金属酸化物を用いて、ガラスの軟化温度を調整することが望ましい。なお、一般にはアルカリ金属は、リチウム、ナトリウム、カリウム、ルビジウムおよびセシウムを指すが、本発明において用いられるアルカリ金属酸化物とは、酸化リチウム、酸化ナトリウムおよび酸化カリウムから選ばれた金属酸化物を指す。
 本発明において、低融点ガラス中のアルカリ金属酸化物の含有量X(MO)は、2~20質量%の範囲内とすることが必要である。アルカリ金属酸化物の含有量が2質量%未満では、軟化温度が高くなることによって、焼成工程を高温で行うことが必要となる。そのため、基板としてガラス基板を用いた場合に、焼成工程において基板が変形することにより、得られるシンチレータパネルにゆがみが生じたり、隔壁に欠陥が生じたりしやすいので適さない。また、アルカリ金属酸化物の含有量が20質量%よりも多い場合は、焼成工程においてガラスの粘度が低下しすぎる。そのため、得られる隔壁の形状にゆがみが生じやすい。また、得られる隔壁の空隙率が小さくなりすぎることにより、得られるシンチレータパネルの発光輝度が低くなる。
 さらに、アルカリ金属酸化物に加えて、高温でのガラスの粘度の調製のために、酸化亜鉛を3~10質量%添加することが望ましい。酸化亜鉛の含有量が3質量%以下では、高温でのガラスの粘度が高くなり、10質量%以上添加すると、ガラスのコストが高くなる傾向がある。
 さらには、低融点ガラスに、前記のアルカリ金属酸化物、および酸化亜鉛に加えて、酸化ケイ素、酸化ホウ素、酸化アルミニウム、アルカリ土類金属の酸化物等を含有させることにより、低融点ガラスの安定性、結晶性、透明性、屈折率、熱膨張特性等を制御することができる。低融点ガラスの組成としては、以下に示す組成範囲とすることにより、本発明に適した粘度特性を有する低融点ガラスを作製できるので好ましい。
 アルカリ金属酸化物:2~20質量%
 酸化亜鉛:3~10質量%
 酸化ケイ素:20~40質量%
 酸化ホウ素:25~40質量%
 酸化アルミニウム:10~30質量%
 アルカリ土類金属酸化物:5~15質量%
 なお、アルカリ土類金属とは、マグネシウム、カルシウム、バリウムおよびストロンチウムから選ばれる1種類以上の金属を指す。
 低融点ガラス粉末を含む無機粒子の粒子径は 粒度分布測定装置(日機装株式会社製「MT3300」)を用いて評価した。測定方法としては、水を満たした試料室に無機粉末を投入し、300秒間、超音波処理を行った後に測定を行った。
 低融点ガラス粉末の粒子径は50%体積平均粒子径(D50)が1.0~4.0μmの範囲内であることが望ましい。D50が1.0μm未満では、粒子の凝集が強くなり、均一な分散性を得られにくくなり、ペーストの流動性が不安定になる。このような場合は、ペーストを塗布した際の厚み均一性が低下する。また、D50が4.0μmを越えると、得られる焼結体の表面凹凸が大きくなり、後工程でパターンが破砕する原因となりやすい。
 本発明で用いる感光性ペーストは、上述の低融点ガラス粉末以外に、700℃でも軟化しない高融点ガラスや酸化ケイ素、酸化アルミニウム、酸化チタン、酸化ジルコニウム等のセラミックス粒子をフィラーとして含んでも良い。フィラーは、低融点ガラス粉末と共に用いることにより、ペースト組成物の焼成収縮率の制御や形成される隔壁の形状を保持する効果がある。ただし、無機粉末全体に占めるフィラーの割合が50質量%を越えると、低融点ガラス粉末の焼結を阻害して、隔壁の強度が低下などの問題が生じるので好ましくない。また、フィラーは、低融点ガラス粉末と同様の理由で、平均粒子径0.5~4.0μmであることが好ましい。
 本発明で用いる感光性ペースト組成物は、低融点ガラス粉末の平均屈折率n1と感光性有機成分の平均屈折率n2が、-0.1<n1-n2<0.1を満たすことが好ましく、-0.01≦n1-n2≦0.01を満たすことがより好ましく、-0.005≦n1-n2≦0.005を満たすことがさらに好ましい。この条件を満たすことにより、露光工程において、低融点ガラス粉末と感光性有機成分の界面における光散乱が抑制され、高精度のパターン形成を行うことができる。低融点ガラス粉末を構成する酸化物の配合比率を調整することで好ましい熱特性、および、好ましい平均屈折率を兼ね備えた低融点ガラス粉末を得ることができる。
 低融点ガラス粉末の屈折率はベッケ線検出法により測定することができる。25℃での波長436nm(g線)における屈折率を本発明における低融点ガラス粉末の屈折率とした。また、感光有機成分の平均屈折率は、感光性有機成分からなる塗膜をエリプソメトリーにより測定することで求めることができる。25℃での波長436nm(g線)における屈折率を感光性有機成分の平均屈折率とした。
 本発明で用いる感光性ペーストは、有機成分として感光性有機成分を含むことによって、上記のような感光性ペースト法でパターン加工することができる。感光性有機成分として、感光性モノマー、感光性オリゴマー、感光性ポリマーあるいは光重合開始剤などを用いることにより、反応性を制御することができる。ここで、感光性モノマー、感光性オリゴマーおよび感光性ポリマーにおける感光性とは、ペーストが活性光線の照射を受けた場合に、感光性モノマー、感光性オリゴマーあるいは感光性ポリマーが、光架橋、光重合などの反応を起こして化学構造が変化することを意味する。
 感光性モノマーとは、活性な炭素-炭素2重結合を有する化合物であり、官能基としてビニル基、アクリロイル基、メタクリロイル基、アクリルアミド基を有する単官能化合物および多官能化合物が挙げられる。特に、多官能アクリレート化合物および多官能メタクリレート化合物から選ばれた化合物を有機成分中に10~80質量%含有させたものが、光反応により硬化時の架橋密度を高くし、パターン形成性を向上させる点で好ましい。多官能アクリレート化合物および多官能メタクリレート化合物としては、多様な種類の化合物が開発されているので、反応性、屈折率などを考慮して、それらの中から適宜選択することが可能である。
 感光性オリゴマーおよび感光性ポリマーとしては、活性な炭素-炭素2重結合を有するオリゴマーおよびポリマーが好ましく用いられる。感光性オリゴマーおよび感光性ポリマーは、例えば、アクリル酸、メタクリル酸、イタコン酸、クロトン酸、マレイン酸、フマル酸、ビニル酢酸またはこれらの酸無水物等のカルボキシル基含有モノマーおよびメタクリル酸エステル、アクリル酸エステル、スチレン、アクリロニトリル、酢酸ビニル、2-ヒドロキシアクリレート等のモノマーを共重合することにより得られる。活性な炭素-炭素不飽和二重結合をオリゴマーもしくはポリマーに導入する方法としては、オリゴマーもしくはポリマー中のメルカプト基、アミノ基、水酸基やカルボキシル基に対して、グリシジル基やイソシアネート基を有するエチレン性不飽和化合物やアクリル酸クロライド、メタクリル酸クロライドまたはアリルクロライド、マレイン酸等のカルボン酸を反応させて作る方法等を用いることができる。
 感光性モノマーや感光性オリゴマーとして、ウレタン構造を有するモノマーあるいはオリゴマーを用いることにより、焼成工程においてパターン欠損しにくい感光性ペーストを得ることができる。本発明においては、ガラス粉末として低融点ガラス粉末を用いることにより、焼成工程後期のガラス粉末の焼結が進行する過程で、急激な収縮を生じにくいことがパターン欠損を抑制する。それに加えて、有機成分にウレタン構造を有する化合物を用いた場合には、焼成工程初期の有機成分が分解および留去する過程における応力緩和が生じ、パターン欠損を生じにくい。これらの両方の効果により、広い温度領域でパターン欠損を抑制することができる。
 光重合開始剤は、活性光源の照射によってラジカルを発生する化合物である。具体的な例として、ベンゾフェノン、o-ベンゾイル安息香酸メチル、4,4-ビス(ジメチルアミノ)ベンゾフェノン、4,4-ビス(ジエチルアミノ)ベンゾフェノン、4,4-ジクロロベンゾフェノン、4-ベンゾイル-4-メチルジフェニルケトン、ジベンジルケトン、フルオレノン、2,2-ジメトキシ-2-フェニルアセトフェノン、2-ヒドロキシ-2-メチルプロピオフェノン、チオキサントン、2-メチルチオキサントン、2-クロロチオキサントン、2-イソプロピルチオキサントン、ジエチルチオキサントン、ベンジル、ベンジルメトキシエチルアセタール、ベンゾイン、ベンゾインメチルエーテル、ベンゾインブチルエーテル、アントラキノン、2-t-ブチルアントラキノン、アントロン、ベンズアントロン、ジベンゾスベロン、メチレンアントロン、4-アジドベンザルアセトフェノン、2,6-ビス(p-アジドベンジリデン)シクロヘキサノン、2,6-ビス(p-アジドベンジリデン)-4-メチルシクロヘキサノン、1-フェニル-1,2-ブタジオン-2-(O-メトキシカルボニル)オキシム、1-フェニル-1,2-プロパンジオン-2-(O-エトキシカルボニル)オキシム、1,3-ジフェニルプロパントリオン-2-(O-エトキシカルボニル)オキシム、1-フェニル-3-エトキシプロパントリオン-2-(O-ベンゾイル)オキシム、ミヒラーケトン、2-メチル-1-[4-(メチルチオ)フェニル]-2-モルホリノ-1-プロパノン、2-ベンジル-2-ジメチルアミノ-1-(4-モルフォリノフェニル)ブタノン-1、ナフタレンスルホニルクロライド、キノリンスルホニルクロライド、N-フェニルチオアクリドン、ベンズチアゾールジスルフィド、トリフェニルホルフィン、過酸化ベンゾインおよびエオシン、メチレンブルーなどの光還元性の色素とアスコルビン酸、トリエタノールアミンなどの還元剤の組合せなどがあげられる。また、これらを2種以上組み合わせて使用しても良い。
 感光性ペーストは、バインダーとして、カルボキシル基を有する共重合ポリマーを含有することができる。カルボキシル基を有する共重合体としては、例えば、アクリル酸、メタクリル酸、イタコン酸、クロトン酸、マレイン酸、フマル酸、ビニル酢酸またはこれらの酸無水物などのカルボキシル基含有モノマー、およびメタクリル酸エステル、アクリル酸エステル、スチレン、アクリロニトリル、酢酸ビニル、2-ヒドロキシアクリレートなどのその他のモノマーを選択し、アゾビスイソブチロニトリルのような開始剤を用いて共重合することにより得られる。カルボキシル基を有する共重合体としては、焼成時の熱分解温度が低いことから、アクリル酸エステルまたはメタアクリル酸エステルおよびアクリル酸またはメタアクリル酸を共重合成分とする共重合体が好ましく用いられる。
 感光性ペーストは、カルボキシル基を有する共重合ポリマーを含有することにより、アルカリ水溶液への溶解性に優れたペーストとなる。カルボキシル基を有する共重合体の酸価は50~150mgKOH/gが好ましい。酸価が150mgKOH/g以下とすることで、現像許容幅を広くとることができる。また、酸価が50mgKOH/g以上とすることで、未露光部の現像液に対する溶解性が低下することがない。従って現像液濃度を濃くする必要がなく、露光部の剥がれを防ぎ、高精細なパターンを得ることができる。さらに、カルボキシル基を有する共重合体が側鎖にエチレン性不飽和基を有することも好ましい。エチレン性不飽和基としては、アクリル基、メタクリル基、ビニル基、アリル基などが挙げられる。
 感光性ペーストは、低融点ガラス粉末と感光性モノマー、感光性オリゴマー、感光性ポリマー、光重合開始剤などからなる感光性有機成分に必要に応じ、有機溶媒及びバインダーを加えて、各種成分を所定の組成となるように調合した後、3本ローラーや混練機で均質に混合分散し作製する。
 感光性ペーストの粘度は、無機粉末、増粘剤、有機溶媒、重合禁止剤、可塑剤および沈降防止剤などの添加割合によって適宜調整することができるが、その範囲は2~200Pa・sの範囲内が好ましい。例えば、感光性ペーストの基板への塗布をスピンコート法で行う場合は、2~5Pa・sの粘度が好ましい。感光性ペーストの基板への塗布をスクリーン印刷法で行い、1回の塗布で膜厚10~40μmを得るには、50~200Pa・sの粘度が好ましい。ブレードコーター法やダイコーター法などを用いる場合は、10~50Pa・sの粘度が好ましい。
 かくして得られた感光性ペーストを基板上に塗布し、フォトリソグラフィ法により所望のパターンを形成し、さらに焼成することによって隔壁を形成することができる。フォトリソグラフィ法により、上記感光性ペーストを用いて隔壁の製造を行う一例について説明するが、本発明はこれに限定されない。
 基板上に、感光性ペーストを全面に、もしくは部分的に塗布して感光性ペースト塗布膜を形成する。塗布方法としては、スクリーン印刷法、バーコーター、ロールコーター、ダイコーター、ブレードコーターなどの方法を用いることができる。塗布厚みは、塗布回数、スクリーンのメッシュおよびペーストの粘度を選ぶことによって調整できる。
 つづいて、露光工程を行う。通常のフォトリソグラフィで行われるように、フォトマスクを介して露光する方法が一般的である。また、フォトマスクを用いずに、レーザー光などで直接描画する方法を用いてもよい。露光装置としては、プロキシミティ露光機などを用いることができる。また、大面積の露光を行う場合は、基板上に感光性ペーストを塗布した後に、搬送しながら露光を行うことによって、小さな露光面積の露光機で、大きな面積を露光することができる。この際、使用される活性光線は、例えば、近赤外線、可視光線、紫外線などが挙げられる。これらの中で紫外線が最も好ましく、その光源として、例えば、低圧水銀灯、高圧水銀灯、超高圧水銀灯、ハロゲンランプ、殺菌灯などが使用できる。これらのなかでも、超高圧水銀灯が好適である。露光条件は塗布厚みにより異なるが、通常、1~100mW/cmの出力の超高圧水銀灯を用いて0.01~30分間露光を行う。
 露光後、感光性ペースト塗布膜の露光部分と未露光部分の現像液に対する溶解度差を利用して現像を行い、所望の格子形状の感光性ペースト塗布膜パターンを得る。現像は、浸漬法やスプレー法、ブラシ法で行う。現像液には、ペースト中の有機成分が溶解可能である溶媒を用いることができる。現像液は、水を主成分とすることが好ましい。ペースト中にカルボキシル基などの酸性基をもつ化合物が存在する場合、アルカリ水溶液で現像できる。アルカリ水溶液としては、水酸化ナトリウム、炭酸ナトリウム、水酸化カルシウム等の無機アルカリ水溶液も使用できるが、有機アルカリ水溶液を用いた方が焼成時にアルカリ成分を除去しやすいので好ましい。有機アルカリとしては、具体的には、テトラメチルアンモニウムヒドロキサイド、トリメチルベンジルアンモニウムヒドロキサイド、モノエタノールアミン、ジエタノールアミンなどが挙げられる。アルカリ水溶液の濃度は、好ましくは0.05~5質量%、より好ましくは0.1~1質量%である。アルカリ濃度が低すぎれば可溶部が除去されず、アルカリ濃度が高すぎれば、パターン部を剥離させ、また非可溶部を腐食させるおそれがある。また、現像時の現像温度は、20~50℃で行うことが工程管理上好ましい。
 次に焼成炉にて焼成工程を行う。焼成工程の雰囲気や温度は、感光性ペーストや基板の種類によって異なるが、空気中、窒素、水素などの雰囲気中で焼成する。焼成炉としては、バッチ式の焼成炉やベルト式の連続型焼成炉を用いることができる。焼成は通常500~700℃の温度で10~60分間保持して焼成を行うことが好ましい。焼成温度は500~650℃がより好ましい。以上の工程により、格子形状の感光性ペースト塗布膜パターンから有機成分が除去されると共に、該塗布膜パターンに含まれる低融点ガラスが軟化および焼結され、基板上に実質的に無機物からなる格子状の隔壁が形成された隔壁部材が得られる。
 隔壁の高さ(H)は、100~1000μmが好ましく、160~500μmがより好ましく、250~500μmがさらに好ましい。隔壁の高さが1000μmを超える高さでは、加工時のパターン形成が困難になる。一方、隔壁の高さが低くなると、充填可能な蛍光体の量が少なくなるため、得られるシンチレータパネルの発光輝度が低下して、鮮明な撮影が困難になる。
 隔壁のパターン形状は、特に限定されないが、格子状もしくはストライプ状が好ましい。格子状のパターンを形成する場合、隔壁のピッチ(P)は60μm~1000μmであることが好ましい。ピッチが60μm未満であると、加工時のパターン形成が困難となる。また、ピッチが大きすぎると、得られるシンチレータパネルを用いて高精度の画像撮影を行うことが困難となる。
 隔壁の底部幅(Lb)は20μm~150μm、隔壁の頂部幅(Lt)は15μm~80μmであることが好ましい。隔壁の底部幅が20μm未満であると、焼成時に隔壁の欠陥が生じやすくなる。一方、隔壁の底部幅が大きくなると、隔壁により区画された空間に充填できる蛍光体量が減ってしまう。隔壁の頂部幅が15μm未満であると隔壁の強度が低下する。一方、隔壁の頂部幅が80μmを超えると、シンチレータ層の発光光を取り出せる領域が狭くなってしまう。隔壁底部幅(Lb)に対する隔壁高さ(H)のアスペクト比(H/Lb)は1.0~25.0であることが好ましい。隔壁底部幅に対するアスペクト比(H/Lb)が高い隔壁ほど、隔壁により区画された1画素あたりの空間が広く、より多くの蛍光体を充填することができる。
 隔壁ピッチ(P)に対する隔壁高さ(H)のアスペクト比(H/P)は0.1~3.5であることが好ましい。隔壁ピッチに対するアスペクト比(H/P)が高い隔壁ほど、高精細に区画された1画素となり、かつ、1画素あたりの空間により多くの蛍光体を充填することができる。
 格子状の隔壁により区画されたセルの形状としては、正方形、長方形、平行四辺形、台形などの形状が、適宜選択可能である。本発明のシンチレータパネルにおいては、隔壁底部幅の均一性や、1画素内における蛍光体発光強度の均一性の観点から、セルの形状が正方形となるような格子状の隔壁が好ましいが、これに限定されるものではない。
 隔壁の高さおよび幅は、基板に対して垂直な隔壁断面を露出させ、走査型電子顕微鏡(日立製作所製、S2400)で断面を観察し、測定した。隔壁と基板の接触部における隔壁の幅を底部幅(Lb)として測定した。隔壁と基板の間に緩衝層がある場合は、隔壁と緩衝層の接触部における隔壁の幅を底部幅(Lb)として測定した。また、隔壁最頂部の幅を頂部幅(Lt)として測定した。
 隔壁は、感光性ペーストに含まれる無機粉末が焼結されて形成されている。隔壁を形成する無機粉末同士は、融着しているが、その間に空隙部分が残存している。隔壁に含まれる、この空隙の比率は、隔壁を焼成する焼成工程の温度設計によって調整することができる。隔壁全体に占める空隙部分の比率(空隙率)を2~25%とすることにより、可視光の反射特性と強度を両立する隔壁を形成することができるので好ましい。空隙率が2%未満では、隔壁の反射率が低いことにより、得られるシンチレータパネルの発光輝度が低くなる。空隙率が25%を超えると、隔壁の強度が不足して、崩壊しやすくなる。反射特性と強度を両立するためには、空隙率を5~25%とすることがより好ましく、5~20%がさらに好ましい。
 空隙率の測定方法は、隔壁の断面を精密研磨した後に、電子顕微鏡で観察し、無機材料部分と空隙部分を2階調に画像変換し、空隙部分の面積が隔壁断面の面積に閉める割合を計算する。
 また、隔壁と基板の間に、低融点ガラスおよびセラミックスから選ばれた無機成分からなる緩衝層を設けることが好ましい。緩衝層は、焼成工程において、隔壁にかかる応力を緩和して、安定的な隔壁形成を実現する効果がある。また、緩衝層が高反射率であると、蛍光体によって発光した可視光を光電変換素子の方向に反射することによってシンチレータパネルの発光輝度を高くすることができ、好ましい。反射率を高くするために、緩衝層は、低融点ガラスおよびセラミックスからなることが好ましい。低融点ガラスとしては、隔壁と同様のものを用いることができる。セラミックスとしては、酸化チタン、酸化アルミニウム、酸化ジルコニウム等が好ましい。
 緩衝層を形成するには、有機成分と、低融点ガラス粉末、セラミックス粉末等の無機粉末を溶媒に分散したペーストを基材に塗布および乾燥して、緩衝層用ペースト塗布膜を形成する。次に、緩衝層用ペースト塗布膜を、好ましくは500~700℃、より好ましくは500~650℃の温度で焼成することで、緩衝層を形成できる。
 また、該緩衝層の焼成と隔壁の焼成を同時に済ませることも可能である。この同時焼成を用いることで、焼成工程数の削減が可能になり、焼成工程に消費されるエネルギーを低減することが可能になる。緩衝層と隔壁の同時焼成を用いる場合は、緩衝層用ペーストの有機成分として前記の隔壁用感光性ペーストと同様の感光性有機成分を用い、緩衝層用ペースト塗布膜を形成した後に、緩衝層用ペースト塗布膜を全面露光し、塗布膜を硬化することが好ましい。また、緩衝層用ペーストの有機成分として重合性モノマー、重合性オリゴマーおよび重合性ポリマーから選ばれるいずれかの重合性化合物および熱重合開始剤を含有する熱硬化性有機成分を用い、緩衝層ペースト塗布膜を形成した後に、熱硬化することも好ましい。これらの方法によって、緩衝層用ペースト塗布膜が溶媒に不溶になるので、その上に隔壁用感光性ペーストを塗布する工程において、緩衝層用ペースト塗布膜が溶解したり剥がれたりすることを防止することができる。
 熱硬化性緩衝層用ペーストには、上記成分以外にエチルセルロース等のバインダー、分散剤、増粘剤、可塑剤および沈降防止剤等を適宜添加することができる。
 緩衝層の550nmの波長に対する反射率は60%以上であることが好ましい。緩衝層の反射率を60%以上とすることで、パネルの発光光が緩衝層を透過せず、出力基板側へ発光光を有効的に取り出すことができる。
 次に、隔壁により区画されたセル内に、蛍光体を充填することで、シンチレータパネルを完成することができる。ここで、セルとは、格子状の隔壁により区画された空間のことを言う。また、該セルに充填された蛍光体を、シンチレータ層と呼ぶ。
 蛍光体としては、種々の公知の蛍光体材料を使用することができる。特に、X線から可視光に対する変換率が比較的高く、蛍光体の結晶による反射率が高いCsIが好ましい。また、発光効率を高めるために、CsIに各種の賦活剤を添加してもよい。例えば、CsIとヨウ化ナトリウム(NaI)を任意のモル比で混合したものや、インジウム(In)、タリウム(Tl)、リチウム(Li)、カリウム(K)、ルビジウム(Rb)、ナトリウム(Na)などの賦活物質を含有するCsIが好ましい。また、臭化タリウム(TlBr)、塩化タリウム(TlCl)、またはフッ化タリウム(TlF、TlF)等のタリウム化合物を賦活剤として使用することができる。
 シンチレータ層の形成は、例えば、真空蒸着により、結晶性CsI(この場合、臭化タリウム等のタリウム化合物を共蒸着することも可)を蒸着する方法、水に分散させた蛍光体スラリーを基板に塗布する方法、蛍光体粉末と、エチルセルロースやアクリル樹脂等の有機バインダーと、テルピネオールやγ―ブチロラクトン等の有機溶媒と混合して作製した蛍光体ペーストをスクリーン印刷やディスペンサーで塗布する方法を用いることができる。
 隔壁により区画されたセル内に充填される蛍光体の量は、セル内の空間体積に対して、蛍光体が占める体積分率(以下、蛍光体体積充填率と呼ぶ)が55%~100%であることが好ましく、60%~100%がより好ましく、70%~100%がさらに好ましい。蛍光体体積分率が55%より小さいと、入射するX線を効率的に可視光に変換することができない。入射するX線の変換効率を上げるため、セルの空間に対して蛍光体を高密度に充填することが好ましい。
 以下に、本発明を実施例により具体的に説明する。ただし、本発明はこれに限定されるものではない。
(隔壁用感光性ペーストの原料)
 実施例の感光性ペーストに用いた原料は次の通りである。
感光性モノマーM-1 : トリメチロールプロパントリアクリレート
感光性モノマーM-2 : テトラプロピレングリコールジメタクリレート
感光性モノマーM-3 : 下記式(A)において、R、Rは水素、Rはエチレンオキサイド-プロピレンオキサイドコオリゴマー、Rはイソフォロンジイソシアネート残基、分子量は19,000 
-(R-R-R-R (A)
感光性ポリマー:メタクリル酸/メタクリル酸メチル/スチレン=40/40/30の質量比からなる共重合体のカルボキシル基に対して0.4当量のグリシジルメタクリレートを付加反応させたもの(重量平均分子量43000、酸価100)
光重合開始剤:2-ベンジル-2-ジメチルアミノ-1-(4-モルフォリノフェニル)ブタノン-1(BASF社製 IC369)。
重合禁止剤:1,6-ヘキサンジオール-ビス[(3,5-ジ-t-ブチル-4-ヒドロキシフェニル)プロピオネート])
紫外線吸収剤溶液:スダンIV(東京応化工業株式会社製)のγ―ブチロラクトン0.3質量%溶液
バインダーポリマー:エチルセルロース(ハーキュレス社製)
粘度調整剤:フローノンEC121(共栄社化学社製)
溶媒A:γ-ブチロラクトン
溶媒B:テルピネオール
低融点ガラス粉末A: 
SiO 27質量%、B 31質量%、ZnO 6質量%、LiO 7質量%、MgO 2質量%、CaO 2質量%、BaO 2質量%、Al 23質量%、屈折率(ng):1.56、軟化温度588℃、熱膨張係数68×10-7、平均粒子径2.3μm
低融点ガラス粉末B:
SiO 28質量%、B 30質量%、ZnO 6質量%、LiO 2質量%、MgO 3質量%、CaO 3質量%、BaO 3質量%、Al 25質量%、屈折率(ng):1.551、軟化温度649℃、熱膨張係数49×10-7、平均粒子径2.1μm
低融点ガラス粉末C:
SiO 28質量%、B 23質量%、ZnO 4質量%、LiO 5質量%、KO 15質量%、MgO 4質量%、BaO 1質量%、Al 20質量%、屈折率(ng):1.563、軟化温度540℃、熱膨張係数86×10-7、平均粒子径2.2μm
低融点ガラス粉末D:
SiO 27質量%、B 33質量%、ZnO 4質量%、LiO 4質量%、KO 2質量%、MgO 2質量%、CaO 3質量%、BaO 2質量%、Al 23質量%、屈折率(ng):1.553、軟化温度613℃、熱膨張係数55×10-7、平均粒子径2.1μm
低融点ガラス粉末E:
SiO 29質量%、B 32質量%、ZnO 4質量%、LiO 6質量%、KO 8質量%、MgO 2質量%、CaO 2質量%、BaO 2質量%、Al 15質量%、屈折率(ng):1.565、軟化温度570℃、熱膨張係数70×10-7、平均粒子径2.5μm
低融点ガラス粉末F:
SiO 26質量%、B 32質量%、ZnO 2質量%、LiO 2質量%、KO 1質量%、MgO 1質量%、CaO 2質量%、BaO 10質量%、Al 24質量%、屈折率(ng):1.546、軟化温度655℃、熱膨張係数45×10-7、平均粒子径2.1μm
ガラス粉末G: 
SiO 30質量%、B 34質量%、ZnO 4質量%、LiO 1質量%、MgO 1質量%、CaO 2質量%、BaO 3質量%、Al 26質量%、屈折率(ng):1.542、軟化温度721℃、熱膨張係数38×10-7、平均粒子径2.0μm
低融点ガラス粉末H:
SiO 22質量%、B 30質量%、ZnO 1質量%、LiO 8質量%、NaO 10質量%、KO 6質量%、MgO 4質量%、BaO 11質量%、Al 8質量%、屈折率(ng):1.589、軟化温度520℃、熱膨張係数89×10-7、平均粒子径2.4μm
高融点ガラス粉末A:
SiO 30質量%、B 31質量%、ZnO 6質量%、MgO 2質量%、CaO 2質量%、BaO 2質量%、Al 27質量%、屈折率(ng):1.55、軟化温度790℃、熱膨張係数32×10-7、平均粒子径2.3μm
 (隔壁用ペーストの作製)
 上記材料を用いて、隔壁ペーストを以下の方法で作製した。
 隔壁用感光性ペーストA:感光性モノマーM-1を4質量部、感光性モノマーM-2を6質量部、感光性ポリマー24質量部、光重合開始剤6質量部、重合禁止剤0.2質量部および紫外線吸収剤溶液12.8質量部を、溶媒A38質量部に、温度80℃で加熱溶解した。得られた溶液を冷却した後、粘度調整剤を9質量部添加して、有機溶液1を作製した。有機溶液1をガラス基板に塗布して乾燥することにより得られた有機塗膜の屈折率(ng)1.555であった。
 次に、作製した有機溶液1の60質量部に、低融点ガラス粉末Aを30質量部、高融点ガラス粉末Aを10質量部添加した後、3本ローラー混練機にて混練し、隔壁用感光性ペーストAを作製した。
 隔壁用感光性ペーストB:隔壁用感光性ペーストAと同様に有機溶液1を作製した。次に、作製した有機溶液1の60質量部に、低融点ガラス粉末Bを30質量部、高融点ガラス粉末Aを10質量部添加した後、3本ローラー混練機にて混練し、隔壁用感光性ペーストBを作製した。
 隔壁用感光性ペーストC:感光性モノマーM-1を5質量部、感光性モノマーM-3を5質量部、感光性ポリマー24質量部、光重合開始剤6質量部、重合禁止剤0.2質量部および紫外線吸収剤溶液12.8質量部を、溶媒A38質量部に、温度80℃で加熱溶解した。得られた溶液を冷却した後、粘度調整剤を9質量部添加して、有機溶液2を作製した。有機溶液2をガラス基板に塗布して乾燥することにより得られた有機塗膜の屈折率(ng)は1.559であった。
 次に、作製した有機溶液2の60質量部に、低融点ガラス粉末Cを30質量部、高融点ガラス粉末Aを10質量部添加した後、3本ローラー混練機にて混練し、隔壁用感光性ペーストCを作製した。
 隔壁用感光性ペーストD:隔壁用感光性ペーストAと同様に有機溶液1を作製した。次に、作製した有機溶液1の60質量部に、低融点ガラス粉末Aを40質量部添加した後、3本ローラー混練機にて混練し、隔壁用感光性ペーストDを作製した。
 隔壁用感光性ペーストE:隔壁用感光性ペーストAと同様に有機溶液1を作製した。次に、作製した有機溶液1の60質量部に、低融点ガラス粉末Aを39質量部、高融点ガラス粉末Aを1質量部添加した後、3本ローラー混練機にて混練し、隔壁用感光性ペーストEを作製した。
 隔壁用感光性ペーストF:隔壁用感光性ペーストAと同様に有機溶液1を作製した。次に、作製した有機溶液1の60質量部に、低融点ガラス粉末Aを25質量部、高融点ガラス粉末Aを15質量部添加した後、3本ローラー混練機にて混練し、隔壁用感光性ペーストFを作製した。
 隔壁用感光性ペーストG:隔壁用感光性ペーストAと同様に有機溶液1を作製した。次に、作製した有機溶液1の60質量部に、低融点ガラス粉末Aを20質量部、高融点ガラス粉末Aを20質量部添加した後、3本ローラー混練機にて混練し、隔壁用感光性ペーストGを作製した。
 隔壁用感光性ペーストH:隔壁用感光性ペーストAと同様に有機溶液1を作製した。次に、作製した有機溶液1の60質量部に、低融点ガラス粉末Dを30質量部、高融点ガラス粉末Aを10質量部添加した後、3本ローラー混練機にて混練し、隔壁用感光性ペーストHを作製した。
 隔壁用感光性ペーストI:感光性モノマーM-1を8質量部、感光性モノマーM-3を4質量部、感光性ポリマー24質量部、光重合開始剤4質量部、重合禁止剤0.2質量部および紫外線吸収剤溶液12.8質量部を、溶媒A38質量部に、温度80℃で加熱溶解した。得られた溶液を冷却した後、粘度調整剤を9質量部添加して、有機溶液3を作製した。有機溶液3をガラス基板に塗布して乾燥することにより得られた有機塗膜の屈折率(ng)は1.553あった。
 次に、作製した有機溶液3の60質量部に、低融点ガラス粉末Aを30質量部、高融点ガラス粉末Aを10質量部添加した後、3本ローラー混練機にて混練し、隔壁用感光性ペーストIを作製した。
 隔壁用感光性ペーストJ:隔壁用感光性ペーストAと同様に有機溶液1を作製した。次に、作製した有機溶液1の60質量部に、低融点ガラス粉末Eを40質量部添加した後、3本ローラー混練機にて混練し、隔壁用感光性ペーストJを作製した。
 隔壁用感光性ペーストK:隔壁用感光性ペーストIと同様に有機溶液3を作製した。次に、作製した有機溶液3の60質量部に、低融点ガラス粉末Fを35質量部、高融点ガラス粉末Aを5質量部添加した後、3本ローラー混練機にて混練し、隔壁用感光性ペーストKを作製した。
 隔壁用感光性ペーストL:隔壁用感光性ペーストIと同様に有機溶液3を作製した。次に、作製した有機溶液3の60質量部に、低融点ガラス粉末Dを35質量部、高融点ガラス粉末Aを5質量部添加した後、3本ローラー混練機にて混練し、隔壁用感光性ペーストLを作製した。
 隔壁用感光性ペーストM:隔壁用感光性ペーストAと同様に有機溶液1を作製した。次に、作製した有機溶液1の60質量部に、ガラス粉末Gを40質量部添加した後、3本ローラー混練機にて混練し、隔壁用感光性ペーストMを作製した。
 隔壁用感光性ペーストN:隔壁用感光性ペーストCと同様に有機溶液2を作製した。次に、作製した有機溶液1の60質量部に、低融点ガラス粉末Hを30質量部、高融点ガラス粉末Aを10質量部添加した後、3本ローラー混練機にて混練し、隔壁用感光性ペーストNを作製した。
 隔壁用スクリーン印刷用ペーストA:エチルセルロールを10質量%含有するテルピネオール溶液50質量部および低融点ガラス粉末A50質量部を混合してスクリーン印刷用ペーストAを作製した。エチルセルロールを10質量%含有するテルピネオール溶液をガラス基板に塗布して乾燥することにより得られた有機塗膜の屈折率(ng)は1.49であった。
 隔壁用スクリーン印刷ペーストB:エチルセルロールを10質量%含有するテルピネオール溶液50質量部、低融点ガラス粉末Aを40質量部および高融点ガラス粉末A10質量部を混合してスクリーン印刷用ペーストBを作製した。
 (緩衝層用ペーストの原料)
隔壁用ペーストに用いた原料以外について、以下に記載する。
重合性モノマー:ジペンタエリスリトールヘキサアクリレート(共栄社化学(株)製)
熱重合開始剤: アゾビスイソブチロニトリル
酸化チタン粉末:酸化チタン粉末、平均粒子径0.1μm。
 (緩衝層用ペーストの作製)
 隔壁用感光性ペーストA 97質量部に、上記の酸化チタン粉末3質量部を添加して、再混練することにより、光硬化型の緩衝層用ペーストAを作製した。
 また、エチルセルロースを10質量%含有するテルピネオール溶液40質量部、重合性モノマー15質量部、熱重合開始剤1質量部と低融点ガラス粉末Aを40質量部、および酸化チタン粉末4質量部を混合、混練して熱硬化型の緩衝層用ペーストBを作製した。
 また、エチルセルロースを10質量%含有するテルピネオール溶液40質量部、重合性モノマー15質量部、熱重合開始剤1質量部と低融点ガラス粉末Dを40質量部、および酸化チタン粉末4質量部を混合、混練して熱硬化型の緩衝層用ペーストCを作製した。
 (緩衝層の反射率測定)
 基板上に緩衝層および隔壁が形成された隔壁部材について、緩衝層のみが形成された部分を分光測色計(コニカミノルタ社製「CM-2002」)SCEモードで測定し、波長550nmの光の反射率を評価した。
 (蛍光体体積充填率測定)
 蛍光体体積充填率は、次のようにして測定した。基板上に緩衝層および隔壁が形成された隔壁部材の重量と、さらに蛍光体充填後のシンチレータパネルの重量の差を充填された蛍光体の総重量とした。算出された蛍光体の総重量を、蛍光体の比重で除算し、蛍光体体積量を算出した。さらに、蛍光体体積量を全セル内の空間体積量で除算した計算値を、蛍光体の体積充填率とした。ここで、全セル体積量とは、隔壁で区画された1個のセル内の空間体積およびシンチレータパネルに含まれる全セル数を乗算した値である。
 また、1個のセル内の空間体積は、セルの形状から計算により求めることができる。例えば、セルの空間形状が、縦横の隔壁ピッチ、隔壁底部幅(Lb)および隔壁頂部幅がそれぞれ等しい正四角錐台である場合、1個のセル内の空間体積(V)、隔壁ピッチ(P)、隔壁底部幅(Lb)、隔壁頂部幅(Lt)および隔壁高さ(H)の関係は、下記式1で表される。
V={(P-Lb)×(P-Lt)+(P-Lb)+(P-Lt)}×H/3 ・・・(式1)
 (シンチレータパネルの反り測定)
 作製したシンチレータパネルの基板側を板ガラスなどの平板上に置き、平板とシンチレータパネル間に存在する隙間をシクネスゲージ(トラスコ中山社製)で測定し、パネルの反り量とした。
 パネルの反り量が50μm以下であれば、平滑なシンチレータパネルであり、パネル面内を全面発光させた際の発光光量の検出感度のバラつきを2%未満に抑えることが可能となり、高精細な画像を検出することができる。パネルの反り量が50μmより大きく100μm以下であれば、発光光の検出感度のバラつきがやや大きくなるが、パネル面内を全面発光させた際の発光光量の検出感度のバラつきを5%未満に抑えることが可能である。パネルの反り量が100μmより大きい場合、パネル面内を全面発光させた際の発光光量の検出感度のバラつきが5%以上となる。また、発光光のクロストークが多数発生するため、高精細な画像検出が難しくなる。
 (発光輝度の測定)
 作製したシンチレータパネルを、PaxScan2520、PaxScan4336およびPaxScan3030(Varian社製FPD)のいずれかにセットして放射線検出装置を作製した。管電圧80kVpのX線をシンチレータパネルの基板側から照射し、蛍光体層から発光された光の発光量をPaxScan2520、PaxScan4336およびPaxScan3030のいずれかで検出した。輝度の評価は、実施例1の結果に対する相対評価で行った。
 (画像欠陥の評価)
 作製したシンチレータパネルをPaxScan2520、PaxScan4336およびPaxScan3030のいずれかにセットし、放射線検出装置を作製した。管電圧80kVpのX線をシンチレータパネルの基板側から照射し、ベタ画像を撮影した。これを画像再生装置によって画像として再生し、得られたプリント画像を目視により観察して、画像欠陥、クロストークや線状ノイズの有無を評価した。
 実施例1
 500mm×500mmのガラス基板(日本電気硝子社製OA-10、熱膨張係数38×10-7、基板厚さ0.7mm)に、前記の隔壁用感光性ペーストAを乾燥厚さ500μmになるように、ダイコーターで塗布し、乾燥して、隔壁用感光性ペースト塗布膜を形成した。次に、所望の隔壁パターンに対応する開口部を形成したフォトマスク(縦横ともピッチ127μm、線幅20μmの格子状開口部を有するクロムマスク)を介して、隔壁用感光性ペースト塗布膜を超高圧水銀灯で600mJ/cmで露光した。露光後の隔壁用感光性ペースト塗布膜を、0.5%のエタノールアミン水溶液中で現像し、未露光部分を除去して、格子状の感光性ペースト塗布膜パターンを形成した。さらに585℃で15分間、空気中で感光性ペースト塗布膜パターンを焼成し、隔壁ピッチ127μm、隔壁頂部幅25μm、隔壁底部幅50μm、隔壁高さ340μmで、480mm×480mmの大きさの格子状隔壁を有する隔壁部材を得た。隔壁の空隙率は、8.3%となった。
 その後、蛍光体として、CsI:Tl(CsI:TlI=1mol:0.003mol)を隔壁により区画された空間に充填し、580℃で焼成し、蛍光体体積充填率85%のシンチレータパネル1を作製した。シンチレータパネル1の基板反り量は50μm以上、60μm以下であった。作製したシンチレータパネル1とPaxScan2520からなる放射線検出装置を評価した結果、線状ノイズを含む欠陥も無く、輝度バラつき2.5%の良好な画像が得られた。
 実施例2
 500mm×500mmのガラス基板(日本電気硝子社製OA-10)に、前記の緩衝層用ペーストAを15μmバーコーターで塗布し、乾燥した後に、超高圧水銀灯で500mJ/cmの全面光照射を行い、厚さ12μmの緩衝層用ペースト塗布膜を形成した。
 次に、該緩衝層用ペースト塗布膜の上に、前記の隔壁用感光性ペーストAを乾燥厚さ500μmになるように、ダイコーターで塗布し、乾燥して、隔壁用感光性ペースト塗布膜を形成した。次に、所望の隔壁パターンに対応する開口部を有するフォトマスク(縦横ともピッチ127μm、線幅20μmの格子状開口部を有するクロムマスク)を介して、隔壁用感光性ペースト塗布膜を超高圧水銀灯で600mJ/cmで露光した。露光後の隔壁用感光性ペースト塗布膜を、0.5%のエタノールアミン水溶液中で現像し、未露光部分を除去して、格子状の感光性ペースト塗布膜パターンを形成した。さらに585℃で15分間、空気中で、緩衝層用ペースト塗布膜と感光性ペースト塗布膜パターンを同時焼成し、隔壁ピッチ127μm、隔壁頂部幅25μm、隔壁底部幅50μm、隔壁高さ340μmで、480mm×480mmの大きさの格子状隔壁を有する隔壁部材を得た。緩衝層のみを形成した部分の波長550nmの光に対する反射率は、65%であった。また、隔壁の空隙率は、8.0%となった。
 その後、蛍光体として、CsI:Tl(CsI:TlI=1mol:0.003mol)を隔壁により区画された空間に充填し、580℃で焼成し、蛍光体体積充填率85%のシンチレータパネル2を作製した。シンチレータパネル2の基板反り量は70μm以上、80μm以下であった。作製したシンチレータパネル2とPaxScan2520からなる放射線検出装置を評価した結果、線状ノイズを含む欠陥も無く、輝度バラつき3.5%の良好な画像が得られ、輝度は実施例1の130%であった。
 実施例3
 隔壁用感光性ペーストBを用いて、焼成を645℃で15分間実施した以外は実施例2と同様に隔壁部材を作製した。得られた隔壁部材の隔壁は、隔壁ピッチ127μm、隔壁頂部幅22μm、隔壁底部幅60μm、隔壁高さ325μmで、480mm×480mmの大きさの格子状隔壁であった。緩衝層のみを形成した部分の波長550nmの光に対する反射率は、53%であった。また、隔壁の空隙率は、9.5%であった。
 その後、蛍光体として、CsI:Tl(CsI:TlI=1mol:0.003mol)を隔壁により区画された空間に充填し、580℃で焼成し、蛍光体体積充填率85%のシンチレータパネル3を作製した。シンチレータパネル3の基板反り量は30μm以下であった。作製したシンチレータパネル3とPaxScan2520からなる放射線検出装置を評価した結果、線状ノイズを含む欠陥も無く、輝度バラつき1.0%の良好な画像が得られ、輝度は実施例1の106%であった。
 実施例4
 隔壁用感光性ペーストCを用いて、焼成を540℃で15分間実施した以外は実施例2と同様に隔壁部材を作製した。得られた隔壁部材の隔壁は、隔壁ピッチ127μm、隔壁頂部幅23μm、隔壁底部幅55μm、隔壁高さ320μmで、480mm×480mmの大きさの格子状隔壁であった。緩衝層のみを形成した部分の波長550nmの光に対する反射率は、70%であった。また、隔壁の空隙率は、4.4%であった。
 その後、蛍光体として、CsI:Tl(CsI:TlI=1mol:0.003mol)を隔壁により区画された空間に充填し、560℃で焼成し、蛍光体体積充填率85%のシンチレータパネル4を作製した。シンチレータパネル4の基板反り量は130μm以上、150μm以下であった。作製したシンチレータパネル4とPaxScan2520からなる放射線検出装置を評価した結果、輝度は実施例1の110%、輝度バラつき6.5%であった。
 実施例5
 隔壁用感光性ペーストDを用いた以外は実施例2と同様に隔壁部材を作製した。得られた隔壁部材の隔壁は、隔壁ピッチ127μm、隔壁頂部幅24μm、隔壁底部幅53μm、隔壁高さ320μmで、480mm×480mmの大きさの格子状隔壁であった。緩衝層のみを形成した部分の波長550nmの光に対する反射率は、65%であった。また、隔壁の空隙率は、0.8%であった。
 その後、蛍光体として、CsI:Tl(CsI:TlI=1mol:0.003mol)を隔壁により区画された空間に充填し、580℃で焼成し、蛍光体体積充填率85%のシンチレータパネル5を作製した。シンチレータパネル5の基板反り量は130μm以上、150μm以下であった。作製したシンチレータパネル5とPaxScan2520からなる放射線検出装置を評価した結果、輝度は実施例1の105%、輝度バラつき6.0%であった。
 実施例6
 隔壁用感光性ペーストEを用いた以外は実施例2と同様に隔壁部材を作製した。得られた隔壁部材の隔壁は、隔壁ピッチ127μm、隔壁頂部幅24μm、隔壁底部幅53μm、隔壁高さ320μmで、480mm×480mmの大きさの格子状隔壁であった。緩衝層のみを形成した部分の波長550nmの光に対する反射率は、65%であった。また、隔壁の空隙率は、2.0%であった。
 その後、蛍光体として、CsI:Tl(CsI:TlI=1mol:0.003mol)を隔壁により区画された空間に充填し、580℃で焼成し、蛍光体体積充填率85%のシンチレータパネル6を作製した。シンチレータパネル6の基板反り量は90μm以上、100μm以下であった。作製したシンチレータパネル6とPaxScan2520からなる放射線検出装置を評価した結果、線状ノイズを含む欠陥も無く、輝度バラつき4.7%の良好な画像が得られ、輝度は実施例1の120%であった。
 実施例7
 隔壁用感光性ペーストFを用いた以外は実施例2と同様に隔壁部材を作製した。得られた隔壁部材の隔壁は、隔壁ピッチ127μm、隔壁頂部幅34μm、隔壁底部幅60μm、隔壁高さ370μmで、480mm×480mmの大きさの格子状隔壁であった。緩衝層のみを形成した部分の波長550nmの光に対する反射率は、65%であった。また、隔壁の空隙率は、24.8%であった。
 その後、蛍光体として、CsI:Tl(CsI:TlI=1mol:0.003mol)を隔壁により区画された空間に充填し、580℃で焼成し、蛍光体体積充填率85%のシンチレータパネル7を作製した。シンチレータパネル7の基板反り量は50μm以上、60μm以下であった。作製したシンチレータパネル7とPaxScan2520からなる放射線検出装置を評価した結果、線状ノイズを含む欠陥も無く、輝度バラつき2.2%の良好な画像が得られ、輝度は実施例1の140%であった。
 実施例8
 隔壁用感光性ペーストGを用いた以外は実施例2と同様に隔壁部材を作製した。得られた隔壁部材の隔壁は、隔壁ピッチ127μm、隔壁頂部幅35μm、隔壁底部幅60μm、隔壁高さ380μmで、480mm×480mmの大きさの格子状隔壁であった。緩衝層のみを形成した部分の波長550nmの光に対する反射率は、65%であった。また、隔壁の空隙率は、32.3%であった。
 その後、蛍光体として、CsI:Tl(CsI:TlI=1mol:0.003mol)を隔壁により区画された空間に充填し、580℃で焼成し、蛍光体体積充填率85%のシンチレータパネル8を作製した。シンチレータパネル8の基板反り量は50μm以上、60μm以下であった。作製したシンチレータパネル8とPaxScan2520からなる放射線検出装置を評価した結果、輝度は実施例1の140%、輝度バラつき2.1%のであった。しかし、画像欠陥が面内に15箇所発生した。
 実施例9
 隔壁用感光性ペーストHを用いて、焼成を620℃で15分間実施した以外は実施例2と同様に隔壁部材を作製した。得られた隔壁部材の隔壁は、隔壁ピッチ127μm、隔壁頂部幅25μm、隔壁底部幅40μm、隔壁高さ340μmで、480mm×480mmの大きさの格子状隔壁であった。緩衝層のみを形成した部分の波長550nmの光に対する反射率は、60%であった。また、隔壁の空隙率は、9.4%であった。
 その後、蛍光体として、CsI:Tl(CsI:TlI=1mol:0.003mol)を隔壁により区画された空間に充填し、580℃で焼成し、蛍光体体積充填率85%のシンチレータパネル9を作製した。シンチレータパネル9の基板反り量は30μm以上、40μm以下であった。作製したシンチレータパネル9とPaxScan2520からなる放射線検出装置を評価した結果、線状ノイズを含む欠陥も無く、輝度バラつき1.2%の良好な画像が得られ、輝度は実施例1の135%であった。
 実施例10
 500mm×500mmのガラス基板(日本電気硝子社製OA-10)に、前記の緩衝層用ペーストBを15μmバーコーターで塗布し、150℃、30分間乾燥・加熱硬化させて厚さ12μmの緩衝層用ペースト塗布膜を形成した以外は実施例2と同様に隔壁部材を作製した。得られた隔壁部材の隔壁は、隔壁ピッチ127μm、隔壁頂部幅25μm、隔壁底部幅48μm、隔壁高さ340μmで、480mm×480mmの大きさの格子状隔壁であった。緩衝層のみを形成した部分の波長550nmの光に対する反射率は、66%であった。また、隔壁の空隙率は、8.1%となった。
 その後、蛍光体として、CsI:Tl(CsI:TlI=1mol:0.003mol)を隔壁により区画された空間に充填し、580℃で焼成し、蛍光体体積充填率85%のシンチレータパネル10を作製した。シンチレータパネル10の基板反り量は70μm以上、80μm以下であった。作製したシンチレータパネル10とPaxScan2520からなる放射線検出装置を評価した結果、線状ノイズを含む欠陥も無く、輝度バラつき3.5%の良好な画像が得られ、輝度は実施例1の141%であった。
 実施例11
 500mm×500mmのガラス基板(日本電気硝子社製OA-10)に、前記の緩衝層用ペーストBを15μmバーコーターで塗布し、150℃、30分間乾燥および加熱硬化させて厚さ12μmの緩衝層用ペースト塗布膜を形成した。基板上に形成した緩衝層用ペースト塗布膜を585℃で15分間、空気中で、焼成して緩衝層を形成した。以下、実施例2と同様に、隔壁用感光性ペーストを形成し、格子状の感光性ペースト塗布膜パターンを形成した。さらに、585℃で15分間、空気中で感光性ペースト塗布膜パターンを焼成した。得られた隔壁部材の隔壁は、隔壁ピッチ127μm、隔壁頂部幅25μm、隔壁底部幅51μm、隔壁高さ340μmで、480mm×480mmの大きさの格子状隔壁であった。緩衝層のみを形成した部分の波長550nmの光に対する反射率は、60%であった。また、隔壁の空隙率は、8.1%となった。
 その後、蛍光体として、CsI:Tl(CsI:TlI=1mol:0.003mol)を隔壁により区画された空間に充填し、580℃で焼成し、蛍光体体積充填率85%のシンチレータパネル11を作製した。シンチレータパネル11の基板反り量は90μm以上、100μm以下であった。作製したシンチレータパネル11とPaxScan2520からなる放射線検出装置を評価した結果、線状ノイズを含む欠陥も無く、輝度バラつき4.4%の良好な画像が得られ、輝度は実施例1の132%であった。
 実施例12
 隔壁用感光性ペーストIを用いた以外は実施例10と同様に隔壁部材を作製した。得られた隔壁部材の隔壁は、隔壁ピッチ127μm、隔壁頂部幅25μm、隔壁底部幅60μm、隔壁高さ340μmで、480mm×480mmの大きさの格子状隔壁であった。緩衝層のみを形成した部分の波長550nmの光に対する反射率は、65%であった。また、隔壁の空隙率は、8.2%となった。
 その後、蛍光体として、CsI:Tl(CsI:TlI=1mol:0.003mol)を隔壁により区画された空間に充填し、580℃で焼成し、蛍光体体積充填率85%のシンチレータパネル12を作製した。シンチレータパネル12の基板反り量は70μm以上、80μm以下であった。作製したシンチレータパネル12とPaxScan2520からなる放射線検出装置を評価した結果、線状ノイズを含む欠陥も無く、輝度バラつき3.5%の良好な画像が得られ、輝度は実施例1の135%であった。
 実施例13
 隔壁用感光性ペーストJを用い、焼成温度を565℃15分とした以外は実施例1と同様に隔壁部材を作製した。しかし、感光性ペースト塗布膜露光時の露光量の調整を実施したが、感光性ペーストパターンの一部に埋まりが発生し、面内均一な隔壁幅の隔壁は得られなかった。適当な露光量として、超高圧水銀灯で500mJ/cmで露光し、形成して得られた隔壁は、埋りが発生していない箇所を測定し、隔壁ピッチ127μm、隔壁頂部幅25μm、隔壁底部幅75μm、隔壁高さ340μmで、480mm×480mmの大きさの格子状隔壁であった。緩衝層のみを形成した部分の波長550nmの光に対する反射率は、67%であったが、緩衝用ペーストの低融点ガラスの焼結が進まず、隔壁と緩衝層の界面に亀裂が発生した。また、隔壁の空隙率は、3.0%であった。
 その後、蛍光体として、CsI:Tl(CsI:TlI=1mol:0.003mol)を隔壁により区画された空間に充填し、550℃で焼成し、蛍光体体積充填率85%のシンチレータパネル13を作製した。シンチレータパネル13の基板反り量は90μm以上、100μm以下であった。作製したシンチレータパネル13の評価の結果、輝度は実施例1の110%、輝度バラつき4.2%であった。
 実施例14
 実施例2と同様にガラス基板上に緩衝層用ペースト塗布膜を形成した。次に、前記の隔壁用感光性ペーストAを乾燥厚さ590μmになるように、ダイコーターで塗布し、乾燥して、隔壁用感光性ペースト塗布膜を形成した。次に、所望の隔壁パターンに対応する開口部を形成したフォトマスク(縦横ともピッチ127μm、線幅20μmの格子状開口部を有するクロムマスク)を介して、隔壁用感光性ペースト塗布膜を超高圧水銀灯で750mJ/cmで露光した。露光後の隔壁用感光性ペースト塗布膜を、0.5%のエタノールアミン水溶液中で現像し、未露光部分を除去して、格子状の感光性ペースト塗布膜パターンを形成した。さらに585℃で15分間、空気中で、緩衝層用ペースト塗布膜と感光性ペースト塗布膜パターンを同時焼成し、隔壁ピッチ127μm、隔壁頂部幅27μm、隔壁底部幅65μm、隔壁高さ400μmで、480mm×480mmの大きさの格子状隔壁を有する隔壁部材を得た。緩衝層のみを形成した部分の波長550nmの光に対する反射率は、65%であった。また、隔壁の空隙率は、8.1%となった。
 その後、蛍光体として、CsI:Tl(CsI:TlI=1mol:0.003mol)を隔壁により区画された空間に充填し、580℃で焼成し、蛍光体体積充填率71%のシンチレータパネル14を作製した。シンチレータパネル14の基板反り量は60μm以上、70μm以下であった。作製したシンチレータパネル14とPaxScan2520からなる放射線検出装置を評価した結果、線状ノイズを含む欠陥も無く、輝度バラつき3.2%の良好な画像が得られ、輝度は実施例1の119%であった。
 実施例15
 実施例2と同様にガラス基板上に緩衝層用ペースト塗布膜を形成した。次に、前記の隔壁用感光性ペーストAを乾燥厚さ740μmになるように、ダイコーターで塗布し、乾燥して、隔壁用感光性ペースト塗布膜を形成した。次に、所望の隔壁パターンに対応する開口部を形成したフォトマスク(縦横ともピッチ194μm、線幅20μmの格子状開口部を有するクロムマスク)を介して、隔壁用感光性ペースト塗布膜を超高圧水銀灯で950mJ/cmで露光した。露光後の隔壁用感光性ペースト塗布膜を、0.5%のエタノールアミン水溶液中で現像し、未露光部分を除去して、格子状の感光性ペースト塗布膜パターンを形成した。さらに585℃で15分間、空気中で、緩衝層用ペースト塗布膜と感光性ペースト塗布膜パターンを同時焼成し、隔壁ピッチ194μm、隔壁頂部幅28μm、隔壁底部幅58μm、隔壁高さ500μmで、480mm×480mmの大きさの格子状隔壁を有する隔壁部材を得た。緩衝層のみを形成した部分の波長550nmの光に対する反射率は、64%であった。また、隔壁の空隙率は、7.9%となった。
 その後、蛍光体として、CsI:Tl(CsI:TlI=1mol:0.003mol)を隔壁により区画された空間に、いっぱいに充填し、580℃で焼成し、蛍光体体積充填率60%のシンチレータパネル15を作製した。シンチレータパネル15の基板反り量は70μm以上、80μm以下であった。
 作製したシンチレータパネル15とPaxScan3030からなる放射線検出装置を評価した結果、線状ノイズを含む欠陥も無く、輝度バラつき3.8%の良好な画像が得られ、輝度は実施例1の109%であった。
 実施例16
 実施例2と同様にガラス基板上に緩衝層用ペースト塗布膜を形成した。次に、前記の隔壁用感光性ペーストAを乾燥厚さ210μmになるように、ダイコーターで塗布し、乾燥して、隔壁用感光性ペースト塗布膜を形成した。次に、所望の隔壁パターンに対応する開口部を形成したフォトマスク(縦横ともピッチ63.5μm、線幅14μmの格子状開口部を有するクロムマスク)を介して、隔壁用感光性ペースト塗布膜を超高圧水銀灯で450mJ/cmで露光した。露光後の隔壁用感光性ペースト塗布膜を、0.5%のエタノールアミン水溶液中で現像し、未露光部分を除去して、格子状の感光性ペースト塗布膜パターンを形成した。さらに585℃で15分間、空気中で、緩衝層用ペースト塗布膜と感光性ペースト塗布膜パターンを同時焼成し、隔壁ピッチ63.5μm、隔壁頂部幅16μm、隔壁底部幅22μm、隔壁高さ160μmで、480mm×480mmの大きさの格子状隔壁を有する隔壁部材を得た。緩衝層のみを形成した部分の波長550nmの光に対する反射率は、64%であった。また、隔壁の空隙率は、7.9%となった。
 その後、蛍光体として、CsI:Tl(CsI:TlI=1mol:0.003mol)を隔壁により区画された空間に充填し、580℃で焼成し、蛍光体体積充填率85%のシンチレータパネル16を作製した。シンチレータパネル16の基板反り量は60μm以上、70μm以下であった。作製したシンチレータパネル16とPaxScan2520からなる放射線検出装置を評価した結果、線状ノイズを含む欠陥も無く、輝度バラつき3.0%の良好な画像が得られ、輝度は実施例1の92%であった。
 実施例17
 実施例2と同様にガラス基板上に緩衝層用ペースト塗布膜を形成した。次に、前記の隔壁用感光性ペーストAを乾燥厚さ680μmになるように、ダイコーターで塗布し、乾燥して、隔壁用感光性ペースト塗布膜を形成した。次に、所望の隔壁パターンに対応する開口部を形成したフォトマスク(縦横ともピッチ139μm、線幅20μmの格子状開口部を有するクロムマスク)を介して、隔壁用感光性ペースト塗布膜を超高圧水銀灯で820mJ/cmで露光した。露光後の隔壁用感光性ペースト塗布膜を、0.5%のエタノールアミン水溶液中で現像し、未露光部分を除去して、格子状の感光性ペースト塗布膜パターンを形成した。さらに585℃で15分間、空気中で、緩衝層用ペースト塗布膜と感光性ペースト塗布膜パターンを同時焼成し、隔壁ピッチ139μm、隔壁頂部幅26μm、隔壁底部幅51μm、隔壁高さ450μmで、480mm×480mmの大きさの格子状隔壁を有する隔壁部材を得た。緩衝層のみを形成した部分の波長550nmの光に対する反射率は、65%であった。また、隔壁の空隙率は、8.1%となった。
 その後、蛍光体として、CsI:Tl(CsI:TlI=1mol:0.003mol)を隔壁により区画された空間に充填し、580℃で焼成し、蛍光体体積充填率85%のシンチレータパネル17を作製した。シンチレータパネル17の基板反り量は60μm以上、70μm以下であった。作製したシンチレータパネル17とPaxScan4336からなる放射線検出装置を評価した結果、線状ノイズを含む欠陥も無く、輝度バラつき3.6%の良好な画像が得られ、輝度は実施例1の140%であった。
 実施例18
 隔壁用感光性ペーストK、緩衝層ペーストCを用いて、焼成を650℃で15分間実施した以外は実施例10と同様に隔壁部材を作製した。得られた隔壁部材の隔壁は、隔壁ピッチ127μm、隔壁頂部幅24μm、隔壁底部幅70μm、隔壁高さ370μmで、480mm×480mmの大きさの格子状隔壁であった。緩衝層のみを形成した部分の波長550nmの光に対する反射率は、66%であった。また、隔壁の空隙率は、14.1%であった。
 その後、蛍光体として、CsI:Tl(CsI:TlI=1mol:0.003mol)を隔壁により区画された空間に充填し、580℃で焼成し、蛍光体体積充填率85%のシンチレータパネル18を作製した。シンチレータパネル18の基板反り量は30μm以下であった。作製したシンチレータパネル18とPaxScan2520からなる放射線検出装置を評価した結果、線状ノイズを含む欠陥も無く、輝度バラつき1.3%の良好な画像が得られ、輝度は実施例1の128%であった。
 実施例19
 実施例10と同様にガラス基板上に緩衝層用ペースト塗布膜を形成した。次に、前記の隔壁用感光性ペーストHを乾燥厚さ290μmになるように、ダイコーターで塗布し、乾燥して、隔壁用感光性ペースト塗布膜を形成した。次に、所望の隔壁パターンに対応する開口部を形成したフォトマスク(縦横ともピッチ127μm、線幅20μmの格子状開口部を有するクロムマスク)を介して、隔壁用感光性ペースト塗布膜を超高圧水銀灯で550mJ/cmで露光した。露光後の隔壁用感光性ペースト塗布膜を、0.5%のエタノールアミン水溶液中で現像し、未露光部分を除去して、格子状の感光性ペースト塗布膜パターンを形成した。さらに620℃で15分間、空気中で、緩衝層用ペースト塗布膜と感光性ペースト塗布膜パターンを同時焼成し、隔壁ピッチ127μm、隔壁頂部幅20μm、隔壁底部幅30μm、隔壁高さ200μmで、480mm×480mmの大きさの格子状隔壁を有する隔壁部材を得た。緩衝層のみを形成した部分の波長550nmの光に対する反射率は、61%であった。また、隔壁の空隙率は、9.0%となった。
 その後、蛍光体として、CsI:Tl(CsI:TlI=1mol:0.003mol)を隔壁により区画された空間に充填し、580℃で焼成し、蛍光体体積充填率85%のシンチレータパネル19を作製した。シンチレータパネル19の基板反り量は30μm以上、40μm以下であった。作製したシンチレータパネル19とPaxScan2520からなる放射線検出装置を評価した結果、線状ノイズを含む欠陥も無く、輝度バラつき0.9%の良好な画像が得られ、輝度は実施例1の96%であった。
 実施例20
 隔壁用感光性ペーストHを乾燥厚み360μmとし、超高圧水銀灯で600mJ/cmで露光した以外は、実施例19と同様に隔壁部材を作製した。得られた隔壁部材の隔壁は、隔壁ピッチ127μm、隔壁頂部幅22μm、隔壁底部幅35μm、隔壁高さ250μmで、480mm×480mmの大きさの格子状隔壁を有する隔壁部材を得た。緩衝層のみを形成した部分の波長550nmの光に対する反射率は、61%であった。また、隔壁の空隙率は、9.2%となった。
 その後、蛍光体として、CsI:Tl(CsI:TlI=1mol:0.003mol)を隔壁により区画された空間に充填し、580℃で焼成し、蛍光体体積充填率90%のシンチレータパネル20を作製した。シンチレータパネル20の基板反り量は30μm以上、40μm以下であった。作製したシンチレータパネル20とPaxScan2520からなる放射線検出装置を評価した結果、線状ノイズを含む欠陥も無く、輝度バラつき1.8%の良好な画像が得られ、輝度は実施例1の115%であった。
 実施例21
 実施例15と同様にガラス基板上に緩衝層用ペースト塗布膜を形成した。次に、前記の隔壁用感光性ペーストAを乾燥厚さ580μmになるように、ダイコーターで塗布し、乾燥して、隔壁用感光性ペースト塗布膜を形成した。次に、所望の隔壁パターンに対応する開口部を形成したフォトマスク(縦横ともピッチ194μm、線幅20μmの格子状開口部を有するクロムマスク)を介して、隔壁用感光性ペースト塗布膜を超高圧水銀灯で1000mJ/cmで露光した。露光後の隔壁用感光性ペースト塗布膜を、0.5%のエタノールアミン水溶液中で現像し、未露光部分を除去して、格子状の感光性ペースト塗布膜パターンを形成した。さらに585℃で15分間、空気中で、緩衝層用ペースト塗布膜と感光性ペースト塗布膜パターンを同時焼成し、隔壁ピッチ194μm、隔壁頂部幅25μm、隔壁底部幅50μm、隔壁高さ400μmで、480mm×480mmの大きさの格子状隔壁を有する隔壁部材を得た。緩衝層のみを形成した部分の波長550nmの光に対する反射率は、66%であった。また、隔壁の空隙率は、8.5%となった。
 その後、蛍光体として、CsI:Tl(CsI:TlI=1mol:0.003mol)を隔壁により区画された空間に、いっぱいに充填し、580℃で焼成し、蛍光体体積充填率50%のシンチレータパネル21を作製した。シンチレータパネル21の基板反り量は50μm以上、60μm以下であった。
 作製したシンチレータパネル21とPaxScan3030からなる放射線検出装置を評価した結果、線状ノイズを含む欠陥も無く、輝度バラつき2.1%の良好な画像が得られ、輝度は実施例1の94%であった。
 実施例22
 隔壁用感光性ペーストHを乾燥厚み500μmとし、超高圧水銀灯で600mJ/cmで露光した以外は、実施例19と同様に隔壁部材を作製した。得られた隔壁部材の隔壁は、隔壁ピッチ127μm、隔壁頂部幅24μm、隔壁底部幅45μm、隔壁高さ340μmで、480mm×480mmの大きさの格子状隔壁を有する隔壁部材を得た。緩衝層のみを形成した部分の波長550nmの光に対する反射率は、61%であった。また、隔壁の空隙率は、9.2%となった。
 その後、蛍光体として、CsI:Tl(CsI:TlI=1mol:0.003mol)を隔壁により区画された空間に充填し、580℃で焼成し、蛍光体体積充填率66%のシンチレータパネル22を作製した。シンチレータパネル22の基板反り量は30μm以上、40μm以下であった。作製したシンチレータパネル22とPaxScan2520からなる放射線検出装置を評価した結果、線状ノイズを含む欠陥も無く、輝度バラつき1.4%の良好な画像が得られ、輝度は実施例1の108%であった。
 実施例23
 隔壁用感光性ペーストHを用いて、実施例22と同様に隔壁部材を作製した。得られた隔壁部材の隔壁は、隔壁ピッチ127μm、隔壁頂部幅25μm、隔壁底部幅50μm、隔壁高さ340μmで、480mm×480mmの大きさの格子状隔壁を有する隔壁部材を得た。緩衝層のみを形成した部分の波長550nmの光に対する反射率は、62%であった。また、隔壁の空隙率は、9.4%となった。
 その後、蛍光体として、CsI:Tl(CsI:TlI=1mol:0.003mol)を隔壁により区画された空間に充填し、580℃で焼成し、蛍光体体積充填率105%のシンチレータパネル23を作製した。シンチレータパネル23の基板反り量は50μm以上、60μm以下であった。作製したシンチレータパネル23とPaxScan2520からなる放射線検出装置を評価した結果、面内の20箇所に発光光のクロストークが発生したが、画像は得られ、輝度は実施例1の145%であった。
 実施例24
 実施例10と同様にガラス基板上に緩衝層用ペースト塗布膜を形成した。次に、前記の隔壁用感光性ペーストAを乾燥厚み1000μmになるように、ダイコーターで塗布し、乾燥して、隔壁用感光性ペースト塗布膜を形成した。次に、所望の隔壁パターンに対応する開口部を形成したフォトマスク(縦横ともピッチ508μm、線幅35μmの格子状開口部を有するクロムマスク)を介して、隔壁用感光性ペースト塗布膜を超高圧水銀灯で1750mJ/cmで露光した。露光後の隔壁用感光性ペースト塗布膜を、0.5%のエタノールアミン水溶液中で現像し、未露光部分を除去して、格子状の感光性ペースト塗布膜パターンを形成した。さらに585℃で15分間、空気中で、緩衝層用ペースト塗布膜と感光性ペースト塗布膜パターンを同時焼成し、隔壁ピッチ508μm、隔壁頂部幅45μm、隔壁底部幅100μm、隔壁高さ700μmで、480mm×480mmの大きさの格子状隔壁を有する隔壁部材を得た。緩衝層のみを形成した部分の波長550nmの光に対する反射率は、65%であった。また、隔壁の空隙率は、10.2%となった。
 その後、蛍光体として、CsI:Tl(CsI:TlI=1mol:0.003mol)を隔壁により区画された空間に充填し、580℃で焼成し、蛍光体体積充填率85%のシンチレータパネル24を作製した。シンチレータパネル24の基板反り量は130μm以上、150μm以下であった。作製したシンチレータパネル24とPaxScan2520からなる放射線検出装置を評価した結果、4画素毎に周期的な検出ムラがある画像得られた。輝度は実施例1の115%であった。
 実施例25
 隔壁用感光性ペーストH、緩衝層ペーストCを用いて、感光性ペースト塗布膜の厚みを620μmとし、超高圧水銀灯で700mJ/cmで露光した以外は、実施例19と同様に隔壁部材を作製した。得られた隔壁部材の隔壁は、隔壁ピッチ127μm、隔壁頂部幅25μm、隔壁底部幅37μm、隔壁高さ420μmで、480mm×480mmの大きさの格子状隔壁を有する隔壁部材を得た。緩衝層のみを形成した部分の波長550nmの光に対する反射率は、68%であった。また、隔壁の空隙率は、9.4%となった。
 その後、蛍光体として、CsI:Tl(CsI:TlI=1mol:0.003mol)を隔壁により区画された空間に充填し、580℃で焼成し、蛍光体体積充填率85%のシンチレータパネル25を作製した。シンチレータパネル25の基板反り量は40μm以上、50μm以下であった。作製したシンチレータパネル25とPaxScan2520からなる放射線検出装置を評価した結果、線状ノイズを含む欠陥も無く、輝度バラつき1.8%の良好な画像が得られ、輝度は実施例1の152%であった。
 実施例26
 500mm×500mmのガラス基板(日本電気硝子社製OA-10)に、前記の緩衝層用ペーストAを15μmバーコーターで塗布し、乾燥した後に、500mJ/cmの全面光照射を行い、約12μmの緩衝層を形成した。
 次に、前期の隔壁用感光性ペーストを乾燥厚さ400μmになるように、ダイコーターで塗布し、乾燥した。次に、隔壁パターンに対応する開口部を形成したフォトマスク(縦横ともピッチ160μm、線幅20μmの格子状開口部を有するクロムマスク)を介して露光した。露光後、0.5%のエタノールアミン水溶液中で現像し、さらに585℃で15分間、空気中で焼成し、隔壁ピッチ160μm、隔壁頂部幅30μm、隔壁底部幅55μm、隔壁高さ340μmで、480mm×480mmの大きさの格子状隔壁を有する隔壁部材を得た。緩衝層のみを形成した部分の波長550nmの光に対する反射率は、72%であった。また、隔壁の空隙率は、8.3%となった。
 その後、CsI:Tl(CsI:TlI=1mol:0.003mol)を隔壁により区画された空間に充填し、580℃で焼成し、蛍光体体積充填率85%のシンチレータパネル26を作成した。
 作成したシンチレータパネル26の基板反り量は70μm以上、80μm以下であった。作製したシンチレータパネル26とPaxScan2520からなる放射線検出装置を評価した結果、線状ノイズを含む欠陥も無く、輝度バラつき3.5%の良好な画像が得られ、輝度は実施例1の108%であった。
 実施例27
 緩衝層ペーストAを30μmバーコーターで塗布し、乾燥した後、超高圧水銀灯で600mJ/cmの全面光照射を行い、厚さ23μmの緩衝層用ペースト塗布膜を形成した以外は実施例3と同様に隔壁部材を作製した。得られた隔壁部材の隔壁は、隔壁ピッチ127μm、隔壁頂部幅22μm、隔壁底部幅55μm、隔壁高さ325μmで、480mm×480mmの大きさの格子状隔壁であった。緩衝層のみを形成した部分の波長550nmの光に対する反射率は、64%であった。また、隔壁の空隙率は、9.5%であった。
 その後、蛍光体として、CsI:Tl(CsI:TlI=1mol:0.003mol)を隔壁により区画された空間に充填し、580℃で焼成し、蛍光体体積充填率95%のシンチレータパネル3を作製した。シンチレータパネル3の基板反り量は30μm以上、40μm以下であった。作製したシンチレータパネル27とPaxScan2520からなる放射線検出装置を評価した結果、線状ノイズを含む欠陥も無く、輝度バラつき1.9%の良好な画像が得られ、輝度は実施例1の128%であった。
 比較例1
 500mm×500mmのガラス基板(日本電気硝子社製OA-10)に、前述の緩衝層用スクリーン印刷用ペーストBを、スクリーン印刷により15μmの膜厚で塗工し、乾燥させて、緩衝層用ペースト塗布膜を形成した。その後、縦方向及び横方向のピッチ160μm、開口長さ130μm×130μm、壁幅35μmで所定の画素数に見合う大きさのパターンを用いて前記隔壁用スクリーン印刷用ガラスペーストAをスクリーン印刷によって、膜厚40μmでの塗布及び乾燥を12層繰り返した。その後、550℃の空気中で焼成を行い、隔壁頂部幅35μm、隔壁底部幅65μm、隔壁高さ450μmで所定の画素数に見合う大きさとして480mm×480mmの大きさの隔壁を形成した。緩衝層のみを形成した部分の550nmの光に対する反射率は、69%であった。また、隔壁の空隙率は、2%であった。
 その後、CsI:Tl(CsI:TlI=1mol:0.003mol)を隔壁により区画された空間に充填し、580℃で焼成し、蛍光体体積充填率60%のシンチレータパネル28を作成した。隔壁パターン構造の歪みのため、隔壁により区画された空間にこれ以上は蛍光体充填することはできなかった。
 作成したシンチレータパネル28の基板反り量は80μm以上、100μm以下であった。作製したシンチレータパネル28とPaxScan2520からなる放射線検出装置を評価した結果、輝度は実施例1の88%であった。画像に関しても、画像欠陥が面内に40箇所以上発生した。
 比較例2
 500mm×500mmのガラス基板(日本電気硝子社製OA-10)に、前述の緩衝層用スクリーン印刷用ペーストBを、スクリーン印刷により15μmの膜厚で塗工し、乾燥させて、緩衝層用ペースト塗布膜を形成した。次に、該緩衝層用ペースト塗布膜の上に、前記隔壁スクリーン印刷ペーストAをスクリーン印刷によって塗布した。スクリーン版として、縦方向および横方向のピッチ127μm、開口長さ92μm×92μm、壁幅35μmで所定の画素数に見合う大きさの格子状のパターンを有するスクリーンを用いて、1回あたり膜厚40μmの塗布および乾燥を10回繰り返し、高さ400μmの格子状の隔壁パターンを得た。その後、550℃の空気中で、緩衝層用ペースト塗布膜と隔壁パターンを585℃で15分間、空気中で同時焼成し、隔壁ピッチ127μm、隔壁頂部幅35μm、隔壁底部幅55μm、隔壁高さ340μmで、480mm×480mmの大きさの格子状隔壁を有する隔壁部材を形成した。緩衝層のみを形成した部分の波長550nmの光に対する反射率は、65%であった。また、隔壁の空隙率は、1.5%であった。
 その後、蛍光体として、CsI:Tl(CsI:TlI=1mol:0.003mol)を隔壁により区画された空間に充填し、580℃で焼成し、蛍光体体積充填率65%のシンチレータパネル29を作製した。シンチレータパネル29の基板反り量は80μm以上、100μm以下であった。作製したシンチレータパネル29の評価の結果、輝度は実施例1の88%しかなかった。また、輝度バラつき7.5%発生し、画像欠陥が面内に35箇所発生した。
 比較例3
 隔壁用スクリーン印刷ペーストBを用いた以外、比較例2と同様に隔壁部材を作製した。得られた隔壁部材の隔壁は、隔壁ピッチ127μm、隔壁頂部幅35μm、隔壁底部幅55μm、隔壁高さ350μmで、480mm×480mmの大きさの格子状隔壁をであった。緩衝層のみを形成した部分の波長550nmの光に対する反射率は、65%であった。また、隔壁の空隙率は、4.1%であった。
 その後、CsI:Tl(CsI:TlI=1mol:0.003mol)を隔壁により区画された空間に充填し、580℃で焼成し、蛍光体体積充填率60%のシンチレータパネル30を作製した。シンチレータパネル30の基板反り量は60μm以上、70μm以下であった。作製したシンチレータパネル30の評価の結果、輝度は実施例1の90%しかなかった。また、輝度バラつき6.5%、画像欠陥が面内に35箇所発生した。
 比較例4
 隔壁用感光性ペーストMを用いて、焼成温度を710℃20分とした以外は実施例2と同様に隔壁部材を作製した。得られた隔壁部材の隔壁は、隔壁ピッチ127μm、隔壁頂部幅35μm、隔壁底部幅48μm、隔壁高さ380μmで、480mm×480mmの大きさの格子状隔壁であった。緩衝層のみを形成した部分の波長550nmの光に対する反射率は、53%であった。また、隔壁の空隙率は、30%であった。得られたパネルの反り量は700μm以上、800μm以下と大きく歪み、また、隔壁の欠けや割れが発生するためパネル化することができなかった。
 比較例5
 隔壁用感光性ペーストNを用いて、焼成温度を530℃15分とした以外は実施例2と同様に隔壁部材を作製した。得られた隔壁部材の隔壁は、隔壁ピッチ127μm、隔壁頂部幅35μm、隔壁底部幅100μm、隔壁高さ280μmで、480mm×480mmの大きさの格子状隔壁であった。緩衝層のみを形成した部分の波長550nmの光に対する反射率は、75%であったが、緩衝用ペーストの低融点ガラスの焼結が進まず、隔壁と緩衝層の界面に亀裂が発生した。また、隔壁の空隙率は、1%であった。
 その後、蛍光体として、CsI:Tl(CsI:TlI=1mol:0.003mol)を隔壁により区画された空間に充填し、580℃で焼成し、蛍光体体積充填率80%のシンチレータパネル31を作製した。シンチレータパネル31の基板反り量は250μm以上、300μm以下であった。しかし、隔壁区画の変形が起こり、隔壁頂部上に蛍光体が付着した。作製したシンチレータパネル31の評価の結果、輝度は実施例1の75%しかなかった。また、輝度バラつき9.8%、画像欠陥が面内に50箇所発生した。
 これらの結果より、本発明に係る実施例においては、発光輝度が高く、隔壁構造のゆがみや画像ムラや線状のノイズが少なく、良好な画像が得られる放射線検出装置が得られることが分かる。
1 放射線検出装置
2 シンチレータパネル
3 出力基板
4 基板
5 緩衝層
6 隔壁
7 シンチレータ層
8 隔膜層
9 光電変換層
10 出力層
11 基板
12 電源部

Claims (9)

  1. 平板状の基板、該基板の上に設けられた格子状の隔壁、および、前記隔壁により区画されたセル内に充填された蛍光体からなるシンチレータ層を有するシンチレータパネルであって、前記隔壁が、アルカリ金属酸化物を2~20質量%含有する低融点ガラスを主成分とする材料により構成されているシンチレータパネル。
  2. 前記隔壁により区画されたセル内の空間体積に対して、蛍光体が占める体積分率が55%~100%である請求項1記載のシンチレータパネル。
  3. 前記低融点ガラスの熱膨張係数が40~70×10-7(/K)の低融点ガラスである請求項1または2に記載のシンチレータパネル。
  4. 前記隔壁が空隙を含み、隔壁全体に対する空隙部分の比率を空隙率としたときに、空隙率が、2~25体積%の範囲内である請求項1~3のいずれかに記載のシンチレータパネル。
  5. 前記隔壁と前記基板の間に、低融点ガラスおよびセラミックスから選ばれた無機成分からなる緩衝層をさらに有し、その緩衝層の550nmの波長の光に対する反射率が、60%以上である請求項1~4のいずれかに記載のシンチレータパネル。
  6. 平板状の基板および該基板の上に設けられた格子状の隔壁を有する隔壁部材を製造する方法であって、
    基板上に、アルカリ金属酸化物を2~20質量%含有する低融点ガラス粉末と感光性有機成分を含有する感光性ペーストを塗布し、感光性ペースト塗布膜を形成する工程、
    得られた感光性ペースト塗布膜を所定の開口部を有するフォトマスクを介して露光する工程、
    露光後の感光性ペースト塗布膜の現像液に可溶な部分を溶解除去する現像工程、
    現像後の感光性ペースト塗布膜パターンを500℃~700℃に加熱して有機成分を除去すると共に低融点ガラスを軟化および焼結させ、隔壁を形成する焼成工程、
    を含む隔壁部材の製造方法。
  7. 平板状の基板、該基板の上に設けられた格子状の隔壁、および、該隔壁により区画されたセル内に充填された蛍光体からなるシンチレータ層を有するシンチレータパネルを製造する方法であって、
    基板上に、アルカリ金属酸化物を2~20質量%含有する低融点ガラス粉末と感光性有機成分を含有する感光性ペーストを塗布し、感光性ペースト塗布膜を形成する工程、
    得られた感光性ペースト塗布膜を所定の開口部を有するフォトマスクを介して露光する工程、
    露光後の感光性ペースト塗布膜の現像液に可溶な部分を溶解除去する現像工程、
    現像後の感光性ペースト塗布膜パターンを500℃~700℃に加熱して有機成分を除去すると共に低融点ガラスを軟化および焼結させ、隔壁を形成する焼成工程、および、
    該隔壁により区画されたセル内に蛍光体を充填する工程、
    を含むシンチレータパネルの製造方法。
  8. 平板状の基板、該基板の上に設けられた緩衝層、該緩衝層の上に設けられた格子状の隔壁、および、該隔壁により区画されたセル内に充填された蛍光体からなるシンチレータ層を有するシンチレータパネルを製造する方法であって、
    基板上に、低融点ガラス粉末およびセラミックス粉末から選ばれた無機粉末および感光性有機成分を含む緩衝層用ペーストを塗布し、緩衝層用ペースト塗布膜を形成する工程、
    該緩衝層用ペースト塗布膜を全面露光する工程、
    露光後の緩衝層用ペースト塗布膜の上に、アルカリ金属酸化物を2~20質量%含有する低融点ガラス粉末と感光性有機成分を含有する隔壁用感光性ペーストを塗布し、隔壁用感光性ペースト塗布膜を形成する工程、
    得られた隔壁用感光性ペースト塗布膜を所定の開口部を有するフォトマスクを介して露光する工程、
    露光後の感光性ペースト塗布膜の現像液に可溶な部分を溶解除去する現像工程、
    緩衝層用ペースト塗布膜および現像後の感光性ペースト塗布膜パターンを500℃~700℃に加熱して有機成分を除去すると共に低融点ガラスを軟化および焼結させ、緩衝層および隔壁を同時に形成する焼成工程、および、
    該隔壁により区画されたセル内に蛍光体を充填する工程、
    を含むシンチレータパネルの製造方法。
  9. 前記感光性ペースト中に含まれる低融点ガラス粉末の平均屈折率n1と感光性有機成分の平均屈折率n2が、-0.1<n1-n2<0.1を満たす請求項6~8のいずれかに記載のシンチレータパネルの製造方法。
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