WO2011037061A1 - フィルムミラー、反射装置 - Google Patents

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WO2011037061A1
WO2011037061A1 PCT/JP2010/066032 JP2010066032W WO2011037061A1 WO 2011037061 A1 WO2011037061 A1 WO 2011037061A1 JP 2010066032 W JP2010066032 W JP 2010066032W WO 2011037061 A1 WO2011037061 A1 WO 2011037061A1
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WO
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mirror
film
layer
film mirror
resin
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PCT/JP2010/066032
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English (en)
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Inventor
美佳 本田
Original Assignee
コニカミノルタオプト株式会社
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    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B1/00Optical elements characterised by the material of which they are made; Optical coatings for optical elements
    • G02B1/10Optical coatings produced by application to, or surface treatment of, optical elements
    • G02B1/14Protective coatings, e.g. hard coatings
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/08Mirrors
    • G02B5/0808Mirrors having a single reflecting layer
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/08Mirrors
    • G02B5/0816Multilayer mirrors, i.e. having two or more reflecting layers
    • G02B5/085Multilayer mirrors, i.e. having two or more reflecting layers at least one of the reflecting layers comprising metal
    • G02B5/0858Multilayer mirrors, i.e. having two or more reflecting layers at least one of the reflecting layers comprising metal the reflecting layers comprising a single metallic layer with one or more dielectric layers
    • G02B5/0866Multilayer mirrors, i.e. having two or more reflecting layers at least one of the reflecting layers comprising metal the reflecting layers comprising a single metallic layer with one or more dielectric layers incorporating one or more organic, e.g. polymeric layers

Definitions

  • the present invention relates to a film mirror and a reflection device.
  • a mirror for reflecting or condensing sunlight is often used.
  • a mirror as described above it is a mirror that is lightweight and difficult to break to facilitate handling during installation and installation, and it is a mirror that can be large in area and mass-produced from the viewpoint of securing light extraction. It is a flexible mirror that can match the shape of the installation location and the shape of the mirror. Furthermore, it is excellent in light resistance and weather resistance from the viewpoint of using outdoors or reflecting sunlight. It is required to be a mirror.
  • a mirror made of glass in which a silver thin film is formed on one side of a transparent glass substrate by vapor deposition or plating deposition is known as a commonly used mirror having high light reflectance.
  • glass mirrors are prone to breakage and thereby expose sharp edges, so careful handling is always necessary.
  • the glass substrate is too thin, it is difficult to handle it at the time of manufacture, so a certain amount of thickness is required. For this reason, especially in a large-sized product, mass increases remarkably and special consideration is required for its transportation and installation.
  • mirrors based on resin have been considered.
  • the base material of the mirror is made of resin, it is possible to reduce the weight and the manufacturing cost compared to the case where the base material is made of glass.
  • the resin can be easily processed into a film shape, it becomes possible to form a very flexible mirror.
  • the mirror described in Patent Document 1 cannot sufficiently solve the problem of deterioration of the light reflection layer, and has a problem that the light reflection layer deteriorates from the end face of the mirror and the reflectance decreases. It was.
  • the mirror When using a mirror for the purpose of reflecting sunlight, the mirror is often used outdoors. When used outdoors, the mirror is exposed to wind and rain, and in such a severe environment, the problem that the light reflection layer deteriorates from the mirror end face and the reflectance decreases becomes more prominent.
  • the resin base material is continuously manufactured by a roll-to-roll method or the like, and the light reflecting layer is continuously provided on the belt-like resin base material. It is conceivable to improve the production efficiency by forming them automatically.
  • a circular or rectangular mirror as described in Patent Document 1 is supplied as a single sheet, it is cut in a direction perpendicular to the manufacturing direction of the belt-shaped resin substrate on which the light reflecting layer is formed to form a rectangular mirror. Need arises.
  • a circular mirror is supplied as a single sheet, it is necessary to punch out the belt-shaped resin base material on which the light reflecting layer is formed into a circular mirror. At this time, since the light reflecting layer is exposed from the cut surface, the light reflecting layer is deteriorated from the cut surface.
  • a decrease in the reflectivity of the mirror is also caused by scratches on the surface of the mirror or adhesion of foreign matter.
  • the problem that the reflectivity of the mirror decreases due to scratches on the surface of the mirror due to collision of sand or the like, or adhesion of foreign matter such as sand or dust becomes particularly significant.
  • the mechanism by which sand or dust adheres and adheres is considered to be one of the causes of condensation on the mirror surface, and when installed outdoors, it is in an environment where condensation tends to occur due to temperature differences between day and night.
  • the mirror described in Patent Document 1 is a circular mirror in which the area of the mirror used for reflection and condensing is the same as the area of the mirror body. Therefore, when the reflectivity of the mirror is lowered, it is necessary to replace the mirror itself in order to maintain a high reflectivity. For this reason, there is a problem that it takes time to maintain the mirror.
  • the present invention has been made in view of the above problems, is lightweight and flexible, reduces the reduction in mirror reflectivity caused by the deterioration of the light reflection layer from the end face of the film mirror, and reduces production efficiency and It is to provide a film mirror and a reflection device excellent in maintainability.
  • the film mirror of Claim 1 is a film mirror which has a light reflection layer on a resin base material, Comprising: It has a deterioration prevention layer on the said light reflection layer, and the width
  • a resin for the mirror base material By using a resin for the mirror base material, it is lighter than the glass base material for the mirror base and is less susceptible to breakage due to impact, facilitating transportation and installation, and increasing the area. Is possible. Also, by using a resin for the mirror substrate, a very flexible film mirror can be obtained. Therefore, it can be freely bent or rolled.
  • the deterioration preventing layer on the light reflecting layer, it is possible to reduce the deterioration of the light reflecting layer and maintain a high reflectance. In addition, it is possible to improve the scratch resistance against the collision of sand or the like.
  • the width of one of the film mirrors is longer than the width of the exposed surface of the mirror surface used for reflecting and condensing the film mirror. Therefore, even if the light reflecting layer deteriorates from the end face of the film mirror in the direction perpendicular to the long side direction, the influence of deterioration on the exposed surface can be reduced, and the decrease in the reflectance of the film mirror is suppressed. I can do it. Therefore, it is not necessary to pattern a portion where the light reflecting layer is not formed on the resin base material in a direction orthogonal to the long side direction. That is, when the long side direction is the film mirror manufacturing direction, it is not necessary to perform patterning in a direction orthogonal to the film mirror manufacturing direction. Therefore, when a film mirror is produced by a roll-to-roll method using a resin as the base material of the film mirror, it can be continuously produced and the production efficiency can be improved.
  • the reflectivity of the film mirror is reduced due to scratches and dirt by making the width of one of the film mirrors longer than the width of the exposed surface of the mirror surface used to reflect and collect the film mirror.
  • the frequency of replacing the film mirror itself can be reduced, and a film mirror excellent in maintainability can be provided.
  • the film mirror according to claim 2 is the invention according to claim 1, wherein the width of any one of the film mirrors is an exposed surface of a mirror surface used for reflection and condensing of the film mirror. It is characterized by having a length that is at least twice as large as the width.
  • the film mirror according to claim 3 is the invention according to claim 1 or 2, wherein both end faces of both ends of the long side of the film mirror are covered with a deterioration preventing layer having gas barrier properties. It is characterized by that.
  • the film mirror width is the film mirror manufacturing direction when the film mirror width is covered with a deterioration preventing layer having gas barrier properties at both ends of the long side of the film mirror.
  • the reduction in production efficiency can be suppressed. Further, it is possible to prevent the light reflection layer from deteriorating from both end surfaces of the long side end of the film mirror.
  • the film mirror of Claim 4 is invention of any one of Claim 1 to 3, Comprising:
  • the both end surfaces of the both ends of the short side of the mirror layer of the said film mirror have gas-barrier property. It is covered with a deterioration preventing layer.
  • Both end surfaces of both ends on the short side of the mirror layer of the film mirror are covered with a deterioration preventing layer having a gas barrier property, so that the light reflecting layer extends from the end surface on the short side of the mirror layer of the film mirror. Can be prevented from deteriorating.
  • a film mirror according to a fifth aspect is the invention according to any one of the first to fourth aspects, wherein the light reflecting layer is made of Ag.
  • the film mirror according to claim 6 is the invention according to any one of claims 1 to 5, wherein the resin base material contains bionanofiber mainly composed of cellulose. .
  • the resin base material contains bionanofibers mainly composed of cellulose, the difference in expansion due to heat of the resin base material can be reduced, thereby preventing the occurrence of cracks in the light reflecting layer and the deterioration preventing layer. Is possible. In particular, when the film mirror is used outdoors, the effect of the present invention is remarkable because the resin base material expands due to the heat of the outside air.
  • the film mirror according to claim 7 is the invention according to any one of claims 1 to 6 and reflects sunlight.
  • the film mirror according to claim 8 is the invention according to any one of claims 1 to 7 and is used outdoors.
  • the film mirror When the film mirror is used outdoors, the film mirror is exposed to wind and rain, and in such a severe environment, the light reflecting layer deteriorates from the mirror end face due to sulfide, chloride, etc. contained in the air. And the problem that a reflectance falls becomes remarkable, Therefore The effect of this invention becomes still more remarkable. Also, by using the film mirror outdoors, it is more efficient because sunlight can be directly applied to the exposed surface of the mirror surface of the film mirror than when using the film mirror indoors. Sunlight can be reflected and collected.
  • a film mirror according to a ninth aspect is the invention according to any one of the first to eighth aspects, wherein the surface to be exposed of the mirror surface used for reflection and condensing of the film mirror is exposed. After completion, it is characterized by changing to a continuous new exposure surface.
  • the reflectance of the exposed surface is reduced by scratches and dirt. In this case, it is possible to maintain a high reflectance by exposing another mirror surface that is not used. Further, the frequency of replacing the film mirror itself can be reduced, and a film mirror excellent in maintainability can be provided.
  • the reflection device according to claim 10 is characterized in that the film mirror according to any one of claims 1 to 9 is mounted.
  • a reflecting device is the invention according to the tenth aspect, characterized in that the reflecting device includes a transport unit that transports the film mirror.
  • a reflection device is the invention according to the tenth or eleventh aspect, wherein the surface to be exposed of the mirror surface for reflection and collection of the film mirror is continuously applied after the exposure is completed. It is characterized by moving and changing to a new exposed surface.
  • the reflectivity of the exposed mirror surface decreases due to scratches or dirt by moving and changing the exposed surface of the mirror surface for reflection and condensing of the film mirror, another unused mirror surface
  • the frequency of replacing the film mirror itself can be reduced, and a reflector excellent in maintainability can be provided.
  • a reflector according to a thirteenth aspect is the invention according to any one of the tenth to twelfth aspects, and has a holding portion that holds the film mirror.
  • the film mirror's mirror surface By having a holding part that holds the film mirror, it is possible to prevent the film mirror's mirror surface from being exposed to fluctuations due to the influence of wind, etc., and thus preventing a decrease in the reflectance of the film mirror. Is possible. In particular, in the outdoor environment, the effect of the present invention becomes remarkable because the influence of wind is large.
  • a reflection device is the invention according to any one of the tenth to thirteenth aspects, characterized in that the reflection device includes a cleaning unit that cleans a mirror surface of the film mirror.
  • a film mirror and a reflector that are lightweight and flexible, reduce the reduction in mirror reflectivity caused by the deterioration of the light reflecting layer from the end face of the film mirror, and are excellent in production efficiency and maintainability. was able to provide.
  • FIG. 2 is a schematic cross-sectional view along AA ′ of the film mirror shown in FIG.
  • FIG. 5 is a schematic view of the reflection device.
  • FIG. 6 is a schematic sectional view taken along the line BB ′ of FIG. 5.
  • FIG. 5 is a schematic perspective view of the film mirror of the other form accommodated in the housing
  • Embodiments according to the present invention will be described with reference to FIGS. 1 to 9, but the present invention is not limited thereto.
  • FIG. 1 is a schematic plan view showing an example of the film mirror of the present invention.
  • 1 indicates a belt-shaped film mirror.
  • Reference numeral 11 denotes a mirror surface of the film mirror 1.
  • Reference numeral 12 denotes an end portion on the long side of the belt-shaped film mirror 1.
  • Reference numeral 13 denotes an end portion on the other long side of the film mirror 1.
  • Reference numeral 14 denotes an end portion on the short side of the belt-shaped film mirror 1.
  • Reference numeral 15 denotes an end portion on the other short side of the film mirror 1.
  • Reference numeral 16 denotes an exposed surface of the mirror surface 11 that is exposed to reflect or collect light in the film mirror 1.
  • the width of any one of the film mirrors 1 is longer than the width of the surface 16 exposed to the film mirror 1 (width in the vertical direction and the horizontal direction). That the width of any one of the film mirrors 1 is longer than the width of the surface 16 to which the film mirror 1 is exposed means a state as shown in this figure, for example.
  • the width of one of the film mirrors of the present invention refers to the width of either the long side or the short side of the film mirror.
  • the reflectance of the surface 16 exposed by scratches or dirt is reduced by making the width of any one of the film mirrors 1 longer than the width of the surface 16 exposed by the film mirror 1. In this case, it is possible to maintain a high reflectance by setting another mirror surface 11 that is not used as a surface to be exposed. Further, the frequency of replacing the film mirror itself can be reduced, and a film mirror excellent in maintainability can be provided. Furthermore, as shown in FIG.
  • the width of any one of the film mirrors 1 is such that the use surface is changed to another surface due to the influence of corrosion, surface contamination, inner corrosion, etc. It is preferable to have a length that is at least twice the width. Furthermore, 5 to 50 times is preferable.
  • both end surfaces of both ends on the long side of the film mirror have gas barrier properties. Thereby, it is possible to prevent the light reflection layer from deteriorating from both end faces.
  • the gas barrier layer can be continuously deposited or applied by roll-to-roll. Reduction in production efficiency of the film mirror can be suppressed.
  • both end surfaces of both end portions on the short side of the film mirror have gas barrier properties. As a result, it is possible to prevent the light reflecting layer from deteriorating from both end surfaces of both end portions on the short side of the film mirror.
  • FIG. 2 is a schematic sectional view taken along the line AA ′ of the film mirror shown in FIG.
  • FIG. 2A is a schematic cross-sectional view along the line AA ′ of the film mirror shown in FIG. 1 showing the basic configuration of the film mirror of the present invention.
  • FIG. 2B is a schematic cross-sectional view along the line AA ′ of the film mirror shown in FIG. 1 showing the configuration of the film mirror of the present invention having a metal thin film layer between the underlayer and the reflective layer.
  • FIG. 2 (c) is a schematic cross-sectional view along the line AA 'of the film mirror shown in FIG. 1, showing an example of the film mirror in which the end of the mirror surface of the film mirror is covered with a deterioration preventing layer having gas barrier properties. It is.
  • 1a indicates a film mirror.
  • the film mirror 1a has a mirror layer 102 on a resin substrate 101 (hereinafter also referred to as a resin film).
  • the mirror layer 102 has a structure in which a light reflection layer 102a and a deterioration preventing layer 102b are stacked on the light reflection layer 102a.
  • the film mirror 1a ′ indicates a film mirror.
  • the film mirror 1a ′ has a base layer 102 ′ and a mirror layer 103 ′ on a resin film 101 ′.
  • the mirror layer 103 ′ has a structure including a metal thin film layer 103′a, a light reflection layer 103′b, and a deterioration preventing layer 103′c in this order.
  • 1a ′′ denotes a film mirror.
  • the film mirror 1a ′′ has a base layer 102 ′′ and a mirror layer 103 ′′ on a resin film 101 ′′.
  • the mirror layer 103 ′′ is a metal thin film layer 103. ′′ A, a light reflecting layer 103 ′′ b, and a deterioration preventing layer 103 ′′ c.
  • the deterioration preventing layer 103 ′′ c includes an underlayer 102 ′′, a metal thin film layer 103 ′′ a,
  • the reflective layer 103 ′′ b is formed so as to cover the end face (end faces 12 and 13 on the long side of the film mirror 1 shown in FIG. 1).
  • the configuration as shown in FIG. 2 (c) is preferable.
  • the configuration shown in FIG. 2 (c) when the film mirror is exposed to the outside air, the mirror layer is exposed to water vapor, oxygen, and ultraviolet rays in the air, and deterioration of the underlying layer 102 ′′ a and metal Deterioration of the thin film layer 102 ′′ b and the light reflection layer 102 ′′ c can be prevented.
  • the deterioration prevention layer 102 ′′ d preferably has functions of a gas barrier property and an ultraviolet blocking property.
  • an inorganic gas barrier layer described later is provided, or a material such as a resin constituting the end face of the film mirror has a gas barrier property. It is preferable to take measures such as using a material. In order to provide ultraviolet blocking properties, it is preferable to provide an ultraviolet blocking layer described later.
  • the “gas barrier property” means 100 (g / m 2 / day) at an oxygen permeability of 100 (ml / m 2 / day / atm) or less, a water vapor permeability of 40 ° C. and a relative humidity of 90%. It means the following.
  • the oxygen permeability is a value measured by OXTRAN (manufactured by MOCON).
  • the water vapor permeability is a value measured by PERMATRAN (manufactured by MOCON).
  • the present invention relates to a film mirror shown in FIGS. 1 and 2 and a reflection device using the film mirror.
  • resin base material various publicly known resin films can be used.
  • resin base material various publicly known resin films can be used.
  • a polyester-based resin film or a cellulose ester-based resin film it is preferable to use a polyester-based resin film or a cellulose ester-based resin film, and it may be a resin film produced by melt casting film formation or a resin film produced by solution casting film formation.
  • a composite material in which bionanofibers mainly composed of cellulose or the like are dispersed in the resin can also be used.
  • the expansion of the resin base material caused by the heat of the outside air is less than when using a single resin material. I can do it. Therefore, it becomes possible to prevent cracks in the light reflecting layer and the deterioration preventing layer provided on the resin base material.
  • the thickness of the resin base material is preferably an appropriate thickness depending on the type and purpose of the resin. For example, it is generally in the range of 10 ⁇ m to 300 ⁇ m. Preferably they are 20 micrometers-200 micrometers, More preferably, they are 30 micrometers-100 micrometers.
  • the resin base material a resin film that can be used for a roll-to-roll method is preferable.
  • the resin used for the underlayer relating to the film mirror of the present invention is not particularly limited as long as it satisfies the conditions of heat resistance and smoothness in addition to the above-mentioned adhesion, and is a polyester resin, acrylic resin, melamine Resin, epoxy resin, polyamide resin, vinyl chloride resin, vinyl chloride vinyl acetate copolymer resin, etc. can be used singly or as a mixed resin. From the viewpoint of weather resistance, polyester resin and melamine resin are mixed. A resin is preferable, and a thermosetting resin in which a curing agent such as isocyanate is further mixed is more preferable.
  • the thickness of the underlayer is preferably from 0.01 ⁇ m to 3 ⁇ m, more preferably from 0.1 ⁇ m to 1 ⁇ m, taking account of adhesion, smoothness, reflectance of the reflective layer, and the like.
  • the underlayer preferably contains conductive polymer fine particles.
  • ⁇ Conductive polymer fine particles As a method for producing conductive polymer fine particles, a known technique can be used as described in JP-A-2008-163371. It is produced by adding a monomer having a ⁇ -conjugated double bond to an O / W type emulsion obtained by mixing and stirring an organic solvent, water, and an anionic surfactant, and subjecting the monomer to oxidative polymerization.
  • a monomer having a ⁇ -conjugated double bond to an O / W type emulsion obtained by mixing and stirring an organic solvent, water, and an anionic surfactant, and subjecting the monomer to oxidative polymerization.
  • Examples of the monomer having an ⁇ -conjugated double bond and an anionic surfactant include pyrrole, aniline, thiophene, and 3,4-ethylenedioxythiophene, and more preferably pyrrole.
  • the amount of the anionic surfactant in the reaction system is preferably less than 0.2 mol with respect to 1 mol of the monomer having a ⁇ -conjugated double bond in consideration of dispersion stability, humidity dependency of conductivity and the like. More preferably, it is 0.05 mol to 0.15 mol.
  • the organic solvent forming the organic phase of the emulsion is preferably hydrophobic. Of these, toluene and xylene, which are aromatic organic solvents, are preferable from the viewpoint of the stability of the O / W emulsion and the affinity with the monomer. Although an amphoteric solvent can polymerize a monomer having a ⁇ -conjugated double bond, it becomes difficult to separate the organic phase and the aqueous phase when the produced conductive polymer fine particles are recovered.
  • the amount of the oxidizing agent in the reaction system is preferably 0.1 mol to 0.8 mol with respect to 1 mol of the monomer having a ⁇ -conjugated double bond in consideration of the degree of polymerization of the monomer, dispersion stability, etc. More preferably, it is 0.2 mol to 0.6 mol.
  • the method for producing conductive polymer fine particles is performed, for example, in a production process having the following steps: (a) a step of preparing an emulsion by mixing and stirring an anionic surfactant, an organic solvent and water; ) A step of dispersing a monomer having a ⁇ -conjugated double bond in the emulsion, (c) a step of oxidatively polymerizing the monomer to adsorb the polymer fine particles to the anionic surfactant, and (d) separating the organic phase. A step of collecting the conductive polymer fine particles.
  • the mixing and stirring performed at the time of preparing the emulsion is not particularly limited.
  • a magnetic stirrer, a stirrer, a homogenizer, or the like can be selected as appropriate.
  • the polymerization temperature is preferably 0 ° C. to 25 ° C. in consideration of the reaction rate. Furthermore, it is preferably 20 ° C. or lower.
  • the reaction system is divided into two phases, an organic phase and an aqueous phase. At this time, unreacted monomers, oxidizing agents and salts remain dissolved in the aqueous phase.
  • organic phase is separated and recovered and washed several times with ion-exchanged water, conductive polymer fine particles dispersed in an organic solvent can be obtained.
  • the conductive polymer fine particles obtained by the above production method are fine particles mainly composed of a monomer derivative having a ⁇ -conjugated double bond and containing an anionic surfactant. And the characteristic is that it can disperse
  • the conductive polymer fine particles are spherical fine particles, and the average particle size is preferably 10 nm to 100 nm in consideration of light scattering.
  • the surface area of the conductive polymer fine particles becomes extremely large, and even with the same mass of conductive polymer fine particles, more catalytic metals can be adsorbed. This makes it possible to reduce the thickness of the coating layer for forming the underlayer.
  • the conductive polymer fine particles dispersed in the organic solvent thus obtained can be concentrated or dried and used as the conductive polymer fine particle component of the paint.
  • the concentration method is not particularly limited as long as the conductive polymer fine particles are not affected, and examples thereof include reduced pressure and heating.
  • the drying method is not particularly limited as long as it does not affect the conductive polymer fine particles, and examples thereof include reduced pressure and heating.
  • commercially available conductive polymer fine particles that are not commercially available conductive polymer fine particles can be used as a component of the coating material for forming the underlayer.
  • the film mirror of the present invention preferably has at least one metal thin film layer between the light reflection layer and the base layer.
  • the metal thin film layer is provided mainly for corrosion prevention of the light reflecting layer.
  • the standard electrode potential is lower than silver in consideration of silver oxidation, sulfurization, chlorination, etc. It is preferably less than 0.6V, more preferably less than 0.4V.
  • copper, nickel, zinc, chromium, lead, tin, cobalt etc. are preferable, for example.
  • a standard electrode potential the potential of a metal when the metal is in contact with an electrolyte containing a certain concentration of the metal ion.
  • ionization tendency Another term is “ionization tendency”, which is in order of the standard electrode potential. The ionization tendency of the metal forming the metal thin film layer is shown below.
  • Base standard electrode potential value
  • the above permutation is based on pure metal.
  • the metal that exists around us is considered to be more susceptible to surface changes such as oxidation, especially the “base” metal, and the metal outermost surface is considered to be changing, and is covered with an oxide film. It can be said.
  • an oxidation passivating film that is stable to chemical changes is formed on the outermost surface in a “base” metal such as Al.
  • Passivation is a state in which an oxide film that resists corrosive action has formed on the metal surface, and this film does not dissolve away when exposed to a solution or acid, thus protecting the internal metal from corrosion. Used for.
  • metals are passive. It is aluminum, nickel, iron, cobalt, chromium, titanium, tantalum, niobium and the like and alloys thereof that are easily passivated.
  • the metal thin film layer is preferably formed by electroless plating, coating, vapor deposition, or sputtering.
  • electroless plating a method for vapor deposition of a metal thin film.
  • the light reflecting layer refers to a layer made of a metal that reflects visible light and infrared light.
  • the light reflecting layer is formed on the resin base material, that is, on the light incident side with respect to the resin base material. Therefore, it becomes possible to prevent deterioration of the resin base material due to light rays.
  • the light reflecting layer preferably contains silver. By using silver, a reflectance higher than that of aluminum can be obtained for light having a wavelength of 380 nm or more.
  • silver When silver is used for the light reflection layer, basically, it is desirable that silver is simple, but gold, copper, nickel, iron, cobalt, tungsten, molybdenum, tantalum, chromium, Metal impurities such as indium, manganese, titanium, and palladium may be included.
  • the film mirror of the present invention has a deterioration preventing layer on the light reflecting layer.
  • the deterioration preventing layer refers to a layer for preventing the light reflecting layer and the resin base material from being deteriorated.
  • the deterioration preventing layer is composed of at least one of an inorganic gas barrier layer and an inorganic oxide layer. Preferably, it is comprised from both the inorganic gas barrier layer and the inorganic oxide layer.
  • the deterioration preventing layer may have an ultraviolet blocking layer.
  • the inorganic gas barrier layer, the inorganic oxide layer, the ultraviolet blocking layer, and the protective coating layer will be described.
  • the inorganic gas barrier layer is a thin film having a dense structure capable of suppressing the permeation of gas molecules composed of an inorganic material, and examples thereof include a thin film made of a metal compound (metal compound thin film).
  • the inorganic gas barrier layer can be formed by any method as long as the target thin film can be formed.
  • a forming method for example, sputtering, vacuum deposition, ion plating, plasma CVD, and the like are suitable.
  • the component contained in the inorganic gas barrier layer is not particularly limited as long as it satisfies the above performance, but for example, one type selected from the group consisting of Si, Al, In, Sn, Zn, Ti, Cu, Ce, Ta, and the like.
  • An oxide, nitride, oxynitride, or the like containing any of the above metals can be used.
  • it is selected from at least one metal selected from the group consisting of Si, Al, In, Sn and Zn.
  • the two or more inorganic gas barrier layers may have the same composition or different compositions, and are not particularly limited.
  • the inorganic gas barrier layer it is preferable to use silicon oxide, silicon nitride, or silicon oxynitride that can achieve both gas barrier properties and high transparency.
  • SiOx which is a silicon oxide
  • SiNy that is silicon nitride
  • 1.2 ⁇ y ⁇ 1.3 when y ⁇ 1.2, coloring may increase.
  • SiO x N y which is silicon oxynitride is used as the inorganic gas barrier layer
  • an oxygen-rich film is preferable. Specifically, 1 ⁇ x ⁇ 2 and , 0 ⁇ y ⁇ 1 is preferably satisfied.
  • a nitrogen-rich film is preferable, and specifically, it is preferable to satisfy 0 ⁇ x ⁇ 0.8 and 0.8 ⁇ y ⁇ 1.3. .
  • the composition of the inorganic oxide particles is not particularly limited, but is preferably any of silicon oxide, aluminum oxide, zinc oxide, titanium oxide and zirconium oxide.
  • the average particle size is 1 nm to 1 ⁇ m, preferably 3 nm to 300 nm, and more preferably 5 nm to 100 nm in consideration of light scattering.
  • Average particle diameter is a value measured by Mastersizer 2000 manufactured by Sysmex Corporation.
  • a coating film obtained from a dispersion of inorganic oxide particles in the order of ⁇ m cannot be obtained by merely heat-treating it, but the specific surface area is determined by the fact that the inorganic oxide particles used are in the order of nm. Increases the reactivity, and a strong inorganic oxide can be formed by heat treatment.
  • inorganic oxide particles having a particle diameter of 1 nm or less are difficult to obtain themselves, and even if obtained, aggregation of particles proceeds in a short time and becomes extremely unstable.
  • the inorganic oxide film means a film containing at least the above-mentioned inorganic oxide particles and a compound having a polysiloxane structure for forming a silica-based film described later as its constituent elements.
  • the content of the inorganic oxide particles is preferably from 30 vol% to 99 vol%, more preferably from 50 vol% to 80 vol% of the inorganic oxide film in consideration of the viscosity at which film formation is easy.
  • the cross section of the film mirror is observed with a transmission electron microscope, and the ratio of the total area of the inorganic fine particles contained in the entire cross-sectional area of the inorganic oxide film Indicated by Since the original particle interface of the inorganic fine particles is observed in the film, the area where the inorganic fine particles are present can be quantified.
  • Inorganic oxide films can be formed by a dry process such as vapor deposition or a wet process such as sol-gel, but they all have crystal grain interfaces, so they have insufficient barrier properties against gases and water vapor.
  • a dry process such as vapor deposition or a wet process such as sol-gel
  • inorganic oxide particles are contained in the inorganic oxide film according to the film mirror of the present invention, it is possible to minimize the occurrence of cracks that impair the barrier properties. It became possible to improve.
  • ⁇ Compound having polysiloxane structure As the compound having a polysiloxane structure, various conventionally known compounds can be used, but a siloxane polymer is preferably used.
  • the siloxane polymer is not particularly limited, and is a polymer having a Si—O—Si bond.
  • a hydrolysis-condensation product of alkoxysilane can be preferably used. Any kind of alkoxysilane can be used as the alkoxysilane. Examples of such alkoxysilanes include compounds represented by the following general formula (a).
  • R 1 n —Si (OR 2 ) 4-n (wherein R 1 is hydrogen, an alkyl group having 1 to 20 carbon atoms or an aryl group, and R 2 is a monovalent organic group) And n represents an integer of 0 to 2.)
  • the monovalent organic group include an alkyl group, an aryl group, an allyl group, and a glycidyl group. In these, an alkyl group and an aryl group are preferable.
  • the alkyl group preferably has 1 to 5 carbon atoms, and examples thereof include a methyl group, an ethyl group, a propyl group, and a butyl group.
  • the alkyl group may be linear or branched, and hydrogen may be substituted with fluorine.
  • the aryl group those having 6 to 20 carbon atoms are preferable, and examples thereof include a phenyl group and a naphthyl group.
  • the weight average molecular weight of the siloxane polymer is preferably 200 or more and 50000 or less, and more preferably 1000 or more and 3000 or less. If it is this range, the applicability
  • Alkoxysilane hydrolytic condensation is obtained by reacting an alkoxysilane serving as a polymerization monomer in an organic solvent in the presence of an acid catalyst or a base catalyst.
  • the alkoxysilane used as a polymerization monomer may be used alone or may be condensed by combining plural kinds.
  • trialkylalkoxysilanes such as trimethylmethoxysilane, trimethylethoxysilane, trimethylpropoxysilane, triethylmethoxysilane, triethylethoxysilane, triethylpropoxysilane, tripropylmethoxysilane, tripropylethoxysilane, triphenylmethoxysilane, triphenylethoxy Triphenylalkoxysilane such as silane may be added during hydrolysis.
  • the degree of hydrolysis of the alkoxysilane which is the premise of the condensation, can be adjusted by the amount of water to be added, but in general, with respect to the total number of moles of alkoxysilane represented by the general formula (a). 1.0 to 10.0 times mole, and more preferably 1.5 to 8.0 times mole.
  • the degree of hydrolysis can be sufficiently increased, and the film formation can be improved.
  • the gelation can be prevented and the storage stability can be improved by adjusting the amount to 10.0 times or less.
  • the acid catalyst used is not particularly limited, and conventionally used organic acids are conventionally used. Any of inorganic acids can be used. Examples of the organic acid include organic carboxylic acids such as acetic acid, propionic acid, and butyric acid, and examples of the inorganic acid include hydrochloric acid, nitric acid, sulfuric acid, phosphoric acid, and the like.
  • the acid catalyst may be added directly to the mixture of alkoxysilane and water, or may be added to the alkoxysilane as an acidic aqueous solution together with water.
  • the hydrolysis reaction is usually completed in about 5 to 100 hours.
  • the reaction can be performed in a short reaction time by dropping an acid catalyst aqueous solution into an organic solvent containing one or more alkoxysilanes represented by the general formula (a). It can also be completed.
  • the hydrolyzed alkoxysilane then undergoes a condensation reaction, resulting in the formation of a Si—O—Si network.
  • the deterioration preventing layer according to the film mirror of the present invention preferably has an ultraviolet blocking layer.
  • the ultraviolet blocking layer refers to a layer having ultraviolet blocking properties.
  • the term “ultraviolet ray blocking” refers to blocking ultraviolet rays and allowing visible light and infrared light to pass through.
  • the ultraviolet blocking layer preferably has an ultraviolet blocking property that blocks ultraviolet light having a wavelength of 350 nm to a transmittance of 10%, preferably to 5% or less.
  • the inorganic gas barrier layer and the ultraviolet blocking layer may be the same layer or separate layers.
  • the ultraviolet blocking layer is not particularly limited.
  • organic ultraviolet absorbers such as thiazolidone, benzotriazole, acrylonitrile, benzophenone, aminobutadiene, and triazine, or fine powders such as cerium oxide and magnesium oxide. It is a UV blocker, and an organic UV absorber is particularly preferable.
  • the organic ultraviolet absorber include, for example, JP-A-46-3335, JP-A-55-152776, JP-A-5-197704, JP-A-5-232630, JP-A-5-307232, JP-A-6-2111813, and 8- No. 53427, No. 8-234364, No. 8-239368, No. 9-310667, No. 10-115898, No.
  • the ultraviolet blocking layer is formed on the light incident side with respect to the light reflecting layer.
  • the light reflection layer may be disposed at any position among the light reflection layer, the inorganic gas barrier layer, and the inorganic oxide layer. Further, it may be arranged at the position of the uppermost surface on the light incident side of the film mirror.
  • the protective coating layer contains a corrosion inhibitor, prevents corrosion deterioration of the metal forming the reflective layer, for example, silver, and adheres to the adhesive layer formed on the protective coating layer when constructing a solar power generation reflective device. It contributes to the improvement of strength.
  • a resin that can be used for forming the protective coating layer a polyester resin, an acrylic resin, a melamine resin, an epoxy resin, etc. can be used alone or a mixed resin thereof. From the viewpoint of weather resistance, a polyester resin, An acrylic resin is preferable, and a thermosetting resin in which a curing agent such as isocyanate is further mixed is more preferable.
  • isocyanate various conventionally used isocyanates such as TDI (tolylene diisocyanate), XDI (xylene diisocyanate), MDI (methylene diisocyanate), and HMDI (hexamethylene diisocyanate) can be used. From the viewpoint of properties, XDI, MDI, and HMDI isocyanates are preferably used.
  • the thickness of the protective coating layer is preferably 0.01 ⁇ m to 3 ⁇ m, more preferably 0.1 ⁇ m to 1 ⁇ m, from the viewpoint of adhesion, weather resistance, and the like.
  • a method for forming the protective coating layer conventionally known coating methods such as a gravure coating method, a reverse coating method, and a die coating method can be used.
  • a corrosion inhibitor and an antioxidant having an adsorptive group for silver are preferably used.
  • the term “corrosion” refers to a phenomenon in which metal (silver) is chemically or electrochemically eroded or deteriorated by the environmental material surrounding it (see JIS Z0103-2004).
  • the undercoat layer contains an antioxidant and the protective coating layer contains a corrosion inhibitor having an adsorptive group for silver is also preferable.
  • the content of the corrosion inhibitor varies depending on the compound used, but in general, it is preferably in the range of 0.1 g / m 2 to 1.0 g / m 2 .
  • the film mirror of the present invention preferably has a corrosion inhibitor having an adsorptive group for silver.
  • a corrosion inhibitor having an adsorptive group for silver Specifically, amines and derivatives thereof, compounds having a pyrrole ring, compounds having a triazole ring, compounds having a pyrazole ring, compounds having a thiazole ring, compounds having an imidazole ring, compounds having an indazole ring, copper chelate compounds It is desirable to select at least one kind selected from the group, thioureas, compounds having a mercapto group, naphthalene series, or a mixture thereof.
  • amines and derivatives thereof include ethylamine, laurylamine, tri-n-butylamine, o-toluidine, diphenylamine, ethylenediamine, diethylenetriamine, triethylenetetramine, tetraethylenepentamine, monoethanolamine, diethanolamine, triethanolamine, 2-N-dimethylethanolamine, 2-amino-2-methyl-1,3-propanediol, acetamide, acrylamide, benzamide, p-ethoxychrysidine, dicyclohexylammonium nitrite, dicyclohexylammonium salicylate, monoethanolamine benzoate, dicyclohexyl Ammonium benzoate, diisopropylammonium benzoate, diisopropylammonium Toraito, cyclohexylamine carbamate, nitronaphthalene nitrite, cyclohexylamine benzoate, dicyclohexyl
  • Examples of the compound having a pyrrole ring include N-butyl-2,5-dimethylpyrrole, N-phenyl-2,5dimethylpyrrole, N-phenyl-3-formyl-2,5-dimethylpyrrole, N-phenyl- 3,4-diformyl-2,5-dimethylpyrrole or the like, or a mixture thereof.
  • Examples of the compound having a triazole ring include 1,2,3-triazole, 1,2,4-triazole, 3-mercapto-1,2,4-triazole, 3-hydroxy-1,2,4-triazole, 3-methyl-1,2,4-triazole, 1-methyl-1,2,4-triazole, 1-methyl-3-mercapto-1,2,4-triazole, 4-methyl-1,2,3- Triazole, benzotriazole, tolyltriazole, 1-hydroxybenzotriazole, 4,5,6,7-tetrahydrotriazole, 3-amino-1,2,4-triazole, 3-amino-5-methyl-1,2, 4-triazole, carboxybenzotriazole, 2- (2'-hydroxy-5'-methylphenyl) benzotriazole, 2- (2'- Droxy-5'-tert-butylphenyl) benzotriazole, 2- (2'-hydroxy-3 ', 5'-di-tert-butylphenyl) benzotriazole, 2- (2'-hydroxy
  • Examples of the compound having a pyrazole ring include pyrazole, pyrazoline, pyrazolone, pyrazolidine, pyrazolidone, 3,5-dimethylpyrazole, 3-methyl-5-hydroxypyrazole, 4-aminopyrazole, and a mixture thereof.
  • Examples of the compound having a thiazole ring include thiazole, thiazoline, thiazolone, thiazolidine, thiazolidone, isothiazole, benzothiazole, 2-N, N-diethylthiobenzothiazole, P-dimethylaminobenzallodanine, and 2-mercaptobenzo.
  • Examples include thiazole and a mixture thereof.
  • Examples of the compound having an imidazole ring include imidazole, histidine, 2-heptadecylimidazole, 2-methylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 2-phenylimidazole, 2-undecylimidazole, and 1-benzyl-2.
  • Examples of the compound having an indazole ring include 4-chloroindazole, 4-nitroindazole, 5-nitroindazole, 4-chloro-5-nitroindazole, and a mixture thereof.
  • Examples of the copper chelate compounds include acetylacetone copper, ethylenediamine copper, phthalocyanine copper, ethylenediaminetetraacetate copper, hydroxyquinoline copper, and a mixture thereof.
  • thioureas examples include thiourea, guanylthiourea, and the like, or a mixture thereof.
  • mercaptoacetic acid thiophenol, 1,2-ethanediol, 3-mercapto-1,2,4-triazole, 1-methyl-3-mercapto
  • naphthalene-based compounds examples include thionalide.
  • an antioxidant and a stabilizer can also be used.
  • the antioxidant and stabilizer include the same antioxidants and stabilizers that can be applied to the polymer film described above.
  • FIG. 3 is a schematic flow chart of the manufacturing process of the film mirror shown in FIG.
  • the manufacturing process 2 includes a base material supplying process 2a, a base layer forming process 2b, a metal thin film layer forming process 2c, a light reflecting layer forming process 2d, a deterioration preventing layer forming process 2e, and a collecting process 2f. Yes.
  • the manufacturing process 2 of a film mirror may convey a base material continuously, may collect
  • the base material supply step 2a includes a base material supply device (not shown), and the base layer formation step 2b includes a short resin film 101 ′′ (see FIG. 1C) or a roll-shaped belt-like resin film 101 ′′ ( FIG. 1 (c)) is supplied.
  • the resin film to be used can be appropriately selected according to the use of the film mirror to be produced.
  • the underlayer forming step 2b includes an application step (not shown) and a drying step (not shown).
  • the underlayer forming coating material is applied onto the base material supplied from the base material supply step 2a. After that, the substrate is dried to form a base layer 102 ′′ (see FIG. 1C).
  • the base layer-forming coating material is applied onto the base material so that the deterioration preventing layer 103 ′′ c (see FIG. 1C) covers the end surface of the mirror layer 103 ′′ (see FIG. 1C). This is an area excluding both ends.
  • the application method to the resin film is not particularly limited, and can be printed or coated using, for example, a gravure printing machine, an ink jet printing machine, dipping, a spin coater, a roll coater, etc., and heated as necessary. By drying, an undercoat layer-forming coating layer containing conductive polymer fine particles can be easily formed on the resin film.
  • the thickness of the coating layer for forming the under layer is preferably 20 nm to 500 nm in consideration of the coating strength and the like.
  • the thickness of the coating layer for forming the underlayer indicates a value measured using a laser microscope LEXT OLS3500 manufactured by Olympus Corporation.
  • a binder may be added to the underlayer-forming coating material containing the conductive polymer fine particles used in the present invention.
  • binder examples include polyvinyl chloride resin, polycarbonate resin, polystyrene resin, polymethyl methacrylate resin, polyester resin, polysulfone resin, polyphenylene oxide resin, polybutadiene resin, poly (N-vinylcarbazole) resin, hydrocarbon resin, Examples include ketone resins, phenoxy resins, polyamide resins, ethyl cellulose resins, vinyl acetate resins, ABS resins, polyurethane resins, melamine resins, unsaturated polyester resins, alkyd resins, epoxy resins, and silicon resins.
  • the amount used is 0.1 to 10 parts by weight with respect to 1 part by weight of the conductive polymer fine particles in consideration of the amount of metal plating deposited, the adhesion of the underlayer to the resin film, and the like. Part is preferred.
  • the coating material for forming the underlayer used in the present invention contains an organic solvent.
  • the organic solvent to be used is not particularly limited as long as it can disperse the conductive polymer fine particles without damaging the conductive polymer fine particles, but preferably aromatic hydrocarbons such as benzene, toluene, xylene and the like. Etc.
  • the coating material for forming the underlayer used in the present invention can be added with a resin such as a dispersion stabilizer, a thickener, an ink binder, or the like according to the purpose of use or the object to be applied.
  • a resin such as a dispersion stabilizer, a thickener, an ink binder, or the like according to the purpose of use or the object to be applied.
  • the metal thin film layer 103 ′′ a (see FIG. 1C) is formed on the base layer formed in the base layer forming step 2b.
  • the metal thin film layer is preferably formed by electroless plating, coating, vapor deposition, or sputtering.
  • electroless plating a method for vapor deposition of a metal thin film.
  • the thickness of the metal thin film layer is preferably 10 nm to 1000 nm in consideration of productivity, prevention of reflection layer deterioration, and the like.
  • the thickness of the metal thin film layer is a value measured with a laser microscope LEXT OLS3500 manufactured by Olympus Corporation.
  • the metal thin film layer forming step 2c will be described in detail with reference to FIGS.
  • a light reflecting layer is formed on the metal thin film layer 103 ′′ a (see FIG. 1C) formed in the metal thin film layer forming step 2c.
  • the wet method is a general term for a plating method, and is a method of forming a film by depositing a metal from a solution. Specific examples include electroless plating and silver mirror reaction.
  • the dry method is a general term for a vacuum film-forming method.
  • Specific examples include a resistance heating vacuum deposition method, an electron beam heating vacuum deposition method, an ion plating method, and an ion beam assisted vacuum deposition method. And sputtering method.
  • a vacuum film forming method capable of a roll-to-roll method of continuously forming a film is preferably used.
  • silver is most preferably used because high reflectance is obtained not only in the visible light region but also in the infrared light region.
  • the light reflection layer is formed of silver, the weather resistance deterioration becomes more prominent, so the configuration of the film mirror of the present invention is effective.
  • the thickness of the light reflecting layer 103 ′′ a is preferably 70 nm to 400 nm, more preferably 100 nm to 300 nm, still more preferably 150 nm to 250 nm in consideration of the reflectivity and effective utilization of resources. It is.
  • the thickness of the light reflection layer is a value measured with a laser microscope LEXT OLS3500 manufactured by Olympus Corporation.
  • the deterioration preventing layer forming step 2e includes a base layer 102 ′′ (see FIG. 2C) formed on the resin film 101 ′′ (see FIG. 2C) and a metal thin film layer 103 ′′ a (see FIG. 2). c)) and the surface of the light reflecting layer 103 ′′ a (see FIG. 2 (c)) and the end surface of the light reflecting layer 103 ′′ a (see FIG. 2 (c)) and the deterioration preventing layer. 103 ′′ c (see FIG. 2C) is formed, and a film mirror 1 ′′ having the configuration shown in FIG. 2C is manufactured.
  • any method can be used as long as it can form a target thin film.
  • a forming method for example, sputtering, vacuum deposition, ion plating, plasma CVD, and the like are suitable.
  • the thickness of the inorganic gas barrier layer is not particularly limited, but the thickness of the inorganic gas barrier layer is within a range of 5 nm to 1000 nm in consideration of cracks due to bending stress, uniformity of the inorganic gas barrier layer, gas barrier properties, and the like. More preferably, it is 10 nm to 1000 nm, and most preferably 10 nm to 200 nm.
  • the thickness indicates a value measured with a laser microscope LEXT OLS3500 manufactured by Olympus Corporation.
  • the formation method in the case where the deterioration preventing layer is an inorganic oxide film composed of a compound having a polysiloxane structure can be formed by a dry process such as an evaporation method or a wet process such as a sol-gel method.
  • a composition for forming a silica-based film is applied on the light reflecting layer or the inorganic gas barrier layer.
  • a method for applying the silica-based film forming composition on the light reflecting layer or the inorganic gas barrier layer for example, any method such as a spray method, a spin coating method, a dip coating method, or a roll coating method can be used. Usually, a spin coating method is used.
  • the silica-based film forming composition applied on the light reflecting layer or the inorganic gas barrier layer is heat-treated.
  • the means, temperature, time, etc. are not particularly limited, but in general, it may be sintered in a warm air oven of about 80 ° C. to 300 ° C. for about 10 minutes to 1 hour. .
  • an acid or a base is generated by heating by heat treatment. Since hydrolysis is promoted by the generated acid or base, the alkoxy group becomes a hydroxyl group (hydroxyl group), and alcohol is generated. Thereafter, since a hydroxyl group (hydroxyl group) is polycondensed between two molecules to form a Si—O—Si network, a dense silica-based film can be obtained by heat treatment.
  • the heat treatment is preferably performed in three or more steps in a stepwise manner. Specifically, after performing the first heat treatment for about 2 minutes to 10 minutes in a hot air oven of about 60 ° C. to 150 ° C. in an air or an inert gas atmosphere such as nitrogen, 100 ° C. to 220 ° C. The second heat treatment is performed for about 2 minutes to about 10 minutes, and the third heat treatment is further performed at about 150 to 300 ° C. for about 2 minutes to 10 minutes.
  • stepwise heat treatment of 3 steps or more, preferably about 3 to 6 steps a silica-based film can be formed at a lower temperature.
  • an ultraviolet blocking layer When an ultraviolet blocking layer is added, it is preferable to form an ultraviolet blocking layer by dispersing an ultraviolet absorber or an ultraviolet blocking agent in an organic binder.
  • the organic binder is not particularly limited, and synthetic resins can be used.
  • Examples of the method for forming the ultraviolet blocking layer include a method by coating. When the coating film is applied by a coating method, various conventionally used coating methods such as spray coating, spin coating, and bar coating can be used.
  • the UV absorber or UV blocking agent in the coating solution is contained in an appropriate amount for adjusting the UV transmittance, but is preferably from 0.1% by mass to 50% by mass, more preferably from 1% by mass. 30% by mass.
  • the thickness of the ultraviolet blocking layer is preferably 10 nm to 5000 nm, more preferably 50 nm to 5000 nm, and most preferably 100 nm to 5000 nm in consideration of the protection and blocking properties of the resin substrate.
  • the thickness of the ultraviolet blocking layer indicates a value measured with a laser microscope LEXT OLS3500 manufactured by Olympus Corporation.
  • a collecting device (not shown) is used to collect in accordance with the shape of the produced film mirror 1 ′′ (see FIG. 2C).
  • the base resin film is a short resin film.
  • the sheet is collected one by one, and in the case of a belt-shaped resin film, it is wound up and collected in a roll.
  • FIG. 4 is a schematic process flow diagram for forming a metal thin film layer by an electroless metal plating method on the base layer of the resin film on which the base layer is formed.
  • FIG. 4A is a schematic process flow diagram for forming a metal thin film layer by an electroless metal plating method on the base layer of the resin film on which the base layer containing conductive polymer fine particles is formed.
  • FIG. 4B is a schematic process flow diagram for forming a metal thin film layer by an electroless metal plating method on the base layer of the resin film on which the base layer containing the reducing polymer fine particles is formed.
  • Step 2c represents a metal thin film layer forming step.
  • Step 2c includes a dedoping step 2c1, a first water washing step 2c2, a catalytic metal adhesion step 2c3, a second water washing step 2c4, a metal deposition step 2c5, and a third water washing step 2c6.
  • the conductive polymer fine particles are made reducible before electroless plating. Necessary for undoping.
  • the resin film 101 ′′ on which the base layer 102 ′′ (see FIG. 2C) continuously conveyed from the base layer forming step 2b (see FIG. 2) is formed is applied to the pretreatment liquid 2c12.
  • the dedoping process is performed through the inside.
  • the dedoping treatment is to remove the dopant contained in the conductive polymer fine particles to make the state with less dopant, usually not substantially doped.
  • the dedoping method include a method of immersing in an alkali solution when the dopant is an anion, a method of contacting with a solid alkali, and a method of immersing in an acid solution when the dopant is a cation, Examples thereof include a method of contacting with an acidic solid.
  • dedoping can also be performed by a method of washing with a large amount of solvent not containing ions, a method of electrochemically removing a dopant, and the like.
  • Conductive polymer particles used in the underlayer are changed to reducing particles by dedoping treatment.
  • the pretreatment liquid is a reducing agent for dedoping by reduction, for example, borohydride compounds such as sodium borohydride and potassium borohydride, alkylamine boranes such as dimethylamine borane, diethylamine borane, trimethylamine borane, and triethylamine borane. And a solution containing hydrazine or the like, or an alkaline solution.
  • borohydride compounds such as sodium borohydride and potassium borohydride
  • alkylamine boranes such as dimethylamine borane, diethylamine borane, trimethylamine borane, and triethylamine borane.
  • a solution containing hydrazine or the like or an alkaline solution.
  • the alkaline solution can be treated with mild alkaline conditions, for example, a 1M aqueous sodium hydroxide solution or a solution having a pH of about 9 to 10.
  • the solution examples include 1M sodium hydroxide aqueous solution, 10 mass% aqueous solution (pH 9 to pH 10) of ATS Condicrine CIW2 (Okuno Pharmaceutical Co., Ltd.), and the like.
  • the treatment temperature is 20 ° C. to 70 ° C., preferably 30 ° C. to 60 ° C., and the treatment time is 2 minutes to 10 minutes, preferably 3 minutes to 7 minutes.
  • the pretreatment liquid 2c12 adhering to the resin film 101 ′′ subjected to the dedoping treatment is washed.
  • the catalyst film 2 ′′ is passed through the catalyst solution 2c31 in order to deposit the catalyst metal on the surface of the base layer 102 ′′ (see FIG. 2C) of the resin film 101 ′′ subjected to the dedoping treatment.
  • the catalytic metal adsorption amount is preferably set to 0.1 ⁇ g / cm 2 or more in consideration of adhesion between the resin base material and the metal, reflectance, production cost, and the like. Furthermore, 0.1 ⁇ g / cm 2 to 10 ⁇ g / cm 2 is preferable.
  • the catalyst solution is a solution containing a noble metal (catalyst metal) having catalytic activity for electroless plating.
  • a noble metal catalyst metal
  • the catalyst metal include palladium, gold, platinum, rhodium, etc. These metals may be simple substances or compounds.
  • a palladium compound is preferable from the viewpoint of the stability of the solution containing a metal, and palladium chloride is particularly preferable among them.
  • a preferred specific catalyst solution is 0.02% palladium chloride-0.01% hydrochloric acid aqueous solution (pH 3).
  • the treatment temperature is 20 ° C. to 50 ° C., preferably 30 ° C. to 40 ° C. in consideration of the adhesiveness of the catalyst, and the treatment time is 0.1 minutes to 10 minutes in consideration of productivity, catalyst adhesion amount, etc. Preferably, it is 1 minute to 5 minutes.
  • the catalyst solution 2c31 adhering to the surface of the base layer 102 ′′ (see FIG. 2C) of the resin film 101 ′′ is washed.
  • the resin film 101 ′′ in which the catalyst solution 2c31 attached to the surface of the base layer 102 ′′ (see FIG. 2C) of the resin film 101 ′′ is cleaned in the second water washing step 2c4. Is treated with the plating solution 2c51 to deposit metal on the surface of the underlayer 102 ′′ (see FIG. 2C), and the metal thin film layer 103 ′′ b is formed on the surface of the underlayer 102 ′′ (see FIG. 2C). (See FIG. 2C) is formed.
  • the plating solution is not particularly limited as long as it is a plating solution usually used for electroless plating.
  • metal, copper, gold, silver, nickel, chromium, etc. that can be used for electroless plating can all be applied, but copper is preferable in order to prevent silver migration.
  • electroless copper plating bath examples include, for example, an ATS add copper IW bath (Okuno Pharmaceutical Co., Ltd.).
  • the treatment temperature is 20 ° C. to 50 ° C., preferably 30 ° C. to 40 ° C. in consideration of the plating deposition rate, the denseness of the plating film, etc.
  • the treatment time is 1 2 in consideration of the plating film thickness, productivity, etc. Min to 30 min, preferably 5 min to 15 min.
  • a resin film subjected to electroless metal plating by a roll-to-roll method can be continuously produced.
  • the liquid 2c51 is washed.
  • the processing speed of the resin film in each step of the metal thin film layer forming step 2c shown in the figure is from 0.1 m / min to 10 m / min, preferably from 0.5 m / min to 1.5 m / min.
  • FIG. 4B The process flow diagram shown in FIG. 4B will be described. In addition, this figure has shown the case of the same roll to roll method as Fig.4 (a).
  • the difference from the process flow chart shown in FIG. 4A is the same except that there is no dedoping process 2c1 and first water washing process 2c2. Further, the processing conditions of the catalyst metal adhesion step 2c3, the second water washing step 2c4, the metal deposition step 2c5, and the third water washing step 2c6 are the same.
  • the conditions (temperature, time, etc.) for each process shown in FIGS. 4A and 4B are the processing time for each process by changing the number of rolls in the tank containing each solution or the size of the tank. It is possible to adjust.
  • the film mirror of the present invention is preferably a mirror that reflects sunlight. Furthermore, it is preferable to use it outdoors as a reflection device equipped with a film mirror. Hereinafter, the reflection device will be described with reference to FIGS.
  • FIG. 5 is a schematic view of the reflection device.
  • FIG. 5A is a schematic perspective view of the reflecting device.
  • FIG.5 (b) is a schematic perspective view of the film mirror accommodated in the housing
  • 3a indicates a reflection device.
  • Reference numeral 301 denotes a casing of the reflection device.
  • Reference numeral 302 denotes an exposure window disposed in the housing 301.
  • the housing 301 includes a transport unit 303 having a feeding unit 303a and a winding unit 303b, and a holding unit 304.
  • a film mirror 1 is mounted and stored in the transport unit 303.
  • the holding unit 304 is configured in a pair to hold both ends of the film mirror 1.
  • the feeding unit 303a and the winding unit 303b may be reversed.
  • the film mirror 1 is mounted on the feeding portion 303a in a roll shape wound around a roll core, and is wound around the roll core and collected by the winding portion 303b.
  • Reference numeral 17 denotes an anti-slip protrusion provided at the end 12 and the end 13 on the long side of the film mirror 1.
  • the transport unit 303 By having the transport unit 303, when the reflectivity of the exposed surface 16 of the mirror surface 11 of the film mirror 1 exposed to sunlight for reflection and condensing decreases, the exposed surface 16 Since the surface can be changed to a new surface, it is possible to prevent the reflectance of the exposed surface 16 from being lowered.
  • the holding unit 304 can prevent the surface 16 exposed to the mirror surface 11 of the film mirror 1 mounted on the transport unit 303 from being fluctuated due to the influence of wind or the like, thereby preventing a decrease in the reflectance of the mirror. It becomes possible to do.
  • the shape of the holding unit 304 can be changed according to the shape of the mirror surface.
  • the surface 16 of the mirror surface 11 of the film mirror 1 to be exposed is a flat surface, it is preferable to use a linear holding portion, and the surface of the mirror surface 11 of the film mirror 1 to be exposed is the inner side.
  • a curved shape it is preferable to use a curved holding portion. This figure shows the case of a linear holding part. A curved holding portion is shown in FIG.
  • the film mirror 1 used in the reflection device 3 shown in the figure has the configuration shown in FIG. 2C, and the size is 15 m for the longer side and 1.4 m for the shorter side. It has become. Further, both end surfaces of both end portions on the long side of the film mirror 1 are covered with a deterioration preventing layer 103 ′′ c (see FIG. 2C) having gas barrier properties.
  • a biaxially stretched polyester film (polyethylene terephthalate film, thickness 175 ⁇ m) is used as the resin base material.
  • the underlayer is formed by coating a coating material containing conductive polypyrrole fine particles on a resin substrate with a coating thickness of 100 nm.
  • the metal thin film layer is formed by plating 0.3 ⁇ m thick copper on the base layer.
  • the light reflection layer is formed by plating silver having a thickness of 0.3 ⁇ m on the metal thin film layer.
  • the deterioration preventing layer is formed by coating a coating solution containing inorganic oxide particles on the light reflecting layer so as to have a thickness of 1 ⁇ m.
  • the slip prevention protrusion 17 may be made of the same material as the resin base material or the deterioration prevention layer, or may be made of a material different from the resin base material or the deterioration prevention layer.
  • the anti-slip protrusion 17 may be formed by providing a protrusion shape on the light incident side surface of the resin base material or the deterioration prevention layer.
  • a slip prevention protrusion is formed by providing a protrusion shape on the surface of the deterioration preventing layer on the light incident side.
  • the shape of the protrusion of the slip prevention protrusion 17 is a loop shape
  • a hook-like protrusion shape may be formed on the inner surface 304b of the holding portion 304 that contacts the mirror surface 11 of the film mirror 1.
  • Examples of the method for forming the anti-slip protrusion 17 include a method such as embossing and forming a convex portion by inkjet coating.
  • FIG. 6 is a schematic sectional view taken along the line BB ′ of FIG.
  • FIG. 6A is an enlarged schematic cross-sectional view along the line BB ′ in FIG.
  • the cross-sectional shape of the holding portion 304 has a U-shape, and the inner surface 304a that holds the back surface 19 of the film mirror 1 is preferably flat from the top that holds the flatness of the film mirror 1 during conveyance. Moreover, you may provide a hook-and-loop fastener.
  • the inner surface 304 b that contacts the mirror surface 11 of the film mirror 1 may be provided with a slip prevention means for preventing the film mirror 1 from slipping.
  • Examples of the holding unit 304 include a clip, a movable type, and the like.
  • FIG. 7 is a schematic perspective view of another form of film mirror housed in the casing of the reflecting device shown in FIG.
  • this figure has shown the case where a housing
  • a housing (not shown) has a transport unit 303 ′ having a feeding unit 303′a and a winding unit 303′b, and a holding unit 304 ′.
  • the film mirror 1 is mounted and accommodated in the transport unit 303 ′.
  • the holding portion 304 ′ is configured in a pair to hold both ends of the film mirror 1.
  • the holding part 304 ' has a shape curved inward. Therefore, the exposed surface 16 of the mirror surface 11 of the film mirror 1 is also held in a curved state.
  • the feeding unit 303′a and the winding unit 303′b may be reversed.
  • the film mirror 1 is mounted on the feeding portion 303'a in the form of a roll wound around a roll core, and is wound around the roll core and collected by the winding portion 303'b.
  • Other symbols are the same as those in FIG.
  • FIG. 8 is a schematic perspective view of a reflection device having a cleaning unit for cleaning the mirror surface of the film mirror.
  • the housing is omitted.
  • the casing is the same as that of the reflecting device shown in FIG. 5A except that the cleaning unit 4 is provided instead of the holding unit 304, the cleaning unit 4 will be described and the transport unit will not be described.
  • the film mirror 1 'used has a belt-like shape. However, the film mirror 1 'is also the same as the film mirror 1 shown in FIG. .
  • the cleaning unit 4 By disposing the cleaning unit 4, sand and dust attached to the mirror surface 1 ′ 1 of the belt-shaped film mirror 1 ′ can be removed, so that the reflectance of the belt-shaped film mirror 1 ′ is lowered. Can be prevented. Therefore, even if the mirror surface 1′1 is used once, the mirror reflectivity is improved by the cleaning unit 4 so that the same mirror surface 1′1 can be used repeatedly, and the belt-like film mirror 1′1 is used. It is possible to reduce the frequency of replacement.
  • any means can be used as long as it can remove sand and dust attached to the mirror surface 1'1 of the belt-shaped film mirror 1 '.
  • an air spray nozzle A suction nozzle, a brush shape, or the like can be used. This figure has shown the case where a brush is used.
  • the belt-shaped film mirror 1 ′ can be manufactured by joining the head and tail of a long film mirror.
  • FIG. 9 is a schematic perspective view of a reflection device using a film mirror having a foreign substance diffusing means on the mirror surface.
  • the housing is omitted.
  • the casing is the same as the casing of the reflection device shown in FIG. 5A except that the holding section 304 is not provided, and the description including the transport section is omitted.
  • the film mirror 1 ′′ used has a belt-like shape.
  • 3c represents a reflection device.
  • Reference numeral 5 denotes a protrusion provided as a foreign substance diffusing means on the surface of the film mirror 1 ′′.
  • the interval between the protrusions 5 is arranged according to the exposed surface.
  • the protrusion 5 is the length of the film mirror 1 ′′. It is preferable to form in the direction orthogonal to the side. Providing the projection 5 makes it possible to transport liquid, sand, etc. together when transporting the film mirror 1 ′′ in order to change the exposure surface. When changing the surface, it is possible not to flow out to a new exposed surface, and the height of the protrusion is preferably within 10 mm.
  • a protrusion having a width and a height of several tens of ⁇ m can be formed by pressing a concave mold when a silica-based film constituting the deterioration preventing layer is formed by a dip coating method. Further, a metal wire or a resin wire may be adhered to the mirror surface of the film mirror 1 ′′ as the projection portion 5. If the number of projections is small, the influence on the reflectance may be small, but the inclination of the film mirror 1 ′′ You may increase / decrease the number of protrusions by the angle to make.
  • the belt-shaped film mirror 1 ′′ can be manufactured by joining the head and tail of a long film mirror.

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Abstract

 軽量かつ柔軟性があり、フィルムミラー端面から光反射層が劣化することにより生じるミラー反射率の低下を低減するとともに、生産効率やメンテナンス性に優れたフィルムミラー及び反射装置を提供するため、樹脂基材上に光反射層を有するフィルムミラーであって、前記光反射層上に、劣化防止層を有し、前記フィルムミラーの何れか一方の幅が、前記フィルムミラーの反射及び集光に使用する曝射面の幅よりも長いことを特徴とするフィルムミラー。

Description

フィルムミラー、反射装置
 本発明は、フィルムミラー、反射装置に関する。
 近年、環境問題への関心が高くなると共に、太陽光を活用しようとする動きが活発になってきている。太陽光を活用する際には、太陽光を反射したり集光したりするためのミラーが通常よく用いられる。例えば、高層ビルにより太陽光を遮られてしまった低層の建物へ太陽光を当てるための採光ミラーや、建物の内部へ太陽光を導入するために用いられる光ダクト内部の反射ミラー等を例として挙げることが出来る。上記のようなミラーとしては、運搬、設置の際の取り扱いを容易にするために軽量で割れにくいミラーであること、採光量を確保するという観点から、大面積化や大量生産が可能なミラーであること、設置場所の形状とミラーの形状を合わせることの出来る柔軟性のあるミラーであること、更には、屋外で使用したり、太陽光を反射するという観点から耐光性及び耐候性に優れたミラーであることが要求されている。
 一般に、よく用いられる光反射率が高いミラーとしては、透明なガラス基板の片面に銀を蒸着又はめっきによる析出によって銀薄膜を形成したガラス製のミラーが知られている。しかし、ガラス製のミラーは、破損し易く、それにより鋭いエッジが露出することから、常に取り扱いに細心の注意が必要である。更に、ガラス基板はあまり薄いと製造時の取り扱いが困難であるため、ある程度の厚みが必要である。このため、特に大型品では質量が著しく増大し、その運搬、設置等に特別の配慮が必要となる。
 このため、破損による怪我の危険や取り扱いの困難性を考慮して、樹脂を基材としたミラーが考えられている。ミラーの基材を樹脂で構成した場合、基材をガラスで構成した場合に比べ、軽量且つ製造コストを安価にすることが可能となる。又、樹脂はフィルム状への加工が容易なために非常に柔軟性のあるミラーにすることが可能となる。
 しかし、一般に樹脂はガラスに比べ透湿度が高く、ガラスでは問題にならなかった光反射層の劣化が問題となってしまう。特に、すべての波長に対して均等に反射率の高い銀を用いた光反射層は、耐湿性が乏しいため、長期間の使用により酸化が進み黒く変色して反射率が低下してしまうという問題があった。このような光反射層の耐久性の問題に対し、特許文献1に記載のプラスチック樹脂上に光反射層を設けたミラーでは、光反射層の上に酸化アルミニウムや酸化ジルコニウム、二酸化ケイ素などの劣化防止層を設け、光反射層の耐久性の向上を図っている(特許文献1参照)。
特開2000-241612号公報
 しかしながら、特許文献1に記載のミラーでは、光反射層の劣化の問題を十分に解決出来ておらず、ミラーの端面から光反射層が劣化し、反射率が低下してしまうという問題を有していた。太陽光を反射する目的でミラーを使用する場合、ミラーを屋外で使用することが多い。屋外で使用する場合、ミラーが風雨に曝されることになり、そのような厳しい環境化では、ミラー端面から光反射層が劣化し、反射率が低下するという問題はより顕著となる。
 ミラー端面からの光反射層の劣化を防止するために、光反射層よりも大きな面積を有する樹脂基材と劣化防止層とで、光反射層を封止する方法が考えられる。しかし、この方法では、特許文献1に記載のような円形又は矩形のミラーを枚葉で供給する場合、ミラーの光反射層を1枚ずつ封止する必要が生じるため、生産性が悪いという問題があった。
 一方、生産効率を向上させるために、ミラーの基材である樹脂の特性を活かし、樹脂基材をロールtoロール方式などにより連続的に製造するとともに、光反射層を帯状樹脂基材上に連続的に形成することで、生産効率を向上させることが考えられる。しかしながら、特許文献1に記載のような円形又は矩形のミラーを枚葉で供給する場合、光反射層を形成した帯状樹脂基材の製造方向と直角に交わる方向で切断し、矩形のミラーとする必要が生じる。又、円形のミラーを枚葉で供給する場合、光反射層を形成した帯状樹脂基材から円形に打ち抜き、円形のミラーとする必要がある。その際、切断面から光反射層が露出するため、切断面から光反射層が劣化してしまうという問題があった。
 切断面からの光反射層の露出を防ぐために、光反射層を成層する際に、あらかじめ光反射層が形成されない箇所を樹脂基材にパターニングし、パターニングされた箇所を切断面とする方法が考えられる。しかし、この場合、特許文献1に記載のような矩形のミラーを枚葉で供給する場合、1枚ごとにパターニングする必要があるため、連続生産が出来ず、生産効率が悪いという問題があった。
 又、光反射層の劣化に起因した反射率の低下の他に、ミラーの表面に傷が付いたり、異物が付着することによっても、ミラーの反射率の低下を招いてしまう。特に、ミラーを屋外で使用する場合、砂などの衝突によりミラーの表面に傷が付いたり、砂や埃などの異物が付着することにより、ミラーの反射率が低下するという問題は特に顕著となる。砂や埃が付着し固着するメカニズムは、鏡表面が結露することが原因の1つと考えられており、屋外に設置している場合は昼夜の温度差から結露しやすい環境にある。特許文献1に記載のミラーでは、反射や集光に利用するミラーの面積とミラー本体の面積が同じ円形のミラーになっている。そのため、ミラーの反射率が低下した場合、高い反射率を維持するためには、ミラー自体を交換する必要がある。そのため、ミラーのメンテナンスに手間が掛かるという問題もあった。
 そこで、本発明は上記問題に鑑みてなされたものであり、軽量かつ柔軟性があり、フィルムミラーの端面から光反射層が劣化することにより生じるミラー反射率の低下を低減すると共に、生産効率やメンテナンス性に優れたフィルムミラー及び反射装置を提供することである。
 請求項1に記載のフィルムミラーは、樹脂基材上に光反射層を有するフィルムミラーであって、前記光反射層上に、劣化防止層を有し、前記フィルムミラーの何れか一方の幅が、前記フィルムミラーの反射及び集光に使用するミラー面の曝射する面の幅よりも長いことを特徴とする。
 ミラーの基材に樹脂を用いていることにより、ミラーの基材にガラスを用いた場合に比べて軽量で、かつ衝撃による破損の心配が少なく、運搬や設置の取り扱いを容易にし、大面積化が可能となる。又、ミラーの基材に樹脂を用いることにより、非常に柔軟性のあるフィルムミラーとすることが出来る。そのため、自由に曲げたり、ロール状にしたりすることが出来る。
 光反射層上に劣化防止層を有することにより、光反射層の劣化を低減することが出来、高い反射率を維持することが可能となる。又、砂などの衝突に対して、耐傷性を向上させることが可能となる。
 フィルムミラーの何れか一方の幅が、フィルムミラーの反射及び集光に使用するミラー面の曝射する面の幅よりも長くなっている。そのため、長辺方向に対して直交する方向のフィルムミラーの端面から光反射層が劣化したとしても、曝射面へ与える劣化の影響を小さくすることが出来、フィルムミラーの反射率の低下を抑制することが出来る。よって、長辺方向に対して直交する方向に、樹脂基材上に光反射層が形成されない箇所をパターニングする必要がなくなる。つまり、長辺方向をフィルムミラーの製造方向とした場合、フィルムミラーの製造方向に対して直交する方向にパターニングをする必要がなくなる。そのため、フィルムミラーの基材に樹脂を用いてロールtoロール方式などによりフィルムミラーを生産する場合に、連続生産することが出来、生産効率を向上させることが出来る。
 更に、フィルムミラーの何れか一方の幅を、フィルムミラーの反射及び集光に使用するミラー面の曝射する面の幅よりも長くすることにより、傷や汚れによってフィルムミラーの反射率が低下した場合、使用していない別のミラー面を曝射面とすることにより、高い反射率を維持することが可能となる。又、フィルムミラー自体を交換する頻度を少なくすることが出来、メンテナンス性に優れたフィルムミラーを提供することが可能となる。
 請求項2に記載のフィルムミラーは、請求項1に記載の発明であって、前記フィルムミラーの何れか一方の幅が、前記フィルムミラーの反射及び集光に使用するミラー面の曝射する面の幅の2倍以上の長さを有することを特徴とする。
 請求項3に記載のフィルムミラーは、請求項1又は2に記載の発明であって、前記フィルムミラーの長辺側の両端部の両端面が、ガスバリア性を有する劣化防止層で覆われていることを特徴とする。
 フィルムミラーの幅が長辺側の両端部の両端面がガスバリア性を有する劣化防止層で覆われていることにより、フィルムミラーの長辺側の方向をフィルムミラーの製造方向とした場合、フィルムミラーの生産効率の低減を抑制することが出来る。又、フィルムミラーの長辺側の端部の両端面から光反射層が劣化するのを防止することが可能となる。
 請求項4に記載のフィルムミラーは、請求項1から3の何れか1項に記載の発明であって、前記フィルムミラーのミラー層の短辺側の両端部の両端面が、ガスバリア性を有する劣化防止層で覆われていることを特徴とする。
 フィルムミラーのミラー層の短辺側の両端部の両端面が、ガスバリア性を有する劣化防止層で覆われていることにより、フィルムミラーのミラー層の短辺側の端部の端面から光反射層が劣化するのを防止することが可能となる。
 請求項5に記載のフィルムミラーは、請求項1から4の何れか1項に記載の発明であって、前記光反射層をAgで構成したことを特徴とする。
 光反射層をAgで構成することにより、非常に高い反射率を得ることが可能となる。
 請求項6に記載のフィルムミラーは、請求項1から5の何れか1項に記載の発明であって、前記樹脂基材が、セルロースを主成分とするバイオナノファイバーを含有することを特徴とする。
 樹脂基材が、セルロースを主成分とするバイオナノファイバーを含有することにより、樹脂基材の熱による膨張差を小さくすることが出来るので、光反射層や劣化防止層のクラックの発生を防止することが可能となる。特に、フィルムミラーを屋外で使用する場合、外気の熱により樹脂基材が膨張するため、本発明の効果が顕著となる。
 請求項7に記載のフィルムミラーは、請求項1から6の何れか1項に記載の発明であって、太陽光を反射することを特徴とする。
 請求項8に記載のフィルムミラーは、請求項1から7の何れか1項に記載の発明であって、屋外で使用することを特徴とする。
 フィルムミラーを屋外で使用する場合、フィルムミラーが風雨に曝されることになり、そのような厳しい環境化では、空気中に含まれる硫化物、塩化物等により、ミラー端面から光反射層が劣化し、反射率が低下するという問題が顕著となるため、本発明の効果がよりいっそう顕著となる。又、フィルムミラーを屋外で使用することにより、屋内でフィルムミラーを使用する場合に比べ、より直接的に太陽光をフィルムミラーのミラー面の曝射する面に当てることが出来るため、より効率良く太陽光を反射及び集光することが可能となる。
 請求項9に記載のフィルムミラーは、請求項1から8の何れか1項に記載の発明であって、前記フィルムミラーの反射及び集光のため使用するミラー面の曝射する面を曝射終了後、連続している新規の曝射する面に変えることを特徴とする。
 フィルムミラーの反射及び集光のため使用するミラー面の曝射する面を曝射終了後、連続している新規のミラー面に変えることにより、傷や汚れによって曝射した面の反射率が低下した場合、使用していない別のミラー面を曝射することで、高い反射率を維持することが可能となる。又、フィルムミラー自体を交換する頻度を少なくすることが出来、メンテナンス性に優れたフィルムミラーを提供することが可能となる。
 請求項10に記載の反射装置は、請求項1から9の何れか1項に記載のフィルムミラーを搭載したことを特徴とする。
 請求項11に記載の反射装置は、請求項10に記載の発明であって、前記フィルムミラーを搬送する搬送部を有することを特徴とする。
 フィルムミラーを搬送する搬送部を有することにより、反射及び集光に利用しているミラー面の反射率が低下した場合において、ミラー面の曝射する面を変えることが可能となるので、ミラー反射率の低下を防止することが可能となる。
 請求項12に記載の反射装置は、請求項10又は請求項11に記載の発明であって、前記フィルムミラーの反射及び集光のためミラー面の曝射する面を、曝射終了後、連続している新規の曝射する面に移動し変えることを特徴とする。
 フィルムミラーの反射及び集光のためミラー面の曝射する面を移動させて変更することにより、傷や汚れによって曝射したミラー面の反射率が低下した場合、使用していない別のミラー面を曝射する面とすることで、高い反射率を維持することが可能となる。又、フィルムミラー自体を交換する頻度を少なくすることが出来、メンテナンス性に優れた反射体を提供することが可能となる。
 請求項13に記載の反射体は、請求項10から12の何れか1項に記載の発明であって、項前記フィルムミラーを保持する保持部を有することを特徴とする。
 フィルムミラーを保持する保持部を有することにより、フィルムミラーのミラー面の曝射する面が風などの影響によって、揺らぐのを抑制することが出来るため、フィルムミラーの反射率の低下を防止することが可能となる。特に、屋外環境化では、風の影響が大きいため、本発明の効果が顕著となる。
 請求項14に記載の反射装置は、請求項10から13の何れか1項に記載の発明であって、前記フィルムミラーのミラー面を清掃する清掃部を有することを特徴とする。
 フィルムミラーのミラー面を清掃する清掃部を有することにより、フィルムミラーのミラー面に付着した砂や埃などを除去することが出来るため、フィルムミラーの反射率の低下を防止することが可能となる。そのため、一度利用したミラー面であっても、清掃部によりフィルムミラー反射率を改善させることで、繰り返し同じフィルムミラー面を利用することが可能となり、フィルムミラー本体の取替えの頻度を少なくすることが可能となる。
 本発明によれば、軽量かつ柔軟性があり、フィルムミラーの端面から光反射層が劣化することにより生じるミラー反射率の低下を低減するとともに、生産効率やメンテナンス性に優れたフィルムミラー及び反射体を提供することが出来た。
本発明のフィルムミラーの一例を示す概略平面図である。 図1に示すフィルムミラーのA-A′に沿った概略断面図である。 図2(c)に示すフィルムミラーの製造工程の概略フロー図である。 下地層が形成された樹脂フィルムの下地層の上に無電解金属めっき法で金属薄膜層を形成する概略工程フロー図である。 図5は反射装置の概略図である。 図5のB-B′に沿った概略断面図である。 図5に示す反射装置の筐体に収納されている他の形態のフィルムミラーの概略斜視図である。 フィルムミラーのミラー面を清掃する清掃部を有する反射装置の概略斜視図である。 ミラー面に異物拡散手段を設けたフィルムミラーを使用した反射装置の概略斜視図である。
 本発明に係る実施の形態を図1から図9を参照して説明するが、本発明はこれに限定されるものではない。
 図1は本発明のフィルムミラーの一例を示す概略平面図である。
 図中、1は帯状のフィルムミラーを示す。11はフィルムミラー1のミラー面を示す。12は帯状のフィルムミラー1の長辺側の端部を示す。13はフィルムミラー1の他方の長辺側の端部を示す。14は帯状のフィルムミラー1の短辺側の端部を示す。15はフィルムミラー1の他方の短辺側の端部を示す。
 16はフィルムミラー1において光を反射又は集光するために曝射されるミラー面11の曝射する面を示す。フィルムミラー1は、フィルムミラー1の何れか一方の幅が、フィルムミラー1の曝射する面16の幅(縦方向及び横方向の幅)よりも長くなっている。フィルムミラー1の何れか一方の幅が、フィルムミラー1の曝射する面16の幅よりも長いとは、例えば本図に示される様な状態をいう。
 本発明のフィルムミラーの何れか一方の幅とは、フィルムミラーの長辺側、短辺側の何れかの幅のことを言う。
 本図に示す様に、フィルムミラー1の何れか一方の幅を、フィルムミラー1の曝射する面16の幅よりも長くすることにより、傷や汚れによって曝射する面16の反射率が低下した場合、使用していない別のミラー面11を曝射する面とすることにより、高い反射率を維持することが可能となる。又、フィルムミラー自体を交換する頻度を少なくすることが出来、メンテナンス性に優れたフィルムミラーを提供することが可能となる。更に、図1に示す様に、フィルムミラー1の何れか一方の幅を、フィルムミラー1の曝射する面16の幅よりも長くすることにより、フィルムミラー1の端部12、端部13、端部14及び端部15からミラー面11が劣化したとしても、曝射する面へ与える劣化の影響を小さくすることが出来、ミラーの反射率の低下を抑制することが出来る。
 好ましくは、フィルムミラー1の何れか一方の幅は、腐食の影響で別の面に使用面を変更すること、表面汚れ、内側の腐食等を考慮し、フィルムミラー1の曝射する面16の幅の2倍以上の長さを有することが好ましい。更には、5倍から50倍が好ましい。
 フィルムミラーの長辺側の両端部の両端面が、ガスバリア性を有することが好ましい。これにより、両端面から光反射層が劣化するのを防止することが可能となる。フィルムミラーの幅が長くなっている方向をフィルムミラーの製造方向とした場合、ロールtoロールで連続的にガスバリア層を蒸着、又は塗布することが可能になる。フィルムミラーの生産効率の低減を抑制することが出来る。
 又、フィルムミラーの短辺側の両端部の両端面が、ガスバリア性を有することが好ましい。これにより、フィルムミラーの短辺側の両端部の両端面から光反射層が劣化するのを防止することが可能となる。
 図2は図1に示すフィルムミラーのA-A′に沿った概略断面図である。図2(a)は本発明のフィルムミラーの基本的構成を示す図1に示すフィルムミラーのA-A′に沿った概略断面図である。図2(b)は下地層と反射層との間に金属薄膜層を有する本発明のフィルムミラーの構成を示す図1に示すフィルムミラーのA-A′に沿った概略断面図である。図2(c)はフィルムミラーのミラー面の端部がガスバリア性を有する劣化防止層で覆われているフィルムミラーの一例を示す図1に示すフィルムミラーのA-A′に沿った概略断面図である。
 図2(a)に示されるフィルムミラーについて説明する。
 図中、1aはフィルムミラーを示す。フィルムミラー1aは、樹脂基材101(以下、樹脂フィルムともいう。)上にミラー層102を有している。ミラー層102は、光反射層102aと、光反射層102a上に劣化防止層102bを積層した構成となっている。
 図2(b)に示されるフィルムミラーについて説明する。
 図中、1a′はフィルムミラーを示す。フィルムミラー1a′は、樹脂フィルム101′上に、下地層102′とミラー層103′とを有している。ミラー層103′は、金属薄膜層103′aと、光反射層103′bと、劣化防止層103′cとを順次有する構成となっている。
 図2(c)に示されるフィルムミラーについて説明する。
 図中、1a″はフィルムミラーを示す。フィルムミラー1a″は、樹脂フィルム101″上に、下地層102″と、ミラー層103″を有している。ミラー層103″は、金属薄膜層103″aと、光反射層103″bと、劣化防止層103″cとを順次有する構成となっている。劣化防層103″cは下地層102″と、金属薄膜層103″aと、光反射層103″bの端面(図1に示すフィルムミラー1の長辺側の端部12、13の端面)を覆う様に形成されている。
 尚、図1に示すフィルムミラー1の短辺側の端部14、15の端面も本図と同様に劣化防層で被覆されている。
 図2(a)から図2(c)に示す様な構成の中で、図2(c)に示す様な構成が好ましい。図2(c)に示す様な構成とすることで、フィルムミラーが外気に曝された時、ミラー層が空気中の水蒸気や酸素、及び紫外線に曝露され、下地層102″aの劣化及び金属薄膜層102″bと、光反射層102″cの劣化を防止することが可能となる。劣化防止層102″dにはガスバリア性と紫外線遮断性との機能を有することが好ましい。
 フィルムミラーの端面にガスバリア性を持たせるためには、種々の公知の手段を採り得るが、後述する無機ガスバリア層を設ける、又は、当該フィルムミラーの端面を構成する樹脂等の素材にガスバリア性の素材用いる等の手段を採ることが好ましい。又、紫外線遮断性を持たせるためには、後述する紫外線遮断層を設けることが好ましい。
 尚、「ガスバリア性」とは、酸素透過度が100(ml/m/day/atm)以下、水蒸気透過度が、温度40℃、相対湿度90%において、100(g/m/day)以下であることをいう。
 酸素透過度は、OXTRAN(MOCON社製)により測定した値を示す。
 水蒸気透過度は、PERMATRAN(MOCON社製)により測定した値を示す。
 本発明は、図1及び図2に示されるフィルムミラー及びこのフィルムミラーを用いた反射装置に関するものである。
 以下に、図2に示されるフィルムミラーを構成している樹脂基材、下地層、金属薄膜層、光反射層、劣化防止層について説明する。
 (樹脂基材)
 樹脂基材としては、従来公地の種々の樹脂フィルムを用いることが出来る。例えば、セルロースエステル系樹脂フィルム、ポリエステル系樹脂フィルム、ポリカーボネート系樹脂フィルム、ポリアリレート系樹脂フィルム、ポリスルホン(ポリエーテルスルホンも含む)系樹脂フィルム、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート等のポリエステル系樹脂フィルム、ポリエチレン樹脂フィルム、ポリプロピレン樹脂フィルム、セロファン、セルロースジアセテート樹脂フィルム、セルローストリアセテート樹脂フィルム、セルロースアセテートプロピオネート樹脂フィルム、セルロースアセテートブチレート樹脂フィルム、ポリ塩化ビニリデ樹脂ンフィルム、ポリビニルアルコール樹脂フィルム、エチレンビニルアルコール樹脂フィルム、シンジオタクティックポリスチレン系樹脂フィルム、ポリカーボネート樹脂フィルム、ノルボルネン系樹脂フィルム、ポリメチルペンテン樹脂フィルム、ポリエーテルケトン樹脂フィルム、ポリエーテルケトンイミド樹脂フィルム、ポリアミド樹脂フィルム、フッ素樹脂フィルム、ナイロン樹脂フィルム、ポリメチルメタクリレート樹脂フィルム、アクリル樹脂フィルム等を挙げることが出来る。中でも、ポリカーボネート系樹脂フィルム、ポリエステル系樹脂フィルム、ノルボルネン系樹脂フィルム、及びセルロースエステル系樹脂フィルムが好ましい。
 特にポリエステル系樹脂フィルム、セルロースエステル系樹脂フィルムを用いることが好ましく、溶融流延製膜で製造された樹脂フィルムであっても、溶液流延製膜で製造された樹脂フィルムであってもよい。
 又、樹脂基材として、セルロースなどを主成分としたバイオナノファイバーを樹脂中に分散させた複合材料を用いることも出来る。セルロースなどを主成分としたバイオナノファイバーを樹脂中に分散させた複合材料を用いた場合、単一の樹脂材料を用いる場合に比べ、外気の熱に起因して発生する樹脂基材の膨張を小さくすることが出来る。そのため、樹脂基材上に設けた光反射層や劣化防止層のクラックを防止することが可能となる。
 当該樹脂基材の厚さは、樹脂の種類及び目的等に応じて適切な厚さにすることが好ましい。例えば、一般的には、10μmから300μmの範囲内である。好ましくは20μmから200μm、更に好ましくは30μmから100μmである。
 又、樹脂基材としては、ロールtoロール法に使用可能な巻き取りが出来る樹脂フィルムが好ましい。
 (下地層)
 本発明のフィルムミラーにおいては、高分子フィルム基材と反射層との密着性を向上させる観点から、高分子フィルム基材と反射層間に下地層を設けることが好ましい。
 本発明のフィルムミラーに係る下地層に使用する樹脂では、上記密着性の他、耐熱性及び平滑性の条件を満足するものであれば特に制限はなく、ポリエステル系樹脂、アクリル系樹脂、メラミン系樹脂、エポキシ系樹脂、ポリアミド系樹脂、塩化ビニル系樹脂、塩化ビニル酢酸ビニル共重合体系樹脂等の単独、又はこれらの混合樹脂が使用出来、耐候性の点からポリエステル系樹脂とメラミン系樹脂の混合樹脂が好ましく、更にイソシアネート等の硬化剤を混合した熱硬化型樹脂とすればより好ましい。
 本発明において、下地層の厚さは、密着性、平滑性、反射層の反射率等を考慮し、0.01μmから3μmが好ましく、より好ましくは0.1μmから1μmである。
 下地層は、導電性高分子微粒子を含有することが好ましい。導電性高分子微粒子を含有する下地層を設けることにより、樹脂基材とミラー層の密着性を改善させることが出来、ミラー層の剥離による反射率の低下を防止することが可能となる。以下、導電性高分子微粒子及び下地層の形成方法について説明する。
 〈導電性高分子微粒子〉
 導電性高分子微粒子の製造方法としては、特開2008-163371号公報に記載の内容のように公知の技術を用いることが出来る。有機溶媒と水とアニオン系界面活性剤とを混合撹拌してなるO/W型の乳化液中に、π-共役二重結合を有するモノマーを添加し、当該モノマーを酸化重合することにより製造される。
 π-共役二重結合を有するモノマー及びアニオン系界面活性剤としては、ピロール、アニリン、チオフェン及び3,4-エチレンジオキシチオフェン等が挙げられ、より好ましくはピロールが挙げられる。
 反応系中でのアニオン系界面活性剤の量は、分散安定性、導電性の湿度依存性等を考慮し、π-共役二重結合を有するモノマー1molに対し0.2mol未満であることが好ましく、更に好ましくは0.05molから0.15molである。前記製造において乳化液の有機相を形成する有機溶媒は疎水性であることが好ましい。なかでも、芳香族系の有機溶媒であるトルエンやキシレンは、O/W型エマルションの安定性及びモノマーとの親和性の観点から好ましい。両性溶媒でもπ-共役二重結合を有するモノマーの重合を行うことは出来るが、生成した導電性高分子微粒子を回収する際の有機相と水相との分離が困難になる。
 反応系中での酸化剤の量は、モノマーの重合度、分散安定性等を考慮し、π-共役二重結合を有するモノマー1molに対して0.1molから0.8molであることが好ましく、更に好ましくは0.2molから0.6molである。
 導電性高分子微粒子の製造方法は、例えば以下のような工程を有する製造工程で行われる:(a)アニオン系界面活性剤、有機溶媒及び水を混合攪拌し乳化液を調製する工程、(b)π-共役二重結合を有するモノマーを乳化液中に分散させる工程、(c)モノマーを酸化重合しアニオン系界面活性剤にポリマー微粒子を接触吸着させる工程、(d)有機相を分液し導電性高分子微粒子を回収する工程。
 前記各工程は、当業者に既知である手段を利用して行うことが出来る。例えば、乳化液の調製時に行う混合攪拌は、特に限定されないが、例えばマグネットスターラー、攪拌機、ホモジナイザー等を適宜選択して行うことが出来る。又、重合温度は、反応速度を考慮し、0℃から25℃が好ましい。更に、好ましくは20℃以下である。
 酸化重合反応が停止されると、反応系は有機相と水相の二相に分かれるが、この際に未反応のモノマー、酸化剤及び塩は水相中に溶解して残存する。ここで、有機相を分液回収し、イオン交換水で数回洗浄すると、有機溶媒に分散した導電性高分子微粒子を入手することが出来る。
 上記の製造法により得られる導電性高分子微粒子は、主としてπ-共役二重結合を有するモノマー誘導体よりなり、そしてアニオン系界面活性剤を含む微粒子である。そしてその特徴は、微細な粒径と、有機溶媒中で分散可能であることである。
 導電性高分子微粒子は球形の微粒子となるが、その平均粒径は、光散乱を考慮し、10nmから100nmとするのが好ましい。
 導電性高分子微粒子を上記のように平均粒径の小さな微粒子にすることで、導電性高分子微粒子の表面積が極めて大きくなり、同一質量の導電性高分子微粒子でも、より多くの触媒金属を吸着出来るようになり、それにより下地層形成用塗膜層の薄膜化が可能となる。
 こうして得られた有機溶媒に分散した状態の導電性高分子微粒子は、濃縮して、又は乾燥させて塗料の導電性高分子微粒子成分として使用することが出来る。
 濃縮する方法としては、導電性高分子微粒子に影響を及ぼさなければ特に限定はなく、例えば減圧、加熱等が挙げられる。
 乾燥する方法としては、導電性高分子微粒子に影響を及ぼさなければ特に限定はなく、例えば減圧、加熱等が挙げられる。
 又、上記のようにして製造された導電性高分子微粒子でなくとも、例えば、市販で入手出来る導電性高分子微粒子を下地層形成用塗料の成分として使用することも出来る。
 (金属薄膜層)
 本発明のフィルムミラーは、光反射層と下地層との間に、少なくとも一層の金属薄膜層を有することが好ましい。金属薄膜層は、光反射層の防蝕を主目的として設けられる。このため、金属薄膜層を形成する金属としては、光反射層に銀を用いた場合、銀の酸化、硫化、塩化等を考慮し、銀よりも標準電極電位が卑であることが求められ、0.6V未満が好ましく、更に好ましくは0.4V未満である。金属薄膜層を形成する金属としては、例えば、銅、ニッケル、亜鉛、クロム、鉛、スズ、コバルト等が好ましい。
 尚、金属が、その金属イオンを一定濃度含んだ電解質と接するときの金属が示す電位を標準電極電位と呼び、電位が低い金属ほど陽極的となりイオンとなって溶出及び腐食しやすい。別に「イオン化傾向」という言葉があるが、これは標準電極電位の大きさの順である。以下に金属薄膜層を形成する金属のイオン化傾向を示す。
 卑←K,Na,Mg,Al,Zn,Cr,Fe,Ni,Sn,(H),Cu,Ag,Pt,Au→貴
 貴:標準電極電位の値として大きい、卑:標準電極電位の値として小さい
 ここで注意する点は、上記の順列は純粋な金属単体に関して成り立っているという点である。つまり、我々の周りに存在している金属は、特に「卑」な金属である程、酸化などの表面変化を受けやすく金属最表面は変化していると考えられ、酸化皮膜で覆われているといえる。
 この時、逆にAlなどの「卑」な金属の中には化学変化に安定な酸化不動態膜を最表面に形成すると言われる。不動態とは、金属表面に腐食作用に抵抗する酸化被膜が生じた状態のことであり、この被膜は溶液や酸にさらされても溶け去ることが無いため、内部の金属を腐食から保護するために用いられる。
 しかし、全ての金属が不動態となるわけではない。不動態になり易いのは、アルミニウム、ニッケル、鉄、コバルト、クロム、チタン、タンタル、ニオブなどやその合金である。
 金属薄膜層は、無電解めっき法、塗布法、蒸着法、又はスパッタ法により形成することが好ましい。特に、光反射層と同様に、無電解めっき法によることが好ましい。
 (光反射層)
 光反射層とは、可視光及び赤外光を反射する金属から構成された層のことをいう。又、光反射層は、樹脂基材上つまり、樹脂基材に対して光線入射側に形成されている。そのため、光線による樹脂基材の劣化を防止することが可能となる。
 光反射層は、銀を含有することが好ましい。銀を用いることにより、380nm以上の波長の光に対して、アルミニウムよりも高い反射率を得ることが出来る。
 光反射層に銀を用いる場合、基本的には、銀単体であることが望ましいが、その性質に害を及ぼさない程度の金、銅、ニッケル、鉄、コバルト、タングステン、モリブデン、タンタル、クロム、インジウム、マンガン、チタン、パラジウムなどの金属不純物が含まれても良い。
 (劣化防止層)
 本発明のフィルムミラーは、光反射層上に劣化防止層を有している。ここで、劣化防止層とは、光反射層や樹脂基材の劣化を防止するための層のことをいう。劣化防止層は、無機ガスバリア層、又は、無機酸化物層の少なくともどちらか一方の層から構成されている。好ましくは、無機ガスバリア層と無機酸化物層の両方から構成されていることが好ましい。又、劣化防止層は、紫外線遮断層を有していても良い。以下において、無機ガスバリア層、無機酸化物層、紫外線遮断層、保護コーティング層について説明する。
 (無機ガスバリア層)
 無機ガスバリア層とは、無機材料で構成されるガス分子の透過を抑制しうる緻密な構造の薄膜であり、例えば、金属化合物からなる薄膜(金属化合物薄膜)が挙げられる。
 無機ガスバリア層の形成方法は、目的の薄膜を形成出来る方法であればいかなる方法でも用いることが出来る。形成方法としては、例えば、スパッタリング法、真空蒸着法、イオンプレーティング法、プラズマCVD法などが適しており、具体的には特許登録第3400324号、特開2002-322561号、特開2002-361774号各公報記載の形成方法を採用することが出来る。
 無機ガスバリア層に含まれる成分は、上記性能を満たすものであれば特に限定されないが、例えば、Si、Al、In、Sn、Zn、Ti、Cu、Ce及びTa等からなる群から選ばれる1種以上の金属を含む酸化物、窒化物もしくは酸化窒化物などを用いることが出来る。好ましくは、Si、Al、In、Sn及びZnからなる群から選ばれた少なくとも1つ以上の金属から選ばれる。
 又、2層以上の無機ガスバリア層は、各々が同じ組成であってもよいし、異なる組成であってもよく、特に制限はされない。
 又、無機ガスバリア層としては、ガスバリア性と高透明性とを両立させることが出来る、珪素酸化物や珪素窒化物又は珪素酸化窒化物を用いるのが好ましい。無機ガスバリア層として珪素酸化物であるSiOxを用いる場合、良好なガスバリア性と高い光線透過率とを両立させるためには、1.6<x<1.9であることが望ましい。無機ガスバリア層として珪素窒化物であるSiNyを用いる場合は、1.2<y<1.3であることが好ましい。y<1.2となると着色が大きくなることがある。
 又、無機ガスバリア層として珪素酸化窒化物であるSiOを用いる場合、密着性向上を重視するのであれば、酸素リッチの膜とすることが好ましく、具体的には1<x<2及び、0<y<1を満足することが好ましい。一方、ガスバリア性の向上を重視する場合には、窒素リッチの膜とすることが好ましく、具体的には0<x<0.8及び0.8<y<1.3を満足することが好ましい。
 (無機酸化物層)
 以下において、無機酸化物層の構成要素等について説明する。
 〈無機酸化物粒子〉
 無機酸化物粒子の組成は特に制限は無いが、酸化珪素、酸化アルミニウム、酸化亜鉛、酸化チタン及び酸化ジルコニウムの何れかであることが好ましい。
 又、平均粒径は、光の散乱を考慮し、1nmから1μm、好ましくは3nmから300nm、更に好ましくは5nmから100nmである。
 平均粒径は、マスターサイザー2000 シスメックス(株)製で測定した値を示す。
 通常、μmオーダーの無機酸化物粒子の分散液より得られた塗膜を加熱処理するだけでは強固な塗膜は得られないが、使用する無機酸化物粒子がnmオーダーであることにより、比表面積が増大することで反応性が向上し、加熱処理によって強固な無機酸化物を形成出来る。一方で1nm以下の粒径の無機酸化物粒子は、そのもの自体を得ることが困難であるとともに、得られても短時間で粒子同士の凝集が進行してしまい、極めて不安定なものとなる。
 〈無機酸化物粒子を含有する無機酸化物膜〉
 無機酸化物膜とは、少なくとも上記の無機酸化物粒子と後述するシリカ系被膜を形成するためのポリシロキサン構造を有する化合物をその構成要素として含有する膜をいう。
 無機酸化物粒子の含有率は、成膜しやすい粘度を考慮し、無機酸化物膜の30vol%から99vol%が好ましく、50vol%から80vol%が更に好ましい。
 無機酸化物膜中の無機酸化物粒子の含有率については、フィルムミラーの断面を透過型電子顕微鏡で観察を行い、無機酸化物膜の全断面積中に含まれる無機微粒子の面積の合計の割合で示される。無機微粒子は膜中で元の粒子界面が観察されることから、無機微粒子の存在する面積を定量することが可能である。
 無機酸化物膜は蒸着法といったドライプロセスや、ゾルゲル法といったウェットプロセスにて成膜可能であるが、何れも結晶の粒界面が存在するため、ガスや水蒸気に対してのバリア性が十分ではなかったが、本発明のフィルムミラーに係る無機酸化物膜中に無機酸化物粒子が含有されていることにより、バリア性を損なう原因となるクラックの発生を極小化することが出来るため、バリア性を向上することが可能となった。
 〈ポリシロキサン構造を有する化合物〉
 ポリシロキサン構造を有する化合物としては、従来公知の種々の化合物を用いることが出来るが、シロキサンポリマー用いることが好ましい。
 シロキサンポリマーとしては、特に限定されず、Si-O-Si結合を有するポリマーである。このシロキサンポリマーの中でも、アルコキシシランの加水分解縮合物を好適に用いることが出来る。上記アルコキシシランとしては、あらゆる種類のアルコキシシランを用いることが出来る。このようなアルコキシシランとしては、例えば、下記一般式(a)で表される化合物を挙げることが出来る。
 一般式(a):R -Si(OR4-n(式中、Rは、水素、炭素数1から20のアルキル基又はアリール基であり、Rは1価の有機基であり、nは、0から2の整数を示す。)
 ここで、1価の有機基としては、例えば、アルキル基、アリール基、アリル基、グリジル基を挙げることが出来る。これらの中では、アルキル基及びアリール基が好ましい。アルキル基の炭素数は1から5が好ましく、例えば、メチル基、エチル基、プロピル基、ブチル基等を挙げることが出来る。又、アルキル基は直鎖状であっても分岐状であってもよく、水素がフッ素により置換されていてもよい。アリール基としては、炭素数6から20のもが好ましく、例えばフェニル基、ナフチル基等を挙げることが出来る。
 上記一般式(a)で表される化合物の具体例としては、
 (a1)n=0の場合、テトラメトキシシラン、テトラエトキシシラン、テトラプロポキシシラン、テトラブトキシシラン等を挙げることが出来、
 (a2)n=1の場合、モノメチルトリメトキシシラン、モノメチルトリエトキシシラン、モノメチルトリプロポキシシラン、モノエチルトリメトキシシラン、モノエチルトリエトキシシラン、モノエチルトリプロポキシシラン、モノプロピルトリメトキシシラン、モノプロピルトリエトキシシランなどのモノアルキルトリアルコキシシラン、モノフェニルトリメトキシシラン、モノフェニルトリエトキシシランなどのモノフェニルトリアルコキシシラン等を挙げることが出来、
 (a3)n=2の場合、ジメチルジメトキシシラン、ジメチルジエトキシシラン、ジメチルジプロポキシシラン、ジエチルジメトキシシラン、ジエチルジエトキシシラン、ジエチルジプロポキシシラン、ジプロピルジジメトキシシラン、ジプロピルジエトキシシラン、ジプロピルジプロポキシシランなどのジアルキルジアルコキシシラン、ジフェニルジメトキシシラン、ジフェニルジエトキシシランなどのジフェニルジアルコキシシラン等を挙げることが出来る。
 シリカ系被膜形成用組成物において、シロキサンポリマーの重量平均分子量は、200以上50000以下であることが好ましく、1000以上3000以下であることがより好ましい。この範囲であれば、シリカ系被膜形成用組成物の塗布性を向上させることが出来る。
 アルコキシシランの加水分解縮合は、重合モノマーとなるアルコキシシランを、有機溶媒中、酸触媒又は塩基触媒の存在下で反応させることにより得られる。重合モノマーとなるアルコキシシランは、1種のみの使用であっても、又複数種を組み合わせて縮合してもよい。
 又、トリメチルメトキシシラン、トリメチルエトキシシラン、トリメチルプロポキシシラン、トリエチルメトキシシラン、トリエチルエトキシシラン、トリエチルプロポキシシラン、トリプロピルメトキシシラン、トリプロピルエトキシシランなどのトリアルキルアルコキシシラン、トリフェニルメトキシシラン、トリフェニルエトキシシランなどのトリフェニルアルコキシシラン等を加水分解時に添加してもよい。
 縮合の前提となるアルコキシシランの加水分解の度合いは、添加する水の量により調整することが出来るが、一般的には、前記一般式(a)で示されるアルコキシシランの合計モル数に対して、1.0から10.0倍モルにすることが好ましく、1.5から8.0倍モルの割合で添加することがより好ましい。水の添加量を1.0倍モル以上にすることにより加水分解度を十分大きくすることが出来、被膜形成を良好にすることが出来る。一方で、10.0倍モル以下にすることによりゲル化を防止することが出来、保存安定性を良好にすることが出来る。
 又、一般式(a)で示されるアルコキシシランの縮合においては、酸触媒を用いることが好ましく、用いられる酸触媒としては、特に限定されるものではなく、従来慣用的に使用されている有機酸、無機酸の何れも使用することが出来る。有機酸としては、酢酸、プロピオン酸、酪酸等の有機カルボン酸を挙げることが出来、無機酸としては、塩酸、硝酸、硫酸、燐酸等が挙げられる。酸触媒は、アルコキシシランと水との混合物に直接添加するか、又は、水とともに酸性水溶液としてアルコキシシランに添加してもよい。
 加水分解反応は、通常5から100時間程度で完了する。又、室温から80℃を超えない加熱温度において、一般式(a)で示される1種以上のアルコキシシランを含む有機溶剤に酸触媒水溶液を滴下して反応させることにより、短い反応時間で反応を完了させることも可能である。加水分解されたアルコキシシランは、その後、縮合反応を起こし、その結果、Si-O-Siのネットワークを形成する。
 (紫外線遮断層)
 本発明のフィルムミラーに係る劣化防止層は、紫外線遮断層を有することが好ましい。紫外遮断層とは、紫外線遮断性を有する層のことをいう。紫外線遮断性とは、紫外線を遮断し可視光及び赤外光を通過することをいう。
 紫外線遮断層としては、樹脂フィルムの吸収波長を考慮し、波長350nmの紫外線を透過率10%まで遮断し、好ましくは5%以下にまで遮断する紫外線遮断性を持たせることが好ましい。尚、無機ガスバリア層と紫外線遮断層は同一の層であっても、別々の層であっても良い。
 紫外線遮断層としては、特に制限はないが、例えばチアゾリドン系、ベンゾトリアゾール系、アクリロニトリル系、ベンゾフェノン系、アミノブタジエン系、トリアジン系などの有機紫外線吸収剤、あるいは酸化セリウム、酸化マグネシウムなどの微粉末系紫外線遮断剤であり、特に有機紫外線吸収剤が好ましい。当該有機紫外線吸収剤として、例えば特開昭46-3335号、同55-152776号、特開平5-197074号、同5-232630号、同5-307232号、同6-211813号、同8-53427号、同8-234364号、同8-239368号、同9-31067号、同10-115898号、同10-147577号、同10-182621号各公報、独国特許第19739797A号、欧州特許第711804A号各公報及び特表平8-501291号公報、米国特許第1,023,859号、同第2,685,512号、同第2,739,888号、同第2,784,087号、同第2,748,021号、同第3,004,896号、同第3,052,636号、同第3,215,530号、同第3,253,921号、同第3,533,794号、同第3,692,525号、同第3,705,805号、同第3,707,375号、同第3,738,837号、同第3,754,919号、英国特許第1,321,355号明細書等に記載されている化合物を用いることが出来る。
 又紫外線遮断層は、光反射層に対して光線入射側に形成されている。光反射層に対して、光線入射側に位置していれば、特に限定はなく、光反射層、無機ガスバリア層、無機酸化物層の何れの間の位置に設置されても良い。又、フィルムミラーの光線入射側の最上面の位置に配置されても良い。
 (保護コーティング層)
 本発明のフィルムミラーにおいては、反射層上に保護コーティング層を有することが好ましい。
 保護コーティング層は、腐食防止剤を含み、反射層を形成する金属、例えば、銀の腐食劣化を防ぐとともに、太陽熱発電用反射装置を構成する際、保護コーティング層上に形成する粘着層との接着力向上に寄与するものである。
 保護コーティング層の形成に用いることの出来る樹脂としては、ポリエステル系樹脂、アクリル系樹脂、メラミン系樹脂、エポキシ系樹脂等の単独またはこれらの混合樹脂が使用出来、耐候性の点からポリエステル系樹脂、アクリル系樹脂が好ましく、更にイソシアネート等の硬化剤を混合した熱硬化型樹脂とすればより好ましい。
 イソシアネートは、TDI(トリレンジイソシアネート)系、XDI(キシレンジイソシアネート)系、MDI(メチレンジイソシアネート)系、HMDI(ヘキサメチレンジイソシアネート)系等の従来から使用されてきた各種イソシアネートが使用可能であるが、耐候性の点から、XDI系、MDI系、HMDI系のイソシアネートを使用するのが好ましい。
 保護コーティング層の厚さは、密着性、耐候性等の観点から、0.01μmから3μmが好ましく、より好ましくは0.1μmから1μmである。
 保護コーティング層の形成方法は、グラビアコート法、リバースコート法、ダイコート法等、従来公知のコーティング方法が使用出来る。
 保護コーティング層が含有する反射層の腐食防止剤としては、大別して、銀に対する吸着性基を有する腐食防止剤と酸化防止剤が好ましく用いられる。ここで、「腐食」とは、金属(銀)がそれをとり囲む環境物質によって、化学的または電気化学的に浸食されるか若しくは材質的に劣化する現象をいう(JIS Z0103-2004参照)。
 又、本発明のフィルムミラーにおいては、下塗り層が酸化防止剤を含有し、且つ保護コーティング層が銀に対する吸着性基を有する腐食防止剤を含有している態様も好ましい。
 尚、腐食防止剤の含有量は、使用する化合物によって最適量は異なるが、一般的には、0.1g/mから1.0g/mの範囲内であることが好ましい。
 〈銀に対する吸着性基を有する腐食防止剤〉
 本発明のフィルムミラーは銀に対する吸着性基を有する腐食防止剤を有することが好ましい。具体的には、アミン類およびその誘導体、ピロール環を有する化合物、トリアゾール環を有する化合物、ピラゾール環を有する化合物、チアゾール環を有する化合物、イミダゾール環を有する化合物、インダゾール環を有する化合物、銅キレート化合物類、チオ尿素類、メルカプト基を有する化合物、ナフタレン系の少なくとも一種又はこれらの混合物から選ばれることが望ましい。
 アミン類及びその誘導体としては、例えば、エチルアミン、ラウリルアミン、トリ-n-ブチルアミン、o-トルイジン、ジフェニルアミン、エチレンジアミン、ジエチレントリアミン、トリエチレンテトラミン、テトラエチレンペンタミン、モノエタノールアミン、ジエタノールアミン、トリエタノールアミン、2-N-ジメチルエタノールアミン、2-アミノ-2-メチル-1,3-プロパンジオール、アセトアミド、アクリルアミド、ベンズアミド、p-エトキシクリソイジン、ジシクロヘキシルアンモニウムナイトライト、ジシクロヘキシルアンモニウムサリシレート、モノエタノールアミンベンゾエート、ジシクロヘキシルアンモニウムベンゾエート、ジイソプロピルアンモニウムベンゾエート、ジイソプロピルアンモニウムナイトライト、シクロヘキシルアミンカーバメイト、ニトロナフタレンアンモニウムナイトライト、シクロヘキシルアミンベンゾエート、ジシクロヘキシルアンモニウムシクロヘキサンカルボキシレート、シクロヘキシルアミンシクロヘキサンカルボキシレート、ジシクロヘキシルアンモニウムアクリレート、シクロヘキシルアミンアクリレート等、或いはこれらの混合物が挙げられる。
 ピロール環を有する物としては、例えば、N-ブチル-2,5-ジメチルピロール,N-フェニル-2,5ジメチルピロール、N-フェニル-3-ホルミル-2,5-ジメチルピロール,N-フェニル-3,4-ジホルミル-2,5-ジメチルピロール等、或いはこれらの混合物が挙げられる。
 トリアゾール環を有する化合物としては、例えば、1,2,3-トリアゾール、1,2,4-トリアゾール、3-メルカプト-1,2,4-トリアゾール、3-ヒドロキシ-1,2,4-トリアゾール、3-メチル-1,2,4-トリアゾール、1-メチル-1,2,4-トリアゾール、1-メチル-3-メルカプト-1,2,4-トリアゾール、4-メチル-1,2,3-トリアゾール、ベンゾトリアゾール、トリルトリアゾール、1-ヒドロキシベンゾトリアゾール、4,5,6,7-テトラハイドロトリアゾール、3-アミノ-1,2,4-トリアゾール、3-アミノ-5-メチル-1,2,4-トリアゾール、カルボキシベンゾトリアゾール、2-(2′-ヒドロキシ-5′-メチルフェニル)ベンゾトリアゾール、2-(2′-ヒドロキシ-5′-tert-ブチルフェニル)ベンゾトリアゾール、2-(2′-ヒドロキシ-3′,5′-ジ-tert-ブチルフェニル)ベンゾトリアゾール、2-(2′-ヒドロキシ-4-オクトキシフェニル)ベンゾトリアゾール等、或いはこれらの混合物が挙げられる。
 ピラゾール環を有する化合物としては、例えば、ピラゾール、ピラゾリン、ピラゾロン、ピラゾリジン、ピラゾリドン、3,5-ジメチルピラゾール、3-メチル-5-ヒドロキシピラゾール、4-アミノピラゾール等、或いはこれらの混合物が挙げられる。
 チアゾール環を有する化合物としては、例えば、チアゾール、チアゾリン、チアゾロン、チアゾリジン、チアゾリドン、イソチアゾール、ベンゾチアゾール、2-N,N-ジエチルチオベンゾチアゾール、P-ジメチルアミノベンザルロダニン、2-メルカプトベンゾチアゾール等、或いはこれらの混合物が挙げられる。
 イミダゾール環を有する化合物としては、例えば、イミダゾール、ヒスチジン、2-ヘプタデシルイミダゾール、2-メチルイミダゾール、2-エチル-4-メチルイミダゾール、2-フェニルイミダゾール、2-ウンデシルイミダゾール、1-ベンジル-2-メチルイミダゾール、2-フェニル-4-メチルイミダゾール、1-シアノエチル-2-メチルイミダゾール、1-シアノエチル-2-フェニルイミダゾール、1-シアノエチル-2-エチル-4-メチルイミダゾール、1-シアノエチル-2-ウンデシルイミダゾール、2-フェニル-4-メチル-5-ヒドロメチルイミダゾール、2-フェニル-4,5ジヒドロキシメチルイミダゾール、4-フォルミルイミダゾール、2-メチル-4-フォルミルイミダゾール、2-フェニル-4-フォルミルイミダゾール、4-メチル-5-フォルミルイミダゾール、2-エチル-4-メチル-5-フォルミルイミダゾール、2-フェニル-4-メチル-4-フォルミルイミダゾール、2-メルカプトベンゾイミダゾール等、或いはこれらの混合物が挙げられる。
 インダゾール環を有する化合物としては、例えば、4-クロロインダゾール、4-ニトロインダゾール、5-ニトロインダゾール、4-クロロ-5-ニトロインダゾール等、或いはこれらの混合物が挙げられる。
 銅キレート化合物類としては、例えば、アセチルアセトン銅、エチレンジアミン銅、フタロシアニン銅、エチレンジアミンテトラアセテート銅、ヒドロキシキノリン銅等、或いはこれらの混合物が挙げられる。
 チオ尿素類としては、例えば、チオ尿素、グアニルチオ尿素等、或いはこれらの混合物が挙げられる。
 メルカプト基を有する化合物としては、すでに上記に記載した材料も加えれば、メルカプト酢酸、チオフェノール、1,2-エタンジオール、3-メルカプト-1,2,4-トリアゾール、1-メチル-3-メルカプト-1,2,4-トリアゾール、2-メルカプトベンゾチアゾール、2-メルカプトベンゾイミダゾール、グリコールジメルカプトアセテート、3-メルカプトプロピルトリメトキシシラン等、或いはこれらの混合物が挙げられる。
 ナフタレン系としては、チオナリド等が挙げられる。
 本発明に係る保護コーティング層に用いられる反射層の腐食防止剤としては、酸化防止剤、安定剤を用いることもできる。酸化防止剤、安定剤としては、先に説明した高分子フィルムに適用可能な酸化防止剤及び安定剤と同様のものを挙げることが出来る。
 図3は、図2(c)に示すフィルムミラーの製造工程の概略フロー図である。
 図中、2はフィルムミラーの製造工程を示す。製造工程2は基材供給工程2aと、下地層形成工程2bと、金属薄膜層形成工程2cと、光反射層形成工程2dと、劣化防止層形成工程2eと、回収工程2fとを有している。
 尚、フィルムミラーの製造工程2は連続的に基材を搬送しても良いし、各工程毎に回収して次工程で処理しても構わない。
 基材供給工程2aは、基材供給装置(不図示)を有し、下地層形成工程2bに短尺の樹脂フィルム101″(図1(c)参照)又はロール状の帯状の樹脂フィルム101″(図1(c)参照)が供給される。使用する樹脂フィルムは作製するフィルムミラーの用途に応じて適宜選択することが可能である。
 下地層形成工程2bは、塗布工程(不図示)と、乾燥工程(不図示)とを有しており、基材供給工程2aから供給された基材の上に下地層形成用塗料が塗布された後、乾燥し下地層102″(図1(c)参照)を形成する。
 尚、基材の上に下地層形成用塗料の塗布は、劣化防止層103″c(図1(c)参照)がミラー層103″(図1(c)参照)の端面を覆う基材の両端部を除いた領域である。
 (下地層形成用塗料の塗布方法)
 樹脂フィルムへの塗布方法は特に限定されず、例えばグラビア印刷機、インクジェット印刷機、ディッピング、スピンコーター、ロールコーター等を用いて、印刷又はコーティングすることが出来、又、必要に応じて加熱を行って、乾燥させることによって容易に樹脂フィルム上に導電性高分子微粒子を含む下地層形成用塗膜層を形成させることが出来る。
 下地層形成用塗膜層の厚さは、塗膜強度等を考慮し、20nmから500nmとなるようにするのが好ましい。下地層形成用塗膜層の厚さは、オリンパス(株)製レーザー顕微鏡LEXT OLS3500を使用して測定した値を示す。
 (下地層形成用塗料)
 本発明に使用する導電性高分子微粒子を含む下地層形成用塗料には、樹脂フィルムと下地層との密着性を向上させるためにバインダーを添加してもよい。
 (バインダー)
 添加するバインダーとしては、例えば、ポリ塩化ビニル樹脂、ポリカーボネート樹脂、ポリスチレン樹脂、ポリメチルメタクリレート樹脂、ポリエステル樹脂、ポリスルホン樹脂、ポリフェニレンオキシド樹脂、ポリブタジエン樹脂、ポリ(N-ビニルカルバゾール)樹脂、炭化水素樹脂、ケトン樹脂、フェノキシ樹脂、ポリアミド樹脂、エチルセルロース樹脂、酢酸ビニル樹脂、ABS樹脂、ポリウレタン樹脂、メラミン樹脂、不飽和ポリエステル樹脂、アルキド樹脂、エポキシ樹脂、シリコン樹脂等が挙げられる。
 バインダーを使用する場合の使用量は、金属めっきの析出量、樹脂フィルムへの下地層の密着性等を考慮し、又は導電性高分子微粒子1質量部に対して0.1質量部から10質量部が好ましい。
 又、本発明に使用する下地層形成用塗料は有機溶媒を含有するのが好ましい。使用する有機溶媒は、導電性高分子微粒子に損傷を与えず導電性高分子微粒子を分散させうるものであれば特に限定はしないが、好ましくは、ベンゼン、トルエン、キシレン等の芳香族炭化水素類等が挙げられる。
 更に、本発明に使用する下地層形成用塗料は用途や塗布対象物等の必要に応じて、分散安定剤、増粘剤、インキバインダ等の樹脂を加えることも可能である。
 金属薄膜層形成工程2cでは、下地層形成工程2bで形成された下地層の上に金属薄膜層103″a(図1(c)参照)が形成される。
 金属薄膜層は、無電解めっき法、塗布法、蒸着法、又はスパッタ法により形成することが好ましい。特に、光反射層と同様に、無電解めっき法によることが好ましい。
 尚、金属薄膜層の厚さは、生産性、反射層劣化防止等を考慮し、10nmから1000nmであることが好ましい。金属薄膜層の厚さは、オリンパス(株)製レーザー顕微鏡LEXT OLS3500で測定した値を示す。尚、金属薄膜層形成工程2cについては、図3、図4で詳細に説明する。
 光反射層形成工程2dでは、金属薄膜層形成工程2cで形成された金属薄膜層103″a(図1(c)参照)の上に光反射層が形成される。
 光反射層の形成法としては、湿式法及び乾式法のどちらも使用することが出来る。湿式法とは、めっき法の総称であり、溶液から金属を析出させ膜を形成する方法である。具体例を挙げるとすれば、無電解めっき法、銀鏡反応等がある。
 一方、乾式法とは、真空成膜法の総称であり、具体的に例示するとすれば、抵抗加熱式真空蒸着法、電子ビーム加熱式真空蒸着法、イオンプレーティング法、イオンビームアシスト真空蒸着法、スパッタ法などがある。特に、連続的に成膜するロールツーロール方式が可能な真空成膜法が好ましく用いられる。
 又、可視光領域のみならず、赤外光領域においても高反射率が得られることから、銀が最も好ましく用いられる。又、銀により光反射層を形成した場合は、より耐候劣化が顕著となる為、本発明のフィルムミラーの構成が効果的である。
 光反射層103″a(図2(c)参照)の厚さは、反射率及び資源の有効利用等を考慮し、70nmから400nmが好ましく、より好ましくは100nmから300nm、更に好ましくは150nmから250nmである。
 光反射層の厚さは、オリンパス(株)製レーザー顕微鏡LEXT OLS3500で測定した値を示す。
 劣化防止層形成工程2eは、樹脂フィルム101″(図2(c)参照)の上に形成された下地層102″(図2(c)参照)と、金属薄膜層103″a(図2(c)参照)と、光反射層103″a(図2(c)参照)との端面と光反射層103″a(図2(c)参照)との表面を被覆する様にして劣化防止層103″c(図2(c)参照)が形成され、図2(c)に示される構成を有するフィルムミラー1″作製される。
 劣化防止層が無機ガスバリア層の場合の形成方法は、目的の薄膜を形成出来る方法であればいかなる方法でも用いることが出来る。形成方法としては、例えば、スパッタリング法、真空蒸着法、イオンプレーティング法、プラズマCVD法などが適しており、具体的には特許登録第3400324号、特開2002-322561号、特開2002-361774号各公報記載の形成方法を採用することが出来る。
 又、無機ガスバリア層の厚みに関しても特に限定されないが、無機ガスバリア層の厚みは、曲げ応力によるクラック、無機ガスバリア層の均一化、ガスバリア性等を考慮し、5nmから1000nmの範囲内であることが好ましく、更に好ましくは10nmから1000nmであり、最も好ましくは10nmから200nmである。
 厚さは、オリンパス(株)製レーザー顕微鏡LEXT OLS3500で測定した値を示す。
 劣化防止層がポリシロキサン構造を有する化合物から構成される無機酸化物膜の場合の形成方法は、蒸着法といったドライプロセスや、ゾルゲル法といったウェットプロセスにて成膜可能である。
 ≪シリカ系被膜の形成方法≫
 シリカ系被膜の形成方法としては、まず、シリカ系被膜形成用組成物を光反射層又は、無機ガスバリア層上に塗布する。光反射層又は無機ガスバリア層上にシリカ系被膜形成用組成物を塗布する方法としては、例えば、スプレー法、スピンコート法、ディップコート法、ロールコート法など、任意の方法を用いることが出来るが、通常スピンコート法が用いられる。
 次に、光反射層又は無機ガスバリア層上に塗布されたシリカ系被膜形成用組成物を加熱処理する。加熱処理は、その手段、温度、時間などについては特に制限されないが、一般的には、80℃から300℃程度の温風炉にて10分から1時間程度の時間をかけて焼結させれば良い。
 シリカ系被膜形成用組成物によれば、加熱処理により加熱することで、酸又は塩基が発生する。この発生した酸又は塩基により加水分解が促進されるため、アルコキシ基がヒドロキシル基(水酸基)となり、アルコールが生成する。その後、2分子間でヒドロキシル基(水酸基)が重縮合することにより、Si-O-Siのネットワークが形成されるため、加熱処理により、緻密なシリカ系被膜を得ることが出来る。
 又、加熱処理は、好ましくは、3段階以上、段階的に昇温することが好ましい。具体的には、大気中又は窒素などの不活性ガス雰囲気下、60℃から150℃程度の温風炉にて2分間から10分間程度第1回目の加熱処理を行ったのち、100℃から220℃程度で2分間から10分間程度第2回目の加熱処理を行い、更に150℃から300℃程度で2分間から10分間程度第3回目の加熱処理を行う。このように3段階以上、好ましくは3から6段階程度の段階的な加熱処理を行うことにより、より低い温度で、シリカ系被膜の形成をすることが出来る。
 紫外線遮断層を付加する場合には、紫外線吸収剤あるいは紫外線遮断剤を有機バインダーに分散させて紫外線遮断層を形成することが好ましい。有機バインダーは、特に制限はないが合成樹脂類を用いることが出来る。紫外線遮断層の形成方法としては、例えば塗布による方法等を挙げることが出来る。塗布方式で前記塗膜を塗設する場合には、従来用いられる種々の塗布方法、例えば、スプレーコート、スピンコート、バーコート等の方法を用いることが出来る。塗布液中の紫外線吸収剤あるいは紫外線遮断剤は、紫外線透過率を調整するうえで適宜な量が含まれるが、好ましくは0.1質量%から50質量%であり、より好ましくは1質量%から30質量%である。
 紫外線遮断層の厚さは、樹脂基材の保護、遮断性等を考慮し、10nmから5000nmが好ましく、50nmから5000nmが更に好ましく、100nmから5000nmが最も好ましい。紫外線遮断層の厚さは、オリンパス(株)製レーザー顕微鏡LEXT OLS3500で測定した値を示す。
 回収工程2は、回収装置(不図示)を使用し、作製されたフィルムミラー1″(図2(c)参照)の形状に合わせ回収する。例えば、基材の樹脂フィルムが短尺の樹脂フィルムの場合は、一枚ごとに回収し、帯状の樹脂フィルムの場合はロール状に巻き取り回収する。
 図4は下地層が形成された樹脂フィルムの下地層の上に無電解金属めっき法で金属薄膜層を形成する概略工程フロー図である。図4(a)は導電性高分子微粒子を含む下地層が形成された樹脂フィルムの下地層の上に無電解金属めっき法で金属薄膜層を形成する概略工程フロー図である。図4(b)は還元性高分子微粒子を含む下地層が形成された樹脂フィルムの下地層の上に無電解金属めっき法で金属薄膜層を形成する概略工程フロー図である。
 尚、本図は図3に示したフィルムミラーの製造工程で基材にロール状の帯状の樹脂フィルム101″(図2(c)参照)を使用した場合を示している。
 図4(a)に示す工程フロー図につき説明する。
 図中、2cは金属薄膜層形成工程を示す。工程2cは、脱ドープ工程2c1と、第1水洗工程2c2と、触媒金属付着工程2c3と、第2水洗工程2c4と、金属析出工程2c5と、第3水洗工程2c6とを有している。
 脱ドープ工程2c1は、下地層102″(図2(c)参照)に導電性高分子微粒子を用いた場合は、無電解めっきを行う前に、導電性高分子微粒子を還元性とするために脱ドープするため必要とする。
 脱ドープ工程2c1では、下地層形成工程2b(図2参照)から連続的に搬送されてくる下地層102″(図2(c)参照)が形成された樹脂フィルム101″を前処理液2c12の中を通過させ脱ドープ処理が行われる。
 尚、脱ドープ処理とは、導電性高分子微粒子中に含まれるドーパントを抜いて、よりドーパントの少ない状態、通常は実質的にドープされていない状態にすることである。脱ドープする方法としては、ドーパントがアニオンの場合は、アルカリ溶液中に浸漬する方法、固体のアルカリと接触させる方法などが例示され、ドーパントがカチオンの場合には、酸溶液中に浸漬する方法、酸性固体と接触させる方法などが例示される。また、イオンを含まない多量の溶媒で洗浄する方法、電気化学的にドーパントを抜く方法などによっても脱ドープすることが出来る。
 脱ドープ処理により、下地層に使用された導電性高分子微粒子が、還元性微粒子と変わる。
 (前処理液)
 前処理液は、還元により脱ドープするための還元剤、例えば、水素化ホウ素ナトリウム、水素化ホウ素カリウム等の水素化ホウ素化合物、ジメチルアミンボラン、ジエチルアミンボラン、トリメチルアミンボラン、トリエチルアミンボラン等のアルキルアミンボラン、及び、ヒドラジン等を含む溶液、又は、アルカリ性溶液が挙げられる。
 操作性及び経済性等の観点からアルカリ性溶液を使用するのが好ましい。
 アルカリ性溶液としては、緩和なアルカリ条件、例えば、1M 水酸化ナトリウム水溶液や、pH9から10程度の溶液で処理することが出来る。
 具体的な溶液としては、1M 水酸化ナトリウム水溶液、ATSコンディクリンCIW2(奥野製薬工業(株)社製)の10質量%水溶液(pH9からpH10)等が挙げられる。
 処理温度は、20℃から70℃、好ましくは30℃から60℃であり、処理時間は、2分から10分、好ましくは、3分から7分である。
 第1水洗工程2c2では、脱ドープ処理が行われた樹脂フィルム101″に付着している前処理液2c12の洗浄が行われる。
 触媒金属付着工程2c3では、脱ドープ処理が行われた樹脂フィルム101″の下地層102″(図2(c)参照)の表面に触媒金属を付着させるために触媒液2c31の中を通過させる。
 触媒金属吸着量は、樹脂基材と金属との密着性、反射率、生産コスト等を考慮し、0.1μg/cm以上となるようにするのが好ましい。更に、0.1μg/cmから10μg/cmが好ましい。
 (触媒液)
 触媒液は、無電解めっきに対する触媒活性を有する貴金属(触媒金属)を含む溶液であり、触媒金属としては、パラジウム、金、白金、ロジウム等が挙げられ、これら金属は単体でも化合物でもよく、触媒金属を含む溶液の安定性の点からパラジウム化合物が好ましく、その中でも塩化パラジウムが特に好ましい。
 好ましい、具体的な触媒液としては、0.02%塩化パラジウム-0.01%塩酸水溶液(pH3)が挙げられる。
 処理温度は、触媒の密着性を考慮し、20℃から50℃、好ましくは30℃から40℃であり、処理時間は、生産性、触媒付着量等を考慮し、0.1分から10分、好ましくは、1分から5分である。第2水洗工程2c4では、樹脂フィルム101″の下地層102″(図2(c)参照)の表面に付着している触媒液2c31の洗浄を行う。
 金属析出工程2c5では、第2水洗工程2c4で、樹脂フィルム101″の下地層102″(図2(c)参照)の表面に付着している触媒液2c31の洗浄が行われた樹脂フィルム101″をめっき液2c51で処理することで下地層102″(図2(c)参照)の表面に金属を析出させ、下地層102″(図2(c)参照)の表面に金属薄膜層103″b(図2(c)参照)が形成される。
 (めっき液)
 めっき液としては、通常、無電解めっきに使用されるめっき液であれば、特に限定されない。
 即ち、無電解めっきに使用出来る金属、銅、金、銀、ニッケル、クロム等、全て適用することが出来るが、銀のマイグレーションを防止するために銅が好ましい。
 無電解銅めっき浴の具体例としては、例えば、ATSアドカッパーIW浴(奥野製薬工業(株)社製)が挙げられる。
 処理温度は、めっき析出速度、めっき膜の緻密性等を考慮し、20℃から50℃、好ましくは30℃から40℃であり、処理時間は、めっき膜厚、生産性等を考慮し、1分から30分、好ましくは、5分から15分である。
 本発明に使用する連続的な無電解めっき方法を用いることにより、ロールtoロール法で無電解金属めっきが施された樹脂フィルムを連続的に製造することが出来る。
 第3水洗工程2c6では、樹脂フィルム101″の下地層102″(図2(c)参照)の表面に形成された金属薄膜層103″b(図2(c)参照)に付着しているめっき液2c51の洗浄を行う。
 第3水洗工程2c6が終了した後、光反射層形成工程2d(図3参照)に搬送される。尚、一旦巻き取り回収した後、劣化防止層形成工程2e(図3参照)で処理しても構わない。
 本図に示す金属薄膜層形成工程2cの各工程での樹脂フィルムの処理速度は、0.1m/分から10m/分であり、好ましくは0.5m/分から1.5m/分である。
 図4(b)に示す工程フロー図につき説明する。尚、本図は図4(a)と同じロールtoロール法の場合を示している。
 図4(a)に示す工程フロー図との違いは、脱ドープ工程2c1と、第1水洗工程2c2とがない他は全て同じである。又、触媒金属付着工程2c3と、第2水洗工程2c4と、金属析出工程2c5と、第3水洗工程2c6の処理条件も同じである。
 図4(a)、図4(b)に示す各工程の条件(温度、時間等)は、各溶液が入った槽内のロール数或いは槽の大きさを変えることにより、各工程の処理時間を調整することが可能となっている。
 本発明のフィルムミラーは、太陽光を反射するミラーであることが好ましい。更に、フィルムミラーを搭載した反射装置として屋外で使用することが好ましい。以下、反射装置について図5から図7で説明する。
 図5は反射装置の概略図である。図5(a)は反射装置の概略斜視図である。図5(b)は図5(a)に示す反射装置の筐体に収納されているフィルムミラーの概略斜視図である。
 図中、3aは反射装置を示す。301は反射装置の筐体を示す。302は筐体301に配設された曝射用の窓を示す。
 筐体301には、繰り出し部303aと、巻き取り部303bとを有する搬送部303と、保持部304とを有している。搬送部303にはフィルムミラー1が搭載され収納されている。尚、保持部304はフィルムミラー1の両端を保持するため1対で構成されている。
 繰り出し部303aと、巻き取り部303bとは逆であっても構わない。フィルムミラー1はロール芯に巻かれたロール状で繰り出し部303aに搭載され、巻き取り部303bでロール芯に巻かれて回収される。
 11はフィルムミラー1のミラー面を示す。17はフィルムミラー1の長辺側の端部12、端部13に設けられたすべり防止突起部を示す。
 すべり防止突起部17を設けることにより、保持部304の内側面とすべり防止突起部17との接触面に摩擦がはたらき、風などの影響によりフィルムミラー1のミラー面11の曝射する面16がずれるのを防ぐことが可能となり、フィルムミラー1安定性を得ることが出来る。
 搬送部303を有することにより、反射及び集光のため太陽光に曝射しているフィルムミラー1のミラー面11の曝射する面16の反射率が低下した場合において、曝射する面16を新しい面に変えることが可能となるので、曝射する面16の反射率の低下を防止することが可能となる。
 保持部304は、搬送部303に搭載されたフィルムミラー1のミラー面11の曝射する面16が風などの影響によって、揺らぐのを抑制することが出来るため、ミラーの反射率の低下を防止することが可能となる。
 保持部304の形状は、ミラー面の形状に対応して変えることが可能である。例えば、フィルムミラー1のミラー面11のミラー面11の曝射する面16が平面であれば直線形状の保持部を用いることが好ましく、フィルムミラー1のミラー面11の曝射する面が、内側に湾曲した形状であれば湾曲形状の保持部を用いることが好ましい。本図は直線形状の保持部の場合を示している。湾曲形状の保持部に関しては図7に示す。
 本図に示す反射装置3に使用しているフィルムミラー1は図2(c)に示される構成を有しており、大きさは、長い方の幅が15m、短い方の幅が1.4mとなっている。又、フィルムミラー1の長辺側の両端部の両端面が、ガスバリア性を有する劣化防止層103″c(図2(c)参照)で覆われている。
 フィルムミラー1の具体的な構成として、樹脂基材は、2軸延伸ポリエステルフィルム(ポリエチレンテレフタレートフィルム、厚み175μm)を用いている。下地層は、樹脂基材上に導電性ポリピロール微粒子を含む塗料を100nmの塗膜厚で塗布により形成している。金属薄膜層は、下地層上に厚み0.3μmの銅をめっきにより形成している。光反射層は、金属薄膜層上に厚み0.3μmの銀をめっきにより形成している。劣化防止層は、光反射層上に無機酸化物粒子を含有する塗布液を厚さが1μmとなるように塗布により形成している。
 すべり防止突起部17は、樹脂基材又は劣化防止層と同一材料から構成されていても良いし、樹脂基材や劣化防止層と異なる材料から構成されていても良い。例えば、樹脂基材あるいは劣化防止層の光入射側の表面に突起形状を付与することにより、すべり防止突起部17を形成しても良い。本図は、劣化防止層の光入射側の表面に突起形状を付与することにより、すべり防止突起部を形成している。
 すべり防止突起部17の突起部の形状をループ状とする場合、フィルムミラー1のミラー面11に接触する保持部304の内面304bにかぎ状の突起形状をつけても良い。これにより、保持部とすべり防止突起部との接触面に、より摩擦がはたらくため、さらなるフィルムミラーの固定安定性を得ることが可能となる。
 すべり防止突起部17の形成方法としては、型押し、インクジェット塗布による凸部形成等の方法が挙げられる。
 図6は図5のB-B′に沿った概略断面図である。図6(a)は図5のB-B′に沿った拡大概略断面図である。
 保持部304の断面形状はコの字形状を有し、フィルムミラー1の裏面19を保持する内面304aは、搬送時のフィルムミラー1の平面性を保持する上から平面であることが好ましい。又、面ファスナーを設けても良い。
 フィルムミラー1のミラー面11と接触する内面304bは、フィルムミラー1のすべりを防止するすべり防止手段を設けても構わない。又、保持部304としては、例えばクリップ、可動式として挟み込む方式等が挙げられる。
 図7は図5に示す反射装置の筐体に収納されている他の形態のフィルムミラーの概略斜視図である。尚、本図は筐体を省略した場合を示している。
 図中、筐体(不図示)には、繰り出し部303′aと、巻き取り部303′bとを有する搬送部303′と、保持部304′とを有している。搬送部303′にはフィルムミラー1が搭載され収納されている。尚、保持部304′はフィルムミラー1の両端を保持するため1対で構成されている。
 保持部304′は内側に湾曲した形状をしている。このためフィルムミラー1のミラー面11の曝射する面16も湾曲した状態で保持される。
 繰り出し部303′aと、巻き取り部303′bとは逆であっても構わない。フィルムミラー1はロール芯に巻かれたロール状で繰り出し部303′aに搭載され、巻き取り部303′bでロール芯に巻かれて回収される。他の符号は図5と同義である。
 曝射する面を湾曲することで、反射光を集光することが出来、集光点をある所定の位置にしたい場合は保持部304′の湾曲形状を適宜設計することが可能となっている。
 図8は、フィルムミラーのミラー面を清掃する清掃部を有する反射装置の概略斜視図である。尚、本図は筐体は省略してある。
 筐体は図5(a)に示す反射装置の筐体で保持部304の代わりに清掃部4を配設した他は同じであるので清掃部4の説明をして搬送部の説明は省略する。又、使用しているフィルムミラー1′はベルト状の形状をしている。但し、フィルムミラー1′も長辺側の両端部にすべり防止突起部17(図5(b)参照)を設けていない他は図5に示すフィルムミラー1と全て同じであるので説明は省略する。
 清掃部4を配設することで、ベルト状のフィルムミラー1′のミラー面1′1に付着した砂や埃などを除去することが出来るため、ベルト状のフィルムミラー1′の反射率の低下を防止することが可能となる。そのため、一度利用したミラー面1′1であっても、清掃部4によりミラー反射率を改善させることで、繰り返し同じミラー面1′1を利用することが可能となり、ベルト状のフィルムミラー1′の取替えの頻度を少なくすることが可能となる。
 清掃部4としては、ベルト状のフィルムミラー1′のミラー面1′1に付着した砂や埃を除去することが出来るものならば、いかなる手段を用いても構わないが、例えば、エアー吹き付けノズル、吸引ノズル、ブラシ形状等のものを用いることが出来る。本図はブラシを用いた場合を示している。
 尚、ベルト状のフィルムミラー1′は、長尺のフィルムミラーの先頭と後尾を接合することで作製することが可能である。
 図9は、ミラー面に異物拡散手段を設けたフィルムミラーを使用した反射装置の概略斜視図である。尚、本図は筐体を省略してある。筐体は図5(a)に示す反射装置の筐体で保持部304を有さない他は同じであるので搬送部を含め、説明は省略する。又、使用しているフィルムミラー1″はベルト状の形状をしている。
 図中3cは反射装置を示す。5はフィルムミラー1″の表面上に異物拡散手段として設けた突起部を示す。突起部5の間隔は曝射面に合わせて配設されている。突起部5は、フィルムミラー1″の長辺側に対して、直交する向きに形成することが好ましい。突起部5を設けることにより、曝射面を変えるためにフィルムミラー1″を搬送するときに、液体や砂なども一緒に搬送することが可能となる。従って、液体や砂などが、曝射面を変える際に新しい曝射面に流れ出ないようにすることが可能となる。突起部の高さは10mm以内にすることが好ましい。
 突起部の作成方法は、例えば劣化防止層を構成するシリカ系被膜をディップコート法で作成する際に凹型を押し付けることにより幅、高さともに数十μmの突起部をつけることが出来る。又、突起部5として、金属ワイヤーや樹脂製ワイヤーをフィルムミラー1″のミラー面に接着させても良い。突起の数は少なければ反射率への影響が少なく良いが、フィルムミラー1″の傾斜させる角度によって突起の本数を増減しても良い。
 尚、ベルト状のフィルムミラー1″は、長尺のフィルムミラーの先頭と後尾を接合することで作製することが可能である。
 1、1′、1″、1a、1a′、1a″ フィルムミラー
 11、1′1 ミラー面
 12、13、14、15 端部
 16 面
 17 すべり防止突起部
 101、101′、101″ 樹脂基材(樹脂フィルム)
 102 ミラー層
 102a、103′b、103″b 光反射層
 102b、103′c、103″c 劣化防止層
 102′、102″ 下地層
 103′、103″ ミラー層
 103′a、103″a 金属薄膜層
 2 製造工程
 2a 基材供給工程
 2b 下地層形成工程
 2c 金属薄膜層形成工程
 2d 光反射層形成工程
 2e 劣化防止層形成工程
 2f 金属薄膜層形成工程
 3a 反射装置
 302 窓
 303a、303′a 繰り出し部
 303b、303′b 巻き取り部
 304、304′ 保持部
 4 清掃部
 5 突起部

Claims (14)

  1.  樹脂基材上に光反射層を有するフィルムミラーであって、
     前記光反射層上に、劣化防止層を有し、
     前記フィルムミラーの何れか一方の幅が、前記フィルムミラーの反射及び集光に使用するミラー面の曝射する面の幅よりも長いことを特徴とするフィルムミラー。
  2.  前記フィルムミラーの何れか一方の幅が、前記フィルムミラーの反射及び集光に使用するミラー面の曝射する面の幅の2倍以上の長さを有することを特徴とする請求項1に記載のフィルムミラー。
  3.  前記フィルムミラーのミラー層の長辺側の両端部の両端面が、ガスバリア性を有する劣化防止層で覆われていることを特徴とする請求項1又は2に記載のフィルムミラー。
  4.  前記フィルムミラーのミラー層の短辺側の両端部の両端面が、ガスバリア性を有する劣化防止層で覆われていることを特徴とする請求項1から3の何れか1項に記載のフィルムミラー。
  5.  前記光反射層をAgで構成したことを特徴とする請求項1から4の何れか1項に記載のフィルムミラー。
  6.  前記樹脂基材が、セルロースを主成分とするバイオナノファイバーを含有することを特徴とする請求項1から5の何れか1項に記載のフィルムミラー。
  7.  太陽光を反射することを特徴とする請求項1から6の何れか1項に記載のフィルムミラー。
  8.  屋外で使用することを特徴とする請求項1から7の何れか1項に記載のフィルムミラー。
  9.  前記フィルムミラーの反射及び集光のため使用するミラー面の曝射する面を、曝射終了後、連続している新規の曝射する面に変えることを特徴とする請求項1から8の何れか1項に記載のフィルムミラー。
  10.  請求項1から9の何れか1項に記載のフィルムミラーを搭載したことを特徴とする反射装置。
  11.  前記フィルムミラーを搬送する搬送部を有することを特徴とする請求項10に記載の反射装置。
  12.  前記フィルムミラーの反射及び集光のため使用するミラー面の曝射する面を、曝射終了後、連続している新規の曝射する面に、前記フィルムミラーを移動させ変更することが出来ることを特徴とする請求項10又は11に記載の反射装置。
  13.  前記フィルムミラーを保持する保持部を有することを特徴とする請求項10から12の何れか1項に記載の反射装置。
  14.  前記フィルムミラー表面を清掃する清掃部を有することを特徴とする請求項10から13の何れか1項に記載の反射装置。
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