WO2010143471A1 - 高周波スイッチモジュール - Google Patents

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上嶋孝紀
村瀬永徳
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Definitions

  • the present invention relates to a module using a high frequency switch, and more particularly to a high frequency switch module including a high frequency switch having an input / output shared terminal and a substrate on which the high frequency switch is mounted.
  • Patent Document 1 describes a high-frequency switch module corresponding to a conventional mobile phone system such as GSM and DCS and a next-generation mobile phone system, UMTS.
  • FIG. 1 is a plan view of a high-frequency switch module RFM1 described in Patent Document 1.
  • FIG. 1 is a plan view of a high-frequency switch module RFM1 described in Patent Document 1.
  • FIG. 1 is a plan view of a high-frequency switch module RFM1 described in Patent Document 1.
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  • FIG. 1 is a plan view of a high-frequency switch module RFM1 described in Patent Document 1.
  • FIG. 1 is a plan view of a high-frequency switch module RFM1 described in Patent Document 1.
  • FIG. 1 is a plan view of a high-frequency switch module RFM1 described in Patent Document 1.
  • FIG. 1 is a plan view of a high-frequency switch module RFM1 described
  • An external connection signal terminal pattern and a bias voltage input terminal pattern 61 are formed as LGA (land grid array) type electrodes on the lower surface of the dielectric multilayer substrate A and near the side surface of the dielectric multilayer substrate A.
  • the external connection signal terminal patterns are GSM850 / 900-Tx, DCS / PCS-Tx, PCS-Rx, and DCS-Rx terminals formed on the external substrate on which the dielectric multilayer substrate A is mounted, GSM900-Rx , GSM850-Rx, UMTS800 / 850-T / Rx, and UMTS2100-T / Rx terminals.
  • the high-frequency switches SW1 and SW2 and the decoder DEC1 of the high-frequency switch module RFM1 are mounted on the top surface of the dielectric multilayer substrate A via a die pad 67.
  • capacitors C, inductors L, etc. constituting the low-pass filters LPF1, LPF2 are provided on the upper surface of the dielectric multilayer substrate A as chip components (lumped constant elements), and the capacitors C constituting the low-pass filters LPF1, LPF2 A part of the inductor L or the like is provided as a conductor pattern on the upper surface or the inner layer of the dielectric multilayer substrate A.
  • An antenna connecting wire bonding pad 60 is formed on the upper surface of the dielectric multilayer substrate A, and the antenna connecting wire bonding pad 60 is connected to the antenna terminals ANT1 and ANT2 through a conductor pattern.
  • a wire bonding pad 63 connected to an external connection signal terminal pattern on the lower surface of the high frequency switching module is formed on the upper surface of the dielectric multilayer substrate A via a high frequency signal path formed of a conductor layer 65 or a via hole.
  • a wire bonding pad 62 connected to the bias voltage input terminal pattern 61 on the lower surface of the high frequency switching module is formed through a bias voltage supply path formed by a via hole.
  • Bias voltage input terminals 31 'to 34' and 41 'to 44' formed on the surfaces of the high frequency switches SW1 and SW2, and bias voltage input terminals 31 to 34 and 41 to 44 formed on the surface of the decoder DEC1. Are connected by a wire W2.
  • the switching control signal terminals 51 to 54 formed on the surface of the decoder DEC1 are connected to the switching control signal supply wire bonding pad 62 by wires W3.
  • These switching control signal supply wire bonding pads 62 are electrically connected to terminals 61 formed on the back surface of the dielectric multilayer substrate A through the via holes.
  • the LPF sometimes serves as a matching circuit for the high-frequency switch and the transmission circuit side element, and the high-frequency switch and the transmission circuit are impedance-matched by this LPF.
  • a matching circuit for impedance matching between the high frequency switch and the SAW filter is disposed.
  • connection terminal of the high-frequency switch is connected to the terminal on the transmission / reception circuit side (63 in FIG. 1) on the dielectric multilayer substrate.
  • impedance mismatching may occur between the high frequency switch (UMTS terminal portion) and the subsequent circuit, or characteristic impedance in the UMTS circuit portion may vary. For this reason, there is a problem that low insertion loss characteristics and low VSWR characteristics cannot be obtained.
  • an object of the present invention is to provide a high-frequency switch module in which variation in characteristics in the input / output common terminal portion of the high-frequency switch is reduced.
  • the present invention is configured as follows. (1) a high-frequency switch having a plurality of high-frequency terminals, a common terminal, a control terminal, and a power supply terminal, wherein the high-frequency switch selectively connects between any high-frequency terminal and the common terminal among the plurality of high-frequency terminals;
  • a high frequency switch module comprising a filter or a matching circuit connected to the high frequency switch, The filter or matching circuit is configured to be integrated with a rectangular plate-shaped substrate,
  • the high frequency switch is configured on a rectangular plate-like semiconductor substrate,
  • the high frequency switch is mounted on the substrate,
  • the high-frequency terminal, the common terminal, and the power supply terminal are formed on one main surface of the semiconductor substrate, the high-frequency terminal includes an input / output shared terminal, and all the input / output shared terminals are connected to the input / output
  • a shared internal electrode is disposed along a predetermined side of the semiconductor substrate;
  • An input / output shared external electrode that is electrically connected to the input / output shared internal electrode is
  • the wiring length between the input / output shared internal electrode and the input / output shared external electrode formed on the substrate can be shortened, impedance mismatching can be reduced, and the high frequency switch and the subsequent circuit can be reduced.
  • Signal insertion loss can be reduced (reflection loss reduced).
  • the substrate is a multilayer substrate in which insulators and wiring electrodes are alternately stacked, On the first main surface of the multilayer substrate, the input / output internal electrode is provided, on the second main surface of the multilayer substrate, the input / output external electrode is provided, A part of the wiring electrode is a via hole for conducting the input / output shared internal electrode and the input / output shared external electrode, and the arrangement order of the input / output shared internal electrode and the input / output shared external electrode is the same and arranged The direction is approximately parallel.
  • the I / O shared internal electrode that conducts with the I / O shared terminal of the high-frequency switch and the I / O shared external electrode that conducts with the electrode on the mounting circuit board are parallel and in the same line.
  • the wiring length between the electrodes can be made uniform. For this reason, variation in characteristics in the input / output shared terminal portion of the high-frequency switch is reduced.
  • the high frequency switch is mounted on the substrate, for example, such that a predetermined side of the semiconductor substrate and a side of the substrate are adjacent to each other. With this structure, the wiring length between the input / output shared internal electrode and the input / output shared external electrode formed on the substrate can be easily reduced.
  • the input / output shared internal electrode placement region is within the input / output shared external electrode placement region.
  • At least one of the input / output shared internal electrodes is directly connected to the input / output shared external electrode via the via hole.
  • the matching circuit is connected to the common terminal of the high-frequency switch, for example.
  • it can be used as a high-frequency switch module including an antenna matching circuit, and the total number of parts can be reduced.
  • the wiring length between the input / output shared internal electrode and the input / output shared external electrode formed on the substrate can be shortened, variation thereof can be suppressed, impedance mismatching can be reduced, and the high frequency switch Signal insertion loss between the first stage and the second stage circuit can be reduced.
  • FIG. 1 is a plan view of a high frequency switch module described in Patent Document 1.
  • FIG. It is a circuit diagram of the high frequency switch module concerning a 1st embodiment. It is a top view of the high frequency switch module concerning a 1st embodiment.
  • FIG. 3 is a cross-sectional view showing a connection relationship between the high-frequency switch 100 and the multilayer substrate 101 shown in FIG. 2.
  • FIG. 5 is a diagram illustrating a configuration of each layer of the multilayer substrate 101 illustrated in FIGS. 3 and 4.
  • FIG. 6 is a diagram subsequent to FIG. 5, illustrating a configuration of each layer of the multilayer substrate 101. It is a top view of the high frequency switch module 202 concerning a 2nd embodiment.
  • FIG. 2 is a circuit diagram of the high-frequency switch module according to the first embodiment.
  • the high-frequency switch module 201 includes a high-frequency switch 100, low-pass filters LPF1, LPF2, SAW filters F1, F2, F3, and F4 connected to the high-frequency switch 100, and matching circuits L1, L2, L3, L4, and MC. ing.
  • the matching circuit MC includes a capacitor MCu and an inductor MLu connected to the shunts at both ends of a series circuit of the inductor MLt and the capacitor MCc.
  • the high frequency switch 100 includes a plurality of high frequency terminals Tx1, Tx2, Rx1, Rx2, Rx3, Rx4, U1, U2, U3, a common terminal Ant, control terminals Vc1, Vc2, Vc3, Vc4, a power supply terminal Vdd, and a ground. Terminals Gnd0 to Gnd4 are provided.
  • the terminal Tx1 is a GSM850 / 900 transmission signal input terminal
  • Tx2 is a GSM1800 / 1900 transmission signal input terminal
  • Rx1 is a GSM850 received signal output terminal
  • Rx2 is a GSM900 received signal output terminal
  • Rx3 is a GSM1800 received signal output terminal
  • Rx4 is a GSM1900 received signal output terminal.
  • U1 is an input / output terminal of UMTS1 (for example, UMTS800 in 800 MHz band)
  • U2 is an input / output terminal of UMTS2 (for example, UMTS850 in 850 MHz band)
  • U3 is an input / output terminal of UMTS3 (for example, UMTS2100 in 2100 MHz band).
  • the common terminal Ant is an antenna terminal to which the antenna ANT is connected.
  • the control terminals Vc1 to Vc4 receive the control voltage signals VC1 to VC4 and selectively conduct between any high frequency terminal and the common terminal Ant among the plurality of high frequency terminals. That is, the high-frequency switch 100 is an SP9T (Single pole, 9 throw) switch. For example, when the UMTS 1 is used, the common terminal Ant and the input / output common terminal U 1 are made conductive.
  • FIG. 3 is a top view of the high-frequency switch module according to the first embodiment.
  • the high frequency switch module 201 is configured by mounting the high frequency switch 100 and the SAW filters F1 to F4 on the upper surface of the multilayer substrate 101. At least a part of the low-pass filters LPF1 and LPF2 and the matching circuits L1 to L4 and MC shown in FIG.
  • the multilayer substrate 101 is a ceramic multilayer substrate in which insulators (dielectric ceramics) and wiring electrodes are alternately stacked.
  • the high frequency switch 100 is formed on a rectangular plate-like semiconductor substrate.
  • the plurality of high-frequency terminals, common terminals, control terminals, and power supply terminals of the high-frequency switch 100 are formed on one main surface (lower surface) of the semiconductor substrate.
  • the multilayer substrate 101 may be a resin multilayer substrate in which a resin and a wiring electrode are alternately laminated.
  • the input / output shared terminals U1, U2, U3 are arranged along one side of the semiconductor substrate (the right side in the figure).
  • the input / output shared external electrodes UMTS1, UMTS2, and UMTS3 that are electrically connected to the input / output shared internal electrodes to which the input / output shared terminals U1, U2, and U3 are connected are formed along one side (the right side in the drawing) of the multilayer substrate 101. Has been.
  • one side of the semiconductor substrate on which the input / output shared terminals U1, U2, and U3 are disposed and the one side of the multilayer substrate 101 on which the input / output shared external electrodes UMTS1, UMTS2, and UMTS3 are disposed are adjacent to each other. .
  • the input / output shared internal electrodes to which the input / output shared terminals U1, U2, U3 are connected are electrically connected to the input / output shared external electrodes UMTS1, UMTS2, UMTS3 via the wiring electrodes inside the multilayer substrate 101, respectively.
  • broken lines E1, E2, and E3 conceptually represent the wiring electrodes.
  • the arrangement direction of the input / output common internal electrodes to which the input / output common terminals U1, U2, and U3 are connected is substantially parallel to the arrangement direction of the input / output common external electrodes UMTS1, UMTS2, and UMTS3 that are electrically connected to the electrodes on the mounting circuit board. And the arrangement order is the same.
  • the input / output shared internal electrode placement region A0 through which the input / output shared terminals U1, U2, and U3 conduct is within the range of the input / output shared external electrode UMTS1, UMTS2, and UMTS3 placement region A1. Therefore, the wiring length between the input / output shared internal electrode through which the input / output shared terminals U1, U2 and U3 are conductive and the input / output shared external electrodes UMTS1, UMTS2 and UMTS3 can be shortened on average.
  • FIG. 4 is a cross-sectional view showing a connection relationship between the high-frequency switch 100 and the multilayer substrate 101 shown in FIG. However, in order to avoid complication of the drawings, hatching representing a cross-sectional portion is omitted.
  • wiring electrodes E201 to E214 and the like are formed in the multilayer substrate 101.
  • the other wiring electrodes inside the multilayer substrate 101 are not shown.
  • the input / output shared internal electrode U2P of the upper surface electrodes formed on the upper surface of the multilayer substrate 101 and the input / output shared external electrode UMTS2 of the lower surface electrodes of the multilayer substrate 101 are connected via the wiring electrodes E201 to E214. It is connected.
  • the input / output shared terminal U2 of the high-frequency switch 100 is connected to the input / output shared internal electrode U2P. The same applies to the other input / output shared terminals U1, U3.
  • FIG. 5 and 6 are diagrams showing the configuration of each layer of the multilayer substrate 101.
  • FIG. 5 and 6 are continuous.
  • (A) in FIG. 5 is the uppermost layer of the multilayer substrate 101
  • (H) in FIG. 6 is the lowermost layer.
  • FIG. 5A is a view of the lower surface of the high-frequency switch 100 and the SAW filters F1 to F4 mounted on the upper surface of the multilayer substrate.
  • the high frequency switch 100 is flip-chip connected to the upper surface of the multilayer substrate 101 via metal bumps such as solder.
  • a small circle pattern is a via hole, and the other patterns are a line extending in the surface direction, an electrode for forming an inductor, and an electrode for forming a capacitor.
  • These wiring electrodes constitute the low-pass filters LPF1 and LPF2 and matching circuits L1 to L4 and MC shown in FIG.
  • the input / output shared internal electrodes to which the input / output shared terminals U1, U2, and U3 are connected are arranged along one side (of the semiconductor substrate) of the high-frequency switch 100, and along the one side of the multilayer substrate 101, the input Since the input / output shared external electrodes UMTS1, UMTS2, and UMTS3 that are connected to the output shared internal electrode are formed, the wiring length between the input / output shared internal electrode and the input / output shared external electrode can be shortened, and impedance mismatch The signal insertion loss between the high-frequency switch and the subsequent circuit can be reduced (reflection loss can be reduced).
  • the arrangement direction of the input / output shared internal electrodes that are electrically connected to the input / output shared terminals U1, U2, and U3 of the high-frequency switch 100 and the arrangement of the input / output shared external electrodes UMTS1, UMTS2, and UMTS3 that are electrically connected to the electrodes of the mounting circuit board Since the directions are parallel and the arrangement order is the same, the wiring lengths between the input / output shared internal electrodes and the input / output shared external electrodes UMTS1, UMTS2, and UMTS3 can be made uniform. For this reason, variation in characteristics in the input / output shared terminal portion of the high-frequency switch is reduced.
  • the matching circuit MC by connecting the matching circuit MC to the common terminal Ant of the high-frequency switch 100, the impedance between the antenna ANT connected to the common terminal Ant and the high-frequency switch 100 can be matched. Variations in characteristics can be further reduced.
  • FIG. 7 is a top view of the high-frequency switch module 202 according to the second embodiment.
  • the first embodiment is different from the high frequency switch module 201 shown in FIG. 3 in that the input / output shared external electrodes UMTS1, UMTS2, UMTS3 formed on the multilayer substrates 101, 102 and the input formed on the high frequency switch 100 are different. This is a positional relationship with the output common terminals U1, U2, U3.
  • the center of the arrangement range of the input / output shared internal electrodes through which the input / output shared terminals U1, U2, and U3 conduct is close to the center of the arrangement range of the input / output shared external electrodes UMTS1, UMTS2, and UMTS3.
  • the center of the arrangement range of the input / output shared internal electrodes through which the input / output shared terminals U1, U2, and U3 are conductive coincides with the formation position of the input / output shared terminal U2, and the input / output shared external electrodes UMTS1, UMTS2, and UMTS3
  • the center of the arrangement range coincides with the formation position of the input / output shared external electrode UMTS2.
  • the wiring length between the input / output shared internal electrodes to which the input / output shared terminals U1, U2, and U3 are connected and the input / output shared external electrodes UMTS1, UMTS2, and UMTS3 can be shortened on average. Accordingly, impedance mismatch can be reduced, and signal insertion loss between the high frequency switch and the subsequent circuit can be reduced (reflection loss is reduced).
  • the formation position of the input / output shared internal electrode to which U2 is connected overlaps with the formation region of the input / output shared external electrode UMTS2. Therefore, via holes for connecting the two are formed in a straight line inside the multilayer substrate 102, and both are directly connected. Therefore, the wiring length between the input / output shared internal electrode and the input / output shared external electrode can be further shortened.

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Abstract

　高周波スイッチの入出力共用端子部における特性のばらつきを低減した高周波スイッチモジュールを構成する。　高周波スイッチモジュール(２０１)は、多層基板(１０１)の上面に高周波スイッチ(１００)及びＳＡＷフィルタ(Ｆ１～Ｆ４)が搭載されて構成されている。高周波スイッチ(１００)の複数の高周波端子、共通端子、制御端子、及び電源端子は半導体基板の下面に形成されている。前記高周波端子のうち入出力共用端子(Ｕ１,Ｕ２,Ｕ３)は半導体基板の一辺に沿って配置されている。一方、入出力共用端子(Ｕ１,Ｕ２,Ｕ３)が接続される入出力共用内部電極と導通する入出力共用外部電極(ＵＭＴＳ１,ＵＭＴＳ２,ＵＭＴＳ３)が多層基板(１０１)の一辺に沿ってそれぞれ形成されている。

Description

高周波スイッチモジュール
　本発明は、高周波スイッチを用いたモジュールに関し、特に入出力共用端子を備えた高周波スイッチとそれが搭載される基板とからなる高周波スイッチモジュールに関するものである。
　特許文献１には、ＧＳＭやＤＣＳなどの従来の携帯電話システムと次世代の携帯電話システムであるＵＭＴＳに対応する高周波スイッチモジュールが記載されている。
　図１は、特許文献１に記載されている高周波スイッチモジュールＲＦＭ１の平面図である。誘電体多層基板Ａの各誘電体層間には、所定パターンの導体層が形成されている。また、各誘電体層には複数の層にわたって回路を構成し又は接続するために必要なビアホール導体が形成されている。
　誘電体多層基板Ａの下面で該誘電体多層基板Ａの側面に近い部分には外部接続用信号端子パターン及びバイアス電圧入力用端子パターン６１がＬＧＡ（ランドグリッドアレイ）方式の電極として形成されている。外部接続用信号端子パターンは、誘電体多層基板Ａが搭載されている外部基板に形成されたＧＳＭ８５０／９００－Ｔｘ、ＤＣＳ／ＰＣＳ－Ｔｘ、ＰＣＳ－Ｒｘ、ＤＣＳ－Ｒｘの各端子、ＧＳＭ９００－Ｒｘ、ＧＳＭ８５０－Ｒｘ、ＵＭＴＳ８００／８５０－Ｔ／Ｒｘ、ＵＭＴＳ２１００－Ｔ／Ｒｘの各端子と直接つながっている。
　高周波スイッチモジュールＲＦＭ１の高周波スイッチＳＷ１、ＳＷ２及びデコーダＤＥＣ１は、誘電体多層基板Ａの上面にダイパッド６７を介して表面実装されている。
　また、ローパスフィルタＬＰＦ１、ＬＰＦ２を構成するコンデンサＣ、インダクタＬ等の一部が、チップ部品（集中定数素子）として誘電体多層基板Ａの上面に設けられ、ローパスフィルタＬＰＦ１、ＬＰＦ２を構成するコンデンサＣ、インダクタＬ等の一部が、誘電体多層基板Ａの上面又は内層に導体パターンとして設けられている。
　誘電体多層基板Ａの上面には、アンテナ接続用ワイヤボンディングパッド６０が形成されていて、このアンテナ接続用ワイヤボンディングパッド６０は、導体パターンを通してアンテナ端子ＡＮＴ１，２とつながっている。
　誘電体多層基板Ａの上面には、導体層６５やビアホールで形成された高周波信号用経路を介して、高周波スイッチングモジュール下面の外部接続用信号端子パターンに接続されるワイヤボンディングパッド６３が形成され、ビアホールで形成されたバイアス電圧供給用経路を介して、高周波スイッチングモジュール下面のバイアス電圧入力用端子パターン６１に接続されるワイヤボンディングパッド６２が形成されている。
　高周波スイッチＳＷ１、ＳＷ２の表面に形成されたバイアス電圧入力用端子３１′～３４′，４１′～４４′と、デコーダＤＥＣ１の表面に形成されたバイアス電圧入力用端子３１～３４，４１～４４とが、それぞれワイヤＷ２により接続されている。また、デコーダＤＥＣ１の表面に形成された切り替え制御信号用端子５１～５４が、ワイヤＷ３により、切り替え制御信号供給用ワイヤボンディングパッド６２に接続されている。これらの切り替え制御信号供給用ワイヤボンディングパッド６２は前記ビアホールを介して、誘電体多層基板Ａの裏面に形成された端子６１と電気的に接続されている。
特開２００６－１２１２１０号公報
　図１に示したようなマルチバンド対応の高周波スイッチモジュールにおいては、ＧＳＭやＤＣＳ用回路の送信回路側に高次高調波を低減するためのローパスフィルタ（ＬＰＦ）が配置される構成が一般的である。また、ＧＳＭやＤＣＳ用回路の受信回路側には受信信号から不要波を除去するためのＳＡＷフィルタが配置される。ここで、ＬＰＦは高周波スイッチと送信回路側素子との整合回路を兼ねていることがあり、このＬＰＦにより高周波スイッチと送信回路とはインピーダンス整合される。また、ＳＡＷフィルタを配置した場合、高周波スイッチとＳＡＷフィルタとの間に両者をインピーダンス整合させるための整合回路が配置される。
　しかし、ＵＭＴＳ用回路では、その高周波スイッチの接続端子は誘電体多層基板上の送受信回路側の端子（図１中の６３）に接続されるため、接続用ワイヤボンドの長さや多層基板上あるいは内部の配線長や配線形状などにより高周波スイッチ（ＵＭＴＳ端子部）と後段の回路との間でインピーダンスの不整合が生じたり、ＵＭＴＳ用回路部における特性インピーダンスにばらつきが生じたりする。そのため、低挿入損失特性や低ＶＳＷＲ特性が得られない、という問題があった。
　そこで、この発明の目的は、高周波スイッチの入出力共用端子部における特性のばらつきを低減した高周波スイッチモジュールを提供することにある。
　前記課題を解決するために、本発明は次のように構成する。
（１）複数の高周波端子、共通端子、制御端子、及び電源端子を有し、前記複数の高周波端子のうち任意の高周波端子と前記共通端子との間を選択的に導通させる高周波スイッチと、前記高周波スイッチに接続されたフィルタまたは整合回路とを備えた高周波スイッチモジュールであって、
　前記フィルタまたは整合回路は矩形板状の基板に一体化されるように構成され、
　前記高周波スイッチは矩形板状の半導体基板に構成され、
　前記高周波スイッチは前記基板に実装され、
　前記高周波端子、前記共通端子、及び前記電源端子は前記半導体基板の一方の主面上に形成され、前記高周波端子は入出力共用端子を含み、すべての前記入出力共用端子が接続される入出力共用内部電極が前記半導体基板の所定の一辺に沿って配置され、
　前記基板の一辺に沿って、前記入出力共用内部電極に導通する入出力共用外部電極が形成されている。
　上記の構成により、基板に形成されている入出力共用内部電極と入出力共用外部電極との間の配線長を短くでき、インピーダンスの不整合を低減でき、高周波スイッチと後段回路との間での信号の挿入損失を低減（反射損失を小さく）できる。
（２）前記基板は、絶縁体と配線電極とが交互に積層された多層基板であり、
　前記多層基板の第１の主面上に、前記入出力共用内部電極を備え、前記多層基板の第２の主面上に、前記入出力共用外部電極を備え、
　前記配線電極の一部は、前記入出力共用内部電極と前記入出力共用外部電極とを導通させるビアホールであり、前記入出力共用内部電極及び前記入出力共用外部電極の配置順が同一で且つ配列方向を略平行とする。
　高周波スイッチの入出力共用端子と導通する入出力共用内部電極と実装先の回路基板の電極と導通する入出力共用外部電極とが平行で同じ並びになるので、入出力共用内部電極と入出力共用外部電極との間の配線長を揃えることができる。そのため、高周波スイッチの入出力共用端子部における特性のばらつきが小さくなる。
（３）前記高周波スイッチは、例えば前記半導体基板の所定の一辺と前記基板の一辺とが隣接するように前記基板に搭載される。
　この構造により、基板に形成されている入出力共用内部電極と入出力共用外部電極との間の配線長を容易に短くできる。
（４）前記入出力共用内部電極の配置範囲の中央と、前記入出力共用外部電極の配置範囲の中央とを近接させる。
　この構成により、入出力共用内部電極と入出力共用外部電極との間の配線長を平均的に短くできる。
（５）前記入出力共用内部電極の配置領域は前記入出力共用外部電極の配置領域の範囲内とする。
　この構成により、入出力共用内部電極と入出力共用外部電極との間の配線長を平均的に短くできる。
（６）前記入出力共用内部電極の少なくとも一つは前記ビアホールを介して前記入出力共用外部電極に直接接続されている。
　この構成により、入出力共用内部電極と入出力共用外部電極との間の配線長をより短くできる。
（７）前記整合回路は、例えば前記高周波スイッチの前記共通端子に接続されている。
　このことにより、アンテナ整合回路をも含む高周波スイッチモジュールとして用いることができ、全体の部品点数が削減できる。
　本発明によれば、基板に形成されている入出力共用内部電極と入出力共用外部電極との間の配線長を短くでき、且つそのばらつきが抑えられ、インピーダンスの不整合を低減でき、高周波スイッチと後段回路との間での信号の挿入損失を低減できる。
特許文献１に記載されている高周波スイッチモジュールの平面図である。 第１の実施形態に係る高周波スイッチモジュールの回路図である。 第１の実施形態に係る高周波スイッチモジュールの上面図である。 図２に示した高周波スイッチ１００と多層基板１０１との接続関係を示す断面図である。 図３・図４に示した多層基板１０１の各層の構成を示す図である。 図５に続く図であり、多層基板１０１の各層の構成を示す図である。 第２の実施形態に係る高周波スイッチモジュール２０２の上面図である。
《第１の実施形態》
　第１の実施形態に係る高周波スイッチモジュールについて図２～図６を参照して説明する。
　図２は第１の実施形態に係る高周波スイッチモジュールの回路図である。この高周波スイッチモジュール２０１は、高周波スイッチ１００と、この高周波スイッチ１００に接続されたローパスフィルタＬＰＦ１，ＬＰＦ２，ＳＡＷフィルタＦ１，Ｆ２，Ｆ３，Ｆ４、及び整合回路Ｌ１，Ｌ２，Ｌ３，Ｌ４，ＭＣを備えている。
　なお、整合回路ＭＣは、インダクタＭＬｔとキャパシタＭＣｃの直列回路の両端にシャントに接続されるキャパシタＭＣｕとインダクタＭＬｕとで構成されている。
　前記高周波スイッチ１００は、複数の高周波端子Ｔｘ１，Ｔｘ２，Ｒｘ１，Ｒｘ２，Ｒｘ３，Ｒｘ４，Ｕ１，Ｕ２，Ｕ３、共通端子Ａｎｔ、制御端子Ｖｃ１，Ｖｃ２，Ｖｃ３，Ｖｃ４、及び電源端子Ｖｄｄ、さらにはグランド端子Ｇｎｄ０～Ｇｎｄ４を備えている。
　前記高周波端子のうち、端子Ｔｘ１はＧＳＭ８５０／９００の送信信号入力端子、Ｔｘ２はＧＳＭ１８００／１９００の送信信号入力端子である。またＲｘ１はＧＳＭ８５０の受信信号出力端子、Ｒｘ２はＧＳＭ９００の受信信号出力端子、Ｒｘ３はＧＳＭ１８００の受信信号出力端子、Ｒｘ４はＧＳＭ１９００の受信信号出力端子である。さらにＵ１はＵＭＴＳ１（例えば８００ＭＨｚ帯のＵＭＴＳ８００）の入出力端子、Ｕ２はＵＭＴＳ２（例えば８５０ＭＨｚ帯のＵＭＴＳ８５０）の入出力端子、Ｕ３はＵＭＴＳ３（例えば２１００ＭＨｚ帯のＵＭＴＳ２１００）の入出力端子である。
　また前記共通端子ＡｎｔはアンテナＡＮＴが接続されるアンテナ端子である。
　前記制御端子Ｖｃ１～Ｖｃ４は制御電圧信号ＶＣ１～ＶＣ４を入力して複数の高周波端子のうち任意の高周波端子と共通端子Ａｎｔとの間を選択的に導通させる。すなわち高周波スイッチ１００はＳＰ９Ｔ(Single pole, 9 throw)のスイッチであり、例えばＵＭＴＳ１を用いる場合には、共通端子Ａｎｔと入出力共用端子Ｕ１とを導通させる。
　図３は第１の実施形態に係る高周波スイッチモジュールの上面図である。この高周波スイッチモジュール２０１は、多層基板１０１の上面に高周波スイッチ１００及びＳＡＷフィルタＦ１～Ｆ４が搭載されて構成されている。図２に示したローパスフィルタＬＰＦ１，ＬＰＦ２及び整合回路Ｌ１～Ｌ４，ＭＣの少なくとも一部は多層基板１０１の内部に構成されている。多層基板１０１は絶縁体（誘電体セラミック）と配線電極とが交互に積層されたセラミック多層基板である。高周波スイッチ１００は矩形板状の半導体基板に構成されている。高周波スイッチ１００の前記複数の高周波端子、共通端子、制御端子、及び電源端子は前記半導体基板の一方の主面（下面）に形成されている。
　なお、多層基板１０１は、樹脂と配線電極とが交互に積層された樹脂多層基板であってもよい。
　多層基板１０１の上面には、高周波スイッチ１００の各種端子が接続される内部電極（上面電極）が形成されている。そして、図３において破線で示すように、多層基板１０１の下面には、高周波スイッチモジュール２０１の実装先である回路基板の電極に接続するための外部電極（下面電極）が形成されている。
　前記高周波端子のうち入出力共用端子Ｕ１，Ｕ２，Ｕ３は半導体基板の一辺（図における右側の辺）に沿って配置されている。一方、入出力共用端子Ｕ１，Ｕ２，Ｕ３が接続される入出力共用内部電極と導通する入出力共用外部電極ＵＭＴＳ１，ＵＭＴＳ２，ＵＭＴＳ３が多層基板１０１の一辺（図における右側の辺）に沿って形成されている。そして、入出力共用端子Ｕ１，Ｕ２，Ｕ３を配置した半導体基板の一辺と入出力共用外部電極ＵＭＴＳ１，ＵＭＴＳ２，ＵＭＴＳ３を配置した多層基板１０１の一辺とが隣りあうように近接して配置している。
　入出力共用端子Ｕ１，Ｕ２，Ｕ３が接続される入出力共用内部電極は、多層基板１０１内部の配線電極を介して入出力共用外部電極ＵＭＴＳ１，ＵＭＴＳ２，ＵＭＴＳ３とそれぞれ導通している。図３において破線Ｅ１，Ｅ２，Ｅ３は前記配線電極を概念的に表したものである。
　入出力共用端子Ｕ１，Ｕ２，Ｕ３が接続される入出力共用内部電極の配列方向と、実装先の回路基板の電極に導通する入出力共用外部電極ＵＭＴＳ１，ＵＭＴＳ２，ＵＭＴＳ３の配列方向とはほぼ平行であり、配置順が同一である。
　入出力共用端子Ｕ１，Ｕ２，Ｕ３が導通する入出力共用内部電極の配置領域Ａ０は入出力共用外部電極ＵＭＴＳ１，ＵＭＴＳ２，ＵＭＴＳ３の配置領域Ａ１の範囲内にある。そのため、入出力共用端子Ｕ１，Ｕ２，Ｕ３が導通する入出力共用内部電極と入出力共用外部電極ＵＭＴＳ１，ＵＭＴＳ２，ＵＭＴＳ３との間の配線長を平均的に短くできる。
　図４は、図２に示した高周波スイッチ１００と多層基板１０１との接続関係を示す断面図である。但し、図面の煩雑化を避けるため、断面部分を表すハッチングを省略している。
　図４に示すように、多層基板１０１の内部には配線電極Ｅ２０１～Ｅ２１４等が形成されている。多層基板１０１の内部のその他の配線電極については図示を省略している。多層基板１０１の上面に形成されている上面電極のうちの入出力共用内部電極Ｕ２Ｐと、多層基板１０１の下面電極のうちの入出力共用外部電極ＵＭＴＳ２とは、前記配線電極Ｅ２０１～Ｅ２１４を介して接続されている。前記高周波スイッチ１００の入出力共用端子Ｕ２は入出力共用内部電極Ｕ２Ｐに接続される。他の入出力共用端子Ｕ１，Ｕ３についても同様である。
　図５・図６は多層基板１０１の各層の構成を示す図である。図５と図６は連続している。図５中の（Ａ）が多層基板１０１の最上層、図６中の（Ｈ）が最下層である。いずれの図も各層の下面から上面方向を見た図である。したがって図５中の（Ａ）の図は多層基板の上面に搭載される高周波スイッチ１００、ＳＡＷフィルタＦ１～Ｆ４の下面を見た図となっている。なお、本実施形態においては、高周波スイッチ１００ははんだなどの金属バンプを介して多層基板１０１の上面にフリップチップ接続されている。
　各層において小円パターンはビアホール、その他のパターンは面方向に延びる線路、インダクタ形成用の電極、及び容量形成用の電極である。これらの配線電極によって、図２に示したローパスフィルタＬＰＦ１，ＬＰＦ２及び整合回路Ｌ１～Ｌ４，ＭＣが構成されている。
　例えば、高周波スイッチ１００の入出力共用端子Ｕ１，Ｕ２，Ｕ３のうち、例えはＵ２に着目すると、Ｅ２０１→Ｅ２０２→Ｅ２０３→Ｅ２０４→Ｅ２０５→Ｅ２０６→Ｅ２０７→Ｅ２０８→Ｅ２０９→Ｅ２１０→Ｅ２１１→Ｅ２１２→Ｅ２１３→Ｅ２１４という経路で導通し、最終的に入出力共用外部電極ＵＭＴＳ２に導通する。他の入出力共用端子及び入出力共用外部電極についても同様である。
　このように、入出力共用端子Ｕ１，Ｕ２，Ｕ３が接続される入出力共用内部電極が高周波スイッチ１００の（半導体基板の）一辺に沿って配置され、多層基板１０１の一辺に沿って、前記入出力共用内部電極に導通する入出力共用外部電極ＵＭＴＳ１，ＵＭＴＳ２，ＵＭＴＳ３が形成されているため、前記入出力共用内部電極と入出力共用外部電極との間の配線長を短くでき、インピーダンスの不整合を低減でき、高周波スイッチと後段回路との間での信号の挿入損失を低減（反射損失を小さく）できる。
　また、高周波スイッチ１００の入出力共用端子Ｕ１，Ｕ２，Ｕ３と導通する入出力共用内部電極の配列方向と、実装先の回路基板の電極に導通する入出力共用外部電極ＵＭＴＳ１，ＵＭＴＳ２，ＵＭＴＳ３の配列方向とが平行で配置順が同一であるので、入出力共用内部電極と入出力共用外部電極ＵＭＴＳ１，ＵＭＴＳ２，ＵＭＴＳ３との間の配線長を揃えることができる。そのため、高周波スイッチの入出力共用端子部における特性のばらつきが小さくなる。
　また、高周波スイッチ１００の共通端子Ａｎｔに整合回路ＭＣを接続することにより、共通端子Ａｎｔに接続されるアンテナＡＮＴと高周波スイッチ１００とのインピーダンスを整合させることができ、高周波スイッチ１００の共通端子部における特性のばらつきをさらに小さくすることができる。
《第２の実施形態》
　図７は第２の実施形態に係る高周波スイッチモジュール２０２の上面図である。第１の実施形態で図３に示した高周波スイッチモジュール２０１と異なるのは、多層基板１０１，１０２に形成されている入出力共用外部電極ＵＭＴＳ１，ＵＭＴＳ２，ＵＭＴＳ３と高周波スイッチ１００に形成されている入出力共用端子Ｕ１，Ｕ２，Ｕ３との位置関係である。
　図７に示す例では、入出力共用端子Ｕ１，Ｕ２，Ｕ３が導通する入出力共用内部電極の配置範囲の中央と入出力共用外部電極ＵＭＴＳ１，ＵＭＴＳ２，ＵＭＴＳ３の配置範囲の中央とが近接している。この例では入出力共用端子Ｕ１，Ｕ２，Ｕ３が導通する入出力共用内部電極の配置範囲の中央は、入出力共用端子Ｕ２の形成位置と一致し、入出力共用外部電極ＵＭＴＳ１，ＵＭＴＳ２，ＵＭＴＳ３の配置範囲の中央は、入出力共用外部電極ＵＭＴＳ２の形成位置と一致している。
　また、入出力共用端子Ｕ１，Ｕ２，Ｕ３が接続される入出力共用内部電極の配列方向と、実装先の回路基板の電極に導通する入出力共用外部電極ＵＭＴＳ１，ＵＭＴＳ２，ＵＭＴＳ３の配列方向とはほぼ平行であり、配置順が同一である。
　この構成によって、入出力共用端子Ｕ１，Ｕ２，Ｕ３が接続される入出力共用内部電極と入出力共用外部電極ＵＭＴＳ１，ＵＭＴＳ２，ＵＭＴＳ３との間の配線長を平均的に短くできる。したがって、インピーダンスの不整合を低減でき、高周波スイッチと後段回路との間での信号の挿入損失を低減（反射損失を小さく）できる。
　さらに、図７に示した例では、高周波スイッチ１００の入出力共用端子のうち、Ｕ２が接続される入出力共用内部電極の形成位置が入出力共用外部電極ＵＭＴＳ２の形成領域と重なっている。したがって両者を接続するビアホールが多層基板１０２の内部を直線状に形成されていて、両者は直接接続される。そのため入出力共用内部電極と入出力共用外部電極との間の配線長をより短くできる。
Ａｎｔ…共通端子
Ｅ１０１～Ｅ１１４…配線電極
Ｅ２０１～Ｅ２１４…配線電極
Ｅ３０１～Ｅ３１４…配線電極
Ｆ１…ＳＡＷフィルタ
Ｇｎｄ０～Ｇｎｄ４…グランド端子
Ｌ１，Ｌ２，Ｌ３，Ｌ４…整合回路
ＬＰＦ１，ＬＰＦ２…ローパスフィルタ
Ｔｘ１，Ｔｘ２，Ｒｘ１，Ｒｘ２，Ｒｘ３，Ｒｘ４，Ｕ１，Ｕ２，Ｕ３…高周波端子
Ｕ１，Ｕ２，Ｕ３…入出力共用端子
Ｕ２Ｐ…入出力共用内部電極
ＵＭＴＳ１，ＵＭＴＳ２，ＵＭＴＳ３…入出力共用外部電極
Ｖｃ１，Ｖｃ２，Ｖｃ３，Ｖｃ４…制御端子
Ｖｄｄ…電源端子
１００…高周波スイッチ
１０１，１０２…多層基板
２０１，２０２…高周波スイッチモジュール

Claims (7)

  1. 　複数の高周波端子、共通端子、制御端子、及び電源端子を有し、前記複数の高周波端子のうち任意の高周波端子と前記共通端子との間を選択的に導通させる高周波スイッチと、前記高周波スイッチに接続されたフィルタまたは整合回路とを備えた高周波スイッチモジュールであって、
    　前記フィルタまたは整合回路は矩形板状の基板に一体化されるように構成され、
    　前記高周波スイッチは矩形板状の半導体基板に構成され、
    　前記高周波スイッチは前記基板に搭載され、
    　前記高周波端子、前記共通端子、及び前記電源端子は前記半導体基板の一方の主面上に形成され、前記高周波端子は入出力共用端子を含み、すべての前記入出力共用端子が前記半導体基板の所定の一辺に沿って配置され、
    　前記入出力共用端子が導通する入出力共用内部電極、及び前記入出力共用内部電極に導通し、実装先の回路基板上の電極に接続するための入出力共用外部電極が、前記基板の一辺に沿ってそれぞれ形成された、高周波スイッチモジュール。
  2. 　前記基板は、絶縁体と配線電極とが交互に積層された多層基板であり、
    　前記多層基板の第１の主面上に、前記入出力共用内部電極を備え、前記多層基板の第２の主面上に、前記入出力共用外部電極を備え、
    　前記配線電極の一部は、前記入出力共用内部電極と前記入出力共用外部電極とを導通させるビアホールであり、前記入出力共用内部電極及び前記入出力共用外部電極の配置順が同一で且つ配列方向が略平行である、請求項１に記載の高周波スイッチモジュール。
  3. 　前記半導体基板の所定の一辺と前記基板の一辺とが隣接するように、前記高周波スイッチが前記基板に搭載された、請求項１または２に記載の高周波スイッチモジュール。
  4. 　前記入出力共用内部電極の配置範囲の中央と、前記入出力共用外部電極の配置範囲の中央とが近接している、請求項２または３に記載の高周波スイッチモジュール。
  5. 　前記入出力共用内部電極の配置領域は前記入出力共用外部電極の配置領域の範囲内にある、請求項２～４のいずれかに記載の高周波スイッチモジュール。
  6. 　前記入出力共用内部電極の少なくとも一つは前記ビアホールを介して前記入出力共用外部電極に直接接続されている、請求項２～５のいずれかに記載の高周波スイッチモジュール。
  7. 　前記整合回路は、前記高周波スイッチの前記共通端子に接続されている、請求項１～６のいずれかに記載の高周波スイッチモジュール。
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2012093539A1 (ja) * 2011-01-06 2012-07-12 株式会社村田製作所 高周波モジュール
US9538644B2 (en) 2013-04-15 2017-01-03 Murata Manufacturing Co., Ltd. Multilayer wiring substrate and module including same
CN109217837A (zh) * 2017-07-05 2019-01-15 株式会社村田制作所 多工器
WO2019225088A1 (ja) * 2018-05-24 2019-11-28 株式会社デンソー 半導体パッケージおよびこれを用いた半導体装置
WO2020090963A1 (ja) * 2018-11-02 2020-05-07 株式会社村田製作所 電子機器
US11152968B2 (en) 2015-11-18 2021-10-19 Murata Manufacturing Co., Ltd. Radio-frequency module and communication device

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007036452A (ja) * 2005-07-25 2007-02-08 Kyocera Corp 高周波モジュール
JP3147878U (ja) * 2008-11-06 2009-01-22 株式会社村田製作所 高周波スイッチモジュール

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007036452A (ja) * 2005-07-25 2007-02-08 Kyocera Corp 高周波モジュール
JP3147878U (ja) * 2008-11-06 2009-01-22 株式会社村田製作所 高周波スイッチモジュール

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2012093539A1 (ja) * 2011-01-06 2012-07-12 株式会社村田製作所 高周波モジュール
CN103283152A (zh) * 2011-01-06 2013-09-04 株式会社村田制作所 高频模块
JP5561379B2 (ja) * 2011-01-06 2014-07-30 株式会社村田製作所 高周波モジュール
US9001710B2 (en) 2011-01-06 2015-04-07 Murata Manufacturing Co., Ltd. High-frequency module
US9538644B2 (en) 2013-04-15 2017-01-03 Murata Manufacturing Co., Ltd. Multilayer wiring substrate and module including same
US11152968B2 (en) 2015-11-18 2021-10-19 Murata Manufacturing Co., Ltd. Radio-frequency module and communication device
CN109217837A (zh) * 2017-07-05 2019-01-15 株式会社村田制作所 多工器
WO2019225088A1 (ja) * 2018-05-24 2019-11-28 株式会社デンソー 半導体パッケージおよびこれを用いた半導体装置
WO2020090963A1 (ja) * 2018-11-02 2020-05-07 株式会社村田製作所 電子機器
US11929738B2 (en) 2018-11-02 2024-03-12 Murata Manufacturing Co., Ltd. Electronic device

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