WO2010106142A1 - Schneidwerkzeug - Google Patents

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WO2010106142A1
WO2010106142A1 PCT/EP2010/053551 EP2010053551W WO2010106142A1 WO 2010106142 A1 WO2010106142 A1 WO 2010106142A1 EP 2010053551 W EP2010053551 W EP 2010053551W WO 2010106142 A1 WO2010106142 A1 WO 2010106142A1
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Oliver Eibl
Veit Schier
Wolfgang Engelhart
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Walter Ag
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    • Y10T428/2651 mil or less

Definitions

  • the invention relates to a cutting tool having a substrate base body and a single-layer or multi-layer coating applied thereon, wherein at least one layer of the coating is a metal oxide layer produced in the PVD method or in the CVD method.
  • Cutting tools consist of a base body, which is made of, for example, carbide, cerium, steel or high-speed steel.
  • a single-layer or multi-layer coating is often applied to the base body.
  • This coating comprises, for example, metallic hard material layers, oxide layers and the like.
  • CVD chemical vapor deposition
  • PVD physical vapor deposition
  • PVD arc vapor deposition
  • ion plating electron beam evaporation
  • laser ablation a distinction is made between different process variants, such as magnetron sputtering, arc vapor deposition (Arc-PVD), ion plating, electron beam evaporation and laser ablation.
  • Magnetron sputtering and arc evaporation are among the PVD processes most commonly used to coat tools.
  • modifications such as unpulsed or pulsed magnetron sputtering or unpulsed or pulsed arc evaporation, etc.
  • the target in the PVD process may consist of a pure metal or a combination of two or more metals. If the target comprises several metals, all these metals are simultaneously incorporated into the layer of a coating built up in the PVD process. - -
  • targets also include oxidic, nitridic, carbide forms of the metals or mixtures thereof.
  • reactive gases are supplied to the reaction space of the PVD process, e.g. Nitrogen for the production of nitrides, oxygen for the production of oxides, carbon-containing compounds for the production of carbides, carbonitrides, oxicarbides, etc., or mixtures of these gases to produce corresponding mixed compounds.
  • a so-called bias potential is usually applied to the substrates to be coated in order to achieve the surface energy necessary for the growth process and thus atom mobility.
  • the energy is necessary to achieve crystalline structures in a growing layer.
  • the effectively applied bias potential decreases during the growth process with increasing layer thickness, which worsens the growth conditions on the layer surface and further eventually lead to the growth of exclusively or mainly amorphous structures.
  • the layers show crystalline proportions of zirconia, but only amorphous alumina.
  • WO-A-2007/121954 describes the production of a hard material layer on a substrate by means of magnetron sputtering, wherein the hard material layer contains the metallic elements Al, Cr and Si as well as non-metallic elements from the group B, C, N, O.
  • the atomic fraction of oxygen at the non-metallic elements is greater than 30%.
  • the hard material layer preferably contains crystalline phases and / or mixed phases in the system Al-Cr-Si-O. Both cubic phases of the space group Fd3m and hexagonal phases of the space group R-3C can be formed.
  • EP-A-1 029 105 and EP-A-1 253 215 describe coated cutting tools for metal working with a cemented carbide, cermet or ceramic body and a hard and wear and heat resistant coating, which are made according to the DMS (Dual Magnetron Sputtering) PVD method, wherein at least one layer, preferably the outermost one, consists of Al 2 O 3 and further layers, if present, between the tool body and the Al 2 O 3 layer of metal nitrides and / or carbides of the metal elements Ti, Nb, Hf, V, Ta, Mo, Zr, Cr, W and / or Al are produced.
  • the Al 2 O 3 layers consist of dense, fine-grained, crystalline ⁇ -Al 2 O 3 and may also contain other phases from the ⁇ -series.
  • crystalline phases comprise binary systems or mixed crystals of known crystal systems.
  • X-ray and electron diffraction are used as methods for the investigation of metal oxide layers in order to determine the interplanar spacings (d-values) occurring in the crystal structure and / or to detect amorphous structures.
  • the electron diffraction compared to the X-ray diffraction is more advantageous because of the lower wavelength for the investigation of disordered grains with grain sizes of 10-50 nm.
  • the object of the present invention was to provide, compared to the prior art, improved coated cutting tools, in particular those facing - -
  • Cutting tools with similar coating structure have a higher hardness, improved wear properties and / or improved (reduced) thermal conductivity.
  • the object of the invention is achieved by a cutting tool having a substrate base body and a single or multilayer coating applied thereon, wherein at least one layer of the coating is a metal oxide layer produced by the PVD method or the CVD method and the metal oxide layer has a grain structure in which a plurality of existing grains structural disorder are present, which are characterized in that in the electron diffraction patterns of the grains to a maximum lattice spacing do RE Nz punctate reflections occur and for lattice spacings greater d GRE Nz no punctate reflections, but one typical of amorphous structures intensity distribution.
  • the preferred method of electron diffraction is transmission electron microscopy (TEM), but other methods of generating electron diffraction patterns are also known and suitable.
  • TEM transmission electron microscopy
  • the intensity distribution typical of amorphous structures can also be described as diffuse. If this is the case of a plurality of the grains present which have the structure according to the invention, then this means by comparison with other grains in the same layer a predominant number, preferably more than 50%, particularly preferably more than 70%, very particularly preferably more than 90%. ,
  • Electron diffraction patterns of the grain structure according to the invention in the metal oxide layer were evaluated with respect to the d values (interplanar spacings) and it resulted for the disorganized crystal structure of the grains of the metal oxide according to the invention that punctate reflections occurred only to a certain d value (dcRENz) and greater grid spacing d (smaller scattering angles) above d GREN z no more point-like reflections arranged on rings were observed, but an intensity distribution of the scattered electrons, as shown by amorphous structures. Comparing the experimentally obtained d values with the expected d values (which are tabulated for the respective compound (eg ICSD database)), it was found that reflexes lacking a d value greater than dcRENz were missing. In the diffraction pattern of the invention - -
  • Structure is missing at lattice spacings greater than CI boundary so at least one reflex, which one would find or expect in the ordered structure of the same compound.
  • FIG. 1 A diffraction pattern as is typical for such a crystal structure of a metal oxide layer according to the invention is shown in FIG. 1 for an aluminum oxide layer.
  • the d-value d GRE Nz is registered and shows that punctiform reflections on rings are observed only for d values d ⁇ c. In the diffraction image, the d value increases towards the center of the rings or disc-shaped reflections.
  • Table 1 below shows the experimentally determined d values in comparison to the d values expected for gamma alumina.
  • dcRENz was O, 2 nm and all reflections with lattice plane spacing> 0, 2nm, which should occur for the crystal structure of gamma alumina, were not observed.
  • the limit value dcRENz can be precisely determined from electron microscopic diffraction patterns and thus makes it possible to quantify the disorder of the crystal structure in the metal oxide layer.
  • the metal oxide layer present in the coating of the tool according to the invention has a novel structure, which can best be detected by electron diffraction, preferably transmission electron microscopy (TEM), but also in combination with X-ray diffraction (XRD).
  • electron diffraction preferably transmission electron microscopy (TEM)
  • XRD X-ray diffraction
  • the novel structure can also be detected by a combination of X-ray diffraction (XRD) and hardness measurement.
  • XRD X-ray diffraction
  • the novel structure shows few but wide reflections and a very high background intensity in the XRD. It has a much higher hardness compared to a purely amorphous structure of the same composition.
  • the novel structure is defined herein by the electron diffraction data.
  • the definition of the metal oxide layer according to the invention with reference to the results of the electron diffraction distinguishes grains of the metal oxide layer according to the invention from purely crystalline or polycrystalline structures, from amorphous structures or structures with polycrystalline portions in amorphous matrix.
  • the electron diffraction patterns of the metal oxide layer according to the invention or of the grain structures in this metal oxide layer do not correspond to any of the aforementioned structures, but most closely resemble structures having polycrystalline portions in an amorphous matrix. However, in such structures, crystalline fractions are embedded in amorphous regions or adjacent to amorphous regions.
  • the electron diffraction patterns of such structures differ from the electron diffraction patterns of the structures of the invention in the characteristic features described herein, so that a clear distinction is easily possible for the skilled person.
  • the peculiarity of the structure according to the invention is that individual grains show both electron diffraction reflections, which are typical for crystalline structures, and those which are typical for non-crystalline structures. crystalline structures are. This is interpreted and referred to herein as "structural disorder" in an otherwise crystalline grain.
  • the at least one metal oxide layer has a Vickers hardness of more than 40%, more preferably about 20%, more preferably about 70%, compared to a purely crystalline metal oxide layer of the same composition and thickness.
  • a Vickers hardness of 1700 HV was measured for a coarse-crystalline aluminum oxide layer deposited by means of CVD (3 ⁇ m thickness, not according to the invention).
  • an aluminum oxide layer of the same thickness (3 ⁇ m) of the type according to the invention was deposited by means of a dual magnetron PVD method and a Vickers hardness of 2300 HV was determined.
  • a Vickers hardness of 3800 HV was measured.
  • the structures of the invention which can be clearly distinguished in the electron diffraction pattern of non-inventive structures with otherwise identical chemical composition and layer thickness, so show a significant increase in hardness over the corresponding crystalline or coarsely crystalline structures.
  • the inventors explain the extraordinary increase in hardness of the layers according to the invention compared to crystalline layers or layers with crystals in amorphous matrix according to the prior art with a change in the relative sliding ability of the lattice planes against each other.
  • Plastic deformation takes place in crystalline systems of the type according to the application by slipping the crystalline network planes against one another, with the network planes being particularly preferred slip planes in densely packed structures. Disturbances of the lattice structures due to strong disorder make it difficult to slide off the lattice planes, thus reducing the ability to deform and thus increasing the hardness.
  • the layers according to the invention show a lower thermal conductivity compared to purely crystalline systems, which can bring considerable advantages for the service lives of the tools.
  • the inventors explain the reduction of the thermal conductivity compared to corresponding purely crystalline systems with the fact that the structural disorder in the grains leads to an increased phonon scattering due to reduced free path lengths in the disturbed structures. Measurements showed that an inventive AI 2 O 3 layer by one - -
  • the at least one metal oxide layer therefore has a thermal conductivity which is at least 5%, preferably at least 10%, particularly preferably at least 15%, lower than a purely crystalline metal oxide layer of the same composition and thickness.
  • the metal oxide layer contains grains of alumina, aluminum-chromium oxide, aluminum-chromium-silicon-oxide, chromium-oxide, silicon-oxide, yttrium-zirconium-oxide, yttrium-chromium-oxide or mixed oxides of the metals Al, Cr, Y, V, W, Ni, Ta, Mo, Zr, Hf and / or Si or the metal oxide layer consists of grains of these substances.
  • the metal oxide layer furthermore contains unavoidable impurities and / or production-related residues, preferably argon (Ar), nitrogen (N 2 ) and / or helium (He).
  • unavoidable impurities and / or production-related residues preferably argon (Ar), nitrogen (N 2 ) and / or helium (He).
  • the grains in the metal oxide layer according to the invention expediently have average particle sizes in the range from 2 nm to 5000 nm, preferably 5 nm to 2000 nm, more preferably 10 nm to 1000 nm, particularly preferably 20 nm to 100 nm.
  • Substrate temperature of 300 to 800 0 C preferably from 450 to 650 0 C, more preferably about 550 0 C,
  • the thickness of the at least one metal oxide layer is in the range from 0.2 to 20 ⁇ m, preferably in the range from 0.5 to 10 ⁇ m, particularly preferably in the range from 1 to 5 ⁇ m.
  • the at least one metal oxide layer according to the invention is preferably produced by means of PVD processes, which are particularly preferably used under high-power pulse magnetron sputtering (HIPIMS), - -
  • rMS reactive magnetron sputtering
  • Arc-PVD arc vapor deposition
  • ion plating electron beam evaporation and laser ablation.
  • the coating comprises further layers selected from carbides, nitrides, oxides, carbonitrides, oxynitrides, oxicarbides, oxicarbonitrides, bonding, boronitrides, borocarbides, borocarbonitrides, borooxinitrides, borooxocarbides Borooxocarbonitride, oxoboronitrides of the elements of groups IVa to VIIa of the Periodic Table and / or of aluminum and / or of silicon, including mixed metallic phases and phase mixtures of the aforementioned compounds.
  • the substrate body is made of hard metal, cermet, steel or high-speed steel (HSS).
  • Electron diffraction fine-range diaphragm 750 nm or b) Jeol 2000FXII Source LaB6 Fine-diffraction diaphragm for electron diffraction: 200 nm
  • a 300 .mu.m thick sample with the deposited coating is produced parallel to the substrate surface, thinned to 100 .mu.m, cut to size with an ultrasound core drill and glued to a grinding holder with the coating side. Subsequently, the sample by grinding on diamond foil with different - -
  • Granulations (50 ⁇ m, 25 ⁇ m, 9 ⁇ m and 3 ⁇ m) are manually thinned to 20 ⁇ m from the substrate side. Subsequently, an Al ring is stuck on and the sample is etched in the ion etching unit (Baltec RES 100) at 4 kV at 25 mA from the substrate side with argon ions and thinned until it is electron-transparent.
  • Altec RES 100 the ion etching unit
  • a sample with a residual thickness of 1 mm with the deposited coating is produced by separating the substrate material parallel to the substrate surface. Two of the 1 mm thick remnant pieces are glued together on the surfaces (face-to-face), a strip is sawn off the sandwich and the strip is embedded in a tube. The tube is sawed into slices, the slices are polished from both sides with diamond foil, and both sides are dulled. Both sides etched with the ion etching unit PIPS with 4kV at 25 mA.
  • the XRD measurements were carried out in a Bruker microdiffractometer using a radiation source with a cobalt cathode, an anode voltage of 30 kV; an anode current of 30mA, a graphite primary monochromator (so that only the CoK ⁇ radiation is used by the source).
  • the detector was a Bruker XAS D8-GADDS Discovery Detector.
  • the X-ray beam was focused with a monocapillary to a diameter of 300 .mu.m. Measuring geometry: grazing incidence (angle of incidence constant, Bragg angle was varied)
  • the probe used was a Vickers pyramid. The up- - -
  • the penetration depth was ⁇ 2nm, and the resolution of the load was ⁇ 0.04mN.
  • the sample was polished and demagnetized because of the surface roughness.
  • thermal conductivity measurements When referring herein to thermal conductivity measurements, they have been performed with the following conditions, measurement parameters, devices, etc.
  • a substrate with a coating on exactly one of the surfaces is heated homogeneously to a temperature of 81 ° C. Subsequently, the heating is stopped and placed the substrate with the coated side on a large, good heat conducting metal piece.
  • the substrate serves as a heat reservoir in this measurement.
  • the large, good heat-conducting metal piece serves as a heat bath with approximately constant temperature, which is below the heating temperature of the substrate, preferably at room temperature.
  • the measured variable is the substrate temperature on the side of the substrate facing away from the coating as a function of time. From the cooling curve, the specific heat conduction constant is determined. The experiment is carried out under the same conditions for the different layers to be compared.
  • the novel coating of the present invention opens up a wide range of possibilities for improving and / or adapting the wear resistance, the service lives and / or the cutting properties of cutting tools.
  • the wear resistance, stability and cutting properties of a coating on a cutting tool depend on various factors, such as the material of the main body of the cutting tool, the sequence, type and composition of the layers present in the coating, the thickness of the various layers and not least the nature of cutting operation performed with the cutting tool.
  • different wear resistance depending on the type of workpiece to be machined, the respective processing method and the other conditions during processing, such as development of high temperatures or use of corrosive cooling liquids arise.
  • a distinction is made between different types of wear which can influence the useful life of a tool, ie its service life, more or less depending on the machining process. The further development and improvement of cutting tools is therefore always in view of it - -
  • An essential feature of cutting tools which is improved by the coating according to the invention over the prior art with coatings of the same materials, is the hardness of such a coating.
  • the significantly higher hardness of the coating according to the invention is attributed to the unique structural properties which are present in the coating according to the invention in accordance with TEM measurements.
  • Target AI rectangle target (81 cm x 16 cm) ⁇ Deposition: Substrate temperature: 55O 0 C
  • Substrate bias -150 volts (DC pulsed 100 kHz, 2 ⁇ s off-time)
  • Oxygen flow 150 sccm with 0.6 Pa Ar gas
  • Target AI rectangle target (81 cm x 16 cm) ⁇ Deposition: Substrate temperature: 55O 0 C
  • Substrate bias voltage -120 volts
  • Oxygen flow 150 sccm with 0.6 Pa Ar gas
  • Substrate bias voltage -100 volts (DC pulsed 70 kHz, 4 ⁇ s off-time) Power: 20 kW
  • Oxygen flow 150 sccm with 0.2 Pa Ar gas
  • Bias voltage -60 V (bipolar)
  • Oxygen flow 500 sccm (no Ar gas)
  • the thermal conductivity of the Al 2 O 3 coating according to Example 1 was compared with a coarsely crystalline ⁇ -Al 2 O 3 coating deposited in the CVD method (layer thickness: 5 ⁇ m), taking into account the layer thickness.
  • the thermal conductivity of the novel Al 2 O 3 coating according to Example 1 was about 10% lower than that of the coating applied in the CVD process.
  • the wear was measured on the free surface as average wear mark width VB in mm (on the main cutting edge) on milling paths of 800 mm, 1600 mm, 2400 mm, 3200 mm, 4000 mm and 4800 mm.
  • the following wear mark widths V Bm a x were determined (Table 3): - -

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Abstract

Schneidwerkzeug mit einem Substratgrundkörper und einer darauf aufgebrachten ein- oder mehrlagigen Beschichtung, wobei wenigstens eine Lage der Beschichtung eine im PVD-Verfahren oder im CVD- Verfahren hergestellte Metalloxidlage ist und die Metalloxidlage eine Kornstruktur aufweist, bei der innerhalb einer Mehrzahl der vorhandenen Körner strukturelle Unordnungen vorhanden sind, die dadurch charakterisiert sind, dass in den Elektronenbeugungsbildern der Körner bis zu einem maximalen Netzebenenabstand dGRENZ punktförmige Reflexe auftreten und für Netzebenenabstände grösser dGRENZ keine punktförmigen Reflexe auftreten, sondern eine für amorphe Strukturen typische diffuse Intensitätsverteilung.

Description

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Schneidwerkzeug
Gegenstand der Erfindung
Die Erfindung betrifft ein Schneidwerkzeug mit einem Substratgrundkörper und einer darauf aufgebrachten ein- oder mehrlagigen Beschichtung, wobei wenigstens eine Lage der Beschich- tung eine im PVD- Verfahren oder im CVD-Verfahren hergestellte Metalloxidlage ist.
Hintergrund der Erfindung
Schneidwerkzeuge bestehen aus einem Grundkörper, der beispielsweise aus Hartmetall, Cer- met, Stahl oder Schnellarbeitsstahl hergestellt ist. Zur Erhöhung der Standzeiten oder auch zur Verbesserung der Schneideigenschaften wird auf den Grundkörper häufig eine ein- oder mehr- lagige Beschichtung aufgebracht. Diese Beschichtung umfasst beispielweise metallische Hartstoffschichten, Oxidschichten und dergleichen. Zum Aufbringen der Beschichtung werden CVD- Verfahren (chemische Gasphasenabscheidung; chemical vapour deposition) und/oder PVD- Verfahren (physikalische Gasphasenabscheidung; physical vapour deposition) angewendet. Mehre Lagen innerhalb einer Beschichtung können ausschließlich mittels CVD-Verfahren, aus- schließlich mittels PVD-Verfahren oder durch eine Kombination dieser Verfahren aufgebracht werden.
Bei den PVD-Verfahren unterscheidet man zwischen verschiedenen Verfahrensvarianten, wie Magnetronsputtern, Lichtbogenverdampfen (Arc-PVD), lonenplattierung, Elektronenstrahlver- dampfung und Laserablation. Magnetronsputtern und Lichtbogenverdampfen zählen zu den am häufigsten für die Beschichtung von Werkzeugen angewendeten PVD-Verfahren. Innerhalb einzelner PVD-Verfahrensvarianten gibt es wiederum unterschiedliche Modifikationen, wie beispielweise ungepulstes oder gepulstes Magnetronsputtern oder ungepulstes oder gepulstes Lichtbogenverdampfen usw.
Das Target im PVD-Verfahren kann aus einem reinen Metall oder einer Kombination von zwei oder mehr Metallen bestehen. Umfaßt das Target mehrere Metalle, so werden alle diese Metalle gleichzeitig in die bei dem PVD-Verfahren aufgebaute Lage einer Beschichtung eingebaut. - -
Das Mengenverhältnis der Metalle zueinander in der aufgebauten Lage wird von dem Mengenverhältnis der Metalle in dem Target abhängen, aber auch von den Bedingungen in dem PVD- Verfahren, da einzelne Metalle unter bestimmten Bedingungen in höheren Mengen aus dem Target herausgelöst werden und/oder sich in höheren Mengen auf dem Substrat abscheiden als andere Metalle. Neben den reinen Metallen kommen in Targets auch oxidische, nitridische, car- bidische Formen der Metalle oder Mischungen davon zum Einsatz.
Zur Erzeugung bestimmter Metallverbindungen werden dem Reaktionsraum des PVD- Verfahrens reaktive Gase zugeführt, wie z.B. Stickstoff zur Erzeugung von Nitriden, Sauerstoff zur Erzeugung von Oxiden, kohlenstoffhaltige Verbindungen zur Erzeugung von Carbiden, Car- bonitriden, Oxicarbiden etc. oder Gemische dieser Gase zur Erzeugung von entsprechenden Mischverbindungen.
Beim PVD-Verfahren wird an die zu beschichtenden Substrate in der Regel ein sogenanntes Bias-Potential angelegt, um die für den Aufwachsprozess notwendige Oberflächenenergie und damit Atombeweglichkeit zu erreichen. Die Energie ist notwendig, um bei einer aufwachsenden Schicht kristalline Strukturen zu erzielen. Beim Aufbringen von isolierenden Schichten im PVD- Verfahren, was beispielsweise auf eine Vielzahl von Metalloxidverbindungen zutrifft, verringert sich aufgrund der isolierenden Eigenschaften des Schichtmaterials das effektiv angelegte Bias- Potential während des Aufwachsprozesses mit zunehmender Schichtdicke, was die Aufwachsbedingungen an der Schichtoberfläche verschlechtert und im weiteren schließlich zum Aufwachsen von ausschließlich oder hauptsächlich amorphen Strukturen führen kann.
Ramm, J. et al., Pulse enhanced electron emission (P3e™) arc evaporation and the synthesis of wear resistant Al-Cr-O coatings in corundum structure, Surface & Coatings Technology 202 (2007), S. 876-883, beschreiben die Abscheidung von Aluminiumoxid-Chromoxid-Schichten durch gepulstes Lichtbogenverdampfen (Arc-PVD). Die abgeschiedenen Schichten zeigen zunächst eine Mischkristallstruktur.
Teixeira, V. et al., Deposition of composite and nanolaminate ceramic coatings by sputtering, Vacuum 67 (2002), S. 477-483, beschreiben das Abscheiden von dünnen Zirconiumo- xid/Aluminiumoxid-Schichten im Nanometerbereich durch Magnetronsputtern. Die Schichten zeigen kristalline Anteile von Zirconiumoxid, aber lediglich amorphe Anteile an Aluminiumoxid.
Trinh, D. H. et al., Radio frequency dual magnetron sputtering deposition and characterization of nanocomposite AI203 - ZrO2 thin films, J. Vac. Sc. Techn. A 24(2), März/April 2006, S. 309- - -
316 beschreiben das Abscheiden sehr dünner Zirconiumoxid/Aluminiumoxid-Schichten im Na- nometerbereich durch Magnetronsputtern, welche kristalline Anteile an tetragonalem Zirconiu- moxid zeigen, jedoch nur amorphe Anteile an Aluminiumoxid.
Die WO-A-2007/121954 beschreibt die Herstellung einer Hartstoffschicht auf einem Substrat mittels Magnetronzerstäuben, wobei die Hartstoffschicht die metallischen Elemente AI, Cr und Si sowie nicht-metallische Elemente aus der Gruppe B, C, N, O enthält. Der atomare Anteil von Sauerstoff an den nicht-metallischen Elementen ist grösser als 30%. Die Hartstoffschicht enthält bevorzugt kristalline Phasen und/oder Mischphasen im System Al-Cr-Si-O. Es können sich so- wohl kubische Phasen der Raumgruppe Fd3m als auch hexagonale Phasen der Raumgruppe R-3C ausbilden.
Die EP-A-1 029 105 und die EP-A-1 253 215 beschreiben beschichtete Schneidwerkzeuge für die Metallbearbeitung mit einem Hartmetall-, Cermet- oder Keramikkörper und einer harten und verschleiß- und hitzebeständigen Beschichtung, die nach der DMS- (Duales Magnetron Sput- tern) PVD-Methode abgeschieden ist, wobei wenigstens eine Schicht, vorzugsweise die äußerste, aus AI2O3 besteht und weitere Schichten, wenn überhaupt vorhanden, zwischen dem Werkzeugkörper und der AI2O3-Schicht aus Metallnitriden und/oder -carbiden der Metallelemente Ti, Nb, Hf, V, Ta, Mo, Zr, Cr, W und/oder AI hergestellt sind. Die AI2O3-Schichten bestehen aus dichtem, feinkörnigem, kristallinem γ-AI2O3 und können auch andere Phasen aus der γ-Reihe enthalten.
Es sind somit rein kristalline und rein amorphe Systeme sowie Systeme mit kristallinen Körnern in amorpher Matrix aus dem Stand der Technik bekannt. Die kristallinen Phasen umfassen binä- re Systeme oder Mischkristalle bekannter Kristallsysteme.
Als Verfahren zur Untersuchung von Metalloxidschichten werden Röntgen- und Elektronenbeugung verwendet, um die in der Kristallstruktur auftretenden Netzebenenabstände (d-Werte) zu bestimmen und/oder um amorphe Strukturen nachzuweisen. Hierbei ist die Elektronenbeugung gegenüber der Röntgenbeugung wegen der geringeren Wellenlänge zur Untersuchung fehlgeordneter Körner mit Korngrößen von 10-50 nm vorteilhafter.
Aufgabe
Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung bestand darin, gegenüber dem Stand der Technik verbesserte beschichtete Schneidwerkzeuge bereitzustellen, insbesondere solche, die gegenüber - -
Schneidwerkzeugen mit ähnlichem Beschichtungsaufbau eine höhere Härte, verbesserte Ver- schleißeigenschaften und/oder verbesserte (verminderte) Wärmeleitfähigkeit besitzen.
Beschreibung der Erfindung
Gelöst wird die erfindungsgemäße Aufgabe durch ein Schneidwerkzeug mit einem Substratgrundkörper und einer darauf aufgebrachten ein- oder mehrlagigen Beschichtung, wobei wenigstens eine Lage der Beschichtung eine im PVD-Verfahren oder im CVD-Verfahren hergestellte Metalloxidlage ist und die Metalloxidlage eine Kornstruktur aufweist, bei der innerhalb einer Mehrzahl der vorhandenen Körner strukturelle Unordnungen vorhanden sind, die dadurch charakterisiert sind, dass in den Elektronenbeugungsbildern der Körner bis zu einem maximalen Netzebenenabstand doRENz punktförmige Reflexe auftreten und für Netzebenenabstände größer dGRENz keine punktförmigen Reflexe auftreten, sondern eine für amorphe Strukturen typische Intensitätsverteilung.
Das bevorzugte Verfahren der Elektronenbeugung ist Transmissionselektronenmikroskopie (TEM), jedochsind auch andere Verfahren zur Erzeugung von Elektronenbeugungsbildern bekannt und geeignet.
Die für amorphe Strukturen typische Intensitätsverteilung ist auch als diffus zu bezeichnen. Wenn hierin von einer Mehrzahl der vorhandenen Körner die Rede ist, die die erfindungsgemäße Struktur aufweisen, dann ist damit gegenüber weiteren Körnern in der gleichen Lage eine überwiegende Anzahl gemeint, vorzugsweise über 50%, besonders bevorzugt über 70%, ganz besonders bevorzugt über 90%.
Elektronenbeugungsbilder der erfindungsgemäßen Kornstruktur in der Metalloxidlage wurden bezüglich der d-Werte (Netzebenenabstände) ausgewertet und es ergab sich für die erfindungsgemäße mit Unordnung behaftete Kristallstruktur der Körner der Metalloxidlage, dass punktförmige Reflexe nur bis zu einem gewissen d-Wert auftraten (dcRENz) und für größer Netz- ebenenabstände d (kleinere Streuwinkel) oberhalb dGRENz keine punktförmigen Reflexe, die auf Ringen angeordnet waren, mehr beobachtet wurden, sondern eine Intensitätsverteilung der gestreuten Elektronen, wie sie amporphe Strukturen zeigen. Bei einem Vergleich der experimentell erhaltenen d-Werte mit den zu erwartenden d-Werten (die für die jeweilige Verbindung tabelliert zur Verfügung stehen (z.B. ICSD Datenbank)) stellte man fest, dass Reflexe fehlten, die einen d-Wert größer dcRENz aufweisen sollten. Im Beugungsbild der erfindungsgemäßen - -
Struktur fehlt bei Netzebenenabständen größer als CIGRENZ also mindestens ein Reflex, den man bei der geordneten Struktur der gleichen Verbindung finden bzw. erwarten würde.
Ein Beugungsbild wie es typisch für eine solche erfindungsgemäße Kristallstruktur einer Metall- oxidlage ist, ist in Abb. 1 für eine Aluminiumoxidschicht gezeigt. Der d-Wert dGRENz ist eingetragen und zeigt, dass punktförmige Reflexe auf Ringen angeordnet nur für d-Werte d < c beobachtet werden. Im Beugungsbild steigt der d-Wert zum Mittelpunkt der Ringe bzw. der scheibenförmigen Reflexe hin an.
Die nachfolgende Tabelle 1 zeigt die experimentell bestimmten d-Werte im Vergleich zu den für Gamma Aluminiumoxid erwarteten d-Werten. In diesem Fall betrug dcRENz O,2 nm und alle Reflexe mit Netzebenenabstand > 0, 2nm, die für die Kristallstruktur von Gamma Aluminiumoxid auftreten sollten, wurden nicht beobachtet. Der Grenzwert dcRENz kann aus elektronenmikroskopischen Beugungsbildern genau bestimmt werden und ermöglicht so, die Unordnung der Kris- tallstruktur in der Metalloxidlage zu quantifizieren. Der Nachweis, dass es sich tatsächlich bei den Körnern in der Metalloxidlage um eine Struktur mit fehlender Fernordnung handelt, ist dadurch erbracht, dass in einem Bereich des Beugungsbilds (d < dcRENz) punktförmige Reflexe auftreten, die auf Ringen angeordnet sind, und im komplementären Bildbereich (d > dcRENz ) ein Intensitätsprofil auftritt, wie es für amorphe Strukturen typisch ist, und dass ein Korn anteilig seinem Kornvolumen in beide Bildbereiche des Beugungsbildes Intensitätsbeiträge liefert. Letzteres wurde über Dunkelfeldbilder im TEM nachgewiesen.
Tabelle 1
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Die in der Beschichtung des erfindungsgemäßen Werkzeugs vorhandene Metalloxidlage besitzt eine neuartige Struktur, die sich am besten durch Elektronenbeugung, vorzugsweise Transmissionselektronenmikroskopie (TEM), aber auch in Kombination mit Röntgenbeugung (XRD), nachweisen lässt. Im Elektronenbeugungsbild ist erkennbar, dass innerhalb der für die neue Struktur charakteristischen Körner eine strukturelle Unordnung vorhanden ist, aber dennoch eine Art der Fernordnung bzw. Kristallinität vorliegen muss. Alternativ lässt sich die neuartige Struktur auch durch eine Kombination aus Röntgenbeugung (XRD) und Härtemessung nachweisen. Die neuartige Struktur zeigt im XRD wenige aber breite Reflexe und eine sehr hohe Intensität des Untergrunds. Sie besitzt gegenüber einer rein amorphen Struktur gleicher Zu- sammensetzung eine deutlich höhere Härte. Anspruchsgemäß wird die neuartige Struktur hierin jedoch über die Elektronenbeugungsdaten definiert.
Die hierin angegebene Definition der erfindungsgemäßen Metalloxidlage unter Bezugnahme auf die Ergebnisse der Elektronenbeugung unterscheidet Körner der erfindungsgemäßen Metall- oxidlage von rein kristallinen oder polykristallinen Strukturen, von amorphen Strukturen oder von Strukturen mit polykristallinen Anteilen in amorpher Matrix. Die Elektronenbeugungsbilder der erfindungsgemäßen Metalloxidlage bzw. der Korn Strukturen in dieser Metalloxidlage entsprechen keiner der vorgenannten Strukturen, ähneln aber am ehesten Strukturen mit polykristallinen Anteilen in einer amorphen Matrix. Allerdings liegen bei solchen Strukturen kristalline Anteile eingebettet in amorphe Bereiche oder neben amorphen Bereichen vor. Die Elektronenbeugungsbilder solcher Strukturen unterscheiden sich von den Elektronenbeugungsbildern der erfindungsgemäßen Strukturen in den hierin beschriebenen charakteristischen Merkmalen, so dass für den Fachmann eine eindeutige Unterscheidung einfach möglich ist.
Ohne dass die Erfinder sich hiermit an eine Theorie binden wollen, ist die Besonderheit der erfindungsgemäßen Struktur nach den Ergebnissen der Elektronenbeugungsbilder darin zu sehen, dass einzelne Körner sowohl Elektronenbeugungsreflexe zeigen, die typisch für kristalline Strukturen sind, als auch solche, die typisch für nicht-kristalline Strukturen sind. Interpretiert und bezeichnet wird dies hierin als „strukturelle Unordnung" in einem ansonsten kristallin erschei- nenden Korn.
Mit den erfindungsgemäßen Strukturen gehen überraschenderweise wenigstens zwei vorteilhafte Eigenschaften der Beschichtung des Substratgrundkörpers und damit des gesamten Schneidwerkzeugs einher. Es wurde festgestellt, dass Beschichtungen mit einer Metalloxidlage der erfindungsgemäßen Art eine erheblich höhere Härte (Vickers-Härte) aufweisen können als kristalline Metalloxidlagen, welche die gleiche oder ähnliche Zusammensetzung und Dicke auf- - -
weisen, die jedoch nicht die charakteristische strukturelle Unordnung besitzen bzw. die charakteristischen Elektronenbeugungsergebnisse liefern. In einer bevorzugten Ausführungsform der Erfindung weist die wenigstens eine Metalloxidlage gegenüber einer rein kristallinen Metalloxidlage gleicher Zusammensetzung und Dicke eine um 10 %, vorzugsweise um 20 %, weiter be- vorzugt um 40 %, besonders bevorzugt um 70 % höhere Vickers-Härte auf.
Beispielsweise wurde für eine mittels CVD abgeschiedene grobkristalline Aluminiumoxid-Lage (3 μm Dicke; nicht erfindungsgemäß) eine Vickers-Härte von 1700 HV gemessen. Zum Vergleich wurde mittels dualem Magnetron-PVD-Verfahren eine Aluminiumoxid-Lage gleicher Di- cke (3 μm) der erfindungsgemäßen Art abgeschieden und eine Vickers-Härte von 2300 HV bestimmt. Bei einer mittels dualem Magnetron-PVD-Verfahren mit einem gemischten Target (70 At. -% AI und 30 At. -% Cr) abgeschiedenen Aluminium-Chromoxid-Lage der erfindungsgemäßen Art wurde eine Vickers-Härte von 3800 HV gemessen.
Die erfindungsgemäßen Strukturen, die sich im Elektronenbeugungsbild eindeutig von nicht- erfindungsgemäßen Strukturen mit ansonsten gleicher chemischer Zusammensetzung und Schichtdicke unterscheiden lassen, zeigen also eine deutliche Härtesteigerung gegenüber den entsprechenden kristallinen oder grob kristallinen Strukturen.
Ohne sich an eine Theorie binden zu wollen, erklären sich die Erfinder die außerordentliche Härtesteigerung der erfindungsgemäßen Schichten gegenüber kristallinen Schichten oder Schichten mit kristallen in amorpher Matrix nach dem Stand der Technik mit einer Veränderung der relativen Gleitfähigkeit der Netzebenen gegeneinander. Plastische Deformation geschieht in kristallinen Systemen der anmeldungsgemäßen Art durch ein Abgleiten der kristallinen Netz- ebenen gegeneinander, wobei die Netzebenen in dichtest gepackten Strukturen besonders bevorzugte Gleitebenen sind. Störungen der Gitterstrukturen durch starke Unordnung erschweren das Abgleiten der Netzebenen, vermindern so die Deformationsfähigkeit und erhöhen damit die Härte.
Des weiteren zeigen die erfindungsgemäßen Lagen gegenüber rein kristallinen Systemen eine geringere Wärmeleitfähigkeit, was erhebliche Vorteile für die Standzeiten der Werkzeuge mit sich bringen kann. Mit Blick auf die Ergebnisse der Elektronenbeugung und der XRD- Messungen erklären sich die Erfinder die Reduktion der Wärmeleitfähigkeit gegenüber entsprechenden rein kristallinen Systemen damit, dass die strukturelle Unordnung in den Körnern zu einer erhöhten Phononenstreuung aufgrund reduzierter freier Weglängen in den gestörten Strukturen führt. Messungen zeigten, dass eine erfindungsgemäße AI2O3-Schicht eine um etwa - -
10% geringere spezifische Wärmeleitfähigkeit aufwies als eine grobkristalline AI2O3-Schicht, die im CVD-Verfahren abgeschieden wurde. In einer bevorzugten Ausführungsform der Erfindung weist die wenigstens eine Metalloxidlage daher gegenüber einer rein kristallinen Metalloxidlage gleicher Zusammensetzung und Dicke eine um wenigstens 5 %, vorzugsweise um wenigstens 10 %, besonders bevorzugt um wenigstens 15 % geringere Wärmeleitfähigkeit auf.
Es folgen weitere vorteilhafte Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung.
In einer Ausführungsform der Erfindung enthält die Metalloxidlage Körner aus Aluminiumoxid, Aluminium-Chrom-Oxid, Aluminium-Chrom-Silizium-Oxid, Chrom-Oxid, Silizium-Oxid, Yttrium- Zirkonium-Oxid, Yttrium-Chrom-Oxid oder gemischten Oxiden der Metalle AI, Cr, Y, V, W, Ni, Ta, Mo, Zr, Hf und/oder Si oder die Metalloxidlage besteht aus Körner aus diesen Stoffen.
In einer weiteren Ausführungsform der Erfindung enthält die Metalloxidlage weiterhin unver- meidliche Verunreinigungen und/oder herstellungsbedingte Rückstände, vorzugsweise Argon (Ar), Stickstoff (N2) und/oder Helium (He).
Die Körner in der erfindungsgemäßen Metalloxidlage besitzen zweckmäßigerweise mittlere Korngrößen im Bereich von 2 nm bis 5000 nm, bevorzugt 5 nm bis 2000 nm, weiter bevorzugt 10 nm bis 1000 nm, besonders bevorzugt 20 nm bis 100 nm.
Die wenigstens eine erfindungsgemäße Metalloxidlage kann mit Vorteil mittels dualem Magnetron-PVD-Verfahren mit folgenden Abscheidungsparametern abgeschieden werden:
Substrattemperatur von 300 bis 800 0C, vorzugsweise von 450 bis 650 0C, besonders bevorzugt etwa 550 0C,
Substratvorspannung von -300 bis 0 V, vorzugsweise etwa -150 V,
Leistung von 5 bis 50 kW, vorzugsweise etwa 20 kW,
Sauerstofffluss von 50 bis 300 sccm, vorzugsweise 150 sccm, mit 0,2 bis 0,6 Pa Ar-Gas.
In einer weiteren Ausführungsform der Erfindung liegt die Dicke der wenigstens einen Metalloxidlage im Bereich von 0,2 bis 20 μm, vorzugsweise im Bereich von 0,5 bis 10 μm, besonders bevorzugt im Bereich von 1 bis 5 μm.
Die wenigstens eine erfindungsgemäße Metalloxidlage wird bevorzugt mittels PVD-Verfahren hergestellt, die besonders bevorzugt unter High Power-Impuls-Magnetron-Sputtern (HIPIMS), - -
reaktivem Magnetron-Sputtern (rMS), Lichtbogenverdampfen (Arc-PVD), lonenplattierung, E- lektronenstrahlverdampfung und Laserablation ausgewählt sind.
In einer weiteren Ausführungsform der Erfindung umfaßt die Beschichtung neben der wenigs- tens einen Metalloxidlage weitere Lagen, ausgewählt unter Carbiden, Nitriden, Oxiden, Carbo- nitriden, Oxinitriden, Oxicarbiden, Oxicarbonitriden, Bonden, Boronitriden, Borocarbide, Boro- carbonitride, Borooxinitride, Borooxocarbide, Borooxocarbonitride, Oxoboronitriden der Elemente der Gruppen IVa bis VIIa des Periodensystems und/oder des Aluminiums und/oder des Siliziums, einschließlich gemischtmetallischen Phasen sowie Phasengemischen der vorgenannten Verbindungen.
In einer weiteren Ausführungsform der Erfindung ist der Substragrundkörper aus Hartmetall, Cermet, Stahl oder Schnellarbeitsstahl (HSS) hergestellt.
Messmethoden
1. Elektronenbeugung (TEM)
Wenn hierin auf Elektronenbeugungsversuche Bezug genommen wird, so sind dies TEM- Messungen, die mit folgenden Bedingungen, Meßparametern, Geräten etc. durchgeführt worden.
Transmissionselektronen-Mikroskop: a) Zeiss 912 Omega Quelle LaB6
Feinbereichsblende für Elektronenbeugung: 750 nm oder b) Jeol 2000FXII Quelle LaB6 Feinbereichsblende für Elektronenbeugung: 200 nm
Probenpräpäration: oberflächenparallel
Von einem beschichteten Substratkörper wird eine 300 μm dicke Probe mit der abgeschiedenen Beschichtung parallel zur Substratoberfläche hergestellt, auf 100 μm gedünnt, mit einem Ultra- schallkernlochbohrer zurecht geschnitten und mit der Beschichtungsseite auf einen Schleifhalter geklebt. Anschließend wird die Probe durch Schleifen auf Diamantfolie mit verschiedenen - -
Körnungen (50 μm, 25 μm, 9 μm und 3 μm) von der Substratseite her manuell auf 20 μm gedünnt. Anschließend wird ein AI-Ring aufgeklebt und die Probe in der lonenätzanlage (Baltec RES 100) mit 4kV bei 25mA von der Substratseite mit Argonionen geätzt und gedünnt, bis sie elektronentransparent ist.
Probenpräparation: Querschnitt
Von einem beschichteten Substratkörper wird durch Abtrennen des Substratmaterials parallel zur Substratoberfläche eine Probe mit einer Restdicke von 1 mm mit der abgeschiedenen Be- schichtung hergestellt. Zwei der 1 mm dicken Reststücke werden an den Oberflächen (Be- Schichtungsaußenseiten; face to face) zusammengeklebt, ein Streifchen von dem Sandwich heruntergesägt und das Streifchen in ein Röhrchen eingebettet. Das Röhrchen wird in Scheibchen zersägt, die Scheibchen werden von beiden Seiten mit Diamantfolie poliert, und beide Seiten werden gedimpelt. Von beiden Seiten wird mit der lonenätzanlage PIPS mit 4kV bei 25 mA geätzt.
2. XRD
Wenn hierin auf XRD-Messungen Bezug genommen wird, so sind diese mit folgenden Bedingungen, Meßparametern, Geräten etc. durchgeführt worden.
Die XRD-Messungen wurden in einem Mikrodiffraktometer der Firma Bruker unter Verwendung einer Strahlungsquelle mit einer Kobalt-Kathode, einer Anodenspannung von 3OkV; einem Anodenstrom von 3OmA, einem Graphit-Primärmonochromator (damit von der Quelle nur die Co- Kα-Strahlung verwendet wird) durchgeführt. Der Detektor war ein Bruker XAS D8-GADDS Dis- covery Detector. Der Röntgenstrahl wurde mit einer Monokapillare auf einen Durchmesser von 300μm fokussiert. Messgeometrie: Streifender Einfall (Einfallswinkel konstant, Bragg-Winkel wurde variiert)
3. Bestimmung der Vickers-Härte
Wenn hierin auf Vickers-Härte-Messungen Bezug genommen wird, so sind diese mit folgenden Bedingungen, Meßparametern, Geräten etc. durchgeführt worden.
Härtemessungen wurde auf einem Fischerscope@H100 (Helmut Fischer GmbH, Sindelfingen, Deutschland) mit einer Prüflast von 15 mN bei einer Belastungsdauer von 1 min (Belastungsrate = 15 mN/min) durchgeführt. Als Prüfspitze wurde eine Vickers Pyramide verwendet. Die Auf- - -
lösung der Eindringtiefe war ±2nm, und die Auflösung der Last war ±0.04mN. Vor der Messung wurde die Probe wegen der Oberflächenrauheit poliert und entmagnetisiert.
4. Bestimmung der Wärmeleitfähigkeit
Wenn hierin auf Wärmeleitfähigkeits-Messungen Bezug genommen wird, so sind diese mit folgenden Bedingungen, Meßparametern, Geräten etc. durchgeführt worden.
Für die Messung der Wärmeleitfähigkeit wird ein Substrat mit einer Beschichtung auf genau einer der Oberflächen homogen auf eine Temperatur von 81 0C aufgeheizt. Anschließend wird die Beheizung abgebrochen und das Substrat mit der beschichteten Seite auf ein großes, gut wärmeleitendes Metallstück aufgelegt. Das Substrat dient bei dieser Messung als Wärmereservoir. Das große, gut wärmeleitende Metallstück dient als Wärmebad mit näherungsweise konstanter Temperatur, die unterhalb der Aufheiztemperatur des Substrates liegt, vorzugsweise bei Raumtemperatur. Durch die Beschichtung fließt ein Wärmestrom vom Wärmereservoir zum Wärmebad, wodurch sich das Substrat abkühlt. Die Messgröße ist die Substrattemperatur auf der der Beschichtung abgewandten Seite des Substrates als Funktion der Zeit. Aus der Abkühlkurve wird die spezifische Wärmeleitungskonstante bestimmt. Das Experiment wird unter gleichen Bedingungen für die verschiedenen zu vergleichenden Schichten durchgeführt.
Die neuartige Beschichtung der vorliegenden Erfindung eröffnet ein breites Spektrum an Möglichkeiten zur Verbesserung und/oder Anpassung der Verschleißfestigkeit, der Standzeiten und/oder der Schneideigenschaften von Schneidwerkzeugen.
Die Verschleißbeständigkeit, Standfestigkeit und Schneideigenschaften einer Beschichtung auf einem Schneidwerkzeug hängt von verschiedenen Faktoren ab, wie beispielsweise dem Material des Grundkörpers des Schneidwerkzeugs, der Abfolge, Art und Zusammensetzung der in der Beschichtung vorhandenen Lagen, der Dicke der verschiedenen Lagen und nicht zuletzt der Art der mit dem Schneidwerkzeug durchgeführten Schneidoperation. Für ein und dasselbe Schneidwerkzeug können sich unterschiedliche Verschleißfestigkeiten in Abhängigkeit von der Art des zu bearbeitenden Werkstücks, dem jeweiligen Bearbeitungsverfahren und den weiteren Bedingungen während der Bearbeitung, wie beispielweise Entwicklung hoher Temperaturen oder Verwendung korrosiver Kühlflüssigkeiten, ergeben. Darüber hinaus unterscheidet man zwischen verschiedenen Verschleißarten, die je nach Bearbeitungsvorgang die Nutzungsdauer eines Werkzeugs, d. h. seine Standzeit, stärker oder geringer beeinflussen können. Die Weiterentwicklung und Verbesserung von Schneidwerkzeugen ist daher stets im Hinblick darauf zu - -
betrachten, welche Werkzeugeigenschaften verbessert werden sollen, und unter vergleichbaren Bedingungen gegenüber dem Stand der Technik zu beurteilen.
Eine wesentliche Eigenschaft von Schneidwerkzeugen, die durch die erfindungsgemäße Be- Schichtung gegenüber dem Stand der Technik mit Beschichtungen aus den gleichen Materialien verbessert wird, ist die Härte einer solchen Beschichtung. Die deutlich höhere Härte der erfindungsgemäßen Beschichtung wird auf die einzigartigen strukturellen Eigenschaften zurückgeführt, die bei der erfindungsgemäßen Beschichtung gemäß TEM-Messungen vorliegen.
Die bei erfindungsgemäßen Beschichtungen überraschend erreichte Reduzierung der Wärmeleitfähigkeit der Metalloxidlage und damit üblicherweise auch der Gesamtbeschichtung wirkt sich sehr positiv im Einsatz solcher Schneidwerkzeuge bei der Zerspanung von Metallen und Verbundmaterialien aus. Die reduzierte Wärmeleitfähigkeit führt zu einer verbesserten Thermo- schockbeständigkeit und damit zu erhöhter Kammrissfestigkeit.
Es versteht sich von selbst, dass sämtliche Einzelmerkmale, wie sie für bestimmte erfindungsgemäße Ausführungsformen hierin beschrieben sind, soweit dies technisch sinnvoll und möglich ist, mit allen übrigen beschriebenen Merkmalen erfindungsgemäßer Ausführungsformen kombinierbar sind und solche Kombinationen als im Rahmen dieser Beschreibung offenbart angesehen werden. Auf die einzelne Benennung sämtlicher möglicher Kombinationen wird hierin lediglich aus Gründen der besseren Lesbarkeit verzichtet.
Weitere Vorteile, Merkmale und Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung werden anhand der nachfolgenden Beispiele erläutert.
Beispiele
In einer PVD-Beschichtungsanlage (Flexicoat; Hauzer Techno Coating BV, Venlo, Niederlande) wurden Hartmetallsubstrate im dualen Magnetron-Verfahren mit einer einlagigen Beschichtung versehen. Die Substratgeometrie war SEHW120408 bzw. ADMT160608-F56 (nach DIN-ISO 1832). Vor der Abscheidung der Lagen wurde die Anlage auf 1 x105 mbar evakuiert und die Hartmetalloberfläche durch Argon-Ionenätzen mit 170 V Vorspannung gereinigt. - -
Beispiel 1
Metalloxid: AI9Q3
PVD-Verfahren: duales Magnetron
Target: AI-Rechtecktarget (81 cm x 16 cm) ■ Abscheidung: Substrattemperatur: 55O0C
Substratvorspannung: -150 Volt (DC gepulst 100 kHz, 2 μs Off-Time)
Leistung: 20 kW
Sauerstofffluss: 150 sccm mit 0,6 Pa Ar-Gas
Schichtdicke: 2,1 μm
Verqleichsbeispiel 1
Metalloxid: AI9Q3
■ PVD-Verfahren: Single-Magnetron
Target: AI-Rechtecktarget (81 cm x 16 cm) ■ Abscheidung: Substrattemperatur: 55O0C
Substratvorspannung: -120 VoIt
Leistung: 10 kW
Sauerstofffluss: 150 sccm mit 0,6 Pa Ar-Gas
Schichtdicke: 1 ,9 μm
Beispiel 2
Metalloxid: (AI. Cr)9Q3
PVD-Verfahren: duales Magnetron
Target: AI/Cr-(70/30 At.-%)-Rechtecktarget (81 cm x 16 cm) ■ Abscheidung: Substrattemperatur: 55O0C
Substratvorspannung: -100 Volt (DC gepulst 70 kHz, 4 μs Off-Time) Leistung: 20 kW
Sauerstofffluss: 150 sccm mit 0,2 Pa Ar-Gas
Schichtdicke: 3,3 μm
Verqleichsbeispiel 2
Metalloxid: (AI. Cr)9Q3
■ PVD-Verfahren: Lichtbogenverdampfen
Target: AI/Cr-(70/30 At.-%)-Rundquelle (16 cm Durchmesser) ■ Abscheidung: Substrattemperatur: 55O0C
Verdampferstrom: 2 x 160 A
Biasvorspannung: -60 V (bipolar)
Sauerstofffluss: 500 sccm (kein Ar-Gas)
Schichtdicke: 2,5 μm
Die Ergebnisse der TEM-Messungen zeigten, dass die AI2O3- und (AI, Cr)2O3-Schichten gemäß den Beispielen 1 und 2 die erfindungsgemäße Struktur aufwiesen, bei der innerhalb einer Mehrzahl der vorhandenen Körner eine strukturelle Unordnungen vorhanden ist, aber dennoch eine Art der Fernordnung bzw. Kristallinität vorliegt. Die Beschichtungen zeigen zudem im XRD wenige aber breite Reflexe und eine sehr hohe Intensität des Untergrunds. - -
Im Gegensatz dazu zeigten die Ergebnisse der TEM- und XRD-Messungen weiterhin, dass die AI2O3-Schicht gemäß Vergleichsbeispiel 1 vollständig amorph war und die (AI, Cr)2O3-Schicht gemäß Vergleichsbeispiel 2 kristallin war.
Bestimmungen der Vickers-Härten der Schichten gemäß den Beispielen und Vergleichsbeispielen zeigten, dass die erfindungsgemäßen Strukturen gegenüber amorphen Strukturen gleicher Zusammensetzung eine deutlich höhere Härte besitzen (siehe Tabelle 2).
Tabelle 2: Bestimmung der Vickers-Härten
Vickers-Härte [HVl
Beispiel 1 : 2720 HV
Vergleichsbeispiel 1 : 1064 HV
Beispiel 2: 3800 HV
Vergleichsbeispiel 2: 2500 HV
Wärmeleitfähigkeit
Nach der oben beschriebenen Methode wurde unter Berücksichtigung der Schichtdicke die Wärmeleitfähigkeit der AI2O3-Beschichtung gemäß Beispiel 1 verglichen mit einer im CVD- Verfahren abgeschiedenen grobkristallinen α-AI2O3-Beschichtung (Schichtdicke: 5 μm). Die Wärmeleitfähigkeit der erfindungsgemäßen AI2O3-Beschichtung gemäß Beispiel 1 war um ca. 10 % geringer als diejenige der im CVD- Verfahren aufgebrachten Beschichtung.
Fräsversuche
In Fräsversuchen an einem Werkstück aus 42CrMoV4-Stahl (1.7226; Festigkeit: 850 MPa) wurden die Schneidwerkzeuge aus den Beispielen und Vergleichsbeispielen untersucht. In diesen Versuchen wurde im Gleichlauf ohne Kühlschmierstoff mit einer Schnittgeschwindigkeit vc = 235 m/min, einem Zahnvorschub fz = 0,2 mm/Zahn und einer Schnitttiefe von 3 mm gefräst. Der Werkzeugdurchmesser betrug 125mm, die Schnittbreite war 98mm, der Überstand betrug 5mm, der Einstellwinkel kappa betrug 45° und der Spanwinkel 0°. Der Verschleiß wurde auf der Freifläche als mittlere Verschleißmarkenbreite VB in mm (an der Hauptschneide) nach Fräswegen von 800 mm, 1600 mm, 2400 mm, 3200 mm, 4000 mm und 4800 mm gemessen. Es wurden folgende Verschleißmarkenbreiten VBmax festgestellt (Tabelle 3): - -
Tabelle 3: Fräsversuche
Fräsweq fmml Verschleißmarkenbreiten VRmaϊ [mml
Beispiel 1 Vergleichsbeispiel 1
800 0,02 0,03
1600 0,03 0,05
2400 0,03 0,06
3200 0,04 0,09
4000 0,06 0,12
4800 0,08 0,13

Claims

- -PATENTANSPRÜCHE
1. Schneidwerkzeug mit einem Substratgrundkörper und einer darauf aufgebrachten ein- oder mehrlagigen Beschichtung, wobei wenigstens eine Lage der Beschichtung eine im PVD-Verfahren oder im CVD-
Verfahren hergestellte Metalloxidlage ist und die Metalloxidlage eine Kornstruktur aufweist, bei der innerhalb einer Mehrzahl der vorhandenen Körner strukturelle Unordnungen vorhanden sind, die dadurch charakterisiert sind, dass in den Elektronenbeugungsbildern der Körner bis zu einem maximalen Netzebenenab- stand dGRENz punktförmige Reflexe auftreten und für Netzebenenabstände größer dGRENz keine punktförmigen Reflexe auftreten, sondern eine für amorphe Strukturen typische Intensitätsverteilung.
2. Schneidwerkzeug nach Anspruch 1 , dadurch gekennzeichnet, dass der maximale Netz- ebenenabstand dGRENz, bis zu dem in den Elektronenbeugungsbildern der Körner punktförmige Reflexe auftreten, im Bereich von 0,1 nmbis 00,6 nm liegt, vorzugsweise im Bereich von 0,15 nm bis 0,40 nm.
3. Schneidwerkzeug nach einem der vorangegangenen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die wenigstens eine Metalloxidlage gegenüber einer rein kristallinen Metalloxidlage gleicher Zusammensetzung und Dicke eine um wenigstens 5 %, vorzugsweise um wenigstens 10 %, besonders bevorzugt um wenigstens 15 % geringere Wärmeleitfähigkeit aufweist.
4. Schneidwerkzeug nach einem der vorangegangenen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die wenigstens eine Metalloxidlage gegenüber einer rein kristallinen Metalloxidlage gleicher Zusammensetzung und Dicke eine um 10%, bevorzugt um 20%, weiter bevorzugt um 40%, besonders bevorzugt um 70% höhere Vickers-Härte aufweist.
5. Schneidwerkzeug nach einem der vorangegangenen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Metalloxidlage Körner aus Aluminiumoxid, Aluminium-Chrom-Oxid, Aluminium-Chrom-Silizium-Oxid, Chrom-Oxid, Silizium-Oxid, Yttrium-Zirkonium-Oxid, Yttrium- Chrom-Oxid oder gemischten Oxiden der Metalle AI, Cr, Y, V, W, Ni, Ta, Mo, Zr, Hf und/oder Si enthält oder daraus besteht. - -
6. Schneidwerkzeug nach einem der vorangegangenen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Metalloxidlage weiterhin unvermeidliche Verunreinigungen und/oder herstellungsbedingte Rückstände, vorzugsweise Argon (Ar), Stickstoff (N2) und/oder Helium (He), enthält.
7. Schneidwerkzeug nach einem der vorangegangenen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Körner in der Metalloxidlage mittlere Korngrößen im Bereich von 2 nm bis 5000 nm, bevorzugt 5 nm bis 2000 nm, weiter bevorzugt 10 nm bis 1000 nm, besonders bevorzugt 20 nm bis 100 nm aufweisen.
8. Schneidwerkzeug nach einem der vorangegangenen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die wenigstens eine Metalloxidlage mittels dualem Magnetron-PVD-Verfahren mit folgenden Abscheidungsparametern abgeschieden ist:
Substrattemperatur von 450 bis 650 0C, vorzugsweise etwa 550 0C, Substratvorspannung von -300 bis 0 V, vorzugsweise etwa -150 V,
Sputterleistung von 5 bis 50 kW, vorzugsweise etwa 20 kW, Sauerstofffluss von 50 bis 300 sccm, vorzugsweise 150 sccm, mit 0,2 bis 0,6 Pa Ar-Gas.
9. Schneidwerkzeug nach einem der vorangegangenen Ansprüche, dadurch gekennzeich- net, dass die Dicke der wenigstens einen Metalloxidlage im Bereich von 0,2 bis 20 μm liegt, vorzugsweise im Bereich von 0,5 bis 10 μm, besonders bevorzugt im Bereich von 1 bis 5 μm.
10. Schneidwerkzeug nach einem der vorangegangenen Ansprüche, dadurch gekennzeich- net, dass die wenigstens eine Metalloxidlage mittels PVD-Verfahren hergestellt ist, ausgewählt unter High Power-Impuls-Magnetron-Sputtern (HIPIMS), reaktivem Magnetron- Sputtern (rMS), Lichtbogenverdampfen (Arc-PVD), lonenplattierung, Elektronenstrahl- verdampfung und Laserablation.
1 1. Schneidwerkzeug nach einem der vorangegangenen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Beschichtung neben der wenigstens einen Metalloxidlage weitere Lagen umfaßt, ausgewählt unter Carbiden, Nitriden, Oxiden, Carbonitriden, Oxinitriden, Oxicar- biden, Oxicarbonitriden, Boriden, Boronitriden, Borocarbide, Borocarbonitride, Borooxi- nitride, Borooxocarbide, Borooxocarbonitride, Oxoboronitriden der Elemente der Grup- pen IVa bis VIIa des Periodensystems und/oder des Aluminiums und/oder des Siliziums, - -
einschließlich gemischtmetallischen Phasen sowie Phasengemischen der vorgenannten Verbindungen.
12. Schneidwerkzeug nach einem der vorangegangenen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der Substratgrundkörper aus Hartmetall, Cermet, Stahl oder Schnellarbeits- stahl (HSS) hergestellt ist.
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