WO2009104526A1 - Test device - Google Patents

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WO2009104526A1
WO2009104526A1 PCT/JP2009/052463 JP2009052463W WO2009104526A1 WO 2009104526 A1 WO2009104526 A1 WO 2009104526A1 JP 2009052463 W JP2009052463 W JP 2009052463W WO 2009104526 A1 WO2009104526 A1 WO 2009104526A1
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camera
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仁 斎藤
靖 中島
誠 辻
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シャープ株式会社
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    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N17/00Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details
    • H04N17/002Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details for television cameras

Abstract

Provided is a test device which can significantly reduce the time required for testing a solid state imaging device. The test device includes: a first tray (2) having a plurality of containers having a gap penetrating through an insert direction of an object to be contained; a test chart (10) which can be imaged by camera modules (3) contained in the respective containers; a contactor (7) which can be brought into contact with an electrode formed on the rear surface opposite to the main surface of the camera modules (3) opposing to the test chart (10); and an inspection unit (20) which can analyze an imaging result given from the camera modules (3) via the contactor (7). In the state that a plurality of camera modules (3) are contained in the respective containers, at least one test chart (10) can be set within the range of the field of view of the camera modules (3).

Description

テスト装置Test equipment
 本発明は、テスト装置に関し、特にカメラモジュールをトレイに収納した状態でのテストが可能なテスト装置に関する。 The present invention relates to a test apparatus, and more particularly to a test apparatus capable of performing a test with a camera module stored in a tray.
 デジタルスチルカメラ、カメラ付携帯電話、監視カメラ等の普及に伴い、これらに使用される固体撮像装置の需要が増大し、生産数量も増加している。 With the widespread use of digital still cameras, mobile phones with cameras, surveillance cameras, etc., the demand for solid-state imaging devices used for them has increased, and the production volume has also increased.
 固体撮像装置の製造工程では、固体撮像装置でテストチャートを撮像して画質のテストが行われる。この画質テストは、固体撮像装置を専用のソケットに挿入し、ソケットの開口部からテストチャートを撮像して行われる。これは、通常手作業で1個ずつソケットに挿入して行われるために非常に効率が悪く、近年の生産数量増加に対応するのが困難となってきた。 In the manufacturing process of the solid-state imaging device, a test chart is imaged by the solid-state imaging device and an image quality test is performed. This image quality test is performed by inserting a solid-state imaging device into a dedicated socket and imaging a test chart from the opening of the socket. Since this is usually performed manually by inserting it into the socket one by one, it is very inefficient and it has become difficult to cope with the recent increase in production quantity.
 そこで従来、下記特許文献1に記載のようなテスト装置が提案されている。これは、トレイに収納された固体撮像装置を、トレイから1個ずつ移送ユニットにより載置ユニットに移し替え、載置ユニット上部に設けられたテストチャートや光源により画質検査を行うものである。搬送からテストまで自動的に行われるので、手作業で1個ずつ測定するよりもスループットが向上する。 Therefore, conventionally, a test apparatus as described in Patent Document 1 below has been proposed. In this method, the solid-state imaging devices housed in the tray are transferred one by one from the tray to the mounting unit by the transfer unit, and the image quality inspection is performed using a test chart or light source provided on the upper portion of the mounting unit. Since the process is automatically performed from the conveyance to the test, the throughput is improved as compared with the case of measuring manually one by one.
 又、ICパッケージのテスト装置としては、下記特許文献2において、トレイに収納したままテストが可能なテスト装置が考案されている。特許文献2によれば、トレイにICパッケージの端子と検査装置の測定部の接触子が接触できる穴を設け、トレイに収納したままテストを行うことができる。これによりICパッケージをテスト用ソケットに移し替える時間や機構を設ける必要がなくなる。 In addition, as a test apparatus for an IC package, a test apparatus capable of testing while being stored in a tray has been devised in Patent Document 2 below. According to Patent Literature 2, a hole can be provided in the tray so that the terminal of the IC package can come into contact with the contact of the measuring unit of the inspection apparatus, and the test can be performed while being stored in the tray. This eliminates the need for providing a time and mechanism for transferring the IC package to the test socket.
特開2007-163453号公報JP 2007-163453 A 特開平7-12894号公報Japanese Patent Laid-Open No. 7-12894
 特許文献1のテスト装置では、固体撮像装置を1個ずつ移送し、又、1回につき2個ずつしかテストできないため、搬送並びにテストに非常に時間がかかるという問題がある。 In the test apparatus of Patent Document 1, since the solid-state imaging device is transferred one by one and only two pieces can be tested at a time, there is a problem that it takes a very long time to carry and test.
 かかる問題を解消すべく、特許文献2に記載の方法を用いて、トレイに収納したままテストを行うことで時間の短縮化を図ることが考えられる。しかし、特許文献2の装置では、パッケージ上部にコンタクトプッシャーが存在するため、テストチャートを撮像することが出来ず、固体撮像装置のテストが行えない。更に、特許文献2に記載されているように、端子としてリードを使用しているようなデバイスではなく、例えば半田ボールやパッドを端子として使用しているようなデバイスや、端子がパッケージ内でランダムな位置に配置されているようなデバイスは、特許文献2のような構造のトレイではテスト装置の接触子とデバイスの端子を接触させることが出来ず、テストを行うことが出来ない。 In order to solve such a problem, it is conceivable to shorten the time by performing the test while being stored in the tray using the method described in Patent Document 2. However, in the apparatus of Patent Document 2, since the contact pusher is present on the upper part of the package, the test chart cannot be imaged and the solid-state imaging apparatus cannot be tested. Furthermore, as described in Patent Document 2, it is not a device that uses a lead as a terminal, but a device that uses, for example, a solder ball or a pad as a terminal, or a terminal that is random in the package. A device arranged at a certain position cannot be tested because the contact of the test apparatus and the terminal of the device cannot be brought into contact with the tray having the structure as in Patent Document 2.
 本発明は、上記の問題点に鑑み、固体撮像装置のテストに要する時間の大幅な短縮化が可能なテスト装置を提供することを目的とする。 In view of the above problems, an object of the present invention is to provide a test apparatus that can significantly reduce the time required for testing a solid-state imaging device.
 上記目的を達成するための本発明に係るテスト装置は、被収容物の挿嵌方向に貫通した空隙を有する収容部を複数備えた第1トレイと、前記収容部内に収容されたカメラモジュールによって撮像可能なテストチャートと、前記テストチャートと対向する前記カメラモジュールの主面側とは反対の裏面側に形成された前記カメラモジュールの電極に接触可能なコンタクタと、前記コンタクタに電気的に接続され、前記コンタクタを介して前記カメラモジュールから与えられる撮像結果の分析が可能な検査部と、を備えてなり、複数の前記カメラモジュールが複数の前記収容部内に夫々収容された状態の下で、少なくとも一の前記テストチャートを複数の前記カメラモジュールの視野角範囲内に設置可能に構成されていることを第1の特徴とする。 In order to achieve the above object, a test apparatus according to the present invention captures an image by a first tray having a plurality of accommodating portions each having a gap penetrating in the insertion direction of an object to be accommodated, and a camera module accommodated in the accommodating portion. A possible test chart, a contactor capable of contacting an electrode of the camera module formed on the back side opposite to the main surface side of the camera module facing the test chart, and electrically connected to the contactor, An inspection unit capable of analyzing an imaging result given from the camera module via the contactor, and at least one of the plurality of camera modules is housed in the plurality of housing units. The first feature is that the test chart is configured to be installed within a viewing angle range of the plurality of camera modules. .
 本発明に係るテスト装置の上記第1の特徴構成によれば、第1トレイの各収容部内にカメラモジュールを搭載した状態で、複数のカメラモジュールによってテストチャートを撮像し、コンタクタを介して送出された撮像結果が検査部によって分析されることで、視野角範囲内にテストチャートが位置している複数のカメラモジュールに対して、一時に画像テストを行うことができる。このため、カメラモジュールを一つずつ移送する従来方法よりもテスト時間が大幅に短縮される。 According to the first characteristic configuration of the test apparatus according to the present invention, a test chart is imaged by a plurality of camera modules in a state where the camera module is mounted in each accommodating portion of the first tray, and is sent out via the contactor. By analyzing the obtained imaging result by the inspection unit, an image test can be performed at a time on a plurality of camera modules in which the test chart is located within the viewing angle range. For this reason, the test time is significantly shortened as compared with the conventional method of transferring the camera modules one by one.
 又、カメラモジュールが収容される第1トレイは、挿嵌方向に貫通した空隙を有して形成されているため、主面側に形成された撮像素子をテストチャートに対向させつつ、裏面側に形成された電極とコンタクタとを電気的に接続させることが可能となる。これにより、カメラモジュールをトレイに収容したままの状態でテストを行うことができるため、カメラモジュールを個々に搬送しながらテストを行う場合と比較して、制御機構が簡素化される。 In addition, since the first tray in which the camera module is accommodated is formed with a gap penetrating in the insertion direction, the image sensor formed on the main surface side is opposed to the test chart while the back surface is It is possible to electrically connect the formed electrode and the contactor. Accordingly, the test can be performed in a state where the camera module is housed in the tray, so that the control mechanism is simplified as compared with the case where the test is performed while individually conveying the camera module.
 又、本発明に係るテスト装置は、上記第1の特徴構成に加えて、前記テストチャートが、前記第1トレイの下方に設置されて前記カメラモジュールによって下向きに撮像可能に構成されていることを第2の特徴とする。 In addition to the first characteristic configuration, the test apparatus according to the present invention is configured such that the test chart is installed below the first tray and can be imaged downward by the camera module. The second feature.
 本発明に係るテスト装置の上記第2の特徴構成によれば、カメラモジュールが上向きに構成される場合に比べ、カメラモジュールやレンズの表面に付着する異物の量を大幅に減少させることができる。これにより、カメラモジュールやレンズ表面に付着した異物の影響を小さくすることができる。 According to the second characteristic configuration of the test apparatus according to the present invention, the amount of foreign matter adhering to the surface of the camera module or the lens can be greatly reduced as compared with the case where the camera module is configured upward. Thereby, the influence of the foreign material adhering to the camera module or the lens surface can be reduced.
 又、本発明に係るテスト装置は、第1又は第2の特徴構成に加えて、複数の前記カメラモジュール夫々が、前記主面側を下向きにして複数の前記収容部に向けて挿嵌されることで前記各収容部内に収容されることを第3の特徴とする。 In the test apparatus according to the present invention, in addition to the first or second characteristic configuration, each of the plurality of camera modules is inserted into the plurality of accommodating portions with the main surface side facing downward. Thus, the third feature is that it is accommodated in each of the accommodating portions.
 このとき、具体的にカメラモジュールが、撮像素子が形成されている主面側の幅が電極が形成されている裏面側の幅よりも狭くなるような構造であれば、収容部をテーパ形状とした状態で主面側を下向きにしてカメラモジュールを収容部に挿嵌することで、主面側を下向きにして安定的に収容部内に収容することができる。 At this time, if the camera module specifically has a structure in which the width on the main surface side on which the imaging element is formed is narrower than the width on the back surface side on which the electrodes are formed, the housing portion has a tapered shape. In this state, by inserting the camera module into the housing portion with the main surface side facing down, the main surface side can be stably housed in the housing portion with the main surface side facing down.
 又、本発明に係るテスト装置は、上記第1~第3の何れか一の特徴構成に加えて、マトリクス状に配列された複数の前記カメラモジュールの一行分又は一列分に係る全ての前記カメラモジュールの各視野角範囲内に、一時に、一の前記テストチャートが夫々存在するように、一又は複数の前記テストチャートが行方向又は列方向に沿って設けられていることを第4の特徴とする。 Further, in addition to any one of the first to third feature configurations, the test apparatus according to the present invention includes all the cameras related to one row or one column of the plurality of camera modules arranged in a matrix. The fourth feature is that one or a plurality of the test charts are provided along the row direction or the column direction so that one test chart exists at a time within each viewing angle range of the module. And
 又、本発明に係るテスト装置は、上記第4の特徴構成に加えて、一行分又は一列分に係る全ての前記カメラモジュールによって前記テストチャートの撮像が終了した後、前記第1トレイが列方向又は行方向に移動可能に構成されていることを第5の特徴とする。 In addition to the fourth feature configuration, the test apparatus according to the present invention may be configured such that after the imaging of the test chart is completed by all the camera modules for one row or one column, the first tray is arranged in the column direction. Alternatively, a fifth feature is that the structure is configured to be movable in the row direction.
 本発明に係るテスト装置の上記第5の特徴構成によれば、視野角範囲内にテストチャートが設置されているカメラモジュールに対する画像テスト、並びに、列方向又は行方向への第1トレイの移送を順次実行することで、第1トレイ内に収容された全てのカメラモジュールに対して連続的にテストを実行することが可能となる。これにより、テストに要する時間を更に短縮することが可能となる。 According to the fifth characteristic configuration of the test apparatus according to the present invention, the image test for the camera module in which the test chart is installed within the viewing angle range, and the transfer of the first tray in the column direction or the row direction are performed. By sequentially executing the test, it is possible to continuously execute the test on all the camera modules accommodated in the first tray. Thereby, the time required for the test can be further shortened.
 又、本発明に係るテスト装置は、上記第1~第5の何れか一の特徴構成に加えて、前記カメラモジュールを前記収容部内の所定の標準位置に位置調整可能なカメラモジュール位置調整部を備え、前記カメラモジュールが前記テストチャートを撮像する前に、前記カメラモジュール位置調整部が前記カメラモジュールの設置位置を確認すると共に、前記標準位置に設置されていない場合には前記カメラモジュールを前記標準位置に調整することを第6の特徴とする。 The test apparatus according to the present invention further includes a camera module position adjusting unit capable of adjusting the position of the camera module to a predetermined standard position in the housing unit in addition to any one of the first to fifth characteristic configurations. The camera module position adjustment unit confirms the installation position of the camera module before the camera module images the test chart, and when the camera module is not installed at the standard position, The sixth characteristic is that the position is adjusted.
 本発明に係るテスト装置の上記第6の特徴構成によれば、各カメラモジュールを第1トレイの各収容部内に収容させた最初の時点で、何れかのカメラモジュールに位置ズレが生じていた場合であっても、テスト開始前までには位置の調整を行うことができるため、各カメラモジュールに対して精度の高い画像テストを行うことができる。 According to the sixth characteristic configuration of the test apparatus according to the present invention, when any camera module is misaligned at the first time when each camera module is accommodated in each accommodating portion of the first tray. Even so, since the position can be adjusted before the start of the test, a highly accurate image test can be performed on each camera module.
 又、本発明に係るテスト装置は、上記第1~第6の何れか一の特徴構成に加えて、前記第1トレイに重ね合わせることのできる第2トレイを有し、前記挿嵌方向とは逆方向の離脱方向に係る前記第1トレイの表面上に前記第2トレイを載置後、前記カメラモジュールを前記離脱方向に前記第1トレイから離脱させることで、前記カメラモジュールを前記第2トレイ内に収容可能に構成されていることを第7の特徴とする。 The test apparatus according to the present invention has a second tray that can be superposed on the first tray in addition to any one of the first to sixth features, and what is the insertion direction? After the second tray is placed on the surface of the first tray in the reverse release direction, the camera module is released from the first tray in the release direction, whereby the camera module is removed from the second tray. The seventh feature is that it is configured to be housed inside.
 本発明に係るテスト装置の上記第7の特徴構成によれば、テスト終了後に第1トレイに収容されていた複数のカメラモジュールを、一時に第2トレイに移し替えることができる。これにより、テスト完了後の複数のカメラモジュールを、第2トレイごと、そのままテスト後の工程が行われるエリアに移送できる。従って、従来のようにカメラモジュールを人手で一個ずつ移し替える必要がなくなり、テスト終了後のカメラモジュールに対して短時間で次の工程へと移すことができる。 According to the seventh characteristic configuration of the test apparatus according to the present invention, a plurality of camera modules accommodated in the first tray after the test can be transferred to the second tray at a time. Accordingly, the plurality of camera modules after the completion of the test can be transferred to the area where the post-test process is performed for each second tray as it is. Therefore, it is not necessary to manually transfer the camera modules one by one as in the prior art, and the camera module after the test can be transferred to the next process in a short time.
 又、本発明に係るテスト装置は、上記第1~第7の何れか一の特徴構成に加えて、前記空隙内にレンズが介挿されており、前記レンズが、前記収容部内に前記カメラモジュールを収容時に前記カメラモジュールの主面側と前記テストチャートの間に位置し、前記収容部内に収容されたカメラモジュールによって、前記レンズを介して前記テストチャートを撮像可能に構成されていることを第8の特徴とする。 Further, in addition to any one of the first to seventh characteristic configurations, the test apparatus according to the present invention includes a lens inserted in the gap, and the lens is inserted in the housing portion. The test chart is positioned between the main surface side of the camera module and the test chart at the time of housing, and the test chart can be imaged through the lens by the camera module housed in the housing section. Eight features.
 本発明に係るテスト装置の上記第8の特徴構成によれば、レンズが内蔵されていないカメラモジュールに対しても、レンズが内蔵されたカメラモジュールと同様に画像テストを実行することができる。 According to the eighth characteristic configuration of the test apparatus according to the present invention, an image test can be performed on a camera module having no built-in lens as in the camera module having a built-in lens.
 本発明の構成によれば、第1トレイの各収容部内にカメラモジュールを搭載した状態で、複数のカメラモジュールによってテストチャートを撮像し、コンタクタを介して送出された撮像結果が検査部によって分析されることで、視野角範囲内にテストチャートが位置している複数のカメラモジュールに対して、一時に画像テストを行うことができる。このため、カメラモジュールを一つずつ移送する従来方法よりもテスト時間を大幅に短縮することができる。 According to the configuration of the present invention, a test chart is imaged by a plurality of camera modules in a state where the camera module is mounted in each accommodating portion of the first tray, and the imaging result sent through the contactor is analyzed by the inspection unit. Thus, an image test can be performed at a time on a plurality of camera modules in which the test chart is located within the viewing angle range. For this reason, the test time can be greatly shortened compared with the conventional method of transferring the camera modules one by one.
本発明に係るテスト装置の概念的構造図Conceptual structural diagram of a test apparatus according to the present invention トレイの拡大図Enlarged view of the tray カメラモジュールをトレイの収容部内の標準位置に設置する方法を示す模式図Schematic showing how to install the camera module at the standard position in the tray compartment テストヘッドの概略構成を示す図Diagram showing schematic configuration of test head テストチャートの一実施例を示す概略図Schematic showing one example of test chart 不良品と判定されたカメラモジュールを再度検査する場合に係るトレイの移送例Example of tray transfer when re-inspecting a camera module determined to be defective 良品のカメラモジュールを移送用トレイに移し替える状態を示す概念図Conceptual diagram showing a state where a non-defective camera module is transferred to a transfer tray ゴミ・シミテストを行う場合の概念図Conceptual diagram for garbage / simitest 画像テストと電気的特性テストとを並行して行う場合の概念図Conceptual diagram when performing image test and electrical characteristic test in parallel カメラモジュールを上向きにしてトレイに収容する場合の概念図Conceptual diagram when storing the camera module in the tray facing upward 位置調整とテストチャートの撮像とを並行して行う場合の概念図Conceptual diagram when performing position adjustment and test chart imaging in parallel レンズを搭載したトレイの概念図Conceptual diagram of a tray with a lens 一のテストチャートが複数のカメラモジュールの視野角範囲内に位置する場合の実施例を示す概念図The conceptual diagram which shows the Example when one test chart is located in the viewing angle range of several camera modules
符号の説明Explanation of symbols
   1:  本発明に係るテスト装置
   2:  トレイ
   3:  カメラモジュール
   4:  トレイ設置台
   5:  ゴミ・シミテスト用テストチャート
   6:  画像テスト用テストヘッド
   6a:  電気的特性テスト用テストヘッド
   7:  コンタクタ
   8:  不良モジュールピックアップ部
   10:  画像テスト用テストチャート
   11、12:  モータ
   13:  はみ出し検出センサ
   14:  位置調整アーム
   17:  モータコントローラ
   20:  検査部
   23:  収容部
   25:  蓋
   30:  カメラモジュール位置調整部
   31:  レンズ
   32:  レンズ
   41:  テストモジュール
   42:  配線
   43:  加重センサ
   51:  電極
   61:  支持台
   62:  支持アーム
   63:  留め具
   64:  調整用溝部
   65:  レール
   71:  粘着ローラ
   72:  ブラシ
   73:  エアー
   81:  移送用トレイ
1: Test apparatus according to the present invention 2: Tray 3: Camera module 4: Tray mounting table 5: Test chart for dust / stain test 6: Test head for image test 6a: Test head for electrical characteristic test 7: Contactor 8: Defect Module pickup unit 10: Test chart for image test 11, 12: Motor 13: Projection detection sensor 14: Position adjustment arm 17: Motor controller 20: Inspection unit 23: Housing unit 25: Lid 30: Camera module position adjustment unit 31: Lens 32: Lens 41: Test module 42: Wiring 43: Weight sensor 51: Electrode 61: Support base 62: Support arm 63: Fastener 64: Adjustment groove 65: Rail 71: Adhesive roller 2: Brush 73: Air 81: transport trays
 以下において、本発明に係るテスト装置(以下、適宜「本発明装置」と称する)の実施形態について図面を参照して説明する。 Hereinafter, an embodiment of a test apparatus according to the present invention (hereinafter referred to as “the present apparatus” as appropriate) will be described with reference to the drawings.
 図1は、本発明装置の概念的構造図であり、(a)が上から見た図を、(b)に正面から見た図を夫々示している。 FIG. 1 is a conceptual structural diagram of the device of the present invention, where (a) shows a view from above, and (b) shows a view from the front.
 本発明装置1は、カメラモジュール(固体撮像装置)3の収容が可能なトレイ2、トレイ2が設置されるトレイ設置台4、ゴミ・シミテスト用テストチャート5、画像テスト用テストヘッド6、コンタクタ7、不良モジュールピックアップ部8、画像テスト用テストチャート10、モータ11及び12、モータコントローラ17、撮像された画像を分析する検査部20、カメラモジュール位置調整部30を備えて構成される。尚、トレイ設置台4は、所定の領域4a内において空隙が形成されており、トレイ2は、その領域4aに係る空隙幅よりも大きい寸法幅で形成されているものとする。言い換えれば、領域4a上を含む位置にトレイ2を載置することにより、トレイ2が領域4a内の空隙から落下することがなく、且つトレイ2の下方を露出させることが可能に構成されている。 The apparatus 1 of the present invention includes a tray 2 capable of accommodating a camera module (solid-state imaging device) 3, a tray mounting table 4 on which the tray 2 is installed, a dust / smear test test chart 5, an image test test head 6, and a contactor 7. , A defective module pickup unit 8, an image test test chart 10, motors 11 and 12, a motor controller 17, an inspection unit 20 that analyzes a captured image, and a camera module position adjustment unit 30. Note that the tray mounting table 4 is formed with a gap in the predetermined area 4a, and the tray 2 is formed with a dimension width larger than the gap width related to the area 4a. In other words, by placing the tray 2 at a position including the area 4a, the tray 2 does not fall from the gap in the area 4a, and the lower part of the tray 2 can be exposed. .
 図2はトレイ2の拡大図であり、(a)が斜視図、(b)がカメラモジュール3が収容されていない状態におけるトレイ2一部の断面図、(c)がカメラモジュール3が収容されている状態におけるトレイ2一部の断面図を夫々示している。図2に示すように、トレイ2には複数の収容部23が形成されており、各収容部23内にカメラモジュール3を収容可能に構成されている。収容部23は、カメラモジュール3の挿嵌方向d1(ここでは下向きとする)に貫通した空隙を有して形成されており、収容部23内にカメラモジュール3が収容された状態において、当該モジュール3の主面側に形成された撮像素子が、トレイ2の下方の被写体を撮像可能に構成される。 2A and 2B are enlarged views of the tray 2. FIG. 2A is a perspective view, FIG. 2B is a cross-sectional view of a portion of the tray 2 in a state where the camera module 3 is not accommodated, and FIG. The cross-sectional views of a part of the tray 2 in the state in which they are placed are shown. As shown in FIG. 2, a plurality of storage portions 23 are formed in the tray 2, and the camera module 3 can be stored in each storage portion 23. The housing part 23 is formed to have a gap that penetrates in the insertion direction d1 (here, downward) of the camera module 3, and in the state where the camera module 3 is housed in the housing part 23, the module 3 is configured to be able to image a subject below the tray 2.
 又、図2に示すカメラモジュール3は、撮像素子並びにレンズ31が形成された主面側B1の幅W1が、コンタクタ7に接続される電極が形成された裏面側B2の幅W2よりも小さい構造となっている。このため、このような形状を有するカメラモジュール3を収容部23内において下向きに安定的に収容すべく、収容部23は、下部の内径が上部の内径よりも狭くなるように形成されている。 Further, the camera module 3 shown in FIG. 2 has a structure in which the width W1 of the main surface side B1 where the imaging element and the lens 31 are formed is smaller than the width W2 of the back surface side B2 where the electrode connected to the contactor 7 is formed. It has become. For this reason, in order to stably accommodate the camera module 3 having such a shape downward in the accommodating portion 23, the accommodating portion 23 is formed so that the inner diameter of the lower portion is narrower than the inner diameter of the upper portion.
 このようにカメラモジュール3を収容部23内に収容した状態で、トレイ設置台4上においてトレイ2を移動方向d2に移動させる(図1参照)。そして、まずカメラモジュール位置調整部30によって、各カメラモジュール3が収容部23内の所定の標準位置に正しく収容されているか否かが確認されると共に、標準位置に収容されていない場合(即ち、はみ出している場合)にはカメラモジュール3を標準位置に調整する。 In the state where the camera module 3 is housed in the housing portion 23 as described above, the tray 2 is moved in the moving direction d2 on the tray mounting base 4 (see FIG. 1). First, the camera module position adjustment unit 30 confirms whether each camera module 3 is correctly stored in a predetermined standard position in the storage unit 23 and is not stored in the standard position (ie, If the camera module 3 protrudes, the camera module 3 is adjusted to the standard position.
 図3は、カメラモジュール3を収容部23内の標準位置に収容する方法を示す模式図であり、(a)が標準位置に収容されている場合、(b)が標準位置からずれている場合を示している。 FIG. 3 is a schematic diagram showing a method for accommodating the camera module 3 in the standard position in the accommodating portion 23, where (a) is accommodated in the standard position and (b) is deviated from the standard position. Is shown.
 カメラモジュール位置調整部30は、各カメラモジュール3の収容位置を確認するはみ出し検出センサ13と、カメラモジュール3を実際に動かして位置の調整を行う位置調整アーム14を備える。 The camera module position adjustment unit 30 includes a protrusion detection sensor 13 for confirming the accommodation position of each camera module 3 and a position adjustment arm 14 that actually moves the camera module 3 to adjust the position.
 はみ出し検出センサ13は、トレイ2を挟むように設置された2つのセンサ素子によって構成され、両センサ間に位置する一列又は数列分のカメラモジュール3のはみ出し状態を確認可能に構成されている。このはみ出し検出センサ13によって、対象となる一列又は数列分のカメラモジュール3のはみだし状態が確認されると、トレイ2を移動方向d2に移動させることで、まだ確認されていないカメラモジュール3をセンサ13によって検出可能な範囲内となるように設置する。又、それと共に、前段階ではみだし状態が確認されたカメラモジュール3の内、実際に標準位置に収容されていないカメラモジュール3(以下、適宜「要調整カメラモジュール」と記載)を、位置調整アーム14によって標準位置になるように移動させる。より具体的には、例えば位置調整アーム14の先端が吸盤形状となっており、要調整カメラモジュールを位置調整アーム14によって一旦持ち上げた後、再度収容されていた収容部23内に下向きに挿嵌し直す。尚、センサ素子の数ははみ出し状態が確認可能であれば3以上であっても良い。 The protrusion detection sensor 13 is composed of two sensor elements installed so as to sandwich the tray 2, and is configured to be able to check the protrusion state of one or several rows of camera modules 3 located between the two sensors. When the protruding state of the camera modules 3 corresponding to one or several rows is confirmed by the protrusion detection sensor 13, the tray 2 is moved in the moving direction d2 to move the camera module 3 that has not been confirmed yet to the sensor 13. To be within the detectable range. At the same time, among the camera modules 3 whose protruding state has been confirmed in the previous stage, a camera module 3 that is not actually accommodated in the standard position (hereinafter referred to as “adjustable camera module” as appropriate) is attached to the position adjustment arm. 14 to move to the standard position. More specifically, for example, the tip of the position adjustment arm 14 has a suction cup shape, and after the camera module requiring adjustment is once lifted by the position adjustment arm 14, the position adjustment arm 14 is inserted downward into the accommodating portion 23 accommodated again. Try again. The number of sensor elements may be three or more as long as the protruding state can be confirmed.
 このように、トレイ2内に設置されていた全てのカメラモジュール3が、収容部23内において正しく標準位置に設置できていることを確認した後、若しくは正しく標準位置に設置し直した後、トレイ2を画像テスト用テストヘッド6(以下、適宜「テストヘッド6」と略記)の下方に移送させる。 As described above, after confirming that all the camera modules 3 installed in the tray 2 have been correctly installed in the standard position in the accommodating portion 23, or after having been correctly installed in the standard position, the tray 2 is transferred below the test head 6 for image test (hereinafter abbreviated as “test head 6” as appropriate).
 図4はテストヘッドの概略構成を示す図であり、(a)が正面図、(b)がカメラモジュール3を含めて詳細に図示した拡大図である。 4A and 4B are diagrams showing a schematic configuration of the test head, in which FIG. 4A is a front view and FIG. 4B is an enlarged view illustrating the camera module 3 in detail.
 図4に示すように、テストヘッド6には、テストモジュール41が複数個設けられており、テストモジュール41とコンタクタ7が電気的に接続されている。又、テストモジュール41は、配線42を介して検査部20に電気的に接続されている。検査部20は与えられる電気信号に基づいて演算処理が可能な装置(例えば計算機)を有して構成される。 As shown in FIG. 4, the test head 6 is provided with a plurality of test modules 41, and the test modules 41 and the contactors 7 are electrically connected. In addition, the test module 41 is electrically connected to the inspection unit 20 via the wiring 42. The inspection unit 20 includes a device (for example, a computer) that can perform arithmetic processing based on an applied electric signal.
 トレイ2がテストヘッド6の下方に移送されると、コンタクタ7が下方に移動して、対象となるカメラモジュール3の裏面側に形成されている電極51と接触する。コンタクタ7は、電極51への打痕を軽減し、若しくは電極51との接触時の衝撃によるカメラモジュール3へのダメージを緩和し、更にはスループットを向上させるために、コンタクタ7が電極51に接触する近傍までは速い速度で降下し、電極51の近傍から電極51に接触するまではゆっくり下降する。コンタクタ7が電極51に接触した後は、加重センサ43により、過度の加重がかかって打痕やダメージを与えないよう下降する位置が調節される。 When the tray 2 is transferred to the lower side of the test head 6, the contactor 7 moves downward to come into contact with the electrode 51 formed on the back side of the target camera module 3. The contactor 7 makes contact with the electrode 51 in order to reduce dents on the electrode 51 or to reduce damage to the camera module 3 due to an impact at the time of contact with the electrode 51, and to further improve the throughput. It descends at a high speed to the vicinity where it moves, and slowly descends from the vicinity of the electrode 51 until it contacts the electrode 51. After the contactor 7 comes into contact with the electrode 51, the weight sensor 43 adjusts the position where the contactor 7 descends so as not to apply excessive weight and cause damage or damage.
 コンタクタ7が電極51に接触し、適正な位置に調節がされた後、カメラモジュール3は、トレイ2の下方に設置された画像テスト用テストチャート10(以下、適宜「テストチャート10」と略記)を撮像する。上述したように、収容部23は上下方向に貫通する空隙を有しているため、主面側が下向きとなるように収容されたカメラモジュール3は、トレイ設置台4内の空隙4aを介して下方に露出され、且つ、その下方に設置されたテストチャート10と対向する。これにより、主面側に形成されているカメラモジュール3(の撮像素子)の視野角範囲内にテストチャート10が位置し、カメラモジュール3によって当該テストチャート10を撮像することができる。カメラモジュール3が撮像した信号は、コンタクタ7から配線42を通じて、検査部20に送出される。検査部20は、この信号をもとに画質検査を実施し、カメラモジュール3の良否判定を行う。 After the contactor 7 comes into contact with the electrode 51 and is adjusted to an appropriate position, the camera module 3 has an image test test chart 10 installed below the tray 2 (hereinafter abbreviated as “test chart 10” as appropriate). Image. As described above, since the housing portion 23 has a gap penetrating in the vertical direction, the camera module 3 housed so that the main surface side faces downward is positioned downward via the gap 4 a in the tray installation base 4. The test chart 10 is exposed to the surface of the test chart 10 and disposed below the test chart 10. As a result, the test chart 10 is positioned within the viewing angle range of the camera module 3 (imaging device) formed on the main surface side, and the test chart 10 can be imaged by the camera module 3. A signal captured by the camera module 3 is sent from the contactor 7 to the inspection unit 20 through the wiring 42. The inspection unit 20 performs an image quality inspection based on this signal, and determines whether the camera module 3 is good or bad.
 図5は、テストチャート10の一実施例を示す概略図である。図5(a)はテストチャート及びそれを支持するための支持台を含む全体の構成を示した図であり、図5(b)はカメラモジュール3とテストチャート10の位置的関係を概念的に示した図である。 FIG. 5 is a schematic view showing an example of the test chart 10. FIG. 5A is a diagram showing an overall configuration including a test chart and a support base for supporting the test chart, and FIG. 5B conceptually shows the positional relationship between the camera module 3 and the test chart 10. FIG.
 図5(a)に示すように、テストチャート10は支持台61によって支持されている。この支持台61は、交差する2本の支持アーム62が平行に延伸する2本のレール65上に設置されており、支持アーム62が開いたり閉じたりすることで高さ調節が可能になっている。そして、2本の支持アーム62はその交差点で留め具63で留められており、留め具63が支持アーム62に設けられた調整用溝部64内をスライドすることによりその高さを変えることができる。支持アームの下部はレール65上を移動することにより開閉可能となっている。このように、支持台61の高さ調節が可能に構成されることで、異なる焦点距離を有するカメラモジュール3に対しても、テストチャート10を変更することなく支持台61の高さを変えることのみで本発明装置1でのテストが可能となる。尚、支持台61、支持アーム62等はモータコントローラ17からの制御指示に基づいてモータ11によって動作制御される。 As shown in FIG. 5A, the test chart 10 is supported by a support base 61. The support base 61 is installed on two rails 65 in which two intersecting support arms 62 extend in parallel, and the height can be adjusted by opening and closing the support arms 62. Yes. The two support arms 62 are fastened by a fastener 63 at the intersection, and the height of the support arm 62 can be changed by sliding the inside of the adjusting groove 64 provided in the support arm 62. . The lower part of the support arm can be opened and closed by moving on the rail 65. As described above, the height of the support base 61 can be adjusted without changing the test chart 10 even for the camera modules 3 having different focal lengths by being configured so that the height of the support base 61 can be adjusted. Only with this, the test with the device 1 of the present invention becomes possible. The operation of the support base 61, the support arm 62, and the like is controlled by the motor 11 based on a control instruction from the motor controller 17.
 テストチャート10は、トレイ2内に収容されたカメラモジュール3の内、同一列に属する全てのカメラモジュール3の視野角範囲内に位置するように構成されている。図5(b)に示すように、本実施形態では、同一列に属する全てのカメラモジュール3について、各カメラモジュール3の視野角範囲内に、夫々異なる一のテストチャート10が位置するようにテストチャート10が設置されている。 The test chart 10 is configured to be located within the viewing angle range of all the camera modules 3 belonging to the same row among the camera modules 3 accommodated in the tray 2. As shown in FIG. 5B, in the present embodiment, for all the camera modules 3 belonging to the same column, the test is performed so that one different test chart 10 is located within the viewing angle range of each camera module 3. A chart 10 is installed.
 尚、図5に示すように、テストチャート10には、粘着ローラ71、ブラシ72、エアー73等のクリーニング機構が備えられており、テストチャート10のクリーニングが可能に構成されている。より詳細には、粘着ローラー71によってテストチャート10上の異物を付着させて除去したり、ブラシ72で異物を払い落としたり、エアー73で異物を吹き飛ばしたりすることで、テストチャート10をクリーニングし、常に正しい画像テストが行える状態に保つことが可能となっている。 As shown in FIG. 5, the test chart 10 is provided with cleaning mechanisms such as an adhesive roller 71, a brush 72, and air 73, so that the test chart 10 can be cleaned. More specifically, the test chart 10 is cleaned by adhering and removing foreign matter on the test chart 10 with the adhesive roller 71, removing foreign matter with the brush 72, or blowing off foreign matter with the air 73, It is possible to always keep a correct image test.
 このように構成されたテストチャート10を、カメラモジュール3によって撮像することによって当該カメラモジュール3のテストが行われる。具体的には、トレイ2内にマトリクス状に配列された複数のカメラモジュール3の内、同一列に属する全てのカメラモジュール3がテストチャート10を撮像し、これらの撮像結果が検査部20に与えられる。検査部20では、与えられた撮像結果を分析し、当該対象列に属する複数のカメラモジュール3の中に不良品が存在しているか否かを判断する。そして、不良品が存在した場合には、不良モジュールピックアップ部8によって当該不良品が選別され、この選別された不良モジュールが不良品収納箇所(箱或いはトレイ)に送られる。 The camera module 3 is tested by imaging the test chart 10 thus configured with the camera module 3. Specifically, among the plurality of camera modules 3 arranged in a matrix in the tray 2, all the camera modules 3 belonging to the same column take an image of the test chart 10, and these imaging results are given to the inspection unit 20. It is done. The inspection unit 20 analyzes the given imaging result and determines whether or not a defective product exists in the plurality of camera modules 3 belonging to the target column. If there is a defective product, the defective module pickup unit 8 selects the defective product, and the selected defective module is sent to a defective product storage location (box or tray).
 このようにして、一列に係るカメラモジュール3の良否判定が完了すると、トレイ2を一行分だけ移送し、隣の列に係るカメラモジュール3の良否判定を引き続き同様に行う。以下、良否判定とトレイ2の移送を交互に行うことで、トレイ2に収容されている全てのカメラモジュール3の良否判定、並びに不良品の選別が完了する。尚、不良モジュールピックアップ部8は、モータコントローラ17からの制御指示に基づいてモータ12によって制御されることで、不良モジュールを不良品収納箇所へと移送する。 In this way, when the pass / fail judgment of the camera modules 3 related to one row is completed, the tray 2 is transferred by one row, and the pass / fail judgment of the camera modules 3 related to the adjacent row is continuously performed in the same manner. Thereafter, the pass / fail judgment and the transfer of the tray 2 are alternately performed, whereby the pass / fail judgment of all the camera modules 3 accommodated in the tray 2 and the sorting of defective products are completed. The defective module pickup unit 8 is controlled by the motor 12 based on a control instruction from the motor controller 17 to transfer the defective module to a defective product storage location.
 尚、良否判定の精度を向上させるべく、不良品と判定されたカメラモジュール3のみを再度検査する構成としても良い。図6は、不良品と判定されたカメラモジュール3を再度検査する場合に係るトレイ2の移送例を示す。 In addition, in order to improve the accuracy of the quality determination, only the camera module 3 determined to be defective may be inspected again. FIG. 6 shows an example of transferring the tray 2 when the camera module 3 determined to be defective is inspected again.
 上述したように、トレイ2がトレイ設置台4上を移動方向d2に移動しながら、トレイ2内の各列毎にカメラモジュール3の良否判定が行われる。そして、トレイ2に収納されている全てのカメラモジュール3の検査がすべて終了した後、トレイ2をd2とは反対向きの逆方向d3に移動させながら、不良と判断されたカメラモジュール3のみを再検査する。尚、このとき、不良と判断されたカメラモジュール3のトレイ2内での位置情報は、検査部20によって記憶されており、この記憶された情報に基づいて不良と判断されたカメラモジュール3のみが再検査の実行がされるものとして良い。以下、同様に逆方向d3に移動させながら、順次不良判断がされたモジュールのみを再検査することで、良否判定の精度を上げることができる。 As described above, the quality of the camera module 3 is determined for each row in the tray 2 while the tray 2 moves on the tray mounting table 4 in the moving direction d2. After all the inspections of all the camera modules 3 stored in the tray 2 are completed, only the camera module 3 determined to be defective is re-operated while moving the tray 2 in the reverse direction d3 opposite to d2. inspect. At this time, the position information in the tray 2 of the camera module 3 determined to be defective is stored by the inspection unit 20, and only the camera module 3 determined to be defective based on the stored information is stored. A re-inspection may be performed. Similarly, the accuracy of the pass / fail judgment can be increased by moving again in the reverse direction d3 and re-inspecting only the modules for which the failure is judged sequentially.
 このようにして、良品と不良品が識別され、不良品と判断されたカメラモジュール3が選別されると、トレイ2には良品のカメラモジュール3のみが収容された状態となる。このようにして選別された良品のカメラモジュール3は、次の工程が行われるエリアに送出すべく、移送用のトレイに移される。 In this way, when the non-defective product and the defective product are identified and the camera module 3 determined to be defective is selected, only the non-defective camera module 3 is accommodated in the tray 2. The non-defective camera module 3 selected in this way is transferred to a transfer tray for delivery to an area where the next process is performed.
 図7は、良品のカメラモジュール3を移送用トレイに移し替える状態を示す概念図である。不良品のカメラモジュール3が選別され、良品のみが収容されたトレイ2の上に移送用トレイ81が重ねられる。移送用トレイ81は、(テスト用)トレイ2とガイドピン等によって重ね合わせ可能な構造であり、トレイ2が備える収容部23と同様の位置に少なくとも一方の面が開口した収容部を有している。トレイ2の上側に移送用トレイ81が重ね合わせられた状態の下でアーム82によって両トレイ2及び81の上下を挟み込み、略180度回転させて上下を反転させる。 FIG. 7 is a conceptual diagram showing a state in which the non-defective camera module 3 is transferred to the transfer tray. The defective camera module 3 is sorted, and a transfer tray 81 is overlaid on the tray 2 in which only good products are accommodated. The transfer tray 81 has a structure that can be overlapped with the (test) tray 2 by a guide pin or the like, and has a storage portion having at least one surface opened at the same position as the storage portion 23 provided in the tray 2. Yes. Under the condition that the transfer tray 81 is superposed on the upper side of the tray 2, the upper and lower sides of both trays 2 and 81 are sandwiched by the arms 82 and rotated approximately 180 degrees to invert the upper and lower sides.
 図2を参照して上述したように、トレイ2が備える収容部23は、テーパ形状を有する構成である。即ち、検査時においては、収容されたカメラモジュール3が下方に落下することのないように、収容部23が有する空隙の径の狭い方(収容されているカメラモジュール3の主面側)を下方、径の広い方(カメラモジュール3の裏面側)を上方にした状態で、トレイ2を移送させていた。しかし、前記のように反転させることで、収容部23の空隙の径の広い裏面側が下方になるため、収容されていたカメラモジュール3が下方に自然落下する。そして、トレイ2の下側で重ね合わせられている移送用トレイ81内の各収容部にカメラモジュール3が収容される。これによって、トレイ2に収容されていたカメラモジュール3を、簡易な方法によって移送用トレイ81に移し替えることができ、検査後の工程が行われるエリアにトレイ81毎カメラモジュール3を移送でき、カメラモジュール3を人手で一個ずつ移し変える必要がなくなる。 As described above with reference to FIG. 2, the accommodating portion 23 included in the tray 2 has a tapered shape. That is, at the time of inspection, in order to prevent the accommodated camera module 3 from falling downward, the one with the narrower gap diameter (the main surface side of the accommodated camera module 3) is held downward. The tray 2 was transferred with the wider diameter (the back side of the camera module 3) facing upward. However, by reversing as described above, the back side of the accommodating portion 23 with the large diameter of the gap becomes downward, so that the stored camera module 3 naturally falls downward. And the camera module 3 is accommodated in each accommodating part in the tray 81 for transfer overlapped on the lower side of the tray 2. Accordingly, the camera module 3 accommodated in the tray 2 can be transferred to the transfer tray 81 by a simple method, and the camera module 3 for each tray 81 can be transferred to an area where the post-inspection process is performed. There is no need to manually transfer modules 3 one by one.
 図8は、ゴミ・シミテストを行う場合の概念図である。カメラモジュール3の表面等にゴミやシミが付着している可能性も否定できない。ゴミやシミの存在は、例えば白一色で塗りつぶされた、テストチャート10とは異なる、専用のゴミ・シミテスト用テストチャート5(以下、適宜「テストチャート5」と略記)をカメラモジュール3によって撮像させ、その撮像結果を検査部20で分析することで行うことができる。このため、本発明装置1によってゴミ・シミテストを行う場合には、トレイ2の下方にテストチャート5を移動させ、カメラモジュール3とテストチャート5を対向させて、カメラモジュール3によって当該検査チャート5を撮像することで検査可能である。このとき、テストチャート5を設置台4に近接させておくと共に、空隙4a内に位置するようにテストチャート5を移動させてカメラモジュール3と対向させるものとすることができる。このようにすることで、カメラモジュール3とゴミ・シミテスト用テストチャート5との離間を狭くすることができ、ゴミ・シミテストの精度を上げることができる。 FIG. 8 is a conceptual diagram when a dust / smear test is performed. The possibility that dust and stains are attached to the surface of the camera module 3 cannot be denied. The presence of dust or stain is caused by the camera module 3 to capture a dedicated dust / stain test test chart 5 (hereinafter, abbreviated as “test chart 5” as appropriate), which is different from the test chart 10, for example, painted in white. The image pickup result can be analyzed by the inspection unit 20. Therefore, when the dust / stain test is performed by the apparatus 1 of the present invention, the test chart 5 is moved below the tray 2 so that the camera module 3 and the test chart 5 face each other, and the inspection chart 5 is displayed by the camera module 3. Inspection is possible by imaging. At this time, the test chart 5 can be placed close to the installation table 4, and the test chart 5 can be moved to face the camera module 3 so as to be positioned in the gap 4 a. By doing so, the distance between the camera module 3 and the dust / spot test test chart 5 can be narrowed, and the accuracy of the dust / spot test can be increased.
 このように構成することで、ゴミ・シミテストについても本発明装置1によって実行することができ、専用の装置を用意する必要がない。 With this configuration, the dust / stain test can be executed by the device 1 of the present invention, and there is no need to prepare a dedicated device.
 尚、このゴミ・シミテストは、各カメラモジュール3のテストチャート10を用いた検査が行われる前に各カメラモジュール3に対して実行されるものとしても構わない。 Note that this dust / smear test may be performed on each camera module 3 before the inspection using the test chart 10 of each camera module 3 is performed.
 上述したように、本発明装置1の構成とすることで、トレイ2内に収容されたカメラモジュール3の内、同一列に属するカメラモジュール3を一時にテストすることが可能となる。このため、カメラモジュールを1つずつ移送し、一時に2個程度のカメラモジュールのテストを行う従来方法よりもテスト時間が大幅に短縮される。 As described above, the configuration of the device 1 of the present invention makes it possible to test the camera modules 3 belonging to the same row among the camera modules 3 accommodated in the tray 2 at a time. For this reason, the test time is significantly shortened compared with the conventional method in which the camera modules are transferred one by one and the test of about two camera modules is performed at a time.
 又、本発明装置1が有するトレイ2は、図2に示すように方向d1(ここでは下向きとする)に貫通した空隙を有して形成されているため、主面側に形成された撮像素子をテストチャート10に対向させつつ、裏面側に形成された電極51とコンタクタ7とを電気的に接続させることが可能となる。これにより、カメラモジュール3をトレイ2に収容したままの状態でテストを行うことができるため、カメラモジュールを個々に搬送しながらテストを行う場合と比較して、制御機構が簡素化される。 Further, the tray 2 of the device 1 of the present invention has an air gap penetrating in the direction d1 (here, downward) as shown in FIG. The electrode 51 formed on the back surface side and the contactor 7 can be electrically connected while facing the test chart 10. Thereby, since the test can be performed with the camera module 3 being accommodated in the tray 2, the control mechanism is simplified as compared with the case where the test is performed while individually conveying the camera module.
 尚、画像テスト用テストヘッド6及びテストチャート10を用いてカメラモジュール3の撮像テストを行うのと並行して、当該画像テストを行っていない一部のカメラモジュール3に対して、画像テスト以外のテスト(例えば電気的特性テスト等)を行うものとしても構わない。 In parallel with performing the imaging test of the camera module 3 using the image test test head 6 and the test chart 10, a part of the camera module 3 not performing the image test is subjected to a test other than the image test. A test (for example, an electrical characteristic test) may be performed.
 図9は、画像テストと電気的特性テストとを並行して行う場合の概念図である。本発明装置1が、画像テスト用テストヘッド6に加えて、消費電流等の電気的特性をテストするための電気的特性テスト用テストヘッド6aを別途備えている。これによって画像テスト用テストヘッド6を用いて所定の複数のカメラモジュール3aに対して画像テストを行うのと並行して、前記カメラモジュール3a以外の複数のカメラモジュール3bに対して、電気的特性テスト用テストヘッド6aを用いて電気的特性のテストを行うことができる。より具体的には、列毎に複数のカメラモジュールのテストを行う構成とし、画像テストを行う列と電気的特性テストを行う列とを異ならせ、各テストが終了する毎にトレイ2を一列ずつ移送させることで、画像テストと電気的特性テストとを並行して実行することができる。これによって、各カメラモジュール3に対して、一のテスト装置によって複数のテストを効率的に実行することができ、テスト時間の短縮化が図られる。 FIG. 9 is a conceptual diagram when an image test and an electrical characteristic test are performed in parallel. In addition to the image test test head 6, the apparatus 1 of the present invention further includes an electrical characteristic test head 6a for testing electrical characteristics such as current consumption. As a result, an electrical characteristic test is performed on a plurality of camera modules 3b other than the camera module 3a in parallel with performing an image test on a plurality of predetermined camera modules 3a using the image test test head 6. The electrical test can be performed using the test head 6a. More specifically, the configuration is such that a plurality of camera modules are tested for each row, and the row for performing the image test is different from the row for performing the electrical characteristic test, and the tray 2 is placed one row at the end of each test. By transferring, the image test and the electrical property test can be executed in parallel. As a result, a plurality of tests can be efficiently executed for each camera module 3 by one test apparatus, and the test time can be shortened.
 電気的特性テストは、画像テストとは異なりカメラモジュール3によって被写体(テストチャート10)を撮像することはないので、電気的特性テスト用テストヘッド6aの下方にはチャートは設置されず、画像テスト用テストヘッド6の下方にのみテストチャート10が設置される。 In the electrical characteristic test, unlike the image test, the subject (test chart 10) is not imaged by the camera module 3. Therefore, no chart is installed below the electrical characteristic test head 6a, and the image test is performed. The test chart 10 is installed only below the test head 6.
 尚、ここでは電気的特性テストを例に挙げて説明を行ったが、無論、電気的特性テストに限られず、画像テスト用テストヘッド6に加えて画像テスト以外の他のテストを行うためのテストヘッドを備え、画像テストと並行して行うものとすることが可能である。 Although the electrical characteristic test has been described as an example here, it is needless to say that the test is not limited to the electrical characteristic test, and a test for performing a test other than the image test in addition to the test head 6 for the image test. A head may be provided and performed in parallel with the image test.
 以下に別実施形態につき、説明する。 Hereinafter, another embodiment will be described.
 〈1〉 上述の実施形態では、カメラモジュール3をトレイ2に対して下向きに挿嵌し、トレイ2の下方に設置されたテストチャート10を撮像することで、カメラモジュール3のテストを行う構成としたが、テスト時のカメラモジュール3の向きは下向きに限定されるものではない。例えば、カメラモジュール3が上向きになるようにトレイ2の収容部23内にカメラモジュール3を収容し、トレイ2の上方に設置されたテストチャート10を撮像することでカメラモジュール3のテストを行う構成としても良い。 <1> In the above-described embodiment, the camera module 3 is inserted into the tray 2 downward, and the test chart 10 placed below the tray 2 is imaged to test the camera module 3. However, the orientation of the camera module 3 during the test is not limited to the downward direction. For example, the camera module 3 is accommodated in the accommodating portion 23 of the tray 2 so that the camera module 3 faces upward, and the test of the camera module 3 is performed by imaging the test chart 10 installed above the tray 2. It is also good.
 図10は、カメラモジュール3の主面側(撮像素子形成側)を上向きにしてトレイ2に収容する場合の概念図を示している。トレイ2は、図2に示したものと同様、上下方向に貫通した空隙を有して形成されている(図10(a)及び拡大図参照)。尚、図2の場合と異なり、主面側を上向きにしてトレイ2内の収容部に挿嵌する。この場合、カメラモジュール3の撮像素子が形成されている主面側が上方に、電極51が形成されている裏面側が下方に露出される構成となる。 FIG. 10 shows a conceptual diagram in the case where the camera module 3 is housed in the tray 2 with the main surface side (imaging element forming side) facing upward. The tray 2 is formed with a gap penetrating in the vertical direction, as shown in FIG. 2 (see FIG. 10A and an enlarged view). In addition, unlike the case of FIG. 2, it inserts in the accommodating part in the tray 2 with the main surface side facing up. In this case, the main surface side on which the imaging element of the camera module 3 is formed is exposed upward, and the back surface side on which the electrode 51 is formed is exposed downward.
 そして、カメラモジュール3を収容部内で固定するための蓋25をトレイ2の上面に取り付ける(図10(b),(c)参照)。尚、図10(b)は蓋25をトレイ2の上面に取り付ける前段階の状態、(c)は蓋25をトレイ2の上面に取り付けた後の状態を示している。蓋25は、トレイ2内の各収容部23に対応した位置において、上下方向に貫通した空隙を有しており、当該空隙の幅は、カメラモジュール3の主面側の幅に略等しくなるように形成されている。即ち、蓋25がトレイ2の上面に取り付けられた時点で、カメラモジュール3の主面側は、トレイ2の空隙及び蓋25の空隙を介して上方に露出されており、トレイ2の上方の被写体の撮像が可能となる。 Then, a lid 25 for fixing the camera module 3 in the accommodating portion is attached to the upper surface of the tray 2 (see FIGS. 10B and 10C). FIG. 10B shows a state before the lid 25 is attached to the upper surface of the tray 2, and FIG. 10C shows a state after the lid 25 is attached to the upper surface of the tray 2. The lid 25 has a gap penetrating in the vertical direction at a position corresponding to each storage portion 23 in the tray 2, and the width of the gap is substantially equal to the width on the main surface side of the camera module 3. Is formed. That is, when the lid 25 is attached to the upper surface of the tray 2, the main surface side of the camera module 3 is exposed upward via the gap of the tray 2 and the gap of the lid 25, and the subject above the tray 2 is exposed. Imaging becomes possible.
 このようにトレイ2内の収容部23に各カメラモジュール3が取り付けられ、蓋25が更に重ねられた状態の下で、カメラモジュール3の裏面側に形成されている電極51に対してトレイ2の下方からコンタクタ7を接触させ、トレイ2の上方に設置されたテストチャート10を撮像することで、画像テストを行うことができる。この場合も、トレイ2に乗せたままカメラモジュール3の画像テストを行うことができ、且つ、上記実施形態と同様、複数のカメラモジュール3を一時にテストすることが可能となるため、カメラモジュールを一つずつ移送する従来方法よりもテスト時間が大幅に短縮される。 In this way, each camera module 3 is attached to the accommodating portion 23 in the tray 2 and the lid 25 is further overlapped, and the tray 2 is placed on the electrode 51 formed on the back side of the camera module 3. An image test can be performed by contacting the contactor 7 from below and capturing an image of the test chart 10 installed above the tray 2. Also in this case, an image test of the camera module 3 can be performed while being placed on the tray 2, and a plurality of camera modules 3 can be tested at the same time as in the above embodiment. Test time is greatly reduced compared to the conventional method of transferring one by one.
 尚、上述した実施形態のように、トレイ2の下方に設置されたテストチャート10を撮像する場合には、撮像素子が形成されているカメラモジュール3の主面側が下方を向く構成である。このため、図10のように、カメラモジュール3の主面側が上方を向く場合と比較して、カメラモジュール3やレンズの表面に付着する異物の量が大幅に減少する。又、上述した実施形態では、原理的にはテストチャート10の表面に異物が付着する可能性があるが、カメラモジュール3からの距離が近いほど異物の影響が大きくなるため、カメラモジュール3の表面に付着する異物の影響に比べればテストチャート10の表面に付着する異物の影響は無視しても良い。従って、テスト時における付着した異物の影響を小さくすることができるという点では、上述した実施形態のように下向きにテストチャート10を撮像する方が望ましい。 Note that, as in the above-described embodiment, when the test chart 10 installed below the tray 2 is imaged, the main surface side of the camera module 3 on which the image sensor is formed faces downward. For this reason, as shown in FIG. 10, the amount of foreign matter adhering to the surface of the camera module 3 or the lens is greatly reduced as compared with the case where the main surface side of the camera module 3 faces upward. In the embodiment described above, in principle, foreign matter may adhere to the surface of the test chart 10, but the influence of the foreign matter increases as the distance from the camera module 3 becomes shorter. Compared with the influence of foreign matter adhering to the surface, the influence of foreign matter adhering to the surface of the test chart 10 may be ignored. Therefore, it is desirable to image the test chart 10 downward as in the above-described embodiment in that the influence of the adhered foreign matter during the test can be reduced.
 又、撮像方向(カメラモジュール3からテストチャート10に向かう方向)とカメラモジュール3のトレイ2への挿嵌方向とを異ならせても良い。即ち、例えばトレイ2の各収容部23に対してカメラモジュール3を上向きに挿嵌し、トレイ2の下方に設置されたテストチャート10をカメラモジュール3によって下向きに撮像するものとしても構わない。この場合、カメラモジュール3の主面側と裏面側とが略同じ幅か、或いは裏面側の幅を主面側よりも狭く形成し、カメラモジュール3の裏面側をトレイ2に近づけることで収容部23内に挿嵌するものとすることができる。 Also, the imaging direction (the direction from the camera module 3 toward the test chart 10) and the insertion direction of the camera module 3 into the tray 2 may be different. In other words, for example, the camera module 3 may be inserted upward into each housing portion 23 of the tray 2 and the test chart 10 installed below the tray 2 may be imaged downward by the camera module 3. In this case, the main surface side and the back surface side of the camera module 3 are substantially the same width, or the width of the back surface side is formed narrower than the main surface side, and the back surface side of the camera module 3 is brought closer to the tray 2 so as to be accommodated. It can be inserted into 23.
 又、トレイ2の収容部23内に各カメラモジュール3を収容した後、トレイ2を回転させることで、カメラモジュール3をテストチャート10に向けた後にテストチャート10を撮像するものとしても良い。 Alternatively, after each camera module 3 is accommodated in the accommodating portion 23 of the tray 2, the tray 2 is rotated so that the camera module 3 is directed to the test chart 10 and then the test chart 10 is imaged.
 〈2〉 上述の実施形態では、吸盤形状を有した位置調整アーム14が要調整カメラモジュールを一旦持ち上げた後、標準位置内となるよう、当該カメラモジュールを再度収容されていた収容部23内に下向きに挿嵌し直すものとしたが、この位置調整方法は一例であってかかる方法に限定されるものではない。例えば、図2に示したように、収容部23が、下部の内径が上部の内径よりも狭くなるようにテーパ状に形成されている場合であれば、単に位置調整アーム14が要調整カメラモジュールを下向きに押下することで、要調整カメラモジュールをテーパ形状に係る収容部23の斜面を滑らせて標準位置に正しく調整するものとしても良い。 <2> In the above-described embodiment, the position adjustment arm 14 having the suction cup shape lifts the camera module requiring adjustment once, and then the camera module is accommodated again in the accommodation portion 23 in which the camera module is accommodated. Although it is assumed that it is reinserted downward, this position adjustment method is an example, and is not limited to this method. For example, as shown in FIG. 2, if the housing portion 23 is formed in a tapered shape so that the inner diameter of the lower portion is narrower than the inner diameter of the upper portion, the position adjustment arm 14 simply needs to be adjusted camera module. May be adjusted correctly to the standard position by sliding the slope of the accommodating portion 23 having a tapered shape.
 〈3〉 上述の実施形態では、カメラモジュール位置調整部30がトレイ2内に収容された全てのカメラモジュール3を正しく標準位置に設置できていることを確認した後、若しくは正しく標準位置に設置し直した後、トレイ2をテストチャート10の撮像可能位置に移動させる構成としたが、位置調整とテストチャート10の撮像とを並行して行う構成としても構わない。 <3> In the above-described embodiment, after confirming that the camera module position adjustment unit 30 has correctly installed all the camera modules 3 accommodated in the tray 2 in the standard position, or correctly installed in the standard position. After the correction, the tray 2 is moved to the position where the test chart 10 can be imaged. However, the position adjustment and the imaging of the test chart 10 may be performed in parallel.
 図11を用いて一例を説明する。図11では、列毎に位置調整がされ、且つ列毎にテストが行われる場合を想定している。まず、カメラモジュール位置調整部30によって所定のBi列分に係るカメラモジュール3の収容位置の確認及び調整を行う。次に、トレイ2を一列分だけ移動させ、カメラモジュール位置調整部30によって位置確認を行う対象を列Biの隣の列A1に移動させる。このとき、最前列に係る列B1がテストチャート10の上方(且つテストヘッド6の下方)に位置する(図11ではテストチャート10を図示していない)。そして、カメラモジュール位置調整部30によって列A1に係るカメラモジュール3の収容位置の確認及び調整を行い、これに合わせて列B1に係る各カメラモジュール3の裏面側の電極51とコンタクタ7を電気的に接続した上でテストチャート10の撮像を行う。以下、トレイ2を一列分ずつ移動させることで、カメラモジュール位置調整部30による位置調整及び確認と、テストチャート10の撮像とを並行して行うことができる。 An example will be described with reference to FIG. In FIG. 11, it is assumed that the position is adjusted for each column and the test is performed for each column. First, the camera module position adjustment unit 30 confirms and adjusts the accommodation position of the camera module 3 related to a predetermined Bi row. Next, the tray 2 is moved by one row, and the object whose position is to be confirmed by the camera module position adjusting unit 30 is moved to the row A1 adjacent to the row Bi. At this time, the row B1 related to the foremost row is located above the test chart 10 (and below the test head 6) (the test chart 10 is not shown in FIG. 11). Then, the camera module position adjustment unit 30 confirms and adjusts the housing position of the camera module 3 related to the row A1, and in accordance with this, the electrode 51 and the contactor 7 on the back side of each camera module 3 related to the row B1 are electrically connected. Then, the test chart 10 is imaged. Hereinafter, the position adjustment and confirmation by the camera module position adjustment unit 30 and the imaging of the test chart 10 can be performed in parallel by moving the tray 2 one row at a time.
 又、上記の場合において、複数列に係るカメラモジュール3を同時に位置調整及び確認処理をしても構わないし、複数列に係るカメラモジュール3によってテストチャート10の撮像を行うものとしても構わない。 In the above case, the camera modules 3 in a plurality of rows may be simultaneously adjusted and confirmed, or the test chart 10 may be imaged by the camera modules 3 in a plurality of rows.
 〈4〉 上述の実施形態では、収容部23がテーパ形状を有するものとして説明したが、主面側又は裏面側の一方を収容部23に向けて挿嵌させることで、カメラモジュール3を収容部23内において安定的に収容可能に構成されていれば、収容部23の形状には限定されない。しかしながら、斜面を滑らせるだけの簡易な制御によって位置調整が可能となるという点を鑑みれば、上述したように収容部23をテーパ形状とすることが好ましい。 <4> In the above-described embodiment, the housing portion 23 has been described as having a tapered shape. However, the camera module 3 is placed in the housing portion by inserting one of the main surface side or the back surface side toward the housing portion 23. As long as it can be stably accommodated in the housing 23, the shape of the housing portion 23 is not limited. However, in view of the fact that the position can be adjusted by simple control that simply slides the slope, it is preferable that the housing portion 23 has a tapered shape as described above.
 〈5〉 上述の実施形態では、トレイ2内においてマトリクス状に配列された複数のカメラモジュール3において、一時に一列毎に画像テストを行うものとしたが、複数列毎に画像テストを行うものとしても構わない。尚、トレイ2の移送方向を「列方向」と記載するとすれば、一時に一行毎若しくは複数行毎に画像テストを行うものとしても構わない。 <5> In the above-described embodiment, the image test is performed for each column in the plurality of camera modules 3 arranged in a matrix in the tray 2, but the image test is performed for each column. It doesn't matter. If the transfer direction of the tray 2 is described as “column direction”, the image test may be performed for each row or for a plurality of rows at a time.
 〈6〉 上述の実施形態では、カメラモジュール3内にレンズ31が搭載されていることを想定して説明したが、トレイ2内にレンズ32が搭載される構成とすることも可能である(図12参照)。図12に示すようなトレイ2によれば、レンズ31が内蔵されていないカメラモジュール3内に対しても画像テストを行うことが可能となる。 <6> In the above-described embodiment, the description has been made on the assumption that the lens 31 is mounted in the camera module 3. However, a configuration in which the lens 32 is mounted in the tray 2 may be employed (see FIG. 12). According to the tray 2 as shown in FIG. 12, an image test can be performed even in the camera module 3 in which the lens 31 is not incorporated.
 〈7〉 上述の実施形態では、特に明示的に言及していないが、テストチャート10、及びゴミ・シミテスト用テストチャート5は、LED等の撮像に必要な光源を備えているものとして良い。又、チャートそのものが光源を有していなくても、外部からの光源によってカメラモジュール3によって撮像可能に構成されているものとしても良い。 <7> In the above-described embodiment, although not explicitly mentioned, the test chart 10 and the dust / stain test chart 5 may be provided with a light source required for imaging such as an LED. Further, even if the chart itself does not have a light source, it may be configured such that it can be imaged by the camera module 3 with an external light source.
 〈8〉 上述の実施形態では、同一列に属する全てのカメラモジュール3について、各カメラモジュール3の視野角範囲内に、夫々異なる一のテストチャート10が位置するようにテストチャート10が設置されており、列毎にカメラモジュール3の画像テストを行う構成としたが、各カメラモジュール3の視野角範囲内に位置するテストチャート10の内の一部又は全部が共通のテストチャート10で構成されるものとしても良い。 <8> In the above-described embodiment, the test charts 10 are installed so that different test charts 10 are positioned within the viewing angle range of each camera module 3 for all the camera modules 3 belonging to the same column. In addition, the image test of the camera module 3 is performed for each column, but a part or all of the test charts 10 located within the viewing angle range of each camera module 3 are configured by the common test chart 10. It is good as a thing.
 図13は、一のテストチャート10が複数のカメラモジュール3の視野角範囲内に位置する場合の実施例を概念的に示した図である。図13(a)では、同一列に属する各カメラモジュール3の視野角範囲内に一時にテストチャート10が位置し、且つ、二つのカメラモジュール3の視野角範囲内に同一のテストチャート10が位置するように構成されている。かかる場合であっても、列毎に各カメラモジュール3の画像テストを行うことができる。 FIG. 13 is a diagram conceptually showing an embodiment in the case where one test chart 10 is located within the viewing angle range of a plurality of camera modules 3. In FIG. 13A, the test chart 10 is positioned at a time within the viewing angle range of each camera module 3 belonging to the same column, and the same test chart 10 is positioned within the viewing angle range of the two camera modules 3. Is configured to do. Even in such a case, the image test of each camera module 3 can be performed for each column.
 更に、複数列毎に各カメラモジュール3の画像テストを行う構成としても良い。図13(b)は、あるテストチャート10とそれを視野角範囲に含むカメラモジュール3(3a~3d)との位置関係を平面的に示したものである。尚、点線で囲んだ領域Xa~Xdは、夫々各カメラモジュール3a~3dの視野角範囲を平面的に表したものである。図13に示すような構成の場合、テストチャート10は、各カメラモジュール3a~3dの視野角範囲内に位置しており、このテストチャートによって2行2列分のカメラモジュール3の画像テストが可能となる。このようなテストチャート10を一列に複数並べることで、2列分のカメラモジュール3の視野角範囲内に、一時に何れか一のテストチャート10を位置させることができる。これにより、2列毎に各カメラモジュール3の画像テストを行うことができる。 Furthermore, an image test of each camera module 3 may be performed for each of a plurality of columns. FIG. 13B is a plan view showing the positional relationship between a certain test chart 10 and the camera module 3 (3a to 3d) including the test chart 10 in the viewing angle range. Areas Xa to Xd surrounded by dotted lines represent the viewing angle ranges of the camera modules 3a to 3d, respectively, in a plane. In the case of the configuration shown in FIG. 13, the test chart 10 is located within the viewing angle range of each of the camera modules 3a to 3d, and an image test of the camera module 3 for 2 rows and 2 columns can be performed using this test chart. It becomes. By arranging a plurality of such test charts 10 in a row, any one test chart 10 can be positioned at a time within the viewing angle range of the camera modules 3 for two rows. Thereby, the image test of each camera module 3 can be performed every two columns.
 尚、上記において、「2列毎」というのはあくまでも一例であり、一のテストチャート10と当該テストチャート10を視野角範囲に収める各カメラモジュール3との位置関係を替えることで、3列以上のカメラモジュール3の画像テストを実施可能に構成されているものとしても良い。 In the above, “every two columns” is merely an example, and by changing the positional relationship between one test chart 10 and each camera module 3 that fits the test chart 10 in the viewing angle range, three or more columns are used. The camera module 3 may be configured to be able to perform an image test.

Claims (8)

  1.  被収容物の挿嵌方向に貫通した空隙を有する収容部を複数備えた第1トレイと、
     前記収容部内に収容されたカメラモジュールによって撮像可能なテストチャートと、
     前記テストチャートと対向する前記カメラモジュールの主面側とは反対の裏面側に形成された前記カメラモジュールの電極に接触可能なコンタクタと、
     前記コンタクタに電気的に接続され、前記コンタクタを介して前記カメラモジュールから与えられる撮像結果の分析が可能な検査部と、を備えてなり、
     複数の前記カメラモジュールが複数の前記収容部内に夫々収容された状態の下で、少なくとも一の前記テストチャートを複数の前記カメラモジュールの視野角範囲内に設置可能に構成されていることを特徴とするテスト装置。
    A first tray provided with a plurality of accommodating portions having gaps penetrating in the insertion direction of the objects;
    A test chart that can be imaged by the camera module housed in the housing section;
    A contactor capable of contacting the electrode of the camera module formed on the back surface side opposite to the main surface side of the camera module facing the test chart;
    An inspection unit electrically connected to the contactor and capable of analyzing an imaging result given from the camera module via the contactor;
    In a state where a plurality of the camera modules are accommodated in the plurality of accommodating portions, respectively, at least one of the test charts is configured to be set within a viewing angle range of the plurality of the camera modules. To test equipment.
  2.  前記テストチャートが、前記第1トレイの下方に設置されて前記カメラモジュールによって下向きに撮像可能に構成されていることを特徴とする請求項1に記載のテスト装置。 2. The test apparatus according to claim 1, wherein the test chart is configured to be installed below the first tray so that the camera module can capture images downward.
  3.  複数の前記カメラモジュール夫々が、前記主面側を下向きにして複数の前記収容部に向けて挿嵌されることで前記各収容部内に収容されることを特徴とする請求項1又は2に記載のテスト装置。 The plurality of camera modules are housed in the housing parts by being inserted into the housing parts with the main surface facing downward, respectively. Testing equipment.
  4.  マトリクス状に配列された複数の前記カメラモジュールの一行分又は一列分に係る全ての前記カメラモジュールの各視野角範囲内に、一時に、一の前記テストチャートが夫々存在するように、一又は複数の前記テストチャートが行方向又は列方向に沿って設けられていることを特徴とする請求項1又は2に記載のテスト装置。 One or a plurality of the test charts are present at a time within each viewing angle range of all the camera modules for one row or one column of the plurality of camera modules arranged in a matrix. The test apparatus according to claim 1, wherein the test chart is provided along a row direction or a column direction.
  5.  一行分又は一列分に係る全ての前記カメラモジュールによって前記テストチャートの撮像が終了した後、前記第1トレイが列方向又は行方向に移動可能に構成されていることを特徴とする請求項4に記載のテスト装置。 5. The first tray is configured to be movable in a column direction or a row direction after imaging of the test chart is completed by all the camera modules for one row or one column. The test equipment described.
  6.  前記カメラモジュールを前記収容部内の所定の標準位置に位置調整可能なカメラモジュール位置調整部を備え、
     前記カメラモジュールが前記テストチャートを撮像する前に、前記カメラモジュール位置調整部が前記カメラモジュールの設置位置を確認すると共に、前記標準位置に設置されていない場合には前記カメラモジュールを前記標準位置に調整することを特徴とする請求項1又は2に記載のテスト装置。
    A camera module position adjustment unit capable of adjusting the position of the camera module to a predetermined standard position in the housing unit;
    Before the camera module images the test chart, the camera module position adjustment unit confirms the installation position of the camera module, and when the camera module is not installed at the standard position, the camera module is set to the standard position. The test apparatus according to claim 1, wherein the test apparatus is adjusted.
  7.  前記第1トレイに重ね合わせることのできる第2トレイを有し、
     前記挿嵌方向とは逆方向の離脱方向に係る前記第1トレイの表面上に前記第2トレイを載置後、前記カメラモジュールを前記離脱方向に前記第1トレイから離脱させることで、前記カメラモジュールを前記第2トレイ内に収容可能に構成されていることを特徴とする請求項1又は2に記載のテスト装置。
    A second tray that can be superimposed on the first tray;
    The camera module is detached from the first tray in the detaching direction after the second tray is placed on the surface of the first tray in the detaching direction opposite to the inserting direction. The test apparatus according to claim 1, wherein the module is configured to be accommodated in the second tray.
  8.  前記空隙内にレンズが介挿されており、
     前記レンズが、前記収容部内に前記カメラモジュールを収容時に前記カメラモジュールの主面側と前記テストチャートの間に位置し、
     前記収容部内に収容されたカメラモジュールによって、前記レンズを介して前記テストチャートを撮像可能に構成されていることを特徴とする請求項1又は2に記載のテスト装置。 
     
    A lens is inserted in the gap,
    The lens is positioned between the main surface side of the camera module and the test chart when the camera module is accommodated in the accommodating portion,
    The test apparatus according to claim 1, wherein the test chart is configured to be able to image the test chart through the lens by a camera module housed in the housing portion.
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