WO2008133089A1 - Unité de contact conducteur - Google Patents

Unité de contact conducteur Download PDF

Info

Publication number
WO2008133089A1
WO2008133089A1 PCT/JP2008/057290 JP2008057290W WO2008133089A1 WO 2008133089 A1 WO2008133089 A1 WO 2008133089A1 JP 2008057290 W JP2008057290 W JP 2008057290W WO 2008133089 A1 WO2008133089 A1 WO 2008133089A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
conductive
conductive contact
conductive contacts
holding
contact unit
Prior art date
Application number
PCT/JP2008/057290
Other languages
English (en)
Japanese (ja)
Inventor
Koji Ishikawa
Kazuya Soma
Jun Tominaga
Original Assignee
Nhk Spring Co., Ltd.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nhk Spring Co., Ltd. filed Critical Nhk Spring Co., Ltd.
Priority to JP2009511797A priority Critical patent/JPWO2008133089A1/ja
Priority to TW097114080A priority patent/TW200848743A/zh
Publication of WO2008133089A1 publication Critical patent/WO2008133089A1/fr

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/06711Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
    • G01R1/06716Elastic
    • G01R1/06722Spring-loaded

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Coupling Device And Connection With Printed Circuit (AREA)

Abstract

L'invention concerne une unité de contact conducteur, qui peut être appliquée de manière appropriée même à un intervalle d'agencement réduit entre des électrodes ou bornes devant être testées au moyen d'une configuration simple, et obtient un contact sûr avec l'électrode ou la borne. L'unité de contact conducteur est dotée d'une pluralité de contacts conducteur dont chacun a une forme de plaque et applique/reçoit un signal électrique entre différentes structures de circuit par connexion électrique entre les structures de circuit ; et un support de contacts conducteurs pour stocker et tenir les contacts conducteurs. Le support de contacts conducteurs comporte une pluralité de sections de support pour tenir une partie de chacun des contacts conducteurs par l'agencement des contacts conducteurs dans une rangée avec leurs directions d'épaisseur de plaque dans le même sens. Les directions dans lesquelles les sections de support tiennent les contacts conducteurs dans une rangée sont parallèles entre elles.
PCT/JP2008/057290 2007-04-20 2008-04-14 Unité de contact conducteur WO2008133089A1 (fr)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009511797A JPWO2008133089A1 (ja) 2007-04-20 2008-04-14 導電性接触子ユニット
TW097114080A TW200848743A (en) 2007-04-20 2008-04-18 Electrically conductive contactor unit

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007-112340 2007-04-20
JP2007112340 2007-04-20

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2008133089A1 true WO2008133089A1 (fr) 2008-11-06

Family

ID=39925547

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2008/057290 WO2008133089A1 (fr) 2007-04-20 2008-04-14 Unité de contact conducteur

Country Status (3)

Country Link
JP (1) JPWO2008133089A1 (fr)
TW (1) TW200848743A (fr)
WO (1) WO2008133089A1 (fr)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2384443A4 (fr) * 2009-01-30 2013-06-19 Capital Formation Inc Sonde d'essai à corps rond et à piston plat
JP2016125943A (ja) * 2015-01-06 2016-07-11 オムロン株式会社 ケルビンプローブ、および、これを備えたケルビン検査ユニット
JP2017009569A (ja) * 2015-06-23 2017-01-12 インクス株式会社 積層型コンタクトプローブ
WO2018216273A1 (fr) * 2017-05-24 2018-11-29 山一電機株式会社 Sonde de type mems et dispositif d'inspection électrique utilisant celle-ci
TWI677687B (zh) * 2017-04-21 2019-11-21 日商日本麥克隆尼股份有限公司 電性連接裝置
CN112955754A (zh) * 2018-11-08 2021-06-11 欧姆龙株式会社 探针和检查工具
JP2021128055A (ja) * 2020-02-13 2021-09-02 オムロン株式会社 検査ソケット

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11133060A (ja) * 1997-10-31 1999-05-21 Tani Denki Kogyo Kk テスト用端子
JP2000046870A (ja) * 1998-07-30 2000-02-18 Denso Corp 端子接続装置
JP2002365308A (ja) * 2001-06-08 2002-12-18 Japan Electronic Materials Corp 垂直ブレード型プローブ、垂直ブレード型プローブユニット及びそれを用いた垂直ブレード型プローブカード
JP2004138391A (ja) * 2002-10-15 2004-05-13 Renesas Technology Corp 半導体装置の製造方法
JP2004138405A (ja) * 2002-10-15 2004-05-13 Renesas Technology Corp 半導体装置測定用プローブ
JP2005201844A (ja) * 2004-01-16 2005-07-28 Micronics Japan Co Ltd 接触子及び電気的接続装置
JP2006226907A (ja) * 2005-02-18 2006-08-31 Nhk Spring Co Ltd 導電性接触子ユニットおよび導電性接触子
WO2007123150A1 (fr) * 2006-04-18 2007-11-01 Tokyo Electron Limited Carte test et procédé de perçage de substrat de verre

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11133060A (ja) * 1997-10-31 1999-05-21 Tani Denki Kogyo Kk テスト用端子
JP2000046870A (ja) * 1998-07-30 2000-02-18 Denso Corp 端子接続装置
JP2002365308A (ja) * 2001-06-08 2002-12-18 Japan Electronic Materials Corp 垂直ブレード型プローブ、垂直ブレード型プローブユニット及びそれを用いた垂直ブレード型プローブカード
JP2004138391A (ja) * 2002-10-15 2004-05-13 Renesas Technology Corp 半導体装置の製造方法
JP2004138405A (ja) * 2002-10-15 2004-05-13 Renesas Technology Corp 半導体装置測定用プローブ
JP2005201844A (ja) * 2004-01-16 2005-07-28 Micronics Japan Co Ltd 接触子及び電気的接続装置
JP2006226907A (ja) * 2005-02-18 2006-08-31 Nhk Spring Co Ltd 導電性接触子ユニットおよび導電性接触子
WO2007123150A1 (fr) * 2006-04-18 2007-11-01 Tokyo Electron Limited Carte test et procédé de perçage de substrat de verre

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2384443A4 (fr) * 2009-01-30 2013-06-19 Capital Formation Inc Sonde d'essai à corps rond et à piston plat
JP2016125943A (ja) * 2015-01-06 2016-07-11 オムロン株式会社 ケルビンプローブ、および、これを備えたケルビン検査ユニット
WO2016111293A1 (fr) * 2015-01-06 2016-07-14 オムロン株式会社 Sonde de kelvin et appareil d'inspection de kelvin la comprenant
JP2017009569A (ja) * 2015-06-23 2017-01-12 インクス株式会社 積層型コンタクトプローブ
TWI677687B (zh) * 2017-04-21 2019-11-21 日商日本麥克隆尼股份有限公司 電性連接裝置
WO2018216273A1 (fr) * 2017-05-24 2018-11-29 山一電機株式会社 Sonde de type mems et dispositif d'inspection électrique utilisant celle-ci
CN112955754A (zh) * 2018-11-08 2021-06-11 欧姆龙株式会社 探针和检查工具
JP2021128055A (ja) * 2020-02-13 2021-09-02 オムロン株式会社 検査ソケット

Also Published As

Publication number Publication date
TW200848743A (en) 2008-12-16
JPWO2008133089A1 (ja) 2010-07-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2008133089A1 (fr) Unité de contact conducteur
WO2010031856A3 (fr) Platine de connexion
WO2009016491A3 (fr) Ensemble batterie d'accumulateurs
WO2010128792A3 (fr) Elément de détection de tension et module de batterie comprenant celui-ci
TW200746512A (en) Eliminating incorrect battery installation
DE602006019347D1 (de) Kontaktvorrichtung zum kontaktieren von Leiterfolien
MY167319A (en) Touch panel and display device with touch panel
WO2012033313A3 (fr) Bloc-piles présentant un rendement élevé et une grande capacité
WO2011126315A3 (fr) Module de batterie comprenant des éléments de détection à structure innovatrice
WO2010044552A3 (fr) Bloc-batterie de taille moyenne ou grande comprenant un dispositif de connexion d'électrode
WO2013090649A8 (fr) Système connecteur de batterie
DK2351130T3 (da) Elektroder til anvendelse i bakterielle brændselsceller og bakterielle elektrolysiceller og bakterielle brændselsceller og bakterielle elektrolyseceller, der anvender sådanne elektroder
WO2010114281A3 (fr) Elément de détection de tension et module de batterie comprenant ledit élément
WO2013023926A3 (fr) Dispositif électronique comprenant un condensateur dans un support de carte de circuits imprimés et son procédé de fabrication
WO2009051175A1 (fr) Condensateur
TW200705735A (en) Terminal-connecting means
TW200709516A (en) Electrical connector
TW200631260A (en) Electric connector for connecting connection objects
EP2665132A3 (fr) Connecteur électrique destiné à être utilisé avec une carte de circuit imprimé
WO2011088212A3 (fr) Ensemble de support
JP2013225457A (ja) フレキシブルプリント配線板の取付構造
FR2930849B3 (fr) Prise electrique multiple de securite.
WO2010128791A3 (fr) Dispositif d'équilibrage de tension pour une cellule de batterie
TW201205927A (en) A thin battery module and an assembled battery using the same
WO2009082181A3 (fr) Système de connexion électrique

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 08751844

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 2009511797

Country of ref document: JP

Kind code of ref document: A

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

122 Ep: pct application non-entry in european phase

Ref document number: 08751844

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1