WO2008126383A1 - イオントラップ質量分析装置 - Google Patents

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Kei Kodera
Sadanori Sekiya
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Abstract

　既にイオントラップ（２０）に捕捉されているイオンが発散しないように、リング電極（２１）に矩形波電圧を印加しながら、その電圧の１周期中の所定のタイミングでイオンがイオン導入口（２５）に到達するように、イオン生成のためのレーザ光の照射タイミングを制御する。例えば正イオンの場合、矩形波電圧の１周期中のローレベル期間中に目的イオンがイオン導入口（２５）に到達するようにレーザ光照射のタイミングを調整する。これにより、イオントラップ（２０）に捕捉されているイオンにさらにイオンを追加導入することでイオン量を増加させることができ、その後に質量分離・検出を行うことで１回の質量分析における信号強度を増加させることができる。その結果、質量プロファイルを積算するための質量分析の繰り返し回数を減らすことで、測定時間の短縮化を図ることができる。
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