WO2006090682A1 - 微細構造体の加工方法および微細構造体の加工装置 - Google Patents

微細構造体の加工方法および微細構造体の加工装置 Download PDF

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WO2006090682A1
WO2006090682A1 PCT/JP2006/303016 JP2006303016W WO2006090682A1 WO 2006090682 A1 WO2006090682 A1 WO 2006090682A1 JP 2006303016 W JP2006303016 W JP 2006303016W WO 2006090682 A1 WO2006090682 A1 WO 2006090682A1
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heating
surface plate
processing
cooling
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PCT/JP2006/303016
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English (en)
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Inventor
Jun Yorita
Katsunari Mikage
Original Assignee
Sumitomo Electric Industries, Ltd.
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Definitions

  • Fine structure processing method and fine structure processing apparatus Fine structure processing method and fine structure processing apparatus
  • the present invention relates to a method for processing a fine structure used for pattern formation of various devices highly integrated in the electronics field and the bio field, and an apparatus for applying the fine structure.
  • a stamper (mold) on which a fine pattern has been formed is embossed with a predetermined molding pressure into a heated wax (molded material). After transferring the pattern, it is essential to wait for the resin to cool and then demold the microstructure.
  • a printing apparatus having a heat insulating structure has been proposed in which the sectional area of the pressing surface of the stamper is smaller than the sectional area of the holding portion that holds the pressing surface of the stamper.
  • Patent Document 1 Japanese Patent Application Laid-Open No. 2004-288784
  • the pressure surface holding portion is heated and cooled together with the pressure surface.
  • the molding pressure pressurization
  • the holding part has a predetermined rigidity or more.
  • the heat capacity is also a predetermined value or more.
  • An object of the present invention is to provide a fine structure processing method and a fine structure processing apparatus used therefor, which can shorten the heat cycle of the temperature rise and cooling.
  • the fine structure processing method of the present invention comprises at least two opposing surface plates facing a mold for processing a fine structure from a molding material, and during the processing of one fine structure, Use at least two opposing surface plates.
  • the fine structure processing apparatus of the present invention includes a mold for processing a fine structure from a material to be molded, at least two opposing surface plates facing the mold, and during the processing of one fine structure. And a drive device for using at least two opposed surface plates.
  • the microstructure processing apparatus is sandwiched between the mold and the surface side of the opposing surface plate, and the microstructure is added by heat molding the material to be molded.
  • a fine structure processing apparatus for measuring the surface of the counter surface plate which is located on the front surface side, the first block including the heating device, and on the back surface side to change the heat capacity of the counter surface plate.
  • the first block and the second block are provided so as to be relatively movable between a position where the first block and the second block abut and a position where the first block and the second block are separated from each other.
  • the fine structure is sandwiched between the mold and the surface side of the opposed surface plate, and the material to be molded is pressed and heated and molded.
  • a method for processing a microstructure which is sandwiched between a mold and the surface side of an opposing surface plate, and pressurizing and heating the material to be molded, and the microstructure is processed.
  • an external member is brought into contact after separating a part of the opposed surface plate during heating of the molding material.
  • the fine structure processing method or processing apparatus may be used in the case where the mold side is heated and cooled when finely processing the molding material, or the mold side and the molding material side. And the case where both are heated and cooled.
  • the fine structure can be processed with excellent throughput and high yield.
  • the quality of the fine structure can be improved.
  • the drive device may be a device that moves the surface plate in any form as long as the drive device can use at least two opposed surface plates during processing of one microstructure.
  • a device that moves the mold or a device that moves both the surface plate and the mold may be used.
  • the volume of the facing platen is reduced to reduce the total heat capacity of the facing platen, and the amount of heat stored in the facing platen is physically discharged. This makes it possible to improve the cooling rate of the facing platen.
  • the first block when the opposed surface plate is heated, the first block is heated, and during cooling, the second block, which is an external member, is brought into contact with the first block, thereby increasing the volume of the opposed surface plate during cooling.
  • the amount of heat that the first block has moved to the second block makes it possible to improve the cooling rate of the facing platen.
  • the heating efficiency of the facing platen is achieved by performing pressure heating molding of the material to be molded by changing the volume of the facing platen during heating and the volume of the facing platen during cooling.
  • the cooling efficiency of the facing platen is improved, and the heat cycle between the temperature rise and the cooling can be shortened. As a result, it is possible to improve the throughput required for processing the fine structure.
  • the first block is an external member.
  • the third block By contacting the third block, the volume of the facing platen immediately after heating is reduced, the total heat capacity of the facing platen is reduced, the amount of heat stored in the facing platen is physically discharged, and during cooling
  • the third block which is an external member, into contact with the first block, the amount of heat of the first block moves to the third block during cooling, thereby improving the cooling rate of the opposing surface plate. It is possible.
  • FIG. 1 is a diagram showing an overview of a fine structure processing apparatus in Embodiment 1 of the present invention.
  • FIG. 2 is a cross-sectional view showing a fine structure processing apparatus in Embodiment 2 of the present invention.
  • FIG. 3 is a partial cross-sectional view of a fine structure processing apparatus in Embodiment 3 of the present invention.
  • FIG. 4 is a sectional view showing a fine structure processing apparatus in a fifth embodiment of the present invention.
  • FIG. 5 is a partial sectional view of a fine structure processing apparatus in a sixth embodiment of the present invention.
  • FIG. 6 is a cross-sectional view showing an outline of a fine structure processing apparatus according to a seventh embodiment of the present invention.
  • FIG. 7 is a first step cross-sectional view illustrating an outline of a method for processing a fine structure according to a seventh embodiment of the present invention.
  • FIG. 8 is a second step cross-sectional view showing an outline of a fine structure processing method in Embodiment 7 of the present invention.
  • FIG. 9 is a first step cross-sectional view illustrating an outline of a fine structure processing method according to an eighth embodiment of the present invention.
  • FIG. 10 is a second cross-sectional view showing an outline of a processing method of a microstructure in an eighth embodiment of the present invention.
  • FIG. 11 is a third cross-sectional view showing an outline of a fine structure processing method in Embodiment 8 of the present invention.
  • FIG. 12 is a first cross-sectional view showing an outline of a fine structure processing method according to the ninth embodiment of the present invention.
  • FIG. 13 is a second cross-sectional view showing an outline of a fine structure processing method according to the ninth embodiment of the present invention.
  • FIG. 14 is a cross-sectional view showing another outline of the fine structure processing method according to the ninth embodiment of the present invention.
  • FIG. 15 is a longitudinal sectional view showing a schematic configuration of a fine structure processing apparatus according to a tenth embodiment of the present invention.
  • FIG. 16 is a first step cross-sectional view of the microstructure processing method in Embodiment 10 of the present invention.
  • FIG. 17 is a second step cross-sectional view of the microstructure processing method in Embodiment 10 of the present invention.
  • FIG. 18 is a first cross-sectional view showing an outline of a processing method of a fine structure according to an eleventh embodiment of the present invention.
  • FIG. 19 is a second cross-sectional view showing an outline of a processing method of a fine structure according to an eleventh embodiment of the present invention.
  • FIG. 20 is a third cross-sectional view showing an outline of a fine structure processing method according to the eleventh embodiment of the present invention.
  • FIG. 21 is a first cross-sectional view showing an outline of a processing method of a fine structure according to a twelfth embodiment of the present invention.
  • FIG. 22 is a second cross-sectional view showing an outline of a fine structure processing method in Embodiment 12 of the present invention.
  • FIG. 23 is a process cross-sectional view illustrating another outline of the method for processing a fine structure according to the twelfth embodiment of the present invention.
  • FIG. 1 is a top view showing an outline of a fine structure processing apparatus according to Embodiment 1 of the present invention.
  • two opposed surface plates hereinafter referred to as “surface plates”) 1 1, 12 that can move below the mold 5 are arranged.
  • the cooling surface plate 12 is located at the molding force punching position immediately below the mold 5, and the heating surface plate 11 is located at the retracted position.
  • the surface plate 11 for heating is located at the molding position when the mold is pressed and molded, and moves to the retracted position when cooling after molding.
  • the cooling surface plate 12 is positioned at a molding processing position when the molded resin is cooled before demolding, and the mold 5 is pressed against the molding 1 that is the resin.
  • reference numeral 20 indicates the moving direction of the surface plates 11 and 12 by a driving device (not shown) that moves the surface plates 11 and 12.
  • the driving device can be realized by using any mechanism that is commonly used for this type of driving device.
  • the surface plates 11 and 12 are set to predetermined temperatures by the temperature setting devices 31 and 32, respectively.
  • These temperature setting devices 31, 32 also have a temperature sensor, a heater, a power source and the like (not shown) to maintain the temperature of the surface plate at a constant temperature.
  • the temperature setting device is not limited to the above-described configuration, and may be maintained at a predetermined temperature by charging it into a furnace maintained at a constant temperature.
  • the resin 1 that is the material to be molded is loaded at the molding processing position where the heating platen 11 is located from the direction that does not overlap with the platen moving space so as to avoid the moving space of the platen 11 and 12.
  • the mold 5 After being put in and heated to the molding temperature, the mold 5 is pressed and processed. After that, the surface plate 11 moves to the retracted position while maintaining the load at the time of the above molding process, and instead the surface plate 12 moves to the molding processing position and comes into contact with the resin la after molding. Cool the fat la. Then, the processed resin la, which is a fine structure, is demolded and carried on the extension of the charging direction of the resin 1 before molding.
  • the resin 1 may be preheated by the preheating device 41 before being mounted at the molding position.
  • the preheating device may be a furnace maintained at a constant temperature, or may be a heating device such as a heater.
  • the surface plates 11 and 12 are reciprocating forces that are linear movements. The movement is not limited to such a moving form, and any moving form in which the surface plate circulates can be used. For example, two or more surface plates may circulate in a circular shape, or may move while changing the height position. Even if the charging line of the molding material 1 and the surface plate moving space may overlap, as long as the spatial trajectories of both do not overlap at the same time, there is no problem even if they overlap.
  • the force shown in the case of two surface plates 11 and 12 may be arranged with three or more surface plates.
  • the basic elements in the fine structure processing apparatus include a mold for cleaning the fine structure from the material to be molded, at least two facing surface plates facing the mold, and one fine structure. And a drive for using at least two opposing surface plates during body processing.
  • the drive device for moving the surface plate can be configured using any known drive mechanism as described above.
  • the apparatus for moving the surface plate is used in order to use two surface plates during processing of one fine structure.
  • the two surface plates are devices that move the mold while stationary, or devices that move the surface plate and the mold together. May be.
  • the drive device for moving the mold can be configured using any known device in the same manner as the device for moving the surface plate.
  • the basic element in the method for processing a fine structure includes at least two opposing surface plates facing a mold for processing the fine structure from a material to be molded, and includes one fine structure. Constructed by using at least two opposing surface plates during body processing.
  • the material to be molded (resin, resin with substrate, various films, various composite materials, etc.) can be heated efficiently, and the molded microstructure can be efficiently and smoothly. Mold force Can be released.
  • high-accuracy temperature management is possible, which can contribute to yield improvement and quality improvement of fine structures.
  • the surface plate driving device described above can move at least two opposed surface plates between a retracted position where the opposed surface plate is not used and a use position where the opposed surface plate is used. This With this configuration, it is possible to use at least two opposing surface plates depending on efficiency. For example, an opposing surface plate that was held at the molding temperature during molding was used, and the mold was held at the release temperature when the microstructure was removed after the pressurization maintenance period. It is possible to use an opposite surface plate.
  • the material to be molded can be preheated before being heated between the mold and the opposing surface plate.
  • the molding material may be in any form, such as a resin, a resin with a substrate, various films, and various composite materials.
  • the resin or resin film include polyethylene, polypropylene, polybutyl alcohol, polyvinylidene chloride, polyethylene terephthalate, polyvinyl chloride, polystyrene, ABS resin, AS resin, acrylic resin, polyacetal, Polybutylene terephthalate, glass reinforced polyethylene terephthalate, polycarbonate, modified polyphenylene ether, polyphenylene sulfide, polyether ether ketone, liquid crystal polymer, fluorine resin, polysulfone, polyethersulfone, polyamideimide, polyetherimide, thermoplastic polyimide, etc.
  • Various steel materials can be used for the mold and the surface plate.
  • SS41 thick steel plates and forged products can be used.
  • a heat-resistant resin can also be used for the mold. Any known machining such as a lathe, milling machine, electric discharge machining, laser machining, electron beam machining, or corrosion may be used for machining the mold.
  • FIG. 2 is a cross-sectional view showing an outline of the fine structure processing apparatus in the second embodiment of the present invention.
  • the high-temperature surface plate 11 is disposed immediately below the mold 5, that is, at the molding position, and the cooling surface plate 12 is retracted to the retreat position.
  • the point in the present embodiment is that a base material 7 is arranged on the surface plate 11 and the material to be molded is formed on the base material 7. Rum 1 is in place.
  • the film 1 is molded by the mold part 5 a of the mold 5, the mold part 5 a is pressed while being supported by the base material 7. In this molding process, the film 1 is heated together with the base material 7 by the surface plate 11.
  • the base plate 7 is moved to the base support mechanism (not shown) so as to maintain the state where the film 7 is pressed against the mold 5 even when the surface plate 11 moves to the retracted position.
  • Maintaining such a state is important in order to maintain the state in which the resin constituting the film flows and the recesses and corners of the mold part 5a are sufficiently filled.
  • the substrate 7 may be any material as long as it has predetermined rigidity and thermal conductivity.
  • a metal plate, a heat resistant resin plate, a composite layer of resin and ceramics, or a combination layer thereof can be used.
  • the form may be a cut plate shape, a batch type single plate, a long plate, a continuously supplied type, a coil shape capable of winding and rewinding, and the like.
  • a base material disposing device (not shown) for disposing the base material between the facing surface plate and the material to be molded also places the base material in the position according to the form of the base material as described above. Any device structure can be used as long as it is installed in the device!
  • a basic element in the method for processing a fine structure in the present embodiment is to process the fine structure by inserting a base material between the material to be molded and the facing surface plate. This method can alleviate sudden temperature changes applied to the mold and the resulting load impact.
  • the base material described above can have higher rigidity and higher thermal conductivity than the material to be molded. By this method, the temperature impact and load impact due to the substrate can be more reliably reduced.
  • the elastic modulus of the base material can be set to lOOGPa or more. By using such a base material, it is possible to withstand a rapid change in temperature (load impact) caused by a molding pressure applied to the base material itself or a small heat capacity of a thin base material. If the elastic modulus of the base material is less than 100 GPa, it cannot withstand the molding pressure, which hinders the processing of microstructures.
  • the thermal conductivity of the substrate may be 20 WZ (m- ° C) or more. By using such a base material, the temperature following time after contact with the opposite surface plate is shortened, and the throughput can be improved. If the thermal conductivity of the substrate is less than 20 WZ (m '° C), the temperature follow-up time is shortened because the heat exchange rate between the facing platen and the resin is not sufficient.
  • the description has been made on the premise that the surface plate is moved in order to use two surface plates during processing of one fine structure. However, as long as two surface plates can be used during the processing of a single microstructure, the two surface plates are either stationary or move the mold together, or the surface plate and the mold move together. There may be.
  • the substrate is moved together with the mold when the mold is moved.
  • the base material is moved while keeping the state where the film is pressed against the mold.
  • the driving device that moves the mold while pressing the resin film against the mold with a base material interposed therebetween can be constituted by any known device of this type.
  • FIG. 3 is a partial cross-sectional view of the fine structure processing apparatus in the third embodiment of the present invention.
  • the base material 7 keeps pressing the film 1 against the mold 5 until the surface plate 12 is placed at the forming position. It is supported by the substrate support mechanism 17 so as to maintain it.
  • the base material support mechanism 17 is composed of a column or plank that can be advanced and retracted in the direction 25. Since the base material support mechanism 17 is in contact with the base material 7 together with the surface plates 11 and 12, the base material support mechanism 17 is provided so as not to overlap the surface plates 11 and 12 arranged at the molding car position.
  • the basic element of the fine structure processing apparatus in the present embodiment includes a base material positioned between the opposing surface plate and the molding material, and the molding material is interposed via the base material.
  • the two surface plates are either a device that moves the mold while still, or a method that moves the surface plate and the mold together. There may be.
  • the base material is also moved together with the mold, and during the movement, the base material support mechanism keeps the resin film pressed against the mold with the base material interposed therebetween.
  • the drive device and the substrate support mechanism can be configured using any known device of this type.
  • the heating platen 11 was removed, and the 60 ° C cooling platen 12 was pressed against a molded fine structure (PC film) la and cooled. After 60 seconds from contact between the cooling surface plate 12 and the PC film la, the PC film la was removed from the mold 5. Attaching force of the above PC film to the mold forming position The time for one cycle until releasing was 5 minutes.
  • the surface plate 11 was removed, and the surface plate 12 at 60 ° C. was pressed through the A1N substrate 7 while the A1N substrate 7 was pressed, and cooled. 180 seconds after pressing the surface plate 12, the PC film la, which is a molded fine structure, was removed from the mold 5. Attaching force of the above PC film to the molding position The period of one cycle until demolding was 7 minutes. Although the heat capacity varies greatly depending on the specifications of the device for the conventional cycle, it cannot be said unconditionally. However, if the heating and cooling steps of the surface plate are rate-limiting, 20 to 30 minutes were required.
  • the fourth embodiment is a modification of the second embodiment described with reference to FIG. That is, in the second embodiment, the surface plate 11 is used for heating the base material 7 and the surface plate 12 is used for cooling. In the fourth embodiment, both of the surface plates 11 and 12 are used in FIG. Are equipped with heating and cooling systems, each used in both heating and cooling steps of the substrate 7.
  • the cooling platen 12 was further pressed against the molded PC film la for cooling. After 60 seconds from contact between the cooling surface plate 12 and the PC film la, the PC film la was removed from the mold 5. Attaching force of the above PC film to the mold forming position The period of one cycle until releasing was 6 minutes. In this process, the surface plate 12 is heated to 180 ° C, and the surface plate 11 and the surface plate 12 are replaced when the PC film 1 is replaced.
  • Table 1 shows the measurement results of the line widths of the microstructures (wiring patterns) processed in Examples 1 to 3 using a laser microscope together with the one period. According to Table 1, in Examples 1 to 3, the average value is finished to the intended line width, and the fluctuation range is within the allowable range ( ⁇ 1.0 m).
  • the base 107 is brought into contact with the mold 5, and the mold 107 is heated by the surface plates 111 and 112 through the base 107! / Is cooled and the material to be molded is cooled.
  • PC film 1 is molded.
  • a member 131 serving as a temperature setting device and an opposing surface plate is disposed at a position where the PC film 1 is sandwiched together with the mold 5.
  • one of the surface plates 111 and 112 may be used only for heating and the other may be used only for cooling.
  • each of the surface plates 111 and 112 may be heated and It may be used for both cooling.
  • the surface plate 111 was removed, and the surface plate 112 of 60 ° C. was pressed and cooled through the A1N substrate 107 while the A1N substrate 107 was pressed. 120 seconds after pressing the surface plate 112, the formed PC film la, which is a microstructure, was removed from the mold 5.
  • the mounting force of the PC film 1 at the mold forming position was 6 minutes for one cycle until demolding.
  • the base 107a is brought into contact with the mold 5 in the same manner as in the fifth embodiment, and the mold 5 is heated or cooled by the surface plates 111a and 112a through the base 107a. Then, the PC film 1 as a molding material is molded.
  • the present embodiment is different from the fifth embodiment in that the base material 107b is also brought into contact with the surface of the PC film 1 opposite to the side facing the mold 5, and the base material 107b is interposed therebetween. PC plate 1 is heated and Z or cooled by the surface plate 11 lb, 112b.
  • the mold 5 is heated through the base material 107a by the platen 11 la at 180 ° C.
  • the PC film 1 is heated through the substrate 107b by the 180 ° C surface plate 111b in a state where the substrate 107b made of the A1N substrate is pressed against the back surface of the PC film 1.
  • the base plates 107a and 107b are kept pressed against the mold 5 and the PC film 1, and the surface plates 11 la and 11 lb are removed.
  • the C surface plates 111a and 11 lb were pressed against the base materials 107a and 107b for 90 seconds to cool the mold 5 and the PC film 1 through the base materials 107a and 107b, respectively.
  • the mounting force of the PC film 1 at the molding position of the mold 1 period of time until demolding was 5.5 minutes.
  • FIG. 6 is a longitudinal sectional view showing a schematic configuration of the fine structure processing apparatus in the present embodiment
  • FIGS. 7 and 8 are first views showing the fine structure processing method in the present embodiment
  • FIG. 7 is a sectional view of a second process.
  • the microstructure processing apparatus in the present embodiment is provided with a mold 5, and is provided below the mold 5 so as to be movable between a molding processing position and a retracted position.
  • Panel 2 11 is located on the opposite surface plate 211 side of the mold 5, a mold part 5a on which a predetermined pattern is formed is provided.
  • a film 1 that is a material to be molded is disposed between the mold part 5a and the opposed surface plate 211.
  • the mold 5 and the facing surface plate 211 are provided so as to be relatively movable between a molding position and a retracted position by a driving device (not shown).
  • This drive device can be realized using any mechanism that is commonly used in this type of drive device.
  • the facing surface plate 211 is located on the front side, and has a first block 21 la including the heating device 21 lh, and a second block 21 lb located on the back side.
  • the first block 21 la and the second block 21 lb are defined by the position where the first block 211a and the second block 211b come into contact with each other, the first block 21 la and the second block by a surface plate driving device (not shown). It is provided so that it can move relative to the position where 21 lb is separated.
  • This surface plate drive device can be realized by using any mechanism that is commonly used for this type of drive device, but from the viewpoint of increasing the heat transfer efficiency by reducing the thermal resistance at the contact portion between the blocks.
  • the surface roughness (Ra) of the contact surface of one of the blocks in the contact between the blocks is preferably 0.5 m or less.
  • the heating device 21 lh included in the first block 21 la can embed a known heating device, but from the standpoint of heat uniformity of the opposed surface plate 211, a heating element is formed in the ceramic.
  • a ceramic heater that generates heat when energized is preferable.
  • the ceramic it is preferable to use a material selected from the group consisting of aluminum oxide, aluminum nitride, silicon nitride, silicon carbide, and boron nitride.
  • the first block 21 la and the second block 21 lb have high thermal conductivity, aluminum, magnesium, copper, iron, stainless steel, aluminum oxide, aluminum nitride, for efficient heat transfer. It is preferable to use a material selected from the group consisting of silicon nitride, silicon carbide, and boron nitride. In order to further increase the heat transfer efficiency, the heat capacity of the second block 21 lb is preferably 30% or more of the total heat capacity of the first block 21 la and the second block 21 lb.
  • the opposed surface plate 211 is heated to the molding temperature by the heating device 21 lh, and then the opposed surface plate 211 is moved to the retracted position as shown in FIG. Placement Move to the molding position and press the film 1 against the mold 5 and press and heat mold it. Thereafter, the load during the molding process is maintained for a certain time. During cooling, as shown in FIG. 8, the second block 21 lb force is separated from the first block 21 la.
  • the film 1 may be preheated with a preheating device (not shown) before being mounted at the molding position.
  • the preheating device may be a furnace maintained at a constant temperature, or may be a heating device such as a heater.
  • FIGS. 9 to 11 are first to third process cross-sectional views illustrating a method for processing a microstructure in the present embodiment. Note that the same or corresponding parts as those of the fine structure processing apparatus in the above embodiment are denoted by the same reference numerals, and redundant description will not be repeated.
  • the cooling efficiency of the facing surface plate 211 is improved by separating the second block 21 lb from the first block 21 la during cooling.
  • the cooling efficiency of the facing surface plate 211 is further improved, and at the same time, the heating efficiency during heating in the next process is improved.
  • the fine structure processing apparatus according to the present embodiment includes a third block 21 lc having substantially the same configuration force as the second block 21 lb.
  • the second block 21 lb is heated in the heating process, the second block 21 lb and the third block 211c are moved in the cooling process as shown in FIG. As shown in FIG. 1, the third block 211c is brought into contact with the first block 21la.
  • the volume of the facing platen 211 immediately after heating is reduced to reduce the total heat capacity of the facing platen 211, and the amount of heat stored in the facing platen 211 is physically discharged, and at the time of cooling
  • the third block 211c which is an external member, is brought into contact with the first block 21la, it moves to the third block 211c where the amount of heat of the first block 21la is cooled during cooling. It is possible to improve the cooling rate of the surface plate.
  • the second block 21 lb since the second block 21 lb has already been heated to some extent, the second block 21 lb is brought into contact with the first block 21 la instead of the third block 211c when heating in the next process. By doing so, it becomes possible to improve the heating efficiency of the opposing surface plate 11.
  • FIG. 12 and FIG. 13 are first and second process cross-sectional views showing a method for processing a microstructure in the present embodiment. Note that the same or corresponding parts as those of the fine structure processing apparatus in each of the above embodiments are given the same reference numerals, and redundant description will not be repeated.
  • the cooling efficiency of the facing surface plate 211 is improved by separating the second block 21 lb from the first block 21 la during cooling. In the present embodiment, only the first block 21 la is used in the heating process, and the second block 211b is first brought into contact with the first block 211a in the cooling process. First, as shown in FIG.
  • the opposing surface plate 21 1 is also moved to the molding position by moving the opposing surface plate 211 to the mold 5 position. Press. Thereafter, the load during the molding process is maintained for a certain time.
  • the second block 21 lb in a cooled state is brought into contact with the first block 21 la.
  • the volume of the opposing surface plate 211 during cooling increases, and the amount of heat of the first block 21 la moves to the second block 21 lb, thereby improving the cooling rate of the facing surface plate 211. It is possible.
  • the second block 21 lb and the third block 211c are basically reciprocating forces that are linear movements with respect to the first block 21 la.
  • the second block 21 lb and the third block 211c may be of any moving configuration in which the second block 21 lb and the third block 211c are circularly moved.
  • the block 21 lc may circulate in a circle or move while changing its height position.
  • the second block 21 lb was separated from the first block 21 la, and the third block 21 lc for cooling was brought into contact with the first block 21 la.
  • PC film 1 was removed from the mold 5. The mounting force of the PC film 1 at the mold molding position was 5 minutes for one cycle until the mold was removed.
  • FIG. 15 is a longitudinal sectional view showing a schematic configuration of the fine structure processing apparatus in the present embodiment
  • FIGS. 16 and 17 show a fine structure processing method in the present embodiment
  • FIG. 3 is a sectional view of steps 1 and 2.
  • the fine structure processing apparatus includes a mold 5, and is disposed above the mold 5 so as to be movable between a molding processing position and a retracted position. Panel 3 11 is placed. On the opposite surface plate 311 side of the mold 5, a mold part 5a on which a predetermined pattern is formed is provided. A film 1 which is a material to be molded is disposed between the mold part 5a and the opposing surface plate 311.
  • the mold 5 and the facing surface plate 311 are formed into a molding position and a retracted position by a driving device (not shown). It is provided so that relative movement is possible.
  • This drive device can be realized using any mechanism that is commonly used in this type of drive device.
  • the first block 305a located on the upper side and including the heating device 305h on the surface opposite to the side facing the PC film 1 of the mold 5 (the lower surface in the figure), and the second block 305b located on the lower side Have.
  • the first block 305a and the second block 305b are separated from the position where the first block 305a and the second block 305b come into contact with each other and the first block 305a and the second block 305b by a driving device (not shown). It is provided so as to be relatively movable between positions.
  • This surface plate driving device can be realized by using any mechanism commonly used for this type of driving device, but from the viewpoint of reducing the thermal resistance at the contact portion between the blocks and increasing the heat transfer efficiency, It is preferable to vacuum-suck the first block 305a and the second block 305b by using a vacuum suction device.
  • the surface roughness (Ra) of the contact surface of one of the blocks in the contact between the blocks is preferably 0.5 m or less.
  • the heating device 305h included in the first block 305a can embed a known heating device, but from the viewpoint of heat uniformity, a ceramic heater that forms a heating element in ceramics and generates heat by energization. It is preferable that For the ceramic, it is preferable to use a material selected from the group strength of aluminum oxide, aluminum nitride, silicon nitride, silicon carbide, and boron nitride.
  • the first block 305a and the second block 305b are provided with aluminum, magnesium, copper, iron, stainless steel, aluminum oxide, aluminum nitride, nitriding having high thermal conductivity in order to efficiently realize heat transfer. It is preferable to use a material selected from the group force consisting of silicon, silicon carbide, and boron nitride.
  • the heat capacity of the second block 305b is preferably 30% or more of the total heat capacity of the first block 305a and the second block 305b.
  • the fine structure processing apparatus having the above constituent force, first, after the heating / cooling block 305 having the first block 305a and the second block 305b force is heated to the molding temperature by the heating apparatus 305h, As shown in Fig. 16, move the mold 5 and the opposite surface plate 311 to the retracted position. Then, the film 1 is moved to the molding processing position, the film 1 is pressed against the mold 5, and is subjected to pressure heating molding processing. Thereafter, the load during the molding process is maintained for a certain time. During cooling, the second block 305b is separated from the first block 305a as shown in FIG.
  • the second block 305b is separated from the first block 305a during cooling, thereby reducing the volume of the block 305 during cooling to reduce the total heat capacity and reducing the amount of heat stored in the block 305.
  • the cooling rate of the block 305 can be improved.
  • the cooling efficiency of the block 305 is improved, and the heat cycle of the block 305 can be shortened.
  • the film 1 may be preheated by a preheating device (not shown) before being mounted at the molding position.
  • the preheating device may be a furnace maintained at a constant temperature, or may be a heating device such as a heater.
  • FIG. 18 to FIG. 20 are first to third process cross-sectional views illustrating a method for processing a microstructure in the present embodiment. Note that the same or corresponding parts as those of the fine structure processing apparatus in the above embodiment are denoted by the same reference numerals, and redundant description will not be repeated.
  • the second block 305b is separated from the first block 305a during cooling, so that the cooling efficiency of the block 305 is improved.
  • the cooling efficiency of the block 305 is further improved, and at the same time, the heating efficiency at the time of heating in the next step is improved.
  • the fine structure processing apparatus according to the present embodiment includes a third block 305c having substantially the same configuration as the second block 305b.
  • the second block 305b is heated during the heating process, the second block 305b and the third block 305c are moved during the cooling process as shown in FIG. Then, as shown in FIG. 20, the third block 305c is brought into contact with the first block 305a.
  • the volume of the block 305 immediately after heating is reduced to reduce the total heat capacity of the block 305, and the amount of heat stored in the block 305 is physically discharged, and at the time of cooling, the outside
  • the third block 305c which is a member
  • the amount of heat of the first block 305a during cooling is moved to the third block 305c, which cools the opposing surface plate. It is possible to improve the speed.
  • the second block 305b Since the second block 305b has already been heated to some extent, the second block 305b can be brought into contact with the first block 305a instead of the third block 305c during the heating in the next step. In addition, the heating efficiency of the block 305 can be improved.
  • FIG. 21 and FIG. 22 are first and second process cross-sectional views showing a method for processing a fine structure in the present embodiment. Note that the same or corresponding parts as those of the fine structure processing apparatus in each of the above embodiments are given the same reference numerals, and redundant description will not be repeated.
  • the cooling efficiency of block 305 is improved by separating second block 305b from first block 305a during cooling.
  • first block 305a is used in the heating process, and the second block 305b is brought into contact with the first block 305a for the first time in the cooling process.
  • the block 305 is moved from the retracted position to the molding position, and the film 1 is pressed against the mold 5. Thereafter, the load during the molding process is maintained for a certain time.
  • the second block 305b in a cooled state is brought into contact with the first block 305a.
  • the volume of the block 305 during cooling increases, and the amount of heat of the first block 305a moves to the second block 305b, so that the cooling rate of the block 305 can be improved.
  • the second block 305b and the third block 305c are Basically, the reciprocating force that is a linear movement with respect to the first block 305a is not limited to such a moving form, and may be a moving form in which the second block 305b and the third block 305c circulate.
  • the plurality of second blocks 305b and third blocks 305c may each circulate in a circular shape, or may move while changing the height position.
  • Example 8 in which a microstructure for a wiring pattern having a predetermined line width is processed will be described.
  • the second block 305b is separated from the first block 305a, and the cooling third block 305c is brought into contact with the first block 305a as shown in FIGS. I let you.
  • the PC film 1 was removed from the mold 5. Attaching force of the above PC film 1 to the mold forming position One cycle time until demolding was 7 minutes.
  • Table 3 shows the measurement results of the line widths of the microstructures (wiring patterns) processed in Examples 6 to 8 with a laser microscope, together with the above-mentioned one period. According to Table 3, in Examples 4 and 5, the average value is finished to the intended line width, and the variation range is within the allowable range ( ⁇ 1.0 m).
  • the present invention can process a high-quality microstructure with high efficiency and high yield by its unique method and apparatus, and is expected to make a great contribution in this field in the future.

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Abstract

 本発明の微細構造体の加工方法においては、対向定盤(211)を退避位置から成型加工位置に移動させて、フィルム(1)が型(5)に押し当てられ、加工される。その後、第2ブロック(211b)が、第1ブロック(211a)から離される。これにより、冷却時における対向定盤(211)の体積を減らして対向定盤(211)の総熱容量を減少させ、対向定盤(211)に蓄えられた熱量を物理的に排出することで、対向定盤(211)の冷却速度の向上を図ることを可能としている。これにより、対向定盤(211)の冷却効率の向上が図られ、対向定盤(211)のヒートサイクルの短縮化を図ることが可能となる。

Description

明 細 書
微細構造体の加工方法および微細構造体の加工装置
技術分野
[0001] 本発明は、エレクトロニクス分野やバイオ分野にぉ ヽて高集積化される各種デバィ スのパターン形成に用いられる微細構造体の加工方法およびその微細構造体の加 ェ装置に関するものである。
背景技術
[0002] 半導体集積回路、各種記録媒体、バイオチップ等では、定常的に、微細化、高集 積化が進んでおり、その製造に用いられるマスクパターン等も微細化、高集積化の一 途をたどっている。パターン露光手段が光力 電子線に一部置き換わったあと、この ような傾向はさらに強まり、微細構造体の加工方法の重要性が増大し続けている。ま た、上記微細化、集積度の高まりとともに、上記微細構造体の加工に要する工数、時 間、資材も増大し、コストの大幅上昇を招いている。
[0003] 上記微細構造体の加工にお!、ては、微細パターンが形成されたスタンパ (型)を昇 温状態の榭脂 (被成型材料)に、所定の成型圧で型押しして微細パターンを転写し たあと、榭脂が冷却するのを待って微細構造体を脱型する工程が不可欠である。上 記の微細構造体の加工コストを削減する上で、上記樹脂の昇温と冷却のサイクルを 短縮することは非常に有効である。このため、昇温と冷却のサイクル短縮のために、 上記スタンパの加圧面の断面積より、そのスタンパの加圧面を保持する保持部の断 面積を小さくして断熱構造としたプリント装置が提案されている (特開 2004— 28878 4号公報 (特許文献 1) )。上記プリント装置によれば、保持部の熱容量がそれ以前の 装置に比べて小さくなるため、昇温と冷却のサイクルを短縮することができる。
特許文献 1:特開 2004— 288784号公報
発明の開示
発明が解決しょうとする課題
[0004] 上記のプリント装置では、加圧面の保持部は加圧面とともに昇温され、また冷却さ れる。ホットエンボス、ナノインプリント法では成型圧力(加圧)が高ぐしたがって面内 の成型圧を均一とするためには、上記保持部は所定以上の剛性を有することが必要 であり、このため所定の質量、容積を要し、熱容量も所定値以上のものとなる。この結 果、上記ヒートサイクルにおいて、被成型材料より大きな熱容量を有する上記保持部 のヒートサイクルに要する時間が支配的になり、上記サイクルの短縮、すなわちスル 一プット向上には限界がある。
[0005] 本発明は、上記昇温と冷却のヒートサイクルを短縮することが可能な微細構造体の 加工方法およびそれに用いられる微細構造体の加工装置を提供することを目的とす る。
課題を解決するための手段
[0006] 本発明の微細構造体の加工方法は、被成型材料から微細構造体を加工するため の型に対向する少なくとも 2つの対向定盤を備え、 1個の微細構造体の加工中に、少 なくとも 2つの対向定盤を使用する。
[0007] この加工方法により、昇温と冷却のヒートサイクルを短縮して、スループットを向上さ せることができる。
[0008] 本発明の微細構造体の加工装置は、被成型材料から微細構造体を加工するため の型と、型に対向する少なくとも 2つの対向定盤と、 1個の微細構造体の加工中に、 少なくとも 2つの対向定盤を使用するための駆動装置とを備える。
[0009] この発明に基づいた微細構造体の加工装置は、他の局面においては、型と対向定 盤の表面側との間に挟み込み、被成型材料を加熱成型することで微細構造体を加 ェするための微細構造体の加工装置であって、上記対向定盤は、表面側に位置し、 加熱装置を含む第 1ブロックと、裏面側に位置し、上記対向定盤の熱容量を変えるた めの第 2ブロックとを有している。第 1ブロックと第 2ブロックとは、第 1ブロックと第 2ブ ロックとが当接する位置と、第 1ブロックと第 2ブロックとが離れる位置との間を相対的 に移動可能に設けられて 、る。
[0010] また、この発明に基づいた微細構造体の加工方法は、他の局面においては、型と 対向定盤の表面側との間に挟み込み、被成型材料を加圧加熱成型することで微細 構造体をカ卩ェするための微細構造体の加工方法であって、加熱時における上記対 向定盤の体積と、冷却時における上記対向定盤の体積とを異ならせて、上記被成型 材料の加圧加熱成型を行なうことを特徴としている。
[0011] また、この発明に基づいた微細構造体の加工方法は、さらに他の局面においては
、型と対向定盤の表面側との間に挟み込み、被成型材料を加圧加熱成型することで 微細構造体を加工するための微細構造体の加工方法であって、上記被成型材料の 冷却時に、上記被成型材料の加熱時における上記対向定盤の一部を分離した後に 、外部部材を当接させることを特徴としている。
[0012] さらに、この発明に基づいた微細構造体の加工方法あるいは加工装置は、被成型 材料を微細加工するに際して、金型側を加熱および冷却する場合、あるいは、金型 側と被成型材料側との両方を加熱および冷却する場合を含む。
発明の効果
[0013] 上記加工方法あるいは加工装置により、微細構造体を優れたスループットで、また 高い歩留まりで加工することができる。また、微細構造体の品質を向上させることがで きる。また、上記駆動装置は、 1つの微細構造体の加工中に少なくとも 2つの対向定 盤を使用できるようにする駆動装置であれば、どのような形態でもよぐ定盤を移動さ せる装置でも、または型を移動させる装置でも、定盤と型とをともに移動させる装置で あってもよい。
[0014] また、被成型材料の冷却時にお!、て、対向定盤の体積を減らして対向定盤の総熱 容量を減少させ、対向定盤に蓄えられた熱量を物理的に排出することにより、対向定 盤の冷却速度の向上を図ることを可能としている。
[0015] また、対向定盤の加熱時には、第 1ブロックを加熱し、冷却時には、外部部材である 第 2ブロックを第 1ブロックに当接させることで、冷却時における対向定盤の体積が増 加し、第 1ブロックの有する熱量が第 2ブロックに移動することで、対向定盤の冷却速 度の向上を図ることを可能としている。
[0016] このように、加熱時における対向定盤の体積と、冷却時における対向定盤の体積と を異ならせて、被成型材料の加圧加熱成型を行なうことで、対向定盤の加熱効率、 および対向定盤の冷却効率を向上させて、昇温と冷却とのヒートサイクルの短縮ィ匕を 可能としている。その結果、微細構造体の加工に要するスループットの向上を図るこ とを可能としている。 [0017] また、被成型材料の冷却時に、被成型材料の加熱時における第 1ブロックと第 2ブ ロックとからなる対向定盤の第 2ブロックを分離した後に、第 1ブロックに外部部材であ る第 3ブロックを当接させることにより、加熱直後の対向定盤の体積を減らして対向定 盤の総熱容量を減少させ、対向定盤に蓄えられた熱量を物理的に排出するとともに 、冷却時には、外部部材である第 3ブロックを第 1ブロックに当接させることで、冷却時 に第 1ブロックの有する熱量が第 3ブロックに移動することで、対向定盤の冷却速度 の向上を図ることを可能としている。
図面の簡単な説明
[0018] [図 1]本発明の実施の形態 1における微細構造体の加工装置の概要を示す図である
[図 2]本発明の実施の形態 2における微細構造体の加工装置を示す断面図である。
[図 3]本発明の実施の形態 3における微細構造体の加工装置の部分断面図である。
[図 4]本発明の実施の形態 5における微細構造体の加工装置を示す断面図である。
[図 5]本発明の実施の形態 6における微細構造体の加工装置の部分断面図である。
[図 6]本発明の実施の形態 7における微細構造体の加工装置の概要を示す断面図 である。
[図 7]本発明の実施の形態 7における微細構造体の加工方法の概要を示す第 1工程 断面図である。
[図 8]本発明の実施の形態 7における微細構造体の加工方法の概要を示す第 2工程 断面図である。
[図 9]本発明の実施の形態 8における微細構造体の加工方法の概要を示す第 1工程 断面図である。
[図 10]本発明の実施の形態 8における微細構造体の加工方法の概要を示す第 2ェ 程断面図である。
[図 11]本発明の実施の形態 8における微細構造体の加工方法の概要を示す第 3ェ 程断面図である。
[図 12]本発明の実施の形態 9における微細構造体の加工方法の概要を示す第 1ェ 程断面図である。 [図 13]本発明の実施の形態 9における微細構造体の加工方法の概要を示す第 2ェ 程断面図である。
[図 14]本発明の実施の形態 9における微細構造体の加工方法の他の概要を示すェ 程断面図である。
[図 15]本発明の実施の形態 10における微細構造体の加工装置の概略構成を示す 縦断面図である。
[図 16]本発明の実施の形態 10における微細構造体の加工方法の第 1工程断面図で ある。
[図 17]本発明の実施の形態 10における微細構造体の加工方法の第 2工程断面図で ある。
[図 18]本発明の実施の形態 11における微細構造体の加工方法の概要を示す第 1ェ 程断面図である。
[図 19]本発明の実施の形態 11における微細構造体の加工方法の概要を示す第 2ェ 程断面図である。
[図 20]本発明の実施の形態 11における微細構造体の加工方法の概要を示す第 3ェ 程断面図である。
[図 21]本発明の実施の形態 12における微細構造体の加工方法の概要を示す第 1ェ 程断面図である。
[図 22]本発明の実施の形態 12における微細構造体の加工方法の概要を示す第 2ェ 程断面図である。
[図 23]本発明の実施の形態 12における微細構造体の加工方法の他の概要を示す 工程断面図である。
符号の説明
1 被成型材料 (PCフィルム)、 la 微細構造体 (成型後の PCフィルム)、 5 金型、 5a 型部、 7 基材、 11, 12, 111, 112 定盤、 17 基材支持機構、 20 駆動装置 による駆動方向、 25 基材支持機構の移動方向、 31, 32 温度設定装置、 41 予 備カロ熱装置、 211, 311 対向定盤、 211a, 305a 第 1ブロック、 211b, 305b 第 2 ブロック、 211c, 305c 第 3ブロック、 211h, 305 カロ熱冷去口用ブロック 発明を実施するための最良の形態
[0020] つぎに本発明の実施の形態について図面を用いて説明する。
(実施の形態 1)
図 1は、本発明の実施の形態 1における微細構造体の加工装置の概要を示す上面 図である。図 1において、金型 5の下方に移動可能な 2つの対向定盤 (以下、定盤) 1 1, 12が配置されている。図 1では、冷却用の定盤 12が金型 5の直下の成型力卩工位 置に位置し、加熱用の定盤 11が退避位置に位置している。加熱用の定盤 11は、金 型を押し当て成型加工する際に成型加工位置に位置し、成型加工後の冷却時には 退避位置に移動する。また、冷却用の定盤 12は、成型加工された榭脂等を脱型する 前に冷却する際に成型加工位置に位置し、金型 5を榭脂である被成型 1に押し当て 成型加工する際は退避位置 12bに移動する。図 1において参照符号 20は、定盤 11 , 12を移動させる駆動装置(図示せず)による定盤 11, 12の移動方向を示す。駆動 装置は、この種の駆動装置に常用される任意の機構を用いて実現することができる。
[0021] 図 1において、定盤 11, 12は、それぞれ温度設定装置 31, 32によって所定の温 度に設定される。これらの温度設定装置 31, 32は、図示していない温度センサ、ヒー タ、電源等力もなり定盤の温度を一定温度に保持する。温度設定装置は、上記の構 成に限定されず、一定の温度に保持された炉内に装入することにより、所定温度に 維持されてもよい。
[0022] 被成型材料である榭脂 1は、定盤 11, 12の移動空間を避けるように、定盤移動空 間と重ならない方向から、加熱用定盤 11が位置する成型加工位置に装入され、成型 温度に加熱された後、金型 5を押し当てられ、加工される。その後、上記成型加工時 の荷重を維持したまま定盤 11は退避位置に移動し、代わって定盤 12が成型加工位 置に移動し、成型加工されたあとの榭脂 laと接触して榭脂 laを冷却する。その後、 微細構造体である加工後の榭脂 laは脱型され、成型前の榭脂 1の装入方向の延長 上に運ばれる。
[0023] 榭脂 1は、成型加工位置に装着される前に、予備加熱装置 41で予熱しておいても よい。予備加熱装置は、一定温度に保持された炉であってもよいし、ヒータ等の加熱 装置であってもよい。 [0024] 図 1においては、定盤 11, 12は直線的な移動である往復運動をする力 このような 移動形態に限定されず、定盤が循環移動する移動形態であればどのようなものであ つてもよく、たとえば 2つ以上の定盤が円状に周回してもよいし、または高さ位置を変 えながら移動してもよい。被成型材料 1の装入ラインと定盤移動空間とは重複する場 合があっても、同一時刻で両者の空間軌跡が重複しない限り、単に空間的に重複し ても問題ない。
[0025] また、図 1では 2つの定盤 11, 12の場合を示した力 3つ以上の定盤を配置しても よい。
[0026] 上記の微細構造体の加工装置における基本要素は、被成型材料から微細構造体 をカ卩ェするための型と、型に対向する少なくとも 2つの対向定盤と、 1個の微細構造 体の加工中に、少なくとも 2つの対向定盤を使用するための駆動装置と、によって構 成される。定盤を移動させる駆動装置は、上述したように任意の既知の駆動装機構 を用いて構成することができる。また、上記実施の形態 1では、 1つの微細構造体の 加工中に 2つの定盤を使用するために定盤を移動させる装置を用いた。しかし、 1つ の微細構造体の加工中に 2つの定盤を使用することができる限り、 2つの定盤は静止 したまま型を移動させる装置、または定盤と型とをともに移動させる装置であってもよ い。型を移動させる駆動装置も、定盤を移動させる装置と同様に任意の既知の装置 を用いて構成することができる。
[0027] また、上記の微細構造体の加工方法における基本要素は、被成型材料から微細構 造体を加工するための型に対向する少なくとも 2つの対向定盤を備え、 1個の微細構 造体の加工中に、少なくとも 2つの対向定盤を使用することによって構成される。
[0028] 上記の少なくとも 2つの対向定盤を同じ温度に設定しないようにできる。この方法を 採用することにより、成型される被成型材料 (榭脂、基板付榭脂、各種フィルム、各種 複合材料など)を効率よく昇温させ、成型された微細構造体を効率よくかつスムース に型力 離脱させることができる。また、温度の高精度管理が可能になり、歩留まり向 上、および微細構造体の品質向上にも寄与することができる。
[0029] 上記の定盤駆動装置は、少なくとも 2つの対向定盤を、対向定盤が使用されない退 避位置と、その対向定盤が使用される使用位置との間を移動させることができる。こ の構成により、能率よぐ少なくとも 2つの対向定盤を使い分けることができる。たとえ ば成型加工中に型打用温度に保持してぉ ヽた対向定盤を用い、また加圧維持期間 を経て型カゝら微細構造体を外す際に離脱用温度に保持しておいた対向定盤を用い ることがでさる。
[0030] また、上記の被成型材料を、型と対向定盤との間で加熱する前に、予備加熱するこ とができる。この方法により、榭脂がすでに加熱されているので、昇温時間を非常に 短縮してスループットをより一層向上させることができる。
[0031] 上記の被成型材料は、どのような形態であってもよぐ榭脂、基板付榭脂、各種フィ ルム、各種複合材料などであってよい。榭脂または榭脂フィルムとしては、たとえばポ リエチレン、ポリプロピレン、ポリビュルアルコール、ポリ塩化ビ-リデン、ポリエチレン テレフタレート、ポリ塩ィ匕ビニール、ポリスチレン、 ABS榭脂、 AS榭脂、アクリル榭脂 、ポリアセタール、ポリブチレンテレフタレート、ガラス強化ポリエチレンテレフタレート 、ポリカーボネート、変性ポリフエ-レンエーテル、ポリフエ-レンスルフイド、ポリエー テルエーテルケトン、液晶ポリマー、フッ素榭脂、ポリスルホン、ポリエーテルスルホン 、ポリアミドイミド、ポリエーテルイミド、熱可塑性ポリイミド等の熱可塑性榭脂や、フエノ ール榭脂、メラミン榭脂、ユリア榭脂、エポキシ榭脂、不飽和ポリエステル榭脂、アル キド榭脂、シリコーン榭脂、ジァリルフタレート榭脂、ポリアミドビスマレイミド榭脂、ポリ ビスアミドトリアゾール等の熱硬化性榭脂、およびこれらを 2種以上ブレンドした材料 を用いることができる。
[0032] 型、定盤には、各種鋼材を用いることができる。たとえば SS41の厚鋼板、鍛造品な どを用いることができる。型には、鋼材以外に耐熱性榭脂を用いることもできる。型の 加工には旋盤、フライス盤、放電加工、レーザ加工、電子ビーム加工、腐食など既知 のどのような加工を用いてもよい。
[0033] (実施の形態 2)
図 2は、本発明の実施の形態 2における微細構造体の加工装置の概要を示す断面 図である。図 2において、高温用の定盤 11が金型 5の直下、すなわち成型加工位置 に配置され、冷却用の定盤 12は退避位置に退避している。本実施の形態における ポイントは、定盤 11の上に基材 7を配置し、その基材 7の上に被成型材料であるフィ ルム 1を配置している点にある。図 2において、フィルム 1は金型 5の型部 5aで成型加 ェされるとき、基材 7に支持された状態で型部 5aが押し当てられる。この成型加工の 際には、フィルム 1は定盤 11により基材 7とともに加熱される。
[0034] 成型力卩ェのあと定盤 11が退避位置に移動するときも引き続いて、基材 7はフィルム を金型 5に押し付ける状態を維持するように基材支持機構 (図示せず)に支持される
。このような状態の維持は、フィルムを構成する榭脂などが流動して、型部 5aの凹部 やコーナー部まで十分に充填された状態を保っために重要である。定盤 nが移動 したあと、基材 7がフィルム 1を金型 5に押し当てた状態において、冷却用の定盤 12 が成型カ卩工位置に移動してきて、基材 7を下方力も支持し、フィルム 1を冷却する。
[0035] 上記の定盤 11, 12が成型加工位置に配置される際および離脱する際に、参照符 号 20で示す方向の移動のほかに、参照符号 20の方向に交差する方向、すなわち基 材 7を含む被成型材料または微細構造体との間隔を変える移動をともなうことはいう までもない。上記のような移動は、とくに断らないがほかの実施の形態においても同 様に行われる。
[0036] 基材 7には、所定の剛性および熱伝導率を有すればどのようなものでもよい。たとえ ば、金属板、耐熱性榭脂板、榭脂とセラミックスとの複合層、これらの組み合わせ層な どを用いることができる。その形態も、切板状のものでも、バッチ式単板、長尺板、連 続供給されるタイプのもの、巻き取りおよび巻き戻し可能なコイル状のものなどであつ てもよい。また、上記基材を対向定盤と被成型材料との間に配設する基材配設装置( 図示せず)も、上記のような基材の形態に応じて、これら基材を上記位置に配設する 装置であればどのような装置構造を備えて 、てもよ!/、。
[0037] 本実施の形態における微細構造体の加工方法における基本要素は、被成型材料 と、対向定盤との間に、基材を装入して、微細構造体を加工することにある。この方法 により、型へ印加される急激な温度変化、それに起因する荷重衝撃を和らげることが できる。
[0038] また、上記の基材は、被成型材料よりも剛性が高ぐ熱伝導率が大きいものとするこ とができる。この方法により、基材による上記温度衝撃や荷重衝撃をより確実に和ら げることができる。 [0039] そして、上記の基材の弾性率を lOOGPa以上とすることができる。このような基材を 用いる方法により、基材自体に印加される成型圧力や、薄い基材厚の小さい熱容量 に起因する急激な温度変化 (荷重衝撃)に耐えることができる。基材の弾性率が 100 GPa未満では成型圧力に耐えることができず、微細構造体の加工に支障をきたす。
[0040] また、上記の基材の熱伝導率を 20WZ (m-°C)以上とすることができる。このような 基材を用いる方法により、対向定盤接触後の温度追随時間が短くなり、スループット を向上させることができる。基材の熱伝導率が 20WZ (m'°C)未満では対向定盤と 榭脂との間の熱量交換速度が十分でなぐ温度追随時間の短縮は限定的である。ま た、上記実施の形態 2では、 1つの微細構造体の加工中に 2つの定盤を使用するた めに定盤を移動させる方式を前提とした説明を行った。しかし、 1つの微細構造体の 加工中に 2つの定盤を使用することができる限り、 2つの定盤は静止したまま型を移 動させる装置、または定盤と型とをともに移動させる方式であってもよい。この場合、 型を移動させるとき基材も型とともに移動させることはいうまでもない。このとき基材が 榭脂ゃフィルム等を金型に押し当てた状態を保ったまま移動させる。基材を介在させ て榭脂ゃフィルムを型に押し当てたまま型を移動させる駆動装置は、任意の既知の この種の装置で構成することができる。
[0041] (実施の形態 3)
図 3は、本発明の実施の形態 3における微細構造体の加工装置の部分断面図であ る。図 3において、成型力卩ェのあと定盤 11が退避位置に移動する際、定盤 12が成型 加工位置に配置されるまでの間、基材 7はフィルム 1を金型 5に押し付ける状態を維 持するように基材支持機構 17に支持される。基材支持機構 17は、方向 25に進退可 能な柱または厚板で構成される。基材支持機構 17は、定盤 11, 12とともに基材 7と 接触するので、成型カ卩工位置に配置された定盤 11, 12と重ならないように設けられ る。
[0042] 上記のような基材支持機構 17により、型と被成型材料との相対位置を維持すること ができ、高精度な微細構造体を加工することが可能となる。
[0043] 上記本実施の形態における微細構造体の加工装置の基本要素は、対向定盤と被 成型材料との間に位置する基材を備え、該基材を介在させて前記被成型材料を型 に押し当て、成型荷重を維持するための基材支持機構を備えることにある。この装置 により、型と成型加工中の被成型材料との相対位置を維持することができ、型の隅部 など欠陥 (欠損など)が発生しやす 、箇所の形状を冷却サイクルまで維持することが できる。この結果、より高精度な微細構造体を得ることが可能となる。また、上記実施 の形態 3では、 1つの微細構造体の加工中に 2つの定盤を使用するために定盤を移 動させる方式を前提とした説明を行った。しかし、 1つの微細構造体の加工中に 2つ の定盤を使用することができる限り、 2つの定盤は静止したまま型を移動させる装置、 または定盤と型とをともに移動させる方式であってもよい。この場合、型を移動させる とき基材も型とともに移動させ、かつその移動中、基材支持機構は基材を介在させて 榭脂ゃフィルム等を金型に押し当てた状態を保つ。上記駆動装置および基材支持 機構は、任意の既知のこの種の装置を用いて構成することができる。
[0044] つぎに所定の線幅を有する配線パターン用の微細構造体を加工した実施例 1およ び 2について説明する。
実施例 1
[0045] LZS (Line/Space) = 50Z50 mの金型(± 0. 3 m)を用い、厚み 200 mの P C (ポリカーボネート)フィルム (被成型材料)への微細成型を実施した。 PCフィルムは 予備加熱装置の部分を構成するセラミックスヒータにて 100°Cに予備加熱した。次に 、 180°Cに加熱した加熱用の定盤 11と PCフィルムとを接触させ、さらに温度上昇さ せる。定盤 11と PCフィルムとが接触して 60秒後、金型 5を押し当て、加圧成型を実 施した。
[0046] その後、加熱用の定盤 11を取り去り、 60°Cの冷却用定盤 12を成型カ卩ェした微細 構造体(PCフィルム) laに押し当て冷却した。冷却用の定盤 12と PCフィルム laとが 接触して 60秒後、 PCフィルム laを金型 5から脱型した。上記の PCフィルムの金型成 型位置への装着力 脱型までの 1周期の時間は 5分間であった。
実施例 2
[0047] L/S = 50/50 μ m(D^M ( ± 0. 3 m)を用い、厚み 100 mの PCフィルムへ の微細成型を実施した。 PCフィルムはセラミックスヒータにて 100°Cに予備加熱した 。一方、 PCフィルム 1の金型成型位置への装着に先立って、 180°Cの定盤 11は、す でに、高い熱伝導率を有する AIN基板 (基材) 7と接触して A1N基板 7を加熱してある 。この A1N基板 7上に PCフィルム 1を載せカ卩熱する。 A1N基板 7上に PCフィルムをの せて 60秒後、金型 5を押し当て、加圧成型を実施した。
[0048] その後、定盤 11を取り去り、また A1N基板 7は押し当てたまま、 A1N基板 7越しに 60 °Cの定盤 12を押し当て冷却した。定盤 12を押し当てて 180秒後に、成型された微細 構造体である PCフィルム laを金型 5から脱型した。上記の PCフィルムの金型成型位 置への装着力 脱型までの 1周期の時間は 7分間であった。従来の周期について装 置の仕様により熱容量が大きく異なるため一概にはいえないが、定盤の加熱工程お よび冷却工程が律速となる場合、 20分間〜 30分間必要であった。
(実施の形態 4)
次に、本発明の実施の形態 4について説明する。実施の形態 4は、図 2に基づいて 説明した上記実施の形態 2を変形したものである。すなわち、実施の形態 2では、定 盤 11を基材 7の加熱用として用い、定盤 12を冷却用として用いたが、実施の形態 4 では、図 2において、定盤 11, 12の両者ともが加熱および冷却のシステムを備えて おり、それぞれが基材 7の加熱および冷却の両方の工程において使用される。
[0049] 本実施の形態において、図 2に示すように、高温状態の一方の定盤 11により、基材 7を介して PCフィルム 1を加熱し、金型 5によって PCフィルム 1を成型した後に、定盤 11を冷却し、所定温度に到達した後に、 PCフィルム 1を金型 5から脱型する。この間 、定盤 12は、次の PCフィルム 1を加熱するために、高温状態で待機している。一つ の PCフィルム 1の脱型が完了した後、次の PCフィルム 1の成型工程に入る時点で、 定盤 11を高温状態の定盤 12と交換し、上記と同様の加熱、成型、冷却、脱型のェ 程が繰り返される。
実施例 3
[0050] LZS (Line/Space) = 50Z50 mの金型(±0. 3 m)を用い、厚み 200 mの P C (ポリカーボネート)フィルム (被成型材料)への微細成型を実施した。 PCフィルムは 予備加熱装置の部分を構成するセラミックスヒータにて 100°Cに予備加熱した。次に 、 180°Cに加熱した定盤 11と PCフィルム 1とを接触させ、さらに温度上昇させる。定 盤 11と PCフィルム 1とが接触して 60秒後、金型 5を押し当て、加圧成型を実施した。 [0051] その後、定盤 11を冷却し、 60°Cに到達後、 PCフィルム 1を金型 5から脱型した。そ の後さらに、冷却用定盤 12を成型カ卩ェした PCフィルム laに押し当て冷却した。冷却 用の定盤 12と PCフィルム laとが接触して 60秒後、 PCフィルム laを金型 5から脱型 した。上記の PCフィルムの金型成型位置への装着力 脱型までの 1周期の時間は 6 分間であった。この過程で、定盤 12を 180°Cに加熱しておき、 PCフィルム 1の交換 時に定盤 11と定盤 12とを交換する。
[0052] 上記実施例 1〜3にお ヽて加工した微細構造体 (配線パターン)における線幅をレ 一ザ顕微鏡によって測定した結果を、上記 1周期とあわせて表 1に示す。表 1によれ ば、実施例 1〜3のいずれも平均値は狙い通りの線幅に仕上がり、変動範囲も許容 範囲(± 1. 0 m)内である。
[0053] [表 1]
Figure imgf000015_0002
[0054] (実施の形態 5)
次に、本発明の実施の形態 5を、図 4を参照して説明する。実施の形態 5において は、は、金型 5に基材 107を接触させ、この基材 107を介して、定盤 111 , 112により 金型 107を加熱ある!/、は冷却し、被成型材料としての PCフィルム 1の成型が行なわ れる。金型 5の型面に対向して、金型 5とともに PCフィルム 1を挟む位置に、温度設定 装置と対向定盤とを兼ねる部材 131が配置される。定盤 111 , 112は、実施の形態 2 のように、一方を加熱のみ、他方を冷却のみに用いてもよぐまた、実施の形態 4のよ うに、定盤 111 , 112のそれぞれを加熱および冷却の両方に用いてもよい。
実施例 4
[0055] 上記実施の形態 5の手法を用いて、次のような微細構造体の成型を実施した。 L/ S = 50/50 μ
Figure imgf000015_0001
3 /z m)を用い、厚み 100 mの PCフィルム 1への微 細成型を実施した。 PCフィルム 1はセラミックスヒータにて 100°Cに予備加熱した。一 方、 PCフィルム 1の金型成型位置への装着に先立って、 180°Cの定盤 111は、すで に、高い熱伝導率を有する A1N基板 (基材) 107と接触して、 A1N基板 107の加熱を している。この A1N基板 7の PCフィルム 1に対向する側の面に金型 5の背面を接触さ せて加熱する。 A1N基板 107上に金型 5を載せて 60秒後、 PCフィルム 1を金型 5に 押し当て、加圧成型を実施した。
[0056] その後、定盤 111を取り去り、また A1N基板 107は押し当てたまま、 A1N基板 107 越しに 60°Cの定盤 112を押し当て冷却した。定盤 112を押し当てて 120秒後に、成 型された微細構造体である PCフィルム laを金型 5から脱型した。上記の PCフィルム 1の金型成型位置への装着力も脱型までの 1周期の時間は 6分間であった。
(実施の形態 6)
次に、本発明の実施の形態 6を、図 5を参照して説明する。実施の形態 6において は、は、上記実施の形態 5と同様に金型 5に基材 107aを接触させ、この基材 107aを 介して、定盤 111a, 112aにより金型 5を加熱あるいは冷却し、被成型材料としての P Cフィルム 1の成型が行なわれる。本実施の形態が実施の形態 5と異なるのは、 PCフ イルム 1の金型 5に対向する側とは反対側の面にも基材 107bを接触させ、この基材 1 07bを介して、定盤 11 lb, 112bによって PCフィルム 1の加熱および Zまたは冷却を 行なう点である。
実施例 5
[0057] 上記実施の形態 6の手法を用いて、次のような微細構造体の成型を実施した。図 5 に示すように、 A1N基板力もなる基材 107aを金型 5の背面に押し当てた状態で、 18 0°Cの定盤 11 laにより基材 107aを介して金型 5を加熱する。これと並行して、 A1N基 板からなる基材 107bを PCフィルム 1の背面に押し当てた状態で、 180°Cの定盤 111 bにより基材 107bを介して PCフィルム 1を加熱する。その後、基材 107a, 107bは金 型 5および PCフィルム 1に押し当てたままの状態で、定盤 11 la, 11 lbを取り去り、 6 0。Cの定盤 111a, 11 lbを 90秒間、基材 107a, 107bに押し当てて、基材 107a, 10 7bを介して金型 5および PCフィルム 1をそれぞれ冷却した。本実施例では、 PCフィ ルム 1の金型成型位置への装着力 脱型までの 1周期の時間は、 5. 5分間であった
[0058] 上記実施例 4および 5にお 、て加工した微細構造体 (配線パターン)における線幅 をレーザ顕微鏡によって測定した結果を、上記 1周期とあわせて表 2に示す。表 2に よれば、実施例 4および 5についても、いずれも平均値は狙い通りの線幅に仕上がり 、変動範囲も許容範囲( ± 1. 0 m)内である。
[表 2]
Figure imgf000017_0001
[0060] (実施の形態 7)
次に、本発明の実施の形態 7について、図 6から図 8を参照して、本実施の形態に おける微細構造体の加工装置およびカ卩ェ方法について説明する。なお、図 6は、本 実施の形態における微細構造体の加工装置の概略構成を示す縦断面図であり、図 7および図 8は、本実施の形態における微細構造体の加工方法を示す第 1および第 2工程断面図である。
[0061] まず、本実施の形態における微細構造体の加工装置は、金型 5を備え、この金型 5 の下方に、成型加工位置と退避位置に位置と間を移動可能に設けられる対向定盤 2 11が配置されている。金型 5の対向定盤 211側には、所定のパターンが形成された 型部 5aが設けられている。型部 5aと対向定盤 211との間には、被成型材料であるフ イルム 1が配置されている。
[0062] 金型 5と対向定盤 211とは、駆動装置(図示省略)により成型加工位置と退避位置 との間を相対的に移動可能に設けられている。この駆動装置は、この種の駆動装置 に常用される任意の機構を用いて実現することができる。
[0063] 対向定盤 211は、表面側に位置し、加熱装置 21 lhを含む第 1ブロック 21 laと、裏 面側に位置する第 2ブロック 21 lbとを有している。第 1ブロック 21 laと第 2ブロック 21 lbとは、定盤用駆動装置(図示省略)により、第 1ブロック 211aと第 2ブロック 211bと が当接する位置と、第 1ブロック 21 laと第 2ブロック 21 lbとが離れる位置との間を相 対的に移動可能なように設けられている。この定盤用駆動装置は、この種の駆動装 置に常用される任意の機構を用いて実現することができるが、ブロック同士の接触部 における熱抵抗を低下させ、熱移動効率を高める観点から、真空吸着装置を用いる ことにより、第 1ブロック 21 laと第 2ブロック 21 lbとを真空吸着させることが好ましい。 [0064] さらに、ブロック同士の接触部における熱抵抗を低下させ、熱移動効率を高めるた めには、ブロック同士の当接において、いずれか一方のブロックの当接面の表面粗さ (Ra)力 0. 5 m以下であることが好ましい。
[0065] 第 1ブロック 21 laに含まれる加熱装置 21 lhは、公知の加熱装置を埋設することが 可能であるが、対向定盤 211の均熱性の観点からは、セラミックスに発熱体を形成し 、通電により発熱させるセラミックスヒータであることが好ましい。セラミックスには、酸 化アルミニウム、窒化アルミニウム、窒化珪素、炭化珪素、および窒化ホウ素からなる 群カゝら選ばれた材料を用いることが好ま 、。
[0066] 第 1ブロック 21 laおよび第 2ブロック 21 lbには、効率的に熱移動を実現させるため に、高熱伝導率を有する、アルミニウム、マグネシウム、銅、鉄、ステンレス、酸化アル ミニゥム、窒化アルミニウム、窒化珪素、炭化珪素、窒化ホウ素からなる群力 選ばれ た材料を用いることが好ましい。また、より熱移動効率を高めるためには、第 2ブロック 21 lbの熱容量は、第 1ブロック 21 laと第 2ブロック 21 lbとの合計熱容量の 30%以 上であることが好ましい。
[0067] 上記構成力 なる微細構造体の加工装置において、まず、対向定盤 211が加熱装 置 21 lhにより成型温度に加熱された後、図 7に示すように、対向定盤 211を退避位 置力 成型カ卩工位置に移動させて、フィルム 1が型 5に押し当てられ、加圧加熱成型 加工される。その後、上記成型加工時の荷重が一定時間維持される。冷却時におい ては、図 8に示すように、第 2ブロック 21 lb力 第 1ブロック 21 laから離される。
[0068] このように、冷却時に第 2ブロック 21 lbが第 1ブロック 21 laから離されることで、冷 却時における対向定盤 211の体積を減らして対向定盤 211の総熱容量を減少させ、 対向定盤 211に蓄えられた熱量を物理的に排出することにより、対向定盤 211の冷 却速度の向上を図ることを可能としている。これにより、対向定盤 211の冷却効率の 向上が図られ、対向定盤 211のヒートサイクルの短縮ィ匕を図ることが可能となる。
[0069] なお、フィルム 1は、成型加工位置に装着される前に、予備加熱装置(図示省略)で 予熱しておいてもよい。予備加熱装置は、一定温度に保持された炉であってもよいし 、ヒータ等の加熱装置であってもよい。
[0070] (実施の形態 8) 次に、図 9から図 11参照して、本実施の形態における微細構造体の加工装置およ び加工方法について説明する。なお、図 9から図 11は、本実施の形態における微細 構造体の加工方法を示す第 1〜第 3工程断面図である。なお、上記実施の形態にお ける微細構造体の加工装置と同一または相当部分については、同一の参照番号を 付し、重複する説明は繰り返さないこととする。
[0071] 上記実施の形態においては、冷却時に第 2ブロック 21 lbが第 1ブロック 21 laから 分離されることで、対向定盤 211の冷却効率の向上を図っていた。本実施の形態に おいては、さらに、対向定盤 211の冷却効率の向上を図ると同時に、次工程におけ る加熱時の加熱効率の向上を図るようにしたものである。図 9に示すように、本実施の 形態における微細構造体の加工装置においては、第 2ブロック 21 lbと略同様の構成 力 なる第 3ブロック 21 lcを有して!/、る。
[0072] 第 2ブロック 21 lbは、加熱工程において加熱されていることから、冷却工程におい て、図 10に示すように、第 2ブロック 21 lbと第 3ブロック 211cとの移動を行ない、図 1 1に示すように、第 3ブロック 211cを第 1ブロック 21 laに当接させる。
[0073] このように、加熱直後の対向定盤 211の体積を減らして対向定盤 211の総熱容量 を減少させ、対向定盤 211に蓄えられた熱量を物理的に排出するとともに、冷却時に は、外部部材である第 3ブロック 211cを第 1ブロック 21 laに当接させることで、冷却 時に第 1ブロック 21 laの有する熱量が冷えた状態である第 3ブロック 211cに移動す ることで、対向定盤の冷却速度の向上を図ることを可能としている。
[0074] また、第 2ブロック 21 lbは既にある程度加熱された状態であることから、次工程にお ける加熱時には、第 3ブロック 211cに代わり第 2ブロック 21 lbを第 1ブロック 21 laに 当接させることで、対向定盤 11の加熱効率の向上を図ることも可能となる。
[0075] (実施の形態 9)
次に、図 12および図 13参照して、本実施の形態における微細構造体の加工装置 およびカ卩ェ方法について説明する。なお、図 12および図 13は、本実施の形態にお ける微細構造体の加工方法を示す第 1および第 2工程断面図である。なお、上記各 実施の形態における微細構造体の加工装置と同一または相当部分については、同 一の参照番号を付し、重複する説明は繰り返さないこととする。 [0076] 上記実施の形態においては、冷却時に第 2ブロック 21 lbを第 1ブロック 21 laから 離すことで、対向定盤 211の冷却効率の向上を図っていた。本実施の形態において は、加熱工程においては、第 1ブロック 21 laのみを用い、冷却工程において、初め て第 2ブロック 211bを第 1ブロック 211aに当接するようにしたものである。まず、図 12 に示すように、第 2ブロック 21 lbを第 1ブロック 21 laから離した状態で、対向定盤 21 1を退避位置力も成型カ卩工位置に移動させ、フィルム 1を型 5に押し当てる。その後、 上記成型加工時の荷重が一定時間維持される。
[0077] 次に、冷却時においては、図 13に示すように、冷えた状態である第 2ブロック 21 lb を第 1ブロック 21 laに当接させる。これにより、冷却時における対向定盤 211の体積 が増加し、第 1ブロック 21 laの有する熱量が第 2ブロック 21 lbに移動することで、対 向定盤 211の冷却速度の向上を図ることを可能としている。
[0078] なお、図 13においては、第 2ブロック 21 lbを移動させることにより、第 2ブロック 211 bを第 1ブロック 21 laに当接させる場合について説明した力 図 14に示すように、第 2ブロック 21 lbを固定し、金型 5、フィルム 1、および第 1ブロック 21 laを一体的に第 2 ブロック 2 l ib側に移動させることも可能である。
[0079] なお、上記各実施の形態において、第 2ブロック 21 lbおよび第 3ブロック 211cは、 第 1ブロック 21 laに対して基本的には、直線的な移動である往復運動をする力 この ような移動形態に限定されず、第 2ブロック 21 lbおよび第 3ブロック 211cが循環移動 する移動形態であればどのようなものであってもよぐたとえばそれぞれ複数の第 2ブ ロック 21 lbおよび第 3ブロック 21 lcが円状に周回してもょ 、し、または高さ位置を変 えながら移動してもよい。
[0080] つぎに所定の線幅を有する配線パターン用の微細構造体を加工した実施例 6およ び 7について説明する。
実施例 6
[0081] LZS (Line/Space) = 50Z50 mの金型(±0. 3 m)を用い、厚み 100 mの P C (ポリカーボネート)フィルム (被成型材料)への微細成型を実施した。 PCフィルムは 予備加熱装置の部分を構成するセラミックスヒータにて 100°Cに予備加熱した。次に 、 170°Cに加熱した加熱用の第 1ブロック 21 laと PCフィルムとを接触させ、さらに温 度上昇させた。第 1ブロック 21 laと PCフィルムとが接触して 60秒後、金型 5を押し当 て、加圧加熱成型を実施した。
[0082] その後、第 2ブロック 21 lbを第 1ブロック 21 laから分離し、第 1ブロック 21 laが 60 °Cに到達後、 PCフィルム 1を金型 5から脱型した。上記の PCフィルム 1の金型成型位 置への装着力 脱型までの 1周期の時間は 8分間であった。
実施例 7
[0083] LZS (Line/Space) = 50Z50 mの金型(±0. 3 m)を用い、厚み 100 mの P C (ポリカーボネート)フィルム (被成型材料)への微細成型を実施した。 PCフィルムは 予備加熱装置の部分を構成するセラミックスヒータにて 100°Cに予備加熱した。次に 、 170°Cに加熱した加熱用の第 1ブロック 21 laと PCフィルムとを接触させ、さらに温 度上昇させた。第 1ブロック 21 laと PCフィルムとが接触して 60秒後、金型 5を押し当 て、加圧加熱成型を実施した。
[0084] その後、第 2ブロック 21 lbを第 1ブロック 21 laから分離し、冷却用の第 3ブロック 21 lcを第 1ブロック 21 laに当接させた。第 1ブロック 211&が60°〇に到達後、 PCフィル ム 1を金型 5から脱型した。上記の PCフィルム 1の金型成型位置への装着力も脱型ま での 1周期の時間は 5分間であった。
[0085] (実施の形態 10)
次に、本発明の実施の形態 10について、図 15から図 17を参照して、本実施の形 態における微細構造体の加工装置およびカ卩ェ方法について説明する。なお、図 15 は、本実施の形態における微細構造体の加工装置の概略構成を示す縦断面図であ り、図 16および図 17は、本実施の形態における微細構造体の加工方法を示す第 1 および第 2工程断面図である。
[0086] まず、本実施の形態における微細構造体の加工装置は、金型 5を備え、この金型 5 の上方に、成型加工位置と退避位置に位置と間を移動可能に設けられる対向定盤 3 11が配置されている。金型 5の対向定盤 311側には、所定のパターンが形成された 型部 5aが設けられている。型部 5aと対向定盤 311との間には、被成型材料であるフ イルム 1が配置されている。
[0087] 金型 5と対向定盤 311とは、駆動装置(図示省略)により成型加工位置と退避位置 との間を相対的に移動可能に設けられている。この駆動装置は、この種の駆動装置 に常用される任意の機構を用いて実現することができる。
[0088] 型 5の PCフィルム 1に対向する側とは反対側の面(図では下面)に、上側に位置し 加熱装置 305hを含む第 1ブロック 305aと、下側に位置する第 2ブロック 305bとを有 している。第 1ブロック 305aと第 2ブロック 305bとは、駆動装置(図示省略)により、第 1ブロック 305aと第 2ブロック 305bとが当接する位置と、第 1ブロック 305aと第 2ブロ ック 305bとが離れる位置との間を相対的に移動可能なように設けられている。この定 盤用駆動装置は、この種の駆動装置に常用される任意の機構を用いて実現すること ができるが、ブロック同士の接触部における熱抵抗を低下させ、熱移動効率を高める 観点から、真空吸着装置を用いることにより、第 1ブロック 305aと第 2ブロック 305bと を真空吸着させることが好まし 、。
[0089] さらに、ブロック同士の接触部における熱抵抗を低下させ、熱移動効率を高めるた めには、ブロック同士の当接において、いずれか一方のブロックの当接面の表面粗さ (Ra)力 0. 5 m以下であることが好ましい。
[0090] 第 1ブロック 305aに含まれる加熱装置 305hは、公知の加熱装置を埋設することが 可能であるが、均熱性の観点からは、セラミックスに発熱体を形成し、通電により発熱 させるセラミックスヒータであることが好ましい。セラミックスには、酸ィ匕アルミニウム、窒 化アルミニウム、窒化珪素、炭化珪素、および窒化ホウ素力 なる群力 選ばれた材 料を用いることが好ましい。
[0091] 第 1ブロック 305aおよび第 2ブロック 305bには、効率的に熱移動を実現させるため に、高熱伝導率を有する、アルミニウム、マグネシウム、銅、鉄、ステンレス、酸化アル ミニゥム、窒化アルミニウム、窒化珪素、炭化珪素、窒化ホウ素からなる群力 選ばれ た材料を用いることが好ましい。また、より熱移動効率を高めるためには、第 2ブロック 305bの熱容量は、第 1ブロック 305aと第 2ブロック 305bとの合計熱容量の 30%以 上であることが好ましい。
[0092] 上記構成力もなる微細構造体の加工装置において、まず、第 1ブロック 305aおよ び第 2ブロック 305b力もなる加熱冷却用のブロック 305が加熱装置 305hにより成型 温度に加熱された後、図 16に示すように、金型 5および対向定盤 311を退避位置か ら成型加工位置に移動させて、フィルム 1が型 5に押し当てられ、加圧加熱成型加工 される。その後、上記成型加工時の荷重が一定時間維持される。冷却時においては 、図 17に示すように、第 2ブロック 305bが、第 1ブロック 305aから離される。
[0093] このように、冷却時に第 2ブロック 305bが第 1ブロック 305aから離されることで、冷 却時におけるブロック 305の体積を減らして総熱容量を減少させ、ブロック 305に蓄 えられた熱量を物理的に排出することにより、ブロック 305の冷却速度の向上を図る ことを可能としている。これにより、ブロック 305の冷却効率の向上が図られ、ブロック 305のヒートサイクルの短縮化を図ることが可能となる。
[0094] なお、フィルム 1は、成型加工位置に装着される前に、予備加熱装置(図示省略)で 予熱しておいてもよい。予備加熱装置は、一定温度に保持された炉であってもよいし 、ヒータ等の加熱装置であってもよい。
[0095] (実施の形態 11)
次に、図 18から図 20参照して、実施の形態 11における微細構造体の加工装置お よびカ卩ェ方法について説明する。なお、図 18から図 20は、本実施の形態における 微細構造体の加工方法を示す第 1〜第 3工程断面図である。なお、上記実施の形態 における微細構造体の加工装置と同一または相当部分については、同一の参照番 号を付し、重複する説明は繰り返さないこととする。
[0096] 上記実施の形態 10においては、冷却時に第 2ブロック 305bが第 1ブロック 305aか ら分離されることで、ブロック 305の冷却効率の向上を図っていた。本実施の形態に おいては、さらに、ブロック 305の冷却効率の向上を図ると同時に、次工程における 加熱時の加熱効率の向上を図るようにしたものである。図 18に示すように、本実施の 形態における微細構造体の加工装置においては、第 2ブロック 305bと略同様の構成 力 なる第 3ブロック 305cを有して!/、る。
[0097] 第 2ブロック 305bは、加熱工程にぉ 、て加熱されて 、ることから、冷却工程にぉ ヽ て、図 19に示すように、第 2ブロック 305bと第 3ブロック 305cとの移動を行ない、図 2 0に示すように、第 3ブロック 305cを第 1ブロック 305aに当接させる。
[0098] このように、加熱直後のブロック 305の体積を減らしてブロック 305の総熱容量を減 少させ、ブロック 305に蓄えられた熱量を物理的に排出するとともに、冷却時には、外 部部材である第 3ブロック 305cを第 1ブロック 305aに当接させることで、冷却時に第 1ブロック 305aの有する熱量が冷えた状態である第 3ブロック 305cに移動することで 、対向定盤の冷却速度の向上を図ることを可能としている。
[0099] また、第 2ブロック 305bは既にある程度加熱された状態であることから、次工程にお ける加熱時には、第 3ブロック 305cに代わり第 2ブロック 305bを第 1ブロック 305aに 当接させることで、ブロック 305の加熱効率の向上を図ることも可能となる。
[0100] (実施の形態 12)
次に、図 21および図 22参照して、実施の形態 12における微細構造体の加工装置 およびカ卩ェ方法について説明する。なお、図 21および図 22は、本実施の形態にお ける微細構造体の加工方法を示す第 1および第 2工程断面図である。なお、上記各 実施の形態における微細構造体の加工装置と同一または相当部分については、同 一の参照番号を付し、重複する説明は繰り返さないこととする。
[0101] 上記実施の形態 10および 11においては、冷却時に第 2ブロック 305bを第 1ブロッ ク 305aから離すことで、ブロック 305の冷却効率の向上を図っていた。本実施の形 態においては、加熱工程においては、第 1ブロック 305aのみを用い、冷却工程にお いて、初めて第 2ブロック 305bを第 1ブロック 305aに当接するようにしたものである。 まず、図 21に示すように、第 2ブロック 305bを第 1ブロック 305aから離した状態で、 ブロック 305を退避位置カゝら成型カ卩工位置に移動させ、フィルム 1を型 5に押し当てる 。その後、上記成型加工時の荷重が一定時間維持される。
[0102] 次に、冷却時においては、図 22に示すように、冷えた状態である第 2ブロック 305b を第 1ブロック 305aに当接させる。これにより、冷却時におけるブロック 305の体積が 増加し、第 1ブロック 305aの有する熱量が第 2ブロック 305bに移動することで、ブロッ ク 305の冷却速度の向上を図ることを可能としている。
[0103] なお、図 22においては、第 2ブロック 305bを移動させることにより、第 2ブロック 305 bを第 1ブロック 305aに当接させる場合について説明した力 図 23に示すように、第 2ブロック 305bを固定し、金型 5、フィルム 1、および第 1ブロック 305aを一体的に第 2 ブロック 305b側に移動させることも可能である。
[0104] なお、上記各実施の形態において、第 2ブロック 305bおよび第 3ブロック 305cは、 第 1ブロック 305aに対して基本的には、直線的な移動である往復運動をする力 この ような移動形態に限定されず、第 2ブロック 305bおよび第 3ブロック 305cが循環移動 する移動形態であればどのようなものであってもよぐたとえばそれぞれ複数の第 2ブ ロック 305bおよび第 3ブロック 305cが円状に周回してもよいし、または高さ位置を変 えながら移動してもよい。
[0105] つぎに所定の線幅を有する配線パターン用の微細構造体を加工した実施例 8につ いて説明する。
実施例 8
[0106] LZS (Line/Space) =50Z50 mの金型(±0. 3 m)を用い、厚み 100 mの P Cフィルム (被成型材料) 1への微細成型を実施した。 PCフィルム 1は予備加熱装置 の部分を構成するセラミックスヒータにて 100°Cに予備加熱した。次に、図 15に示す ように、 170°Cに加熱した加熱用の第 1ブロック 305aと PCフィルム 1とを接触させ、さ らに温度上昇させた。第 1ブロック 305aと金型 5とが接触して 60秒後、図 16に示すよ うに、対向定盤 311を押し当て、加圧加熱成型を実施した。
[0107] その後、図 17に示すように、第 2ブロック 305bを第 1ブロック 305aから分離し、図 1 8〜20に示すように、冷却用の第 3ブロック 305cを第 1ブロック 305aに当接させた。 第 1ブロック 305aが 60°Cに到達後、 PCフィルム 1を金型 5から脱型した。上記の PC フィルム 1の金型成型位置への装着力 脱型までの 1周期の時間は 7分間であった。
[0108] 上記実施例 6〜8にお ヽて加工した微細構造体 (配線パターン)における線幅をレ 一ザ顕微鏡によって測定した結果を、上記 1周期とあわせて表 3に示す。表 3によれ ば、実施例 4および 5についても、いずれも平均値は狙い通りの線幅に仕上がり、変 動範囲も許容範囲( ± 1. 0 m)内である。
[0109] [表 3]
Figure imgf000025_0001
今回開示された実施の形態および実施例はすべての点で例示であって制限的な ものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて請求 の範囲によって示され、請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が 含まれることが意図される。
産業上の利用可能性
本発明は、その独自の方法および装置により、高品質の微細構造体を高能率で高 い歩留まりで加工することができ、今後、この分野において多大な貢献をすることが 期待される。

Claims

請求の範囲
[1] 被成型材料から微細構造体を加工するための型に対向する少なくとも 2つの対向 定盤を備え、 1個の前記微細構造体の加工中に、前記少なくとも 2つの対向定盤を 使用する、微細構造体の加工方法。
[2] 前記少なくとも 2つの対向定盤を同じ温度に設定しない、請求項 1に記載の微細構 造体の加工方法。
[3] 前記被成型材料を、前記型と前記対向定盤との間で加熱する前に、予備加熱する
、請求項 1に記載の微細構造体の加工方法。
[4] 前記被成型材料と、前記対向定盤との間に、基材を装入して、前記微細構造体を 加工する、請求項 1に記載の微細構造体の加工方法。
[5] 前記基材は、前記被成型材料よりも剛性が高ぐ熱伝導率が大きい、請求項 4に記 載の微細構造体の加工方法。
[6] 前記基材の弾性率が、 lOOGPa以上である、請求項 4に記載の微細構造体の加工 方法。
[7] 前記基材の熱伝導率が、 20W/ (m-°C)以上である、請求項 4に記載の微細構造 体の加工方法。
[8] 前記少なくとも 2つの対向定盤を入れ替える際に、前記基材を介在させて前記被成 型材料を型に押し当て、成型荷重を維持する、請求項 4〜7のいずれかに記載の微 細構造体の加工方法。
[9] 前記少なくとも 2つの対向定盤が、それぞれ加熱および冷却システムを有し、一つ の前記対向定盤によって一つの被成型材料を加熱、成型および冷却した後に、他の 前記対向定盤によって他の被成型材料を加熱、成型および冷却を行なう、請求項 1 に記載の微細構造体の加工方法。
[10] 前記少なくとも 2つの対向定盤力 それぞれ加熱および冷却システムを有し、前記 対向定盤のうちの第 1の対向定盤を用いて、前記被成型材料の一つを加熱から冷却 まで行なって成型し、
次の前記被成型材料を加工する際には、予め加熱された第 2の対向定盤を用いて 加熱力 冷却まで行なって成型し、この間に前記第 1の対向定盤加熱して、次の被 成型材料の成型に備えることを特徴とする、請求項 1に記載の微細構造体の加工方 法。
[11] 被成型材料から微細構造体を加工するための型と、
前記型に対向する少なくとも 2つの対向定盤と、
1個の前記微細構造体の加工中に、前記少なくとも 2つの対向定盤を使用するため の駆動装置とを備える、微細構造体の加工装置。
[12] 前記駆動装置は、前記少なくとも 2つの対向定盤を、前記対向定盤が使用されない 退避位置と、その対向定盤が使用される使用位置との間を移動させる、請求項 11に 記載の微細構造体の加工装置。
[13] 前記少なくとも 2つの対向定盤の温度を設定する温度設定装置を備える、請求項 1
1に記載の微細構造体の加工装置。
[14] 前記被成型材料を、前記型と前記対向定盤との間に配置する前に、予備加熱する 予備加熱装置を備える、請求項 11に記載の微細構造体の加工装置。
[15] 前記対向定盤と前記被成型材料との間に位置する基材を備え、該基材を介在させ て前記被成型材料を型に押し当て、成型荷重を維持するための基材支持機構を備 える、請求項 11に記載の微細構造体の加工装置。
[16] 前記対向定盤と前記被成型材料との間に配設される基材を備え、前記基材を、前 記対向定盤と前記被成型材料との間に配設する基材配設装置を備える、請求項 11 に記載の微細構造体の加工装置。
[17] 前記少なくとも 2つの対向定盤が、それぞれ加熱および冷却システムを有し、
前記対向定盤は、前記被成型材料の一つを加熱から冷却まで行なって成型するた めに用いられる第 1の定盤と、
次の被成型材料を加工する際に加熱から冷却まで行なって成型する第 2の対向定 盤とを含み、
前記第 2の対向定盤が被成型材料の加熱および冷却を行なう間に、前記第 1の対 向定盤を加熱して、次の被成型材料の成型に備えることを特徴とする、請求項 11に 記載の微細構造体の加工装置。
[18] 型と対向定盤との間に被成型材料を挟み込み、この被成型材料を加圧加熱成型 することによって微細構造体を加工するための微細構造体の加工装置であって、 前記対向定盤が、
前記被成型材料に対向する側に位置し加熱装置を含む第 1ブロックと、 前記被成型材料に対向する側とは反対側に位置する第 2ブロックとを有し、 前記第 1ブロックと前記第 2ブロックとは、前記第 1ブロックと前記第 2ブロックとが当 接する位置と、前記第 1ブロックと前記第 2ブロックとが離れる位置との間を相対的に 移動可能に設けられる、微細構造体の加工装置。
[19] 型と対向定盤との間に被成型材料を挟み込み、この被成型材料を加圧加熱成型 することによって微細構造体を加工するための微細構造体の加工装置であって、 前記型の背面力 前記型を加熱および冷却する加熱冷却ブロックをさらに備え、 前記加熱冷却ブロックは、
前記型に対向する側に位置し加熱装置を含む第 1ブロックと、
前記被成型材料に対向する側とは反対側に位置する第 2ブロックとを有し、 前記第 1ブロックと前記第 2ブロックとは、前記第 1ブロックと前記第 2ブロックとが当 接する位置と、前記第 1ブロックと前記第 2ブロックとが離れる位置との間を相対的に 移動可能に設けられる、微細構造体の加工装置。
[20] 前記第 2ブロックの熱容量は、前記第 1ブロックと前記第 2ブロックとの合計熱容量 の 30%以上である、請求項 18または 19に記載の微細構造体の加工装置。
[21] 前記加熱手段による前記第 1ブロックの加熱時には、前記第 2ブロックを前記第 1ブ ロック〖こ当接させ、
前記第 1ブロックの冷却時には、前記第 2ブロックを前記第 1ブロックから分離させる ように制御する、請求項 18または 19に記載の微細構造体の加工装置。
[22] 前記第 1ブロックを冷却するため、前記第 1ブロックに当接させるための第 3ブロック をさらに備える、請求項 21に記載の微細構造体の加工装置。
[23] 前記加熱手段による前記第 1ブロックの加熱時には、前記第 2ブロックを前記第 1ブ ロックカゝら分離し、
前記第 1ブロックの冷却時には、前記第 2ブロックを前記第 1ブロックに当接させるよ うに制御する、請求項 18または 19に記載の微細構造体の加工装置。
[24] 前記第 1ブロックへの前記各ブロックの当接には、真空吸着により前記各ブロックを 前記第 1ブロックに当接させるための真空吸着装置を有する、請求項 18または 19に 記載の微細構造体の加工装置。
[25] 前記第 1ブロックと前記各ブロックとの当接において、
いずれか一方のブロックの当接面の表面粗さ(Ra)力 0. 5 m以下である、請求 項 18または 19に記載の微細構造体の加ェ装置。
[26] 前記加熱装置は、セラミックスに発熱体を形成し、通電により発熱させるヒータであ る、請求項 18または 19に記載の微細構造体の加ェ装置。
[27] 前記セラミックスは、酸ィ匕アルミニウム、窒化アルミニウム、窒化珪素、炭化珪素、お よび窒化ホウ素力もなる群力も選ばれた材料である、請求項 26に記載の微細構造体 の加工装置。
[28] 前記各ブロックは、アルミニウム、マグネシウム、銅、鉄、ステンレス、酸ィ匕アルミ-ゥ ム、窒化アルミニウム、窒化珪素、炭化珪素、窒化ホウ素からなる群力も選ばれた材 料である、請求項 18または 19に記載の微細構造体の加工装置。
[29] 加熱成型される前に、前記被成型材料を予備加熱するための予備加熱装置をさら に備える、請求項 18または 19に記載の微細構造体の加工装置。
[30] 型と対向定盤との間に被成型材料を挟み込み、この被成型材料を加圧加熱成型 することによって微細構造体を加工するための微細構造体の加工方法であって、 前記対向定盤の体積を、加熱時と冷却時とで異ならせて、前記被成型材料の加圧 加熱成型を行なうことを特徴とする、微細構造体の加工方法。
[31] 前記被成型材料の冷却時に、前記被成型材料の加熱時における前記対向定盤の 一部を分離することを特徴とする、請求項 30に記載の微細構造体の加工方法。
[32] 前記被成型材料の冷却時に、前記被成型材料の加熱時における前記対向定盤に 対して、外部部材を当接させることを特徴とする、請求項 30に記載の微細構造体の 加工方法。
[33] 型と対向定盤との間に被成型材料を挟み込み、この被成型材料を加圧加熱成型 することによって微細構造体を加工するための微細構造体の加工方法であって、 前記型の背面力 前記型を加熱および冷却する加熱冷却ブロックをさらに備え、 前記加熱冷却ブロックの体積を、加熱時と冷却時とで異ならせて、前記被成型材料 の加圧加熱成型を行なうことを特徴とする、微細構造体の加工方法。
[34] 前記対向定盤の背面から前記対向定盤を加熱および冷却する、他の加熱冷却ブ ロックをさら〖こ含み、
前記他の加熱冷却ブロックの体積を、加熱時と冷却時とで異ならせて、前記被成型 材料の加圧加熱成型を行なうことを特徴とする、請求項 33記載の微細構造体の加工 方法。
[35] 前記被成型材料の冷却時に、前記被成型材料の加熱時における、前記加熱冷却 ブロックの一部を分離することを特徴とする、請求項 33に記載の微細構造体の加工 方法。
[36] 前記被成型材料の冷却時に、前記被成型材料の加熱時における前記加熱冷却ブ ロックに対して、外部部材を当接させることを特徴とする、請求項 33または 34に記載 の微細構造体の加工方法。
[37] 型と対向定盤との間に被成型材料を挟み込み、この被成型材料を加圧加熱成型 することによって微細構造体を加工するための微細構造体の加工方法であって、 前記対向定盤が加熱装置を含み、
前記被成型材料の冷却時に、前記被成型材料の加熱時における、前記対向定盤 から、前記被成型材料に対向する側とは反対側の一部を分離する工程と、
前記一部を分離された後の残りの前記対向定盤に、外部部材を当接させることを 特徴とする、微細構造体の加工方法。
[38] 型と対向定盤との間に被成型材料を挟み込み、この被成型材料を加圧加熱成型 することによって微細構造体を加工するための微細構造体の加工方法であって、 前記型の背面力 前記型を加熱および冷却するための、加熱冷却ブロックを含み、 前記被成型材料の冷却時に、前記被成型材料の加熱時における、前記加熱冷却 ブロックから、前記被成型材料に対向する側とは反対側の一部を分離する工程と、 前記一部を分離された後の残りの前記加熱冷却ブロックに、外部部材を当接させる ことを特徴とする、微細構造体の加工方法。
[39] 前記対向定盤の背面から前記対向定盤を加熱および冷却する、他の加熱冷却ブ ロックをさら〖こ含み、
前記被成型材料の冷却時に、前記被成型材料の加熱時における、前記他の加熱 冷却ブロックから、前記被成型材料に対向する側とは反対側の一部を分離する工程 と、
前記一部を分離された後の残りの前記他の加熱冷却ブロックに、他の外部部材を 当接させることを特徴とする、請求項 38記載の微細構造体の加工方法。
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