WO2006090454A1 - 記憶装置、欠陥チェック方法及びプログラム - Google Patents

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WO2006090454A1
WO2006090454A1 PCT/JP2005/003004 JP2005003004W WO2006090454A1 WO 2006090454 A1 WO2006090454 A1 WO 2006090454A1 JP 2005003004 W JP2005003004 W JP 2005003004W WO 2006090454 A1 WO2006090454 A1 WO 2006090454A1
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storage device
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Shigeto Kitamura
Keiichi Sato
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Fujitsu Ltd
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Fujitsu Ltd
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    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B20/00—Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
    • G11B20/10—Digital recording or reproducing
    • G11B20/18—Error detection or correction; Testing, e.g. of drop-outs
    • G11B20/1833—Error detection or correction; Testing, e.g. of drop-outs by adding special lists or symbols to the coded information
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B20/00—Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
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    • G11B2020/1826—Testing wherein a defect list or error map is generated
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B2220/00—Record carriers by type
    • G11B2220/20—Disc-shaped record carriers
    • G11B2220/25—Disc-shaped record carriers characterised in that the disc is based on a specific recording technology
    • G11B2220/2508—Magnetic discs
    • G11B2220/2516—Hard disks

Definitions

  • the present invention relates to a storage device, a defect check method, and a program for checking a defect of a medium such as a magnetic disk and generating defect sector information, and in particular, creating defective sector information that supports sector formats having different sector lengths.
  • the present invention relates to a possible storage device, a defect check method, and a program.
  • the sector length is fixed to, for example, 512 bytes.
  • a sector unit is used.
  • check data is written with a fixed sector length and then read in units of sector and stored in a buffer. The pattern position that is different from the expected value is detected on the noffer, and the byte position from the index is calculated. Store in the system area of the media.
  • a defect check of a storage device that supports a plurality of sector lengths is performed by performing a defect check using a fixed sector length of 512 bytes, and then performing a defect check by shifting the head position of the sector.
  • the first defect check is used to check for gaps between sectors.
  • FIGS. 1A to 1C show the first defect check using a fixed sector length in a storage device that supports a plurality of sector lengths.
  • the write gate signal in Fig. 1 (C) is synchronized with the sector pulse in Fig. 1 (B) generated based on the fixed sector length.
  • the defect position is judged from a different pattern compared to the value.
  • the sector pulse generation position is shifted with respect to the first time, the write gate signal is generated, the check data is written, and the read gate signal is generated after writing.
  • the defect is checked for the gap between the sectors that were missing at the first time.
  • Patent Document 1 Japanese Patent Application Laid-Open No. 2004-071061
  • determining a specific sector length among a plurality of sector lengths before shipment from the factory means that a defect check is performed in anticipation of sales for each sector length, unless it is a custom production from a user. There is a problem that production planning is difficult.
  • man-hours are required for defect checking and productivity is lowered.
  • defect checking check data is written and read in units of sectors on the entire surface of the medium, and then the defect is determined by comparing with the expected value on the buffer to identify the defect position, and the index. Since the force also calculates the distance to the defect position, there is a problem that it takes time to check the defect.
  • the conventional defect check reads the check data written on the entire surface of the medium.
  • the memory capacity of the notifier is 4
  • the memory capacity of the notifier is 4
  • An object of the present invention is to provide a storage device, a defect check method, and a program in which a defect check supporting a plurality of sector lengths is completed by writing and reading check data once. Means for solving the problem
  • the present invention provides a storage device.
  • the storage device of the present invention is generated by a check data write / read unit for writing and reading defect check data in units of data frames between servo frames recorded on a medium, and reading of check data in units of data frames.
  • Log creation unit that creates and saves log information from defect detection data, and defective sector information that creates and stores defective sector information (defective sector map) that indicates the position of the defective sector at a predetermined sector length by analyzing the log information
  • a creation unit that creates and saves log information from defect detection data, and defective sector information that creates and stores defective sector information (defective sector map) that indicates the position of the defective sector at a predetermined sector length by analyzing the log information
  • a creation unit that creates and saves log information from defect detection data, and defective sector information that creates and stores defective sector information (defective sector map) that indicates the position of the defective sector at a predetermined sector length by analyzing the log information
  • a creation unit that creates and saves log information
  • the defective sector information creation unit creates the log information defect sector information created in the process of the previous track in parallel with the writing / reading process of one track performed in the check data writing / reading unit. Execute the process.
  • the check data writing / reading unit includes a read channel circuit (RDC), and the read channel circuit converts the analog read signal of the head into a digital signal and outputs a check data demodulated, and an analog read signal. It is possible to select and set the second mode for outputting defect detection data in which analog fluctuations including levels and shifts due to defects are determined. The second mode is selected and set to output defect detection data.
  • RDC read channel circuit
  • the check data writing / reading unit starts writing check data for one track and starts reading check data for one track at each timing when the first servo gate signal is obtained after on-tracking to the track to be processed.
  • the switch to the next track is instructed sequentially, and the log creation unit creates and saves log information from the defect detection data read by the track force and saves the index address pointer indicating the log position immediately after the index.
  • the defective sector information creation unit reads and processes the log information from the log position indicated by the index address pointer.
  • the log creation unit processes defect detection data output by medium reading in units of data frames and then saves it as log information.
  • the log creation unit compares the defect detection data with preset mask data, and excludes it from the log target when it is determined as a mask target.
  • the log creation unit compares the defect detection data with the preset mask data and determines that it is not masked, the log creation unit compares the defect detection data with a predetermined defect selection value, and logs when the defect selection value is included. Save as information.
  • the log creation unit expands the preceding medium detection data, combines it with the subsequent medium detection data, and converts it into one defect detection data.
  • the log creating unit stores defect information determined from the defect detection data following the frame start position information for each data frame as log information.
  • the log creation unit stores defect start position, defect length, and defect type as defect information.
  • the defective sector information creation unit converts one or more pieces of defect information included in the log information into a sector number, and if the total number of defects in the same sector exceeds the CC correction capability, a defect sector is detected as a defect sector. Register in sector information.
  • the defective sector information creation unit creates defective sector information from log information for a plurality of different sector lengths as necessary.
  • the defective sector information creation unit changes the sector length to another predetermined sector length and logs the defective sector information when the total number of defective sectors exceeds a predetermined allowable value. Recreate from
  • the present invention provides a storage device defect checking method.
  • the defect check method of the present invention comprises a check data write / read step for writing and reading defect check data in units of data frames between servo frames recorded on a medium;
  • Defective sector indicating the position of the defective sector in a predetermined sector length by analyzing log information
  • the present invention provides a program executed by a computer of a storage device.
  • the program of the present invention is stored in the computer of the storage device.
  • a check data write / read step for writing and reading defect check data in units of data frames between servo frames recorded on the medium
  • a defective sector information creation step for creating and storing defective sector information indicating a position of a defective sector in a predetermined sector length by analyzing log information
  • a storage device that supports a plurality of sector lengths by performing a defect check by writing and reading check data in units of data frames between servo frames recorded on a medium.
  • a defect check by writing and reading check data in units of data frames between servo frames recorded on a medium.
  • the writing of check data to the medium is performed by analyzing the log information of the previous track and creating defective sector information.
  • the creation of defective sector information can be completed almost at the same time as the creation of log information by means of processing, and the processing time can be shortened compared to the case where defective sector information is created after storage on the nof Can also reduce the buffer capacity [0029]
  • the defect detection data obtained by determining the level fluctuation or level shift due to the medium defect of the head read signal is output as the operation mode of the read channel used for reading.
  • Second mode acquire the defect detection data for which the defect is determined as check data, and create log information to create the log information.
  • 1 mode it is not necessary to compare the read check data output from the read channel with the expected value to determine the defect position, reducing the processing load of the defect check and shortening the processing time.
  • defect detection data Processing such as rounding that is integrated into one when the occurrence interval is short reduces the registration capacity of the required log information, and reduces the burden and time of creating defective sector information by analyzing log information Can be reduced.
  • FIG. 1 A time chart of writing / reading check data twice in a conventional device that supports a plurality of sector lengths.
  • FIG. 2 is a block diagram of a functional configuration of a magnetic disk device according to the present invention.
  • FIG. 4 Explanatory drawing of check data writing process in the device configuration of FIG.
  • FIG. 6 Explanatory drawing of check data read processing in the device configuration of FIG.
  • FIG. 7 Time chart of read processing of FIG.
  • FIG. 9 Explanatory diagram of log information and index address pointer created by the read process of FIG.
  • FIG. 11 Flow chart of defect check processing by the processor of FIG.
  • FIG. 12 Format explanatory diagram of defect log information stored in DRAM of Fig. 2
  • FIG. 13 Flow chart of log registration process by defect check in Fig. 2
  • FIG. 22 is a flowchart of defective sector map creation processing by the processor of FIG.
  • FIG. 23 is a flowchart of defective sector map creation processing following FIG.
  • FIG. 2 is a block diagram of a magnetic disk apparatus to which the defect check processing according to the present invention is applied.
  • a magnetic disk device known as a hard disk drive (HDD) is composed of a circuit board 10 and a disk enclosure 11.
  • the circuit board 10 is provided with a processor 12, a hard disk controller (HDC) 14, a read channel (RDC) 16, a servo control unit 18, and a DRAM 20.
  • the disk enclosure 11 is provided with a read Z write amplifier 24, a head assembly 26, a voice coin motor 28 and a spindle motor 30.
  • One or a plurality of magnetic disk media are mounted on the rotation shaft of the spindle motor 30 and rotated at a constant speed.
  • the head assembly 26 is supported at the tip of the head actuator's arm, and the head actuator 26 is driven by a voice coil motor 28, thereby combining the head assembly 26 with a read head and a write head.
  • the head is positioned with respect to the medium surface of the magnetic disk medium.
  • the write head of the composite head provided in the head assembly 26 is connected to the write amplifier side of the read / write amplifier 24, and the read head is connected to the read amplifier side of the read / write amplifier 24.
  • the read Z write amplifier 24 is provided with a head select circuit of the head provided in the head assembly 26, and performs writing or reading by a head select signal based on a write command or a read command from the processor 12. Select one head.
  • the processor 12 provided in the circuit board 10 is provided with a check data writing / reading unit 32, a log creating unit 34, and a defect sector information creating unit 36 as functions realized by program execution or firmware. Yes.
  • the hard disk controller 14 is provided with a FIF 038, a formatter 40, a sector pulse generator 42 and a defect checker 44.
  • the read channel 16 has a function of outputting defect detection data used to create defect log information in the defect check processing of the present invention when the check data is read from the magnetic disk medium. 48 and a mode setting section 46 are provided.
  • the DRAM 20 stores check data 50 used for defect check and defect log information 52 created and registered by reading the check data from the magnetic disk medium. ing. Furthermore, the defect sector map created by calculation from the defect log information 52 obtained by the defect check process of the present invention is not shown in the disk enclosure 11 and is stored in the system area of the magnetic disk medium. Is done. [0040]
  • the circuit board 10 and the disk enclosure 12 perform normal write processing and read processing based on commands from the host. Here, the normal operation of the magnetic disk device will be briefly described as follows.
  • the processor 12 decodes the write command and functions as a transfer buffer if necessary.
  • the write data received including the buffering of the DRAM 20 is converted into a predetermined data format by the formatter 40 provided in the hard disk controller 14, and an ECC code is added by an ECC processing unit (not shown), so that the write system in the read channel 16 After scramble, RLL code conversion, and write compensation, writing is performed on the magnetic disk medium from the write head of the selected head via the head assembly 26 from the write amplifier.
  • a head positioning signal is given from the processor 12 to the servo control unit 18 using a DSP or the like, and the head is sought to the position instructed by the command by the voice coil motor 28, and then the positioning control is performed to turn on the track Go and go.
  • the read signal read from the read head selected by the head select of the head assembly 26 is amplified by the read amplifier and then input to the read system of the read channel 16.
  • Read data is recovered by partial response maximum likelihood detection (PRML), etc., ECC processing is performed by the hard disk controller 14 to detect and correct errors, and then buffered in DRAM 20 as a transfer buffer, and the read data is hosted from the host interface. Forward to.
  • PRML partial response maximum likelihood detection
  • the check data writing / reading unit 32 provided in the processor 12 expands the check data 50 on the DRAM 20 when the defect check processing is started, and then passes through the hard disk controller 14 and the read channel 16 to the disk enclosure. On the 11th magnetic disk medium, a check data writing / reading process is performed in which check data is recorded after being written in units of data frames between servo frames.
  • the log creating unit 34 of the processor 12 detects a defect generated by the check data writing / reading unit 32 by reading the check data in units of magnetic disk medium force data frames.
  • the log data also creates log information and registers it in the DRAM 20 as defect log information 52.
  • the mode setting unit 46 performs mode setting for enabling the function of the defect detection unit 48 in the read channel 16.
  • the analog read signal read from the magnetic disk medium by the head is converted from analog to digital, and the read data is demodulated by partial response maximum likelihood detection, etc., as in the case of read operation by a read command from a normal host.
  • Two operation modes are selectable: the first mode for output and the second mode for output of defect detection data by discriminating fluctuations due to defects such as the level of the analog read signal from the head and level shift .
  • the mode setting unit 46 sets the second mode in which defect detection data is output as read data to the lead channel 16.
  • the function of the defect detection unit 48 is made effective.
  • the read channel 16 sends the defect detection data to the NRZ data if a defect is determined.
  • the defect detection data is registered in the DRAM 20 as defect log information 52 under the instruction of the log creating unit 34.
  • the defect detection data output from the read channel 16 is sent from the formatter 40 of the hard disk controller 14 to the defect checker 44, and further stored in the DRAM 20 through the FIF 038.
  • the defect checker 44 removes the defect detection data output from the read channel 16 from the log target by mask data, extracts it as a log target by the log selection value, and continues the defect detection data at a predetermined data interval. After processing such as rounding to be combined in one case, it is registered in the defect log information 52 via FIF038.
  • the defective sector information creation unit 36 analyzes the defect log information 52 registered in the DRAM 20 to detect defective sectors in specific sector lengths in a plurality of sector lengths supported by the magnetic disk device of the present invention.
  • a defective sector map as defective sector information indicating the position of the disk is created and stored in the system area of the magnetic disk medium.
  • FIG. 3 is an explanatory diagram of a servo frame and a data frame in a track of the magnetic disk medium provided in the magnetic disk device of FIG. Figure 3 shows one track on a magnetic disk medium.
  • the indexed servo frame 56-1 storing index information is provided at the beginning of the track, and the servo frame 56-1 with the index is used as the starting point.
  • Data frames 58-1 to 58-n are arranged between a plurality of servo frames 56-2 to 56n starting from the indexed servo frame 56-1 and the data frames 58-1 1 58 — For each of the two, data is read and written after sector formatting with multiple sector lengths, eg 512 bytes or 520 bytes.
  • FIG. 4 is an explanatory diagram of the check data writing process in the apparatus configuration of FIG. 2, and FIF038, formatter 40, sector pulse generator 42 and defect checker in the processor 12 and hard disk controller 14 shown in FIG. 44, and a read channel 16 is shown arranged along the data flow with respect to the magnetic disk medium 60.
  • the check data 50 for defect check is written and set from the processor 12 to the DRAM 20.
  • the check data 50 for example, a repetitive pattern of “0011” which is a 2T pattern is used, and the check data 50 is created by using 8 to 10 bits of this repetitive pattern as one word.
  • the size is as follows.
  • the processor 12 sets the sector pulse generator 42 so as to generate a sector pulse once immediately after the servo gate signal indicating the servo frame.
  • the processor 12 activates the formatter 40 to write the check data 50 for defect checking to the disk medium 60.
  • the formatter 40 generates the write gate signal WG in synchronization with the sector pulse over the data frame period between the servo sectors, and sends the check data to the disk via the read channel 16 while the write gate signal is valid. Write to media 60.
  • the sector length in writing check data is set to be the data frame length.
  • a write gate signal is generated based on the Kuta pulse, and the number of sectors in this case matches the number of servo frames per revolution.
  • FIG. 5 is a time chart of the index signal, servo gate signal, sector pulse, and write gate signal in the writing process of FIG.
  • the index signal in Fig. 5 (A) is generated by reading the indexed servo frame 56-1 shown in Fig. 3, and the servo gate signal in Fig. 5 (B) is generated in each servo frame 56-1-56 in Fig. 3. — Occurs in sync with reading n.
  • Sector panorace in Fig. 5 (C) occurs once between servo gates at the timing immediately after the servo gate.
  • the write gate signal in Fig. 5 (D) is generated in synchronization with the sector pulse, and is generated immediately before the next servo gate signal rising force S, that is, the end position of the data frame determined by the servo gate interval.
  • the check data reading process shown in FIG. 6 is performed.
  • the sector noise generator 42 is set so as to generate sector pulses at the same timing as the writing, and then the formatter 40 is started and writing from the disk medium 6 is completed. Read check data through read channel 16.
  • the read channel 16 enables the defect detection unit 48 in the second mode setting by the mode setting unit 46, and therefore the analog level level of the head read signal, shift, etc. Force Defect detection data for which a defect has been determined is output as NRZ data.
  • the defect detection data is stored in the FIF 038 through the defect checker 44 as well as the formatter 40 force. When a certain amount of defect detection data is accumulated in FIF038, it is transferred to DRAM 20 and registered as defect log information 52.
  • the defect checker 44 performs mask processing, extraction processing, rounding, etc. on the defect detection data obtained via the formatter 40 based on preset mask data, log selection value, and defect length extension count. Process and output to FIF038.
  • FIG. 7 is a time chart of the reading process of FIG.
  • the index signal is generated by reading the first indexed servo frame, and at the same time, the servo gate signal is generated as shown in Fig. 7 (B), and the servo gate signal is generated at intervals of a fixed rotation angle.
  • Figure 7 (C) The sector pulse generator 42 in FIG. 6 is set so that the sector pulse is generated once immediately after the servo gate. This is the same as the writing process in FIG. (D) Read gate signal is generated between data frames.
  • the formatter 40 is activated immediately after the servo gate signal in synchronization with the sector pulse, and the defect from the read channel 16 based on the reading from the disk medium 60 over the data frame in which the input gate signal is effectively output. Output detection data.
  • the output data from the read channel 16 at the time of reading in FIG. 6 is that the AD converter provided in the read channel 16 generally has a predetermined read latency time. There is a time delay until the NRZ data as detection data becomes valid.
  • the read NRZ data in Fig. 7 (D) after the read gate is asserted and a predetermined read latency time T1 has elapsed, the read NRZ data is output to the formatter 40 as valid data. . Similarly, when the read gate is negated, the read NRZ data is also invalidated after the predetermined read latency time T1, and this is repeated thereafter.
  • writing and reading are performed by starting the formatter synchronized with the index, but for the second and subsequent tracks, the formatter is asynchronous with the index after on-tracking by track switching. Start up, write and read, and wait for rotation.
  • FIG. 8A is a time chart of the first track to be processed first.
  • the formatter is activated in synchronization with the sector pulse 152 based on the index 150, and the check data by the write gate signal or the read gate signal is checked.
  • the defect detection data D1-Dn of each data frame obtained by reading is obtained continuously for one track in order from the data frame immediately after the index, and sequentially in the log area 64 on the DRAM in FIG.
  • an index address pointer 651 indicating the data position immediately after the index is held.
  • one track seek was performed in synchronization with the index signal at time tl, and the second track was on-track at time t2 after a certain skew time.
  • the formatter is started in synchronization with the sector pulse 156 based on the servo gate signal 154 obtained first, and the check data is written and read by the write gate signal or the read gate signal.
  • the defect detection data D1-Dn of each data frame obtained by reading is delayed by the skew time accompanying the track switching with respect to the index 150; ⁇
  • One track in order starting from the standing data frame 9 are stored in order in the log area 64 of FIG. 9, and at the same time, the index address pointer 65-2 indicating that the data immediately after the index is the defect detection data Dn-1 is held.
  • the formatter is started in synchronization with the sector pulse 160 based on the servo gate signal 158 obtained first after t5, and the check data is written and read repeatedly.
  • the formatter is started in synchronization with the servo gate obtained first thereafter, and the check data is written and read.
  • log information can always be processed in the order of data frames arranged in order with the index as the head position.
  • the searched index address pointer 65-1 indicates the first defect detection data D1.
  • the second track reads the position force defect detection data D1—Dn shifted from the index by the skew time associated with the track switching, and stores them in order.
  • the index address pointer 65-2 is the defect detection data.
  • Dn—1 indicates that the data is read immediately after the index.
  • the defect detection data is read in the order of Dn-1, Dn, Dl, Dn-2 from the position of the searched index address pointer 65-2, so that the index is the starting position. It can be read as defect detection data arranged in a row.
  • the formatter is activated in synchronization with the index for the first track.
  • the first track is also immediately after on-track.
  • the formatter is started in synchronization with the servo gate obtained first.
  • FIG. 10 is a time chart of the defect check process of the present invention according to the apparatus configuration of FIG. 2, and shows the linked operation of the plug processor 12, formatter 40, defect checker 44 and servo control unit 18.
  • the address HHCC for the magnetic disk medium is set in step S1, and the head is magnetized by the seek control step S301 of the servo control unit 18. For example, it is positioned on the first track on the outermost circumference of the disk medium.
  • the address HHCC is a combination of the head address HH and the cylinder address (track address) CC. Therefore, the head selection (medium surface selection) and the target track address are specified by the address HHCC.
  • step S2 the processor 12 checks the generation of the servo gate signal in step S2.
  • step S3 the data Instructs writing of check data in frame units.
  • the formatter 40 Upon receiving this instruction, the formatter 40 is activated, and the check data is read in units of data frames in step S101 in synchronization with the sector pulse generated immediately after the servo gate from the sector pulse generator 42 set at the same time. 16 to write to magnetic disk media. This leads to the track shown in Figure 3, starting from the first data frame 58-1 and ending. For each data frame 58-n, the check data is written in units of data frames, that is, the check data is written repeatedly with the data frame as one sector.
  • the processor 12 checks the end of writing of the last data frame in step S4. When the end of writing of the last data frame is determined, the processor 12 instructs reading of data in units of data frames in step S5. .
  • the formatter 40 sets the read gate under the same sector pulse generation conditions, reads the data of the magnetic disk medium in units of data frames in step S102, and reads the read channel 16 The defect detection data obtained via is transferred to the defect checker 44.
  • the defect checker 44 processes the defect detection data transferred via the formatter 40 in step S201 to create defect log information. When a certain amount of data is accumulated in the FIF038, it is registered in the DRAM 20 as defect log information 52. To do.
  • step S7 When the on-track state is reached in one track seek by the address set in step S7, the processor 12 monitors the generation of the servo gate signal in step S8, and if the servo gate signal is determined, step S3 and Similarly, in step S9, the writing of check data in units of data frames is instructed. In response to this, in step S103, the check data is written in units of data frames on the magnetic disk medium. Subsequently, the processor 12 executes processing for creating defect sector position information, that is, a defect sector map, for the defect log information registered for the previous track in step S10.
  • defect sector position information that is, a defect sector map
  • step S12 the processor 12 monitors the end of writing of the final data frame, and if it is determined, in step S12, the processor 12 instructs the formatter 40 to read the check data in units of data frames as in step S5.
  • step S104 the data is read from the magnetic disk medium in step S104, the defect detection data obtained from the read channel 16 is transferred to the defect checker 44, and the defect detection data transferred in step S202 is loaded into the data. Therefore, log information is stored in FIF038, and when it reaches a certain amount, it is registered in DRAM 20 as defect log information 52.
  • the processor 12 performs a process of creating a defective sector map as defective sector information power defective sector position information registered for the previous track in step S13.
  • This defective sector position information creation process is a process following step S10.
  • a defect obtained by the previous process for the previous track is created in parallel with the creation and storage of defect log information by writing and reading check data for a certain track. Analyzing log information, a defective sector map for a predetermined sector length is created by parallel processing. For this reason, the creation process of the defect sector map for all tracks is completed almost simultaneously with the creation of the defect log information by writing and reading the check data for all the tracks on the disk medium surface.
  • FIG. 11 is a flowchart of defect check processing by the processor 12 of FIG.
  • the defect check processing by the processor 12 is performed by setting an address HHCC that specifies the head track position of a head having a magnetic disk medium in step S1 and selecting a head, and then performing a seek control instruction in step S2. Position the head on the first track.
  • step S3 the generation of the servo gate signal is checked in step S4. If this is determined, the check data is written in step S5 and checked. Start writing data.
  • step S6 a defective sector map creation process based on the log information of the previous track is executed.
  • this process is skipped because there is no log information of the previous track.
  • step S8 the check data is instructed to be read in units of data frames, and the check data is read from the written track. Output more defect detection data
  • step S9 defect detection data is output from the read channel 16 and supplied to the defect checker 44 via the formatter 40.
  • the defect detection data is masked, extracted as log information, and further rounded to combine adjacent defect detection data at a predetermined interval. Creates log information and holds an index address pointer for the log information.
  • step S10 a defective sector map is created based on the log information of the previous track. This is a process following step S6. If the process is completed in step S6, the process in step S10 is not necessary.
  • step S11 when it is determined in step S11 that the reading of the last data frame has been completed, the defect checking process for one track has been completed. Accordingly, in step S12, it is checked whether or not the last track force is satisfied. In step S13, the track address, that is, the cylinder address CC is incremented by 1. Then, the process returns to step S2, and the same process is repeated for the next track.
  • step S14 If it was the last track in step S12, it is checked in step S14 whether or not it is the last head. If it is not the last head, the head address HH is incremented by 1 in step S15, and then the process proceeds to step S1. Return, the head selection and head address HHCC are set for the next disk medium surface, and the same processing is repeated.
  • step S14 If it is the last head in step S14, a defective sector map creation process based on the log information is performed for the last track in step S16, and then the process ends.
  • the defective sector map created for each magnetic disk medium surface is stored in the system area of the checked medium surface.
  • FIG. 12 is an explanatory diagram of the format of defect log information reflected in the DRAM 20 of FIG.
  • a log area 64 of a predetermined size is secured in the memory area 62 of the DRAM 20, and the head position of the registered log information 66 is expressed by the value of the log address pointer that changes as indicated by an arrow 56-1.
  • the initial value of the log address pointer is the top address, and every time the registered log information 66 is stored in the log area 64, the log address pointer is incremented as indicated by arrow 56-1, and the end address is indicated by arrow 56-2. Log registration is terminated when it reaches the limit, and an error occurs due to mouth over for further log registration.
  • the log information registered in the log area 64 shows the frame start mark 68-1 for one track, frame number 70-2, followed by the entry 78-1 , 78-2 ... are registered.
  • Entries 78—1 contains
  • the entry 78—i following the frame start mark 68—i and frame number 70—i is defect detection information in an arbitrary track i.
  • the format of the defect log information according to the present invention is not limited to the embodiment shown in FIG. 12.
  • Data channel force Information that can specify the defect detection position in the track starting from the index based on the obtained defect detection information. If so, it can be in a format that stores appropriate information.
  • the index address pointer shown in FIG. 9 for designating the frame number immediately after the index for each track is held.
  • FIG. 13 is a flowchart of log registration processing by the defect checker 44 of FIG.
  • the defect detection data 80 shown in Fig. 14 (A) is processed, so the mask data 82 in Fig. 14 (B) and the log selection value in Fig. 14 (C).
  • 84 and the defect length extension count 85 of FIG. 14 (D) are preset.
  • the defect detection data in Fig. 14 (A) is composed of hexadecimal data (h3 h2 hi), which becomes (bl2-bl) in binary display.
  • the analog read signal due to the defect is shown in bit b6.
  • the low level is set, the high level of the analog read signal due to the defect is set in bit b7, and the level shift of the analog read signal due to the defect is set in bit b8.
  • the mask data 82 in Fig. 14 (B) sets bits to be removed from the log target by masking the defect detection data.
  • the mask data 82 is hexadecimal (OlOOh), and defect detection data in which bit 1 in the binary bit string shown on the right side is set is excluded from the log target as a mask target.
  • the log selection value 84 in FIG. 14C extracts defect detection data to be registered as log information. Use for.
  • the log selection value 84 is, for example, hexadecimal (OOCOh). Bit 1 in the binary bit string shown on the right side is set, and defect detection data is selected and registered as log data.
  • a priority is set between the mask data 82 and the log selection value 84, and the priority is set so that the mask data 82 is higher. That is, when the bit of the mask data 82 is set in the defect detection data and the bit of the log selection value 84 is set, the mask data 82 is set to be effective and excluded from the log target. Therefore, the log selection value 84 is applied to defect detection data that is not subject to removal by the mask data 82.
  • the defect length extension count 85 in FIG. 14 (D) is positioned backward by extending the defect detection data located at the beginning when the interval of the defect detection data output from the read channel 16 is within 5 words, for example. Executes the process of collecting defect detection data to be rounded into one defect detection data.
  • step S1 the AND of the defect detection data and the mask data 82 is calculated, and in step S2, whether or not “0” is checked. If it is not “0”, the mask data 82 bit is set in the defect detection data, so it is determined that the mask is to be masked and log registration is not performed.
  • step S 2 If it is “0” in step S 2, the mask detection target is not used in step S 3 and AND between the defect detection data and the log selection value 84 is calculated in step S 4. If the calculation result is negative at step S5, since the bit of the log selection value 84 is set in the defect detection data, the process proceeds to step S6, and this defect detection data is logged. If it is “0” in step S5, the log selection value 84 bit is not set, and the log is not excluded in step S10.
  • defect checker 44 further executes event processing for specific defect detection data. As defect detection data to be subjected to event processing, for example, there is abnormal data by thermal asperity (TA).
  • TA thermal asperity
  • the defect checker 44 obtains an event count by counting the abnormality detection data output from the lead channel 16 due to the occurrence of thermal asperity, and if the event count exceeds a predetermined threshold value, the defect checker 44 has a fault check status. Abnormally terminate the processing.
  • FIGS. 15 to 21 show specific examples of processing of defect detection data in the log registration process of FIG.
  • FIG. 15 is an explanatory diagram of defect detection data and log data in which the mask data bit is not set and the log selection value bit is set and registered in the log.
  • Fig. 15 (A) shows defect detection data. Defect detection data 86, 88, and 90 are obtained sequentially.
  • the number “l (080h)” shown below the defect detection data 86 is the number of words of the defect detection data at the first number “1”, and the next “(080h)” is the defect detection data in hexadecimal. It is itself.
  • the defect detection data 86 is followed by 5 words of no defect data, followed by 2 words of defect detection data 88, which is “2 (060h)” in hexadecimal.
  • the log data 92 that has been rounded in this defect length extension process has a word length of 1 word for defect detection data 86, 5 words for data without defects, and 2 words for defect detection data 88. It becomes 8 words with a word. Also, the log data content is obtained by adding defect detection data 86 and defect detection data 88.
  • the defect detection data 90 becomes log data as it is.
  • FIG. 16 is an explanatory diagram of defect detection data and log data whose log registration is excluded by mask data.
  • defect detection data 94, 96, 98 in Fig. 16 (A) (140h) of defect detection data 96 is ANDed with the mask data 82 in Fig. 14 (B), the calculation result does not become "0"
  • the remaining defect detection data 94 and 98 are directly used as log data 94 and 98 as a mask target.
  • FIG. 17 is an explanatory diagram of defect detection data and log data that are excluded from log registration because the log selection value 84 is not set. If the AND of the defect detection data 100, 102, and 104 in Fig. 17 (A) is calculated with the mask data 82 in Fig. 14 (B), the calculation result is "0". It will not be excluded.
  • FIG. 18 is an explanatory diagram of defect detection data and log data that are rounded by expanding continuous defect detection data.
  • the defect detection data 106 and 108 are continuous, and the defect detection data 110 and 112 are continuous over 10 words of the data having no defect.
  • the log data is 114 by rounding the data from 1 into 1 and the content is 2 words.
  • the defect detection data 110 has no mask data bit set and the log selection value bit is set. If the bit of the log selection value is set, it is excluded from the log target.
  • FIG. 19 is an explanatory diagram of defect detection data and log data adjacent to each other within 5 words where the defect length extension count is a threshold value.
  • the defect detection data 116, 118, and 120 in FIG. 19 (A) are not all masked and are all logged because the log selection value bit is set. Furthermore, the defect length extension count L from the defect detection data 116 to the defect detection data 120 is
  • defect detection data 118 is expanded and the three pieces of defect detection data 116, 118, 120 are registered as log data 122 rounded into one.
  • This log data 122 has a word length
  • FIG. 20 is an explanatory diagram of defect detection data and log data adjacent to each other exceeding the defect length extension count threshold.
  • Defect detection data 124, 126, and 128 in Fig. 20 (A) have a defect length extension count.
  • defect detection data 126 is excluded from the log target because there is no set bit of the log selection value, and the log data becomes two defect detection data 124 and 128.
  • FIG. 21 is an explanatory diagram of log registration when defect detection data having mask data bits exists in continuous defect detection data.
  • the bit of the mask data 82 in FIG. 12B is set in the defect detection data 132 at the center. Since the defect detection data 132 is excluded from the log target as a mask target, the log data shown in FIG. 21B becomes two defect detection data 130 and 134.
  • FIGS. 22 and 23 are flowcharts of the defective sector map creation process by the processor 12 of FIG.
  • the defective sector map creation process is executed in a state where the registration log information 66 is stored in the log area 64 as shown in FIG.
  • initial sector size setting, track number initialization, and frame number initialization are performed in step S1. For example, when 512 bytes and 520 bytes are supported as the sector length, for example, a sector size of 512 is set as an initial value.
  • step S2 the first frame is searched for the registration log information, and the start and end positions of the virtual sector are calculated in the frame in step S4 via the bit of the last frame in step S3.
  • step S5 the first one word of the log information power is read. This first word is either the frame start mark 64-1 or the defect start position 72-1 in FIG.
  • defect start position 72-1 is the position indicated by the index address pointer stored at the time of log creation.
  • step S6 it is checked whether or not the read position is “OxFFFF” indicating a frame start mark. If no effort is made at the frame start position, the value read at step S5 is the defect start position 72-1 at the beginning of entry 78-1 in Fig. 12, for example, so the process proceeds to step S7. Read a word.
  • step S8 it is checked whether the defect type is a registration target. If the defect type is a registration target, the process proceeds to step S9, where the defect position and the defect length are converted into virtual sector numbers in the frame. In step S10, the total defect number is updated for each virtual sector in the frame.
  • step S5 one word is read from the log information, and the processing of steps S6 and S10 is repeated.
  • step S6 the frame start mark at the head of the next frame is determined in step S6 in step S6.In this case, the process proceeds to step S11, and the total number of defects for each virtual sector in the frame. For each sector checked in step S13 until all virtual sectors in the frame are checked in step S12. Check if the total defect count power 3 ⁇ 4cc correction threshold is exceeded, and if so, register as a defective sector in step S14.
  • step S11—S14 The processing of step S11—S14 is repeated until all the virtual sectors in the frame are checked in step S12. When the check is completed, the process proceeds to step S15. After the frame number is incremented, the process ends in step S3. Check whether the frame is strong. If it is not the final frame, repeat steps S4 to S14 for the next frame.
  • step S3 If it is determined in step S3 that the frame is the final frame, the process proceeds to step S16 in Fig. 23 to determine whether or not the force has been checked up to the final track. If it is not the final track, the track number is incremented in step S17. Then, the process returns to step S2 to repeat the defective sector map creation process for the next track.
  • step S16 in Fig. 23 If it is determined in step S16 in Fig. 23 that the end of the last track has been checked, the process proceeds to step S18. If it is satisfied, the process proceeds to step S21, and the defective sector map creation process is terminated as normal termination.
  • step S19 If the total number of defective sectors does not satisfy the required device capacity in step S18, the process proceeds to step S19 to check whether the sector length can be changed. If the sector length can be changed from 512 bytes, which is the initial sector size in step S1, to 520 bytes, which is another sector length, for example, proceed to step S20 to change the track number after changing the sector length. After the initialization and the frame number initialization, the process returns to step S20 in FIG. 23 to repeat the process of creating a defective sector map for the same log information target with the changed sector length as the virtual sector.
  • step S19 If the sector length cannot be changed in step S19, the process ends abnormally in step S22.
  • the creation process of the defective sector map shown in FIG. 22 and FIG. 23 is performed as shown in the time chart of FIG. 10 and the processor flowchart of FIG. In parallel with this, a defective sector map is created for the log information obtained for the previous track.
  • a defective sector map is created by initializing a specific sector size among a plurality of sector sizes. Create a defective sector map that shows the byte distance to the defect position from the index cover without setting the size, and save it in the media system area. Then, set the sector size and set the sector-compatible defective sector map. You can also make it.
  • the present invention provides a program for defect check processing executed by the processor 12 provided in the magnetic disk control device of FIG. 2, and this program includes the flowchart of FIG. 11 and FIG. Thus, each processing content of the flowchart of FIG. 23 is obtained.
  • the present invention includes appropriate modifications that do not impair the object and advantages thereof, and is not limited by the numerical values shown in the above embodiments.
  • the above embodiment is an example of a magnetic disk device used as a hard disk drive.
  • the present invention can be applied as it is to an appropriate storage device that requires a defect check of a medium.

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
  • Recording Or Reproducing By Magnetic Means (AREA)

Abstract

　チェックデータ書込読出部は欠陥のチェックデータを媒体に記録されたサーボフレーム間のデータフレーム単位に書き込んで読み出す。チェックデータ書込読出部のリードチャネルは、ヘッド読取信号のレベルやシフト等の媒体欠陥によるアナログ的な変動を判定した欠陥検出データを出力する。ログ作成部はデータフレーム単位のチェックデータの読出しで生成された欠陥検出データからログ情報を作成する。欠陥セクタ情報作成部は、ログ情報の解析により、所定セクタ長における欠陥セクタの位置を示す欠陥セクタマップを作成して保存する。

Description

明 細 書
記憶装置、欠陥チェック方法及びプログラム
技術分野
[0001] 本発明は、磁気ディスク等の媒体の欠陥をチェックして欠陥セクタ情報を生成する 記憶装置、欠陥チェック方法及びプログラムに関し、特に、異なるセクタ長のセクタフ ォーマットをサポートする欠陥セクタ情報を作成可能な記憶装置、欠陥チ ック方法 及びプログラムに関する。
背景技術
[0002] 従来、ハードディスクドライブ等の記憶装置における媒体の欠陥（デフエタト）をチェ ックする方法にあっては、セクタ長が例えば 512バイトに固定されており、固定セクタ 長を用いることでセクタ単位で媒体の欠陥をチェックしている。この欠陥チェックは、 固定セクタ長でチェックデータを書き込んだ後にセクタ単位に読出してバッファに格 納し、ノッファ上で期待値と異なるパターン力も欠陥位置を検出し、インデックスから のバイト距離を計算により求め、媒体のシステムエリアに記憶して 、る。
[0003] 一方、近年にあっては、複数のセクタ長をサポートしている記憶装置があり、例えば 512バイトと 520バイトのセクタ長をサポートしている。このような複数のセクタ長をサ ポートした記憶装置の欠陥チェックは、例えば 512バイトの固定セクタ長を用いて欠 陥チェックを行った後に、セクタの先頭位置をずらして欠陥チェックを行うことで、最 初の欠陥チェックで抜けて 、たセクタ間の隙間をチェックして 、る。
[0004] 図 1 (A)— (C)は複数のセクタ長をサポートしている記憶装置における固定セクタ 長を用いた 1回目の欠陥チェックである。図 1 (A)のサーボゲート信号に挟まれたデ 一タフレーム内で、固定セクタ長に基づいて発生した図 1 (B)のセクタパルスに同期 して図 1 (C)のライトゲート信号を出力し、ライトゲート信号の期間に亘りチェックデー タを書き込み、書き込み後に、同じく図 1 (B)と同じセクタノルスに同期した図 1 (C)リ ードゲート信号の期間に亘り読出し、ノ ッファ上で期待値と比較して異なるパターン から欠陥位置を判定する。 [0005] 次に図 1 (D)—（F)のように、 1回目に対しセクタパルスの発生位置をずらしてライト ゲート信号を発生してチェックデータを書き込み、書き込み後にリードゲート信号を発 生して読出し、 1回目で抜けていたセクタ間の隙間の部分について欠陥チェックを行 つている。
特許文献 1：特開 2004-071061号公報
発明の開示
発明が解決しょうとする課題
[0006] し力しながら、このような複数のセクタ長をサポートする記憶装置の欠陥チェックに あっては、次の問題がある。
[0007] まず出荷後にセクタ長の変更を行わな 、が複数セクタ長をサポートして 、る装置で は、出荷後に使用されるセクタ長で欠陥チェックする必要があるため、欠陥チェックを 行う前に装置のセクタ長を決定しなければならない。
[0008] しかし、工場出荷前に複数のセクタ長の中の特定のセクタ長に決定することは、ュ 一ザからの注文生産でない限りセクタ長毎に販売を見込んで欠陥チェックを行うこと となり、生産計画が立てづらい問題がある。また、特定のセクタ長の欠陥チェックで許 容欠陥数の許容値を満たさな力つた装置についてセクタ長を変更する場合には、変 更後のセクタ長を用いて再度欠陥チェックを行う必要があり、欠陥チェックに工数が かかり、生産性が低下する問題がある。
[0009] 一方、出荷後にセクタ長をユーザが変更できる装置では、図 1に示したように、セク タ位置をずらして欠陥を 2回チェックするため、欠陥チェックに要する時間が固定セク タ長の装置に比べ少なくとも 2倍必要となり、同じ生産設備であれば、生産台数が半 減してしまうと!、う深刻な問題を生ずる。
[0010] また従来の欠陥チェックにあっては、媒体の全面についてチェックデータをセクタ単 位に書き込んで読み出した後にバッファ上で期待値との比較により欠陥を判定して 欠陥位置を特定し、インデックス力も欠陥位置までのノ イト距離を計算しているため、 欠陥チェックに時間力かるという問題がある。
[0011] 更に、従来の欠陥チェックは、媒体の全面に書き込んだチェックデータを読み出し
、ノ ッファに格納して比較しているため、ノ ッファのメモリ容量が媒体対応の例えば 4 0GBといった膨大な容量を必要とする問題がある。
[0012] 本発明は、 1回のチェックデータの書き込みと読出しで複数のセクタ長をサポートし た欠陥チェックが完了する記憶装置、欠陥チェック方法及びプログラムを提供するこ とを目的とする。 課題を解決するための手段
[0013] (装置）
本発明は、記憶装置を提供する。本発明の記憶装置は、欠陥のチェックデータを 媒体に記録されたサーボフレーム間のデータフレーム単位に書き込んで読み出すチ エックデータ書込読出部と、データフレーム単位のチェックデータの読出しで生成さ れた欠陥検出データからログ情報を作成して保存するログ作成部と、ログ情報の解 析により所定セクタ長における欠陥セクタの位置を示す欠陥セクタ情報 (欠陥セクタ マップ)を作成して保存する欠陥セクタ情報作成部とを備えたことを特徴とする。
[0014] ここで、欠陥セクタ情報作成部は、チェックデータ書込読出部で行われる 1トラック の書込み読出し処理と並行して 1トラック前の処理で作成されたログ情報力 欠陥セ クタ情報を作成する処理を実行する。
[0015] チェックデータ書込読出部はリードチャネル回路 (RDC)を備え、リードチャネル回 路はヘッドのアナログ読出信号をデジタル変換して復調したチェックデータを出力す る第 1モードと、アナログ読取信号の欠陥によるレベル及びシフトを含むアナログ的 変動を判定した欠陥検出データを出力する第 2モードとを選択設定可能であり、第 2 モードを選択設定して欠陥検出データを出力させる。
[0016] チェックデータ書込読出部は、処理対象トラックにオントラックした後に最初のサー ボゲート信号が得られるタイミング毎に、 1トラック分のチェックデータの書込み開始、 1トラック分のチェックデータの読出し開始、更に次トラックへの切替え指示を順次行 い、ログ作成部は、トラック力 読み出された欠陥検出データからログ情報を作成して 保存すると共にインデックス直後のログ位置を示すインデックスアドレスポインタを保 存し、欠陥セクタ情報作成部は、ログ情報をインデックスアドレスポインタの示すログ 位置から読出して処理する。 [0017] ログ作成部は、データフレーム単位の媒体読出しにより出力される欠陥検出データ を加工した後にログ情報として保存する。ログ作成部は、欠陥検出データと予め設定 したマスクデータを比較し、マスク対象と判別した場合にログ対象から除外する。
[0018] ログ作成部は、欠陥検出データと予め設定したマスクデータを比較してマスク非対 象と判別した場合は、予め定めた欠陥選択値と比較し、欠陥選択値を含む場合に口 グ情報として保存する。
[0019] ログ作成部は、欠陥検出データの出現間隔が予め設定した閾値以下の場合、先行 する媒体検出データを拡張して後続する媒体検出データに結合して 1つの欠陥検出 データに変換する。
[0020] ログ作成部は、ログ情報として、データフレーム毎に、フレーム開始位置情報に続 いて欠陥検出データから判別した欠陥情報を格納する。ログ作成部は、欠陥情報と して、欠陥開始位置、欠陥長及び欠陥タイプを格納する。
[0021] 欠陥セクタ情報作成部は、ログ情報に含まれる 1又は複数の欠陥情報をセクタ番号 に変換し、同一セクタ内の合計欠陥数力 ¾CC訂正能力を越えている場合に欠陥セ クタとして欠陥セクタ情報に登録する。
[0022] 欠陥セクタ情報作成部は、必要に応じて異なる複数のセクタ長についてログ情報か ら欠陥セクタ情報を作成する。
[0023] 欠陥セクタ情報作成部は、所定セクタ長の欠陥セクタ情報力 欠陥セクタ総数が所 定の許容値を超えた場合、セクタ長を他の所定セクタ長に変更して欠陥セクタ情報を ログ情報から再作成する。
[0024] (方法）
本発明は記憶装置の欠陥チェック方法を提供する。本発明の欠陥チェック方法は 欠陥のチェックデータを媒体に記録されたサーボフレーム間のデータフレーム単位 に書き込んで読み出すチェックデータ書込読出ステップと、
データフレーム単位のチェックデータの読出しで生成された欠陥検出データ力 口 グ情報を作成して保存するログ作成ステップと、
ログ情報の解析により、所定セクタ長における欠陥セクタの位置を示す欠陥セクタ 情報を作成して保存する欠陥セクタ情報作成ステップと、
を備えたことを特徴とする。
[0025] (プログラム）
本発明は、記憶装置のコンピュータにより実行されるプログラムを提供する。本発明 のプログラムは、記'隐装置のコンピュータに、
欠陥のチェックデータを媒体に記録されたサーボフレーム間のデータフレーム単位 に書き込んで読み出すチェックデータ書込読出ステップと、
データフレーム単位のチェックデータの読出しで生成された欠陥検出データ力 口 グ情報を作成して保存するログ作成ステップと、
ログ情報の解析により、所定セクタ長における欠陥セクタの位置を示す欠陥セクタ 情報を作成して保存する欠陥セクタ情報作成ステップと、
を実行させることを特徴とする。
[0026] なお、本発明の欠陥チェック方法及びプログラムの詳細は、本発明の記憶装置の 場合と基本的に同じである。
発明の効果
[0027] 本発明によれば、チェックデータを媒体に記録されたサーボフレーム間のデータフ レーム単位に書き込んで読み出ことにより欠陥チェックを行うことで、複数のセクタ長 をサポートする記憶装置であっても、 1回の欠陥チェックでセクタ間の隙間を含む全 てのデータフレームの欠陥をチェックすることができ、固定セクタ長の装置と同等の時 間で欠陥チェックを完了でき、複数のセクタ長をサポートする装置の欠陥チェックに 要する時間を短縮できる。
[0028] またトラック単位に行われるチェックデータの書込み読出し及びログ情報の作成と 並行して 1トラック前のログ情報を解析して欠陥セクタ情報を作成することで、媒体に 対するチェックデータの書込み読出しによるログ情報の作成と略同時に欠陥セクタ情 報の作成を終了することができ、ノ ッファ上に格納した後に欠陥セクタ情報を作成す る場合に比べ、処理時間が短縮でき、且つ処理に必要なバッファ容量も少なくできる [0029] また媒体力もチェックデータを読み出す際に、読出しに使用するリードチャネルの 動作モードとして、ヘッド読取信号の媒体欠陥によるレベル変動やレベルシフトを判 定して得られた欠陥検出データを出力するモード (第 2モード)を設定し、チェックデ ータとして欠陥が判定された欠陥検出データを取得してログ情報を作成するため、へ ッド読取信号から読出チェックデータを復調する動作モード (第 1モード)でリードチヤ ネルから出力された読出チェックデータを期待値と比較して欠陥位置を判定する処 理が不要となり、欠陥チェックの処理負担を低減し、処理時間を短縮できる。
[0030] また、リードチャネルから出力される欠陥検出データをログ情報として登録する際に 、マスク処理による不要な欠陥検出データの排除、欠陥選択値による必要な欠陥検 出データの抽出、欠陥検出データの出現間隔が短い場合に 1つに統合する丸めな どの加工を行うことで、必要とするログ情報の登録容量を低減し、ログ情報の解析に よる欠陥セクタ情報の作成処理の負担と時間を低減できる。
[0031] 更に、ログ情報から欠陥セクタ情報を作成する際に、欠陥セクタ総数が装置の許容 量を超えた場合には、セクタ長を変更し、同じログ情報に基づく再計算で欠陥セクタ 情報を作成でき、一度，欠陥検出データのログ情報を作成しておけば、その後のセク タ長の変更に対し同じログ情報を使用して変更セクタ長対応の欠陥セクタ情報を簡 単に作成できる。
図面の簡単な説明
[0032] [図 1]従来の複数のセクタ長をサポートする装置の 2回に亘るチェックデータの書込み 読出しのタイムチャート
[図 2]本発明による磁気ディスク装置の機能構成のブロック図
[図 3]媒体トラックにおけるサーボフレームとデータフレームの説明図
[図 4]図 2の装置構成におけるチェックデータ書込み処理の説明図
[図 5]図 4の書込み処理のタイムチャート
[図 6]図 2の装置構成におけるチェックデータ読出し処理の説明図
[図 7]図 6の読出し処理のタイムチャート
[図 8]インデックスと非同期にトラック切替えとチェックデータの書込み読出しを行う本 発明による処理のタイムチャート
[図 9]図 8の読出し処理で作成されたログ情報とインデックスアドレスポインタの説明図
[図 10]図 2の構成による欠陥チェック処理のタイムチャート
[図 11]図 2のプロセッサによる欠陥チェック処理のフローチャート
[図 12]図 2の DRAMに保存する欠陥ログ情報のフォーマット説明図
[図 13]図 2の欠陥チェックによるログ登録処理のフローチャート
[図 14]ログ登録処理における欠陥検出データ、マスクデータ及びログ選択値の説明 図
[図 15]マスクデータのビットセットがなく且つログ選択値のビットがセットされてログ登 録された欠陥検出データとログデータの説明図
[図 16]マスクデータによりログ登録が除外される欠陥検出データとログデータの説明 図
[図 17]ログ選択値のビットがセットされていないことでログ登録が除外される欠陥検出 データとログデータの説明図
[図 18]連続する欠陥検出データを拡張して 1つに丸める欠陥検出データとログデー タの説明図
[図 19]欠陥長拡張カウント閾値以内の間隔で隣接する欠陥検出データとログデータ の説明図
[図 20]欠陥長拡張カウント閾値を越えた間隔で隣接する欠陥検出データとログデー タの説明図
[図 21]連続する欠陥検出データの中にマスクデータのビットがセットされた欠陥検出 データが存在する場合のログ登録の説明図
[図 22]図 2のプロセッサによる欠陥セクタマップ作成処理のフローチャート
[図 23]図 22に続く欠陥セクタマップ作成処理のフローチャート
発明を実施するための最良の形態
図 2は本発明による欠陥チェック処理が適用される磁気ディスク装置のブロック図で ある。図 2において、ハードディスクドライブ (HDD)として知られた磁気ディスク装置 は、回路ボード 10とディスクェンクロージャ 11で構成される。 [0034] 回路ボード 10には、プロセッサ 12、ハードディスクコントローラ（HDC) 14、リードチ ャネル (RDC) 16、サーボ制御部 18及び DRAM20が設けられる。ディスクェンクロ ージャ 11には、リード Zライトアンプ 24、ヘッドアッセンブリイ 26、ボイスコィノレモータ 28及びスピンドルモータ 30が設けられる。
[0035] スピンドルモータ 30の回転軸には図示しない磁気ディスク媒体が 1または複数装着 され、一定速度で回転される。ヘッドアッセンブリイ 26はヘッドァクチユエ一タのァ一 ムの先端に支持されており、ヘッドァクチユエータをボイスコイルモータ 28により駆動 することで、ヘッドアッセンブリイ 26のリードヘッドとライトヘッドを備えた複合ヘッドを、 磁気ディスク媒体の媒体面に対し位置決めを行う。
[0036] ヘッドアッセンブリイ 26に設けている複合ヘッドのうちのライトヘッドはリード/ライト アンプ 24のライトアンプ側と接続され、またリードヘッドはリード/ライトアンプ 24のリ ードアンプ側と接続される。またリード Zライトアンプ 24にはヘッドアッセンブリイ 26に 設けているヘッドのヘッドセレクト回路が設けられており、プロセッサ 12からのライトコ マンドまたはリードコマンドに基づくヘッドセレクト信号で書込みまたは読出しを行い、 いずれか 1つのヘッドを選択する。
[0037] 回路ボード 10に設けたプロセッサ 12には、プログラム実行もしくはファームウェアに より実現される機能として、チェックデータ書込読出部 32、ログ作成部 34及び欠陥セ クタ情報作成部 36が設けられている。このプロセッサ 12における欠陥チェック処理の ための機能に対応する機能として、ハードディスクコントローラ 14には、 FIF038、フ ォーマッタ 40、セクタパルス発生器 42及び欠陥チェッカ 44が設けられる。
[0038] またリードチャネル 16には、本発明の欠陥チェック処理において欠陥ログ情報の作 成に使用する欠陥検出データを磁気ディスク媒体からのチェックデータの読出しの 際に出力する機能として、欠陥検出部 48とモード設定部 46が設けられている。
[0039] 更に本発明の欠陥チェック処理に対応して DRAM20には、欠陥チェックに使用す るチェックデータ 50と、チェックデータの磁気ディスク媒体からの読出しで作成登録さ れる欠陥ログ情報 52が格納されている。更に、本発明の欠陥チェック処理で得られ た欠陥ログ情報 52から計算により作成した欠陥セクタマップは、ディスクェンクロージ ャ 11に設けて ヽる図示しな!、磁気ディスク媒体のシステム領域に格納される。 [0040] 回路ボード 10及びディスクェンクロージャ 12は、ホストからのコマンドに基づき通常 の書込処理及び読出処理を行う。ここで、磁気ディスク装置における通常の動作を簡 単に説明すると次のようになる。
[0041] ホストからのライトコマンドとライトデータをノ、ードディスクコントローラ 14に設けた図 示しないホストインターフェースで受けると、ライトコマンドをプロセッサ 12で解読し、 必要に応じて、転送バッファとして機能する DRAM20のバッファリングを含めて受信 したライトデータを、ハードディスクコントローラ 14に設けたフォーマッタ 40で所定の データ形式に変換すると共に、図示しない ECC処理部により ECC符号を付加し、リ ードチャネル 16におけるライト系でスクランブル、 RLL符号変換、更に書込補償を行 つた後、ライトアンプからヘッドアッセンブリイ 26を介して選択したヘッドのライトヘッド カゝら磁気ディスク媒体に書き込む。
[0042] このときプロセッサ 12から DSPなどを用いたサーボ制御部 18にヘッド位置決め信 号が与えられており、ボイスコイルモータ 28によりヘッドをコマンドで指示された位置 にシークした後にオントラックする位置決め制御を行って 、る。
[0043] 一方、リード動作は、ヘッドアッセンブリイ 26のヘッドセレクトで選択されたリードへッ ドから読み出された読出信号をリードアンプで増幅した後に、リードチャネル 16のリー ド系に入力し、パーシャルレスポンス最尤検出（PRML)などによりリードデータを復 調し、ハードディスクコントローラ 14で ECC処理を行ってエラーを検出訂正した後、 転送バッファとしての DRAM20にバッファリングし、ホストインターフェースからリード データをホストに転送する。
[0044] 次に磁気ディスク装置について、本発明による欠陥チェック処理のための機能を説 明する。プロセッサ 12に設けたチェックデータ書込読出部 32は、欠陥チェック処理を 起動した際に、 DRAM20上にチェックデータ 50を展開した後、ハードディスクコント ローラ 14及びリードチャネル 16を経由して、ディスクェンクロージャ 11側の磁気ディ スク媒体に対し、媒体に記録されて 、るサーボフレーム間のデータフレーム単位にチ エックデータを書き込んだ後に読み出すチェックデータ書込読出処理を実行する。
[0045] またプロセッサ 12のログ作成部 34は、チェックデータ書込読出部 32により、磁気デ イスク媒体力 データフレーム単位のチェックデータの読出しで生成された欠陥検出 データ力もログ情報を作成し、 DRAM20に欠陥ログ情報 52として登録する。
[0046] ここで、磁気ディスク媒体に書き込まれたチェックデータを読み出す際に、リードチ ャネル 16は欠陥検出部 48の機能を有効とするモード設定がモード設定部 46により 行われている。リードチャネル 16には通常のホストからのリードコマンドによるリード動 作時と同様、磁気ディスク媒体からヘッドにより読み出されたアナログ読出信号を AD 変換した後にパーシャルレスポンス最尤検出などによりリードデータを復調して出力 する第 1モードと、ヘッドからのアナログ読取信号のレベル大小やレベルシフトなどの 欠陥による変動を判別して欠陥検出データを出力する第 2モードとの 2つの動作モー ドが選択可能である。
[0047] そこで本発明にあっては、プロセッサ 12で欠陥チェック処理を実行する際には、リ ードチャネル 16に対し欠陥検出データをリードデータとして出力する第 2モードをモ ード設定部 46により設定し、欠陥検出部 48の機能を有効としている。
[0048] このため、欠陥検出処理の際に磁気ディスク媒体に書き込まれたチェックデータか らのヘッド読取信号について、リードチャネル 16からは、もし欠陥が判別された場合 には欠陥検出データを NRZデータとして出力し、この欠陥検出データをログ作成部 34の指示の下に DRAM20に欠陥ログ情報 52として登録する。
[0049] リードチャネル 16から出力された欠陥検出データは、ハードディスクコントローラ 14 のフォーマッタ 40から欠陥チェッカ 44に送られ、更に FIF038を通って DRAM20に 格納される。欠陥チェッカ 44は、リードチャネル 16から出力された欠陥検出データに 対し、マスクデータによるログ対象からの排除、ログ選択値によるログ対象としての抽 出、更に欠陥検出データが所定のデータ間隔で連続した場合に 1つにまとめる丸め などの加工を行った後に、 FIF038を介して欠陥ログ情報 52に登録する。
[0050] 欠陥セクタ情報作成部 36は、 DRAM20に登録された欠陥ログ情報 52の解析によ り、本発明の磁気ディスク装置がサポートしている複数のセクタ長における特定のセ クタ長における欠陥セクタの位置を示す欠陥セクタ情報としての欠陥セクタマップを 作成して磁気ディスク媒体のシステム領域に保存する。
[0051] 図 3は図 2の磁気ディスク装置に設けて 、る磁気ディスク媒体のトラックにおけるサ ーボフレームとデータフレームの説明図である。図 3は磁気ディスク媒体上の 1トラック を取り出して直線上に示しており、トラック先頭にはインデックス情報が格納されたィ ンデッタス付サーボフレーム 56—1が設けられ、インデックス付サーボフレーム 56—1 を起点として一定の回転角度間隔でサーボフレーム 56— 2, 56-3, " ' 56—11が設け られ、 1トラック当り即ち 1周当りのサーボフレームの数は 140乃至 150フレームとなつ ている。
[0052] インデックス付サーボフレーム 56—1を先頭とした複数のサーボフレーム 56— 2— 56 nの間にはデータフレーム 58—1— 58— nが配置されており、データフレーム 58—1 一 58— 2のそれぞれに、複数のセクタ長例えば 512バイトまたは 520バイトのセクタ長 によるセクタフォーマットを行った後に、データの読み書きが行われることになる。
[0053] 図 4は図 2の装置構成におけるチェックデータ書込処理の説明図であり、図 2に示し たプロセッサ 12及びハードディスクコントローラ 14の中の FIF038、フォーマッタ 40、 セクタパルス発生器 42及び欠陥チェッカ 44、更にリードチャネル 16を、磁気ディスク 媒体 60に対するデータの流れに沿って配置して示している。
[0054] 図 4のチェックデータの書込処理にあっては、まずプロセッサ 12から DRAM20に 欠陥チェック用のチェックデータ 50を書き込んでセットする。チェックデータ 50として は、例えば 2Tパターンである「0011」の繰返しパターンを使用し、この繰返しパター ンの 8— 10ビットを 1ワードとしてチェックデータ 50を作成する。また、チェックデータ 5 0は図 3に示したデータフレーム 58— 1— 58— n単位に書き込まれることから、 (チェックデータ長） = (フレームデータ長） X (フレーム数）
のサイズとしている。
[0055] またプロセッサ 12は、サーボフレームを示すサーボゲート信号の直後にセクタパル スを 1回発生するように、セクタパルス発生器 42を設定する。セクタパルス発生器 42 の設定が完了すると、プロセッサ 12は欠陥チェック用のチェックデータ 50をディスク 媒体 60に書き込むためフォーマッタ 40を起動する。
[0056] フォーマッタ 40はセクタパルスに同期してライトゲート信号 WGをサーボセクタ間の データフレーム期間に亘つて発生し、ライトゲート信号が有効となっている間、チエツ クデータをリードチャネル 16を介してディスク媒体 60に書き込む。
[0057] 即ち、チェックデータの書込みにおけるセクタ長は、データフレーム長となるようにセ クタパルスに基づいてライトゲート信号を発生し、この場合のセクタ数は 1回転当りサ ーボフレームの数に一致する。
[0058] 図 5は図 4の書込処理におけるインデックス信号、サーボゲート信号、セクタパルス 及びライトゲート信号のタイムチャートである。図 5 (A)のインデックス信号は図 3に示 したインデックス付サーボフレーム 56— 1の読取りで発生し、また図 5 (B)のサーボゲ ート信号は図 3の各サーボフレーム 56— 1— 56— nの読取りに同期して発生する。
[0059] 図 5 (C)のセクタパノレスは、サーボゲートの直後のタイミングでサーボゲート間に 1 回発生する。図 5 (D)のライトゲート信号はセクタパルスに同期して発生し、サーボゲ ート間隔で決まるデータフレームの終端位置、即ち次のサーボゲート信号の立ち上 力 Sりの直前で発生する。
[0060] 図 4及び図 5に示したように、あるトラックに対する欠陥チェックデータの書込みが終 了すると、図 6に示すチェックデータの読出処理が行われる。図 6のチヱックデータの 読出処理は、書込時と同様のタイミングでセクタパルスを生成するようにセクタノ ルス 発生器 42を設定した後、フォーマッタ 40を起動して、ディスク媒体 6上から書込みの 済んだチェックデータをリードチャネル 16を介して読み出す。
[0061] リードチャネル 16は図 2に示したように、モード設定部 46による第 2モードの設定で 欠陥検出部 48を有効としており、したがって、ヘッド読取信号のアナログ的なレベル の大小やシフトなど力 欠陥を判定した欠陥検出データを NRZデータとして出力す る。
[0062] 欠陥検出データはフォーマッタ 40力も欠陥チェッカ 44を通って FIF038に格納さ れる。 FIF038に欠陥検出データが一定量蓄積されると、 DRAM20に転送されて 欠陥ログ情報 52として登録される。
[0063] 欠陥チェッカ 44は、予め設定したマスクデータ、ログ選択値及び欠陥長拡張カウン トに基づいて、フォーマッタ 40を経由して得られた欠陥検出データについてマスク処 理、抽出処理、丸め等の加工を施して FIF038に出力する。
[0064] 図 7は図 6の読出処理のタイムチャートである。図 7 (A)で先頭のインデックス付サ ーボフレームの読取りでインデックス信号を発生し、同時に図 7 (B)のようにサーボゲ ート信号を発生し、サーボゲート信号は一定の回転角の間隔で発生する。図 7 (C)の セクタパルスは、サーボゲートの直後に 1回発生するように図 6のセクタパルス発生器 42を設定しており、これは図 5の書込処理と同じであり、セクタパルスに同期して図 7 ( D)のリードゲート信号がデータフレーム間に亘り発生する。
[0065] フォーマッタ 40はセクタパルスに同期してサーボゲート信号直後に起動され、入力 ゲート信号が有効に出力されているデータフレームに亘り、ディスク媒体 60からの読 出しに基づくリードチャネル 16からの欠陥検出データを出力させる。
[0066] ここで図 6の読取時におけるリードチャネル 16からの出力データは、リードチャネル 16に設けている ADコンバータが所定のリードレンテイシイ時間を一般に持つことから 、リードゲートをアサートして力 欠陥検出データとしての NRZデータが有効となるま では時間遅れがある。
[0067] そこで図 7 (D)の読出 NRZデータに示すように、リードゲートをアサートして力も所 定のリードレンテイシイ時間 T1を経過した後に、読出 NRZデータを有効データとして フォーマッタ 40に出力する。リードゲートがネゲートされた場合についても同様に、所 定のリードレンテイシイ時間 T1後に読出 NRZデータを有効力も無効とし、以下これを 繰り返す。
[0068] 次に本発明のチェックデータの読出しによるログ作成で使用するインデックスァドレ スポインタを説明する。
[0069] 本発明の欠陥チェックの処理においてトラック切替えが行われた場合、インデックス 力もフォーマッタ 40を起動すると、回転待ちが発生してチェック時間が増加する。
[0070] そこで、最初に処理する第 1トラックについてはインデックスに同期したフォーマッタ の起動で書込みと読出しを行うが、第 2トラック以降については、トラック切替えにより オントラックした後にインデックスとは非同期にフォーマッタを起動して書込みと読出し を行い、回転待ちをなくす。
[0071] 図 8 (A)は最初に処理する第 1トラックのタイムチャートであり、インデックス 150に基 づいたセクタパルス 152に同期してフォーマッタを起動し、ライトゲート信号又はリード ゲート信号によるチェックデータの書込みと読出しを行う。この場合、読出しにより得ら れる各データフレームの欠陥検出データ D1— Dnは、インデックス直後のデータフレ ームから順番に 1トラック分連続して得られ、図 9の DRAM上のログ領域 64に順番に 格納し、同時にインデックス直後のデータ位置を示すインデックスアドレスポインタ 65 1を保持する。
[0072] 続いて第 2トラックについては、図 9 (B)のように、時刻 tlでインデックス信号に同期 して 1トラックシークを行い、あるスキュー時間後の時刻 t2で第 2トラックにオントラック した場合、その後に最初に得られるサーボゲート信号 154に基づくセクタパルス 156 に同期してフォーマッタを起動し、ライトゲート信号又はリードゲート信号によるチェッ クデータの書込みと読出しを行う。
[0073] この場合、読出しにより得られる各データフレームの欠陥検出データ D1— Dnは、 インデックス 150に対しトラック切替えに伴うスキュー時間分遅; ^立置のデータフレー ムを先頭位置として順番に 1トラック分得られ、図 9のログ領域 64に順番に格納し、同 時にインデックス直後のデータが欠陥検出データ Dn— 1であることを示すインデックス アドレスポインタ 65— 2を保持する。
[0074] 図 8 (C)の第 3トラックについても、第 2トラックのフォーマッタを起動したサーボゲー ト 154に同期した時刻 t4で 1トラックシークを行い、あるスキュー時間後に第 3トラック にオントラックした時刻 t5後に最初に得られるサーボゲート信号 158に基づくセクタ パルス 160に同期してフォーマッタを起動し、チェックデータの書込みと読出しを繰り 返す。
[0075] このように本発明にあっては、第 2トラック以降については、トラック切替え後にオント ラックしたら、その後に最初に得られるサーボゲートに同期してフォーマッタを起動し てチェックデータの書込みと読出しを行うことで、インデックスに同期したトラック切替 えに伴う回転待ちを解消できる。
[0076] 図 9のログ領域 64に格納した欠陥検出データについては、欠陥セクタマップを作成 する際には、各トラックにっき保存されているインデックスアドレスポインタをサーチし 、その位置力も欠陥検出データを読み出すことで、常に、インデックスを先頭位置とし て順番に並んだデータフレームの順番にログ情報を処理できる。
[0077] 例えば図 9の第 1トラックはインデックスの直後から読出した欠陥検出データ D1— D nであることから、サーチしたインデックスアドレスポインタ 65— 1は先頭の欠陥検出デ ータ D1を示しており、欠陥検出データ D1— Dnの順番に読み出す。 [0078] これに対し第 2トラックは、インデックスからトラック切替えに伴うスキュー時間ずれた 位置力 欠陥検出データ D1— Dnを読出して順番に格納しており、インデックスアド レスポインタ 65— 2は欠陥検出データ Dn— 1がインデックス直後に読出したデータで あることを示している。このため第 2トラックについては、サーチしたインデックスァドレ スポインタ 65— 2の位置から欠陥検出データを、 Dn— 1, Dn, Dl, Dn— 2の順 番に読み出すことで、インデックスを先頭位置として順番に並んだ欠陥検出データと して読出すことができる。
[0079] なお、図 9のログ領域の詳細については後の説明で明らかにする。また図 8にあつ ては、説明を容易にするため、第 1トラックについてはインデックスに同期してフォー マッタを起動しているが、実際の装置では、第 1トラックについても、オントラックした直 後に最初に得られるサーボゲートに同期してフォーマッタを起動することになる。
[0080] 図 10は図 2の装置構成による本発明の欠陥チェック処理のタイムチャートであり、プ 口セッサ 12、フォーマッタ 40、欠陥チェッカ 44及びサーボ制御部 18の連係動作とし て示している。
[0081] 図 10において、プロセッサ 12において媒体の欠陥チェック処理が起動すると、ステ ップ S1で磁気ディスク媒体に対するアドレス HHCCをセットし、サーボ制御部 18のシ ーク制御ステップ S301により、ヘッドを磁気ディスク媒体の例えば最外周の先頭トラ ックに位置決めする。なおアドレス HHCCは、ヘッドアドレス HHとシリンダアドレス（ト ラックアドレス） CCを糸且み合わせたものである。したがって、アドレス HHCCによりへッ ドセレクト (媒体面セレクト）と目標トラックアドレスの指定が行われる。
[0082] アドレス HHCCに対するシーク制御によりオントラックが完了すると、プロセッサ 12 はステップ S2でサーボゲート信号の発生をチェックしており、オントラック後に最初の サーボゲート信号が得られるとステップ S3に進み、データフレーム単位のチェックデ ータの書込みを指示する。
[0083] この指示を受けてフォーマッタ 40が起動し、同時に設定されたセクタパルス発生器 42からのサーボゲート直後に発生するセクタパルスに同期してステップ S101でデー タフレーム単位にチェックデータをリードチャネル 16を介して磁気ディスク媒体に書き 込む。これによつて図 3に示したトラックにっき、先頭のデータフレーム 58— 1から最後 のデータフレーム 58— nに向けてデータフレーム単位にチェックデータの書込み、即 ちデータフレームを 1セクタとしたチェックデータの書込みが繰り返し行われる。
[0084] この状態でプロセッサ 12は、ステップ S4で最終データフレームの書込み終了をチ エックしており、最終データフレーム書込終了を判別すると、ステップ S5でデータフレ ーム単位のデータ読出しを指示する。このデータ読出しの指示を受けて、フォーマツ タ 40は、同じセクタパルス発生条件の下にリードゲートを設定して、ステップ S 102で データフレーム単位に磁気ディスク媒体力もの読出しを行って、リードチャネル 16を 介して得られた欠陥検出データを欠陥チェッカ 44に転送する。
[0085] 欠陥チェッカ 44は、ステップ S201でフォーマッタ 40を経由して転送された欠陥検 出データを加工して欠陥ログ情報を作成し、 FIF038で一定量溜まると、 DRAM20 に欠陥ログ情報 52として登録する。
[0086] 続いてプロセッサ 12は、ステップ S6で最終データフレームの読出し終了をチェック しており、これを判別するとステップ S1でセットしたアドレスのトラックに対する欠陥検 出処理の終了を認識し、ステップ S7でアドレス CCを CC = CC + 1にインクリメントして 、サーボ制御部 18にステップ S302のシーク制御を指示し、これによりサーボ制御部 18は、現在のトラックから隣接したトラックにヘッドをシークする 1トラックシークを行う。
[0087] ステップ S7のアドレスセットによる 1トラックシークでオントラック状態になると、プロセ ッサ 12はステップ S8でサーボゲート信号の発生を監視しており、サーボゲート信号 が判別されると、ステップ S3と同様、ステップ S9でデータフレーム単位のチェックデ ータの書込みを指示し、これを受けてフォーマッタ 40力 ステップ S 103でデータフレ ーム単位にチェックデータを磁気ディスク媒体に書き込む。続いてプロセッサ 12は、 ステップ S10で前回のトラックについて登録された欠陥ログ情報について、欠陥セク タ位置情報、即ち欠陥セクタマップの作成処理を実行する。
[0088] 続いてプロセッサ 12は、最終データフレームの書込み終了を監視しており、これを 判別するとステップ S12でデータフレーム単位のチェックデータの読出しをステップ S 5と同様にフォーマッタ 40に指示し、フォーマッタ 40はステップ S 104でデータフレー ム単位に磁気ディスク媒体カゝら読み出して、リードチャネル 16より得られた欠陥検出 データを欠陥チェッカ 44に転送し、ステップ S202で転送された欠陥検出データをカロ ェして FIF038にログ情報を格納し、一定量に達すると DRAM20に欠陥ログ情報 5 2として登録する。
[0089] 続いてプロセッサ 12は、ステップ S13で前回のトラックについて登録された欠陥ログ 情報力 欠陥セクタ位置情報としての欠陥セクタマップの作成処理を行う。この欠陥 セクタ位置情報の作成処理はステップ S10に続く処理となる。
[0090] 即ち本発明にあっては、あるトラックにつ 、てチェックデータの書込みと読出しによ る欠陥ログ情報の作成保存と並行し、 1つ前のトラックについて前回の処理で得られ た欠陥ログ情報を解析して、所定セクタ長における欠陥セクタマップを並行処理によ り作成している。このため、ディスク媒体面の全トラックについてのチェックデータの書 込みと読出しによる欠陥ログ情報の作成とほぼ同時に、全てのトラックについての欠 陥セクタマップの解析による作成処理が終了することになる。
[0091] 図 11は図 2のプロセッサ 12による欠陥チェック処理のフローチャートである。図 11 において、プロセッサ 12による欠陥チェック処理は、ステップ S1で磁気ディスク媒体 のあるヘッドの先頭トラック位置を指定するアドレス HHCCをセットしてヘッド選択を 行った後、ステップ S2でシーク制御指示を行って先頭トラックにヘッドを位置決めす る。
[0092] 続いてステップ S3でオントラック応答を判別すると、ステップ S4でサーボゲート信号 の発生をチェックしており、これを判別するとステップ S5でデータフレーム単位のチェ ックデータの書込指示を行ってチェックデータの書込みを開始する。
[0093] 続、てステップ S6で 1トラック前のログ情報に基づく欠陥セクタマップの作成処理を 実行する。なお先頭トラックの処理にあっては、 1トラック前のログ情報は存在しないこ と力ら、この処理はスキップすることになる。
[0094] 続いてステップ S7で最終データフレームの書込み終了を判別すると、ステップ S8 でデータフレーム単位のチェックデータの読出しを指示し、書込みの済んだトラックか らチェックデータの読出しを行ってリードチャネル 16より欠陥検出データを出力させる
[0095] 続いてステップ S9で、リードチャネル 16より出力されてフォーマッタ 40を介して欠 陥チェッカ 44に欠陥検出データが与えられることから、欠陥チェッカ 44に対しログ情 報の加工登録を指示し、これによつて欠陥検出データのマスク処理やログ情報として の抽出、更には所定間隔で隣接する欠陥検出データを 1つにまとめる丸めなどの加 ェを行った後に、ログ情報を作成し、更にログ情報に対しインデックスアドレスポイン タを保持する。
[0096] 続いてステップ S10で 1トラック前のログ情報に基づく欠陥セクタマップの作成処理 を行う。これはステップ S6に続く処理であり、もしステップ S6で処理が終了していれ ば、ステップ S 10の処理は不要となる。
[0097] 続いてステップ S11で最終データフレームの読出し終了を判別すると、これにより 1 トラック分の欠陥チェック処理が終了したことから、ステップ S12で最終トラック力否か チェックし、最終トラックでなければ、ステップ S 13でトラックアドレス即ちシリンダァドレ ス CCを 1つインクリメントした後、ステップ S 2に戻り、次のトラックについて同様な処理 を繰り返す。
[0098] ステップ S12で最終トラックであった場合には、ステップ S 14で最終ヘッドか否かチ エックし、最終ヘッドでなければ、ステップ S15でヘッドアドレス HHを 1つインクリメント した後、ステップ S1に戻り、次のディスク媒体面についてヘッド選択とヘッドアドレス HHCCをセットして同様な処理を繰り返す。
[0099] ステップ S14で最終ヘッドであった場合には、ステップ S16で最後の 1トラックにつ いてログ情報に基づく欠陥セクタマップの作成処理を行った後、処理を終了する。な お、各磁気ディスク媒体面にっ 、て作成した欠陥セクタマップはチェックした媒体面 のシステム領域に格納する。
[0100] 図 12は図 2の DRAM20に反映する欠陥ログ情報のフォーマット説明図である。図 12において、 DRAM20のメモリ領域 62には所定サイズのログ領域 64が確保され、 登録ログ情報 66の先頭位置は矢印 56—1のように変化するログアドレスポインタの値 で表現される。
[0101] 即ち、ログアドレスポインタは初期値がトップアドレスであり、ログ領域 64に登録ログ 情報 66を格納するごとに矢印 56— 1のようにインクリメントされ、矢印 56— 2に示すよう にエンドアドレスに達した時にログ登録を終了し、それ以上のログ登録に対しては口 グオーバーによりエラーとする。 [0102] ログ領域 64に登録されるログ情報は、登録ログ情報 66について右側に取り出して 示すように、 1トラックについてフレーム開始マーク 68—1、フレーム番号 70— 2、これ に続くエントリ 78— 1, 78-2· · ·の欠陥情報が登録される。
[0103] エントリ 78— 1の内容は
(1)欠陥開始位置 72— 1
(2)欠陥長 74— 1
(3)欠陥タイプ 76— 1
の 3つの情報で構成されている。フレーム開始マーク 68— i、フレーム番号 70— iにこ れに続くエントリ 78— iは任意のトラック iにおける欠陥検出情報である。
[0104] もちろん本発明による欠陥ログ情報のフォーマットは図 12の実施形態限定されず、 データチャンネル力 得られた欠陥検出情報に基づいてインデックスを起点としたト ラック内の欠陥検出位置が特定できる情報であれば、適宜の情報を格納するフォー マット形式することができる。また図 12のログ領域 64に対応して、トラック単位にイン デッタス直後のフレーム番号を指定する図 9に示したインデックスアドレスポインタが 保持される。
[0105] 図 13は図 2の欠陥チェッカ 44によるログ登録処理のフローチャートである。欠陥チ エツ力 44によるログ登録処理にあっては、図 14 (A)に示す欠陥検出データ 80を加工 処理するため、図 14 (B)のマスクデータ 82、図 14 (C)のログ選択値 84及び図 14 (D )の欠陥長拡張カウント 85が予め設定されて 、る。
[0106] 図 14 (A)の欠陥検出データは 16進データ（h3 h2 hi)で構成され、これは 2進 表示すると (bl2— bl)となり、この例ではビット b6に欠陥によるアナログ読出し信号 のレベル小を設定し、ビット b7に欠陥によるアナログ読出信号のレベル大を設定し、 さらにビット b8に欠陥によるアナログ読出信号のレベルシフトを設定している。
[0107] 図 14 (B)のマスクデータ 82は欠陥検出データをマスクすることによりログ対象から 除去するビット設定を行う。この例でマスクデータ 82は 16進で (OlOOh)であり、右側 に示す 2進ビット列の中のビット 1をセットしている欠陥検出データをマスク対象として ログ対象から除外する。
[0108] 図 14 (C)のログ選択値 84は、ログ情報として登録する欠陥検出データを抽出する ために使用する。ログ選択値 84は例えば 16進で (OOCOh)であり、この右側に示す 2 進ビット列の中のビット 1をセットして 、る欠陥検出データをログデータとして選択して 登録する。
[0109] ここでマスクデータ 82とログ選択値 84の間には優先度が設定され、優先度はマスク データ 82が高くなるように設定される。即ち、欠陥検出データにマスクデータ 82のビ ットがセットされ、且つログ選択値 84のビットがセットされていた場合には、優先度の 高 、マスクデータ 82を有効としてログ対象から除外する。従ってログ選択値 84はマス クデータ 82による除去対象とならない欠陥検出データについて適用されることになる
[0110] 図 14 (D)の欠陥長拡張カウント 85は、リードチャンネル 16から出力される欠陥検 出データの間隔が例えば 5ワード以内のとき先頭に位置する欠陥検出データを拡張 して後方に位置する欠陥検出データをまとめて 1つの欠陥検出データに丸める処理 を実行する。
[0111] この図 14 (B)—（D)のマスクデータ 82及びログ選択値 84、欠陥長拡張カウント 85 を設定した図 13のログ登録処理は次のようになる。まずステップ S1で欠陥検出デー タとマスクデータ 82の ANDを算出し、ステップ S2で「0」か否かチェックする。「0」で なければマスクデータ 82のビットが欠陥検出データにセットされていることからマスク 対象と判別してログ登録は行なわな 、。
[0112] ステップ S2で「0」であった場合にはステップ S3でマスク対象とせずステップ S4で欠 陥検出データとログ選択値 84との ANDを算出する。この算出結果につきステップ S 5で「0」でな力つた場合にはログ選択値 84のビットが欠陥検出データにセットされて いることからステップ S6に進み、この欠陥検出データをログする。ステップ S5で「0」で あった場合にはログ選択値 84のビットがセットされていないこと力もステップ S 10で口 グ対象から除外してログを行なわな 、。
[0113] ステップ S6でログ選択値に基づきログ対象とした場合、ステップ S7で前回にログ対 象とした欠陥検出データとの距離が欠陥長拡張カウント 85の設定値である 5ワード以 下か否かチヱックする。 5ワード以下であればステップ S8で先行する欠陥検出データ を拡張してひとつのログにまとめて登録する。 [0114] 欠陥チェッカ 44は、更に、特定の欠陥検出データを対象にイベント処理を実行する 。イベント処理の対象となる欠陥検出データとしては、例えばサーマルアスペリティ (T A)による異常データがある。欠陥チェッカ 44は、サーマルアスペリティの発生によりリ ードチャネル 16から出力された異常検出データを計数してイベントカウントを求め、ィ ベントカウントが所定の閾値を超えた場合、イベントオーバーフローのステータスで欠 陥チ ック処理を異常終了させる。
[0115] 図 15乃至図 21は図 13のログ登録処理における欠陥検出データの加工処理の具 体例である。
[0116] 図 15はマスクデータのビットのセットがなく且つログ選択値のビットがセットされて口 グ登録された欠陥検出データとログデータの説明図である。図 15 (A)は欠陥検出デ ータであり、欠陥検出データ 86, 88, 90が順次得られている。
[0117] 欠陥検出データ 86の下側に示す数字「l (080h)」は先頭の数字「1」が欠陥検出 データのワード数であり、次の「（080h)」が 16進の欠陥検出データそのものである。 欠陥検出データ 86に続いては 5ワードの欠陥なしデータがあり、続いて 2ワードの欠 陥検出データ 88が発生し、その内容は 16進で「2 (060h)」である。続いて 6ワードの 欠陥なしデータをはさんで欠陥検出データ 90が存在し、これは 1ワードであり、その 内容は 16進の「1 (080h)」となっている。
[0118] この図 15 (A)の欠陥検出データ 86, 88, 90について図 14 (B)に示したマスクデ ータ 82の ANDを算出してみると全て「0」となり、従ってマスクデータのビットのセット がな 、ことからマスク対象から除外されて 、る。
[0119] 続いて図 14 (C)のログ選択値 84との ANDを算出すると欠陥検出データ 86, 88, 90の全てがログ選択値 84のビットがセットされて!/、ることから、全てログデータとして 登録する。さらに欠陥検出データ 86, 88, 90について欠陥長拡張カウント 85の値 L としてカウントすると L = 5であり、図 14 (D)でセットした 5ワード以下であることから、先 行する欠陥検出データ 86を拡張して欠陥検出データ 88に合せた 1つのログデータ 9 2に丸めている。
[0120] この欠陥長拡張処理における丸め処理を行なったログデータ 92は、ワード長は欠 陥検出データ 86の 1ワード、欠陥なしデータの 5ワード、欠陥検出データ 88の 2ヮー ドをカ卩えた 8ワードとなる。またログデータの内容は欠陥検出データ 86と欠陥検出デ ータ 88を加算して
(080h) + (060h) = (OEOh)
としている。欠陥検出データ 90はそのままログデータとなる。
[0121] 図 16はマスクデータによりログ登録が除外される欠陥検出データとログデータの説 明図である。図 16 (A)の欠陥検出データ 94, 96, 98のうち欠陥検出データ 96の（1 40h)は図 14 (B)のマスクデータ 82の ANDをとると計算結果が「0」とならず、マスク 対象として除外され、残りの欠陥検出データ 94, 98がそのままログデータ 94, 98と なる。
[0122] 図 17はログ選択値 84がセットされていないことでログ登録から除外される欠陥検出 データとログデータの説明図である。図 17 (A)の欠陥検出データ 100, 102, 104の 全てにつき図 14 (B)のマスクデータ 82との ANDを算出すると算出結果は「0」とはな り、従って 、ずれもマスク対象として除外されることはな 、。
[0123] 次に図 14 (C)のログ選択値 84との ANDを算出すると、欠陥検出データ 102の算 出結果が「0」となり、欠陥検出データ 102はログ選択値のビットがセットされていない ことからログ対象から除外され、欠陥検出データ 100, 104のみをそのままログデータ 100, 104とする。
[0124] 図 18は連続する欠陥検出データを拡張して丸める欠陥検出データとログデータの 説明図である。図 18 (A)にあっては欠陥検出データ 106, 108が連続し、欠陥なし データの 10ワード間をお 、て欠陥検出データ 110, 112が連続して 、る。
[0125] 欠陥検出データ 106, 108はマスクデータのビットのセットがなく且つログ選択値の ビットがセットされていることからログ対象として選択され、さらに欠陥長拡張カウント L は L = 0であることからデータをひとつにまとめる丸めによりログデータ 114として、そ の内容は 2ワードで値は
(080h) + (040h) = (OCOh)
となる。
[0126] 欠陥検出データ 110はマスクデータのビットのセットがなく且つログ選択値のビット がセットされていることからログデータ 110となる力 欠陥検出データ 112については ログ選択値のビットがセットされて ヽな 、ことでログ対象から除外される。
[0127] 図 19は欠陥長拡張カウントが閾値となる 5ワード以内で隣接した欠陥検出データと ログデータの説明図である。図 19 (A)の欠陥検出データ 116, 118, 120は全てマ スク対象とならず且つログ選択値のビットがセットされていることから全てログ対象とな る。さらに欠陥検出データ 116から欠陥検出データ 120までの欠陥長拡張カウント L は
L= l +4 = 5ワード
と閾値以下であることから欠陥検出データ 118を拡張し、 3つの欠陥検出データ 116 , 118, 120をひとつに丸めたログデータ 122として登録する。
[0128] このログデータ 122はワード長が
2+ 1 +4 = 8ワード
であり、その内容は
(080h) + (020h) + (040h) = (OEOh)
となっている。
[0129] 図 20は欠陥長拡張カウントの閾値を超えて隣接する欠陥検出データとログデータ の説明図である。図 20 (A)の欠陥検出データ 124, 126, 128は欠陥長拡張カウン ト が
L= l + 5 = 6ワード
と閾値を超えているため、ひとつの欠陥検出データとする丸めは行なわない。さらに 欠陥検出データ 126はログ選択値のビットのセットがないことからログ対象から除外さ れ、ログデータは欠陥検出データ 124, 128の 2つとなる。
[0130] 図 21は連続する欠陥検出データの中にマスクデータのビットを持つ欠陥検出デー タが存在した場合のログ登録の説明図である。図 21 (A)の欠陥検出データ 130, 13 2, 134のうち、中央の欠陥検出データ 132は図 12 (B)のマスクデータ 82のビットが セットされている。欠陥検出データ 132がマスク対象としてログ対象から除外されるこ とで、図 21 (B)に示すログデータは欠陥検出データ 130, 134の 2つとなる。
[0131] 尚、図 15—図 21に示すログデータにあっては欠陥なしデータに対応した部分のヮ 一ド数は示されておらず、これはログデータとして加工された欠陥検出データのみを ログ情報として登録して 、ることを意味して 、る。
[0132] 図 22,図 23は図 2のプロセッサ 12による欠陥セクタマップ作成処理のフローチヤ一 トである。図 22において、欠陥セクタマップ作成処理は図 12に示したようにログ領域 64に登録ログ情報 66が格納された状態で実行される。
[0133] 図 22において、欠陥セクタマップ作成処理はステップ S1で初期セクタサイズ設定、 トラック番号初期化、フレーム番号初期化を行なう。初期セクタサイズは例えばセクタ 長として 512バイトと 520バイトをサポートする場合には、例えば 512のセクタサイズを 初期値として設定する。
[0134] 続いてステップ S2で登録ログ情報について先頭フレームを検索し、ステップ S3の 最終フレームのビットを経由し、ステップ S4でフレーム内に仮想セクタの開始位置と 終了位置を算出する。続いてステップ S5でログ情報力も最初の 1ワードを読み出す。 この最初の 1ワードは図 12のフレーム開始マーク 64— 1または欠陥開始位置 72— 1の いずれかである。
ここで欠陥開始位置 72— 1は、ログ作成時に保存されたインデックスアドレスポインタ が指し示す位置である。
[0135] 続いてステップ S6でリード位置はフレーム開始マークを示す「OxFFFF」か否かチ エックする。フレーム開始位置でな力つた場合にはステップ S5でリードした値は図 12 の例えばエントリ 78— 1の先頭の欠陥開始位置 72— 1であることからステップ S7に進 み、ログ情報力 次の 2ワードを読み出す。
[0136] この 2ワードは図 12におけるエントリ 78—1の欠陥長 74—1と欠陥タイプ 76—1である 。続いてステップ S8で欠陥タイプは登録対象であるカゝ否かチェックし、登録対象であ ればステップ S9に進み、欠陥位置と欠陥長をフレーム内の仮想セクタ番号に変換す る。続いてステップ S 10でフレーム内の仮想セクタごとに合計欠陥数を更新する。
[0137] 続いてステップ S5に戻りログ情報から 1ワードを読出し、ステップ S6、 S10の処理を 繰り返す。ひとつのフレームの処理が終了するとステップ S6で次のフレーム先頭のフ レーム開始マークがステップ S6で判別されることから、この場合はステップ S 11に進 み、フレーム内の仮想セクタごとの合計欠陥数をチェックし、ステップ S 12でフレーム 内の全ての仮想セクタをチェックするまでステップ S 13でチェックしているセクタごとの 合計欠陥数力 ¾cc訂正の閾値を超えているかチェックし、超えていた場合にはステ ップ S 14で欠陥セクタとして登録する。
[0138] このステップ S11— S14の処理をステップ S12でフレーム内の全ての仮想セクタの チェックが終了するまで繰り返し、チェックが終了するとステップ S15に進み、フレー ム番号をインクリメントした後、ステップ S3で最終フレーム力否かチェックし、最終フレ ームでなければ次のフレームについてステップ S4— S14の処理を繰り返す。
[0139] ステップ S3で最終フレームであることが判別されると、図 23のステップ S16に進み、 最終トラックまでチェックした力否か判別し、最終トラックでなければステップ S 17でト ラック番号をインクリメントし、ステップ S2に戻り次のトラックについて欠陥セクタマップ の作成処理を繰り返す。
[0140] 図 23のステップ S16で最終トラックのチェック終了が判別されるとステップ S18に進 み、装置の欠陥セクタ総数は要求装置容量を満たす力否か、すなわち装置の許容 欠陥セクタ総数を満たす力否かチェックし、満たしていればステップ S21に進み、正 常終了として欠陥セクタマップ作成処理を終了する。
[0141] ステップ S18で欠陥セクタ総数が要求装置容量を満たしていない場合にはステップ S19に進み、セクタ長は変更可能力否かチェックする。セクタ長が例えばステップ S1 の初期セクタサイズである 512バイトに対し、別のセクタ長である 520バイトに変更可 能で有った場合には、ステップ S20に進み、セクタ長を変更した後にトラック番号の初 期化及びフレーム番号の初期化を行なった後、図 23のステップ S20に戻り変更後の セクタ長を仮想セクタとして同じログ情報対象に欠陥セクタマップの作成処理を繰り 返す。
[0142] ステップ S19でセクタ長が変更できない場合にはステップ S22で異常終了とする。
[0143] この図 22,図 23に示す欠陥セクタマップの作成処理は、図 10のタイムチャート及 び図 11のプロセッサのフローチャートに示したように、あるトラックに対するチェックデ 一タの書込読出処理と並行して 1つ前のトラックにつ 、て得られたログ情報を対象に 欠陥セクタマップの作成処理を行なって 、る。
[0144] 従って磁気ディスク媒体面の全トラックにっきチェックデータの書込読出に基づく口 グ情報の登録が完了までの時間に、更に 1トラック分の処理時間を加えた時点で欠 陥セクタマップ処理を終了でき、実質的にはチェックデータの書込読出処理の終了と 同時に欠陥セクタマップの作成処理を終了することができる。
[0145] なお、図 22,図 23の欠陥セクタマップ作成処理にあっては、複数のセクタサイズの 中の特定のセクタサイズを初期設定して欠陥セクタマップを作成して 、るが、セクタサ ィズを設定せず、インデックスカゝら欠陥位置までのバイト距離を示す欠陥セクタマップ を作成して媒体システム領域に保存しておき、その後に、セクタサイズを設定してセク タ対応の欠陥セクタマップを作成するようにしても良 、。
[0146] さらに本発明は図 2の磁気ディスク制御装置に設けたプロセッサ 12で実行される欠 陥チェック処理のためのプログラムを提供するものであり、このプログラムは図 11のフ ローチャート及び図 22,図 23のフローチャートのそれぞれの処理内容をもつことにな る。
[0147] 尚、本発明はその目的と利点を損なうことのない適宜の変形を含み、さらに上記の 実施形態に示した数値による限定は受けな 、。さらに上記の実施形態はハードディ スクドライブとしてしられた磁気ディスク装置を例にとるものであつたが媒体の欠陥チ エックを必要とする適宜の記憶装置にっき、本発明をそのまま適用することができる。

Claims

請求の範囲
[1] 欠陥のチェックデータを媒体に記録されたサーボフレーム間のデータフレーム単位 に書き込んで読み出すチェックデータ書込読出部と、
前記データフレーム単位のチェックデータの読出しで生成された欠陥検出データ からログ情報を作成して保存するログ作成部と、
前記ログ情報の解析により、所定セクタ長における欠陥セクタの位置を示す欠陥セ クタ情報を作成して保存する欠陥セクタ情報作成部と、
を備えたことを特徴とする記憶装置。
[2] 請求項 1記載の記憶装置に於 、て、前記欠陥セクタ情報作成部は、前記チェック データ書込読出部で行われる 1トラックの書込み読出し処理と並行して 1トラック前の 処理で作成された前記ログ情報力 前記欠陥セクタ情報を作成する処理を実行する ことを特徴とする記憶装置。
[3] 請求項 1記載の記憶装置に於いて、前記チェックデータ書込読出部はリードチヤネ ル回路を備え、前記リードチャネル回路はヘッドのアナログ読出信号をデジタル変換 して復調したチェックデータを出力する第 1モードと、前記アナログ読取信号の欠陥 によるレベル及びシフトを含むアナログ的変動を判定した欠陥検出データを出力す る第 2モードとを選択設定可能であり、前記第 2モードを選択設定して前記欠陥検出 データを出力させることを特徴とする記憶装置。
[4] 請求項 1記載の記憶装置に於いて、
前記チェックデータ書込読出部は、処理対象トラックにオントラックした後に最初の サーボゲート信号が得られるタイミング毎に、 1トラック分のチェックデータの書込み開 始、 1トラック分のチェックデータの読出し開始、更に次トラックへの切替え指示を順 次行い、
前記ログ作成部は、前記トラックから読み出された欠陥検出データ力もログ情報を 作成して保存すると共にインデッス直後のログ位置を示すインデックスアドレスポイン タを保存し、
前記欠陥セクタ情報作成部は、前記ログ情報を前記インデックスアドレスポインタの 示すログ位置から読出して処理することを特徴とする記憶装置。
[5] 請求項 1記載の記憶装置に於いて、前記ログ作成部は、前記データフレーム単位 の媒体読出しにより出力される欠陥検出データを加工した後にログ情報として保存す ることを特徴とする記憶装置。
[6] 請求項 5記載の記憶装置に於いて、前記ログ作成部は、前記欠陥検出データと予 め設定したマスクデータを比較し、マスク対象と判別した場合にログ対象から除外す ることを特徴とする記憶装置。
[7] 請求項 5記載の記憶装置に於いて、前記ログ作成部は、前記欠陥検出データと予 め設定したマスクデータを比較してマスク非対象と判別した場合は、予め定めた欠陥 選択値と比較し、前記欠陥選択値を含む場合にログ情報として保存することを特徴と する記憶装置。
[8] 請求項 5記載の記憶装置に於いて、前記ログ作成部は、前記欠陥検出データの出 現間隔が予め設定した閾値以下の場合、先行する媒体検出データを拡張して後続 する媒体検出データに結合して 1つの欠陥検出データに変換することを特徴とする 記憶装置。
[9] 請求項 1記載の記憶装置に於!、て、前記ログ作成部は、前記ログ情報として、前記 データフレーム毎に、フレーム開始位置に続いて前記欠陥検出データ力 判別した 欠陥情報を格納することを特徴とする記憶装置。 請求項 9記載の記憶装置に於いて、前記ログ作成部は、前記欠陥情報として、欠 陥開始位置、欠陥長及び欠陥タイプを格納することを特徴とする記憶装置。 [11] 請求項 1記載の記憶装置に於いて、前記欠陥セクタ情報作成部は、前記ログ情報 に含まれる 1又は複数の欠陥情報をセクタ番号に変換し、同一セクタ内の合計欠陥 数力 ¾cc訂正能力を越えている場合に欠陥セクタとして欠陥セクタ情報に登録する ことを特徴とする記憶装置。
[12] 請求項 1記載の記憶装置に於いて、前記欠陥セクタ情報作成部は、必要に応じて 異なる複数のセクタ長について前記ログ情報力 欠陥セクタ情報を作成することを特 徴とする記憶装置。
[13] 請求項 1記載の記憶装置に於いて、前記欠陥セクタ情報作成部は、前記所定セク タ長の欠陥セクタ情報力 欠陥セクタ総数が所定の許容値を超えた場合、セクタ長を 他の所定セクタ長に変更して欠陥セクタ情報を前記ログ情報力 再作成することを特 徴とする記憶装置。
[14] 欠陥のチェックデータを媒体に記録されたサーボフレーム間のデータフレーム単位 に書き込んで読み出すチェックデータ書込読出ステップと、
前記データフレーム単位のチェックデータの読出しで生成された欠陥検出データ からログ情報を作成して保存するログ作成ステップと、
前記ログ情報の解析により、所定セクタ長における欠陥セクタの位置を示す欠陥セ クタ情報を作成して保存する欠陥セクタ情報作成ステップと、
を備えたことを特徴とする記憶装置の欠陥チヱック方法。
[15] 請求項 14記載の記憶装置の欠陥チェック方法に於 、て、前記欠陥セクタ情報作 成部は、前記チェックデータ書込読出部で行われる 1トラックの書込み読出し処理と 並行して 1トラック前の処理で作成された前記ログ情報から前記欠陥セクタ情報を作 成する処理を実行することを特徴とする記憶装置の欠陥チヱック方法。
[16] 請求項 14記載の記憶装置の欠陥チェック方法に於いて、前記チェックデータ書込 読出ステップは、ヘッドのアナログ読出信号をデジタル変換して復調したチェックデ ータを出力する第 1モードと、前記アナログ読取信号の欠陥によるレベル及びシフト を含むアナログ的変動を判定した欠陥検出データを出力する第 2モードとを選択設 定可能なリードチャネル回路に対し、前記第 2モードを選択設定して前記欠陥検出 データを出力させることを特徴とする記憶装置の欠陥チェック方法。
[17] 請求項 14記載の記憶装置の欠陥チェック方法に於いて、
前記チェックデータ書込読出ステップは、処理対象トラックにオントラックした後に最 初のサーボゲート信号が得られるタイミング毎に、 1トラック分のチェックデータの書込 み開始、 1トラック分のチェックデータの読出し開始、更に次トラックへの切替え指示 を順次行い、
前記ログ作成ステップは、前記トラック力 読み出された欠陥検出データ力 ログ情 報を作成して保存すると共にインデッス直後のログ位置を示すインデックスアドレスポ インタを保存し、
前記欠陥セクタ情報作成ステップは、前記ログ情報を前記インデックスアドレスボイ ンタの示すログ位置力 読出して処理することを特徴とする記憶装置の欠陥チェック 方法。
[18] 請求項 14記載の記憶装置の欠陥チェック方法に於いて、前記ログ作成ステップは 、前記データフレーム単位の媒体読出しにより出力される欠陥検出データを加工した 後にログ情報として保存することを特徴とする記憶装置の欠陥チェック方法。
[19] 記 '慮装置のコンピュータに、
欠陥のチェックデータを媒体に記録されたサーボフレーム間のデータフレーム単位 に書き込んで読み出すチェックデータ書込読出ステップと、
前記データフレーム単位のチェックデータの読出しで生成された欠陥検出データ からログ情報を作成して保存するログ作成ステップと、
前記ログ情報の解析により、所定セクタ長における欠陥セクタの位置を示す欠陥セ クタ情報を作成して保存する欠陥セクタ情報作成ステップと、 を実行させることを特徴とするプログラム。 請求項 27記載の記憶装置に於いて、前記欠陥セクタ情報作成部は、前記チェック データ書込読出部で行われる 1トラックの書込み読出し処理と並行して 1トラック前の 処理で作成された前記ログ情報力 前記欠陥セクタ情報を作成する処理を実行する ことを特徴とする記憶装置。
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