WO2006080146A1 - プローブカード、およびその製造方法。 - Google Patents

プローブカード、およびその製造方法。 Download PDF

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WO2006080146A1
WO2006080146A1 PCT/JP2005/022614 JP2005022614W WO2006080146A1 WO 2006080146 A1 WO2006080146 A1 WO 2006080146A1 JP 2005022614 W JP2005022614 W JP 2005022614W WO 2006080146 A1 WO2006080146 A1 WO 2006080146A1
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fine
substrate
manufacturing
nozzle
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PCT/JP2005/022614
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Kazuhiro Murata
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National Institute Of Advanced Industrial Science And Technology
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    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R3/00Apparatus or processes specially adapted for the manufacture or maintenance of measuring instruments, e.g. of probe tips
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
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    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/06711Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
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    • Y10T29/49Method of mechanical manufacture
    • Y10T29/49002Electrical device making
    • Y10T29/49117Conductor or circuit manufacturing
    • Y10T29/49124On flat or curved insulated base, e.g., printed circuit, etc.
    • Y10T29/49126Assembling bases

Definitions

  • the present invention relates to a method for forming a bump by discharging a liquid material containing ultrafine metal particles by a fine ink jet method, and a method for manufacturing a probe force code by forming a bump serving as a probe on a substrate.
  • the present invention also relates to a probe card in which a fine diameter bump formed by a fine ink jet method is provided on a substrate as a probe, and to a probe card in which a bump is formed on a flexible resin.
  • a semiconductor test is generally performed by bringing a probe card having a plurality of three-dimensional metal terminals (probes) into contact with a semiconductor bare chip.
  • methods for forming a probe on a probe card include a plating method, a method using a metal needle directly, a method using solder, and a method using tearing a bonding wire.
  • the distance between terminals of semiconductors is rapidly narrowing, and these methods are no longer compatible.
  • Patent Document 1 discloses a method in which a liquid composition containing a conductive material is discharged onto a substrate, waits for the liquid droplets to solidify on the substrate, and are repeatedly stacked to form bumps.
  • this method since the layers are stacked while being further sintered, it takes too much time to make a sufficiently high structure.
  • it is not possible to reduce the amount of droplets ejected onto the substrate it is difficult to form fine bumps, and it is impossible to meet the demand for a narrow pitch of semiconductor terminals.
  • Patent Document 1 Japanese Patent Application Laid-Open No. 2003-218149
  • An object of the present invention is to provide a probe card manufacturing method capable of simplifying the manufacturing process and saving energy and resources. Another object of the present invention is to provide a probe card that can flexibly cope with narrowing of the terminal pitch, diversification of the terminal arrangement, frequent changes thereof, and the like, and a manufacturing method thereof.
  • a further object of the present invention is to provide a probe card that exhibits a cushioning effect against the pressure at the time of contact with a semiconductor chip and enables all the probe terminals to be evenly contacted, and a method for manufacturing the same.
  • the flexible bump is provided on the substrate, and the fine bump is formed on the top of the grease.
  • the fine ink jet method is a method of forming the fine bumps in which the fine droplets fly and adhere by concentration of an electric field and the droplets are deposited by drying and solidifying (1) to (5) The method of manufacturing a probe card according to item 1 above.
  • a probe card comprising fine bumps formed by discharging a liquid material containing metal ultrafine particles onto a substrate by a fine ink jet method.
  • the manufacturing process of the probe card can be simplified by using ink jet, and energy and resources can be saved.
  • the probe card manufacturing method of the present invention by changing the process data for controlling the ejection of the ink jet, it is possible to form fine bumps with various patterns and to flexibly change the terminal arrangement frequently. It can correspond to.
  • the drying power of the fine droplets discharged during the formation of the fine bumps is high, there is no need for a sintering step for each droplet discharge, and the fine bumps that become the probe Can be formed in a short time.
  • the probe card obtained by the manufacturing method of the present invention uses fine bumps as probes, it can meet the demand for narrow pitch.
  • the probe card also exhibits a cushioning effect against the contact pressure of the probe, enabling even contact of all of the probe terminals.
  • FIG. 1 is a schematic diagram showing a manufacturing process of a fine three-dimensional structure according to the manufacturing method of the present invention at each stage of an initial stage (A), a middle stage (B), and a late stage (C).
  • FIG. 2 schematically shows an example of a probe card manufactured by the manufacturing method of the present invention. It is a fragmentary sectional view.
  • FIG. 4 is a schematic diagram for explaining the calculation of the electric field strength of the nozzle in the manufacturing method of the present invention.
  • FIG. 5 is a drawing-substituting photograph showing a laser micrograph of bumps on the probe card obtained in Example 1.
  • FIG. 6 is a drawing-substituting photograph showing a micrograph (magnification of 5,000 times) of bumps on the probe card obtained in Example 1.
  • FIG. 7 is a drawing-substituting photograph showing a micrograph (magnification of 2,000 times) of bumps on the probe card obtained in Example 2.
  • Fine droplets Fine droplets
  • the probe card manufacturing method of the present invention is characterized in that a fine ink jet method is used to form bumps (hereinafter referred to as a three-dimensional structure or a three-dimensional structure!) To be a probe.
  • a fine ink jet method is used to form bumps (hereinafter referred to as a three-dimensional structure or a three-dimensional structure?) To be a probe.
  • a micro fluid is caused to fly to a substrate using an electric field, and the solid liquid is rapidly solidified using the quick drying property of micro droplets to form a three-dimensional structure.
  • the fine droplets used for the formation of the three-dimensional structure preferably have a droplet diameter of 15 m or less, more preferably 5 ⁇ m or less, even more preferably 3 ⁇ m or less, particularly preferably 1 ⁇ m. m or less.
  • the structure formed by the fine droplets (in the present invention, the structure formed by the fine droplets may be referred to as a fine bump or a fine three-dimensional structure, or simply a bump or a three-dimensional structure).
  • the diameter is preferably 50 m or less, more preferably 20 m or less, even more preferably 15 m or less, even more preferably 5 / zm or less, even more preferably 3 ⁇ m or less, Particularly preferably, it is 1 ⁇ m or less.
  • the interval between the three-dimensional structures (the distance between the nearest wall surfaces of two adjacent three-dimensional structures) is large or small according to the required terminal arrangement.
  • You can also Forces that can be manufactured with a probe pitch (15 to 10 O / zm) of ordinary probe cards are naturally possible.
  • 10 / zm or less for example, about 5 ⁇ m
  • a narrow pitch It is also possible.
  • the three-dimensional structure formed by the method for manufacturing a probe card of the present invention is planar. Without a three-dimensional height, preferably with a height equal to or greater than the cross-sectional diameter of the base, in other words, with an aspect ratio of 1 or more, A ratio of 2 or more is preferred Aspect ratio of 3 or more is more preferred Aspect ratio of 5 or more is particularly preferred. If the three-dimensional structure can be self-supported even if there is a slight bending with an upper limit on the height or aspect ratio of the three-dimensional structure, it can be grown to an aspect ratio of 100 or more or 200 or more.
  • the height of the three-dimensional structure is preferably 5 to 50 ⁇ 111, more preferably 10 to 30 m in consideration of use as a probe.
  • the shape of the three-dimensional structure may be a hollow structure, for example, a cylinder, an elliptical column, a cone, a truncated cone, or a projection shape from above may be a linear shape or a box shape.
  • bumps formed by the fine ink jet method are called fine bumps.
  • the three-dimensional structure is formed by discharging fine droplets using a fine ink jet method. These fine droplets have an extremely high evaporation rate due to the surface tension and the specific surface area. Therefore, the droplets are dried and solidified (in the present invention, unless otherwise specified, “dry solidification” means that the viscosity of the droplets is increased to such an extent that they can be stacked at least by evaporation drying).
  • a structure with a height can be formed by appropriately controlling energy and electric field concentration.
  • nozzle a droplet
  • the directional stress constantly adheres to the tip of the needle-like fluid ejector (hereinafter also referred to as “nozzle”).
  • nozzle a droplet
  • Also referred to as” preceding landing droplet acts on the tip of the structure formed by solidification. That is, once the structure begins to grow, the electric field can be concentrated at the top of the structure. For this reason, the discharged liquid droplets can be reliably and accurately attached to the apex of the structure attached in advance.
  • the electric field is generated by an electrode provided at a position different from the nozzle that is not applied between the liquid discharge nozzle and the substrate. May be used. Also, the drive voltage, drive voltage waveform, drive frequency, etc. may be changed as the structure grows.
  • FIG. (A) shows the initial stage of three-dimensional structure formation.
  • fine droplets 102 ejected from the nozzles 101 on the substrate 100 become droplets (droplet solidified product) 103 landed and solidified on the substrate 100.
  • (B) shows the middle term.
  • a structure 104 is shown in which the droplets land and solidify continuously.
  • C shows a later stage, and shows that the three-dimensional structure 105 is formed by concentrating and landing fine droplets at the apex of the deposited structure.
  • the liquid material discharged from the fine ink jet for forming the three-dimensional structure is preferably a fluid material having a high dielectric constant and a high conductivity.
  • a dielectric constant of 1 or more is more preferable, preferably 2 to: LO, and a conductivity of 10 _5 S Zm or more is preferably used.
  • the fluid material is preferably one that easily causes electric field concentration. It is preferable that the dielectric constant of the liquid material and the solid material thereof is higher than that of the substrate material. An electric field is generated on the substrate surface by the voltage applied to the nozzle.
  • the density of electric lines of force passing through the liquid becomes higher than that of the non-attached substrate portion.
  • This state is called a state where electric field concentration has occurred on the substrate.
  • the tip of the structure is polarized by an electric field, or electric lines of force due to its shape are concentrated. The droplets fly along the lines of electric force and are attracted to the highest density part, that is, the tip of the previously formed structure. For this reason, the liquid droplets flying later are selectively deposited on the tip of the structure and the force is surely deposited.
  • the substrate is preferably made of a material that can provide good performance when used as a probe card.
  • the substrate will be described below.
  • the substrate is preferably an insulator.
  • the term “flexible” includes elasticity, and flexibility or elasticity enough to absorb variations in bump height). This means that when the bump is brought into contact with the semiconductor chip as a probe, the contact pressure is absorbed.
  • bump height variation The contact can be alleviated and evenly contacted (in the present invention, the term “equally contacted” means a state in which a contact state with which conductivity is obtained can be widely secured between a plurality of bumps). Enables highly accurate measurement.
  • Examples of the flexible substrate include polyimide, polyethylene terephthalate, and silicone resin
  • examples of the low flexibility substrate include glass, silicon, ceramics, and epoxy resin.
  • a flexible resin may be provided between the substrate and the three-dimensional structure.
  • Flexible rosin is preferably thermoplastic and Z or light curable
  • the thickness of the resin layer is not particularly limited, but 1 to: LOOO / z m force is preferable, and 5 to 500 m force is more preferable. Further, it is preferable to provide the resin on the entire surface of the substrate or at least a part below the bumps. At this time, it is not necessary for the bump and the resin to be in contact with each other, and it is sufficient that the resin is located below the bump so as to absorb the variation in the height of the bump. Examples of the method of forming the resin include ejection printing by fine ink jet, patterning by a dispenser or the like, letterpress printing, intaglio printing, exposure technology, laser exposure, laser etching, electron beam exposure, and the like.
  • the method of providing electrodes on the substrate and Z or resin includes, for example, ejection formation by fine inkjet, etching, exposure technology, dispensing, letterpress printing, intaglio printing, exposure technology, laser exposure, laser etching, Examples include electron beam exposure.
  • the thickness of the electrode is not particularly limited. For example, 0.1 to: LOO / z m is preferable, and 1 to 50 / ⁇ ⁇ is more preferable.
  • the electrode material may be a commonly used material, for example, gold, copper, silver and the like.
  • the heat resistance of a material used as a probe card such as a substrate, resin, or electrode is preferably 150 ° C or higher, more preferably 200 ° C or higher.
  • the liquid material used for forming the three-dimensional structure is, for example, a liquid material containing metal ultrafine particles (for example, a metal ultrafine particle base).
  • a liquid material containing metal ultrafine particles for example, a metal ultrafine particle base.
  • Polymer solutions such as polybulufenol ethanol solution (for example, Marcarinka (trade name)), ceramic sol-gel solutions, low molecular weight solutions such as oligothiophene, photosensitive curing resin, thermosetting coating Fats and microbead fluids can be used, and one type of these solutions may be used, or a plurality of solutions may be used in combination.
  • it is preferable as a probe and it is preferable to use a liquid material containing ultrafine metal particles in order to provide conductivity.
  • a metal species of a liquid material containing ultrafine metal particles used in the present invention are examples of a liquid material containing ultrafine metal particles used in the present invention.
  • the power of most types of metals or their oxides are gold, silver, copper, platinum, palladium, tungsten, tantalum, bismuth, lead, tin, indium, zinc, titanium, nickel, iron, cobalt, Gold, silver, copper, platinum, or gold, which is more preferable for conductive materials such as aluminum, is particularly preferable. Further, it may be one kind of metal or two or more kinds of metal power alloys.
  • the particle size of the ultrafine metal particles is preferably 1 to 100 nm, more preferably 1 to 20 nm, and particularly preferably 2 to 10 nm.
  • the three-dimensional structure may be composed of one kind of material or two or more kinds of materials (for example, in a multi-layer structure). However, in order to ensure conductivity as a probe, at least the surface layer portion is formed. Is preferably made of a conductive material. In the case of two or more kinds of materials, it is preferable that the core part (core part) is made of a material having hardness and the surface layer part is made of a material having good conductivity. It is particularly preferable to use it. According to this configuration, it is possible to achieve both strength and conductivity when used as a probe.
  • the core portion is composed of a silver material and the surface layer portion is composed of a gold material (in the present invention, the outer surface force of the three-dimensional structure is about 0.1 to:
  • the core part preferred to be in the LO / zm range is its interior;).
  • the core portion may be formed of a material other than a metal material (for example, a resin material such as a polymer), and the surface layer portion may be formed of a metal material (for example, a gold material).
  • FIG. 2 shows an example of a probe card manufactured by the probe card manufacturing method of the present invention as a preferred embodiment.
  • a flexible moonlight 205 force is provided on the substrate 201, and the electrode 202 is provided thereon.
  • a bump is formed on the top of the tree moon 205.
  • the bump has a two-layer structure including a core portion 203 and a surface layer portion 204.
  • heat treatment may be performed after bumps are formed (in the present invention, heat treatment includes sintering unless otherwise specified).
  • the treatment temperature can be appropriately set according to the properties such as the melting point of the metal or alloy used, and pores are formed inside the bumps (in the present invention, pores are obtained by sintering ultrafine metal particles to each other by heat treatment. It is preferred that the temperature be such that voids are formed.
  • the heat treatment temperature is preferably 50 to 300 ° C, more preferably 100 to 250 ° C.
  • the heat treatment may be performed by a normal method, for example, laser irradiation, infrared irradiation, high-temperature gas or steam.
  • As the atmosphere at the time of heat treatment air, inert gas atmosphere, reduced pressure atmosphere, reducing gas atmosphere such as hydrogen can be used, and in order to prevent oxidation of metal ultrafine particles, a reducing gas atmosphere is used.
  • a reducing gas atmosphere is used as the atmosphere at the time of heat treatment.
  • the bumps are plastically deformed, and the height can be corrected (variation in bump height is corrected).
  • the contact pressure it is possible to use the contact pressure to promote a uniform deformation.
  • any number of bumps may be provided on the probe card, but 1 to: LOO, 000 power S is preferable, 10 to 1000 is more preferable, and any arrangement is possible. Also good.
  • the size of the probe card is not particularly limited. For example, it is preferable that the equivalent circle diameter when converted to a circle is about 250 mm or less.
  • the pitch of the bumps can be widened or narrowed. Therefore, it is possible to design in accordance with the types of bumps used as probe terminals and the specifications of the semiconductor.
  • the probe terminal group fine bump group
  • the probe terminal group is finely arranged at an extremely high density. It can also be set up.
  • the probe terminal group is provided at a high density, for example, 1000 / mm 2 can be used, and 10,000 / mm 2 can also be used.
  • the solvent of the liquid material used in the present invention water, tetradecane, toluene, alcohols, and the like can be used. A higher concentration of metal fine particles in the solvent is preferable, and 40% by mass or more and 55% by mass or more are more preferable.
  • the fluidity of the solvent, vapor pressure, boiling point, and other properties, as well as the formation conditions of the three-dimensional structure, such as the atmosphere and The temperature can be determined in consideration of the temperature of the substrate, the vapor pressure, the amount of ejected droplets, and the like. This is because, for example, when the boiling point of the solvent is low, the solvent component evaporates during the flight or landing of the droplet, and the charged concentration is often significantly different when landing on the substrate.
  • the viscosity of the liquid material used in the present invention is preferably high in order to form a three-dimensional structure, but it needs to be in a range where ink jetting is possible, and care must be taken in determining the viscosity. It also depends on the type of paste. For example, in the case of silver nanopaste, 3 to 50 centipoise (more preferably 8 to 30 centipoise) is preferable.
  • the boiling point of the solvent used for the liquid material is not particularly limited as long as it is preferably dried and solidified, but is preferably 300 ° C or lower, more preferably 250 ° C or lower, and more preferably 220 ° C or lower. .
  • a material whose viscosity greatly changes due to drying at a certain drying rate can be preferably used as a material for forming a three-dimensional structure.
  • the time for drying and solidifying, the flying speed of the droplets, the vapor pressure of the solvent in the atmosphere, etc. can be appropriately set according to the solution as the forming material.
  • the drying and solidifying time is preferably 2 seconds or less, more preferably 1 second or less, and more preferably 0.1 second or less.
  • the flying speed is preferably 4 mZs or more, more preferably lOmZs or more, more preferably 6 mZs or more. There is no upper limit on the flight speed, but 20mZs or less is practical.
  • the atmosphere is preferably performed at a temperature lower than the saturated vapor pressure of the solvent.
  • the discharged droplets can be made small, and a three-dimensional structure having a cross-sectional diameter smaller than the diameter of the droplets at the time of discharge can be formed.
  • a three-dimensional structure having a cross-sectional diameter smaller than the diameter of the droplets at the time of discharge can be formed.
  • Such control is determined by considering the work efficiency such as the formation time of the three-dimensional structure in addition to the target cross-sectional diameter.
  • the applied voltage is increased to increase the amount of liquid to be discharged, and the sediment that has been dried and solidified first is dissolved again, and then the voltage is lowered to suppress the liquid volume.
  • the method of promoting the deposition and growth in the height direction again can be adopted. In this way, by changing the applied voltage and repeatedly increasing and decreasing the liquid volume, it is possible to control the required cross-sectional diameter to form a three-dimensional structure.
  • control range of the cross-sectional diameter is preferably 20 times or less the inner diameter of the nozzle tip and more preferably 5 times or less when the cross-sectional diameter is increased.
  • the temperature of the substrate is controlled by controlling the temperature of the substrate surface.
  • the volatilization of the liquid can be promoted, and the viscosity of the landing droplet can be increased in a desired time. Therefore, for example, even under conditions where the amount of liquid droplets is large and deposition is usually difficult, heating the substrate surface promotes drying and solidification, allowing the solidification of droplets to be deposited and forming a three-dimensional structure. Can be realized.
  • by increasing the speed of drying and solidification it is possible to shorten the droplet discharge interval and improve the working efficiency.
  • the substrate temperature control means is not particularly limited, and examples include a Peltier element, an electric heater, an infrared ray heater, a heater using a fluid such as an oil heater, a silicon rubber heater, or a thermistor.
  • the substrate temperature is a force that can be appropriately controlled according to the volatility of the fluid or droplet as a material, preferably 20 to 150 ° C, more preferably 25 to 70 ° C, particularly 30 to 50 ° C. preferable.
  • the control of the substrate temperature is preferably set so as to be higher than the temperature at which the droplet lands, and is preferably set higher than about 5 ° C, more preferably higher than about 10 ° C.
  • the manufacturing method of the present invention does not require a complicated apparatus or the like, and controls the substrate surface temperature.
  • a three-dimensional structure can be produced by an industrially preferable method.
  • FIG. 3 is a partial cross-sectional view showing one embodiment of a fine ink jet apparatus suitable for carrying out the present invention (in the present invention, fine droplets are caused to fly and adhere by concentration of an electric field.
  • the method of depositing the droplets by drying and solidifying to form the fine bumps is called a fine ink jet method, and the droplet discharge device is called a fine ink jet (device).
  • a fine ink jet method the droplet discharge device
  • a fine ink jet (device) the droplet discharge device
  • a fine ink jet (device) In order to realize the size, it is preferable that a low-conductance flow path be provided in the vicinity of the nozzle 1 or the nozzle 1 itself be of a low-conductance.
  • a fine glass tube made of glass is suitable, but a conductive material coated with an insulating material is also possible.
  • nozzle 1 is preferably made of glass
  • the reason why nozzle 1 is preferably made of glass is that it can easily form a nozzle of several meters, and in the case of glass nozzles, the taper angle is added, so the electric field concentrates at the nozzle tip and is not necessary again. This is because the solution moves upward due to surface tension, does not stay at the nozzle end, and does not cause clogging, and has appropriate flexibility.
  • the low conductance is preferably 10 to: L0m 3 Zs or less.
  • the shape of low conductance is not limited thereto, but, for example, a structure in which the inner diameter of a cylindrical flow path is reduced or the flow resistance is provided inside even if the flow path diameter is the same. For example, a shape provided with a bent, bent, or provided with a valve.
  • the inner diameter of the nozzle tip is preferably 0.01 ⁇ m or more for the convenience of production.
  • the upper limit of the inner diameter of the nozzle tip is determined by the inner diameter of the nozzle tip when the electrostatic force exceeds the surface tension and the inner diameter of the nozzle tip when the discharge condition is satisfied by the local electric field strength. Is preferred. Further, in view of the amount of droplets to be ejected, it is preferable to adjust the nozzle diameter that is preferably suppressed to an amount that can be cured and deposited by evaporation.
  • the inner diameter of the nozzle is affected by the voltage to be applied and the type of fluid to be used, but according to general conditions, 15 m or less is preferable and 10 m or less is more preferable. Furthermore, in order to more effectively use the local electric field concentration effect, the inner diameter of the nozzle tip is particularly preferably in the range of 0.01 to 8 / ⁇ ⁇ .
  • the outer diameter of the nozzle tip is appropriately determined according to the inner diameter of the nozzle tip, but is preferably 15 ⁇ m or less, more preferably 10 ⁇ m or less, and particularly preferably 8 ⁇ m or less.
  • the nozzle is preferably needle-shaped.
  • the nozzle 1 is not limited to a capillary single tube, but may be a two-dimensional pattern nozzle formed by microfabrication. Alternatively, a needle-shaped electrode and a nozzle for supplying fluid may be formed separately and positioned close together!
  • the nozzle 1 is made of glass with good formability, use the nozzle as an electrode. Therefore, for example, an electrode made of a metal wire (metal electrode wire) 2 such as a tungsten wire may be inserted into the nozzle 1, or an electrode may be formed in the nozzle by a mesh. In the case where the nozzle 1 itself is formed of a conductive material, an insulating material may be coated thereon. There is no particular restriction on the position where the electrode is disposed, and it is also possible to arrange the reeds on the inner side, the outer side, or a position different from the nozzle.
  • the nozzle 1 is filled with a solution 3 to be discharged. At this time, when an electrode is inserted into the nozzle, the electrode 2 is arranged so as to be immersed in the solution 3. Solution (fluid) 3 is supplied from a solution source (not shown). Nozzle 1 is attached to holder 6 by shield rubber 4 and nozzle clamp 5 so that pressure does not leak!
  • the pressure adjusted by the pressure regulator 7 is transmitted to the nozzle 1 through the pressure tube 8.
  • the nozzle, electrode, solution, shield rubber, nozzle clamp, holder and pressure holder are shown in a side sectional view.
  • a substrate 13 is disposed by a substrate support (substrate holder) 14 in the vicinity of the tip of the nozzle.
  • the role of the pressure adjusting device used in the method for manufacturing a probe card of the present invention is to adjust the conductance or to the inside of the nozzle, rather than the force that can be used to push out the fluid by applying high pressure to the nozzle force. It is particularly effective for use in filling of the solution of this, removal of nozzle clogs, and the like. It is also effective for controlling the position of the liquid level and forming a meniscus. It also plays a role in controlling the minute discharge amount by controlling the force acting on the liquid in the nozzle by adding a phase difference with the voltage pulse.
  • the discharge signal from the computer 9 is sent to the arbitrary waveform generator 10 and controlled.
  • the arbitrary waveform voltage generated from the arbitrary waveform generator 10 is transmitted to the electrode 2 through the high voltage amplifier 11.
  • the solution 3 in the nozzle 1 is charged by this voltage. This increases the concentrated electric field strength at the tip of the nozzle.
  • FIG. 4 schematically shows a state in which conductive ink (fluid for droplets) is injected into a nozzle having an inner diameter d at the tip of the nozzle and positioned perpendicular to the height of the infinite plate conductor cover h.
  • Is. R indicates the direction parallel to the infinite flat conductor, and Z is the vertical axis ( (Height) direction is shown.
  • L indicates the length of the flow path, and p indicates the radius of curvature.
  • Q is the charge induced at the nozzle tip.
  • Q ' is a mirror image charge with the opposite sign induced at a symmetrical position in the substrate. For this reason, it is not necessary to make the substrate 13 or the substrate support 14 conductive or to apply a voltage to the substrate 13 or the substrate support 14 unlike the prior art. Further, by increasing the concentration electric field strength concentrated on the nozzle tip, the applied voltage is reduced. Further, the voltage applied to the electrode 2 may be either positive or negative.
  • the distance between the nozzle 1 and the substrate 13 (hereinafter, unless otherwise specified, “the distance between the nozzle and the substrate” refers to the distance from the nozzle tip to the surface on the nozzle side of the substrate). It can be adjusted as appropriate according to the landing accuracy by force, or the amount of evaporation of droplets in flight, that is, the increase in viscosity of droplets by drying during flight. Further, it may be adjusted according to the growth of the structure so as to obtain a higher aspect ratio. On the contrary, in order to avoid the influence of the adjacent structure, the tip of the nozzle may be arranged at a position lower than the height of the adjacent structure.
  • the distance between the nozzle 1 and the substrate 13 is preferably 500 m or less.
  • 100 m or less is preferable.
  • 50 m or less is more preferable.
  • over 5 m is preferred so as not to get too close, over 20 / z m is more preferred.
  • feedback control is performed by detecting the nozzle position so that the nozzle 1 is kept constant with respect to the substrate 13.
  • the substrate 13 may be placed and held in a conductive or insulating substrate holder.
  • the height of the bumps can be controlled by the discharge time, voltage change, substrate temperature, nozzle height, and the like.
  • the thickness of the bump the three-dimensional structure is more easily formed as the discharge amount is decreased.
  • the landed object that has started to grow is likely to become an elongated structure because it grows rapidly.
  • the fine ink jet device used in the method for producing a probe card of the present invention is compact and has a high degree of freedom of installation, and therefore can perform multi-nozzle filing.
  • the fine ink jet apparatus can be preferably used.
  • the voltage to be applied is preferably a pulse voltage with an optimized duty ratio, an alternating current, and an alternating current with a DC bias, but may be a direct current.
  • the probe card manufacturing method of the present invention it is practical to adjust the position of forming the structure by placing a substrate holder on the X-Y-Z stage and operating the position of the substrate 13. Regardless of this, it is also possible to place nozzle 1 on the X-Y-Z stage. Further, the distance between the nozzle and the substrate can be adjusted to an appropriate distance using a position fine adjustment device. Furthermore, the nozzle position can be kept constant with an accuracy of 1 ⁇ m or less by moving the Z-axis stage with closed-loop control based on the distance data from the laser rangefinder.
  • a vector scan method may be employed in addition to the raster scan method.
  • a single-nozzle inkjet to draw a circuit by vector scanning itself is described in, for example, Journal of icroelectromechanical systems, b. B. Fuller et al. , Vol. 11, No.l, p.54 (2002).
  • raster scanning During raster scanning, newly developed control software may be used so that the drawing location can be specified interactively on the computer screen.
  • complex pattern drawing can be automatically performed by reading a vector data file.
  • raster scanning method a method performed by a normal printer can be used as appropriate.
  • vector scan method a method used in a normal plotter can be used as appropriate.
  • the stage in the case of raster scanning, is preferably moved at a pitch of 1 ⁇ m to 100 ⁇ m and linked with the movement, and ejection can be performed by voltage pulses.
  • the stage in the case of vector scanning, the stage can be moved continuously based on vector data. According to these discharge position adjusting methods in the probe card manufacturing method of the present invention, the formation position of the three-dimensional structure can be quickly adjusted to a free position by setting and inputting control data.
  • the probe card manufacturing method of the present invention since the liquid droplets ejected from the fine ink jet are fine, force depending on the type of solvent used for the ink is instantly evaporated and the liquid droplets instantaneously. Fixed on the spot.
  • the drying speed at this time is orders of magnitude faster than the speed at which droplets with a size of several tens of ⁇ m are dried by the conventional ink jet technology. This is because the vapor pressure becomes extremely high due to the finer droplets. Therefore, fine bumps can be formed in a short time.
  • one bump (depending on material, structure, size, etc.) can be formed preferably in 0.1 to 300 seconds. Preferably, it can be formed in 5 to 120 seconds. In conventional ink jet technology using a piezo method or the like, it is difficult to form bumps that are fine enough to be formed by the manufacturing method of the present invention in a short time, and landing accuracy is also poor.
  • a probe card of the present invention According to the method for manufacturing a probe card of the present invention, it is possible to form fine bumps whose aspect ratio can be freely set with high accuracy and productivity, and to provide a precise and highly accurate probe force mode. Can do. Sarakuko can also manufacture interposers and laminated substrates by applying the probe card manufacturing method of the present invention.
  • the probe card manufacturing method of the present invention a prototype can be easily made without the need for a photomask or a mold that requires very little energy consumption. In addition, there is an advantage that the necessary amount of resources can be invested in the necessary place.
  • the probe card obtained by the production method of the present invention is an electronic component, a display element, an IC, an LSI, a biochip. It can be used in the field of inspection technology for various electronic components such as bio-type electrodes and bio-electronics.
  • a silver ultrafine particle paste (produced by Harima Kasei Co., Ltd., silver nanopaste, silver content 58 mass%, specific gravity 1.72, viscosity 8.4 cps) was ejected by the ink jet shown in FIG.
  • a bump core was formed on the substrate.
  • the inner diameter of the nozzle tip is 1 ⁇ m, room temperature (22 ° C) atmosphere, the voltage applied to the paste in the nozzle is about 450 V at the peak AC voltage, and the distance between the nozzle and the substrate is about Each was set to 100 m.
  • the time required to form the core of one bump was 10 seconds.
  • a gold particulate paste (Bruno, Lima Kasei, gold nano paste NPG- J, gold content: 66.9 mass 0/0, specific gravity 2. 15, Viscosity 29. Ocps) was discharged to form the surface layer of the bump, and a probe card was produced.
  • the time required to form the surface layer of one bump was 5 seconds.
  • the inner diameter of the nozzle tip is l / zm, room temperature (22 ° C) atmosphere, the voltage applied to the paste in the nozzle is about 200V at AC peak 'peak' peak voltage, and the distance between nozzle and substrate is Each was set to about 100 ⁇ m.
  • the cross section diameter of the probe card bump (the total of the core and surface layers) was about 5 ⁇ m, the height was about 20 ⁇ m, and the pitch of each bump was 50 ⁇ m.
  • Figure 5 shows laser micrographs of the six bumps that were formed.
  • FIG. 6 shows a photomicrograph (magnification 5,000 times) in which one of the bumps in FIG. 5 is further enlarged.
  • a bump core portion was formed in the same manner as the bump core portion forming method shown in Example 1, except that the nozzle was swung at a turning radius of 7.5 m.
  • a bump surface layer portion was formed in the same manner as in the bump surface layer portion formation method described in Example 1, and a probe card was prepared.
  • the bump on the fabricated probe card has a hollow frustoconical shape, the wall thickness is about 3 ⁇ m, the frustoconical section diameter near the tip is about 8 m, and the height is about 40 m. Atsuta o
  • FIG. 7 a micrograph (magnification of 2,000 times) of the formed bump is placed.
  • the probe card obtained by the manufacturing method of the present invention can be used in the field of inspection technology for various electronic parts such as electronic parts, display elements, ICs, LSIs, biochips, biomedical electrodes, and the bioelectronics field. it can.

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Abstract

 製造工程を簡略化し、省エネルギー、省資源とすることができるプローブカード製造方法を提供する。また、端子の狭ピッチ化、端子配置の多様化、その頻繁な変更などに柔軟に対応できるプローブカード、およびその製造方法を提供する。  さらに、液滴吐出ごとの焼結工程を必要とせず、プローブとなる微細バンプを短時間で形成できるプローブカードの製造方法を提供する。  さらにまた、半導体チップとの接触時の圧力に対してクッション効果を発揮し、均等な接触を可能とするプローブカード、およびその製造方法を提供する。 微細インクジェット法により、基板上に金属超微粒子を含む液体材料を吐出して、微細バンプを形成する。  

Description

明 細 書
プローブカード、およびその製造方法。
技術分野
[0001] 本発明は、金属超微粒子を含む液体材料を、微細インクジェット法により吐出して、 バンプを形成する方法に関し、基板上にプローブとなるバンプを形成してプローブ力 ードを製造する方法に関する。また、微細インクジェット法により形成した微細径のバ ンプを、プローブとして基板上に設けたプローブカードに関し、柔軟な榭脂の上部に バンプを形成したプローブカードに関する。
背景技術
[0002] 半導体のテストは、立体的な金属端子 (プローブ)を複数有するプローブカードを、 半導体ベアチップに接触させて行う方法が一般的である。プローブカード上にプロ一 ブを形成する方法として、メツキ法、金属針を直接用いる方法、半田による方法、ボン デイングワイヤーを引きちぎることによる方法などが挙げられる。し力しながら、今日、 半導体の端子間距離は急速に狭ピッチ化しており、これらの方法では対応できなくな りつつある。
また、近年、端子の配置が多様ィ匕しており、端子配置の頻繁な変更に柔軟に応え ることが要求されている。一方、上述の現在用いられている形成方法では、この要求 に十分に応えることが難し 、。
この課題を解決する方法として、インクジェットによりプローブを形成することが試み られている。例えば、特許文献 1に、導電性材料を含む液状組成物を基板に吐出し、 基板上で液滴が固化するのを待ち、さらに吐出を繰り返して積み重ね、バンプとする 方法が開示されている。しかしながら、この方法では、一層づっ焼結しながら積み重 ねるため、十分な高さの構造物とするには時間が力かりすぎる。また、基板上に吐出 する液滴量を減らすことができないため、微細なバンプの形成は困難であり、半導体 端子の狭ピッチ化の要求に対応できない。
[0003] 特許文献 1 :特開 2003— 218149号公報
発明の開示 発明が解決しょうとする課題
[0004] 本発明は、製造工程を簡略ィ匕し、省エネルギー、省資源とすることができるプロ一 ブカード製造方法の提供を目的とする。また本発明は、端子の狭ピッチ化、端子配 置の多様化、その頻繁な変更などに柔軟に対応できるプローブカード、およびその 製造方法の提供を目的とする。
さらに本発明は、液滴吐出ごとの焼結工程を必要とせず、プローブとなる微細バン プを短時間で形成できるプローブカードの製造方法の提供を目的とする。
さらに本発明は、半導体チップとの接触時の圧力に対してクッション効果を発揮し、 各々のプローブ端子の全ての均等な接触を可能とするプローブカード、およびその 製造方法の提供を目的とする。
課題を解決するための手段
[0005] 上記課題は下記の手段により達成された。
(1)微細インクジェット法により、基板上に金属超微粒子を含む液体材料を吐出して 、微細バンプを形成することを特徴とするプローブカードの製造方法。
(2)前記微細バンプの核部分を銀材料で形成し、その表層部を金材料で形成するこ とを特徴とする(1)記載のプローブカードの製造方法。
(3)前記基板として、柔軟性のある基板を用いることを特徴とする(1)または(2)記載 のプローブカードの製造方法。
(4)前記基板上に、柔軟性のある榭脂を設け、該榭脂の上部に前記微細バンプを形 成することを特徴とする(1)〜(3)のいずれか 1項に記載のプローブカードの製造方 法。
(5)前記微細バンプの断面直径が 1〜50 μ mであることを特徴とする(1)〜(4)の ヽ ずれか 1項に記載のプローブカードの製造方法。
(6)前記微細インクジェット法が、電界の集中により微細液滴を飛翔付着させ乾燥固 化により該液滴を堆積させる前記微細バンプの形成方法であることを特徴とする(1) 〜(5)の 、ずれか 1項に記載のプローブカードの製造方法。
(7)微細インクジェット法により、基板上に金属超微粒子を含む液体材料を吐出し形 成した微細バンプを有することを特徴とするプローブカード。 (8)前記基板上に柔軟性のある榭脂を設け、該榭脂の上部に前記微細バンプを形 成したことを特徴とする(7)記載のプローブカード。
(9)前記微細バンプの断面直径が 1〜50 μ mであることを特徴とする(7)または(8) 記載のプローブカード。
(10)前記基板上にバンプを互いに短ピッチで配設した微細バンプ群を有することを 特徴とする(7)〜(9)の 、ずれか 1項に記載のプローブカード。
(11)前記微細バンプの核部分を銀材料で形成し、その表層部を金材料で形成した ことを特徴とする(7)〜(10)のいずれか 1項に記載のプローブカード。
(12)前記微細バンプを熱処理することにより該微細バンプ内にポアを形成したことを 特徴とする(7)〜(11)の ヽずれか 1項に記載のプローブカード。
発明の効果
[0006] 本発明のプローブカードの製造方法によれば、インクジェットを用いることでプロ一 ブカードの製造工程を簡略ィ匕することができ、省エネルギー、省資源とすることがで きる。
また本発明のプローブカードの製造方法によれば、インクジェットの吐出を制御する プロセスデータを変更することで、多様なパターンで微細バンプを形成することがで き、端子配置の頻繁な変更にも柔軟に対応できる。
さらに本発明のプローブカードの製造方法によれば、微細バンプ形成時に吐出さ れる微細液滴の乾燥力が高いため、液滴吐出ごとの焼結工程を必要とせず、プロ一 ブとなる微細バンプを短時間で形成することが可能である。
さらに本発明の製造方法により得られたプローブカードは、微細バンプをプローブ とすることから狭ピッチ化の要求に応えることができる。また該プローブカードは、プロ ーブの接触圧力に対してクッション効果を発揮し、各々のプローブ端子の全ての均 等な接触を可能とする。
図面の簡単な説明
[0007] [図 1]本発明の製造方法による微細立体構造物の製造工程を初期 (A)、中期(B)、 後期 (C)の各段階で示す模式図である。
[図 2]本発明の製造方法により製造されたプローブカードの一例を模式的に示したた 部分断面図である。
圆 3]本発明の製造方法に用いる、微細インクジェット装置の一実施態様の説明図で ある。
圆 4]本発明の製造方法における、ノズルの電界強度の計算を説明するために示す 模式図である。
[図 5]実施例 1で得られたプローブカード上のバンプのレーザー顕微鏡写真を示す 図面代用写真である。
[図 6]実施例 1で得られたプローブカード上のバンプの顕微鏡写真 (倍率 5, 000倍) を示す図面代用写真である。
[図 7]実施例 2で得られたプローブカード上のバンプの顕微鏡写真 (倍率 2, 000倍) を示す図面代用写真である。
符号の説明
1 ノズル (針状流体吐出体)
2 金属電極線
3 流体 (溶液)
4 シーノレドゴム
5 ノズルクランプ
6 ホノレダ一
7 圧力調整器
8 圧力チューブ
9 コンピュータ
10 任意波形発生装置
11 高電圧アンプ
12 導線
13 基板
14 基板ホルダー
100 基板
101 ノズル (針状流体吐出体) 102 微細液滴 (微細径液滴)
103 液滴固化物
104 構造物
105 立体構造物
201 基板
202 電極
203 バンプ (核部分)
204 バンプ (表層部)
205 榭脂 (柔軟性のある榭脂)
発明を実施するための最良の形態
[0009] 本発明のプローブカードの製造方法は、プローブとなるバンプ (以下、立体構造物 または立体構造体とも!、う。)の形成に微細インクジェット法を用いることを特徴として いる。以下、本発明について詳細に説明する。
[0010] 微細インクジェット法では、電界を用いて微細流体を基板へ飛翔させ、微細液滴の 速乾性を利用して高速固体化し、立体構造物を形成する。立体構造物の形成に用 いられる、微細液滴は、液滴径が 15 m以下であることが好ましぐより好ましくは 5 μ m以下、さらに好ましくは 3 μ m以下、特に好ましくは 1 μ m以下である。
微細液滴により形成される構造物は (本発明においては、微細液滴により形成され る構造物を微細バンプまたは微細立体構造物と 、 、、単にバンプまたは立体構造物 ということもある)、断面直径(断面もしくは底面の短辺の径)が、好ましくは 50 m以 下、より好ましくは 20 m以下、さらに好ましくは 15 m以下、さらに好ましくは 5 /z m 以下、さらに好ましくは 3 μ m以下、特に好ましくは 1 μ m以下である。
また、立体構造物の間隔 (近接する 2つの立体構造物の最も近い壁面間の距離)は 、本発明に用いられる微細インクジェット法によれば、必要とされる端子配置に応じて 、大きくも小さくもすることができる。常用のプローブカードのプローブピッチ(15〜10 O /z m)で製造することも当然可能である力 微細化の要求に対しては、 10 /z m以下 (例えば 5 μ m程度)と 、う狭ピッチ化も可能である。
[0011] また、本発明のプローブカードの製造方法で形成される立体構造物は、平面的で なく立体的に高さ方向に成長したものを 、、好ましくは高さがその基部の断面直径 に対して等倍以上の寸法を持つもの、換言するとアスペクト比 1以上であり、ァスぺク ト比 2以上のものが好ましぐアスペクト比 3以上のものがより好ましぐアスペクト比 5 以上のものが特に好ましい。立体構造物の高さまたはアスペクト比に上限はなぐ若 干曲がっても立体構造物の自立が可能であれば、アスペクト比 100以上または 200 以上に成長させることができる。立体構造物の高さとしては、プローブとしての使用を 考慮すると、 5〜50 ^ 111カ 子ましく、 10〜30 m力より好ましい。
立体構造物の形状に制約はないが、例えば、円柱、楕円柱、円錐、円錐台、上から の投影形状が線状の形状もしくは箱型の形状などであってもよぐ中空構造としても よい。また、とくに従来技術で得られるバンプと区別する場合には、微細インクジェット 法で形成されるバンプを微細バンプと!/、う。
本発明のプローブカードの製造方法において、立体構造物の形成は、微細インク ジェット法を用いて、微細液滴を吐出させて行われる。この微細液滴は表面張力の作 用や、比表面積の高さなどにより、極めて蒸発速度が高い。したがって、液滴の、乾 燥固化 (本発明において、特に断らない限り、「乾燥固化」とは蒸発乾燥により少なく とも積み重ねることができる程度にそのものの粘度が高められることを意味する。 )、 衝突エネルギー、および電界集中などを適切に制御することにより高さを持った構造 物の形成を可能とするものである。
また、微細インクジェットに加えられた電界による効果で、針状流体吐出体 (以下、「 ノズル」ともいう。)の先端部に向カゝぅ応力が、絶えず先行して付着した液滴 (以下、「 先行着弾液滴」ともいう。)が固化して形成された構造物の先端部に作用する。つまり 、いったん構造物の成長が始まると、電界を、構造物の頂点に集中することができる 。このため、吐出した液滴を、先行して付着した構造物の頂点に、確実に精度よく着 弹することができるのである。
さらに、上述の電界による効果で、常にノズル方向へ引っ張りながら成長させること ができ、アスペクト比の高い構造物でも倒れることなく形成することができる。これらの 効果により効率よく立体構造の成長を促すことができる。また、電界は液体吐出ノズ ルと基板の間に印加するのではなぐノズルとは別の位置にもうけた電極による電界 を利用してもよい。また、構造物の成長にあわせ、駆動電圧、駆動電圧波形、駆動周 波数などを変化させても構わな 、。
[0013] この工程を概略的に図 1に示す。 (A)は立体構造物形成の初期段階を示したもの である。基板 100〖こ対して、ノズル 101から吐出させた微細液滴 102が、基板 100上 に着弾し固化した液滴 (液滴固化物) 103となる状態である。 (B)はさらに中期を示し たのものである。前記液滴が連続して着弾し固化堆積した構造物 104を示して 、る。 (C)はさらに後期を示しおり、上記の堆積した構造物の頂点に微細液滴が集中して 着弾し、立体構造物 105が形成されることを示している。
[0014] 本発明のプローブカードの製造方法において、立体構造物形成のために微細イン クジェットから吐出する液体材料は、誘電率が高ぐ導電率が高い流体材料が好まし い。例えば、誘電率 1以上が好ましぐより好ましくは 2〜: LOであり、導電率は 10_5S Zm以上のものが好ましく用いられる。流体材料は電界集中を起こしやすいものが好 ましい。液体材料および、それが固体ィ匕したものの誘電率は、基板材料よりも誘電率 が高いことが好ましい。基板面には、ノズルに印加する電圧によって電界が生じてい る。この場合、液滴が基板上に着弾し付着すると、液体を通る電気力線の密度が、付 着していない基板部分よりも高くなる。この状態を基板上における電界集中が起こつ た状態と呼ぶ。また、いったん構造物が生成し始めると、構造物の先端部は、電界に より分極が起こったり、またはその形状に由来した電気力線の集中が起こる。液滴は 電気力線に沿って飛翔し、その密度のもっとも高い部分、つまり先に形成された構造 物の先端部に吸い寄せられる。このため、後から飛翔する液滴は、構造物の先端に 選択的にし力も確実に堆積することになる。
[0015] 基板は、プローブカードとしたときに良好な性能が得られる材料であることが好まし い。以下基板について説明する。
例えば、個々のプローブを電気的に絶縁する必要があるため、基板は絶縁体であ ることが好ましい。また、柔軟性のある基板を用いることが好ましい (本発明において、 柔軟性のあるとは、弾力性があることを含み、バンプの高さのばらつきを吸収する程 度の柔軟性または弾力性があることをいう。 ) oこれにより、バンプをプローブとして半 導体チップに接触させたとき、その接触圧が吸収される。さらに、バンプの高さのばら つきを緩和し、均等に接触 (本発明において、均等に接触とは、導電性が得られる程 度の接触状態が、複数のバンプ間において広く確保できる状態をいう。)させることが でき、より精度の高い測定を可能とする。柔軟性のある基板としては、例えば、ポリイミ ド、ポリエチレンテレフタレート、シリコーン榭脂などが挙げられ、柔軟性の低い基板と しては、例えば、ガラス、シリコン、セラミタス、エポキシ榭脂などが挙げられる。基板の 厚さに特に制約はない力 1〜5000 111カ 子ましく、 100 〜5000 m力より好ま しい。
[0016] また、柔軟性を得るために、基板と立体構造物の間に柔軟性のある榭脂を設けても よい。柔軟性のある榭脂は、熱可塑性および Zまたは光硬化性であることが好ましく
、例えば、シリコン榭脂、ゴム、 PMMAなどが挙げられる。榭脂層の厚さに特に制約 はないが、 1〜: LOOO /z m力好ましく、 5〜500 m力より好ましい。また、基板の全面 に榭脂を設けても、一部に設けてもよぐ少なくともバンプの下部に設けることが好ま しい。このとき、バンプと榭脂が接触している必要はなぐ該榭脂がバンプの高さのば らっきを吸収できる位置関係でバンプの下方にあればよい。榭脂の形成方法は、例 えば、微細インクジェットによって吐出形成すること、デイスペンサなどによりパター- ングを行う、凸版印刷、凹版印刷、露光技術、レーザー露光、レーザーエッチング、 電子ビーム露光などが挙げられる。
さらに、バンプに電極を接続することで、プローブの信号を取り出すことができる。基 板および Zまたは榭脂の上に電極を設ける方法は、例えば、微細インクジェットによ つて吐出形成すること、エッチング、露光技術、デイスペンス、凸版印刷、凹版印刷、 露光技術、レーザー露光、レーザーエッチング、電子ビーム露光などが挙げられる。 電極の厚さに特に制限はないが、例えば、 0. 1〜: LOO /z mが好ましぐ 1〜50 /ζ πιが より好ましい。電極の材料は通常用いられるものでよぐ例えば、金、銅、銀などが挙 げられる。
基板、榭脂、電極などプローブカードとして用いられる材料の耐熱性は、 150°C以 上が好ましぐ 200°C以上がより好ましい。
[0017] 本発明のプローブカードの製造方法において、立体構造物の形成のため用いられ る液体材料は、例えば、金属超微粒子を含む液体材料 (例えば、金属超微粒子べ一 スト)、ポリビュルフエノールのエタノール溶液(例えば、マルカリンカ一(商品名))な どの高分子溶液、セラミックスのゾルーゲル液、オリゴチォフェンのような低分子溶液 、感光性硬化榭脂、熱硬化性榭脂、マイクロビーズ流体を用いることができ、これらの 溶液の 1種を用いてもよぐ複数の溶液を組み合わせて用いてもよい。なかでも、プロ ーブとして好まし 、導電性をもたせるため、金属超微粒子を含む液体材料を用いるこ とが好ま ヽ。本発明に用いられる金属超微粒子を含む液体材料の金属種としては
、ほとんどの種類の金属又はその酸ィ匕物が挙げられる力 なかでも金、銀、銅、白金 、パラジウム、タングステン、タンタル、ビスマス、鉛、スズ、インジウム、亜鉛、チタン、 ニッケル、鉄、コバルト、アルミニウムなどの導電性を有するものが好ましぐ金、銀、 銅、白金、またはパラジウムがより好ましぐ金または銀が特に好ましい。また、 1種類 の金属であっても、 2種以上の金属力 なる合金であってもよい。また、金属超微粒 子の粒径は l〜100nmが好ましぐ l〜20nmがより好ましぐ 2〜10nmが特に好ま しい。
立体構造物は、 1種の材料で構成しても、 2種以上の材料で構成 (例えば、多層構 造に)してもよいが、プローブとしての導電性を確保するため、少なくと表層部を導電 性の材料で構成することが好ましい。 2種以上の材料で構成する場合、芯の部分 (核 部分)は硬度を有する材料で構成し、表層部は導電性のよい材料で構成することが 好ましぐ表層部の材料として金材料を用いることが特に好ましい。この構成によれば 、プローブとしたときの強度と導電性を両立することができる。好ましい組み合わせと して、核部分を銀材料で構成し、表層部を金材料で構成することが挙げられる (本発 明において、表層部とは立体構造物の外表面力も約 0. 1〜: LO /z mの範囲であること が好ましぐ核部分とはその内部をいう。;)。その他の実施態様として、核部分を金属 材料以外で形成し (例えば、高分子などの榭脂材料)、その表層部を金属材料 (例え ば、金材料)で形成してもよい。
図 2に、好ましい実施態様として、本発明のプローブカードの製造方法により製造さ れたプローブカードの一例を載せている。図 2では、基板 201の上に柔軟性のある榭 月旨 205力設けられ、その上に電極 202を設けている。電極 202の上で、樹月旨 205の 上部にバンプを形成し、該バンプは核部分 203と、表層部 204の 2層構造となってい る。
[0018] また、本発明のプローブカードの製造方法では、バンプを形成した後、熱処理をし てもよい (本発明において、熱処理とは、特に断らない限り、焼結処理を含む。 ) o熱 処理温度は、用いられる金属または合金の融点などの性質に応じて適宜設定するこ とができ、バンプ内部にポア (本発明において、ポアとは、金属超微粒子が熱処理に よりお互いに焼結した際に生じる空隙をいう。 )が形成される温度とすることが好まし い。熱処理温度は、 50〜300°Cが好ましぐ 100〜250°Cがより好ましい。熱処理の 方法は通常の方法によればよいが、例えば、レーザー照射、赤外線照射、高温の気 体や蒸気などで行うことができる。熱処理時の雰囲気としては、大気、不活性気体雰 囲気、減圧雰囲気、水素等の還元性気体雰囲気などを用いることができ、金属超微 粒子の酸ィ匕を防ぐためには、還元性気体雰囲気が好ま 、。
ポアが形成されるとバンプは可塑的に変形するようになり、高さ補正 (バンプの高さ のばらつきを修正)をすることができる。例えば、特別な高さ補正加工を要さず、プロ ーブを半導体チップに接触させる測定操作において、その接触圧を利用して高さが そろう変形を促すことが可能である。
本発明のプローブカードの製造方法では、プローブカード上にバンプをいくつ設け てもよいが、 1〜: LOO, 000個力 S好ましく、 10〜1000個がより好ましぐまたどのような 配列にしてもよい。プローブカードの大きさは特に制約されないが、例えば、その面 積を円に換算したときの円相当直径で約 250mm以下が好ま U、。
本発明のプローブカードの製造方法によれば、バンプのピッチを広くも、狭くもでき る。そのため、プローブ端子とするバンプの種類、半導体の仕様に合わせた設計が 可能であり、とくに微細化要求に対しては、プローブ端子群 (微細バンプ群)を精細に 、桁違いに高密度に配設することもできる。プローブ端子群を、高密度に設ける場合 、例えば、 1000個/ mm2とでき、 10, 000個/ mm2とすることもできる。
[0019] 本発明に用いられる液体材料の溶媒としては、水、テトラデカン、トルエン、アルコ ール類等が使用できる。溶剤中の金属微粒子の濃度は高い方が好ましぐ好ましく は 40質量%以上、 55質量%以上がより好ましい。ただし、溶剤の流動性、蒸気圧、 沸点等、およびその他の性質、ならびに立体構造体の形成条件、例えば、雰囲気や 基板の温度、蒸気圧、吐出液滴の量なども考慮して決定することができる。これは、 例えば、溶剤の沸点が低い場合に、液滴の飛翔中や着弾時に溶媒成分の蒸発が起 こり、基板着弾時に仕込み濃度と著しく異なることが多いためである。
本発明に用いられる液体材料の粘度は、立体構造を形成する上では高 ヽ方が好 ましいが、インクジェット可能な範囲であることが必要であり、粘度の決定には注意が 必要である。また、ペーストの種類にも依存する。例えば、銀ナノペーストの場合は 3 〜50センチポアズ (より好ましくは 8〜30センチポアズ)が好ましい。
液体材料に用いられる溶媒の沸点は、乾燥固化が好ましく行われるものであれば 特に制約はないが、 300°C以下が好ましぐ 250°C以下がより好ましぐ 220°C以下 が特に好ましい。また、乾燥速度がある程度速ぐ乾燥により粘度が大きく変化するも のは、立体構造物の形成材料として好ましく使用できる。乾燥固化する時間、液滴の 飛翔速度、雰囲気中の溶媒の蒸気圧などは形成材料となる溶液に応じて適宜設定 可能である。好ましい条件としては、乾燥固化時間は 2秒以下が好ましぐ 1秒以下が より好ましぐ 0. 1秒以下が特に好ましい。また、飛翔速度は、好ましくは 4mZs以上 であり、 6mZs以上がより好ましぐ lOmZs以上が特に好ましい。飛翔速度に上限 は特に無いが、 20mZs以下が実際的である。雰囲気は溶媒の飽和蒸気圧未満で 行われることが好ましい。
本発明の製造方法では、液滴の適度な蒸発を利用しているため、吐出させた液滴 を小さくすることができ、吐出時の液滴の直径より小さい断面直径の立体構造物の形 成が可能である。つまり、本発明の製造方法によれば、従来困難とされている、微細 な立体構造物の製造も可能であり、その断面直径のより自由な制御が可能である。し たがって、ノズル径または吐出流体中の固形成分の濃度の調節のみでなぐ吐出液 滴の蒸発を利用することで適宜断面直径を制御することが可能である。このような制 御は、目的とする断面直径のほかに、立体構造物の形成時間などの作業効率を考 慮して決めることちでさる。
また、別の制御方法としては、例えば、印加電圧を上げて吐出する液量を増やし、 先に乾燥固化して積み重ねられた堆積物を再度溶解させたのち、電圧を下げて液 量を抑えることで再び高さ方向への堆積および成長を促すという方法も採用できる。 このように、印加電圧を変動させ液量の増減を繰り返すことにより、必要な断面直径 に制御して立体構造物を形成することが可能である。
断面直径の制御範囲は、作業効率も考慮すると、断面直径を大きくする場合に、ノ ズル先端の内径の 20倍以下が好ましぐ 5倍以下がより好ましい。小さくする場合に は、ノズル先端の内径の 1Z10を下限とすることが好ましぐ 1Z5以上がより好ましく 、 1Z2以上が特に好ましい。
[0021] 上記のような吐出液滴の蒸発を利用して基板上に液滴固化物を堆積する過程にお いて、基板表面の温度を制御することにより、着弾時または着弾後における液滴の液 分の揮発を促進させ、着弾液滴の粘度を所望の時間で高めることができる。したがつ て、例えば、液滴の液量が多く通常堆積が困難な条件においても、基板表面を加熱 することにより乾燥固化を促して液滴固化物の堆積を可能とし、立体構造物の形成を 実現することができる。また、乾燥固化の速度を速めることで、液滴の吐出間隔を短く し、作業効率を向上させることも可能である。
基板温度の制御手段は、特に限定されないが、ペルチェ素子、電熱ヒーター、赤外 線ヒーター、オイルヒーターなど流体を使ったヒーター、シリコンラバーヒーター、また はサーミスターなどが挙げられる。また、基板温度は、材料とする流体または液滴の 揮発性に応じて適宜制御できる力 好ましくは 20〜150°Cであり、 25〜70°Cがより 好ましぐ 30〜50°Cが特に好ましい。基板温度の制御は、液滴の着弾時の温度より 高くなるように設定することが好ましぐ好ましくは約 5°C以上高ぐより好ましくは約 10 °C以上高く設定する。
液滴の蒸発量に関しては、雰囲気温度や雰囲気中の溶媒の蒸気圧により制御する ことも考えられるが、本発明の製造方法では、複雑な装置などを必要とせず、基板表 面温度の制御という工業上好ましい方法で立体構造物の製造を可能とするものであ る。
[0022] 図 3は、本発明の実施に好適な微細インクジェット装置の一実施態様を一部断面に より示したものである(本発明においては、電界の集中により微細液滴を飛翔付着さ せ、乾燥固化により該液滴を堆積させて、微細バンプを形成する方法を、微細インク ジェット法とよび、その液滴吐出装置を微細インクジェット(装置)という。 ) o微細液滴 サイズ実現のためには、低コンダクタンスの流路をノズル 1の近傍に設けるカゝ、または ノズル 1自身を低コンダクタンスのものにすることが好ましい。このためには、ガラス製 の微細キヤビラリ一チューブが好適であるが、導電性物質に絶縁材でコ一ティングし たものでも可能である。ノズル 1をガラス製とすることが好ましい理由は、容易に数 m程度のノズルを形成できること、ガラスノズルの場合、テーパー角がついているため に、ノズル先端部に電界が集中しやすぐまた不要な溶液が表面張力によって上方 へと移動し、ノズル端に滞留せず、つまりの原因にならないこと、および、適度な柔軟 性を持つこと等による。また、低コンダクタンスとは、好ましくは 10〜: L0m3Zs以下で ある。また、低コンダクタンスの形状とは、それに限定されるものではないが、例えば、 円筒形状の流路においてその内径を小さくしたり、または、流路径が同一でも内部に 流れ抵抗となるような構造物を設けたり、屈曲させたり、もしくは、弁を設けた形状など が挙げられる。
[0023] ノズル先端の内径は、製作の便宜の上では、 0. 01 μ m以上が好ましい。一方、ノ ズル先端の内径の上限は、静電的な力が表面張力を上回るときのノズル先端の内径 、および局所的な電界強度によって吐出条件を満たす場合のノズル先端の内径によ り決めるのが好ましい。さらに、吐出させる液滴の量の点から、蒸発により硬化し堆積 させることができる量に抑えることが好ましぐノズル径もそれに伴って調節することが 好ましい。したがって、ノズル内径は印加する電圧や使用する流体の種類にも影響さ れるが、一般的な条件によれば、 15 m以下が好ましぐ 10 m以下がより好ましい 。さらに、局所的な電界集中効果をより効果的に利用するため、ノズル先端の内径は 0. 01〜8 /ζ πιの範囲が特に好ましい。
またノズルの先端の外径は、上記のノズルの先端の内径に応じて適宜に定まるが、 好ましくは 15 μ m以下、より好ましくは 10 μ m以下、特に好ましくは 8 μ m以下である 。ノズルは針状であることが好ましい。
[0024] ノズル 1は、キヤビラリ一チューブに限らず、微細加工により形成される 2次元パター ンノズルでもよい。あるいは、針状の電極と流体を供給するノズルを別体に形成し、近 接して位置する構造でも差し支えな!/、。
例えば、ノズル 1を成形性のよいガラスとした場合、ノズルを電極として利用すること はできないから、ノズル 1内には、例えばタングステン線などの金属線 (金属電極線) 2からなる電極を挿入してもよいし、ノズル内にメツキで電極を形成してもよい。ノズル 1自体を導電性物質で形成した場合には、その上に絶縁材をコーティングしてもよい 。電極を配置する位置に特に制約はなぐノズルの内側でも外側でもよぐさら〖こは、 内側、外側の両方、またはノズルとは別の位置に配してもよい。
また、ノズル 1内には吐出すべき溶液 3が充填される。このとき、ノズル内に電極を 挿入した場合には、電極 2は溶液 3に浸されるように配置される。溶液 (流体) 3は、図 示しない溶液源から供給される。ノズル 1は、シールドゴム 4およびノズルクランプ 5に よりホルダー 6に取り付けられ、圧力が漏れな 、ようになって!/、る。
圧力調整器 7で調整された圧力は圧力チューブ 8を通してノズル 1に伝えられる。 以上のノズル、電極、溶液、シールドゴム、ノズルクランプ、ホルダー及び圧力ホル ダ一は側面断面図で示されて 、る。ノズルの先端に近接して基板 13が基板支持体( 基板ホルダー) 14により配設されている。
[0025] 本発明のプローブカードの製造方法に用いる圧力調整装置の役割は、高圧を付加 することで流体をノズル力 押し出すために用いることができる力 むしろコンダクタン スを調整したり、ノズル内への溶液の充填、ノズルつまりの除去などに用いるために 特に有効である。また、液面の位置を制御したり、メニスカスの形成にも有効である。 また、電圧パルスと位相差を付けることでノズル内の液体に作用する力を制御するこ とで微小吐出量を制御する役割も担う。
コンピューター 9からの吐出信号は、任意波形発生装置 10に送られ制御される。 任意波形発生装置 10より発生した任意波形電圧は、高電圧アンプ 11を通して、電 極 2へと伝えられる。ノズル 1内の溶液 3は、この電圧により帯電する。これによりノズ ル先端の集中電界強度を高めるものである。
[0026] 本実施態様においては、図 4に示したようにノズル先端部における電界の集中効果 と、その電界の集中効果により流体液滴を荷電させることにより、対向基板に誘起さ れる鏡像力の作用を利用する。なお、図 4は、ノズル先端の内径 dのノズルに導電性 インク (液滴用流体)を注入し、無限平板導体カゝら hの高さに垂直に位置させた様子 を模式的に示したものである。また、 rは無限平板導体と平行方向を示し、 Zは∑軸( 高さ)方向を示している。また、 Lは流路の長さを、 pは曲率半径をそれぞれ示してい る。 Qはノズル先端部に誘起される電荷である。また、 Q'は基板内の対称位置に誘 導された反対の符号を持つ鏡像電荷である。このため、先行技術のように基板 13ま たは基板支持体 14を導電性にしたり、これら基板 13または基板支持体 14に電圧を 印加する必要はない。また、ノズル先端に集中する集中電界強度を高めることにより 、印加する電圧を低電圧化したものとなる。また、電極 2への印加電圧はプラス、マイ ナスのどちらでもよい。
[0027] ノズル 1と基板 13との距離は(以下、特に断らない限り、「ノズルと基板との距離」と はノズル先端カゝら基板のノズル側の表面までの距離をさす。)、鏡像力による着弾精 度、または飛翔中の液滴の蒸発量、つまり飛翔中の乾燥による液滴の粘度上昇に応 じて適宜調整することができる。また、構造物の成長にあわせ変化させ、さらに高いァ スぺタト比が得られるよう調整してもよい。逆に、近接した構造物の影響を避けるため 、近接する構造物の高さより低い位置にノズルの先端を配置してもよい。一方、表面 に凹凸のある基板上に吐出するには、基板上の凹凸とノズル先端との接触を避ける さけたりするため、ある程度の距離が必要である。着弾精度および基板上の凹凸など を考慮すると、ノズル 1と基板 13との距離は 500 m以下が好ましぐ基板上の凹凸 が少なく着弾精度を要求される場合には 100 m以下が好ましぐ 50 m以下がより 好ましい。一方、接近しすぎないように、 5 m以上が好ましぐ 20 /z m以上がより好 ましい。
また、図示しないが、ノズル位置検出によるフィードバック制御を行い、ノズル 1を基 板 13に対し一定に保つようにする。また、基板 13を、導電性または絶縁性の基板ホ ルダーに裁置して保持するようにしてもょ 、。
[0028] 本発明のプローブカードの製造方法において、バンプの高さは、吐出時間、電圧 の変化、基板の温度、ノズルの高さなどにより制御することができる。一方、バンプの 太さに関しては、吐出量を減少させるほど立体構造は形成しやすくなる。このとき、一 且成長を開始した着弾物は、急速に成長するために、細長い構造物になりやすい。 一方、用途によっては、太い構造体を形成したい場合や、径を変化させたい場合が ある。そのような場合には、電圧などを調節して、一旦成長させた構造体を溶力して、 再度成長させるという過程を繰り返すことで、任意の径の構造体を得ることが可能で ある。
[0029] 本発明のプローブカードの製造方法に用いられる微細インクジェット装置は、コンパ タトで設置の自由度が高いため、マルチノズルィ匕を行うことができ、例えば、国際公開 第 03Z070381号に記載されている微細インクジェット装置を好ましく使用すること ができる。なお、印加する電圧はデューティー比を最適化したパルス電圧、交流、お よび直流バイアスをカ卩えた交流などが望ましいが、直流であってもよい。
本発明のプローブカードの製造方法において、構造物を形成する位置調整は、 X — Y— Zステージ上に、基板ホルダーを配置し、基板 13の位置を操作することが実 用的であるが、これにとらわれず、逆に X—Y—Zステージ上にノズル 1を配置するこ とも可能である。また、ノズルと基板との距離は、位置微調整装置を用いて適当な距 離に調整することができる。さらに、ノズルの位置調整は、レーザー測距計による距離 データを元に Z軸ステージをクローズドループ制御により移動させ、 1 μ m以下の精 度で一定に保つこともできる。
従来のラスタスキャン方式では、連続した線を形成する際に、着弾位置精度の不足 や、吐出不良などにより配線がとぎれてしまうケースも起こりうる。このため、本実施の 形態においては、ラスタスキャン方式に加え、ベクトルスキャン方式を採用してもよい 。単ノズルのインクジェットを用いて、ベクトルスキャンにより回路描画を行うこと自体に ついては、例えば、ジャーナル'ォブ 'マイクロエレクトロメ力-カル 'システム(Journal of icroelectromechanical systems) , b. B. Fuller et al., Vol. 11, No.l, p.54 (2002) に記載されている。
[0030] ラスタスキャン時には、コンピュータ画面上で対話式に描画箇所を指定できるような 新たに開発した制御ソフトを用いてもよい。また、ベクトルスキャンの場合も、ベクトル データファイルを読み込むことで、自動的に複雑パターン描画が可能である。ラスタ スキャン方式としては、通常のプリンタによって行われて 、る方式を適宜用いることが できる。また、ベクトルスキャン方式としては、通常のプロッタで用いられている方式を 適宜用いることができる。
例えば、使用ステージとして、シグマ光機製の SGSP— 20— 35 (XY)と、 Mark— 2 04コントローラーを用い、また、制御用ソフトウェアとしてナショナルインスツルメンッ 製の Labviewを使用して、自作し、ステージの移動速度を 1 μ mZsec〜: LmmZsec の範囲内でもっとも良好な描画となるように調整した場合を考える。この場合、ステー ジの駆動は、ラスタスキャンの場合は、好ましくは 1 μ m〜100 μ mピッチで移動させ その動きに連動させ、電圧パルスにより吐出を行うことができる。また、ベクトルスキヤ ンの場合はベクトルデータに基づき、連続的にステージを移動させることができる。 本発明のプローブカードの製造方法における、これらの吐出位置調整方法によれ ば、制御データーの設定、入力によって自由な位置に、かつ迅速に、立体構造物の 形成位置を調節可能である。したがって、電極配置の多様化や、その頻繁な変更に も柔軟に対応し、適切なプローブ配置としたプローブカードを提供することができる。 本発明のプローブカードの製造方法において、微細インクジエトから吐出される液 滴は、微細であるために、インクに用いる溶媒の種類にもよる力 基板に着弾すると 瞬間的に蒸発し、液滴は瞬間的にその場に固定される。このときの乾燥速度は従来 のインクジエト技術によって生成されるような数十 μ mのサイズの液滴が乾燥する速 度に比べ、桁違いに速い。これは、液滴の微細化により蒸気圧が著しく高くなるため である。したがって、短時間に微細バンプを形成することができ、例えば 1つのバンプ を (材料、構造、大きさなどにもよるが)、好ましくは 0. 1〜300秒で形成することがで き、より好ましくは 5〜120秒で形成することができる。ピエゾ方式などを用いた従来の インクジェット技術では、本発明の製造方法で形成されるほどの微細なバンプを、短 時間に形成することは困難であり、また着弾精度も悪い。
本発明のプローブカードの製造方法によれば、アスペクト比を自由に設定しうる微 細なバンプを、精度と生産性よく形成することができ、緻密で精度の高いプローブ力 ードを提供することができる。さら〖こは、本発明のプローブカードの製造方法を応用し て、インターポーザーや、積層基板を製造することも可能である。
本発明のプローブカードの製造方法によれば、作製に要するエネルギー消費量が 極めて小さぐフォトマスクや、金型を必要とせず、試作が容易に可能である。しかも、 必要な場所に必要なだけの量の資源を投入できるという利点がある。また、本発明の 製造方法で得られるプローブカードは、電子部品、表示素子、 IC、 LSI,バイオチッ プ、生体用電極などさまざまな電子部品の検査技術分野や、バイオエレクトロニクス 分野に活用することができる。
実施例
[0032] 以下に本発明を実施例に基づきさらに詳細に説明するが、本発明はこれに限定さ れるものではない。
(実施例 1)
図 3に示したインクジェットにより、銀超微粒子ペースト (ハリマ化成社製、銀ナノべ 一スト、銀含有量 58質量%、比重 1. 72、粘度 8. 4cps)を吐出し、金を蒸着したガラ ス基板の上に、バンプの核部分を形成した。なお、ノズル先端の内径は 1 μ m、室温 (22°C)雰囲気下、ノズル内のペーストに印加した電圧は交流のピーク 'ッ'ピーク電 圧で約 450V、ノズルと基板との距離は約 100 mにそれぞれ設定した。 1つのバン プの核部分を形成するのに要した時間は 10秒であった。
さらに、バンプの核部分の上から、図 3のインクジェットにより、金超微粒子ペースト( ノ、リマ化成社製、金ナノペースト NPG— J、金含有量: 66. 9質量0 /0、比重 2. 15、粘 度 29. Ocps)を吐出し、バンプの表層部を形成し、プローブカードを作製した。
1つのバンプの表層部を形成するのに要した時間は 5秒であった。なお、ノズル先 端の内径は l /z m、室温(22°C)雰囲気下、ノズル内のペーストに印加した電圧は、 交流のピーク 'ッ'ピーク電圧で約 200V、ノズルと基板との距離は約 100 μ mにそれ ぞれ設定した。
作製したプローブカードのバンプ (核部分と表層部を合計した全体)の断面直径は 約 5 μ m、高さは約 20 μ m、各バンプのピッチは 50 μ mであった。
図 5に、形成した 6つのバンプのレーザー顕微鏡写真を載せた。また、図 6には、図 5中のバンプの 1つをさらに拡大した顕微鏡写真 (倍率 5 , 000倍)を載せた。
[0033] (実施例 2)
ノズルを旋回半径 7. 5 mで旋回させながら行った以外は、実施例 1に示したバン プ核部分の形成方法と同様にしてバンプ核部分を形成した。次いで、実施例 1に記 載のバンプ表層部の形成方法と同様にして、バンプ表層部を形成し、プローブカー ドを作成した。 作製したプローブカード上のバンプは中空の円錐台形状であり、壁面の厚さが約 3 μ mであり、先端部付近の円錐台形状の断面直径が約 8 m、高さは約 40 mであ つた o
図 7に、形成したバンプの顕微鏡写真 (倍率 2, 000倍)を載せた。
産業上の利用可能性
本発明の製造方法で得られるプローブカードは、電子部品、表示素子、 IC、 LSI, バイオチップ、生体用電極などさまざまな電子部品の検査技術分野や、バイオエレク トロ二タス分野に活用することができる。

Claims

請求の範囲
[I] 微細インクジェット法により、基板上に金属超微粒子を含む液体材料を吐出して、 微細バンプを形成することを特徴とするプローブカードの製造方法。
[2] 前記微細バンプの核部分を銀材料で形成し、その表層部を金材料で形成すること を特徴とする請求項 1記載のプローブカードの製造方法。
[3] 前記基板として柔軟性のある基板を用いることを特徴とする請求項 1または 2記載 のプローブカードの製造方法。
[4] 前記基板上に、柔軟性のある榭脂を設け、該榭脂の上部に前記微細バンプを形成 することを特徴とする請求項 1〜3のいずれか 1項に記載のプローブカードの製造方 法。
[5] 前記微細バンプの断面直径が 1〜50 mであることを特徴とする請求項 1〜4のい ずれか 1項に記載のプローブカードの製造方法。
[6] 前記微細インクジェット法が、電界の集中により微細液滴を飛翔付着させ乾燥固化 により該液滴を堆積させる前記微細バンプの形成方法であることを特徴とする請求項
1〜5のいずれ力 1項に記載のプローブカードの製造方法。
[7] 微細インクジェット法により、基板上に金属超微粒子を含む液体材料を吐出し形成 した微細バンプを有することを特徴とするプローブカード。
[8] 前記基板上に柔軟性のある榭脂を設け、該榭脂の上部に前記微細バンプを形成 したことを特徴とする請求項 7記載のプローブカード。
[9] 前記微細バンプの断面直径が 1〜50 μ mであることを特徴とする請求項 7または 8 記載のプローブカード。
[10] 前記基板上にバンプを互いに短ピッチで配設した微細バンプ群を有することを特 徴とする請求項 7〜9のいずれ力 1項に記載のプローブカード。
[I I] 前記微細バンプの核部分を銀材料で形成し、その表層部を金材料で形成したこと を特徴とする請求項 7〜 10のいずれ力 1項に記載のプローブカード。
[12] 前記微細バンプを熱処理することにより該微細バンプ内にポアを形成したことを特 徴とする請求項 7〜: L 1の 、ずれか 1項に記載のプローブカード。
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