WO2006070623A1 - 対向ターゲット式スパッタ装置 - Google Patents

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WO2006070623A1
WO2006070623A1 PCT/JP2005/023218 JP2005023218W WO2006070623A1 WO 2006070623 A1 WO2006070623 A1 WO 2006070623A1 JP 2005023218 W JP2005023218 W JP 2005023218W WO 2006070623 A1 WO2006070623 A1 WO 2006070623A1
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WO
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target
facing
unit
sputtering apparatus
magnetic field
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PCT/JP2005/023218
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English (en)
French (fr)
Inventor
Sadao Kadokura
Hisanao Anpuku
Original Assignee
Fts Corporation
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/34Gas-filled discharge tubes operating with cathodic sputtering
    • H01J37/3402Gas-filled discharge tubes operating with cathodic sputtering using supplementary magnetic fields
    • H01J37/3405Magnetron sputtering
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/34Sputtering
    • C23C14/3464Sputtering using more than one target
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/34Gas-filled discharge tubes operating with cathodic sputtering
    • H01J37/3488Constructional details of particle beam apparatus not otherwise provided for, e.g. arrangement, mounting, housing, environment; special provisions for cleaning or maintenance of the apparatus
    • H01J37/3497Temperature of target

Definitions

  • an opposed sputtering unit comprising a pair of targets facing each other with a predetermined facing space and a permanent magnet forming an opposing mode magnetic field perpendicular to the target surface provided around the target.
  • the present invention relates to a facing target sputtering apparatus in which a film is formed on a substrate disposed so as to face the side surface of the facing space, and more specifically, a facing target unit having the permanent magnet provided around the target is a rectangular parallelepiped.
  • the present invention relates to the technology of a facing target type sputtering apparatus which can form a film on a wide substrate and can form a film on a large area substrate in a stationary state.
  • the facing target type sputtering apparatus provided with the above-mentioned box type facing type sputtering unit is proposed by the present inventor according to Japanese Patent Application Laid-Open No. 10-36036 (US Pat. No. 6, 156, 172).
  • the structure is shown in Fig. 18.
  • the box-type opposed sputtering unit 70 has four side surfaces 71 a continuing to the opening side surface 71 f among the five side surfaces 71 a to 71 e excluding the opening side surface 71 f that becomes the opening of the rectangular frame 71.
  • Attach target targets 100a and 100b provided with magnetic field generating means consisting of targets 110a and 110b (not shown) and permanent magnets provided around them on two opposite side surfaces 71a and 71b of -71d.
  • the three side surfaces are shielded by shielding plates 72c to 72e, and the external shape is a rectangular parallelepiped shape including a cube, and has a box shape as a whole.
  • the box-type facing target type sputtering apparatus combines the box-type facing type sputtering unit with the vacuum chamber at the opening side surface 71f as shown in FIG. A thin film is formed on the substrate placed in the tank.
  • the opposing direction is the X direction
  • the direction in which the substrate on which the film is formed is viewed from the opposing space is the z direction.
  • Direction orthogonal to the X and Z directions In other words, the direction parallel to the target surface and the substrate surface is called Y direction, and the coordinate axis of each direction is called X axis, Y axis and Z axis To be.
  • the magnetic field formation for generating and constraining the sputter plasma with this configuration is disclosed in, for example, Japanese Patent Laid-Open No. 10-246, the facing space between the facing targets of the target bench provided with the magnetic field generating means.
  • a magnetic field in the facing mode in the vertical direction is formed over the target in the same manner as the conventional facing target sputtering apparatus, and in addition, the magnetic field of the magnetron mode in the direction parallel to the target surface near the target surface. Is formed around the outer periphery of the target, resulting in the formation of a high density plasma over the entire surface of the tag.
  • a box-type facing target sputtering apparatus provided with a box-type facing sputtering unit in which five side surfaces other than the opening side are shielded, the sputtered particles are arranged with the substrate evacuated to a high vacuum through the opening. Float in a vacuum chamber and deposit on a substrate to form a thin film.
  • the above-described conventional box-type facing target sputtering apparatus has a compact configuration and can form high-quality thin films at low temperatures, and its application to various film formations has been advanced. One of them has recently attracted attention, and its application to electrode formation of organic EL devices, for which commercialization development is thriving, has been studied in various ways. In addition, appropriateness to the field of semiconductor devices is also considered. And some of these are close to practical use.
  • the conventional facing target sputtering apparatus has the following problems. If the spacing is increased to cover a large area of the substrate, the magnetic field in the opposite direction for plasma restraint is reduced and the opposing sputtering does not function. Therefore, the spacing is essentially increased in the opposite direction. There is a problem that can not be done. And, at present, when a permanent magnet is used as the magnetic field generating means, the interval is limited to at most about 20 cm, so when forming a film in a stationary state of the substrate, it is limited to a substrate smaller than this. There is a problem.
  • the force can be applied to a large-area substrate by transferring in the X direction, specifically in the opposite direction, and expanding the target length in the Y direction perpendicular to this.
  • the target becomes expensive, uniform cooling of the target becomes difficult, and problems such as limited productivity, and the fact that the target is easily broken in the middle depending on the material, and handling is poor, etc. Disclosure of the invention
  • the present invention is intended to solve such problems, and it is an object of the present invention to provide a facing target sputtering apparatus capable of processing a large area substrate without any serious problem, and more specifically, the in-line method described above. It is an object of the present invention to provide a facing target sputtering apparatus which can be used without any problem, and a facing target sputtering apparatus which can process a large area substrate even when the substrate is at rest.
  • a target module having a rectangular target attached to the front surface of a backing portion provided with cooling means, and a target module attached to the front surface.
  • a unit support having a module attachment unit to be attached, and a magnet support unit having a magnet storage unit for storing a permanent magnet so as to generate a magnetic field in the opposite direction around the module attachment unit;
  • a facing target unit having a pair of facing target units having the facing permanent magnets and facing each other at a facing facing space of the facing facing sputtering unit.
  • the module attachment portion of the unit support is The target module is divided into a plurality of attachment sections which can be individually sealed and attached in the lateral direction parallel to the mounting surface and the substrate surface, and each attachment section has a predetermined length corresponding thereto.
  • An opposite is characterized in that the film formation area of the substrate in the direction of the tat direction is covered with a synthetic target consisting of a plurality of target modules provided side by side by attaching a get module.
  • the target sputtering system is Si-filled.
  • a pair of targets are made to face each other with a predetermined facing space being separated, and a magnetic field in the opposite direction is generated around the targets.
  • a facing type sputtering unit in which a permanent magnet is disposed on the In a facing target sputtering apparatus in which a film is formed on a substrate disposed on the side of the facing space so as to face a side face of the facing space, a plurality of the facing sputtering parts are combined with each other.
  • the permanent magnet is arranged to generate a magnetic field in the opposite direction around a plate-like intermediate unit support with the target on the target side attached to each surface, and the overall thickness including the target is By combining the film forming areas of the facing sputter units on both sides with an intermediate target unit having a thickness that can form a film having a predetermined film thickness on the side of the substrate side of the intermediate fabric support.
  • a facing target characterized in that it comprises a synthetic facing-type film, a plurality of film-forming areas of the facing sputtering section are synthesized in the facing direction to form one film-forming area.
  • Sputtering apparatus is provided.
  • the target units having end portions at both ends of the synthetic facing sputtering unit have a rectangular target attached to the front surface of a backing portion provided with cooling means.
  • a modular support having a module and a module mounting portion to which a target module is attached on the front surface, and a magnet storage portion storing a permanent magnet around the module mounting portion so as to generate a magnetic field in the opposite direction.
  • An intermediate target module comprising a body and the permanent magnet housed in the housing portion, wherein the intermediate target unit is provided with cooling means, and targets are attached to both sides of the intermediate unit support;
  • An arrangement consisting of a permanent magnet arranged to generate magnetic fields in opposite directions along the outer circumference of the target As a whole, the dimensions of the target in the vertical direction can be reduced, that is, the thickness of the unit becomes thinner, and the degree of overlapping of the film forming regions of the sputtered portions on both sides of the intermediate target unit can be increased. It is preferable from the point which can be box-shaped.
  • the predetermined film thickness is preferably equal to or more than the average film thickness of the necessary film forming region from the viewpoint of force uniformity determined from the required film thickness distribution and the like.
  • the film on the side of this intermediate target is formed by overlapping incident particles from the sputtered parts on both sides thereof. And, the film thickness of each sputtered part is thick at the center, and becomes thinner gradually as it gets away from this. Therefore, in order to obtain an average film thickness, it is considered sufficient that the film thickness of 50% or more of the maximum film thickness of the sputtered parts on both sides is provided on the side of the intermediate target unit.
  • the end target unit can be provided with a plurality of attachments that allow the module attachment portion of the unit support to be attached by individually sealing the target modules in the lateral direction parallel to the target surface and the substrate surface.
  • the target module is divided into compartments, and a target module of a predetermined length is attached to each attachment section, and a composite target module consisting of a plurality of target modules arranged in the lateral direction is A target attached to the intermediate support unit, the intermediate target unit having a plurality of intermediate target modules of a predetermined length with targets attached to both sides of the intermediate support provided with the cooling means.
  • the first intermediate unit is a synthetic intermediate target unit in which permanent magnets are disposed so as to generate magnetic fields in the opposite direction along the outer periphery of the juxtaposed intermediate target modules while simultaneously achieving the same length.
  • An opposing target sputtering system in combination with the embodiment of 1 is carried out.
  • the length of the unit in the Y direction is equal to or greater than the length in the Y direction of the substrate.
  • the landing unit is divided into a plurality of attachment sections of appropriate length, and target modules are attached to each attachment section, and an opposing target unit formed by mounting a composite target in which a plurality of target modules are connected is placed oppositely. It is According to this configuration, it is possible to effectively increase the length of a target by combining a plurality of target modules of appropriate predetermined lengths without using a long target.
  • Sputtering equipment can be used. Furthermore, by setting the target module standardized by the length, it is sufficient to prepare the target and backing part of the limited standard length, and a large effect is obtained in terms of production cost, maintenance management, spare parts, etc. can get.
  • a plurality of facing sputtering units are combined by an intermediate target unit in which one target of each sputtering unit is attached to both surfaces to form one film.
  • a synthetic facing type sputtering unit is disposed to form a formation region. According to this configuration, the facing-type spatter portion with a limited facing distance can not form a force. It is possible to realize a synthetic facing sputtering unit having a synthetic region, and to form a film of uniform thickness on a substrate having a large area and a large area in the opposing direction, specifically in the X direction in a stationary state. It is possible to provide a facing target sputtering system.
  • the third aspect of the present invention is a combination of the second aspect and the first aspect described above, and is essentially the length in the lateral direction (Y direction) and the length in the opposite direction (X direction). It is an object of the present invention to provide a facing target sputtering apparatus capable of forming a film on a large area substrate in a stationary state without any limitation.
  • the present invention enables a large mask which is difficult to realize in a facing target sputtering apparatus, which is noted for its low damage to the lower layer by plasma, and is capable of manufacturing semiconductor devices, It can be widely applied to the production of flat panel displays such as liquid crystal displays and organic EL displays, and further, to the production of functional films in which a high functional film such as an ITO film is formed on a plastic film.
  • FIG. 1 is a perspective view showing a part of a first embodiment of the present invention in a cross-sectional view.
  • FIG. 2 is a schematic perspective view of a target unit according to the first embodiment of this invention.
  • FIG. 3 is a cross-sectional view taken along line A-A of FIG.
  • FIG. 4 is a perspective view of an auxiliary electrode used in the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 5 is a plan view of the unit support used in the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 6 is a perspective view showing a part of a second embodiment of the present invention in a cross-sectional view.
  • FIG. 7 is a schematic perspective view of an intermediate target unit used in the second embodiment of the present invention.
  • FIG. 8 is a cross-sectional view taken along the line B_B of FIG.
  • FIG. 9 is a perspective view of the third embodiment of the present invention.
  • FIG. 10 is a schematic perspective view of an intermediate target unit used in the third embodiment of the present invention.
  • FIG. 11 is a cross-sectional view taken along the line C-C of FIG.
  • FIG. 12 is a cross-sectional view taken along line D-D of FIG.
  • FIG. 13 is a cross sectional view showing a modification of the embodiment of the present invention.
  • FIG. 14 is a cross sectional view showing a modification of the embodiment of the present invention.
  • FIG. 15 is a cross sectional view showing a modification of the embodiment of the present invention.
  • FIG. 16 is a graph of the film thickness distribution of the film-forming example 1 of the present invention.
  • FIG. 17 is a graph of the film thickness distribution of the film forming example 2 of the present invention.
  • FIG. 18 is a perspective view of a conventional box-type opposed sputtering unit. BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
  • FIG. 1 is a schematic perspective view partially including a cross-sectional view, showing a box-type facing target sputtering apparatus according to a first embodiment of the present invention.
  • a box-type opposed sputtering unit (hereinafter referred to as a box-shaped sputter section) 70 according to the present embodiment has target units 100a and 100b in the form of a rectangular frame 71, and the opposing side surfaces 71a and 71b on the left and right sides. It is airtightly attached to the board 20 and faces the substrate 20.
  • the side faces 71c to 71e other than the open side 71f on the lower side (the side 71c and 71d on the near side and the back side are not shown in the figure) (In the figure, the shield plate 72c of the side surface 71c on the front side is not shown.) Airtightly shields, and only the open side surface 71f is open, and the other is sealed in a box-shaped configuration of the opposing space 120. .
  • Target unit 100a the opposite side of the 100b, each two respectively are arranged in the Y-direction target 100a Medical 10032: 1001 ⁇ , 100b 2 ( 100b 2 are not shown) is attached. Further, permanent magnets 130a and 130b for forming a magnetic field mainly in the X direction and permanent magnets 180a and 180b for adjusting a magnetic field in the magnetron mode are attached to the target units 100a and 100b.
  • the permanent magnets 130a, 130b and 180a, 180b are fixed in the housing using fixing plates 132a, 132b and 182a, 182b, respectively.
  • pole plates 191a, 191b for magnetically coupling the permanent magnets 132a, 132b and the permanent magnets 182a, 182b are provided.
  • the pole plates 191a and 191b are provided with openings 193a (not shown) and 193b for passing cooling water supply and drain pipes.
  • the front means the side of the opposing space 120 of the target opposite to the target, and the rear means the opposite side).
  • the “U” -shaped auxiliary electrode consisting of a copper tube for absorbing electrons, as shown in In order to make it easy to see in FIG. 1, the main body is not shown), and the legs 201b and 201c (201c is not shown) of the auxiliary electrode are drawn out from the shielding plate 72e.
  • the facing target units 100a and 100b of the present embodiment have a unit configuration that can be attached to and removed from the frame 71 integrally.
  • FIG. 2 is a perspective view of a target unit used in the present embodiment
  • FIG. 3 is a cross-sectional view taken along line A-A in FIG. 2 and 3 show the target unit 100a, in which the target unit 100b is reversed in the arrangement of the magnetic poles N and S of the permanent magnet 130a of the magnetic field generating means and the permanent magnet 180a of the magnetic field adjusting means.
  • the configuration is the same as that of this target unit 100a except for the detailed description thereof is omitted.
  • the target unit 100a is configured to be detachably attached to the frame 71 by the flange 155a of the unit support 150a.
  • the target unit 100a has a modular structure of the support module and the two target modules as follows, and the target module 200 ai is mounted on the unit support 150a of the support module. , 200a 2 are attached in a row in the Y direction.
  • the target module 200a 200a 2 comprises a backing portion 113a 113a 2 and targets 110 3 110a 110a 2 fixed on the surface thereof.
  • the tacking portions 113 3 l and 113 a 2 are provided with an attachment surface having the same shape as the target 110 a and 110 a 2 as shown in the figure, and cooling grooves 161 a and 161 a 2 are formed inside as shown by dotted lines in the figure.
  • a dividing wall 162a 162a 2 is provided, and a cooling jacket 160a 160a 2 is configured here.
  • Cooling grooves 161a l N 161a 2 is connected port 163 3 l carried out of both ends of the supply and drainage of cooling water are connected to 163a 2. Further, the cooling grooves 161a and 161a 2 are formed as wide as possible so as to cover the back surface of the targets 110a and 110a 2 .
  • the backing portion 113a or 113a 2 with the targets 110 ai and 110a 2 fixed to the front surface is a module attachment portion for attaching the target module provided on the front surface of the unit support 150a of the support module.
  • the concave part 152a of the housing it is attached in an airtight and exchangeable manner by using the O-rings 116 ⁇ and 116a 2 by means of bonoreto 111a at a fixed interval in the periphery.
  • the cooling jackets 160a and 160a 2 form stepped recesses having partition walls 162a and 162a 2 at the rear of the backing main body 114a and 114a 2 formed of a thick plate-like body of backing portions 113a and 113a 2 ,
  • a backing lid 115a or 115a 2 having a connection port 163a or 163a 2 formed on the step is welded to seal the stepped recess.
  • the backing portions 1133 and 113a 2 and the partitions 162 ⁇ and 162a 2 are formed of a heat conductive material, specifically, copper in this example.
  • a synthetic resin tube is piped through the through hole 154a provided in the unit support 150a to the connection port 163a or 163a 2 and the cooling jacket 160a or 160a 2 is formed. It is designed to allow the passage of cooling water.
  • the target 1103 it 110a 2 on the front surface of the backing portion 113a has 113a 2 and bonded with a satisfactorily thermally conductive adhesive material (e.g. indium), and target module 200a have 200a 2.
  • a satisfactorily thermally conductive adhesive material e.g. indium
  • target module 200a have 200a 2.
  • This target module 2003 ⁇ 200a 2 is described in detail below as the cooling jackets 160 ai and 160 a 2 are blocked from the vacuum side (opposite space 120 side) by the O-rings 1163 and 116a 2 for vacuum seedling.
  • the rear surface of which a backing portion 1133 I 113a 2 is attached so as to contact directly with bolts 111a in the recess 152a of the module mounting portion of the support module.
  • the targets 110 ai and 1103 ⁇ 4 of the two target modules 200a and 200a 2 are connected in series to effectively use a synthetic target that is large in the Y direction. It is possible to form a film on a large substrate. Therefore, according to the in-line method of film formation while transporting the substrate in the X direction, the size in the Y direction, specifically, the width in the horizontal direction, the long continuous film, is a width in the horizontal direction, It becomes possible to form a film on a large-area single wafer or glass substrate. And, independent cooling jackets 160a and 160a 2 are provided for every target module 2003/200 a 2 and they are cooled independently for every target 110 ai and 110 a 2 so that the cooling is effective without unevenness.
  • the cooling power can be supplied independently to each of the cooling jackets 160a and 160a 2
  • the power input power is small, in other words, the film formation speed is small, and when large cooling is not necessary, etc.
  • the piping system can be simplified by connecting two cooling jackets 160a and 160a 2 of modules 200a and 200a 2 in series by piping and supplying the drainage of one cooling jacket to the other cooling jacket.
  • the effective Y-direction dimension of the target is increased.
  • the Y direction of the synthetic target is obtained by using the permanent magnet 180a of the magnetic field adjustment means described later. Can adjust the film thickness distribution in this direction. Ru.
  • the support module consists of an integral unit support 150a which is shaped as shown by heat well, in this example a block of aluminum, as shown by IJ :::. Then, in the flange 155a of the mounting portion, an electrically insulating sleeve, which has a fixed interval, is provided on the frame 71 via the packing 156a made of an electric insulating material, in this example, raw resin, and the O-rings 117a and 118a for vacuum sealing. It is electrically insulated and attached airtightly by attached bolt 112a.
  • the unit support 150a has a configuration in which a flange 155a having a predetermined width for attachment to the frame 71 is provided on the rear side of the lower surface of the rectangular support body 151a. It is Then, a concave portion 152a of the module attachment portion for attaching the target module is formed on the front surface (upper surface in the figure) of the support main body portion 151a, and the peripheral magnet portion 153a surrounding the concave portion 152a is a permanent magnet 130a of the magnetic field generating means.
  • a storage section 131a for storing the components is drilled from the rear surface (lower surface in the figure) side of the atmosphere.
  • the recess 152a of the module attachment portion is as shown in FIG. 5 so that two target modules can be attached. That is, the bottom surface of the module attachment portion of the recess 152a is divided into two sections in the Y direction, and the O-ring 116a or 116a 2 sealing surface 119a is set on the back of the backing section 113a or 113a 2 in each section. 119a 2 is formed as an attachment compartment to which the target modules can be individually sealed and attached individually. Therefore, by attaching a target module to each attachment section, it is possible to construct a composite target module in which a plurality of target modules are connected in the Y direction. In Fig. 5, the bolt holes for mounting are not shown to simplify the drawing. In the present embodiment ..
  • the ends of the front (Fig. Above) the end surface have eaves portion and the target 110a of Batsuki ring portion 113a have 113a 2 of the target module U0a 2 of the peripheral wall portion 153a covers.
  • this ridge portion and the upper end thereof have the same function as the conventional electron reflecting means, but different from the conventional electron reflecting means attached to the backing portion via the support member described later.
  • the target end is bonded to the eaves portion of the backing portion 113a have U3a 2 directly is very well cooled, the effect is significant power to increase productivity as a whole since it turned can be obtained.
  • the configuration around the target is very simple, and there is a great cost advantage.
  • the target end has an electron reflection function
  • the back wall 113a or 113a of the overlapping portion with the peripheral wall 153a may be formed.
  • a conventional electron reflecting means in which the ridge portion of 2 and the end portion of the target 110a or 110a 2 are deleted, and the peripheral wall portion 153a, that is, the pole tip of the permanent magnet 130a is raised and an electron reflection plate is provided in front thereof. It is preferable that the front side magnetic pole end face of the permanent magnet 130a be slightly protruded to the inside of the tank than the front face of the target 110a 1 , 110a 2 .
  • a groove for attaching the permanent magnet 180a (see FIG. 1) of the magnetic field adjustment means is mounted on the central portion of the rear side of the support main body 151a of the unit support 150a in parallel with the Y axis. It is drilled so as to cover almost the entire length of the 110a 110a 2 .
  • a permanent magnet (180a) may be installed in this groove so as to fill the entire groove, or may be spaced apart.
  • the permanent magnet (180a) of the magnetic field adjustment means and the permanent magnet 130a of the magnetic field generation means are magnetically coupled by the pole plate 191a via the fixed plates (182a) and 132a.
  • the pole plate 191a is made of a ferromagnetic material, and the pole plate (191b) of the target unit (100b) is not shown, for example, a plate made of a ferromagnetic material that covers the entire surface of the shielding plate (72c, 72d or 72e). It is magnetically coupled by the connecting plate.
  • the connection plate for the magnetic coupling between the pole plates 191a and 191b is formed by an opening which is inserted between the tank wall 11 of the vacuum tank 10 and the frame 71 and does not narrow the opening of the frame 71. It may be a formed plate-like body.
  • the mounting plate 191a can be sufficiently and stably held by the magnetic force of the permanent magnets 130a and 180a, so it is possible to use only these magnetic forces, but for safety it is possible to use a screw with a sleeve with electrical insulation. It can also be fixed.
  • the pole plate 191a is electrically insulated from the target unit 100a by fixed plates (182a) and 132a made of an electrical insulating material, and is held at, for example, the ground potential.
  • the storage portion 131a is constituted by a slot having a position opened to the atmosphere side so that the permanent magnet 130a of the magnetic field generating means can be taken in and out from the atmosphere side outside the tank.
  • the magnet 130a is inserted into the slot of the storage portion 13 la in the illustrated magnetic pole arrangement.
  • Permanent magnets 130a the predetermined length in this example, a plate-like Alnico such commercial permanent magnet having a predetermined width, the synthetic target composed of a predetermined number of permanent magnets 130a in the target 110 3 iota and 110a 2 (i.e. It is disposed along the outer periphery of a virtual target (110 3 +110 a 2 ) and fixed by bonding a fixing plate 132a made of an electrically insulating material, in this example, a thin resin plate.
  • an X-direction magnetic field in the X direction is formed surrounding the opposing space (the space formed by the pair of opposing synthetic targets) in cooperation with the permanent magnet 130b of the opposing target unit 100b.
  • An arc-shaped magnetron mode magnetic field is generated along the periphery of the composite target (iio ai + 110a 2 ) from the surface of the part toward the surface near the center.
  • sputtering in the central part of the synthetic target is mainly controlled by the magnetic field in the former opposite mode, and sputtering in the peripheral part of the synthetic target is mainly controlled in the magnetic field in the latter magnetron mode, and along the outer circumference acting as electron reflecting means as a whole.
  • a substantially uniform sputtering is realized over the entire surface of the target except for the aforementioned end.
  • the permanent magnet 180a of the magnetic field adjustment means is disposed so as to strengthen the magnetic field in the magneto-tonal mode as a whole, and the fixed plate 182a which is the same thin plate as the fixed plate 132a and made of a resin plate is used. Bonded and fixed.
  • the magnetic field adjustment means can adjust the magnetic field of the magnetron mode in the vicinity of the front surface of the peripheral part of the synthetic target consisting of the targets 110 3 and 110 a 2 , so that the magnetic field is controlled by the magnetic field of the magneto mode independently of the magnetic field of the opposing mode.
  • the plasma constraint at the periphery of the target can be adjusted, making it possible to achieve uniform erosion of the target and even uniform film thickness distribution in the Y direction of the thin film to be formed.
  • FIG. 4 is a perspective view of a shield plate 72e showing a state in which an auxiliary electrode is attached.
  • the auxiliary electrode of this embodiment has a main body 201a and legs 201b and 201c, which are made of a copper tube, so as to correspond to the end of the above-mentioned synthetic target which is an electron reflecting means in which thermal electrons are easily retained.
  • the U-shaped tubular electrode 201 has a part of the leg portion thereof led to the outside from the shielding plate 72e, that is, to the atmosphere. And although it is not shown in FIG. 1 for the sake of clarity, In the opposing space 120, the lower end of the target 110a 110a 2 and 110b 110b 2 in the opposite space 120, and the legs 201b and 201c along the front and rear ends in the same figure in the vicinity of the front It is arranged parallel to the target plane.
  • the same anode potential (ground potential) as that of the shield plate 72e is applied to the tubular electrode 201, and absorbs excess electrons including thermal electrons generated in the facing space. Cooling water is circulated in the tubular electrode 201 and forced cooling is performed.
  • the arrangement and shape of the auxiliary electrode are not limited to the illustrated example. The point is that the electrode should be disposed in the vicinity of the location where thermal electrons are easily accumulated. When this auxiliary electrode is provided, it is confirmed that the light emission associated with the electron retention is greatly reduced, and it is also confirmed that the temperature rise during film formation of the substrate is suppressed.
  • the target unit 100a has a configuration in which two target modular units 200a and 200a 2 are arranged side by side on a unit support 150a. Then, the target unit 100a is provided with a mounting flange portion 155a as a frame 71, and a fixed distance from an electrical insulating material, specifically, a packing 156a made of a heat resistant resin, and vacuum sealing O-rings 117a and 118a. By mounting it with Bonoreto 112a using a sleeve (not shown) made of an electrically insulating material, it is airtightly installed in a frame 71 electrically insulated as shown in FIG. Part 70 is composed.
  • the box-shaped sputtering unit 70 is formed by electrically insulating the target units 100a and 100b on the side surfaces 71a and 71b of the frame 71 made of a rectangular parallelepiped structural material (in this example, aluminum) as described above. And airtightly attach, and shield plates 72c to 72e are bolted to the other side surfaces 71c to 71e via an O-ring (not shown) except the side surface 71f which is an opening of the lower surface facing the substrate 20 It is airtightly attached and closed by the operation) (the side surfaces 71c and 71d and the shielding plate 72c are not shown).
  • the shield plates 72c to 72e have heat resistance and can be vacuum-shielded, and the material is not limited, and an ordinary structural material can be applied. In this example, the same lightweight aluminum as the frame 71 was used. In addition, the shielding plates 72c to 72e are cooled by providing a cooling pipe or the like on the outer side as needed.
  • the box-type sputtering unit 70 is airtightly attached to the tank wall 11 of the vacuum tank 10 by a bolt at the lower opening side surface 71 f of the frame 71 so that the opening thereof faces the vacuum tank 10. Therefore, the vacuum chamber 10 and the frame 71 are electrically connected by the mounting bolt.
  • the substrate 20 is held stationary on the substrate holder 21. It is also possible to adopt an in-line method in which the film formation is performed while moving the substrate in the opposite direction by the force transfer means which is configured to form a film while holding it.
  • a known load lock chamber (not shown) is connected to one of the side surfaces of the vacuum chamber 10, so that the substrate 20 can be supplied and unloaded onto the substrate holder 21 by the substrate loading and unloading means not shown. It is done.
  • the targets 110 ai , 110b, 110a 2 and 110b 2 (110b 2 are not shown) of the synthetic targets face each other at a predetermined interval, and plasma for the synthetic target is generated.
  • the basic configuration of the restraint magnetic field is also the same as that in the above-mentioned FIG. 18, ie, the conventional example.
  • sputtering film formation is performed in the same manner as in the conventional example. Then, as shown in the film formation examples described later, it is possible to realize the facing target sputtering apparatus which can form a film in a wide range as expected and the film formation region is basically not limited to the horizontal length of the substrate.
  • FIG. 6 is a schematic perspective view partially including a cross-sectional view, showing a box-type facing target sputtering apparatus according to a second embodiment of the present invention.
  • the target units 100 a and 100 b at both ends are airtightly attached to the opposite side surfaces 71 a and 71 b in the figure of the rectangular frame 71 and face the substrate 20.
  • the side faces 71c to 71e (the side faces 71c and 71d on the near side and the back side are not shown) other than the open side face 71f on the lower side are the shielding plates 72c to 72e (in the figure, the shielding plate 72c on the near side 71c).
  • an intermediate target unit 300 having targets 110g and 110h on both sides to form an opposing sputtering unit, and opposing sputtering units of two opposing spaces 120 and 120 2 formed between the target units 100a and 100b.
  • targets 110g and 110h on both sides to form an opposing sputtering unit, and opposing sputtering units of two opposing spaces 120 and 120 2 formed between the target units 100a and 100b.
  • the target units 100a and 100b of the end portions located at the end of the opposing direction of the synthetic facing sputtering unit are not the synthetic target module of FIG. 1 but the target unit and target module of FIG. It has basically the same configuration as that of the example except that it is one, and the symbols of the respective members are the same as in FIG. Therefore, the detailed explanation is It is omitted, and below, only the main points. That is, on the opposite surface side, one rectangular target 110a, 110b of the same size is attached.
  • permanent magnets 130a and 130b for forming a magnetic field mainly in the X direction and permanent magnets 180a and 180b for adjusting a magnetic field in the magnetron mode are attached to the target armatures I00a and 100b, respectively.
  • pole plates 191a, 191b for magnetically coupling the permanent magnets 130a and 180a and the permanent magnets 130b and 180b are provided.
  • the pole plates 191a and 191b have openings 193a (not shown) and 193b for passing a cooling water supply pipe and a drainage pipe.
  • the intermediate target unit 300 is formed of a thick rectangular plate having the same rectangular shape as a target having parallel surfaces to which targets are attached on both sides, and a cooling jacket (shown in FIG. 6 for easy viewing).
  • facing space 120 have 120 2 to a surface facing the target 110g of the intermediate unit support member 301 shown) is formed, and an intermediate target modules attached to 110h, attached to the other four sides of the medium between Yunitto support 301
  • the magnet holder 311 and the magnet holding boxes 314 to 316 (314 and 316 are not shown) of the magnet holding means for holding the permanent magnet 130c which generates the magnetic fields in the X direction, specifically, the opposite direction It consists of a permanent magnet 130c.
  • the exposed surfaces other than the surfaces of the targets 110g and 110h of the intermediate target unit 300 are covered with a shield plate 338 as shown so as not to be sputtered.
  • the strain board 338 is directly attached to the shielding plate 72e.
  • a through hole 76 for piping for circulating cooling water to the cooling jacket in the intermediate unit support 301 is opened.
  • auxiliary electrodes for absorbing electrons are provided near the front of the end of each target 100a, 100g, 100h, 100b (not shown in the opposing space for simplification).
  • the legs 201b and 201c (201c not shown) of the auxiliary electrode are drawn out from the shielding plate 72e.
  • the target 110a and the target 110g face each other at a predetermined distance as in the related art to form an opposing space 12 ( ⁇ , and permanent magnets 130a and 130c are formed along the outer circumference of each target on the back of each end. There has been mounted. Similarly, the target 110b and the target 110h forms a facing space 120 2 by pairs toward the permanent magnet 130b along the back of the respective ends around the respective targets, 130c Where the permanent magnet 130c is the target The permanent magnets 130a and 130c, and the permanent magnets 130b and 130c, which are common to I00g and 100h, are arranged such that the different poles face each other.
  • a magnetic field of a predetermined opposing mode is formed in each opposing sputtering system consisting of opposing spaces 120 and 120 2 on both sides of the intermediate target unit 300 to confine plasma in the space.
  • an arc-shaped magnetic field of the magneto- tine mode is formed in the vicinity of the surface of the peripheral part of each target.
  • the target units 100a and 100b are provided with permanent magnets 180a and 180b of the magnetic field adjustment means for adjusting the magnetron mode magnetic field, for convenience of alignment with the intermediate target unit 300, etc. This can be omitted if it is not necessary to adjust it.
  • Vacuum tank 10 is disposed under the synthetic counter-type sputtering section where two counter-type sputtering sections of countering space 120 ⁇ 120 2 are integrated.
  • An opening is provided in a portion opposite to the lower surface in the drawing of the sputter portion Vacuum chamber below the opening
  • a substrate holder 21 in which a substrate 20 is set is provided in the housing 10.
  • a load lock chamber is connected to one side of the vacuum tank 10 on the front and rear sides so that the substrate 20 can be taken in and out.
  • the target units 100a and 100b at the end are attached to the side surfaces 71a and 71b of the frame 71 via the heat-resistant I "patterning 156a and 156b made of green resin, and the side surfaces 71c of the frame 71 Shielding plates 72c to 72e (side surfaces 71c and 71d, and shielding plate 72c are not shown) are attached to 71 to 71e, and an insulating plate 331 made of a heat resistant resin or the like is attached to the vacuum side of the shielding plate 72e.
  • the intermediate target unit 300 is airtightly attached to form a box-shaped sputtering unit 70.
  • the box-shaped sputtering unit 70 is formed by attaching a frame 71 to the tank wall 11 of the vacuum chamber 10 with a bolt.
  • the target unit 100a, 100b, the shields 72c to 71e, the vacuum chamber 10, and the frame 71 are airtightly attached to each other through an O-ring, and the facing spaces 120 i, 120 are attached. 2 and the vacuum chamber 10 are shut off from the atmosphere side.
  • the film formation region of the substrate 20 immediately below is a view facing to the respective counter sputtering unit consisting of counter space 120 I 120 2, the spatter particles generated by sputtering of the opposing target surface are deposited in fly
  • the film formation is performed by the At this time, in the side view of the intermediate target unit 300, sputtered particles also fly to the lower region, and film formation is performed although it is thinner than the region immediately below the facing space. That is, the film formation region of the facing sputtering unit Not only the portion facing the opening, but also the periphery thereof, a film having a substantially uniform film thickness is deposited at the center of the opening and has a substantially uniform film thickness.
  • the deposition rate gradually decreases and the film thickness formed simultaneously decreases, but the film is deposited. Therefore, in the region immediately below the intermediate target unit 300, the sputtered particles generated in the facing sputter units on both sides overlap each other to form a combined film. Therefore, X-direction thickness of concrete on the target 110g of sputtering conditions and the intermediate target Interview knit 300, by appropriately selecting the surface dimension between the 110h, facing the space 12 ( ⁇ and 120 each opposite Shikisu Bruno 2
  • the thickness of the film formed in the region immediately below the footer portion can be made substantially equal to the thickness of the film formed in the region immediately below the intermediate target unit 300, thereby suppressing the variation in film thickness in the X direction.
  • film formation can be performed to a substantially uniform thickness on the substrate 20. That is, according to the present embodiment, a synthetic facing type in which facing type sputter sections on both sides thereof are integrated by an intermediate target unit. The sputtered portion can effectively expand the film formation region with a uniform film thickness in the X direction, specifically in the opposite direction, and form a film in a stationary state on a large-area substrate with no limitation on the dimension in this direction. Be able to do
  • FIG. 7 is a perspective view of the intermediate target unit 300
  • FIG. 8 is a cross-sectional view taken along the line B- B of FIG.
  • the intermediate unit support 301 is made of a thick plate of heat conductive copper having a target attachment surface formed on both sides, and a cooling section partitioned by a partition 304 inside thereof.
  • a cooling jacket 302 consisting of grooves 303 is formed.
  • a connection port 305 is formed at both ends of the cooling groove 303, and a tube connected thereto supplies and drains the cooling water.
  • targets 110g and 110h are adhered to the target attachment surfaces on both sides of the intermediate support 301 using, for example, indium.
  • Magnet holding grooves 306 are formed in the remaining four sides of the intermediate unit support 301.
  • the magnet holding box 314 of the magnet holding means storing permanent magnets 130c in the magnet housing groove 306 of the three sides except the atmosphere side (the upper side in FIG. 7, FIG. 8) of the four sides. 316 (316 not shown) are attached by screws 334.
  • the magnet holding means for storing the permanent magnet 130c and a magnet holding tool 311 which serves both as an external connection portion to be airtightly attached to the external shielding plate 72e. It is done.
  • the magnet holder 311 is constituted by a main body portion 312 having a stepped recess for holding the permanent magnet 130 c in the X direction, specifically, in the opposite direction, and a lid portion 313 fitted in the stepped recess.
  • the back end and the front end face of the side of the stepped recess can be sealed, and the main body 312 and the cover 313 of the magnet holder 311 hold bolts 335 while holding the permanent magnet 130 c in the X direction.
  • the intermediate target unit 300 is electrically insulated from the shielding plate 72e by being attached to the shielding plate 72e by attaching the magnet holder 311 to the shielding plate 72e by means of the insulating plate 331 with the insulating plate 331 via the insulating plate 331. Be supported. Through holes 317 and 332 for passing a cooling water supply tube are opened in the magnet holder 311 and the insulating plate 331. Further, the insulating plate 331 is provided with a through hole (not shown) for connecting the wire of the sputtering power supply to the wire connection portion 318 provided in the lid portion 313 of the magnet holder 311. The through holes and the cooling jacket 302 of the intermediate unit support 301 are isolated from the vacuum side by O-rings 341 to 343.
  • the magnet holder 311 and the magnet holding boxes 314 to 316 are made of lightweight aluminum alloy.
  • the permanent magnet 130c housed in the magnet holder 311 and the magnet holding boxes 314 to 316 is processed so as to be able to pass a screw 334, a bolt 335 or a tube for cooling water.
  • FIG. 9 is a schematic perspective view showing a box-shaped sputtering unit 70 of the facing target sputtering apparatus according to the third embodiment of the present invention as viewed from the substrate side (vacuum tank side).
  • one side surface 71f of the rectangular frame 71 is an opening of a predetermined size facing the substrate side, and two opposing side surfaces sandwiching the opening are formed as shown in FIG.
  • Target units 100a and 100b of the same configuration as the first embodiment of the figure are attached.
  • the remaining three sides of the frame 71 are closed by shielding plates 72c to 72e.
  • the target units 100a and 100b at this end are each attached with two targets 110a and 110a 2 (both not shown); 1101 ⁇ and 110b 2 constituting the synthetic target as described above.
  • Pole plates 191a and 191b are attached to the back of the target units 100a and 100b.
  • a synthetic intermediate target unit 300 consisting of two end intermediate target units 300 300 2 arranged side by side on the rear side shielding plate 72e facing the opening. Is attached as follows.
  • middle targ of each end Ttoyunitto 300 have 300 2 has the same configuration as the intermediate targets Interview knit 300 of the foregoing embodiments the second embodiment except that different part arrangement of the magnet retainer box magnet holding means. That is, targets 110 h and 110 gl ; 110 h 2 and 110 g 2 are attached to the target attachment surfaces on both sides of each intermediate unit support 301 and 301 2 of the intermediate target unit 300 300 2 .
  • synthetic intermediate target unit 300 are provided in parallel to the intermediate positions of the target units 100a and 100b equipped with end synthetic targets as shown.
  • two pairs of synthetic targets in which two targets are arranged in the Y direction, specifically in the lateral direction, and two facing sputtering sections composed of the synthetic targets composed of each pair are synthesized.
  • Intermediate Target Unit 300 These opposing sputtering units are formed on both sides of the synthetic intermediate target unit 300.
  • the integrated counter-type sputtering unit was integrated.
  • the target units 100a and 100b have the same configuration as that of the first embodiment described with reference to FIGS. 1 to 3 as described above, and thus the details will be omitted. The details of the intermediate target unit of the present embodiment will be described.
  • Fig. 10 shows a synthetic intermediate target unit 300 equipped with two intermediate targets 300 ⁇ 300 2 at the end. 11 and 12 are cross-sectional views taken along the lines C-C and D-D of FIG. 10, respectively.
  • a zigzag cooling groove 303 303 303 2 partitioned by partition walls 30 ⁇ and 304 2 .
  • the cooling jackets 302 and 302 2 are formed.
  • At both ends of the cooling grooves 303 have 303 2 is formed with a connection port 305 have 305 2, supplied 'drainage of the cooling water is performed by the connected tube here.
  • targets 110 gl and U0 h 1 ; 110 g 2 and 110 h 2 are made of indium, for example, on the target attachment surfaces on both sides of the intermediate unit support 301 and 301 2 respectively. It is glued. The three sides except the side that bind if side i.e. in contact with each other of the intermediate unit support member 301 ⁇ 301 2, the magnet accommodating grooves 306 have 306 2 is bored.
  • Magnet holding box 314 for housing the air side surface perpendicular to the permanent magnet 130c to the target (first 0 view of the upper side) 2 side magnet containing grooves 306 have 306 2 except of its three sides Screws 315 J; 315 2 , 316 2 are attached by means of screws 334.
  • Intermediate Yunitto support 301 301 magnet holders 311 have 311 2 which also serves as an external connection portion for attaching the second air-side side surface to the magnet holding means and the outside of the shielding plate 72e for accommodating a permanent magnet 130c is It is attached.
  • Lid magnet holder 311 I 311 2 the main body portion 312 iota having a stepped recess for holding the permanent magnet 130c to generate a magnetic field in the direction perpendicular to the target, and 31 2 2, which is fitted into the stepped recess part 313 constituted by the I 313 2 (in the first 1 diagram stepped recess for simplicity spoon of Figure is shown as a simple concave).
  • the magnet holder 311 have 311 2, through holes 317 have 317 2 for passing a tube for supply and discharge of cooling water is opened, connecting the wiring of sputtering power on the upper surface of the lid portion 313 have 313 2 Wiring connections 318 or 318 2 are provided.
  • the cooling jacket 302 I 302 2 of the intermediate unit support, O-ring 341 I 341 2 and the main body portion 312 I 312 2 disposed on the back of the main body 312 I 312 2 of magnet holder 311 I 311 2 It is isolated from the vacuum side by an O-ring (not shown; corresponds to O-ring 342 in Fig. 8) placed on the air side (upper side of the figure).
  • the magnet holder 311 ⁇ 311 2 is attached to the shield plate 72 e by an electrically insulating sleeved bolt (not shown) via the insulating plate as in the second embodiment.
  • an auxiliary electrode for absorbing excess electrons in the facing space is located in the vicinity of the front of the end of each synthetic target in the shielding plate 72e. It is provided as.
  • ⁇ opposed-type sputtering unit consists of, also target 1101 ⁇ , and 110b 2 and the target 110h 1 N 110h 2 opposing sputtering unit consisting of counter space 120 2 facing is formed. it.
  • the outer peripheral portion of the synthetic target (110 ai + 110 a 2 and 110 gl + 110 g 2 ) constituted by targets arranged in the Y direction is opposed by the magnetic field in the X direction emitted from the force.
  • a magnetic field in the opposite mode surrounding the space 120 is formed, and in the opposite sputtering unit consisting of the opposite space 120 2, a synthetic target (I i b i + i i obs) is formed by targets arranged in the Y direction.
  • l io ⁇ + ii The magnetic field in the opposite mode surrounding the facing space 120 is formed by the magnetic field in the X direction emitted from the outer periphery of the oi.
  • a magnetic field of magnetron mode is formed along the outer periphery of each target except for the edge welded to the other target in the outer periphery along the outer periphery of each synthetic target.
  • the box-shaped sputtering unit 70 is provided with bolts at the upper opening side in the drawing of the frame 71 so that the opening faces the vacuum chamber. Airtightly attached to the chamber wall of the vacuum chamber. Therefore, the vacuum chamber and the frame 71 are electrically connected by the mounting bolt. In the vacuum chamber, the substrate is set to face the above-mentioned opening and the film formation is carried out as in the above-mentioned embodiment. At that time, as described in the second embodiment, a synthetic intermediate target unit 300.
  • a synthetic intermediate tag 300 In the third embodiment, a synthetic intermediate tag 300.
  • a single intermediate target unit is provided to form two opposed type sputter units, and two targets are arranged in the Y direction.
  • a composite intermediate target unit 300 0 disposed between the single-target unit 100 a and 100 b.
  • the number of targets may be two or more, and / or the number of targets aligned in the Y direction may be three or more, so that film formation can be performed on a wider substrate.
  • the number of intermediate target units and targets to be arranged can be arbitrarily selected, thus providing a facing target type sputtering apparatus capable of processing a large area substrate with essentially no dimensional limitation in the horizontal direction of the substrate and in the vertical direction as well. .
  • Figure 13 shows a composite intermediate target unit 300 when three targets are arranged in the Y direction. It is sectional drawing which shows the structure of.
  • the end middle target unit Is arranged a central portion intermediate targets Interview knit 300 3 synthetic intermediate targets Interview two Tsu DOO 300 0 is configured between.
  • the first 1 are those having the same reference same structure as Yunitto of codes is shown in Figure and the detailed description is omitted.
  • third intermediate unit support member 301 3 of the central portion is provided with cooling channels 303 3 partitioned by those similarly to the partition wall 304 3 ends, the cooling jacket 302 3 here It is formed.
  • the cooling grooves 303 3 is formed with a connection port 305 3, supply and drainage of cooling water is performed by attached tubing here.
  • the middle part of the intermediate fabric support 301 3 is parallel to the XZ plane, in particular the middle part of the end.
  • No permanent magnets are disposed on the side surfaces joined to the side surfaces of the knit supports 301 i and 3012.
  • Magnet accommodating groove for accommodating a magnet on the side of the side surface and opposite thereto on the side surface specific parallel to the XY plane between Yunitto support 301 3 Among the connections to the outside (not shown) It is formed.
  • Recesses magnet holders 311 3 includes a main body 3123 having a stepped recess, stepped recesses (First 3 view configured by the lid portion 313 3 to be fitted to the stepped recess Ru single name As shown).
  • the main body portion 312 3 and the cover portion 313 3 of the magnet holder 311 3 is attached to the intermediate unit support 301 3 by Ponoreto 335.
  • the magnet holder 311 3, the through-hole 317 3 are opened for the passage of tubes for cooling water supply, is Rooster connecting portion 318 3 connecting Rooster sputtering power provided on the upper surface of the lid portion 313 3 It is done.
  • Synthesis intermediate targets Interview knit 300 0 and the target Interview knit 100a disposed opposite each the 100b support modules are arranged three target module.
  • the target modules arranged on both sides are configured in the same manner as the target module 2003 ⁇ 200a 2 shown in FIGS. 2 and 3, and the middle target module has two side surfaces parallel to the Z-X plane. It joins with other target modules and is configured to contact the peripheral wall of the support body only on the remaining 2 sides (sides parallel to the XY plane).
  • the synthetic intermediate target unit is not shown in the drawings, a scanned board is disposed on the exposed surface except for the target surface in the same manner as in the second embodiment.
  • the facing target single sputtering devices are both cases where the target is a nonmagnetic material, but when the target is a magnetic material, the magnetic field of the target is a magnetic field in the facing mode. It is desirable not to cover the magnetic pole of the permanent magnet for forming the Furthermore, on the periphery of the target (if the targets are arranged in the Y direction, they should be arranged in the Y direction). It is desirable to provide an electron reflecting means on the periphery of the composite target formed by FIG. 14 is a cross-sectional view of the target unit 100a when the target is a magnetic body, and FIG. 15 is a cross-sectional view of the intermediate target unit when the target is a magnetic body, both of which are shown. This is an example of arranging two targets in the Y direction.
  • the backing portion 113a or 113a 2 of the tag module 200a or 200a 2 is provided with a ridge portion covering the circumferential wall portion 153a of the support main portion 151a.
  • this ridge is eliminated, and the backing portions 113 ai and 113 a 2 are formed in a rectangular shape.
  • an electron reflection means 170a is attached on the peripheral wall portion 153a of the support main body portion 151a as shown in the figure.
  • the electron reflecting means 170a has a configuration in which an electron reflecting plate portion 171a having a width facing the peripheral portion of the target 110a or 110a 2 is supported by an attaching portion 172a made of copper of a thermal good conductor having an L-shaped cross section. It is The electron reflection plate portion 171a is formed using a ferromagnetic material, for example, an iron plate so as to double as the magnetic pole of the magnetic field generating means.
  • FIG. 15 the parts corresponding to the parts of the third embodiment shown in FIG. 12 are assigned the same reference numerals, and duplicate explanations are omitted.
  • the intermediate unit support 301 i, 301 to 2 of 3 sides magnet containing groove 306 ,, 306 2 has been bored, in the example of the first 5 FIG intermediate A magnet accommodating groove is not formed in the unit support 301 ⁇ ⁇ ⁇ 301 2 , and the intermediate unit support 301 or 301 2 has a rectangular parallelepiped shape.
  • Electron reflecting means 170c is attached to both end faces of each of the magnet holding boxes 31 and 316 2 which accommodate the permanent magnets 130c as shown.
  • the electron reflecting means 170c has a configuration in which an electron reflecting plate portion 171c having a width facing the peripheral portion of the target is supported by an attaching portion 172c made of copper of a plate-like heat good conductor.
  • the electron reflection plate portion 171c is formed using a ferromagnetic material, for example, an iron plate so as to serve as the magnetic pole of the magnetic field generating means.
  • electron reflecting means 170c are also attached to both end faces of the magnet holder 311 ⁇ 311 2 and the magnet holding box 315, 315 2 (see FIG. 11). .
  • electron reflecting means 170c is covered in electron reflection means 170c The Ru.
  • the facing target sputtering apparatus provided with the synthetic target of the first embodiment shown in FIG. 1, five target modules are arranged side by side in the Y direction, ie, in the lateral direction, and The total length was 1300 mm, and the facing distance between the targets was 90 ⁇ . Then, place the substrate holder at a distance of 80 ⁇ ⁇ from the end of the target, arrange the glass substrates horizontally on the substrate holder, and use a metal oxide target, from a common power source for both synthetic targets. Electric power is supplied in parallel, a metal oxide film is formed on a glass substrate so that the maximum film thickness becomes 1 ⁇ m ⁇ or more, and the film thickness distribution is measured by measuring the film thickness with a stylus difference meter. evaluated.
  • the measurement results of the film thickness distribution are shown in FIG.
  • This film thickness distribution shows the film thickness distribution in the ⁇ direction at the position corresponding to the center between the targets.
  • the film thickness was 100% based on the film thickness at the center (measurement position 7 in the figure), and the measured value at each measurement position was shown as a ratio (%) to the reference.
  • the measurement positions were 10 cm apart in the vertical direction.
  • the Z direction is 100 and the Y direction is 100 so that film formation on an 8-inch wafer is possible.
  • the thickness of the intermediate target unit that is, the distance between the targets on both sides is 60%
  • the distance between the targets is 145
  • the X direction force is 50%
  • the permanent magnets 180a and 180b for adjusting the magnetic field are omitted in the second embodiment.
  • this facing target sputtering system uses this facing target sputtering system to set an 8-inch wafer at a distance of 100 ⁇ from the target, and use a metal oxide target and common to the end target unit and the intermediate target unit. Then, power was supplied in parallel to form a metal oxide film on the wafer so that the maximum film thickness would be 1000 A or more, and the film thickness distribution was evaluated by measuring the film thickness with a stylus type profilometer.
  • the figure shows the film thickness distribution in the X direction, that is, the opposite direction, and each film thickness is a measured value measured at intervals of 10 ⁇ on the center line of this direction of the opening.
  • the figure shows the film thickness distribution in the Y direction, that is, in the lateral direction, and each film thickness is a measurement value measured at 10 ⁇ intervals on the center line of this direction of the opening. Measurement position 6 is at the center of the opening. The film thickness was 100% based on the film thickness at the center of the opening, and the ratio of the measured straight line measured at each measurement position to the reference was shown (%).
  • the film thickness distribution in both directions is within ⁇ 10% of the average value even for an 8-inch wafer. Also, it can be seen that with a 6-inch wafer, a very uniform distribution within ⁇ 5% can be obtained. Furthermore, the uniformity can be further improved by providing a mask or the like for adjusting the film thickness.
  • the film formation area in the opposite direction can be expanded by the synthetic facing sputtering section, which has not been possible in the related art, and film formation on a large area substrate can be performed in the stationary state required for manufacturing semiconductor devices. A facing target sputtering system is realized.

Abstract

長大なターゲットを使用することなく、実効的に長大なターゲットを実現し、大面積の基板への成膜を可能ならしめるために、直方体状の枠体71の6側面71a~71fのうちの一つ71fを開口した開口側面とし、ターゲットとその周囲に設けられたターゲット面に垂直方向の対向モードの磁界とターゲット面に平行な方向のマダネトロンモードの磁界を形成する永久磁石からなる磁界発生手段とを備えた一対のターゲットユニット100a、100bをその開口側面に隣接する両側の対向する側面に取着し、その他の側面71c~71eを遮蔽板72c~72e(71c、72cは手前側で図示なし)にて遮蔽した箱型対向式スパッタ部70をその開口側面において真空容器10に取り付け、真空容器内に開口側面の開口部に対面するよう対向ターゲット式スパッタ装置において、各ターゲットユニット100a、100bにそれぞれ複数枚のターゲット110a1、110a2;110b1、110b2(図示なし)を配置する。

Description

明 細 書 対向ターゲット式スパッタ装置 技術分野
本発明は、 所定の対向空間を隔てて対向させた一対のターゲットとその周囲に設 けられたターゲット面に垂直な対向方向の対向モードの磁界を形成する永久磁石と からなる対向式スパッタ部を備え、 その対向空間の側面に対面するように配した基 板に膜形成するようにした対向ターゲット式スパッタ装置に関し、 更に詳しくは該 ターゲットの周囲に該永久磁石を設けた対向ターゲットュニットを直方体状の枠体 の対向する側面に取着して、 残る 4面のうち開口となる開口側面を除いたその他の 側面を遮蔽した箱型対向式スパッタ部に好適な改良、 具体的にはインライン方式で 幅の広い基板に膜形成できる、 また静止状態で大面積の基板に膜形成できるように する対向ターゲット式スパッタ装置の技術に関する。 - 背景技術
上述の箱型対向式スパッタ部を備えた対向ターゲット式スパッタ装置は、 特開平 1 0 - 3 3 0 9 3 6号公報 (米国特許第 6, 156, 172号明細書) により本発明者が提案 したもので、 第 1 8図に示す構成となっている。
箱型対向式スパッタ部 70は、 第 1 8図に示すように、 直方体状枠体 71の開口部 となる開口側面 71fを除いた 5側面 71a〜71eのうち、 開口側面 71f に連なる 4側面 71a〜71dのなかの対向する 2側面 71a、 71bにターゲット 110a、 110b (図示なし)と その周囲に設けられた永久磁石からなる磁界発生手段を備えたターゲットュニット 100a, 100bを取着し、 残りの 3側面を遮蔽板 72c〜72eで遮蔽した構成であり、外形 が立方体を含む直方体状で、 全体として箱型となっている。 そして、 箱型対向ター ゲット式スパッタ装置は、 この箱型対向式スパッタ部をその開口側面 71f において 後述の第 1図に示すように真空槽に結合して、 その開口部に対面するように真空槽 内に配置した基板上に薄膜を形成するようにした構成となっている。
尚、 本明細書においては、 以下、 対向した一対のターゲットによって形成される 対向空間を囲むように形成される磁界の方向換言すれば対向方向を X方向とし、 対 向空間から成膜の行われる基板を見る方向換言すれば基板表面に垂直な方向を z方 向とし、 Xおよび Z方向と直交する方向換言すればタ一ゲット表面及び基板表面に平 行な方向を Y方向と呼ぶこととし、そしてそれぞれの方向の座標軸を X軸、 Y軸およ び Z軸と呼ぶこととする。
この構成によるスパッタプラズマを生成 ·拘束する磁場形成は 例えば特開平 1 0— 8 2 4 6号公報に開示されているように、磁界発生手段を備えたターゲットュニ ットの対向するターゲット間の対向空間には従来の対向ターゲット式スパッタ装置 と同様にターゲットに垂直方向の対向モードの磁界がターゲット全域に形成され、 これに加えてそのターゲット面近傍にはターゲット面に平行方向のマグネトロンモ ードの磁界がターゲット外縁周囲に形成される結果、 高密度プラズマがターグット の全面に渡って形成される。
従って、 開口側面を除いた 5側面を遮蔽した箱型対向式スパッタ部を備えた箱型 対向ターゲット式スパッタ装置ではスパッタされた粒子は、 開口部を介して高真空 に排気される基板が配置された真空槽に飛来し、基板上に堆積し、薄膜を形成する。 前述した従来の箱型対向ターゲット式スパッタ装置は、 コンパクトな構成で、 低温 で高品質の薄膜が形成できる特長を有し、 各種の膜形成への応用が進められている。 その一つに最近注目を集め、 その商品化開発が盛んである有機 E Lデバイスの電極形 成への応用があり、 種々検討されている。 また、 半導体デバイスの分野への適甩も検 討されている。 そして、 これらの中には、 実用化に近いものもある。
ところで、 これらデバイスの量産に際しては、 ディスプレイ分野においても、 また メモリー等のデバイス分野においても生産性面、 コスト面等から周知のように使用さ れる基板の大面積化が必須である。
これに対して従来の対向ターゲット式スパッタ装置では、 以下の問題がある。 大面 積の基板をカバーするためにその対向間隔を広げるとプラズマ拘束用の対向方向の磁 界が低下して対向スパッタが機能しなくなるので、 本質的に対向方向にその間隔を広 げる事は出来ない問題がある。 そして、 現状では磁界発生手段に永久磁石を用いる場 合その間隔は高々 2 0 c m程度に限定されるので、 基板を静止した状態で成膜する場 合はこれ以下の大きさの基板に限定される問題がある。 また、 基板を移動しながら成 膜するインライン方式であれば、 X方向具体的には対向方向に移送し、 これと直角の Y 方向のターゲット長を広げることで大面積基板に対応できる力 この場合はターゲッ トが非常に細長い形状となり、 ターゲットが高価となる外、 ターゲットの均一な冷却 が困難となり、 生産性が制約される問題、 ターゲットが材料によっては途中で折れ易 く、 取扱レ、性が悪い等の問題がある。 発明の開示
本発明はかかる問題の解決を目的としたもので、 力かる問題がなく大面積基板を処 理できる対向ターゲット式スパッタ装置を«することを目的とするもので、 具体的 にはインライン方式で上述の問題なく使用できる対向ターゲット式スパッタ装置を、 さらには基板が静止した状態でも大面積の基板が処理できる対向ターゲット式スパッ タ装置を することを目的とするものである。
上述の目的を達成するため、 本発明の第 1の態様によれば、 冷却手段を備えたバッ キング部の前面に矩形状のターゲットを取着したターゲットモジュールと、 前面にタ ーゲットモジュールが取着されるモジュール取着部を備え、 該モジュール取着部の周 囲に永久磁石を対向方向の磁界を発生するように収納する磁石収納部を有するュニッ ト支持体と、 前記磁石収納部に収納された前記永久磁石と、 を有する対向ターゲット ュニットの対を、 ターゲットが所定の対向空間を隔てて対向するように配置した対向 式スパッタ部を備え、 対向式スパッタ部の対向空間の側面に対面するようにその側方 に配置された基板上に成膜するようにした対向ターゲット式スパッタ装置において、 前記ュニット支持体の前記モジュール取着部を、 ターゲット面および基板面に平行な 横方向においてターゲットモジュールを個々にシールして取着できるようにした複数 の取着区画に分割すると共に、 各取着区画にこれに応じた所定長のタ一ゲットモジュ, 一ルを取着して、 前記横方向に並べて設けられた複数のターゲットモジュールからな る合成ターゲットにより前 tat方向の基板の膜形成領域をカバーするようにしたこと を特徴とする対向ターゲット式スパッタ装置が、 Siヰされる。
また、 上述の目的を達成するため、 本発明の第 2の態様によれば、 所定の対向空間 を隔てて一対のターゲットを対向させると共に、 該ターゲットの周囲に対向方向の磁 界を発生するように永久磁石を配した対向式スパッタ部を備え、 該対向式スパッタ部 の対向空間の側面に対面するようにその側方に配置された基板上に膜形成するように した対向ターゲット式スパッタ装置において、 複数の該対向式スパッタ部を、 該対向 式スパッタ部の結合される側のターゲットを夫々の面に取着した板状の中間ュニット 支持体の周囲に対向方向の磁界を発生するように永久磁石を配置した構成で、 ターグ ットを含めた全体の厚さを両側の対向式スパッタ部の膜形成領域が合わさって中間ュ ニット支持体の基板側の側方において所定の膜厚の膜を形成できる厚さ以下とした中 間ターゲットュニットにより結合することにより、 複数の該対向式スパッタ部の膜形 成領域が対向方向に合成されて一つの膜形成領域を形成するようにした合成対向式ス ノ、 °ッタ部を備えたことを特徴とする対向ターゲット式スパッタ装置、 が提供される。 なお、 上述した本発明の第 2の態様においては、 前記合成対向式スパッタ部の両端 の端部ターゲットュニットが、 冷却手段を備えたバッキング部の前面に矩形状のター ゲットを取着したターゲットモジュールと、 前面にターゲットモジュールが取着され るモジュ一ノレ取着部を備え、 該モジュール取着部の周囲に永久磁石を対向方向の磁界 を発生するように収納する磁石収納部を有するュニット支持体と、 前記収納部に収納 された前記永久磁石とからなり、 前記中間ターゲットュニットが冷却手段を備えた中 間ュニット支持体の両面にタ一ゲットが取り付けられた中間ターゲットモジュールと、 該ターゲットの外周に沿って対向方向の磁界を発生するように配置された永久磁石と カ らなる構成が、 端部及び中間のターゲットュニットが全体としてタ一ゲットに垂直 方向の寸法換言すればュニット厚みが薄くなり、 中間ターゲットユニットの側方での 両側のスパッタ部の膜形成領域の重なり度合いを大きくできる点、 スパッタ部をコン パクトな箱型構成できる点から好ましい。
また、 前記所定の膜厚は、 必要な膜厚分布等から決められる力 均一性という面か らは必要な膜形成領域の平均膜厚以上であることが好ましい。 なお、 この中間ターゲ ットュニットの側方での膜は、 その両側のスパッタ部からの飛来粒子が重なり合って 形成される。 そして各スパッタ部の膜厚は、 その中心部で厚く、 これから遠ざかるに つれて次第に薄くなる。 従って、 平均膜厚を得るには、 中間ターゲットユニットの側 方で両側のスパッタ部の最大膜厚の 50%以上の膜厚になるように重なり合うようにす れば十分であると考えられる。
また、 上述の目的を達成するため、 本発明の第 3の態様によれば、 上述の第 2の態 様において、 前記端部ターゲットユニットが、 ユニット支持体の前記モジュール取着 部を、 ターゲット面および基板面に平行な横方向においてターゲットモジュールを 個々にシールして取着できるようにした複数の取着区画に分割すると共に、 各取着区 画にこれに応じた所定長のターゲットモジュールを取着して、 前記横方向に並べて設 けられた複数のターゲットモジュールからなる合成ターゲットモジュールを前記ュニ ット支持体上に取着したュニットであり、 前記中間ターゲットュニットが、 冷却手段 を備えた中間ュニット支持体の両面にターゲットが取着された所定長の複数個の中間 ターゲットモジュールをそのターゲットが連接するように前 |¾¾方向に並べてその合 成長が前記端部ターゲットュニットの横方向の合成長と同じ長さになるようにすると 共に、 その並設した中間ターゲットモジュールの外周に沿って対向方向の磁界を発生 するように永久磁石を配置した合成中間ターゲットュニットである構成とした、 前述 の第 1の態様と組合せた対向ターゲット式スパッタ装置、 が^される。
本発明の第 1の態様による対向ターゲット式スパッタ装置は、 ュニット支持体の Y 方向具体的には横方向の長さを、基板の Y方向の長さ以上の長さとし、ュニット支持体 のモジュール取着部を適当な長さの複数の取着区分に分け、 各取着区画にターゲット モジュールを取着して複数のターゲットモジュールが連なった合成ターゲットを搭載 してなる対向ターゲットユニットを対向酉己置したものである。 この構成によれば、 長 大な長さのターゲットを用いることなく、 複数の適当な所定長のターゲットモジユー ルを連ねた合成ターゲットにより実効的にターゲットの長さを長くすることができる。 従って、 本第 1の態様によれば、 ターゲットを長大化したことによる作業性の劣化、 コスト上昇、 冷却の不均一の問題を回避しつつ、 基板の大面積ィヒに対応した対向ター ゲット式スパッタ装置を できる。 更に、 長さで規格ィ匕したターゲットモジュール とすることにより、限られた規格長さのターゲットとバッキング部を用意すればよく、 それらの製作費、 保全管理、 予備品等の面で大きな効果が得られる。
本発明の第 2の態様による対向ターゲット式スパッタ装置は、 複数の対向式スパッ タ部を、 両面にそれぞれのスパッタ部の一方のターゲットが取着された中間ターゲッ トユニットにより結合して一つの膜形成領域を形成するようにした合成対向式スパッ タ部を配置せしめたものである。 この構成によれば、 限られた対向間隔の対向式スパ ッタ部し力形成できない永久磁石を用いて実効的に対向方向の長さに制限のない膜形 成領域を有する合成対向式スパッタ部を実現することができ、静止した状態の X方向具 体的には対向方向に長 ヽ大面積の基板に対して均一な厚さの成膜を行うことのできる 対向ターゲット式スパッタ装置を提供できる。
本発明の第 3の態様は、 上述の第 2の態様と第 1の態様を組み合わせたもので、 横 方向 (Y方向) の長さにも対向方向 (X方向) の長さにも本質的な制限がなく、 静止し た状態で大面積の基板に成膜できる対向ターゲット式スパッタ装置を提供するもので ある。
以上、 本発明は、 プラズマによる下層のダメージが少ないことで注目されている対 向ターゲット式スパッタ装置で実現が困難とされていた大型ィヒを可能とするものであ り、 半導体デバイスの製造、 液晶ディスプレイ、 有機 E Lディスプレイ等のフラット パネルディスプレイの製造、 更にはプラスチックフィルムに I T O膜等の高機能性膜 を形成した機能性フィルムの製造等に広く適用できるものである。 図面の簡単な説明
第 1図は、 本発明の第 1の実施の形態の一部を断面図にて示す斜視図である。 第 2図は、 本発明の第 1の実施の形態のターゲットュニットの概略斜視図である。 第 3図は、 第 2図の A— A線での断面図である。
第 4図は、 本発明の第 1の実施の形態に用いる補助電極の斜視図である。
第 5図は、 本発明の第 1の実施の形態に用いたュニット支持体の平面図である。 第 6図は、 本発明の第 2の実施の形態の一部を断面図にて示す斜視図である。 第 7図は、 本発明の第 2の実施の形態に用いられる中間ターゲットュニットの概略 斜視図である。
第 8図は、 第 7図の B _ B線での断面図である。
第 9図は、 本発明の第 3の実施の形態の斜視図。
第 1 0図は、 本発明の第 3の実施の形態に用いられる中間ターゲットュニットの概 略斜視図である。
第 1 1図は、 第 1 0図の C— C線での断面図である。
第 1 2図は、 第 1 0図の D— D線での断面図である。
第 1 3図は、 本発明の実施の形態の変更例を示す断面図である。 第 1 4図は、 本発明の実施の形態の変更例を示す断面図である。
第 1 5図は、 本発明の実施の形態の変更例を示す断面図である。
第 1 6図は、 本発明の成膜実施例 1の膜厚分布のグラフである。
第 1 7図は、 本発明の成膜実施例 2の膜厚分布のグラフである。
第 1 8図は、 従来の箱型対向式スパッタ部の斜視図である。 発明を実施するための最良の形態
次に、 本発明の実施の形態について図面を参照して詳細に説明する。
[第 1の実施の形態] '
第 1図は、 本発明の第 1の実施の形態に係る箱型対向ターゲット式スパッタ装置を 示す、 部分的に断面図を含む斜視概略図である。 本実施の形態の箱型対向式スパッタ 部 (以下、 箱型スパッタ部と略称する。 ) 70は、 ターゲットユニット 100a、 100bを直 方体状の枠体 71の図で左右の対向側面 71a、 71bに気密に取着し、 基板 20に面する図で 下側の開口側面 71f以外の側面 71c〜71e (図で手前側及び奥側の側面 71c、 71dは図示無 し) を遮蔽板 72c〜72e (図で手前側の側面 71cの遮蔽板 72cは図示無し) で気密に遮蔽 して、 開口側面 71fのみが開口し、 その他は密閉された内部が対向空間 120の箱型構成 としたものである。
ターゲットユニット 100a、 100bの対向する面側には、 Y方向に並べられてそれぞれ 2 枚ずつターゲット 100aい 10032 : 1001^、 100b 2 (100b2は図示なし) が取り付けられ ている。 また、ターゲットュニット 100a、 100bには主として X方向の磁界を形成するた めの永久磁石 130a、 130bと、マグネトロンモードの磁界を調整するための永久磁石 180a. 180bとが装着されている。 永久磁石 130a、 130bと 180a、 180bとは、 固定板 132a、 132b と 182a、 182bを用いてそれぞれ収納部内に固定されている。ターゲットュニット 100a、 100bの背面には、 永久磁石 132a、 132bと永久磁石 182a、 182bとを磁気的に結合するた めのポール板 191a、 191bが設置されている。 ポール板 191a、 191bには、 冷却水の供給 管と排水管を通すための開口 193a (図示なし) 、 193bが開設されている。
ターゲットュニット 100a、 100bの前方 (本明細書においては、前方とは対向するター ゲットの対向空間 120の側を意味し、 後方とはその反対側を意味する)には、 後述の第 4図に示すそれぞれ電子を吸収するための銅管からなる "U" の字状の補助電極 (第 1図では見易くするため本体部の図示省略) が設置されており、 この補助電極の脚部 201bヽ 201c (201cは図示なし) は遮蔽板 72eから引き出されている。
本実施の形態の対向したターゲットュニット 100a、 100bは、枠体 71に一体的に取付' 取外し可能なユニット構成になっている。
第 2図は、 本実施の形態に用いたターゲットュニットの斜視図であり、 第 3図は第 2図での A— A線での断面図である。 第 2図、 第 3図は、 ターゲットユニット 100aの 図であるが、 ターゲットユニット 100bは磁界発生手段の永久磁石 130aと磁界調整手段 の永久磁石 180aの磁極 N、 Sの配置が逆になる点を除いてこのターゲットュニット 100a と同じ構成であり、 その詳細図は省略する。
第 2図に示されるように、 ターゲットユニット 100aは、 ユニット支持体 150aのフラ ンジ 155aにより枠体 71に着脱可能に取り付けられる構成となっている。 そして、 本実 施の形態においては、 ターゲットユニット 100aは、 以下のように支持体モジュールと 2つのターゲットモジュールとのモジユーノレ構成になっており、 支持体モジュールの ュニット支持体 150aにはターゲットモジュール 200a i、 200a2が Y方向に連なるように 取り付けられている。 ターゲットモジュール 200aい 200a2は、 バッキング部 113aい 113a2とその表面上に固着されたターゲット 1103 ι、 110a2とから構成される。 バツキ ング部 1133 l、 113a2は図のようにタ一ゲット 110aい 110a2と同じ形状の取着面を備え、 その内部には図に点線で示すように冷却溝 161aい 161a2を形成する隔壁 162aい 162a 2が設けられており、 ここに冷却ジャケット 160aい 160a2が構成されている。 冷却溝 161al N 161a2は、 その両端部が冷却水の供給 ·排水の行われる接続口 1633 l、 163a2に 接続されている。 また、 冷却溝 161aい 161a2は、 可能な限り広くターゲット 110aい 110a2の裏面をカバーできるように形成されている。
第 3図に示すように、 前面にターゲット 110a i、 110a2が固着されたバッキング部 113aい 113a2は、 支持体モジュールのユニット支持体 150aの前面に設けられたターゲ ットモジュールを取り付けるモジュール取着部の凹部 152aにその周辺部で一定間隔の ボノレト 111aにより、 Oリング 116^、 116a2を用いて気密に、 交換可能に取り付けられ ている。
冷却ジャケット 160aい 160a2は、 バッキング部 113aい 113a2の厚い板状体からなる バッキング本体 114aい 114a2の後部に隔壁 162aい 162a2を備えた段付凹部を形成し、 この段部に接続口 163aい 163a2を形成したバッキング蓋体 115aい 115a2を溶接して段 付凹部を密閉することにより形成されている。 なお、 バッキング部 1133ぃ 113a2、 隔 壁 162^、 162a2は熱良導材、 具体的には本例では銅により形成されている。 また、 図 示省略したが、 接続口 163aい 163a2にはユニット支持体 150aに設けた貫通孔 154aを通 して接続具を介して合成樹脂のチューブを配管し、 冷却ジャケット 160aい 160a2に冷 却水を通すことができるようにしてある。
そして、 このバッキング部 113aい 113a2の前面にターゲット 1103ぃ 110a2を熱良導 性の接着材 (たとえばインジウム) で接着して、 ターゲットモジュール 200aい 200a 2 とする。 このターゲットモジュール 2003ぃ 200a2は、真空シーノレ用の Oリング 1163ぃ 116a2により冷却ジャケット 160a i、 160a2が真空側 (対向空間 120側)から遮断されるよ うにして、 下記に詳述する支持体モジュールのモジュール取着部の凹部 152aにボルト 111aによりこれとバッキング部 1133ぃ 113a2の後面が直接接するように取着される。 以上のように構成されたことにより、 2個のターゲットモジュール 200aい 200a2の ターゲット 110a i、 110¾が連なって実効的に Y方向に長大な合成ターゲットの使用が可 能になり、 この方向の寸法の大きい基板への成膜を行うことが可能になる。従って、 X 方向に基板を搬送しながら成膜を行うインライン方式により、 Y方向の大きレ、具体的に は横方向の広レ、長尺の連続フイルム、 あるレ、は横方向の広レ、大面積の枚葉のウェハ、 ガラス等の基板に対して成膜を行うことが可能になる。 そして、 ターゲットモジユー ル 2003ぃ 200a2毎に独立した冷却ジャケット 160aい 160a2が設けられており、 ターゲ ット 110a i、 110a2毎に独立して冷却されるので、 冷却むらなく効果的な冷却を行うこ とができる。 従って、 大きな電力を投入できるので、 生産性を向上できる。 なお、 各 冷却ジャケット 160aい 160a2に独立して冷却水を供給することができる力 投入電力 が小さく、 換言すれば膜形成速度が小さく、 大きな冷却が必要ない場合等は状況に応 じてターゲットモジュール 200aい 200a2の 2個の冷却ジャケット 160aい 160a2を配管 で直列接続として、 一方の冷却ジャケットの排水を他方の冷却ジャケットへ供給する ようにして、 配管系統を簡略化することもできる。
本実施の形態では、 ターゲットの実効的な Y方向の寸法を大きくしたものであるが、 必要な場合には後述する磁界調整手段の永久磁石 180aを用いることにより合成タ一ゲ ットの Y方向のエロージョンを調整可能で、この方向の膜厚分布を調整することができ る。
支持体モジュールは、 熱良^、 本例ではアルミニウムのブロックから切肖 IJ加:!:に より図示のように成形された一体物のユニット支持体 150aからなる。 そして、 その取 付部のフランジ 155aにおいて電気絶縁材、 本例では耐 生樹脂からなるパッキン 156a 及び真空シール用の Oリング 117a、 118aを介して枠体 71に一定間隔の電気絶縁性のス リーブ付のボルト 112aにより電気絶縁されて気密に取り付けられている。
ユニット支持体 150aは、 第 2図に示すように、 外形は直方体の支持本体部 151aの図 で下面の後面側に枠体 71への取り付け用の所定幅のフランジ 155aを突設した構成とな つている。 そして、 支持本体部 151aの前面 (図で上面) には、 ターゲットモジユーノレ. を取り付けるモジュール取着部の凹部 152aが形成され、 凹部 152aを囲む周壁部 153aに は磁界発生手段の永久磁石 130aを収納する収納部 131aが大気側の後面 (図で下面) 側 から穿設されている。
ところで、 このモジュール取着部の凹部 152aは、 2個のターゲットモジュールが取 り付けられるように、 第 5図に示すようになつている。 すなわち、 凹部 152aのモジュ 一ル取着部の底面を Y方向において二つの区画に分割し、 この各区画にバッキング部 113aい 113a2の背面にセットする Oリング 116aい 116a2のシール面 119aい 119a2を形 成して、 ターゲットモジュールを独立して個々にシールして取着できる取着区画とし てある。 従って、 この各取着区画にターゲットモジュールを取着することにより複数 のターゲットモジュールが Y方向に連なった合成ターゲットモジュールが構成できる。 第 5図では、 図面の簡略化のため、 取付用のボルト孔は図示省略した。 なお、 本実施 .. の形態では、 周壁部 153aの前方 (図で上方) 側端面をターゲットモジュールのバツキ ング部 113aい 113a2の庇部とターゲット 110aい U0a2の端部が覆っている。 この構成 においては、 この庇部とその上のタ一ゲット端部が従来の電子反射手段と同じ作用を するが、 後述の支持部材を介してバッキング部に取り付けた従来の電子反射手段と異 なり、 このターゲット端部が直接バッキング部 113aい U3a2の庇部に接着されるので 非常によく冷却され、 大きな電力が投入できるので全体として生産性が向上する効果 が得られる。 さらにターゲット周囲の構成が非常に簡素となり、 コスト的にも大きな 利点がある。 ただし、 このターゲット端部で電子反射機能を持たせる構成は、 磁性林 のターゲットの場合にはマグネト口ンモードの磁界の形成が難しい。 かかる場合も含 めて、 ターゲット 110aい 110a2の周縁部の前面近傍にマグネトロンモードの磁界をよ り確実に形成できるようにする必要がある場合には、 周壁部 153aとの重なり部のバッ キング部 113aい 113a2の庇部とターゲット 110aい 110a2の端部を削除し、 かつ、周壁 部 153aすなわち永久磁石 130aの磁極端を高くしてその前方に電子反射板を設けた従来 の電子反射手段の構成として、 永久磁石 130aの前方側磁極端面が槽内側にターゲット 110a 1、 110a2前面より少し突き出すようにすることが好ましレ、。
また、ュニット支持体 150aの支持本体部 151a後面側の中央部には Y軸に平行に、磁界 調整手段の永久磁石 180a (第 1図参照) を取り付けるための溝部が所定深さにターゲ ット 110aい 110a2のほぼ全長に渡るように穿設されている。 なお、 この溝部には全溝 部を埋めるように永久磁石(180a)を設置じても良く、又間隔を置いて設けてもよい。 磁界調整手段の永久磁石 (180a)と磁界発生手段の永久磁石 130aとは、固定板 (182a)、 132aを介してポール板 191aにより磁気的に連結されている。 ポール板 191aは強磁性体 からなり、 ターゲットユニット (100b) のポール板 (191b) と図示が省略された、 例 えば遮蔽板 (72c, 72dまたは 72e)上を全面的覆う強磁性体からなる板状の連結板によ り磁気的に結合される。また、ポール板 191a— 191b間の磁気的結合のための連結板は、 真空槽 10の槽壁 11と枠体 71との間に挿入された、 枠体 71の開口部を狭めない開口が形 成された板状体であってもよい。 なお、 ポーノレ板 191aの取り付けは、 永久磁石 130a、 180aの磁力で十分に安定して保持できるので、 これらの磁力のみで可能であるが、 安 全のため電気絶縁性のスリーブ付のビス等で固定することもできる。ポール板 191aは、 ターゲットユニット 100aからは電気絶縁材からなる固定板 (182a) 、 132aにより電気 的に絶縁されており、 例えば接地電位に保持されている。
収納部 131aは、第 3図に示すように、槽外の大気側から磁界発生手段の永久磁石 130a を出し入れできるように、 大気側に開口した所 さの溝穴から構成されており、 永 久磁石 130aはこの収納部 13 laの溝穴に図示の磁極配置で挿着される。永久磁石 130aは、 本例では所定長、 所定幅の板状のアルニコ等市販の永久磁石を用い、 所定数個の永久 磁石 130aをターゲット 1103 ιと 110a2とで構成される合成ターゲット (すなわち 1103 ι +110a2の仮想ターゲット) の外周部に沿って配設し、 電気絶縁材、 本例では薄い樹脂 板からなる固定板 132aを接着して固定してある。
また、 永久磁石 130aは、 前述の第 1図に示す通り、 上記の配置構成により、プラズ マを閉じ込める磁界として、 対向するターゲットュニット 100bの永久磁石 130bと共同 して対向空間(対向する一対の合成ターゲッ卜によって形成される空間) 120を囲繞す る X方向の対向モードの磁界を形成する。 また、永久磁石 130aにより、 あるいは第 1図 に示される永久磁石 180a及びポーノレ板 191aと共同して、 ターゲット 1103 ιと 110a2とに よって構成される合成ターゲットの永久磁石 130a上に位置する端部表面からその中央 部寄りの表面に向かう円弧状のマグネトロンモードの磁界を合成ターゲット (iioa i + 110a2) の周辺に沿って生ずる。 そして、 前者の対向モードの磁界で合成ターゲッ トの中心部のスパッタが、 後者のマグネトロンモードの磁界では合成ターゲットの周 辺部のスパッタが主として支配され、 全体として電子反射手段として作用する外周に 沿った前述の端部を除いたターゲットの全表面に渡ってほぼ均一なスパッタが実現さ れる。
上述したように、 本実施の形態では、 マグネト口ンモードの磁界を全体的に強める ように磁界調整手段の永久磁石 180aが配置され、 固定板 132aと同じ薄 、樹脂板からな る固定板 182aを接着して固定してある。 この磁界調整手段によりターゲット 1103 ι、 110a2からなる合成ターゲットの周辺部の前面近傍のマグネトロンモードの磁界を調 整できるので、 対向モードの磁界と独立にマグネト口ンモードの磁界で支配されるタ ーゲットの周縁部のプラズマ拘束を調整でき、 ターゲットのエロージョンの均一化、 更には形成される薄膜の Y方向の膜厚分布の均一化が実現できる。
ところで、 箱型スパッタ部では、 開放型に比べて、 箱型空間内への電子の閉じ込め が強く、 ターゲットの材料等により場合により開口部からのエネルギーを失った熱的 電子の流出が生じると言う問題が起こる。これに対処するために、本実施の態様では、 対向空間のプラズマ空間から直接電子を吸収する補助電極が、 第 1図においてはその 脚部 201bのみし力示さなかった力 その脚部を遮蔽板 72eの貫通部でこれに溶接して気 密に取り付けて、 対向空間に位置するように設けられている。 第 4図は、 補助電極が 取り付けられた状態を示す遮蔽板 72eの斜視図である。本実施の態様の補助電極は、熱 的電子が滞留し易い電子反射手段となる前述の合成ターゲットの端部に対応するよう に、銅製の管体からなる本体部 201aと脚部 201b、 201cとを有する、 "U"の字状の管 状電極 201によつて構成されており、 その脚部の一部は遮蔽板 72eから外部へ即ち大気 中に導出されている。 そして、 第 1図では図を見易くするため図示されていないが、 本体部 201aは、 対向空間 120内においてターゲット 110aい 110a2と 110bい 110b2の第 1図で下方の端部、 脚部 201b、 201cは同図で前後の端部に沿ってその前方近傍にその ターゲット面に平行に配置されている。 管状電極 201には、 遮蔽板 72eと同じ陽極電位 (接地電位) が印加されており、 対向空間内に発生した熱的電子を含む過剰電子を吸 収する。 管状電極 201には冷却水が循環されており、 強制冷却されている。
なお、 補助電極の配置、 形状は図示された例に限定されない。 要は熱的電子の滞留 し易い個所付近に電極が配置されていればよい。 この補助電極を設けると、 電子の滞 留に伴う発光が非常に減少することが確認され、 基板の成膜中の温度上昇も抑制され ることが確認された。
以上説明したように、 ターゲットユニット 100aは、 ユニット支持体 150aに二つのタ ーゲットモジユーノレ 200aい 200a2を並べて設置した構成となっている。 そして、 ター ゲットユニット 100aは、 取付用のフランジ部 155aを枠体 71に電気絶縁材、 具体的には 耐熱性樹脂からなるパッキン 156a、 真空シール用 Oリング 117a、 118aを介して一定間 隔の電気絶縁材からなるスリーブ (図示省略) を用いてボノレト 112aにより取り付ける ことにより、 第 1図に示されるように枠体 71に電気的に絶縁された状態で気密に設置 され、 以下の箱形スパッタ部 70が構成される。
すなわち、 この箱型スパッタ部 70は、 直方体状の構造材 (本例ではアルミニウム) からなる枠体 71の側面 71a、 71bに前記のターゲットユニット 100a、 100bを上述のよう に枠体 71と電気絶縁して気密に取着し、基板 20に対面する下面の開口部となる側面 71f を除いてその他の側面 71c〜71eに遮蔽板 72c〜72eを Oリング (図示省略) を介してボ ルト (図示省略) により気密に取着して閉鎖した構成となっている (側面 71c、 71 d及 び遮蔽板 72cは図示なし)。 なお、遮蔽板 72c〜72eは耐熱性があり、真空遮断できれば 良く、 その材は限定されず、 通常の構造材が適用でき、 本例では枠体 71と同じ軽量な アルミニウムを用いた。 なお、 遮蔽板 72c〜72eは、 必要に応じて、 その外側に冷却管 等を設けて冷却する。
そして、 この箱型スパッタ部 70は、 その開口部が真空槽 10に臨むように枠体 71の図 で下側の開口側面 71fで真空槽 10の槽壁 11にボルトにより気密に取り付けられる。従つ て、 真空槽 10と枠体 71とは取り付けボルトにより電気的に接続されている。 本実施の 形態の対向ターゲット式スパッタ装置は、 基板ホルダー 21上に基板 20を静止状態に保 持しつつ膜形成する構成のものである力 搬送手段により基板を対向方向に移動させ ながら成膜を行うィンライン方式を採用することもできる。 この真空槽 10の側面の一 つには図示省略したが公知のロードロック室が接続され、 図示されな ヽ基板搬入 ·搬 出手段により基板 20を基板ホルダー 21上へ供給 Z搬出できるように構成されている。 以上の構成において、 箱型スパッタ部 70内では合成ターゲットのそれぞれのターゲ ット 110a iと 110bい 110a2と 110b2 (110b2は図示なし) が所定間隔で対向し、 かつ合 成ターゲットに対するプラズマの拘束磁界の基本構成も前述の第 1 8図すなわち従来 例と同じであり、 よってスパッタ ¾ を真空槽 10の槽壁 11を陽極として、 ターゲット ユニット 100a、 100bを陰極としてそれらの適所に接続して、 Ar等のスパッタガスを導 入しつつスパッタ電力を供給することにより従来例と同様にスパッタ成膜が行われる。 そして、 後述の成膜実施例に示す通り、 期待通りの広い範囲で成膜でき、 膜形成領域 が基板の横方向の長さに基本的に制限のない対向ターゲット式スパッタ装置が実現さ れる。
[第 2の実施の形態]
第 6図は、 本発明の第 2の実施の形態に係る箱型対向ターゲット式スパッタ装置を. 示す、部分的に断面図を含む斜視概略図である。本実施の形態の箱型スパッタ部 70は、 両端部のターゲットュニット 100a、100bを直方体状の枠体 71の図で左右の対向側面 71a、 71bに気密に取着し、 基板 20に面する図で下側の開口側面 71f以外の側面 71c〜71e (図 で手前側及び奥側の側面 71c、 71dは図示無し) を遮蔽板 72c〜72e (図で手前側の.側面 71cの遮蔽板 72cは図示無し)で気密に遮蔽して、開口側面 71fのみが開口するように構 成すると共に、 遮蔽板 72eに絶縁プレート 331を介してターゲット 100a、 100bの中間位 置にこれらのそれぞれと対向して対向式スパッタ部を形成するタ一ゲット 110g、 110h を両面に有する中間ターゲットュニット 300を設け、 ターゲットュニット 100a— 100b 間に形成される 2つの対向空間 120い 1202の対向式スパッタ部が結合して一つの膜形 成領域を形成した合成対向式スパッタ部が構成されるようにしたものである。
合成対向式スパッタ部の対向方向の两端に位置する端部のターゲットュニット 100a、 100bは、 前述した第 1図のターゲットュニットとターゲットモジュールが第 1図の合 成ターゲットモジュールでなく、 従来例と同じ 1個である点を除いて基本的に同じ構 成であり、 各部材の符号も第 1図と同じ符号としている。 従って、 その詳細な説明は 省略し、 以下、 要点のみとする。 すなわち、 その対向する面側には、 それぞれ同じ大 きさの矩形状の 1個のターゲット 110a、 110bが取り付けられている。 また、 ターゲッ トュニット I00a、 100bには主として X方向の磁界を形成するための永久磁石 130a、 130b と、 マグネトロンモードの磁界を調整するための永久磁石 180a、 180bとが装着されて おり、 固定板 132a、 132bと 182a、 182bを用いてそれぞれ収納部内に固定されている。 ターゲットュニット 100a、 100bの背面には、永久磁石 130aと 180a、永久磁石 130bと 180b とを磁気的に結合するためのポール板 191a、 191bが設置されている。 ポール板 191a、 191bには、 冷却水の供給管と排水管を通すための開口 193a (図示なし) 、 193bが開設 されている。
中間ターゲットュニット 300は、両側にターゲットが取着される平行な面を有するタ 一ゲットと同じ矩形状の厚い板状体からなり、 内部に冷却ジャケット (第 6図では見 易くするために図示省略) が形成された中間ユニット支持体 301の対向空間 120い 120 2に対向する面にターゲット 110g、 110hを取着した中間ターゲットモジュールと、 中 間ュニット支持体 301の他の 4側面に取着した X方向具体的には対向方向の磁界を発 生する永久磁石 130cを保持する磁石保持手段の磁石保持具 311と磁石保持箱 314〜316 (314、 316は図示なし) とこれに保持された永久磁石 130cとからなるものである。 そ して、この中間ターゲットュニット 300のターゲット 110g、110hの表面以外の露出面は、 スパッタされないように、図示のようにシールド板 338でカバーされている。シーノレド 板 338は遮蔽板 72eに直接取り付けられている。中間ターゲットュニット 300が取着され る遮蔽板 72eには、 中間ユニット支持体 301内の冷却ジャケットに冷却水を循環させる ための配管用の貫通孔 76が開けられている。 また、 本実施の形態においても、 各ター ゲット 100a、 100g、 100h、 100bの端部の前方近傍には、 それぞれ電子を吸収するため の補助電極 (図の簡略化のため対向空間内は図示省略) が設置されており、 この補助 電極の脚部 201b、 201c (201cは図示なし) が遮蔽板 72eから引き出されている。
ターゲット 110aとターゲット 110gとは従来と同様の所定距離隔てて対向して対向空 間 12(^を形成しており、 それぞれの端部の背面には各ターゲットの外周に沿って永久 磁石 130a、 130cが装着されている。 同様に、 ターゲット 110bとターゲット 110hとは対 向して対向空間 1202を形成しており、 それぞれの端部の背面には各ターゲットの周辺 に沿って永久磁石 130b、 130cが装着されている。 ここで、 永久磁石 130cはターゲット I00g、 lOOhに共通であり、 永久磁石 130aと 130c、 及び永久磁石 130bと 130cは、 互いに 異極同士が向き合うように配置されている。従って、中間ターゲットュニット 300の両 側の対向空間 120い 1202からなる各対向式スパッタ^には所定の対向モ一ドの磁界が 形成されて、 該空間内へのプラズマの閉じ込めが行われる。 同時に、 各ターゲットモ ジュールのそれぞれの外周に沿って永久磁石が配備されていることにより、 各ターゲ ットの周辺部の表面近傍には円弧状のマグネト口ンモードの磁界が形成される。なお、 本実施の態様では、中間ターゲットュニット 300との整合等に便利なようにターゲット ュニット 100a、 100bにそのマグネトロンモード磁界を調整する磁界調整手段の永久磁 石 180a、 180bが設けてあるが、 これは調整の必要がなければ省略できる。
" 対向空間 120ぃ 1202の二つの対向式スパッタ部が統合された合成対向式スパッタ部 の下方には、 真空槽 10が配置されており、 真空槽 10の槽壁 11にはこの合成対向式スパ ッタ部の図で下面に対向する部分に開口が設けられている。 その開口の下方の真空槽
10内には基板 20がセットされる基板ホルダー 21が設けられている。 そして、 図示省略 したが、 前述の第 1の実施の態様と同様に、 真空槽 10の図で前後の一方の側にはロー ドロック室が接続され、 基板 20を出し入れできるようになつている。
端部のターゲットユニット 100a、 100bは、 前述の通り、 耐熱 I"生樹脂からなるパツキ ン 156a、 156bを介して枠体 71の側面 71a、 71bに取着されており、枠体 71の側面 71c〜71e には、遮蔽板 72c〜72e (側面 71c、 71d、遮蔽板 72cは図示なし)が取着され、遮蔽板 72e の真空側に後述するように耐熱性樹脂等からなる絶縁プレート 331を介して中間ター ゲットュニット 300が気密に取着されて、箱型スパッタ部 70が構成されている。箱型ス パッタ部 70は、 枠体 71をボルトにより真空槽 10の槽壁 11に取り付けることにより、 真 空槽 10に取着される。 ターゲットユニット 100a、 100b, 遮蔽板 72c〜71e及び真空槽 10 と枠体 71とは Oリングを介してそれぞれ気密に取り付けられており、 対向空間 120 i、 1202及び真空槽 10内は大気側から遮断されている。
対向空間 120ぃ 1202からなる各対向式スパッタ部ではこれに対面する図では直下の 基板 20の膜形成領域では、 対向するターゲット表面のスパッタによって生成されたス パッタ粒子が飛来して堆積することにより成膜が行われる。 このとき、 中間ターゲッ トュニット 300の側方図では下方の領域にもスパッタ粒子は飛来し、対向空間直下の領 域より薄くはあるものの成膜がなされる。 すなわち、 対向式スパッタ部の膜形成領域 は、 開口部に対面する部分のみでなく、 その周辺も含み、 その開口部の中心部でほぼ 同じ堆積速度であり、 ほぼ均一な膜厚の膜が堆積されが、 この中心部から遠ざかるに 従って堆積速度が次第に低下し、 同時に形成される膜厚は低下するが、 膜は堆積され る。従って、 中間ターゲットュニット 300直下の領域では、両側の各対向式スパッタ部 において生成されたスパッタ粒子が重なり合って合成した成膜が行われる。 そこで、 スパッタ条件と中間ターゲットュニット 300の X方向の厚さ具体的にはターゲット 110g、 110hの表面間寸法を適切に選択することにより、対向空間 12(^及び 1202の各対向式ス ノ、ッタ部直下の領域に形成される膜の厚さを中間ターゲットュニット 300直下の領域 に形成される膜の厚さとをほぼ均等にすることができ、 X方向の膜厚のばらつきを抑え て基板 20上にほぼ均一の厚さに成膜を行うことができると考えられる。 すなわち、 本 実施の形態によれば、 中間ターゲットュニットによりその両側の対向式スパッタ部を 統合した合成対向式スパッタ部により、均一な膜厚の膜形成領域を実効的に X方向具体 的には対向方向に拡大することができ、 この方向の寸法に制限のない大面積の基板上 に静止状態で成膜を行うことが可能になる。
第 7図は、 中間ターゲットユニット 300の斜視図であり、 第 8図は、 第 7図の B- B線 での断面図である。 ただし、 第 8図では、 中間ターゲットユニット 300の遮蔽板 72eへ の取着状態が分かるように、 遮蔽板 72e及び絶縁プレート 331と共に示す。 第 8図に示 されるように、中間ュニット支持体 301は両面にターゲット取着面を形成した熱伝導性 の良い銅製の厚い板状体からなり、 その内部には隔壁 304によって区画された冷却溝 303からなる冷却ジャケット 302が形成されている。 冷却溝 303の両端には接続口 305が 形成されており、 ここに接続されたチューブにより冷却水の供給■排水が行われる。 第 7図、第 8図に示されるように、中間ュニット支持体 301の両側のターゲット取着面 にはターゲット 110g、 110hが例えばインジウムを用いて接着されている。 中間ュニッ ト支持体 301の残りの 4側面には、 磁石収容用溝 306が穿設されている。 その 4側面の 内の大気側側面 (第 7図、第 8図の上方の側面)を除く 3側面の磁石収容用溝 306には永 久磁石 130cを収納した磁石保持手段の磁石保持箱 314〜316 (316は図示なし)がビス 334 により取り付けられている。
中間ュニット支持体 301の大気側側面には永久磁石 130cを収納する磁石保持手段と 外部の遮蔽板 72eへ気密に取り付ける外部接続部と兼ねた磁石保持具 311が取り付けら れている。磁石保持具 311は、永久磁石 130cを X方向具体的には対向方向に保持する段 付き凹部を有する本体部 312と、 その段付き凹部に嵌め込まれる蓋体部 313とによって 構成される。 段付き凹部の背面と側部の前端面はシールできるようになっており、 磁 石保持具 311の本体部 312と蓋体部 313とは永久磁石 130cを X方向に保持した状態でボ ルト 335によって中間ユニット支持体 301に気密に取り付けられている。 そして、 絶縁 プレート 331を介して磁石保持具 311を絶縁性スリ一ブ付のポノレト 336により遮蔽板 72e に取り付けることにより、 中間ターゲットユニット 300は、 遮蔽板 72eから電気絶縁さ れて遮蔽板 72eに支持される。磁石保持具 311と絶縁プレート 331とには、冷却水供給用 のチューブを通すための貫通孔 317、 332が開けられている。 また、 絶縁プレート 331 にはスパッタ電源の配線を磁石保持具 311の蓋体部 313に設けた配線接続部 318に接続 するための貫通孔 (図示なし) が設けられている。 これらの貫通孔と中間ユニット支 持体 301の冷却ジャケット 302は、 Oリング 341〜343により真空側と遮断されている。 なお、 磁石保持具 311と磁石保持箱 314〜316 (316は図示なし) は、 軽量なアルミニゥ ム合金製である。
磁石保持具 311と磁石保持箱 314〜316に収納される永久磁石 130cは、 ビス 334やボル ト 335あるいは冷却水用のチューブを通すことができるように加工されている。
[第 3の実施の形態]
第 9図は、 本発明の第 3の実施の形態に係る対向ターゲット式スパッタ装置の箱型 スパッタ部 70を示す、 その基板側— (真空槽側)から見た斜視概略図である。 第 9図に示 すように、直方体状の枠体 71の 1側面 71fは基板側に面した所定の大きさの開口部とな つており、 この開口部を挟む対向する 2つの側面に第 1図の第 1の実施態様と同じ構 成のターゲットュニット 100aと 100bが取着されている。 枠体 71の残りの 3側面は遮蔽 板 72c〜72eにより閉鎖されている。 この端部のターゲットュニット 100aと 100bには前 述の通りに合成ターゲットを構成するそれぞれ 2枚のターゲット 110aい 110a2 (いず れも図示なし) ; 1101^、 110b2が取着されている。 なお、 ターゲットユニット 100aと 100bの背面にはポール板 191a、 191bが取り付けられている。
開口部に対向する奥側の側面の遮蔽板 72eには、それぞれのターゲットが連なるよう に並設された 2個の端部の中間ターゲットュニット 300^ 3002からなる合成中間ター ゲットユニット 300。が以下のように取り付けられている。 なお、 各端部の中間ターグ ットュニット 300い 3002は磁石保持手段の磁石保持箱の配置が一部異なる点を除いて 前述第 2の実施の態様の中間ターゲットュニット 300と同じ構成である。すなわち、中 間ターゲットュニット 300ぃ 3002のそれぞれの中間ュニット支持体 301ぃ 3012の両側 のターゲット取着面にはターゲット 110hい 110g l ; 110h2、 110g2が取着されている。 そして合成中間ターゲットュニット 300。は図示のように端部の合成ターゲットを備 えたターゲットユニット 100a、 100bの中間位置にこれらと平行に設けられている。 従 つて、 2個のターゲットが Y方向具体的には横方向に並んだ 2対の合成ターゲットが装 備されており、 この各対で構成される合成ターゲットからなる 2つの対向式スパッタ 部が合成中間ターゲットュニット 300。の両側に形成され、 これら対向式スパッタ部が 合成中間ターゲットュニット 300。により統合された合成対向式スパッタ部が装備さ れたことになる。
ターゲットュニット 100aと 100bは、 前述のように、 第 1図〜第 3図を参照して説明 した第 1の実施の形態のそれと同等の構成を有するものであるので詳細は省略し、 以 下本実施の形態の中間ターゲットュニットについてその詳細を説明する。
第 1 0図は、端部の 2個の中間タ一ゲットュニット 300ぃ 3002を備えた合成中間ター ゲットユニット 300。の斜視図であり、 第 1 1図、 第 1 2図は、 第 1 0図の C- C線と D- D線 での断面図である。 第 1 1図、 第 1 2図に示されるように、 中間ユニット支持体 301ぃ 3012の内部には隔壁 30^、 3042によって区画されたジグザグの冷却溝 303ぃ 3032が備 えられており、 ここに冷却ジャケット 302い 3022が形成されている。冷却溝 303い 303 2の両端には接続口 305い 3052が形成されており、 ここに接続されたチューブにより 冷却水の供給 '排水が行われる。 第 1 0図〜第 1 2図に示されるように、 中間ユニット 支持体 301い 3012の両面のターゲット取着面にはそれぞれターゲット 110g l、 U0h 1; 110g2、 110h2が例えばインジウムを用いて接着されている。中間ユニット支持体 301 ^ 3012の互いに接する側面換言すれば結合する側面を除く 3側面には、 磁石収容用溝306い 3062が穿設されている。 その 3側面の内の大気側側面 (第 1 0図の上方の側面) を除く 2側面の磁石収容用溝 306い 3062には永久磁石 130cをターゲットに垂直な方向 に収納する磁石保持箱 314ぃ 315 J ; 3152、 3162がビス 334により取り付けられている。 中間ュニット支持体 301ぃ 3012の大気側側面には永久磁石 130cを収納する磁石保持 手段と外部の遮蔽板 72eへ取り付ける外部接続部とを兼ねた磁石保持具 311い 3112が 取り付けられる。 磁石保持具 311ぃ 3112は、 永久磁石 130cをターゲットに垂直方向の 磁界を発生するように保持する段付き凹部を有する本体部 312 ι3122と、 その段付き 凹部に嵌め込まれる蓋体部 313ぃ 3132とによって構成される(第 1 1図においては図の 簡 匕のため段付き凹部が単なる凹部として示されている)。 磁石保持具 311ぃ 3112 の本体部 312ぃ 3122と蓋体部 313ぃ 3132とは永久磁石 130cを保持した状態でボルト 335 によって中間ュニット支持体 301ぃ 3012に気密に取り付けられている。磁石保持具 311 い 3112には、冷却水の給排用のチューブを通すための貫通孔 317い 3172が開けられ、 その蓋体部 313い 3132の上面にはスパッタ電源の配線を接続する配線接続部 318い 318 2が設けられている。 また、 中間ユニット支持体の冷却ジャケット 302ぃ 3022は、 磁 石保持具 311ぃ 3112の本体部 312ぃ 3122の背面に配置された Oリング 341ぃ 3412及び 本体部 312ぃ 3122の大気側面 (図の上側) に配置された Oリング (図示なし;第 8図の Oリング 342に相当) により真空側と遮断されている。 そして、 磁石保持具 311ぃ 311 2は第 2の実施の態様と同様に絶縁プレートを介して電気絶縁性のスリーブ付きのボ ルト (図示なし) により遮蔽板 72eに取り付けられる。 これにより、端部中間ターゲッ トュニット 300ぃ 3002を Y方向に並設した合成中間ターゲットュニット 300。は、 遮蔽 板 72eに電気絶縁状態で支持されることになり、 第 9図に示される箱型スパッタ部 70 が組み立てられる。 なお、 図示は省略されているが、 第 2の実施の態様と同様に遮蔽 板 72eには対向空間内の過剰電子を吸収するための補助電極が各合成ターゲットの端 部の前方近傍に位置するように設けられている。
このように組み立てられた箱型スパッタ部 70では、 第 9図に示されるように、 ター ゲット llOa^ 110a2 (いずれも図示なし) とターゲット 110g l、 110g2とが対向する対 向空間 12(^からなる対向式スパッタ部が、 またターゲット 1101^、 110b2とターゲット 110h1 N 110h2とが対向する対向空間 1202からなる対向式スパッタ部が形成される。 そ. して、 対向空間 ^(^からなる対向式スパッタ部においては、 Y方向に並べられたター ゲットによって構成される合成ターゲット (110a i+110a2及び 110g l+110g2) の外周部 力 ら発する X方向の磁界によって対向空間 120 を囲繞する対向モードの磁界が形成さ れ、 また対向空間 1202からなる対向式スパッタ部においては、 Y方向に並べられたタ 一ゲットによって構成される合成ターゲット (l iob i +i iobs及び l io^ +i ioi の外周 部から発する X方向の磁界によって対向空間 120,を囲繞する対向モードの磁界が形成 される。 同時に、 各合成ターゲットにおいては、 その外周に沿って周縁部に換言すれ ば各ターゲットにおいて他のターゲットと瞵接している辺を除く各辺の外周に沿った 周縁部にマグネトロンモードの磁界が形成される。
そして、 この箱型スパッタ部 70は、 第 1、 第 2の実施の形態の場合と同様に、 その 開口部が真空槽に臨むように枠体 71の図で上側の開口側面でボルトを用レ、て真空槽の 槽壁に気密に取り付けられる。 従って、 真空槽と枠体 71とは取り付けボノレトにより電 気的に接続される。 真空槽内には、 前述の実施の態様と同様に、 上記開口部に対向す るように基板がセットされて膜形成が われる。 その際、 第 2の実施の態様で述べた ように、 合成中間ターゲットュニット 300。の直下の領域にも各対向式スパッタ部の各 対向空間 1201 1202で生成されたスパッタ粒子の両方からの回り込みにより対向空間 120ぃ 1202の真下の領域と同等の膜厚の膜形成が可能であり、 大面積の基板に対して も全面ほぼ均一の膜厚に成膜を行うことができる。
第 3の実施の形態では、 合成中間タ一ゲットュニット 300。を 1個設けて対向式スパ ッタ部を 2個形成し、 Y方向にターゲットを 2枚ずつ並べるものであった力 タ一ゲッ トユニット 100a、 100b間に配置される合成中間ターゲットユニット 3000を 2個以上と して、又は/及び、 Y方向に並べるターゲット数を 3以上としてより広い基板に対して 成膜を行えるようにすることもできる。 並べる中間ターゲットュニットゃターゲット の個数は任意に選択することができ、 従って基板の横方向にも縦方向に本質的に寸法 の制限のない大面積基板が処理できる対向ターゲット式スパッタ装置が得られる。 第 1 3図は、 Y方向に 3枚のターゲットを並べる場合の合成中間ターゲットユニット 300。の構成を示す断面図である。 この場合、 端部中間ターゲットユニット
Figure imgf000023_0001
との間に中央部中間ターゲットュニット 3003が配置されて合成中間ターゲットュニ ット 3000が構成される。端部の中間ターゲットュニット 300!と 3002とは、第 1 1図に示 した同一参照符号のュニットと同等の構成を持つものであるのでその詳細な説明は省 略する。 中央部の中間ターゲットユニット 3003の中間ユニット支持体 3013の内部には 端部のものと同様に隔壁 3043によって区画された冷却溝 3033が備えられており、 ここ に冷却ジャケット 3023が形成されている。冷却溝 3033の両端には接続口 3053が形成さ れており、 ここに取着されたチューブにより冷却水の供給 ·排水が行われる。
中央部の中間ュニット支持体 3013の X-Z平面に平行な側面具体的には端部の中間ュ ニット支持体 301 iと 3012の側面と接合する側面には永久磁石は配置されない。 この中 間ュニット支持体 3013の X-Y平面に平行な側面具体的には外部への接続部となる側面 ならびにこれに対向する側面には磁石を収容するための磁石収容用溝 (図示なし) が 形成されている。 そして、 中間ユエット支持体 3013の大気側側面酒の上側の側面)に は、 端部の中間ターゲットユニット 300ぃ 3002と同様に、 永久磁石 130cを収納する磁 石保持手段と外部の遮蔽板へ取り付ける外部接続部を兼ねる磁石保持具 3113が取り付 けられる。 磁石保持具 3113は、 段付き凹部を有する本体部 3123と、 その段付き凹部に 嵌め込まれる蓋体部 3133とによって構成される(第 1 3図においては段付き凹部が単な る凹部として示されている)。 磁石保持具 3113の本体部3123と蓋体部3133とはポノレト 335によって中間ユニット支持体 3013に取り付けられている。 磁石保持具 3113には、 冷却水供給用のチューブを通すための貫通孔 3173が開けられ、 その蓋体部 3133の上面 にはスパッタ電源の酉 を接続する酉 接続部 3183が設けられている。 また、 中間ュ ニット支持体 3013の冷却ジャケット 3023は、磁石保持具 3113の本体部 3123の背面に配 置された Oリング 3413及び本体部 3123の大気側面 (図の上側) に配置された Oリング (図示なし;第 8図の Oリング 342に相当) により真空側と遮断されている。そして、磁 石保持具 3113は、磁石保持具 311ぃ 3112と共に絶縁プレートを介してボルトにより遮 蔽板に取り付けられる。
合成中間ターゲットュニット 3000と対向配置されるターゲットュニット 100a、 100b の支持体モジュールにはそれぞれ 3個のターゲットモジュールが配置される。 この場 合両側に配置されるターゲットモジュールは、 第 2図、 第 3図に示されるターゲット モジュール 2003ぃ 200a 2と同様に構成され、 真中のターゲットモジュールは、 Z- X平 面と平行な 2側面で他のターゲットモジュールと接合し、 残りの 2側面 (X-Y平面と平 行な側面)でのみ支持本体部の周壁部と接触するように構成される。なお、合成中間タ 一ゲットユニットは、 図示してないが、 全て第 2の実施の態様と同様にそのターゲッ ト面を除く露出面にはこれをカバーするようにシーノレド板が配置される。
第 1〜第 3の実施の形態の対向タ一ゲット式スパッタ装置は、 いずれもターゲット が非磁性体の場合であつたが、 ターゲットが磁性体である場合には、 ターゲットが対 向モードの磁界を形成するための永久磁石の磁極上を覆わないようにすることが望ま しい。更にターゲットの周辺部上(ターゲットを Y方向に並べる場合には Y方向に並べら れたターゲットによって構成される合成ターゲットの周辺部上)には電子反射手段を 設けることが望ましい。第 1 4図は、ターゲットが磁性体である場合のターゲットュニ ット 100aの断面図であり、第 1 5図は、ターゲットが磁性体である場合の中間ターゲッ トュニットの断面図であって、いずれも Y方向に 2枚のターゲットを並べる場合の例で ある。
第 1 4図において、第 3図に示した第 1の実施の形態の部分と対応する部分には同一 の参照符号を付し、 重複する説明は省略する。 第 1の実施の形態の場合には、 ターグ ットモジュール 200aい 200a2のバッキング部 113aい 113a2には、 支持本体部 151aの周 壁部 153a上を覆う庇部が形成されてレ、たが、第 1 4図に示す例ではこの庇部はなくなつ ており、 バッキング部 113a i、 113a2は直方体状に形成されている。 そして、 支持本体 部 151aの周壁部 153a上には図示のように電子反射手段 170aが取着される。 この電子反 射手段 170aは、 ターゲット 110aい 110a2の周辺部に臨む幅の電子反射プレート部 171a を、 断面が " L" 字状の熱良導体の銅からなる取着部 172aで支持した構成となってい る。 電子反射プレート部 171aは、 磁界発生手段の磁極を兼ねるように、 強磁性体例え ば鉄板を用いて形成される。
第 1 5図において、 第 1 2図に示した第 3の実施の形態の部分と対応する部分には同 一の参照符号を付し、 重複する説明は省略する。 第 3の実施の形態の場合には、 中間 ユニット支持体 301 i、 3012の 3側面には磁石収容用溝 306 ,、 3062が穿設されていたが、 第 1 5図の例では中間ュニット支持体 301ぃ 3012には磁石収容用溝が形成されておら ず、 中間ユニット支持体 301い 3012は直方体状の形状を有している。 永久磁石 130cを 収納する磁石保持箱 31 、 3162のそれぞれの両端面には、 図示のように電子反射手段 170cが取着される。 この電子反射手段 170cは、 ターゲットの周辺部に臨む幅の電子反 射プレート部 171cを、 板状の熱良導体の銅からなる取着部 172cで支持した構成となつ ている。 電子反射プレート部 171cは、 磁界発生手段の磁極を兼ねるように、 強磁性体 例えば鉄板を用いて形成される。
第 1 5図には示されていないが、磁石保持具 311ぃ 3112と磁石保持箱 315い 3152 (第 1 1図参照) のそれぞれの両端面にも電子反射手段 170cが取着される。 これにより、 タ ーゲット 110g lと 110g2及びターゲット 1101^と 110h2によって構成される合成ターゲッ ト (110g l +110g2及び 1101^ +110112) の周辺部が電子反射手段 170cに覆われたことにな る。
次に、 第 1及び第 2の実施の態様の対向ターゲット式スパッタ装置を用いて実際に 成膜した成膜実施例を示す。
[成膜実施例 1 ]
第 1図に示した第 1の実施態様の合成ターゲットを備えた対向ターゲット式スパッ タ装置において、 5個のターゲットモジュールを Y方向すなわち横方向に並設して、 そ の横方向の合成ターゲットの全長が 1300mmとし、 そのターゲット間の対向間隔を 90瞧とした。 そして、 ターゲット端からの距離 80隱の位置に基板ホルダーを配置し、 基板ホルダー上にガラス基板を横方向に並べ、 金属酸化物のターゲットを用いて、 両 方の合成ターゲットには共通の電源から電力を並列に供給して、 ガラス基板上に金属 酸化物膜を最大膜厚が 1 μ ΐη以上になるように成膜して触針 ϊζ殳差計で膜厚を測定し て膜厚分布を評価した。
膜厚分布の測 結果を第 1 6図に示す。 この膜厚分布は、ターゲット間の中心に対応 する位置での Υ方向の膜厚分布を示す。 膜厚はセンター (図の測定位置 7 ) での膜厚 を基準として 100%とし、 各測定位置で測定した測定値を基準に対する比 (%) で示し た。 なお、 測定位置は Υ方向に 10cm間隔の位置とした。
第 1 6図のグラフより、 広レ、 lm幅においても平均に対して ± 10%の均一な膜が得られ ることが確認、できた。 このデータは全く膜厚調整用のマスク等による膜厚分布調整を 施していないものであり、 センター部付近にマスクを設けてこの部分の膜厚を下げる 等の膜厚分布調整を行うことにより、 更に厳しい ±5%等の要求にも対応できることが わかる。 従って、 合成ターゲットにより、 透明導電性フィルム等の機能性フィルムの 製造等に必要な広い幅の基板にィンライン式で連続的に成膜できる対向ターゲット式 スパッタ装置が実現される。
匪実施例 2 ]
第 6図に示した第 2の実施の態様の合成対向式スパッタ部を備えた対向ターゲット 式スパッタ装置において、 8インチウェハへの成膜が可能なように、 Z方向が 100画で Y 方向が 315瞧のターゲットを用いるようにすると共に、中間ターゲットュニットの厚さ すなわち両面のターゲットの面間距離が 60瞧で、各ターゲットの対向間隔 145画として、 X方向力 50隱で Y方向力 315瞧の開口面積の合成対向式スパッタ部とした。なお、端部 のターゲットュニットは、第 2の実施の態様で磁界調整用の永久磁石 180a, 180bを省略 したものとした。
この対向ターゲット式スパッタ装置を用いて、ターゲットからの距離が 100隱の位置 に 8ィンチのウェハをセットし、金属酸化物のタ一ゲットを用いて、端部ターゲットュ ニット及び中間ターゲットユニットに共通の から電力を並列に供給して、 ウェハ 上に金属酸化物膜を最大膜厚が 1000A以上になるように成膜して触針式段差計により 膜厚を測定して膜厚分布を評価した。
fl莫厚分布の測 果を第 1 7図 (a ) 、 ( b ) に示す。 ( a ) 図は、 X方向すなわち 対向方向の膜厚分布で、 各膜厚は開口のこの方向の中心線上で 10瞧間隔で測定した測 定値である。 (b ) 図は、 Y方向すなわち横方向の膜厚分布で、 各膜厚は開口のこの 方向の中心線上で 10瞧間隔で測定した測定値である。 測定位置 6が開口のセンタ一位 置である。 膜厚は開口のセンター位置での膜厚を基準として 100%とし、 各測定位置で 測定した測定 ί直を基準に対する比 (%) で示した。
図のダラフより、 両方向の膜厚分布とも 8ィンチのウェハでも平均値の ± 10%以内 になることが確認できた。 また、 6インチのウェハであれば ±5%以内と非常に均一な 分布が得られることがわかる。 更に、 膜厚調整用のマスク等を設けることにより、 均 一性は更に向上できる。 このように合成対向式スパッタ部により従来不可能であった 対向方向の膜形成領域の拡大が可能となり、 半導体デバイスの製造に要求される静止 した状態での大面積の基板への成膜ができる対向ターゲット式スパッタ装置が実現さ れる。

Claims

請 求 の 範 囲
1 . 冷却手段を備えたバッキング部の前面に矩形状のターゲッ卜を取着したターゲッ トモジユーノレと、
前面にターゲットモジュールが取着されるモジュール取着部を備え、 該モジュール取 着部の周囲に永久磁石を対向方向の磁界を発生するように収納する磁石収納部を有す るュニット支持体と、
前記磁石収納部に収納された前記永久磁石と、
を有する対向ターゲットュニットの対を、 ターゲットが所定の対向空間を隔てて対向 するように配置した対向式スパッタ部を備え、 対向式スパッタ部の対向空間の側面に 対面するようにその側方に配置された基板上に成膜するようにした対向ターゲット式 スパッタ装置において、
前記ュニット支持体の前記モジュール取着部を、 ターゲット面および基板面に平行な 横方向においてターゲットモジュールを個々にシールして取着できるようにした複数 の取着区画に分割すると共に、 各取着区画にこれに応じた所定長のターゲットモジュ 一ルを取着して、 前記横方向に並べて設けられた複数のターゲットモジュールからな る合成ターゲットにより前記横方向の基板の膜形成領域をカバーするようにしたこと を特徴とする対向ターゲット式スパッタ装置。
2. 請求項 1に記載の対向ターゲット式スパッタ装置において、 前記対向式スパ.ッタ 部が、 直方体状の枠体を備え、 該枠体の基板と対面する開口側面に隣接して対向する
2側面のそれぞれに前記対向ターゲットユニットが取着され、 前記枠体の残りの 3側 面が閉鎖された箱型対向式スパッタ部であることを特徴とする対向ターゲット式スパ ッタ装置。
3 . 請求項 1に記載の対向ターゲット式スパッタ装置において、 前記磁石収納部の対 向側端面上を覆うようにターゲットが設けられていることを特徴とする対向ターゲッ ト式スパッタ装置。
4. 請求項 3に記載の対向ターゲット式スパッタ装置において、 前記磁石収納部の対 向側端面上を前記バッキング部の端部に形成された突起部が覆っており、 その突起部 上を覆ってタ一ゲットが設けられていることを特徴とする対向ターゲット式スパッタ 装置。
5 . 請求項 1に記載の対向ターゲット式スパッタ装置において、 前記磁石収納部の対 向側端面上に電子を反射する電子反射手段が設けられていることを特徴とする対向タ ーゲット式スパッタ装置。
6 . 請求項 1に記載の対向ターゲット式スパッタ装置において、 電子を吸収する補助 電極が各対向するターゲット間の各対向空間に設けられていることを特徴とする対向 ターゲット式スパッタ装置。
7. 請求項 6に記載の対向ターゲット ^スパッタ装置において、 電子を吸収する補助 電極が前記磁石収納部の対向側端面沿って、 その前方近傍に設けられていることを特 徴とする対向ターゲット式スパッタ装置。
8 . 請求項 1に記載の対向ターゲット式スパッタ装置において、 前記対向ターゲット ュニットの永久磁石が対向方向の対向モードの磁界とターゲット面の周縁部近傍に円 弧状のマグネト口ンモードの磁界を生ずるように配置されていることを特徴とする対 向ターゲット式スパッタ装置。
9. 請求項 1に記載の対向ターゲット式スパッタ装置において、 前記ユニット支持体 に主としてマグネト口ンモードの磁界を調整する磁界調整手段を設けたことを特徴と する対向ターゲット式スパッタ装置。
1 0. 所定の対向空間を隔てて一対のターゲットを対向させると共に、 該ターゲット の周囲に対向方向の磁界を発生するように永久磁石を配した対向式スパッタ部を備え、 該対向式スパッタ部の対向空間の側面に対面するようにその側方に配置された基板上 に膜形成するようにした対向ターゲット式スパッタ装置において、 複数の該対向式ス ノ、。ッタ部を、 該対向式スパッタ部の結合される側のタ一ゲットを夫々の面に取着した 板状の中間ュニット支持体の周囲に対向方向の磁界を発生するように永久磁石を配置 した構成で、 ターゲットを含めた全体の厚さを両側の対向式スパッタ部の膜形成領域 が合わさつて中間ュニット支持体の基板側の側方にぉレ、て所定の膜厚の膜を形成でき る厚さ以下とした中間ターゲットュニットにより結合することにより、 複数の該対向 式スパッタ部の膜形成領域が対向方向に合成されて一つの膜形成領域を形成するよう にした合成対向式スパッタ部を備えたことを特徴とする対向ターゲット式スパッタ装 置。
1 1 . 請求項 1 0に記載の対向ターゲット式スパッタ装置において、 前記合成対向式 スパッタ部の両端の端部ターゲットュニットが、 冷却手段を備えたバッキング部の前 面に矩形状のターゲットを取着したターゲットモジュールと、 前面にターゲットモジ ユールが取着されるモジュール取着部を備え、 該モジュール取着部の周囲に永久磁石 を対向方向の磁界を発生するように収納する磁石収納部を有するュニット支持体と、 前記収納部に収納された前記永久磁石とカゝらなり、 前記中間ターゲットユニットが冷 却手段を備えた中間ュニット支持体の両面にターゲットが取り付けられた中間ターグ ットモジュールと、 該ターゲットの外周に沿って対向方向の磁界を発生するように配 置された永久磁石とからなることを特徴とする対向ターゲット式スパッタ装置。
1 2. 請求項 1 1に記載の対向ターゲット式スパッタ装置において、 前記合成対向式 スパッタ部が、 直方体状の枠体を備え、 該枠体の基板と対面する開口側面に隣接して 対向する 2側面のそれぞれに前記端部ターゲットュニットが取着され、 前記枠体の残 りの 3側面が閉鎖された箱型対向式スパッタ部であり、 前記枠体の基板と対面する開 口側面に対向した側面を閉鎖する閉鎖板に前記中間ターゲットュニットが保持されて いることを特徴とする対向ターゲット式スパッタ装置。
1 3. 請求項 1 2に記載の対向ターゲット式スパッタ装置において、 前記端部タ ゲ ットユニットが、 ユニット支持体の前記モジユーノレ取着部を、 ターゲット面および基 板面に平行な横方向におレ、てターグットモジュールを個々にシールして取着できるよ うにした複数の取着区画に分割すると共に、 各取着区画にこれに応じた所定長のター ゲットモジュールを取着して、 前記横方向に並べて設けられた複数のターゲットモジ ユールからなる合成ターゲットモジュールを前記ュニット支持体上に取着したュニッ トであり、 前記中間ターゲットユニットが、 冷却手段を備えた中間ユニット支持体の 両面にターゲットが取着された所定長の複数個の中間ターゲットモジュールをそのタ ーゲットが連接するように前記横方向に並べてその合成長が前記端部ターゲットュニ ットの横方向の合成長と同じ長さになるようにすると共に、 その並設した中間ターゲ ットモジュールの外周に沿って対向方向の磁界を発生するように永久磁石を配置した 合成中間ターゲットュニットであることを特徴とする対向ターゲット式スパッタ装置。
1 4. 請求項 1 3に記載の対向ターゲット式スパッタ装置において、 前記合成中間タ —ゲットュニットは、 並設方向両端の端部の中間ターゲットモジュールでは中間ュニ ット支持体のターゲット取着面および他の中間ターゲットモジュールと接する側面以 外の大気側側面を含む 3側面に永久磁石を対向方向の磁界を生ずるように保持する磁 石保持手段が配置され、 更に端部の両中間ターゲットモジュールの間に中央部の中間 ターゲットモジュールを有する場合は該中央部の中間ターゲットモジュールでは中間 ュニット支持体の大気側側面と該大気側側面に対向する側面とに永久磁石を対向方向 の磁界を生ずるように保持する磁石保持手段が配置され、 前記磁石保持手段内に永久 磁石が収納されていることを特徴とする対向ターゲット式スパッタ装置。
1 5. 請求項 1 0に記載の対向ターゲット式スパッタ装置において、 前記中間ターグ ットュニットは、 中間ターゲットモジュールの中間ュニット支持体のターゲット取着 面以外の 4側面に永久磁石を対向方向の磁界を生ずるように保持する磁石保持手段が 配置され、 前 ta¾石保持手段内に永久磁石が収納されていることを特徴とする対向タ ーゲット式スパッタ装置。
1 6. 請求項 1 4に記載の対向ターゲット式スパッタ装置において、 中間ターゲット モジュールの外部への接続部となる大気側に配置された前記磁石保持手段は、 永久磁 石を一定方向に保持する凹部を備え、 凹部の背面と凹部の側部の前端面でシールでき るようにした本体部と、 本体部の凹部上を覆う蓋体部とを有し、 凹部背面で中間ュニ ット支持体の側面に、 蓋体部の前面で外部に気密に取り付けできる外部接続部になつ ており、 この外部接続部を介して中間ュニット支持体の冷却手段への接続ならびにタ ーゲットへの 接続をできるようにしたことを特徴とする対向ターゲット式スパッ タ装置。
1 7. 請求項 1 0に記載の対向ターゲット式スパッタ装置において、 前記所定の膜厚 が膜形成領域の平均膜厚以上であることを特徴とする対向ターゲット式スパッタ装置。
1 8. 請求項 1 4に記載の対向ターゲット式スパッタ装置において、 前記磁石収納部 の対向側端面上および前記磁石保持手段の対向方向の両側面上を覆うようにターゲッ トが設けられていることを特徴とする対向ターゲット式スパッタ装置。
1 9. 請求項 1 8に記載の対向ターゲット式スパッタ装置において、 前記磁石収納部 の対向側端面上および前記磁石保持手段の対向方向の両側面上を前記バッキング部ま たは前記中間ュニット支持体の端部に形成された突起部が覆っており、 その突起部上 を覆ってターゲットが設けられていることを特徴とする対向ターゲット式スパッタ装 置。
2 0. 請求項 1 4に記載の対向ターゲット式スパッタ装置において、 前記磁石収納部 の対向側端面上および前記磁石保持手段の対向方向の両側面上に電子を反射する電子 反射手段が設けられていることを特徴とする対向ターゲット式スパッタ装置。
2 1 . 請求項 1 0に記載の対向ターゲット式スパッタ装置において、 電子を吸収する 補助電極が各対向するターゲット間の各対向空間に設けられていることを特徴とする 対向ターゲット式スパッタ装置。
2 2. 請求項 2 1に記載の対向ターゲット式スパッタ装置において、 前記補助電極が 前記磁石収納部の対向側端面および前記磁石保持手段の対向方向の両側面に沿って、 その前方近傍に設けられていることを特徴とする対向ターゲット式スパッタ装置。
2 3. 請求項 1 0に記載の対向ターゲット式スパッタ装置において、 前記永久磁石が 対向方向の対向モードの磁界とターゲット面の周縁部近傍に円弧状のマグネトロンモ 一ドの磁界を生ずるように配置されていることを特徴とする対向ターゲット式スパッ タ装置。
2 4. 請求項 1 1に記載の対向ターゲット式スパッタ装置において、 前記ュニット支 持体に主としてマグネト口ンモードの磁界を調整する磁界調整手段を設けたことを特 徴とする対向ターゲット式スパッタ装置。
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